JP2018004641A - 滑り接点を監視するための方法 - Google Patents
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Abstract
Description
a)測定値を滑り接点を介して第1のコントローラから第2のコントローラへ転送する間、所定の時間間隔Tにわたって発生エラーを加算することにより、発生エラーの合計Sを決定する工程と、
b)発生エラーの合計Sを第1の所定の閾値Gと比較する工程と、
c)合計Sが第1の閾値Gより大きい場合、滑り接点または滑り接触システムを修理および/または交換する必要があるという警告を出力する工程と
を含み、工程a)およびb)は、第1のコントローラおよび/または第2のコントローラによって行われる。
2 第1のコントローラ
3 第2のコントローラ
4 スリップリングシステム
5 電力供給
6 第3のコントローラ
7 データ
8 コントローラエリアネットワークバスシステム
10 分析機
12 供給レール
13 分注装置
14 受け取り位置
15 インキュベーションデバイス
16 キュベット収納容器
17 試薬ベッセル収納容器
18 試薬ベッセル
19 分注装置
20 移送アーム
21 グリッパ
22 測光器
23 混合デバイス
24 受け取り位置
25 受け取り装置
30 制御ユニット
Claims (15)
- 自動分析機(10)において試料を測定するための測定システム(1)であって、
測定された変数の測定値を記録するための測定デバイスと、
測定値を処理するための第1のコントローラ(2)および第2のコントローラ(3)とを含み、ここで、測定デバイスおよび第1のコントローラ(2)は、第2のコントローラ(3)に対して可動であり、測定値は、測定デバイスから第1のコントローラ(2)へ転送可能であり、
該測定システム(1)は、滑り接点を有する滑り接触システムを含み、
測定値は、滑り接点を介して第1のコントローラ(2)から第2のコントローラ(3)へ転送可能であり、
該測定システム(1)は、測定値を滑り接点を介して第1のコントローラ(2)から第2のコントローラ(3)へ転送する間に生じたエラーを取り込むためのエラーカウンタを含むことを特徴とする、前記測定システム。 - 第1のコントローラ(2)および/または測定デバイスの電力供給(5)は、滑り接点によって行われる、請求項1に記載の測定システム(1)。
- 第1のコントローラ(2)および測定デバイスは回転可能に取り付けられ、滑り接触システムはスリップリングシステム(4)を含む、請求項1または2に記載の測定システム(1)。
- 第2のコントローラ(3)は固定されて配置される、請求項1〜3のいずれか1項に記載の測定システム(1)。
- コントローラエリアネットワークバスシステム(8)、好ましくはISO11898に準拠したコントローラエリアネットワークバスシステム(8)を含み、ここで、測定値は、コントローラエリアネットワークバスシステム(8)によって第1のコントローラ(2)から第2のコントローラ(3)へ転送される、請求項1〜4のいずれか1項に記載の測定システム(1)。
- 測定デバイスは、試料の測光試験のための測光器(22)を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の測定システム(1)。
- 自動分析機において滑り接点を監視するための方法であって、自動分析機(10)は、請求項1〜6のいずれか1項に記載の測定システム(1)を含み、前記方法は:
a)測定値を滑り接点を介して第1のコントローラ(2)から第2のコントローラ(3)へ転送する間、所定の時間間隔Tにわたって発生エラーを加算することにより、発生エラーの合計Sを決定する工程と、
b)発生エラーの合計Sを第1の所定の閾値Gと比較する工程と、
c)合計Sが第1の閾値Gより大きい場合、滑り接点または滑り接触システム(4)を修理および/または交換する必要があるという警告を出力する工程と
を含み、
ここで、工程a)およびb)は、第1のコントローラ(2)および/または第2のコントローラ(3)によって行われる、前記方法。 - 測定システム(1)は第3のコントローラ(6)を含み、工程a)およびb)は、第1のコントローラ(2)、第2のコントローラ(3)および/または第3のコントローラ(6)によって行われる、請求項7に記載の方法。
- 測定システム(1)は、コントローラエリアネットワークバスシステム(8)、好ましくはISO11898に準拠したコントローラエリアネットワークバスシステム(8)を含み、測定値は、コントローラエリアネットワークバスシステム(8)によって第1のコントローラ(2)から第2のコントローラ(3)へ転送される、請求項7または8に記載の方法。
- 第1のコントローラ(2)および/または測定デバイスの電力供給(5)は、滑り接点によって行われる、請求項7〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 第1のコントローラ(2)および測定デバイスは回転可能に取り付けられ、滑り接触システムはスリップリングシステム(4)を含む、請求項7〜10のいずれか1項に記載の方法。
- 第2のコントローラ(3)は固定されて配置される、請求項7〜11のいずれか1項に記載の方法。
- 請求項1〜6のいずれか1項に記載の測定システム(1)を含む自動分析機(10)。
- 測定システム(1)は、好ましくは第3のコントローラ(6)を含み、第1のコントローラ(2)、第2のコントローラ(3)および/または第3のコントローラ(6)は、請求項7〜12のいずれか1項に記載の方法を制御することができるように構成される、請求項13に記載の自動分析機(10)。
- 各々の場合において、1次ベッセル、アリコートベッセルおよび/もしくはターゲットベッセル、ならびに/またはロボットによって変位可能および/もしくはロボットによって旋回可能な移送アームを備えた少なくとも1つの自動分注装置のための多数の受け取り位置を含む、請求項13または14に記載の自動分析機(10)。
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