JP3257287B2 - 光ディスク記録装置 - Google Patents
光ディスク記録装置Info
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- JP3257287B2 JP3257287B2 JP25645794A JP25645794A JP3257287B2 JP 3257287 B2 JP3257287 B2 JP 3257287B2 JP 25645794 A JP25645794 A JP 25645794A JP 25645794 A JP25645794 A JP 25645794A JP 3257287 B2 JP3257287 B2 JP 3257287B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データのマーク長に基
づいて、書き込みパルスを生成し、このパルス出力に応
じて、レーザ光を出射してディスク状記録媒体に情報信
号を記録する光ディスク記録装置に関する。
づいて、書き込みパルスを生成し、このパルス出力に応
じて、レーザ光を出射してディスク状記録媒体に情報信
号を記録する光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に光ディスクの記録では、“１”と
“０”というビット情報の連なりである入力データ系列
を、該入力データ系列の最小反転間隔Ｔminと最大反転
間隔Ｔm axとを変えて、より光ディスクに適合する符号
シンボル系列に変換している。そして、この符号シンボ
ル系列を光ディスク上に記録するための形式としては、
マーク間記録と、マーク長記録とがある。
“０”というビット情報の連なりである入力データ系列
を、該入力データ系列の最小反転間隔Ｔminと最大反転
間隔Ｔm axとを変えて、より光ディスクに適合する符号
シンボル系列に変換している。そして、この符号シンボ
ル系列を光ディスク上に記録するための形式としては、
マーク間記録と、マーク長記録とがある。
【０００３】この内、マーク長記録は、符号シンボル系
列の符号から例えば、ＮＲＺＩ（Non Return to Zero I
nverted）変調で波形列を生成して、該波形列のデータ
長に応じてレーザダイオードＬＤの発光をパルス幅や発
光レベルを変化させて制御し、熱記録における記録補償
を行っている。例えば、クシ型パルスによる記録補償
は、図５に示すように、パルス幅ｔaの先頭パルスＰSに
より径が０．８μｍのドットと呼ばれる丸い最短マーク
ＭSを記録し、その後の温度保持用パルスＰHによりマー
ク長を伸ばしていた。
列の符号から例えば、ＮＲＺＩ（Non Return to Zero I
nverted）変調で波形列を生成して、該波形列のデータ
長に応じてレーザダイオードＬＤの発光をパルス幅や発
光レベルを変化させて制御し、熱記録における記録補償
を行っている。例えば、クシ型パルスによる記録補償
は、図５に示すように、パルス幅ｔaの先頭パルスＰSに
より径が０．８μｍのドットと呼ばれる丸い最短マーク
ＭSを記録し、その後の温度保持用パルスＰHによりマー
ク長を伸ばしていた。
【０００４】ここで、ディスクの線方向のマークの距離
をマーク長とし、ディスクの径方向の距離をマーク幅と
する。すると、上記最短マークＭSは、マーク長とマー
ク幅が等しいことになる。
をマーク長とし、ディスクの径方向の距離をマーク幅と
する。すると、上記最短マークＭSは、マーク長とマー
ク幅が等しいことになる。
【０００５】図５において、最短マークＭSは、チャン
ネルクロックCLOCKの周期Ｔの２倍、すなわち２Ｔ分で
距離０．８μｍのマーク長となる。また、最短マークＭ
Sが形成されてすぐに温度保持用パルスが２つ供給され
ることにより、４Ｔ分で距離１．２μｍのマーク長のマ
ークが形成される。また、最短マークＭSが形成されて
すぐに温度保持用パルスが６つ供給されることにより、
８Ｔ分で距離２．４μｍのマーク長のマークが形成され
る。ここで、マーク幅は、いずれも場合も０．８μｍで
一定である。
ネルクロックCLOCKの周期Ｔの２倍、すなわち２Ｔ分で
距離０．８μｍのマーク長となる。また、最短マークＭ
Sが形成されてすぐに温度保持用パルスが２つ供給され
ることにより、４Ｔ分で距離１．２μｍのマーク長のマ
ークが形成される。また、最短マークＭSが形成されて
すぐに温度保持用パルスが６つ供給されることにより、
８Ｔ分で距離２．４μｍのマーク長のマークが形成され
る。ここで、マーク幅は、いずれも場合も０．８μｍで
一定である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、磁気による
超解像技術等の発達により、より微少な信号の再生が可
能となり、最短マーク長では長マーク信号よりも小さい
マーク幅で記録する必要が生じた。しかし、従来のクシ
型パルスでは上述したように、同一マーク幅の記録にし
か対応できないので、再生パルスの動作責務比（Duty
比）の変化やＣ／Ｎの低下が発生していた。また、最短
マーク長のマーク幅に他のマークのマーク幅も合わせる
とＣ／Ｎが低下した。さらに、長いマークのＣ／Ｎをか
せごうとすると短いマークが長くなり、エッジシフト量
が増加してしまっていた。このため、長いマークではＣ
／Ｎが悪化し、エッジジッタが増加していた。
超解像技術等の発達により、より微少な信号の再生が可
能となり、最短マーク長では長マーク信号よりも小さい
マーク幅で記録する必要が生じた。しかし、従来のクシ
型パルスでは上述したように、同一マーク幅の記録にし
か対応できないので、再生パルスの動作責務比（Duty
比）の変化やＣ／Ｎの低下が発生していた。また、最短
マーク長のマーク幅に他のマークのマーク幅も合わせる
とＣ／Ｎが低下した。さらに、長いマークのＣ／Ｎをか
せごうとすると短いマークが長くなり、エッジシフト量
が増加してしまっていた。このため、長いマークではＣ
／Ｎが悪化し、エッジジッタが増加していた。
【０００７】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、Dutyの変化の低減、エッジシフト量の低減、長
マークでのＣ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実現でき
る光ディスク記録装置の提供を目的とする。
であり、Dutyの変化の低減、エッジシフト量の低減、長
マークでのＣ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実現でき
る光ディスク記録装置の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
記録装置は、先頭パルスを有してなる書き込みパルスを
データのマーク長に基づいて生成し、この書き込みパル
スに応じて発光手段を駆動してレーザ光を出射し、ディ
スク状記録媒体に少なくとも所定のマーク幅以下のマー
ク幅で情報信号を記録する光ディスク記録装置におい
て、上記データのマーク長を検出するマーク長検出手段
と、上記マーク長検出手段により検出された上記マーク
長が上記所定のマーク幅以上に長い場合と、上記マーク
長が上記所定のマーク幅より短い場合とで、少なくとも
先頭パルスのパルス幅を変化させて書き込みパルスを生
成する書き込みパルス生成手段と、上記マーク長検出手
段により検出された上記マーク長が所定のマーク幅以上
に長い場合と、上記マーク長が上記所定のマーク幅より
短い場合とで、上記先頭パルスの発光レベルを変化させ
るための発光変化量を補正値として生成する補正量生成
手段と、上記補正量生成手段の生成出力に応じて自動出
力制御されたドライブ電圧を出力する自動出力制御手段
と、上記書き込みパルス生成手段と上記自動出力制御手
段の出力から上記発光手段を駆動する駆動手段とを有す
ることにより上記課題を解決する。
記録装置は、先頭パルスを有してなる書き込みパルスを
データのマーク長に基づいて生成し、この書き込みパル
スに応じて発光手段を駆動してレーザ光を出射し、ディ
スク状記録媒体に少なくとも所定のマーク幅以下のマー
ク幅で情報信号を記録する光ディスク記録装置におい
て、上記データのマーク長を検出するマーク長検出手段
と、上記マーク長検出手段により検出された上記マーク
長が上記所定のマーク幅以上に長い場合と、上記マーク
長が上記所定のマーク幅より短い場合とで、少なくとも
先頭パルスのパルス幅を変化させて書き込みパルスを生
成する書き込みパルス生成手段と、上記マーク長検出手
段により検出された上記マーク長が所定のマーク幅以上
に長い場合と、上記マーク長が上記所定のマーク幅より
短い場合とで、上記先頭パルスの発光レベルを変化させ
るための発光変化量を補正値として生成する補正量生成
手段と、上記補正量生成手段の生成出力に応じて自動出
力制御されたドライブ電圧を出力する自動出力制御手段
と、上記書き込みパルス生成手段と上記自動出力制御手
段の出力から上記発光手段を駆動する駆動手段とを有す
ることにより上記課題を解決する。
【０００９】また、上記書き込みパルス生成手段は、上
記マーク長検出手段により検出された上記マーク長が上
記所定のマーク幅より長い場合、先頭パルスの幅を決定
すると共に、温度保持用パルスの個数を決定して書き込
みパルスを生成する。
記マーク長検出手段により検出された上記マーク長が上
記所定のマーク幅より長い場合、先頭パルスの幅を決定
すると共に、温度保持用パルスの個数を決定して書き込
みパルスを生成する。
【００１０】
【００１１】
【００１２】
【作用】書き込みパルス生成手段は、マーク長検出手段
が検出したマーク長が所定のマーク幅以上に長い場合
と、上記マーク長が所定のマーク幅より短い場合とで、
少なくとも先頭パルスのパルス幅を変化させて書き込み
パルスを生成する。補正量生成手段は、マーク長検出手
段が検出したマーク長が所定のマーク幅以上に長い場合
と、上記マーク長が所定のマーク幅より短い場合とで先
頭パルスの発光レベルを変化させるための発光変化量を
補正値として生成する。自動出力制御手段は、補正量生
成手段の生成出力に応じて自動出力制御されたドライブ
電圧を出力する。駆動手段は、書き込みパルス生成手段
と自動出力制御手段の出力から発光手段を駆動して、レ
ーザ光を出射させ、ディスク状記録媒体に情報信号を記
録する。
が検出したマーク長が所定のマーク幅以上に長い場合
と、上記マーク長が所定のマーク幅より短い場合とで、
少なくとも先頭パルスのパルス幅を変化させて書き込み
パルスを生成する。補正量生成手段は、マーク長検出手
段が検出したマーク長が所定のマーク幅以上に長い場合
と、上記マーク長が所定のマーク幅より短い場合とで先
頭パルスの発光レベルを変化させるための発光変化量を
補正値として生成する。自動出力制御手段は、補正量生
成手段の生成出力に応じて自動出力制御されたドライブ
電圧を出力する。駆動手段は、書き込みパルス生成手段
と自動出力制御手段の出力から発光手段を駆動して、レ
ーザ光を出射させ、ディスク状記録媒体に情報信号を記
録する。
【００１３】
【００１４】
【００１５】このため、本発明に係る光ディスク記録装
置は、動作責務比の変化の低減、エッジシフト量の低
減、長マークでのＣ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実
現できる。
置は、動作責務比の変化の低減、エッジシフト量の低
減、長マークでのＣ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実
現できる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明に係る光ディスク記録装置の実
施例について図面を参照しながら説明する。この実施例
は、例えば径が１３０ｍｍのディスクにレーザダイオー
ドＬＤからのレーザ光を照射して熱記録により波形列の
データ長に応じたマーク長記録を行う光ディスク記録装
置である。特に、この光ディスク記録装置は、後述する
ように、光ディスクに所定のマーク幅以下のマーク幅で
情報信号を記録する。
施例について図面を参照しながら説明する。この実施例
は、例えば径が１３０ｍｍのディスクにレーザダイオー
ドＬＤからのレーザ光を照射して熱記録により波形列の
データ長に応じたマーク長記録を行う光ディスク記録装
置である。特に、この光ディスク記録装置は、後述する
ように、光ディスクに所定のマーク幅以下のマーク幅で
情報信号を記録する。
【００１７】この実施例の光ディスク記録装置は、記録
データＤ0のタイミングを調整するタイミング調整回路
１と、記録データＤ0のマーク長を検出するマーク長検
出回路２と、このマーク長検出回路２の検出結果ｔａ、
ｔｂ、ｔｃと、チャンネルクロックCLOCKと、タイミン
グ調整された記録データＤ0’とからクシ型パルスを生
成するクシ型パルス生成回路３と、上記マーク長検出回
路２の検出結果ｔａ、ｔｂ、ｔｃからクシ型の先頭パル
スの発光レベルの変化量を補正値として出力するドライ
ブ補正量生成回路４と、このドライブ補正量生成回路４
で生成された信号のタイミングを調整するタイミング調
整回路５と、レーザダイオードＬＤにドライバ７とドラ
イブ回路９を介してオートパワーコントロールされた駆
動電圧ＶDを供給するオートパワーコントロール（以
下、ＡＰＣという。）回路６と、上記クシ型パルス生成
回路３のパルス出力から互いに相補うする平衡出力をド
ライブ回路９に供給するアンプ８と、レーザダイオード
ＬＤを駆動するドライブ回路９とを有してなる。記録デ
ータＤ0は、マーク長検出回路２に供給され、図２の
（Ａ）に示すようなチャンネルクロックCLOCKの周期の
何倍か、例えば２Ｔ、３Ｔ又はそれより上の４Ｔ〜８Ｔ
かが検出される。この検出結果ｔａ、ｔｂ及びｔｃ信号
（図２の（Ｂ）に示す。）は、それぞれクシ型パルス生
成回路３とドライブ補正量生成回路４に供給される。
データＤ0のタイミングを調整するタイミング調整回路
１と、記録データＤ0のマーク長を検出するマーク長検
出回路２と、このマーク長検出回路２の検出結果ｔａ、
ｔｂ、ｔｃと、チャンネルクロックCLOCKと、タイミン
グ調整された記録データＤ0’とからクシ型パルスを生
成するクシ型パルス生成回路３と、上記マーク長検出回
路２の検出結果ｔａ、ｔｂ、ｔｃからクシ型の先頭パル
スの発光レベルの変化量を補正値として出力するドライ
ブ補正量生成回路４と、このドライブ補正量生成回路４
で生成された信号のタイミングを調整するタイミング調
整回路５と、レーザダイオードＬＤにドライバ７とドラ
イブ回路９を介してオートパワーコントロールされた駆
動電圧ＶDを供給するオートパワーコントロール（以
下、ＡＰＣという。）回路６と、上記クシ型パルス生成
回路３のパルス出力から互いに相補うする平衡出力をド
ライブ回路９に供給するアンプ８と、レーザダイオード
ＬＤを駆動するドライブ回路９とを有してなる。記録デ
ータＤ0は、マーク長検出回路２に供給され、図２の
（Ａ）に示すようなチャンネルクロックCLOCKの周期の
何倍か、例えば２Ｔ、３Ｔ又はそれより上の４Ｔ〜８Ｔ
かが検出される。この検出結果ｔａ、ｔｂ及びｔｃ信号
（図２の（Ｂ）に示す。）は、それぞれクシ型パルス生
成回路３とドライブ補正量生成回路４に供給される。
【００１８】クシ型パルス生成回路３では、クシ型の先
頭パルスの幅と温度保持用パルスの数を決定し、必要な
書き込みパルスを生成する。特に、このクシ型パルス生
成回路３は、上記マーク長が上記所定のマーク幅以上に
長い場合と、上記マーク長が上記所定のマーク幅より短
い場合とで、上記先頭パルスのパルス幅を変化させる。
例えば、上記所定のマーク幅は、図２の（Ａ）に示すよ
うに、０．８μｍである。
頭パルスの幅と温度保持用パルスの数を決定し、必要な
書き込みパルスを生成する。特に、このクシ型パルス生
成回路３は、上記マーク長が上記所定のマーク幅以上に
長い場合と、上記マーク長が上記所定のマーク幅より短
い場合とで、上記先頭パルスのパルス幅を変化させる。
例えば、上記所定のマーク幅は、図２の（Ａ）に示すよ
うに、０．８μｍである。
【００１９】タイミング調整回路１は、マーク長検出回
路２でマーク長を決定するのに必要な時間分、記録デー
タを遅延させることで、マーク長検出回路２とクシ型パ
ルス生成回路３での処理のタイミング調整を行う。
路２でマーク長を決定するのに必要な時間分、記録デー
タを遅延させることで、マーク長検出回路２とクシ型パ
ルス生成回路３での処理のタイミング調整を行う。
【００２０】ドライブ補正量生成回路４は、同様にクシ
型の先頭パルスの発光レベルの変化量を補正値Ｖofsと
して生成するものであり、図２の（Ｃ）に示すような例
えば発光レベルＬｃを基準レベルとすれば負の補正とし
て、先頭パルス幅がｔａのときＬｃ−Ｌａを、先頭パル
ス幅がｔｂのときＬｃ−Ｌｂと、先頭パルス幅がｔｃの
とき０を生成する。すなわち、上記ドライブ補正量生成
回路４では、上記マーク長が上記所定のマーク幅以上に
長い場合と、上記マーク長が上記所定のマーク幅より短
い場合とで、上記先頭パルスの発光レベルを変化させ
る。
型の先頭パルスの発光レベルの変化量を補正値Ｖofsと
して生成するものであり、図２の（Ｃ）に示すような例
えば発光レベルＬｃを基準レベルとすれば負の補正とし
て、先頭パルス幅がｔａのときＬｃ−Ｌａを、先頭パル
ス幅がｔｂのときＬｃ−Ｌｂと、先頭パルス幅がｔｃの
とき０を生成する。すなわち、上記ドライブ補正量生成
回路４では、上記マーク長が上記所定のマーク幅以上に
長い場合と、上記マーク長が上記所定のマーク幅より短
い場合とで、上記先頭パルスの発光レベルを変化させ
る。
【００２１】タイミング調整回路５は、タイミング調整
回路１と同様にマーク長検出回路２とドライブ補正量生
成回路４で生じるタイミングのズレを調整する。このた
め、クシ型パルス生成回路３のパルス出力とＡＰＣ回路
のドライブ出力のタイミングを合わせることができる。
回路１と同様にマーク長検出回路２とドライブ補正量生
成回路４で生じるタイミングのズレを調整する。このた
め、クシ型パルス生成回路３のパルス出力とＡＰＣ回路
のドライブ出力のタイミングを合わせることができる。
【００２２】ＡＰＣ回路６は、図３に示すように、レー
ザダイオード発光モニタ電圧ＶMが供給されるバッファ
アンプ１０と、このバッファアンプ１０からのデータと
基準電圧値Ｖrefとを比較する比較器１１と、この比較
器１１の比較出力に帯域制限を施すローパスフィルタ
（以下、ＬＰＦという。）１２と、このＬＰＦ１２から
のフィルタ出力をホールド信号Ｈに基づいてサンプル／
ホールドするサンプル／ホールド（図中Ｓ／Ｈと記
す。）回路１３と、このＳ／Ｈ回路１３からの出力とタ
イミング調整回路５からの出力Ｖofs’とを入力とする
演算増幅器１４とから構成されている。
ザダイオード発光モニタ電圧ＶMが供給されるバッファ
アンプ１０と、このバッファアンプ１０からのデータと
基準電圧値Ｖrefとを比較する比較器１１と、この比較
器１１の比較出力に帯域制限を施すローパスフィルタ
（以下、ＬＰＦという。）１２と、このＬＰＦ１２から
のフィルタ出力をホールド信号Ｈに基づいてサンプル／
ホールドするサンプル／ホールド（図中Ｓ／Ｈと記
す。）回路１３と、このＳ／Ｈ回路１３からの出力とタ
イミング調整回路５からの出力Ｖofs’とを入力とする
演算増幅器１４とから構成されている。
【００２３】先ず、ＡＰＣ回路６は、バッファアンプ１
０を介したレーザダイオード発光モニタ電圧と基準電圧
値Ｖrefとを比較器１１にて比較する。この比較器１１
の比較出力は、ＬＰＦ１２で帯域制限された後、マーク
長検出回路２からのホールド信号Ｈによりサンプル／ホ
ールドされる。この比較器１１の比較出力を図４に、ホ
ールド前（破線）と、ホールド後（実線）として示す。
サンプルホールドの後には、マーク長によるドライブ量
の増減がキャンセルされ、ＡＰＣ処理が施される。この
ときのホールド信号Ｈは、図４に示すように、データが
２Ｔ又は３Ｔの時に出力される。このホールド出力とタ
イミング調整回路５でタイミング調整されたドライブ補
正量Ｖofstが演算増幅器１４で減算され、図４に示すよ
うに最終ドライブ出力である駆動電圧ＶDとなる。この
最終ドライブ出力は、ドライバ７を介してレーザダイオ
ード駆動回路９に供給される。
０を介したレーザダイオード発光モニタ電圧と基準電圧
値Ｖrefとを比較器１１にて比較する。この比較器１１
の比較出力は、ＬＰＦ１２で帯域制限された後、マーク
長検出回路２からのホールド信号Ｈによりサンプル／ホ
ールドされる。この比較器１１の比較出力を図４に、ホ
ールド前（破線）と、ホールド後（実線）として示す。
サンプルホールドの後には、マーク長によるドライブ量
の増減がキャンセルされ、ＡＰＣ処理が施される。この
ときのホールド信号Ｈは、図４に示すように、データが
２Ｔ又は３Ｔの時に出力される。このホールド出力とタ
イミング調整回路５でタイミング調整されたドライブ補
正量Ｖofstが演算増幅器１４で減算され、図４に示すよ
うに最終ドライブ出力である駆動電圧ＶDとなる。この
最終ドライブ出力は、ドライバ７を介してレーザダイオ
ード駆動回路９に供給される。
【００２４】レーザダイオード駆動回路９は、トランジ
スタＴｒ1とトランジスタＴｒ2とトランジスタＴｒ3と
から構成される。トランジスタＴｒ1のベースにはアン
プ８からの平衡出力の正出力が供給され、コレクタはレ
ーザダイオードＬＤのカソードに接続され、エミッタは
トランジスタＴｒ2のエミッタと直接接続されてトラン
ジスタＴｒ3のコレクタに接続されている。トランジス
タＴｒ2のコレクタは、負荷抵抗Ｒ1を介して接地され、
ベースにはアンプ８の反転出力が供給され、エミッタは
上述したようにトランジスタＴｒ1のエミッタと直接接
続されてトランジスタＴｒ3のコレクタに接続されてい
る。Ｔｒ3のベースにはＡＰＣ回路６からの最終ドライ
ブ出力がドライバ７を介して供給され、エミッタは抵抗
Ｒ11を介してＶEEに接続されている。
スタＴｒ1とトランジスタＴｒ2とトランジスタＴｒ3と
から構成される。トランジスタＴｒ1のベースにはアン
プ８からの平衡出力の正出力が供給され、コレクタはレ
ーザダイオードＬＤのカソードに接続され、エミッタは
トランジスタＴｒ2のエミッタと直接接続されてトラン
ジスタＴｒ3のコレクタに接続されている。トランジス
タＴｒ2のコレクタは、負荷抵抗Ｒ1を介して接地され、
ベースにはアンプ８の反転出力が供給され、エミッタは
上述したようにトランジスタＴｒ1のエミッタと直接接
続されてトランジスタＴｒ3のコレクタに接続されてい
る。Ｔｒ3のベースにはＡＰＣ回路６からの最終ドライ
ブ出力がドライバ７を介して供給され、エミッタは抵抗
Ｒ11を介してＶEEに接続されている。
【００２５】このレーザダイオード駆動回路９のトラン
ジスタＴｒ1は、トランジスタＴｒ2がオフのとき、オン
となる。このとき、トランジスタＴｒ3のベースに供給
された上記最終ドライブ出力は、レーザダイオードＬＤ
に供給され、レーザ光を出射する。
ジスタＴｒ1は、トランジスタＴｒ2がオフのとき、オン
となる。このとき、トランジスタＴｒ3のベースに供給
された上記最終ドライブ出力は、レーザダイオードＬＤ
に供給され、レーザ光を出射する。
【００２６】以上より、本実施例の光ディスク記録装置
は、Dutyの変化の低減、エッジシフト量の低減、長マー
クでのＣ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実現できる。
は、Dutyの変化の低減、エッジシフト量の低減、長マー
クでのＣ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実現できる。
【００２７】なお、本発明に係る光ディスク録装置は、
上記実施例にのみ限定されるものでなく、例えば径の大
きさが異なる他のディスクへの記録を行ってもよい。ま
た、一層の高密度記録を実現するためには、短波長のレ
ーザ光を出射するレーザ発生素子、例えば第２高調波発
生素子等の高調波発生素子を用いてもよい。
上記実施例にのみ限定されるものでなく、例えば径の大
きさが異なる他のディスクへの記録を行ってもよい。ま
た、一層の高密度記録を実現するためには、短波長のレ
ーザ光を出射するレーザ発生素子、例えば第２高調波発
生素子等の高調波発生素子を用いてもよい。
【００２８】
【発明の効果】本発明に係る光ディスク記録装置は、マ
ーク長検出手段が検出したマーク長が所定のマーク幅以
上に長い場合と、上記マーク長が所定のマーク幅より短
い場合とで、書き込みパルス生成手段が少なくとも先頭
パルスのパルス幅を変化させて書き込みパルスを生成す
ると共に補正量生成手段が先頭パルスの発光レベルを変
化させるための発光変化量を補正値として生成する。そ
して、自動出力制御手段が、補正量生成手段の生成出力
に応じて自動出力制御されたドライブ電圧を出力し、駆
動手段が書き込みパルス生成手段と自動出力制御手段の
出力から発光手段を駆動して、レーザ光を出射させ、デ
ィスク状記録媒体に情報信号を記録するので、動作責務
比の変化の低減、エッジシフト量の低減、長マークでの
Ｃ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実現できる。
ーク長検出手段が検出したマーク長が所定のマーク幅以
上に長い場合と、上記マーク長が所定のマーク幅より短
い場合とで、書き込みパルス生成手段が少なくとも先頭
パルスのパルス幅を変化させて書き込みパルスを生成す
ると共に補正量生成手段が先頭パルスの発光レベルを変
化させるための発光変化量を補正値として生成する。そ
して、自動出力制御手段が、補正量生成手段の生成出力
に応じて自動出力制御されたドライブ電圧を出力し、駆
動手段が書き込みパルス生成手段と自動出力制御手段の
出力から発光手段を駆動して、レーザ光を出射させ、デ
ィスク状記録媒体に情報信号を記録するので、動作責務
比の変化の低減、エッジシフト量の低減、長マークでの
Ｃ／Ｎ向上、エッジジッタの低減を実現できる。
【図１】本発明の実施例となる光ディスク記録装置のブ
ロック回路図である。
ロック回路図である。
【図２】図１に示した光ディスク記録装置の動作を説明
するためのタイミングチャートである。
するためのタイミングチャートである。
【図３】上記実施例の光ディスク記録装置のＡＰＣ回路
の具体的な回路図である。
の具体的な回路図である。
【図４】図３に示したＡＰＣ回路の動作を説明するため
のタイミングチャートである。
のタイミングチャートである。
【図５】従来の光ディスク記録装置の動作を説明するた
めの図である。
めの図である。
２ マーク長検出回路 ３ クシ型パルス生成回路 ４ ドライブ補正量生成回路 ６ オートパワーコントロール回路 ９ レーザダイオード駆動回路
Claims (2)
- 【請求項１】 先頭パルスを有してなる書き込みパルス
をデータのマーク長に基づいて生成し、この書き込みパ
ルスに応じて発光手段を駆動してレーザ光を出射し、デ
ィスク状記録媒体に少なくとも所定のマーク幅以下のマ
ーク幅で情報信号を記録する光ディスク記録装置におい
て、 上記データのマーク長を検出するマーク長検出手段と、 上記マーク長検出手段により検出された上記マーク長が
上記所定のマーク幅以上に長い場合と、上記マーク長が
上記所定のマーク幅より短い場合とで、少なくとも先頭
パルスのパルス幅を変化させて書き込みパルスを生成す
る書き込みパルス生成手段と、 上記マーク長検出手段により検出された上記マーク長が
所定のマーク幅以上に長い場合と、上記マーク長が上記
所定のマーク幅より短い場合とで、上記先頭パルスの発
光レベルを変化させるための発光変化量を補正値として
生成する補正量生成手段と、 上記補正量生成手段の生成出力に応じて自動出力制御さ
れたドライブ電圧を出力する自動出力制御手段と、 上記書き込みパルス生成手段と上記自動出力制御手段の
出力から上記発光手段を駆動する駆動手段とを有するこ
とを特徴とする光ディスク記録装置。 - 【請求項２】 上記書き込みパルス生成手段は、上記マ
ーク長検出手段により検出された上記マーク長が上記所
定のマーク幅より長い場合、先頭パルスの幅を決定する
と共に、温度保持用パルスの個数を決定して書き込みパ
ルスを生成することを特徴とする請求項１記載の光ディ
スク記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25645794A JP3257287B2 (ja) | 1994-10-21 | 1994-10-21 | 光ディスク記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25645794A JP3257287B2 (ja) | 1994-10-21 | 1994-10-21 | 光ディスク記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08124161A JPH08124161A (ja) | 1996-05-17 |
| JP3257287B2 true JP3257287B2 (ja) | 2002-02-18 |
Family
ID=17292910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25645794A Expired - Fee Related JP3257287B2 (ja) | 1994-10-21 | 1994-10-21 | 光ディスク記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3257287B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| MXPA04009524A (es) | 2002-04-03 | 2005-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Unidad de disco optico, medio de almacenamiento optico, aparato para inspeccion del medio de almacenamiento optico y metodo de inspeccion del medio de almacenamiento optico. |
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-
1994
- 1994-10-21 JP JP25645794A patent/JP3257287B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08124161A (ja) | 1996-05-17 |
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