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JP2021195129A - Flap inspection device and flap inspection method - Google Patents

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JP2021195129A
JP2021195129A JP2020100256A JP2020100256A JP2021195129A JP 2021195129 A JP2021195129 A JP 2021195129A JP 2020100256 A JP2020100256 A JP 2020100256A JP 2020100256 A JP2020100256 A JP 2020100256A JP 2021195129 A JP2021195129 A JP 2021195129A
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Shinichi Chiba
章平 大友
Shohei Otomo
哲也 岩本
Tetsuya Iwamoto
栄一 鶴間
Eiichi Tsuruma
哲也 白鳥
Tetsuya Shiratori
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Abstract

To provide a flap inspection device and a flap inspection method capable of detecting a flap abnormality with higher accuracy.SOLUTION: A flap inspection device according to one embodiment is the flap inspection device for inspecting a first flap B1 and a second flap B2 of a packing body B provided with the first flap B1 and the second flap B2 covering an opening. The flap inspection device includes a sensor that detects a step between the surface of the first flap B1 and the surface of the second flap B2, and a control section that determines that the first flap B1 and the second flap B2 are abnormal when the value of the step detected by the sensor is equal to or higher than a threshold value.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本開示は、フラップ検査装置及びフラップ検査方法に関する。 The present disclosure relates to a flap inspection device and a flap inspection method.

従来から、段ボール箱等におけるフラップの異常を検査するフラップ検査装置としては種々のものが知られている。特開2011−240978号公報には、フラップ折れ込み不良検知装置が記載されている。フラップ折れ込み不良検知装置は、制御部と、フラップ検知センサと、判定結果出力装置とを備える。フラップ検知センサは、可視光線を用いた距離センサである。フラップ検知センサは、搬送されるカートンの前面に可視光線を照射して当該前面からの反射光を受けてカートンまでの距離を測定する。判定結果出力装置は、フラップ検出センサによって測定された距離が所定の閾値から逸脱したときに、フラップの折れ込みの不良が生じていると判定し、当該判定結果を出力する。 Conventionally, various flap inspection devices for inspecting flap abnormalities in corrugated cardboard boxes and the like have been known. Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-240978 describes a flap folding defect detecting device. The flap folding defect detection device includes a control unit, a flap detection sensor, and a determination result output device. The flap detection sensor is a distance sensor using visible light. The flap detection sensor irradiates the front surface of the transported carton with visible light, receives the reflected light from the front surface, and measures the distance to the carton. When the distance measured by the flap detection sensor deviates from a predetermined threshold value, the determination result output device determines that a flap fold defect has occurred and outputs the determination result.

特開2011−240978号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-240978

ところで、前述したように、距離センサを用いてフラップの折れ込み等の異常を検出する場合には、フラップの異常の検出の精度において改善の余地がある。カートンの前面に可視光線を照射してカートンとの距離を測定する場合には、例えば、搬送ラインに対して斜めに搬送されたカートンを異常と判定する可能性がある。すなわち、フラップの状態が正常であるにもかかわらず、斜めに搬送されたカートンが異常と判定される可能性がある。従って、フラップの状態が正常であるカートンを異常であると誤判定する懸念がある。また、前述した距離センサを用いてフラップの異常を判定する場合には、フラップの間に紙屑が挟まっている異常等を検出できない可能性がある。よって、より高精度にフラップの異常を検出することが求められている。 By the way, as described above, when an abnormality such as a flap fold is detected by using a distance sensor, there is room for improvement in the accuracy of detecting the flap abnormality. When the front surface of the carton is irradiated with visible light to measure the distance to the carton, for example, the carton transported diagonally to the transport line may be determined to be abnormal. That is, even though the flap condition is normal, a carton transported diagonally may be determined to be abnormal. Therefore, there is a concern that a carton with a normal flap condition may be erroneously determined to be abnormal. Further, when the above-mentioned distance sensor is used to determine the abnormality of the flap, there is a possibility that the abnormality or the like in which paper scraps are caught between the flaps cannot be detected. Therefore, it is required to detect flap abnormalities with higher accuracy.

本開示は、フラップの異常をより高精度に検出することができるフラップ検査装置及びフラップ検査方法を提供することを目的とする。 It is an object of the present disclosure to provide a flap inspection device and a flap inspection method capable of detecting flap abnormalities with higher accuracy.

本開示に係るフラップ検査装置は、開口を覆う第1フラップ及び第2フラップを備えた梱包体の第1フラップ及び第2フラップを検査するフラップ検査装置であって、第1フラップの表面と第2フラップの表面との間の段差を検出するセンサと、センサによって検出された段差の値が閾値以上である場合に、第1フラップ及び第2フラップが異常であると判定する異常判定部と、を備える。 The flap inspection device according to the present disclosure is a flap inspection device for inspecting the first flap and the second flap of a package having the first flap and the second flap covering the opening, and is a flap inspection device for inspecting the surface of the first flap and the second flap. A sensor that detects a step between the flap surface and an abnormality determination unit that determines that the first flap and the second flap are abnormal when the value of the step detected by the sensor is equal to or greater than the threshold value. Be prepared.

このフラップ検査装置では、第1フラップの表面と第2フラップの表面との段差をセンサが検出する。そして、センサによって検出された段差の値が閾値以上である場合に、第1フラップ及び第2フラップが異常であると異常判定部が判定する。よって、第1フラップの表面と第2フラップの表面との間に形成された段差をセンサによって検出し、当該段差の値に応じて第1フラップ及び第2フラップの異常判定が行われる。すなわち、第1フラップと第2フラップとの段差から異常判定を行うので、第1フラップの位置と第2フラップの位置との位置関係から異常判定がなされる。従って、第1フラップと第2フラップの位置関係から異常判定を行うことにより、斜めに搬送された梱包体でフラップの状態が正常であるものを異常と判定しないようにすることができる。よって、第1フラップ及び第2フラップの異常判定を高精度に行うことができる。また、第1フラップ及び第2フラップの位置関係から異常判定を行うことにより、第1フラップと第2フラップとの間に挟まれた抜き屑の検出を行うことができる。従って、フラップの異常をより高精度に判定することができる。 In this flap inspection device, a sensor detects a step between the surface of the first flap and the surface of the second flap. Then, when the value of the step detected by the sensor is equal to or greater than the threshold value, the abnormality determination unit determines that the first flap and the second flap are abnormal. Therefore, the step formed between the surface of the first flap and the surface of the second flap is detected by the sensor, and the abnormality determination of the first flap and the second flap is performed according to the value of the step. That is, since the abnormality determination is performed from the step between the first flap and the second flap, the abnormality determination is made from the positional relationship between the position of the first flap and the position of the second flap. Therefore, by performing the abnormality determination from the positional relationship between the first flap and the second flap, it is possible to prevent the slanted package from which the flap is in a normal state from being determined as an abnormality. Therefore, the abnormality determination of the first flap and the second flap can be performed with high accuracy. Further, by performing the abnormality determination from the positional relationship between the first flap and the second flap, it is possible to detect the debris sandwiched between the first flap and the second flap. Therefore, the flap abnormality can be determined with higher accuracy.

センサは、一体の段差検出センサであってもよい。この場合、1つの段差検出センサを配置すればよいので、センサの構成を簡易にすることができる。更に、複数のセンサを備える場合と比較して、複数のセンサの測定結果の比較を行わずに1台の段差検出センサで段差の測定を行うことができるので、測定精度を高めることができる。 The sensor may be an integrated step detection sensor. In this case, since one step detection sensor may be arranged, the sensor configuration can be simplified. Further, as compared with the case where a plurality of sensors are provided, the step can be measured by one step detection sensor without comparing the measurement results of the plurality of sensors, so that the measurement accuracy can be improved.

センサは、搬送されている梱包体の第1フラップ及び第2フラップにレーザ光を照射して段差を検出してもよい。この場合、指向性が高いレーザ光を第1フラップ及び第2フラップに照射して段差の測定を行うことができるので、より高精度な段差の測定が可能となる。 The sensor may irradiate the first flap and the second flap of the transported package with a laser beam to detect a step. In this case, since the laser beam having high directivity can be applied to the first flap and the second flap to measure the step, more accurate measurement of the step becomes possible.

センサは、第1フラップ及び第2フラップを跨ぐ線状のレーザ光を照射し、第1フラップにおけるレーザ光上の第1設定点と、第2フラップにおけるレーザ光上の第2設定点との間に位置する段差を検出してもよい。この場合、線状のレーザ光上における第1設定点と第2設定点との間に位置する段差を測定できるので、容易且つ高精度に段差の測定を行うことができる。 The sensor irradiates a linear laser beam straddling the first flap and the second flap, and is between the first set point on the laser beam in the first flap and the second set point on the laser beam in the second flap. A step located at may be detected. In this case, since the step located between the first set point and the second set point on the linear laser beam can be measured, the step can be measured easily and with high accuracy.

レーザ光上の第1設定点の位置、及びレーザ光上の第2設定点の位置が可変とされていてもよい。この場合、段差を測定する対象となる2つの位置が可変となるので、レーザ光上における任意の箇所の段差測定が可能となる。従って、より高精度に段差を測定することができる。 The position of the first set point on the laser beam and the position of the second set point on the laser beam may be variable. In this case, since the two positions for measuring the step are variable, it is possible to measure the step at an arbitrary position on the laser beam. Therefore, the step can be measured with higher accuracy.

センサは、段差の検出を一定時間継続して行い、異常判定部は、検出された段差が一定時間継続して閾値以上である場合に異常と判定してもよい。この場合、第1フラップと第2フラップとの段差が一定時間未満、一時的に生じた場合を異常と判定される場合から除外することができるので、誤判定の可能性をより低減させることができる。 The sensor may continuously detect the step for a certain period of time, and the abnormality determination unit may determine that the step is abnormal when the detected step continues for a certain period of time and is equal to or higher than the threshold value. In this case, the case where the step between the first flap and the second flap occurs temporarily for less than a certain period of time can be excluded from the case where it is determined to be abnormal, so that the possibility of erroneous determination can be further reduced. can.

前述した一定時間は、6ms以上且つ150ms以下であってもよい。この場合、6ms以上継続して段差を測定することによって、誤判定の可能性を一層低減させることができる。また、150ms以下継続して段差を測定することにより、検出すべき段差を検出して異常判定の精度をより高めることができる。 The above-mentioned fixed time may be 6 ms or more and 150 ms or less. In this case, the possibility of erroneous determination can be further reduced by continuously measuring the step for 6 ms or more. Further, by continuously measuring the step for 150 ms or less, the step to be detected can be detected and the accuracy of abnormality determination can be further improved.

本開示に係るフラップ検出方法は、開口を覆う第1フラップ及び第2フラップを備えた梱包体の第1フラップ及び第2フラップを検査するフラップ検査方法であって、第1フラップの表面と第2フラップの表面との間の段差を検出する工程と、検出する工程において検出された段差の値から第1フラップ及び第2フラップの異常を判定する工程と、を備える。 The flap detection method according to the present disclosure is a flap inspection method for inspecting the first flap and the second flap of a package including the first flap and the second flap covering the opening, and is a flap inspection method for the surface of the first flap and the second flap. It includes a step of detecting a step between the flap surface and the surface of the flap, and a step of determining an abnormality of the first flap and the second flap from the value of the step detected in the detecting step.

このフラップ検査方法では、第1フラップの表面と第2フラップの表面との段差が検出され、検出された段差の値から、第1フラップ及び第2フラップが異常であるか否かが判定される。従って、前述したフラップ判定装置と同様、第1フラップの表面と第2フラップの表面との段差から異常判定が行われるので、第1フラップと第2フラップとの位置関係に応じた判定を行うことができる。よって、斜めに搬送された梱包体でフラップの状態が正常であるものを異常と判定しないようにすることができると共に、第1フラップと第2フラップとの間に挟まれた抜き屑の検出を行うことができる。以上より、フラップの異常をより高精度に判定することができる。 In this flap inspection method, a step between the surface of the first flap and the surface of the second flap is detected, and it is determined from the value of the detected step whether or not the first flap and the second flap are abnormal. .. Therefore, as in the flap determination device described above, the abnormality determination is performed from the step between the surface of the first flap and the surface of the second flap, so that the determination is performed according to the positional relationship between the first flap and the second flap. Can be done. Therefore, it is possible to prevent the slanted package from which the flap is in a normal state from being judged as abnormal, and to detect the debris sandwiched between the first flap and the second flap. It can be carried out. From the above, it is possible to determine the flap abnormality with higher accuracy.

本開示によれば、フラップの異常をより高精度に検出することができる。 According to the present disclosure, flap abnormalities can be detected with higher accuracy.

実施形態に係るフラップ検査装置の構成の例を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the example of the structure of the flap inspection apparatus which concerns on embodiment. 図1のフラップ検査装置のセンサから照射されたレーザ光及び梱包体の第1フラップと第2フラップを示す側面図である。It is a side view which shows the laser beam irradiated from the sensor of the flap inspection apparatus of FIG. 1 and the 1st flap and the 2nd flap of a package body. 第1フラップ及び第2フラップが異常である状態の例を示す梱包体の側面図である。It is a side view of the packing body which shows the example of the state which the 1st flap and the 2nd flap are abnormal. 第1フラップ及び第2フラップが異常である状態の別の例を示す梱包体の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a package showing another example of a state in which the first flap and the second flap are abnormal. 比較例に係るレーザ光の照射の例を模式的に示す梱包体の側面図である。It is a side view of the package body which shows typically the example of the irradiation of the laser beam which concerns on the comparative example. 図2のレーザ光と第1フラップ及び第2フラップとを示す梱包体の側面図である。2 is a side view of a package showing the laser beam of FIG. 2 and the first flap and the second flap. 実施形態に係るフラップ検査方法の工程の例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the example of the process of the flap inspection method which concerns on embodiment. 斜めに搬送された梱包体の例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the example of the packing body which was carried diagonally.

以下では、図面を参照しながら本開示に係るフラップ検査装置及びフラップ検査方法の実施形態について説明する。図面の説明において、同一又は相当する要素には同一の符号を付し、重複する説明を適宜省略する。また、図面は、理解の容易のため、一部を簡略化又は誇張して描いている場合があり、寸法比率等は図面に記載のものに限定されない。 Hereinafter, embodiments of the flap inspection device and the flap inspection method according to the present disclosure will be described with reference to the drawings. In the description of the drawings, the same or corresponding elements are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted as appropriate. In addition, the drawings may be partially simplified or exaggerated for the sake of easy understanding, and the dimensional ratios and the like are not limited to those described in the drawings.

本開示において、「フラップ」とは、梱包体の開口を覆う蓋となる部分を示している。「フラップ」は、外フラップと内フラップとを含む。但し、以下の実施形態では、外フラップを検査対象とする例について説明する。「梱包体」は、梱包対象物を梱包する箱を示している。 In the present disclosure, the "flap" refers to a portion that serves as a lid that covers the opening of the package. "Flap" includes an outer flap and an inner flap. However, in the following embodiment, an example in which the outer flap is to be inspected will be described. "Packing body" indicates a box for packing an object to be packed.

「梱包体」は、例えば、段ボール箱であってもよいし、段ボール箱以外の紙箱であってもよい。「梱包対象物」は、梱包体に梱包される対象の物を示している。「梱包対象物」としては、例えば、飲料缶等の缶、ペットボトル、又は瓶等を含む飲料容器が挙げられる。以下の実施形態では、梱包対象物が飲料缶C(図3参照)である例について説明する。 The "packaging body" may be, for example, a cardboard box or a paper box other than the cardboard box. "Packing object" indicates an object to be packed in a packing body. Examples of the “object to be packed” include cans such as beverage cans, PET bottles, and beverage containers including bottles. In the following embodiment, an example in which the packing object is a beverage can C (see FIG. 3) will be described.

図1は、例示的なフラップ検査装置1の各機器を示す図である。図2は、フラップ検査装置1のセンサ10が梱包体Bを検査している状態の例を示す側面図である。図1及び図2に示されるように、フラップ検査装置1は、例えば、梱包体に梱包対象物を梱包するケーサー2と、梱包体Bの第1フラップB1及び第2フラップB2を検査するセンサ10と、フラップ検査装置1の各部を制御する制御部5(異常判定部)と、センサ10によって異常と判定された梱包体Bを排斥する排斥機4とを備える。フラップ検査装置1は、更に、センサ10の検査状況をモニタするモニタ3を備えてもよい。 FIG. 1 is a diagram showing each device of an exemplary flap inspection device 1. FIG. 2 is a side view showing an example of a state in which the sensor 10 of the flap inspection device 1 inspects the package B. As shown in FIGS. 1 and 2, the flap inspection device 1 is, for example, a caser 2 for packing an object to be packed in a packing body and a sensor 10 for inspecting the first flap B1 and the second flap B2 of the packing body B. A control unit 5 (abnormality determination unit) that controls each unit of the flap inspection device 1 and an exclusion machine 4 that excludes the package B determined to be abnormal by the sensor 10 are provided. The flap inspection device 1 may further include a monitor 3 for monitoring the inspection status of the sensor 10.

例えば、第1フラップB1及び第2フラップB2は梱包体Bのショートフラップ(外フラップ)である。一例として、第1フラップB1は鉛直上側に位置するショートフラップであり、第2フラップB2は鉛直下側に位置するショートフラップである。梱包体Bの「異常」とは、例えば、第1フラップB1又は第2フラップB2の内折れ、第1フラップB1又は第2フラップB2の剥がれ、及び、第1フラップB1と第2フラップB2の間に抜き屑が挟まった状態、等が挙げられる。 For example, the first flap B1 and the second flap B2 are short flaps (outer flaps) of the package B. As an example, the first flap B1 is a short flap located on the vertically upper side, and the second flap B2 is a short flap located on the vertically lower side. “Abnormality” of the package B means, for example, inward bending of the first flap B1 or the second flap B2, peeling of the first flap B1 or the second flap B2, and between the first flap B1 and the second flap B2. The state where the scraps are caught in the shavings, etc. can be mentioned.

例えば、ケーサー2は、段ボール等の梱包体Bを取り出すと共に梱包体Bに複数の梱包対象物を収容し、梱包体Bを成形することによって梱包対象物を梱包する装置である。ケーサー2は、例えば、取り出した梱包体B及び梱包対象物を搬送する搬送ラインを備えており、当該搬送ラインに沿って梱包体B及び梱包対象物を搬送しながら梱包体Bを成形する。ケーサー2とセンサ10とは搬送経路R1によって互いに接続されており、ケーサー2によって飲料缶Cが収容された梱包体Bは搬送経路R1を介してセンサ10に搬送される。なお、センサ10は、ケーサー2の出口付近に配置されていてもよい。 For example, the caser 2 is a device for taking out a packing body B such as corrugated cardboard, accommodating a plurality of packing objects in the packing body B, and packing the packing objects by molding the packing body B. The caser 2 is provided with, for example, a transport line for transporting the taken-out package B and the package target, and forms the package B while transporting the package B and the package target along the transport line. The caser 2 and the sensor 10 are connected to each other by the transport path R1, and the package B in which the beverage can C is housed by the caser 2 is transported to the sensor 10 via the transport path R1. The sensor 10 may be arranged near the exit of the caser 2.

センサ10は、例えば、搬送経路R1に沿って搬送された梱包体Bの第1フラップB1及び第2フラップB2の状態を検査する。センサ10は、第1フラップB1及び第2フラップB2のそれぞれの表面にレーザ光Lを照射して、第1フラップB1の表面と第2フラップB2の表面との間の段差を測定する一体の段差測定センサである。そして、第1フラップB1及び第2フラップB2の異常有無を制御部5が判定する。異常判定の詳細については後述する。 The sensor 10 inspects, for example, the state of the first flap B1 and the second flap B2 of the package B transported along the transport path R1. The sensor 10 irradiates the surfaces of the first flap B1 and the second flap B2 with the laser beam L, and measures the step between the surface of the first flap B1 and the surface of the second flap B2. It is a measurement sensor. Then, the control unit 5 determines whether or not the first flap B1 and the second flap B2 are abnormal. The details of the abnormality determination will be described later.

制御部5によって正常と判定された梱包体Bは、センサ10から延びる搬送経路R2に沿って搬送される。制御部5によって異常と判定された梱包体Bは、排斥機4によって搬送経路R2から排斥される。これにより、異常と判定された梱包体Bを正常な梱包体Bから分離することが可能となる。 The package B determined to be normal by the control unit 5 is transported along the transport path R2 extending from the sensor 10. The package B determined to be abnormal by the control unit 5 is excluded from the transport path R2 by the exclusion machine 4. As a result, the packing body B determined to be abnormal can be separated from the normal packing body B.

制御部5は、例えば、センサ10を制御可能な構成要素であってもよく、モニタ3は、センサ10の検査状況を表示してもよい。モニタ3は、例えば、図2に示されるように、センサ10によるレーザ光Lの照射状態を表示してもよい。また、オペレータ等が制御部5を通じてセンサ10によるレーザ光Lの照射を制御可能であってもよい。 The control unit 5 may be, for example, a component capable of controlling the sensor 10, and the monitor 3 may display the inspection status of the sensor 10. The monitor 3 may display the irradiation state of the laser beam L by the sensor 10, for example, as shown in FIG. Further, the operator or the like may be able to control the irradiation of the laser beam L by the sensor 10 through the control unit 5.

一例として、レーザ光Lが照射される梱包体Bの表面B11は、長手方向D1及び短手方向D2に延びる長方形状とされている。例えば、梱包体Bは長手方向D1に沿って搬送される。短手方向D2は鉛直方向であってもよい。第1フラップB1は表面B11の短手方向D2の一方側(例えば上側)を構成し、第2フラップB2は表面B11の短手方向D2の他方側(例えば下側)を構成する。 As an example, the surface B11 of the package B to which the laser beam L is irradiated has a rectangular shape extending in the longitudinal direction D1 and the lateral direction D2. For example, the package B is conveyed along the longitudinal direction D1. The lateral direction D2 may be the vertical direction. The first flap B1 constitutes one side (for example, the upper side) of the surface B11 in the lateral direction D2, and the second flap B2 constitutes the other side (for example, the lower side) of the surface B11 in the lateral direction D2.

例示的な第1フラップB1は、梱包体Bの長手方向D1の中央側に位置する第1線部B12と、第1線部B12の長手方向D1の端部側から短手方向D2の一端側に傾斜する第1傾斜部B13とを備える。例示的な第2フラップB2は、梱包体Bの長手方向D1の中央側に位置する第2線部B22と、第2線部B22の長手方向D1の端部側から短手方向D2の他端側に傾斜する第2傾斜部B23とを備える。なお、第1線部B12、第1傾斜部B13、第2線部B22、及び第2傾斜部B23は、直線状であってもよいし、曲線状であってもよい。 The exemplary first flap B1 is a first line portion B12 located on the center side of the longitudinal direction D1 of the package B, and one end side of the first line portion B12 from the end side of the longitudinal direction D1 to the one end side of the lateral direction D2. It is provided with a first inclined portion B13 that is inclined to. The exemplary second flap B2 includes a second wire portion B22 located on the center side of the longitudinal direction D1 of the package B, and the other end of the second wire portion B22 from the end side of the longitudinal direction D1 to the other end of the lateral direction D2. A second inclined portion B23 that inclines to the side is provided. The first line portion B12, the first inclined portion B13, the second line portion B22, and the second inclined portion B23 may be linear or curved.

第1線部B12と第2線部B22の間、及び第1傾斜部B13と第2傾斜部B23の間には隙間Sが形成されており、隙間Sは第1線部B12及び第2線部B22から長手方向D1の端部側に向かうに従って広く形成されている。例えば、隙間Sから内フラップB3の一部が露出していてもよい。しかしながら、第1フラップB1及び第2フラップB2の形状は、前述した例に限られず適宜変更可能である。 A gap S is formed between the first line portion B12 and the second line portion B22, and between the first inclined portion B13 and the second inclined portion B23, and the gap S is the first line portion B12 and the second line portion. It is widely formed from the portion B22 toward the end side in the longitudinal direction D1. For example, a part of the inner flap B3 may be exposed from the gap S. However, the shapes of the first flap B1 and the second flap B2 are not limited to the above-mentioned examples, and can be appropriately changed.

センサ10は、例えば、第1フラップB1及び第2フラップB2を跨ぐレーザ光Lを照射する。レーザ光Lは、例えば、長手方向D1に交差する方向に延びる線状とされており、一例として、短手方向D2に直線状に延在する。センサ10は、レーザ光L上における第1設定点L1の位置と第2設定点L2の位置との間に位置する段差を測定する。センサ10が段差を測定するときのサンプリング周期は、例えば、1ms以上且つ300ms以下である。しかしながら、当該サンプリング周期は、2ms以上、5ms以上、6ms以上、8ms以上、10ms以上、11ms以上、15ms以上、20ms以上、30ms以上、50ms以上、100ms以上、又は120ms以上であってもよい。更に、当該サンプリング周期は、250ms以下、225ms以下、200ms以下、175ms以下、又は150ms以下であってもよい。なお、当該サンプリング周期は、上記の値に限られることはなく、適宜変更可能である。 The sensor 10 irradiates, for example, a laser beam L straddling the first flap B1 and the second flap B2. The laser beam L has, for example, a linear shape extending in a direction intersecting the longitudinal direction D1, and extends linearly in the lateral direction D2 as an example. The sensor 10 measures a step located between the position of the first setting point L1 and the position of the second setting point L2 on the laser beam L. The sampling period when the sensor 10 measures the step is, for example, 1 ms or more and 300 ms or less. However, the sampling period may be 2 ms or more, 5 ms or more, 6 ms or more, 8 ms or more, 10 ms or more, 11 ms or more, 15 ms or more, 20 ms or more, 30 ms or more, 50 ms or more, 100 ms or more, or 120 ms or more. Further, the sampling period may be 250 ms or less, 225 ms or less, 200 ms or less, 175 ms or less, or 150 ms or less. The sampling period is not limited to the above value and can be changed as appropriate.

例えば、センサ10は、第1設定点L1における第1フラップB1の表面の高さと、第2設定点L2における第2フラップB2の表面の高さと、の差を段差として測定する。なお、「高さ」とは、レーザ光Lを照射するセンサ10から第1設定点L1及び第2設定点L2のそれぞれまでのレーザ光Lの照射方向(例えば、長手方向D1及び短手方向D2の双方に直交する方向、又は図2の紙面に直交する方向)への距離を示している。 For example, the sensor 10 measures the difference between the height of the surface of the first flap B1 at the first setting point L1 and the height of the surface of the second flap B2 at the second setting point L2 as a step. The "height" is the irradiation direction of the laser beam L from the sensor 10 that irradiates the laser beam L to each of the first setting point L1 and the second setting point L2 (for example, the longitudinal direction D1 and the lateral direction D2). The distance in the direction orthogonal to both of the above, or the direction orthogonal to the paper surface of FIG. 2) is shown.

一例として、センサ10は、レーザ光Lの照射を行うと共に上記の段差を電気信号として測定するセンサヘッドと、センサヘッドの電気信号を増幅するセンサアンプとを含んでいてもよい。例えば、センサ10は、ケーブルを介してコントロールパネルである制御部5に接続されていてもよく、制御部5はセンサ10によって測定された段差を電気信号として受信して判定を行ってもよい。しかしながら、センサ10及び制御部5のハードウェア構成及び機能構成は、上記の例に限られず適宜変更可能である。 As an example, the sensor 10 may include a sensor head that irradiates the laser beam L and measures the above-mentioned step as an electric signal, and a sensor amplifier that amplifies the electric signal of the sensor head. For example, the sensor 10 may be connected to the control unit 5 which is a control panel via a cable, and the control unit 5 may receive the step measured by the sensor 10 as an electric signal and make a determination. However, the hardware configuration and functional configuration of the sensor 10 and the control unit 5 are not limited to the above examples, and can be appropriately changed.

制御部5は、センサ10によって測定された第1設定点L1と第2設定点L2との段差から第1フラップB1及び第2フラップB2の異常判定を行う。例えば、制御部5は、センサ10によって測定された段差が閾値以上である場合に異常と判定し、センサ10によって測定された段差が当該閾値以上でない場合に正常と判定する。当該閾値は、例えば、1mm以上、2mm以上、3mm以上、5mm以上、7mm以上、又は10mm以上である。当該閾値の上限は、例えば、20mm以下である。一例としての当該閾値は、10mmである。しかしながら、当該閾値の値は、10mmに限定されず、適宜変更可能である。また、当該閾値は、制御部5を介して可変とされていてもよい。一例として、当該閾値は500μm(0.5mm)単位で変更可能である。 The control unit 5 determines the abnormality of the first flap B1 and the second flap B2 from the step between the first setting point L1 and the second setting point L2 measured by the sensor 10. For example, the control unit 5 determines that the step is abnormal when the step measured by the sensor 10 is equal to or greater than the threshold value, and determines that the step is normal when the step measured by the sensor 10 is not equal to or greater than the threshold value. The threshold value is, for example, 1 mm or more, 2 mm or more, 3 mm or more, 5 mm or more, 7 mm or more, or 10 mm or more. The upper limit of the threshold value is, for example, 20 mm or less. As an example, the threshold value is 10 mm. However, the value of the threshold value is not limited to 10 mm and can be changed as appropriate. Further, the threshold value may be made variable via the control unit 5. As an example, the threshold can be changed in increments of 500 μm (0.5 mm).

例えば、レーザ光Lにおける第1設定点L1及び第2設定点L2のそれぞれの位置(第1設定点L1と第2設定点L2との距離)は制御部5によって変更可能とされている。一例として、第1設定点L1と第2設定点L2との距離は、100mm以上且つ200mm以下の範囲において可変とされている。第1設定点L1と第2設定点L2との距離は、110mm以上、120mm以上、130mm以上、140mm以上、又は150mm以上であってもよい。また、第1設定点L1と第2設定点L2との距離は、190mm以下、180mm以下、170mm以下、160mm以下、又は150mm以下であってもよい。しかしながら、第1設定点L1と第2設定点L2の距離の値は、上記の各例に限定されず、適宜変更可能である。また。第1設定点L1と第2設定点L2との距離は可変とされていなくてもよい。 For example, the respective positions (distance between the first setting point L1 and the second setting point L2) of the first setting point L1 and the second setting point L2 in the laser beam L can be changed by the control unit 5. As an example, the distance between the first set point L1 and the second set point L2 is variable within a range of 100 mm or more and 200 mm or less. The distance between the first setting point L1 and the second setting point L2 may be 110 mm or more, 120 mm or more, 130 mm or more, 140 mm or more, or 150 mm or more. Further, the distance between the first setting point L1 and the second setting point L2 may be 190 mm or less, 180 mm or less, 170 mm or less, 160 mm or less, or 150 mm or less. However, the value of the distance between the first setting point L1 and the second setting point L2 is not limited to each of the above examples, and can be changed as appropriate. also. The distance between the first set point L1 and the second set point L2 does not have to be variable.

本実施形態では、第1設定点L1は第1フラップB1の位置に設定され、第2設定点L2は第2フラップB2の位置に設定される。また、図3に示されるように、梱包対象物が飲料缶Cである場合には、第2設定点L2が飲料缶Cの缶胴C1の位置(高さ)に設定され、第1設定点L1が飲料缶Cのネック部C2の位置(高さ)に設定されてもよい。「ネック部」とは、飲料缶の缶胴から窪んだ部分を示している。 In the present embodiment, the first set point L1 is set at the position of the first flap B1, and the second set point L2 is set at the position of the second flap B2. Further, as shown in FIG. 3, when the object to be packed is the beverage can C, the second setting point L2 is set at the position (height) of the can body C1 of the beverage can C, and the first setting point. L1 may be set at the position (height) of the neck portion C2 of the beverage can C. The "neck portion" refers to a portion recessed from the can body of a beverage can.

この場合、図3に例示されるように、センサ10が缶胴C1とネック部C2との間に位置する段差を検出するので、第1フラップB1及び第2フラップB2のそれぞれが飲料缶Cの上下のそれぞれに内折れしている異常も検出可能となる。なお、飲料缶Cとして、図3では一例として、350ml(ミリリットル)の飲料缶Cを示しているが、例えば500mlの飲料缶であってもよく、飲料缶のサイズは特に限定されない。 In this case, as illustrated in FIG. 3, since the sensor 10 detects the step located between the can body C1 and the neck portion C2, each of the first flap B1 and the second flap B2 is the beverage can C. Abnormalities that are bent inward on each of the top and bottom can also be detected. As the beverage can C, a 350 ml (milliliter) beverage can C is shown as an example in FIG. 3, but a 500 ml beverage can may be used, and the size of the beverage can is not particularly limited.

以上のように、レーザ光Lにおける第1設定点L1と第2設定点L2との間に位置する段差を測定することにより、例えば図4に示されるように、抜き屑B4が挟まっている異常を検出可能である。図4の例では、第1フラップB1と第2フラップB2の間に挟まっている抜き屑B4が第1フラップB1側に延びており、第2設定点L2よりも第1設定点L1が高い段差がセンサ10で測定されることによって制御部5が異常と判定する。この抜き屑B4の例のように、本実施形態では、第1フラップB1と第2フラップB2の間に異物が挟まっている異常を検出することが可能である。 As described above, by measuring the step located between the first setting point L1 and the second setting point L2 in the laser beam L, for example, as shown in FIG. 4, an abnormality in which the scrap B4 is sandwiched. Can be detected. In the example of FIG. 4, the debris B4 sandwiched between the first flap B1 and the second flap B2 extends toward the first flap B1, and the step where the first setting point L1 is higher than the second setting point L2. Is measured by the sensor 10, and the control unit 5 determines that it is abnormal. As in the example of the scrap B4, in the present embodiment, it is possible to detect an abnormality in which a foreign substance is caught between the first flap B1 and the second flap B2.

ところで、例えばピンポイントで第1設定点L1と第2設定点L2との段差を測定する場合、図5に示されるように、長手方向D1及び短手方向D2の双方に傾斜する端辺B51を有するフラップB5を異常と誤判定する懸念がある。そこで、本実施形態では、図6に示されるように、一定時間T段差の測定を継続して行う。これにより、図5のように一時的に段差が現れる場合を異常と誤判定しないようにすることが可能である。 By the way, for example, when the step between the first setting point L1 and the second setting point L2 is measured pinpointly, as shown in FIG. 5, the end side B51 inclined in both the longitudinal direction D1 and the lateral direction D2 is provided. There is a concern that the flap B5 to be held may be erroneously determined as abnormal. Therefore, in the present embodiment, as shown in FIG. 6, the measurement of the T step is continuously performed for a certain period of time. This makes it possible to prevent the case where a step appears temporarily as shown in FIG. 5 from being erroneously determined as an abnormality.

前述したように、梱包体Bは、長手方向D1に沿って搬送される。従って、梱包体Bの表面B11にレーザ光Lを一定時間T照射すると、図6に示されるように、長手方向D1に延びる一定区間で段差の有無が測定される。一定時間Tの値は、例えば、制御部5を介して可変とされている。 As described above, the package B is conveyed along the longitudinal direction D1. Therefore, when the surface B11 of the package B is irradiated with the laser beam L for a certain period of time, the presence or absence of a step is measured in a certain section extending in the longitudinal direction D1 as shown in FIG. The value of T for a certain period of time is made variable, for example, via the control unit 5.

一例として、梱包体Bの長手方向D1の一端がセンサ10の前に到達してから梱包体Bが長手方向D1に搬送され、梱包体Bの長手方向D1の他端がセンサ10の前に到達するまでの時間は300msである。これに対し、一例として一定時間Tを6msとすると、レーザ光Lは、梱包体Bの長手方向D1の全体のうち1/15の区間に照射されることとなる。 As an example, after one end of the longitudinal direction D1 of the package B reaches the front of the sensor 10, the package B is conveyed in the longitudinal direction D1, and the other end of the longitudinal direction D1 of the package B reaches the front of the sensor 10. The time to complete is 300 ms. On the other hand, assuming that T is set to 6 ms for a certain period of time as an example, the laser beam L is irradiated on 1/15 of the entire longitudinal direction D1 of the package B.

この場合、一定時間Tに相当する区間で段差がセンサ10によって測定され続けたときに制御部5が異常と判定する。これに対し、一定時間Tに相当する区間の一部のみで段差がセンサ10によって測定されても制御部5は異常と判定しない。従って、一定時間Tの値が大きすぎると、検出すべき異常が生じていても当該異常を検出できなくなる可能性がある。よって、一定時間Tの値は、梱包体Bを搬送する速度等に応じて適切に定められることが好ましい。例えば、一定時間Tが6ms以上且つ100ms以下(又は150ms以下(若しくは150ms未満))であれば、図5の状態を異常と誤判定することを回避できると共に、検出すべき異常を確実に異常と判定することができる。なお、一定時間Tは、10ms以上、15ms以上、20ms以上、30ms以上、又は50ms以上であってもよい。また、一定時間Tは、120ms以下、90ms以下、80ms以下、70ms以下、60ms以下、又は50ms以下であってもよい。このように、一定時間Tの値は適宜変更可能である。 In this case, the control unit 5 determines that the step is abnormal when the step is continuously measured by the sensor 10 in the section corresponding to T for a certain period of time. On the other hand, even if the step is measured by the sensor 10 only in a part of the section corresponding to T for a certain period of time, the control unit 5 does not determine that it is abnormal. Therefore, if the value of T for a certain period of time is too large, even if an abnormality to be detected occurs, the abnormality may not be detected. Therefore, it is preferable that the value of T for a certain period of time is appropriately determined according to the speed at which the package B is conveyed and the like. For example, if T is 6 ms or more and 100 ms or less (or 150 ms or less (or less than 150 ms)) for a certain period of time, it is possible to avoid erroneously determining the state of FIG. 5 as an abnormality, and the abnormality to be detected is surely regarded as an abnormality. It can be determined. The fixed time T may be 10 ms or more, 15 ms or more, 20 ms or more, 30 ms or more, or 50 ms or more. Further, the fixed time T may be 120 ms or less, 90 ms or less, 80 ms or less, 70 ms or less, 60 ms or less, or 50 ms or less. In this way, the value of T for a certain period of time can be changed as appropriate.

次に、本実施形態に係るフラップ検査方法の工程の例について図7のフローチャートを参照しながら説明する。図7のフローチャートは、フラップ検査装置1のケーサー2によって梱包対象物を梱包体Bに梱包し、当該梱包体Bの第1フラップB1及び第2フラップB2の状況をセンサ10及び制御部5が判定する例を示している。 Next, an example of the process of the flap inspection method according to the present embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. In the flowchart of FIG. 7, the object to be packed is packed in the packing body B by the caser 2 of the flap inspection device 1, and the sensor 10 and the control unit 5 determine the status of the first flap B1 and the second flap B2 of the packing body B. An example is shown.

まず、飲料缶C等の梱包対象物の搬送を行い(ステップS1)、その後、ケーサー2が梱包対象物の梱包を行う。一例として、ケーサー2は、段ボールを取り出し、取り出した段ボールを搬送ラインに搬送する。そして、段ボールを折り曲げて箱状の梱包体Bを成形し、複数の飲料缶Cを梱包体Bに押し込んで梱包体Bへの飲料缶Cの収容を行う。 First, the object to be packed such as the beverage can C is transported (step S1), and then the caser 2 packs the object to be packed. As an example, the caser 2 takes out the corrugated cardboard and transports the taken out corrugated cardboard to the transport line. Then, the corrugated cardboard is bent to form a box-shaped packing body B, and a plurality of beverage cans C are pushed into the packing body B to accommodate the beverage cans C in the packing body B.

その後、缶検出センサによって梱包体Bの中に飲料缶Cがあるか否かが検査されてもよい。そして、ケーサー2は、梱包体Bの内フラップB3の外面に接着剤を塗布し、第1フラップB1及び第2フラップB2を梱包体Bの内側に折り曲げて内フラップB3の外面に第1フラップB1及び第2フラップB2を接着してもよい。 After that, the can detection sensor may inspect whether or not the beverage can C is present in the package B. Then, the caser 2 applies an adhesive to the outer surface of the inner flap B3 of the packing body B, bends the first flap B1 and the second flap B2 inside the packing body B, and bends the first flap B1 to the outer surface of the inner flap B3. And the second flap B2 may be adhered.

以上のように梱包対象物の梱包体Bへの梱包が終わった後に梱包体Bのフラップ検査を行う(段差を検出する工程、ステップS3)。なお、ステップS3より前に、センサ10によって照射されるレーザ光Lの第1設定点L1の位置、第2設定点L2の位置(第1設定点L1と第2設定点L2との距離)、段差を測定する時間である一定時間T、及び異常判定のための段差の閾値が設定されてもよい。 After the packing of the object to be packed into the packing body B is completed as described above, the flap inspection of the packing body B is performed (step S3, step of detecting a step). Prior to step S3, the position of the first set point L1 of the laser beam L irradiated by the sensor 10, the position of the second set point L2 (distance between the first set point L1 and the second set point L2), and so on. A fixed time T, which is the time for measuring the step, and a threshold value for the step for determining an abnormality may be set.

図6に例示されるように、長手方向D1に沿って搬送される梱包体Bに対してセンサ10が短手方向D2に沿って延びる線状のレーザ光Lを照射し、設定した第1設定点L1と第2設定点L2との間に位置する段差を測定する。当該段差の測定は、設定した一定時間T継続して行う。そして、制御部5がフラップの異常有無の判定を行う(異常を判定する工程、ステップS4)。 As illustrated in FIG. 6, the sensor 10 irradiates the package B conveyed along the longitudinal direction D1 with the linear laser beam L extending along the lateral direction D2, and sets the first setting. The step located between the point L1 and the second set point L2 is measured. The step is measured continuously for a set fixed period of time. Then, the control unit 5 determines whether or not there is an abnormality in the flap (step of determining the abnormality, step S4).

制御部5は、センサ10によって測定された段差の値が予め設定した閾値以上である場合(ステップS4においてYES)、当該段差を有する梱包体Bを排斥機4によって搬送経路R2から排斥する(ステップS5)。一方、制御部5は、センサ10によって測定された段差の値が当該閾値以上でない場合(ステップS4においてNO)、当該段差を有する梱包体Bを搬送経路R2に沿って搬送する。 When the value of the step measured by the sensor 10 is equal to or higher than a preset threshold value (YES in step S4), the control unit 5 excludes the package B having the step from the transport path R2 by the exclusion machine 4 (step). S5). On the other hand, when the value of the step measured by the sensor 10 is not equal to or higher than the threshold value (NO in step S4), the control unit 5 transports the package B having the step along the transport path R2.

また、制御部5は、ステップS4において、測定された段差の値が一定時間T継続して閾値以上である場合に、当該梱包体Bを排斥してもよい。そして、制御部5は、測定された段差の値が一定時間T未満継続して閾値以上である場合には、当該梱包体Bを搬送経路R2に沿って搬送してもよい。以上の異常有無の判定を経て一連の工程が完了する。 Further, the control unit 5 may reject the package B when the value of the measured step is T continuously for a certain period of time and is equal to or higher than the threshold value in step S4. Then, when the measured step value is continuously less than T for a certain period of time and is continuously equal to or more than the threshold value, the control unit 5 may convey the package B along the transfer path R2. After the above determination of the presence or absence of abnormality, a series of steps is completed.

次に、本実施形態に係るフラップ検査装置1及びフラップ検査方法から得られる作用効果について説明する。本実施形態に係るフラップ検査装置1及びフラップ検査方法では、第1フラップB1の表面と第2フラップB2の表面との段差をセンサ10が検出する。そして、センサ10によって検出された段差の値が閾値以上である場合に、第1フラップB1及び第2フラップB2が異常であると制御部5が判定する。 Next, the action and effect obtained from the flap inspection device 1 and the flap inspection method according to the present embodiment will be described. In the flap inspection device 1 and the flap inspection method according to the present embodiment, the sensor 10 detects a step between the surface of the first flap B1 and the surface of the second flap B2. Then, when the value of the step detected by the sensor 10 is equal to or greater than the threshold value, the control unit 5 determines that the first flap B1 and the second flap B2 are abnormal.

よって、第1フラップB1の表面と第2フラップB2の表面との間に形成された段差をセンサ10によって検出し、当該段差の値に応じて第1フラップB1及び第2フラップB2の異常判定が行われる。すなわち、第1フラップB1と第2フラップB2との段差から異常判定を行うので、第1フラップB1の位置と第2フラップB2の位置との位置関係から異常判定がなされる。 Therefore, the sensor 10 detects the step formed between the surface of the first flap B1 and the surface of the second flap B2, and the abnormality determination of the first flap B1 and the second flap B2 is made according to the value of the step. Will be done. That is, since the abnormality determination is performed from the step between the first flap B1 and the second flap B2, the abnormality determination is made from the positional relationship between the position of the first flap B1 and the position of the second flap B2.

従って、第1フラップB1と第2フラップB2の位置関係から異常判定を行うことにより、図8に示されるように、搬送経路R1に対して斜めに搬送された梱包体Bで第1フラップB1及び第2フラップB2の状態が正常であるものを異常と判定しないようにすることができる。 Therefore, by performing an abnormality determination from the positional relationship between the first flap B1 and the second flap B2, as shown in FIG. 8, the first flap B1 and the packing body B transported diagonally with respect to the transport path R1 If the state of the second flap B2 is normal, it can be prevented from being determined as abnormal.

図8は、搬送経路R1に対して斜めに搬送される梱包体Bの例を示しており、搬送経路R1に対するずれZの値は、一例として30mmである。このように斜めに搬送される正常な梱包体Bを異常でないと判定することが可能であるため、誤判定を抑制することができる。よって、第1フラップB1及び第2フラップB2の異常判定を高精度に行うことができる。 FIG. 8 shows an example of the package B that is transported diagonally with respect to the transport path R1, and the value of the deviation Z with respect to the transport path R1 is 30 mm as an example. Since it is possible to determine that the normal package B that is obliquely transported in this way is not abnormal, it is possible to suppress erroneous determination. Therefore, the abnormality determination of the first flap B1 and the second flap B2 can be performed with high accuracy.

また、第1フラップB1及び第2フラップB2の位置関係から異常判定を行うことにより、図4に示されるように、第1フラップB1と第2フラップB2との間に挟まれた抜き屑B4の検出を行うことができる。従って、第1フラップB1及び第2フラップB2の異常をより高精度に判定することができる。 Further, by performing an abnormality determination from the positional relationship between the first flap B1 and the second flap B2, as shown in FIG. 4, the scrap B4 sandwiched between the first flap B1 and the second flap B2 Detection can be performed. Therefore, the abnormality of the first flap B1 and the second flap B2 can be determined with higher accuracy.

前述したように、センサ10は、一体の段差検出センサであってもよい。この場合、1つの段差検出センサを配置すればよいので、センサの構成を簡易にすることができる。更に、複数のセンサを備える場合と比較して、複数のセンサの測定結果の比較を行わずに1台の段差測定センサで段差の測定を行うことができるので、測定精度を高めることができる。 As described above, the sensor 10 may be an integrated step detection sensor. In this case, since one step detection sensor may be arranged, the sensor configuration can be simplified. Further, as compared with the case where a plurality of sensors are provided, the step can be measured by one step measuring sensor without comparing the measurement results of the plurality of sensors, so that the measurement accuracy can be improved.

センサ10は、搬送されている梱包体Bの第1フラップB1及び第2フラップB2にレーザ光Lを照射して段差を検出してもよい。この場合、指向性が高いレーザ光Lを第1フラップB1及び第2フラップB2に照射して段差の測定を行うことができるので、より高精度な段差の測定が可能となる。 The sensor 10 may irradiate the first flap B1 and the second flap B2 of the package B being conveyed with the laser beam L to detect a step. In this case, since the laser beam L having high directivity can be applied to the first flap B1 and the second flap B2 to measure the step, more accurate measurement of the step becomes possible.

センサ10は、第1フラップB1及び第2フラップB2を跨ぐ線状のレーザ光Lを照射し、第1フラップB1におけるレーザ光L上の第1設定点L1と、第2フラップB2におけるレーザ光L上の第2設定点L2との間に位置する段差を検出してもよい。この場合、線状のレーザ光L上における第1設定点L1と第2設定点L2との間に位置する段差を測定できるので、容易且つ高精度に段差の測定を行うことができる。 The sensor 10 irradiates a linear laser beam L straddling the first flap B1 and the second flap B2, and the first set point L1 on the laser beam L in the first flap B1 and the laser beam L in the second flap B2. A step located between the above second setting point L2 may be detected. In this case, since the step located between the first set point L1 and the second set point L2 on the linear laser beam L can be measured, the step can be measured easily and with high accuracy.

レーザ光L上の第1設定点L1の位置、及びレーザ光L上の第2設定点L2の位置が可変とされていてもよい。この場合、段差を形成する基準となる2つの位置が可変となるので、レーザ光L上における任意の箇所の段差測定が可能となる。従って、より高精度に段差を測定することができる。 The position of the first setting point L1 on the laser beam L and the position of the second setting point L2 on the laser beam L may be variable. In this case, since the two reference positions for forming the step are variable, it is possible to measure the step at an arbitrary position on the laser beam L. Therefore, the step can be measured with higher accuracy.

センサ10は、図6に示されるように、段差の検出を一定時間T継続して行い、制御部5は、検出された段差が一定時間T継続して閾値以上である場合に異常と判定してもよい。この場合、第1フラップB1と第2フラップB2との段差が一定時間T未満、一時的に生じた場合を異常と判定される場合から除外することができるので、誤判定の可能性をより低減させることができる。 As shown in FIG. 6, the sensor 10 continuously detects the step for a certain period of time, and the control unit 5 determines that the detected step is abnormal when the detected step continues for a certain period of time and is equal to or higher than the threshold value. You may. In this case, the case where the step between the first flap B1 and the second flap B2 is less than T for a certain period of time and temporarily occurs can be excluded from the case where it is determined to be abnormal, so that the possibility of erroneous determination is further reduced. Can be made to.

一定時間Tは、6ms以上且つ150ms以下であってもよい。この場合、6ms以上継続して段差を測定することによって、誤判定の可能性を一層低減させることができる。また、150ms以下継続して段差を測定することにより、検出すべき段差を検出して異常判定の精度をより高めることができる。 The fixed time T may be 6 ms or more and 150 ms or less. In this case, the possibility of erroneous determination can be further reduced by continuously measuring the step for 6 ms or more. Further, by continuously measuring the step for 150 ms or less, the step to be detected can be detected and the accuracy of abnormality determination can be further improved.

以上、本開示に係るフラップ検査装置及びフラップ検査方法の実施形態について説明した。しかしながら、本開示は、前述した実施形態に限定されるものではなく、各請求項に記載した要旨を変更しない範囲において変形し、又は他のものに適用したものであってもよい。すなわち、フラップ検査装置の各部の構成及び機能、並びに、フラップ検査方法の工程の数、内容及び順序は、上記の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。 The embodiment of the flap inspection device and the flap inspection method according to the present disclosure has been described above. However, the present disclosure is not limited to the above-described embodiment, and may be modified or applied to other things without changing the gist described in each claim. That is, the configuration and function of each part of the flap inspection device, and the number, contents, and order of the steps of the flap inspection method can be appropriately changed without departing from the above gist.

例えば、前述の実施形態では、ケーサー2の出口付近の搬送経路R1にセンサ10が設けられる例について説明した。しかしながら、センサ10が設けられる場所は上記の例に限られず適宜変更可能である。また、梱包体Bの搬送経路は、前述した搬送経路R1及び搬送経路R2に限られない。梱包体Bの搬送経路は、例えば、曲線状に湾曲した搬送経路、又は途中で他の経路と合流したり分離したりする経路であってもよく、搬送経路の種類は適宜変更可能である。 For example, in the above-described embodiment, an example in which the sensor 10 is provided in the transport path R1 near the outlet of the caser 2 has been described. However, the place where the sensor 10 is provided is not limited to the above example and can be changed as appropriate. Further, the transport path of the package B is not limited to the above-mentioned transport path R1 and transport path R2. The transport path of the package B may be, for example, a curved transport path or a path that joins or separates from another path in the middle, and the type of the transport path can be changed as appropriate.

前述の実施形態では、梱包対象物として飲料缶Cを例示した。しかしながら、梱包対象物は飲料缶C以外のものであってもよく、梱包対象物の種類は適宜変更可能である。更に、前述の実施形態では、梱包体Bが段ボール箱である例について説明した。しかしながら、梱包体は段ボール以外のものであってもよく、梱包体の種類及び材料についても適宜変更可能ある。 In the above-described embodiment, the beverage can C is exemplified as a packing object. However, the object to be packed may be something other than the beverage can C, and the type of the object to be packed can be changed as appropriate. Further, in the above-described embodiment, an example in which the packing body B is a cardboard box has been described. However, the package may be something other than corrugated cardboard, and the type and material of the package can be changed as appropriate.

1…フラップ検査装置、2…ケーサー、3…モニタ、4…排斥機、5…制御部(異常判定部)、10…センサ、B…梱包体、B1…第1フラップ、B2…第2フラップ、B3…内フラップ、B4…抜き屑、B5…フラップ、B11…表面、B12…第1線部、B13…第1傾斜部、B22…第2線部、B23…第2傾斜部、B51…端辺、C…飲料缶(梱包対象物)、C1…缶胴、C2…ネック部、D1…長手方向、D2…短手方向、L…レーザ光、L1…第1設定点、L2…第2設定点、R1,R2…搬送経路、S…隙間、T…一定時間。 1 ... Flap inspection device, 2 ... Caser, 3 ... Monitor, 4 ... Exclusion machine, 5 ... Control unit (abnormality determination unit), 10 ... Sensor, B ... Package, B1 ... 1st flap, B2 ... 2nd flap, B3 ... Inner flap, B4 ... Scrap, B5 ... Flap, B11 ... Surface, B12 ... First line part, B13 ... First inclined part, B22 ... Second line part, B23 ... Second inclined part, B51 ... Edge , C ... Beverage can (packaging object), C1 ... Can body, C2 ... Neck, D1 ... Longitudinal direction, D2 ... Short direction, L ... Laser light, L1 ... First setting point, L2 ... Second setting point , R1, R2 ... Transport path, S ... Gap, T ... Constant time.

Claims (8)

開口を覆う第1フラップ及び第2フラップを備えた梱包体の前記第1フラップ及び前記第2フラップを検査するフラップ検査装置であって、
前記第1フラップの表面と前記第2フラップの表面との間の段差を検出するセンサと、
前記センサによって検出された前記段差の値が閾値以上である場合に、前記第1フラップ及び前記第2フラップが異常であると判定する異常判定部と、
を備えるフラップ検査装置。
A flap inspection device for inspecting the first flap and the second flap of a package having a first flap and a second flap covering an opening.
A sensor that detects a step between the surface of the first flap and the surface of the second flap, and
An abnormality determination unit that determines that the first flap and the second flap are abnormal when the value of the step detected by the sensor is equal to or higher than the threshold value.
Flap inspection device equipped with.
前記センサは、一体の段差検出センサである、
請求項1に記載のフラップ検査装置。
The sensor is an integrated step detection sensor.
The flap inspection device according to claim 1.
前記センサは、搬送されている前記梱包体の前記第1フラップ及び前記第2フラップにレーザ光を照射して前記段差を検出する、
請求項1又は2に記載のフラップ検査装置。
The sensor irradiates the first flap and the second flap of the package being conveyed with a laser beam to detect the step.
The flap inspection device according to claim 1 or 2.
前記センサは、前記第1フラップ及び前記第2フラップを跨ぐ線状の前記レーザ光を照射し、前記第1フラップにおける前記レーザ光上の第1設定点と、前記第2フラップにおける前記レーザ光上の第2設定点との間に位置する前記段差を検出する、
請求項3に記載のフラップ検査装置。
The sensor irradiates the linear laser beam straddling the first flap and the second flap, and the first set point on the laser beam in the first flap and the laser beam on the second flap. Detects the step located between the second set point and
The flap inspection device according to claim 3.
前記レーザ光上の前記第1設定点の位置、及び前記レーザ光上の前記第2設定点の位置が可変とされている、
請求項4に記載のフラップ検査装置。
The position of the first set point on the laser beam and the position of the second set point on the laser beam are variable.
The flap inspection apparatus according to claim 4.
前記センサは、前記段差の検出を一定時間継続して行い、
前記異常判定部は、検出された前記段差が前記一定時間継続して前記閾値以上である場合に異常と判定する、
請求項1〜5のいずれか一項に記載のフラップ検査装置。
The sensor continuously detects the step for a certain period of time.
The abnormality determination unit determines that the abnormality is abnormal when the detected step is continuously equal to or greater than the threshold value for a certain period of time.
The flap inspection device according to any one of claims 1 to 5.
前記一定時間は、6ms以上且つ150ms以下である、
請求項6に記載のフラップ検査装置。
The fixed time is 6 ms or more and 150 ms or less.
The flap inspection apparatus according to claim 6.
開口を覆う第1フラップ及び第2フラップを備えた梱包体の前記第1フラップ及び前記第2フラップを検査するフラップ検査方法であって、
前記第1フラップの表面と前記第2フラップの表面との間の段差を検出する工程と、
前記検出する工程において検出された前記段差の値から前記第1フラップ及び前記第2フラップの異常を判定する工程と、
を備えるフラップ検査方法。
A flap inspection method for inspecting the first flap and the second flap of a package having a first flap and a second flap covering an opening.
A step of detecting a step between the surface of the first flap and the surface of the second flap, and
A step of determining an abnormality of the first flap and the second flap from the value of the step detected in the detection step, and a step of determining the abnormality.
Flap inspection method equipped with.
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