Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP3341990B2 - 被加工材のチャックテーブル - Google Patents

被加工材のチャックテーブル

Info

Publication number
JP3341990B2
JP3341990B2 JP30568398A JP30568398A JP3341990B2 JP 3341990 B2 JP3341990 B2 JP 3341990B2 JP 30568398 A JP30568398 A JP 30568398A JP 30568398 A JP30568398 A JP 30568398A JP 3341990 B2 JP3341990 B2 JP 3341990B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
suction
pad member
suction pad
chuck table
workpiece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP30568398A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000126959A (ja
Inventor
康之 酒谷
禎 足立
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP30568398A priority Critical patent/JP3341990B2/ja
Publication of JP2000126959A publication Critical patent/JP2000126959A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3341990B2 publication Critical patent/JP3341990B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dicing (AREA)
  • Jigs For Machine Tools (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は被加工材のチャック
テーブルに係り、特にダイシング装置で半導体ウェーハ
(被加工材)をチップ毎に切断する際に、半導体ウェー
ハを吸着保持する被加工材のチャックテーブルに関す
る。
【0002】
【従来の技術】ダイシング装置のチャックテーブルで
は、半導体ウェーハが貼り付けられた搬送用フレームを
吸着保持するチャックテーブル、即ち、半導体ウェーハ
を直接吸着保持するものではなく、搬送用フレームを介
して間接的に保持するチャックテーブルが知られてい
る。
【0003】一方、前記チャックテーブルに対して、半
導体ウェーハを直接吸着保持するチャックテーブルが提
案されている。斯かるチャックテーブルは、そのテーブ
ル本体内に真空室が形成されると共に、テーブル本体の
吸着面には、切断されるチップをチップ毎に吸着保持す
る複数の吸着パッド部材が設けられている。前記真空室
と前記吸着パッド部材とは、テーブル本体に形成された
吸引孔を介して連通され、真空室の吸引力が吸引孔を介
して吸着パッド部材に伝達されることにより、吸着パッ
ド部材に半導体ウェーハ、及び切断後のチップが吸着保
持される。
【0004】このように半導体ウェーハを直接保持する
チャックテーブルを利用すれば、搬送用フレームが不要
になり、また、搬送用フレームに半導体ウェーハを貼り
付ける手間を省くことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来提
案されている前記チャックテーブルでは、吸着パッド部
材に吸着保持されているチップが、外力又は何らかの不
具合によって吸着パッド部材から脱落すると、その吸着
パッド部材を介して真空室が大気開放されるので、真空
不良となり他のチップを吸着保持することができなくな
るという欠点がある。
【0006】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、吸着パッド部材からチップが脱落しても、他の
チップを継続して吸着保持することができる被加工材の
チャックテーブルを提供する。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、切断刃によって複数のチップに切断され
る板状被加工材を吸着保持する被加工材のチャックテー
ブルにおいて、前記チャックテーブルは、真空室がその
内部に形成されたテーブル本体と、前記テーブル本体の
吸着面に設けられ、前記被加工材を吸着保持すると共に
前記切断刃で切断される複数のチップをチップ毎に吸着
保持する複数の吸着パッド部材と、前記テーブル本体に
形成され、該テーブルの真空室と前記吸着パッド部材と
を連通する吸気孔と、前記テーブル本体又は前記吸着パ
ッド部材に設けられ、前記テーブル本体の真空室の圧力
と大気圧との差圧によって前記吸引孔に吸引され、該吸
引孔を閉塞する閉塞部材とを備え、前記吸着パッド部材
は、前記テーブル本体の吸着面から所定量突出して配置
されると共に、前記被加工材を吸着保持した時に被加工
材にかかる大気圧によって圧縮され、前記被加工材が前
記吸着面に当接支持されることを特徴とする。
【0008】請求項1記載の発明によれば、吸着パッド
部材に吸着保持されているチップが、その吸着パッド部
材から脱落すると、その吸着パッド部材又はテーブル本
体に設けられた閉塞部材が、真空室と大気圧との差圧に
よって吸引孔に吸引され、吸引孔を閉塞する。これによ
り、本発明によれば、真空室の大気開放を防止すること
ができるので、他のチップを継続して吸着保持すること
ができる。
【0009】また、吸着パッド部材で被加工材を吸着保
持すると、吸着パッド部材は、被加工材を吸着保持した
時に被加工材にかかる大気圧によって圧縮する。これに
よって、吸着パッド部材に復元力が発生し、この復元力
によって吸着パッド部材と被加工材、及びチップとのシ
ール性が向上するので、吸着パッド部材による被加工
材、及びチップの保持力を向上させることができる。
【0010】請求項記載の発明によれば、テーブル本
体の吸着面に、切断刃を逃がすための逃げ溝を形成した
ので、テーブルの吸着面が切断刃によって損傷するのを
防止することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
る被加工材のチャックテーブルの好ましい実施の形態に
ついて詳説する。図1は、本発明のチャックテーブルが
ダイシング装置のチャックテーブル10に適用された例
を示すダイシング装置の要部構造図である。
【0012】表面に多数のチップ11が形成されたウェ
ーハ12は、前記チャックテーブル10にその裏面が真
空吸着保持される。チャックテーブル10は、図1上で
X軸、Y軸で示す前後左右方向に図示しない移動駆動機
構によって動作されると共に、図1上でθで示す回転方
向に図示しない回転駆動機構によって動作される。これ
らの駆動機構を制御して移動量、及び回転角度を設定す
ることにより、チャックテーブル10に吸着保持された
ウェーハ12が所望の位置に位置される。
【0013】ウェーハ12を切断するブレード14は、
モータ16のスピンドル18に取り付けられ、このモー
タ16を駆動することによってブレード14が回転駆動
され、このブレード14によってウェーハ12がチップ
11に切断される。また、切断中のウェーハ12、及び
ブレード14には、図示しない切削水噴射ノズル、及び
洗浄水噴射ノズルから切削水、洗浄水が噴射され、これ
らの切削水、洗浄水によってウェーハ12及びブレード
14が冷却されると共に、洗浄される。
【0014】前記ブレード14の近傍には、パターン撮
像装置20が設けられている。このパターン撮像装置2
0は、ウェーハ12をアライメントする際に使用される
装置であり、また、ウェーハ12の切断終了後、チップ
11が取り外されたチャックテーブル10を撮像する撮
像装置としても使用される。この時に撮像された信号
は、画像処理装置22に出力され、ここで例えば白黒の
二値化処理が行われ、チャックテーブル10におけるチ
ップ11の取り残しの有無が検査される。
【0015】次に、チャックテーブル10の構造につい
て説明する。前記チャックテーブル10は、円盤状に形
成されたテーブル本体24と、テーブル本体24の下面
に連結された回転軸26とから構成される。前記テーブ
ル本体24は図2、図3に示すように、中央部に凹部が
形成されたテーブルベース28、及びフィクスチャプレ
ート30から構成され、このフィクスチャプレート30
をテーブルベース28の上面に固定することにより、テ
ーブルベース28の凹部とフィクスチャプレート30と
の間で真空チャンバ(真空室に相当)32が形成され
る。この真空チャンバ32には、図示しないサクション
ポンプが連結され、このサクションポンプを駆動するこ
とにより、前記真空チャンバ32のエアが吸引され、真
空チャンバ32が真空に減圧される。
【0016】前記フィクスチャプレート30には、切断
後の各々のチップ11に対応する位置に吸引孔34が形
成され、この吸引孔34を介して前記真空チャンバ32
に連通されている。また、フィクスチャプレート30に
は、ウェーハ12、及びチップ11を支持する基準面と
なる吸着面36が形成されている。この吸着面36に
は、ブレード逃げ溝38が形成され、このブレード逃げ
溝38に沿ってブレード14がウェーハ12に対して相
対移動することにより、フィクスチャプレート30がブ
レード14で損傷されないようになっている。
【0017】また、前記フィクスチャプレート30は、
ゴム等の弾性部材で形成され、その上面に切断後のチッ
プ11を真空吸着保持する吸着パッド部材40が設けら
れている。前記吸着パッド部材40は、フィクスチャプ
レート30の上面に形成された矩形状凹部31に位置決
めされて固定される。また、前記吸着パッド部材40
は、チップ11の大きさに対応した形状に形成されると
共に、容易に弾性変形されるようにゴム等の弾性部材で
形成されている。更に、前記吸着パッド部材40は、フ
ィクスチャプレート30に固定されると、ダイヤフラム
(閉塞部材に相当)42に形成された吸引孔44、44
…、及びフィクスチャプレート30に形成された前記吸
引孔34を介して真空チャンバ32に連通される。した
がって、吸着パッド部材40で囲まれる空間41のエア
が真空チャンバ32に吸引され、この吸引作用によって
ウェーハ12、及びチップ11が吸着パッド部材40に
真空吸着保持される。
【0018】前記吸着パッド部材40は図3に示すよう
に、その上端部が前記吸着面36よりも若干量上方に突
出して配置される。このような吸着パッド部材40でウ
ェーハ12を真空吸着すると、前記吸着パッド部材40
は図4に示すように、ウェーハ12にかかる大気圧によ
って圧縮する。これによって、吸着パッド部材40に復
元力が発生し、この復元力によって吸着パッド部材40
とウェーハ12、及び図5に示すチップ11とのシール
性が向上する。また、この時、ウェーハ12は図4に示
すように、基準面となる吸着面36に当接支持されるの
で、ブレード14によって精度良く安定して切断され
る。
【0019】なお、前記吸着パッド部材40、40…
は、ウェーハ12のチップ11、11…を吸着保持する
もので、チップ11が形成されていないウェーハ12の
外周部に対応する位置には設けられていない。一方、前
記ダイヤフラム42は、吸着パッド部材40と一体に形
成されており、即ち、容易に弾性変形可能なゴム等の弾
性部材で形成されている。また、前記ダイヤフラム42
は、吸引孔34の上方に形成されると共に、下方側に弾
性変形された時に吸引孔34を閉塞することができる大
きさに形成されている。したがって、前記ダイヤフラム
42は、吸着パッド部材40からウェーハ12、又はチ
ップ11が脱落すると、前記真空チャンバ32の圧力と
大気圧との差圧によって吸引孔34に吸引され、吸引孔
34を閉塞することができる次に、前記の如く構成され
たチャックテーブル10の作用について説明する。
【0020】まず、ウェーハ12をチャックテーブル1
0の上面に載置した状態では、ウェーハ12は吸着パッ
ド部材40の上縁と接触され、吸着面36に対しては浮
いた状態にある。この状態でサクションポンプを駆動
し、真空チャンバ32内を徐々に減圧していくと、吸引
孔34、44を介して吸着パッド部材40の空間41が
減圧されていくので、ウェーハ12がチャックテーブル
10に吸着されていき、最終的にウェーハ12がチャッ
クテーブル10に真空吸着保持される。なお、ウェーハ
12の吸着時には、真空チャンバ32が徐々に減圧さ
れ、略同時に吸着パッド部材40の空間41も減圧され
るので、ダイヤフラム42が吸引孔34に吸引されるよ
うな差圧は発生しない。したがって、ウェーハ12はチ
ャックテーブル10によって安定して真空吸着保持され
る。
【0021】また、ウェーハ12の吸着時には、ウェー
ハ12全体が大気圧で押下され、この力によって吸着パ
ッド部材40が圧縮される。これによって、吸着パッド
部材40に復元力が発生し、この復元力によって吸着パ
ッド部材40とウェーハ12とのシール性が向上するの
で、吸着パッド部材40によるウェーハ12の保持力が
向上する。また、この時、ウェーハ12は図4に示した
ように、基準面となる吸着面36に当接支持されるの
で、ブレード14によって精度良く安定して切断され
る。
【0022】次に、ブレード14による切断を開始す
る。この時、切断されたチップ11、11は、吸着パッ
ド部材40、40…によってチップ11毎に保持される
ので、チャックテーブル10から脱落するような不具合
は基本的に発生しない。しかしながら、何らかの外力が
チップ11にかかり、この外力で前記チップ11が吸着
パッド部材40から脱落すると、図5上中央の吸着パッ
ド部材40で示すように、真空チャンバ32の圧力と大
気圧との差圧によってダイヤフラム42が吸引孔34に
吸引され、吸引孔34を閉塞する。これにより、真空チ
ャンバ32の大気開放が防止されるので、他の吸着パッ
ド部材40、40…で保持されている他のチップ11、
11…は継続して吸着保持される。
【0023】したがって、本実施の形態のチャックテー
ブル10によれば、従来のチャックテーブルの欠点を解
消することができる。図6は、ダイヤフラム42に代え
てボール逆止め弁50を閉塞部材として適用した場合の
要部断面図である。前記ボール逆止め弁50は、周知な
ものなので詳細については省略するが、主としてボール
52と圧縮ばね54とから構成されている。このボール
逆止め弁50によれば、吸着パッド部材40からチップ
11が脱落した時に、真空チャンバ32内の圧力と大気
圧との差圧によって、前記ボール52が圧縮ばね54の
付勢力に抗して移動して吸引孔34を閉塞する。これに
より、ボール逆止め弁50を適用しても、前記ダイヤフ
ラム42と同様な効果を得ることができる。
【0024】前記圧縮ばね54のばね定数は、吸引孔3
4を通過するエアの流速(吸着パッド部材40から真空
チャンバ32に向けて流れるエアの流速)が、吸着パッ
ド部材40の空間41を減圧するための流速よりも速い
時に、ボール52で吸引孔34を閉塞することができる
値に設定されている。したがって、前記ボール逆止め弁
50は、ウェーハ12の吸着時には動作せず、吸着パッ
ド部材40からチップ11が脱落した時のみ動作して、
吸引孔34を閉塞し、真空チャンバ32の大気開放を防
止する。
【0025】なお、本実施の形態では、閉塞部材として
ダイヤフラム42、ボール逆止め弁50について例示し
たが、これに限られるものではなく、吸着パッド部材4
0からチップ11が脱落した時に、真空チャンバ32の
圧力と大気圧との差圧によって吸引孔34を自動で閉塞
する手段であれば、その形態は問わない。また、本実施
の形態では、ダイシング装置のチャックテーブル10に
本発明のチャックテーブルを適用した例について説明し
たが、適用対象はダイシング装置に限定されるものでは
なく、被加工材を吸着保持すると共に切断刃で切断され
たチップをチップ毎に保持するチャックテーブルであれ
ば、本発明を適用することができる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る被加工
材のチャックテーブルによれば、吸着パッド部材からチ
ップが脱落すると、その吸着パッド部材又はテーブル本
体に設けられた閉塞部材が吸引孔を閉塞し、真空室の大
気開放を防止するので、他のチップを継続して吸着保持
することができる。
【0027】また、本発明によれば、吸着パッド部材で
被加工材を吸着保持した時に、吸着パッド部材を圧縮さ
せて吸着パッド部材に復元力を発生させたので、吸着パ
ッド部材による被加工材、及びチップの保持力を向上さ
せることができる。更に、本発明によれば、切断刃を逃
がすための逃げ溝をテーブル本体の吸着面に形成したの
で、吸着面が切断刃によって損傷するのを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の被加工材のチャックテーブルがダイシ
ング装置に適用された例を示す要部斜視図
【図2】図1に示したチャックテーブルの一部断面を含
む要部拡大斜視図
【図3】チャックテーブルの要部断面図
【図4】チャックテーブルがウェーハを保持した時の要
部断面図
【図5】チップが脱落した時のチャックテーブルの状態
を示す要部断面図
【図6】閉塞部材としてボール逆止め弁が適用されたチ
ャックテーブルの要部断面図
【符号の説明】
10…チャックテーブル 11…チップ 12…ウェーハ 24…テーブル本体 28…テーブルベース 30…フィクスチャプレート 34…吸引孔 38…ブレード逃げ溝 40…吸着パッド部材 42…ダイヤフラム 50…ボール逆止め弁
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−249446(JP,A) 特開 平10−520(JP,A) 特開 平5−329731(JP,A) 特開 平5−38647(JP,A) 実開 昭60−113868(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B23Q 3/08 H01L 21/301

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 切断刃によって複数のチップに切断され
    る板状被加工材を吸着保持する被加工材のチャックテー
    ブルにおいて、 前記チャックテーブルは、 真空室がその内部に形成されたテーブル本体と、 前記テーブル本体の吸着面に設けられ、前記被加工材を
    吸着保持すると共に前記切断刃で切断される複数のチッ
    プをチップ毎に吸着保持する複数の吸着パッド部材と、 前記テーブル本体に形成され、該テーブルの真空室と前
    記吸着パッド部材とを連通する吸気孔と、 前記テーブル本体又は前記吸着パッド部材に設けられ、
    前記テーブル本体の真空室の圧力と大気圧との差圧によ
    って前記吸引孔に吸引され、該吸引孔を閉塞する閉塞部
    材とを備え、前記吸着パッド部材は、前記テーブル本体の吸着面から
    所定量突出して配置されると共に、前記被加工材を吸着
    保持した時に被加工材にかかる大気圧によって圧縮さ
    れ、前記被加工材が前記吸着面に当接支持される ことを
    特徴とする被加工材のチャックテーブル。
  2. 【請求項2】 前記テーブル本体の吸着面には、前記切
    断刃を逃がすための逃げ溝が形成されていることを特徴
    とする請求項1記載の被加工材のチャックテーブル。
JP30568398A 1998-10-27 1998-10-27 被加工材のチャックテーブル Expired - Fee Related JP3341990B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30568398A JP3341990B2 (ja) 1998-10-27 1998-10-27 被加工材のチャックテーブル

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30568398A JP3341990B2 (ja) 1998-10-27 1998-10-27 被加工材のチャックテーブル

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000126959A JP2000126959A (ja) 2000-05-09
JP3341990B2 true JP3341990B2 (ja) 2002-11-05

Family

ID=17948111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30568398A Expired - Fee Related JP3341990B2 (ja) 1998-10-27 1998-10-27 被加工材のチャックテーブル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3341990B2 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4630497B2 (ja) * 2001-07-26 2011-02-09 株式会社ディスコ フィルター装置及び該フィルター装置を備えた吸引装置
JP4137471B2 (ja) 2002-03-04 2008-08-20 東京エレクトロン株式会社 ダイシング方法、集積回路チップの検査方法及び基板保持装置
JP4342992B2 (ja) 2004-03-17 2009-10-14 株式会社ディスコ レーザー加工装置のチャックテーブル
JP4486943B2 (ja) * 2006-05-31 2010-06-23 シャープ株式会社 被加工脆性板の切断装置および切断方法
IL190763A0 (en) * 2007-04-15 2008-12-29 Camtek Ltd Vacuum table and a method for supporting an object
JP4838837B2 (ja) * 2008-11-21 2011-12-14 三菱重工業株式会社 接合装置
JP2011253841A (ja) * 2010-05-31 2011-12-15 Sumco Corp ウェーハ保持具
JP6091236B2 (ja) * 2013-02-08 2017-03-08 株式会社ディスコ レーザー加工装置
JP6173168B2 (ja) * 2013-10-29 2017-08-02 株式会社ディスコ レーザー加工装置
JP6474205B2 (ja) * 2014-05-16 2019-02-27 川崎重工業株式会社 吸着定盤及び溶接ロボットシステム
CN110911330B (zh) * 2018-09-14 2024-10-29 东莞市中麒光电技术有限公司 一种通过转移晶圆批量转移、固定led芯片的吸盘及方法
KR102163631B1 (ko) * 2019-06-03 2020-10-08 주식회사 대성이엔티 진공 척의 흡착 패드
JP7418271B2 (ja) 2020-04-13 2024-01-19 株式会社ディスコ 治具テーブル及び分割方法
CN114131529B (zh) * 2021-12-09 2024-06-04 成都市温江区雄华机械制造有限公司 高精密工业加工真空吸附系统

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60113868U (ja) * 1984-01-10 1985-08-01 富士写真光機株式会社 吸着チヤツク装置
JPS62249446A (ja) * 1986-04-23 1987-10-30 Hitachi Ltd 保持装置およびその使用方法
JPH0747269B2 (ja) * 1991-03-15 1995-05-24 株式会社エフエスケー 真空チャック及びそれを用いた吸着保持方法
JPH0538647A (ja) * 1991-05-29 1993-02-19 Haruo Konagai 吸着テーブル
JP2850853B2 (ja) * 1996-06-13 1999-01-27 日本電気株式会社 基板固定治具

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000126959A (ja) 2000-05-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3341990B2 (ja) 被加工材のチャックテーブル
JPH10135316A (ja) 薄板状基板の真空吸着方法及びその真空吸着テーブル装置
JP3433930B2 (ja) ウェーハの平面加工装置及びその平面加工方法
JP3259251B2 (ja) ウェーハの平面加工装置及びその平面加工方法
JP2004140058A (ja) ウエハ搬送装置およびウエハ処理装置
JPH09171980A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH02130103A (ja) ダイシング用治具
JP4349817B2 (ja) フレーム固定治具
US6505823B2 (en) Apparatus for positioning a semiconductor pellet
JP4119170B2 (ja) チャックテーブル
JPH05299492A (ja) ウエハの位置決め装置
JPH07183334A (ja) フリップチップボンダ
CN112077830B (zh) 机器人手臂
EP1458021A3 (en) Semiconductor device fabrication method
JP6472666B2 (ja) 板状ワークの保持方法
JP3164629B2 (ja) 半導体ウエハ用真空チャックステージ
JP3050910B2 (ja) 薄板状部材の保持装置
JPH11288997A (ja) Ic吸着コレット
JP2006351848A (ja) コレット、角錐コレット、ダイボンディング装置、及びダイボンディング方法
JPH09309085A (ja) 搬送装置およびそれを用いた半導体製造装置
JPH0766268A (ja) 半導体チップの吸着装置
JPH11307619A (ja) ウエハ固定装置
JPS6234444Y2 (ja)
JP2003340787A (ja) 基板の固定装置及び固定方法
JP2004140057A (ja) ウエハ位置決め装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080823

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090823

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090823

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100823

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110823

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110823

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120823

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120823

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130823

Year of fee payment: 11

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees