JP3152178B2 - ロック動作測定方法 - Google Patents
ロック動作測定方法Info
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- JP3152178B2 JP3152178B2 JP24706297A JP24706297A JP3152178B2 JP 3152178 B2 JP3152178 B2 JP 3152178B2 JP 24706297 A JP24706297 A JP 24706297A JP 24706297 A JP24706297 A JP 24706297A JP 3152178 B2 JP3152178 B2 JP 3152178B2
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- semaphore
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ロック動作測定方
法に関し、特にセマフォアのビジー率及び競合率を算出
するためのロック動作測定方法に関する。
法に関し、特にセマフォアのビジー率及び競合率を算出
するためのロック動作測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来この種の技術では、情報処理装置で
動作したプログラムの命令情報であるトレース情報を作
成し、その後このトレース情報を用いてロックの取得及
び解放の関係を解析することによりロック動作を測定し
ている。たとえば、特開平５−６６９７２号公報には、
予め作成したトレース情報と、ロック解析対象範囲指定
情報と、セマフォア情報とからロック区間を解析して平
均命令実行時間を計算する方法が記載されている。
動作したプログラムの命令情報であるトレース情報を作
成し、その後このトレース情報を用いてロックの取得及
び解放の関係を解析することによりロック動作を測定し
ている。たとえば、特開平５−６６９７２号公報には、
予め作成したトレース情報と、ロック解析対象範囲指定
情報と、セマフォア情報とからロック区間を解析して平
均命令実行時間を計算する方法が記載されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来技術では、
プログラム実行に関する全ての情報を一旦トレース情報
として格納し、その後これに基づいてロックの取得及び
解放の関係を解析しているため、トレース情報が膨大な
ものとなり、十分な範囲におけるトレースが不可能であ
った。
プログラム実行に関する全ての情報を一旦トレース情報
として格納し、その後これに基づいてロックの取得及び
解放の関係を解析しているため、トレース情報が膨大な
ものとなり、十分な範囲におけるトレースが不可能であ
った。
【０００４】本発明の目的は、トレース情報の上限に制
約されることなく、十分な範囲におけるロック動作の測
定を行うことにある。
約されることなく、十分な範囲におけるロック動作の測
定を行うことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明のロック動作測定方法は、測定対象として指定
されたセマフォアのロック取得からロック解放までの時
間を実時間で測定する。
に本発明のロック動作測定方法は、測定対象として指定
されたセマフォアのロック取得からロック解放までの時
間を実時間で測定する。
【０００６】また、本発明の他のロック動作測定方法
は、測定対象として指定されたセマフォアのロック取得
待ちからロック取得までの時間を実時間で測定する。
は、測定対象として指定されたセマフォアのロック取得
待ちからロック取得までの時間を実時間で測定する。
【０００７】また、本発明の他のロック動作測定方法
は、測定中か否かを表示する測定動作表示情報と、少な
くとも一つの測定対象セマフォアを特定する情報とを格
納する測定情報エリアを含む情報処理装置におけるロッ
ク動作測定方法であって、前記測定動作表示情報が測定
中である旨を表示している間に前記測定対象セマフォア
についてのロック取得またはロック解放の要求があった
場合に、ロック取得からロック解放までの時間を実時間
で測定する。
は、測定中か否かを表示する測定動作表示情報と、少な
くとも一つの測定対象セマフォアを特定する情報とを格
納する測定情報エリアを含む情報処理装置におけるロッ
ク動作測定方法であって、前記測定動作表示情報が測定
中である旨を表示している間に前記測定対象セマフォア
についてのロック取得またはロック解放の要求があった
場合に、ロック取得からロック解放までの時間を実時間
で測定する。
【０００８】また、本発明の他のロック動作測定方法に
おいて、前記測定情報エリアは前記測定対象セマフォア
のそれぞれに対応して、当該セマフォアがロック取得状
態に移入した時間であるロック移入時間と、当該セマフ
ォアがロック取得状態にある時間の累積値であるロック
取得時間累積とをさらに格納する。
おいて、前記測定情報エリアは前記測定対象セマフォア
のそれぞれに対応して、当該セマフォアがロック取得状
態に移入した時間であるロック移入時間と、当該セマフ
ォアがロック取得状態にある時間の累積値であるロック
取得時間累積とをさらに格納する。
【０００９】また、本発明の他のロック動作測定方法に
おいて、前記ロック取得時間累積は、ロック解放時に、
現在時間から前記ロック移入時間を減じたものを、前記
ロック取得時間累積に加えることにより更新される。
おいて、前記ロック取得時間累積は、ロック解放時に、
現在時間から前記ロック移入時間を減じたものを、前記
ロック取得時間累積に加えることにより更新される。
【００１０】また、本発明の他のロック動作測定方法に
おいて、前記ロック取得時間累積の測定後、前記ロック
取得時間累積を経過時間で割った値をセマフォアビジー
率として算出する。
おいて、前記ロック取得時間累積の測定後、前記ロック
取得時間累積を経過時間で割った値をセマフォアビジー
率として算出する。
【００１１】また、本発明の他のロック動作測定方法
は、測定中か否かを表示する測定動作表示情報と、少な
くとも一つの測定対象セマフォアを特定する情報とを格
納する測定情報エリアを含む情報処理装置におけるロッ
ク動作測定方法であって、前記測定動作表示情報が測定
中である旨を表示している間に前記測定対象セマフォア
についてのロック取得またはロック解放の要求があった
場合に、ロック取得待ちからロック取得までの時間を実
時間で測定する。
は、測定中か否かを表示する測定動作表示情報と、少な
くとも一つの測定対象セマフォアを特定する情報とを格
納する測定情報エリアを含む情報処理装置におけるロッ
ク動作測定方法であって、前記測定動作表示情報が測定
中である旨を表示している間に前記測定対象セマフォア
についてのロック取得またはロック解放の要求があった
場合に、ロック取得待ちからロック取得までの時間を実
時間で測定する。
【００１２】また、本発明の他のロック動作測定方法に
おいて、前記測定情報エリアは前記測定対象セマフォア
のそれぞれに対応して、当該セマフォアに対するロック
取得待ち状態にある時間の累積値であるロック取得待ち
時間累積をさらに格納する。
おいて、前記測定情報エリアは前記測定対象セマフォア
のそれぞれに対応して、当該セマフォアに対するロック
取得待ち状態にある時間の累積値であるロック取得待ち
時間累積をさらに格納する。
【００１３】また、本発明の他のロック動作測定方法に
おいて、前記ロック取得待ち時間累積は、ロック解放時
に、現在時間からプロセスの現実行状態に遷移した時間
を減じたものを、前記ロック取得待ち時間累積に加える
ことにより更新される。
おいて、前記ロック取得待ち時間累積は、ロック解放時
に、現在時間からプロセスの現実行状態に遷移した時間
を減じたものを、前記ロック取得待ち時間累積に加える
ことにより更新される。
【００１４】また、本発明の他のロック動作測定方法に
おいて、前記ロック取得待ち時間累積の測定後、前記ロ
ック取得時間待ち累積を経過時間で割った値をセマフォ
ア競合率として算出する。
おいて、前記ロック取得待ち時間累積の測定後、前記ロ
ック取得時間待ち累積を経過時間で割った値をセマフォ
ア競合率として算出する。
【００１５】
【発明の実施の形態】次に本発明のロック動作測定方法
の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００１６】図１を参照すると、本発明の実施の形態
は、記憶装置上に設けられた測定情報エリア２００と、
セマフォアのロックを取得するためのＰ動作４００と、
セマフォアのロックを解放するためのＶ動作５００と、
測定情報エリア２００内の情報からセマフォアビジー率
を算出する手段３１１と、測定情報エリア２００内の情
報からセマフォア競合率を算出する手段３１２とを含ん
でいる。
は、記憶装置上に設けられた測定情報エリア２００と、
セマフォアのロックを取得するためのＰ動作４００と、
セマフォアのロックを解放するためのＶ動作５００と、
測定情報エリア２００内の情報からセマフォアビジー率
を算出する手段３１１と、測定情報エリア２００内の情
報からセマフォア競合率を算出する手段３１２とを含ん
でいる。
【００１７】Ｐ動作４００は、ロックを取得しようとす
るセマフォアについて他のプロセスが既にロックを取得
しているか否かをチェックして、いずれのプロセスもそ
のロックを取得していなければ、ロックを取得する。も
し、いずれかのプロセスがそのロックを取得していれ
ば、ロック取得待ちをそのセマフォアの待ち行列へつな
げる。
るセマフォアについて他のプロセスが既にロックを取得
しているか否かをチェックして、いずれのプロセスもそ
のロックを取得していなければ、ロックを取得する。も
し、いずれかのプロセスがそのロックを取得していれ
ば、ロック取得待ちをそのセマフォアの待ち行列へつな
げる。
【００１８】Ｖ動作５００は、セマフォアのロックを解
放し、そのセマフォアの待ち行列にロック取得待ちがあ
ればそれについてロックを取得する。
放し、そのセマフォアの待ち行列にロック取得待ちがあ
ればそれについてロックを取得する。
【００１９】各セマフォアにはセマフォアカウント（以
下、ＳＣＴという。）が設けられ、Ｐ動作４００及びＶ
動作５００において使用される。すなわち、いずれのプ
ロセスにもロックが取得されていない状態を「ＳＣＴ＝
１」として、Ｐ動作４００を１回行う度にＳＣＴから１
を減じ、Ｖ動作５００を１回を行う度にＳＣＴに１を加
える。これにより、Ｐ動作４００の最初にＳＣＴをチェ
ックして、これが「１」であればいずれのプロセスもそ
のロックを取得していないことを判断できる。また、Ｖ
動作５００の最初にＳＣＴをチェックして、これが負の
値であればそのセマフォアの待ち行列にロック取得待ち
があることを判断できる。
下、ＳＣＴという。）が設けられ、Ｐ動作４００及びＶ
動作５００において使用される。すなわち、いずれのプ
ロセスにもロックが取得されていない状態を「ＳＣＴ＝
１」として、Ｐ動作４００を１回行う度にＳＣＴから１
を減じ、Ｖ動作５００を１回を行う度にＳＣＴに１を加
える。これにより、Ｐ動作４００の最初にＳＣＴをチェ
ックして、これが「１」であればいずれのプロセスもそ
のロックを取得していないことを判断できる。また、Ｖ
動作５００の最初にＳＣＴをチェックして、これが負の
値であればそのセマフォアの待ち行列にロック取得待ち
があることを判断できる。
【００２０】図２を参照すると、測定情報エリア２００
は、測定動作表示情報２１０と、測定セマフォア数２２
０と、セマフォアアドレス２３０と、ロック移入時間２
４０と、ロック取得時間累積２５０と、ロック取得待ち
時間累積２６０とを含んでいる。
は、測定動作表示情報２１０と、測定セマフォア数２２
０と、セマフォアアドレス２３０と、ロック移入時間２
４０と、ロック取得時間累積２５０と、ロック取得待ち
時間累積２６０とを含んでいる。
【００２１】測定操作表示情報２１０は、例えば２ビッ
トからなり、”１１”の場合は測定中、”０１”の場合
は測定中断、”００”の場合は測定していないことを示
す。
トからなり、”１１”の場合は測定中、”０１”の場合
は測定中断、”００”の場合は測定していないことを示
す。
【００２２】測定セマフォア数２２０は、測定対象とな
ってるセマフォアの数を示す。この実施の形態では測定
できるセマフォアの数は最大１０個となっており、各セ
マフォアのアドレスがセマフォアアドレス＃０〜９（２
３０）に保持される。
ってるセマフォアの数を示す。この実施の形態では測定
できるセマフォアの数は最大１０個となっており、各セ
マフォアのアドレスがセマフォアアドレス＃０〜９（２
３０）に保持される。
【００２３】各セマフォアに対応して、ロック移入時間
２４０、ロック取得時間累積２５０、及び、ロック取得
待ち時間累積２６０が設けられている。ロック移入時間
２４０は、そのセマフォアがロック取得状態に移入した
時刻を保持する。ロック取得時間累積２５０は、そのセ
マフォアがロック取得状態にある時間を累積的に保持す
る。ロック取得待ち時間累積２６０は、そのセマフォア
がロック取得のための待ち状態にある時間を累積的に保
持する。
２４０、ロック取得時間累積２５０、及び、ロック取得
待ち時間累積２６０が設けられている。ロック移入時間
２４０は、そのセマフォアがロック取得状態に移入した
時刻を保持する。ロック取得時間累積２５０は、そのセ
マフォアがロック取得状態にある時間を累積的に保持す
る。ロック取得待ち時間累積２６０は、そのセマフォア
がロック取得のための待ち状態にある時間を累積的に保
持する。
【００２４】次に、本発明のロック動作測定方法の実施
の形態における動作について図面を参照して詳細に説明
する。
の形態における動作について図面を参照して詳細に説明
する。
【００２５】図２及び図３を参照すると、まず測定の開
始にあたって、測定情報エリア２００の測定セマフォア
数２２０及びその数に応じたセマフォアアドレス２３０
を設定する（ステップＳ３０１）。具体的には、例え
ば、測定対象のセマフォア数及びセマフォアアドレスを
記憶装置の所定の領域に格納しておき、その領域の先頭
アドレスをアドレスレジスタに保持しておく。そして、
そのアドレスレジスタを測定情報設定命令で指定するこ
とにより、測定情報エリア２００の測定セマフォア数２
２０及びセマフォアアドレス２３０が設定される。
始にあたって、測定情報エリア２００の測定セマフォア
数２２０及びその数に応じたセマフォアアドレス２３０
を設定する（ステップＳ３０１）。具体的には、例え
ば、測定対象のセマフォア数及びセマフォアアドレスを
記憶装置の所定の領域に格納しておき、その領域の先頭
アドレスをアドレスレジスタに保持しておく。そして、
そのアドレスレジスタを測定情報設定命令で指定するこ
とにより、測定情報エリア２００の測定セマフォア数２
２０及びセマフォアアドレス２３０が設定される。
【００２６】また、測定情報エリア２００における各セ
マフォアのロック取得時間累積２５０及びロック取得待
ち時間累積２６０をゼロにリセットする（ステップＳ３
０２）。
マフォアのロック取得時間累積２５０及びロック取得待
ち時間累積２６０をゼロにリセットする（ステップＳ３
０２）。
【００２７】このように測定情報エリア２００の初期設
定が終了すると、測定開始が指示される（ステップＳ３
０３）。具体的には、データレジスタに”１１”をセッ
トしておき、このデータレジスタを測定制御命令で指定
することにより、測定情報エリア２００の測定操作表示
情報２１０を”１１”に設定する。これにより、測定モ
ードになり、その間にＰ動作４００及びＶ動作５００で
セマフォアに関する操作が行われるとその状態が測定さ
れる（ステップＳ３０４）。
定が終了すると、測定開始が指示される（ステップＳ３
０３）。具体的には、データレジスタに”１１”をセッ
トしておき、このデータレジスタを測定制御命令で指定
することにより、測定情報エリア２００の測定操作表示
情報２１０を”１１”に設定する。これにより、測定モ
ードになり、その間にＰ動作４００及びＶ動作５００で
セマフォアに関する操作が行われるとその状態が測定さ
れる（ステップＳ３０４）。
【００２８】一連の処理が終了すると、測定停止が指示
される（ステップＳ３０５）。具体的には、データレジ
スタに”０１”をセットしておき、このデータレジスタ
を測定制御命令で指定することにより、測定情報エリア
２００の測定操作表示情報２１０を”０１”に設定す
る。この状態において、測定情報エリア２００の各セマ
フォアに対応するロック移入時間２４０、ロック取得時
間累積２５０、及び、ロック取得待ち時間累積２６０が
読み出されて、ソフトウェアからアクセス可能な記憶領
域に書き込まれる。具体的には、測定情報読出し命令に
より測定情報エリア２００の測定操作表示情報２１０
が”０１”であることを確認し、”０１”であれば測定
情報読出し命令により指定された記憶装置上の領域にロ
ック移入時間、ロック取得時間累積、及び、ロック取得
待ち時間累積を書き込む。
される（ステップＳ３０５）。具体的には、データレジ
スタに”０１”をセットしておき、このデータレジスタ
を測定制御命令で指定することにより、測定情報エリア
２００の測定操作表示情報２１０を”０１”に設定す
る。この状態において、測定情報エリア２００の各セマ
フォアに対応するロック移入時間２４０、ロック取得時
間累積２５０、及び、ロック取得待ち時間累積２６０が
読み出されて、ソフトウェアからアクセス可能な記憶領
域に書き込まれる。具体的には、測定情報読出し命令に
より測定情報エリア２００の測定操作表示情報２１０
が”０１”であることを確認し、”０１”であれば測定
情報読出し命令により指定された記憶装置上の領域にロ
ック移入時間、ロック取得時間累積、及び、ロック取得
待ち時間累積を書き込む。
【００２９】その後、測定を続行する場合にはステップ
Ｓ３０３に戻り（ステップＳ３０７）、測定を終了する
場合には測定終了指示を行う（ステップＳ３０８）。具
体的には、データレジスタに”００”をセットしてお
き、このデータレジスタを測定制御命令で指定すること
により、測定情報エリア２００の測定操作表示情報２１
０を”００”に設定する。
Ｓ３０３に戻り（ステップＳ３０７）、測定を終了する
場合には測定終了指示を行う（ステップＳ３０８）。具
体的には、データレジスタに”００”をセットしてお
き、このデータレジスタを測定制御命令で指定すること
により、測定情報エリア２００の測定操作表示情報２１
０を”００”に設定する。
【００３０】測定が終了すると、得られた測定データよ
り、セマフォアのビジー率及び競合率を算出する（ステ
ップＳ３１０）。具体的な算出式は、次のようになる。
り、セマフォアのビジー率及び競合率を算出する（ステ
ップＳ３１０）。具体的な算出式は、次のようになる。
【００３１】セマフォアビジー率 ＝ セマフォアロッ
ク取得時間累積／経過時間 セマフォア競合率 ＝ セマフォアロック取得待ち時
間累積／経過時間 ここで、経過時間とは、測定対象となったプログラムの
実行時間をいう。
ク取得時間累積／経過時間 セマフォア競合率 ＝ セマフォアロック取得待ち時
間累積／経過時間 ここで、経過時間とは、測定対象となったプログラムの
実行時間をいう。
【００３２】図４を参照すると、Ｐ動作４００におい
て、まず測定が必要か否かが判断される（ステップＳ４
０１）。具体的には、測定情報エリア２００の測定操作
表示情報２１０が”１１”であれば測定が必要、”０
０”または”０１”であれば測定は不要ということにな
る。測定不要と判断された場合には測定をせずに通常の
動作のみを行う。
て、まず測定が必要か否かが判断される（ステップＳ４
０１）。具体的には、測定情報エリア２００の測定操作
表示情報２１０が”１１”であれば測定が必要、”０
０”または”０１”であれば測定は不要ということにな
る。測定不要と判断された場合には測定をせずに通常の
動作のみを行う。
【００３３】測定が必要と判断された場合であっても、
セマフォアが既に他のプロセスによって取得されていれ
ば（ステップＳ４０２）そのセマフォアは取得すること
ができないため、測定をせずに通常の動作のみを行う。
セマフォアが既に他のプロセスによって取得されていれ
ば（ステップＳ４０２）そのセマフォアは取得すること
ができないため、測定をせずに通常の動作のみを行う。
【００３４】セマフォアの取得が可能であれば、そのセ
マフォアが測定しようとするセマフォアと一致するか否
かを判断する（ステップＳ４０３〜Ｓ４０７）。すなわ
ち、変数ｉに測定セマフォア数２２０を設定し、変数Ｐ
ＡＤＲに最初のセマフォアアドレス＃０（２３０）を設
定する（ステップＳ４０３）。取得しようとするセマフ
ォアのアドレス（ＭＡＤＲ）が測定対象セマフォアのア
ドレス（ＰＡＤＲ）と一致するか否かを判断し（ステッ
プＳ４０４）、一致しなければ変数ｉを１減じて（ステ
ップＳ４０５）変数ｉが０になるまで（ステップＳ４０
６）変数ＰＡＤＲに次の測定対象セマフォアのアドレス
を設定する（ステップＳ４０７）ことにより、取得しよ
うとするセマフォアのアドレス（ＭＡＤＲ）が測定対象
セマフォアのアドレス（ＰＡＤＲ）と一致するか否かを
順次判断していく。
マフォアが測定しようとするセマフォアと一致するか否
かを判断する（ステップＳ４０３〜Ｓ４０７）。すなわ
ち、変数ｉに測定セマフォア数２２０を設定し、変数Ｐ
ＡＤＲに最初のセマフォアアドレス＃０（２３０）を設
定する（ステップＳ４０３）。取得しようとするセマフ
ォアのアドレス（ＭＡＤＲ）が測定対象セマフォアのア
ドレス（ＰＡＤＲ）と一致するか否かを判断し（ステッ
プＳ４０４）、一致しなければ変数ｉを１減じて（ステ
ップＳ４０５）変数ｉが０になるまで（ステップＳ４０
６）変数ＰＡＤＲに次の測定対象セマフォアのアドレス
を設定する（ステップＳ４０７）ことにより、取得しよ
うとするセマフォアのアドレス（ＭＡＤＲ）が測定対象
セマフォアのアドレス（ＰＡＤＲ）と一致するか否かを
順次判断していく。
【００３５】取得しようとするセマフォアが測定しよう
とするセマフォアのいずれかと一致すれば、ロック取得
状態に移入することとなるので、測定情報エリア２００
のロック移入時間２４０に現在時間を設定する（ステッ
プＳ４０８）。
とするセマフォアのいずれかと一致すれば、ロック取得
状態に移入することとなるので、測定情報エリア２００
のロック移入時間２４０に現在時間を設定する（ステッ
プＳ４０８）。
【００３６】図５を参照すると、Ｖ動作５００におい
て、まず測定が必要か否かが判断される（ステップＳ５
０１）。具体的には、測定情報エリア２００の測定操作
表示情報２１０が”１１”であれば測定中、”００”ま
たは”０１”であれば測定中でないということになる。
測定中でないと判断された場合には測定に関する処理を
せずに通常の動作のみを行う。
て、まず測定が必要か否かが判断される（ステップＳ５
０１）。具体的には、測定情報エリア２００の測定操作
表示情報２１０が”１１”であれば測定中、”００”ま
たは”０１”であれば測定中でないということになる。
測定中でないと判断された場合には測定に関する処理を
せずに通常の動作のみを行う。
【００３７】測定中であれば、解放しようとするセマフ
ォアが測定中のセマフォアと一致するか否かを判断する
（ステップＳ５０３〜Ｓ５０７）。すなわち、変数ｉに
測定セマフォア数２２０を設定し、変数ＰＡＤＲに最初
のセマフォアアドレス＃０（２３０）を設定する（ステ
ップＳ５０３）。解放しようとするセマフォアのアドレ
ス（ＭＡＤＲ）が測定対象セマフォアのアドレス（ＰＡ
ＤＲ）と一致するか否かを判断し（ステップＳ５０
４）、一致しなければ変数ｉを１減じて（ステップＳ５
０５）変数ｉが０になるまで（ステップＳ５０６）変数
ＰＡＤＲに次の測定対象セマフォアのアドレスを設定す
る（ステップＳ５０７）ことにより、解放しようとする
セマフォアのアドレス（ＭＡＤＲ）が測定対象セマフォ
アのアドレス（ＰＡＤＲ）と一致するか否かを順次判断
していく。
ォアが測定中のセマフォアと一致するか否かを判断する
（ステップＳ５０３〜Ｓ５０７）。すなわち、変数ｉに
測定セマフォア数２２０を設定し、変数ＰＡＤＲに最初
のセマフォアアドレス＃０（２３０）を設定する（ステ
ップＳ５０３）。解放しようとするセマフォアのアドレ
ス（ＭＡＤＲ）が測定対象セマフォアのアドレス（ＰＡ
ＤＲ）と一致するか否かを判断し（ステップＳ５０
４）、一致しなければ変数ｉを１減じて（ステップＳ５
０５）変数ｉが０になるまで（ステップＳ５０６）変数
ＰＡＤＲに次の測定対象セマフォアのアドレスを設定す
る（ステップＳ５０７）ことにより、解放しようとする
セマフォアのアドレス（ＭＡＤＲ）が測定対象セマフォ
アのアドレス（ＰＡＤＲ）と一致するか否かを順次判断
していく。
【００３８】解放しようとするセマフォアが測定対象セ
マフォアのいずれかと一致すれば、当該セマフォアのセ
マフォアカウント（ＳＣＴ）を参照し、ロック取得待ち
がなければ（すなわち、ＳＣＴ＝０であれば（ステップ
Ｓ５０８））、ロック取得時間累積２５０に現在時間を
加えてロック移入時間２４０を減ずる（ステップＳ５０
９）。また、ロック取得待ちがあれば（すなわち、ＳＣ
Ｔ＜０であれば（ステップＳ５１０））、ロック取得待
ち時間累積２６０を更新する（ステップＳ５１１）。
マフォアのいずれかと一致すれば、当該セマフォアのセ
マフォアカウント（ＳＣＴ）を参照し、ロック取得待ち
がなければ（すなわち、ＳＣＴ＝０であれば（ステップ
Ｓ５０８））、ロック取得時間累積２５０に現在時間を
加えてロック移入時間２４０を減ずる（ステップＳ５０
９）。また、ロック取得待ちがあれば（すなわち、ＳＣ
Ｔ＜０であれば（ステップＳ５１０））、ロック取得待
ち時間累積２６０を更新する（ステップＳ５１１）。
【００３９】ロック取得待ち時間累積２６０の更新は以
下のようにして行う。一般に、各プロセスは、プロセス
コントロールブロック（ＰＣＢ）に保持された情報に基
づいて制御される。このＰＣＢは、その制御情報の一つ
として、現状態遷移時間（ＣＥＴ）を保持しており、現
在の実行状態に遷移した時刻を格納している。プロセス
の実行状態としては、一般に、実行中状態、実行可能状
態、実行待機状態、及び、実行留保状態の４つの状態を
とり得るが、例えば実行待機状態から実行中状態に遷移
する際このＣＥＴを参照することにより、実行待機状態
にあった時間を得ることができる。従って、このＣＥＴ
を用いれば、ロック取得待ち時間累積に現在時間を加え
てＣＥＴを減ずることにより、新たなロック取得待ち時
間累積を得ることができる。
下のようにして行う。一般に、各プロセスは、プロセス
コントロールブロック（ＰＣＢ）に保持された情報に基
づいて制御される。このＰＣＢは、その制御情報の一つ
として、現状態遷移時間（ＣＥＴ）を保持しており、現
在の実行状態に遷移した時刻を格納している。プロセス
の実行状態としては、一般に、実行中状態、実行可能状
態、実行待機状態、及び、実行留保状態の４つの状態を
とり得るが、例えば実行待機状態から実行中状態に遷移
する際このＣＥＴを参照することにより、実行待機状態
にあった時間を得ることができる。従って、このＣＥＴ
を用いれば、ロック取得待ち時間累積に現在時間を加え
てＣＥＴを減ずることにより、新たなロック取得待ち時
間累積を得ることができる。
【００４０】なお、ここでは、ＰＣＢ内のＣＥＴを利用
することとしたが、このＣＥＴと同等の値を測定情報エ
リア２００内に設けることによりロック取得待ち時間累
積２６０の更新を行うことが可能である。
することとしたが、このＣＥＴと同等の値を測定情報エ
リア２００内に設けることによりロック取得待ち時間累
積２６０の更新を行うことが可能である。
【００４１】このように、本発明の実施の形態によれ
ば、測定情報エリア２００内に設定されたセマフォアに
測定対象を絞って、動的に実時間でロック取得時間累積
やロック取得待ち時間累積を採取することにより、トレ
ース情報ファイルの上限に制約されることなく、セマフ
ォアのビジー率及び競合率を算出することができる。
ば、測定情報エリア２００内に設定されたセマフォアに
測定対象を絞って、動的に実時間でロック取得時間累積
やロック取得待ち時間累積を採取することにより、トレ
ース情報ファイルの上限に制約されることなく、セマフ
ォアのビジー率及び競合率を算出することができる。
【００４２】また、測定動作表示情報を２ビットとした
ことにより、測定データを読み出す期間を確保すること
ができ、プログラムエラーに起因して測定データを破壊
するおそれを回避することができる。
ことにより、測定データを読み出す期間を確保すること
ができ、プログラムエラーに起因して測定データを破壊
するおそれを回避することができる。
【００４３】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よると、動的にロック取得時間累積やロック取得待ち時
間累積を採取することにより、プログラムの広範囲にお
けるロック取得状況を把握することができる。
よると、動的にロック取得時間累積やロック取得待ち時
間累積を採取することにより、プログラムの広範囲にお
けるロック取得状況を把握することができる。
【図１】本発明のロック動作測定方法の実施の形態の構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態における測定情報エリアの
内容を示す図である。
内容を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態における全体の動作を表す
図である。
図である。
【図４】本発明の実施の形態におけるＰ動作に組み込ま
れた処理を表す図である。
れた処理を表す図である。
【図５】本発明の実施の形態におけるＶ動作に組み込ま
れた処理を表す図である。
れた処理を表す図である。
２００ 測定情報エリア ３１１ セマフォアビジー率算出手段 ３１２ セマフォア競合率算出手段 ４００ Ｐ動作処理手段 ５００ Ｖ動作処理手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−191952（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−66972（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−162436（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−76639（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−181711（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−259740（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−218807（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−204678（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−63516（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−71555（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−175687（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06F 11/28 - 11/36 G06F 9/46
Claims (6)
- 【請求項１】 測定中か否かを表示する測定動作表示情
報と、少なくとも一つの測定対象セマフォアを特定する
情報とを格納する測定情報エリアを含む情報処理装置に
おけるロック動作測定方法において、 前記測定動作表示情報が測定中である旨を表示している
間に前記測定対象セマフォアについてのロック取得また
はロック解放の要求があった場合に、ロック取得からロ
ック解放までの時間を実時間で測定し、当該セマフォア
がロック取得状態に移入した時間であるロック移入時間
と、当該セマフォアがロック取得状態にある時間の累積
値であるロック取得時間累積とを格納することを特徴と
するロック動作測定方法。 - 【請求項２】 前記ロック取得時間累積は、ロック解放
時に、現在時間から前記ロック移入時間を減じたもの
を、前記ロック取得時間累積に加えることにより更新さ
れることを特徴とする請求項１記載のロック動作測定方
法。 - 【請求項３】 前記ロック取得時間累積の測定後、前記
ロック取得時間累積を経過時間で割った値をセマフォア
ビジー率として算出することを特徴とする請求項１記載
のロック動作測定方法。 - 【請求項４】 測定中か否かを表示する測定動作表示情
報と、少なくとも一つの測定対象セマフォアを特定する
情報とを格納する測定情報エリアを含む情報処理装置に
おけるロック動作測定方法において、 前記測定動作表示情報が測定中である旨を表示している
間に前記測定対象セマフォアについてのロック取得また
はロック解放の要求があった場合に、ロック取得待ちか
らロック取得までの時間を実時間で測定し、当該セマフ
ォアに対するロック取得待ち状態にある時間の累積値で
あるロック取得待ち時間累積を格納することを特徴とす
るロック動作測定方法。 - 【請求項５】 前記ロック取得待ち時間累積は、ロック
解放時に、現在時間からプロセスの現実行状態に遷移し
た時間を減じたものを、前記ロック取得待ち時間累積に
加えることにより更新されることを特徴とする請求項４
記載のロック動作測定方法。 - 【請求項６】 前記ロック取得待ち時間累積の測定後、
前記ロック取得時間待ち累積を経過時間で割った値をセ
マフォア競合率として算出することを特徴とする請求項
４記載のロック動作測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24706297A JP3152178B2 (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | ロック動作測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24706297A JP3152178B2 (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | ロック動作測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1185574A JPH1185574A (ja) | 1999-03-30 |
| JP3152178B2 true JP3152178B2 (ja) | 2001-04-03 |
Family
ID=17157863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24706297A Expired - Fee Related JP3152178B2 (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | ロック動作測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3152178B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009251871A (ja) * | 2008-04-04 | 2009-10-29 | Nec Corp | 競合分析装置、競合分析方法、およびプログラム |
| JP2010113574A (ja) * | 2008-11-07 | 2010-05-20 | Panasonic Corp | マルチプロセッサにおける資源の排他制御方法、排他制御システムおよびその関連技術 |
| US8453122B2 (en) * | 2009-11-10 | 2013-05-28 | International Business Machines Corporation | Symmetric multi-processor lock tracing |
| JP5725162B2 (ja) | 2011-03-31 | 2015-05-27 | 富士通株式会社 | 排他制御方法、および排他制御プログラム |
| JP6666216B2 (ja) * | 2016-08-31 | 2020-03-13 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電子制御装置、解析システム |
-
1997
- 1997-09-11 JP JP24706297A patent/JP3152178B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1185574A (ja) | 1999-03-30 |
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