JP2919162B2 - Lsiパッケージの形成方法およびlsiチップ - Google Patents
Lsiパッケージの形成方法およびlsiチップInfo
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- JP2919162B2 JP2919162B2 JP4063897A JP6389792A JP2919162B2 JP 2919162 B2 JP2919162 B2 JP 2919162B2 JP 4063897 A JP4063897 A JP 4063897A JP 6389792 A JP6389792 A JP 6389792A JP 2919162 B2 JP2919162 B2 JP 2919162B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はフリップチップ方式で形
成することに適したLSIパッケージの形成方法および
LSIチップに関する。 LSIはその集積度が増すに
従ってチップの信号端子、電源端子数が増加して来た。
フリップチップ方式でチップ上にバンプをマトリックス
状に並べ多数の端子を設けることが実用化されて来た。
そのときバンプとチップ内部の配線についてCAD装置
による自動レイアウトが要望されるようになった。
成することに適したLSIパッケージの形成方法および
LSIチップに関する。 LSIはその集積度が増すに
従ってチップの信号端子、電源端子数が増加して来た。
フリップチップ方式でチップ上にバンプをマトリックス
状に並べ多数の端子を設けることが実用化されて来た。
そのときバンプとチップ内部の配線についてCAD装置
による自動レイアウトが要望されるようになった。
【0002】
【従来の技術】LSIチップはチップ上の周辺にパッド
を並べパッケージ端子との間をボンディングワイヤによ
り接続することが従来実行されていた。またパッドとチ
ップ内入出力回路とを接続する配線は、比較的短距離を
接続しているのみであった。その配線はチップ内の信号
線と比較して大電流が流れ、その抵抗値が大きくなると
LSIとしての電気特性に影響を与えることとなる。
を並べパッケージ端子との間をボンディングワイヤによ
り接続することが従来実行されていた。またパッドとチ
ップ内入出力回路とを接続する配線は、比較的短距離を
接続しているのみであった。その配線はチップ内の信号
線と比較して大電流が流れ、その抵抗値が大きくなると
LSIとしての電気特性に影響を与えることとなる。
【0003】近年になってフリップチップ方式はパッケ
ージ端子数が増大したため採用されるようになった。チ
ップ上にバンプと称する端子をマトリックス状に並べた
1個または必要に応じて複数個のチップを、パッケージ
端子と予め接続された端子をバンプに対向する位置に並
べたパッケージと向かい合わせて置き、炉を通すことに
よりはんだリフロー処理を行って溶着させる。従来のボ
ンディングワイヤを使用する接続の場合と比較し、フリ
ップチップ方式はチップの上下側を逆転させている。
ージ端子数が増大したため採用されるようになった。チ
ップ上にバンプと称する端子をマトリックス状に並べた
1個または必要に応じて複数個のチップを、パッケージ
端子と予め接続された端子をバンプに対向する位置に並
べたパッケージと向かい合わせて置き、炉を通すことに
よりはんだリフロー処理を行って溶着させる。従来のボ
ンディングワイヤを使用する接続の場合と比較し、フリ
ップチップ方式はチップの上下側を逆転させている。
【0004】図5はフリップチップ方式によるパッケー
ジ組み立ての様子を示す横断面図である。図5におい
て、1はチップ、2ははんだ、3はパッケージ、4はチ
ップ内配線層、5はバンプで通常はアルミニウムを使用
している。バンプ5の上にクロム・銅の金属薄膜を介し
てはんだ2として鉛−錫合金をめっきまたは蒸着法によ
って形成する。6はパッケージ外部端子と予め接続され
たチップとの接続端子を示す。炉を通すとはんだが溶け
て図5の状態となる。
ジ組み立ての様子を示す横断面図である。図5におい
て、1はチップ、2ははんだ、3はパッケージ、4はチ
ップ内配線層、5はバンプで通常はアルミニウムを使用
している。バンプ5の上にクロム・銅の金属薄膜を介し
てはんだ2として鉛−錫合金をめっきまたは蒸着法によ
って形成する。6はパッケージ外部端子と予め接続され
たチップとの接続端子を示す。炉を通すとはんだが溶け
て図5の状態となる。
【0005】予め設計されたスタンダードセルを複数ま
とめてLSIチップを形成するスタンダードセル方式で
レイアウトするときは、チップにおけるバンプの下を配
線や各種素子・回路がレイアウトされている。したがっ
てチップ内の回路は近くのバンプまで信号・電源の結線
をしなければならない。
とめてLSIチップを形成するスタンダードセル方式で
レイアウトするときは、チップにおけるバンプの下を配
線や各種素子・回路がレイアウトされている。したがっ
てチップ内の回路は近くのバンプまで信号・電源の結線
をしなければならない。
【0006】LSIチップ特にスタンダードセル形式で
LSIチップを設計するときは、チップ内にブロックと
称する小区分の回路を考え、当初はブロックのレイアウ
トを行う。ブロックはまた「マクロセル」「モジュー
ル」ということがある。次にチップのレイアウトを行な
い、そのときブロック内の入出力回路とバンプとの結線
を行う。それはチップレイアウト時においてブロックの
「配置」が全て決まるからである。
LSIチップを設計するときは、チップ内にブロックと
称する小区分の回路を考え、当初はブロックのレイアウ
トを行う。ブロックはまた「マクロセル」「モジュー
ル」ということがある。次にチップのレイアウトを行な
い、そのときブロック内の入出力回路とバンプとの結線
を行う。それはチップレイアウト時においてブロックの
「配置」が全て決まるからである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】LSIチップを設計す
るためブロックのレイアウトを行ったとき、入出力回路
など内部回路の配線レイアウトを終わらせてしまうか
ら、チップレイアウト時になって、バンプとの結線を行
うような配線チャネル(チップ上で回路同士の隙間とな
る部分)が残っていないとか、電源配線は出来るが信号
配線は出来ない、ということが起こった。
るためブロックのレイアウトを行ったとき、入出力回路
など内部回路の配線レイアウトを終わらせてしまうか
ら、チップレイアウト時になって、バンプとの結線を行
うような配線チャネル(チップ上で回路同士の隙間とな
る部分)が残っていないとか、電源配線は出来るが信号
配線は出来ない、ということが起こった。
【0008】またフリップチップ方式のチップではブロ
ックの上に電源端子が並ぶから、ブロックに対し上下方
向の配線により直接電源を引き込むことが有利となった
が、当初の設計では中々実行できなかった。
ックの上に電源端子が並ぶから、ブロックに対し上下方
向の配線により直接電源を引き込むことが有利となった
が、当初の設計では中々実行できなかった。
【0009】本発明の目的は前述の欠点を改善し、チッ
プ内で配線層を上下に分けて配線パターンを有効に設計
して適切にレイアウトすることができるLSIパッケー
ジの形成方法およびLSIチップを提供することにあ
る。
プ内で配線層を上下に分けて配線パターンを有効に設計
して適切にレイアウトすることができるLSIパッケー
ジの形成方法およびLSIチップを提供することにあ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
を示すチップの部分上面図である。図1において、7は
チップ内ブロックの一部の回路例えば入出力回路が存在
する層より一層上側の上層である。8は層7における回
路の信号端子を示し、図示しないバンプと結線されるも
の、9は配線禁止領域を示す。
を示すチップの部分上面図である。図1において、7は
チップ内ブロックの一部の回路例えば入出力回路が存在
する層より一層上側の上層である。8は層7における回
路の信号端子を示し、図示しないバンプと結線されるも
の、9は配線禁止領域を示す。
【0011】フリップチップ方式により処理するためチ
ップの内部回路は図5に示すチップの下方即ちはんだ2
とは反対側方向の下層に在る。そして入出力回路を含む
複数回路が1ブロックを形成し、チップ上に複数ブロッ
クが存在することがある。
ップの内部回路は図5に示すチップの下方即ちはんだ2
とは反対側方向の下層に在る。そして入出力回路を含む
複数回路が1ブロックを形成し、チップ上に複数ブロッ
クが存在することがある。
【0012】チップ上のパッドとパッケージ端子とをフ
リップチップ方式により接続し、スタンダードセル形式
のレイアウト方法によりLSIパッケージを得るときの
LSIパッケージの形成方法およびLSIチップにおい
て、本発明は下記の手順および構成とする。即ち、チッ
プ内ブロックの外方端子に近い上層7において、ブロッ
クの入出力信号端子8を含み所定方向に配線禁止領域9
を設けておき、チップレイアウト時に前記配線禁止領域
9に前記入出力信号端子8とパッケージ端子との配線パ
ターンを設け、且つ更に上層の上に設けた最上層におい
て、所定バンプとの結線を行う。
リップチップ方式により接続し、スタンダードセル形式
のレイアウト方法によりLSIパッケージを得るときの
LSIパッケージの形成方法およびLSIチップにおい
て、本発明は下記の手順および構成とする。即ち、チッ
プ内ブロックの外方端子に近い上層7において、ブロッ
クの入出力信号端子8を含み所定方向に配線禁止領域9
を設けておき、チップレイアウト時に前記配線禁止領域
9に前記入出力信号端子8とパッケージ端子との配線パ
ターンを設け、且つ更に上層の上に設けた最上層におい
て、所定バンプとの結線を行う。
【0013】また、他の発明では、チップ内ブロックの
上層に設けられた電源配線の方向に対し、チップレイア
ウト時に更にその上側に設けた最上層の外部からの電源
配線は、前述の電源配線の方向と異なる方向に配線さ
れ、その電源配線の同電位同士の交点を結ぶ「ビア」を
具備すること、で構成する。
上層に設けられた電源配線の方向に対し、チップレイア
ウト時に更にその上側に設けた最上層の外部からの電源
配線は、前述の電源配線の方向と異なる方向に配線さ
れ、その電源配線の同電位同士の交点を結ぶ「ビア」を
具備すること、で構成する。
【0014】
【作用】図1に示す構成によりチップの内部回路例えば
入出力回路の存在する上層7において、配線禁止領域9
を設けておくから、CAD装置によりブロック内配線の
設計を行うとき、領域9内を通過する配線を設けないこ
ととする。そのためその後にチップレイアウト設計を行
うとき、少なくとも前記配線禁止領域9については必要
な配線(例えばブロックの入出力信号端子とパッケージ
外部端子との配線)を自由に設けることができる。
入出力回路の存在する上層7において、配線禁止領域9
を設けておくから、CAD装置によりブロック内配線の
設計を行うとき、領域9内を通過する配線を設けないこ
ととする。そのためその後にチップレイアウト設計を行
うとき、少なくとも前記配線禁止領域9については必要
な配線(例えばブロックの入出力信号端子とパッケージ
外部端子との配線)を自由に設けることができる。
【0015】また他の発明においては、前記内部回路の
存在する上層に設けられた電源配線に対し、チップレイ
アウト時にその上側の最上層に電源配線を前記とは異な
る方向に設けておくから、必要の都度電源配線の同電位
の点をビア接続することで簡易確実に電源配線ができ
る。
存在する上層に設けられた電源配線に対し、チップレイ
アウト時にその上側の最上層に電源配線を前記とは異な
る方向に設けておくから、必要の都度電源配線の同電位
の点をビア接続することで簡易確実に電源配線ができ
る。
【0016】
【実施例】図2は本発明の実施例としてブロック内の入
出力回路と、信号用バンプとの結線を示す図である。図
2において10-1,10-2 〜10-6は入出力回路、11-1,11-2
〜11-6は信号用バンプ、12は接地用VSSパッド、13
は接地電位線を示す。
出力回路と、信号用バンプとの結線を示す図である。図
2において10-1,10-2 〜10-6は入出力回路、11-1,11-2
〜11-6は信号用バンプ、12は接地用VSSパッド、13
は接地電位線を示す。
【0017】図3は入出力回路10-1の一部を拡大して示
す図である。図3において、9は配線禁止領域で、図1
に示す領域と同様のものを示す。14は入出力回路の上
層に設けた配線、15-1は層間接続線であって、入出力回
路の信号端子と上層配線14とを接続するもの、15-1は
層間接続線であって、上層配線14と信号用バンプ11-2
とを接続するものを示す。16は最上層配線を示す。
す図である。図3において、9は配線禁止領域で、図1
に示す領域と同様のものを示す。14は入出力回路の上
層に設けた配線、15-1は層間接続線であって、入出力回
路の信号端子と上層配線14とを接続するもの、15-1は
層間接続線であって、上層配線14と信号用バンプ11-2
とを接続するものを示す。16は最上層配線を示す。
【0018】ブロック内配線をCAD装置により設計す
るとき、図2・図3に示す最上層配線16と、図2に示
す接地電位線13とは、設計の対象とならない。それは
入出力回路10-1などの配置場所は、バンプ11-1などの位
置関係が定まらないからである。そのため設計処理の当
初は図3に示すように、入出力回路10-1の大きさよりも
横方向に若干長い距離の配線禁止領域9を設けて、その
時は上層配線14を行う場所とせず、電源配線をも通過
させない。
るとき、図2・図3に示す最上層配線16と、図2に示
す接地電位線13とは、設計の対象とならない。それは
入出力回路10-1などの配置場所は、バンプ11-1などの位
置関係が定まらないからである。そのため設計処理の当
初は図3に示すように、入出力回路10-1の大きさよりも
横方向に若干長い距離の配線禁止領域9を設けて、その
時は上層配線14を行う場所とせず、電源配線をも通過
させない。
【0019】ここで配線禁止領域9が横方向に長いこと
は、図2において接地電位線13が図面の縦方向に長く
伸びていることと関連している。即ち、接地電位線13
が、接続点13-1において入出力回路10-4と接地接続さ
れ、一方、電源電位線(VDD線)は入出力回路の存在す
る層より上層において、横方向に配線されている(図示
せず)。その電源電位線を横切ることのない方向に細長
く、配線禁止領域9を定める必要がある。そして入出力
回路がチップレイアウト時に電源電位線や電源バンプの
下に配置された場合であっても、信号用バンプまでの配
線チャネルを配線禁止領域内に設ければ良いため、ブロ
ック内配置の設計のとき自由度が大きい。
は、図2において接地電位線13が図面の縦方向に長く
伸びていることと関連している。即ち、接地電位線13
が、接続点13-1において入出力回路10-4と接地接続さ
れ、一方、電源電位線(VDD線)は入出力回路の存在す
る層より上層において、横方向に配線されている(図示
せず)。その電源電位線を横切ることのない方向に細長
く、配線禁止領域9を定める必要がある。そして入出力
回路がチップレイアウト時に電源電位線や電源バンプの
下に配置された場合であっても、信号用バンプまでの配
線チャネルを配線禁止領域内に設ければ良いため、ブロ
ック内配置の設計のとき自由度が大きい。
【0020】次に本発明の他の実施例として、図3に示
す各層の配線を示す図において、上層配線14をブロッ
ク内配置の設計のとき配線禁止領域の大きさとして予め
定めておくことができる。そのとき上層配線が既に設け
られているため、電源配線について設計上の制約を受け
ることとなり、且つ上層配線14として必要な長さより
長い配線を設けたため、入出力回路から見て余計な負荷
となるけれど、チップレイアウトを行うときに、入出力
回路・電源線の配置の設計自由度が大きいという効果を
有する。
す各層の配線を示す図において、上層配線14をブロッ
ク内配置の設計のとき配線禁止領域の大きさとして予め
定めておくことができる。そのとき上層配線が既に設け
られているため、電源配線について設計上の制約を受け
ることとなり、且つ上層配線14として必要な長さより
長い配線を設けたため、入出力回路から見て余計な負荷
となるけれど、チップレイアウトを行うときに、入出力
回路・電源線の配置の設計自由度が大きいという効果を
有する。
【0021】次に図4は図2と対応するブロック内に電
源電位線を配線した場合を示す図である。図4におい
て、17-1,17-2 は入出力回路10-1の上層(L3)におけ
る電源電位線VDを示し、18は同じく上層における接
地線VSを示す。19-1,19-2 は最上層(L4)における
電源電位線VDを示し、20は同じく最上層における接
地線VSを示す。21-1〜21-4は電源VDD用バンプ、22-1
〜22-4はVDD関係の電源線同士を接続するビアで、当然
同電位の所を結線している。23は接地VSS用バンプ、
24はVSS関係の接地同士接続するビアを示す。
源電位線を配線した場合を示す図である。図4におい
て、17-1,17-2 は入出力回路10-1の上層(L3)におけ
る電源電位線VDを示し、18は同じく上層における接
地線VSを示す。19-1,19-2 は最上層(L4)における
電源電位線VDを示し、20は同じく最上層における接
地線VSを示す。21-1〜21-4は電源VDD用バンプ、22-1
〜22-4はVDD関係の電源線同士を接続するビアで、当然
同電位の所を結線している。23は接地VSS用バンプ、
24はVSS関係の接地同士接続するビアを示す。
【0022】図4において、入出力回路10-1などはL3
における電源線VDとVSから電源供給を受け、VDと
VSはそれらの上層即ち、最上層L4の電源線と直交し
ているので、所定箇所22-1〜22-4と24とにおいてビア
接続する。
における電源線VDとVSから電源供給を受け、VDと
VSはそれらの上層即ち、最上層L4の電源線と直交し
ているので、所定箇所22-1〜22-4と24とにおいてビア
接続する。
【0023】図4では信号用バンプ11-1などと、入出力
回路10-1などとの接続配線は図示してないが、実用化す
るときは当然接続している。
回路10-1などとの接続配線は図示してないが、実用化す
るときは当然接続している。
【0024】
【発明の効果】このようにして本発明によると、チップ
レイアウトするときブロックは基板上の何処に配置され
ても良いので、スタンダードセル形式におけるフリップ
チップ対応のレイアウトをCAD装置により簡単に実現
できる。
レイアウトするときブロックは基板上の何処に配置され
ても良いので、スタンダードセル形式におけるフリップ
チップ対応のレイアウトをCAD装置により簡単に実現
できる。
【図1】本発明の原理構成を示す図である。
【図2】本発明の実施例の構成を示す図である。
【図3】図2の一部を拡大して示す図である。
【図4】本発明の他の実施例の構成を示す図である。
【図5】フリップチップ方式によるパッケージ組み立て
の様子を示す図である。
の様子を示す図である。
7 ブロックの上層 8 入出力信号端子 9 配線禁止領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/82 H01L 21/822 H01L 27/04
Claims (3)
- 【請求項1】 チップ上のパッドとパッケージ端子とを
フリップチップ方式により接続し、スタンダードセル形
式のレイアウト方法によりLSIパッケージを得るLS
Iパッケージの形成方法において、ブロック内配線の設計処理の当初には、 チップ内ブロッ
クの外方端子に近い上層(7) において、ブロックの入出
力信号端子(8) を含み所定方向に配線禁止領域(9) を設
けておき、チップレイアウト時に前記配線禁止領域(9)
に前記入出力信号端子(8) とパッケージ端子との配線パ
ターンを設け、且つ更に上層の上に設けた最上層におい
て所定バンプとの結線を行うことを特徴とするLSIパ
ッケージの形成方法。 - 【請求項2】 請求項1記載の配線禁止領域(9) となる
位置にブロックの上層配線を予め設けておき、ブロック
の入出力信号端子との接続配線として使用することを特
徴とするLSIパッケージの形成方法。 - 【請求項3】 チップ上のパッドと端子とをフリップチ
ップ方式により接続し、スタンダードセル形式のレイア
ウト方法によりLSIパッケージを得るときのLSIチ
ップにおいて、 チップ内ブロックの上層に設けられた電源配線の方向に
対し、チップレイアウト時に更にその上側に設けた最上
層の外部からの電源配線は、前述の配線の方向と異なる
方向に配線され、その電源配線の同電位同士の交点を結
ぶ「ビア」を具備することを特徴とするLSIチップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4063897A JP2919162B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | Lsiパッケージの形成方法およびlsiチップ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4063897A JP2919162B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | Lsiパッケージの形成方法およびlsiチップ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05267459A JPH05267459A (ja) | 1993-10-15 |
JP2919162B2 true JP2919162B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=13242559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4063897A Expired - Fee Related JP2919162B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | Lsiパッケージの形成方法およびlsiチップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2919162B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3441948B2 (ja) * | 1997-12-12 | 2003-09-02 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路におけるクロック分配回路 |
US8198133B2 (en) * | 2009-07-13 | 2012-06-12 | International Business Machines Corporation | Structures and methods to improve lead-free C4 interconnect reliability |
CN110244215A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-09-17 | 蔚复来(浙江)科技股份有限公司 | 一种集成安全距离自动检查功能的pcb封装设计方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02205051A (ja) * | 1989-02-02 | 1990-08-14 | Matsushita Electron Corp | 配線処理方法 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP4063897A patent/JP2919162B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05267459A (ja) | 1993-10-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990406 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |