JP2766570B2 - 加熱装置 - Google Patents
加熱装置Info
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- JP2766570B2 JP2766570B2 JP30820891A JP30820891A JP2766570B2 JP 2766570 B2 JP2766570 B2 JP 2766570B2 JP 30820891 A JP30820891 A JP 30820891A JP 30820891 A JP30820891 A JP 30820891A JP 2766570 B2 JP2766570 B2 JP 2766570B2
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- Japan
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- electric heater
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- Control Of Resistance Heating (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は例えば電子レンジのよう
に主として調理に用いられる電気ヒータ付きの加熱装置
に関する。
に主として調理に用いられる電気ヒータ付きの加熱装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の加熱装置は図２に示すよ
うに、電気ヒータ１、検出回路２、ヒータスイッチング
回路３および演算制御回路４から大略構成され、検出回
路２は電気ヒータ１への供給電圧（商用交流電圧）を一
定の比率で降圧する低圧トランス５、その二次側に接続
された整流用ダイオードＤ、平滑用コンデンサＣ、抵抗
Ｒ１，Ｒ２などから構成され、低圧トランス５の二次側
の印加電圧は一定の関係に基づいて換算された値ａとし
てＬＳＩなどの演算制御回路４に入力されＡ／Ｄ変換さ
れる。また、ヒータスイッチング回路３は演算制御回路
４のオン、オフ信号ｂがベースに供給されてオン、オフ
するトランジスタＴｒと、このトランジスタＴｒのオン
によって接点６ａが閉成されるリレー６とから構成され
ている。
うに、電気ヒータ１、検出回路２、ヒータスイッチング
回路３および演算制御回路４から大略構成され、検出回
路２は電気ヒータ１への供給電圧（商用交流電圧）を一
定の比率で降圧する低圧トランス５、その二次側に接続
された整流用ダイオードＤ、平滑用コンデンサＣ、抵抗
Ｒ１，Ｒ２などから構成され、低圧トランス５の二次側
の印加電圧は一定の関係に基づいて換算された値ａとし
てＬＳＩなどの演算制御回路４に入力されＡ／Ｄ変換さ
れる。また、ヒータスイッチング回路３は演算制御回路
４のオン、オフ信号ｂがベースに供給されてオン、オフ
するトランジスタＴｒと、このトランジスタＴｒのオン
によって接点６ａが閉成されるリレー６とから構成され
ている。
【０００３】ところで、上記のように電気ヒータ１を備
えた加熱装置においては、加熱時に電気ヒータ１へ印加
される電圧を検出回路２にて検出し、食品別設定温度に
対応して電気ヒータ１の発熱量をほぼ一定に保持するよ
うオン時間を演算制御回路４にて算出し、ヒータスイッ
チング回路３を通して電気ヒータ１をオン、オフさせ、
印加電圧の変動による調理の仕上り具合の影響を抑えて
いる。この時、電気ヒータ１への通電時間を算出するた
めに必要な一次側電圧に対する検出回路２の検出値（Ａ
／Ｄ値）は、試作段階において数回の試作値をデータ取
りし、その平均値を演算制御回路４のＲＯＭにマスクし
ている。
えた加熱装置においては、加熱時に電気ヒータ１へ印加
される電圧を検出回路２にて検出し、食品別設定温度に
対応して電気ヒータ１の発熱量をほぼ一定に保持するよ
うオン時間を演算制御回路４にて算出し、ヒータスイッ
チング回路３を通して電気ヒータ１をオン、オフさせ、
印加電圧の変動による調理の仕上り具合の影響を抑えて
いる。この時、電気ヒータ１への通電時間を算出するた
めに必要な一次側電圧に対する検出回路２の検出値（Ａ
／Ｄ値）は、試作段階において数回の試作値をデータ取
りし、その平均値を演算制御回路４のＲＯＭにマスクし
ている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図２に
示す加熱装置において、検出回路２は低圧トランス５の
二次側出力電圧の分圧値を読み取っており、検出電圧が
低圧トランス５の出力電圧のばらつき、または負荷の消
費電力のばらつきによりセット毎に値は異なったものに
なる。比較されるＡ／Ｄ値は上記のデータ平均値を演算
制御回路４のＲＯＭにマスクした値であり、誤差が生じ
ることがある。また、回路変更などがあり、負荷の消費
電力が変わった場合に検出回路２の抵抗Ｒ１，Ｒ２の変
更または演算制御回路４のＲＯＭ内容（Ａ／Ｄ値）の変
更といったロスが生ずる。そこで、本発明は上記事情を
考慮してなされたもので、その目的とするところは、電
気ヒータへの印加電圧の変化を精度よく読み取ることが
でき、また負荷の消費電力が変わった場合でも、抵抗の
変更や演算制御回路のＲＯＭ内容を変更することのない
加熱装置を提供することにある。
示す加熱装置において、検出回路２は低圧トランス５の
二次側出力電圧の分圧値を読み取っており、検出電圧が
低圧トランス５の出力電圧のばらつき、または負荷の消
費電力のばらつきによりセット毎に値は異なったものに
なる。比較されるＡ／Ｄ値は上記のデータ平均値を演算
制御回路４のＲＯＭにマスクした値であり、誤差が生じ
ることがある。また、回路変更などがあり、負荷の消費
電力が変わった場合に検出回路２の抵抗Ｒ１，Ｒ２の変
更または演算制御回路４のＲＯＭ内容（Ａ／Ｄ値）の変
更といったロスが生ずる。そこで、本発明は上記事情を
考慮してなされたもので、その目的とするところは、電
気ヒータへの印加電圧の変化を精度よく読み取ることが
でき、また負荷の消費電力が変わった場合でも、抵抗の
変更や演算制御回路のＲＯＭ内容を変更することのない
加熱装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明に係る加熱装置にあっては、電気ヒータの
印加電圧の変化を読み取る必要のある電圧を予め記憶す
る記憶回路と、上記電気ヒータに印加される電圧を検出
する検出回路と、この検出回路にて検出した上記ヒータ
の印加電圧と上記記憶回路にて記憶された検出電圧とを
比較して上記電気ヒータの発熱量を一定に保持すべく上
記電気ヒータの通電時間を演算する演算制御回路と、こ
の演算制御回路の出力信号により上記電気ヒータをオ
ン、オフするヒータスイッチング回路とを備えたもので
ある。
めに、本発明に係る加熱装置にあっては、電気ヒータの
印加電圧の変化を読み取る必要のある電圧を予め記憶す
る記憶回路と、上記電気ヒータに印加される電圧を検出
する検出回路と、この検出回路にて検出した上記ヒータ
の印加電圧と上記記憶回路にて記憶された検出電圧とを
比較して上記電気ヒータの発熱量を一定に保持すべく上
記電気ヒータの通電時間を演算する演算制御回路と、こ
の演算制御回路の出力信号により上記電気ヒータをオ
ン、オフするヒータスイッチング回路とを備えたもので
ある。
【０００６】
【作用】上記の構成を有する本発明においては、一次側
電圧に対する検出値を予め記憶回路にセット毎に記憶さ
せるため、低圧トランスの二次側出力電圧のばらつきや
負荷の消費電力のばらつきによる検出電圧の変化をなく
すことができ、電気ヒータへの印加電圧の変化を精度よ
く読み取ることができる。また、回路変更などにより、
低圧トランスの負荷電力が変わり、検出電圧値の変更が
必要になった場合も、記憶回路に検出電圧を記憶させる
ことで、抵抗の変更や演算制御回路のＲＯＭ内容を変更
する手間が省ける。
電圧に対する検出値を予め記憶回路にセット毎に記憶さ
せるため、低圧トランスの二次側出力電圧のばらつきや
負荷の消費電力のばらつきによる検出電圧の変化をなく
すことができ、電気ヒータへの印加電圧の変化を精度よ
く読み取ることができる。また、回路変更などにより、
低圧トランスの負荷電力が変わり、検出電圧値の変更が
必要になった場合も、記憶回路に検出電圧を記憶させる
ことで、抵抗の変更や演算制御回路のＲＯＭ内容を変更
する手間が省ける。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は本発明に係る加熱装置の一実施例を示す回
路図である。なお、従来の構成と同一または対応する部
分には図２と同一の符号を用いて説明する。図１に示す
ように、本実施例の加熱装置は、電気ヒータ１の印加電
圧の変化を読み取る必要のある電圧を予め記憶する記憶
回路７と、上記電気ヒータ１に印加される電圧を検出す
る検出回路２と、この検出回路２にて検出した上記ヒー
タ１の印加電圧と上記記憶回路７にて記憶された検出電
圧とを比較して上記電気ヒータ１の発熱量を一定に保持
すべく上記電気ヒータ１の通電時間を演算する演算制御
回路４と、この演算制御回路４の出力信号により上記電
気ヒータ１をオン、オフするヒータスイッチング回路３
とを備えている。ここで、検出回路２およびヒータスイ
ッチング回路３の内部構成は図１のものと同一であるの
でその説明を省略する。
する。図１は本発明に係る加熱装置の一実施例を示す回
路図である。なお、従来の構成と同一または対応する部
分には図２と同一の符号を用いて説明する。図１に示す
ように、本実施例の加熱装置は、電気ヒータ１の印加電
圧の変化を読み取る必要のある電圧を予め記憶する記憶
回路７と、上記電気ヒータ１に印加される電圧を検出す
る検出回路２と、この検出回路２にて検出した上記ヒー
タ１の印加電圧と上記記憶回路７にて記憶された検出電
圧とを比較して上記電気ヒータ１の発熱量を一定に保持
すべく上記電気ヒータ１の通電時間を演算する演算制御
回路４と、この演算制御回路４の出力信号により上記電
気ヒータ１をオン、オフするヒータスイッチング回路３
とを備えている。ここで、検出回路２およびヒータスイ
ッチング回路３の内部構成は図１のものと同一であるの
でその説明を省略する。
【０００８】すなわち、本実施例の加熱装置は演算制御
回路４に記憶回路７を接続することにより、検出電圧精
度を向上させている。この記憶回路７としては電気信号
によって記憶内容を書き換えることのできる電気的消去
形ＰＲＯＭ（以下、ＥＥＰＲＯＭという。）が用いられ
る。このＥＥＰＲＯＭは演算制御回路４および電気的消
去形ＰＲＯＭへの電源供給が遮断された後もその記憶内
容を保持し続ける機能を有している。
回路４に記憶回路７を接続することにより、検出電圧精
度を向上させている。この記憶回路７としては電気信号
によって記憶内容を書き換えることのできる電気的消去
形ＰＲＯＭ（以下、ＥＥＰＲＯＭという。）が用いられ
る。このＥＥＰＲＯＭは演算制御回路４および電気的消
去形ＰＲＯＭへの電源供給が遮断された後もその記憶内
容を保持し続ける機能を有している。
【０００９】次に、本実施例の作用について説明する。
工場出荷前の電気検査工程時に電気ヒータ１への印加電
圧の変化を読み取る必要のある電圧を記憶回路７のＥＥ
ＰＲＯＭに記憶させる。例えば、商用電源電圧１００Ｖ
に対して±１０％の変化を読み取る場合には、電源電圧
９０Ｖ時の検出電圧レベルと１１０Ｖの検出電圧レベル
をＥＥＰＲＯＭに記憶させればよい。ここで、より精度
を高めるには記憶させる検出レベルを５Ｖ刻み、１Ｖ刻
みと増加していけば可能である。そして、実際の調理時
にヒータ加熱を行う際、電気ヒータ１への印加電圧を検
出回路２により検出し、演算制御回路４で記憶回路７の
ＥＥＰＲＯＭに記憶されている印加電圧に対する検出レ
ベル値を読み込み、比較することにより精度よく判断で
きる。
工場出荷前の電気検査工程時に電気ヒータ１への印加電
圧の変化を読み取る必要のある電圧を記憶回路７のＥＥ
ＰＲＯＭに記憶させる。例えば、商用電源電圧１００Ｖ
に対して±１０％の変化を読み取る場合には、電源電圧
９０Ｖ時の検出電圧レベルと１１０Ｖの検出電圧レベル
をＥＥＰＲＯＭに記憶させればよい。ここで、より精度
を高めるには記憶させる検出レベルを５Ｖ刻み、１Ｖ刻
みと増加していけば可能である。そして、実際の調理時
にヒータ加熱を行う際、電気ヒータ１への印加電圧を検
出回路２により検出し、演算制御回路４で記憶回路７の
ＥＥＰＲＯＭに記憶されている印加電圧に対する検出レ
ベル値を読み込み、比較することにより精度よく判断で
きる。
【００１０】このように本実施例では、検出回路２の検
出データを記憶する記憶回路７を設けることにより、比
較するＡ／Ｄ値をセット毎に記憶させる。そして、演算
制御回路４によって通電時間を演算する際、検出値と比
較するＡ／Ｄ値を取り出して演算を行う。したがって、
本実施例によれば、一次側電圧に対する検出値を予め記
憶回路７にセット毎に記憶させるため、低圧トランス５
の二次側出力電圧のばらつきや負荷の消費電力のばらつ
きによる検出電圧の変化をなくすことができ、電気ヒー
タ１への印加電圧の変化を精度よく読み取ることができ
る。また、回路変更などにより、低圧トランス５の負荷
電力が変わり、検出電圧値の変更が必要になった場合で
も、記憶回路７に検出電圧を記憶させることで、抵抗の
変更や演算制御回路４のＲＯＭ内容を変更することがな
くなる。
出データを記憶する記憶回路７を設けることにより、比
較するＡ／Ｄ値をセット毎に記憶させる。そして、演算
制御回路４によって通電時間を演算する際、検出値と比
較するＡ／Ｄ値を取り出して演算を行う。したがって、
本実施例によれば、一次側電圧に対する検出値を予め記
憶回路７にセット毎に記憶させるため、低圧トランス５
の二次側出力電圧のばらつきや負荷の消費電力のばらつ
きによる検出電圧の変化をなくすことができ、電気ヒー
タ１への印加電圧の変化を精度よく読み取ることができ
る。また、回路変更などにより、低圧トランス５の負荷
電力が変わり、検出電圧値の変更が必要になった場合で
も、記憶回路７に検出電圧を記憶させることで、抵抗の
変更や演算制御回路４のＲＯＭ内容を変更することがな
くなる。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る加熱
装置によれば、電気ヒータへの印加電圧の変化を精度よ
く読み取ることができる。また、回路変更などにより、
低圧トランスの負荷電力が変わり、検出電圧値の変更が
必要になった場合でも、記憶回路に検出電圧を記憶させ
ることで、抵抗の変更や演算制御回路のＲＯＭ内容を変
更する手間が省ける効果がある。
装置によれば、電気ヒータへの印加電圧の変化を精度よ
く読み取ることができる。また、回路変更などにより、
低圧トランスの負荷電力が変わり、検出電圧値の変更が
必要になった場合でも、記憶回路に検出電圧を記憶させ
ることで、抵抗の変更や演算制御回路のＲＯＭ内容を変
更する手間が省ける効果がある。
【図１】本発明に係る加熱装置の一実施例を示す回路図
である。
である。
【図２】従来の加熱装置を示す回路図である。
１ 電気ヒータ ２ 検出回路 ３ ヒータスイッチング回路 ４ 演算制御回路 ５ 低圧トランス ６ リレー ７ 記憶回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H05B 3/00 310
Claims (1)
- 【請求項１】 電気ヒータの印加電圧の変化を読み取る
必要のある電圧を予め記憶する記憶回路と、上記電気ヒ
ータに印加される電圧を検出する検出回路と、この検出
回路にて検出した上記ヒータの印加電圧と上記記憶回路
にて記憶された検出電圧とを比較して上記電気ヒータの
発熱量を一定に保持すべく上記電気ヒータの通電時間を
演算する演算制御回路と、この演算制御回路の出力信号
により上記電気ヒータをオン、オフするヒータスイッチ
ング回路とを備えたことを特徴とする加熱装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30820891A JP2766570B2 (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | 加熱装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30820891A JP2766570B2 (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | 加熱装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05121146A JPH05121146A (ja) | 1993-05-18 |
| JP2766570B2 true JP2766570B2 (ja) | 1998-06-18 |
Family
ID=17978224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30820891A Expired - Fee Related JP2766570B2 (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | 加熱装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2766570B2 (ja) |
-
1991
- 1991-10-29 JP JP30820891A patent/JP2766570B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05121146A (ja) | 1993-05-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |