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JP2019082395A - Analyzer - Google Patents

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JP2019082395A JP2017209710A JP2017209710A JP2019082395A JP 2019082395 A JP2019082395 A JP 2019082395A JP 2017209710 A JP2017209710 A JP 2017209710A JP 2017209710 A JP2017209710 A JP 2017209710A JP 2019082395 A JP2019082395 A JP 2019082395A
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Abstract

To dispose a power supply member for applying a voltage to a sample of an analysis tool while suppressing the interference with another member.SOLUTION: An analyzer 102 includes: an installation unit 122 in which an analysis tool 42 having an electrode for applying electrophoresis to a sample is installed; a power feeding probe 190; and a measurement member. The power feeding probe approaches from a side surface direction avoiding the installation unit 122 and a pressing member 124 which are located in the direction of grabbing the analysis tool 42 installed in the installation unit 122, to electrically come into contact with the electrode, and applies a voltage to apply the electrophoresis to the sample. The measurement member measures the component of the sample undergoing the electrophoresis with the analysis tool 42 introduced in an introduction unit 120.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明は、分析装置に関する。   The present invention relates to an analyzer.

試料に電圧を印加して電気泳動させ、この試料中の成分を分析する分析装置として、たとえば、特許文献1に示されるように、試料に電圧印加する電極を、試料を備えたチップに対し上方から挿入する構造の装置がある。   For example, as shown in Patent Document 1, an electrode for applying a voltage to a sample is positioned above a chip provided with the sample as an analyzer for analyzing components in the sample by applying a voltage to the sample to cause electrophoresis. There is a device of the structure to insert from.

特開2012−093350号公報JP, 2012-093350, A

このような分析装置において、分析用具の上方に各種の部材を配置する構造を採ると、さらに分析用具の上方に、電圧印加のための部材を配置することは難しい場合がある。また、分析用具の位置の精度によっては、電圧印加のための部材を分析用具に電気的に接続することが難しい場合もある。すなわち、電圧印加のための部材を分析用具に対しどのように配置するか、という点で改善の余地がある。   In such an analyzer, if various members are arranged above the analysis tool, it may be difficult to arrange a member for applying a voltage above the analysis tool. In addition, depending on the accuracy of the position of the analysis tool, it may be difficult to electrically connect a member for voltage application to the analysis tool. That is, there is room for improvement in terms of how to arrange a member for applying a voltage to the analysis tool.

本発明の目的は、分析用具の試料に電圧印加するための給電部材を、他の部材との干渉を抑制して配置することである。   An object of the present invention is to arrange a feeding member for applying a voltage to a sample of an analysis tool while suppressing interference with other members.

第一態様では、試料を電気泳動させるための電極を備えた分析用具が設置される設置部と、前記設置部に設置された前記分析用具を押圧して前記設置部との間で挟み込む押圧部材と、を備える導入部と、前記導入部に導入された前記分析用具を挟み込む方向に位置する前記設置部及び前記押圧部材を回避した側面方向から接近して前記電極と電気的に接触し電圧印加により前記試料を電気泳動させる給電部材と、前記導入部に導入された前記分析用具において電気泳動する前記試料の成分を測定する測定部材と、を有する。   In the first aspect, a pressing member for placing an analysis tool having an electrode for electrophoresis of a sample, and a pressing member for pressing the analysis tool installed on the setting unit and sandwiching the same with the setting unit And an installation portion positioned in a direction sandwiching the analysis tool introduced into the introduction portion, and an electrical contact with the electrode by approaching from the side direction avoiding the pressing member and the voltage application And a measuring member for measuring a component of the sample to be electrophoresed in the analysis tool introduced into the introduction unit.

導入部の設置部に設置された分析用具に対し、押圧部材により分析用具を押圧し設置部との間に挟みこむ。これにより、分析用具を所定の位置に保持できる。設置部及び押圧部材は、導入部に導入された分析用具を挟み込む方向に位置するが、給電部材は、これらの設置部及び押圧部材を回避した側面方向から給電部材が接近し、電極と接触して、電圧印加する。この電圧印加により、試料が電気泳動される。給電部材は、設置部及び押圧部材を回避した側面方向から分析用具に接近するので、設置部や押圧部材と、給電部材との干渉を抑制できる。   The analysis tool is pressed by the pressing member with respect to the analysis tool installed in the installation section of the introduction unit and is sandwiched between the analysis tool and the installation section. This allows the analytical tool to be held in place. The installation portion and the pressing member are positioned in a direction to sandwich the analysis tool introduced into the introducing portion, but the power feeding member is brought into contact with the electrode when the power feeding member approaches from the side direction avoiding the installation portion and the pressing member. Apply a voltage. The sample is electrophoresed by this voltage application. Since the power feeding member approaches the analysis tool from the side direction avoiding the installation portion and the pressing member, interference between the installation portion or the pressing member and the power feeding member can be suppressed.

第二態様では、第一態様において、前記分析用具を前記導入部において所定位置に位置決めする位置決め部材を有し、前記位置決め部材によって位置決めされた状態で前記給電部材が前記電極と接触する。   In a second aspect, in the first aspect, a positioning member for positioning the analysis tool at a predetermined position in the introduction part is provided, and the power feeding member is in contact with the electrode in a state of being positioned by the positioning member.

位置決め部材により、分析用具を導入部において位置決めできる。このように位置決めされた状態の分析用具の側面方向から給電部材が接近し、電極と接触するので、給電部材と電極とを、接触不良を抑制して確実に接触させることができる。   The positioning member allows the analytical tool to be positioned at the introduction portion. The feed member approaches from the side direction of the analytical tool positioned in this way and contacts the electrode, so that the feed member and the electrode can be reliably contacted by suppressing the contact failure.

第三態様では、第二態様において、前記分析用具が、前記試料が泳動するキャピラリーを備えたチップと、液体槽を備え前記チップに重ねられるカートリッジと、を含み、前記押圧部材が、前記分析用具を前記チップと前記カートリッジとの重ね合わせ方向に押圧して前記設置部との間で挟み込み前記チップと前記カートリッジとを嵌合させる。   In a third aspect, in the second aspect, the analysis device includes a chip provided with a capillary on which the sample migrates, and a cartridge provided with a liquid tank and stacked on the chip, and the pressing member is the analysis device The chip is pressed in the direction in which the chip and the cartridge overlap, and the chip and the cartridge are fitted with each other by being sandwiched between the installation portion.

設置部に設置された分析用具を押圧部材が押圧し、設置部との間で挟み込む、これにより、分析用具のチップと、このチップに重ねられたカートリッジとを確実に嵌合させることができる。   The pressing member presses the analysis tool installed in the installation unit and sandwiches the analysis tool with the installation unit, whereby the chip of the analysis tool can be reliably fitted with the cartridge stacked on the chip.

第四態様では、第二又は第三態様において、前記位置決め部材による前記分析用具の位置決め方向が、前記給電部材が前記分析用具に接近する方向と交差する方向を含んでいる。   In a fourth aspect, in the second or third aspect, the positioning direction of the analysis tool by the positioning member includes a direction that intersects the direction in which the power feeding member approaches the analysis tool.

分析用具が位置決めされる方向が、給電部材が分析用具に接近する方向と交差する方向を含んでいるので、給電部材が接近する先に電極が位置するように分析用具を位置決めできる。そして、このように位置決めされた分析用具の電極に、給電部材を確実に接触させることができる。   Since the direction in which the analysis tool is positioned includes a direction that intersects the direction in which the feeding member approaches the analysis tool, the analysis tool can be positioned so that the electrode is positioned before the feeding member approaches. Then, the feeding member can be reliably brought into contact with the electrode of the analysis tool positioned in this manner.

第五態様では、第一〜第四のいずれか1つの態様において、前記電極と前記側面とを連通する側面孔を備えた前記分析用具に対し、前記給電部材が前記側面孔に挿入されて前記電極に接触される。   In a fifth aspect, according to any one of the first to fourth aspects, the power feeding member is inserted into the side hole with respect to the analysis tool having the side hole communicating the electrode and the side, It is in contact with the electrode.

側面孔に給電部材が挿入されるので、給電部材が分析用具に接近する際の移動ストロークが、側面孔に挿入されない構成と比較して長い。しかし、このように給電部材の移動ストロークが長くても、給電部材の移動範囲に他の部材が干渉することを抑制できる。   Since the feeding member is inserted into the side hole, the moving stroke when the feeding member approaches the analysis tool is long as compared with the configuration in which the feeding hole is not inserted into the side hole. However, even if the movement stroke of the power supply member is long as described above, interference of other members with the movement range of the power supply member can be suppressed.

本発明では、分析用具の試料に電圧印加するための給電部材を、他の部材との干渉を抑制して配置できる。   In the present invention, the power supply member for applying a voltage to the sample of the analysis tool can be disposed with suppressing interference with other members.

図1は第一実施形態の分析装置の外観を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of the analyzer of the first embodiment. 図2は分析装置での分析に用いられる分析用具を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing an analysis tool used for analysis in the analyzer. 図3は図2に示す分析用具を示す分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view showing the analysis tool shown in FIG. 図4は図2に示す分析用具の4−4線断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line 4-4 of the analysis tool shown in FIG. 図5は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す正面図である。FIG. 5 is a front view showing the introducing portion and the vicinity thereof in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図6は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing the introducing portion and the vicinity thereof in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図7は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す正面図である。FIG. 7 is a front view showing the introducing portion and the vicinity thereof in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図8は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す平面図である。FIG. 8 is a plan view showing the introducing portion and the vicinity thereof in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図9は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing the introducing portion and the vicinity thereof in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図10は第一実施形態の分析装置の押圧部材を示す斜視図である。FIG. 10 is a perspective view showing the pressing member of the analyzer of the first embodiment. 図11は第一実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing film is pierced by a piercing pin in the analyzer of the first embodiment. 図12は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を分析用具が傾斜した状態で示す正面図である。FIG. 12 is a front view showing the introducing portion and its vicinity in the inside of the analyzer of the first embodiment in a state where the analyzing tool is inclined. 図13は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を分析用具が傾斜した状態で示す側面図である。FIG. 13 is a side view showing the introducing portion and its vicinity in the inside of the analyzer of the first embodiment in a state where the analysis tool is inclined. 図14は第一実施形態の分析装置の内部において照射部材を分析用具に挿入する状態を示す正面図である。FIG. 14 is a front view showing a state in which the irradiation member is inserted into the analysis tool in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図15は第一実施形態の分析装置の内部において照射部材を分析用具に挿入した状態を示す正面図である。FIG. 15 is a front view showing a state in which the irradiation member is inserted into the analysis tool in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図16は第一実施形態の分析装置の内部において押圧部材で分析用具を押圧した状態を示す正面図である。FIG. 16 is a front view showing a state where the analysis tool is pressed by the pressing member in the inside of the analyzer of the first embodiment. 図17は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 17 is a state diagram of an analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図18は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 18 is a state diagram of an analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図19は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 19 is a state diagram of an analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図20は第一実施形態の分析装置の内部において給電プローブを分析用具に挿入した状態を示す正面図である。FIG. 20 is a front view showing a state in which the power supply probe is inserted into the analysis tool inside the analyzer of the first embodiment. 図21は第一実施形態の分析装置の内部において給電プローブを分析用具に挿入した状態を示す平面図である。FIG. 21 is a plan view showing a state in which the power supply probe is inserted into the analysis tool inside the analyzer of the first embodiment. 図22は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 22 is a state diagram of an analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図23は第二実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 23 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing film is perforated by the perforation pins in the analyzer of the second embodiment. 図24は第三実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 24 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing film is pierced by a piercing pin in the analyzer of the third embodiment. 図25は第四実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 25 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing film is perforated by the perforation pins in the analyzer of the fourth embodiment. 図26は参考例の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 26 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing film is pierced by a piercing pin in the analyzer of the reference example.

[第一実施形態]
第一実施形態の分析装置について、以下、図面を参照して説明する。本実施形態の分析装置は、たとえば、血液に含まれる糖化ヘモグロビンの量を分析する装置である。血液は、試料の一例であり、検体と称されることもある。糖化ヘモグロビンは、分析装置による分析対象の一例である。
First Embodiment
The analyzer of the first embodiment will be described below with reference to the drawings. The analyzer according to the present embodiment is, for example, an apparatus that analyzes the amount of glycated hemoglobin contained in blood. Blood is an example of a sample and may be referred to as a sample. Glycated hemoglobin is an example of an analysis target by the analyzer.

<分析装置の外観構成>
図1に示すように、分析装置102は筐体104を有する。本実施形態では、筐体104は、略直方体の箱状に形成されている。以下では、分析装置102における上下方向、幅方向、及び奥行方向を、それぞれ矢印U、矢印W、矢印Dで示す。矢印W方向、矢印D方向、及び矢印W方向と矢印D方向を合成した方向は、いずれも水平方向である。また、分析装置102の奥行方向の奥側及び手前側をそれぞれ矢印DA、矢印DBで示す。
<Appearance Configuration of Analyzer>
As shown in FIG. 1, the analyzer 102 has a housing 104. In the present embodiment, the housing 104 is formed in a substantially rectangular box shape. Hereinafter, the up-down direction, the width direction, and the depth direction in the analyzer 102 are indicated by arrows U, W, and D, respectively. The arrow W direction, the arrow D direction, and the direction obtained by combining the arrow W direction and the arrow D direction are all horizontal directions. Further, the far side and the near side in the depth direction of the analyzer 102 are respectively indicated by arrows DA and DB.

筐体104には、図示しないタッチパネルが設けられている。分析作業の作業者は、タッチパネルに表示された情報を参照しながら、タッチパネルに接触することで、分析装置102を操作することができる。   The housing 104 is provided with a touch panel (not shown). The operator of the analysis work can operate the analyzer 102 by touching the touch panel while referring to the information displayed on the touch panel.

また、筐体104には、図示しないプリンターが設けられている。分析装置102は、試料を分析した結果をプリンターで印刷することが可能である。   In addition, the housing 104 is provided with a printer (not shown). The analysis device 102 can print out the results of analysis of the sample with a printer.

筐体104の手前面108には、開閉蓋114が設けられている。開閉蓋114は、開閉機構116によって手前側に移動した突出位置(二点鎖線で示す)と、奥側へ移動して手前面108と面一になった収容位置(実線で示す)との間をスライド可能である。開閉蓋114が突出位置にある状態で、開閉蓋114と共にトレー118が筐体104の手前側に露出する。このトレーに、検体(試料)を含む分析用具42を載置することができる。   An open / close lid 114 is provided on the front surface 108 of the housing 104. The open / close lid 114 is located between a protruding position (indicated by a two-dot chain line) moved to the front side by the opening / closing mechanism 116 and an accommodated position (indicated by a solid line) moved to the back side and flush with the hand front surface 108. The slide is possible. With the open / close lid 114 in the projecting position, the tray 118 together with the open / close lid 114 is exposed on the front side of the housing 104. An analysis tool 42 containing a sample (sample) can be placed on this tray.

<分析用具の構成>
図2〜図4に示すように、本実施形態の分析用具42は、一例として、チップ44とカートリッジ46とを有する構造である。チップ44の上にカートリッジ46が重ね合わされた状態で、矢印D1側を奥側にして分析装置102のトレー118にセットされる。分析用具42においても、便宜的に、分析装置102のトレー118にセットされた状態での上下方向、幅方向、及び奥行方向を、それぞれ矢印U、矢印W、矢印Dで示す。また、分析用具42の奥前側及び手前側をそれぞれ矢印D1、矢印D2で示す。
<Configuration of analysis tool>
As shown in FIGS. 2 to 4, the analysis tool 42 of the present embodiment has a structure having a chip 44 and a cartridge 46 as an example. With the cartridge 46 superimposed on the chip 44, the cartridge is set in the tray 118 of the analyzer 102 with the arrow D 1 side facing back. Also in the analysis tool 42, for convenience, the vertical direction, width direction, and depth direction in the state of being set in the tray 118 of the analyzer 102 are indicated by arrows U, W, and D, respectively. Further, the back front side and the front side of the analysis tool 42 are indicated by arrows D1 and D2, respectively.

チップ44は、平面視(矢印A1方向視)で同一の外形である2枚の板材(上板44A及び下板44B)を貼り合わせて形成されている。チップ44は、板材44A、44Bが貼り合わされた状態で、板状の部材である。チップ44が水平方向に置かれた状態で、チップ44の板厚方向は鉛直方向と一致する。そして、カートリッジ46は、チップ44に対し鉛直方向、すなわちチップ44の板厚方向に重ねられる。   The chip 44 is formed by bonding two plate members (upper plate 44A and lower plate 44B) having the same outer shape in plan view (view in the arrow A1 direction). The chip 44 is a plate-like member in a state in which the plate members 44A and 44B are attached to each other. When the chip 44 is placed horizontally, the thickness direction of the chip 44 coincides with the vertical direction. Then, the cartridge 46 is superimposed on the chip 44 in the vertical direction, that is, in the thickness direction of the chip 44.

チップ44には、複数の流路48が形成されている。   A plurality of flow channels 48 are formed in the chip 44.

流路48のそれぞれの断面形状や、チップ44を平面視したときの形状は限定されず、1箇所又は複数個所で曲がっていてもよいし、直線状であってもよい。   The cross-sectional shape of each of the flow paths 48 and the shape when the tip 44 is viewed in plan are not limited, and may be bent at one or a plurality of places or may be linear.

これら流路48の流路断面積は、後述するポンプ172(図11参照)によって液体が加圧されると、加圧された液体がこれらの流路48を流れる程度に設定されている。   The flow passage cross-sectional area of the flow passages 48 is set to such an extent that the pressurized liquid flows through the flow passages 48 when the liquid is pressurized by a pump 172 (see FIG. 11) described later.

流路48の端部には、カートリッジ46に向かって突出する凸部50が形成されている。凸部50は、後述するように、底面膜58を穿孔する穿孔突起の一例である。   At the end of the flow path 48, a convex portion 50 that protrudes toward the cartridge 46 is formed. The convex portion 50 is an example of a perforating protrusion for perforating the bottom film 58 as described later.

カートリッジ46には、複数の液体槽52が形成されている。   In the cartridge 46, a plurality of liquid reservoirs 52 are formed.

これらの液体槽52は、カートリッジ46の上部に形成された凹み部分であり、上面は封止膜54で封止されている。本実施形態では、図4にも示すように、複数の液体槽52を、1枚の封止膜54で封止しているが、液体槽52ごとに、封止膜54が分離されていてもよい。封止膜54 の材質は、液体槽52内において封止されている液体が気化等せず封止され、後述する分析装置に備えられた穿孔部材によって穿孔されればよく、例えばPETを含む多層構造のラミネートフィルムが挙げられる。   These liquid reservoirs 52 are recessed portions formed in the upper portion of the cartridge 46, and the upper surface is sealed with a sealing film 54. In the present embodiment, as shown also in FIG. 4, the plurality of liquid tanks 52 are sealed by one sealing film 54, but the sealing film 54 is separated for each liquid tank 52. It is also good. The material of the sealing film 54 may be sealed without vaporization of the liquid sealed in the liquid tank 52, and may be perforated by a perforation member provided in an analysis device described later, for example, a multilayer including PET A laminated film of structure is mentioned.

液体槽52の下部には、チップ44の流路と連通する連通部56が形成されている。複数の液体槽52の一部には、たとえば、希釈液や泳動液等の液体LAが封入されている。液体が封入された液体槽52の連通部56の下部は底面膜58で封止されている。   A communication portion 56 communicating with the flow path of the chip 44 is formed at the lower portion of the liquid tank 52. In part of the plurality of liquid reservoirs 52, for example, a liquid LA such as a dilution liquid or a migration liquid is enclosed. The lower portion of the communication portion 56 of the liquid tank 52 in which the liquid is sealed is sealed by the bottom film 58.

なお、チップ44の流路48において、後述するキャピラリー68よりも液体の流れの上流側にフィルタを設けてもよい。このフィルタにより、液体以外の異物が除去されて、キャピラリー68には流れない構造が実現できる。   In the flow path 48 of the chip 44, a filter may be provided on the upstream side of the flow of the liquid than the capillary 68 described later. By this filter, foreign matter other than liquid is removed, and a structure which does not flow to the capillary 68 can be realized.

複数の液体槽52のうち、特定の2つの連通部56に対応する流路48の間には、キャピラリー68が形成されている。キャピラリー68の流路断面積は、流路48に存在している液体が毛細管現象で流れるように設定されている。したがって、キャピラリー68の流路断面積は、流路48のいずれの流路断面積よりも小さい。そして、キャピラリー68の両側の連通部56には電極62が設けられている。   A capillary 68 is formed between the flow paths 48 corresponding to two specific communication portions 56 among the plurality of liquid reservoirs 52. The flow passage cross-sectional area of the capillary 68 is set such that the liquid present in the flow passage 48 flows by capillary action. Therefore, the flow passage cross-sectional area of the capillary 68 is smaller than any flow passage cross-sectional area of the flow passage 48. An electrode 62 is provided in the communication portion 56 on both sides of the capillary 68.

カートリッジ46の一側面46Aには、図21に示すように、電極62のそれぞれに対応する側面孔64が形成されている。側面孔64は分析用具42における2つの側面の一方(一側面46A)から電極62に達する孔である。後述するように、分析装置102の給電プローブ194(給電部材の一例)をカートリッジ46の側面孔64に挿入し、電極62に接触させることで、2つの電極62の間に電圧を印加することが可能である。   On one side 46A of the cartridge 46, as shown in FIG. 21, side holes 64 corresponding to the respective electrodes 62 are formed. The side holes 64 are holes that reach the electrode 62 from one of the two side surfaces (one side surface 46A) in the analysis tool 42. As will be described later, a voltage can be applied between the two electrodes 62 by inserting the feed probe 194 (an example of the feed member) of the analyzer 102 into the side hole 64 of the cartridge 46 and contacting the electrode 62. It is possible.

なお、カートリッジ46における一側面46A及び他側面46Bは、分析用具42における一側面42A及び他側面42Bと同じである。   The one side 46A and the other side 46B of the cartridge 46 are the same as the one side 42A and the other side 42B of the analysis tool 42.

本実施形態では、キャピラリー68は、下板44Bに形成された溝部を、上板44Aが覆う構造である。したがって、実質的には、キャピラリー68は、チップ44において下板44Bに形成されている。   In the present embodiment, the capillary 68 has a structure in which the upper plate 44A covers the groove formed in the lower plate 44B. Therefore, substantially, the capillary 68 is formed in the lower plate 44 B at the tip 44.

分析用具42(カートリッジ46及びチップ44)には、キャピラリー68の中間位置に、上面側から挿入孔70が形成されている。本実施形態では、チップ44の上板44Aにも挿入孔70の一部が形成されている。   In the analysis tool 42 (the cartridge 46 and the tip 44), an insertion hole 70 is formed at an intermediate position of the capillary 68 from the upper surface side. In the present embodiment, a part of the insertion hole 70 is also formed in the upper plate 44A of the chip 44.

挿入孔70には、分析装置102の照射部材176(図4参照)が挿入される。この照射部材176は、キャピラリー68内を電気泳動する試料に、先端の照射部176Aから光を照射する部材である。照射部材176の照射部176Aは挿入孔70の底部70Bに接触される。   The irradiation member 176 (see FIG. 4) of the analyzer 102 is inserted into the insertion hole 70. The irradiation member 176 is a member that irradiates light from the irradiation unit 176A at the tip to the sample that is to be electrophoresed in the capillary 68. The irradiation portion 176A of the irradiation member 176 is in contact with the bottom portion 70B of the insertion hole 70.

図3に示すように、チップ44には、分析用具42の他側面42Bと同じ側に、平面視で二等辺三角形状の切込72が形成されている。切込72は凹部71の一例である。切込72は、分析用具42の導入方向(奥側、矢印D1方向)に対し傾斜する2つの傾斜面72A、72Bを有している。切込72には、後述する位置決めピン140Aが嵌合される。そして、位置決めピン140Aに、傾斜面72A、72Bが接触する。   As shown in FIG. 3, the chip 44 is formed with an isosceles triangular notch 72 in plan view on the same side as the other side surface 42 B of the analysis tool 42. The incision 72 is an example of the recess 71. The incision 72 has two inclined surfaces 72A and 72B which are inclined with respect to the introduction direction (rear side, arrow D1 direction) of the analysis tool 42. Positioning pins 140A, which will be described later, are fitted in the notches 72. Then, the inclined surfaces 72A and 72B come in contact with the positioning pin 140A.

また、チップ44には、切込72とは異なる位置にも、凹部71として切込73が形成されている。この切込73は、切込72と異なり、平面視で略台形状又は長方形状であり、後述する位置決めピン140Bが嵌合される。そして、位置決めピン140Bに奥面71Dが接触する。   In addition, notches 73 are formed in the tip 44 as recesses 71 at positions different from the notches 72. Unlike the notch 72, the notch 73 is substantially trapezoidal or rectangular in plan view, and a positioning pin 140B described later is fitted therein. And back surface 71D contacts positioning pin 140B.

凹部71としては、上記した切込72及び切込73の構成以外にも、3つ以上の切込を備えていてもよく、またその形状も切込72または切込73の形状に限られない。いずれにおいても分析装置の位置決めピン等の接触部材と接触または嵌合され、分析用具を位置決め可能な組み合わせとなっていれば形状は問わない。   The recess 71 may have three or more notches in addition to the above-described configuration of the notches 72 and the notches 73, and the shape thereof is not limited to the shape of the notches 72 or the notches 73. . In any case, any shape may be used as long as it is in contact with or fitted with a contact member such as a positioning pin of the analysis device and can be positioned with the analysis tool.

なお、カートリッジ46の他側面46Bには、位置決めピン140A、140Bとの接触を避けるための逃げ部46C(図9参照)が形成されている。   A relief 46C (see FIG. 9) is formed on the other side 46B of the cartridge 46 to avoid contact with the positioning pins 140A and 140B.

分析用具42は、チップ44の上方に、カートリッジ46が装着され、この状態で、カートリッジ46に形成された爪部74がチップ44に係合されて、チップ44とカートリッジ46とが一体化される。そして、一体化された状態で、チップ44とカートリッジ46とを相対的に接近させることで、カートリッジ46とチップ44とを嵌合させることができる。チップ44とカートリッジ46との一体化状態、及び嵌合状態では、分析用具42は略直方体の外形を成す。また、チップ44とカートリッジ46との嵌合状態では、キャピラリー68内を電気泳動する試料の成分の分析が可能である。   In the analysis tool 42, the cartridge 46 is mounted above the chip 44. In this state, the claws 74 formed on the cartridge 46 are engaged with the chip 44, and the chip 44 and the cartridge 46 are integrated. . Then, the cartridge 46 and the chip 44 can be fitted together by relatively bringing the chip 44 and the cartridge 46 close to each other in the integrated state. In the integrated state and in the fitted state of the chip 44 and the cartridge 46, the analysis tool 42 has a substantially rectangular parallelepiped outer shape. Further, in the fitted state of the chip 44 and the cartridge 46, it is possible to analyze the components of the sample electrophoresed in the capillary 68.

チップ44とカートリッジ46との嵌合作業は、分析作業者が行ってもよいが、後述するように、分析装置102においても行われる。嵌合状態では、底面膜58に対応する一にある凸部50によって底面膜58が穿孔される。この凸部50が液体槽52の底面を成す底面膜58を穿孔する穿孔突起の一例であるが、底面膜58を開封可能な形状であれば、任意の形状を取りうる。   The fitting work between the chip 44 and the cartridge 46 may be performed by an analysis worker, but is also performed in the analysis device 102 as described later. In the fitted state, the bottom film 58 is perforated by the convex portion 50 corresponding to the bottom film 58. Although this convex part 50 is an example of a perforating projection which perforates the bottom film 58 which constitutes the bottom of the liquid tank 52, it may have any shape as long as the bottom film 58 can be opened.

上述のとおり、分析用具42としてチップ44とカートリッジ46とからなる一例を示したが、後述する分析装置102が備える押込部材128に一側面が押込まれ、且つ、押込部材128によって押込まれた後、この一側面と反対側の他側面が接触部材に接触する構成を備える形状であればどのような形状でもよい。例えば直方体状に関わらず、小判型円柱状、任意の側面が階段形状の円柱状などが挙げられる。また、分析用具42の内部には泳動液及び試料が導入されるキャピラリーを含み、試料の電気泳動がなされる構成が好ましいが、本発明の分析装置102に導入可能で、また位置決め及び測定可能な試料を含んだ分析用具であれば、どのようなものであっても良い。例えば電気泳動法に使われる分析用具に関わらず、電気化学測定法、比色測定法、免疫学的測定法等に用いられる分析用具が挙げられる。いずれにおいても測定装置における分析用具の位置決めが要求される場合に利用できる。   As mentioned above, although an example which consists of tip 44 and cartridge 46 was shown as analysis tool 42, after one side is pushed in by pushing member 128 with which analysis device 102 mentioned below is provided, and after pushing by pushing member 128, The shape may be any shape as long as it has a configuration in which the other side opposite to the one side contacts the contact member. For example, regardless of the rectangular parallelepiped shape, an oval cylindrical shape, a cylindrical shape with arbitrary side surfaces in a step shape, and the like can be mentioned. The inside of the analysis tool 42 preferably includes an electrophoresis solution and a capillary into which the sample is introduced, so that electrophoresis of the sample can be performed. However, it can be introduced into the analysis device 102 of the present invention, and can be positioned and measured. Any analytical tool containing a sample may be used. For example, regardless of the analysis tool used for the electrophoresis method, the analysis tool used for the electrochemical measurement method, the colorimetric measurement method, the immunological measurement method and the like can be mentioned. In any case, it can be used when positioning of the analysis tool in the measuring device is required.

<分析装置の内部構成>
図5〜図8に示すように、分析装置102の筐体104(図1参照)の内部には、トレー118が収容された位置に、導入部120が設けられている。トレー118が筐体104内に退避する(奥側へ移動する)ことで、トレー118に載せられた分析用具42が導入部120に導入される。導入部120は、キャピラリー68において試料を電気泳動させるための電極62を備えた分析用具42が導入される部位である。
<Internal Configuration of Analyzer>
As shown in FIGS. 5 to 8, an introducing unit 120 is provided inside the housing 104 (see FIG. 1) of the analyzer 102 at a position where the tray 118 is accommodated. As the tray 118 retracts into the housing 104 (moves to the back side), the analysis tool 42 placed on the tray 118 is introduced into the introduction unit 120. The introduction unit 120 is a site into which an analysis tool 42 provided with an electrode 62 for electrophoresis of a sample in the capillary 68 is introduced.

導入部120は、設置部122と、この設置部122の上方の押圧部材124及び測定部材126を有している。測定部材126は、後述するように、導入部120に分析用具42が導入された状態で、この分析用具42に含まれる試料の成分を測定する部材である。より具体的には、本実施形態では、分析用具42のキャピラリー68を泳動する試料に照射された光を用いて、試料の成分を測定する部材である。一例として、図4に示すように、測定部材126は、吸光度センサ186と、この吸光度センサ186のデータに基づいて試料の成分の種類や量を特定する測定部190とを含んでいる。   The introduction unit 120 includes an installation unit 122, and a pressing member 124 and a measurement member 126 above the installation unit 122. The measuring member 126 is a member for measuring the component of the sample contained in the analysis tool 42 in a state where the analysis tool 42 is introduced into the introduction unit 120 as described later. More specifically, in the present embodiment, it is a member that measures the components of the sample using light irradiated to the sample migrating on the capillary 68 of the analysis tool 42. As an example, as shown in FIG. 4, the measuring member 126 includes an absorbance sensor 186 and a measuring unit 190 that specifies the type and amount of the component of the sample based on the data of the absorbance sensor 186.

設置部122は、分析装置102を奥行方向(矢印D方向)に見て、所定の高さにある一般部122Aと、この一般部122Aの幅方向の中央部で上方に突出する台座部122Bと、を有している。分析用具42は、設置部122において、台座部122Bに設置される。台座部122Bに分析用具42が設置された状態で、分析用具42の上面42T及び流路48は水平となる。   The installation unit 122 looks at the analyzer 102 in the depth direction (arrow D direction), and a general part 122A at a predetermined height, and a pedestal part 122B protruding upward at the central part in the width direction of the general part 122A ,have. The analysis tool 42 is installed on the pedestal 122 B at the installation unit 122. With the analysis tool 42 installed on the pedestal portion 122B, the upper surface 42T of the analysis tool 42 and the flow path 48 become horizontal.

図5及び図7に示すように、導入部120には、押込部材128が設けられている。   As shown in FIG. 5 and FIG. 7, the introduction member 120 is provided with a pressing member 128.

押込部材128には、図示しない保持機構によって、押込ロッド134が保持されている。押込ロッド134は、分析用具42の一側面46Aに向かって進退可能とされている。押込ロッド134の先端部は、分析用具42の一側面46Aに接触して押込む押込部134Pである。   A pressing rod 134 is held by the pressing member 128 by a holding mechanism (not shown). The push rod 134 can be advanced and retracted toward one side 46 A of the analysis tool 42. The tip end portion of the pushing rod 134 is a pushing portion 134P which is pushed in contact with one side surface 46A of the analysis tool 42.

押込ロッド134には図示ない押込バネが装着されている。そして、同じく図示しない押込モータによって、この押込バネを介して押込ロッド134が矢印P1方向に押され、先端の押込部134Pが分析用具42の一側面46Aに接触する。この状態でさらに押込ロッド134が分析用具42に向かって移動し、分析用具42を矢印P1方向に押す。ただし、後述するように、分析用具42のチップ44が位置決めピン140A、140Bに接触し、分析用具42の矢印P1方向の移動が阻止された状態では、押込バネが圧縮されることで、押込ロッド134が過度に分析用具42を押込むことが抑制される。押込部材の具体的構成は上記に関わらず、分析用具42の一側面46Aに接触し、分析用具42を矢印P1方向に押込むことが可能な構成であれば、どのような構成でもよい。   A pushing spring (not shown) is attached to the pushing rod 134. Then, the pressing rod 134 is pressed in the direction of the arrow P1 via the pressing spring by a pressing motor (not shown), and the pressing portion 134P at the tip contacts one side 46A of the analysis tool 42. In this state, the push rod 134 further moves toward the analysis tool 42, and pushes the analysis tool 42 in the arrow P1 direction. However, as described later, when the tip 44 of the analysis tool 42 contacts the positioning pins 140A and 140B and the movement of the analysis tool 42 in the direction of the arrow P1 is blocked, the pressing spring is compressed. It is suppressed that 134 pushes in the analysis tool 42 too much. The specific configuration of the pressing member may be any configuration as long as it can contact one side 46A of the analysis tool 42 and press the analysis tool 42 in the direction of the arrow P1 regardless of the above.

分析用具42に対し、チップ44の切込72が形成された側(他側面42B側)、すなわち押込ロッド134の反対側には、1本又は複数本の位置決めピン(本実施形態では奥行方向に間隙をあけて2本の位置決めピン140A、140B)が立設されている。位置決めピン140A、140Bは、凸部の一例であり、接触部材の一例でもある。さらに、押込部材128と接触部材(位置決めピン140A、140B)とで、分析用具42を所定位置に位置決めする位置決め部材の一例を構成している。   One or a plurality of positioning pins (in the present embodiment, in the depth direction) on the side of the analysis tool 42 where the cuts 72 of the chip 44 are formed (the other side surface 42B side), that is, the opposite side of the push rod 134 Two positioning pins 140A and 140B are erected with a gap. Positioning pin 140A, 140B is an example of a convex part, and is also an example of a contact member. Further, the pressing member 128 and the contact members (positioning pins 140A and 140B) constitute an example of a positioning member for positioning the analysis tool 42 at a predetermined position.

図9にも示すように、位置決めピン140A、140Bはいずれも、円柱状に形成されており、先端部(上端部)は円錐状である。また、位置決めピン140A、140Bの高さは、台座部122Bに載置された分析用具42の下板44Bには達するが、上板44Aには達しない高さである。さらに、位置決めピン140A、140Bが位置する上板44Aの近傍は、下板44Bより小さく成形されており、寸法誤差によって位置決めピンが高い場合であっても、上板44Aには達しないようにしている。   As also shown in FIG. 9, the positioning pins 140A and 140B are both formed in a cylindrical shape, and the tip (upper end) is conical. Further, the height of the positioning pins 140A and 140B is a height that reaches the lower plate 44B of the analysis tool 42 mounted on the pedestal portion 122B but does not reach the upper plate 44A. Further, the vicinity of the upper plate 44A where the positioning pins 140A and 140B are positioned is smaller than the lower plate 44B, and even if the positioning pin is high due to dimensional error, it does not reach the upper plate 44A. There is.

手前側の位置決めピン140Aは、奥行方向(矢印D方向)では、チップ44の切込72が形成された位置にある。これに対し、奥側の位置決めピン140Bは、奥行方向(矢印D方向)では、切込72よりも奥側において、凹部71が形成された位置にある。   The positioning pin 140A on the front side is at a position where the notch 72 of the tip 44 is formed in the depth direction (arrow D direction). On the other hand, the positioning pin 140B on the back side is at a position where the recess 71 is formed on the back side of the incision 72 in the depth direction (the direction of the arrow D).

位置決めピン140A、140Bの幅方向(矢印W方向)の位置は、図6に示すように、導入部120に分析用具42が単に導入された状態では、この分析用具42と非接触の位置である。そして、押込ロッド134によって分析用具42が矢印P1方向に押されることで、チップ44の下板44Bが位置決めピン140A、140Bに接触し、分析用具42が幅方向(矢印W方向)に位置決めされる。   The position of the positioning pins 140A and 140B in the width direction (the direction of the arrow W) is a position not in contact with the analysis tool 42 when the analysis tool 42 is simply introduced to the introducing portion 120 as shown in FIG. . Then, when the analysis tool 42 is pushed in the direction of arrow P1 by the pushing rod 134, the lower plate 44B of the tip 44 contacts the positioning pins 140A and 140B, and the analysis tool 42 is positioned in the width direction (arrow W direction). .

ここで、切込72の2つの傾斜面72A、72Bのいずれかが位置決めピン140Aに接触した場合は、分析用具42が奥行方向(矢印D方向)にも移動する。そして、図8に示すように、傾斜面72A、72Bの両方が位置決めピン140Aに接触する位置へと位置決めされる。   Here, when one of the two inclined surfaces 72A and 72B of the incision 72 contacts the positioning pin 140A, the analysis tool 42 also moves in the depth direction (arrow D direction). Then, as shown in FIG. 8, both of the inclined surfaces 72A and 72B are positioned to contact the positioning pin 140A.

接触部材及び凸部の構成は上記に限られず、分析用具42が矢印P1方向に押込まれて移動すると、分析用具42の凹部71が形成された側(他側面42B側)に接触し、幅方向(矢印W方向)に位置決めされる構成であれば、どのような構成でもよい。特に、接触部材及び凸部の構成は、分析用具の形状に応じて形成可能であるが、好ましくは接触部材は凸部である。接触部材が凸部であると、凸状の部分(突出した部分)に分析用具が確実に接触する構造を実現できる。凸部としての接触部材は、さらに好ましくは分析用具が設置される設置部から突出するピン(位置決めピン140A、140Bはその一例)である。凸部がピンである構造では、簡素な構造で凸部を構成できる。   The configuration of the contact member and the convex portion is not limited to the above, and when the analysis tool 42 is pushed in and moved in the arrow P1 direction, it contacts the side (the other side 42B side) on which the recess 71 of the analysis tool 42 is formed. Any configuration may be used as long as it is configured to be positioned in the (arrow W direction). In particular, the configuration of the contact member and the projection can be formed according to the shape of the analysis tool, but preferably the contact member is a projection. When the contact member is a convex portion, a structure in which the analytical tool reliably contacts the convex portion (protruding portion) can be realized. The contact member as the convex portion is more preferably a pin (positioning pin 140A, 140B is an example thereof) protruding from an installation portion where the analysis tool is installed. In the structure in which the convex portion is a pin, the convex portion can be configured with a simple structure.

設置部122の上方には、図10にも示すように、押圧部材124が設けられている。押圧部材124は、導入部120に導入された分析用具42の上面と対向する対向壁142を有している。対向壁142は、上下駆動機構144によって上下動するようになっている。   A pressing member 124 is provided above the installation portion 122, as also shown in FIG. The pressing member 124 has an opposing wall 142 opposed to the upper surface of the analysis tool 42 introduced into the introducing unit 120. The opposing wall 142 is vertically moved by the vertical drive mechanism 144.

本実施形態では、上下駆動機構144は、制御装置146によって駆動制御される昇降モータ148を有している。そして、昇降モータ148の駆動力が、図示しないバネを介して対向壁142に作用し、対向壁142が昇降するようになっている。   In the present embodiment, the vertical drive mechanism 144 has a lift motor 148 which is driven and controlled by the control device 146. Then, the driving force of the lifting motor 148 acts on the facing wall 142 via a spring (not shown), and the facing wall 142 moves up and down.

昇降モータ148の駆動によって、バネを介して対向壁142が下降し、対向壁142が分析用具42の上面42Tに接触する。この接触後に、さらに昇降モータ148が駆動されても、図示しないバネが圧縮され、対向壁142は、それ以上は下降しない構造である。これにより、過度に対向壁142が分析用具42を押圧しない構造が実現されている。   By driving the lifting motor 148, the opposing wall 142 is lowered via the spring, and the opposing wall 142 contacts the upper surface 42T of the analysis tool 42. After this contact, even if the lift motor 148 is further driven, a spring (not shown) is compressed, and the opposing wall 142 does not descend further. Thus, a structure is realized in which the opposing wall 142 does not excessively press the analysis tool 42.

対向壁142は、所定の剛性を有する壁本体160と、この壁本体160の下面に貼着される密着シート162とを有している。密着シート162は、壁本体160及び分析用具42のカートリッジ46よりも低弾性であり、外力に対し弾性変形しやすい。   The opposing wall 142 has a wall main body 160 having a predetermined rigidity, and an adhesive sheet 162 adhered to the lower surface of the wall main body 160. The adhesive sheet 162 has lower elasticity than the wall body 160 and the cartridge 46 of the analysis tool 42, and is easily elastically deformed by an external force.

すなわち、対向壁142が分析用具42に向かって押込まれた状態で、壁本体160やカートリッジ46よりも、密着シート162が厚み方向(上下方向)に弾性的に圧縮される。これにより、図16に示すように、密着シート162は、対向壁142が降下すると分析用具42の上面42Tに密着する。対向壁142は、密着部の一例でもある。   That is, in a state where the opposite wall 142 is pushed toward the analysis tool 42, the close-contact sheet 162 is elastically compressed in the thickness direction (vertical direction) more than the wall main body 160 and the cartridge 46. Thereby, as shown in FIG. 16, the close-contact sheet 162 is in close contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42 when the opposing wall 142 is lowered. The opposing wall 142 is also an example of the contact portion.

特に、本実施形態の分析用具42は複数の液体槽52を有しているが、これら複数の液体槽52に対応して1つの密着シート162が分析用具42の上面42Tに密着する。そして、対向壁142と設置部122との間で分析用具42を高さ方向、すなわちチップ44とカートリッジ46との重ね合せ方向に押圧して挟み込むことができる。   In particular, although the analysis tool 42 of the present embodiment has a plurality of liquid reservoirs 52, one adhesive sheet 162 is in close contact with the upper surface 42 T of the analysis implement 42 corresponding to the plurality of liquid reservoirs 52. Then, the analysis tool 42 can be pressed and sandwiched between the facing wall 142 and the installation portion 122 in the height direction, that is, the overlapping direction of the chip 44 and the cartridge 46.

壁本体160には、液体槽52のそれぞれに対応して、複数(本実施形態では液体槽52と同数)の穿孔ピン164が設けられている。穿孔ピン164は穿孔部材の一例である。穿孔ピン164はいずれも、密着シート162よりも下方に突出している。対向壁142が下降することで、穿孔ピン164により、対応する液体槽52において封止膜54を穿孔することができる。   The wall main body 160 is provided with a plurality of (in the present embodiment, the same number of liquid reservoirs 52) drilling pins 164 corresponding to the respective liquid reservoirs 52. The piercing pin 164 is an example of a piercing member. The perforation pins 164 all protrude below the adhesive sheet 162. As the opposing wall 142 descends, the sealing film 54 can be pierced by the piercing pin 164 in the corresponding liquid reservoir 52.

押圧部材124によって分析用具42を押圧し、密着シート162が分析用具42の上面42Tと密着した状態で、それぞれの穿孔ピン164の下端は、図11に示すように、封止膜54よりも下側、すなわち、対応する液体槽52の内部に位置している。そして、穿孔ピン164によって形成された孔部HPと穿孔ピン164の間に隙間GPが生じている。   The lower ends of the respective piercing pins 164 are lower than the sealing film 54 as shown in FIG. 11 in a state where the analysis tool 42 is pressed by the pressing member 124 and the adhesion sheet 162 is in close contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42. It is located on the side, ie inside the corresponding liquid reservoir 52. A gap GP is generated between the hole HP formed by the drilling pin 164 and the drilling pin 164.

図10に示すように、複数の液体槽52のうち、たとえば、あらかじめ液体が封入された液体槽52に対応する穿孔ピン164(図10の例では穿孔ピン164A、164Eであるが、これらに限定されない)の先端には、曲がり部165が形成されている。曲がり部165では、押圧部材124の押圧方向(下方向)と交差する方向(図10の例では略直角)に穿孔ピン164が曲がっている。このような曲がり部165が形成された穿孔ピン164では、曲がり部165が形成されていない穿孔ピン164と比較して、より大きく封止膜54を穿孔することができ、孔部HPと穿孔ピン164の間に生じる隙間GPも、より大きくなる。   As shown in FIG. 10, among the plurality of liquid reservoirs 52, for example, the perforated pins 164 corresponding to the liquid reservoir 52 in which the liquid is sealed in advance (the perforated pins 164A and 164E in the example of FIG. The bent portion 165 is formed at the tip of the At the bent portion 165, the piercing pin 164 is bent in a direction (substantially perpendicular in the example of FIG. 10) with the pressing direction (downward direction) of the pressing member 124. The piercing pin 164 in which such a bent portion 165 is formed can pierce the sealing film 54 more greatly than the piercing pin 164 in which the bending portion 165 is not formed, and the hole HP and the piercing pin The gap GP generated between 164 also becomes larger.

対向壁142(密着シート162及び壁本体160)には、穿孔ピン164のそれぞれを取り囲む形状で、上側に凹む形状の空間凹部166が形成されている。すなわち、密着部の一例である対向壁142に、空間凹部166が形成されている。空間凹部166は、穿孔ピン164の周囲で対向壁142を部分的に液体槽52のそれぞれから離間する方向に凹ませた部分である。このような空間凹部166があることで、液体槽52のそれぞれと対向壁142との間に密閉空間168が形成される。このように分析装置102の空間凹部166ならびに分析用具42の上面を利用して、穿孔部材による穿孔部位の周囲で分析用具42との間に密閉空間168を形成するための構成が密閉部材となる。もちろん、分析装置102ならびに分析用具42の形状に応じて、密閉空間の形状や形成方法、及び密閉部材の形状は適宜変更することができる。   In the opposing wall 142 (the adhesive sheet 162 and the wall body 160), a space recess 166 having a shape that is recessed upward is formed so as to surround each of the perforation pins 164. That is, the space recessed part 166 is formed in the opposing wall 142 which is an example of the adhesion part. The space recess 166 is a portion in which the facing wall 142 is partially recessed in the direction away from each of the liquid reservoirs 52 around the piercing pin 164. The presence of such space recesses 166 forms a sealed space 168 between each of the liquid reservoirs 52 and the facing wall 142. Thus, using the space concave portion 166 of the analyzer 102 and the upper surface of the analysis tool 42, the configuration for forming the sealed space 168 between the perforation tool and the analysis tool 42 becomes a sealing member . Of course, depending on the shapes of the analysis device 102 and the analysis tool 42, the shape and formation method of the sealed space and the shape of the sealing member can be changed as appropriate.

対向壁142には、空間凹部166のそれぞれに対応して、気体導入部材の一例として、気体導入管170が設けられている。気体導入管170の下端は密閉空間168に対して流体が出入りする気体出入口170Aである。本実施形態では、複数の気体導入管170のいずれにおいても、その下端位置、すなわち気体出入口170Aの位置は、空間凹部166の上面166Tと同じ位置であり、空間凹部166に気体導入管170の気体出入口170Aが突出することなく密閉空間168に位置する構造である。   A gas introduction pipe 170 is provided on the facing wall 142 corresponding to each of the space recesses 166 as an example of a gas introduction member. The lower end of the gas inlet tube 170 is a gas inlet / outlet 170A through which fluid flows into and out of the enclosed space 168. In the present embodiment, the lower end position of any of the plurality of gas introduction pipes 170, that is, the position of the gas inlet / outlet 170A is the same position as the upper surface 166T of the space recess 166, and It is a structure located in the enclosed space 168 without the entrance / exit 170A protruding.

気体導入管170には、ポンプ172が接続されている。ポンプ172の駆動により、密閉空間168に空気を送出したり、密閉空間168から空気を吸引したりすることが可能である。なお、複数の気体導入管170に対し分岐管を介してポンプ172を共通で1つ設けることが可能であり、この場合は、図示しないバルブにより、空気の流路を任意の気体導入管170に切り替える構造を採り得る。   A pump 172 is connected to the gas introduction pipe 170. By driving the pump 172, air can be delivered to the enclosed space 168 and air can be drawn from the enclosed space 168. Note that one pump 172 can be commonly provided to a plurality of gas introduction pipes 170 via a branch pipe. In this case, an air flow path can be provided to any gas introduction pipe 170 by a valve (not shown). It is possible to adopt a switching structure.

図11に示すように、気体導入管170と穿孔ピン164とは、水平方向(奥行方向と幅方向の少なくとも一方向)にずれている。すなわち、気体導入管170の気体出入口170Aは、封止膜54の膜面に沿って、穿孔ピン164による穿孔部位(孔部HP)からずれた位置にある。   As shown in FIG. 11, the gas introduction pipe 170 and the piercing pin 164 are shifted in the horizontal direction (at least one direction in the depth direction and the width direction). That is, the gas inlet / outlet 170 A of the gas introduction pipe 170 is located at a position deviated from the perforation site (hole HP) by the perforation pin 164 along the film surface of the sealing film 54.

上述の穿孔ピン164は穿孔部材の一例である。穿孔部材としては、分析用具42における液体槽52の上面の封止膜54を穿孔することが可能であれば、どのような形状であってもよい。また上述の気体導入管170も気体導入部材の一例であって、密閉空間に気体を導入するのであればどのような形状であってもよい。ただし、本実施形態では、穿孔部材と、気体導入部材とは、別体の部材である。いずれであっても、分析用具42の液体槽52に気体を導入する気体導入部材に対して、液体槽52の液体が付着することを抑制できる形状であり、さらに気体出入口に、液体槽52の液体が流入することを抑制できる形状である。   The above-mentioned piercing pin 164 is an example of a piercing member. The piercing member may have any shape as long as the sealing film 54 on the upper surface of the liquid tank 52 in the analysis tool 42 can be pierced. Moreover, the above-mentioned gas introduction pipe 170 is also an example of a gas introduction member, and may have any shape as long as the gas is introduced into the sealed space. However, in the present embodiment, the piercing member and the gas introducing member are separate members. In any case, the gas introduction member for introducing the gas into the liquid tank 52 of the analysis tool 42 has a shape that can prevent the liquid in the liquid tank 52 from adhering to the gas introduction member. It is a shape which can suppress that liquid flows in.

図10に示すように、対向壁142には挿通孔174が形成されている。挿通孔174には照射部材176が挿通されている。照射部材176には、図示しない発光部からの光が、たとえば光ファイバー等によって導かれる。照射部材176は、この光を、先端の照射部176Aから照射する部材である。実質的に、照射部材176を光ファイバーの一部として構成してもよい。なお、所定の波長域の光を出射するLEDチップ、光学フィルタ、レンズ等を備え、また、発光部は、スリットを備えるなどの形状であってもよい。   As shown in FIG. 10, an insertion hole 174 is formed in the opposing wall 142. The irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 174. The light from the light emitting unit (not shown) is guided to the irradiation member 176 by, for example, an optical fiber or the like. The irradiation member 176 is a member which irradiates this light from the irradiation part 176A of the tip. Substantially, the illumination member 176 may be configured as part of an optical fiber. In addition, an LED chip for emitting light in a predetermined wavelength range, an optical filter, a lens, and the like may be provided, and the light emitting unit may have a shape such as a slit.

照射部材176は、挿通孔174に挿通されているので、対向壁142に対して、水平方向へのズレが抑制されている。   Since the irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 174, the displacement in the horizontal direction with respect to the facing wall 142 is suppressed.

挿通孔174の位置は、導入部120において所定位置に位置決めされた分析用具42の挿入孔70に対応する位置である。また、照射部材176の外径は、挿通孔174の内径よりも小さい。これにより、挿入孔70に照射部材176が挿入可能な構造となっている。照射部材176の下側部分は、密着シート162よりも下側に突出する突出部176Tである。   The position of the insertion hole 174 is a position corresponding to the insertion hole 70 of the analysis tool 42 positioned at the predetermined position in the introduction part 120. Also, the outer diameter of the irradiation member 176 is smaller than the inner diameter of the insertion hole 174. Thus, the irradiation member 176 can be inserted into the insertion hole 70. The lower portion of the irradiation member 176 is a projecting portion 176T that protrudes below the adhesion sheet 162.

照射部材176の上部、すなわち、押圧部材124から突出する側と反対側には、挿通孔174よりも幅広の制限板178が取り付けられている。制限板178が突出部の分析用具への突出量を一定範囲に制限する制限部材の一例であるが、制限する機能を有していれば任意の形状を取りうる。また、対向壁142からは、上方に向けて1本又は複数本の支柱180が立設され、支柱180は制限板178を貫通している。   A restriction plate 178 wider than the insertion hole 174 is attached to the upper portion of the irradiation member 176, that is, the side opposite to the side projecting from the pressing member 124. Although the restriction plate 178 is an example of a restriction member which restricts the amount of projection of the projection to the analysis tool to a certain range, any shape may be adopted as long as it has a restriction function. In addition, one or more support columns 180 are erected upward from the opposing wall 142, and the support columns 180 pass through the limiting plate 178.

支柱180の先端には、支柱180よりも幅広の対向板182が形成されている。対向壁142と対向板182の間に制限板178が位置しており、制限板178は、支柱180によって案内されつつ上下移動可能であるが、この上下方向の移動範囲は、対向壁142と対向板182の間に制限されている。これにより、突出部176Tの突出範囲(対向壁142から突出する突出長)も所定範囲に制限することができ、突出部176Tが過度に対向壁142から突出することを抑制できる。対向壁142と対向板182とは対になっており、突出部176Tの進退方向の両側で制限板178と対向している。すなわち、対向壁142と対向板182とは一対の対向部材の一例である。そして、対向壁142が、対向部材の一部を兼ねている。これにより、対向壁142を、対向部材とは別体の部材とした構造と比較して、部品点数が少なくされている。   At the tip of the support 180, a counter plate 182 wider than the support 180 is formed. A limiting plate 178 is positioned between the opposing wall 142 and the opposing plate 182, and the limiting plate 178 can move up and down while being guided by the support column 180. However, the moving range in the vertical direction opposes the opposing wall 142 Limited between plates 182. Thereby, the protrusion range (the protrusion length which protrudes from the opposing wall 142) of the protrusion part 176T can also be limited to a predetermined range, and it can suppress that the protrusion part 176T protrudes from the opposing wall 142 too much. The opposing wall 142 and the opposing plate 182 are paired, and are opposed to the limiting plate 178 on both sides in the advancing and retracting direction of the protrusion 176T. That is, the opposing wall 142 and the opposing plate 182 are an example of a pair of opposing members. And the opposing wall 142 serves as a part of opposing member. Thereby, the number of parts is reduced as compared with the structure in which the opposing wall 142 is a member separate from the opposing member.

制限板178と対向板182の間にはバネ184が介在されている。このバネ184の付勢力で、制限板178を介して照射部材176が下方に付勢される。この付勢力を付与するバネ184が、突出部176Tを押圧部材124からの突出方向に付勢する付勢部材の一例である。このような付勢する機能を有していれば、付勢部材は任意の形状を採り得る。これにより、照射部材176の突出部176Tが、所定の突出長で対向壁142から突出した状態を維持できる。また、突出部176Tの下方への移動範囲は、図14及び図15に示すように、制限板178が対向壁142に接触することで所定範囲に制限される。   A spring 184 is interposed between the limiting plate 178 and the opposing plate 182. The irradiation member 176 is biased downward via the limiting plate 178 by the biasing force of the spring 184. The spring 184 that applies this biasing force is an example of a biasing member that biases the protrusion 176T in the direction in which the pressing member 124 protrudes. The biasing member may have any shape as long as it has such a biasing function. As a result, the projecting portion 176T of the irradiation member 176 can maintain the state of projecting from the facing wall 142 with a predetermined projection length. Further, as shown in FIGS. 14 and 15, the downward movement range of the protrusion 176T is limited to a predetermined range by the limiting plate 178 contacting the opposing wall 142.

図14に示すように、制限板178が対向壁142に接触している状態で、突出部176Tの突出長TLの最大値は、挿入孔70の深さSDよりも長い。   As shown in FIG. 14, in a state in which the limiting plate 178 is in contact with the facing wall 142, the maximum value of the projection length TL of the projection 176T is longer than the depth SD of the insertion hole 70.

したがって、対向壁142が降下し、照射部材176が挿入孔70に挿入されると、先端の照射部176Aが、挿入孔70の底部70Bに接触する。このように、照射部176Aが底部70Bに接触するまでは、照射部材176及び制限板178は、対向壁142との位置関係を一定に保って降下する。   Therefore, when the opposing wall 142 is lowered and the irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 70, the irradiation part 176 A at the tip contacts the bottom 70 B of the insertion hole 70. As described above, the irradiation member 176 and the limiting plate 178 are lowered while maintaining the positional relationship with the facing wall 142 constant until the irradiation portion 176A contacts the bottom portion 70B.

この状態で、さらに対向壁142が下方へ移動しようとしても、制限板178と対向板182の間には隙間があるので、この隙間を少なくするようにして(バネ184を押し縮めながら)対向壁142が下方へ移動するが、照射部材176は下方へ移動しない(図16参照)。   In this state, even if the opposing wall 142 tries to move downward, there is a gap between the limiting plate 178 and the opposing plate 182, so this gap is reduced (while the spring 184 is compressed). Although 142 moves downward, irradiation member 176 does not move downward (see FIG. 16).

本実施形態では、押圧部材124による分析用具42の押圧方向(対向壁142が分析用具42に接近する方向)と、照射部材176の分析用具42への接近方向とが同方向である。押圧部材124の移動軌跡と、照射部材の移動軌跡とが部分的に重なっているので、これらの移動軌跡が重ならずに分離している構造と比較して、省スペースでこれら部材を配置できる。   In the present embodiment, the pressing direction of the analysis tool 42 by the pressing member 124 (the direction in which the opposing wall 142 approaches the analysis tool 42) and the direction in which the irradiation member 176 approaches the analysis tool 42 are the same. Since the movement locus of the pressing member 124 partially overlaps the movement locus of the irradiation member, these members can be disposed in a space-saving manner as compared with a structure in which these movement loci do not overlap and are separated. .

導入部120には、所定位置にセットされた分析用具42における挿入孔70の下方位置に、吸光度センサ186が設けられている。キャピラリー68内を電気泳動する試料に照射部材176から光が照射され、試料を透過した透過光に基づき、測定部材126によって測定を行う。例えば、吸光度センサ186は、この透過光に基づき吸光度を検知する。また例えば、測定部材は、例えば、フォトダイオード、フォトIC等を備える。   An absorbance sensor 186 is provided in the introducing unit 120 at a position below the insertion hole 70 in the analysis tool 42 set at a predetermined position. The sample to be electrophoresed in the capillary 68 is irradiated with light from the irradiation member 176, and measurement is performed by the measuring member 126 based on the transmitted light transmitted through the sample. For example, the absorbance sensor 186 detects the absorbance based on the transmitted light. Also, for example, the measurement member includes, for example, a photodiode, a photo IC, and the like.

図10に示すように、対向壁142には、さらに、傾斜検知部の一例として、複数の傾斜検知ロッド188が取り付けられている。傾斜検知部は、導入部120に導入された分析用具42の、すなわち水平方向に対する傾斜(具体的には、傾斜しているか否か)を検知する部材である。この傾斜の検知には、図12に示すように、幅方向での傾斜している場合と、図13に示すように、奥行方向で傾斜している場合の両方が可能である。傾斜検知ロッド188のそれぞれは、対向壁142に対し上下動可能に保持されている。   As shown in FIG. 10, a plurality of tilt detection rods 188 are attached to the opposing wall 142 as an example of the tilt detection unit. The inclination detection unit is a member that detects an inclination (specifically, whether or not it is inclined) with respect to the horizontal direction of the analysis tool 42 introduced into the introduction unit 120. For the detection of this inclination, as shown in FIG. 12, both the case of inclination in the width direction and the case of inclination in the depth direction as shown in FIG. 13 are possible. Each of the inclination detection rods 188 is held movably up and down with respect to the opposing wall 142.

傾斜検知ロッド188の下端の位置は、図5及び図7に示すように、導入部120に導入された分析用具42が傾斜していない状態では分析用具42に接触しない位置である。しかし、図12及び図13に示すように、分析用具42が傾斜していると傾斜検知ロッド188の下端が接触するように、所定の位置に設定されている。そして、分析用具42に傾斜検知ロッド188が接触した状態でさらに対向壁142が降下すると、傾斜検知ロッド188が対向壁142に対し相対的に上方に移動する。制御装置146は、傾斜検知ロッド188のこのような上方移動を検知すると、分析用具42が傾斜していると判断し、所定の処理を行うことが可能である。   The position of the lower end of the tilt detection rod 188 is a position at which the analysis tool 42 introduced to the introduction unit 120 does not contact the analysis tool 42 in a non-tilted state, as shown in FIGS. 5 and 7. However, as shown in FIGS. 12 and 13, the lower end of the inclination detection rod 188 is set in a predetermined position so that the lower end of the inclination detection rod 188 contacts when the analysis tool 42 is inclined. Then, when the opposite wall 142 is further lowered while the inclination detection rod 188 is in contact with the analysis tool 42, the inclination detection rod 188 moves upward relative to the opposite wall 142. When the controller 146 detects such upward movement of the inclination detection rod 188, it determines that the analysis tool 42 is inclined, and can perform predetermined processing.

図5〜8に示すように、導入部120には、分析用具42の複数の側面孔64のそれぞれ対応する給電プローブ194が突出されている。給電プローブ194は、制御装置146により制御される図示しないモータの駆動力で、分析用具42の一側面46Aに対し前進したり後退したりする。   As shown in FIGS. 5 to 8, the feed probe 194 corresponding to each of the plurality of side holes 64 of the analysis tool 42 is protruded from the introducing unit 120. The feed probe 194 is advanced or retracted with respect to one side 46A of the analysis tool 42 by a driving force of a motor (not shown) controlled by the controller 146.

給電プローブ194は給電部材の一例である。複数の給電プローブ194のそれぞれは、分析用具42の一側面46Aに対し前進し、対応する側面孔64に挿入されて、電極62に接触する。   The feed probe 194 is an example of a feed member. Each of the plurality of feed probes 194 is advanced with respect to one side 46 A of the analysis tool 42 and inserted into the corresponding side hole 64 to contact the electrode 62.

給電プローブ194は、導入部120において所定位置に保持された分析用具42の側方に位置しており、側方以外には存在していない。したがって、給電プローブ194を避けた位置に、各種の部材を配置可能な構造が実現されている。たとえば、押圧部材124は分析用具42の上方に配置されており、押圧部材124と給電プローブ194との干渉が抑制されている。また、設置部122は、分析用具42の下方に配置されており、給電プローブ194が設置部122と干渉することも抑制されている。なお、給電部材としては、電極62に給電できれば、形状は特に限定されない。   The feed probe 194 is located on the side of the analysis tool 42 held at a predetermined position in the introduction unit 120, and does not exist other than the side. Therefore, the structure which can arrange | position various members in the position which avoided the electric power feeding probe 194 is implement | achieved. For example, the pressing member 124 is disposed above the analysis tool 42, and the interference between the pressing member 124 and the feed probe 194 is suppressed. In addition, the installation unit 122 is disposed below the analysis tool 42, and interference of the feed probe 194 with the installation unit 122 is also suppressed. The shape of the power supply member is not particularly limited as long as power can be supplied to the electrode 62.

次に、本実施形態の分析装置102の作用、及び分析用具42における試料の成分を分析する方法について説明する。   Next, the operation of the analysis apparatus 102 of the present embodiment and a method of analyzing the components of the sample in the analysis tool 42 will be described.

まず、分析用具42の流路48の一部に、試料(本実施形態では血液)を充填しておく。   First, a part of the flow path 48 of the analysis tool 42 is filled with a sample (in the present embodiment, blood).

分析装置102のタッチパネルから所定の入力操作を行うことで、図1に二点鎖線で示すように、開閉蓋114が手前側に移動し、トレー118が露出する。   By performing a predetermined input operation from the touch panel of the analyzer 102, as shown by a two-dot chain line in FIG. 1, the open / close lid 114 moves to the front side, and the tray 118 is exposed.

このトレー118に、試料が含まされた分析用具42を載せた状態で、トレー118及び開閉蓋114を押して(あるいは分析装置102の図示しないタッチパネルから所定の操作を行って)、トレー118を奥側に移動させる。これにより、図5に示すように、分析用具42が導入部120に導入される。そして、分析用具42は、設置部122の台座部122Bに設置される。   With the analytical tool 42 containing the sample mounted thereon, the tray 118 and the cover 114 are pushed (or a predetermined operation is performed from the touch panel (not shown) of the analyzer 102) to move the tray 118 to the back side. Move to Thereby, as shown in FIG. 5, the analysis tool 42 is introduced into the introduction unit 120. Then, the analysis tool 42 is installed on the pedestal 122 B of the installation unit 122.

分析装置102は、傾斜検知部を有している。したがって、この状態で、分析装置102は、この傾斜検知部により、分析用具42の傾斜検知を行う。具体的には、制御装置146が昇降モータ148を駆動し、押圧部材124の対向壁142を所定位置まで降下させる。   The analyzer 102 has a tilt detection unit. Therefore, in this state, the analyzer 102 detects the inclination of the analysis tool 42 by the inclination detector. Specifically, the controller 146 drives the lift motor 148 to lower the opposing wall 142 of the pressing member 124 to a predetermined position.

このとき、図12又は図13に示すように、分析用具42が傾斜していると、複数の傾斜検知ロッド188の一部が分析用具42に接触する。この場合は、制御装置146は、昇降モータ148の駆動を停止すると共に、分析用具42が傾斜していることに対応する所定の処理を行う。ここでいう「所定の処理」は、たとえば、試料の成分分析を一時的に停止すると共に、分析用具42の傾斜を作業者に報知する等の処理を含む。   At this time, as shown in FIG. 12 or FIG. 13, when the analysis tool 42 is tilted, parts of the plurality of tilt detection rods 188 contact the analysis tool 42. In this case, the control device 146 stops the driving of the lift motor 148 and performs predetermined processing corresponding to the tilting of the analysis tool 42. Here, the “predetermined process” includes, for example, a process of temporarily stopping the component analysis of the sample and informing the operator of the inclination of the analysis tool 42.

傾斜検知ロッド188は複数設けられているので、分析用具42の傾斜方向や、傾斜量(傾斜角度)によって傾斜検知の精度が低下することを抑制できる。   Since a plurality of tilt detection rods 188 are provided, it is possible to suppress the decrease in the accuracy of tilt detection due to the tilt direction of the analysis tool 42 and the amount of tilt (tilt angle).

なお、分析用具42の傾斜を検知する傾斜検知部の構造は、上記したものに限定されない。たとえば、分析用具42に対し複数個所から光を照射して傾斜を検知する構造であってもよい。   In addition, the structure of the inclination detection part which detects the inclination of the analysis tool 42 is not limited to an above-described thing. For example, the inclination may be detected by irradiating the analysis tool 42 with light from a plurality of places.

分析用具42が傾斜していない(傾斜が許容範囲内である場合を含む)場合は、制御装置146は、分析用具42に対する位置決めを行う(位置決め方向を実行する)。なお、この状態で、図6に示すように、分析用具42の切込72と位置決めピン140Aとは非接触であり、凹部71と位置決めピン140Bも非接触である。   If the analysis tool 42 is not tilted (including the case where the tilt is within the allowable range), the controller 146 performs positioning with respect to the analysis tool 42 (performs the positioning direction). In this state, as shown in FIG. 6, the notch 72 of the analysis tool 42 and the positioning pin 140A do not make contact, and the recess 71 and the positioning pin 140B also do not make contact.

制御装置146は、図示しない押込モータを駆動し、押込ロッド134によって、分析用具42の一側面46Aを押し込む。これにより、図7及び図8に示すように、分析用具42のチップ44が位置決めピン140A、140Bに接触するので、分析用具42が所定位置に位置決めされる。   The controller 146 drives a pressing motor (not shown) and presses one side 46 A of the analysis tool 42 by the pressing rod 134. As a result, as shown in FIGS. 7 and 8, the tip 44 of the analysis tool 42 contacts the positioning pins 140A and 140B, whereby the analysis tool 42 is positioned at a predetermined position.

特に、本実施形態では、位置決めピン140Aの高さが、チップ44の下板44Bには達するが上板44Aには達しない高さである。そして、チップ44の下板44Bが位置決めピン140A、140Bに接触することで分析用具42が位置決めされる。チップ44の下板44Bにはキャピラリー68が形成されているので、実質的に、このキャピラリー68を正確に位置決めすることができる。   In particular, in the present embodiment, the height of the positioning pin 140A is a height that reaches the lower plate 44B of the tip 44 but does not reach the upper plate 44A. Then, when the lower plate 44B of the chip 44 contacts the positioning pins 140A and 140B, the analytical tool 42 is positioned. The capillary 68 is formed on the lower plate 44B of the chip 44, so that the capillary 68 can be substantially accurately positioned.

チップ44には、切込72が形成されている。分析用具42が位置決めピン140Aに向かって接近し、位置決めピン140Aに傾斜面72A及び傾斜面72Bのいずれか一方が接触し、さらに分析用具42が押込まれると、分析用具42は奥行方向(矢印D方向)にも移動する。そして、図8に示すように、傾斜面72Aと傾斜面72Bの両方が位置決めピン140Aに接触する位置で分析用具42が位置決めされる。すなわち、分析用具42は、幅方向(矢印W方向)だけでなく、奥行方向(矢印D方向:導入部120への導入方向)にも位置決めされる。   The chip 44 has a notch 72 formed therein. When the analysis tool 42 approaches toward the positioning pin 140A and either the inclined surface 72A or the inclined surface 72B contacts the positioning pin 140A and the analysis tool 42 is further pushed in, the analysis tool 42 moves in the depth direction (arrow Move in direction D). Then, as shown in FIG. 8, the analysis tool 42 is positioned at a position where both the inclined surface 72A and the inclined surface 72B contact the positioning pin 140A. That is, the analysis tool 42 is positioned not only in the width direction (arrow W direction) but also in the depth direction (arrow D direction: introduction direction to the introduction portion 120).

この状態で、位置決めピン140Aが切込72に嵌合し、位置決めピン140Bが切欠73に嵌合するので、分析用具42は位置決めされた状態で、奥行方向へ位置ズレすることが抑制される。   In this state, the positioning pin 140A is engaged with the notch 72, and the positioning pin 140B is engaged with the notch 73. Therefore, in the state where the analytical tool 42 is positioned, the positional deviation in the depth direction is suppressed.

次に、制御装置146は、昇降モータ148を駆動し、対向壁142を下降させる。これにより、図14に示すように、照射部材176も下降し、分析用具42に接近する。分析用具42は既に所定位置に位置決めされており、挿入孔70も位置決めされているので、照射部材176は分析用具42の上面42Tに接触することなく、挿入孔70に挿入される。   Next, the controller 146 drives the lift motor 148 to lower the facing wall 142. Thereby, as shown in FIG. 14, the irradiation member 176 also descends and approaches the analysis tool 42. Since the analysis tool 42 is already positioned at the predetermined position and the insertion hole 70 is also positioned, the irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 70 without contacting the upper surface 42T of the analysis tool 42.

そして、図15に示すように、照射部材176の下端の照射部176Aが、挿入孔70の底部70Bに接触する。この状態で、図16に示すように、さらに昇降モータ148が駆動されても照射部材176及び制限板178は降下しないので、照射部材176の照射部176Aが底部70Bに強く押されて損傷を受けることを抑制できる。   Then, as shown in FIG. 15, the irradiation portion 176A at the lower end of the irradiation member 176 contacts the bottom portion 70B of the insertion hole 70. In this state, as shown in FIG. 16, the irradiation member 176 and the limiting plate 178 do not move down even if the elevation motor 148 is driven, so the irradiation portion 176A of the irradiation member 176 is strongly pressed by the bottom 70B and damaged. Can be suppressed.

また、対向壁142の降下により、複数の穿孔ピン164のそれぞれが、対応する液体槽52の封止膜54を穿孔する。そして、密着シート162が分析用具42の上面42Tに密着する。   Also, due to the lowering of the facing wall 142, each of the plurality of perforation pins 164 pierces the sealing film 54 of the corresponding liquid tank 52. Then, the adhesive sheet 162 adheres to the upper surface 42T of the analysis tool 42.

この状態で、図11に示すように、複数の液体槽52のそれぞれには、穿孔ピン164による穿孔箇所の周囲において、分析用具42との間に密閉空間168が形成される。密着シート162は、分析用具42の上面42Tに面接触した状態で密着するので、たとえば密着部材が線状に接触する構造と比較して、密閉空間168をより確実に密閉状態に維持できる。   In this state, as shown in FIG. 11, in each of the plurality of liquid reservoirs 52, a sealed space 168 is formed between the perforation point by the perforation pin 164 and the analysis tool 42. The close-contact sheet 162 is in close contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42, so that the closed space 168 can be maintained in a closed state more reliably than, for example, a structure in which the close-contact members contact linearly.

また、この状態で、分析用具42は、分析用具42が設置される設置部122と押圧部材124との間で上下に挟み込まれるので、カートリッジ46とチップ44とが嵌合される。そして、図17に示すように、凸部50がそれぞれ対応する底面膜58を穿孔するので、穿孔された底面膜58を有する液体槽52からは、液体が下方へ流出可能となる。ただし、カートリッジ46とチップ44とは上下方向に密着されているので、底面膜58が穿孔された液体槽52から液体がカートリッジ46とチップ44の隙間へ漏れ出すことは抑制される。   Further, in this state, since the analysis tool 42 is vertically sandwiched between the installation portion 122 where the analysis tool 42 is installed and the pressing member 124, the cartridge 46 and the chip 44 are fitted. Then, as shown in FIG. 17, since the convex portions 50 pierce the corresponding bottom films 58, the liquid can flow downward from the liquid tank 52 having the perforated bottom films 58. However, since the cartridge 46 and the chip 44 are in close contact with each other in the vertical direction, leakage of the liquid from the liquid tank 52 in which the bottom film 58 is perforated to the gap between the cartridge 46 and the chip 44 is suppressed.

分析用具42は、押圧部材124に押圧されて、設置部122と押圧部材124との間に保持されるので、分析用具42の位置ズレが抑制される。本実施形態では、位置決め部材によって分析用具42が位置決めされているので、押圧部材124が分析用具42を押圧することで、分析用具42を位置決めされた状態に維持できる。   Since the analysis tool 42 is pressed by the pressing member 124 and held between the installation portion 122 and the pressing member 124, positional deviation of the analysis tool 42 is suppressed. In this embodiment, since the analysis tool 42 is positioned by the positioning member, the pressing member 124 presses the analysis tool 42, whereby the analysis tool 42 can be maintained in the positioned state.

また、カートリッジ46とチップ44との嵌合に大きな力を要する構造であっても、分析用具42を設置部122と押圧部材124とで挟み込んで押圧するので、カートリッジ46とチップ44とを確実に嵌合させることができる。しかも、照射部材176を挿入孔70に挿入した状態を実現した状態を維持しつつ、押圧部材124によって分析用具42を押圧できる。   Further, even if the cartridge 46 and the chip 44 require a large force to be fitted, since the analytical tool 42 is sandwiched and pressed by the installation portion 122 and the pressing member 124, the cartridge 46 and the chip 44 can be reliably made. It can be fitted. Moreover, the analysis tool 42 can be pressed by the pressing member 124 while maintaining the state in which the irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 70.

ここで、制御装置146はポンプ172(図11参照)を駆動し、所定のタイミングで、特定の液体槽52に対する気体の供給及び吸引を行う。穿孔ピン164による穿孔箇所では、穿孔ピン164と封止膜54との間に隙間GPが生じているので、密閉空間168と、対応する液体槽52との間で、この隙間GPを通る空気の移動が可能である。   Here, the control device 146 drives the pump 172 (see FIG. 11) to supply and suck gas to the specific liquid tank 52 at a predetermined timing. Since a gap GP is generated between the drilling pin 164 and the sealing film 54 at the drilling point by the drilling pin 164, air between the sealing space 168 and the corresponding liquid tank 52 passes through the gap GP. It is possible to move.

一例として、まず、図17に示すように、1つの液体槽52(図17では左側の液体槽52)への空気の導入(加圧)等を行う。これにより、試料が液体LAで希釈されて攪拌され、特定の流路48を通じて、他の液体槽52へ送られる。   As an example, first, as shown in FIG. 17, air is introduced (pressurized) into one liquid tank 52 (the liquid tank 52 in the left side in FIG. 17) and the like. Thereby, the sample is diluted with the liquid LA, stirred, and sent to the other liquid tank 52 through the specific flow path 48.

また、図18に示すように、上記とは異なる液体槽(図18では右側の液体槽52)への空気の導入(加圧)等を行う。これにより、該当する液体槽52の液体LAが、この液体槽52と繋がっている流路48に充填される。そして、図19に示すように、キャピラリー68に、毛細管現象により、液体が充填される。   Further, as shown in FIG. 18, air is introduced (pressurized) to a liquid tank (the liquid tank 52 on the right side in FIG. 18) different from the above. Thereby, the liquid LA of the corresponding liquid tank 52 is filled in the flow path 48 connected to the liquid tank 52. Then, as shown in FIG. 19, the capillary 68 is filled with liquid by capillary action.

このように、封止膜54を穿孔する穿孔ピン164と、密閉空間168に気体(流体)を導入する気体導入管170とは別々の部材である。そして、それぞれの気体導入管170の下端の気体出入口170Aは、対応する密閉空間168の内部に位置している。したがって、液体槽52の液体が気体導入管170の内部に浸入することが抑制される。たとえば、前回の試料の分析時に希釈試料が気体導入管170の内部に残留してしまうことが抑制され、この残留した希釈試料が次回の分析時の希釈試料と混ざるといった事態も抑制される。   Thus, the piercing pins 164 for piercing the sealing film 54 and the gas introduction pipe 170 for introducing a gas (fluid) into the sealed space 168 are separate members. The gas inlet / outlet 170A at the lower end of each of the gas introduction pipes 170 is located inside the corresponding sealed space 168. Therefore, the liquid in the liquid tank 52 is suppressed from entering the inside of the gas introduction pipe 170. For example, it is suppressed that the diluted sample remains in the inside of the gas introduction tube 170 at the time of the analysis of the previous sample, and the situation where this remaining diluted sample mixes with the diluted sample at the next analysis is also suppressed.

また、本実施形態では、穿孔ピン164による穿孔部位に対し、気体出入口170Aは、封止膜54の膜面に沿って穿孔部位からずれた位置にある。したがって、液体槽52の液体が、穿孔ピン164と封止膜54の隙間を通って密閉空間168に達しても、この液体が気体出入口170Aに流入することを抑制できる。   Further, in the present embodiment, the gas inlet / outlet 170A is at a position deviated from the perforation site along the film surface of the sealing film 54 with respect to the perforation site by the perforation pin 164. Therefore, even if the liquid in the liquid tank 52 reaches the sealed space 168 through the gap between the piercing pin 164 and the sealing film 54, the liquid can be prevented from flowing into the gas inlet / outlet 170A.

さらに、たとえば穿孔ピン164による封止膜54の穿孔によって、封止膜54を構成している部材の一部が破片となった場合であっても、気体出入口170Aは穿孔部位から離れているので、この破片が気体出入口170Aに混入することを抑制できる。   Furthermore, even if, for example, perforation of sealing film 54 by perforation pins 164 causes a part of the members constituting sealing film 54 to become fragments, gas inlet / outlet 170A is separated from the perforation site. The inclusion of the fragments in the gas inlet / outlet 170A can be suppressed.

次に、制御装置146は、図示しない押込モータを駆動し、図20及び図21に示すように、給電プローブ194を分析用具42の一側面46Aに接近させる。給電プローブ194は、それぞれ対応する側面孔64に挿入され、電極62に接触される。この段階で、分析用具42は奥行方向に位置決めされている。すなわち、給電プローブ194が分析用具42に接近する方向と交差する(図21の例では直交する)方向で分析用具42が位置決めされているので、給電プローブ194の先端が分析用具42の一側面46Aに当たることはなく、確実に側面孔64に挿入される。   Next, the control device 146 drives a pressing motor (not shown) to bring the power supply probe 194 close to one side 46A of the analysis tool 42 as shown in FIGS. The feed probes 194 are inserted into the corresponding side holes 64 and are in contact with the electrodes 62. At this stage, the analysis tool 42 is positioned in the depth direction. That is, since the analysis tool 42 is positioned in the direction (orthogonal in the example of FIG. 21) crossing the direction in which the feed probe 194 approaches the analysis tool 42, the tip of the feed probe 194 is one side 46A of the analysis tool 42. And the side holes 64 are securely inserted.

この状態で、制御装置146は、図22に示すように、給電プローブ194から、電極62の間に所定の電圧を印加する。これにより、キャピラリー68において試料の成分が電気泳動される。また、このとき、制御装置146は、照射部材176の照射部176Aから光を照射する。そして、電気泳動されている希釈試料の吸光度を吸光度センサ186で検出し、試料の成分を測定する。   In this state, the control device 146 applies a predetermined voltage between the electrodes 62 from the feed probe 194 as shown in FIG. Thereby, components of the sample are electrophoresed in the capillary 68. Also, at this time, the control device 146 emits light from the irradiation unit 176A of the irradiation member 176. Then, the absorbance of the diluted sample being electrophoresed is detected by the absorbance sensor 186 to measure the components of the sample.

このとき、照射部材176の照射部176Aは、挿入孔70の底部70Bに接触している。すなわち、照射部176Aは、キャピラリー68との距離が近い位置で、且つこの距離が一定に維持される状態である。したがって、キャピラリー68内を電気泳動される試料に対し、安定的に光を照射できる。   At this time, the irradiation portion 176A of the irradiation member 176 is in contact with the bottom portion 70B of the insertion hole 70. That is, the irradiating section 176A is in a position where the distance to the capillary 68 is short and the distance is maintained constant. Therefore, light can be stably emitted to the sample to be electrophoresed in the capillary 68.

また、押圧部材124の対向壁142と設置部122との間で分析用具42を挟み込み、所定位置で保持しているので、分析用具42の位置が安定する。分析用具42のチップ44にはキャピラリー68が形成されているので、キャピラリー68の位置も安定する。したがって、試料の成分分析をより正確に行うことができる。   In addition, since the analysis tool 42 is held between the opposing wall 142 of the pressing member 124 and the installation portion 122 and held at a predetermined position, the position of the analysis tool 42 is stabilized. Since the capillary 68 is formed on the tip 44 of the analysis tool 42, the position of the capillary 68 is also stable. Therefore, component analysis of the sample can be performed more accurately.

試料の成分分析が終了した後、制御装置146は、給電プローブ194を退避させて側面孔64から抜くと共に、対向壁142を上昇させて、分析装置102の押圧を解除し、さらに、照射部材176を挿入孔70から抜く。さらに、押込ロッド134を退避させて、分析装置102から離間させる。   After the component analysis of the sample is completed, the control device 146 retracts the feed probe 194 and withdraws it from the side hole 64, and raises the opposing wall 142 to release the pressure on the analyzer 102, and further the irradiation member 176. Is removed from the insertion hole 70. Further, the push rod 134 is retracted and separated from the analyzer 102.

そして、開閉蓋114及びトレー118を手前側に移動させて、分析用具42を取り出し可能とする。分析終了後の分析用具42は廃棄可能である。   Then, the open / close lid 114 and the tray 118 are moved to the front side so that the analysis tool 42 can be taken out. After the analysis, the analysis tool 42 can be discarded.

本実施形態では、分析用具42に、測定対象である試料と、測定に必要となる液体(希釈液LA及び泳動液LB)が収容されてパッケージ化されている。分析装置102には、測定に必要な液体をあらかじめセットしておく必要がなく、また、これらの液体を一時的に貯留する貯留部や、測定部位に送るポンプ等が不要である。したがって、分析装置102として、構造の簡素化や小型化を図ることができる。   In the present embodiment, the analysis tool 42 accommodates and packages the sample to be measured and the liquids (dilution liquid LA and electrophoresis liquid LB) required for the measurement. In the analyzer 102, it is not necessary to set in advance the liquid necessary for measurement, and there is no need for a reservoir for temporarily storing these liquids, a pump for sending to the measurement site, and the like. Therefore, the structure can be simplified and miniaturized as the analysis device 102.

上記では、接触部材の一例として、棒状の位置決めピン140A、140Bを挙げているが、接触部材としては、このような棒状のピンに限定されず、たとえば、板状の部材であってもよい。接触部材として棒状のピンを用いると、板状の部材と比較して、より狭いスペースであっても接触部材を配置できる。棒状のピンを複数設けることで、1つのみ設ける構成と比較して、ピンに接触した分析用具42の回転を抑制でき、安定的に位置決めできる。   Although rod-shaped positioning pins 140A and 140B are mentioned as an example of a contact member in the above, as a contact member, it is not limited to such a rod-like pin, For example, a plate-shaped member may be sufficient. When a rod-like pin is used as the contact member, the contact member can be disposed even in a narrower space as compared with a plate-like member. By providing a plurality of rod-like pins, it is possible to suppress the rotation of the analysis tool 42 in contact with the pins as compared with the configuration in which only one pin is provided, and it is possible to position stably.

[第二〜第四実施形態、参考例]
次に、第二〜第四実施形態及び参考例について説明する。以下の各実施形態及び参考例において、分析装置の全体的構成は第一実施形態と同様であるので、詳細な説明を省略する。また、第一実施形態と同様の要素、部材等については同一符号を付して、詳細な説明を省略する。
[Second to Fourth Embodiments, Reference Example]
Next, second to fourth embodiments and a reference example will be described. In the following embodiments and reference examples, the overall configuration of the analyzer is the same as that of the first embodiment, and thus the detailed description is omitted. In addition, the same components, members, and the like as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

図23に示す第二実施形態の分析装置202では、気体導入管170の下端部分が、空間凹部166の上面106よりも下方に突出しており、突出部170Bが構成されている。気体導入管170の下端部分は、気体出入口170Aを含む先端部分でもある。   In the analyzer 202 of the second embodiment shown in FIG. 23, the lower end portion of the gas introduction pipe 170 protrudes below the upper surface 106 of the space concave portion 166, and a projecting portion 170B is configured. The lower end portion of the gas inlet tube 170 is also a tip portion including the gas inlet / outlet 170A.

第二実施形態では、このように気体導入管170の下端部分が突出している。したがって、密閉空間168内に流入した液体が上面106に沿って気体導入管170に向かって移動しても、気体導入管170の管自体によって液体を堰き止めることで、気体出入口170Aにこの液体が流入することを抑制できる。   In the second embodiment, the lower end portion of the gas introduction pipe 170 thus protrudes. Therefore, even if the liquid that has flowed into the enclosed space 168 moves along the upper surface 106 toward the gas inlet pipe 170, the pipe itself of the gas inlet pipe 170 stops the liquid, thereby causing the liquid to flow to the gas inlet / outlet 170A. It is possible to suppress the inflow.

図24に示す第三実施形態の分析装置302では、空間凹部166の上面106から下方へ延出される壁部材196が形成されている。壁部材196は、穿孔ピン164と気体導入管170の間に位置している。また、壁部材196の下端の位置は、封止膜54には接触せず、封止膜54との間に隙間が生じる位置である。   In the analysis device 302 of the third embodiment shown in FIG. 24, a wall member 196 extending downward from the upper surface 106 of the space recess 166 is formed. The wall member 196 is located between the piercing pin 164 and the gas introducing tube 170. Further, the position of the lower end of the wall member 196 is a position where the gap does not contact the sealing film 54 and a gap is generated between the wall member 196 and the sealing film 54.

第三実施形態では、このような壁部材196を有しているので、密閉空間168内に流入した液体が上面106に沿って気体導入管170に向かって移動しても、壁部材196によって液体を堰き止めることができる。これにより、気体出入口170Aにこの液体が流入することを抑制できる。壁部材196としては、このように、穿孔部材(一例としての穿孔ピン164)と気体導入部材(一例としての気体導入管170)との間に位置していれば、形状は限定されない。すなわち、壁部材の形状によらず、密閉空間168内で、液体が上面106に沿って気体導入管170に向かう移動を堰き止めることができる。   In the third embodiment, since such a wall member 196 is provided, even if the liquid flowing into the enclosed space 168 moves toward the gas introduction pipe 170 along the upper surface 106, the liquid is not transferred by the wall member 196. You can stop it. Thus, the liquid can be prevented from flowing into the gas inlet / outlet 170A. The shape of the wall member 196 is not limited as long as the wall member 196 is thus located between the piercing member (the piercing pin 164 as an example) and the gas introducing member (an gas introducing pipe 170 as an example). That is, regardless of the shape of the wall member, it is possible to block the movement of the liquid along the upper surface 106 toward the gas inlet tube 170 in the enclosed space 168.

図25に示す第四実施形態の分析装置402では、第二実施形態の構造(気体導入管170の下端部分に、突出部170Bが構成されている)と、第三実施形態の構造(壁部材196が形成されている)とを併せ持つ構造である。したがって、第四実施形態では、密閉空間168内に流入した液体が気体出入口170Aに流入することを、より確実に抑制できる。   In the analyzer 402 of the fourth embodiment shown in FIG. 25, the structure of the second embodiment (the protrusion 170 B is formed at the lower end portion of the gas introduction pipe 170) and the structure of the third embodiment (wall member 196 is formed). Therefore, in the fourth embodiment, the liquid flowing into the enclosed space 168 can be more reliably suppressed from flowing into the gas outlet 170A.

図26には、参考例の分析装置502が部分的に示される。図26に示す構造では、気体導入管170が穿孔ピン164を兼ねており、気体導入管170の先端で封止膜54に穿孔できる。また、気体導入管170の側面には、封止膜54よりも上側、すなわち密閉空間168の内部に位置するように気体出入口170Aが形成されている。   The analyzer 502 of the reference example is partially shown in FIG. In the structure shown in FIG. 26, the gas introduction pipe 170 doubles as the perforation pin 164, and the sealing film 54 can be perforated at the tip of the gas introduction pipe 170. Further, a gas inlet / outlet 170A is formed on the side surface of the gas introduction pipe 170 so as to be located above the sealing film 54, that is, inside the sealed space 168.

参考例の構造であっても、気体出入口170Aは液体槽52には位置していないので、気体出入口170Aに、液体槽52の液体が流入することを抑制できる。   Even in the structure of the reference example, since the gas inlet / outlet 170A is not located in the liquid tank 52, the liquid in the liquid tank 52 can be prevented from flowing into the gas inlet / outlet 170A.

42 分析用具
44 チップ
44A 上板
44B 下板
46 カートリッジ
46A 一側面
46B 他側面
50A、50B、50C、50D、50E、50F 凸部
52 液体槽
54 封止膜
58 底面膜
62 電極
64 側面孔
66 底面膜
68 キャピラリー
70 挿入孔
70B 底部
72 切込
72A、72B 傾斜面
102 分析装置
120 導入部
122 設置部
124 押圧部材
126 測定部材
128 押込部材
134 押込ロッド
140A、140B 位置決めピン
142 対向壁
144 上下駆動機構
146 制御装置
162 密着シート
164 穿孔ピン
165 曲がり部
166 空間凹部
166T 上面
168 密閉空間
170 気体導入管
170A 気体出入口
170B 突出部
174 挿通孔
176 照射部材
176A 照射部
176T 突出部
186 吸光度センサ
188 傾斜検知ロッド
192 押込モータ
194 給電プローブ
196 壁部材
202 分析装置
302 分析装置
402 分析装置
42 analysis tool 44 tip 44A upper plate 44B lower plate 46 cartridge 46A one side 46B other side 50A, 50B, 50C, 50D, 50E convex part 52 liquid tank 54 sealing film 58 bottom film 62 electrode 64 side hole 66 bottom film 68 Capillary 70 Insertion hole 70B Bottom 72 Notch 72A, 72B Inclined surface 102 Analysis device 120 Introduction part 122 Installation part 124 Pressing member 126 Measuring member 128 Pushing member 134 Pushing rod 140A, 140B Positioning pin 142 Opposing wall 144 Vertical drive mechanism 146 Control Device 162 Adhesive sheet 164 Perforation pin 165 Curved portion 166 Space recessed portion 166T Upper surface 168 Sealed space 170 Gas inlet tube 170A Gas inlet / outlet 170B Projection portion 174 Insertion hole 176 Irradiation member 176A Irradiation portion 176T Projection portion 186 Absorbance sensor 188 Tilt Pushing motor 194 feed probe 196 sensing rod 192 wall member 202 analyzer 302 analyzer 402 spectrometer

Claims (5)

試料を電気泳動させるための電極を備えた分析用具が設置される設置部と、前記設置部に設置された前記分析用具を押圧して前記設置部との間で挟み込む押圧部材と、を備える導入部と、
前記導入部に導入された前記分析用具を挟み込む方向に位置する前記設置部及び前記押圧部材を回避した側面方向から接近して前記電極と電気的に接触し電圧印加により前記試料を電気泳動させる給電部材と、
前記導入部に導入された前記分析用具において電気泳動する前記試料の成分を測定する測定部材と、
を有する分析装置。
Introduction including an installation unit on which an analysis tool having an electrode for electrophoresis of a sample is installed, and a pressing member for pressing the analysis tool installed in the installation unit and sandwiching the analysis tool with the installation unit Department,
A power supply which causes the sample to be electrophoresed by electrical contact with the electrode by approaching from the lateral direction avoiding the installation portion and the pressing member positioned in a direction to sandwich the analysis tool introduced into the introduction portion and electrically pressing the electrode. Members,
A measuring member for measuring a component of the sample to be electrophoresed in the analysis tool introduced into the introduction part;
Analyzer with.
前記分析用具を前記導入部において所定位置に位置決めする位置決め部材を有し、
前記位置決め部材によって位置決めされた状態で前記給電部材が前記電極と接触する請求項1に記載の分析装置。
It has a positioning member for positioning the analysis tool at a predetermined position in the introduction section,
The analyzer according to claim 1, wherein the feeding member contacts the electrode in a state of being positioned by the positioning member.
前記分析用具が、前記試料が泳動するキャピラリーを備えたチップと、液体槽を備え前記チップに重ねられるカートリッジと、を含み、
前記押圧部材が、前記分析用具を前記チップと前記カートリッジとの重ね合わせ方向に押圧して前記設置部との間で挟み込み前記チップと前記カートリッジとを嵌合させる請求項2に記載の分析装置。
The analysis tool includes a chip provided with a capillary through which the sample migrates, and a cartridge provided with a liquid reservoir and stacked on the chip.
The analyzer according to claim 2, wherein the pressing member presses the analysis tool in a direction in which the chip and the cartridge overlap, sandwiches the analysis tool with the installation portion, and fits the chip and the cartridge.
前記位置決め部材による前記分析用具の位置決め方向が、前記給電部材が前記分析用具に接近する方向と交差する方向を含んでいる請求項2又は請求項3に記載の分析装置。   The analyzer according to claim 2 or 3, wherein the positioning direction of the analysis tool by the positioning member includes a direction that intersects the direction in which the power supply member approaches the analysis tool. 前記電極と前記側面とを連通する側面孔を備えた前記分析用具に対し、前記給電部材が前記側面孔に挿入されて前記電極に接触される請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の分析装置。   5. The analysis tool according to claim 1, wherein the feeding member is inserted into the side hole and brought into contact with the electrode with respect to the analysis tool having the side hole communicating the electrode and the side surface. Analyzer as described.
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