JP2928526B2 - 電源回路及び前記回路を備えるブリッジ型測定器出力補償回路 - Google Patents
電源回路及び前記回路を備えるブリッジ型測定器出力補償回路Info
- Publication number
- JP2928526B2 JP2928526B2 JP1031728A JP3172889A JP2928526B2 JP 2928526 B2 JP2928526 B2 JP 2928526B2 JP 1031728 A JP1031728 A JP 1031728A JP 3172889 A JP3172889 A JP 3172889A JP 2928526 B2 JP2928526 B2 JP 2928526B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- output
- circuit
- resistor
- constant
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/10—AC or DC measuring bridges
- G01R17/105—AC or DC measuring bridges for measuring impedance or resistance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/02—Arrangements in which the value to be measured is automatically compared with a reference value
- G01R17/06—Automatic balancing arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/32—Compensating for temperature change
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、出力電圧の温度特性を調整可能な電源回路
およびこの電源回路を用いてブリッジ型測定器の温度補
償を行うブリッジ型測定器出力補償回路に関する。
およびこの電源回路を用いてブリッジ型測定器の温度補
償を行うブリッジ型測定器出力補償回路に関する。
従来、ブリッジ型測定器の出力補償回路として、例え
ば特開昭55−155253号公報に記載されるように、回路中
に設けられた各調整抵抗の抵抗値を調整することによっ
て、ブリッジ型測定器の出力勾配や温度特性を調整する
ものがある。
ば特開昭55−155253号公報に記載されるように、回路中
に設けられた各調整抵抗の抵抗値を調整することによっ
て、ブリッジ型測定器の出力勾配や温度特性を調整する
ものがある。
ここで、上記公報に示される出力補償回路において、
温度特性を補償するための調整抵抗の抵抗値を調整する
と、ブリッジ型測定器が一定温度中にあっても、この抵
抗を流れる電流値が変化する。そして、この電流値の変
化により、出力回路を流れる電流値が変化し、結局出力
電圧も変化することになる。このように、上記抵抗の抵
抗値の調整によって出力電圧の零点がずれてしまうた
め、温度特性の調整は出力電圧の零点調整の前に行わな
ければならないなど、各調整抵抗の調整手順には制限が
あった。
温度特性を補償するための調整抵抗の抵抗値を調整する
と、ブリッジ型測定器が一定温度中にあっても、この抵
抗を流れる電流値が変化する。そして、この電流値の変
化により、出力回路を流れる電流値が変化し、結局出力
電圧も変化することになる。このように、上記抵抗の抵
抗値の調整によって出力電圧の零点がずれてしまうた
め、温度特性の調整は出力電圧の零点調整の前に行わな
ければならないなど、各調整抵抗の調整手順には制限が
あった。
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、所定温
度においては基準となる定電圧を発生するとともに、発
生電圧の温度特性を変更可能な電源回路を用いることに
よって、ブリッジ型測定器出力の温度特性の調整が他の
出力特性に対して全く影響を与えずに行いえるブリッジ
型測定器出力補償回路を提供すること、および前記電源
回路を提供することを目的とする。
度においては基準となる定電圧を発生するとともに、発
生電圧の温度特性を変更可能な電源回路を用いることに
よって、ブリッジ型測定器出力の温度特性の調整が他の
出力特性に対して全く影響を与えずに行いえるブリッジ
型測定器出力補償回路を提供すること、および前記電源
回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による電源回路
は、 所定温度において基準電圧を出力として発生し、この
出力の温度特性を調整可能な電源回路であって、 調整可能な定電圧を発生する電圧源と、 前記電圧源が発生する定電圧を前記所定温度において
一定の増幅率で増幅するとともに、この増幅率が前記所
定温度との温度差に応じて変化する増幅手段と、 前記所定温度において一定の増幅率で増幅された定電
圧を第１の増幅率で増幅し、前記電圧源が発生する定電
圧を第２の増幅率で増幅し、この両者の差に応じて出力
電圧を変化させるととともに、前記所定温度においては
前記基準電圧を出力する出力手段と から構成され、さらにブリッジ型測定器出力補償回路
は、 被測定対象の変化に応じて抵抗値が変化する複数個の
検出素子がブリッジ状に接続されており、かつ、入力端
子と第１、第２の出力端子を有するブリッジ型測定器
と、 このブリッジ型測定器の前記入力端子に定電流を供給
する定電流源と、 前記測定器の第１の出力端子側の出力を一方の入力と
し、前記測定器の第２の出力端子側の出力を第１の抵抗
を介して他方の入力とする演算増幅器と、 前記第１の抵抗と前記演算増幅器とを接続する配線中
に一端が接続され、他端が請求項１記載の前記電源回路
に接続されている第２の抵抗と、 前記第１の抵抗と前記演算増幅器とを接続する前記配
線中に一端が接続され、前記演算増幅器の出力に応じ、
かつ前記第２の抵抗を流れる電流によって調整された電
流を発生する電圧電流変換回路と から構成される。
は、 所定温度において基準電圧を出力として発生し、この
出力の温度特性を調整可能な電源回路であって、 調整可能な定電圧を発生する電圧源と、 前記電圧源が発生する定電圧を前記所定温度において
一定の増幅率で増幅するとともに、この増幅率が前記所
定温度との温度差に応じて変化する増幅手段と、 前記所定温度において一定の増幅率で増幅された定電
圧を第１の増幅率で増幅し、前記電圧源が発生する定電
圧を第２の増幅率で増幅し、この両者の差に応じて出力
電圧を変化させるととともに、前記所定温度においては
前記基準電圧を出力する出力手段と から構成され、さらにブリッジ型測定器出力補償回路
は、 被測定対象の変化に応じて抵抗値が変化する複数個の
検出素子がブリッジ状に接続されており、かつ、入力端
子と第１、第２の出力端子を有するブリッジ型測定器
と、 このブリッジ型測定器の前記入力端子に定電流を供給
する定電流源と、 前記測定器の第１の出力端子側の出力を一方の入力と
し、前記測定器の第２の出力端子側の出力を第１の抵抗
を介して他方の入力とする演算増幅器と、 前記第１の抵抗と前記演算増幅器とを接続する配線中
に一端が接続され、他端が請求項１記載の前記電源回路
に接続されている第２の抵抗と、 前記第１の抵抗と前記演算増幅器とを接続する前記配
線中に一端が接続され、前記演算増幅器の出力に応じ、
かつ前記第２の抵抗を流れる電流によって調整された電
流を発生する電圧電流変換回路と から構成される。
まず、上記のように構成された電源回路の作用につい
て説明する。
て説明する。
電圧源が発生する定電圧は、増幅手段により所定温度
において例えば増幅率を１として増幅されるものとす
る。また、第１の増幅率及び第２の増幅率を同じ値と仮
定する。所定温度において一定の増幅率で増幅された定
電圧を第１の増幅率で増幅したものと、電圧源が発生す
る定電圧を第２の増幅率で増幅したものとは、第１の増
幅率、第２の増幅率の値により大きさを等しくすること
ができるため、両者の差は零となる。このため、出力手
段から出力される電圧は所定温度においては基準電圧と
なる。一方、所定温度との温度差が大きくなるにつれ
て、増幅手段における増幅率の変化も大きくなる。ここ
で、所定温度とは異なる温度中において、電圧源が発生
する定電圧を変化させると、増幅手段の増幅率は一定で
あるにもかかわらず、増幅手段によって増幅された定電
圧と電圧源が発生する定電圧との差が変化するため、出
力手段から出力される電圧は変化する。すなわち、電圧
源が発生する定電圧値を調整することにより、出力電圧
に関して所望の温度特性を得ることができる。
において例えば増幅率を１として増幅されるものとす
る。また、第１の増幅率及び第２の増幅率を同じ値と仮
定する。所定温度において一定の増幅率で増幅された定
電圧を第１の増幅率で増幅したものと、電圧源が発生す
る定電圧を第２の増幅率で増幅したものとは、第１の増
幅率、第２の増幅率の値により大きさを等しくすること
ができるため、両者の差は零となる。このため、出力手
段から出力される電圧は所定温度においては基準電圧と
なる。一方、所定温度との温度差が大きくなるにつれ
て、増幅手段における増幅率の変化も大きくなる。ここ
で、所定温度とは異なる温度中において、電圧源が発生
する定電圧を変化させると、増幅手段の増幅率は一定で
あるにもかかわらず、増幅手段によって増幅された定電
圧と電圧源が発生する定電圧との差が変化するため、出
力手段から出力される電圧は変化する。すなわち、電圧
源が発生する定電圧値を調整することにより、出力電圧
に関して所望の温度特性を得ることができる。
次に、上記の電圧調整回路を有するブリッジ型測定器
の出力補償回路の作用について説明する。
の出力補償回路の作用について説明する。
ブリッジ型測定器の出力電圧が温度に応じて変化し、
この出力電圧の変化に伴い電圧電流変換回路が発生する
電流値が変化しても、この電流値の変化分を打ち消す電
流が第２の抵抗を流れるように、電源回路の温度特性が
設定されている。ここで、前述のように電源回路は、電
圧源が発生する定電圧を変化させても、所定温度におい
ては常に基準電圧を出力する。したがって、ブリッジ型
測定器出力の温度特性を調整しても出力電圧の零点にず
れが生じることはなく、それぞれの出力特性を完全に独
立して調整することができる。
この出力電圧の変化に伴い電圧電流変換回路が発生する
電流値が変化しても、この電流値の変化分を打ち消す電
流が第２の抵抗を流れるように、電源回路の温度特性が
設定されている。ここで、前述のように電源回路は、電
圧源が発生する定電圧を変化させても、所定温度におい
ては常に基準電圧を出力する。したがって、ブリッジ型
測定器出力の温度特性を調整しても出力電圧の零点にず
れが生じることはなく、それぞれの出力特性を完全に独
立して調整することができる。
以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は出力補償回路の全体構成を示すものである。
1,2,3,4はブリッジ型測定器を構成するための検出素子
で、この実施例においては公知の半導体圧力センサを構
成する拡散抵抗である。この圧力センサの構造は図示し
ていないが、シリコン製ダイヤフラムの感圧領域に反対
導電型の不純物を拡散して前記抵抗１〜４が形成され、
このダイヤフラムへの印加圧力に応じて各抵抗１〜４に
応力歪を与えると、ピエゾ抵抗効果によって自身の抵抗
値が変化するものである。もちろん、ブリッジ型測定器
（以下これをセンサ単体と称す）としては、上述の圧力
に限らず磁気、光、湿度等の各種の検出対象に対する測
定器があり、例えば磁気センサを構成する場合には、前
記拡散抵抗１〜４の代わりに磁気抵抗素子を用いること
によりブリッジ回路を組むことができ、この磁気センサ
等にも同様に本発明を利用できる。また、受感素子であ
る検出素子は４個に限らず２個等でブリッジ回路を構成
しても良い。
1,2,3,4はブリッジ型測定器を構成するための検出素子
で、この実施例においては公知の半導体圧力センサを構
成する拡散抵抗である。この圧力センサの構造は図示し
ていないが、シリコン製ダイヤフラムの感圧領域に反対
導電型の不純物を拡散して前記抵抗１〜４が形成され、
このダイヤフラムへの印加圧力に応じて各抵抗１〜４に
応力歪を与えると、ピエゾ抵抗効果によって自身の抵抗
値が変化するものである。もちろん、ブリッジ型測定器
（以下これをセンサ単体と称す）としては、上述の圧力
に限らず磁気、光、湿度等の各種の検出対象に対する測
定器があり、例えば磁気センサを構成する場合には、前
記拡散抵抗１〜４の代わりに磁気抵抗素子を用いること
によりブリッジ回路を組むことができ、この磁気センサ
等にも同様に本発明を利用できる。また、受感素子であ
る検出素子は４個に限らず２個等でブリッジ回路を構成
しても良い。
また、100は定電流源をなす感度調整回路で、抵抗
５、演算増幅器（以下OPアンプと称す）６、後述する感
度調整用電圧V0を出力する第１の定電圧源７とによって
構成され、第１の定電圧源７が出力する電圧V0と抵抗５
の抵抗値とによって決定される一定電流I0を発生する。
５、演算増幅器（以下OPアンプと称す）６、後述する感
度調整用電圧V0を出力する第１の定電圧源７とによって
構成され、第１の定電圧源７が出力する電圧V0と抵抗５
の抵抗値とによって決定される一定電流I0を発生する。
200は電圧・電流変換回路で、OPアンプ8,10、第１の
抵抗としての抵抗９、トランジスタ11からなり、ブリッ
ジ回路の出力電圧を、この出力電圧に応じた電流に変換
するものである。300は温度補償回路で、第２の抵抗と
しての抵抗12と後述する温度調整用電圧V1を出力する電
源回路としての第２の定電圧源13とから構成され、出力
電圧Voutの温度特性を補償する。また、400は出力電圧
の零点（オフセット）調整回路で、抵抗14、第３の抵抗
としての抵抗15、OPアンプ16、後述するオフセット調整
用電圧V2を出力する第３の定電圧源17とによって構成さ
れ、オフセット調整用電圧V2及び抵抗14,15の設定値と
電圧・電流変換回路200の出力電流の値に応じた出力電
圧Voutを発生するようにしてある。また、端子22,24に
は一定の直流電圧VDDが印加され、端子23,24より受感圧
力に比較した出力Voutを発生する。
抵抗としての抵抗９、トランジスタ11からなり、ブリッ
ジ回路の出力電圧を、この出力電圧に応じた電流に変換
するものである。300は温度補償回路で、第２の抵抗と
しての抵抗12と後述する温度調整用電圧V1を出力する電
源回路としての第２の定電圧源13とから構成され、出力
電圧Voutの温度特性を補償する。また、400は出力電圧
の零点（オフセット）調整回路で、抵抗14、第３の抵抗
としての抵抗15、OPアンプ16、後述するオフセット調整
用電圧V2を出力する第３の定電圧源17とによって構成さ
れ、オフセット調整用電圧V2及び抵抗14,15の設定値と
電圧・電流変換回路200の出力電流の値に応じた出力電
圧Voutを発生するようにしてある。また、端子22,24に
は一定の直流電圧VDDが印加され、端子23,24より受感圧
力に比較した出力Voutを発生する。
次に、上記構成による回路作動について説明する。ま
ず、ブリッジ回路の第１、第２の出力端子の出力電圧を
それぞれVB,VCとする。OPアンプ８はインピーダンス変
換器を構成してあるためその出力はVCに等しく、また、
演算増幅器10の（−）入力端子の電圧はイマジナルショ
ートにより（＋）入力端子の電圧VBにほぼ等しくなると
仮定すると、抵抗９、抵抗12、及びトランジスタ11に流
れる電流I1,I3及びI2がそれぞれ決定される。また、電
源電圧VDD及び第３の定電圧源17の出力電圧V2、抵抗14
とにより、この抵抗14に流れる電流I5が決定され、そこ
で両電流I5,I2の差より抵抗15に流れる電流I4が決定さ
れ、結局電流I4よりこの抵抗15の電圧降下分が決定され
ることから、出力電圧Voutが決定されるわけである。従
って、電圧電流変換回路200の出力電流I2に応じて出力
電圧Voutが変化することになる。
ず、ブリッジ回路の第１、第２の出力端子の出力電圧を
それぞれVB,VCとする。OPアンプ８はインピーダンス変
換器を構成してあるためその出力はVCに等しく、また、
演算増幅器10の（−）入力端子の電圧はイマジナルショ
ートにより（＋）入力端子の電圧VBにほぼ等しくなると
仮定すると、抵抗９、抵抗12、及びトランジスタ11に流
れる電流I1,I3及びI2がそれぞれ決定される。また、電
源電圧VDD及び第３の定電圧源17の出力電圧V2、抵抗14
とにより、この抵抗14に流れる電流I5が決定され、そこ
で両電流I5,I2の差より抵抗15に流れる電流I4が決定さ
れ、結局電流I4よりこの抵抗15の電圧降下分が決定され
ることから、出力電圧Voutが決定されるわけである。従
って、電圧電流変換回路200の出力電流I2に応じて出力
電圧Voutが変化することになる。
上述したことを数式を用いて以下に説明する。抵抗9,
12,14,15の抵抗値を前より順番にR9,R12,R14,R15とする
と、まず、 従って、 また、 （１），（２）式より、 ただし、 とする。
12,14,15の抵抗値を前より順番にR9,R12,R14,R15とする
と、まず、 従って、 また、 （１），（２）式より、 ただし、 とする。
ここで、特にブリッジ回路の一方の出力電圧VBと第２
の定電圧源13が出力する温度調整用電圧V1とが等しい場
合、 となる。
の定電圧源13が出力する温度調整用電圧V1とが等しい場
合、 となる。
従って、上記（３），（４）式より、各抵抗値R9,
R12,R14,R15及び電圧VDD,V2,V1は固定した一定値である
ため、出力電圧Voutとしてはブリッジ回路、すなわちセ
ンサ単体の出力電圧（VB−VC）に応じた電圧が得られる
ことがわかる。
R12,R14,R15及び電圧VDD,V2,V1は固定した一定値である
ため、出力電圧Voutとしてはブリッジ回路、すなわちセ
ンサ単体の出力電圧（VB−VC）に応じた電圧が得られる
ことがわかる。
出力補償回路の出力電圧Voutは、式（３）′に示され
るように、VoffとVsensとVtempとから決定される。した
がって、これらの電圧Voff,Vsens,Vtempを調整すること
により、出力電圧Voutの特性を所望の特性に調整するこ
とができる。以下、それぞれの電圧Voff,Vsens,Vtempに
ついて詳しく説明する。
るように、VoffとVsensとVtempとから決定される。した
がって、これらの電圧Voff,Vsens,Vtempを調整すること
により、出力電圧Voutの特性を所望の特性に調整するこ
とができる。以下、それぞれの電圧Voff,Vsens,Vtempに
ついて詳しく説明する。
まず、電圧Vsensの項について説明する。
ブリッジ回路の両辺の出力電圧はそれぞれVB,VCで示
され、OPアンプ６の（＋）入力端子の電圧をV0とする
と、イマジナルショートにより（−）入力端子の電圧も
ほぼV0に等しくなり、さらに抵抗５の抵抗値をR5とする
と、抵抗５を流れる電流I0は、 で与えられる。また、ブリッジ回路を構成する抵抗1,2,
3,4のそれぞれの抵抗値をR1,R2,R3,R4とすると、ブリッ
ジ回路の出力電圧VB-VCは となる。
され、OPアンプ６の（＋）入力端子の電圧をV0とする
と、イマジナルショートにより（−）入力端子の電圧も
ほぼV0に等しくなり、さらに抵抗５の抵抗値をR5とする
と、抵抗５を流れる電流I0は、 で与えられる。また、ブリッジ回路を構成する抵抗1,2,
3,4のそれぞれの抵抗値をR1,R2,R3,R4とすると、ブリッ
ジ回路の出力電圧VB-VCは となる。
ここで、上記（５），（６）式において、抵抗値R1〜
R5が一定であるときに、第１の定電圧源７の出力電圧
（感度調整用電圧）V0を変化させると、（５）式から抵
抗５を流れる電流I0が変化し、（６）式から電流I0の変
化に伴い、ブリッジ回路の出力電圧VB−VCが変化するこ
とがわかる。すなわち、ブリッジ型測定器の受感圧力が
一定であっても、第１の定電圧源７の出力電圧V0に応じ
てブリッジ回路の出力電圧VB−VCが変化することから、
ブリッジ回路の感度が変化していることがわかる。
R5が一定であるときに、第１の定電圧源７の出力電圧
（感度調整用電圧）V0を変化させると、（５）式から抵
抗５を流れる電流I0が変化し、（６）式から電流I0の変
化に伴い、ブリッジ回路の出力電圧VB−VCが変化するこ
とがわかる。すなわち、ブリッジ型測定器の受感圧力が
一定であっても、第１の定電圧源７の出力電圧V0に応じ
てブリッジ回路の出力電圧VB−VCが変化することから、
ブリッジ回路の感度が変化していることがわかる。
第１の定電圧源７は、第２図に示すようにデジタル値
を記憶する不揮発性メモリ701と、このメモリ701に記憶
されているデジタル値をアナログ値に記憶するDAコンバ
ータとによって構成される。このため、メモリ701に書
き込むデジタル値により、第１の定電圧源７の出力端子
703に発生する電圧V0を任意に設定することができる。
従って、前述したように、第１の定電圧源７の出力電圧
V0に応じてブリッジ回路の出力電圧VB−VCが変化するた
めに、メモリ701に書き込むデジタル値によって、ブリ
ッジ回路の感度を調整することができる。
を記憶する不揮発性メモリ701と、このメモリ701に記憶
されているデジタル値をアナログ値に記憶するDAコンバ
ータとによって構成される。このため、メモリ701に書
き込むデジタル値により、第１の定電圧源７の出力端子
703に発生する電圧V0を任意に設定することができる。
従って、前述したように、第１の定電圧源７の出力電圧
V0に応じてブリッジ回路の出力電圧VB−VCが変化するた
めに、メモリ701に書き込むデジタル値によって、ブリ
ッジ回路の感度を調整することができる。
以上説明したように、 は、ブリッジ回路の感度を調整可能な項であることがわ
かる。
かる。
次に、電圧Vtempの項について説明する。
電圧Vtempは、ブリッジ回路の一方の出力電圧VBと第
２の定電圧源13の出力電圧（温度補償用電圧）V1との差
に応じて決定される。
２の定電圧源13の出力電圧（温度補償用電圧）V1との差
に応じて決定される。
ここで、第３図に第２の定電圧源13の構成を示す。第
３図において、131はデジタル値を記憶する不揮発性メ
モリであり、132は不揮発性メモリ131の出力するデジタ
ル値をアナログ値に変換するDAコンバータである。これ
らメモリ131とDAコンバータ132とから電圧源130が構成
されている。なお、143,144はアナログ電圧を出力する
電圧調整回路である。500は増幅回路であり、抵抗136,1
37及びOPアンプ138によって構成され、DAコンバータ132
の出力電圧V1′を反転増幅するものである。600は出力
回路であり、抵抗139,140,141及びOPアンプ142によって
構成され、DAコンバータ132の出力電圧V1′と増幅回路5
00によって反転増幅された出力電圧V1″とを加算して出
力端子135から出力する。
３図において、131はデジタル値を記憶する不揮発性メ
モリであり、132は不揮発性メモリ131の出力するデジタ
ル値をアナログ値に変換するDAコンバータである。これ
らメモリ131とDAコンバータ132とから電圧源130が構成
されている。なお、143,144はアナログ電圧を出力する
電圧調整回路である。500は増幅回路であり、抵抗136,1
37及びOPアンプ138によって構成され、DAコンバータ132
の出力電圧V1′を反転増幅するものである。600は出力
回路であり、抵抗139,140,141及びOPアンプ142によって
構成され、DAコンバータ132の出力電圧V1′と増幅回路5
00によって反転増幅された出力電圧V1″とを加算して出
力端子135から出力する。
以下、上記のように構成された第２の定電圧源の作動
について説明する。
について説明する。
メモリ131にデジタル値が書き込まれると、DAコンバ
ータ132は、このデジタル値に応じたアナログ値の電圧V
1′を出力する。ここで、抵抗136,137の抵抗値をそれぞ
れR136,R137とし、OPアンプ138の（＋）入力端子133に
は電圧調整回路143からの電圧VXが印加されているとす
ると、増幅回路500の出力電圧V1″は となる。すなわち、出力電圧V1″は電圧VXを基準として
DAコンバータ132の出力電圧V1′を反転増幅したものと
なる。そして、反転増幅回路500の出力電圧V1″とDAコ
ンバータの出力電圧V1′とが出力回路600に与えられた
とき、抵抗139,140,141の抵抗値をそれぞれR139,R140,R
141とし、OPアンプ142の（＋）入力端子134には電圧調
整回路144からの電圧VYが印加されているとすると、出
力回路の出力電圧V1は、 で示される。
ータ132は、このデジタル値に応じたアナログ値の電圧V
1′を出力する。ここで、抵抗136,137の抵抗値をそれぞ
れR136,R137とし、OPアンプ138の（＋）入力端子133に
は電圧調整回路143からの電圧VXが印加されているとす
ると、増幅回路500の出力電圧V1″は となる。すなわち、出力電圧V1″は電圧VXを基準として
DAコンバータ132の出力電圧V1′を反転増幅したものと
なる。そして、反転増幅回路500の出力電圧V1″とDAコ
ンバータの出力電圧V1′とが出力回路600に与えられた
とき、抵抗139,140,141の抵抗値をそれぞれR139,R140,R
141とし、OPアンプ142の（＋）入力端子134には電圧調
整回路144からの電圧VYが印加されているとすると、出
力回路の出力電圧V1は、 で示される。
ここで、抵抗137は所定温度（例えば室温）の抵抗値R
137が抵抗136の抵抗値R136と等しく、かつ抵抗温度係数
が異なる材質によって構成されており、抵抗137の抵抗
値R137は、 R137＝R136（１＋αＴ） ただし、α:R137の抵抗温度係数 T :所定温度との温度差 で示される。さらに、抵抗139,140,141の抵抗値及び抵
抗温度係数が等しいと仮定すれば、出力回路600の出力
電圧V1は、 V1＝3VY−（２＋αＴ）VX＋αTV1′ ＝3VY−2VX＋（V1′−VX）αＴ ………（８） となる。
137が抵抗136の抵抗値R136と等しく、かつ抵抗温度係数
が異なる材質によって構成されており、抵抗137の抵抗
値R137は、 R137＝R136（１＋αＴ） ただし、α:R137の抵抗温度係数 T :所定温度との温度差 で示される。さらに、抵抗139,140,141の抵抗値及び抵
抗温度係数が等しいと仮定すれば、出力回路600の出力
電圧V1は、 V1＝3VY−（２＋αＴ）VX＋αTV1′ ＝3VY−2VX＋（V1′−VX）αＴ ………（８） となる。
一方、第１図においてOPアンプ６の（＋）入力端子の
電圧をV0とし、抵抗R5を流れる電流をI0とすると、OPア
ンプ10の（＋）入力端子の電圧VBは、 となる。ここで、ブリッジ回路の抵抗１〜４の抵抗値が
すべて等しくRSである場合、上記の電圧VBは となる。（９）式に（５）式を代入すると、 となる。
電圧をV0とし、抵抗R5を流れる電流をI0とすると、OPア
ンプ10の（＋）入力端子の電圧VBは、 となる。ここで、ブリッジ回路の抵抗１〜４の抵抗値が
すべて等しくRSである場合、上記の電圧VBは となる。（９）式に（５）式を代入すると、 となる。
ここで、（８），（10）式より、 となるように、それぞれ電圧VY,VXを設定すると、 となる。すなわち、上記条件を満足するように、電圧
VX,VYを設定すると、所定温度においてOPアンプ10の
（−）入力端子の電圧VBと第２の定電圧源13が出力する
電圧V1とが等しくなる。この結果、電圧Vtempは所定温
度において零となり、出力補償回路の出力電圧Voutにお
いて、この電圧Vtempの項により生じるオフセットが零
となるため、出力電圧Voutのオフセット調整をより簡単
に行うことができる。
VX,VYを設定すると、所定温度においてOPアンプ10の
（−）入力端子の電圧VBと第２の定電圧源13が出力する
電圧V1とが等しくなる。この結果、電圧Vtempは所定温
度において零となり、出力補償回路の出力電圧Voutにお
いて、この電圧Vtempの項により生じるオフセットが零
となるため、出力電圧Voutのオフセット調整をより簡単
に行うことができる。
また、（11）式は電圧V1が所定温度においては基準電
圧VBを出力するとともに、温度変化によりその電圧値が の割合で変化することを示している。従って、任意の圧
力P1において正の温度変化、例えば温度が25℃から80℃
に変化したとき、出力電圧VoutがΔVoutだけ増加傾向、
すなわち電流I4が減少傾向にあると仮定すると、電圧電
流変換回路200の出力電流I2を減少させるようにすれ
ば、抵抗14を流れる電流I5が一定のため、電流I4の減少
を防止（補償）できる。ここで、センサ単体の各抵抗１
〜４が正の温度特性を持ち、電圧VBが温度の上昇ととも
にΔVBだけ低下する場合、OPアンプ10の（−）入力端子
にもイマジナルショートにより電圧VBが発生するため、
抵抗12を流れる電流I3が減少する。この電流I3の減少に
より、電流I2も減少するが、この電流I2の減少により電
流I4の減少を確実に防止するために、 となるように、電圧V1を調整する。これにより、出力電
圧Voutの温度特性を確実に補償することができる。
圧VBを出力するとともに、温度変化によりその電圧値が の割合で変化することを示している。従って、任意の圧
力P1において正の温度変化、例えば温度が25℃から80℃
に変化したとき、出力電圧VoutがΔVoutだけ増加傾向、
すなわち電流I4が減少傾向にあると仮定すると、電圧電
流変換回路200の出力電流I2を減少させるようにすれ
ば、抵抗14を流れる電流I5が一定のため、電流I4の減少
を防止（補償）できる。ここで、センサ単体の各抵抗１
〜４が正の温度特性を持ち、電圧VBが温度の上昇ととも
にΔVBだけ低下する場合、OPアンプ10の（−）入力端子
にもイマジナルショートにより電圧VBが発生するため、
抵抗12を流れる電流I3が減少する。この電流I3の減少に
より、電流I2も減少するが、この電流I2の減少により電
流I4の減少を確実に防止するために、 となるように、電圧V1を調整する。これにより、出力電
圧Voutの温度特性を確実に補償することができる。
また、センサ単体の各抵抗１〜４が正の温度特性を持
ち、電圧VBが温度の上昇とともにΔVBだけ上昇する場
合、及びセンサ単体の各抵抗１〜４が負の温度特性を持
つ場合にも、上記と同様の調整により、出力電圧Voutの
温度特性を補償することができる。
ち、電圧VBが温度の上昇とともにΔVBだけ上昇する場
合、及びセンサ単体の各抵抗１〜４が負の温度特性を持
つ場合にも、上記と同様の調整により、出力電圧Voutの
温度特性を補償することができる。
次に、電圧Voffの項について説明する。
電圧Voffは、（３），（４）式からわかるように、出
力電圧Voutのオフセットを調整することができる項であ
る。この電圧Voffは第３の定電圧源17が出力する電圧
（オフセット調整用電圧）V2によって調整することがで
き、第３の定電圧源17は、第１の定電圧源と同様に、デ
ジタル値を記憶するメモリとこのメモリに記憶されてい
るデシタル値をアナログ値に変換するDAコンバータとに
よって構成される。したがって、出力電圧Voutのオフセ
ットは、このメモリに記臆させるデジタル値によって容
易に調整することができる。
力電圧Voutのオフセットを調整することができる項であ
る。この電圧Voffは第３の定電圧源17が出力する電圧
（オフセット調整用電圧）V2によって調整することがで
き、第３の定電圧源17は、第１の定電圧源と同様に、デ
ジタル値を記憶するメモリとこのメモリに記憶されてい
るデシタル値をアナログ値に変換するDAコンバータとに
よって構成される。したがって、出力電圧Voutのオフセ
ットは、このメモリに記臆させるデジタル値によって容
易に調整することができる。
なお、第１、第２、第３の定電圧源7,13,17のそれぞ
れのメモリを例えばRAMによって構成すれば、ブリッジ
型測定器の出力特性を固定することなく、任意に調整す
ることができる。
れのメモリを例えばRAMによって構成すれば、ブリッジ
型測定器の出力特性を固定することなく、任意に調整す
ることができる。
また、前述の実施例では、第２の定電圧源13におい
て、メモリ131とDAコンバータ132とから構成される電圧
源130からの定電圧を増幅回路500によって反転増幅して
いた。これに対し、電圧源130からの定電圧を反転させ
ずに、かつ温度変化に応じて増幅率が変化するように増
幅し、この増幅された定電圧と電圧源130からの定電圧
との電圧差を検出し、この検出された電圧差に基づい
て、出力回路からの出力電圧を変化させるようにしても
良い。
て、メモリ131とDAコンバータ132とから構成される電圧
源130からの定電圧を増幅回路500によって反転増幅して
いた。これに対し、電圧源130からの定電圧を反転させ
ずに、かつ温度変化に応じて増幅率が変化するように増
幅し、この増幅された定電圧と電圧源130からの定電圧
との電圧差を検出し、この検出された電圧差に基づい
て、出力回路からの出力電圧を変化させるようにしても
良い。
また、本実施例では、抵抗R136と抵抗R137の抵抗値が
所定温度において等しいとしたが、抵抗R136と抵抗R137
の抵抗値が所定温度においてｋ倍となるよう設定し、か
つR139＝kR140とすれば、（７）式より明らかなよう
に、電圧源130の出力電圧V1′の値にかかわりなく、か
つ、抵抗R137の温度係数αを抵抗R140と抵抗R141との比
で決まる値だけ乗算した値とすることができる。
所定温度において等しいとしたが、抵抗R136と抵抗R137
の抵抗値が所定温度においてｋ倍となるよう設定し、か
つR139＝kR140とすれば、（７）式より明らかなよう
に、電圧源130の出力電圧V1′の値にかかわりなく、か
つ、抵抗R137の温度係数αを抵抗R140と抵抗R141との比
で決まる値だけ乗算した値とすることができる。
また、前述した第２の定電圧源13は、所定温度におい
ては所定の基準電圧を出力するとともに、その出力電圧
の温度特性を任意に調整できるものである。そこで、こ
の第２の定電圧源13をCR発振回路の電源回路に用いるこ
とにより、CR発振回路の発振周波数の温度特性の補償を
確実に行うことができる。以下、CR発振回路の電源回路
に、第２の定電圧源13を用いた場合について説明する。
ては所定の基準電圧を出力するとともに、その出力電圧
の温度特性を任意に調整できるものである。そこで、こ
の第２の定電圧源13をCR発振回路の電源回路に用いるこ
とにより、CR発振回路の発振周波数の温度特性の補償を
確実に行うことができる。以下、CR発振回路の電源回路
に、第２の定電圧源13を用いた場合について説明する。
第４図は公知のCR発振回路であり、インバータ804,80
5,806、抵抗807,808、コンデンサ809とから構成され、
抵抗808とコンデンサ809との時定数により発振周波数が
決まってくる。なお、801は第２の定電圧源に接続され
る電源端子、802はアース端子、803は出力端子である。
5,806、抵抗807,808、コンデンサ809とから構成され、
抵抗808とコンデンサ809との時定数により発振周波数が
決まってくる。なお、801は第２の定電圧源に接続され
る電源端子、802はアース端子、803は出力端子である。
上記のように構成されたCR発振回路において、各イン
バータ804,805,806を構成するトランジスタのスイッチ
ング時間、抵抗808、コンデンサ809などの温度特性によ
り、発振周波数に温度依存性のあることは良く知られて
いる。そこで、抵抗808とコンデンサ809との時定数を調
整し、発振周波数f1の出力を得ていた場合に、温度が所
定温度T1からΔＴだけ変化し、T1＋ΔＴとなったとき、
発振周波数f1がΔf1だけ変化し、f1＋Δf1になったと仮
定する。このとき、CR発振回路の発振周波数は電源電圧
にも依存するため、端子801に接続された第２の定電圧
源13の出力電圧をV1からV1＋ΔV1に変化させることによ
り、CR発振回路の発振周波数を一定に保つことができ
る。ここで、第２の定電圧源13の出力電圧は、メモリに
書き込むデジタル値にかかわらず、所定温度において一
定であり、すなわち発振周波数も一定となる。従って、
CR発振回路の電源回路に第２の定電圧源13を用いること
によって、発振周波数が抵抗808とコンデンサ809との時
定数のみによって設定されるとともに、発振周波数の温
度特性を確実に補償することができる。
バータ804,805,806を構成するトランジスタのスイッチ
ング時間、抵抗808、コンデンサ809などの温度特性によ
り、発振周波数に温度依存性のあることは良く知られて
いる。そこで、抵抗808とコンデンサ809との時定数を調
整し、発振周波数f1の出力を得ていた場合に、温度が所
定温度T1からΔＴだけ変化し、T1＋ΔＴとなったとき、
発振周波数f1がΔf1だけ変化し、f1＋Δf1になったと仮
定する。このとき、CR発振回路の発振周波数は電源電圧
にも依存するため、端子801に接続された第２の定電圧
源13の出力電圧をV1からV1＋ΔV1に変化させることによ
り、CR発振回路の発振周波数を一定に保つことができ
る。ここで、第２の定電圧源13の出力電圧は、メモリに
書き込むデジタル値にかかわらず、所定温度において一
定であり、すなわち発振周波数も一定となる。従って、
CR発振回路の電源回路に第２の定電圧源13を用いること
によって、発振周波数が抵抗808とコンデンサ809との時
定数のみによって設定されるとともに、発振周波数の温
度特性を確実に補償することができる。
また、温度上昇により発振周波数がf1からf1−Δf1に
変化する場合には、第２の定電圧源の出力電圧がV1から
V1−ΔV1に変化させるようにメモリに記憶させるデジタ
ル値を設定すれば良い。
変化する場合には、第２の定電圧源の出力電圧がV1から
V1−ΔV1に変化させるようにメモリに記憶させるデジタ
ル値を設定すれば良い。
以上説明したように、本発明によれば、所定温度にお
いて基準電圧を出力し、その出力電圧の温度特性を調整
可能な電源回路を構成することができる。そして、この
電源回路をブリッジ型測定器の出力補償回路に用いた場
合には、ブリッジ型測定器出力の温度特性の調整を他の
出力特性に対して全く影響を与えることなしに行うこと
ができる。
いて基準電圧を出力し、その出力電圧の温度特性を調整
可能な電源回路を構成することができる。そして、この
電源回路をブリッジ型測定器の出力補償回路に用いた場
合には、ブリッジ型測定器出力の温度特性の調整を他の
出力特性に対して全く影響を与えることなしに行うこと
ができる。
第１図は本発明の一実施例を示す電気回路図、第２図は
第１図に示す第１の定電圧源の構成を示す構成図、第３
図は第１図に示す第２の定電圧源の構成を示す電気回路
図、第４図はCR発振回路の電源回路に第２の定電圧源を
採用した構成を示す電気回路図である。 1,2,3,4……ブリッジ型測定器を構成するための検出素
子をなす拡散抵抗,12……第２の抵抗,13……電源回路,1
00……定電流源をなす定電流回路,200……電圧・電流変
換回路,300……電源回路と第２の抵抗から構成される温
度補償回路,500……増幅回路,600……出力回路,130……
電圧源。
第１図に示す第１の定電圧源の構成を示す構成図、第３
図は第１図に示す第２の定電圧源の構成を示す電気回路
図、第４図はCR発振回路の電源回路に第２の定電圧源を
採用した構成を示す電気回路図である。 1,2,3,4……ブリッジ型測定器を構成するための検出素
子をなす拡散抵抗,12……第２の抵抗,13……電源回路,1
00……定電流源をなす定電流回路,200……電圧・電流変
換回路,300……電源回路と第２の抵抗から構成される温
度補償回路,500……増幅回路,600……出力回路,130……
電圧源。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 克己 愛知県西尾市下羽角町岩谷14番地 株式 会社日本自動車部品総合研究所内 (56)参考文献 特開 平２−257017（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 17/00 - 17/22 G05F 1/56 G01L 9/00 - 9/06
Claims (4)
- 【請求項１】所定温度において基準電圧を出力として発
生し、この出力の温度特性を調整可能な電源回路であっ
て、 調整可能な定電圧を発生する電圧源と、 前記電圧源が発生する定電圧を前記所定温度において一
定の増幅率で増幅するとともに、この増幅率が前記所定
温度との温度差に応じて変化する増幅手段と、 前記所定温度において一定の増幅率で増幅された定電圧
を第１の増幅率で増幅し、前記電圧源が発生する定電圧
を第２の増幅率で増幅し、この両者の差に応じて出力電
圧を変化させるととともに、前記所定温度においては前
記基準電圧を出力する出力手段と を備えることを特徴とする電源回路。 - 【請求項２】被測定対象の変化に応じて抵抗値が変化す
る複数個の検出素子がブリッジ状に接続されており、か
つ、入力端子と第１、第２の出力端子を有するブリッジ
型測定器と、 このブリッジ型測定器の前記入力端子に定電流を供給す
る定電流源と、 前記測定器の第１の出力端子側の出力を一方の入力と
し、前記測定器の第２の出力端子側の出力を第１の抵抗
を介して他方の入力とする演算増幅器と、 前記第１の抵抗と前記演算増幅器とを接続する配線中に
一端が接続され、他端が請求項１記載の前記電源回路に
接続されている第２の抵抗と、 前記第１の抵抗と前記演算増幅器とを接続する前記配線
中に一端が接続され、前記演算増幅器の出力に応じ、か
つ前記第２の抵抗を流れる電流によって調整された電流
を発生する電圧電流変換回路と を備えることを特徴とする請求項１記載の電源回路を備
えるブリッジ型測定器出力補償回路。 - 【請求項３】前記定電流源は、調整可能な定電圧を発生
する電圧源と、前記電圧源が発生する定電圧に応じて前
記ブリッジ型測定器の前記入力端子に供給する定電流を
変化させる電流変化手段とから構成され、前記電圧源が
発生する定電圧を調整することにより前記ブリッジ型測
定器の前記入力端子に供給される定電流を変化させて、
前記ブリッジ型測定器の感度を調整することを特徴とす
る請求項２記載のブリッジ型測定器出力補償回路。 - 【請求項４】調整可能な定電圧を発生する電圧源と前記
電圧源の出力を一方の入力とし、前記電圧電流変換回路
の出力を他方の入力とするとともに、前記電圧電流変換
回路の出力が第３の抵抗を介して出力側に接続されてい
る演算増幅器とから構成され、前記電圧電流変換回路が
発生する電流に応じた電圧を発生するとともに、前記電
圧源が発生する定電圧を調整することによって、前記第
３の抵抗を流れる電流を調整して出力電圧のオフセット
電圧を調整するオフセット調整回路をさらに備えること
を特徴とする請求項２記載のブリッジ型測定器出力補償
回路。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1031728A JP2928526B2 (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 電源回路及び前記回路を備えるブリッジ型測定器出力補償回路 |
| EP90102498A EP0382217B1 (en) | 1989-02-10 | 1990-02-08 | Power source circuit and bridge type measuring device with output compensating circuit utilizing the same |
| DE69029205T DE69029205T2 (de) | 1989-02-10 | 1990-02-08 | Messbrücke mit Ausgangskompensationsschaltkreis |
| EP93109049A EP0566160B1 (en) | 1989-02-10 | 1990-02-08 | Bridge type measuring device with output compensating circuit |
| DE69014927T DE69014927T2 (de) | 1989-02-10 | 1990-02-08 | Speiseschaltung und Brücken-Messanordnung mit einer Ausgangssignalausgleichsschaltung. |
| US07/478,097 US5024101A (en) | 1989-02-10 | 1990-02-09 | Power source circuit and bridge type measuring device with output compensating circuit utilizing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1031728A JP2928526B2 (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 電源回路及び前記回路を備えるブリッジ型測定器出力補償回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02210272A JPH02210272A (ja) | 1990-08-21 |
| JP2928526B2 true JP2928526B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=12339102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1031728A Expired - Lifetime JP2928526B2 (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 電源回路及び前記回路を備えるブリッジ型測定器出力補償回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5024101A (ja) |
| EP (2) | EP0382217B1 (ja) |
| JP (1) | JP2928526B2 (ja) |
| DE (2) | DE69014927T2 (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5241850A (en) * | 1991-11-01 | 1993-09-07 | Texas Instruments Incorporated | Sensor with programmable temperature compensation |
| US5343755A (en) * | 1993-05-05 | 1994-09-06 | Rosemount Inc. | Strain gage sensor with integral temperature signal |
| EP0727669B1 (de) * | 1995-02-17 | 2002-03-20 | Siemens Metering AG | Anordnung zur Temperaturkompensation |
| EP0733909B1 (en) * | 1995-03-24 | 2004-11-17 | Interuniversitair Micro Elektronica Centrum Vzw | Method and apparatus for local temperature sensing for use in performing high resolution in-situ measurement |
| US5833365A (en) * | 1995-03-24 | 1998-11-10 | Interuniversitair Micro-Electronika Centrum Vzw | Method for local temperature sensing for use in performing high resolution in-situ parameter measurements |
| DE59510846D1 (de) * | 1995-12-27 | 2004-01-22 | Hamilton Sundstrand Corp | Verfahren und Vorrichtung zum potentialfreien Erfassen eines Stromes |
| FR2764714A1 (fr) * | 1997-06-17 | 1998-12-18 | Philips Electronics Nv | Convertisseur analogique/numerique |
| US6094075A (en) | 1997-08-29 | 2000-07-25 | Rambus Incorporated | Current control technique |
| US6870419B1 (en) * | 1997-08-29 | 2005-03-22 | Rambus Inc. | Memory system including a memory device having a controlled output driver characteristic |
| US6646953B1 (en) * | 2000-07-06 | 2003-11-11 | Rambus Inc. | Single-clock, strobeless signaling system |
| US7051130B1 (en) | 1999-10-19 | 2006-05-23 | Rambus Inc. | Integrated circuit device that stores a value representative of a drive strength setting |
| US6321282B1 (en) * | 1999-10-19 | 2001-11-20 | Rambus Inc. | Apparatus and method for topography dependent signaling |
| US7079775B2 (en) | 2001-02-05 | 2006-07-18 | Finisar Corporation | Integrated memory mapped controller circuit for fiber optics transceiver |
| JP2003214962A (ja) * | 2002-01-18 | 2003-07-30 | Toyoda Mach Works Ltd | 荷重センサー |
| JP2004085384A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Seiko Epson Corp | 温度センサ回路、半導体集積回路及びその調整方法 |
| US7119549B2 (en) * | 2003-02-25 | 2006-10-10 | Rambus Inc. | Output calibrator with dynamic precision |
| CN1321315C (zh) * | 2005-05-27 | 2007-06-13 | 南京航空航天大学 | 柔性化应变信号现场采集系统 |
| JP2010156621A (ja) * | 2008-12-27 | 2010-07-15 | New Japan Radio Co Ltd | センサ用半導体装置 |
| CN102809682A (zh) * | 2011-06-03 | 2012-12-05 | 新科实业有限公司 | 电流感应电路、印刷电路板组件以及电流传感器装置 |
| FR3029292B1 (fr) * | 2014-12-02 | 2017-01-13 | Stmicroelectronics (Grenoble 2) Sas | Dispositif de correction du decalage de tension d'un pont de wheatstone |
| US11877864B2 (en) * | 2019-05-29 | 2024-01-23 | Measurement Specialties, Inc. | Voltage nulling pressure sensor preamp |
| CN112651498B (zh) * | 2020-09-22 | 2021-08-31 | 杭州杭越传感科技有限公司 | 一种自学习式电流传感器的温度稳定性提高方法和装置 |
| JPWO2022209720A1 (ja) * | 2021-03-31 | 2022-10-06 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3646815A (en) * | 1970-03-26 | 1972-03-07 | Bailey Meter Co | Silicon pressure transducer circuit |
| JPS5240184A (en) * | 1975-09-25 | 1977-03-28 | Automob Antipollut & Saf Res Center | Temperature compensation circuit for pressure transducers |
| JPS5242167A (en) * | 1975-09-30 | 1977-04-01 | Toshiba Corp | Semiconductor pressure gauge |
| JPS53703A (en) * | 1976-06-22 | 1978-01-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Method of make transparent original for photooengraving |
| DE2652314C3 (de) * | 1976-11-17 | 1980-06-26 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | Temperaturkompensationsschaltung für einen elektrischen Meßwertgeber |
| JPS55155253A (en) * | 1979-05-22 | 1980-12-03 | Nippon Denso Co Ltd | Output compensation circuit for bridge type measuring apparatus |
| US4414853A (en) * | 1981-08-10 | 1983-11-15 | The Foxboro Company | Pressure transmitter employing non-linear temperature compensation |
| JPS5951303A (ja) * | 1982-09-17 | 1984-03-24 | Nippon Denso Co Ltd | センサ回路 |
| JPS59184819A (ja) * | 1983-04-06 | 1984-10-20 | Hitachi Ltd | 半導体圧力センサ |
| JPS6046641A (ja) * | 1983-08-25 | 1985-03-13 | Canon Inc | デジタル伝送中継装置 |
| JPH0675247B2 (ja) * | 1983-11-04 | 1994-09-21 | 株式会社日立製作所 | 空気流量検出装置 |
| DE3427743A1 (de) * | 1984-07-27 | 1986-02-06 | Keller AG für Druckmeßtechnik, Winterthur | Verfahren zur temperaturkompensation und messschaltung hierfuer |
| JPS61209332A (ja) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Tokyo Electric Co Ltd | 歪センサ− |
| JPS6255629A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-11 | Mitsubishi Electric Corp | 試料撮影方法 |
| JPS6295010A (ja) * | 1985-10-21 | 1987-05-01 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体装置 |
| JPS62168030A (ja) * | 1986-01-21 | 1987-07-24 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 半導体圧力センサの温度補償回路 |
| JPS62187131A (ja) * | 1986-02-10 | 1987-08-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 石英系光フアイバ用母材の作製方法 |
| JPS62185137A (ja) * | 1986-02-12 | 1987-08-13 | Omron Tateisi Electronics Co | 圧力センサの温度補償回路 |
| US4798093A (en) * | 1986-06-06 | 1989-01-17 | Motorola, Inc. | Apparatus for sensor compensation |
| US4765188A (en) * | 1986-11-24 | 1988-08-23 | Bourns Instruments, Inc. | Pressure transducer with integral digital temperature compensation |
-
1989
- 1989-02-10 JP JP1031728A patent/JP2928526B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-02-08 DE DE69014927T patent/DE69014927T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-08 EP EP90102498A patent/EP0382217B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-08 DE DE69029205T patent/DE69029205T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-08 EP EP93109049A patent/EP0566160B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-09 US US07/478,097 patent/US5024101A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0566160B1 (en) | 1996-11-20 |
| EP0566160A1 (en) | 1993-10-20 |
| DE69014927T2 (de) | 1995-07-27 |
| DE69014927D1 (de) | 1995-01-26 |
| US5024101A (en) | 1991-06-18 |
| DE69029205T2 (de) | 1997-06-12 |
| EP0382217B1 (en) | 1994-12-14 |
| JPH02210272A (ja) | 1990-08-21 |
| EP0382217A2 (en) | 1990-08-16 |
| EP0382217A3 (en) | 1991-11-06 |
| DE69029205D1 (de) | 1997-01-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2928526B2 (ja) | 電源回路及び前記回路を備えるブリッジ型測定器出力補償回路 | |
| JP3399953B2 (ja) | 圧力センサ | |
| JPS6144242B2 (ja) | ||
| JPH02177566A (ja) | 半導体歪み検出装置 | |
| KR20200033190A (ko) | 공통 모드 검출을 갖춘 증폭기 | |
| JP3222367B2 (ja) | 温度測定回路 | |
| JPS6255629B2 (ja) | ||
| JPS6343697B2 (ja) | ||
| EP0500631A1 (en) | Transducer power supply | |
| JPH10339680A (ja) | 半導体圧力センサ | |
| RU2165602C2 (ru) | Полупроводниковый датчик давления | |
| KR830001352B1 (ko) | 영점 온도보상을 갖는 반도체 압력검출장치 | |
| JPH0431535Y2 (ja) | ||
| JPH0519796Y2 (ja) | ||
| JPH0851328A (ja) | 小信号増幅回路 | |
| JPH064307Y2 (ja) | 圧力計測器の温度補正回路 | |
| JPH08159884A (ja) | 単電源を使用したロードセル式重量計の温度特性の補正方法 | |
| JP2024043887A (ja) | 集積回路、および半導体装置 | |
| KR19980084452A (ko) | 압력센서의 온도 보상 회로 | |
| JP2948633B2 (ja) | 半導体装置の電圧測定方法 | |
| JP2516647Y2 (ja) | 温度補償回路 | |
| JP2021189109A (ja) | センサ駆動回路 | |
| JP2792522B2 (ja) | 半導体センサ用信号処理回路 | |
| JPH0368830A (ja) | 半導体圧力センサの温度補償回路 | |
| JPH0313830A (ja) | 白金温度センサ用の温度検出回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080514 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090514 Year of fee payment: 10 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090514 Year of fee payment: 10 |