JP2697426B2 - Test equipment for electrolytic capacitors - Google Patents
Test equipment for electrolytic capacitorsInfo
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 54
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 17
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 8
- 101150074789 Timd2 gene Proteins 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 102100034459 Hepatitis A virus cellular receptor 1 Human genes 0.000 description 6
- 101001068136 Homo sapiens Hepatitis A virus cellular receptor 1 Proteins 0.000 description 5
- 101000831286 Homo sapiens Protein timeless homolog Proteins 0.000 description 5
- 101000752245 Homo sapiens Rho guanine nucleotide exchange factor 5 Proteins 0.000 description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 5
- 101100042613 Arabidopsis thaliana SIGC gene Proteins 0.000 description 3
- 102100034458 Hepatitis A virus cellular receptor 2 Human genes 0.000 description 3
- 101001068133 Homo sapiens Hepatitis A virus cellular receptor 2 Proteins 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 101100042615 Arabidopsis thaliana SIGD gene Proteins 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 101000663006 Homo sapiens Poly [ADP-ribose] polymerase tankyrase-1 Proteins 0.000 description 1
- 102100037664 Poly [ADP-ribose] polymerase tankyrase-1 Human genes 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は電解コンデンサのもれ電
流の良否判別、断線有無の判別及び瞬時破壊の有無の判
別を同時に短時間で処理する電解コンデンサの試験装置
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test apparatus for an electrolytic capacitor for simultaneously determining in a short time whether the leakage current of an electrolytic capacitor is good or not, whether or not there is a disconnection, and whether or not there is instantaneous destruction.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、電解コンデンサのもれ電流の良否
の判定については、予め規定電圧も規定時間印加したと
きコンデンサに流れる電流値を規格化し、もれ電流規格
とする。この規定電圧を規定時間印加したときにコンデ
ンサに流れる直流電流を電流電圧変換器で直流電圧に変
換し、これをもれ電流規格の値を直流電圧に対応した電
圧出力として発生する測定基準値回路の出力と、比較判
定器回路により大小の比較を行い、それに対応した
「1」、「0」の比較判定器回路の出力でR−Sフリッ
プフロップを動作させ、このR−Sフリップフロップの
出力状態に対応させて発光ダイオードを点灯又は消灯さ
せることにより、もれ電流の良否の判定を行っている。2. Description of the Related Art Conventionally, in determining the quality of leakage current of an electrolytic capacitor, the value of the current flowing through the capacitor when a specified voltage is applied for a specified time in advance is standardized to obtain a leakage current standard. A measurement reference value circuit that converts a DC current flowing through a capacitor when this specified voltage is applied for a specified time to a DC voltage with a current-to-voltage converter, and that leaks and generates a current specification value as a voltage output corresponding to the DC voltage. And an output of the RS flip-flop is operated by the output of the corresponding "1" or "0" comparator / determiner circuit. The light emitting diode is turned on or off according to the state, thereby determining whether the leakage current is good or not.
【0003】一方、電解コンデンサの断線有無の判定を
行う場合には、コンデンサに規定電圧を印加し、その直
後に被試験電解コンデンサが断線無しならば突入電流が
流れるので、この突入電流を電流電圧変換器で直流電圧
に変換し、比較判定器回路に入力すれば、比較判定器回
路の出力は急速に立ち上がり、予めセットされていた第
1のフリップフロップをリセットする。On the other hand, when determining the presence or absence of disconnection of an electrolytic capacitor, a specified voltage is applied to the capacitor. Immediately after that, if the electrolytic capacitor under test has no disconnection, an inrush current flows. When the DC voltage is converted by the converter and input to the comparator circuit, the output of the comparator circuit rises rapidly, resetting the first flip-flop previously set.
【0004】また、コンデンサに規定電圧を規定時間印
加後、放電させた時、被試験電解コンデンサが断線無し
ならば放電電流が流れるので、この放電電流を電流電圧
変換器で直流電圧に変換し、比較判定器回路に入力すれ
ば、比較判定器回路の出力は急速に立ち上がり、予めセ
ットされていた第2のフリップフロップをリセットす
る。前記第1のフリップフロップのセット出力と、第2
のフリップフロップのセット出力は論理和がとられてお
り、断線無しの場合は、発光ダイオードを消灯させる。
コンデンサが最初から断線有りならば、規定電圧を印加
しても突入電流が流れないので、予めセットしておいた
前記第1のフリップフロップをリセットすることができ
ず、なおかつ規定電圧を規定時間印加後、放電させた
時、放電電流が流れないので、予めセットしておいた前
記第2のフリップフロップをリセットすることができ
ず、発光ダイオードが点灯状態となり断線有りの判定を
行う。更に、コンデンサが規定電圧印加中に断線した場
合、突入電流は流れるので、予めセットしておいた前記
第1のフリップフロップはリセットされるが、規定電圧
を規定時間印加後放電させた時、放電電流は流れないの
で、予めセットしておいた前記第2のフリップフロップ
をリセットすることができず、発光ダイオードが点灯状
態となり、断線有りの判定を行う(特願昭60-277755
号)。When a capacitor is discharged after a specified voltage is applied for a specified time, a discharge current flows if the electrolytic capacitor under test has no disconnection. This discharge current is converted into a DC voltage by a current-voltage converter. When input to the comparison / determination circuit, the output of the comparison / determination circuit rapidly rises and resets the second flip-flop that has been set in advance. A set output of the first flip-flop;
The set output of the flip-flop is ORed, and when there is no disconnection, the light emitting diode is turned off.
If the capacitor is disconnected from the beginning, the inrush current does not flow even when the specified voltage is applied, so that the first flip-flop previously set cannot be reset, and the specified voltage is applied for the specified time. Thereafter, when the discharge is performed, since the discharge current does not flow, the previously set second flip-flop cannot be reset, and the light emitting diode is turned on to determine that there is a disconnection. Further, when the capacitor is disconnected during application of the specified voltage, an inrush current flows, so that the previously set first flip-flop is reset. Since no current flows, the previously set second flip-flop cannot be reset, the light emitting diode is turned on, and it is determined that there is a disconnection (Japanese Patent Application No. 60-277755).
issue).
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】この従来の装置では、
被試験電解コンデンサに規定電圧を規定時間印加後、コ
ンデンサに流れるもれ電流の良否判定を行っているの
で、コンデンサに規定電圧を規定時間印加している途中
で、コンデンサ内部に絶縁破壊が発生した場合、瞬時に
自己回復作用により絶縁破壊が修復されてしまう現象
(一般に、瞬時破壊と呼ばれる)を検出することができ
ないという問題点があった。In this conventional device,
After applying the specified voltage to the capacitor under test for the specified time, the quality of the leakage current flowing through the capacitor is determined.Therefore, insulation breakdown occurred inside the capacitor while the specified voltage was applied to the capacitor for the specified time. In this case, there is a problem that a phenomenon in which the dielectric breakdown is repaired instantaneously by the self-healing action (generally, instantaneous breakdown) cannot be detected.
【0006】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、電解コンデンサのもれ電流及び断線の良否
判定に加えて、瞬時破壊の有無も同時に判定することが
できる電解コンデンサ試験装置を提供することを目的と
する。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and provides an electrolytic capacitor testing apparatus capable of simultaneously determining the presence or absence of instantaneous destruction in addition to the determination of leakage current and disconnection of an electrolytic capacitor. The purpose is to provide.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明に係る電解コンデ
ンサ試験装置は、被試験電解コンデンサの接続端子と、
この接続端子の一方に試験電圧を印加する回路と、この
接続端子の他方の電流を電圧に変換する電流電圧変換器
と、この電流電圧変換器の出力を第1の基準電圧と比較
する第1の比較回路と、この比較回路の出力によりセッ
トされる第1のフリップフロップと、前記比較回路の出
力によりリセットされる第2のフリップフロップと、前
記第1のフリップフロップのセット出力により点灯する
第1の発光ダイオードと、前記第2のフリップフロップ
のセット出力により点灯する第2の発光ダイオードと、
前記電流電圧変換器の出力を前記第1の基準電圧とは極
性の異なる第2の基準電圧と比較する第2の比較回路
と、この第2の比較回路の出力によりリセットされる第
3のフリップフロップと、この第3のフリップフロップ
のセット出力と前記第2の発光ダイオードに前記第2の
フリップフロップのセット出力とを共に論理和接続する
回路と、前記電流電圧変換器の出力を前記第1の基準電
圧と極性が同じで電圧値の異なる第3の基準電圧と比較
する第3の比較回路と、この第3の比較回路出力により
セットされる第4のフリップフロップと、この第4のフ
リップフロップのセット出力により点灯する第3の発光
ダイオードとを有することを特徴とする。この電解コン
デンサ試験装置は、n(複数)個並設することが好まし
い。An electrolytic capacitor testing apparatus according to the present invention comprises a connecting terminal of an electrolytic capacitor to be tested;
A circuit for applying a test voltage to one of the connection terminals, a current-to-voltage converter for converting the other current of this connection terminal to a voltage, and a first for comparing the output of the current-to-voltage converter with a first reference voltage , A first flip-flop set by the output of the comparison circuit, a second flip-flop reset by the output of the comparison circuit, and a second flip-flop illuminated by the set output of the first flip-flop. 1 light emitting diode, a second light emitting diode that is turned on by the set output of the second flip-flop,
A second comparison circuit for comparing the output of the current-voltage converter with a second reference voltage having a polarity different from the first reference voltage, and a third flip-flop reset by the output of the second comparison circuit A circuit for ORing together the set output of the third flip-flop and the set output of the second flip-flop to the second light emitting diode, and the output of the current-to-voltage converter to the first A third comparison circuit having the same polarity as that of the third reference voltage and having a different voltage value, a fourth flip-flop set by the output of the third comparison circuit, and a fourth flip-flop. And a third light emitting diode that is turned on by the set output of the lamp. It is preferable that n (plural) electrolytic capacitor testing devices be arranged in parallel.
【0008】[0008]
【作用】本発明においては、被試験電解コンデンサに瞬
時破壊が生じると、短絡電流が急速に流れ、電流電圧変
換器の出力が短絡電流規格(第3の基準電圧)を超え
る。これにより、第3の比較回路の出力が例えば「1」
となり、第4のフリップフロップのセット端子に「1」
が入力されて第4のフリップフロップがセットされる。
このため、第3の発光ダイオードが点灯して、瞬時破壊
の発生を検知することができる。In the present invention, when instantaneous destruction occurs in the electrolytic capacitor under test, a short-circuit current flows rapidly, and the output of the current-voltage converter exceeds the short-circuit current standard (third reference voltage). Thereby, the output of the third comparison circuit is, for example, “1”.
And "1" is set to the set terminal of the fourth flip-flop.
Is input, and the fourth flip-flop is set.
Therefore, the third light emitting diode is turned on, and the occurrence of instantaneous destruction can be detected.
【0009】[0009]
【実施例】次に、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
【0010】図1は本発明の実施例に係る電解コンデン
サ試験装置を示す回路図であり、図2は図1の試験装置
を作動させるためのタイムチャート図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an electrolytic capacitor test apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a time chart for operating the test apparatus of FIG.
【0011】図1において、直流測定電源(E1)1の
正電位側は充電時間信号TIM1にて駆動されるリレー
2のリレー接点3・1〜3・nを介し、更に放電時間信
号TIM3にて駆動されるリレー4のリレー接点5・1
〜5・nを介して被試験電解コンデンサ6・1〜6・n
の陽極端子に夫々接続されている。充電時間信号TIM
1にて駆動されるリレー2のリレー接点3・1〜3・n
のコモン端子は夫々並列接続して直流測定電源1の正電
位側に接続され、放電時間信号TIM3にて駆動される
リレー4のリレー接点5・1〜5・nのa接点はいずれ
も接地端子に接続され、この接地端子は直流測定電源1
の負電位側に接続される。In FIG. 1, the positive potential side of a DC measuring power supply (E1) 1 is connected to relay contacts 3-1, 3 and 3n of a relay 2 driven by a charging time signal TIM1, and further to a discharging time signal TIM3. Relay contact 5 ・ 1 of relay 4 to be driven
Through the electrolytic capacitors 6-1 through 6-n
, Respectively. Charge time signal TIM
Relay contacts 3 to 1 to 3n of relay 2 driven by 1
Are connected in parallel with each other and connected to the positive potential side of the DC measurement power supply 1, and the a contacts of the relay contacts 5-1 to 5-n of the relay 4 driven by the discharge time signal TIM3 are all ground terminals. And this ground terminal is connected to the DC measurement power supply 1
Is connected to the negative potential side.
【0012】電流電圧変換器8・1〜8・nの入力端子
は、被試験電解コンデンサ6・1〜6・nの陰極側に夫
々抵抗7・1〜7・nを介して接続され、且つ接地端子
側は並列に接続されたうえ、直流測定電源1の負電位側
に接続されている。The input terminals of the current-to-voltage converters 8.1-1.n are connected to the cathode sides of the capacitors under test 6.1-1-6-n via the resistors 7.1-1-7.n, respectively. The ground terminals are connected in parallel and are also connected to the negative potential side of the DC power supply 1.
【0013】次に、第1の比較判定器回路12・1〜1
2・nの信号入力端子は夫々電流電圧変換器8・1〜8
・nの出力端子に接続され、基準入力端子はいずれも並
列接続されたうえ、第1の測定基準値回路9に接続され
る。Next, the first comparison / determination circuits 12-1 to 1-1
2 · n signal input terminals are current-voltage converters 8.1 to 8 respectively.
N are connected to the output terminals of n, and all of the reference input terminals are connected in parallel and also connected to the first measurement reference value circuit 9.
【0014】また、第2の比較判定器回路13・1〜1
3・nの信号入力端子は、夫々電流電圧変換器8・1〜
8nの出力端子に接続され、且つ、基準入力端子はいず
れも並列接続されたうえ、第2の測定基準値回路10に
接続される。Further, the second comparison / determination circuits 13-1 to 13-1
3 · n signal input terminals are connected to the current / voltage converters 8.1 to 1 respectively.
8n, and all the reference input terminals are connected in parallel and connected to the second measurement reference value circuit 10.
【0015】更に、第3の比較判定器回路14・1〜1
4・nの信号入力端子は夫々電流電圧変換器8・1〜8
・nの出力端子に接続され、且つ基準入力端子はいずれ
も並列接続されたうえ、第3の測定基準値回路11に接
続されている。Further, the third comparison / determination circuits 14-1 to 14-1
4 · n signal input terminals are current-voltage converters 8.1 to 8 respectively.
N is connected to the output terminal of n, and all of the reference input terminals are connected in parallel and connected to the third measurement reference value circuit 11.
【0016】第1のR−Sフリップフロップ20a・1
〜20a・nのセット端子は夫々第1の比較判定器回路
12・1〜12・nの出力端子に接続され、且つリセッ
ト端子は2入力論理和回路15a・1〜15a・nの出
力端子に接続され、2入力論理和回路15a・1〜15
a・nの一方の入力端子は並列接続されたうえ、端子1
6を介してリセット信号SIG1へ接続される。The first RS flip-flop 20a.1
The set terminals of .about.20a.n are connected to the output terminals of the first comparator / determiner circuits 12.1-12.n, respectively, and the reset terminals are connected to the output terminals of the two-input OR circuits 15a.about.1-15a.n. Connected, two-input OR circuits 15a-1 to 15-15
a and n are connected in parallel, and
6 to the reset signal SIG1.
【0017】また、残る一方の入力端子は並列接続され
たうえ、第1のフリップフロップ20a・iのホールド
信号SIG3へ端子18を介して接続され、Q端子はい
ずれもインバータ回路21a・1〜21a・nを接続し
たうえ、抵抗22a・1〜22a・nを介して発光ダイ
オード23a・1〜23a・nのカソードに接続され
る。この発光ダイオードのアノードは並列接続されたう
え、23a・i,23b・i及び23c・iの電源投入
信号TIM2により作動するリレー24のリレー接点2
5を介して、発光ダイオード駆動電源(E2 )26の正
電位側に接続される。The other input terminal is connected in parallel and connected to the hold signal SIG3 of the first flip-flop 20a.i via the terminal 18, and the Q terminal is connected to each of the inverter circuits 21a.1-2a. N and then connected to the cathodes of the light emitting diodes 23a.1 to 23a.n via the resistors 22a.1 to 22a.n. The anode of this light-emitting diode is connected in parallel and the relay contact 2 of the relay 24 activated by the power-on signal TIM2 of 23a.i, 23b.i and 23ci.
5 is connected to the positive potential side of a light emitting diode driving power supply (E2) 26.
【0018】第2のR−Sフリップフロップ20b・1
〜20b・nのリセット端子は夫々第1の比較判定器回
路12・1〜12・nの出力端子に接続され、セット端
子は2入力論理和回路15b・1〜15b・nの出力端
子に接続され、これら2入力論理和回路15b・1〜1
5b・nの一方の入力端子は並列接続されたうえ、端子
16を介してリセット信号SIG1に接続され、また残
る一方の入力端子は並列接続されたうえ、端子17を介
してセット信号SIG2に接続される。The second RS flip-flop 20b-1
The reset terminals of .about.20b.n are connected to the output terminals of the first comparator / determiner circuits 12.1-1.n, respectively, and the set terminals are connected to the output terminals of the two-input OR circuits 15b.about.1-15b.n. And these two-input OR circuits 15b-1 to 15-1
One of the input terminals of 5b · n is connected in parallel and connected to a reset signal SIG1 via a terminal 16, and the other input terminal is connected in parallel and connected to a set signal SIG2 via a terminal 17. Is done.
【0019】第3のR−Sフリップフロップ20c・1
〜20c・nのリセット端子は夫々第2の比較判定器回
路13・1〜13・nの出力端子に接続され、セット端
子は2入力論理和回路15c・1〜15c・nの出力端
子に接続され、これら2入力論理和回路15c・1〜1
5c・nの一方の入力端子は並列接続されたうえ、端子
16を介してリセット信号SIG1に接続される。ま
た、残る一方の入力端子は同様に並列接続されたうえ、
端子17を介してセット信号SIG2に接続されてお
り、且つ前記第2のR−Sフリップフロップ20b・1
〜20b・nのQ端子と前記第3のR−Sフリップフロ
ップ20c・1〜20c・nのQ端子とを2入力論理和
回路15e・1〜15e・nの各入力端子に夫々接続
し、これらの2入端端子論理和回路15e・1〜15e
・nの出力端子は各々インバータ回路21b・1〜21
b・nを接続したうえ、抵抗22b・1〜22b・nを
介して、発光ダイオード23b・1〜23b・nのカソ
ードに接続し、且つこれら発光ダイオード23b・1〜
23b・nのアノードは並列接続されたうえ、各発光ダ
イオードの電源投入信号TIM2により作動するリレー
24のリレー接点25を介して、発光ダイオード駆動電
源26の正電位側に接続される。The third RS flip-flop 20c-1
The reset terminals of .about.20 c.n are respectively connected to the output terminals of the second comparison / determination circuits 13.1-1.n, and the set terminals are connected to the output terminals of the two-input OR circuits 15c.about.15c.n. And these two-input OR circuits 15c-1 to 15-1
One input terminal of 5c · n is connected in parallel, and is connected to a reset signal SIG1 via a terminal 16. The other input terminal is connected in parallel in the same way.
Connected to the set signal SIG2 via the terminal 17 and connected to the second RS flip-flop 20b-1.
To 20b · n and the Q terminals of the third RS flip-flops 20c · 1 to 20c · n to the input terminals of the two-input OR circuits 15e · 1 to 15en · n, respectively. These two input terminal OR circuits 15e and 1 to 15e
The output terminals of n are inverter circuits 21b.
b · n, and connected to the cathodes of the light emitting diodes 23b · 1 to 23b · n via the resistors 22b · 1 to 22b · n.
The anodes of 23b · n are connected in parallel and connected to the positive potential side of a light emitting diode driving power supply 26 via a relay contact 25 of a relay 24 activated by a power on signal TIM2 of each light emitting diode.
【0020】而して、本実施例は、以下の構成を特徴と
する。即ち、第4のR−Sフリップフロップ20d・1
〜20d・nのセット端子が夫々第3の比較判定器回路
14・1〜14・nの出力端子に接続され、且つリセッ
ト端子は2入力論理和回路15d・1〜15d・nの出
力端子に接続され、2入力論理和回路15d・1〜15
d・nの一方の入力端子は並列接続されたうえ、端子1
6を介してリセット信号SIG1へ接続され、また残る
一方の入力端子は並列接続されたうえ、第4のフリップ
フロップ20d・iのホールド信号SIG4へ端子19
を介して接続され、Q端子は各々インバータ回路21c
・1〜21c・nを接続したうえ、抵抗22c・1〜2
2c・nを介して発光ダイオード23c・1〜23c・
nのカソードに接続され、且つこれらの発光ダイオード
23c・1〜23c・nのアノードは並列接続されたう
え、各発光ダイオードの電源投入信号TIM2により作
動するリレー24のリレー接点25を介して発光ダイオ
ード駆動電源26の正電位側に接続されている。The present embodiment has the following features. That is, the fourth RS flip-flop 20d-1
To 20 d · n are connected to the output terminals of the third comparison / determination circuits 14. 1 to 14 · n, respectively, and the reset terminal is connected to the output terminals of the two-input OR circuits 15 d · 1 to 15 d · n. Connected, two-input OR circuits 15d-1 to 15-15
One of the input terminals d and n is connected in parallel, and
6 is connected to the reset signal SIG1, and the other input terminal is connected in parallel, and the terminal 19 is connected to the hold signal SIG4 of the fourth flip-flop 20d.i.
And the Q terminal is connected to each of the inverter circuits 21c.
.1 to 21c.n are connected, and resistors 22c.1 to 2 are connected.
The light emitting diodes 23c.1 to 23c.
n, and the anodes of the light emitting diodes 23c.1 to 23c.n are connected in parallel, and the light emitting diodes are connected via a relay contact 25 of a relay 24 activated by a power-on signal TIM2 of each light emitting diode. It is connected to the positive potential side of the drive power supply 26.
【0021】次に、本実施例の動作について、図1〜図
7を参照して説明する。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS.
【0022】一般にコンデンサに流れる直流電流は、充
電開始時に急峻に立ち上がり、その後、時間と共に漸次
減少する特性を有する。このコンデンサに流れる電流i
(t)は下記数式1にて表される。Generally, a DC current flowing through a capacitor has a characteristic that it rises sharply at the start of charging and then gradually decreases with time. Current i flowing through this capacitor
(T) is represented by Equation 1 below.
【0023】[0023]
【数1】i(t)=(V/Rs)exp(−t/CRs
)+ia(t)+Ie 但し、V ;印加電圧(V) Rs ;直列挿入抵抗(Ω) C ;コンデンサ容量 ia (t);吸収電流 Ie ;真のもれ電流。## EQU1 ## i (t) = (V / Rs) exp (-t / CRs)
) + Ia (t) + Ie where, V; applied voltage (V) Rs; series insertion resistance (Ω) C; capacitor capacitance ia (t); absorption current Ie; true leakage current.
【0024】前記数式1によれば、コンデンサの真のも
れ電流Ie は時間には影響されない固有の定数である
が、この値を測定するためには長時間の充電が必要であ
る。According to the above equation (1), the true leakage current Ie of the capacitor is a unique constant that is not affected by time, but a long time charging is required to measure this value.
【0025】このため、コンデンサ製作者はある規定時
間経過時の規定電流値を規格化し、もれ電流規格として
いる。従って、電解コンデンサのもれ電流の判定はこの
もれ電流規格に対する良否判定を行えばよい。前記数式
1によれば、コンデンサに流れる直流電流i(t)が規
定時間経過時にもれ電流規格以下ならば、良と判定され
る。For this reason, the capacitor maker standardizes a specified current value after a certain specified time has elapsed, and sets it as a leakage current standard. Therefore, the leakage current of the electrolytic capacitor may be determined by determining whether the leakage current conforms to the leakage current standard. According to Equation 1, if the DC current i (t) flowing through the capacitor is equal to or less than the leakage current specification after the lapse of the specified time, it is determined to be good.
【0026】図1における第1のR/Sフリップフロッ
プ20a・1〜20a・nと第4のR−Sフリップフロ
ップ20d・1〜20d・nはシステム電源投入時には
図2におけるリセット信号SIG1により出力Qが
「0」であり、第2のR−Sフリップフロップ20b・
1〜20b・nと第3のR−Sフリップフロップ20c
・1〜20c・nは図2におけるセット信号SIG2に
より出力Qが「1」になっている。測定開始の時点で、
充電時間信号TIM1により、リレー接点3・1〜3・
nは閉接され、被試験電解コンデンサ6・1〜6・n及
び抵抗7・1〜7・nを介してコンデンサに流れる直流
電流i(t)が発生する。電流・電圧変換器8・1〜8
・nでコンデンサに流れる直流電流i(t)は直流電圧
V(t)に変換され、下記の数式2が得られる。The first R / S flip-flops 20a.about.20a.n and the fourth RS flip-flops 20d.about.20d.n in FIG. 1 are output by the reset signal SIG1 in FIG. 2 when the system power is turned on. Q is “0” and the second RS flip-flop 20 b.
1 to 20b · n and the third RS flip-flop 20c
The output Q of 1 to 20c · n is “1” by the set signal SIG2 in FIG. At the start of the measurement,
According to the charging time signal TIM1, the relay contacts 3, 1, 3,.
n is closed, and a DC current i (t) flowing through the capacitors to be tested via the electrolytic capacitors 6-1 to 6-n and the resistors 7-1 to 7-n is generated. Current-voltage converters 8.1-8
DC current i (t) flowing to the capacitor at n is converted to DC voltage V (t), and the following equation 2 is obtained.
【0027】[0027]
【数2】i(t)∝ V(t)## EQU2 ## i (t) ∝V (t)
【0028】以後、コンデンサに流れる直流電流i
(t)は電流電圧変換された直流電圧V(t)として扱
われ、ある時間tの直流電流の値は直流電圧V(t)と
して表される。Thereafter, the DC current i flowing through the capacitor i
(T) is treated as the DC voltage V (t) obtained by the current-voltage conversion, and the value of the DC current at a certain time t is represented as the DC voltage V (t).
【0029】第1の測定基準値回路9はもれ電流規格の
値を前記直流電圧V(t)に対応した電圧出力Vref1を
発生できる回路であり、手動にて任意のもれ電流規格を
設定できる。従って、第1の比較判定器回路12・1〜
12・nの出力は充電時間TIN1の区間Tで V(t)>Vref1 ならば「1」であり、 V(t)<Vref1 ならば「0」である。The first measurement reference value circuit 9 is a circuit that can generate a value of the leakage current standard and a voltage output Vref1 corresponding to the DC voltage V (t), and manually set an arbitrary leakage current standard. it can. Therefore, the first comparison / determination circuits 12-1 to 12-1
The output of 12.n is "1" if V (t)> Vref1 in the section T of the charging time TIN1, and is "0" if V (t) <Vref1.
【0030】図3はコンデンサに流れる直流電流i
(t)を変換したV(t)が、T時間経過後にもれ電流
規格値を変換した直流電圧(以下、もれ電流規格とい
う)Vref1に対して良品である場合に、各回路出力の関
係を時間軸に対して表したものである。図3では規定時
間区間Tで被試験電解コンデンサ6・iに流れる直流電
流V(t)が最初はもれ電流規格Vref1以上に流れて、
第1の比較判定器回路の出力は「1」となり、従って、
フリップフロップ20a・iの出力も「1」となり、発
光ダイオード23a・iの状態は発光ダイオード23a
・i,23b・i,23c・iの電源投入信号TIM2
により点灯状態になるが、もれ電流良否判定以前にもれ
電流規格以下に降下するので、もれ電流良否判定前まで
には、第1の比較判定器回路の出力は「0」となり、フ
リップフロップ20a・iの出力が「0」となるので、
発光ダイオード23a・iの状態は消灯状態となる。以
後、図2のフリップフロップ20a・iのホールド信号
SIG3の立ち下がりにより、この状態はリセットまで
続く。FIG. 3 shows a DC current i flowing through the capacitor.
When V (t) obtained by converting (t) is a non-defective product with respect to a DC voltage (hereinafter referred to as a leak current standard) Vref1 obtained by converting a leak current standard value after a lapse of time T, a relation between respective circuit outputs is obtained. With respect to the time axis. In FIG. 3, the DC current V (t) flowing through the electrolytic capacitor 6.i under test during the specified time interval T first leaks and flows to the current specification Vref1 or more.
The output of the first comparator / determiner circuit is "1", and
The output of the flip-flop 20a · i also becomes “1”, and the state of the light emitting diode 23a · i changes to the light emitting diode 23a.
Power-on signal TIM2 of i, 23b · i, 23c · i
However, before the leakage current is judged, the output of the first comparator / decision circuit becomes "0" before the leakage current is judged. Since the output of the step 20a · i becomes “0”,
The state of the light emitting diodes 23a · i is turned off. Thereafter, this state continues until reset due to the fall of the hold signal SIG3 of the flip-flops 20a and i in FIG.
【0031】図4はコンデンサに流れる直流電流がもれ
電流規格に対して不良である場合に、各回路出力の関係
を同様に時間軸に対して表したものである。FIG. 4 shows the relationship between the output of each circuit with respect to the time axis when the DC current flowing through the capacitor leaks and is defective with respect to the current standard.
【0032】ここでは、規定時間区間Tで被試験電解コ
ンデンサ6・iに流れる直流電流V(t)が、測定開始
よりもれ電流良否判定の時点まで、もれ電流規格Vref1
以上であるので、第1の比較判定器回路の出力は「1」
の状態を取り続け、フリップフロップ20a・iの出力
も「1」であり、且つ、発光ダイオード23a・iの状
態も点灯状態である。以後、図2のフリップフロップ2
0a・iのホールド信号SIG3の立ち下がりにより点
灯状態は、リセットの時点まで続く。In this case, the DC current V (t) flowing through the electrolytic capacitor 6.i during the specified time interval T is equal to the leakage current standard Vref1 from the start of measurement to the point of time when the leakage current is judged good or bad.
As described above, the output of the first comparison / determination circuit is “1”.
, The output of the flip-flop 20a · i is also “1”, and the state of the light emitting diodes 23a · i is also a lighting state. Thereafter, the flip-flop 2 of FIG.
The lighting state continues until the reset point due to the fall of the hold signal SIG3 of 0a · i.
【0033】次に、図3及び図4を参照し、断線の有無
の判定方法について説明する。Next, a method of determining the presence or absence of a disconnection will be described with reference to FIGS.
【0034】フリップフロップ20b・iの出力は図2
のセット信号SIG2により電源投入直後「1」となっ
ているが、測定開始の時点では被試験電解コンデンサ6
・iが断線無しの状態ならばその瞬間に突入電流が流
れ、電流電圧変換器8・iの出力V(t)は下記の数式
3にて表される。The output of the flip-flop 20b.i is shown in FIG.
Is set to “1” immediately after the power is turned on by the set signal SIG2 of the capacitor.
If i is in a state where there is no disconnection, an inrush current flows at that moment, and the output V (t) of the current-voltage converter 8i is expressed by the following equation 3.
【0035】[0035]
【数3】I=V/Rs ∝ V(t) 但し、V ;印加電圧(V) Rs ;直列挿入抵抗(Ω)。I = V / Rs∝V (t) where V: applied voltage (V) Rs: series insertion resistance (Ω).
【0036】この数式3の出力V(t)により第1の比
較判定器回路の出力も急速に立ち上がるので、フリップ
フロップ20b・iのリセット端子にはリセット入力が
入り、フリップフロップ20b・iの出力はその瞬間よ
り「0」となる。Since the output of the first comparator / judgment circuit rapidly rises by the output V (t) of the equation (3), a reset input is input to the reset terminal of the flip-flop 20b.i, and the output of the flip-flop 20b.i Becomes “0” from that moment.
【0037】また、フリップフロップ20c・iの出力
は図2のセットSIG2により電源投入直後「1」とな
っているが、同図の放電開始の時点で放電時間信号TI
M3によりリレー接点5・iはX−7接点a側に接続さ
れ、被試験電解コンデンサ6・iの陽極側は接地端子に
接続されることになるので、放電開始の時点では、被試
験電解コンデンサ6・iが断線無しの状態ならば、その
瞬間に放電電流が流れ、電流電圧変換器8・iの電極V
(t)は数式3と同様に表される。The output of the flip-flop 20c.i is "1" immediately after the power is turned on by the set SIG2 of FIG. 2, but at the time of the start of discharge shown in FIG.
The relay contact 5.i is connected to the X-7 contact a by M3, and the anode side of the electrolytic capacitor 6.i to be tested is connected to the ground terminal. If no disconnection occurs in 6 · i, a discharge current flows at that moment, and the electrode V of the current-voltage converter 8 · i
(T) is expressed in the same manner as in Expression 3.
【0038】出力V(t)は急速に立ち上がり、放電電
流規格Vref2を超え、第2の比較判定器回路の出力が
「1」となり、、フリップフロップ20c・iのリセッ
ト端子には、リセット入力が入るので、フリップフロッ
プ20c・iの出力はその瞬間から「0」となる。フリ
ップフロップ20b・iの出力が「0」となり、フリッ
プフロップ20・iの出力が「0」となった瞬間から発
光ダイオード23b・iの状態は消灯状態となり、リセ
ットまで続く。The output V (t) rises rapidly, exceeds the discharge current standard Vref2, the output of the second comparator / determiner circuit becomes "1", and the reset input of the reset terminal of the flip-flop 20c.i Therefore, the output of the flip-flop 20c.i becomes "0" from that moment. From the moment when the output of the flip-flop 20b.i becomes "0" and the output of the flip-flop 20.i becomes "0", the state of the light emitting diode 23b.i is turned off and continues until reset.
【0039】次に、断線有りの場合について図5を参照
して説明する。この場合、被試験電解コンデンサ6・i
には電流は流れない。従って、図5に示すように、フリ
ップフロップ20b・i及びフリップフロップ20c・
iのリセット端子にはリセット入力が入らないこととな
り、出力は測定開始よりリセットまで「1」の状態を保
持し、また、発光ダイオード23b・iは図2の発光ダ
イオード23a・i、23b・i、23c・iの電源投
入信号TIM2により点灯を開始し、リセットまで点灯
状態を続ける。Next, a case where there is a disconnection will be described with reference to FIG. In this case, the electrolytic capacitor 6 · i to be tested
No current flows through. Therefore, as shown in FIG. 5, the flip-flops 20b.i and the flip-flops 20c.
No reset input is input to the reset terminal of i, and the output maintains the state of “1” from the start of measurement to the reset, and the light emitting diodes 23b · i are the light emitting diodes 23a · i and 23b · i of FIG. , 23c · i, the lighting is started by the power-on signal TIM2, and the lighting is continued until reset.
【0040】図6は、測定開始時点で被試験コンデンサ
6・iは断線無しの状態であったが、充電時間信号TO
M1の区間Tで、断線してしまった場合についてのタイ
ミングチャート図である。この場合、被試験電解コンデ
ンサ6・iは測定時間開始時点1で断線無しの状態なの
で、突入電流が流れ、フリップフロップ20b・iのリ
セット端子にはリセット入力が入り、フリップフロップ
20b・iの出力はその瞬間より「0」となるが、充電
時間信号TIM1の区間Tで断線すると、フリップフロ
ップ20c・iのリセット端子にはリセット入力が入力
されないので、フリップフロップ20c・iの出力は測
定開始からリセットまで「1」の状態を保ち続けるの
で、発光ダイオード23b・iは、図2の発光ダイオー
ド23a・i,23b・i,23c・iの電源投入信号
TIM2により点灯を開始し、リセットまで点灯状態を
続ける。FIG. 6 shows that the capacitor under test 6.i had no disconnection at the start of the measurement, but the charge time signal TO
It is a timing chart figure about the case where it has disconnected in the section T of M1. In this case, since the electrolytic capacitor 6 • i under test has no disconnection at the start time 1 of the measurement time, an inrush current flows, a reset input enters the reset terminal of the flip-flop 20b • i, and the output of the flip-flop 20b • i Becomes “0” from that moment, but if the disconnection occurs in the section T of the charging time signal TIM1, the reset input is not input to the reset terminal of the flip-flop 20c ・ i, and the output of the flip-flop 20c ・ i Since the state of "1" is kept until the reset, the light emitting diodes 23b.i start lighting by the power-on signal TIM2 of the light emitting diodes 23a.i, 23b.i, and 23c.i in FIG. Continue.
【0041】最後に、図7に被試験電解コンデンサ6・
iが充電時間信号TIM1の区間Tで、瞬時破壊を発生
した場合についてのタイミングチャート図を示す。この
場合、被試験電解コンデンサ6・iは瞬間的に絶縁破壊
が起き短絡状態となるため、直流電流が急峻に立ち上が
り、その直後、瞬時に自己回復作用で絶縁破壊が修復さ
れるので、時間と共に直流電流は漸次減少する特性を有
している。Finally, FIG. 7 shows an electrolytic capacitor 6 under test.
FIG. 6 is a timing chart showing a case where instantaneous destruction occurs in a section T of the charging time signal TIM1. In this case, the electrolytic capacitor 6 i under test instantaneously suffers dielectric breakdown and is short-circuited, so that the DC current rises sharply. Immediately after that, the dielectric breakdown is instantaneously repaired by the self-recovery action. The direct current has a characteristic of gradually decreasing.
【0042】ここでは、測定開始の時点で被試験電解コ
ンデンサ6・iに突入電流が短絡電流規格Vref3以上に
流れて、第3の比較判定器回路の出力は「1」となり、
フリップフロップ20d・iのセット端子には「1」が
入力されるが、リセット端子に、図2のフリップフロッ
プ20d・iのホールド信号SIG4が入力されるた
め、フリップフロップ20d・iの出力は「0」とな
る。その後、被試験電解コンデンサ6・iに瞬時破壊が
生じると、短絡電流が急速に流れ、電流・電圧変換器出
力V(t)が短絡電流規格Vref3を超えるので、第3の
比較判定器回路の出力は「1」となり、フリップフロッ
プ20d・iのセット端子に「1」が入力され、この時
点では、フリップフロップ20d・iのホールド信号S
IG4が「0」となっているため、フリップフロップ2
0d・iの出力は「1」となり、且つ、発光ダイオード
23c・iの状態も点灯状態である。以後、点灯状態は
リセットの時点まで続く。Here, at the time of the start of the measurement, the rush current flows to the electrolytic capacitor 6 • i to be tested more than the short-circuit current standard Vref3, and the output of the third comparator / determiner circuit becomes “1”.
Although "1" is input to the set terminal of the flip-flop 20d.i, the output of the flip-flop 20d.i is "D" because the hold signal SIG4 of the flip-flop 20d.i of FIG. 2 is input to the reset terminal. 0 ". Thereafter, when instantaneous destruction occurs in the electrolytic capacitor 6.i under test, a short-circuit current flows rapidly, and the output V (t) of the current / voltage converter exceeds the short-circuit current standard Vref3. The output becomes “1”, and “1” is input to the set terminal of the flip-flop 20d ・ i. At this time, the hold signal S of the flip-flop 20d ・ i
Since IG4 is “0”, flip-flop 2
The output of 0d · i becomes “1”, and the state of the light emitting diode 23c · i is also a lighting state. Thereafter, the lighting state continues until the time of reset.
【0043】[0043]
【発明の効果】以上説明したように、本発明は電解コン
デンサのもれ電流及び断線の良否判定に加えて瞬時破壊
の有無判定をも同時に発光ダイオードの点灯と消灯によ
り判定できるので、信頼性の高い検査をできるという効
果がある。As described above, according to the present invention, it is possible to judge the presence / absence of instantaneous destruction in addition to the judgment of the leakage current and disconnection of the electrolytic capacitor by simultaneously turning on and off the light emitting diode. There is an effect that a high inspection can be performed.
【図1】本発明の実施例に係る電解コンデンサの試験装
置を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a test apparatus for an electrolytic capacitor according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1に示した実施例のタイムチャート図であ
る。FIG. 2 is a time chart of the embodiment shown in FIG. 1;
【図3】もれ電流が良の場合の各部における信号波形図
である。FIG. 3 is a signal waveform diagram in each section when leakage current is good.
【図4】もれ電流が不良の場合の各部における信号波形
図である。FIG. 4 is a signal waveform diagram in each part when leakage current is defective.
【図5】はじめから断線の場合の各部における信号波形
図である。FIG. 5 is a signal waveform diagram in each part in the case of disconnection from the beginning.
【図6】試験中に断線の場合の各部における信号波形図
である。FIG. 6 is a signal waveform diagram in each section when a disconnection occurs during a test.
【図7】試験中に瞬時破壊の場合の各部における信号波
形図である。FIG. 7 is a signal waveform diagram in each part in the case of instantaneous destruction during a test.
1;直流測定電源(E1 ) 2,4,24;リレー 3・1〜3・n,5・1〜5・n,25;リレー接点 6・1〜6・n;被試験電解コンデンサ 7・1〜7・n,22a・1〜22a・n,22b・1
〜22b・n,22c1〜22c・n;抵抗 8・1〜8・n;電流電圧変換器(CONV) 9;第1の測定基準値回路(REF1 ) 10;第2の測定基準値回路(REF2 ) 11;第3の測定基準値回路(REF3 ) 12・1〜12・n;第1の比較判定器回路 13・1〜13・n;第2の比較判定器回路 14・1〜14・n;第3の比較判定器回路 15a・1〜15a・n,15b・1〜15b・n,1
5c・1〜15c・n,15d・1〜15d・n,15
e・1〜15e・n;2入力論理和回路 16;リセット信号(SIG1) 17;セット信号(SIG2) 18;フリップフロップ20a・iのホールド信号(S
IG3) 19;フリップフロップ20d・iのホールド信号(S
IG4) 22a・1〜22a・n,22b・1〜22b・n,2
2c・1〜22c・n,22d・1〜22d・n;フリ
ップフロップ 21a・1〜21a・n,21b・1〜21b・n,2
1c・1〜21c・n;インバータ回路 23a・1〜23a・n,23b・1〜23b・n,2
3c・1〜23c・n;発光ダイオード 26;発光ダイオードの駆動電源(E2 ) T;規定時間区間 TIM1;充電時間信号 TIM2;発光ダイオード23a・i,23b・i,2
3c・iの電源投入信号 TIM3;放電時間信号 Vref1;もれ電流規格 Vref2;放電電流規格 Vref3;短絡電流規格1; DC measurement power supply (E1) 2, 4, 24; relay 3.1 to 3n, 5-1 to 5n, 25; relay contact 6.1 to 6n; electrolytic capacitor to be tested 7.1 ~ 7 · n, 22a · 1 to 22a · n, 22b · 1
22b.n, 22c1 to 22c.n; resistors 8.1 to 8.n; current-voltage converter (CONV) 9; first measurement reference value circuit (REF1) 10; second measurement reference value circuit (REF2) 11) Third measurement reference value circuit (REF3) 12.1 to 12 · n; first comparison / determination circuit 13.1 to 13 · n; second comparison / determination circuit 14.1 to 14 · n A third comparator / determiner circuit 15a-1 to 15a-n, 15b-1 to 15b-n, 1
5c ・ 1 to 15c ・ n, 15d ・ 1 to 15d ・ n, 15
e · 1 to 15e · n; 2-input OR circuit 16; reset signal (SIG1) 17; set signal (SIG2) 18; hold signal (S) of flip-flops 20a · i
IG3) 19; hold signal of flip-flop 20d · i (S
IG4) 22a.1 to 22a.n, 22b.1 to 22b.n, 2
2c.1 to 22c.n, 22d.1 to 22d.n; flip-flops 21a.1 to 21a.n, 21b.1 to 21b.n, 2
1c · 1 to 21c · n; Inverter circuits 23a · 1 to 23a · n, 23b · 1 to 23b · n, 2
3c.1 to 23c.n; light emitting diode 26; driving power supply (E2) for light emitting diode T; specified time section TIM1; charging time signal TIM2;
3c · i power-on signal TIM3; discharge time signal Vref1; leakage current specification Vref2; discharge current specification Vref3; short-circuit current specification
Claims (1)
の接続端子の一方に試験電圧を印加する回路と、この接
続端子の他方の電流を電圧に変換する電流電圧変換器
と、この電流電圧変換器の出力を第1の基準電圧と比較
する第1の比較回路と、この比較回路の出力によりセッ
トされる第1のフリップフロップと、前記比較回路の出
力によりリセットされる第2のフリップフロップと、前
記第1のフリップフロップのセット出力により点灯する
第1の発光ダイオードと、前記第2のフリップフロップ
のセット出力により点灯する第2の発光ダイオードと、
前記電流電圧変換器の出力を前記第1の基準電圧とは極
性の異なる第2の基準電圧と比較する第2の比較回路
と、この第2の比較回路の出力によりリセットされる第
3のフリップフロップと、この第3のフリップフロップ
のセット出力と前記第2の発光ダイオードに前記第2の
フリップフロップのセット出力とを共に論理和接続する
回路と、前記電流電圧変換器の出力を前記第1の基準電
圧と極性が同じで電圧値の異なる第3の基準電圧と比較
する第3の比較回路と、この第3の比較回路出力により
セットされる第4のフリップフロップと、この第4のフ
リップフロップのセット出力により点灯する第3の発光
ダイオードとを有することを特徴とする電解コンデンサ
の試験装置。1. A connection terminal of an electrolytic capacitor under test, a circuit for applying a test voltage to one of the connection terminals, a current-to-voltage converter for converting the other current of the connection terminal into a voltage, and a current-to-voltage converter A first comparing circuit for comparing the output of the comparator with a first reference voltage, a first flip-flop set by the output of the comparing circuit, and a second flip-flop reset by the output of the comparing circuit. A first light-emitting diode that is turned on by the set output of the first flip-flop, a second light-emitting diode that is turned on by the set output of the second flip-flop,
A second comparison circuit for comparing the output of the current-voltage converter with a second reference voltage having a polarity different from the first reference voltage, and a third flip-flop reset by the output of the second comparison circuit A circuit for ORing together the set output of the third flip-flop and the set output of the second flip-flop to the second light emitting diode, and the output of the current-to-voltage converter to the first A third comparison circuit having the same polarity as that of the third reference voltage and having a different voltage value, a fourth flip-flop set by the output of the third comparison circuit, and a fourth flip-flop. A third light-emitting diode that is lit by a set output of a lamp.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31710691A JP2697426B2 (en) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | Test equipment for electrolytic capacitors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31710691A JP2697426B2 (en) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | Test equipment for electrolytic capacitors |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05152175A JPH05152175A (en) | 1993-06-18 |
JP2697426B2 true JP2697426B2 (en) | 1998-01-14 |
Family
ID=18084511
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31710691A Expired - Lifetime JP2697426B2 (en) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | Test equipment for electrolytic capacitors |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2697426B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5079603B2 (en) * | 2008-06-13 | 2012-11-21 | 日置電機株式会社 | Electrolytic capacitor inspection method and electrolytic capacitor inspection device |
CN107300652A (en) * | 2017-06-07 | 2017-10-27 | 深圳市智胜新电子技术有限公司 | Aluminum electrolytic capacitor test device and method of testing |
-
1991
- 1991-11-29 JP JP31710691A patent/JP2697426B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05152175A (en) | 1993-06-18 |
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