Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP3121430B2 - 超音波探傷方法及び超音波探触子 - Google Patents

超音波探傷方法及び超音波探触子

Info

Publication number
JP3121430B2
JP3121430B2 JP04099914A JP9991492A JP3121430B2 JP 3121430 B2 JP3121430 B2 JP 3121430B2 JP 04099914 A JP04099914 A JP 04099914A JP 9991492 A JP9991492 A JP 9991492A JP 3121430 B2 JP3121430 B2 JP 3121430B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
medium
ultrasonic
wave
ultrasonic probe
vibrator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP04099914A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0643139A (ja
Inventor
利彦 阿部
忠宏 野村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Keiki Inc
Original Assignee
Tokyo Keiki Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Keiki Inc filed Critical Tokyo Keiki Inc
Priority to JP04099914A priority Critical patent/JP3121430B2/ja
Publication of JPH0643139A publication Critical patent/JPH0643139A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3121430B2 publication Critical patent/JP3121430B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、超音波集束ビームを発
生し、被検材内の欠陥検出に用いられる超音波探触子に
関し、特に横波を利用して超音波ビーム集束特性を改良
した超音波探触子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の超音波探触子としては、
例えば図4に示すようなものがある。
【0003】この超音波探触子においては、超音波集束
ビームを発生するため、振動子41の片面には発生した
超音波を減衰させるダンパー42が、また他方の超音波
放射面には、発生した超音波をビーム成形するため、音
響レンズ43が配設されている。
【0004】超音波探触子は発生した超音波を伝達する
音響結合剤である媒質I内へ浸漬して、音響レンズ43
と媒質I(音響結合剤)2を介して、媒質II(被検材)
3へ向けて、超音波の送波を行い、さらに、受波も逆方
向に同じパスを通って行われる。
【0005】振動子41からの超音波は縦波であり、音
響レンズ43を介して媒質I2から媒質II3へ入射する
とき超音波は屈折して、被検材内にて縦波超音波による
集束ビームを形成して焦点位置に集束される。
【0006】被検材内欠陥などからの反射波は上記集束
ビームを介して振動子にて受波される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の超音
波探触子にあっては、媒質I2内に浸漬された振動子か
らは、音響レンズを介して被検材の媒質II3へ向け縦波
超音波が放射される。
【0008】縦波超音波の媒質I2から媒質II3への入
射角は縦波臨界角より小さいので、被検材内には縦波超
音波が発生して両媒質の臨界面において下記のとおり屈
折する。
【0009】
【数1】sin θ1/sin θ2=Cw/Ce θ1…入射角、θ2…屈折角、Cw…媒質I2の音速、Ce
…媒質II3の音速である。そして、たとえば、媒質I2
を水、媒質II3をエポキシ樹脂とする。
【0010】入射角θ1が変わると両者の音速比により
被検材内では焦点化せず、分散配置となるので、先鋭な
集束ビームが形成できない。従って分解能が低下し、被
検材内の微小欠陥の検出、例えばICパッケージの割れ
や内部におけるチップの剥離などの欠陥の検出が不可能
になる。
【0011】先鋭な集束ビームを形成するため超音波の
周波数を高くすると、被検材内での超音波の伝搬損失が
増加して受波信号のレベルが低下し、微小欠陥の検出が
困難になる。
【0012】また先鋭ビーム形成のため音響レンズの開
口を大きくすると、縦波超音波の入射角θ1が広い範囲
に亙り変わるので、縦波と同時に横波が発生して両者が
干渉し、安定した動作が得られないという問題点があっ
た。
【0013】本発明の目的は、横波超音波を用いて、媒
質Iを介して媒質IIにおいて集束しうる超音波の送波を
行う超音波探傷方法を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、媒質Iを介して媒質IIへ向けて超音波を
送波する超音波探触子を用いた超音波探傷方法におい
て、 互いに平行する2つの平面で中空球を裁断したとき
にできる円環状の1の振動子から放射された超音波を、
縦波臨界角より大きな角度で媒質IIへ斜めに入射させる
こと、 媒質II内部に発生した横波を、屈折後、焦点位置
に焦束させることを特徴とする超音波探傷方法を提供す
る。
【0015】
【作用】媒質Iを介して媒質IIへ向けて超音波の送波を
行う超音波探触子を用いた超音波探傷方法において、振
動子から放射された超音波を、縦波臨界角より大きな角
度にて媒質IIへ斜めに入射させるため、媒質II内部に横
波が発生する。発生した横波を屈折後、円環状に入射さ
せて焦点位置に集束させるため、超音波は集束されて先
鋭ビームとなり、所定位置に集束度の高い焦点が形成さ
れる。振動子と媒質IIの相対位置を変えると媒質II内の
焦点位置が調整できる。
【0016】
【実施例】以下、本発明を図面に基づいて説明する。
【0017】図1は、本発明の一実施例を示す図であ
る。図2は図1の上面図である。図5は、本発明の振動
子の一実施例の外観を示す説明図である。まず構成を説
明すると、1は振動子(PZT,チタン酸鉛,メタニオ
ブ酸鉛,PVDF等を材料とする)、2は音響結合剤と
しての媒質I、3は被検材である媒質II、5は焦点を示
している。振動子1は圧電セラミック材よりなり中空球
を互いに平行する2つの面にて裁断して、円環状をなし
ている。振動子1は媒質I2即ち音響結合剤としての例
えば水中に浸漬され、円環状をなす球面から所定の入射
角即ち縦波臨界角より大きな入射角にて、披検材として
の媒質II3へ超音波を放射し、媒質II3内の所定位置に
集束ビームの焦点が形成されるように、媒質II3に対し
て配置される。図5に示すように、振動子1から出る音
の伝搬路に関して、それぞれの、焦点までの伝搬時間が
同じになるように振動子1の曲率を設定している。
【0018】次に、上記の実施例の作用を説明する。図
3は斜め入射による縦波と横波の強度分布図であり、水
浸法により水中の振動子1から媒質II3へ入射角を変え
て縦波を放射したときの、媒質II3内に発生する縦波と
横波の往復通過率をそれぞれTD ,TS として、示した
ものである。往復通過率をTiとすると、
【0019】
【数2】Ti =P′/P0 , P0 …入射波,
P′…反射波である。
【0020】入射角が縦波臨界角より、小さい範囲では
横波も一部発生するが、縦波の往復通過率が大きく縦波
が支配的である。入射角が増加して縦波臨界角を超え、
横波臨界角までの範囲においては横波のみが現われる。
入射角は横波の往復通過率が最大値から約90%(約1
dBだけ最大値から下がった範囲である。入射角で言う
と、例えば、媒質Iが水、媒質IIがエポキシの場合にお
いては、41度から52度の範囲の音波を出力するよう
に、振動子1の曲率を決定する。これより広い範囲の音
波を出力するようにすると、縦波が生じる可能性が有る
からである)までの値となるように中空球の裁断位置を
選定し、振動子の形状を決定する。振動子1と媒質II3
との相対位置を調節して媒質II3内における集束ビーム
が形成する焦点位置が調整できる。
【0021】媒質I2に水、媒質II3にエポキシ樹脂を
用いたとき屈折率は1に近く、且つ横波の往復通過率が
適正な値となるよう振動子の形状を決定すると、超音波
周波数を高くしたり、開口寸法を大きくすることなく著
しく先鋭な集束ビームが形成され集束度を上げることが
できる。
【0022】従って媒質II3内の微小欠陥などから十分
なレベルの反射信号が得られて感度が向上する。更に互
いに隣接する欠陥などの識別が容易になり、分解能も向
上できる。従ってプラスチック材よりなるICパッケー
ジに発生した割れや内部におけるチップの剥離などが高
分解能にて検知できる。
【0023】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、以下に列挙する効果が得られる。
【0024】球面を円環状にそなえた振動子から、縦波
臨界角より大きな入射角にて媒質IIへ超音波を放射す
るよう相互に配置しているので、媒質IIの中では横波
超音波のみで集束度の高い焦点を形成できるため高感度
が得られる。
【0025】さらに、同一周波数ならば縦波超音波より
約1/2短い波長の横波超音波を使用するため減衰の少
ない低い周波数でも高い分解能が得られる(一般に超音
波は周波数の2乗で減衰が大きくなる)。
【0026】この結果、探触子は感度ならびに分解能が
向上し微小欠陥が検出できる。
【0027】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、横波超音波を用いて、媒質Iを介して媒質IIにおい
て集束しうる超音波の送波を行う超音波探傷方法を提供
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の振動子の一実施例を示す断面図。
【図2】本発明の振動子の上面図。
【図3】斜め入射による縦波と横波の強度分布のグラ
フ。
【図4】従来の超音波探触子の断面図。
【図5】本発明の振動子の一実施例における音の伝搬路
の説明図。
【図6】本発明の振動子の一実施例の外観を示す説明
図。
【符号の説明】
1…振動子 41…振動子 42…ダンパ 43…音響レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き 審査官 神谷 直慈 (56)参考文献 特開 昭59−157560(JP,A) 特開 昭61−286747(JP,A) 実開 昭62−140450(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 29/00 - 29/28

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】媒質Iを介して媒質IIへ向けて超音波を送
    波する超音波探触子を用いた超音波探傷方法において、互いに平行する2つの平面で中空球を裁断したときにで
    きる円環状の1の 振動子から放射された超音波を縦波
    臨界角より大きな角度で媒質IIへ斜めに入射させるこ
    と、 媒質II内部に発生した横波を、屈折後、焦点位置に焦束
    させること特徴とする超音波探傷方法。
  2. 【請求項2】媒質Iを介して媒質IIに向けて超音波を送
    波する超音波探触子であって、縦波臨界角より大きな角度で前記超音波が円環状に媒質
    IIへ斜めに入射するように、 球面を互いに平行な2つの
    平面裁断したときにできる円環状の位置に、1の振動
    子を有することを特徴とする超音波探触子。
  3. 【請求項3】媒質Iを介して媒質IIに向けて超音波を送
    波する超音波探触子であって、縦波臨界角より大きな角度で前記超音波が円環状に媒質
    IIへ斜めに入射するように 、中空球を互いに平行な2つ
    の平面裁断したときにできる円環状の1の振動子を有
    することを特徴とする超音波探触子。
  4. 【請求項4】請求項2または3記載の超音波探触子であ
    って、 当該超音波探触子は、超音波の受波の機能を有すること
    を特徴とする超音波探触子。
JP04099914A 1992-04-20 1992-04-20 超音波探傷方法及び超音波探触子 Expired - Lifetime JP3121430B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04099914A JP3121430B2 (ja) 1992-04-20 1992-04-20 超音波探傷方法及び超音波探触子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04099914A JP3121430B2 (ja) 1992-04-20 1992-04-20 超音波探傷方法及び超音波探触子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0643139A JPH0643139A (ja) 1994-02-18
JP3121430B2 true JP3121430B2 (ja) 2000-12-25

Family

ID=14260051

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04099914A Expired - Lifetime JP3121430B2 (ja) 1992-04-20 1992-04-20 超音波探傷方法及び超音波探触子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3121430B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7344509B2 (en) * 2003-04-17 2008-03-18 Kullervo Hynynen Shear mode therapeutic ultrasound
US7175599B2 (en) * 2003-04-17 2007-02-13 Brigham And Women's Hospital, Inc. Shear mode diagnostic ultrasound
CA2712540C (en) * 2005-08-26 2015-12-08 Masaki Yamano Ultrasonic probe, ultrasonic testing equipment, ultrasonic testing method, and manufacturing method of seamless pipe or tube
JP5645428B2 (ja) * 2010-03-04 2014-12-24 三菱重工業株式会社 超音波探傷方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0643139A (ja) 1994-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5094108A (en) Ultrasonic contact transducer for point-focussing surface waves
JP2664443B2 (ja) 超音波でサンプルを調査する装置
JP3121430B2 (ja) 超音波探傷方法及び超音波探触子
US5381695A (en) Apparatus for investigating a sample with ultrasound
JPH06217395A (ja) 単色超音波変換器
JPH0273151A (ja) 超音波探触子
JPH03113362A (ja) 円錐状超音波偏向要素
JPH08261997A (ja) 表面波探触子
RU2001102779A (ru) Устройство и способ определения физических параметров двухфазной смеси с помощью распространения акустической волны в непрерывной фазе двухфазной смеси
JPS634142B2 (ja)
JP2002044773A (ja) 音響レンズおよび超音波送波器
JP3027495B2 (ja) 超音波プローブ
JPS62127665A (ja) 光フアイバの一端に超音波及び光を導入する装置
JPH0835956A (ja) 超音波探触子
SU1249442A1 (ru) Ультразвуковой преобразователь
JP2667684B2 (ja) 焦点探触子
JPS61186850A (ja) 音波探触子
Tanabe et al. 3Pa6-3 Transmission Characteristics of Wedge-shaped Medium with Evanescent Field
JPS61262653A (ja) 音波探触子
JPS6147556A (ja) 管内插入式超音波探触子
JP2912639B2 (ja) 超音波斜角探触子
JPS6070351A (ja) 円柱状物体の超音波探傷方法
JP3783979B2 (ja) 超音波検査装置及び超音波検査方法
JP2630392B2 (ja) 超音波探傷装置
JPH01195359A (ja) 超音波探触子

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term