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JP2532534B2 - Semiconductor chip pickup device - Google Patents

Semiconductor chip pickup device

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Publication number
JP2532534B2
JP2532534B2 JP31664887A JP31664887A JP2532534B2 JP 2532534 B2 JP2532534 B2 JP 2532534B2 JP 31664887 A JP31664887 A JP 31664887A JP 31664887 A JP31664887 A JP 31664887A JP 2532534 B2 JP2532534 B2 JP 2532534B2
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JP
Japan
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chip
sheet
holder
wafer
angle
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達雄 霜鳥
英治 清水
英雄 荒木
清 高岡
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electronics Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68318Auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support
    • H01L2221/68322Auxiliary support including means facilitating the selective separation of some of a plurality of devices from the auxiliary support

Landscapes

  • Dicing (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体製造装置のダイボンダー等で用いられ
るチップのピックアップ装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip pickup device used in a die bonder or the like of a semiconductor manufacturing apparatus.

従来の技術 従来の半導体製造装置のダイボンダー等で用いられる
チップのピックアップは、ウェハーをハーフカットして
ブレイク・エキスパンド後にピックアップするものか
ら、セミフルカットもしくはフルカットしたものをブレ
イク・エキスパンドしてピックアップする方向に変わり
つつある。
2. Description of the Related Art Conventional chip pickup used in die bonders of semiconductor manufacturing equipment is a method of half-cutting a wafer and then picking it after break-expanding, to semi-full-cut or full-cut breaking-expanding pick-up. Is changing to.

以下、図面を参照しながら上述した従来のチップピッ
クアップの例について説明する。第4図〜第6図は従来
のチップピックアップの概要を側断面図で示すもので、
第4図に示すようにウェハー切断装置(ダイシングソ
ー)のブレード刃1で表面にチップ単位に切り込みを入
れたウェハー2を第5図に示すように、シート3に貼着
し、ローラでチップ単位にブレイクした後シート3をひ
き伸ばしてシート外縁をゴムバンド4で固定した、いわ
ゆるエキスパンドされたリング5が装置に着脱自在に固
定されている。6はホルダーで、上方が開放され、内部
に上下動する突き上げピン7が収納されており、突き上
げピン7がシート3を突き破ってチップ8を持ち上げ、
上方より真空吸着性能を持つコレット9が降りてきて、
チップ8を吸着ピックアップするようになっている。
Hereinafter, an example of the conventional chip pickup described above will be described with reference to the drawings. 4 to 6 are side sectional views showing an outline of a conventional chip pickup.
As shown in FIG. 4, a wafer 2 having a surface cut by a chip unit with a blade blade 1 of a wafer cutting device (dicing saw) as shown in FIG. 4 is attached to a sheet 3 as shown in FIG. After soaking, the sheet 3 is stretched and the outer edge of the sheet is fixed by a rubber band 4, so-called an expanded ring 5 is detachably fixed to the apparatus. Reference numeral 6 denotes a holder, which is open at the top and houses a push-up pin 7 that moves up and down. The push-up pin 7 breaks through the sheet 3 and lifts the chip 8.
Collet 9 with vacuum adsorption performance is coming down from above,
The chip 8 is picked up by suction.

発明が解決しようとする問題点 従来ダイシングソーによるチップ単体化する為の切り
込み深さは、ウェハー厚さの約1/2程度のハーフカット
方式であったが、ブレイクした時のチップ8の断面は第
6図のようになり、本来のチップサイズより外周が大き
なものとなり、リードフレームにダイボンドする時に
は、ダイパットの大きさを少し大きくしておく必要があ
り、集積度が増すにつれての大チップ化が進んでパッケ
ージに対するチップの占有率が高くなる一方である。現
在では非常に不利であり、最近では第7図のように、切
り残し厚さをウェハー厚さの約1/10以下にカットするセ
ミフルカット方式、あるいは第8図のように、完全に切
り離して、シート3に少し切り込みがはいるフルカット
方式が増えてきた。これらの方式であれば、後者は、完
全にチップ同志が切り離されており、前者も極く弱い力
でブレイクできるため、ローラによるブレイク工程は省
略することが可能ではあるが、そのままで突き上げピン
7で突き上げてピックアップしようとしても、チップと
チップの間隔Cがブレード1の厚さ、即ち25〜40μ程度
しかない為に突き上げられるチップがわずかに傾くと隣
のチップに当り、どちらのチップにもカケや割れが生じ
る確率が高く、シート3を引き伸ばすエキスパンド工程
を省くことができないのが現状である。ちなみに、エキ
スパンド工程を経た後のチップとチップの間隔は、200
μ以上あるのが一般的である。
Problems to be Solved by the Invention Conventionally, the cutting depth for dicing saw into a single chip is a half-cut method of about 1/2 of the wafer thickness, but the cross section of the chip 8 when broken is As shown in Fig. 6, the outer circumference is larger than the original chip size, and it is necessary to increase the size of the die pad a little when die-bonding to the lead frame. The occupancy ratio of the chip to the package is increasing. At present, it is extremely disadvantageous, and recently, as shown in Fig. 7, a semi-full-cut method that cuts the uncut thickness to less than about 1/10 of the wafer thickness, or completely separates it as shown in Fig. 8 , The number of full-cut type with a little incision on the sheet 3 is increasing. With these methods, the latter is completely separated from each other, and the former can also break with a very weak force, so the breaking process by the roller can be omitted, but the push-up pin 7 Even if you try to pick up by pushing up with, the distance C between the tips is only the thickness of the blade 1, that is, 25 to 40μ, and if the tip that is pushed up tilts slightly, it will hit the next chip and both chips will chip. At present, it is not possible to omit the expanding step of stretching the sheet 3 because of the high probability of cracking. By the way, the distance between the chips after the expansion process is 200
It is generally that there is μ or more.

本発明は、上記問題点に鑑み、チップを切り離した時
に余分な面積をとらないものとすると共に、ブレイク・
エキスパンド工程を省くことのできる半導体チップピッ
クアップ装置を提供するものである。
In view of the above problems, the present invention does not take an extra area when a chip is cut off, and
A semiconductor chip pickup device capable of omitting the expanding step.

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の半導体チップピ
ックアップ方法は突き上げピンを囲繞するホルダー上面
の、突き上げるべきチップが位置する第1面と、それに
隣接する第2面とに角度θを持たせ、その上に、裏面に
シートを貼付して所定のウェハー切断幅でフルカットも
しくはセミフルカットしたウェハーをセッティングし、
少なくとも前記ホルダーがウェハーの端に位置すると
き、前記ホルダーのシート外周固定部からの突き出しに
より、前記ホルダーと前記シート外周固定部の最も遠い
部分との間のシートが前記第1面となす角度βが前記角
度θよりも小さくなるように、かつθ−βの値がウェハ
ーの厚さと切断幅、ならびに切り残し厚さで決定される
所定の角度よりも小さくなるように、突き出し代dを小
さく設定し、ホルダー上面の第2面に設けた真空吸引穴
からシートを吸引しながら前記第1面上のチップを突き
上げピンで突き上げて真空吸着ピックアップしている。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, a semiconductor chip pickup method according to the present invention uses a first surface of a holder upper surface surrounding a push-up pin, on which a chip to be pushed up is located, and a second surface adjacent thereto. The angle θ is given to and, and the sheet is pasted on the back side of it, and the full cut or semi-full cut wafer with the specified wafer cutting width is set,
At least when the holder is located at the edge of the wafer, the protrusion β of the holder from the sheet outer periphery fixing portion causes an angle β formed by the sheet between the holder and the farthest portion of the sheet outer periphery fixing portion with the first surface. Is smaller than the angle θ, and the value of θ-β is smaller than a predetermined angle determined by the thickness and cut width of the wafer and the uncut thickness, and the protrusion margin d is set small. Then, while suctioning the sheet from the vacuum suction hole provided on the second surface of the holder upper surface, the chip on the first surface is pushed up by the push-up pin to perform vacuum suction pickup.

作用 本発明は上記した方法によって、突き上げられるべき
チップとその隣のチップとの間隔が扇形状に広がるた
め、ブレイク・エキスパンド工程を省き、セミフルカッ
トもしくはフルカットされたままの状態でチップのピッ
クアップを可能とせしめた。
Effect The present invention, by the method described above, because the interval between the chip to be pushed up and the chip next to it spreads in a fan shape, the break-expanding step is omitted, and the chip is picked up in the state of being semi-full cut or full cut. I made it possible.

実施例 以下、本発明の一実施例の半導体チップピックアップ
方法について図面を参照しながら説明する。
Embodiment Hereinafter, a semiconductor chip pickup method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1〜3図は本発明実施例における半導体チップピッ
クアップ装置の要部断面図である。第1〜3図において
は、11はフレームで従来例のリング5と似た役目を果す
もので、ウェハー12を貼着したシート13の外縁が接着さ
れている。ウェハー12はシート13に貼着された後でセミ
フルカットもしくはフルカットされており、ほぼチップ
単体に切り離された状態となっている。ホルダー14の内
部に上下動する突き上げピン15が収納され、突き上げる
べきチップ16−1が位置する第1面に突き上げピン15の
通る穴17が、そして突き上げるべきチップチップ16−1
の隣接するチップ16−2が位置する第2面に真空吸引用
の穴18が穿設され、ホルダー14の中腹部の吸引口19より
突き上げピン15が突き上がるのと同期して真空吸引さ
れ、更に第1面と第2面とに角度θが持たされている。
20は真空吸着性能を持つコレットで突き上げられたチッ
プを吸着ピックアップする。
1 to 3 are sectional views of a main part of a semiconductor chip pickup device according to an embodiment of the present invention. 1 to 3, a frame 11 has a function similar to that of the ring 5 of the conventional example, and the outer edge of the sheet 13 to which the wafer 12 is attached is adhered. The wafer 12 is semi-full-cut or full-cut after being attached to the sheet 13, and is in a state in which it is almost cut into individual chips. A vertically moving push-up pin 15 is housed inside a holder 14, a hole 17 through which the push-up pin 15 passes is formed on the first surface where the chip 16-1 to be pushed up is located, and a tip chip 16-1 to be pushed up.
A hole 18 for vacuum suction is formed in the second surface on which the adjacent chip 16-2 is located, and vacuum suction is performed in synchronization with the push-up pin 15 pushing up from the suction port 19 in the middle abdomen of the holder 14. Further, an angle θ is provided between the first surface and the second surface.
20 picks up and picks up a chip pushed up by a collet that has vacuum suction performance.

ホルダー上にきたチップは、ホルダー上面の第1面と
第2面とに設けられた角度によってブレイクされ、突き
上げピン15がシート13を突き破ってチップ16−1を持ち
上げると同時に、隣接チップ(実際は隣接チップが貼着
されているシート)が真空吸引されるためにホルダー上
面に吸着され目的とするチップ16−1だけが突き上げら
れ、上方からのコレット20によって吸着ピックアップさ
れる。したがって本実施例によればホルダー上面の突き
上げるべきチップが位置する第1面と、それに隣接する
チップが位置する第2面とに角度θを持たせたことによ
り、セミフルカット品のブレイク工程が自動的になされ
ると共に、チップとチップの間隔が扇形状に広がるため
にエキスパンド工程を省略してもチップ同志の接触によ
るカケ,割れもなくピックアップが可能となった。
The chip coming on the holder is broken by the angle provided on the first surface and the second surface of the holder upper surface, and the push-up pin 15 breaks through the sheet 13 and lifts the chip 16-1, and at the same time, the adjacent chip (actually, the adjacent chip The sheet to which the chips are attached) is vacuum-sucked so that it is sucked onto the upper surface of the holder and only the target chip 16-1 is pushed up and picked up by the collet 20 from above. Therefore, according to this embodiment, since the angle θ is provided between the first surface of the upper surface of the holder where the chip to be pushed up is located and the second surface where the chip adjacent to it is located, the break process of the semi-full cut product is automatically performed. In addition, the chip-to-chip spacing spreads out in a fan shape, so even if the expanding process is omitted, pick-up is possible without chipping or cracking due to contact between chips.

また、第2面に設けた真空吸引用の穴により上記効果
が更に確実なものとなったばかりでなく、突き上げピン
15の先端摩耗によるシート13の突き破りミスが発生する
までの寿命期間を飛躍的に長くすることが可能となっ
た。
Further, not only the above effect is further secured by the hole for vacuum suction provided on the second surface, but also the push-up pin
It became possible to dramatically lengthen the service life period until the sheet 13 is pierced due to abrasion of the tip of the sheet 15.

ところで角度θはダイシングソーのブレードの厚さ
(≒C)とも関連するのだが、最も悪い条件、いい変え
ればブレードの厚さが最も薄い時、例えばセミフルもし
くはフルカットの場合ではブレード厚さが25μ程度が最
も悪い条件となるが、その時でもθは3°以上あればブ
レイクが完全になされ、かつチップ突き上げ時のカケ,
割れの発生がほぼ防止でき得る。
By the way, the angle θ is also related to the blade thickness (≈C) of the dicing saw, but in the worst condition, in other words, when the blade thickness is the thinnest, for example, in the case of semi-full or full cut, the blade thickness is 25μ. The degree is the worst condition, but even at that time, if θ is 3 ° or more, the break will be complete and chipping when pushing up the chip,
The occurrence of cracks can be almost prevented.

ただ、θが大きい程カケ,割れの発生率は更に低くな
ることは理論的には正しいのだが実際にはあまりθを大
きくするとかえってカケ、割れの発生が多くなる現象が
発生し、その原因を調べてみると、突き上げるべきチッ
プ16−1とその隣接するチップ16−2との接触によるカ
ケ,割れの発生はないのだが、第2図のようにチップ16
−2とそのまた隣のチップ16−3との接触によるカケ,
割れが生じていることが判明した。
However, it is theoretically correct that the incidence of cracks and cracks decreases as θ increases, but in reality, if θ is increased too much, the phenomenon of cracks and cracks increases, and the cause is Examination revealed that there was no chipping or cracking due to contact between the tip 16-1 to be pushed up and its adjacent tip 16-2, but as shown in FIG.
-2 and the chip 16-3 next to it, chipping due to contact,
It was found that a crack had occurred.

チップがシート13に貼着されている状態でチップ同志
が接触する状態を示したのが第3図であるが、接触する
時の片方のチップの傾きαはウェハーの厚さa,ウェハー
切断時の切り残し厚さb(フルカットの時はb=0)及
び切断幅(≒ブレード厚さ)Cによって決定され、 となる。したがってチップ16−2と16−3の接触を防止
するにはθ−β<αとなる。
FIG. 3 shows the state where the chips are in contact with each other when the chips are attached to the sheet 13. The inclination α of one chip at the time of contact is the wafer thickness a, when the wafer is cut. Is determined by the uncut thickness b of b (b = 0 when full cut) and the cutting width (≈blade thickness) C, Becomes Therefore, in order to prevent the contact between the chips 16-2 and 16-3, θ-β <α.

ここでβは図1,2で示すところの角度で、ホルダー14
がウェハー12の端に来た時で、ウェハー径をe,シート外
周固定部径、言い換えるとフレーム11の内径をf,シート
外周固定部からのホルダーの突き出し代をdとすると で表わされる。
Where β is the angle shown in Figs.
Is at the edge of the wafer 12, and the wafer diameter is e, the sheet outer peripheral fixing portion diameter is f, that is, the inner diameter of the frame 11 is f, and the protrusion amount of the holder from the sheet outer peripheral fixing portion is d. Is represented by

以上より であればチップ16−2と16−3の接触によるワレ,カケ
は防止できることになり、このことは実験的にも確認さ
れた。以下、その実施例を示す。
From the above In that case, cracking and chipping due to contact between the chips 16-2 and 16-3 can be prevented, and this was confirmed experimentally. An example will be shown below.

実験1.6インチウェハー使用 a=400(μm),b=30(μm),c=30(μm),d=3
(mm),e=150(mm),f=190(mm)のとき、 α+β≒5.66(度) θ=5(度)のときワレ,カケなし、 θ=6(度)のとき100チップ中22チップに小さなカケ
発生。
Experiment Use 1.6 inch wafer a = 400 (μm), b = 30 (μm), c = 30 (μm), d = 3
(Mm), e = 150 (mm), f = 190 (mm), α + β ≈ 5.66 (degrees) No cracks or chips when θ = 5 (degrees), 100 chips in the case of θ = 6 (degrees) Small chip occurred on 22 chips.

実験2.5インチウェハー使用 a=300(μm),e=125(mm),f=165(mm),他は実
験1と同じ。その時α+β≒7.57(度) θ=6(度)のときワレ,カケなし、 θ=7(度)のとき89チップ中18チップに小さなカケ発
生。
Experiment 2.5 inch wafer use a = 300 (μm), e = 125 (mm), f = 165 (mm), others are the same as Experiment 1. At that time, α + β≈7.57 (degrees) No cracks or chips when θ = 6 (degrees), and small chips occurred on 18 of 89 chips when θ = 7 (degrees).

なお、シート外周部からのホルダーの突き出し代dを
できるだけ大きくすればθも大きくすることができる
が、dを大きくしすぎるとホルダー14とシート13の摩擦
抵抗が大きくなってシート13が破れたり、フレーム11か
らシート13がはずれたりするから注意を要する。
Although θ can be increased by increasing the protrusion amount d of the holder from the outer peripheral portion of the seat as much as possible, if the d is too large, the frictional resistance between the holder 14 and the sheet 13 increases and the sheet 13 is broken, Be careful because the sheet 13 may come off from the frame 11.

発明の効果 以上のように本発明によれば、ブレイク・エキスパン
ド工程を省いても、突き上げるべきチップとその隣接す
るチップとの接触によるカケ、割れの発生を防止し、か
つ、そのまた隣のチップとの接触によるカケ,割れを防
止し、更に、ホルダーとシートとの摩擦抵抗によるシー
トの破れ、はずれをも防止することができる。その結
果、コストダウンを図ることができるばかりでなく、品
質的にも安定したものが得られ、更にはチップとチップ
のピッチが一定となるために送りを定ピッチで行うこと
ができ、安価な装置を実現することが可能となる。
As described above, according to the present invention, even if the break / expand step is omitted, chipping due to contact between the chip to be pushed up and its adjacent chip, generation of cracks, and the chip next to the chip are also prevented. It is possible to prevent chipping and cracking due to contact with the sheet, and also to prevent the sheet from breaking or coming off due to frictional resistance between the holder and the sheet. As a result, not only cost reduction can be achieved, but also stable quality is obtained. Furthermore, since the pitch between chips is constant, the feed can be performed at a constant pitch, which is inexpensive. The device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図,第2図,第3図は本発明実施例の要部断面図、
第4図はウェハー切断時の概略図、第5図は従来例の要
部断面図、第6図はハーフカット,ブレイク・エキスパ
ンド後のチップ断面拡大図、第7図,第8図はセミフル
カット及びフルカット品のチップ断面拡大図である。 13……シート、14……ホルダー、15……突き上げピン、
18……真空吸引用穴。
1, 2, and 3 are cross-sectional views of an essential part of an embodiment of the present invention,
FIG. 4 is a schematic view at the time of cutting a wafer, FIG. 5 is a cross-sectional view of a main part of a conventional example, FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a chip after half-cutting, break / expand, and FIGS. 7 and 8 are semi-full-cutting. FIG. 3 is an enlarged view of a chip cross section of a full cut product. 13 …… Sheet, 14 …… Holder, 15 …… Push-up pin,
18 ... Vacuum suction hole.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高岡 清 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (56)参考文献 実開 昭62−170637(JP,U) 実開 昭62−135432(JP,U) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Kiyoshi Takaoka 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (56) References: 62-170637 (JP, U) 135432 (JP, U)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】チップを突き上げるピンとそのピンを囲繞
し、前記チップを載置するホルダーとを備え、前記ホル
ダー上面において、前記チップが位置する第1面と、そ
れに隣接し、前記チップが送り直前に位置した第2面と
に第1の角度を持たせ、裏面にシートを貼付して、所定
のウェハー切断幅でフルカットもしくはセミフルカット
したウェハーを前記ホルダー上面にセッティグし、少な
くとも前記ホルダーがウェハーの端に位置するとき、前
記ホルダーの、シート外周固定部より上への突き出しに
より、前記ホルダーと、シート外周固定部の最も遠い部
分との間のシートが、前記第1面となす第2の角度が、
前記第1の角度よりも小さくなるように、かつ前記第1
の角度と前記第2の角度の差が、ウェハーの厚さと前記
切断幅、ならびに切り残し厚さで決定される所定の角度
よりも小さくなるように、突き出し代を小さく設定し、
前記ホルダー上面の前記第2面に設けた真空吸引穴から
同第2面上のシート部を吸引しながら前記第1面上のチ
ップを前記ピンで突き上げる機構を有する半導体チップ
ピックアップ装置。
1. A pin that pushes up a chip and a holder that surrounds the pin and mounts the chip, the first face on which the chip is located and the first face on the upper surface of the holder that is adjacent to the first face, and immediately before the chip is fed. The first surface is attached to the back surface by attaching a sheet to the back surface with a first angle to the second surface, and a full-cut or semi-full-cut wafer with a predetermined wafer cutting width is set on the upper surface of the holder. When the sheet is located at the end of the sheet, the protrusion between the holder and the seat outer periphery fixing portion causes the sheet between the holder and the farthest portion of the sheet outer periphery fixing portion to form the second surface which is the first surface. The angle is
Smaller than the first angle and the first angle
And the second angle is smaller than the predetermined angle determined by the thickness of the wafer and the cutting width, and the uncut thickness, the protruding margin is set small,
A semiconductor chip pickup device having a mechanism of pushing up a chip on the first surface with the pin while sucking a sheet portion on the second surface from a vacuum suction hole provided on the second surface of the holder upper surface.
【請求項2】ウェハーの厚さをa、ウェハー切断時の切
り残し厚さをb、切断幅をC、ホルダーのシート外周固
定部からの突き出し代をd、ウェハー径をe、シート外
周固定部径をfとして、ホルダー上面の第1面と第2面
とがなす角度θを としたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
導体チップピックアップ装置。
2. A wafer thickness is a, an uncut thickness is b when a wafer is cut, a cutting width is C, a protrusion amount from a sheet outer peripheral fixing portion of a holder is d, a wafer diameter is e, and a sheet outer peripheral fixing portion. Letting the diameter be f, the angle θ formed by the first surface and the second surface of the upper surface of the holder is The semiconductor chip pickup device according to claim 1, wherein
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS62135432U (en) * 1986-02-20 1987-08-26
JPS62170637U (en) * 1986-04-17 1987-10-29

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