JP2628384B2

JP2628384B2 - 射出成形機における製品良否判別方法

Info

Publication number: JP2628384B2
Application number: JP1294035A
Authority: JP
Inventors: 賢男上口; 哲明根子; 和男窪田
Original assignee: FANUC Corp
Current assignee: FANUC Corp
Priority date: 1989-11-14
Filing date: 1989-11-14
Publication date: 1997-07-09
Anticipated expiration: 2012-07-09
Also published as: WO1991007268A1; EP0452513A1; CA2045532A1; EP0452513A4; DE69006846D1; DE69006846T2; US5173223A; KR920700876A; EP0452513B1; KR960016033B1; JPH03155915A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、射出成形機における製品良否判別方法の改
良に関する。

従来の技術射出成形機による成形作業において製品の良否を判別
するためには、製品の出来・不出来に最も多大な影響を
与える射出圧力の圧力波形特性を分析することが望まし
い。

既に、本出願人においては、良品成形時の射出工程で
サンプリングされた射出圧力を基準圧力波形として圧力
データ記憶手段に記憶しておき、現射出工程でサンプリ
ングされた射出圧力の圧力波形を基準圧力波形と比較し
て製品の良否判別を行わせるようにした「射出成形機の
製品良否判別装置」や、射出開始後の経過時間が設定時
間に達した時点での射出圧力、もしくは、射出動作する
スクリューが設定スクリュー位置に達した時点での射出
圧力を検出し、これらの射出圧力と良否判別のために設
定された射出圧力とを比較することによって製品の良否
判別を行うようにした「射出成形機における製品良否判
別方式」を特願昭63−118357号や特開平２−78516号公
報として出願している。

発明が解決しようとする課題これらの従来技術は、実質的に、射出開始後の経過時
間やスクリュー位置をパラメータとし、良品成形時の射
出圧力と現射出工程における射出圧力とを比較すること
によって製品の良否を判別するものであるが、良否判別
の基準となる圧力偏差はパラメータの値に関わりなく一
義的に決められていたため、射出開始から保圧完了まで
の間、製品の出来・不出来に大きな影響を与えるか否か
に関わりなく、常に一定の基準で良否判別のためのデー
タが作成される結果となり、必ずしも的確な良否判別を
実施することはできなかった。

例えば、特願昭63−118357号で開示した「射出成形機
の製品良否判別装置」では、良否判別の基準となる圧力
偏差を許容値εとして設定し、現射出工程における射出
圧力が、射出開始から保圧完了までの間に、基準圧力波
形各部の射出圧力に対して±εの範囲から何回はみだし
たかを計数することによって製品の良否を判別するよう
にしているが、射出開始後の経過時間やスクリュー位置
によって射出圧力の誤差が製品の良否に与える影響の大
小が異なるため、各部の判別結果を良否判別のためのデ
ータとして同じ重みで評価することは好ましくない。

このような問題点は、特開平２−78516号公報で開示
した実施例に見られるように、射出圧力を検出するタイ
ミングを複数個設定し、各検出タイミング、即ち、パラ
メータの値に応じて良否判別のための射出圧力と許容値
とを設定することにより解決することができるが、いず
れの場合においても、パラメータの値に適した基準射出
圧力や許容値の幅を過去の成形作業データを参照して算
出すること自体、極めて困難な作業であった。

本発明の目的は、射出開始後の経過時間やスクリュー
位置等のパラメータの値を考慮し、良否判別に必要とさ
れる個々のデータの信頼性を高め、製品の良否判別を一
層確実なものとし、しかも、過去の成形作業データに基
づくデータの設定作業を容易かつ確実に成し得る射出成
形機における製品良否判別方法を提供することにある。

課題を解決するための手段スクリュー位置と射出圧力との関係に基いて成形品の
良否を判別する場合には、良品を成形する射出工程にお
けるスクリュー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形
を射出成形機のグラフィックディスプレイ上に順次重ね
て表示し、任意のスクリュー位置を判別対象点として複
数個選択し、圧力波形の重合状態に基づいて上記各判別
対象点における射出圧力の上限値および下限値を設定し
て射出成形機の制御装置に記憶させておき、各射出工程
におけるそれぞれの判別対象点の射出圧力の値が、設定
された上限値と下限値の範囲に含まれているか否かによ
り成形品の良否を判別する。

射出経過後の経過時間と射出圧力との関係に基いて成
形品の良否を判別する場合には、良品を成形する射出工
程における射出開始後の経過時間と射出圧力との関係を
示す圧力波形を射出成形機のグラフィックディスプレイ
上に順次重ねて表示し、任意の経過時間点を判別対象点
として複数個選択し、圧力波形の重合状態に基づいて上
記各判別対象点における射出圧力の上限値および下限値
を設定して射出成形機の制御装置に記憶させておき、各
射出工程におけるそれぞれの判別対象点の射出圧力の値
が、設定された上限値と下限値の範囲に含まれているか
否かにより成形品の良否を判別する。

これらの場合、実質的な判別処理は、射出圧力の値が
設定された上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象点
の数、もしくは、射出圧力の値が設定された上限値と下
限値の範囲に含まれない判別対象点の数を各射出工程毎
に計数し、該計数値と予め設定された比較値との大小関
係を比較することにより行う。

また、スクリュー位置と射出圧力との関係および射出
開始後の経過時間と射出圧力との関係に基き、スクリュ
ー位置をパラメータとして成形品の良否を判別する場合
には、良品を成形する複数の射出工程におけるスクリュ
ー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形および射出開
始後の経過時間と射出圧力との関係を示す圧力波形を射
出成形機のグラフィックディスプレイ上に各々別個に重
ねて表示し、任意のスクリュー位置を判別対象点として
複数個選択し、スクリュー位置と射出圧力との関係を示
す圧力波形の重合状態に基いて各々の判別対象点におけ
る射出圧力の上限値および下限値と、射出開始後の経過
時間と射出圧力との関係を示す圧力波形の重合状態に基
づいて１つの射出工程における上記各選択判別対象点に
対応する上記経過時間に対する経過時間の上限値および
下限値とを各々設定して射出成形機の制御装置に記憶さ
せておき、各射出工程におけるそれぞれの判別対象点の
射出圧力の値と経過時間の値とが、設定された上限値と
下限値の範囲に含まれているか否かにより成形品の良否
を判別する。

この場合、実質的な判別処理は、射出圧力の値が設定
された上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象点の
数、もしくは、射出圧力の値が設定された上限値と下限
値の範囲に含まれない判別対象点の数と、経過時間の値
が設定された上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象
点の数、もしくは、経過時間の値が設定された上限値と
下限値の範囲に含まれない判別対象点の数とを各射出工
程毎に各々別個に計数し、各計数値とこれらに対応する
比較値との大小関係を比較することにより、それぞれの
判別結果を別個に求め、これらの判別結果を総合評価し
て行う。

また、スクリュー位置と射出圧力との関係および射出
開始後の経過時間と射出圧力との関係に基き、射出開始
後の経過時間をパラメータとして成形品の良否を判別す
る場合には、良品を成形する複数の射出工程におけるス
クリュー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形および
射出開始後の経過時間と射出圧力との関係を示す圧力波
形を射出成形機のグラフィックディスプレイ上に各々別
個に重ねて表示し、任意の経過時間点を判別対象点とし
て複数個選択し、射出開始後の経過時間と射出圧力との
関係を示す圧力波形の重合状態に基づいて各々の判別対
象点における射出圧力の上限値および下限値と、スクリ
ュー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形の重合状態
に基いて１つの射出工程における上記各選択判別対象点
に対応するスクリュー位置に対するスクリュー位置の上
限値および下限値とを設定して射出成形機の制御装置に
記憶させておき、各射出工程におけるそれぞれの判別対
象点の射出圧力の値とスクリュー位置の値とが、設定さ
れた上限値と下限値の範囲に含まれているか否かにより
成形品の良否を判別する。

この場合、実質的な判別処理は、射出圧力の値が設定
された上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象点の
数、もしくは、射出圧力の値が設定された上限値と下限
値の範囲に含まれない判別対象点の数と、スクリュー位
置の値が設定された上限値と下限値の範囲に含まれる判
別対象点の数、もしくは、スクリュー位置の値が設定さ
れた上限値と下限値の範囲に含まれない判別対象点の数
とを各射出工程毎に各々別個に計数し、各計数値とこれ
らに対応する比較値との大小関係を比較することによ
り、それぞれの判別結果を別個に求め、これらの判別結
果を総合評価して行う。

作用良品を成形する複数の射出工程における圧力波形が射
出成形機のグラフィックディスプレイ上に重ねて表示さ
れるので、良品成形時の圧力波形の重合状態、即ち、判
別基準となる上限値や下限値を簡単に確認することがで
き、データの設定作業が容易かつ確実となる。

また、判別対象点を複数個選択し、パラメータの値に
応じて、判別基準となる上限値や下限値を自由に設定で
きるようにしたので、射出圧力の誤差が製品の良否に与
える影響の大小が射出開始後の経過時間やスクリュー位
置によって異なる場合であっても、パラメータ上におけ
る各判別対象点の判別結果を良否判別のためのデータと
して同じ重みで評価することが可能となる。

従って、良否判別に必要とされる個々のデータの信頼
性が向上し、各判別対象点における判別結果の良否を単
純に計数することにより、製品の良否を確実に判別する
ことができる。

更に、スクリュー位置をパラメータとして射出圧力お
よび射出開始後の経過時間に対し判別基準となる上限値
や下限値を設定したり、射出開始後の経過時間をパラメ
ータとして射出圧力およびスクリュー位置に対して判別
基準となる上限値や下限値を設定するなど、圧力波形以
外の波形に対しても同様の判別処理を実施し、圧力波形
に関する判別結果とその他の波形に関する判別結果とを
総合評価することにより、製品の良否判別を一層確実な
ものとすることができる。

実施例以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。

第４図は本発明の方法を実施する一実施例の電動式射
出成形機および該射出成形機の制御系要部を示すブロッ
ク図で、符号１はスクリュー、符号２はスクリュー１を
軸方向に駆動する射出用サーボモータである。また、射
出用サーボモータ２にはパルスコーダ３が装着されスク
リュー１の現在位置が検出されるようになっており、ス
クリュー１にはスクリュー軸方向に作用する反力によっ
て樹脂圧力を検出する射出圧力センサ４が設けられてい
る。

符号100は射出成形機を制御する数値制御装置（以
下、NC装置という）で、該NC装置100はNC用のマイクロ
プロセッサ（以下、CPUという）112とプログラマブルマ
シンコントローラ（以下、PMCという）用のCPU114を有
し、PMC用CPU114には射出成形機のシーケンス動作を制
御するシーケンスプログラム等を記憶したROM117および
PCM用RAM101が接続され、NC用CPU112には射出成形機を
全体的に制御する管理プログラムを記憶したROM115およ
び射出用，クランプ用，スクリュー回転用，エジェクタ
用等の各軸のサーボモータを駆動制御するサーボ回路10
3がサーボインターフェイス111を介して接続されてい
る。なお、第４図では射出用サーボモータ２、該サーボ
モータ２のサーボ回路103のみ図示している。

105はバブルメモリやCMOSメモリで構成される不揮発
性の共有ROMで、射出成形機の各動作を制御するNCプロ
グラム等を記憶するメモリ部と各種設定値，マクロ変数
値を記憶する設定メモリ部とを備える。113はバスアー
ビタコントローラ（以下、BACという）で、該BAC113に
はNC用CPU112およびPMC用CPU114,共有RAM105,入力回路1
06,出力回路107の各バスが接続され、該BAC113によって
使用するバスが制御されるようになっている。119はオ
ペレータパネルコントローラ116を介してBAC113に接続
されたCRT表示装置付手動データ入力装置（以下、CRT/M
DIという）であり、CRT表示画面上に各種設定画面や作
業メニューを表示したり、各種操作キー（ソフトキーや
テンキー等）を操作することにより様々な設定データの
入力や設定画面の選択ができるようになっている。な
お、104はNC用CPU112にバス接続されたRAMでデータの一
時記憶等に利用されるものである。

上記サーボ回路103は射出用サーボモータ２に接続さ
れ、パルスコーダ３の出力はサーボ回路103に入力され
ている。また、出力回路107からサーボ回路103には、射
出用サーボモータ２の出力トルクを制御するためのトル
クリミット値が出力されるようになっている。さらに、
出力回路107にはアドレス発生器118が接続されている。

上記共有RAM105の設定メモリ部には射出，保圧，計量
等の各種成形条件がパラメータで記憶され、NC装置100
は、共有RAM105に格納されたNCプログラム及び上記した
各種成形条件や、ROM117に格納されているシーケンスプ
ログラムにより、PMC用CPU114がシーケンス制御を行い
ながら、NC用CPU112が射出成形機の各軸のサーボ回路10
3へサーボインターフェイス111を介してパルス分配し、
射出成形機を制御するものである。

さらに、本実施例においては、スクリュー１に作用す
る反力によって樹脂圧力を検出する射出圧力センサ４の
出力がA/D変換器101に接続され、A/D変換された射出圧
力がサンプリング周期τ毎に順次圧力データ用RAM108に
記憶され、また、パルスコーダ３の出力パルス数もカウ
ンタ102によって順次積算され、サンプリング周期τ毎
にスクリュー位置データ用RAM109に記憶されるが、この
際、圧力データ用RAM108に記憶される射出圧力P_mとスク
リュー位置データ用RAM109に記憶されるスクリュー位置
X_mは、アドレス発生器118からの指令により各々のRAMの
同一アドレスｍに対応して記憶されるようになってい
る。

このサンプリング処理は射出開始から保圧完了時まで
実行され、結果的に、射出圧力P_mとスクリュー位置X_mは
それぞれのサンプリング時に対応するRAMの共通アドレ
スｍにより時系列で記憶されることとなる。射出開始後
の経過時間Tmは共通アドレスｍにより一義的に決定され
るが、第１回目のサンプリング時を射出開始と一致させ
ているため、共通アドレスｍに対応する実質的な経過時
間は（ｍ−１）・τで示される。なお、最終サンプリン
グ時に対応する共通アドレスをＭで示す（以下、第１参
照）。

以下、良品成形中に実施する「判別基準設定処理」の
概略を示す第２図のフローチャート及び「良否判別処
理」の概略を示す第３図のフローチャートを参照して本
実施例における良否判別方法を説明する。

なお、この実施例は、スクリュー位置と射出圧力との
関係を示す圧力波形および射出開始後の経過時間と射出
圧力との関係を示す圧力波形をCRT画面上に各々別個に
表示し、任意のスクリュー位置または任意の経過時間点
を判別対象点として複数個選択し、判別対象点となる任
意のスクリュー位置の各々に対して射出圧力の上限値お
よび下限値と経過時間の上限値および下限値を設定する
一方、判別対象点となる任意の経過時間点の各々に対し
て射出圧力の上限値および下限値とスクリュー位置の上
限値および下限値を設定し（判別基準設定処理）、必要
に応じて、スクリュー位置もしくは射出開始後の経過時
間の内いずれか一方をパラメータとして良否判別を実行
する（良否判別処理）ようにしたものであり、請求項３
および請求項４に記載した発明を一体化して、種々の限
定要素を加えたものである。

機能メニューキーの操作に応じて「判別基準設定処
理」のタスクを開始したPMC用CPU114は、オペレータに
よる設定処理の実行中を示す設定処理実行フラグF1がセ
ットされているか否かを判別するが（ステップS101）、
「判別基準設定処理」開始直後の現段階では設定処理実
行フラグF1はセットされていないので、まず、CRTの表
示画面を第１図に示されるような設定画面に切替えて画
面下部にガイダンス５を表示し、CRT/MDI119の有するソ
フトキーの一部をそれぞれグラフカーソル左移動キー，
グラフカーソル右移動キー，設定カーソル左移動キー，
設定カーソル右移動キー，設定カーソル上移動キー，設
定カーソル下移動キーとして割付け（図示せず）、スク
リュー位置と射出圧力との関係を示す座標軸６および射
出開始後の経過時間と射出圧力との関係を示す座標軸７
を別個に表示し、かつ、設定データ表示欄8,9および数
値データ表示欄10を表示して、従来と同様の処理によ
り、圧力データ用RAM108およびスクリュー位置データ用
RAM109にサンプリングされたデータに基いて、最新の一
射出工程におけるスクリュー位置と射出圧力との関係を
示す圧力波形および射出開始後の経過時間と射出出力と
の関係を示す圧力波形をそれぞれの座標軸6,7に表示す
る処理を開始する。また、この処理が繰返し実行された
場合には、最新の一射出工程の圧力波形のみが更新色で
表示され、以前に表示されていた過去数回の圧力波形は
全て基準色で表示されることとなる（以上、ステップS1
02）。

次に、CRT/MDI119の設定開始キー（図示せず）が操作
されたか否かを判別するが（ステップS103）、設定開始
キーが未操作であればこの周期の「判別基準設定処理」
を終了し、以下、設定開始キーが操作されるまでの間、
上記と同様にして、最新の一射出工程の圧力波形をそれ
ぞれの座標軸6,7に更新色で表示する処理を所定周期毎
に繰返し実行し、オペレータによる設定開始キーの操作
を待機する。

オペレータはそれぞれの圧力波形の表示状態を確認
し、製品の良否判別基準を設定するに十分なデータが確
保されたか否かを判断し、十分であると判断したなら
ば、CRT/MDI119の設定開始キーを操作する。この際、
「良否判別処理」（後述）による判別結果をより確実な
ものとするためには、各座標軸6,7において、最新の一
射出工程の圧力波形が、過去に表示された複数の圧力波
形に対して中立的な位置に表示された段階で設定開始キ
ーを操作することが望ましい。

PMC用CPU114はステップS103で設定開始キーの操作を
検出し、それぞれの座標軸6,7に表示された複数の圧力
波形と、CRT表示制御装置内に記憶する圧力データ、お
よびスクリュー位置データを固定する（ステップS10
4）。

なお、第１図ではスクリュー位置と射出圧力との関係
を示す圧力波形および射出開始後の経過時間と射出圧力
との関係を示す圧力波形が各々の座標軸6,7に３回重ね
書きされた段階でオペレータが設定開始キーを操作した
場合を示すもので、最新の一射出工程の圧力波形のみ一
点鎖線で表示している（最新の一射出工程の圧力波形が
共に中立的な位置に表示されている）。

次いで、PMC用CPU114は座標軸６のグラフカーソル11
および座標軸７のグラフカーソル12を各座標軸のホーム
ポジションに復帰させ、設定カーソル13を設定データ表
示欄８のホームポジションに復帰させて（ステップS10
5）、CRT表示制御装置内の射出工程データを記憶する圧
力データ用RAMおよびスクリュー位置データ用RAMの共通
アドレスを示す検索指標ｍ、設定データ表示欄8,9の行
を示す検索指標ｊ、設定データ表示欄8,9の列を示す検
索指標ｉに初期値１をセットすると共に、設定処理実行
フラグF1をセットしてオペレータによる設定処理が開始
されたことを記憶し（ステップS106）、ステップS107〜
ステップS115に至る判別処理によって各種キーの操作状
態をサーチし、いずれのキーも操作されていなければ、
次周期以降の「判別基準設定処理」においてステップS1
01およびステップS107〜ステップS115に至る判別処理を
繰返し実行し、何等かのキーが操作されるのを待機す
る。

オペレータは、まず、スクリュー位置と射出圧力との
関係を示す座標軸６に重ね書きされた圧力波形を参照し
て任意のスクリュー位置を判別対象点として選択し、圧
力波形の重合状態に基いて各判別対象点における射出圧
力および経過時間の基準値とこれらの偏差を設定するこ
とにより、射出圧力の上限値と下限値および経過時間の
上限値と下限値を設定する。

このとき、グラフカーソル左移動キーもしくはグラフ
カーソル右移動キーを操作すれば、PMC用CPU114がこれ
を検出して（ステップS107,ステップS108）、検索指標
ｍの値をディクリメントもしくはインクリメントし（ス
テップS116,ステップS119）、圧力データ用RAMおよびス
クリュー位置データ用RAMの共通アドレスｍに記憶され
た最新の一射出工程のスクリュー位置X_mと、スクリュー
位置X_mに対応する射出圧力P_mおよび経過時間（ｍ−１）
・τを数値データ表示欄10に表示し、かつ、グラフカソ
ール11を座標軸６におけるスクリュー位置X_mの位置に移
動させ、グラフカソール12を座標軸７における経過時間
（ｍ−１）・τの位置に移動させる（ステップS122）。
なお、検索指標ｍの値が１未満となった場合には該指標
ｍの値が１に再設定され（ステップS117,ステップS11
8）、また、この指標ｍの値が最終サンプリング時に対
応する共通アドレスＭを越えた場合にはその値がＭに再
設定されるので（ステップS120,ステップS121）、指標
ｍの値は１〜Ｍの範囲に制限される。

即ち、オペレータは、グラフカソール左移動キーとグ
ラフカソール右移動キーを操作してグラフカーソル11を
左右に移動させ、任意のスクリュー位置X_mを判別対象点
として選択することにより、この判別対象点に対応する
最新の一射出工程の射出圧力P_mと経過時間（ｍ−１）・
τの詳細な値を知ることができる。

そこで、通常は、最新の一射出工程における任意のス
クリュー位置X_mをスクリュー位置の基準値ｘとし、射出
圧力P_mを射出圧力の基準値ｐとし、また、経過時間（ｍ
−１）・τを経過時間の基準値ｔとする。

また、座標軸６におけるグラフカソール11の位置を参
照して圧力波形の重合状態を観察し、最新の一射出工程
の圧力波形を基準とする圧力波形の正方向のばらつきの
限度を圧力偏差の上限値puとし、負方向のばらつきの限
度を圧力偏差の下限値plとすると共に、座標軸７におけ
るグラフカーソル12の位置を参照して圧力波形の重合状
態を観察し、最新の一射出工程の圧力波形を基準とする
圧力波形の右方向のばらつきの限度を時間偏差の上限値
tuとし、左方向のばらつきの限度を時間偏差の下限値tl
とする。

即ち、設定データ表示欄８に設定すべきデータは、ス
クリュー位置の基準値x,射出圧力の基準値p,圧力偏差の
上限値pu,圧力偏差の下限値pl,経過時間の基準値t,時間
偏差の上限値tu,時間偏差の下限値tlである。

このとき、設定カーソル左移動キーもしくは設定カー
ソル右移動キーを操作すれば、PMC用CPU114がこれを検
出して（ステップS109,ステップS110）、検索指標ｉの
値をディクリメントもしくはインクリメントし（ステッ
プS123,ステップS126）、また、設定カーソル上移動キ
ーもしくは設定カーソル下移動キーを操作すれば、PMC
用CPU114がそれを検出して（ステップS111,ステップS11
2）、検索指標ｊの値をディクリメントもしくはインク
リメントし（ステップS129,ステップS132）、設定デー
タ表示欄８もしくは９の行，列＝（j,i）スポットに設
定カーソル13を移動させる（ステップS135）。

なお、設定データ表示欄8,9の行は７列であるから、
検索指標ｊの値が１未満となった場合には該指標ｊの値
を１に再設定し（ステップS130,ステップS131）、ま
た、最終行７の値を越えた場合にはその値を７に再設定
し（ステップS133,ステップS134）、指標ｊの値は１〜
７の範囲に制限される。一方、設定データ表示欄8,9の
列は設定値Ｎによって決められ、検索指標ｉの値が１未
満となった場合には該指標ｉの値を１に再設定し（ステ
ップS124,ステップS125）、また、この指標ｉの値が判
別対象点の総和数Ｎの値を越えた場合にはその値をＮに
再設定し（ステップS127,ステップS128）、指標ｉの値
は１〜Ｎの範囲に制限される。

判別対象点の総和数Ｎの値は、任意のスクリュー位置
として選択する判別対象点の数Ｋと任意の経過時間点と
して選択する対象対象点の数Ｋ′とを加えたものであ
り、判別対象点となるスクリュー位置の選択個数Ｋと判
別対象点となる任意の経過時間点（後述）の複数個数
Ｋ′は任意に設定することができるが、この例では判別
対象点となるスクリュー位置の選択個数Ｋと経過時間点
の選択個数Ｋ′とが共に５に設定された場合について示
している（第１図参照）。なお、設定データ表示欄8,9
は設定画面上で分散して表示されているが、ソフトウェ
ア上の処理では横一列の並びとして扱われる。

そこで、まず、設定カーソル移動キーを操作し、設定
データ表示欄８においてデータを設定すべきスポットに
設定カーソル13を移動させ、テンキー入力によりデータ
をセットした後、データエントリーキーを操作して各設
定データをNC装置100に記憶させる。

例えば、任意のスクリュー位置を基準として選択され
た第１の判別対象点（点１）に対してスクリュー位置の
基準値ｘを設定する場合であれば、設定データ表示欄８
の（i,j）＝（1,1）スポットに設定カーソル13を移動さ
せてテンキーを操作し、データをセットする。テンキー
入力された数値はPMC用CPU114に検出され（ステップs11
3）、１ストリングの数値列として順次読み込まれ（ス
テップS136）、データエントリーキーが操作された段階
（ステップS114）で設定されていた１ストリング分の数
値列が、指標j,iの値に基き（ステップS137,ステップS1
44）、任意のスクリュー位置を基準として選択された第
１の判別対象点（点１）のスクリュー位置の基準値とし
て、表2,3に示されるようなファイル状の記憶手段（以
下、一括してファイルという）のレコードx₁に記憶され
る（ステップS145）。

以下、上記と同様にして、データを設定すべきスポッ
ト（ｊ_＝２〜７,i_＝1conset）に設定カーソル13を移動
させ、任意のスクリュー位置を基準として選択された第
１の判別対象点（点１）に関する射出圧力の基準値p,圧
力偏差の上限値pu,圧力偏差の下限値pl,経過時間の基準
値t,時間偏差の上限値tu,時間偏差の下限値tlを設定し
（ステップS113,ステップS136）、データエントリーキ
ーの操作により（ステップS114）、指標j,iの値に基い
て、射出圧力の基準値ｐをレコードp₁に（ステップS13
8,ステップS147）、圧力偏差の上限値puをレコードpu₁
に（ステップS139,ステップS148）、圧力偏差の下限値p
lをレコードpl₁に（ステップS140,ステップS149）、経
過時間の基準値ｔをレコードt₁に（ステップS141,ステ
ップS150,ステップS151）、時間偏差の上限値tuをレコ
ードtu₁に（ステップS142,ステップS153,ステップS15
4）、時間偏差の下限値tlをレコードtl₁に（ステップS1
43,ステップS156）記憶させる。

また、任意のスクリュー位置を基準として選択した第
２〜第Ｋ（＝５）の判別対象点（点２〜点Ｋ（＝５））
に関しても、各点毎に射出圧力の基準値，圧力偏差の上
限値，圧力偏差の下限値，経過時間の基準値，時間偏差
の上限値，時間偏差の下限値を座標値6,7の圧力波形の
重合状態に基づいて設定し、上記と同様の処理により、
判別対象点No、即ち、設定データ表示欄８の列ｉに対応
するアドレスのレコードに記憶させる（表２参照）。

一方、任意の経過時間を判別対象点として選択する際
には、経過時間と射出圧力との関係を示す座標軸７に重
ね書きされた圧力波形を参照して任意の経過時間を判別
対象点として選択し、圧力波形の重合状態に基いて各判
別対象点における射出圧力およびスクリュー位置の基準
値とこれらの偏差を設定することにより、射出圧力の上
限値と下限値およびスクリュー位置の上限値と下限値を
設定する。

この場合、オペレータは、グラフカーソル左移動キー
とグラフカーソル右移動キーを操作してグラフカーソル
12を左右に移動させ、任意の経過時間（ｍ−１）・τを
判別対象点として選択することにより、この判別対象点
に対応する最新の一射出工程の射出圧力P_mとスクリュー
位置X_mの詳細な値を知ることができる。

そこで、通常は、最新の一射出工程における任意の経
過時間（ｍ−１）・τを経過時間の基準値ｔとし、射出
圧力P_mを射出圧力の基準値ｐとし、また、スクリュー位
置X_mをスクリュー位置の基準値ｘとする。

また、座標軸６におけるグラフカーソル11の位置を参
照して圧力波形の重合状態を観察し、最新の一射出工程
の圧力波形を基準とする圧力波形の正方向のばらつきの
限度を圧力偏差の上限値puとし、負方向のばらつきの限
度を圧力偏差の下限値plとすると共に、最新の一射出工
程の圧力波形を基準とする圧力波形の右方向のばらつき
の限度を位置偏差の上限値xuとし、左方向のばらつきの
限度を位置偏差の下限値xlする。

以下、任意のスクリュー位置を判別対象点として選択
した場合と同様、これらのデータを設定すべき設定デー
タ標準欄９のスポット（ｊ_＝１〜７,i_{＝Ｋ＋１〜Ｎ}）に
設定カーソル13を移動させ、任意の経過時間を基準とし
て選択された第Ｋ＋１〜第Ｎの判別対象点（表示欄９で
は点１〜点５に対応する）のすべてに対し、経過時間の
基準値，射出圧力の基準値，圧力偏差の上限値，圧力偏
差の下限値，スクリュー位置の基準値，位置偏差の上限
値，位置偏差の下限値を設定し、判別対象点Noi
_{＝Ｋ＋１〜Ｎ}に対応するアドレスのレコードに記憶させ
る。但し、任意の経過時間を基準として選択された判別
対象点の場合は、ステップS144,ステップS150,ステップ
S153,ステップS143の判別処理において必然的にｉ＞Ｋ
となるため、ファイル上におけるレコードの配列状態は
任意のスクリュー位置を判別対象点とした場合と異なる
（表３参照）。

即ち、任意のスクリュー位置として選択された判別対
象点１〜Ｋの各々に対応するスクリュー位置の基準値
ｘ、射出圧力の基準値ｐおよび圧力偏差の上限値puで構
成される射出圧力の上限値、射出圧力の基準値ｐおよび
圧力偏差の下限値plで構成される射出圧力の下限値、経
過時間の基準値ｔおよび時間偏差の上限値tuで構成され
る経過時間の上限値、経過時間の基準値ｔおよび時間偏
差の下限値tlで構成される経過時間の下限値が共有RAM1
05のファイルに設定記憶されると共に（表２参照）、任
意の経過時間として選択された判別対象点Ｋ＋１〜Ｎの
各々に対応する経過時間の基準値ｔ、射出圧力の基準値
ｐおよび圧力偏差の上限値puで構成される射出圧力の上
限値、射出圧力の基準値ｐおよび圧力偏差の下限値plで
構成される射出圧力の下限値、スクリュー位置の基準値
ｘおよび位置偏差の上限値xuで構成されるスクリュー位
置の上限値、スクリュー位置の基準値ｘおよび位置偏差
の下限値xlで構成されるスクリュー位置の下限値が同様
にして設定記憶されることとなる（表３参照）。

次に、「良否判別処理」による良否判別の方法を第３
図のフローチャートと共に説明する。

成形作業中の良否判別キー（図示せず）の操作に応じ
て「良否判定処理」のタスクを開始したPMC用CPU114
は、まず、スクリュー位置を基準とする判別対象点によ
って良否判別を実行するか射出開始後の経過時間を基準
とする判別対象点によって良否判別を実行するかを任意
に選択するための判別選択キー（図示せず）が操作され
たか否かを判別し（ステップ201）、判別選択キーが操
作されていればカウンタSCの値をインクリメントして
（ステップS202）、更に、その値が１を越えているか否
かを判別し（ステップS203）、１を越えていれば該カウ
ンタSCの値を０に再設定する（ステップS204）。即ち、
カウンタSCの値（以下、判定値という）は０か１かのい
ずれかであって、判別選択キーが操作される毎に０から
１もしくは１から０に設定変更される一方、判別選択キ
ーが操作されない場合には従来の値がそのまま保持さ
れ、PMC用CPU114は判定値の現在値に基いて、スクリュ
ー位置を基準とする判別対象点によって良否判別を実行
するか、射出開始後の経過時間を基準とする判別対象点
によって良否判別を実行するかを判別し（ステップS20
5）、判定値の値が０であればスクリュー位置を基準と
する判別対象点によって良否判別を実行するため、検索
指標i,検索終了指標ｈにそれぞれ1,K＝５をセットする
一方（ステップS206）、判定値の値が１であれば経過時
間を基準とする判別対象点によって良否判別を実行する
ため、検索指標i,検索終了指標ｈにそれぞれＫ＋１＝6,
N＝Ｋ＋Ｋ′をセットする（ステップS207）。

次いで、現在が保圧工程中であるか否かを判別し（ス
テップS208）、保圧工程中であれば保圧フラグF2をセッ
トして（ステップS209）、この周期の「良否判別処理」
を終了する。

以下、各周期毎に上記と同様の処理を繰り返して保圧
工程の終了を待機し、ステップS208で保圧工程の終了が
確認されると、保圧フラグF2がセットされているか否
か、即ち、最新の一射出工程に関する良否判定の実行以
前であるか否かを判別し（ステップS210）、フラグF2が
セットされていれば該フラグF2をリセットして、不良判
定された判別対象点の数を積算するカウンタf,gを初期
化し（ステップS211）、判定値SCの値に基づいて（ステ
ップS212）、スクリュー位置を基準とする判別対象点に
よる良否判別もしくは射出開始後の経過時間を基準とす
る判別対象点による良否判別を開始する。

まず、判定値SCが０の場合、即ち、スクリュー位置を
基準とする判別対象点による良否判別について説明す
る。

判定値SCが０の場合、PMC用CPU114は、まず、検索指
標ｍに１をセットし（ステップS213）、該指標ｍの値に
基いてスクリュー位置データ用RAM109のアドレスｍから
当該射出工程の第ｍ回目のサンプリング時におけるスク
リュー位置X_m（表１参照）を読込むと共に、上記検索指
標ｉの値に基き、スクリュー位置を基準とする判別対象
点ｉのスクリュー位置の基準値x_i（表２参照）を読込
み、スクリュー位置X_mとスクリュー位置の基準値x_iとが
略一致しているか否か（所定範囲内にあるか否か）を判
別し（ステップS214）、X_mとx_iの値が略一致していなけ
れば検索指標ｍの値をインクリメントしつつ（ステップ
S215）、上記と同様の処理を繰返し実行し、スクリュー
位置を基準とする判別対象点ｉのスクリュー位置の基準
値x_iに対応するスクリュー位置X_mを有するサンプリング
時のアドレスｍを求める。そして、最新の一射出工程の
サンプリング時においてスクリュー位置X_mとスクリュー
位置の基準値x_iとが略一致するアドレスｍが検出された
ならば、これに対応する射出開始後の経過時間（ｍ−
１）・τがスクリュー位置を基準とする判別対象点ｉに
対して設定された経過時間の上限値（t₁＋tu₁）と経過
時間の下限値（t₁−tli）の範囲に含まれているか否か
を判別し（ステップS216）、含まれていなければカウン
タｆの値をインクリメントし、経過時間に関して不良判
定された判別対象点の数を積算する（ステップS217）。

また、圧力データ用RAM108のアドレスｍに記憶された
射出圧力Pmがスクリュー位置を基準とする判別対象点ｉ
に対して設定された射出圧力の上限値（p_i＋pu_i）と射
出圧力の下限値（p_i−pli）の範囲に含まれているか否
かを判別し（ステップS218）、含まれていなければカウ
ンタｇの値をインクリメントし、射出圧力に関して不良
判定された判別対象点の数を積算する（ステップS21
9）。

次に、検索指標ｉの値をインクリメントし（ステップ
S220）、該指標ｉの値が検索終了指標ｈ＝Ｋの値を越え
ているか否かを判別し（ステップS221）、越えていなけ
れば、ステップS212に復帰して上記と同様の処理を繰返
し実行し、当該射出工程において、スクリュー位置を基
準とする判別対象点ｉ＝１〜Ｋのすべてに対して経過時
間と射出圧力に関する不良判定を実施し、それぞれの不
良判定数をカウンタf,gに記憶する。

そして、検索指標ｉの値が検索終了指標ｈ＝Ｋの値に
達し、スクリュー位置を基準とする判別対象点ｉ＝１〜
Ｋのすべてに対して経過時間と射出圧力に関する不良判
定が実施されたならば、経過時間に関する不良判定数を
示すカウンタｆの値および射出圧力に関する不良判定数
を示すカウンタｇの値が共に設定値C₁,C₂の値を越えて
いるか否かを判別し（ステップS222）、各カウンタの値
が共に設定値を越えている場合にはこの射出工程で成形
された製品を不良品と判別して不良信号を出力し（ステ
ップS223）、それ以外の場合にはこの射出工程で成形さ
れた製品を良品と判別して良品信号を出力する（ステッ
プS224）。

即ち、スクリュー位置を基準とする判別対象点に基い
て良否判別を行う場合には、最新の一射出工程のスクリ
ュー位置を記憶するデータ用RAM109に記憶された各サン
プリング時のスクリュー位置を検索することによって各
判別対象点ｉ＝１〜Ｋに対応するスクリュー位置を記憶
した共通アドレスｍを求め、共通アドレスｍで示される
射出開始後の経過時間（ｍ−１）・τが判別対象点ｉに
対して設定された経過時間の上限値と下限値の範囲内に
あるか否か、および、データ用RAM108の共通アドレスｍ
に記憶された射出圧力Pmが判別対象点ｉに対して設定さ
れた射出圧力の上限値と下限値の範囲内にあるか否かを
各判別対象点毎に判定し、経過時間に関して不良と判定
された判別対象点の数と射出圧力に関して不良と判定さ
れた判別対象点の数とを別個に計数し、各計数値が共に
設定値を越えた場合にのみ、この射出工程で成形された
製品が不良品と判別される。

一方、判定値SCが１の場合、即ち、射出開始後の経過
時間を基準とする判別対象点による良否判別の場合、ス
テップS212を判別処理を実行したPMC用CPU114は、ま
ず、上記検索指標ｉの値に基き共有RAM105のファイルか
ら判別対象点ｉに対して設定された射出開始後の経過時
間の基準値t_i（表３参照）を読込み、この値をサンプリ
ング周期τで除して１を加え、経過時間の基準値t_iに対
応する共通アドレスｍの値を算出し（ステップS225）、
当該射出工程のスクリュー位置を記憶するデータ用RAM1
09のアドレスｍから経過時間の基準値t_iに対応するスク
リュー位置X_mを読込んで、該スクリュー位置X_mが経過時
間を基準とする判別対象点ｉに対して設定されたスクリ
ュー位置の上限値（x_i＋xu_i）とスクリュー位置の下限
値（x_i−xli）の範囲に含まれているか否かを判別し
（ステップS226）、含まれていなければカウンタｆの値
をインクリメントし、スクリュー位置に関して不良判定
された判別対象点の数を積算する（ステップS217）。

以下、ステップS225で算出された共通アドレスｍの値
に基き、SC＝０の場合と同様にしてステップS218〜ステ
ップS200の処理を実行し、検索指標ｉの値をインクリメ
ントし（ステップS220）、該指標ｉの値が検索終了指標
値ｈ＝Ｎの値を越えているか否かを判別し（ステップS2
21）、越えていなければ、ステップS212に復帰して上記
と同様の処理を繰返し実行し、最新の一射出工程におい
て、射出開始後の経過時間を基準とする判別対象点ｉ＝
Ｋ＋１〜Ｎのすべてに対してスクリュー位置と射出圧力
に関する不良判定を実施し、それぞれの不良判定数をカ
ウンタf,gに記憶する。

そして、検索指標ｉの値が検索終了指標ｈ＝Ｎの値に
達し、射出開始後の経過時間を基準とする判別対象点ｉ
＝Ｋ＋１〜Ｎのすべてに対してスクリュー位置と射出圧
力に関する不良判定を実施されたならば、スクリュー位
置に関する不良判定数を示すカウンタｆの値および射出
圧力に関する不良判定数を示すカウンタｇの値が共に設
定値C₁,C₂の値を越えているか否かを判別し（ステップS
222）、各カウンタの値が共に設定値を越えている場合
にはこの射出工程で成形された製品を不良品と判別して
不良信号を出力し（ステップS223）、それ以外の場合に
はこの射出工程で成形された製品を良品と判別して良品
信号を出力する（ステップS224）。

即ち、射出開始後の経過時間を基準とする判別対象点
に基いて良否判別を行う場合には、各判別対象点ｉ＝Ｋ
＋１〜Ｎに対して設定された射出開始後の経過時間の基
準値t_iをサンプリング周期τで除して１を加えることに
より経過時間の基準値t_iに対応する共通アドレスｍを算
出し、データ用RAM109の供給アドレスｍで示されるスク
リュー位置X_mが判別対象点ｉに対して設定されたスクリ
ュー位置の上限値と下限値の範囲内にあるか否か、およ
び、データ用RAM108の共通アドレスｍに記憶された射出
圧力Pmが判別対象点ｉに対して設定された射出圧力の上
限値と下限値の範囲内にあるか否かを各判別対象点毎に
判定し、スクリュー位置に関して不良と判定された判別
対象点の数と射出圧力に関して不良と判定された判別対
象点の数とを別個に計数し、各計数値が共に設定値を越
えた場合にのみ、この射出工程で成形された製品が不良
品と判別される。

以上、スクリュー位置を基準として選択された判別対
象点に対し射出圧力と経過時間に基いて製品の良否を判
別するか、任意の経過時間を基準として選択された判別
対象点に対し射出圧力とスクリュー位置に基いて製品の
良否を判別するかのいずれか一方を任意に選択できるよ
うにした実施例について説明したが、これらの方法を同
時に実施することも可能である。

例えば、「良否判別処理」のステップS203の判別基準
をSC＞２に置換えることにより判定値SCのとり得る値を
0,1,2とし、ステップS205とステップS207との間に判定
値SCの現在値が１であるか２であるかを判別するための
処理を設け、SC＝１であれば実施例と同様ステップS207
の処理を実行する一方、SC＝２の場合には検索指標ｉに
１をセットし、かつ、検索終了指標ｈにＮをセットして
からステップS208に移行するようにすると共に、判定値
SCが２の場合にはステップS212の判別基準をSC＝１から
ｉ＞Ｋに置換えるようにすると、スクリュー位置を基準
として選択された判別対象点１〜Ｋに対しては射出圧力
と経過時間に基いて良否が判定され、また、経過時間を
基準として選択された判別対象点Ｋ＋１〜Ｎに対しては
射出圧力とスクリュー位置に基いて良否が判定されるこ
ととなる。この場合、カウンタｆは経過時間に関する不
良とスクリュー位置に関する不良を共に計数するので、
設定値C₁の値を大きめに設定することが望ましい。

発明の効果本発明の製品良否判定方法によれば、判別対象点のパ
ラメータとなる射出開始後の経過時間やスクリュー位置
に応じて、各点の判別基準となる射出圧力や射出開始後
の経過時間およびスクリュー位置等の上限値や下限値を
任意に設定することができるので、各点の判別結果を良
否判別のためのデータとして同じ重みで評価することが
でき、個々のデータの信頼性が高められる結果、製品の
良否判別が確実なものとなり、しかも、これらの上限値
や下限値を設定する際にはグラフィックディスプレイ上
に過去の圧力波形が重ねて表示されるため、製品良否の
判別基準となる上限値や下限値を的確に設定することが
でき、製品の良否判別をより一層確実なものとすること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法を実施する一実施例の電動式射出
成形機のグラフィックディスプレイの設定画面を示す概
念図、第２図（ａ）〜（ｄ）は同実施例の判別基準判定
処理の概略を示すフローチャート、第３図は同実施例の
良否判別処理の概略を示すフローチャート、第４図は同
実施例における電動式射出成形機および制御装置の要部
を示すブロック図である。１……スクリュー、２……射出用サーボモータ、３……
パルスコーダ、４……射出圧力センサ、５……ガイダン
ス表示、6,7……座標軸、8,9……設定データ表示欄、10
……数値データ表示欄、11,12……グラフカーソル、13
……設定カーソル、100……数値制御装置、101……A/D
変換器、102……カウンタ、103……サーボ回路、104…
…RAM、105……共有RAM、106……入力回路、107……出
力回路、108……圧力データ用RAM、109……スクリュー
位置データ用RAM、110……PMC用RAM、111……サーボイ
ンターフェイス、112……NC用マイクロプロセッサ、113
……バスアービタコントローラ、114……プログラマブ
ルマシンコントローラ用マイクロプロセッサ、115……R
OM、116……オペレータパネルコントローラ、117……RO
M、118……アドレス発生器、119……CRT表示装置付手動
データ入力装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者窪田和男山梨県南都留郡忍野村忍草字古馬場3580 番地ファナック株式会社商品開発研究所内

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】良品を成形する射出工程におけるスクリュ
ー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形を射出成形機
のグラフィックディスプレイ上に順次重ねて表示し、任
意のスクリュー位置を判別対象点として複数個選択し、
圧力波形の重合状態に基いて上記各判別対象点における
射出圧力の上限値および下限値を設定して射出成形機の
制御装置に記憶させておき、各射出工程におけるそれぞ
れの判別対象点の射出圧力の値が、設定された上限値と
下限値の範囲に含まれているか否かにより成形品の良否
を判別することを特徴とした射出成形機における製品良
否判別方法。
【請求項２】良品を成形する射出工程における射出開始
後の経過時間と射出圧力との関係を示す圧力波形を射出
成形機のグラフィックディスプレイ上に順次重ねて表示
し、任意の経過時間点を判別対象点として複数個選択
し、圧力波形の重合状態に基づいて上記各判別対象点に
おける射出圧力の上限値および下限値を設定して射出成
形機の制御装置に記憶させておき、各射出工程における
それぞれの判別対象点の射出圧力の値が、設定された上
限値と下限値の範囲に含まれているか否かにより成形品
の良否を判別することを特徴とした射出成形機における
製品良否判別方法。
【請求項３】良品を成形する複数の射出工程におけるス
クリュー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形および
射出開始後の経過時間と射出圧力との関係を示す圧力波
形を射出成形後のグラフィックディスプレイ上に各々別
個に重ねて表示し、任意のスクリュー位置を判別対象点
として複数個選択し、スクリュー位置と射出圧力との関
係を示す圧力波形の重合状態に基いて各々の判別対象点
における射出圧力の上限値および下限値と、射出開始後
の経過時間と射出圧力との関係を示す圧力波形の重合状
態に基づいて１つの射出工程における上記各選択判別対
象点に対応する上記経過時間に対する経過時間の上限値
および下限値とを各々設定して射出成形機の制御装置に
記憶させておき、各射出工程におけるそれぞれの判別対
象点の射出圧力の値と経過時間の値とが、設定された上
限値と下限値の範囲に含まれているか否かにより成形品
の良否を判別することを特徴とした射出成形機における
製品良否判別方法。
【請求項４】良品を成形する複数の射出工程におけるス
クリュー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形および
射出開始後の経過時間と射出圧力との関係を示す圧力波
形を射出成形機のグラフィックディスプレイ上に各々別
個に重ねて表示し、任意の経過時間点を判別対象点とし
て複数個選択し、射出開始後の経過時間と射出圧力との
関係を示す圧力波形の重合状態に基づいて各々の判別対
象点における射出圧力の上限値および下限値と、スクリ
ュー位置と射出圧力との関係を示す圧力波形の重合状態
に基いて１つの射出工程における上記各選別判別対象点
に対応するスクリュー位置に対するスクリュー位置の上
限値および下限値とを設定して射出成形機の制御装置に
記憶させておき、各射出工程におけるそれぞれの判別対
象点の射出圧力の値とスクリュー位置の値とが、設定さ
れた上限値と下限値の範囲に含まれているか否かにより
成形品の良否を判別することを特徴とした射出成形機に
おける製品良否判別方法。
【請求項５】射出工程における射出圧力の値が設定され
た上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象点の数、も
しくは、射出圧力の値が設定された上限値と下限値の範
囲に含まれない判別対象点の数を計数し、該計数値に基
いて当該射出工程の成形品の良否を判別することを特徴
とした請求項１または請求項２記載の射出成形機におけ
る製品良否判別方法。
【請求項６】射出工程における射出圧力の値が設定され
た上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象点の数か、
もしくは、射出圧力の値が設定された上限値と下限値の
範囲に含まれない判別対象点の数と、経過時間の値が設
定された上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象点の
数か、もしくは、経過時間の値が設定された上限値と下
限値の範囲に含まれない判別対象点の数とを各々計数
し、これらの計数値に基いて当該射出工程の成形品の良
否を判別することを特徴とした請求項３記載の射出成形
機における製品良否判別方法。
【請求項７】射出工程における射出圧力の値が設定され
た上限値と下限値の範囲に含まれる判別対象点の数か、
もしくは、射出圧力の値が設定された上限値と下限値の
範囲に含まれない判別対象点の数と、スクリュー位置の
値が設定された上限値と下限値の範囲に含まれる判別対
象点の数か、もしくは、スクリュー位置の値が設定され
た上限値と下限値の範囲に含まれない判別対象点の数と
を各々計数し、これらの計数値に基いて当該射出工程の
成形品の良否を判別することを特徴とした請求項４記載
の射出成形機における製品良否判別方法。