JP2023070005A - 積層型キャパシタ - Google Patents
積層型キャパシタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023070005A JP2023070005A JP2022066023A JP2022066023A JP2023070005A JP 2023070005 A JP2023070005 A JP 2023070005A JP 2022066023 A JP2022066023 A JP 2022066023A JP 2022066023 A JP2022066023 A JP 2022066023A JP 2023070005 A JP2023070005 A JP 2023070005A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- layer
- conductive
- multilayer capacitor
- intermetallic compound
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 62
- 238000003475 lamination Methods 0.000 title abstract 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 77
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 77
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 claims abstract description 48
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 claims abstract description 40
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000011135 tin Substances 0.000 claims description 54
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 52
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 47
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 47
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 46
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 29
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 29
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 27
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 27
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 24
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 20
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 12
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 9
- 229910018082 Cu3Sn Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910017692 Ag3Sn Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910018471 Cu6Sn5 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910005102 Ni3Sn Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 abstract description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005245 sintering Methods 0.000 abstract description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 17
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 12
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 11
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 10
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 10
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 9
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 7
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910018100 Ni-Sn Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910018532 Ni—Sn Inorganic materials 0.000 description 4
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- CLDVQCMGOSGNIW-UHFFFAOYSA-N nickel tin Chemical compound [Ni].[Sn] CLDVQCMGOSGNIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910017482 Cu 6 Sn 5 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- GSDQYSSLIKJJOG-UHFFFAOYSA-N 4-chloro-2-(3-chloroanilino)benzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=C(Cl)C=C1NC1=CC=CC(Cl)=C1 GSDQYSSLIKJJOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical class [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000272 alkali metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052810 boron oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000007646 gravure printing Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- MOWNZPNSYMGTMD-UHFFFAOYSA-N oxidoboron Chemical class O=[B] MOWNZPNSYMGTMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical class [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000314 transition metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
- H01G4/2325—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor characterised by the material of the terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
- H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
- H01G4/012—Form of non-self-supporting electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
- H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
- H01G4/1218—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates
- H01G4/1227—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates based on alkaline earth titanates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/248—Terminals the terminals embracing or surrounding the capacitive element, e.g. caps
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
【課題】耐湿信頼性を確保するために焼結電極層を厚く形成することによって積層型キャパシタの外部電極が非常に厚くなる問題を解決し、積層型キャパシタの機械的結合力を向上させ、界面に浮きが発生することを防止し、積層型キャパシタの電気的連結性を確保し、電気導電性が弱い問題を解決する。【解決手段】本発明の一実施形態は、誘電体層、並びに第1及び第2内部電極を含む本体と、上記本体の外側に配置され、上記第1内部電極と連結される第1外部電極及び上記第2内部電極と連結される第2外部電極を含み、上記第1及び第2外部電極は、上記本体上に配置され、第1金属間化合物及びガラスを含む電極層及び上記電極層上に配置され、複数の金属粒子及び樹脂を含む導電性樹脂層を含む積層型キャパシタを提供する。【選択図】図4
Description
本発明は、積層型キャパシタに関するものである。
積層型キャパシタは、小型でありながらも高容量が保障され、実装が容易であるという利点により、通信、コンピュータ、家電、自動車などの産業に用いられる重要なチップ部品であり、特に、携帯電話、コンピュータ、デジタルTVなどの各種電気、電子、情報通信機器に用いられる核心受動素子である。
最近では、電子機器の小型化及び高性能化に伴い、積層型キャパシタも小型化及び高容量化する傾向にあり、このような流れによって、積層型キャパシタの高信頼性を確保する重要度が高まっている。
このような積層型キャパシタの高信頼性を確保するための方案として、機械的または熱的環境で発生する引張ストレス(stress)を吸収して、ストレスによって発生するクラック(crack)を防止するために、外部電極に導電性樹脂層を適用している。
このような導電性樹脂層は、積層型キャパシタの外部電極の焼結電極層とめっき層との間を電気的及び機械的に接合させる役割を果たし、回路基板の実装中に工程温度による機械的及び熱的応力及び基板の反り衝撃から積層型キャパシタを保護する役割を果たす。
しかしながら、従来の積層型キャパシタの場合には、耐湿信頼性の劣化を防止するために焼結電極層を厚く形成した後、上記焼結電極層上に導電性樹脂層を形成することにより、積層型キャパシタの小型化の側面で限界が存在した。
また、導電性樹脂層の場合、導電性を有する金属粒子が導電性樹脂層内に分散している形態で存在するため、焼結電極層との密着力が弱く、界面に浮きが発生する可能性があるという問題点が存在した。
また、導電性樹脂層の場合、導電性を有する金属粒子が導電性樹脂層内に分散している形態で存在するため、電気導電性が弱く、焼結電極層と導電性樹脂層との間の電気的連結性が低下するという問題点が存在した。
本発明のいくつかの目的の一つは、耐湿信頼性を確保するために焼結電極層を厚く形成することによって積層型キャパシタの外部電極が非常に厚くなる問題を解決して積層型キャパシタを小型化するためである。
本発明のいくつかの目的の一つは、積層型キャパシタの機械的結合力を向上させ、界面に浮きが発生することを防止するためである。
本発明のいくつかの目的の一つは、積層型キャパシタの電気的連結性を確保し、電気導電性が弱い問題を解決するためである。
但し、本発明の目的は上述した内容に限定されず、本発明の具体的な実施形態を説明する過程でより容易に理解されることができる。
本発明の一実施形態は、誘電体層、並びに第1及び第2内部電極を含む本体と、上記本体の外側に配置され、上記第1内部電極と連結される第1外部電極及び上記第2内部電極と連結される第2外部電極を含み、上記第1及び第2外部電極は上記本体上に配置され、第1金属間化合物及びガラスを含む電極層及び上記電極層上に配置され、複数の金属粒子及び樹脂を含む導電性樹脂層を含む積層型キャパシタを提供する。
本発明のいくつかの効果の一つは、焼結電極層の厚さを薄く形成しながらも耐湿信頼性を確保して積層型キャパシタを小型化することである。
本発明のいくつかの効果の一つは、積層型キャパシタの機械的結合力を向上させて界面に浮きが発生することを抑制することである。
本発明のいくつかの効果の一つは、積層型キャパシタの電気的連結性を確保して電気導電性が弱い問題を解決することである。
以下では、具体的な実施形態及び添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。しかし、本発明の実施形態は、いくつかの他の形態に変形することができ、本発明の範囲が以下説明する実施形態に限定されるものではない。また、本発明の実施形態は、通常の技術者に本発明をより完全に説明するために提供されるものである。したがって、図面における要素の形状及び大きさなどはより明確な説明のために拡大縮小表示(又は強調表示や簡略化表示)がされることがあり、図面上の同一の符号で示される要素は同一の要素である。
そして、図面において本発明を明確に説明するために説明と関係のない部分は省略し、図面において示された各構成の大きさ及び厚さは説明の便宜のために任意で示したため、本発明が必ずしも図示によって限定されるものではない。また、同一思想の範囲内の機能が同一である構成要素は、同一の参照符号を付与して説明する。さらに、明細書全体において、ある部分がある構成要素を「含む」というのは、特に反対される記載がない限り、他の構成要素を除外するのではなく、他の構成要素をさらに含むことができることを意味する。
図面において、第1方向は積層方向または厚さ(T)方向、第2方向は長さ(L)方向、第3方向は幅(W)方向と定義することができる。
以下、図1~図4を参照して、本発明の一実施形態に係る積層型キャパシタについて詳細に説明する。
本発明の一実施形態に係る積層型キャパシタ100は、誘電体層111、並びに第1及び第2内部電極121、122を含む本体110と、上記本体の外側に配置され、上記第1内部電極と連結される第1外部電極130及び上記第2内部電極と連結される第2外部電極140を含み、上記第1及び第2外部電極は上記本体上に配置され、第1金属間化合物131a及びガラス131bを含む電極層131、141及び上記電極層上に配置され、複数の金属粒子132a及び樹脂132bを含む導電性樹脂層132、142を含む。
本体110は、誘電体層111、並びに第1及び第2内部電極121、122が交互に積層されている。
本体110の具体的な形状に特に制限はないが、図示のように本体110は六面体状またはこれと類似した形状からなることができる。焼成過程で本体110に含まれたセラミック粉末の収縮や角部の研磨により本体110は完全な直線を有する六面体状ではないが、実質的に六面体状を有することができる。
本体110は、第1方向に互いに対向する第1及び第2面1、2、上記第1及び第2面1、2と連結され、第2方向に互いに対向する第3及び第4面3、4、第1及び第2面1、2と連結され、第3及び第4面3、4と連結され、かつ第3方向に互いに対向する第5及び第6面5、6を有することができる。
本体110を形成する複数の誘電体層111は焼成された状態であり、隣接する誘電体層111間の境界は走査電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)を利用せずには確認しにくいほど一体化することができる。
本発明の一実施形態に係ると、上記誘電体層111を形成する原料は、十分な静電容量を得ることができる限り特に制限されない。例えば、チタン酸バリウム系材料、鉛複合ペロブスカイト系材料またはチタン酸ストロンチウム系材料などを用いることができる。上記チタン酸バリウム系材料は、BaTiO3系セラミック粉末を含むことができ、上記セラミック粉末の例として、BaTiO3、BaTiO3にCa(カルシウム)、Zr(ジルコニウム)などが一部固溶された(Ba1-xCax)TiO3、Ba(Ti1-yCay)O3、(Ba1-xCax)(Ti1-yZry)O3またはBa(Ti1-yZry)O3などが挙げられる。
上記誘電体層111を形成する材料は、チタン酸バリウム(BaTiO3)などのパウダーに本発明の目的に応じて様々なセラミック添加剤、有機溶剤、結合剤、分散剤などが添加されることができる。
このとき、誘電体層111の厚さは積層型キャパシタ100の容量設計に合わせて任意に変更することができ、本体110の大きさ及び容量を考慮して1層の厚さは焼成後0.1~10μmとなるように構成することができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
本体110は、本体110の内部に配置され、誘電体層111を間に挟んで互いに対向するように配置される第1内部電極121及び第2内部電極122を含み、容量が形成される容量形成部Aと、上記容量形成部Aの上部及び下部に形成されたカバー部112、113を含むことができる。
また、上記容量形成部Aは、キャパシタの容量形成に寄与する部分であって、誘電体層111を間に挟んで複数の第1及び第2内部電極121、122を繰り返し積層して形成されることができる。
上部カバー部112及び下部カバー部113は、単一誘電体層または2つ以上の誘電体層を容量形成部Aの上下面にそれぞれ第1方向または厚さ方向に積層して形成することができ、基本的に物理的または化学的ストレスによる内部電極の損傷を防止する役割を果たすことができる。
上部及び下部カバー部112、113は、内部電極を含まないことを除いては、上記活性領域の誘電体層111と同一材質及び構成を有することができる。
上部及び下部カバー部112、113は、それぞれ25μm以下の厚さを有することができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
また、上記容量形成部Aの側面には、マージン部114、115が配置されることができる。マージン部114、115は、本体110の第6面6に配置されたマージン部114及び第5面5に配置されたマージン部115を含むことができる。すなわち、マージン部114、115は、上記セラミック本体110の第3方向の両側面に配置されることができる。
マージン部114、115は、図3に示したように、上記本体110を第1及び第3方向で切断した断面で第1及び第2内部電極121、122の両端と本体110との境界面の間の領域を意味することができる。
マージン部114、115は、基本的に物理的または化学的ストレスによる内部電極の損傷を防止する役割を果たすことができる。
マージン部114、115は、セラミックグリーンシート上にマージン部が形成されるところを除いて、導電性ペーストを塗布して内部電極を形成することで形成されたものであることができる。
また、内部電極121、122による段差を抑制するために、積層後の内部電極121、122が本体の第5及び第6面5、6に露出するように切断した後、単一誘電体層または2つ以上の誘電体層を容量形成部Aの両側面に第3方向に積層してマージン部114、115を形成することもできる。
マージン部114、115の厚さは、例えば、20μm以下の厚さを有することができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
内部電極121、122は誘電体層111と交互に配置されることができ、第1内部電極121及び第2内部電極122は誘電体層111を間に挟んで互いに対向するように配置されることができる。
すなわち、第1及び第2内部電極121、122は、互いに異なる極性を有する一対の電極であり、誘電体層111上に所定厚さで導電性金属を含む内部電極用導電性ペーストを印刷して誘電体層111を間に挟んで誘電体層111の積層方向に沿って本体110の第3及び第4面3、4を介して交互に露出するように形成されることができ、中間に配置された誘電体層111によって互いに電気的に絶縁されることができる。内部電極用導電性ペーストの印刷方法は、スクリーン印刷法またはグラビア印刷法などを用いることができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
したがって、第1内部電極121は、第3面3において第1外部電極130と接触して電気的に連結され、第2内部電極122は、第4面4において第2外部電極140と接触して電気的に連結されることができる。
第1及び第2外部電極130、140に電圧を印加すると、互いに対向する第1及び第2内部電極121、122の間に電荷が蓄積され、このとき、積層型キャパシタ100の静電容量は、第1及び第2内部電極121、122の互いに重なる領域の面積に比例するようになる。
このような第1及び第2内部電極121、122の厚さは、用途によって決定されることができ、例えば、セラミック本体110の大きさ及び容量を考慮して、0.2~1.0μmの範囲内にあるように決定されることができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
内部電極121、122に含まれる導電性金属は、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、パラジウム(Pd)、銀(Ag)、金(Au)、白金(Pt)、スズ(Sn)、タングステン(W)、チタン(Ti)及びこれらの合金のうち一つ以上であることができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
本発明の一実施形態によると、第1及び第2外部電極130、140は上記本体上に配置され、第1金属間化合物131a及びガラス131bを含む電極層131、141及び上記電極層上に配置され、複数の金属粒子132a及び樹脂132bを含む導電性樹脂層132、142を含むことができる。
電極層131、141は、第1金属間化合物131a及びガラス131bを含み、第1及び第2内部電極121、122と直接的に連結されて外部電極と内部電極間の電気的導通を確保する。
すなわち、電極層131、141は、本体110の第3面及び第4面3、4に配置され、本体110の第3面及び第4面3、4を介して交互に露出した第1及び第2内部電極121、122とそれぞれ接触して電気的に連結されることで、第1及び第2外部電極130、140と第1及び第2内部電極121、122との間の電気的導通を確保する。
ガラス131bは、電極層131、141を形成する導電性ペーストに含まれた金属成分が焼結過程で収縮される際に、空き空間を埋めると同時に、上記外部電極及び上記本体の結合力を付与する役割を果たす。
また、ガラス131bは、導電性ペーストに含まれた金属成分が焼結過程で収縮される際に、空き空間を埋めることで電極層131、141の緻密度を高めることができる。
上記ガラス131bが電極層131、141の緻密度を高めることで、めっき液及び/または外部水分の浸透を効果的に抑制することができる。
ガラス131bは、酸化物が混合された組成であることができ、特に制限されるものではないが、ケイ素酸化物、ホウ素酸化物、アルミニウム酸化物、遷移金属酸化物、アルカリ金属酸化物及びアルカリ土金属酸化物からなる群から選択された一つ以上であることができる。上記遷移金属は亜鉛(Zn)、チタン(Ti)、バナジウム(V)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)及びニッケル(Ni)からなる群から選択され、上記アルカリ金属はリチウム(Li)、ナトリウム(Na)及びカリウム(K)からなる群から選択され、上記アルカリ土金属は、マグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、ストロンチウム(Sr)及びバリウム(Ba)からなる群から選択された一つ以上であることができる。
第1金属間化合物131aは金属成分として銅(Cu)、ニッケル(Ni)またはこれらの合金から選択される1種及びガラスを含む導電性ペーストを本体110上に塗布し、焼結して電極層131、141を形成する際に、上記導電性ペーストにさらに含まれた低融点金属と相互反応して形成されることができる。
または、低融点金属を含む導電性樹脂組成物を塗布及び乾燥して硬化熱処理し、導電性樹脂層132、142を形成する過程で、上記導電性ペーストに含まれた金属成分及び上記導電性樹脂組成物に含まれた低融点金属が相互反応して形成されることができる。
第1金属間化合物131aは、銅-スズ(Cu-Sn)及びニッケル-スズ(Ni-Sn)金属間化合物の少なくともいずれか一つを含むことができる。
すなわち、電極層131、141を形成する導電性ペーストに含まれた金属成分である銅(Cu)、ニッケル(Ni)及びこれらの合金から選択される1種と、上記導電性ペーストに含まれた低融点金属であるスズ(Sn)または導電性樹脂層を形成する導電性樹脂組成物に含まれた低融点金属であるスズ(Sn)が相互反応して銅-スズ(Cu-Sn)及びニッケル-スズ(Ni-Sn)金属間化合物の少なくともいずれか一つが形成されることができる。
電極層131、141を形成する導電性ペーストに含まれた金属粒子として銅(Cu)が含まれる場合、第1金属間化合物131aは銅-スズ(Cu-Sn)金属間化合物を含むことができ、上記銅-スズ(Cu-Sn)金属間化合物は、Cu6Sn5及びCu3Snの少なくともいずれか一つを含むことができる。
電極層131、141を形成する導電性ペーストに含まれた金属粒子としてニッケル(Ni)が含まれる場合、第1金属間化合物131aはニッケル-スズ(Ni-Sn)金属間化合物を含むことができ、上記ニッケル-スズ(Ni-Sn)金属間化合物は、Ni3Snを含むことができる。
また、電極層131、141を形成する導電性ペーストに含まれた金属粒子として銅(Cu)及びニッケル(Ni)が含まれる場合、第1金属間化合物131aはCu6Sn5、Cu3Sn及びNi3Snの少なくともいずれか一つを含むことができる。
従来の導電性樹脂層132、142は、複数の金属粒子132aが樹脂132b内で分散した形態で存在するため、電極層131、141と導電性樹脂層132、142との間の成分の差異により、めっき液及び/または外部水分浸透に脆弱であるという問題点があった。
また、外部水分浸透に脆弱である問題点を補うためには、電極層131、141の厚さを一定レベル以上に形成する必要があり、これにより外部電極130、140の厚さが増加して積層型キャパシタ100のサイズが増加するという問題が発生した。
本発明の一実施形態によると、電極層131、141は第1金属間化合物131aを含み、これによって電極層131、141と導電性樹脂層132、142との間の十分な結合力を確保することができ、界面での浮きなどを防止することができる。
また、電極層131、141は、第1金属間化合物131aを含むことにより、電極層131、141と導電性樹脂層132、142との間のめっき液及び/または外部水分浸透を防止することができ、積層型キャパシタ100の耐湿信頼性を向上させることができる。
第1金属間化合物131aは、上述したように、上記電極層を形成する導電性ペーストに含まれた金属成分と上記導電性樹脂層を形成する導電性樹脂組成物に含まれた低融点金属が相互反応して形成された金属間化合物(Intermetallic Compound)であることができる。
特に、第1金属間化合物131aは、上記低融点金属が上記導電性樹脂組成物の硬化熱処理過程で電極層131、141に拡散しながら形成されることができる。
これにより、第1金属間化合物131aは、電極層131、141と導電性樹脂層132、142との間の界面から形成されることができ、硬化熱処理条件に応じて電極層131、141に含まれたすべての金属成分が上記低融点金属と反応することができる。
すなわち、電極層131、141は第1金属間化合物131a及びガラス131bのみからなることができる。但し、上述したように、上記導電性ペーストに含まれたスズ(Sn)と相互反応して形成されることができることはもちろんである。
このように、電極層131、141に含まれた金属成分が上記低融点金属と十分に反応する場合、より好ましくは、電極層131、141に含まれた金属成分が上記低融点金属とすべて反応する場合、上記電極層131、141に含まれた金属成分と上記低融点金属間の金属-金属の結合力がさらに向上して、電極層131、141及び導電性樹脂層132、142の間の界面の浮きが発生することを抑制することができる。
また、電極層131、141に第1金属間化合物131aが形成されることで積層型キャパシタ100の耐湿信頼性が向上し、反り強度などの機械的な応力に対する抵抗性及び耐化学性の特性を向上させることができる。
追加的に、電極層131、141に含まれた金属成分が上記低融点金属と十分に反応する場合、より好ましくは、電極層131、141に含まれた金属成分が上記低融点金属とすべて反応する場合、電極層131、141の厚さを薄く形成しても、積層型キャパシタ100の耐湿信頼性がさらに向上することができる。すなわち、耐湿信頼性を確保しながらも積層型キャパシタ100をさらに小型化することができる。
本発明の一実施形態において、電極層131、141の厚さは1~15μmであることができる。電極層131、141の厚さが上記範囲内に属しても積層型キャパシタ100の耐湿信頼性は従来に比べて改善されることができる。これにより、積層型キャパシタ100を容易に小型化することができる。
本発明の一実施形態において、上記第1金属間化合物131aは上記第1及び第2内部電極121、122と直接的に接触することができる。
電極層131、141に含まれた金属成分が上記低融点金属と十分に反応する場合、より好ましくは、電極層131、141に含まれた金属成分が上記低融点金属とすべて反応して第1金属間化合物131aを形成する場合、図4に示したように、上記第1金属間化合物131aが上記第1及び第2内部電極121、122と直接的に接触して電気的に連結されることができる。
上記第1金属間化合物131aが上記第1及び第2内部電極121、122と直接的に接触する場合、第1金属間化合物131aと第1及び第2内部電極121、122の間の金属-金属結合力によって積層型キャパシタ100の機械的結合力が向上することができる。これにより、電極層131、141の固着強度が向上することができる。
本発明の一実施形態において、電極層131、141は本体110の第3面及び第4面3、4に配置されることができる。すなわち、電極層131、141が本体110の第3面及び第4面3、4のみに配置されることができる。
電極層131、141が本体110の第3面及び第4面3、4のみに配置される場合、積層型キャパシタ100の反り強度及びESRなどをさらに向上させることができる。また、積層型キャパシタ100を容易に小型化することができる。
図5を参照すると、本発明の一実施形態において、電極層231、241は、本体210の第3面及び第4面に配置され、本体210の第1、第2、第5及び第6面の一部まで延長することができる。
上記電極層が本体210の第1、第2、第5及び第6面の一部まで延長する場合、積層型キャパシタ200の固着強度及び耐腐食性などをさらに向上させることができる。
図4のB領域は、第1外部電極130の断部を拡大して示したが、第1外部電極130は、第1内部電極121と電気的に接続し、第2外部電極140は第2内部電極122と接続する差異があるのみであって、第1外部電極130と第2外部電極140の構成は類似するため、以下では、第1外部電極130を基準に説明するが、これは第2外部電極140に関する説明を含むものとする。
導電性樹脂層132は、上記電極層上に配置され、複数の金属粒子132a及び樹脂132bを含む。
樹脂132bは、電気絶縁性を有する熱硬化性樹脂を含むことができる。このとき、上記熱硬化性樹脂は、例えば、エポキシ樹脂であることができ、本発明がこれに限定されるものではない。
このような導電性樹脂層132は、電極層131、141及び導電性樹脂層132上に形成されるめっき層を電気的及び機械的に接合させる役割を果たし、積層型キャパシタ100を基板に実装する際に、機械的または熱的環境で発生する引張ストレス(stress)を吸収してクラック(crack)が発生することを防止し、基板の反り衝撃から積層型キャパシタ100を保護する役割を果たすことができる。
このとき、導電性樹脂層132は、電極層131上に樹脂132bに複数の金属粒子132aが分散された導電性樹脂組成物を塗布し、乾燥及び硬化熱処理工程を経て形成されることができる。
したがって、従来の焼成により外部電極を形成する方法とは異なり、金属粒子132aが完全に溶融されず、樹脂132b内にランダム分布に分散した形態で存在し、導電性樹脂層132内に含まれることができる。
上記複数の金属粒子132aは、銅(Cu)、銀(Ag)、銀(Ag)がコーティングされた銅(Cu)、及びスズ(Sn)がコーティングされた銅(Cu)の少なくともいずれか一つを含むことができる。
複数の金属粒子132aの大きさは0.5~3μmであることができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
導電性樹脂層132に含まれる複数の金属粒子132aは、球状だけでなく、フレーク(flake)状の金属粒子のみからなることはもちろんであり、図6に示したように球状金属粒子及びフレーク状金属粒子の混合型からなることができる。
本発明の一実施形態において、上記導電性樹脂層132は、複数の金属粒子132aを連結する導電性連結部132cをさらに含み、上記導電性連結部132cは、上記樹脂132bの硬化温度よりも低い融点を有する低融点金属を含むことができる。
導電性連結部132cは、樹脂132bの硬化温度よりも低い融点を有する低融点金属を含み、複数の金属粒子132aを囲んで互いに連結する役割を果たし、これによって本体110の内部の応力を最小化させ、高温負荷及び耐湿負荷特性を向上させることができる。
このような導電性連結部132cは、導電性樹脂層132の電気伝導度を増加させて導電性樹脂層132の抵抗を下げる役割を果たすことができる。
このとき、導電性連結部132cに含まれる低融点金属は、上記樹脂132bの硬化温度よりも低い融点を有することができる。導電性連結部132cに含まれる低融点金属の融点は300℃以下であることができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
導電性連結部132cに含まれる低融点金属はスズ(Sn)またはスズ(Sn)合金であることができ、スズ(Sn)は樹脂132bの硬化温度よりも低い融点を有するため、乾燥及び硬化熱処理工程を経る過程で溶融して導電性連結部132cが複数の金属粒子132aを覆うようになる。
一方、複数の金属粒子132aは、導電性連結部132cに含まれた低融点金属とすべて反応する場合、導電性樹脂層132内に存在しないことができる。すなわち、導電性樹脂層132が導電性連結部132b及び樹脂132cを含み、金属粒子132aを含まないことができる。
逆に、導電性樹脂層132が金属粒子132a及び樹脂132bを含み、導電性連結部132cを含まないことができることはもちろんである。
本発明の一実施形態において、導電性連結部132cは、第2金属間化合物をさらに含むことができる。
第2金属間化合物は、導電性樹脂層141を形成する導電性樹脂組成物に含まれた銅(Cu)、銀(Ag)、銀(Ag)がコーティングされた銅(Cu)及びスズ(Sn)がコーティングされた銅(Cu)から少なくともいずれか一つが低融点金属粒子であるスズ(Sn)と反応して形成された金属間化合物であることができる。
これによって、導電性連結部132cに含まれる第2金属間化合物は、Ag3Sn、Cu3Sn、及びCu6Sn5の少なくともいずれか一つを含むことができる。
本発明の一実施形態において、導電性連結部132cの少なくとも一部は上記電極層131の少なくとも一部と直接的に接触することができる。これにより、電極層131と導電性樹脂層132との間の電気的連結性をさらに向上させることができ、電極層131に含まれた第1金属間化合物131aとの金属間結合によって機械的結合力が向上し、界面での浮きなどが発生することを抑制することができる。
本発明の一実施形態において、第1及び第2外部電極130、140は、上記導電性樹脂層132、142上に配置されるめっき層をさらに含むことができる。
上記めっき層は、積層型キャパシタ100の実装特性を向上させる役割を果たす。上記めっき層はNi、Sn、Cu、Pd及びこれらの合金のうち一つ以上を含むことができ、複数の層からなることもできる。
このとき、導電性連結部132cの少なくとも一部は、上記めっき層の少なくとも一部及び上記電極層131の少なくとも一部と直接的に接触することができる。これにより、上記めっき層、導電性樹脂層132及び電極層131間の電気的連結性及び機械的結合力をさらに向上させることができる。
図4を参照すると、本発明の一実施形態において、上記めっき層は、導電性樹脂層132上に順に積層して形成されるニッケル(Ni)めっき層133及びスズ(Sn)めっき層134を含むことができる。
このとき、ニッケルめっき層133は、導電性樹脂層132の樹脂132b及び導電性連結部132cと接触する。ニッケルめっき層133は、積層型キャパシタ100を実装するとき、はんだ(solder)の溶解を防止する役割を果たす。
また、ニッケルめっき層133上に形成されたスズめっき層134は、積層型キャパシタ100を実装する際に、はんだの濡れ性を良好にする役割を果たす。
導電性樹脂層132とともに、ニッケルめっき層133及びスズめっき層134は、外部水分の浸透を防止する役割も行うことで、積層型キャパシタ100の耐湿信頼性をさらに向上させることができる。
以下では、本発明の一実施形態に係る積層型キャパシタを製造する方法について具体的に説明するが、本発明がこれに制限されるものではなく、本実施形態の積層型キャパシタの製造方法に関する説明のうち、上述した積層型キャパシタと重複される説明は省略する。
本発明の一実施形態に係る積層型キャパシタを製造する方法は、まず、チタン酸バリウム(BaTiO3)などのパウダーを含んで形成されたスラリーをキャリアフィルム(carrier film)上に塗布及び乾燥して複数個のセラミックグリーンシートを設け、これによって誘電体層及びカバーを形成することができる。
上記セラミックグリーンシートは、セラミック粉末、バインダー、及び溶剤を混合してスラリーを製造し、上記スラリーをドクターブレード法などで数μmの厚さを有するシート(sheet)状に製作したものである。
次に、上記グリーンシート上にニッケル(Ni)、銅(Cu)、パラジウム(Pd)、銀(Ag)、金(Au)、白金(Pt)、スズ(Sn)、タングステン(W)、チタン(Ti)及びこれらの合金などの導電性金属を含む内部電極用導電性ペーストをスクリーン印刷工法などで塗布して内部電極を形成する。
この後、内部電極が印刷されたグリーンシートを複数層積層し、積層体の上下面に内部電極が印刷されていないグリーンシートを複数層積層した後、焼成して本体を設けることができる。このとき、上記内部電極は、互いに異なる極性を有する第1及び第2内部電極からなることができる。
すなわち、上記本体は、誘電体層、第1及び第2内部電極とカバーを含む。上記誘電体層は、内部電極が印刷されたグリーンシートを焼成して形成されるものであり、上記カバーは、内部電極が印刷されていないグリーンシートを焼成して形成されるものである。
次に、上記本体の一面及び他面に電極層を形成する。
上記電極層は、銅(Cu)、ニッケル(Ni)、またはこれらの合金及びガラスを含む導電性ペーストを上記本体の一面及び他面に塗布することで形成することができる。また、上記導電性ペーストはスズ(Sn)をさらに含むことができる。
上記電極層を形成する方法は、ディッピング方法によって形成することができるが、これに制限されるものではなく、シートを付着または転写する方法あるいは無電解めっき法またはスパッタリング工法を用いて電極層を形成することができる。
特に、上記電極層は、上記本体の第3面及び第4面に配置されることができ、電極層を第3面及び第4面に形成するためにシートを付着する方法を採択することができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
さらに、上記電極層は、上記本体の第1、第2、第5及び第6面の一部まで延長することができ、本体の第1、第2、第5及び第6面の一部まで延長する電極層を形成するために導電性ペーストをディッピングする方法を採択することができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
上記導電性ペーストを塗布及び乾燥した後、これを焼成することによって上記電極層が形成されることができる。このとき、上記導電性ペーストに含まれたスズ(Sn)及び上記電極層に含まれた銅(Cu)、ニッケル(Ni)、またはこれらの合金が相互反応することができる。これによって、上記電極層には第1金属間化合物が形成されることができる。
次に、電極層上に複数の金属粒子及び樹脂を含む導電性樹脂組成物を塗布及び乾燥した後、硬化熱処理して複数の金属粒子及び樹脂を含む導電性樹脂層を形成することができる。
上記導電性樹脂組成物は、金属粒子として銅、銀、銀がコーティングされた銅及びスズがコーティングされた銅から選択された1種以上を含むことができる。
上記熱硬化性樹脂は、例えば、エポキシ樹脂を含むことができ、本発明がこれに限定されるものではなく、例えば、ビスフェノールA樹脂、グリコールエポキシ樹脂、ノボラックエポキシ樹脂またはこれらの誘導体のうち分子量が小さくて常温で液状である樹脂であることができる。
このとき、上記導電性樹脂組成物は、上記樹脂の硬化温度よりも低い融点を有する低融点金属を含むことができる。
低融点金属粒子としては、Sn系はんだ粉末を含むことができ、上記金属粒子、Sn系はんだ粉末、酸化膜除去剤及び4~15wt%の熱硬化性樹脂を混合した後、3-ロールミル(3-roll mill)を用いて分散させることで製造することができる。
Sn系ソルダー粉末としては、Sn、Sn96.5Ag3.0Cu0.5、Sn42Bi58及びSn72Bi28から選択された1種以上を含むことができ、上記金属粒子の大きさは0.5~3μmであることができるが、本発明がこれに限定されるものではない。
上記導電性樹脂組成物を塗布して硬化する段階において、導電性樹脂組成物に含まれた低融点金属が溶融して上記電極層上に含まれた金属成分と反応することができる。これにより、上記電極層には第1金属間化合物が形成されることができる。
特に、硬化熱処理温度、硬化熱処理時間などの効果条件によって、上記電極層内に含まれた全ての金属成分が上記低融点金属と反応して上記第1金属間化合物が形成されることができる。この場合、上記電極層には、第1金属間化合物及びガラスのみからなることができ、上記金属間化合物を形成しない金属成分が存在しないことができる。
上記硬化条件は、硬化熱処理時の昇温速度が高いほど、窒素(N2)雰囲気で硬化されるほど、等温熱処理時間が長いほど、上記金属間化合物が十分に形成されることができるが、本発明がこれに限定されるものではなく、上記金属間化合物が十分に形成され得る硬化条件であれば十分である。
また、上記導電性連結部は、導電性樹脂層141を形成する導電性樹脂組成物に含まれた上記金属粒子及び低融点金属粒子が相互反応して形成された第2金属間化合物を含むことができる。
上記金属粒子は、銅(Cu)、銀(Ag)、銀(Ag)がコーティングされた銅(Cu)、及びスズ(Sn)がコーティングされた銅(Cu)の少なくともいずれか一つを含むことができ、低融点金属粒子はSn系はんだ粉末であることができる。
また、上記導電性樹脂層上にめっき層を形成する段階をさらに含むことができ、例えば、導電性樹脂層上にニッケルめっき層を形成し、ニッケルめっき層上にスズめっき層を形成することができる。
以上、本発明の実施形態について詳細に説明したが、本発明の権利範囲はこれに限定されず、特許請求の範囲に記載された本発明の技術的思想から逸脱しない範囲内で多様な修正及び変形が可能であるということは、当技術分野の通常の知識を有する者には明らかである。
100、200 積層型キャパシタ
110、210 本体
111、211 誘電体層
112、212 上部カバー部
113、213 下部カバー部
114、115 マージン部
121、221 第1内部電極
122、222 第2内部電極
130、230 第1外部電極
140、240 第2外部電極
131、141、231、241 電極層
131a 第1金属間化合物
131b ガラス
132、142、232、242 導電性樹脂層
132a 金属粒子
132b 樹脂
132c 導電性連結部
133、143、233、243 ニッケルめっき層
134、144、234、244 スズめっき層
110、210 本体
111、211 誘電体層
112、212 上部カバー部
113、213 下部カバー部
114、115 マージン部
121、221 第1内部電極
122、222 第2内部電極
130、230 第1外部電極
140、240 第2外部電極
131、141、231、241 電極層
131a 第1金属間化合物
131b ガラス
132、142、232、242 導電性樹脂層
132a 金属粒子
132b 樹脂
132c 導電性連結部
133、143、233、243 ニッケルめっき層
134、144、234、244 スズめっき層
Claims (14)
- 誘電体層、並びに第1内部電極及び第2内部電極を含む本体と、前記本体の外側に配置され、前記第1内部電極と連結される第1外部電極及び前記第2内部電極と連結される第2外部電極を含み、
前記第1外部電極及び前記第2外部電極は、
前記本体上に配置され、第1金属間化合物及びガラスを含む電極層と、
前記電極層上に配置され、複数の金属粒子及び樹脂を含む導電性樹脂層と、を含む、積層型キャパシタ。 - 前記導電性樹脂層は、複数の金属粒子を連結する導電性連結部をさらに含み、
前記導電性連結部は、前記樹脂の硬化温度よりも低い融点を有する低融点金属を含む、請求項1に記載の積層型キャパシタ。 - 前記第1金属間化合物は、Cu6Sn5、Cu3Sn、及びNi3Snの少なくともいずれか一つを含む、請求項1に記載の積層型キャパシタ。
- 前記第1金属間化合物は、前記第1内部電極及び前記第2内部電極と直接的に接触する、請求項1に記載の積層型キャパシタ。
- 前記導電性連結部は、第2金属間化合物をさらに含む、請求項2に記載の積層型キャパシタ。
- 前記導電性連結部に含まれる第2金属間化合物は、Ag3Sn、Cu3Sn、及びCu5Sn5の少なくともいずれか一つを含む、請求項5に記載の積層型キャパシタ。
- 前記導電性連結部の少なくとも一部は、前記電極層の少なくとも一部と直接的に接触する、請求項2に記載の積層型キャパシタ。
- 前記電極層の厚さは1~15μmである、請求項1に記載の積層型キャパシタ。
- 前記本体は、前記第1内部電極及び前記第2内部電極の積層方向に互いに対向する第1面及び第2面、前記第1面及び前記第2面と連結され、互いに対向する第3面及び第4面、前記第1面~前記第4面と連結され、互いに対向する第5面及び第6面を含み、
前記電極層は、前記本体の前記第3面及び前記第4面に配置される、請求項1に記載の積層型キャパシタ。 - 前記電極層は、前記本体の前記第1面、前記第2面、前記第5面及び前記第6面の一部まで延長する、請求項9に記載の積層型キャパシタ。
- 前記導電性樹脂層に含まれた金属粒子は、銅(Cu)、銀(Ag)、銀(Ag)がコーティングされた銅(Cu)及びスズ(Sn)がコーティングされた銅(Cu)の少なくともいずれか一つを含む、請求項1に記載の積層型キャパシタ。
- 前記導電性連結部に含まれる低融点金属は、スズ(Sn)またはスズ(Sn)合金である、請求項2に記載の積層型キャパシタ。
- 前記第1外部電極及び前記第2外部電極は、前記導電性樹脂層上に配置されるめっき層をさらに含む、請求項1から12のいずれか一項に記載の積層型キャパシタ。
- 前記めっき層は、前記導電性樹脂層上に順に積層して形成されるニッケル(Ni)めっき層及びスズ(Sn)めっき層を含む、請求項13に記載の積層型キャパシタ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210149608A KR20230064236A (ko) | 2021-11-03 | 2021-11-03 | 적층형 커패시터 |
KR10-2021-0149608 | 2021-11-03 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023070005A true JP2023070005A (ja) | 2023-05-18 |
Family
ID=86145330
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022066023A Pending JP2023070005A (ja) | 2021-11-03 | 2022-04-13 | 積層型キャパシタ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11817267B2 (ja) |
JP (1) | JP2023070005A (ja) |
KR (1) | KR20230064236A (ja) |
CN (1) | CN116072427A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20230064236A (ko) * | 2021-11-03 | 2023-05-10 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 |
JP7528916B2 (ja) * | 2021-12-23 | 2024-08-06 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1993784B (zh) * | 2004-08-27 | 2011-04-13 | 株式会社村田制作所 | 层叠陶瓷电容器及其等效串联电阻调整方法 |
CN101517673B (zh) * | 2006-09-22 | 2011-12-21 | 株式会社村田制作所 | 层叠陶瓷电容器 |
JP5293506B2 (ja) * | 2009-08-31 | 2013-09-18 | Tdk株式会社 | セラミック電子部品及びセラミック電子部品の製造方法 |
US9202640B2 (en) | 2011-10-31 | 2015-12-01 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Ceramic electronic component and manufacturing method thereof |
JP6094597B2 (ja) | 2012-12-18 | 2017-03-15 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミック電子部品 |
US9892854B2 (en) * | 2015-03-12 | 2018-02-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and method for manufacturing the same |
US10446320B2 (en) * | 2016-04-15 | 2019-10-15 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer capacitor having external electrode including conductive resin layer |
KR101973433B1 (ko) * | 2016-04-15 | 2019-04-29 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 및 그 제조 방법 |
US10319527B2 (en) * | 2017-04-04 | 2019-06-11 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer capacitor |
KR101973441B1 (ko) * | 2017-07-04 | 2019-09-02 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 |
US10770230B2 (en) * | 2017-07-04 | 2020-09-08 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and method of manufacturing the same |
KR102734416B1 (ko) | 2018-11-29 | 2024-11-27 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 |
JP7053095B2 (ja) * | 2018-11-29 | 2022-04-12 | サムソン エレクトロ-メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミックキャパシタ |
KR20220084656A (ko) * | 2020-12-14 | 2022-06-21 | 삼성전기주식회사 | 적층형 전자 부품 |
KR20230064236A (ko) * | 2021-11-03 | 2023-05-10 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 |
-
2021
- 2021-11-03 KR KR1020210149608A patent/KR20230064236A/ko active Search and Examination
-
2022
- 2022-04-04 US US17/712,420 patent/US11817267B2/en active Active
- 2022-04-13 JP JP2022066023A patent/JP2023070005A/ja active Pending
- 2022-06-21 CN CN202210704220.7A patent/CN116072427A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20230135148A1 (en) | 2023-05-04 |
CN116072427A (zh) | 2023-05-05 |
KR20230064236A (ko) | 2023-05-10 |
US11817267B2 (en) | 2023-11-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10770234B2 (en) | Multilayer capacitor | |
JP7048163B2 (ja) | 積層型キャパシター及びその製造方法 | |
KR102212642B1 (ko) | 적층형 커패시터 | |
KR20250002068A (ko) | 적층형 커패시터 | |
US10770230B2 (en) | Multilayer ceramic capacitor and method of manufacturing the same | |
CN111243864B (zh) | 多层陶瓷电容器 | |
JP7239239B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法 | |
JP2023070005A (ja) | 積層型キャパシタ | |
JP7516709B2 (ja) | 積層セラミック電子部品 | |
CN114530330A (zh) | 多层电子组件 | |
US11887789B2 (en) | Multilayer electronic component | |
KR102762881B1 (ko) | 적층 세라믹 전자부품 | |
KR102762882B1 (ko) | 적층 세라믹 전자부품 | |
US20230170147A1 (en) | Multilayered electronic component | |
JP2023051672A (ja) | キャパシタ部品 | |
JP2023091739A (ja) | 積層型電子部品 | |
JP2023099459A (ja) | 積層型電子部品 | |
KR20190116165A (ko) | 적층 세라믹 전자부품 |