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JP2016021049A - 光照射装置および描画装置 - Google Patents

光照射装置および描画装置 Download PDF

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Abstract

【課題】照射面上における複数の光束の集光位置のずれを抑制することができる光照射装置を提供する。
【解決手段】光源部4からのレーザ光は、照射光学系5の光軸J1に沿って照射面320へと導かれる。照射光学系5の分割レンズ部62は、入射する光を分割する複数の要素レンズを有し、光路長差生成部61は、互いに異なる光路長を有する複数の透光部を有する。複数の要素レンズを通過した複数の光束は、複数の透光部にそれぞれ入射する。集光部63は、照射面上にて複数の光束の照射領域50を重ねる。要素レンズの配列方向に沿って見た場合に、集光部に対して複数の光束が平行光として入射する。集光部は、当該配列方向に垂直なY方向に平行光を発散させる発散レンズ631と、発散レンズからの光を照射面上にて集光させる収束レンズ633とを備える。
【選択図】図3

Description

本発明は、光照射装置および描画装置に関する。
従来より、半導体レーザ等の光源から出射されるレーザ光を、所定の面上に均一に照射する技術が提案されている。例えば、光源部から入射するレーザ光を、シリンドリカルレンズアレイにおける複数のシリンドリカルレンズにて複数の光束に分割し、複数の光束の照射領域を他のレンズにより照射面上にて重ねる光照射装置において、光源部とシリンドリカルレンズアレイとの間に光路長差生成部が設けられる。光路長差生成部には、当該レーザ光のコヒーレンス長(可干渉距離)よりも長い光路長差を互いに生じさせる複数の透光部が設けられ、複数の透光部を通過した光が複数のシリンドリカルレンズにそれぞれ入射する。これにより、干渉縞の発生を防止して、照射面上に照射される照明光の強度分布の均一化が図られる(このような装置として、例えば、特許文献1参照)。
特開2004−12757号公報
ところで、上記光照射装置において、照射面上における光束断面をライン状とする際には、シリンドリカルレンズの配列方向に沿って見た場合に、照射面上にて複数の光束を同じ位置にて集光させる集光部が設けられる。しかしながら、当該配列方向に沿って見た場合において、透光部の入射面と出射面との平行度が透光部毎にばらつく、または、シリンドリカルレンズの入射面と出射面との平行度がシリンドリカルレンズ毎にばらつくときには、照射面上における複数の光束の集光位置が、当該配列方向に垂直な方向にずれてしまう。このように、複数の光束の集光位置にずれが生じると、照明光の質が低下し、例えば当該光照射装置を利用した描画装置では、パターン描画の精度が低下する。
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、照射面上における複数の光束の集光位置のずれを抑制することを目的としている。
請求項1に記載の発明は、光照射装置であって、所定位置に向けてレーザ光を出射する光源部と、前記所定位置に配置され、前記光源部からのレーザ光を光軸に沿って照射面へと導く照射光学系とを備え、前記照射光学系が、前記光軸に垂直な第1の方向に配列された複数の要素レンズを有し、入射する光を前記複数の要素レンズにより複数の光束に分割する分割レンズ部と、前記分割レンズ部よりも前記照射面側に配置され、前記照射面上にて前記複数の光束の照射領域を重ねる集光部とを備え、前記複数の要素レンズが、前記光軸および前記第1の方向に垂直な第2の方向にパワーを有しない複数のシリンドリカルレンズであり、または/および、前記第1の方向に配列されるとともに互いに異なる光路長を有する複数の透光部が前記照射光学系に設けられ、前記複数の要素レンズを通過した光、もしくは、前記複数の要素レンズに向かう光が前記複数の透光部にそれぞれ入射し、前記第1の方向に沿って見た場合に、前記集光部に対して前記複数の光束が平行光として入射し、前記集光部により前記照射面上にて前記複数の光束が集光し、前記集光部が、前記第2の方向に前記平行光を発散させる発散部と、前記発散部からの光が入射するとともに、前記第1の方向に沿って見た場合に前記照射面上にて前記光を集光させる収束レンズとを備える。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の光照射装置であって、前記光源部から前記照射光学系にコリメートされたレーザ光が入射し、前記照射光学系が、前記第1の方向に沿って見た場合に、前記コリメートされたレーザ光の前記第2の方向における幅よりも、前記集光部に入射する前記平行光の前記第2の方向における幅を小さくする幅調整部をさらに備える。
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の光照射装置であって、前記分割レンズ部における前記複数の要素レンズのそれぞれが、球面のレンズ面を有し、前記レンズ面が、前記幅調整部の一部を兼ねる。
請求項4に記載の発明は、請求項1ないし3のいずれかに記載の光照射装置であって、前記発散部が、前記第2の方向のみに負のパワーを有するシリンドリカルレンズである。
請求項5に記載の発明は、光照射装置であって、所定位置に向けてレーザ光を出射する光源部と、前記所定位置に配置され、前記光源部からのレーザ光を光軸に沿って照射面へと導く照射光学系とを備え、前記照射光学系が、前記光軸に垂直な第1の方向に配列された複数の要素レンズを有し、入射する光を前記複数の要素レンズにより複数の光束に分割する分割レンズ部と、前記分割レンズ部よりも前記照射面側に配置され、前記照射面上にて前記複数の光束の照射領域を重ねる集光部とを備え、前記複数の要素レンズが、前記光軸および前記第1の方向に垂直な第2の方向にパワーを有しない複数のシリンドリカルレンズであり、または/および、前記第1の方向に配列されるとともに互いに異なる光路長を有する複数の透光部が前記照射光学系に設けられ、前記複数の要素レンズを通過した光、もしくは、前記複数の要素レンズに向かう光が前記複数の透光部にそれぞれ入射し、前記第1の方向に沿って見た場合に、前記集光部に対して前記複数の光束が平行光として入射し、前記集光部により前記照射面上にて前記複数の光束が集光し、前記光源部から前記照射光学系にコリメートされたレーザ光が入射し、前記照射光学系が、前記第1の方向に沿って見た場合に、前記コリメートされたレーザ光の前記第2の方向における幅よりも、前記集光部に入射する前記平行光の前記第2の方向における幅を小さくする幅調整部をさらに備える。
請求項6に記載の発明は、描画装置であって、請求項1ないし5のいずれかに記載の光照射装置と、前記光照射装置における前記照射面に配置される空間光変調器と、前記空間光変調器により空間変調された光を対象物上に導く投影光学系と、前記空間変調された光の前記対象物上における照射位置を移動する移動機構と、前記移動機構による前記照射位置の移動に同期して前記空間光変調器を制御する制御部とを備える。
本発明によれば、集光部の第2の方向に関する焦点距離を短くする設計を容易に実現することができ、その結果、照射面上における複数の光束の集光位置のずれを抑制することができる。
描画装置の構成を示す図である。 光照射装置の構成を示す図である。 光照射装置の構成を示す図である。 分割レンズ部および光路長差生成部の一部を拡大して示す図である。 照射面上における光の強度分布を示す図である。 比較例の光照射装置の構成を示す図である。 比較例の光照射装置の構成を示す図である。 分割レンズ部および光路長差生成部を示す図である。 照射面上における集光位置を示す図である。 照射面上における光の強度分布を示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。 要素レンズを示す図である。 要素レンズを示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。 光照射装置の他の例を示す図である。
図1は、本発明の一の実施の形態に係る描画装置1の構成を示す図である。描画装置1は、感光材料が表面に付与された半導体基板やガラス基板等の基板9の表面に光ビームを照射してパターンを描画する直接描画装置である。描画装置1は、ステージ21と、移動機構22と、光照射装置31と、空間光変調器32と、投影光学系33と、制御部11とを備える。ステージ21は基板9を保持し、移動機構22は、ステージ21を基板9の主面に沿って移動する。移動機構22は、基板9を、主面に垂直な軸を中心として回動してもよい。
光照射装置31は、ミラー39を介して空間光変調器32にライン状の光を照射する。光照射装置31の詳細については後述する。空間光変調器32は、例えば回折格子型かつ反射型であり、格子の深さを変更することができる回折格子である。空間光変調器32は、半導体装置製造技術を利用して製造される。本実施の形態に用いられる回折格子型の光変調器は、例えば、GLV(グレーティング・ライト・バルブ)(シリコン・ライト・マシーンズ(サニーベール、カリフォルニア)の登録商標)である。空間光変調器32は一列に配列された複数の格子要素を有し、各格子要素は1次回折光が出射される状態と、0次回折光(0次光)が出射される状態との間で遷移する。このようにして、空間光変調器32から空間変調された光が出射される。
投影光学系33は、遮光板331と、レンズ332と、レンズ333と、絞り板334と、フォーカシングレンズ335とを備える。遮光板331は、ゴースト光および高次回折光の一部を遮蔽し、空間光変調器32からの光を通過させる。レンズ332,333はズーム部を構成する。絞り板334は、(±1)次回折光(および高次回折光)を遮蔽し、0次回折光を通過させる。絞り板334を通過した光は、フォーカシングレンズ335により基板9の主面上に導かれる。このようにして、空間光変調器32により空間変調された光が、投影光学系33により基板9上に導かれる。
制御部11は、光照射装置31、空間光変調器32および移動機構22に接続され、これらの構成を制御する。描画装置1では、移動機構22がステージ21を移動することにより、空間光変調器32からの光の基板9上における照射位置が移動する。また、制御部11が、移動機構22による当該照射位置の移動に同期して、空間光変調器32を制御する。これにより、基板9上の感光材料に所望のパターンが描画される。
図2および図3は、光照射装置31の構成を示す図である。図2および図3では、後述の照射光学系5の光軸J1に平行な方向をZ方向として示し、Z方向に垂直、かつ、互いに直交する方向をX方向およびY方向として示している(以下同様)。図2は、Y方向に沿って見た光照射装置31の構成を示し、図3は、X方向に沿って見た光照射装置31の構成を示す。
図2および図3に示す光照射装置31は、光源ユニット40と、照射光学系5とを備える。光源ユニット40は、複数の光源部4を有し、各光源部4は、1つの光源41(例えば半導体レーザ)と、1つのコリメータレンズ42とを有する。複数の光源部4の光源41は、ZX平面に平行な面(以下、「光源配列面」という。)上において、およそX方向に配列される。各光源41から出射されるレーザ光は、コリメータレンズ42によりコリメートされて照射光学系5に入射する。光源ユニット40では、光源配列面上に配列された複数の光源部4により、光源配列面に沿う互いに異なる方向から照射光学系5上の同じ位置(後述の分割レンズ部62)に向けてレーザ光が出射される。
照射光学系5は、複数の光源部4によるレーザ光の照射位置に配置される。照射光学系5は、当該レーザ光を光軸J1に沿って照射面(図2および図3中にて符号320を付す破線にて示す。)である空間光変調器32の表面、すなわち、複数の格子要素の表面へと導く。既述のように、光照射装置31からの光は、ミラー39を介して空間光変調器32に照射されるため、実際には、光照射装置31はミラー39を構成要素として含むが、図2および図3では、図示の便宜上、ミラー39を省略している(以下同様)。
照射光学系5は、光路長差生成部61と、分割レンズ部62と、集光部63とを備える。照射光学系5では、光源ユニット40から照射面320に向かって、分割レンズ部62、光路長差生成部61、集光部63の順に、これらの構成が光軸J1に沿って配置される。複数の光源部4からのコリメートされたレーザ光は、分割レンズ部62に入射する。
図4は、分割レンズ部62および光路長差生成部61の一部を拡大して示す図である。分割レンズ部62は、照射光学系5の光軸J1に垂直、かつ、光源配列面に沿う方向(ここでは、X方向)に一定のピッチにて密に配列された複数のレンズ620(以下、「要素レンズ620」という。)を備える。各要素レンズ620は、Y方向に長いブロック状であり、(−Z)側(光源ユニット40側)に位置する側面である第1レンズ面621と、(+Z)側(光路長差生成部61側)に位置する側面である第2レンズ面622とを有する。Y方向に沿って見た場合に、第1レンズ面621は、(−Z)側に突出する凸状であり、第2レンズ面622は、(+Z)側に突出する凸状である。X方向に沿って見た場合に、各要素レンズ620の形状は矩形である(図3参照)。このように、要素レンズ620はX方向のみにパワーを有するシリンドリカルレンズであり、分割レンズ部62は、いわゆるシリンドリカルレンズアレイ(または、シリンドリカルフライアイレンズ)である。
第1レンズ面621および第2レンズ面622は、光軸J1に垂直な面(XY平面に平行な面)に対して対称形状である。第1レンズ面621は、第2レンズ面622の焦点に配置され、第2レンズ面622は、第1レンズ面621の焦点に配置される。すなわち、第1レンズ面621および第2レンズ面622の焦点距離は同じである。要素レンズ620に入射する平行光は第2レンズ面622上にて集光する。X方向に積層された複数の要素レンズ620は、一繋がりの部材として形成されてもよく、個別に形成された複数の要素レンズ620が互いに接合されてもよい。
Y方向に沿って見た場合に、分割レンズ部62へと入射する光は複数の要素レンズ620にてX方向に関して分割される。このとき、各要素レンズ620の第1レンズ面621には各光源部4からの平行光が入射し、第2レンズ面622の近傍に複数の光源41の像が形成される。複数の要素レンズ620にて分割された光(複数の光束)は、主光線が光軸J1(Z方向)に平行となるように第2レンズ面622から出射される。各要素レンズ620から出射された光束は拡がりつつ、光路長差生成部61に入射する。
光路長差生成部61は、光軸J1に垂直、かつ、光源配列面に沿う方向(ここでは、X方向)に一定のピッチにて密に配列された複数の透光部610を備える。図2の例では、光路長差生成部61における透光部610の個数は、分割レンズ部62における要素レンズ620の個数よりも1つだけ少ない。また、透光部610の配列ピッチは、要素レンズ620の配列ピッチと等しい。各透光部610は、(理想的には)X方向、Y方向およびZ方向に垂直な面を有するブロック状である。X方向に一列に並ぶ複数の透光部610では、X方向およびY方向の長さは同じであり、Z方向、すなわち、光軸J1に沿う方向の長さは互いに相違する。このように、複数の透光部610は互いに異なる光路長を有する。図2の光路長差生成部61では、複数の透光部610のうち(+X)側に位置する透光部610ほどZ方向の長さが小さい。複数の透光部610の光軸J1方向の長さは、必ずしもX方向に沿って順次長くなる(または、短くなる)必要はなく、任意の凹凸形状であってよい。本実施の形態では、光路長差生成部61における複数の透光部610は同じ材料にて、一繋がりの部材として形成される。光路長差生成部61では、個別に形成された複数の透光部610が互いに接合されてもよい。
分割レンズ部62と光路長差生成部61とはZ方向に互いに近接して配置され、X方向に関して、最も(+X)側の要素レンズ620を除く複数の要素レンズ620と複数の透光部610とがそれぞれ同じ位置に配置される。したがって、これらの要素レンズ620を通過した複数の光束が、複数の透光部610にそれぞれ入射する。詳細には、これらの要素レンズ620のそれぞれの第2レンズ面622(図4参照)から出射される光束が、X方向に同じ位置に配置される透光部610の(−Z)側の面である入射面611に入射する。当該光束は、当該透光部610を透過して(+Z)側の面である出射面612から出射される。なお、最も(+X)側の要素レンズ620を通過した光束は、いずれの透光部610も通過しない。
実際には、X方向に関して、各透光部610の出射面612から出射される光束の幅が当該透光部610の幅、すなわち、透光部610の配列ピッチよりも小さくなる。よって、当該光束が当該透光部610のエッジ(すなわち、X方向の端であり、主として入射面611および出射面612におけるエッジである。)に掛かかることが防止または抑制される。なお、光路長差生成部61では、分割レンズ部62における要素レンズ620の個数と同じ個数の透光部610が設けられてもよい。この場合、複数(全て)の要素レンズ620を通過した光が、複数の透光部610にそれぞれ入射する。
図2および図3に示すように、各透光部610を通過した光束は、集光部63へと向かう。集光部63は、3つのシリンドリカルレンズ631,632,633を有する。シリンドリカルレンズ632は、要素レンズ620の配列方向であるX方向に正のパワーを有し、光軸J1および当該配列方向に垂直なY方向にはパワーを有しない。シリンドリカルレンズ632は、その焦点距離fだけ複数の要素レンズ620の第2レンズ面622から(+Z)側に離れた位置に配置される。換言すると、各要素レンズ620の第2レンズ面622は、シリンドリカルレンズ632の前側焦点位置に配置される。また、光軸J1上に配置される照射面320は、シリンドリカルレンズ632の焦点距離fだけ、シリンドリカルレンズ632から(+Z)側に離れた位置に配置される。すなわち、照射面320は、シリンドリカルレンズ632の後側焦点位置に配置される。
シリンドリカルレンズ631は、Y方向に負のパワーを有し、X方向にはパワーを有しない。シリンドリカルレンズ631は、光路長差生成部61とシリンドリカルレンズ632との間に配置される。シリンドリカルレンズ633は、Y方向に正のパワーを有し、X方向にはパワーを有しない。シリンドリカルレンズ633は、シリンドリカルレンズ632と照射面320との間に配置される。後述するように、X方向に沿って見た場合に、シリンドリカルレンズ631は入射する光を発散させ、シリンドリカルレンズ633は入射する光を収束させるため、以下、シリンドリカルレンズ631を「発散レンズ631」と呼び、シリンドリカルレンズ633を「収束レンズ633」と呼ぶ。
照射光学系5における複数の光学素子のうち、照射面320に対して最も近接する収束レンズ633は、所定の距離f(以下、「バックフォーカスf」という。)だけ照射面320から(−Z)側に離れた位置に配置される。Y方向のみに着目した場合に、発散レンズ631および収束レンズ633による合成焦点距離fは、バックフォーカスfよりも短い。合成焦点距離fは、Y方向のみに着目した場合における集光部63の焦点距離と捉えることができ、以下の説明では、合成焦点距離fを「集光部63のY方向に関する焦点距離f」という。
ここで、集光部63のY方向に関する焦点距離fは、発散レンズ631の焦点距離をfL1、収束レンズ633の焦点距離をfL2、発散レンズ631と収束レンズ633との間の距離をdとして、数1にて表される。同様に、バックフォーカスfは、数2にて表される。なお、数1および数2では、レンズの厚さを無視している。
(数1)
=fL1・fL2/(fL1+fL2−d
(数2)
=fL2(fL1−d)/(fL1+fL2−d
数1および数2から明らかなように、集光部63のY方向に関する焦点距離fおよびバックフォーカスfは、発散レンズ631および収束レンズ633の焦点距離fL1,fL2、並びに、両者間の距離dのみから決まる。
図2に示すようにY方向に沿って見た場合に、複数の要素レンズ620から出射された複数の光束は、シリンドリカルレンズ632により平行光とされ、照射面320において重畳される。すなわち、複数の要素レンズ620からの光(すなわち、複数の透光部610を通過した複数の光束)の照射領域50が全体的に重ねられる。図2および図3では、照射領域50を太い実線にて示しており、照射領域50は、X方向に関して一定の幅を有する。既述のように、複数の要素レンズ620から出射される複数の光束は、互いに異なる透光部610を通過しているため、分割レンズ部62と照射面320との間において複数の光束に光路長差が生じる。したがって、複数の要素レンズ620にて分割された光の干渉により、照射面320において干渉縞が生じることが抑制(または防止)される。すなわち、図5の上段に示すように、照射面320上においてX方向における光の強度分布がおよそ均一となる。複数の透光部610のうちの2つの透光部610の各組合せでは、当該2つの透光部610を通過する光束の光路長の差が、光源部4から出射されるレーザ光の可干渉距離以上であることが好ましい。
図3に示すようにX方向に沿って見た場合に、光源ユニット40から分割レンズ部62へと入射する光は、光軸J1に沿う平行光(正確には、ZX平面に平行な平行光)のままで分割レンズ部62および光路長差生成部61を通過し、発散レンズ631へと導かれる。Y方向のみに負のパワーを有する発散レンズ631は、当該平行光をY方向に発散させる。発散レンズ631による発散光は、シリンドリカルレンズ632を通過して収束レンズ633に入射する。Y方向のみに正のパワーを有する収束レンズ633は、発散レンズ631からの発散光を照射面320上にて集光させる。したがって、照射面320において、各要素レンズ620からの光の照射領域50は、X方向に伸びるライン状となる。これにより、複数の要素レンズ620を通過した光の集合であって、照射面320上における断面(すなわち、光軸J1に垂直な光束断面である。以下同様。)がX方向に伸びるライン状となるライン照明光が得られる。図5の下段では、Y方向におけるライン照明光の強度分布を示している。
ここで、比較例の光照射装置について説明する。図6および図7は、比較例の光照射装置90の構成を示す図であり、図2および図3にそれぞれ対応する。比較例の光照射装置90は、光源部4と、分割レンズ部62と、光路長差生成部61と、集光部93とを備える。光源部4、分割レンズ部62および光路長差生成部61の構成は、図2および図3の光照射装置31と同じである。集光部93は、2つのシリンドリカルレンズ931,932を有する。シリンドリカルレンズ931の照射面320に対する位置は、図2および図3のシリンドリカルレンズ632と同じである。一方、照射面320に対して最も近接するシリンドリカルレンズ932は、その焦点距離fだけ照射面320から(−Z)側に離れた位置に配置される。シリンドリカルレンズ932の焦点距離fは、集光部93のY方向に関する焦点距離である。
図8に示すように、分割レンズ部62の要素レンズ620では、その製造上の限界により、X方向に沿って見た場合における第1レンズ面621に対する第2レンズ面622の角度α(ウエッジ角とも呼ばれ、以下、「平行度」ともいう。)が0とはならず、平行度は要素レンズ620毎にばらつく。同様に、光路長差生成部61の透光部610では、その製造上の限界により、X方向に沿って見た場合における入射面611に対する出射面612の角度αが0とはならず、平行度が透光部610毎にばらつく。分割レンズ部62および光路長差生成部61をより高精度に製造することにより、平行度を数秒〜数十秒にすることも可能であるが、分割レンズ部62および光路長差生成部61の製造コストが増大してしまう。なお、図8では、説明の都合上、分割レンズ部62と光路長差生成部61とをZ方向に離間して図示している。
図8の例では、X方向に沿って見た場合に、要素レンズ620の第2レンズ面622から出射される光の進行方向は、第1レンズ面621への入射時における進行方向(ここでは、ZX平面に平行であるものとする。)に対して角度θだけ傾き、透光部610の出射面612から出射される光の進行方向は、入射面611への入射時における進行方向に対して角度θだけ傾く。したがって、要素レンズ620および透光部610を通過した光の進行方向は、当該要素レンズ620の第1レンズ面621への入射時における進行方向、すなわち、光軸J1に対して角度θ(θ=θ+θ)だけ傾く。なお、要素レンズ620の屈折率をnとして、上記角度θは、(n−1)αとして表され、透光部610の屈折率をnとして、上記角度θは、(n−1)αとして表される。ただし、空気中の屈折率を1とし、角度α,α,θ,θは十分に小さいものとしている。
図7に示す比較例の光照射装置90において、複数の要素レンズ620をそれぞれ通過した複数の光束が、要素レンズ620および透光部610の平行度のばらつきにより、図9に示すように光軸J1に対して異なる角度θy1,θy2にて集光部93に入射する場合、照射面320上における複数の光束の集光位置は、互いにY方向にずれてしまう。図9では、複数の光束の集光位置の光軸J1からの距離をΔy1、Δy2として示している。複数の光束における集光位置のずれにより、照射面320上において、これらの光束の集合であるライン照明光のY方向の幅が太くなる。実際には、図10に示すように、当該ライン照明光のY方向における強度分布の形状が、図5の下段の強度分布と比較して崩れてしまう。
ここで、照射面320上における各光束の集光位置の光軸J1からのY方向の距離(以下、単に「集光位置のずれ量」という。)Δyは、当該光束の集光部93への入射時における進行方向の光軸J1に対する角度(以下、「集光部入射角」という。)θ、および、集光部93のY方向に関する焦点距離fを用いて、数3にて表される。なお、数3では、集光部入射角θは十分に小さいものとしている。
(数3)
Δy=f・θ=f((n−1)α+(n−1)α
複数の光束における集光位置のずれ量Δyを小さくすることにより、ライン照明光のY方向における強度分布の形状が崩れることを抑制することが可能となる。数3のように、集光位置のずれ量Δyは、集光部93のY方向に関する焦点距離fと、集光部入射角θとの積で表されるため、集光部93のY方向に関する焦点距離fおよび集光部入射角θの少なくとも一方を小さくすることにより、集光位置のずれ量Δyは小さくなる。
図2および図3に示す光照射装置31では、集光部63が、X方向に沿って見た場合に平行光として入射する光束をY方向に発散させる発散レンズ631と、発散レンズ631からの光を照射面320上にて集光させる収束レンズ633とを備える。これにより、バックフォーカスfを比較例の光照射装置90と等しくする、または、比較例の光照射装置90よりも長くする場合であっても、集光部63のY方向に関する焦点距離fを比較例の集光部93のY方向に関する焦点距離fよりも短くすることができる。換言すると、バックフォーカスfを比較的大きくしつつ、集光部63のY方向に関する焦点距離fを短くする設計を容易に実現することができる。その結果、複数の要素レンズ620および複数の透光部610の平行度のばらつきに起因する、照射面320上における複数の光束の集光位置のずれを抑制することができ、好ましいライン照明光を照射面320上に照射することができる。また、光照射装置31を有する描画装置1では、パターンの描画を高精度に行うことが可能となる。なお、光照射装置31では、比較例の集光部93のシリンドリカルレンズ932を、2つのシリンドリカルレンズ631,633に置き換えたものと捉えることができる。
また、図2の光照射装置31では、複数の光源部4から分割レンズ部62に向けてレーザ光が出射される。これにより、1つの光源部4のみが用いられる比較例の光照射装置90に比べて、高強度のライン照明光を得ることができる。
ところで、図2および図3の光照射装置31では、バックフォーカスfを比較例の光照射装置90と等しくする場合に、像側のNA(開口数)が比較例の光照射装置90よりも大きくなる。次に、像側のNAを比較例の光照射装置90と等しくしつつ、集光部63のY方向に関する焦点距離を比較例の光照射装置90よりも短くする光照射装置31について述べる。
図11および図12は、光照射装置31の他の例を示す図である。図11は、Y方向に沿って見た光照射装置31の構成を示し、図12は、X方向に沿って見た光照射装置31の構成を示す。図11および図12に示す光照射装置31では、図2および図3の光照射装置31と比較して、発散レンズ631が省かれるとともに、幅調整部64が照射光学系5に追加される。他の構成は、図2および図3の光照射装置31と同様であり、同じ構成に同じ符号を付す。
図11および図12に示すように、幅調整部64は、光源ユニット40と分割レンズ部62との間に設けられる。幅調整部64は、入射するレーザ光のY方向の幅を変更するビームエキスパンダであり、2つのシリンドリカルレンズ641,642を有する。2つのシリンドリカルレンズ641,642は共に、Y方向に正のパワーを有し、X方向にはパワーを有しない。シリンドリカルレンズ641の焦点距離をfe1、シリンドリカルレンズ642の焦点距離をfe2として、2つのシリンドリカルレンズ641,642の間の距離dは、(fe1+fe2)にて表される。光源ユニット40側に配置されるシリンドリカルレンズ641の焦点距離fe1は、分割レンズ部62側に配置されるシリンドリカルレンズ642の焦点距離fe2よりも大きい。
既述のように、各光源部4から照射光学系5にコリメートされたレーザ光が入射する。幅調整部64は、照射光学系5において最も光源ユニット40側に配置されており、コリメートされたレーザ光は、幅調整部64のシリンドリカルレンズ641に入射する。このとき、図12に示すようにX方向に沿って見た場合に、当該レーザ光は、光軸J1に沿う平行光(正確には、ZX平面に平行な平行光)の状態でシリンドリカルレンズ641に入射し、光軸J1に沿う平行光の状態でシリンドリカルレンズ642から出射される。また、シリンドリカルレンズ642から出射される平行光のY方向の幅は、シリンドリカルレンズ641に入射する平行光のY方向の幅よりも小さくなる。
幅調整部64を通過した平行光は、Y方向に関してレンズ作用を受けることなく、分割レンズ部62、光路長差生成部61、および、集光部63のシリンドリカルレンズ632を通過し、収束レンズ633に入射する。収束レンズ633により、当該平行光はY方向に関して収束し、照射面320上にて集光する。なお、Y方向に沿って見た場合における光の経路は、図2の光照射装置31と同様である。
以上に説明したように、図11および図12に示す光照射装置31では、Y方向のみにビーム幅を変更する幅調整部64が設けられ、X方向に沿って見た場合に、集光部63に入射する平行光のY方向の幅が、光源部4から照射光学系5に入射するレーザ光のY方向の幅よりも小さくされる。
ここで、図12の光照射装置31における像側のNAが、図7の比較例の光照射装置90と等しいものと仮定する。この場合、幅調整部64におけるY方向に関する縮小倍率をM(ただし、Mは1未満である。)として、集光部63のY方向に関する焦点距離f(ここでは、収束レンズ633の焦点距離)は、比較例の集光部93のY方向に関する焦点距離fのM倍と表される。すなわち、集光部63のY方向に関する焦点距離fが比較例の集光部93のY方向に関する焦点距離fよりも小さくなる。なお、幅調整部64におけるY方向の縮小倍率Mは、シリンドリカルレンズ641,642の焦点距離fe1,fe2に依存する。
このように、図12の光照射装置31では、像側のNAを比較例の光照射装置90と等しくしつつ、集光部63のY方向に関する焦点距離を短くする設計を容易に実現することができる。その結果、照射面320上における複数の光束の集光位置のずれ(Y方向のずれ)を抑制することができる。
図11の光照射装置31において、複数の光源部4に対して個別に幅調整部64が設けられてもよく、この場合に、シリンドリカルレンズ641,642を、X方向およびY方向の双方にパワーを有する2つのレンズに置き換えることも可能である。このような幅調整部64では、当該2つのレンズにより、両側テレセントリック光学系が構成される。また、幅調整部64のシリンドリカルレンズ641,642は、光路長差生成部61とシリンドリカルレンズ633との間に設けられてもよい。これらの変形は、幅調整部64を有する他の光照射装置31において同様である。
光照射装置31では、幅調整部64の一部の機能が分割レンズ部により実現されてもよい。具体的には、図13に示すように、分割レンズ部62aの各要素レンズ620aの第1レンズ面621および第2レンズ面622が共に球面の一部とされるとともに、図12の光照射装置31におけるシリンドリカルレンズ642が省略される。また、シリンドリカルレンズ641からその焦点距離fe1だけ離れた位置に、要素レンズ620aの第1レンズ面621が配置される。分割レンズ部62aにおいても、要素レンズ620aの第1レンズ面621は、第2レンズ面622の焦点に配置され、第2レンズ面622は、第1レンズ面621の焦点に配置される。すなわち、第1レンズ面621および第2レンズ面622の焦点距離は同じである。
X方向に沿って見た場合に、光源部4からのレーザ光は、光軸J1に沿う平行光(正確には、ZX平面に平行な平行光)の状態でシリンドリカルレンズ641に入射する。シリンドリカルレンズ641から出射される光は、要素レンズ620aの第1レンズ面621上にて集光し、要素レンズ620a内にて広がりつつ第2レンズ面622へと向かう。そして、第2レンズ面622から、光軸J1に沿うように平行光が出射される。また、要素レンズ620aから出射される平行光のY方向の幅は、シリンドリカルレンズ641に入射する平行光のY方向の幅よりも小さくなる。要素レンズ620aから出射される平行光は、光路長差生成部61およびシリンドリカルレンズ632を介して収束レンズ633に入射し、照射面320上にて集光する。
以上のように、図13の光照射装置31では、分割レンズ部62aにおける複数の要素レンズ620aのそれぞれが、球面の第2レンズ面622を有し、第2レンズ面622が、幅調整部64の一部を兼ねる。これにより、分割レンズ部62aよりも照射面320側に配置される集光部63にY方向の幅が狭い平行光(X方向に沿って見た場合における平行光)を入射させることができ、集光部63のY方向に関する焦点距離fを容易に短くすることができる。また、図12の光照射装置31に比べて、部品点数を少なくすることができる。
ところで、球面の第1および第2レンズ面621,622を有する要素レンズ620aでは、製造時における誤差により、図14に示すように、要素レンズ620aの中心線C1が、要素レンズ620aの焦点を通過する光軸J2とずれることがある(偏心と捉えることも可能である。)。X方向に沿って見た場合に、このような要素レンズ620aを、仮に、その中心線C1が照射光学系5の光軸J1に一致するように配置すると、光軸J1に沿って入射する光の経路K1が光軸J1に対して傾斜する。これにより、シリンドリカルレンズである要素レンズ620の平行度が低下した場合と同様に、照射面320上における光束の集光位置が光軸J1からY方向に離れ、ライン照明光のY方向における強度分布の形状が崩れてしまう。
一方、好ましい光照射装置31では、分割レンズ部62aの製造時において、図15に示すように、要素レンズ620aの中心線C1ではなく、光軸J2が照射光学系5の光軸J1に一致するように、各要素レンズ620aの位置が調整される。これにより、複数の要素レンズ620aを通過した複数の光束の照射面320上における集光位置が、光軸J1からY方向にずれることを抑制することができる。このような分割レンズ部62aを有する光照射装置31では、複数の光束の照射面320上における集光位置のずれの因子を、透光部610における平行度のばらつきのみに制限することができ、照射面320上における複数の光束の集光位置のずれをさらに抑制することができる。
光照射装置31では、要素レンズ620aの第1レンズ面621が、幅調整部64の一部を兼ねてもよい。この場合、要素レンズ620aの(+Z)側にシリンドリカルレンズ642が設けられる。X方向に沿って見た場合に、要素レンズ620aの第1レンズ面621に入射した平行光は、第2レンズ面622上にて集光する。また、第2レンズ面622から出射される光は、シリンドリカルレンズ642により平行光とされ、集光部63に入射する。このとき、上記と同様に、集光部63に入射する平行光のY方向の幅が、光源部4から照射光学系5に入射するレーザ光のY方向の幅よりも小さくされる。
ところで、図11ないし図13の光照射装置31では、像側のNAを比較例の光照射装置90と等しくすることが可能であるが、バックフォーカスが比較例の光照射装置90よりも小さくなる。次に、バックフォーカスおよび像側のNAを比較例の光照射装置90と等しくしつつ、集光部63のY方向に関する焦点距離を比較例の光照射装置90よりも短くする光照射装置31について述べる。
図16は、光照射装置31の他の例を示す図であり、X方向に沿って見た光照射装置31の構成を示す。図16に示す光照射装置31では、図3の光照射装置31に、図12の幅調整部64が追加される。幅調整部64の縮小倍率、並びに、発散レンズ631および収束レンズ633の焦点距離および配置を調整することにより、バックフォーカスfおよび像側のNAを比較例の光照射装置90と等しくしつつ、集光部63のY方向に関する焦点距離fを比較例の光照射装置90よりも短くすることができる。その結果、照射面320上における複数の光束の集光位置のずれを抑制することができる。また、比較例の光照射装置90が設けられる描画装置において、当該光照射装置90を図16の光照射装置31にそのまま置き換えることができ、描画装置の大幅な設計変更等を不要としつつ、当該描画装置において高精度なパターン描画が可能となる(後述の図17および図18の光照射装置31において同様)。
図17および図18は、光照射装置31の他の例を示す図である。図17は、Y方向に沿って見た光照射装置31の構成を示し、図18は、X方向に沿って見た光照射装置31の構成を示す。図17および図18に示す光照射装置31では、図13の光照射装置31に、図3の発散レンズ631が追加される。これにより、図16の光照射装置31と同様に、バックフォーカスfおよび像側のNAを比較例の光照射装置90と等しくしつつ、集光部63のY方向に関する焦点距離fを比較例の光照射装置90よりも短くすることができる。また、図16の光照射装置31と比較して、部品点数を少なくすることができる。なお、幅調整部64のシリンドリカルレンズ641が、複数の光源部4に対して個別に設けられてもよい。
上記光照射装置31では様々な変形が可能である。
分割レンズ部62,62aでは、必ずしも複数の要素レンズ620,620aが配列方向に一定のピッチにて配列される必要はなく、例えば、複数の要素レンズ620,620aの配列方向の幅が互いに異なっていてもよい。この場合、配列方向に関して、光路長差生成部61における各透光部610の幅と、当該透光部610に対応する分割レンズ部62,62aの要素レンズ620,620aの幅との比が、全ての透光部610において一定となるように、複数の透光部610の配列方向の幅も変更される。
光路長差生成部61は、必ずしも分割レンズ部62に隣接して設けられる必要はなく、例えば、図19に示すように、分割レンズ部62と光路長差生成部61との間に、レンズ51,52が設けられてもよい。レンズ51,52は、両側テレセントリック光学系を構成し、分割レンズ部62の複数の要素レンズ620を通過した複数の光束は、レンズ51,52を介して、光路長差生成部61の複数の透光部610にそれぞれ入射する。
また、光源ユニット40において1つの光源部4のみが設けられる場合には、図20に示すように、光路長差生成部61が光源部4と分割レンズ部62との間に配置されてもよい。図20の光照射装置31では、光源部4と光路長差生成部61との間に、両側テレセントリック光学系を構成するレンズ51,52が設けられ、光路長差生成部61と分割レンズ部62との間にも、両側テレセントリック光学系を構成するレンズ53,54が設けられる。そして、光路長差生成部61の複数の透光部610を通過した複数の光束は、レンズ53,54を介して、分割レンズ部62の複数の要素レンズ620にそれぞれ入射する。すなわち、複数の要素レンズ620に向かう光が複数の透光部610にそれぞれ入射する。図19および図20の光照射装置31では、発散レンズ631および収束レンズ633が設けられることにより、集光部63のY方向に関する焦点距離を短くする設計を容易に実現することができる。もちろん、図19および図20の光照射装置31に幅調整部64が設けられてよい。
また、光照射装置31において求められるライン照明光の均一性によっては、光路長差生成部61が省略されてよい。この場合も、分割レンズ部62の要素レンズ620が、シリンドリカルレンズであるときには、要素レンズ620の入射面と出射面との平行度が要素レンズ620毎にばらつくため、集光部63のY方向に関する焦点距離を短くする上記手法が適用される。以上のように、光照射装置31において、複数の要素レンズが、Y方向にパワーを有しない複数のシリンドリカルレンズである、または/および、X方向に配列されるとともに互いに異なる光路長を有する複数の透光部が照射光学系5に設けられる場合に、集光部63のY方向に関する焦点距離を短くする上記手法が適用される。なお、複数の透光部が設けられる場合には、複数の要素レンズを通過した光、または、複数の要素レンズに向かう光が複数の透光部にそれぞれ入射する。
光照射装置31の設計によっては、収束レンズ633が球面レンズであってもよい。この場合、シリンドリカルレンズ632および収束レンズ633が協働することにより、照射面320上にて複数の光束の照射領域50が重ねられる。同様の理由で、レンズ632が球面レンズであってもよい。この場合、図のY方向には、レンズ632とレンズ633が協働することにより集光される。合成焦点距離fは、レンズ631、632,633の3つの合成で表される。また、上記実施の形態では、Y方向に平行光を発散させる発散部が、Y方向のみに負のパワーを有する発散レンズ631により実現されるが、正のパワーを有するレンズが発散部として設けられてもよい。この場合も、当該レンズを通過した光はY方向に集光した後、発散するため、集光部63のY方向に関する焦点距離を短くすることができる。また、発散部が、シリンドリカルミラー等の他の光学素子にて実現されてもよい。
描画装置1において、光照射装置31の照射面320に配置される空間光変調器32は、回折格子型の光変調器以外であってよく、例えば、微小なミラーの集合を用いた空間光変調器が用いられてよい。
基板9上の光の照射位置を移動する移動機構は、ステージ21を移動する移動機構22以外であってもよく、例えば、光照射装置31、空間光変調器32および投影光学系33を含むヘッドを基板9に対して移動する移動機構であってよい。
描画装置1にて描画が行われる対象物は、半導体基板やガラス基板以外の基板であってよく、また、基板以外であってもよい。光照射装置31は、描画装置1以外に用いられてもよい。
上記実施の形態および各変形例における構成は、相互に矛盾しない限り適宜組み合わされてよい。
1 描画装置
4 光源部
5 照射光学系
9 基板
11 制御部
22 移動機構
31 光照射装置
32 空間光変調器
33 投影光学系
50 照射領域
62,62a 分割レンズ部
63 集光部
64 幅調整部
320 照射面
610 透光部
620,620a 要素レンズ
621,622 レンズ面
631 発散レンズ
633 収束レンズ
J1 光軸

Claims (6)

  1. 光照射装置であって、
    所定位置に向けてレーザ光を出射する光源部と、
    前記所定位置に配置され、前記光源部からのレーザ光を光軸に沿って照射面へと導く照射光学系と、
    を備え、
    前記照射光学系が、
    前記光軸に垂直な第1の方向に配列された複数の要素レンズを有し、入射する光を前記複数の要素レンズにより複数の光束に分割する分割レンズ部と、
    前記分割レンズ部よりも前記照射面側に配置され、前記照射面上にて前記複数の光束の照射領域を重ねる集光部と、
    を備え、
    前記複数の要素レンズが、前記光軸および前記第1の方向に垂直な第2の方向にパワーを有しない複数のシリンドリカルレンズであり、または/および、前記第1の方向に配列されるとともに互いに異なる光路長を有する複数の透光部が前記照射光学系に設けられ、前記複数の要素レンズを通過した光、もしくは、前記複数の要素レンズに向かう光が前記複数の透光部にそれぞれ入射し、
    前記第1の方向に沿って見た場合に、前記集光部に対して前記複数の光束が平行光として入射し、前記集光部により前記照射面上にて前記複数の光束が集光し、
    前記集光部が、
    前記第2の方向に前記平行光を発散させる発散部と、
    前記発散部からの光が入射するとともに、前記第1の方向に沿って見た場合に前記照射面上にて前記光を集光させる収束レンズと、
    を備えることを特徴とする光照射装置。
  2. 請求項1に記載の光照射装置であって、
    前記光源部から前記照射光学系にコリメートされたレーザ光が入射し、
    前記照射光学系が、前記第1の方向に沿って見た場合に、前記コリメートされたレーザ光の前記第2の方向における幅よりも、前記集光部に入射する前記平行光の前記第2の方向における幅を小さくする幅調整部をさらに備えることを特徴とする光照射装置。
  3. 請求項2に記載の光照射装置であって、
    前記分割レンズ部における前記複数の要素レンズのそれぞれが、球面のレンズ面を有し、
    前記レンズ面が、前記幅調整部の一部を兼ねることを特徴とする光照射装置。
  4. 請求項1ないし3のいずれかに記載の光照射装置であって、
    前記発散部が、前記第2の方向のみに負のパワーを有するシリンドリカルレンズであることを特徴とする光照射装置。
  5. 光照射装置であって、
    所定位置に向けてレーザ光を出射する光源部と、
    前記所定位置に配置され、前記光源部からのレーザ光を光軸に沿って照射面へと導く照射光学系と、
    を備え、
    前記照射光学系が、
    前記光軸に垂直な第1の方向に配列された複数の要素レンズを有し、入射する光を前記複数の要素レンズにより複数の光束に分割する分割レンズ部と、
    前記分割レンズ部よりも前記照射面側に配置され、前記照射面上にて前記複数の光束の照射領域を重ねる集光部と、
    を備え、
    前記複数の要素レンズが、前記光軸および前記第1の方向に垂直な第2の方向にパワーを有しない複数のシリンドリカルレンズであり、または/および、前記第1の方向に配列されるとともに互いに異なる光路長を有する複数の透光部が前記照射光学系に設けられ、前記複数の要素レンズを通過した光、もしくは、前記複数の要素レンズに向かう光が前記複数の透光部にそれぞれ入射し、
    前記第1の方向に沿って見た場合に、前記集光部に対して前記複数の光束が平行光として入射し、前記集光部により前記照射面上にて前記複数の光束が集光し、
    前記光源部から前記照射光学系にコリメートされたレーザ光が入射し、
    前記照射光学系が、前記第1の方向に沿って見た場合に、前記コリメートされたレーザ光の前記第2の方向における幅よりも、前記集光部に入射する前記平行光の前記第2の方向における幅を小さくする幅調整部をさらに備えることを特徴とする光照射装置。
  6. 描画装置であって、
    請求項1ないし5のいずれかに記載の光照射装置と、
    前記光照射装置における前記照射面に配置される空間光変調器と、
    前記空間光変調器により空間変調された光を対象物上に導く投影光学系と、
    前記空間変調された光の前記対象物上における照射位置を移動する移動機構と、
    前記移動機構による前記照射位置の移動に同期して前記空間光変調器を制御する制御部と、
    を備えることを特徴とする描画装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210016411A (ko) * 2018-06-04 2021-02-15 프라운호퍼-게젤샤프트 추르 푀르더룽 데어 안게반텐 포르슝 에.베. 접근하기 어려운 공작물의 레이저 가공장치
US11579384B2 (en) 2019-02-25 2023-02-14 Nichia Corporation Light source device, direct diode laser system, and optical coupling device
WO2024053194A1 (ja) * 2022-09-09 2024-03-14 株式会社Screenホールディングス 光照射装置および露光装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11592530B2 (en) 2017-11-30 2023-02-28 Cepton Technologies, Inc. Detector designs for improved resolution in lidar systems
CN108284673A (zh) * 2018-02-12 2018-07-17 泉州市旭丰图文制模有限公司 激光快速菲林打印机
US11592527B2 (en) 2018-02-16 2023-02-28 Cepton Technologies, Inc. Systems for incorporating LiDAR sensors in a headlamp module of a vehicle
KR20200015049A (ko) * 2018-08-02 2020-02-12 (주)제이티 슬릿광원 및 이를 포함하는 비전검사장치
JP6709405B1 (ja) * 2019-07-03 2020-06-17 フェニックス電機株式会社 光源装置、およびそれを備える照明装置
CN111060295A (zh) * 2020-01-10 2020-04-24 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 光束分割元件和标定装置
CN113917779B (zh) * 2021-06-23 2023-03-21 深圳市安华光电技术股份有限公司 微型投影光机及投影设备
KR102400468B1 (ko) * 2022-02-22 2022-05-24 코리아스펙트랄프로덕츠(주) 입자계수용 광학계

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60230629A (ja) * 1984-04-28 1985-11-16 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 照明光学装置
JPH07248462A (ja) * 1994-03-08 1995-09-26 Topcon Corp 照明光学系
JP2001068409A (ja) * 1992-11-05 2001-03-16 Nikon Corp 照明光学装置、走査露光装置及び露光方法
JP2003279889A (ja) * 2002-01-15 2003-10-02 Eastman Kodak Co レーザ投影ディスプレイシステム
WO2009150733A1 (ja) * 2008-06-12 2009-12-17 株式会社Ihi レーザアニール方法及びレーザアニール装置
JP2011075635A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd パターン描画装置およびパターン描画方法
US20120057345A1 (en) * 2010-09-07 2012-03-08 Coherent, Inc. Line-projection apparatus for arrays of diode-laser bar stacks

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4619508A (en) * 1984-04-28 1986-10-28 Nippon Kogaku K. K. Illumination optical arrangement
US4918583A (en) * 1988-04-25 1990-04-17 Nikon Corporation Illuminating optical device
US6312134B1 (en) * 1996-07-25 2001-11-06 Anvik Corporation Seamless, maskless lithography system using spatial light modulator
JP3969197B2 (ja) * 2002-06-06 2007-09-05 石川島播磨重工業株式会社 レーザ照射装置
JP4162484B2 (ja) 2002-12-26 2008-10-08 三洋電機株式会社 投写型映像表示装置
KR20050089074A (ko) 2002-12-26 2005-09-07 산요덴키가부시키가이샤 조명 장치 및 투사형 영상 표시 장치
JP4291230B2 (ja) * 2004-08-06 2009-07-08 株式会社日本製鋼所 結晶化膜の形成方法及びその装置
US7413311B2 (en) * 2005-09-29 2008-08-19 Coherent, Inc. Speckle reduction in laser illuminated projection displays having a one-dimensional spatial light modulator
US8902506B2 (en) * 2010-09-30 2014-12-02 Panasonic Corporation Laser speckle reduction element
CN101976020B (zh) * 2010-10-12 2012-08-22 苏州苏大维格光电科技股份有限公司 一种光刻装置和光刻方法
JP2013008666A (ja) 2011-05-20 2013-01-10 Gs Yuasa Corp 光照射装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60230629A (ja) * 1984-04-28 1985-11-16 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 照明光学装置
JP2001068409A (ja) * 1992-11-05 2001-03-16 Nikon Corp 照明光学装置、走査露光装置及び露光方法
JPH07248462A (ja) * 1994-03-08 1995-09-26 Topcon Corp 照明光学系
JP2003279889A (ja) * 2002-01-15 2003-10-02 Eastman Kodak Co レーザ投影ディスプレイシステム
WO2009150733A1 (ja) * 2008-06-12 2009-12-17 株式会社Ihi レーザアニール方法及びレーザアニール装置
JP2011075635A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd パターン描画装置およびパターン描画方法
US20120057345A1 (en) * 2010-09-07 2012-03-08 Coherent, Inc. Line-projection apparatus for arrays of diode-laser bar stacks

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210016411A (ko) * 2018-06-04 2021-02-15 프라운호퍼-게젤샤프트 추르 푀르더룽 데어 안게반텐 포르슝 에.베. 접근하기 어려운 공작물의 레이저 가공장치
KR102675028B1 (ko) * 2018-06-04 2024-06-13 프라운호퍼-게젤샤프트 추르 푀르더룽 데어 안게반텐 포르슝 에.베. 접근하기 어려운 공작물의 레이저 가공장치
US12076811B2 (en) 2018-06-04 2024-09-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Device for laser machining workpieces that are difficult to access
US11579384B2 (en) 2019-02-25 2023-02-14 Nichia Corporation Light source device, direct diode laser system, and optical coupling device
WO2024053194A1 (ja) * 2022-09-09 2024-03-14 株式会社Screenホールディングス 光照射装置および露光装置

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