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JP2017130501A - Component mounting method and component mounting line - Google Patents

Component mounting method and component mounting line Download PDF

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JP2017130501A JP2016007524A JP2016007524A JP2017130501A JP 2017130501 A JP2017130501 A JP 2017130501A JP 2016007524 A JP2016007524 A JP 2016007524A JP 2016007524 A JP2016007524 A JP 2016007524A JP 2017130501 A JP2017130501 A JP 2017130501A
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Japan
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lane
substrate
component mounting
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JP2016007524A
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東 雅之
Masayuki Azuma
雅之 東
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Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
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Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a component mounting method and a component mounting line which can mount a component on a multi-chambered substrate with high productivity on a component mounting line having plural transport lanes.SOLUTION: A component mounting line having plural transport lanes each having plural mounting operation positions at which components are mounted on a substrate acquires the number of defective circuit patterns on a multi-chamfered substrate (ST11), distributes the multi-chamfered substrate to any one of the plural transport lanes on the basis of the number of defective circuit patterns (ST12), and mounts a component on a multi-chamfered substrate having plural circuit patterns formed thereon.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、複数の搬送レーンを備える部品実装ラインにおいて、多面取り基板に部品を実装する部品実装方法および部品実装ラインに関するものである。   The present invention relates to a component mounting method and a component mounting line for mounting components on a multi-sided board in a component mounting line having a plurality of conveyance lanes.

従来、1枚の基板上に複数の回路パターンを形成した、いわゆる多面取り基板に部品を実装して実装基板を生産する場合、短絡や断線などの不良個所がある不良の回路パターンに対しては部品の実装を行わずに、良品であって不良個所がない正常な回路パターンにのみ部品を実装している(特許文献1参照)。これによって、不良の回路パターンに部品を実装する無駄な時間の増加と、不良の回路パターンに実装された後に廃棄されることになる部品の損失を防止している。   Conventionally, when a mounting board is produced by mounting components on a so-called multi-sided board in which a plurality of circuit patterns are formed on one board, for defective circuit patterns with defective parts such as short circuits and disconnections Without mounting the components, the components are mounted only on a normal circuit pattern that is a good product and has no defective parts (see Patent Document 1). This prevents an increase in wasted time for mounting the component on the defective circuit pattern and loss of the component that is discarded after being mounted on the defective circuit pattern.

また、複数の搬送レーンを備えた、いわゆるデュアルレーン方式の部品実装装置を複数連結した部品実装ラインにおいて、同一種類の基板を複数の搬送レーンに順番に振り分けて並行して実装基板を生産することによって生産効率の向上を図る部品実装方法が知られている(特許文献2参照)。この方法では、搬送レーンに複数設けられた実装作業位置の全てにおいて部品の実装が終了するタクトタイムの間隔で、基板を下流側の部品実装装置に同期して順に搬送しながら実装基板を生産している。   Also, in a component mounting line that connects multiple so-called dual lane component mounting devices with multiple transport lanes, the same type of board is distributed in order to multiple transport lanes to produce mounting boards in parallel. A component mounting method for improving the production efficiency is known (see Patent Document 2). In this method, a mounting board is produced while transporting the board in order in synchronization with the component mounting apparatus on the downstream side at a tact time interval at which mounting of the components is completed at all of the mounting work positions provided in the transfer lane. ing.

特開平11−40999号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-40999 特開2008−181453号公報JP 2008-181453 A

しかしながら、特許文献1,2を含む従来技術では、デュアルレーン方式の部品実装装置を複数連結した部品実装ラインによって多面取り基板に部品を実装する場合、次の問題があった。すなわち、多面取り基板における不良の回路パターン数はまちまちであるにもかかわらず、不良の回路パターン数を考慮することなく空いた搬送レーンに順番に多面取り基板が割り振られ、不良の回路パターンが多い多面取り基板と少ない多面取り基板とが同じ搬送レーンに混在して生産されることになる。   However, in the prior art including Patent Documents 1 and 2, there are the following problems when components are mounted on a multi-sided board by a component mounting line in which a plurality of dual lane type component mounting apparatuses are connected. That is, although the number of defective circuit patterns on the multi-sided board varies, the multi-sided board is allocated in order to the empty transfer lane without considering the number of defective circuit patterns, and there are many defective circuit patterns. A multi-sided board and a few multi-sided boards are produced together in the same transport lane.

一般に、不良の回路パターンが少ない(正常な回路パターンが多い)多面取り基板の方が、不良の回路パターンが多い多面取り基板よりも部品の実装に要する部品実装時間が長くなる。そのため、各搬送レーンのタクトタイムが不良の回路パターンが少ない多面取り基板の部品実装時間に支配されてしまい、不良の回路パターンが多い多面取り基板は部品を実装せずに待機する時間が増加するため、結果として搬送レーン全体での生産性が低下するという問題点があった。   In general, a multi-planar board with few defective circuit patterns (many normal circuit patterns) requires a longer component mounting time than a multi-plane board with many defective circuit patterns. Therefore, the tact time of each conveyance lane is governed by the component mounting time of the multi-sided board with few defective circuit patterns, and the time for waiting for the multi-sided board with many defective circuit patterns without mounting components increases. As a result, there is a problem that productivity in the entire transport lane is lowered.

そこで本発明は、複数の搬送レーンを備える部品実装ラインにおいて、多面取り基板に生産性良く部品を実装することができる部品実装方法および部品実装ラインを提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a component mounting method and a component mounting line that can mount components on a multi-sided board with high productivity in a component mounting line including a plurality of conveyance lanes.

本発明の部品実装方法は、基板に部品を実装する実装作業位置をそれぞれ複数有する複数の搬送レーンを備えた部品実装ラインにおいて、複数の回路パターンが形成された多面取り基板への部品の実装を行う部品実装方法であって、前記多面取り基板における不良の前記回路パターンの数を取得し、前記不良の回路パターンの数に基づいて前記複数の搬送レーンのいずれかに前記多面取り基板を振り分ける。   The component mounting method of the present invention is a component mounting line including a plurality of transfer lanes each having a plurality of mounting work positions for mounting components on a board, and mounting the components on a multi-sided board on which a plurality of circuit patterns are formed. In the component mounting method to be performed, the number of defective circuit patterns on the multi-planar substrate is acquired, and the multi-planar substrate is distributed to one of the plurality of transfer lanes based on the number of defective circuit patterns.

本発明の部品実装ラインは、複数の回路パターンが形成された多面取り基板への部品の実装を行う部品実装ラインであって、基板に部品を実装する実装作業位置をそれぞれ複数有する複数の搬送レーンと、前記多面取り基板における不良の前記回路パターンの数を取得する不良パターン数取得部と、前記不良の回路パターンの数に基づいて前記複数の搬送レーンのいずれかに前記多面取り基板を振り分ける振り分け部とを備える。   The component mounting line of the present invention is a component mounting line for mounting a component on a multi-sided board on which a plurality of circuit patterns are formed, and a plurality of transport lanes each having a plurality of mounting work positions for mounting the component on the substrate And a defective pattern number acquisition unit that acquires the number of defective circuit patterns on the multi-planar substrate, and distribution of the multi-planar substrate to one of the plurality of transfer lanes based on the number of defective circuit patterns A part.

本発明によれば、複数の搬送レーンを備える部品実装ラインにおいて、多面取り基板に生産性良く部品を実装することができる。   According to the present invention, in a component mounting line including a plurality of transfer lanes, components can be mounted on a multi-sided board with high productivity.

本発明の一実施の形態の部品実装ラインの構成説明図Configuration explanatory diagram of a component mounting line according to an embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおいて部品が実装される多面取り基板の一例の(a)部品実装前の状態を示す図(b)部品実装後の状態を示す図(A) The figure which shows the state before component mounting of an example of the multi-cavity board | substrate with which components are mounted in the component mounting line of one embodiment of this invention (b) The figure which shows the state after component mounting 本発明の一実施の形態の部品実装ラインの制御系の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control system of the component mounting line of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおけるレーン判定処理の第1実施例のフローチャートThe flowchart of the 1st Example of the lane determination process in the component mounting line of one embodiment of this invention (a)(b)本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおけるレーン判定処理の第1実施例の説明図(A) (b) Explanatory drawing of the 1st Example of the lane determination process in the component mounting line of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおけるレーン判定処理の第1実施例によって搬送レーンに基板が割り振られた例を示す図The figure which shows the example by which the board | substrate was allocated to the conveyance lane by 1st Example of the lane determination process in the component mounting line of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおけるレーン判定処理の第2実施例のフローチャートThe flowchart of 2nd Example of the lane determination process in the component mounting line of one embodiment of this invention (a)(b)(c)(d)本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおけるレーン判定処理の第2実施例の説明図(A) (b) (c) (d) Explanatory drawing of 2nd Example of the lane determination process in the component mounting line of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおけるレーン判定処理の第3実施例のフローチャートThe flowchart of 3rd Example of the lane determination process in the component mounting line of one embodiment of this invention (a)(b)(c)(d)本発明の一実施の形態の部品実装ラインにおけるレーン判定処理の第3実施例の説明図(A) (b) (c) (d) Explanatory drawing of the 3rd Example of the lane determination process in the component mounting line of one embodiment of this invention

以下に図面を用いて、本発明の一実施の形態を詳細に説明する。以下で述べる構成、形状等は説明のための例示であって、部品実装ラインの仕様に応じ、適宜変更が可能である。以下では、全ての図面において対応する要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。図1、及び後述する一部では、水平面内で互いに直交する2軸方向として、基板搬送方向のX方向(図1における左右方向)、基板搬送方向に直交するY方向(図1における前後方向)が示される。また、図1において紙面左側を上流側、紙面右側を下流側と称し、紙面下側を前側、紙面上側を後側と称する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The configuration, shape, and the like described below are illustrative examples, and can be appropriately changed according to the specifications of the component mounting line. Below, the same code | symbol is attached | subjected to the element which respond | corresponds in all the drawings, and the overlapping description is abbreviate | omitted. In FIG. 1 and a part to be described later, as a biaxial direction orthogonal to each other in a horizontal plane, an X direction (horizontal direction in FIG. 1) in the substrate transport direction and a Y direction (front-back direction in FIG. 1) orthogonal to the substrate transport direction. Is shown. In FIG. 1, the left side of the drawing is referred to as the upstream side, the right side of the drawing is referred to as the downstream side, the lower side of the drawing is referred to as the front side, and the upper side of the drawing is referred to as the rear side.

まず図1を参照して、部品実装ライン1の構成について説明する。部品実装ライン1は、X方向に配設された半田印刷装置M1、基板振り分け装置M2、部品実装装置M3〜M5を通信ネットワーク2によって接続し、全体を管理コンピュータ3によって制御される構成となっている。部品実装ライン1は、上流側から搬入される複数の個別基板4aから成る多面取り基板(以下、単に「基板4」と称す。)に部品Pを実装する機能を有している。   First, the configuration of the component mounting line 1 will be described with reference to FIG. The component mounting line 1 has a configuration in which the solder printing device M1, the board distribution device M2, and the component mounting devices M3 to M5 arranged in the X direction are connected by the communication network 2 and are controlled by the management computer 3 as a whole. Yes. The component mounting line 1 has a function of mounting the component P on a multi-sided substrate (hereinafter simply referred to as “substrate 4”) composed of a plurality of individual substrates 4a carried in from the upstream side.

ここで図2(a)、図2(b)を参照し、基板4について説明する。図2(a)は部品Pが実装される前の基板4を、図2(b)は部品Pが実装された後の基板4を示している。図2(a)において、基板4には、部品Pの端子と接合される電極4bを含む回路パターンC(図示省略)が形成された複数の個別基板4a(ここでは12個)が形成されている。すなわち、基板4(多面取り基板)には、複数の回路パターンCが形成されている。図2(b)に示すように、回路パターンCには、電極4bと部品Pの端子が接合されるように部品Pが実装される。基板4は全ての部品Pが実装された後、個別基板4aに切り離される。   Here, the substrate 4 will be described with reference to FIGS. 2 (a) and 2 (b). 2A shows the substrate 4 before the component P is mounted, and FIG. 2B shows the substrate 4 after the component P is mounted. In FIG. 2A, the substrate 4 is formed with a plurality of individual substrates 4a (here, twelve) on which a circuit pattern C (not shown) including electrodes 4b bonded to the terminals of the component P is formed. Yes. That is, a plurality of circuit patterns C are formed on the substrate 4 (multiple substrate). As shown in FIG. 2B, the component P is mounted on the circuit pattern C so that the electrode 4b and the terminal of the component P are joined. The substrate 4 is separated into individual substrates 4a after all the components P are mounted.

いくつかの個別基板4aには(ここでは4個)、各個別基板4aの右上の隅にバッドマークBが付されている。バッドマークBは、回路パターンCに短絡(ショート)や断線(オープン)などの不良がある個別基板4aを識別するためのマークである。部品実装ライン1では、バッドマークBが付された不良のある個別基板4a(回路パターンC)には部品Pは実装されない。   Some individual substrates 4a (here, four) have a bad mark B attached to the upper right corner of each individual substrate 4a. The bad mark B is a mark for identifying the individual substrate 4a in which the circuit pattern C has a defect such as a short circuit (short circuit) or a disconnection (open). In the component mounting line 1, the component P is not mounted on the defective individual substrate 4a (circuit pattern C) to which the bad mark B is attached.

図1において、半田印刷装置M1は、基板4の電極4bに部品接合用の半田ペーストを印刷する機能を有する。半田印刷装置M1は、基台11の上にX方向に伸びた一対の搬送コンベア12、印刷機構13、検査カメラ14を備えている。搬送コンベア12は、基板4を搬送して所定の印刷作業位置に位置決めし、また、半田ペーストが印刷された基板4を下流側に配設された基板振り分け装置M2に搬出する。印刷機構13は、印刷作業位置に位置決めされた基板4に半田ペーストを印刷する。このように、搬送コンベア12および印刷機構13は、基板4を搬入し、半田ペーストを印刷し、半田ペーストが印刷された基板4を搬出する一連の半田印刷作業を行う印刷作業部15となる。   In FIG. 1, the solder printing apparatus M1 has a function of printing a solder paste for component bonding on the electrode 4b of the substrate 4. The solder printing apparatus M1 includes a pair of transport conveyors 12, a printing mechanism 13, and an inspection camera 14 that extend in the X direction on a base 11. The conveyer 12 conveys the substrate 4 and positions it at a predetermined printing work position, and carries the substrate 4 on which the solder paste is printed to the substrate sorting device M2 disposed on the downstream side. The printing mechanism 13 prints the solder paste on the substrate 4 positioned at the printing work position. In this way, the transport conveyor 12 and the printing mechanism 13 serve as a printing work unit 15 that carries in a series of solder printing operations for carrying the board 4 in, printing the solder paste, and carrying out the board 4 on which the solder paste has been printed.

検査カメラ14は、図示省略するカメラ移動機構によって、またはカメラ移動機構と搬送コンベア12との組み合わせによって、基板4の上方を相対的に水平方向(XY方向)に移動して、基板4の電極4bに印刷された半田ペースト、基板4に付されたバッドマークBを撮像する。   The inspection camera 14 moves relative to the upper side of the substrate 4 in the horizontal direction (XY direction) by a camera movement mechanism (not shown) or a combination of the camera movement mechanism and the transfer conveyor 12, and the electrode 4 b of the substrate 4. The solder paste printed on the substrate 4 and the bad mark B attached to the substrate 4 are imaged.

基板振り分け装置M2は、半田印刷装置M1から基板4を受け取って、後述する部品実装装置M3〜M5に設けられた第1レーンL1及び第2レーンL2のいずれかにかに振り分けて搬出する機能を有する。基板振り分け装置M2は、基台21の上にX方向に伸びた一対の搬送コンベア22を備えている。搬送コンベア22は、図示省略するコンベア移動機構によってY方向に移動自在となっている(矢印a)。搬送コンベア22は、半田印刷装置M1から搬出された基板4を受け取って保持する。   The board distribution device M2 has a function of receiving the board 4 from the solder printing apparatus M1 and distributing it to any one of the first lane L1 and the second lane L2 provided in the component mounting apparatuses M3 to M5 described later. Have. The substrate sorting apparatus M2 includes a pair of conveyors 22 that extend in the X direction on the base 21. The conveyor 22 is movable in the Y direction by a conveyor moving mechanism (not shown) (arrow a). The conveyor 22 receives and holds the substrate 4 carried out from the solder printing apparatus M1.

コンベア移動機構は、搬送コンベア22が保持する基板4を第1レーンL1及び第2レーンL2のいずれかに搬出できる位置に、搬送コンベア22を移動させる。その後、搬送コンベア22は、保持する基板4を第1レーンL1及び第2レーンL2のいずれかに搬出する。このように、搬送コンベア22およびコンベア移動機構は、半田印刷装置M1から基板4を受け取って、部品実装装置M3〜M5に設けられた第1レーンL1及び第2レーンL2のいずれかに振り分けて搬出する一連の基板振り分け作業を行う振り分け作業部23となる(図3参照)。   The conveyor moving mechanism moves the conveyor 22 to a position where the substrate 4 held by the conveyor 22 can be carried out to either the first lane L1 or the second lane L2. Thereafter, the transfer conveyor 22 carries the held substrate 4 to either the first lane L1 or the second lane L2. As described above, the conveyor 22 and the conveyor moving mechanism receive the board 4 from the solder printing apparatus M1, and distribute the board 4 to either the first lane L1 or the second lane L2 provided in the component mounting apparatuses M3 to M5. The distribution work unit 23 performs a series of substrate distribution operations (see FIG. 3).

部品実装装置M3〜M5は同様の構成であり、以下、部品実装装置M3について説明する。なお、部品実装装置M3〜M5を区別する必要がある場合は、上流側から第1部品実装装置M3、第2部品実装装置M4、第3部品実装装置M5と称する。部品実装装置M3は、基板振り分け装置M2によって振り分けられて搬入された基板4に部品Pを実装する機能を有する。基台31の中央部には、X方向に伸びた一対の第1搬送コンベア32Aが後側に、および一対の第2搬送コンベア32Bが前側に、Y方向において並列した状態で設けられている。便宜上、第1搬送コンベア32Aと第2搬送コンベア32Bを区別して説明する必要がある場合を除き、単に「搬送コンベア32A,32B」と称する。   The component mounting apparatuses M3 to M5 have the same configuration, and the component mounting apparatus M3 will be described below. In addition, when it is necessary to distinguish the component mounting apparatuses M3 to M5, the first component mounting apparatus M3, the second component mounting apparatus M4, and the third component mounting apparatus M5 are referred to from the upstream side. The component mounting apparatus M3 has a function of mounting the component P on the board 4 that is sorted and carried by the board sorting apparatus M2. In the central portion of the base 31, a pair of first transport conveyors 32A extending in the X direction are provided on the rear side, and a pair of second transport conveyors 32B are provided on the front side in parallel with each other in the Y direction. For convenience, the first conveyor 32A and the second conveyor 32B are simply referred to as “conveyors 32A and 32B” unless it is necessary to distinguish between the first conveyor 32A and the second conveyor 32B.

搬送コンベア32A,32Bは、基板振り分け装置M2から搬出された基板4を搬送して所定の実装作業位置(図1に実線で示す基板4の位置)に位置決めし、部品Pが実装された基板4を下流側の装置に搬出する機能を有する。搬送コンベア32A,32Bの両側には部品供給部33A,33Bがそれぞれ配設されている。部品供給部33A,33Bには、X方向に並んで配置された複数のテープフィーダ34がセットされている。テープフィーダ34は、キャリアテープに保持された部品Pをピッチ送りして、実装ヘッド35A,35Bによるピックアップ位置まで供給する。   The transfer conveyors 32A and 32B transfer the substrate 4 carried out from the substrate distribution device M2 and position it at a predetermined mounting work position (the position of the substrate 4 shown by a solid line in FIG. 1), and the substrate 4 on which the component P is mounted. Has a function of carrying out the operation to a downstream apparatus. Component supply units 33A and 33B are disposed on both sides of the conveyors 32A and 32B, respectively. A plurality of tape feeders 34 arranged in the X direction are set in the component supply units 33A and 33B. The tape feeder 34 pitches the parts P held on the carrier tape and supplies them to the pick-up positions by the mounting heads 35A and 35B.

実装ヘッド35A,35Bは、図示省略するヘッド移動機構によって水平方向(XY方向)に移動して、それぞれ部品供給部33A,33Bから供給された部品Pをピックアップして実装作業位置に位置決めされた基板4に実装する。このとき、実装ヘッド35Aは第1搬送コンベア32Aによって搬送された基板4のみを作業対象としても、2基の搬送コンベア32A,32Bによってそれぞれ搬送された基板4の双方を作業対象としてもよい。同様に、実装ヘッド35Bは第2搬送コンベア32Bによって搬送された基板4のみを作業対象としても、2基の搬送コンベア32A,32Bによってそれぞれ搬送された基板4の双方を作業対象としてもよい。   The mounting heads 35A and 35B are moved in the horizontal direction (XY direction) by a head moving mechanism (not shown), pick up the components P supplied from the component supply units 33A and 33B, respectively, and are positioned at the mounting work positions. 4 is implemented. At this time, the mounting head 35A may target only the substrate 4 transported by the first transport conveyor 32A, or may target both the substrates 4 transported by the two transport conveyors 32A and 32B. Similarly, the mounting head 35B may target only the substrate 4 transported by the second transport conveyor 32B or may target both the substrates 4 transported by the two transport conveyors 32A and 32B.

このように、搬送コンベア32A,32B、部品供給部33A,33B、実装ヘッド35A,35B、ヘッド移動機構は、基板振り分け装置M2から振り分けられた基板4に、実装作業位置において部品Pを実装して下流側の装置に搬出する実装作業部36(図3参照)となる。   As described above, the conveyors 32A and 32B, the component supply units 33A and 33B, the mounting heads 35A and 35B, and the head moving mechanism mount the component P on the substrate 4 distributed from the substrate distribution device M2 at the mounting operation position. It becomes the mounting work part 36 (refer FIG. 3) carried out to the apparatus of a downstream side.

図1において、第1部品実装装置M3、第2部品実装装置M4、第3部品実装装置M5の第1搬送コンベア32Aは、それぞれ連結されて第1の搬送レーン(以下、「第1レーンL1」と称す。)を構成する。同様に、第1部品実装装置M3、第2部品実装装置M4、第3部品実装装置M5の第2搬送コンベア32Bは、それぞれ連結されて第2の搬送レーン(以下、「第2レーンL2」と称す。)を構成する。   In FIG. 1, the first transfer conveyors 32A of the first component mounting apparatus M3, the second component mounting apparatus M4, and the third component mounting apparatus M5 are connected to each other to form a first transfer lane (hereinafter, “first lane L1”). Is configured.). Similarly, the second conveyor 32B of the first component mounting apparatus M3, the second component mounting apparatus M4, and the third component mounting apparatus M5 are connected to each other to form a second conveyance lane (hereinafter referred to as “second lane L2”). Construct.).

第1レーンL1及び第2レーンL2には、それぞれ基板振り分け装置M2から振り分けられた基板4が搬送され、第1部品実装装置M3、第2部品実装装置M4、第3部品実装装置M5の各実装作業位置において部品Pが実装される。すなわち、部品実装ライン1は、実装作業位置をそれぞれ有する複数の搬送レーン(第1搬送コンベア32A、第2搬送コンベア32B)を備えた部品実装装置M3〜M5を複数連結して構成される。また、部品実装ライン1は、基板4に部品Pを実装する実装作業位置をそれぞれ複数有する複数の搬送レーン(第1レーンL1、第2レーンL2)を備えている。   The substrate 4 distributed from the substrate distribution device M2 is transferred to the first lane L1 and the second lane L2, respectively, and each of the first component mounting device M3, the second component mounting device M4, and the third component mounting device M5 is mounted. The component P is mounted at the work position. That is, the component mounting line 1 is configured by connecting a plurality of component mounting apparatuses M3 to M5 each having a plurality of transport lanes (first transport conveyor 32A and second transport conveyor 32B) each having a mounting work position. The component mounting line 1 includes a plurality of transfer lanes (first lane L1 and second lane L2) each having a plurality of mounting work positions for mounting the component P on the substrate 4.

次に図3を参照して、部品実装ライン1の制御系の構成について説明する。半田印刷装置M1は、印刷制御部16、印刷記憶部17、印刷作業部15、検査カメラ14、通信部18を備えている。印刷記憶部17は、印刷制御部16による各部の制御に必要な作業パラメータの他、不良パターン情報17aなどのデータを記憶する。印刷制御部16は、印刷作業部15を制御して、基板4に半田ペーストを印刷する半田印刷作業を実行させる。また印刷制御部16は、検査カメラ14が撮像した基板4に印刷された半田ペーストを検査して、欠けやつぶれ等の印刷不良がある個別基板4a(回路パターンC)の位置、基板4中の不良の数などの情報を不良パターン情報17aとして印刷記憶部17に記憶する。   Next, the configuration of the control system of the component mounting line 1 will be described with reference to FIG. The solder printing apparatus M1 includes a print control unit 16, a print storage unit 17, a print work unit 15, an inspection camera 14, and a communication unit 18. The print storage unit 17 stores data such as defect pattern information 17a as well as work parameters necessary for the control of each unit by the print control unit 16. The print control unit 16 controls the printing operation unit 15 to execute a solder printing operation for printing the solder paste on the substrate 4. Further, the print control unit 16 inspects the solder paste printed on the substrate 4 imaged by the inspection camera 14, and the position of the individual substrate 4 a (circuit pattern C) having a printing defect such as chipping or crushing, in the substrate 4. Information such as the number of defects is stored in the print storage unit 17 as defect pattern information 17a.

また印刷制御部16は、検査カメラ14が撮像した基板4に付されたバッドマークBを検出して、バッドマークBが付された個別基板4a(回路パターンC)の位置、基板4中のバッドマークBの数などの情報を不良パターン情報17aとして印刷記憶部17に記憶する。すなわち検査カメラ14と印刷制御部16は、基板4(多面取り基板)における不良の回路パターンCの数(以下、「不良数N」と称す。)を検出する不良検出手段となる。通信部18は通信インターフェースであり、通信ネットワーク2を介して管理コンピュータ3、基板振り分け装置M2との間で信号、データの授受を行う。不良パターン情報17aは、通信部18を介して管理コンピュータ3に送信される。   Further, the print control unit 16 detects the bad mark B attached to the substrate 4 imaged by the inspection camera 14, the position of the individual substrate 4 a (circuit pattern C) to which the bad mark B is attached, and the bad in the substrate 4. Information such as the number of marks B is stored in the print storage unit 17 as defective pattern information 17a. That is, the inspection camera 14 and the print control unit 16 serve as a defect detection unit that detects the number of defective circuit patterns C (hereinafter referred to as “number of defects N”) on the substrate 4 (multiple substrate). The communication unit 18 is a communication interface, and exchanges signals and data with the management computer 3 and the board distribution device M2 via the communication network 2. The defect pattern information 17a is transmitted to the management computer 3 via the communication unit 18.

基板振り分け装置M2は、振り分け制御部24、振り分け記憶部25、振り分け作業部23、通信部26を備えている。振り分け記憶部25は、振り分け制御部24による振り分け作業部23の制御に必要な作業パラメータの他、後述する管理コンピュータ3のレーン判定処理部41bから送信される基板4の振り分け先などのデータを記憶する。振り分け制御部24は、振り分け作業部23を制御して基板4を第1レーンL1及び第2レーンL2のいずれかに振り分ける基板振り分け作業を実行させる。通信部26は通信インターフェースであり、通信ネットワーク2を介して管理コンピュータ3、半田印刷装置M1、部品実装装置M3〜M5との間で信号、データの授受を行う。   The substrate distribution device M2 includes a distribution control unit 24, a distribution storage unit 25, a distribution work unit 23, and a communication unit 26. The distribution storage unit 25 stores data such as a distribution destination of the board 4 transmitted from a lane determination processing unit 41b of the management computer 3 to be described later, in addition to work parameters necessary for the control of the distribution work unit 23 by the distribution control unit 24. To do. The distribution control unit 24 controls the distribution operation unit 23 to execute a substrate distribution operation for distributing the substrate 4 to either the first lane L1 or the second lane L2. The communication unit 26 is a communication interface, and exchanges signals and data with the management computer 3, the solder printing apparatus M1, and the component mounting apparatuses M3 to M5 via the communication network 2.

部品実装装置M3〜M5の制御系は同様の構成であり、以下、部品実装装置M3(第1部品実装装置M3)について説明する。部品実装装置M3は、実装制御部37、実装記憶部38、実装作業部36、通信部39を備えている。実装記憶部38は、実装制御部37による実装作業部36の制御に必要な作業パラメータの他、管理コンピュータ3から送信される不良パターン情報38aなどのデータを記憶する。不良パターン情報38aには、実装対象となる基板4(多面取り基板)の不良の回路パターンCの位置などが記憶されている。実装制御部37は実装作業部36を制御して、基板4を実装作業位置に位置決めし、不良パターン情報38aを参照し、不良でない個別基板4a(回路パターンC)に部品Pを実装する部品実装作業を実行させる。   The control systems of the component mounting apparatuses M3 to M5 have the same configuration. Hereinafter, the component mounting apparatus M3 (first component mounting apparatus M3) will be described. The component mounting apparatus M3 includes a mounting control unit 37, a mounting storage unit 38, a mounting work unit 36, and a communication unit 39. The mounting storage unit 38 stores data such as defect pattern information 38 a transmitted from the management computer 3 in addition to work parameters necessary for controlling the mounting work unit 36 by the mounting control unit 37. In the defect pattern information 38a, the position of the defective circuit pattern C on the substrate 4 (multiple substrate) to be mounted is stored. The mounting control unit 37 controls the mounting operation unit 36 to position the substrate 4 at the mounting operation position, refers to the defect pattern information 38a, and mounts the component P on the individual substrate 4a (circuit pattern C) that is not defective. Let the work be performed.

通信部39は通信インターフェースであり、通信ネットワーク2を介して管理コンピュータ3、基板振り分け装置M2、他の部品実装装置M4〜M5との間で信号、データの授受を行う。また部品実装装置M3〜M5の実装制御部37は、管理コンピュータ3からの信号、または部品実装装置M3〜M5間の基板搬送信号に従って、第1レーンL1または第2レーンL2にある基板4を同期して下流側の装置(実装作業位置)に搬送する。また部品実装装置M3〜M5における部品実装作業の状況は、通信部39を介して管理コンピュータ3に送信される。   The communication unit 39 is a communication interface, and exchanges signals and data with the management computer 3, the board sorting apparatus M2, and the other component mounting apparatuses M4 to M5 via the communication network 2. Further, the mounting control unit 37 of the component mounting apparatuses M3 to M5 synchronizes the board 4 in the first lane L1 or the second lane L2 according to a signal from the management computer 3 or a board transport signal between the component mounting apparatuses M3 to M5. Then, it is transported to a downstream device (mounting work position). In addition, the status of component mounting work in the component mounting apparatuses M <b> 3 to M <b> 5 is transmitted to the management computer 3 via the communication unit 39.

管理コンピュータ3は、管理制御部41、管理記憶部42、操作・入力部43、表示部44、通信部45を備えている。管理制御部41はCPUなどの演算装置であり、不良パターン数取得部41a、レーン判定処理部41bなどの内部処理部を有している。管理記憶部42は記憶装置であり、部品実装ライン1を統括制御するための部品実装データの他、不良パターン情報42aなどを記憶する。   The management computer 3 includes a management control unit 41, a management storage unit 42, an operation / input unit 43, a display unit 44, and a communication unit 45. The management control unit 41 is an arithmetic device such as a CPU, and has internal processing units such as a defective pattern number acquisition unit 41a and a lane determination processing unit 41b. The management storage unit 42 is a storage device and stores component pattern data for controlling the component mounting line 1 as well as defective pattern information 42a.

操作・入力部43は、キーボード、タッチパネル、マウスなどの入力装置であり、操作コマンドやデータ入力時に用いられる。表示部44は液晶パネルなどの表示装置であり、操作画面の他、不良パターン情報42aなどの各種データなどを表示する。通信部45は通信インターフェースであり、通信ネットワーク2を介して半田印刷装置M1、基板振り分け装置M2、部品実装装置M3〜M5との間で信号、データの授受を行う。   The operation / input unit 43 is an input device such as a keyboard, a touch panel, or a mouse, and is used when an operation command or data is input. The display unit 44 is a display device such as a liquid crystal panel, and displays various data such as the defect pattern information 42a in addition to the operation screen. The communication unit 45 is a communication interface, and exchanges signals and data with the solder printing apparatus M1, the board distribution apparatus M2, and the component mounting apparatuses M3 to M5 via the communication network 2.

不良パターン情報42aは、半田印刷装置M1において取得された不良パターン情報17aが送信されて記憶されたものであり、基板4(多面取り基板)における不良の個別基板4a(回路パターンC)の位置、不良数Nなどの情報が記憶されている。また不良パターン情報42aは、部品実装装置M3〜M5に送信されて不良パターン情報38aとして実装記憶部38に記憶される。   The defect pattern information 42a is obtained by transmitting and storing the defect pattern information 17a acquired in the solder printing apparatus M1, and the position of the defective individual substrate 4a (circuit pattern C) on the substrate 4 (multiple substrate). Information such as the number N of defects is stored. The defective pattern information 42a is transmitted to the component mounting apparatuses M3 to M5 and stored in the mounting storage unit 38 as defective pattern information 38a.

なお不良パターン情報42aは、半田印刷装置M1で取得された情報に限定されることはない。例えば、基板製造メーカから納入される基板4に添付された情報(検査結果)や、図示しない検査装置で取得された情報など、部品実装ライン1において部品Pが実装される基板4(多面取り基板)における不良の個別基板4a(回路パターンC)の位置、不良数Nなどの情報であればよい。   The defective pattern information 42a is not limited to information acquired by the solder printing apparatus M1. For example, the substrate 4 on which the component P is mounted on the component mounting line 1 (multi-planar substrate) such as information (inspection result) attached to the substrate 4 delivered from the substrate manufacturer or information acquired by an inspection device (not shown) Information on the position of the defective individual substrate 4a (circuit pattern C) in FIG.

不良パターン数取得部41aは、不良パターン情報42aを基に、部品実装装置M3〜M5において部品Pが実装される基板4(多面取り基板)における不良の個別基板4a(回路パターンC)の数(不良数N)を取得する。レーン判定処理部41bは、不良パターン数取得部41aが取得した不良数N、第1レーンL1及び第2レーンL2のおける基板4の部品実装作業の状況(各実装作業位置における基板4の有無など)を基に、基板振り分け装置M2が保持する基板4を第1レーンL1及び第2レーンL2のいずれに振り分けるかを決定するレーン判定処理を実行する。   The number of defective pattern acquisition unit 41a is based on the defect pattern information 42a, and the number of defective individual substrates 4a (circuit patterns C) in the substrate 4 (multiple substrate) on which the component P is mounted in the component mounting apparatuses M3 to M5 ( The number of defects N) is obtained. The lane determination processing unit 41b includes the number N of defects acquired by the defect pattern number acquisition unit 41a, the state of component mounting work of the board 4 in the first lane L1 and the second lane L2 (the presence or absence of the board 4 at each mounting work position, etc. ) Is executed to determine which of the first lane L1 and the second lane L2 the board 4 held by the board sorter M2 is to be sorted.

レーン判定処理部41bが決定した基板4の振り分け先は基板振り分け装置M2に送信され、振り分け作業部23によって基板振り分け装置M2が保持する基板4が決定された搬送レーン(第1レーンL1、第2レーンL2)に振り分けられて搬出される。すなわち、レーン判定処理部41bおよび振り分け作業部23は、不良数N(不良の回路パターンCの数)に基づいて複数の搬送レーン(第1レーンL1、第2レーンL2)のいずれかに基板4(多面取り基板)を振り分ける振り分け部となる。   The distribution destination of the substrate 4 determined by the lane determination processing unit 41b is transmitted to the substrate distribution device M2, and the distribution lane (first lane L1, second lane 2) in which the substrate 4 held by the substrate distribution device M2 is determined by the distribution operation unit 23. Sorted to lane L2) and carried out. That is, the lane determination processing unit 41b and the distribution work unit 23 are arranged on any of the plurality of transport lanes (first lane L1, second lane L2) based on the number N of defects (number of defective circuit patterns C). It becomes a distribution unit for distributing (multi-sided substrate).

次に図4のフローに則して、図5,6を参照しながら、部品実装ライン1において基板4(多面取り基板)への部品Pの実装を行う部品実装方法において実行される、レーン判定処理の第1実施例について説明する。レーン判定処理は、半田ペーストが印刷された基板4を部品実装ライン1が有する複数の搬送レーン(第1レーンL1、第2レーンL2)に搬入する際に実行される。ここでは、基板振り分け装置M2に基板4が保持された状態から、第1レーンL1及び第2レーンL2のいずれかに振り分けて搬入するまでのフローを説明する。なお、部品実装装置M3〜M5の各部品供給部33A,33Bには、各実装作業位置での個別基板4aあたりの部品実装時間がほぼ同一となるように、事前に部品Pが振り分けられているとする。   Next, in accordance with the flow of FIG. 4, with reference to FIGS. 5 and 6, the lane determination executed in the component mounting method for mounting the component P on the substrate 4 (multiple substrate) in the component mounting line 1 A first embodiment of processing will be described. The lane determination process is executed when the board 4 on which the solder paste is printed is carried into a plurality of conveyance lanes (first lane L1, second lane L2) included in the component mounting line 1. Here, the flow from the state in which the substrate 4 is held by the substrate distribution device M2 to the distribution to either the first lane L1 or the second lane L2 will be described. The component supply units 33A and 33B of the component mounting apparatuses M3 to M5 have components P distributed in advance so that the component mounting time per individual substrate 4a at each mounting work position is substantially the same. And

図4において、基板振り分け装置M2に基板4(1)が保持されると、管理コンピュータ3の不良パターン数取得部41aは、基板4(1)の不良数N(不良の回路パターンCの数)を取得する(ST11:第1不良パターン数取得工程)。不良パターン数取得部41aは、管理記憶部42に記憶されている不良パターン情報42aに対象となる基板4(1)の情報が無い場合は、半田印刷装置M1から最新の不良パターン情報17aを取得する。このように第1不良パターン数取得工程(ST11)において、多面取り基板(基板4)における不良の回路パターンCの数(不良数N)が取得される。   In FIG. 4, when the substrate 4 (1) is held by the substrate distribution device M2, the defect pattern number acquisition unit 41a of the management computer 3 displays the number N of defects of the substrate 4 (1) (the number of defective circuit patterns C). (ST11: first defect pattern number acquiring step). The defective pattern number acquisition unit 41a acquires the latest defective pattern information 17a from the solder printing apparatus M1 when there is no information on the target substrate 4 (1) in the defective pattern information 42a stored in the management storage unit 42. To do. Thus, in the first defective pattern number acquisition step (ST11), the number of defective circuit patterns C (number of defects N) in the multi-sided substrate (substrate 4) is acquired.

次いでレーン判定処理部41bは、基板4(1)の不良数Nが基板4(多面取り基板)の個別基板4aの総数よりも少ない所定の個数R(第1の個数)より多いか否かを判定する(ST12:第1判定工程)。個数Rは、部品実装装置M3〜M5での待機時間の合計が少なくなるように、実験結果、生産実績、作業者の経験などを基に、基板4の不良数Nの分布なども考慮して決められる。   Next, the lane determination processing unit 41b determines whether or not the number N of defects of the substrate 4 (1) is larger than a predetermined number R (first number) that is smaller than the total number of individual substrates 4a of the substrate 4 (multiple substrate). Determine (ST12: first determination step). The number R takes into consideration the distribution of the number of defects N on the board 4 based on the experimental results, production results, operator experience, etc. so that the total waiting time in the component mounting apparatuses M3 to M5 is reduced. It is decided.

図4において、基板4(1)の不良数Nが個数Rより多い場合(ST12においてYes)、基板4(1)は第1のグループG1として第1レーンL1(第1の搬送レーン)に搬入される(ST13)。具体的には、レーン判定処理部41bは基板振り分け装置M2に対して基板4(1)を第1レーンL1に搬入するように信号を送信し、基板振り分け装置M2は保持する基板4(1)を第1レーンL1に振り分けて搬出する。すなわち、レーン判定処理部41bは不良の回路パターンCの数(不良数N)が第1の個数(個数R)より多い多面取り基板(基板4)を第1のグループG1とし、基板振り分け装置M2は第1のグループG1を複数の搬送レーンのうち第1の搬送レーン(第1レーンL1)に搬入する。   In FIG. 4, when the number N of defects of the substrate 4 (1) is greater than the number R (Yes in ST12), the substrate 4 (1) is carried into the first lane L1 (first transport lane) as the first group G1. (ST13). Specifically, the lane determination processing unit 41b transmits a signal to the substrate distribution device M2 so as to carry the substrate 4 (1) into the first lane L1, and the substrate distribution device M2 holds the substrate 4 (1). Are transferred to the first lane L1. That is, the lane determination processing unit 41b sets the multi-sided board (board 4) having the number of defective circuit patterns C (number of defects N) larger than the first number (number R) as the first group G1, and sets the board sorting apparatus M2. Carries the first group G1 into the first transport lane (first lane L1) among the plurality of transport lanes.

図5(a)に、(ST13)おける部品実装ライン1の動作を模式的に示す。(ST13)において、基板振り分け装置M2は搬送コンベア22を第1レーンL1に合わせて移動させ(振り分けて)、基板4(1)を第1レーンL1に搬出する(矢印b1)。(ST13)において第1部品実装装置M3の第1レーンL1の実装作業位置に部品実装作業中の基板4がある場合は、基板振り分け装置M2は、第1部品実装装置M3の第1レーンL1の実装作業位置から基板4が搬出されるまで待機した後、基板4(1)を第1レーンL1に搬出する。   FIG. 5A schematically shows the operation of the component mounting line 1 in (ST13). In (ST13), the substrate sorting apparatus M2 moves (sorts) the transfer conveyor 22 along the first lane L1, and carries the substrate 4 (1) to the first lane L1 (arrow b1). In (ST13), when there is a board 4 that is undergoing component mounting work at the mounting work position of the first lane L1 of the first component mounting apparatus M3, the board sorting apparatus M2 is connected to the first lane L1 of the first component mounting apparatus M3. After waiting until the board 4 is unloaded from the mounting work position, the board 4 (1) is unloaded to the first lane L1.

図4において、基板4(1)の不良数Nが個数R以下の場合(ST12においてNo)、基板4(1)は第2のグループG2として第2レーンL2(第2の搬送レーン)に搬入される(ST14)。具体的には、レーン判定処理部41bは基板振り分け装置M2に対して基板4(1)を第2レーンL2に搬入するように信号を送信し、基板振り分け装置M2は保持する基板4(1)を第2レーンL2に搬出する。すなわち、レーン判定処理部41bは不良の回路パターンCの数(不良数N)が第1の個数(個数R)以下の多面取り基板(基板4)を第2のグループG2とし、基板振り分け装置M2は第2のグループG2を複数の搬送レーンのうち第2の搬送レーン(第2レーンL2)に搬入する。   In FIG. 4, when the defect number N of the substrate 4 (1) is equal to or less than the number R (No in ST12), the substrate 4 (1) is carried into the second lane L2 (second conveyance lane) as the second group G2. (ST14). Specifically, the lane determination processing unit 41b transmits a signal to the substrate distribution device M2 so as to carry the substrate 4 (1) into the second lane L2, and the substrate distribution device M2 holds the substrate 4 (1). Is carried out to the second lane L2. That is, the lane determination processing unit 41b sets the multi-sided substrate (substrate 4) having the number of defective circuit patterns C (number of defects N) equal to or less than the first number (number R) as the second group G2, and sets the substrate sorting apparatus M2 Carries the second group G2 into the second transportation lane (second lane L2) among the plurality of transportation lanes.

図5(b)に、(ST14)おける部品実装ライン1の動作を模式的に示す。(ST14)において、基板振り分け装置M2は搬送コンベア22を第2レーンL2に合わせて移動させ(振り分けて)、基板4(1)を第2レーンL2に搬出する(矢印b2)。(ST14)において第1部品実装装置M3の第2レーンL2の実装作業位置に部品実装作業中の基板4がある場合は、基板振り分け装置M2は、第1部品実装装置M3の第2レーンL2の実装作業位置から基板4が搬出されるまで待機した後、基板4(1)を第2レーンL2に搬出する。   FIG. 5B schematically shows the operation of the component mounting line 1 in (ST14). In (ST14), the substrate sorting apparatus M2 moves (sorts) the transfer conveyor 22 along the second lane L2, and carries the substrate 4 (1) to the second lane L2 (arrow b2). In (ST14), when there is a board 4 that is in the process of component mounting at the mounting work position of the second lane L2 of the first component mounting apparatus M3, the board distributing apparatus M2 is connected to the second lane L2 of the first component mounting apparatus M3. After waiting until the board 4 is unloaded from the mounting work position, the board 4 (1) is unloaded to the second lane L2.

次に図6を参照して、レーン判定処理の効果について説明する。図6は、個数Rを「5個」に設定し、第1レーンL1と第2レーンL2に基板4が振り分けられた例を示している。#1A,#2A,#3Aは、それぞれ第1レーンL1における部品実装装置M3〜M5の実装作業位置を示している。#1B,#2B,#3Bは、それぞれ第2レーンL2における部品実装装置M3〜M5の実装作業位置を示している。表中の項目のうち、「不良数N」は不良の回路パターンCの数を、「良品数」は正常な回路パターンCの数を、「作業時間」は部品実装作業に要する時間を、「待機時間」は部品実装作業を終了した後に下流側の装置に搬出されるまでに待機する時間をそれぞれ示している。   Next, the effect of the lane determination process will be described with reference to FIG. FIG. 6 shows an example in which the number R is set to “5” and the substrates 4 are allocated to the first lane L1 and the second lane L2. # 1A, # 2A, and # 3A indicate mounting work positions of the component mounting apparatuses M3 to M5 in the first lane L1, respectively. # 1B, # 2B, and # 3B indicate mounting work positions of the component mounting apparatuses M3 to M5 in the second lane L2, respectively. Among the items in the table, “number of defects N” indicates the number of defective circuit patterns C, “number of non-defective products” indicates the number of normal circuit patterns C, and “working time” indicates the time required for component mounting work. “Standby time” indicates the time to wait after the component mounting operation is completed before being carried out to the downstream apparatus.

この例では、各実装作業位置での作業時間は均等に設定されており、個別基板4a(回路パターンC)あたり10秒である。第1レーンL1には、不良数Nが「5個」より多い第1のグループG1の基板4が振り分けられており、#1Aには不良数Nが「6個」、#2Aには不良数Nが「11個」、#3Aには不良数Nが「8個」の基板4がある。第1レーンL1のタクトタイムは、不良数Nが一番少ない、すなわち良品数が一番多い基板4の作業時間で決まり、この例では#1Aにおける作業時間の60秒になる。   In this example, the work time at each mounting work position is set uniformly, and is 10 seconds per individual substrate 4a (circuit pattern C). In the first lane L1, the substrates 4 of the first group G1 having a defect number N greater than “5” are allocated, # 1A has a defect number N of “6”, and # 2A has a defect number. There is a substrate 4 in which N is “11” and # 3A has a defect number N of “8”. The tact time of the first lane L1 is determined by the working time of the substrate 4 having the smallest number of defects N, that is, the largest number of non-defective products, and in this example is 60 seconds of working time in # 1A.

第2レーンL2には、不良数Nが「5個」以下の第2のグループG2の基板4が振り分けられており、#1Bには不良数Nが「2個」、#2Bには不良数Nが「0個」、#3Bには不良数Nが「5個」の基板4がある。第2レーンL2のタクトタイムは、不良数Nが一番少ない、すなわち良品数が一番多い基板4の作業時間で決まり、この例では#2Bにおける作業時間の120秒になる。なお、タクトタイムは、各搬送レーンにある基板4の不良数Nに応じて随時変化する。   In the second lane L2, the substrates 4 of the second group G2 having the number of defects N of “5” or less are distributed, the number of defects N is “2” for # 1B, and the number of defects is # 2B. There is a substrate 4 in which N is “0” and # 3B has a defect number N of “5”. The tact time of the second lane L2 is determined by the working time of the substrate 4 having the smallest number of defects N, that is, the largest number of non-defective products. In this example, the working time is 120 seconds in # 2B. The tact time changes at any time according to the number N of defects of the substrates 4 in each transport lane.

基板4を無作為に搬送レーンに振り分けた場合に起こり得る最大の待機時間は、全てが不良の基板4は部品実装ライン1には投入されないとすると、不良数Nが「0個」の基板4(良品数が12個)と、不良数Nが「11個」の基板4(良品数が1個)との作業時間の差の110秒となる。これに対して、レーン判定処理の第1実施例では、不良数N(不良の回路パターンCの数)に基づいて、基板4(多面取り基板)を不良数Nが近い複数のグループに分け、複数の搬送レーン(第1レーンL1、第2レーンL2)のいずれかに基板4(多面取り基板)を振り分けている。   The maximum waiting time that can occur when the boards 4 are randomly assigned to the transfer lanes is that the board 4 with all the faults N is “0” if the board 4 with all faults is not put into the component mounting line 1. The difference in work time between the substrate 4 (the number of non-defective products is 12) and the substrate 4 (the number of non-defective products is 1) of 110 is 110 seconds. On the other hand, in the first embodiment of the lane determination process, based on the number of defects N (the number of defective circuit patterns C), the substrates 4 (multi-planar substrates) are divided into a plurality of groups with the number of defects N close to each other. The substrate 4 (multiple substrate) is distributed to any one of the plurality of transfer lanes (first lane L1, second lane L2).

これにより、第1レーンL1で起こり得る最大の待機時間は、タクトタイムが60秒の時に第1のグループG1の基板4の中で不良数Nが最大の「11個」の基板4が第1レーンL1にある場合(#2Aが相当)の50秒である。また第2レーンL2で起こり得る最大の待機時間は、タクトタイムが120秒の時に第2のグループG2の基板4の中で不良数Nが最大の「5個」の基板4が第2レーンL2にある場合(#3Bが相当)の50秒である。すなわち、基板4を無作為に振り分けた場合と比較して待機時間が最大で60秒短縮しており、実装基板の生産性を向上することができる。   As a result, the maximum waiting time that can occur in the first lane L1 is the first “11” substrates 4 having the largest number of defects N among the substrates 4 of the first group G1 when the tact time is 60 seconds. It is 50 seconds when it is in lane L1 (corresponding to # 2A). In addition, the maximum standby time that can occur in the second lane L2 is that when the tact time is 120 seconds, among the substrates 4 of the second group G2, “5” substrates 4 with the largest number of defects N are in the second lane L2. Is 50 seconds (corresponding to # 3B). That is, the waiting time is shortened by 60 seconds at the maximum compared to the case where the substrates 4 are randomly distributed, and the productivity of the mounting substrate can be improved.

上記説明したように、レーン判定処理の第1実施例の振り分け部(レーン判定処理部41bおよび振り分け作業部23)は、多面取り基板(基板4)を不良の回路パターンCの数(不良数N)が近い複数のグループに分けている。そして振り分け部は、不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数R)より多い多面取り基板(基板4)を第1のグループG1とし、複数のグループのうち第1のグループG1を複数の搬送レーンのうちの第1の搬送レーン(第1レーンL1)に搬入している。   As described above, the distribution unit (lane determination processing unit 41b and distribution work unit 23) of the first embodiment of the lane determination process uses the multi-sided substrate (substrate 4) as the number of defective circuit patterns C (number of defects N). ) Is divided into multiple groups. Then, the distribution unit sets the multi-sided substrate (substrate 4) having a number of defective circuit patterns (number of defects N) larger than the first number (number R) as the first group G1, and the first of the plurality of groups is the first group G1. The group G1 is carried into the first transport lane (first lane L1) among the plurality of transport lanes.

そして振り分け部は、不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数R)以下の多面取り基板(基板4)を第2のグループG2とし、複数のグループのうち第2のグループG2を複数の搬送レーンのうちの第2の搬送レーン(第2レーンL2)に搬入している。これによって、複数の搬送レーンを備える部品実装ライン1において、搬送レーン(第1レーンL1,第2レーンL2)での待機時間を削減して、多面取り基板(基板4)に生産性良く部品Pを実装することができる。   Then, the distribution unit sets the second group G2 as a multi-sided substrate (substrate 4) having a number of defective circuit patterns (number N of defects) equal to or less than the first number (number R), and sets the second group G2 as the second group G2. The group G2 is carried into the second transportation lane (second lane L2) among the plurality of transportation lanes. As a result, in the component mounting line 1 having a plurality of transport lanes, the waiting time in the transport lanes (first lane L1, second lane L2) is reduced, and the component P is formed on the multi-sided board (board 4) with high productivity. Can be implemented.

次に図7のフローに則して、図8を参照しながら、レーン判定処理の第2実施例について説明する。第2実施例では、基板4を3つのグループに分ける点が第1実施例と異なる。基板振り分け装置M2に基板4(2)が保持されると、不良パターン数取得部41aは、基板4(2)の不良数Nを取得する(ST21:第2不良パターン数取得工程)。次いでレーン判定処理部41bは、基板4(2)の不良数Nが基板4の個別基板4aの総数より少ない所定の個数S(第1の個数)より多いか否かを判定する(ST22:第2判定工程)。   Next, according to the flow of FIG. 7, a second embodiment of the lane determination process will be described with reference to FIG. The second embodiment is different from the first embodiment in that the substrate 4 is divided into three groups. When the substrate 4 (2) is held by the substrate sorting apparatus M2, the defective pattern number acquisition unit 41a acquires the number of defects N of the substrate 4 (2) (ST21: second defective pattern number acquisition step). Next, the lane determination processing unit 41b determines whether or not the defect number N of the substrate 4 (2) is larger than a predetermined number S (first number) that is smaller than the total number of the individual substrates 4a of the substrate 4 (ST22: No. 1). 2 determination step).

図7において、基板4(2)の不良数Nが個数Sより多い場合(ST22においてYes)、基板4(2)は第1のグループG1として第1レーンL1(第1の搬送レーン)に搬入される(ST23)。すなわち、レーン判定処理部41bは不良の回路パターンCの数(不良数N)が第1の個数(個数S)より多い多面取り基板(基板4)を第1のグループG1とし、基板振り分け装置M2は第1のグループG1を複数の搬送レーンのうち第1の搬送レーン(第1レーンL1)に搬入する。   In FIG. 7, when the number N of defects of the substrate 4 (2) is larger than the number S (Yes in ST22), the substrate 4 (2) is carried into the first lane L1 (first transport lane) as the first group G1. (ST23). That is, the lane determination processing unit 41b sets the multi-planar board (board 4) having the number of defective circuit patterns C (number of defects N) larger than the first number (number S) as the first group G1, and sets the board sorting apparatus M2. Carries the first group G1 into the first transport lane (first lane L1) among the plurality of transport lanes.

図8(a)に、(ST23)おける部品実装ライン1の動作を模式的に示す。(ST23)において、基板振り分け装置M2は基板4(2)を第1レーンL1に搬出する(矢印c1)。(ST23)において第1部品実装装置M3の第1レーンL1の実装作業位置に部品実装作業中の基板4がある場合は、基板振り分け装置M2は、第1部品実装装置M3の第1レーンL1の実装作業位置から基板4が搬出するまで待機した後、基板4(2)を第1レーンL1に搬出する。   FIG. 8A schematically shows the operation of the component mounting line 1 in (ST23). In (ST23), the substrate sorting apparatus M2 carries the substrate 4 (2) to the first lane L1 (arrow c1). In (ST23), when there is a board 4 that is undergoing component mounting work at the mounting work position of the first lane L1 of the first component mounting apparatus M3, the board sorting apparatus M2 is connected to the first lane L1 of the first component mounting apparatus M3. After waiting until the board 4 is unloaded from the mounting work position, the board 4 (2) is unloaded to the first lane L1.

図7において、基板4(2)の不良数Nが個数S以下の場合(ST22においてNo)、レーン判定処理部41bは、基板4(2)の不良数Nが個数Sより少ない所定の個数T(第2の個数)より少ないか否かを判定する(ST24:第3判定工程)。個数S、個数Tは、部品実装装置M3〜M5での待機時間、および基板振り分け装置M2での待機時間の合計が少なくなるように、実験結果、生産実績、作業者の経験などを基に、基板4の不良数Nの分布なども考慮して決められる。   In FIG. 7, when the number of defects N of the substrate 4 (2) is equal to or less than the number S (No in ST22), the lane determination processing unit 41b has a predetermined number T in which the number of defects N of the substrate 4 (2) is smaller than the number S. It is determined whether it is less than (second number) (ST24: third determination step). The number S and the number T are based on experimental results, production results, operator experience, etc. so that the total of the waiting time in the component mounting apparatuses M3 to M5 and the waiting time in the board distribution apparatus M2 is reduced. The distribution is determined in consideration of the distribution of the number N of defects of the substrate 4.

基板4(2)の不良数Nが個数Tより少ない場合(ST24においてYes)、基板4(2)は第2のグループG2として第2レーンL2(第2の搬送レーン)に搬入される(ST25)。すなわち、レーン判定処理部41bは不良の回路パターンCの数(不良数N)が第1の個数(個数S)より少ない第2の個数(個数T)より少ない多面取り基板(基板4)を第2のグループG2とし、基板振り分け装置M2は第2のグループG2を複数の搬送レーンのうち第2の搬送レーン(第2レーンL2)に搬入する。   When the number of defects N of the substrate 4 (2) is smaller than the number T (Yes in ST24), the substrate 4 (2) is carried into the second lane L2 (second transport lane) as the second group G2 (ST25). ). That is, the lane determination processing unit 41b sets the multi-planar substrate (substrate 4) having the number of defective circuit patterns C (number of defects N) smaller than the first number (number S) and smaller than the second number (number T). In the second group G2, the substrate sorting apparatus M2 carries the second group G2 into the second transport lane (second lane L2) among the plurality of transport lanes.

図8(b)に、(ST25)おける部品実装ライン1の動作を模式的に示す。(ST25)において、基板振り分け装置M2は基板4(2)を第2レーンL2に搬出する(矢印c2)。(ST25)において第1部品実装装置M3の第2レーンL2の実装作業位置に部品実装作業中の基板4がある場合は、基板振り分け装置M2は、第1部品実装装置M3の第2レーンL2の実装作業位置から基板4が搬出するまで待機した後、基板4(2)を第2レーンL2に搬出する。   FIG. 8B schematically shows the operation of the component mounting line 1 in (ST25). In (ST25), the substrate sorting apparatus M2 carries the substrate 4 (2) out to the second lane L2 (arrow c2). In (ST25), when there is a board 4 that is in the process of component mounting at the mounting work position of the second lane L2 of the first component mounting apparatus M3, the board sorting apparatus M2 is connected to the second lane L2 of the first component mounting apparatus M3. After waiting until the substrate 4 is unloaded from the mounting work position, the substrate 4 (2) is unloaded to the second lane L2.

図7において、基板4(2)の不良数Nが個数T以上の場合(ST24においてNo)、レーン判定処理部41bは、基板4(2)を第3のグループG3とし、第2レーンL2に搬入可能か否かを判定する(ST26:第4判定工程)。第2レーンL2に搬入可能な場合(ST26においてYes)、基板4(2)は第2レーンL2に搬入される(ST25)。   In FIG. 7, when the defect number N of the substrate 4 (2) is equal to or greater than the number T (No in ST24), the lane determination processing unit 41b sets the substrate 4 (2) as the third group G3, and enters the second lane L2. It is determined whether or not loading is possible (ST26: fourth determination step). When it is possible to carry in the second lane L2 (Yes in ST26), the substrate 4 (2) is carried into the second lane L2 (ST25).

第2レーンL2に搬入できない場合(ST26においてNo)、レーン判定処理部41bは、基板4(2)が第1レーンL1に搬入可能か否かを判定する(ST27:第5判定工程)。第1レーンL1に搬入可能な場合(ST27においてYes)、基板4(2)は第3のグループG3として第1レーンL1に搬入される(ST23)。第1レーンL1に搬入できない場合(ST27においてNo)、第4判定工程(ST26)に戻って、第2レーンL2への搬入可能性が判定される。   When the second lane L2 cannot be loaded (No in ST26), the lane determination processing unit 41b determines whether or not the board 4 (2) can be loaded into the first lane L1 (ST27: fifth determination step). When it is possible to carry in the first lane L1 (Yes in ST27), the substrate 4 (2) is carried into the first lane L1 as the third group G3 (ST23). When it cannot carry in to the 1st lane L1 (in ST27 No), it returns to the 4th determination process (ST26), and the possibility of carrying in to the 2nd lane L2 is determined.

すなわち、レーン判定処理部41bは不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数S)以下で、かつ、第2の個数(個数T)以上の多面取り基板(基板4)を第3のグループG3とし、基板振り分け装置M2は第3のグループG3を第1レーンL1(第1の搬送レーン)及び第2レーンL2(第2の搬送レーン)のうちいずれか搬入可能な搬送レーンに搬入している。これによって、搬送レーン(第1レーンL1、第2レーンL2)での待機時間を短縮しつつ、搬入可能な搬送レーンがある場合に基板振り分け装置M2が基板4(2)を保持したまま待機する時間を削減することができ、実装基板の生産性を向上することができる。   That is, the lane determination processing unit 41b has a number of defective circuit patterns (number of defects N) equal to or less than the first number (number S) and equal to or more than the second number (number T) (substrate 4). Is the third group G3, and the substrate sorting apparatus M2 transports the third group G3 in either the first lane L1 (first transport lane) or the second lane L2 (second transport lane). Carrying into the lane. As a result, the waiting time in the transfer lanes (the first lane L1 and the second lane L2) is shortened, and when there is a transfer lane that can be loaded, the substrate sorting apparatus M2 waits while holding the substrate 4 (2). Time can be reduced and productivity of the mounting board can be improved.

図8(c)に、(ST26),(ST27)おける部品実装ライン1の動作を模式的に示す。(ST26),(ST27)において、第1部品実装装置M3の第1レーンL1及び第2レーンL2の実装作業位置に部品実装作業中の基板4がある場合は、基板振り分け装置M2は基板4(2)を振り分けずに待機する。図8(d)に示すように、(ST26),(ST27)において、第1部品実装装置M3の第1レーンL1及び第2レーンL2の実装作業位置のいずれかに基板4(2)が搬入可能な場合は、基板振り分け装置M2は、搬入可能な搬送レーン(ここでは第2レーンL2)に基板4(2)を搬出する(矢印c3)。   FIG. 8C schematically shows the operation of the component mounting line 1 in (ST26) and (ST27). In (ST26) and (ST27), when there is a substrate 4 in the component mounting operation at the mounting positions of the first lane L1 and the second lane L2 of the first component mounting device M3, the substrate distribution device M2 is connected to the substrate 4 ( 2) Wait without sorting. As shown in FIG. 8 (d), in (ST26) and (ST27), the board 4 (2) is carried into one of the mounting work positions of the first lane L1 and the second lane L2 of the first component mounting apparatus M3. If possible, the substrate sorting apparatus M2 carries the substrate 4 (2) out to a transferable lane (here, the second lane L2) (arrow c3).

(ST26),(ST27)において、いずれの搬送レーンにも基板4(2)が搬入可能な場合は、タクトタイムの長い搬送レーンである第2レーンL2に優先的に搬出する。これによって、第1のグループG1より作業時間の長い第3のグループG3がタクトタイムの短い第1レーンL1に搬入されて、第1レーンL1のタクトタイムが増加することを防止することができる。   In (ST26) and (ST27), when the substrate 4 (2) can be carried into any of the conveyance lanes, the substrate 4 (2) is preferentially carried out to the second lane L2, which is a conveyance lane having a long tact time. As a result, it is possible to prevent the third group G3 having a longer work time than the first group G1 from being loaded into the first lane L1 having a shorter tact time and increasing the tact time of the first lane L1.

上記説明したように、レーン判定処理の第2実施例の振り分け部(レーン判定処理部41bおよび振り分け作業部23)は、不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数S)より多い多面取り基板(基板4)を第1のグループG1とし、不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数S)より少ない第2の個数(個数T)より少ない多面取り基板(基板4)を第2のグループG2としている。   As described above, the distribution unit (lane determination processing unit 41b and distribution work unit 23) of the second embodiment of the lane determination process has the number of defective circuit patterns (number of defects N) as the first number (number S). ) The more multi-planar substrate (substrate 4) is the first group G1, and the number of defective circuit patterns (number N of defects) is less than the second number (number T) less than the first number (number S). The multi-sided substrate (substrate 4) is a second group G2.

そして振り分け部は、不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数S)以下でかつ第2の個数(個数T)以上の多面取り基板(基板4)を複数のグループのうちの第3のグループG3とし、第3のグループG3を第1の搬送レーン(第1レーンL1)及び第2の搬送レーン(第2レーンL2)のいずれか搬入可能な搬送レーンに搬入している。これによって、複数の搬送レーンを備える部品実装ライン1において、振り分け部(基板振り分け装置M2)または搬送レーン(第1レーンL1,第2レーンL2)での待機時間を削減して、多面取り基板(基板4)に生産性良く部品Pを実装することができる。   Then, the distribution unit transfers the multi-sided substrate (substrate 4) having a number of defective circuit patterns (number of defects N) equal to or smaller than the first number (number S) and equal to or larger than the second number (number T) to a plurality of groups. The third group G3 is included, and the third group G3 is loaded into one of the first transfer lane (first lane L1) and the second transfer lane (second lane L2). Yes. Thereby, in the component mounting line 1 having a plurality of transfer lanes, the waiting time in the distribution unit (substrate distribution device M2) or the transfer lanes (first lane L1, second lane L2) is reduced, and the multi-sided substrate ( The component P can be mounted on the substrate 4) with high productivity.

次に図9のフローに則して、図10を参照しながら、レーン判定処理の第3実施例について説明する。所定の搬送レーンに基板4が搬入できない場合に、第1実施例では所定の搬送レーンが空くまで待機するが、第3実施例では搬入可能な搬送レーンがあればその搬送レーンに搬入する点が異なる。基板振り分け装置M2に基板4(3)が保持されると、不良パターン数取得部41aは、基板4(3)の不良数Nを取得する(ST31:第3不良パターン数取得工程)。   Next, according to the flow of FIG. 9, a third embodiment of the lane determination process will be described with reference to FIG. When the substrate 4 cannot be loaded into the predetermined transfer lane, the first embodiment waits until the predetermined transfer lane becomes empty. In the third embodiment, if there is a transfer lane that can be loaded, the transfer lane is loaded. Different. When the substrate 4 (3) is held in the substrate sorting apparatus M2, the defective pattern number acquisition unit 41a acquires the number of defects N of the substrate 4 (3) (ST31: third defective pattern number acquisition step).

次いでレーン判定処理部41bは、基板4(3)の不良数Nが基板4(多面取り基板)の個別基板4aの総数より少ない所定の個数U(第1の個数)より多いか否かを判定する(ST32:第6判定工程)。個数Uは、部品実装装置M3〜M5での待機時間、および基板振り分け装置M2での待機時間の合計が少なくなるように、実験結果、生産実績、作業者の経験などを基に、基板4の不良数Nの分布なども考慮して決められる。   Next, the lane determination processing unit 41b determines whether or not the number of defects N of the substrate 4 (3) is greater than a predetermined number U (first number) that is smaller than the total number of individual substrates 4a of the substrate 4 (multiple substrate). (ST32: sixth determination step). The number U is determined based on the experimental results, production results, operator experience, and the like so that the total waiting time in the component mounting apparatuses M3 to M5 and the waiting time in the board distribution apparatus M2 is reduced. The distribution is determined in consideration of the distribution of the number N of defects.

図9において、基板4(3)の不良数Nが個数Uより多い場合(ST32においてYes)、レーン判定処理部41bは、基板4(3)を第1のグループG1とし、第1レーンL1に搬入可能か否かを判定する(ST33:第7判定工程)。第1レーンL1に搬入可能な場合(ST33においてYes)、基板4(3)は第1レーンL1に搬入される(ST34)(図10(a)の矢印d1)。第1レーンL1に搬入できない場合(ST33においてNo)、レーン判定処理部41bは、基板4(3)を第2レーンL2に搬入可能か否かを判定する(ST35:第8判定工程)。第2レーンL2に搬入可能な場合(ST35においてYes)、基板4(3)は第2レーンL2に搬入される(ST36)(図10(b)の矢印d2)。   In FIG. 9, when the number N of defects of the board 4 (3) is larger than the number U (Yes in ST32), the lane determination processing unit 41b sets the board 4 (3) as the first group G1 and the first lane L1. It is determined whether or not loading is possible (ST33: seventh determination step). When it is possible to carry in the first lane L1 (Yes in ST33), the substrate 4 (3) is carried into the first lane L1 (ST34) (arrow d1 in FIG. 10A). When it is not possible to carry in the first lane L1 (No in ST33), the lane determination processing unit 41b determines whether or not the substrate 4 (3) can be loaded into the second lane L2 (ST35: eighth determination step). When it is possible to carry in the second lane L2 (Yes in ST35), the substrate 4 (3) is carried into the second lane L2 (ST36) (arrow d2 in FIG. 10B).

図9において、基板4(3)の不良数Nが個数U以下の場合(ST32においてNo)、レーン判定処理部41bは、基板4(3)を第2のグループG2とし、第8判定工程(ST35)に進んで基板4(3)を第2レーンL2に搬入可能か否かを判定する。第2レーンL2に搬入可能な場合(ST35においてYes)、基板4(3)は第2レーンL2に搬入される(ST36)(図10(c)の矢印d3)。第2レーンL2に搬入できない場合(ST35においてNo)、レーン判定処理部41bは、第7判定工程(ST33)に進んで基板4(3)を第1レーンL1に搬入可能か否かを判定する。第1レーンL1に搬入可能な場合(ST33においてYes)、基板4(3)は第1レーンL1に搬入される(ST34)(図10(d)の矢印d4)。   In FIG. 9, when the number N of defects of the substrate 4 (3) is equal to or less than the number U (No in ST32), the lane determination processing unit 41b sets the substrate 4 (3) as the second group G2 and sets the eighth determination step ( Proceeding to ST35), it is determined whether or not the substrate 4 (3) can be carried into the second lane L2. When the second lane L2 can be loaded (Yes in ST35), the substrate 4 (3) is loaded into the second lane L2 (ST36) (arrow d3 in FIG. 10C). When the second lane L2 cannot be loaded (No in ST35), the lane determination processing unit 41b proceeds to the seventh determination step (ST33) and determines whether the substrate 4 (3) can be loaded into the first lane L1. . When it is possible to carry in the first lane L1 (Yes in ST33), the substrate 4 (3) is carried into the first lane L1 (ST34) (arrow d4 in FIG. 10D).

上記説明したように、レーン判定処理の第3実施例の振り分け部(レーン判定処理部41bおよび振り分け作業部23)は、多面取り基板(基板4)を不良の回路パターンCの数(不良数N)が近い複数のグループに分けている。そして振り分け部は、不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数U)より多い多面取り基板(基板4)を第1のグループG1としている。そして振り分け部は、複数のグループのうち第1のグループG1を複数の搬送レーンのうちの第1の搬送レーン(第1レーンL1)に搬入可能か判断し、搬入可能な場合は第1レーンL1に搬入し、搬入が不可の場合は複数の搬送レーンのうちの第2の搬送レーン(第2レーンL2)に搬入可能か判断し、第2レーンL2に搬入可能な場合は第2レーンL2に搬入している。   As described above, the distribution unit (lane determination processing unit 41b and distribution work unit 23) of the third embodiment of the lane determination process uses the number of defective circuit patterns C (number of defects N) as the multi-sided substrate (substrate 4). ) Is divided into multiple groups. In the distribution unit, a multi-sided substrate (substrate 4) in which the number of defective circuit patterns (number N of defects) is larger than the first number (number U) is set as the first group G1. Then, the sorting unit determines whether the first group G1 among the plurality of groups can be carried into the first conveyance lane (first lane L1) among the plurality of conveyance lanes. If it is impossible to carry in, it is determined whether it can be carried into the second conveyance lane (second lane L2) among the plurality of conveyance lanes. If it can be carried into the second lane L2, the second lane L2 is entered. Carrying in.

また振り分け部は、不良の回路パターンの数(不良数N)が第1の個数(個数U)以下の多面取り基板(基板4)を第2のグループG2としている。そして振り分け部は、複数のグループのうち第2のグループG2を複数の搬送レーンのうちの第2の搬送レーン(第2レーンL2)に搬入可能か判断し、搬入可能な場合は第2レーンL2に搬入し、搬入が不可の場合は複数の搬送レーンのうちの第1の搬送レーン(第1レーンL1)に搬入可能か判断し、第1レーンL1に搬入可能な場合は第1レーンL1に搬入している。   Further, the distribution unit sets the second group G2 as multi-sided substrates (substrates 4) in which the number of defective circuit patterns (number of defects N) is equal to or less than the first number (number U). Then, the sorting unit determines whether the second group G2 of the plurality of groups can be carried into the second conveyance lane (second lane L2) of the plurality of conveyance lanes. If it is impossible to carry in, it is determined whether it can be carried into the first conveyance lane (first lane L1) of the plurality of conveyance lanes. If it can be carried into the first lane L1, the first lane L1 is entered. Carrying in.

これによって、複数の搬送レーンを備える部品実装ライン1において、基板振り分け装置M2または搬送レーン(第1レーンL1,第2レーンL2)での待機時間を削減して、多面取り基板(基板4)に生産性良く部品Pを実装することができる。例えば、部品実装ライン1に搬入される基板4が連続して第1のグループG1であっても、第2レーンL2にも第1のグループG1を振り分けて振り分け部での待機時間を削減することで生産性が向上できる。   As a result, in the component mounting line 1 including a plurality of transfer lanes, the waiting time in the board distribution device M2 or the transfer lanes (first lane L1, second lane L2) is reduced, so that a multi-sided board (board 4) is obtained. The component P can be mounted with high productivity. For example, even when the boards 4 carried into the component mounting line 1 are continuously in the first group G1, the first group G1 is also distributed to the second lane L2 to reduce the waiting time in the distribution unit. Can improve productivity.

なお、上記説明した本実施の形態の部品実装ライン1は、部品実装装置M3〜M5を3台連結して構成されているが、部品実装ライン1はこの構成に限定されるものではない。例えば、部品実装装置M3〜M5は2台連結して構成されても、4台以上連結して構成されてもよい。また、1台の部品実装装置M3〜M5の各搬送レーン(第1レーンL1、第2レーンL2)に、それぞれ2箇所以上の実装作業位置を有する部品実装装置M3〜M5を用い、この部品実装装置M3〜M5を1台で部品実装ライン1を構成してもよい。また、基板4に付されたバッドマークBの検出を、半田印刷装置M1以外の図示省略する基板4に印刷された半田ペーストの状態を検査する半田印刷検査装置などで行ってもよい。   In addition, although the component mounting line 1 of this Embodiment demonstrated above is comprised by connecting three component mounting apparatuses M3-M5, the component mounting line 1 is not limited to this structure. For example, the component mounting apparatuses M3 to M5 may be configured by connecting two units or by connecting four or more units. In addition, component mounting apparatuses M3 to M5 each having two or more mounting work positions are used for each transport lane (first lane L1 and second lane L2) of one component mounting apparatus M3 to M5. The component mounting line 1 may be configured with one device M3 to M5. Further, the bad mark B attached to the substrate 4 may be detected by a solder printing inspection device for inspecting the state of the solder paste printed on the substrate 4 (not shown) other than the solder printing device M1.

本発明の部品実装方法および部品実装ラインは、複数の搬送レーンを備える部品実装ラインにおいて、多面取り基板に生産性良く部品を実装することができるという効果を有し、部品を基板に実装する部品実装分野において有用である。   The component mounting method and the component mounting line according to the present invention have an effect that a component can be mounted on a multi-sided board with high productivity in a component mounting line including a plurality of conveyance lanes. Useful in the packaging field.

1 部品実装ライン
4 基板(多面取り基板)
L1 第1レーン(第1の搬送レーン)
L2 第2レーン(第2の搬送レーン)
M3〜M5 部品実装装置
P 部品
1 Component mounting line 4 Substrate (multi-sided substrate)
L1 first lane (first transport lane)
L2 Second lane (second transport lane)
M3 to M5 component mounting equipment P component

Claims (10)

基板に部品を実装する実装作業位置をそれぞれ複数有する複数の搬送レーンを備えた部品実装ラインにおいて、複数の回路パターンが形成された多面取り基板への部品の実装を行う部品実装方法であって、
前記多面取り基板における不良の前記回路パターンの数を取得し、
前記不良の回路パターンの数に基づいて前記複数の搬送レーンのいずれかに前記多面取り基板を振り分ける、部品実装方法。
In a component mounting line having a plurality of transfer lanes each having a plurality of mounting work positions for mounting components on a board, a component mounting method for mounting components on a multi-sided board on which a plurality of circuit patterns are formed,
Obtaining the number of defective circuit patterns in the multi-sided substrate;
A component mounting method that distributes the multi-sided board to any of the plurality of transfer lanes based on the number of defective circuit patterns.
前記多面取り基板を前記不良の回路パターンの数が近い複数のグループに分け、
前記複数のグループのうち第1のグループを前記複数の搬送レーンのうちの第1の搬送レーンに搬入し、
前記複数のグループのうち第2のグループを前記複数の搬送レーンのうちの第2の搬送レーンに搬入する、請求項1に記載の部品実装方法。
Dividing the multi-sided substrate into a plurality of groups in which the number of defective circuit patterns is close,
Carrying the first group out of the plurality of groups into the first transportation lane of the plurality of transportation lanes;
The component mounting method according to claim 1, wherein a second group of the plurality of groups is carried into a second transportation lane of the plurality of transportation lanes.
前記不良の回路パターンの数が第1の個数より多い前記多面取り基板を前記第1のグループとし、
前記不良の回路パターンの数が前記第1の個数以下の前記多面取り基板を前記第2のグループとする、請求項2に記載の部品実装方法。
The multi-sided substrate having the number of defective circuit patterns larger than the first number is the first group,
3. The component mounting method according to claim 2, wherein the multiple chamfered boards having the number of defective circuit patterns equal to or less than the first number are set as the second group.
前記不良の回路パターンの数が第1の個数より多い前記多面取り基板を前記第1のグループとし、
前記不良の回路パターンの数が前記第1の個数より少ない第2の個数より少ない前記多面取り基板を前記第2のグループとし、
前記不良の回路パターンの数が前記第1の個数以下でかつ前記第2の個数以上の前記多面取り基板を前記複数のグループのうちの第3のグループとし、
前記第3のグループを前記第1の搬送レーン及び前記第2の搬送レーンのうちいずれか搬入可能な搬送レーンに搬入する、請求項2に記載の部品実装方法。
The multi-sided substrate having the number of defective circuit patterns larger than the first number is the first group,
The multi-sided substrate in which the number of defective circuit patterns is less than a second number less than the first number is defined as the second group,
The number of the defective circuit patterns is not more than the first number and not less than the second number and the multi-sided substrate is a third group of the plurality of groups,
The component mounting method according to claim 2, wherein the third group is loaded into a transfer lane that can be loaded into either the first transfer lane or the second transfer lane.
前記部品実装ラインは、前記実装作業位置をそれぞれ有する複数の搬送レーンを備えた部品実装装置を複数連結して構成される、請求項1から4のいずれかに記載の部品実装方法。   5. The component mounting method according to claim 1, wherein the component mounting line is configured by connecting a plurality of component mounting apparatuses each having a plurality of transport lanes each having the mounting work position. 複数の回路パターンが形成された多面取り基板への部品の実装を行う部品実装ラインであって、
基板に部品を実装する実装作業位置をそれぞれ複数有する複数の搬送レーンと、
前記多面取り基板における不良の前記回路パターンの数を取得する不良パターン数取得部と、
前記不良の回路パターンの数に基づいて前記複数の搬送レーンのいずれかに前記多面取り基板を振り分ける振り分け部とを備える、部品実装ライン。
A component mounting line for mounting components on a multi-sided board on which a plurality of circuit patterns are formed,
A plurality of transfer lanes each having a plurality of mounting work positions for mounting components on the board;
A defective pattern number acquisition unit for acquiring the number of defective circuit patterns in the multi-sided substrate;
A component mounting line comprising: a distribution unit that distributes the multi-sided substrate to any of the plurality of transfer lanes based on the number of defective circuit patterns.
前記振り分け部は、
前記多面取り基板を前記不良の回路パターンの数が近い複数のグループに分け、
前記複数のグループのうち第1のグループを前記複数の搬送レーンのうちの第1の搬送レーンに搬入し、
前記複数のグループのうち第2のグループを前記複数の搬送レーンのうちの第2の搬送レーンに搬入する、請求項6に記載の部品実装ライン。
The sorting unit is
Dividing the multi-sided substrate into a plurality of groups in which the number of defective circuit patterns is close,
Carrying the first group out of the plurality of groups into the first transportation lane of the plurality of transportation lanes;
The component mounting line according to claim 6, wherein a second group of the plurality of groups is carried into a second transportation lane among the plurality of transportation lanes.
前記振り分け部は、
前記不良の回路パターンの数が第1の個数より多い前記多面取り基板を前記第1のグループとし、
前記不良の回路パターンの数が前記第1の個数以下の前記多面取り基板を前記第2のグループとする、請求項7に記載の部品実装ライン。
The sorting unit is
The multi-sided substrate having the number of defective circuit patterns larger than the first number is the first group,
The component mounting line according to claim 7, wherein the multi-sided substrate having the number of defective circuit patterns equal to or less than the first number is the second group.
前記振り分け部は、
前記不良の回路パターンの数が第1の個数より多い前記多面取り基板を前記第1のグループとし、
前記不良の回路パターンの数が前記第1の個数より少ない第2の個数より少ない前記多面取り基板を前記第2のグループとし、
前記不良の回路パターンの数が前記第1の個数以下でかつ前記第2の個数以上の前記多面取り基板を前記複数のグループのうちの第3のグループとし、
前記第3のグループを前記第1の搬送レーン及び前記第2の搬送レーンのうちいずれか搬入可能な搬送レーンに搬入する、請求項7に記載の部品実装ライン。
The sorting unit is
The multi-sided substrate having the number of defective circuit patterns larger than the first number is the first group,
The multi-sided substrate in which the number of defective circuit patterns is less than a second number less than the first number is defined as the second group,
The number of the defective circuit patterns is not more than the first number and not less than the second number and the multi-sided substrate is a third group of the plurality of groups,
The component mounting line according to claim 7, wherein the third group is loaded into a transfer lane that can be loaded into any one of the first transfer lane and the second transfer lane.
前記実装作業位置をそれぞれ有する複数の搬送レーンを備えた部品実装装置を複数連結して構成される、請求項6から9のいずれかに記載の部品実装ライン。   The component mounting line according to claim 6, wherein the component mounting line is configured by connecting a plurality of component mounting apparatuses each having a plurality of transport lanes each having the mounting work position.
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