JP2023067578A - Magnetic resonance imaging apparatus and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態は、磁気共鳴イメージング装置及びプログラムに関する。 An embodiment of the present invention relates to a magnetic resonance imaging apparatus and program.
磁気共鳴イメージング装置(以下、適宜「MRI(Magnetic Resonance Imaging)装置」)は、静磁場、傾斜磁場、及び高周波磁場の3種の磁場を利用して核磁気共鳴を発生させ、共鳴信号の再構成処理により被検体の画像を得るものである。 A magnetic resonance imaging apparatus (hereinafter referred to as "MRI (Magnetic Resonance Imaging) apparatus" as appropriate) generates nuclear magnetic resonance using three types of magnetic fields: a static magnetic field, a gradient magnetic field, and a high-frequency magnetic field, and reconstructs resonance signals. An image of the subject is obtained by processing.
このうち、傾斜磁場は、傾斜磁場コイル及び傾斜磁場アンプによって生成される。このとき、傾斜磁場コイルには大電流が流れるため、発熱することが知られている。傾斜磁場コイルの発熱量が高くなり過ぎると、傾斜磁場コイルが故障する可能性がある。従来、故障を防止するため、傾斜磁場コイルに温度センサを設けて、傾斜磁場コイルの温度をモニタすることが行われている。 Among them, the gradient magnetic field is generated by a gradient magnetic field coil and a gradient magnetic field amplifier. At this time, it is known that a large current flows through the gradient magnetic field coil, causing heat to be generated. If the calorific value of the gradient magnetic field coil becomes too high, the gradient magnetic field coil may fail. Conventionally, in order to prevent failure, a temperature sensor is provided in the gradient magnetic field coil to monitor the temperature of the gradient magnetic field coil.
上記の温度センサは、例えば傾斜磁場コイルの内部又は周辺に設けられる。しかしながら、傾斜磁場コイルの内部構造は複雑であるため、傾斜磁場コイルの内部に温度センサを設ける構成では、温度センサのケーブルに断線が生じた場合等に温度センサを容易に交換することができず、傾斜磁場コイル自体が使用不能になる可能性がある。また、傾斜磁場コイルの周辺に温度センサを設ける構成では、内側の架台構成部品と干渉してしまう可能性がある。 The temperature sensor described above is provided, for example, inside or around the gradient magnetic field coil. However, since the internal structure of the gradient magnetic field coil is complicated, in the configuration in which the temperature sensor is provided inside the gradient magnetic field coil, the temperature sensor cannot be easily replaced when the cable of the temperature sensor is broken. , the gradient coil itself may become unusable. In addition, in the configuration in which the temperature sensor is provided around the gradient magnetic field coil, there is a possibility that it will interfere with the inner gantry components.
本発明が解決しようとする課題は、傾斜磁場コイルに温度センサを設けることなく、傾斜磁場コイルの発熱異常を検知することができる磁気共鳴イメージング装置及びプログラムを提供することである。 A problem to be solved by the present invention is to provide a magnetic resonance imaging apparatus and a program capable of detecting abnormal heat generation of a gradient magnetic field coil without providing a temperature sensor in the gradient magnetic field coil.
実施形態の磁気共鳴イメージング装置は、傾斜磁場コイルと、冷却装置と、計測部と、予測部と、演算部と、判定部とを備える。傾斜磁場コイルは、傾斜磁場を印加する。冷却装置は、冷媒を流通させることにより傾斜磁場コイルを冷却する。計測部は、冷却装置から傾斜磁場コイルに流入する冷媒の温度を示す第1温度及び傾斜磁場コイルから冷却装置に流入する冷媒の温度を示す第2温度を計測する。予測部は、傾斜磁場コイルの動作に係る動作条件に基づいて、傾斜磁場コイルを当該動作条件で動作させた際の傾斜磁場コイルの発熱量を予測値として予測する。演算部は、傾斜磁場コイルを傾斜磁場コイルの動作に係る動作条件で動作させた際に計測された第1温度と第2温度との温度差に基づいて、傾斜磁場コイルの発熱量を実測値として算出する。判定部は、予測値と実測値との差分値に基づいて、傾斜磁場コイルに異常が発生しているか否かを判定する。 A magnetic resonance imaging apparatus according to an embodiment includes a gradient magnetic field coil, a cooling device, a measurement section, a prediction section, a calculation section, and a determination section. A gradient magnetic field coil applies a gradient magnetic field. The cooling device cools the gradient magnetic field coil by circulating a coolant. The measuring unit measures a first temperature indicating the temperature of the coolant flowing from the cooling device into the gradient magnetic field coil and a second temperature indicating the temperature of the cooling device flowing from the gradient magnetic field coil to the cooling device. The prediction unit predicts, as a predicted value, the amount of heat generated by the gradient magnetic field coils when the gradient magnetic field coils are operated under the operating conditions based on the operating conditions related to the operation of the gradient magnetic field coils. The calculation unit calculates the amount of heat generated by the gradient magnetic field coil as a measured value based on the temperature difference between the first temperature and the second temperature measured when the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions related to the operation of the gradient magnetic field coil. Calculate as The determination unit determines whether or not an abnormality has occurred in the gradient magnetic field coil based on the difference value between the predicted value and the actual measurement value.
以下、図面を参照しながら、実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置(以下、適宜「MRI装置」)及びプログラムを説明する。なお、実施形態は、以下の実施形態に限られるものではない。 Hereinafter, a magnetic resonance imaging apparatus (hereinafter referred to as an "MRI apparatus" as appropriate) and a program according to an embodiment will be described with reference to the drawings. In addition, embodiment is not restricted to the following embodiments.
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係るMRI装置100の構成を示す機能ブロック図である。図1に示すように、MRI装置100は、静磁場磁石1と、傾斜磁場コイル2と、傾斜磁場電源3と、送信コイル4と、送信回路5と、受信コイル6と、受信回路7と、寝台8と、入力回路9と、ディスプレイ10と、記憶回路11と、処理回路12~15と、冷却システム200とを備える。冷却システム200には、メイン冷却装置300が接続されている。
(First embodiment)
FIG. 1 is a functional block diagram showing the configuration of the
なお、MRI装置100に、図1に示す被検体S(例えば、人体)は含まれない。また、図1に示す構成は一例に過ぎない。
Note that the
静磁場磁石1は、中空の略円筒形状(円筒の中心軸に直交する断面が楕円状となるものを含む)に形成され、内周側に形成される撮像空間に一様な静磁場を発生させる。例えば、静磁場磁石1は、永久磁石や超伝導磁石等によって実現される。 The static magnetic field magnet 1 is formed in a hollow, substantially cylindrical shape (including one having an elliptical cross section perpendicular to the central axis of the cylinder), and generates a uniform static magnetic field in the imaging space formed on the inner peripheral side. Let For example, the static magnetic field magnet 1 is realized by a permanent magnet, a superconducting magnet, or the like.
傾斜磁場コイル2は、中空の略円筒形状(円筒の中心軸に直交する断面が楕円状となるものを含む)に形成され、静磁場磁石1の内周側に配置される。傾斜磁場コイル2は、互いに直交するx軸、y軸及びz軸それぞれに沿った傾斜磁場を発生させる3つのコイルを有する。
The gradient
ここで、x軸、y軸及びz軸は、MRI装置100に固有の装置座標系を構成する。例えば、x軸の方向は、鉛直方向に設定され、y軸の方向は、水平方向に設定される。また、z軸の方向は、静磁場磁石1によって発生する静磁場の磁束の方向と同じに設定される。
Here, the x-axis, y-axis, and z-axis constitute an apparatus coordinate system unique to the
また、傾斜磁場コイル2は、内部に冷却管を備える。冷却管は、傾斜磁場コイル2の内部に螺旋状に埋設されている。冷却管は、冷却システム200から供給される冷却水を流通させる。これにより、傾斜磁場コイル2で発生した熱が冷却水に吸収され、傾斜磁場コイル2を冷却することができる。
Further, the gradient
傾斜磁場電源3は、傾斜磁場コイル2が有する3つのコイルそれぞれに個別に電流を供給することで、x軸、y軸及びz軸それぞれに沿った傾斜磁場を撮像空間に発生させる。x軸、y軸及びz軸それぞれに沿った傾斜磁場を適宜に発生させることによって、互いに直交するリードアウト方向、位相エンコード方向、及びスライス方向それぞれに沿った傾斜磁場を発生させることができる。
The gradient magnetic
ここで、リードアウト方向、位相エンコード方向、及びスライス方向それぞれに沿った軸は、撮像の対象となるスライス領域又はボリューム領域を規定するための論理座標系を構成する。なお、以下では、リードアウト方向に沿った傾斜磁場をリードアウト傾斜磁場と呼び、位相エンコード方向に沿った傾斜磁場を位相エンコード傾斜磁場と呼び、スライス方向に沿った傾斜磁場をスライス傾斜磁場と呼ぶ。 Here, axes along each of the readout direction, phase encoding direction, and slice direction constitute a logical coordinate system for defining a slice region or volume region to be imaged. Hereinafter, the gradient magnetic field along the readout direction is called the readout gradient magnetic field, the gradient magnetic field along the phase encode direction is called the phase encode gradient magnetic field, and the gradient magnetic field along the slice direction is called the slice gradient magnetic field. .
各傾斜磁場は、静磁場磁石1によって発生する静磁場に重畳され、磁気共鳴(Magnetic Resonance:MR)信号に空間的な位置情報を付与するために用いられる。具体的には、リードアウト傾斜磁場は、リードアウト方向の位置に応じてMR信号の周波数を変化させることで、MR信号にリードアウト方向に沿った位置情報を付与する。 Each gradient magnetic field is superimposed on the static magnetic field generated by the static magnetic field magnet 1 and used to give spatial position information to magnetic resonance (MR) signals. Specifically, the readout gradient magnetic field changes the frequency of the MR signal according to the position in the readout direction, thereby imparting positional information along the readout direction to the MR signal.
また、位相エンコード傾斜磁場は、位相エンコード方向に沿ってMR信号の位相を変化させることで、MR信号に位相エンコード方向の位置情報を付与する。 Also, the phase-encoding gradient magnetic field changes the phase of the MR signal along the phase-encoding direction, thereby imparting positional information in the phase-encoding direction to the MR signal.
また、スライス傾斜磁場は、撮像領域がスライス領域の場合には、スライス領域の方向、厚さ、枚数を決めるために用いられ、撮像領域がボリューム領域である場合には、スライス方向の位置に応じてMR信号の位相を変化させることで、MR信号にスライス方向に沿った位置情報を付与する。 When the imaging region is a slice region, the slice gradient magnetic field is used to determine the direction, thickness, and number of slice regions. By changing the phase of the MR signal using the MR signal, positional information along the slice direction is added to the MR signal.
送信コイル4は、中空の略円筒形状(円筒の中心軸に直交する断面が楕円状となるものを含む)に形成され、傾斜磁場コイル2の内側に配置される。送信コイル4は、送信回路5から出力されるRF(Radio Frequency)パルスを撮像空間に印加する。
The
送信回路5は、ラーモア周波数に対応するRFパルスを送信コイル4に出力する。例えば、送信回路5は、発振回路、位相選択回路、周波数変換回路、振幅変調回路、及び、RF増幅回路を有する。発振回路は、静磁場中に置かれた対象原子核に固有の共鳴周波数のRFパルスを発生する。位相選択回路は、発振回路から出力されるRFパルスの位相を選択する。
The
周波数変換回路は、位相選択回路から出力されるRFパルスの周波数を変換する。振幅変調回路は、周波数変換回路から出力されるRFパルスの振幅を例えばsinc関数に従って変調する。RF増幅回路は、振幅変調回路から出力されるRFパルスを増幅して送信コイル4に出力する。
A frequency conversion circuit converts the frequency of the RF pulse output from the phase selection circuit. The amplitude modulation circuit modulates the amplitude of the RF pulse output from the frequency conversion circuit according to, for example, a sinc function. The RF amplifier circuit amplifies the RF pulse output from the amplitude modulation circuit and outputs the amplified RF pulse to the
受信コイル6は、傾斜磁場コイル2の内側に配置され、RFパルスの影響によって被検体Sから発せられるMR信号を受信する。受信コイル6は、MR信号を受信すると、受信したMR信号を受信回路7へ出力する。
The receiving coil 6 is arranged inside the gradient
受信回路7は、受信コイル6から出力されるMR信号に基づいてMR信号データを生成し、生成したMR信号データを処理回路13に出力する。例えば、受信回路7は、選択回路、前段増幅回路、位相検波回路、及び、アナログデジタル変換回路を有する。選択回路は、受信コイル6から出力されるMR信号を選択的に入力する。
The receiving circuit 7 generates MR signal data based on the MR signal output from the receiving coil 6 and outputs the generated MR signal data to the
前段増幅回路は、選択回路から出力されるMR信号を増幅する。位相検波回路は、前段増幅器から出力されるMR信号の位相を検波する。アナログデジタル変換回路は、位相検波器から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換することでMR信号データを生成し、生成したMR信号データを処理回路13に出力する。
The pre-amplifier circuit amplifies the MR signal output from the selection circuit. The phase detection circuit detects the phase of the MR signal output from the preamplifier. The analog-to-digital conversion circuit converts the analog signal output from the phase detector into a digital signal to generate MR signal data, and outputs the generated MR signal data to the
なお、ここでは、送信コイル4がRFパルスを印加し、受信コイル6がMR信号を受信する場合の例を説明するが、送信コイル及び受信コイルの形態はこれに限られない。例えば、送信コイル4が、MR信号を受信する受信機能をさらに有してもよい。また、受信コイル6が、RF磁場を印加する送信機能をさらに有していてもよい。
An example in which the
送信コイル4が受信機能を有している場合は、受信回路7は、送信コイル4によって受信されたMR信号からもMR信号データを生成する。また、受信コイル6が送信機能を有している場合は、送信回路5は、受信コイル6にもRFパルスを出力する。
If the
寝台8は、被検体Sが載置される天板8aを備え、被検体Sの撮像が行われる際に、静磁場磁石1及び傾斜磁場コイル2の内側に形成される撮像空間へ天板8aを挿入する。例えば、寝台8は、長手方向が静磁場磁石1の中心軸と平行になるように設置される。
The
入力回路9は、操作者から各種指示及び各種情報の入力操作を受け付ける。例えば、入力回路9は、トラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード、タッチパネル等によって実現される。入力回路9は、処理回路15に接続されており、操作者から受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路15へ出力する。
The
ディスプレイ10は、各種情報及び各種画像を表示する。例えば、ディスプレイ10は、液晶モニタやCRT(Cathode Ray Tube)モニタ、タッチパネル等によって実現される。ディスプレイ10は、処理回路15に接続されており、処理回路15から送られる各種情報及び各種画像のデータを表示用の電気信号に変換して出力する。
The
記憶回路11は、各種データを記憶する。例えば、記憶回路11は、MR信号データや画像データを被検体Sごとに記憶する。例えば、記憶回路11は、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子やハードディスク、光ディスク等によって実現される。 The storage circuit 11 stores various data. For example, the storage circuit 11 stores MR signal data and image data for each subject S. For example, the storage circuit 11 is realized by a RAM (Random Access Memory), a semiconductor memory device such as a flash memory, a hard disk, an optical disk, or the like.
処理回路12は、寝台制御機能12aを有する。例えば、処理回路12は、プロセッサによって実現される。
The processing circuit 12 has a
寝台制御機能12aは、寝台8に接続されており、制御用の電気信号を寝台8へ出力することで、寝台8の動作を制御する。例えば、寝台制御機能12aは、入力回路9を介して、天板8aを長手方向、上下方向又は左右方向へ移動させる指示を操作者から受け付け、受け付けた指示に従って天板8aを移動するように、寝台8が有する天板8aの駆動機構を動作させる。
The
処理回路13は、シーケンス制御機能13aを有する。例えば、処理回路13は、プロセッサによって実現される。シーケンス制御機能13aは、各種のプロトコルを実行する。なお、シーケンス制御機能13aは、第1制御部の一例である。具体的には、シーケンス制御機能13aは、処理回路15から出力されるシーケンス実行データに基づいて傾斜磁場電源3、送信回路5及び受信回路7を駆動することで、各種プロトコルを実行する。
The
ここで、シーケンス実行データは、MR信号データを収集するための手順を示すプロトコルを定義した情報である。具体的には、シーケンス実行データは、傾斜磁場電源3が傾斜磁場コイル2に電流を供給するタイミング及び供給される電流の強さ、送信回路5が送信コイル4に供給するRFパルス電流の強さや供給タイミング、受信回路7がMR信号を検出する検出タイミング等を定義した情報である。
Here, the sequence execution data is information defining a protocol indicating procedures for acquiring MR signal data. Specifically, the sequence execution data includes the timing and strength of the current supplied by the gradient magnetic
また、シーケンス制御機能13aは、各種パルスシーケンスを実行した結果として、受信回路7からMR信号データを受信し、受信したMR信号データを記憶回路11に格納する。
The
なお、シーケンス制御機能13aによって受信されたMR信号データの集合は、前述したリードアウト傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁場、及びスライス傾斜磁場によって付与された位置情報に応じて2次元又は3次元に配列されることで、k空間を構成するデータとして記憶回路11に格納される。
The set of MR signal data received by the
また、シーケンス制御機能13aは、冷却水の目標温度を含む温度制御信号を冷却システム200に送信する。冷却水の目標温度は、実行するプロトコルによって傾斜磁場コイル2の発熱量が異なるため、プロトコルに応じて変化させることが好ましい。具体的には、発熱量が大きいプロトコルほど、冷却水の目標温度を低く設定することが好ましい。なお、冷却水の目標温度は、例えば、プロトコルと冷却水の目標温度とを対応付けた目標温度決定テーブルによって決定することができる。
The
冷却システム200は、温度制御信号に基づいて、傾斜磁場コイル2の温度を制御する。以下、冷却システム200について説明する。
The
冷却システム200は、温度が調整された水を傾斜磁場コイル2の冷却管に流す。例えば、冷却システム200は、傾斜磁場コイル2の冷却管に、低温の水を流すことで、傾斜磁場コイルを冷却する。また、例えば、傾斜磁場コイル2の冷却管に温水を流すことで傾斜磁場コイル2を加熱する。
The
冷却システム200は、傾斜磁場コイル2の冷却管を流れて戻ってくる水の温度を調整し、再び冷却管に流す。このようにして、冷却システム200は、傾斜磁場コイル2との間で水を循環させることで、傾斜磁場コイル2の温度を制御する。
The
次に、本実施形態に係る冷却システム200の構成について説明する。図2は、実施形態に係る冷却システム200の構成を示すブロック図である。図2に示すように、冷却システム200は、傾斜磁場コイル用冷却装置220と、弁240aと、弁240bと、温度センサ260aと、温度センサ260bとを有する。
Next, the configuration of the
弁240a及び240bは、傾斜磁場コイル用冷却装置220による制御のもと、メイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220から傾斜磁場コイル2に供給される冷却水の流れを制御する。
The
これら弁240a及び240bは、メイン冷却装置300によって供給される冷却水及びまたは傾斜磁場コイル用冷却装置220によって供給される冷却水の何れか一方のみを傾斜磁場コイル2に流通させることができる。
These
また、弁240a及び240bは、メイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220の各冷却装置から供給される冷却水を混合して傾斜磁場コイル2に流通させることもでき、混合する冷却水の比率を適宜に調整することも可能である。
In addition, the
温度センサ260a及び温度センサ260bは、冷却水の温度を計測する。温度センサ260aは、メイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220の各冷却装置から傾斜磁場コイル2に供給される冷却水の温度である第1温度を計測する。温度センサ260bは、傾斜磁場コイル2からメイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220の各冷却装置へ戻ってくる冷却水の温度である第2温度を計測する。
A
温度センサ260a及び温度センサ260bは、計測結果を傾斜磁場コイル用冷却装置220へ送信する。後述する処理回路15は、傾斜磁場コイル用冷却装置220から第1温度及び第2温度を取得し、傾斜磁場コイル2の発熱量の実測値の演算を行う。
The
メイン冷却装置300は、傾斜磁場コイル2の冷却管に冷却水を流通させる。具体的には、このメイン冷却装置300は、弁240aを経由する流通経路を介して、一定の温度の冷却水を傾斜磁場コイル2に流入させる。
The
また、メイン冷却装置300は、弁240bを経由する流通経路を介して、傾斜磁場コイル2から流出する冷却水を取り込む。なお、図2では図示を省略しているが、メイン冷却装置300は、傾斜磁場コイル2以外の各種ユニットにも冷却水を流通させる。
In addition, the
傾斜磁場コイル用冷却装置220は、メイン冷却装置300と傾斜磁場コイル2との間に設けられた冷却水の流通経路を介して、傾斜磁場コイル2に冷却水を流通させる。この傾斜磁場コイル用冷却装置220は、処理回路13、処理回路15、弁240a、弁240b、温度センサ260a、及び温度センサ260b、それぞれと通信可能に接続されている。
The gradient magnetic field
具体的には、傾斜磁場コイル用冷却装置220は、弁240aを介して、メイン冷却装置300から傾斜磁場コイル2に通じる流通経路に、メイン冷却装置300によって供給される冷却水よりも温度が高い冷却水を供給する。また、傾斜磁場コイル用冷却装置220は、弁240bを介して、傾斜磁場コイル2から流出した冷却水の一部を取り込む。
Specifically, the gradient magnetic field
そして、本実施形態では、この傾斜磁場コイル用冷却装置220が、メイン冷却装置300から傾斜磁場コイル2に流通する冷却水の状態を制御することで、傾斜磁場コイル2に流入する冷却水の温度を変化させる。これにより、本実施形態では、スキャン中に生じる発熱の大きさに応じて傾斜磁場コイル2の温度変化が抑えられるようにしている。以下、係る傾斜磁場コイル用冷却装置220について詳細に説明する。
In the present embodiment, the gradient
まず、本実施形態に係る傾斜磁場コイル用冷却装置220の構成について説明する。図3は、実施形態に係る傾斜磁場コイル用冷却装置220の構成を示すブロック図である。図3に示すように、傾斜磁場コイル用冷却装置220は、ヒータ221と、冷却制御部222とを有する。
First, the configuration of the gradient
ヒータ221は、傾斜磁場コイル用冷却装置220によって供給される冷却水を加熱する。例えば、ヒータ221は、冷却制御部222による制御のもと、冷却水を加熱する加熱温度を変えることによって、傾斜磁場コイル用冷却装置220から供給される冷却水の温度を適宜に調整する。
The
冷却制御部222は、温度制御信号に基づいて、傾斜磁場コイル用冷却装置220によって供給される冷却水の水温が、冷却水の目標温度になるように冷却システム200を制御する。
The cooling
具体的には、冷却制御部222は、弁240a、弁240b、及びヒータ221を制御し、傾斜磁場コイル2に流入させる冷却水の温度を、シーケンス制御機能13aから受け取った温度制御信号に含まれる目標温度に調整する。
Specifically, the cooling
冷却制御部222は、弁制御信号を送信することによって、メイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220から供給される冷却水を混合して傾斜磁場コイル2に流入させるように弁240a及び240bを制御する。
The cooling
なお、冷却制御部222は、目標温度に調整した冷却水の供給を開始してから、シーケンス制御機能13aによるプロトコルの実行が終了するまでは冷却水の温度調整処理を行わない。これは、傾斜磁場コイル2に供給する水温と、傾斜磁場コイル2から戻ってくる水温との温度差に基づいて、傾斜磁場コイル2の発熱量を算出するためである。
The cooling
図1に戻り、説明を続ける。処理回路14は、画像生成機能14aを有する。例えば、処理回路14は、プロセッサによって実現される。画像生成機能14aは、記憶回路11に格納されたMR信号データに基づいて画像を生成する。 Returning to FIG. 1, the description is continued. The processing circuit 14 has an image generation function 14a. For example, processing circuitry 14 is implemented by a processor. The image generation function 14 a generates an image based on the MR signal data stored in the memory circuit 11 .
具体的には、画像生成機能14aは、シーケンス制御機能13aによって記憶回路11に格納されたMR信号データを読み出し、読み出したMR信号データに後処理すなわちフーリエ変換等の再構成処理を施すことで画像を生成する。また、画像生成機能14aは、生成した画像の画像データを記憶回路11に格納する。
Specifically, the image generation function 14a reads the MR signal data stored in the storage circuit 11 by the
処理回路15は、MRI装置100が有する各構成要素を制御することで、MRI装置100の全体制御を行う。例えば、処理回路15は、プロセッサによって実現される。例えば、処理回路15は、設定機能15aと、予測機能15bと、取得機能15cと、演算機能15dと、判定機能15eと、停止制御機能15fと、表示制御機能15gとを有する。
The
なお、予測機能15bは、予測部の一例である。また、演算機能15dは、演算部の一例である。また、判定機能15eは、判定部の一例である。停止制御機能15fは、第2制御部の一例である。また、表示制御機能15gは、報知部の一例である。
Note that the
設定機能15aは、各種のプロトコルを実行するようにシーケンス制御機能13aを制御する。具体的には、設定機能15aは、操作者から、被検体Sの検査において実行されるプロトコル群及びプロトコル群に含まれる各プロトコルのパラメータをプロトコルの撮像条件として受け付ける。また、設定機能15aは、受け付けたプロトコルの撮像条件を記憶回路11に格納することによりプロトコルの撮像条件を設定する。
The
ここで、撮像条件とは、撮像に当たって設定される条件のことである。例えば、撮像条件には、撮像時間、TR(Repetition Time)、TE(Echo Time)、FA(Flip Angle)、スライス数(NS(Number Of Slice))、FOV(Field Of View)、スライス厚(ST(Slice Thickness))等の他、傾斜磁場コイル2の動作に係るパルスシーケンスの周波数やデュ―ティサイクル等の動作条件が含まれる。
Here, the imaging conditions are conditions set for imaging. For example, the imaging conditions include imaging time, TR (Repetition Time), TE (Echo Time), FA (Flip Angle), number of slices (NS (Number Of Slice)), FOV (Field Of View), slice thickness (ST (Slice Thickness)) and other operating conditions such as the frequency and duty cycle of the pulse sequence relating to the operation of the gradient
つまり、シーケンス制御機能13aによりプロトコルが実行されると、傾斜磁場コイル2は、当該プロトコルに設定された動作条件で動作することになる。以下では、傾斜磁場コイル2の動作条件を、当該動作条件を包含する撮像条件と表記したり、プロトコルと表記したりもする。
That is, when the protocol is executed by the
また、本実施形態における検査とは、例えば、1つ以上のプロトコルの集合である。1つの検査は、1人の被検体Sに対して実施される。また、1つのプロトコルでは、例えば、1つのパルスシーケンスに応じた撮像等のデータ収集が行われる。 Further, a test in this embodiment is, for example, a set of one or more protocols. One examination is performed on one subject S. FIG. In one protocol, for example, data acquisition such as imaging is performed according to one pulse sequence.
例えば、設定機能15aは、表示制御機能15gと協働し、プロトコルの撮像条件を受け付けるための撮像条件設定画面をディスプレイ10に表示させて、操作者によるプロトコルの撮像条件の入力を、入力回路9を介して受け付ける。
For example, the
そして、設定機能15aは、受け付けたプロトコルの撮像条件を記憶回路11に格納するとともに、受け付けたプロトコルの撮像条件に従ってシーケンス実行データを生成する。設定機能15aは、生成したシーケンス実行データを処理回路13へ出力する。
The
例えば、設定機能15aは、記憶回路11にプリセットされた複数のプロトコル群の中から操作者により選択されたプロトコル群を、被検体Sの検査にて実行予定のプロトコル群として設定する。また、設定機能15aは、操作者により設定された撮像時間等の各種のパラメータも撮像条件として設定する。
For example, the
なお、設定されたプロトコル群のそれぞれのプロトコルは、設定機能15aにより、予め設定された順序で順番に取り出され、取り出されたプロトコルに従った各種の撮像等のデータ収集が行われる。
Each protocol in the set protocol group is sequentially retrieved in a preset order by the
プロトコルとしては、例えば、「locator」、「shimming」、「EPI」、「DWI」、「TOF」、「T2WI」、「T1WI」、「3D」、「T2*WI」等が挙げられる。「locator」は、位置決め用画像の撮像を行うためのプロトコルである。また、「shimming」は、磁場(例えば静磁場)の均一性を調整するためのプロトコルである。なお、プロトコル「shimming」では、RFパルスの中心周波数の計測も行われる。 Examples of protocols include "locator", "shimming", "EPI", "DWI", "TOF", "T2WI", "T1WI", "3D", and "T2*WI". “locator” is a protocol for capturing positioning images. Also, "shimming" is a protocol for adjusting the homogeneity of a magnetic field (eg, a static magnetic field). Note that the protocol "shimming" also measures the center frequency of the RF pulse.
また、「EPI」は、エコープラナーイメージング(EPI)スキャンによる撮像を行うためのプロトコルである。また、「DWI」は、拡散強調画像(diffusion weighted image)の撮像を行うためのプロトコルである。また、「TOF」は、TOF(Time of Flight)法による撮像を行うためのプロトコルである。また、「T2WI」は、横緩和強調画像(T2 weighted image)の撮像を行うためのプロトコルである。 "EPI" is a protocol for imaging by echo planar imaging (EPI) scanning. "DWI" is a protocol for imaging a diffusion weighted image. Also, "TOF" is a protocol for imaging by the TOF (Time of Flight) method. "T2WI" is a protocol for capturing a transverse relaxation weighted image (T2 weighted image).
また、「T1WI」は、縦緩和強調画像(T1 weighted image)の撮像を行うためのプロトコルである。また、「3D」は、3次元の画像の撮像を行うためのプロトコルである。また「T2*WI」は、T2*強調画像(T2 star weighted image)の撮像を行うためのプロトコルである。 "T1WI" is a protocol for capturing a longitudinal relaxation weighted image (T1 weighted image). "3D" is a protocol for capturing three-dimensional images. "T2*WI" is a protocol for capturing a T2* weighted image (T2 star weighted image).
予測機能15bは、傾斜磁場コイル2の動作に係る動作条件に基づいて、傾斜磁場コイル2を当該動作条件で動作させた際の傾斜磁場コイル2の発熱量を予測値として予測する。
The
具体的には、予測機能15bは、プロトコルの撮像条件に基づいて、プロトコルの実行時に傾斜磁場コイル2に発生する発熱量を予測する。例えば、予測機能15bは、パルスシーケンスの周波数(波形)等に基づいて、設定機能15aにより設定されたプロトコルを実行した場合での傾斜磁場コイル2の発熱量を予測する。また、設定機能15aにより複数のプロトコルが設定された場合には、予測機能15bは、プロトコル毎に発熱量を予測する。以下、演算機能15dが予測した発熱量を「予測値」ともいう。
Specifically, the
なお、発熱量の予測方法は特に限らず、公知の技術を用いることが可能である。例えば、予測機能15bは、プロトコルと、当該プロトコルの実行時に実測された発熱量とを対応付けた設定テーブルを用いて、発熱量の予測値を特定してもよい。また、予測機能15bは、プロトコルから、当該プロトコルの実行時に実測された発熱量を導出すること可能な関係式やモデル(後述の温度変化予測モデル)を用いて、発熱量の予測値を導出してもよい。
Note that the method for predicting the amount of heat generated is not particularly limited, and a known technique can be used. For example, the
例えば、予測機能15bは、「温度変化予測モデル」を予め準備し、この「温度変化予測モデル」を用いて、プロトコルの実行前に、傾斜磁場コイル2の温度変化を予測してもよい。
For example, the
「温度変化予測モデル」は、例えば、MRI装置100の開発段階に導出されるものである。この場合、開発段階のMRI装置100の傾斜磁場コイル2には、傾斜磁場コイル2の温度を測定する温度センサが設けられる。なお、温度センサは、例えば、傾斜磁場コイル2において、温度上昇し易い部分や、熱が溜まり易い部分等の代表点に設けられる。
The “temperature change prediction model” is derived, for example, during the development stage of the
開発段階のMRI装置100は、傾斜磁場コイル2に異常が見られない状態における、冷却水の温度や実行するパルスシーケンスのデューティーサイクル等に関するデータ、及び、傾斜磁場コイル2の温度のデータ等のデータを収集する。「温度変化予測モデル」は、例えば、収集したデータに基づいて、冷却水の温度や実行するパルスシーケンスのデューティーサイクル等と、傾斜磁場コイル2の温度変化との関係を数式で表したものである。
The
つまり、「温度変化予測モデル」は、傾斜磁場コイル2に異常が見られない状態で(正常時に)各種パルスシーケンスを実行した場合に、傾斜磁場コイル2の温度がどのように変化するかを表すモデルであると言える。
In other words, the "temperature change prediction model" represents how the temperature of the gradient
なお、「温度変化予測モデル」は、機械学習や深層学習等により生成されたものであってもよい。この場合、「温度変化予測モデル」は、例えば、冷却水の温度や実行するパルスシーケンスのデューティーサイクル等のデータの入力に応じて、傾斜磁場コイル2の温度変化を表す情報を出力するように機能付けられた学習済みモデルである。
The "temperature change prediction model" may be generated by machine learning, deep learning, or the like. In this case, the "temperature change prediction model" functions to output information representing the temperature change of the gradient
この場合、予測機能15bは、プロトコルの実行前に、「温度変化予測モデル」、及び、プロトコル実行前における冷却水の温度や実行するパルスシーケンスのデューティーサイクル等のデータに基づいて、傾斜磁場コイル2の温度変化を予測する。
In this case, the
判定機能15eは、予測機能15bにより予測された傾斜磁場コイル2の温度上昇に基づいて算出される傾斜磁場コイル2の発熱量の予測値と、プロトコル実行開始時の第1温度及びプロトコル実行終了時の第2温度に基づいて算出される傾斜磁場コイル2の発熱量の実測値とに基づいて、傾斜磁場コイル2に異常が生じているか否かを判定する。
The determination function 15e calculates a predicted value of the amount of heat generated by the gradient
「温度変化予測モデル」を用いて予測を行うことにより、MRI装置100は、正常時に、冷却水の温度や実行するパルスシーケンスのデューティーサイクル等と共に収集した傾斜磁場コイル2の温度のデータに基づいて、傾斜磁場コイル2の温度上昇を予測することができる。したがって、より高い精度で、傾斜磁場コイルの異常を検知することができる。
By making a prediction using the "temperature change prediction model", the
取得機能15cは、温度センサ260a、260bが計測した第1温度及び第2温度を傾斜磁場コイル用冷却装置220から取得する。具体的には、取得機能15cは、シーケンス制御機能13aがプロトコルを実行した際に計測された前記第1温度と前記第2温度とを取得する。
The acquisition function 15c acquires the first temperature and the second temperature measured by the
例えば、取得機能15cは、プロトコルの実行が開始した時点の第1温度を取得する。また、取得機能15cは、プロトコルの実行が終了した時点の第2温度を取得する。また、複数のプロトコルが実行される場合には、取得機能15cは、プロトコル毎に第1温度及び第2温度を取得する。 For example, the acquisition function 15c acquires the first temperature at the time when execution of the protocol is started. Also, the acquisition function 15c acquires the second temperature at the time when the execution of the protocol is finished. Moreover, when a plurality of protocols are executed, the acquisition function 15c acquires the first temperature and the second temperature for each protocol.
なお、本実施形態では、取得機能15cは、傾斜磁場コイル用冷却装置220を介して第1温度及び第2温度を取得するが、この構成に限定されるものではない。例えば、温度センサ260a及び温度センサ260bと処理回路15とを通信可能に接続することで、取得機能15cが、温度センサ260a及び温度センサ260bから第1温度及び第2温度を直接取得する構成としてもよい。
In this embodiment, the acquisition function 15c acquires the first temperature and the second temperature via the gradient
演算機能15dは、シーケンス制御機能13aがプロトコルを実行した際に計測された第1温度と第2温度との温度差に基づいて、傾斜磁場コイル2の発熱量を実測値として算出する。
The
例えば、演算機能15dは、プロトコルの実行開始時に取得された第1温度と、プロトコルの実行終了時に取得された第2温度との温度差に基づいて、プロトコルの実行により傾斜磁場コイル2に生じた発熱量を算出する。例えば、演算機能15dは、第1温度から第2温度まで、冷却水の温度を変化させるのに必要な熱量を傾斜磁場コイル2の発熱量として算出する。以下、演算機能15dが算出した発熱量を「実測値」ともいう。
For example, the
実測値の算出方法は、特に問わず、種々の方法を採用することができる。 Various methods can be adopted for the method of calculating the actual measurement value.
例えば、演算機能15dは、シーケンス制御機能13aによるプロトコル実行時における単位時間あたりの傾斜磁場コイル2の発熱量を実測値として算出してもよい。この場合、取得機能15cは、プロトコル実行中の任意のタイミングで計測された第1温度を取得する。次いで、取得機能15cは、第1温度を取得してから、所定時間(1単位時間)経過後に計測された第2温度を取得する。
For example, the
そして、演算機能15dは、取得機能15cにより取得された、プロトコル実行中の任意のタイミングで計測された第1温度と、第1温度取得後、1単位時間経過時点で計測された第2温度との温度差に基づいて、単位時間あたりの傾斜磁場コイル2の発熱量を実測値として算出する。なお、この場合、予測機能15bは、単位時間あたりの傾斜磁場コイル2の発熱量を予測する。
Then, the
判定機能15eは、予測機能15bにより算出された発熱量の予測値と、演算機能15dにより算出された発熱量の実測値との差分値に基づいて、傾斜磁場コイル2に異常が生じているか否かを判定する。例えば、判定機能15eは、演算機能15dにより算出された発熱量の実測値から、予測機能15bにより算出された発熱量の予測値を減算した差分値に基づいて、傾斜磁場コイル2に異常が生じているか否かを判定する。
The determination function 15e determines whether an abnormality has occurred in the gradient
具体的には、判定機能15eは、実測値から予測値を減算した差分値が、正常判定用に設定された所定の閾値範囲の上限値となる第1閾値(但し、第1閾値は0より大きな正値)を超える場合、傾斜磁場コイル2が異常発熱していると判定する。これは、実際の傾斜磁場コイル2の発熱量が、予測した傾斜磁場コイル2の発熱量よりも大きくなっていることを表している。
Specifically, the determination function 15e sets the difference value obtained by subtracting the predicted value from the actual measurement value to a first threshold value that is the upper limit value of a predetermined threshold range set for normal determination (however, the first threshold value large positive value), it is determined that the gradient
なお、第1閾値は、実行するプロトコル毎に異ならせることが好ましい。その理由は、傾斜磁場コイル2の発熱量が、プロトコルに設定された動作条件(周波数等、パルスシーケンスの特性等)によって変化するからであり、プロトコルによって動作条件が異なるためである。したがって、第1閾値は、プロトコルに設定された傾斜磁場コイル2の動作条件に応じて定めることが好ましい。
Note that the first threshold is preferably different for each protocol to be executed. This is because the amount of heat generated by the gradient
例えば、交流状のパルス電圧を印加するAC系のパルスシーケンスでは、傾斜磁場を高速に断続することになるため、渦電流が発生しやすくなる。渦電流が発生することにより、傾斜磁場コイル2における磁束の鎖交が多くなる部分が生じる。当該部分が発熱することにより、局所的な発熱が生じるため、冷却水による冷却効率が低い。
For example, in an AC-based pulse sequence in which an alternating-current pulse voltage is applied, the gradient magnetic field is intermittent at high speed, so eddy currents are likely to occur. Due to the generation of eddy currents, portions of the gradient
かかるパルスシーケンスは、例えば「EPI」等のプロトコルで使用される。このため、AC系のパルスシーケンスでは、傾斜磁場コイル2の発熱異常が起こった場合、実測値と予測値との乖離が大きく現れる傾向がある。
Such pulse sequences are used, for example, in protocols such as "EPI". For this reason, in the AC pulse sequence, when the gradient
一方、直流状のパルス電圧を印加するDC系のパルスシーケンスでは、全体的な発熱となり、冷却水による冷却効率が高い。かかるパルスシーケンスは、例えば「DWI」等のプロトコルで使用される。このため、DC系のパルスシーケンスでは、傾斜磁場コイル2の発熱異常が起こったとしても、実測値と予測値との乖離は、AC系のパルスシーケンスの実行中に傾斜磁場コイル2の発熱異常が起こった場合よりも小さくなる。
On the other hand, in a DC pulse sequence in which a direct-current pulse voltage is applied, heat is generated as a whole, and the cooling efficiency of cooling water is high. Such pulse sequences are used, for example, in protocols such as "DWI". Therefore, in the DC pulse sequence, even if the gradient
したがって、AC系のパルスシーケンスを実行するプロトコルの方が、DC系のパルスシーケンスを実行するプロトコルよりも、第1閾値を大きく設定することが好ましい。このように、実行するプロトコル(パルスシーケンス)の特性に応じて第1閾値を設定することで、傾斜磁場コイル2の発熱異常をより正確に検出することができる。
Therefore, it is preferable to set the first threshold value larger for a protocol that executes an AC pulse sequence than for a protocol that executes a DC pulse sequence. By setting the first threshold in accordance with the characteristics of the protocol (pulse sequence) to be executed in this way, it is possible to more accurately detect abnormal heating of the gradient
また、傾斜磁場コイル2が異常発熱する原因としては、冷水系の異常(流量不足、供給水温高い等)、コイルの異常(接続部の接触抵抗増大に伴う発熱等)、プロトコル設定の異常(温度管理上限を超えた設定等)等が挙げられる。なお、異常発熱の原因に応じて、差分値の大きさが変化すると考えられるため、判定機能15eは、差分値の大きさに応じて、異常発熱の原因を判定できるようにしてもよい。
In addition, the causes of abnormal heat generation in the gradient
また、判定機能15eは、実測値から予測値を減算した差分値が、閾値範囲の下限値となる第2閾値(但し、第2閾値は0未満の負値)を下回る場合、傾斜磁場コイル2の冷却不良が生じていると判定する。これは、実際の傾斜磁場コイル2で発生した熱を冷却水が吸収できていないことを表している。なお、第2閾値は、第1閾値と同様に、実行するプロトコル毎に異ならせてもよい。傾斜磁場コイル2の冷却不良が生じる原因としては、傾斜磁場コイル2の冷却管に詰まりがあること等が挙げられる。
Further, the determination function 15e determines that the difference value obtained by subtracting the predicted value from the actual measurement value falls below a second threshold value (where the second threshold value is a negative value less than 0), which is the lower limit value of the threshold range, the gradient
また、判定機能15eは、差分値が、第2閾値≦差分値≦第1閾値の閾値範囲に収まる場合、傾斜磁場コイル2は正常であると判定する。
Further, the determination function 15e determines that the gradient
なお、判定機能15eは、傾斜磁場コイル2に異常が生じていると判定した場合、つまり差分値が、第2閾値≦差分値≦第1閾値の閾値範囲から逸脱した場合に、異常の種別を判定してもよい。この場合、判定機能15eは、上述した第1閾値又は第2閾値と、差分値との関係から異常の種別を判定する。
Note that when the determination function 15e determines that an abnormality has occurred in the gradient
例えば、判定機能15eは、差分値が第1閾値を超える場合、異常の種別として、傾斜磁場コイル2に発熱異常が生じていると判定する。また、例えば、判定機能15eは、差分値が第2閾値を下回る場合、異常の種別として、傾斜磁場コイル2の冷却不良が生じていると判定する。
For example, when the difference value exceeds the first threshold value, the determination function 15e determines that the gradient
停止制御機能15fは、傾斜磁場コイル2に発熱異常が生じていると判定された場合に、プロトコルの実行を停止することで、MRI装置100による撮像を停止する。具体的には、停止制御機能15fは、判定機能15eにより、傾斜磁場コイル2に異常が生じていると判定された場合、シーケンス制御機能13aと協働し、プロトコルの実行を停止する。
The
なお、停止制御機能15fは、後述の表示制御機能15gと協働し、操作者の停止指示を受け付けることでMRI装置100による撮像を停止してもよい。具体的には、停止制御機能15fは、後述の表示制御機能15gと協働し、操作者にMRI装置100による撮像を停止させるよう促すメッセージを報知する。その後、操作者から停止指示を受け付けた場合、停止制御機能15fは、MRI装置100による撮像を停止する。
Note that the
表示制御機能15gは、MRI装置100に関する表示を制御する。例えば、表示制御機能15gは、操作者から要求された画像の画像データを記憶回路11から読み出し、読み出した画像データが示す画像をディスプレイ10に表示させる制御を行う。
The
また、例えば、表示制御機能15gは、判定機能15eにより、傾斜磁場コイル2に異常が生じていると判定された場合、操作者にその旨を報知するため、異常発生を報知するメッセージをディスプレイ10に表示させる制御を行う。なお、表示制御機能15gは、冷水系の異常、コイルの異常、プロトコル設定の異常、冷却不良等の傾斜磁場コイル2の異常の種別の報知を行ってもよい。
Further, for example, when the judgment function 15e judges that the gradient
ここで、例えば、処理回路15の構成要素である設定機能15a、予測機能15b、取得機能15c、演算機能15d、判定機能15e、停止制御機能15f、及び表示制御機能15gの各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路11に記憶されている。
Here, for example, the processing functions of the
処理回路15は、各プログラムを記憶回路11から読み出し、読み出した各プログラムを実行することで、各プログラムに対応する機能を実現する。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路15は、図1の処理回路15内に示された各機能を有することとなる。
The
なお、図1においては、単一の処理回路15にて、設定機能15a、予測機能15b、取得機能15c、演算機能15d、判定機能15e、停止制御機能15f、及び表示制御機能15gの各処理機能が実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路15を構成し、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても構わない。
Note that in FIG. 1, the
上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central processing unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。 The term "processor" used in the above description is, for example, a CPU (central processing unit), a GPU (Graphics Processing Unit), or an application specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device (e.g., Circuits such as Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA)).
なお、記憶回路11にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。 Instead of storing the program in the memory circuit 11, the program may be directly installed in the circuit of the processor. In this case, the processor implements its functions by reading and executing the program embedded in the circuit.
また、処理回路12と処理回路13と処理回路14と処理回路15とのうち、いくつか又は全ては、同一のプロセッサで実現してもよい。
Also, some or all of the processing circuit 12, the
次に、第1実施形態に係るMRI装置100が実行する処理について説明する。図4は、第1実施形態に係るMRI装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
Next, processing executed by the
まず、設定機能15aは、実行予定のプロトコルの撮像条件を設定する(ステップS1)。具体的には、設定機能15aは、操作者から、プロトコルのパラメータをプロトコルの撮像条件として受け付けて、受け付けたプロトコルの撮像条件を設定する。
First, the
次いで、予測機能15bは、実行予定のプロトコルの撮像条件に基づいて、プロトコル実行時の傾斜磁場コイル2の発熱量の予測値を算出する(ステップS2)。具体的には、予測機能15bは、設定機能15aにより設定されたプロトコルや、当該プロトコルの撮像条件(例えばパルスシーケンスの特性等)に基づいて、当該プロトコルの実行により傾斜磁場コイル2が発する発熱量を予測する。
Next, the
次いで、処理回路13のシーケンス制御機能13aは、設定機能15aで設定されたプロトコルを実行する(ステップS3)。具体的には、シーケンス制御機能13aは、設定機能15aにより設定されたプロトコルの撮像条件に従い、プロトコルを実行する。
Next, the
このとき、シーケンス制御機能13aは、目標温度決定テーブルに基づいて、冷却水の目標温度を決定し、当該目標温度を含む温度制御信号を生成する。シーケンス制御機能13aは、生成した温度制御信号を傾斜磁場コイル用冷却装置220へ送信する。
At this time, the
傾斜磁場コイル用冷却装置220は、メイン冷却装置300と協働し、温度制御信号に従って冷却水の温度を調整し、傾斜磁場コイル2へ冷却水の供給を開始する。この後、取得機能15cは、シーケンス制御機能13aによるプロトコルの実行開始時における第1温度、及び、プロトコルの実行終了時における第2温度を取得する。
The gradient magnetic field
次いで、演算機能15dは、傾斜磁場コイル2の発熱量の実測値を算出する(ステップS4)。具体的には、演算機能15dは、取得機能15cにより取得された、プロトコルの実行開始時における第1温度と、プロトコルの実行終了時における第2温度と、に基づいて、傾斜磁場コイル2の発熱量を実測値として算出する。
Next, the
次いで、判定機能15eは、予測値と実測値との差を算出する(ステップS5)。具体的には、判定機能15eは、演算機能15dで算出された傾斜磁場コイル2の発熱量の実測値から予測機能15bで算出された傾斜磁場コイル2の発熱量の予測値を減算し、差分値を算出する。
Next, the determination function 15e calculates the difference between the predicted value and the measured value (step S5). Specifically, the determination function 15e subtracts the predicted value of the calorific value of the gradient
次いで、判定機能15eは、予測値と実測値との差分値に基づいて、傾斜磁場コイル2に異常が生じているか否かを判定する(ステップS6)。具体的には、算出した差分値が第1閾値を超える場合、又は第2閾値を下回る場合、判定機能15eは、傾斜磁場コイル2に異常が生じていると判定する。それ以外の場合、判定機能15eは、傾斜磁場コイル2に異常が生じていないと判定する。
Next, the determination function 15e determines whether or not there is an abnormality in the gradient
傾斜磁場コイル2に異常が生じていない場合(ステップS6:No)、本処理を終了する。一方、傾斜磁場コイル2に異常が生じている場合(ステップS6:Yes)、停止制御機能15fは、シーケンス制御機能13aと協働し、スキャンを停止する制御を行い、本処理を終了する(ステップS7)。なお、停止制御と合わせて、表示制御機能15gによる異常の報知を行ってもよい。
If no abnormality has occurred in the gradient magnetic field coil 2 (step S6: No), this process is terminated. On the other hand, if there is an abnormality in the gradient magnetic field coil 2 (step S6: Yes), the
以上に述べた第1実施形態に係るMRI装置100は、実行されるプロトコルの撮像条件に基づいて、傾斜磁場コイル2の発熱量の予測値を算出し、傾斜磁場コイル用冷却装置220から供給される冷却水の温度である第1温度と、傾斜磁場コイル2からメイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220の各冷却装置に戻ってくる冷却水の温度である第2温度とに基づいて、傾斜磁場コイル2の発熱量の実測値を算出し、予測値と実測値との差に基づいて、傾斜磁場コイル2の異常の有無を判定する。
The
これにより、撮像条件に基づいて予測した傾斜磁場コイル2の発熱量と、第1温度及び第2温度から算出した実際の傾斜磁場コイル2の発熱量とを比較することができる。傾斜磁場コイル2に異常がある場合、予測値と実測値との間に乖離が生じるため、第1実施形態に係るMRI装置100によれば、傾斜磁場コイル2に温度センサを設けることなく、傾斜磁場コイル2の異常を検知することができる。
Thereby, the amount of heat generated by the gradient
また、予測値と実測値との乖離の閾値は、実行するパルスシーケンスの特性に基づいて、定められる。実行するパルスシーケンスの基本周波数が変化すると、傾斜磁場コイル2の発熱の仕方も変化するため、実行するパルスシーケンスに応じて、予測値と実測値との乖離の閾値を変化させることで、より正確に傾斜磁場コイル2の異常を検知することができる。
Also, the threshold value of the divergence between the predicted value and the measured value is determined based on the characteristics of the pulse sequence to be executed. When the fundamental frequency of the pulse sequence to be executed changes, the manner in which the gradient
(第2実施形態)
第2実施形態は第1実施形態を基にしたものである。第1実施形態との相違点は、傾斜磁場コイル2の発熱量ではなく、プロトコル実行終了時における第2温度を予測することにある。以下では、主に第2実施形態と第1実施形態との相違点を説明し、重複する説明を適宜省略する。
(Second embodiment)
The second embodiment is based on the first embodiment. The difference from the first embodiment is that the second temperature at the end of protocol execution is predicted instead of the amount of heat generated by the gradient
図5は、第2実施形態に係るMRI装置100aの構成を示す機能ブロック図である。第2実施形態に係るMRI装置100aは、予測機能15h及び判定機能15iを有する点、並びに、演算機能15dを有しない点で第1実施形態と異なる。
FIG. 5 is a functional block diagram showing the configuration of the
予測機能15hは、傾斜磁場コイル2の動作に係る動作条件と、予測を行う時点で計測された第1温度とに基づいて、傾斜磁場コイル2を当該動作条件で動作させた際に計測される第2温度を予測値として予測する。
The
具体的には、予測機能15hは、実行予定のプロトコルに基づいて、シーケンス制御機能13aによるプロトコル実行時の傾斜磁場コイル2からメイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220の各冷却装置に流入する冷却水の温度である第2温度の予測値を算出する。
Specifically, the
例えば、予測機能15hは、設定機能15aにより設定されたプロトコル(パルスシーケンスの波形等)に基づいて、当該プロトコルを実行した場合に温度センサ260bで計測される第2温度の予測値を算出する。なお、設定機能15aにより複数のプロトコルが設定されている場合、予測機能15bは、プロトコル毎に、プロトコル実行時の第2温度の予測値を算出する。
For example, the
なお、プロトコル実行時の第2温度の予測方法は特に限らず、公知の技術を用いることが可能である。例えば、予測機能15hは、プロトコルと、当該プロトコルの実行時に実測された第2温度とを対応付けた設定テーブルを用いて、第2温度の予測値を特定してもよい。また、予測機能15hは、プロトコルの実行時の実測値から導出された、プロトコルから当該プロトコル実行時の第2温度を導出すること可能な関係式やモデルを用いて、第2温度の予測値を導出してもよい。
Note that the method of predicting the second temperature during protocol execution is not particularly limited, and a known technique can be used. For example, the
また、予測機能15hは、プロトコル実行開始時点の第2温度に基づいて、プロトコル実行時の第2温度の予測値を補正してもよい。これは、直前に実行したプロトコルの影響で傾斜磁場コイル2の温度が高くなり、結果、第2温度も高くなっている場合があるためである。これにより、より精度の高い第2温度の予測が可能になる。
Further, the
判定機能15iは、第2温度の予測値と、傾斜磁場コイル2を動作させた際に計測された第2温度の実測値との温度差に基づいて、傾斜磁場コイル2に異常が発生しているか否かを判定する。
The
具体的には、判定機能15iは、取得機能15cにより取得された、プロトコル実行終了時に計測された第2温度の実測値から予測機能15bにより算出された傾斜磁場コイル2の第2温度の予測値を減算した差分値を求める。そして、判定機能15iは、差分値の大きさに基づいて、傾斜磁場コイル2に異常が生じているか否かを判定する。
Specifically, the
例えば、判定機能15iは、実測値と予測値との差分値が第1閾値(但し、第1閾値は0より大きな正値)を超える場合、傾斜磁場コイル2が異常発熱していると判定する。また、判定機能15iは、差分値が第2閾値(但し、第2閾値は0未満の負値)を下回る場合、傾斜磁場コイル2の冷却不良が生じていると判定する。
For example, the
また、判定機能15iは、差分値が、第2閾値≦差分値≦第1閾値の範囲にある場合、傾斜磁場コイル2は正常であると判定する。また、判定機能15iは、傾斜磁場コイル2の異常の種別を判定してもよい。この場合、判定機能15iは、第1閾値又は第2閾値と、差分値との関係から異常の種別を判定する。
Moreover, the
例えば、判定機能15iは、差分値が第1閾値を超える場合、異常の種別として、傾斜磁場コイル2に発熱異常が生じていると判定する。また、例えば、判定機能15iは、差分値が第2閾値を下回る場合、異常の種別として、傾斜磁場コイル2の冷却不良が生じていると判定する。
For example, when the difference value exceeds the first threshold, the
次に、第2実施形態に係るMRI装置100aの処理について説明する。図6は、第2実施形態に係るMRI装置100aが実行する処理の一例を示すフローチャートである。
Next, processing of the
まず、ステップS11は、図4のステップS1と同様の処理のため、説明を省略する。ステップS11の処理後、予測機能15hは、実行予定のプロトコルの撮像条件に基づいて、プロトコル実行時の第2温度の予測値を算出する(ステップS12)。具体的には、予測機能15hは、設定機能15aにより設定されたプロトコルの撮像条件に含まれるパルスシーケンスの波形等に基づいて、プロトコル実行時の第2温度の予測値を算出する。
First, since step S11 is the same process as step S1 in FIG. 4, description thereof is omitted. After the process of step S11, the
ステップS13は、図4のステップS3と同様の処理のため、説明を省略する。ステップS13の処理後、取得機能15cは、第2温度の実測値を取得する(ステップS14)。具体的には、取得機能15cは、プロトコルの実行終了時における第2温度を、第2温度の実測値として取得する。 Since step S13 is the same process as step S3 in FIG. 4, description thereof is omitted. After the process of step S13, the acquisition function 15c acquires the measured value of the second temperature (step S14). Specifically, the acquisition function 15c acquires the second temperature at the end of execution of the protocol as the measured value of the second temperature.
次いで、判定機能15iは、予測値と実測値との差を算出する(ステップS15)。具体的には、判定機能15iは、取得機能15cにより取得された第2温度の実測値から予測機能15hにより算出された第2温度の予測値を減算し、差分値を算出する。以下の処理ステップS16及びステップS17の処理は、図4のステップS6及びステップS7と同様の処理のため、説明を省略する。
Next, the
以上に述べた第2実施形態に係るMRI装置100aは、実行されるプロトコルの撮像条件に基づいて、プロトコル実行時の第2温度の予測値を算出し、プロトコル実行時の第2温度の実測値を取得し、予測値と実測値との差に基づいて、傾斜磁場コイル2の異常の有無を判定する。
The
これにより、計測した冷却水の温度を直接用いて、傾斜磁場コイル2の異常を検知することができる。つまり、第2実施形態に係るMRI装置100aによれば、第1実施形態と同様の効果に加え、処理負荷を軽減させる効果を奏すると考えられる。
As a result, an abnormality in the gradient
また、第2実施形態に係るMRI装置100aは、プロトコル実行開始時点の第2温度に基づいて、プロトコル実行時の第2温度の予測値を補正する。これにより、直前に実行したプロトコルの影響を考慮した予測値を算出することができる。つまり、より精度の高い第2温度の予測が可能になる。
Further, the
なお、上述した第1実施形態及び第2実施形態は、MRI装置100(MRI装置100a)が有する構成又は機能の一部を変更することで、適宜に変形して実施することも可能である。そこで、以下では、上述した実施形態に係るいくつかの変形例を他の実施形態として説明する。なお、以下では、上述した実施形態と異なる点を主に説明することとし、既に説明した内容と共通する点については詳細な説明を省略する。また、以下で説明する変形例は、個別に実施されてもよいし、適宜組み合わせて実施されてもよい。
It should be noted that the above-described first and second embodiments can be appropriately modified and implemented by changing part of the configuration or functions of the MRI apparatus 100 (
(変形例)
本変形例では、シーケンス制御機能13aによるプロトコルの実行前に、メイン冷却装置300及び傾斜磁場コイル用冷却装置220の各冷却装置から傾斜磁場コイル2に供給される冷却水の温度である第1温度に応じて、プロトコルの撮像条件を調整する形態について説明する。
(Modification)
In this modification, before the protocol is executed by the
図7は、変形例に係るMRI装置100bの構成を示す機能ブロック図である。変形例2に係るMRI装置100は、予測機能15j及び判定機能15kを有する点、及び、調整機能15lを有する点で上記実施形態と異なる。
FIG. 7 is a functional block diagram showing the configuration of an
予測機能15jは、「温度変化予測モデル」に基づいて、傾斜磁場コイル2の発熱量を予測する。
The
判定機能15kは、予測機能15jにより予測された傾斜磁場コイル2の温度上昇に基づいて算出される傾斜磁場コイル2の発熱量の予測値と、プロトコル実行開始時の第1温度及びプロトコル実行終了時の第2温度に基づいて算出される傾斜磁場コイル2の発熱量の実測値とに基づいて、傾斜磁場コイル2に異常が生じているか否かを判定する。
The
調整機能15lは、プロトコルの実行前に、プロトコルの撮像条件を調整する。具体的には、調整機能15lは、取得機能15cにより取得された、プロトコル実行前における第1温度が予め定めた第3閾値を超える場合、プロトコルの撮像条件に含まれるデューティーサイクル等を調整する。より具体的には、調整機能15lは、「温度変化予測モデル」において平常時に対するオフセットを考慮して、デューティーサイクル等を調整する。 The adjusting function 15l adjusts the imaging conditions of the protocol before executing the protocol. Specifically, the adjustment function 15l adjusts the duty cycle and the like included in the imaging conditions of the protocol when the first temperature before protocol execution, which is acquired by the acquisition function 15c, exceeds a predetermined third threshold. More specifically, the adjustment function 15l adjusts the duty cycle and the like in consideration of the offset from normal in the "temperature change prediction model".
次に、変形例に係るMRI装置100bが実行するプロトコルの調整処理について説明する。図8は、変形例に係るMRI装置100bが実行するプロトコルの調整処理の一例を示すフローチャートである。
Next, protocol adjustment processing executed by the
まず、取得機能15cは、シーケンス制御機能13aによりプロトコルが実行される前に、第1温度を取得する(ステップS31)。次いで、調整機能15lは、プロトコル実行前の第1温度が第3閾値を超えているか否かを確認する(ステップS32)。
First, the acquisition function 15c acquires the first temperature before the protocol is executed by the
第3閾値を超えていない場合(ステップS32:No)、本処理を終了する。一方、第3閾値を超えている場合(ステップS32:Yes)、調整機能15lは、プロトコルの撮像条件を調整し、本処理を終了する(ステップS33)。具体的には、調整機能15lは、「温度変化予測モデル」において平常時に対するオフセットを考慮して、デューティーサイクル等を調整する。 If the third threshold is not exceeded (step S32: No), this process is terminated. On the other hand, if the third threshold is exceeded (step S32: Yes), the adjustment function 15l adjusts the imaging conditions of the protocol and ends this process (step S33). Specifically, the adjustment function 15l adjusts the duty cycle and the like in consideration of the offset from the normal time in the "temperature change prediction model".
本変形例によれば、連続的に撮像を行ったこと等により、傾斜磁場コイル用冷却装置220から傾斜磁場コイル2に供給される冷却水の温度の調整が追い付かず、供給される冷却水の温度が上昇してしまっているような場合に、デューティーサイクル等を調整することにより、傾斜磁場コイル2の発熱量を抑制することができる。
According to this modification, due to continuous imaging, the adjustment of the temperature of the cooling water supplied from the gradient
したがって、本変形例に係るMRI装置100によれば、傾斜磁場コイル用冷却装置220から傾斜磁場コイル2に供給される冷却水の温度が上昇して冷却性能が低下し、MRI装置100による撮像が停止されてしまう可能性が高まっているような場合でも、プロトコルの撮像条件を調整することにより、MRI装置100の動作を継続させることができる。
Therefore, according to the
以上述べた少なくとも1つの実施形態又は変形例に係るMRI装置によれば、傾斜磁場コイルに温度センサを設けることなく、傾斜磁場コイルの発熱異常を検知することができる。 According to the MRI apparatus according to at least one embodiment or modified example described above, it is possible to detect abnormal heating of the gradient magnetic field coil without providing the gradient magnetic field coil with a temperature sensor.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and spirit of the invention as well as the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.
100 MRI装置
2 傾斜磁場コイル
3 傾斜磁場電源
4 送信コイル
5 送信回路
6 受信コイル
7 受信回路
8 寝台
8a 天板
9 入力回路
10 ディスプレイ
11 記憶回路
12 処理回路
12a 寝台制御機能
13 処理回路
13a シーケンス制御機能
14 処理回路
14a 画像生成機能
15 処理回路
15a 設定機能
15b、15h、15j 予測機能
15c 取得機能
15d 演算機能
15e、15i、15k 判定機能
15f 停止制御機能
15g 表示制御機能
200 冷却システム
220 傾斜磁場コイル用冷却装置
221 ヒータ
222 冷却制御部
240a 弁
240b 弁
300 メイン冷却装置
S 被検体
100
Claims (12)
冷媒を流通させることにより前記傾斜磁場コイルを冷却する冷却装置と、
前記冷却装置から前記傾斜磁場コイルに流入する冷媒の温度を示す第1温度及び前記傾斜磁場コイルから前記冷却装置に流入する冷媒の温度を示す第2温度を計測する計測部と、
前記傾斜磁場コイルの動作に係る動作条件に基づいて、前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させることで発生する前記傾斜磁場コイルの発熱量を予測値として予測する予測部と、
前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させた際に計測された前記第1温度と前記第2温度との温度差に基づいて、前記傾斜磁場コイルの発熱量を実測値として算出する演算部と、
前記予測値と前記実測値との差分値に基づいて、前記傾斜磁場コイルに異常が発生しているか否かを判定する判定部と、
を備える磁気共鳴イメージング装置。 a gradient magnetic field coil that applies a gradient magnetic field;
a cooling device that cools the gradient magnetic field coil by circulating a coolant;
a measuring unit that measures a first temperature indicating the temperature of coolant flowing from the cooling device into the gradient magnetic field coil and a second temperature indicating the temperature of the coolant flowing into the cooling device from the gradient magnetic field coil;
a prediction unit that predicts, as a predicted value, an amount of heat generated by the gradient magnetic field coil generated by operating the gradient magnetic field coil under the operating condition, based on an operating condition related to the operation of the gradient magnetic field coil;
a calculation unit that calculates the amount of heat generated by the gradient magnetic field coil as a measured value based on the temperature difference between the first temperature and the second temperature measured when the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions; ,
a determination unit that determines whether or not an abnormality has occurred in the gradient magnetic field coil based on the difference value between the predicted value and the measured value;
A magnetic resonance imaging apparatus comprising.
冷媒を流通させることにより前記傾斜磁場コイルを冷却する冷却装置と、
前記冷却装置から前記傾斜磁場コイルに流入する冷媒の温度を示す第1温度及び前記傾斜磁場コイルから前記冷却装置に流入する冷媒の温度を示す第2温度を計測する計測部と、
前記傾斜磁場コイルの動作に係る動作条件と、予測を行う時点で計測された前記第1温度とに基づいて、前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させた際に計測される前記第2温度を予測値として予測する予測部と、
前記第2温度の予測値と、前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させた際に計測された前記第2温度の実測値との温度差に基づいて、前記傾斜磁場コイルに異常が発生しているか否かを判定する判定部と、
を備える磁気共鳴イメージング装置。 a gradient magnetic field coil that applies a gradient magnetic field;
a cooling device that cools the gradient magnetic field coil by circulating a coolant;
a measuring unit that measures a first temperature indicating the temperature of coolant flowing from the cooling device into the gradient magnetic field coil and a second temperature indicating the temperature of the coolant flowing into the cooling device from the gradient magnetic field coil;
The second temperature measured when the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions based on the operating conditions related to the operation of the gradient magnetic field coil and the first temperature measured at the time of prediction. a prediction unit that predicts as a predicted value;
An abnormality occurs in the gradient magnetic field coil based on the temperature difference between the predicted value of the second temperature and the measured value of the second temperature measured when the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions. A determination unit that determines whether or not
A magnetic resonance imaging apparatus comprising.
請求項2に記載の磁気共鳴イメージング装置。 The prediction unit corrects the predicted value based on the second temperature before the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions.
3. The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 2.
前記プロトコルに含まれた前記動作条件に基づいて、前記傾斜磁場コイルを動作させる第1制御部と、
を更に備える、
請求項1乃至3の何れか1項に記載の磁気共鳴イメージング装置。 a setting unit for setting a protocol that defines an examination method for a subject;
a first control unit that operates the gradient magnetic field coil based on the operating conditions included in the protocol;
further comprising
4. The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
請求項1乃至4の何れか1項に記載の磁気共鳴イメージング装置。 When the difference value obtained by subtracting the predicted value from the measured value deviates from a predetermined threshold range, the determination unit determines that an abnormality has occurred in the gradient magnetic field coil.
5. The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
請求項5に記載の磁気共鳴イメージング装置。 If the difference value obtained by subtracting the predicted value from the actual measurement value exceeds a first threshold that is the upper limit value of the threshold range, the determination unit determines that the gradient magnetic field coil has an abnormal heat generation.
6. A magnetic resonance imaging apparatus according to claim 5.
請求項6に記載の磁気共鳴イメージング装置。 The first threshold is determined according to the fundamental frequency of the pulse sequence defined as the operating condition,
7. A magnetic resonance imaging apparatus according to claim 6.
請求項5乃至7の何れか1項に記載の磁気共鳴イメージング装置。 If the difference value obtained by subtracting the predicted value from the actual measurement value is below a second threshold value that is the lower limit value of the threshold range, the determination unit determines that poor cooling of the gradient magnetic field coil has occurred.
8. The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 5.
請求項5乃至8の何れか1項に記載の磁気共鳴イメージング装置。 Further comprising a notification unit that notifies when the determination unit determines that an abnormality has occurred in the gradient magnetic field coil,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 5 to 8.
請求項1乃至7の何れか1項に記載の磁気共鳴イメージング装置。 Further comprising a second control unit that stops the operation of the gradient magnetic field coil when it is determined that the gradient magnetic field coil has an abnormal heat generation,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 7.
冷媒を流通させることにより前記傾斜磁場コイルを冷却する冷却装置と、
前記冷却装置から前記傾斜磁場コイルに流入する冷媒の温度を示す第1温度及び前記傾斜磁場コイルから前記冷却装置に流入する冷媒の温度を示す第2温度を計測する計測部と、を備える磁気共鳴イメージング装置のコンピュータに、
前記傾斜磁場コイルの動作に係る動作条件に基づいて、前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させた際の前記傾斜磁場コイルの発熱量を予測値として予測する予測ステップと、
前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させた際に計測された前記第1温度と前記第2温度との温度差に基づいて、前記傾斜磁場コイルの発熱量を実測値として算出する演算ステップと、
前記予測値と前記実測値との差分値に基づいて、前記傾斜磁場コイルに異常が発生しているか否かを判定する判定ステップと、
を実行させるプログラム。 a gradient magnetic field coil that applies a gradient magnetic field;
a cooling device that cools the gradient magnetic field coil by circulating a coolant;
a measuring unit for measuring a first temperature indicating the temperature of the refrigerant flowing from the cooling device into the gradient magnetic field coil and a second temperature indicating the temperature of the refrigerant flowing from the gradient magnetic field coil to the cooling device. on the computer of the imaging device,
a prediction step of predicting, as a predicted value, an amount of heat generated by the gradient magnetic field coil when the gradient magnetic field coil is operated under the operating condition, based on an operating condition related to the operation of the gradient magnetic field coil;
a calculation step of calculating the amount of heat generated by the gradient magnetic field coil as a measured value based on the temperature difference between the first temperature and the second temperature measured when the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions; ,
a determination step of determining whether or not an abnormality has occurred in the gradient magnetic field coil based on the difference value between the predicted value and the measured value;
program to run.
冷媒を流通させることにより前記傾斜磁場コイルを冷却する冷却装置と、
前記冷却装置から前記傾斜磁場コイルに流入する冷媒の温度を示す第1温度及び前記傾斜磁場コイルから前記冷却装置に流入する冷媒の温度を示す第2温度を計測する計測部と、を備える磁気共鳴イメージング装置のコンピュータに、
前記傾斜磁場コイルの動作に係る動作条件と、予測を行う時点で計測された前記第1温度とに基づいて、前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させた際に計測される前記第2温度を予測値として予測する予測ステップと、
前記第2温度の予測値と、前記傾斜磁場コイルを前記動作条件で動作させた際に計測された前記第2温度の実測値との温度差に基づいて、前記傾斜磁場コイルに異常が発生しているか否かを判定する判定ステップと、
を実行させるプログラム。 a gradient magnetic field coil that applies a gradient magnetic field;
a cooling device that cools the gradient magnetic field coil by circulating a coolant;
a measuring unit for measuring a first temperature indicating the temperature of the refrigerant flowing from the cooling device into the gradient magnetic field coil and a second temperature indicating the temperature of the refrigerant flowing from the gradient magnetic field coil to the cooling device. on the computer of the imaging device,
The second temperature measured when the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions based on the operating conditions related to the operation of the gradient magnetic field coil and the first temperature measured at the time of prediction. a prediction step of predicting as a predicted value;
An abnormality occurs in the gradient magnetic field coil based on the temperature difference between the predicted value of the second temperature and the measured value of the second temperature measured when the gradient magnetic field coil is operated under the operating conditions. a determination step of determining whether or not
program to run.
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