JP2020076825A - パターン形成方法および感放射線性組成物 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)感放射線性組成物を基板上に塗布し塗膜を形成する工程、
(2)前記塗膜に放射線を照射し硬化することで塗膜1を形成する工程、
(3)前記塗膜1に(2)工程とは異なる波長の放射線を照射し、
塗膜1の所定部分に凹部を形成する工程、
(4)前記凹部に、硬化性組成物を塗布し塗膜2を形成する工程、
(5)前記塗膜1の前記所定部分以外の残部を除去する工程、
を備えるパターン形成方法。
3. 前記(2)工程で照射する放射線の波長は365nm以上500nm以下であり、
前記(3)工程で照射する放射線の波長は193nm以上365nm未満である、
前記1または2に記載のパターン形成方法。
4. 前記(5)工程が、前記塗膜1の残部に放射線を照射し、その後ベークする工程、
である、前記1〜3いずれかに記載のパターン形成方法。
5. 表示素子形成用または固体撮像素子形成用である、前記1〜4いずれかに記載のパターン形成方法。
(A−2)下記式(1)で表される基を含む構造単位を有する重合体、
(B−1)光開始剤、
(B−2)酸発生剤、
(C)溶剤、
とを含有する感放射線性組成物。
(B)感光剤、
(C)溶剤、
とを含有する感放射線性組成物。
<パターン形成方法>
本発明では隔壁を、以下の少なくとも(1)〜(5)の工程を備えるパターン形成方法によって形成する。
(1)感放射線性組成物を基板上に塗布し塗膜を形成する工程、(2)前記塗膜に放射線を照射し硬化することで塗膜1を形成する工程、(3)前記塗膜1に(2)工程とは異なる波長の放射線を照射し、塗膜1の所定部分に凹部を形成する工程、(4)前記凹部に、硬化性組成物を塗布し塗膜2を形成する工程、(5)前記塗膜1の前記所定部分以外の残部を除去する工程、である。
(1)工程は、感放射線性組成物を基板上に塗布し塗膜を形成する工程である。感放射線性組成物としては、例えば、以下に記載する感放射線性組成物1や感放射線性組成物2等を好ましく挙げることができる。
感放射線性組成物1は、(A−1)チオエーテル結合の少なくとも1種、ならびに(メタ)アクリロイル基、末端アルケンおよび末端アルキンから選択される少なくとも1種を有する化合物、(A−2)下記式(1)で表される基を含む構造単位を有する重合体、
(B−1)光開始剤、(B−2)酸発生剤、(C)溶剤、とを含有することを特徴とする。
(A−1)化合物は、一分子中にチオエーテル結合の少なくとも1種、ならびに(メタ)アクリロイル基、末端アルケン(ビニル基、アリル基、ビニルオキシ基、アリルオキシ基等)および末端アルキンから選択される少なくとも1種を有する。なお(メタ)アクリロイル基は、アクリロイル基とメタクリロイル基の両方を意味する。
(A−2)は、下記式(1)で表される基を含む構造単位を有する重合体である。
式(1)で表される基を含む構造単位のモノマーを、重合体中0.1〜80モル%有していることが好ましく、1〜30モル%であることが好ましい。(A−2)重合体で、式(1)で表される構造単位以外の共重合成分としては、(メタ)アクリル酸エステル系、スチレン系、酢酸ビニル系の市販のラジカル重合可能なモノマーを適宜選択して使用することができる。
(A−2)重合体として好ましく使用できる具体的な構造単位および共重合体を挙げる。なお、共重合体のx、yはモル%を表し、yは1〜99モル%であり、5〜95モル%が好まく適宜選択することができる。
光開始剤は、(2)工程での照射する放射線により、(A−1)化合物の硬化反応を開始し得る活性種を発生することができる化合物である。
本発明の(B−1)光開始剤の含有量は、感放射線性組成物1中の100質量部に対して0.1〜10質量部であり、好ましくは1〜5質量部である。
本発明の(B−2)酸発生剤は、放射線の照射によって酸を発生する化合物である。放射線の照射によって(B−2)成分から発生する酸により、前記式(2)で表される基を重合体から解離させることが出来るようになる。
(C)溶剤は(A)成分および(B)成分を均一に溶解または分散する溶剤であれば特に限定されないが、例えばアルコール系溶剤、エーテル類、ジエチレングリコールアルキルエーテル類、エチレングリコールアルキルエーテルアセテート類、プロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、プロピレングリコールモノアルキルエーテルプロピオネート類、脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素類、ケトン類およびエステル類等を挙げることができる。このような(C)溶剤は、1種を単独で使用してもよいし、2種以上を使用してもよい。
感放射線性組成物2は、(A)下記式(1)で表される基の少なくとも1種、チオエーテル結合の少なくとも1種、ならびに、(メタ)アクリロイル基、末端アルケンおよび末端アルキンから選択される少なくとも1種、を有する化合物。
(B)感光剤、(C)溶剤、とを含有することを特徴とする。
(A)化合物は、一分子中に式(1)で表される基の少なくとも1種、チオエーテル結合の少なくとも1種、ならびに(メタ)アクリロイル基、末端アルケン(ビニル基、アリル基、ビニルオキシ基、アリルオキシ基等)および末端アルキンから選択される少なくとも1種を有する。
感放射性組成物1で述べた(B−1)光開始剤および(B−2)酸発生剤と同義であり、2種類を意味する。
[(C)溶剤]
感放射性組成物1で述べた(C)溶剤と同義である。
基板としては、例えば、ガラス、石英、シリコン、樹脂等を挙げることができる。樹脂の具体例としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルスルホン、ポリカーボネート、ポリイミド、環状オレフィンの開環重合体(ROMPポリマー)およびその水素添加物が挙げられる。これらの中でも、本発明に塗膜の製造方法で最終的に得られる画素基板をそのまま用いることが好ましいことから、従前より画素基板に用いられてきた、樹脂製基板、ガラス基板、半導体基板が好ましい。
本発明の塗膜は通常の塗布、乾燥をした後、好ましくは塗膜を加熱(プレベーク)することにより形成することができる。塗布方法としては特に限定されず、はけやブラシを用いた塗布法、ディッピング法、スプレー法、ロールコート法、回転塗布法(スピンコート法)、スリットダイ塗布法、バー塗布法、フレキソ印刷、オフセット印刷、インクジェット法、ディスペンス法等の適宜の方法を採用することができる。これらの塗布方法の中でも、特にスリットダイ塗布法またはスピンコート法が好ましい。
前記プレベークの条件は、使用する感放射線性組成物の組成等によっても異なるが、好ましくは60℃〜120℃で1分間〜10分間程度である。
塗膜1の膜厚は、所望の隔壁等の高さによって適宜選択されるが0.1μm〜50μm、好ましくは0.1μm〜10μmである。
(照射工程1)
本発明の(2)工程は、(1)工程で形成した塗膜に放射線を照射、硬化し塗膜1を形成する工程である。この塗膜1は、隔壁等を形成するための硬化性組成物に含まれるPGMEA(プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート)等の溶剤に対する耐性を有するものである。
(照射工程2)
本発明の(3)工程は、塗膜1の所望の位置にマスクを介して、(2)工程で使用した放射線とは異なる波長の放射線を照射し分解、除去し、塗膜1面上に凹部を形成する工程である。この凹部は、隔壁等のパターンの鋳型となる。また凹部の内面は、親液性表面となり、次工程の硬化性組成物の濡れ性が良好となる。
照射線の波長は、193nm以上365nm未満であることが好ましい。強度は、100mJ/cm2〜6000mJ/cm2、より好ましくは500mJ/cm2〜2000mJ/cm2である。
放射線照射による分解が不十分であった場合、さらに塗膜を現像する工程を有してもよい。この現像に用いる現像液としては、例えばアルカリ水溶液(アルカリ現像液)、有機溶媒を含有する液(有機溶媒現像液)等が挙げられる。これにより、所望の凹部が形成される。
これらの中で、TMAH水溶液が好ましく、2.38質量%TMAH水溶液がより好ましい。
これらの現像液は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。なお、現像後は、水等で洗浄し、乾燥することが一般的である。
(4)工程は、(3)工程で形成した凹部に隔壁等を形成するための硬化性組成物を塗布し塗膜2を形成する工程である。
塗膜2を形成する際に、塗膜1の表面が撥液性であることは、凹部に硬化性組成物を選択的に流し込むことができるため好ましい。
硬化性組成物としては、隔壁等を形成しうる硬化可能な組成物であれば、特に限定されず、例えば、樹脂、重合性化合物、感光剤、着色剤、高屈折率材、および溶剤等を含んでもよい。
(塗膜形成)
(4)工程における塗膜2の形成では、(1)工程の塗膜形成の方法、条件、(2)工程の硬化条件を適宜、適用することができる。また、放射線だけでなく、加熱による硬化をしてもよい。加熱温度は100〜200℃であり、120〜180℃が好ましい。ここで、表示素子や固体撮像素子の隔壁等を形成する際は、その他の部材に対する熱的ダメージを低減させることが好ましいため、放射線によって硬化を行うことが好ましい。
塗膜2では、凹部に硬化性組成物が集中するため、塗膜1の表面から若干はみ出すことがある。
(5)工程では、(4)工程で形成させた凹部内の隔壁等硬化物の周りに存在する鋳型を除去する。塗膜1の凹部以外の残部である鋳型に、(3)工程と同様の放射線を同様の条件で、放射線を照射し、分解、除去することができる。除去が不十分である場合には、(3)工程と同様に現像工程をさらに有しても良い。残部が分解、除去できる条件であれば、(3)工程と同一の条件または異なった条件であっても良い。
(5)工程によって、残部である鋳型を除去することによって、硬化物による本発明の所望のパターンを得ることができる。
(化合物)成分の重合体の重量平均分子量(Mw)および分子量分布(Mw/Mn)は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC、東ソー(株)製、商品名:HLC−8220)法を用いて、テトラヒドロフラン(THF)溶媒の条件下、ポリスチレン換算で測定した。
・測定方法:ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法
・標準物質:ポリスチレン換算
・装置 :東ソー(株)製、商品名:HLC−8220
・カラム :東ソー(株)製ガードカラムHXL−H、TSK gel G7000HXL、TSK gel GMHXL 2本、TSK gel G2000HXLを順次連結したもの
・溶媒 :テトラヒドロフラン
・サンプル濃度:0.7質量%
・注入量 :70μL
・流速 :1mL/min
[合成例1](A−1−1)の合成
冷却管および撹拌機を備えたフラスコに、2,5−ジメチルヘキサン−2,5−ジイルジアクリレート(大阪有機(株)製)41.08質量部、ジイソプロピルアミン11.18質量部、およびテトラヒドロフラン150質量部を仕込んだ。この溶液中に、1,3,4,6−テトラキス(2−メルカプトエチル)テトラヒドロイミダゾ[4,5−d]イミダゾール−2,5(1H,3H)−ジオン(四国化成(株)TS−G)7.74質量部をテトラヒドロフラン90質量部に溶解させた溶液を室温で滴下し、滴下終了後、30度に加温し、この温度を7時間保持して撹拌した。
冷却管および撹拌機を備えたフラスコに、2,5−ジメチルヘキサン−2,5−ジイルジアクリレート(大阪有機(株)製)41.08質量部、ジイソプロピルアミン11.18質量部、およびテトラヒドロフラン150質量部を仕込んだ。この溶液中に、1,3,5−トリス(2−メルカプトエチル)−1,3,5−トリアジナン−2,4,6−トリオン7.74質量部をテトラヒドロフラン90質量部に溶解させた溶液を室温で滴下し、滴下終了後、30度に加温し、この温度を7時間保持して撹拌した。
冷却管および撹拌機を備えたフラスコに、2,5−ジメチルヘキサン−2,5−ジイルジアクリレート(大阪有機(株)製)41.08質量部、ジイソプロピルアミン11.18質量部、およびテトラヒドロフラン150質量部を仕込んだ。この溶液中に、(2,4,6−トリオキソ−1,3,5−トリアジナン−1,3,5−トリイル)トリス(エタン−2,1−ジイル)トリス(3−メルカプトブタノエート)(昭和電工カレンズMT−NR1)7.74質量部をテトラヒドロフラン90質量部に溶解させた溶液を室温で滴下し、滴下終了後、30度に加温し、この温度を7時間保持して撹拌した。
冷却管および撹拌機を備えたフラスコに、1H,1H,2H,2H−トリデカフルオロオクチルアクリレート(大阪有機(株)製ビスコート13F)2.72質量部、ジイソプロピルアミン3.96質量部、およびテトラヒドロフラン150質量部を仕込んだ。この溶液中に、1,3,4,6−テトラキス(2−メルカプトエチル)テトラヒドロイミダゾ[4,5−d]イミダゾール−2,5(1H,3H)−ジオン(四国化成(株)TS−G)10.96質量部をテトラヒドロフラン30質量部に溶解させた溶液を室温で滴下し、滴下終了後、30度に加温し、この温度を7時間保持して撹拌した。
攪拌機及び滴下ロートを設置した5L反応器内に、2−ヒドロキシエチルメタクリレート65.1g(0.5mol)、ピリジン59.3g(0.75mol)及び塩化メチレン500mLを仕込み、窒素下、反応器内を0℃に冷却しながら、3−クロロプロピオン酸クロライド76.18g(0.6mol)を滴下ロートから滴下した後、0℃で2時間、攪拌下に反応させた。得られた反応液を炭酸水素ナトリウム水溶液及び飽和食塩水で順次洗浄した後に減圧濃縮し、シリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製することにより、下記式(HC−1)で表される化合物83.4gを得た。
前記合成した化合物(HC−1)36.6g(20モル%)、メタクリル酸17.8g(25モル%)及び1H,1H,5H−オクタフルオロペンチルアクリレート(大阪有機化学工業社製、ビスコート8F)(55モル%)を140gの3−メトキシプロピオン酸メチルに溶解し、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)14.4gを添加して単量体溶液を調製した。次に、60gの3−メトキシプロピオン酸メチルを入れた500mLの三口フラスコを30分窒素パージした後、撹拌しながら70℃に加熱し、前記調製した単量体溶液を滴下漏斗にて2時間かけて滴下した。滴下開始を重合反応の開始時間とし、重合反応を4時間実施した。
前記合成した化合物(HC−1)36.6g(20モル%)、メタクリル酸17.8g(25モル%)及び2,2,3,3−テトラフルオロプロピルアクリレート(大阪有機化学工業社製、ビスコート4F)(55モル%)を140gの3−メトキシプロピオン酸メチルに溶解し、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)14.4gを添加して単量体溶液を調製した。次に、60gの3−メトキシプロピオン酸メチルを入れた500mLの三口フラスコを30分窒素パージした後、撹拌しながら70℃に加熱し、前記調製した単量体溶液を滴下漏斗にて2時間かけて滴下した。滴下開始を重合反応の開始時間とし、重合反応を4時間実施した。
下記のようにして、表1に記載の組成物を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を3質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−1)を調製した。
前記合成例2で得られた化合物(A−1−2)を100質量部、重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を3質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−2)を調製した。
前記合成例3で得られた化合物(A−1−4)を100質量部、重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を3質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−3)を調製した。
前記合成例4で得られた化合物(A−1−6)を100質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−4)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−2)を3質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−5)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−3)を3質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−6)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−4)を3質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−7)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製 UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を1質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−8)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製 UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を12質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−9)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製 UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を3質量部、感光剤として、N−ヒドロキシナフタルイミド(NIT)(ヘレウス社製)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−10)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を12質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、エタノン,1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−,1−(O−アセチルオキシム)(BASF社、IrgOXE−02)5質量部(B−2−2)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−11)を調製した。
前記合成例1で得られた化合物(A−1−1)を100質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−14)を調製した。
重合体(A−2−1)(大成ファインケミカル社製UV硬化型シリコーン・フッ素アクリルポリマー、8FS−001)を100質量部、感光剤としてトリフルオロメタンスルホン酸トリフェニル(B−1−1)を5質量部、アデカ製NCI−831(B−2−1)5質量部を混合し、固形分濃度が20質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径0.5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、感放射線性組成物(S−15)を調製した。
カーボンブラック分散液(御国色素社製、JBK−12752)を100質量部、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(日本化薬製、DPHA)50質量部、感光剤としてアデカ製NCI−831(B−2−1)15質量部を混合し、固形分濃度が39質量%となるように、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えた後、孔径5μmのミリポアフィルタでろ過することにより、参考例1を調製した。
<評価方法>
[膜評価]
実施例1〜12、比較例1〜2で調整した感放射性組成物を用いて、膜評価を行い、以下の評価を実施した。結果を表2に示す。評価は特に記載の無い限り23℃55%RHの雰囲気下で行った。
事前にHMDS処理した6インチシリコンウェーハ上に、実施例1〜12、比較例1〜2で調整した感放射線性組成物をそれぞれスピンナーで乾燥膜厚0.5μmとなるように塗布した後、95℃のホットプレート上で1分間プレベークした。得られた塗膜に365ナノメートルより短い波長の光をカットするフィルターを介して無電極UVランプを用い(露光機:ヘレウス社製FUSION)、露光量を2.4J/cm2として窒素中で放射線照射を行い、塗膜1を得た。得られた塗膜1にフォトマスクを介して高圧水銀ランプを用い、露光量を700mJ/cm2として放射線照射を行った。
続いて、放射線照射後の塗膜1を有する基板を、120℃のホットプレートで1分間放射線照射後ベーク(以降PEBと略す)し、PEB後の塗膜1を有する基板を2.38%テトラアンモニウムヒドロキシド水溶液に60秒間浸漬することにより露光部を除去し塗膜1表面に凹部を形成した。
事前にHMDS処理した6インチシリコンウェーハ上に、実施例1〜12、比較例1〜2で調整した感放射線性組成物をそれぞれスピンナーで塗布した後、95℃のホットプレート上で1分間プレベークした。得られた塗膜に365ナノメートルより短い波長の光をカットするフィルターを介して無電極UVランプを用い(露光機:ヘレウス社製FUSION)、露光量を2.4J/cm2として窒素中で放射線照射を行い、塗膜1を得た。
事前にHMDS処理した6インチシリコンウェーハ上に、実施例1〜12、比較例1〜2で調整した感放射線性組成物をそれぞれスピンナーで乾燥膜厚0.5μmとなるように塗布した後、95℃のホットプレート上で1分間プレベークした。得られた塗膜に365ナノメートルより短い波長の光をカットするフィルターを介して無電極UVランプを用い(露光機:ヘレウス社製FUSION)、露光量を2.4J/cm2として窒素中で放射線照射を行い、塗膜1を得た。得られた塗膜1にフォトマスクを介して高圧水銀ランプを用い、露光量を700mJ/cm2として放射線照射を行った。続いて、塗膜1を有する基板を2.38%テトラアンモニウムヒドロキシド水溶液に60秒間浸漬することにより露光部を除去し、塗膜1表面にラインアンドスペースパターンを形成した。
前記で作製したパターンの凹部付近に、自動極小接触角計(協和界面科学社製MCA−2)を用い、マイクロキャピラリーにてPGMEA60plを滴下し、5秒後に滴下部分を滴下方向からマイクロスコープにて観察した。
(工程1)
事前にHMDS処理した6インチシリコンウェーハ上に、実施例1で調整した感放射線性組成物をそれぞれスピンナーで乾燥膜厚0.5μmとなるように塗布した後、95℃のホットプレート上で1分間プレベークした。
得られた塗膜に365ナノメートルより短い波長の光をカットするフィルターを介して無電極UVランプを用い(露光機:ヘレウス社製FUSION)、露光量を2.4J/cm2として窒素中で放射線照射を行い、硬化した塗膜1を得た。
得られた塗膜1にフォトマスクを介して高圧水銀ランプを用い、露光量を700mJ/cm2として放射線照射を行った。
続いて、放射線照射後の塗膜1を有する基板を、120℃のホットプレートで1分間放射線照射後ベーク(以下、PEBと略す)し、PEB後の塗膜1を有する基板を2.38%テトラアンモニウムヒドロキシド水溶液に60秒間浸漬することにより露光部を除去し塗膜1表面に凹部を形成した。
前記で作製した塗膜1上に、カーボンブラック分散液(100質量部、御国色素社製、カーボンブラックをCBと略すこともある)とジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(50質量部、新中村化学工業社製)とNCI−831(15質量部、ADEKA社製)からなるプロピレングリコールメチルエーテルアセテート溶液(硬化性組成物であるCB溶液,ここで、前記硬化性組成物の全量から、プロピレングリコールメチルエーテルアセテートを抜いた全成分のことを固形分とし、同固形分の全量を100質量%としたときのCB濃度は30質量%である)を滴下した後、塗膜1とCB溶液とを有する基板を傾けて、塗膜1上のCB溶液を排除し、塗膜1の凹部のみにCB溶液が残存した、塗膜1とCB溶液とを有する基板を形成した。
得られたパターン付き塗膜2全面に、高圧水銀ランプを用い、露光量を10J/cm2として放射線照射を行った。続いて、放射線照射後の塗膜2を有する基板を、120℃のホットプレートで1分間PEBし、PEB後の塗膜2を有する基板を2.38%テトラアンモニウムヒドロキシド水溶液に60秒間浸漬することにより、塗膜2上の塗膜1のパターンのみを除去し、基板上にCBのパターンのみを形成した。
前記工程1で用いた感放射線性組成物として比較例1を用いた以外は、前記実施例1の評価工程と同様の工程により、基板上にCBのパターンのみを形成した。
事前にHMDS処理した6インチシリコンウェーハ上に、カーボンブラック分散液(100質量部、御国色素社製)とジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(50質量部、新中村化学工業社製)とNCI−831(15質量部、ADEKA社製)からなるプロピレングリコールメチルエーテルアセテート溶液(CB溶液,CB固形分濃度30質量%)をスピンナーで乾燥膜厚1.0μmとなるように塗布した後、120℃のホットプレート上で1分間プレベークした。得られたCB塗膜にフォトマスクを介して高圧水銀ランプを用い、露光量を700mJ/cm2として放射線照射を行った。
(工程1)
事前にHMDS処理した6インチシリコンウェーハ上に、実施例1で調整した感放射線性組成物をそれぞれスピンナーで乾燥膜厚0.5μmとなるように塗布した後、95℃のホットプレート上で1分間プレベークした。
(工程2)
得られた塗膜に365ナノメートルより短い波長の光をカットするフィルターを介して無電極UVランプを用い(露光機:ヘレウス社製FUSION)、露光量を2.4J/cm2として窒素中で放射線照射を行い、硬化した塗膜1を得た。
得られた塗膜1にフォトマスクを介して高圧水銀ランプを用い、露光量を700mJ/cm2として放射線照射を行った。
続いて、放射線照射後の塗膜1を有する基板を、120℃のホットプレートで1分間PEBし、PEB後の塗膜1を有する基板をプロピレングリコールメチルエーテルアセテートに60秒間浸漬することにより露光部を除去し塗膜1表面に凹部を形成した。
前記で作製した塗膜1上に、硬化性組成物としてカーボンブラック分散液(100質量部、御国色素社製)とジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(50質量部、新中村化学工業社製)とNCI−831(15質量部、ADEKA社製)からなるプロピレングリコールメチルエーテルアセテート溶液(CB溶液,CBの固形分濃度30質量%)を滴下した後、塗膜1とCB溶液とを有する基板を傾けて、塗膜1上のCB溶液を排除し、塗膜1の凹部のみにCB溶液が残存した、塗膜1とCB溶液とを有する基板を形成した。
得られたパターン付き塗膜2全面に、高圧水銀ランプを用い、露光量を10J/cm2として放射線照射を行った。続いて、放射線照射後の塗膜2を有する基板を、120℃のホットプレートで1分間PEBし、PEB後の塗膜2を有する基板をプロピレングリコールメチルエーテルアセテートに60秒間浸漬することにより、塗膜2上の塗膜1のパターンのみを除去し、基板上にCBのパターンのみを形成した。
実施例1を用いたパターン:◎、実施例2を用いたパターン:○、参考例を用いたパターン:×、比較例1を用いたパターン:×、であった。
Claims (8)
- 少なくとも、
(1)感放射線性組成物を基板上に塗布し塗膜を形成する工程、
(2)前記塗膜に放射線を照射し硬化することで塗膜1を形成する工程、
(3)前記塗膜1に(2)工程とは異なる波長の放射線を照射し、
塗膜1の所定部分に凹部を形成する工程、
(4)前記凹部に、硬化性組成物を塗布し塗膜2を形成する工程、
(5)前記塗膜1の前記所定部分以外の残部を除去する工程、
を備えるパターン形成方法。 - 前記(4)工程の硬化性組成物が、黒色顔料、金属または金属酸化物からなる群より選択される少なくとも1種を含有する感放射線性組成物である、請求項1に記載のパターン形成方法。
- 前記(2)工程で照射する放射線の波長は365nm以上500nm以下であり、
前記(3)工程で照射する放射線の波長は193nm以上365nm未満である、
請求項1または2に記載のパターン形成方法。 - 前記(5)工程が、前記塗膜1の残部に放射線を照射し、その後ベークする工程、
である、請求項1〜3いずれか1項に記載のパターン形成方法。 - 表示素子形成用または固体撮像素子形成用である、請求項1〜4いずれか1項に記載のパターン形成方法。
- (A−1)チオエーテル結合の少なくとも1種、ならびに(メタ)アクリロイル基、末端アルケンおよび末端アルキンから選択される少なくとも1種を有する化合物、
(A−2)下記式(1)で表される基を含む構造単位を有する重合体、
(B−1)光開始剤、
(B−2)酸発生剤、
(C)溶剤、
とを含有する感放射線性組成物。
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