JP2812517B2 - Ion plating method and apparatus - Google Patents
Ion plating method and apparatusInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、イオンプレーティング方法および装置に関
する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an ion plating method and apparatus.
イオンプレーティングは、真空容器内で、被覆原料を
蒸発させて生成した被覆原料粒子をプラズマ中でイオン
化し、このイオンを電界により基板表面に向けて加速し
て上記基板表面に被覆層として堆積させる技術である。In the ion plating, the coating material particles generated by evaporating the coating material are ionized in plasma in a vacuum vessel, and the ions are accelerated toward the substrate surface by an electric field and deposited as a coating layer on the substrate surface. Technology.
イオンプレーティングにおけるイオン加速用電界印加
方法として、加速用電極に直流電圧を印加する方法と、
高周波を印加し自己バイアス作用を利用する方法があ
る。しかし、基板と被覆層の両方またはいずれか一方が
絶縁性物質である場合にイオンの加速を十分に行なうこ
とができない等の問題があった。As a method of applying an electric field for ion acceleration in ion plating, a method of applying a DC voltage to an electrode for acceleration,
There is a method of applying a high frequency and utilizing a self-bias effect. However, when both or one of the substrate and the coating layer is an insulating material, there is a problem that ions cannot be sufficiently accelerated.
第6図および第7図にそれぞれ直流電界印加法および
高周波電界印加法による従来のイオンプレーティング装
置を示す。両図において、1は真空容器、2はイオン加
速用電極、3aは直流電界印加用電源、3bは高周波電界印
加用電源、3cはブロッキングコンデンサ、4は基板搬送
トレイ、5は基板、6は蒸発源、7は高周波コイル、8
は蒸発源電源、9は高周波電源、10は排気系、11はガス
導入系、12は基板搬送系を示す。6 and 7 show a conventional ion plating apparatus using a DC electric field application method and a high frequency electric field application method, respectively. In both figures, 1 is a vacuum vessel, 2 is an electrode for ion acceleration, 3a is a power supply for applying a DC electric field, 3b is a power supply for applying a high-frequency electric field, 3c is a blocking capacitor, 4 is a substrate transport tray, 5 is a substrate, and 6 is an evaporator. Source, 7 is a high frequency coil, 8
Denotes an evaporation source power supply, 9 denotes a high-frequency power supply, 10 denotes an exhaust system, 11 denotes a gas introduction system, and 12 denotes a substrate transfer system.
たとえば、絶縁基板を移動させながら被覆層を基板上
に形成させるイオンプレーティングの場合に、加速用電
極2に直流電界を印加する方法では、加速用電極2から
絶縁基板5の間にはイオン加速用電界が生じているが、
絶縁基板5から蒸発源6の間には、絶縁基板面5aに正電
荷が蓄積する現象、いわゆるコンデンサ効果により、イ
オン加速用電界がなくなるため、イオンが加速されない
ばかりか、正電荷の過蓄積により遂には異常放電が生じ
被覆層の特性や付着強度が低下するという問題があっ
た。For example, in the case of ion plating in which a coating layer is formed on a substrate while moving the insulating substrate, a method of applying a DC electric field to the accelerating electrode 2 involves ion acceleration between the accelerating electrode 2 and the insulating substrate 5. Electric field is generated,
Between the insulating substrate 5 and the evaporation source 6, a positive charge accumulates on the insulating substrate surface 5a, a so-called capacitor effect, so that the ion accelerating electric field disappears. Eventually, there was a problem that abnormal discharge occurred and the characteristics and adhesion strength of the coating layer were reduced.
また、加速用電極に高周波電界を印加する方法では、
自己バイアス効果により絶縁基板面5a上には常に負の電
界が生じ、異常放電は生じないが、絶縁基板を移動させ
ながら成膜するためには、加速用電極2と絶縁基板5と
の距離を離さなくてはならず、この場合、高周波電界の
強度が、イオン化した蒸発物つまりプラズマによって減
衰させられるため、自己バイアス効果が弱まりイオン加
速電圧が低くなるので、イオンの加速度合が低下し被覆
層の特性や付着強度が低下するという問題があった。In the method of applying a high-frequency electric field to the accelerating electrode,
A negative electric field is always generated on the insulating substrate surface 5a due to the self-bias effect, and abnormal discharge does not occur. However, in order to form a film while moving the insulating substrate, the distance between the accelerating electrode 2 and the insulating substrate 5 must be increased. In this case, the strength of the high-frequency electric field is attenuated by the ionized evaporant, that is, the plasma, so that the self-bias effect is weakened and the ion acceleration voltage is lowered, so that the ion acceleration is reduced and the coating layer is reduced. However, there is a problem that the characteristics and the adhesion strength of the resin are reduced.
以上の問題は、基板が絶縁性物質である場合に限ら
ず、基板と被覆層の少なくとも一方が絶縁性物質であれ
ば上記と同様の原理により発生する。たとえば、導電性
基板上に絶縁性被覆層を堆積させる場合、層の堆積成長
の進行に伴って上記の現象が著しくなる。The above problem occurs not only when the substrate is an insulating material but also when at least one of the substrate and the coating layer is an insulating material according to the same principle as described above. For example, when an insulating coating layer is deposited on a conductive substrate, the above-described phenomenon becomes significant as the deposition growth of the layer progresses.
本発明は、基板および/または被覆層が絶縁性物質で
あっても、異常放電等を防止して十分なイオン加速を行
うことができるイオンプレーティング方法および装置を
提供することを目的とする。An object of the present invention is to provide an ion plating method and apparatus capable of preventing abnormal discharge or the like and performing sufficient ion acceleration even when the substrate and / or the coating layer is an insulating material.
上記の目的は、本発明によれば、真空容器内で、被覆
原料を蒸発させて生成した被覆原料粒子をプラズマ中で
一極性にイオン化し、このイオンを電界により絶縁状態
の基板表面に向けて加速して上記基板表面に被覆層とし
て堆積させるイオンプレーティング方法であって、上記
真空容器内に設けた電荷放出源から他極性の電荷を上記
基板表面に照射して上記基板表面を他極性に帯電させる
ことにより、上記イオンと上記基板表面との間に電位差
を形成させ、上記電位差によって生じる電界により上記
イオンを上記基板表面へ向けて加速することを特徴とす
るイオンプレーティング方法によって達成される。According to the present invention, according to the present invention, in a vacuum vessel, coating material particles generated by evaporating a coating material are ionized to one polarity in plasma, and the ions are directed to an insulating substrate surface by an electric field. An ion plating method for accelerating and depositing as a coating layer on the substrate surface, wherein the substrate surface is irradiated with a charge of another polarity from a charge emission source provided in the vacuum vessel so that the substrate surface has a different polarity. This is achieved by an ion plating method, which comprises forming a potential difference between the ions and the substrate surface by charging, and accelerating the ions toward the substrate surface by an electric field generated by the potential difference. .
また、上記の目的は、本発明によれば、真空容器内
に、被覆原料を蒸発させる装置と、蒸発した被覆原料粒
子をプラズマ中で一極性にイオン化する装置と、上記イ
オンを絶縁状態の基板表面に向けて加速する電界を発生
させる加速電界発生装置とを設けたイオンプレーティン
グ装置であって、上記加速電界発生装置として、他極性
の電荷を上記基板表面に照射して上記基板表面を他極性
に帯電させることにより、上記イオンと上記基板表面と
の間に電位差を形成させ、上記電位差によって上記電界
を発生させる電荷放出源を備えることを特徴とするイオ
ンプレーティング装置によっても達成される。According to the present invention, the above object is also provided, in a vacuum vessel, a device for evaporating a coating material, a device for ionizing the evaporated coating material particles to one polarity in plasma, and a substrate in which the ions are insulated. An ion plating apparatus provided with an accelerating electric field generator for generating an electric field that accelerates toward the surface, wherein the accelerating electric field generator irradiates a charge of another polarity to the substrate surface to cause the other surface of the substrate to change. The present invention is also achieved by an ion plating apparatus including a charge emission source that forms a potential difference between the ions and the substrate surface by being charged to a polarity and generates the electric field by the potential difference.
「絶縁状態の基板」とは、絶縁性物質の基板(絶縁基
板)および周囲から電気的に絶縁された導電性物質の基
板(導電性基板)をいう。The term “insulated substrate” refers to a substrate made of an insulating material (insulating substrate) and a substrate made of a conductive material that is electrically insulated from the surroundings (conductive substrate).
本発明においては、被覆原料粒子を一極性にイオン化
するのに対して、絶縁状態の基板蒸着面に他極性の電荷
を照射して基板蒸着面を常に他極性に帯電させることに
より、基板蒸着面上に一極性の電荷が蓄積されることが
ないので異常放電が防止される。また、加速用電極を用
いないので、電極と基板の位置関係を問題にせず、基板
に一様な加速電界を印加することができる。In the present invention, the coating raw material particles are ionized to one polarity, while the substrate deposition surface in the insulated state is irradiated with a charge of another polarity to constantly charge the substrate deposition surface to the other polarity. Abnormal discharge is prevented because no unipolar charge is accumulated on the upper side. Further, since no accelerating electrode is used, a uniform accelerating electric field can be applied to the substrate regardless of the positional relationship between the electrode and the substrate.
したがって、基板と被覆層の少なくとも一方が絶縁性
であって、基板を移動させながら被覆層を形成するイオ
ンプレーティングにおいても、十分なイオン加速効果を
もたせ、膜質が良く、付着強度の強い薄膜層が形成され
る。Therefore, even in ion plating in which at least one of the substrate and the coating layer is insulative and the coating layer is formed while moving the substrate, a sufficient ion accelerating effect is obtained, the film quality is good, and the thin film layer having strong adhesion strength is provided. Is formed.
以下に、実施例により本発明を更に詳しく説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples.
実施例1 第1図に本発明に従ったイオンプレーティング装置の
一例を示す。同図の装置においては、真空容器1内の基
板搬送トレイ4に絶縁基板5が取付けられ、被覆原料で
ある薄膜形成用材料を蒸発させる蒸発源6、蒸発した薄
膜形成用粒子をイオン化させるため蒸発源直上におかれ
た高周波コイル7、および絶縁基板5の蒸着面5aに向け
て電子を照射する電子放出源20が設けられている。Embodiment 1 FIG. 1 shows an example of an ion plating apparatus according to the present invention. In the apparatus shown in the figure, an insulating substrate 5 is mounted on a substrate transport tray 4 in a vacuum vessel 1, an evaporation source 6 for evaporating a thin film forming material, which is a coating material, and an evaporation source for ionizing the evaporated thin film forming particles. An electron emission source 20 for irradiating electrons toward the high-frequency coil 7 placed directly above the source and the vapor deposition surface 5a of the insulating substrate 5 is provided.
電子放出源20の構成例を第2図に示す。電子放出源20
は、熱電子を放出するフィラメント21、フィラメント21
と同電位におかれたウェネルト22、放出された熱電子を
加速するため接地されたグリッド23、および熱電子を加
速するためフィラメント21を負電位にする直流電源25、
熱電子を放出させるためフィラメントを加熱する交流電
源26から構成される。FIG. 2 shows a configuration example of the electron emission source 20. Electron emission source 20
Are filaments 21 and 21 that emit thermoelectrons
A Wehnelt 22 placed at the same potential as the above, a grid 23 grounded to accelerate the emitted thermoelectrons, and a DC power supply 25 for setting the filament 21 to a negative potential to accelerate the thermoelectrons,
It comprises an AC power supply 26 for heating the filament to emit thermoelectrons.
なお図1において8は蒸発源電源、9は高周波電極、
10は排気系、11はガス導入系、12は基板搬送系を示す。In FIG. 1, 8 is an evaporation source power supply, 9 is a high-frequency electrode,
Reference numeral 10 denotes an exhaust system, 11 denotes a gas introduction system, and 12 denotes a substrate transfer system.
このように、本発明の装置は、イオン加速用電極を設
けず、その代りにイオンを加速させるために電子を照射
する電子放出源20を設けてある。As described above, the device of the present invention does not include the ion acceleration electrode, but instead includes the electron emission source 20 that irradiates electrons to accelerate ions.
次に、上記装置を用いて本発明の方法を実施する例を
説明する。Next, an example of implementing the method of the present invention using the above-described apparatus will be described.
TiO2やSiO2等の絶縁性薄膜形成用材料が蒸発源6にて
蒸発し、ガス導入系11から導入されたAr,O2ガスととも
に、高周波コイル7による高周波放電によってプラズマ
状態となり、被覆原料粒子としての薄膜形成用粒子が一
部イオン化させられる。The material for forming an insulating thin film such as TiO 2 or SiO 2 evaporates in the evaporation source 6 and becomes a plasma state by high-frequency discharge by the high-frequency coil 7 together with Ar and O 2 gas introduced from the gas introduction system 11. The thin film forming particles as particles are partially ionized.
電子放出源20は電子の供給源である。フィラメント21
を加熱することで放出された熱電子は、ウェネルト22か
らグリッド23間に生じる電位差により加速され、絶縁基
板蒸着面5aに照射される。照射された熱電子により蒸着
面5aは負電位に帯電する。これにより形成される電界
で、イオン化された薄膜形成用粒子を加速し、蒸着面5a
に絶縁性薄膜層を形成させる。The electron emission source 20 is a source of electrons. Filament 21
Are accelerated by a potential difference generated between the Wehnelt 22 and the grid 23, and radiated to the insulating substrate deposition surface 5a. The vaporized surface 5a is charged to a negative potential by the irradiated thermal electrons. By the electric field formed by this, the ionized thin film forming particles are accelerated, and the deposition surface 5a is accelerated.
To form an insulating thin film layer.
上記方法によりガラス基板上に被覆層としてのSiO2薄
膜層を形成した。An SiO 2 thin film layer as a coating layer was formed on a glass substrate by the above method.
絶縁性基板5として100mm×100mmの強化ガラス、絶縁
性薄膜形成用材料としてSiO2を用い、圧力1×10-3Pa〜
4×10-2Paにて高周波放電をおこしSiO2をプラズマ化さ
せた。この時の高周波出力は300Wとした。Using 100 mm × 100 mm tempered glass as the insulating substrate 5 and SiO 2 as the material for forming the insulating thin film, the pressure is 1 × 10 −3 Pa or more.
High-frequency discharge was caused at 4 × 10 −2 Pa to convert SiO 2 into plasma. The high frequency output at this time was 300 W.
電子放出源20はガラス基板5の斜め下方約500mm離れ
た位置からガラス板5の中央を狙って配置した。フィラ
メント21から100mAの電子を放出させ、ウェネルト22か
らグリッド23間には4kVの電位差を印加することにより
電子を加速し、ガラス基板蒸着面5aに照射した。The electron emission source 20 was arranged at a position approximately 500 mm diagonally below the glass substrate 5 and aimed at the center of the glass plate 5. Electrons of 100 mA were emitted from the filament 21, and a 4 kV potential difference was applied between the Wehnelt 22 and the grid 23 to accelerate the electrons and irradiate the glass substrate deposition surface 5a.
その際、100mm×100mmのガラス基板蒸着面5aは約−50
0Vの負電位に帯電した。At this time, the glass substrate evaporation surface 5a of 100 mm x 100 mm is about -50
It was charged to a negative potential of 0V.
この状態にて、成膜レート1.7Å/Sで10min成膜を行っ
た。成膜中、正電荷のチャージアップによる異常放電は
起こらなかった。In this state, a film was formed at a film formation rate of 1.7 ° / S for 10 minutes. During film formation, abnormal discharge due to charge-up of positive charges did not occur.
比較のために、上記手順と同様に、ただし電子照射を
行なわずに成膜した。For comparison, a film was formed in the same manner as above, but without electron irradiation.
形成されたそれぞれのSiO2薄膜層の耐磨耗性を評価す
るために、テーバー形の磨耗試験機を用い、1000回磨耗
後の曇価を測定した。In order to evaluate the abrasion resistance of each formed SiO 2 thin film layer, the haze value after abrasion was measured 1000 times using a Taber-type abrasion tester.
この耐磨耗性評価は、JIS R 3211(自動車用安全ガラ
ス)、JIS R 3212(自動車用安全ガラス試験法)の耐磨
耗性試験法に準じて行った。結果を第3図に示す。比較
として電子放出源20からの電子照射を行なわなかった場
合でも曇価は3.2%であったが、本発明にしたがって電
子放出源20からの電子照射によりガラス基板蒸着面5aを
負電位に帯電させた場合では曇価は1.9%であった。本
発明にしたがって電子照射によるイオンプレーティング
法が耐磨耗性の高い薄膜層を形成するのに有効であるこ
とが確認された。The abrasion resistance evaluation was performed according to the abrasion resistance test method of JIS R 3211 (automotive safety glass) and JIS R 3212 (automotive safety glass test method). The results are shown in FIG. As a comparison, the haze value was 3.2% even when the electron irradiation from the electron emission source 20 was not performed. However, according to the present invention, the glass substrate deposition surface 5a was charged to a negative potential by the electron irradiation from the electron emission source 20. The haze was 1.9%. It has been confirmed that the ion plating method by electron irradiation according to the present invention is effective for forming a thin film layer having high wear resistance.
実施例2 第4図に、本発明に従ったイオンプレーティング装置
の他の構成例を示す。Embodiment 2 FIG. 4 shows another configuration example of the ion plating apparatus according to the present invention.
本実施例では、導電性基板30を絶縁台32により基板搬
送トレイ4との間で絶縁状態に保持してある。これによ
り、電子放出源20から照射された電子が基板搬送トレイ
4へ漏出せず、効率よく導電性基板30を帯電させる。本
実施例は、導電性基板30上に絶縁性薄膜層を形成するの
に特に適している。もちろん、この装置構成で従来法の
ように導電性基板上に導電性薄膜層を形成することもで
きる。In the present embodiment, the conductive substrate 30 is held in an insulated state between the conductive substrate 30 and the substrate carrying tray 4 by the insulating table 32. As a result, the electrons irradiated from the electron emission source 20 do not leak to the substrate carrying tray 4, and the conductive substrate 30 is charged efficiently. This embodiment is particularly suitable for forming an insulating thin film layer on the conductive substrate 30. Of course, a conductive thin film layer can be formed on a conductive substrate by using this apparatus configuration as in the conventional method.
実施例3 第5図に、本発明に従ったイオンプレーティング装置
の他の構成例を示す。Embodiment 3 FIG. 5 shows another configuration example of the ion plating apparatus according to the present invention.
本実施例においては、実施例1および2のような基板
搬送系は設けていない。このように、本発明は、成膜を
行う場合、基板30を移動しながら成膜しなくとも、基板
搬送系を取り去り、基板30を固定したまま成膜した場合
においても有効である。In this embodiment, the substrate transfer system as in the first and second embodiments is not provided. As described above, the present invention is also effective in the case where the film is formed while the substrate transport system is removed and the substrate 30 is fixed, without performing the film formation while moving the substrate 30 when performing the film formation.
なお、本発明のイオンプレーティング装置において、
電子放出源はフィラメントを加熱して熱電子を放出する
ものだけでなく、板状陰極を電子衝撃法にて加熱して熱
電子を放出するもの、ホローカソード放電を利用して電
子を放出するもの等、熱電子に限らず電子を放出できる
ものであれば良く、その構造、形状は適宜必要に応じて
決定できる。また、電子放出源の照射位置も基板を狙え
る位置であればよく、特に限定しない。In the ion plating apparatus of the present invention,
Electron emission sources not only emit thermionic electrons by heating the filament, but also emit thermionic electrons by heating the plate cathode by the electron impact method, and emit the electrons using hollow cathode discharge. Any structure can be used as long as it can emit electrons, not limited to thermoelectrons, and its structure and shape can be determined as needed. The irradiation position of the electron emission source may be any position as long as it can aim at the substrate, and is not particularly limited.
以上説明したように、本発明によれば、基板および/
または被覆層が絶縁性物質であっても、異常放電等を防
止して十分なイオン加速を行うことができるので、特性
が良好で十分な付着強度の被覆層を形成することができ
る。As described above, according to the present invention, the substrate and / or
Alternatively, even if the coating layer is an insulating material, since abnormal discharge and the like can be prevented and sufficient ion acceleration can be performed, a coating layer having good characteristics and sufficient adhesion strength can be formed.
第1図は、本発明に従ったイオンプレーティング装置の
一例を示す断面図、 第2図は、本発明に従ったイオンプレーティング装置の
電子放出源の一例を示す断面図、 第3図は、ガラス基板上に形成されたSiO2被覆層につい
て摩耗回数と曇価との関係を示すグラフ、 第4図は、本発明に従ったイオンプレーティング装置の
他の例を示す断面図、 第5図は、本発明に従ったイオンプレーティング装置の
他の例を示す断面図、 第6図は、従来の直流電界印加方式イオンプレーティン
グ装置を示す断面図、および 第7図は、従来の高周波電界印加方式イオンプレーティ
ング装置を示す断面図である。 1……真空容器、2……イオン加速用電極、 4……基板搬送トレイ、5……基板、 6……蒸発源、7……高周波コイル、 10……排気系、11……ガス導入系、 20……電子放出源、 21……熱電子放出用フィラメント、 22……ウェネルト、23……グリッド。FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of an ion plating apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of an electron emission source of the ion plating apparatus according to the present invention. FIG. 4 is a graph showing the relationship between the frequency of wear and the haze value of an SiO 2 coating layer formed on a glass substrate. FIG. 4 is a cross-sectional view showing another example of an ion plating apparatus according to the present invention. FIG. 6 is a sectional view showing another example of the ion plating apparatus according to the present invention, FIG. 6 is a sectional view showing a conventional DC electric field application type ion plating apparatus, and FIG. It is sectional drawing which shows an electric field application type ion plating apparatus. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Vacuum container, 2 ... electrode for ion acceleration, 4 ... Substrate transfer tray, 5 ... Substrate, 6 ... Evaporation source, 7 ... High frequency coil, 10 ... Exhaust system, 11 ... Gas introduction system , 20 ... Emission source, 21 ... Thermionic emission filament, 22 ... Wehnelt, 23 ... Grid.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長谷川 弘 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自 動車株式会社内 (72)発明者 清水 達彦 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自 動車株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−6271(JP,A) 特開 昭61−67766(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C23C 14/00 - 14/58──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Hiroshi Hasegawa 1 Toyota Town, Toyota City, Aichi Prefecture Inside Toyota Motor Corporation (72) Inventor Tatsuhiko Shimizu 1 Toyota Town Toyota City, Toyota City, Aichi Prefecture Inside Toyota Motor Corporation ( 56) References JP-A-61-6271 (JP, A) JP-A-61-67766 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) C23C 14/00-14/58
Claims (2)
した被覆原料粒子をプラズマ中で一極性にイオン化し、
このイオンを電界により絶縁状態の基板表面に向けて加
速して上記基板表面に被覆層として堆積させるイオンプ
レーティング方法であって、 上記真空容器内に設けた電荷放出源から他極性の電荷を
上記基板表面に照射して上記基板表面を他極性に帯電さ
せることにより、上記イオンと上記基板表面との間に電
位差を形成させ、上記電位差によって生じる電界により
上記イオンを上記基板表面へ向けて加速することを特徴
とするイオンプレーティング方法。In a vacuum vessel, coating material particles produced by evaporating a coating material are ionized to one polarity in plasma.
An ion plating method for accelerating the ions toward an insulated substrate surface by an electric field and depositing the ions as a coating layer on the substrate surface, wherein the charge of the other polarity is charged from a charge emission source provided in the vacuum vessel. By irradiating the substrate surface to charge the substrate surface to another polarity, a potential difference is formed between the ions and the substrate surface, and the electric field generated by the potential difference accelerates the ions toward the substrate surface. An ion plating method characterized in that:
と、蒸発した被覆原料粒子をプラズマ中で一極性にイオ
ン化する装置と、上記イオンを絶縁状態の基板表面に向
けて加速する電界を発生させる加速電界発生装置とを設
けたイオンプレーティング装置であって、 上記加速電界発生装置として、他極性の電荷を上記基板
表面に照射して上記基板表面を他極性に帯電させること
により、上記イオンと上記基板表面との間に電位差を形
成させ、上記電位差によって上記電界を発生させる電荷
放出源を備えることを特徴とするイオンプレーティング
装置。2. An apparatus for evaporating a coating material, an apparatus for ionizing the evaporated coating material particles to one polarity in plasma, and an electric field for accelerating the ions toward an insulating substrate surface in a vacuum vessel. An ion plating apparatus provided with an accelerating electric field generating device for generating, as the accelerating electric field generating device, irradiating the substrate surface with a charge of another polarity to charge the substrate surface to another polarity, An ion plating apparatus comprising: a charge emission source for forming a potential difference between ions and the substrate surface and generating the electric field by the potential difference.
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JPH03158459A JPH03158459A (en) | 1991-07-08 |
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JPS6167766A (en) * | 1984-09-11 | 1986-04-07 | Canon Inc | Ion plating device |
-
1989
- 1989-11-17 JP JP1297682A patent/JP2812517B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03158459A (en) | 1991-07-08 |
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