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JP2015126215A - 光学素子ユニット、回転方向の相対位置の調整方法、露光装置、物品の製造方法 - Google Patents

光学素子ユニット、回転方向の相対位置の調整方法、露光装置、物品の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 従来よりも精度良く回転方向の位置決めすることが可能な光学素子ユニットを提供すること。
【解決手段】 本発明は、第1の光学素子10及び第2の光学素子30を有する光学素子ユニットに関する。第1の光学素子10及び第2の光学素子30には、第1の光学素子10及び第2の光学素子30の厚さ方向又は厚さ方向に対して傾いた方向に平面12、32を有する段差が形成されていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、光学素子ユニット、回転方向の相対位置の調整方法、露光装置、及び物品の製造方法に関する。
複数のレンズやミラーの光学素子ユニットを有する光学装置において、使用する光学素子の選択や配置を工夫することにより、被照射面における収差の影響を低減させることは重要である。
特許文献1には、光軸を通る全ての断面形状が異なり、かつ互いに相補な関係にある2枚の非球面レンズを対向するように配置している。それらのレンズの相対位置を並進方向に駆動制御することによってディストーションを補正する投影光学系について記載されている。
特開2010−166007号公報
しかし、特許文献1に記載のレンズのような1組のレンズを通る光は、光軸を通る全ての断面形状が等しくなるように加工された1組のレンズを通る光に比べて、回転方向におけるレンズ同士の微少な位置決め誤差に起因して光路ずれを起こしやすい。そのため、組み立て時において、光軸を通る全ての断面形状が等しくなるように加工された1組のレンズを扱う場合よりも精度良く回転方向に位置決めをする必要がある。
そこで本発明は、従来よりも精度良く回転方向の位置決めすることが可能な光学素子ユニットを提供することを目的とする。
本発明の光学素子ユニットは、第1の光学素子及び第2の光学素子を有する光学素子ユニットであって、前記第1及び前記第2の光学素子には、前記第1及び前記第2の光学素子の厚さ方向又は厚さ方向に対して傾いた方向に平面を有する、段差が形成されていることを特徴とする。
本発明によれば、従来よりも精度良く回転方向の位置決めすることが可能な光学素子ユニットを提供することが可能となる。
第1の実施形態に係る光学素子ユニットの構成を示す図。 光学素子の形状を示す図。 第1の実施形態に係る光学素子ユニットの回転位置の調整方法を示す図。 第2の実施形態に係る光学素子ユニットの構成を示す図。 第3の実施形態に係る光学素子ユニットの構成を示す図。 露光装置への光学素子ユニットの適用例を示す図。 光学素子ユニットによるディストーション補正について説明する図。
[第1の実施形態]
(光学素子ユニットの構成)
図1(a)は第1の実施形態に係る光学素子ユニット100の構成を示す図であり、図1(b)は図1(a)に示すY軸方向の直線A−A’における断面図を示す図である。
光学素子ユニット100は、第1の光学素子であるレンズ10とレンズ10を保持する第1の保持部材である保持部材20、第2の光学素子であるレンズ30とレンズ30を保持する第2の保持部材である保持部材40とを有している。レンズ10、30、保持部材20、40の端には、Z軸方向(厚さ方向)の断面(平面)と、Z軸と直交する方向のD字形状の面によって段差が形成されている。
レンズ10、30の断面を各々断面12、32、保持部材20、40の断面を各々断面22、42とする。断面12、22、32、42のX軸方向の長さ(前記面内における前記平面の長さ)をLとする。また、レンズ10、30の外周の面を外径面14、34とし、保持部材20、40の外周の面を外径面24、44とする。
レンズ10とレンズ30は光軸を通る全ての断面形状が異なり、かつ互いに相補な関係にある非球面のレンズ面13、33を有しており、レンズ面13、33は対向するように組み立てられている。
図2にレンズ10及びレンズ30のレンズ面13、33の形状例を示す。図2(a)に示すθ=0°方向の3次元形状と、図2(b)に示すθ=45°方向への3次元形状を足し合わせた形状とすると、図2(c)に示すような、非球面かつその断面が非回転対称となる面を有する3次元形状のレンズとなる。この時、レンズ面13、33の形状は式(1)で示される。
このような形状を有するレンズ10及びレンズ30(1組の光学素子)を透過する光の光路は、回転方向の相対位置合わせの微少誤差で大きく変化する。そのため、光学素子ユニット100を組み立てる時には、精度良く回転方向の相対位置を合わせる必要が生じる。
(光学素子ユニットの位置合わせ方法)
各々の断面12、22、32、42を用いて、光学素子ユニット100の組み立て時に精度良く回転方向の位置調整を行う方法について説明する。
光学素子ユニット100の組み立ては、まず、レンズ10と保持部材20の光軸を一致させるための作業(以下、心出し作業と称す)を行う。心出し作業とは、回転させている対象物に対して接触部材を接触させながら、基準の位置から接触部材の先端までの距離が心出し対象物の外径面のどの位置でも同じ長さになるようにする作業である。これにより、各素子間の光軸を1μm以下の精度で一致させていく。
保持部材20の上にレンズ10を重ね置き、外径面14と外径面24を用いてXY平面内における面内方向のずれを調整しながら心出し作業をする。外径面34と外径面44とを用いてレンズ30と保持部材40との心出し作業も同様に行う。
続いて、図3を用いてレンズ10と保持部材20の回転方向の位置調整について説明する。図3は参照面として実線で示している保持部材20の断面22(直線A−B)に対して、調整面で破線で示しているレンズ10の断面12(直線A’−B’)が微小角ΔωZ傾いている様子を示している。
光学式のような非接触式や、接触式等の測長器(不図示)を用いて、断面12と断面22に関する角度情報を求める(取得する)。角度情報とは、断面22を参照面とした場合の、参照面に対する断面12の平行度ΔYや、平行度ΔYと断面の長さLを用いて得られる回転方向の位置ずれΔωZのことを指す。平行度ΔYの計測結果からこの値が最小、すなわち測長器の計測精度と同等になるように、レンズ10を保持部材20ごと手動で回転調整をすることで微小角ΔωZのずれを最小限に抑制する。同様の方法を用いて、レンズ30と保持部材40の平行度も小さくなるように調整をする。
光学素子ユニット100の組み立ての際には、断面22に対する断面42の平行度が小さくなるように相対的な回転方向の位置を調整する。保持部材20と保持部材40同士の回転方向の相対位置を調整することにより、間接的にレンズ10とレンズ30の回転方向の相対位置を調整することが可能となる。あるいは、断面12と断面42の平行度測定によって、レンズ10とレンズ30の回転方向の相対位置を調整しても良い。
なお、参照面は必ずしもレンズ10、30、保持部材20、40の断面でなくても良く、例えばその他の基準となる参照面を設けて、その面に対する平行度を算出しながら回転方向の位置を調整しても構わない。
以上の方法を用いれば、2つの部材の相対回転誤差を10秒以内(秒は微小角を示す場合の単位であり、1秒=3600分の1°である)に調整することが可能となる。
なお、回転位置の計測誤差には、測長器の計測精度の他に、断面12、22、32、42の平面度が誤差要因として含まれる。平面度とは各々の断面の凹凸の幅、すなわち平滑性を示す値である。各断面12、22、32、42の平面度は平行度以下とすることが好ましい。これにより、平行度の計測精度を確保することが可能となる。
例えば調整面である断面22の長さL=50mmであって、断面22と断面24を10秒以上20秒以下の精度で位置を調整しようとする場合、許容の変位成分ΔYは2.4μm以上4.8μm以下となる。そのため、L=50mmの場合は、断面22、42の平面度は3.2μm以下となるように加工しておくことが好ましい。
ここで、平行度の計測時には、断面の多点数を計測することが好ましい。これにより、平面度の影響を極力低減することが可能となる。さらに平行度の計測誤差を低減するには、測長する断面の長さLは長いほうが好ましいが、レンズの直径付近まで長くなると光を透過することが可能な面積が低減しすぎてしまう。そのため、断面の長さLは平行度の計測精度と光の透過領域を考慮して設計することが望ましい。例えば、断面の長さLを断面加工を施すレンズの直径の1/4以上3/5以下、より好ましくは2/5以上3/5以下にすることが好ましい。
レンズ30と保持部材40の回転方向の相対位置調整も行い、レンズ10と保持部材20、レンズ30と保持部材40を各々の間隙に不図示の接着剤、硬化剤等を塗布して固定する。あるいは、不図示のボルト、押さえ環、板ばね押さえ等で固定しても良い。
このようにレンズ10、30及び保持部材20、40に対して平面度が微少となるように加工された断面を形成しておき、断面を用いてレンズ10とレンズ30の回転方向の相対位置を、精度良く調整することが可能となる。さらに回転方向に対象物を駆動させる駆動機構を用いることなく、容易に調整することができるという効果もある。
[第2の実施形態]
第1の実施形態の変形例を図4に示す。図4の光学素子ユニット200は、保持部材20、40の外径面24、44に沿って複数のブロック60を設けている点で第1の実施形態における光学素子ユニット100とは構成が異なる。
断面12、22、32、42の回転方向の位置を調整する際に、調整対象となっている部材同士におけるXY平面内での並進移動を制限することができる。光学素子ユニット200を使用時にはレンズ10やレンズ30をXY平面内において並進駆動できるようにするため、回転方向の位置を調整後にはブロック60を取り外す。
なお、図4には3つのブロック60を光軸50を中心として120°間隔で配置している例を示しているが、2つのブロック60を90°間隔で配置しても構わない。ブロック60の位置は、回転方向の位置調整中にXY平面内における少なくとも二方向のずれを防止する配置であれば良い。
[第3の実施形態]
第3の実施形態に係る光学素子ユニット300を図5に示す。光学素子ユニット300は保持部材20に対して、図1(a)(b)に示した断面22が設けられておらず、代わりに保持部材20に対して印70が設けられている点で、第1及び第2の実施形態とは異なる。
本実施形態では、レンズ30と保持部材40の心出し作業及び回転位置の調整方法は第1の実施形態と同様であるため説明を省略する。
レンズ10と保持部材20の回転方向の位置合わせは、印70と断面12の位置が合うように概略調整し、接着剤などの任意の固定手段でレンズ10を保持部材に固定する。続いて、レンズ10の断面12及び、保持部材40の断面42を用いて、第1の実施形態と同様の方法で回転方向の位置合わせを行う。以上の方法により、レンズ10と保持部材40の位置合わせを行い、間接的にレンズ10とレンズ30の回転方向の位置を調整する。
このようにすれば、レンズ面13、33の隙間の狭さに起因して測長器でレンズ10とレンズ30の回転方向の位置を直接調整できない場合であっても、保持部材40を介してレンズ10とレンズ30の位置を調整することが可能となる。
なお、印70はレンズ10に対する保持部材40の位置を事前にある程度調整するために設けられている。これにより、保持部材20と保持部材40とが回転方向に大きくずれた状態のまま対向させた場合にレンズ面13とレンズ面33が接触して破損することを防ぐことが可能となる。また、平行度計測に際して計測範囲に応じて一定の割合で計測誤差が生じる測長器を使用する場合に、初期計測値を小さくして計測誤差を少なくすることが可能となる。
本実施形態によれば、保持部材20に対して断面22を形成する手間と加工コストを削減することが可能となる。
[第4の実施形態]
第4の実施形態として、図6に示す露光装置600に対して、第1の実施形態に係る光学素子ユニット100を適用した場合について説明する。
光源601は、露光光を射出する。露光光の光源として、例えば水銀ランプ、ArFエキシマレーザ、KrFエキシマレーザ等が挙げられる。照明光学系602は光源601より射出した光を所定の形状に成形して、レチクル(原版)603に照射する。レチクル603には回路パターンが形成されている。光学素子ユニット100及び複数のレンズ607(代表的なレンズのみを図示している)を内包している鏡筒604を有する投影光学系620を介して基板605上の1つのショット領域に対してレチクル603上の回路パターンが縮小投影される。
駆動装置606は、複数のレンズ607を投影光学系620の光軸に沿った方向に移動する。これにより、投影光学系620に起因する収差の影響を低減しつつ、投影する回路パターンの歪みを減らしている。投影レンズ用の制御部608は、主制御部609からの指示を受けて駆動装置606にレンズ607の駆動量等を指示する。
基板605は、ステージ610によって保持されている。ステージ610はX、Y、及びZ軸方向に移動可能である。また、ステージ610上には移動鏡611、基準マーク612が設置されている。干渉計612が移動鏡611に向けてレーザ光を射出し、移動鏡611で反射されたレーザ光を用いて、ステージ610の位置を検出する。検出結果に基づき、ステージの制御部613はステージ610を駆動する駆動装置614に駆動量を指示する。
基準マーク612の位置を、オフアクシス方式のアライメント光学系615及び投影光学系620を介して計測することによって、投影光学系620の光軸とアライメント光学系615との距離、すなわちベースラインを計測する。また、アライメント光学系615は基板605上に形成されている不図示のアライメントマークの位置を計測し、次に形成する層に対するディストーションの補正量を計測する。
投光系616と受光系617を用いて、基準マーク612のZ軸方向の位置合わせをする。投光系616が、基板605上のレジストに対して非露光光の複数個の光束を照射し、基準マーク612で反射した光が受光系617で集光する。同様にして基板605の各位置におけるZ軸の位置を計測し、基準マーク612に対する基板605の高さずれを求め、基板605に対する露光時のフォーカス補正値として使用する。
露光装置は、不図示の露光室内に配置されており、露光室内の区間の雰囲気は不図示の雰囲気維持部によって温度や湿度が制御された環境下にある。
レチクル603と鏡筒604との間には、第1の実施形態の光学素子ユニット100が配置されている。光露光装置600には、レンズ10又はレンズ30の少なくとも一方をX軸及びY軸方向に移動する駆動装置618及び駆動装置618に駆動量を指示する制御部619を有している。
光学素子ユニット100は、鏡筒604の内部に構成されていても良いし、図6に示すように鏡筒604の外部に独立したユニットとして構成されていても良い。また、レチクル603を保持している不図示のレチクルホルダや不図示のレチクルステージ機構と一体的に構成されていても構わない。
なお、レチクル603を透過した光が光学素子ユニット100も透過することを考慮すると、通常矩形形状あるレチクル603の一辺が、光学素子ユニット100の断面(断面12、22、32、42のいずれか)に沿う方向に配置することが好ましい。より好ましくは、レチクル603の一辺が、光学素子ユニット100の断面(断面12、22、32、42のいずれか)と平行であるように配置することが好ましい。
光学素子ユニット100に対する回路パターンの投影領域が断面加工されている領域に重ならないようにしつつ、光学素子ユニット100をなるべく小さな構成とすることが可能となるからである。光学素子ユニット100を小さくすることにより、光学素子ユニット100の製造コストの低減することが可能となる。
主制御部609は、光源601、制御部608、制御部613、制御部619と接続されており、これらを統括的に制御している。
本実施形態に搭載している光学素子ユニット100によって、例えばレンズ10に対してレンズ30をX軸から135°をなす方向に並進駆動することで、図7(a)、(b)に示す縦横倍率差のディストーションが発生する。あるいは、レンズ10とレンズ30の相対位置を互いにY軸方向に並進駆動することで、図7(c)、(d)に示すような平行四辺形形状のディストーションが発生する。このように、XY平面内でレンズ10とレンズ30の相対位置を任意の方向に並進駆動することによって、二回回転対称性をもつディストーション補正を行うことが可能となる。
このように光学素子ユニット100に形成した断面を利用して回転方向の位置合わせを精度良く行っていれば、前述のディストーション補正を精度良くすることが可能となる。以上の性質を用いれば、先に基板605上に形成しているショットのパターンが歪んでいる場合であっても、次に形成するパターンに対して適切なディストーション補正をすることで高度な重ね合わせ精度を実現することが可能となる。
[その他の実施形態]
断面12を例にその他の段差構造について説明する。なお、以下の説明は断面22、32、42についても同様に当てはまるため説明を省略する。
断面12による平行度の計測が可能であれば、段差構造は必ずしもXY平面内にD字形状の面を呈している必要は無い。レンズ10の外周まで段差の下面が形成されているほうが加工は容易であるが、断面12の平面度が許容範囲内であり、かつ断面12の長さLと直交方向に測長可能なスペースがあるのであれば溝形状でも構わない。
断面12の平面度を小さくするための加工や平行度の計測に支障がでなければ、D字形状の面は必ずしもZ軸と直交しているXY平面でなくても良く、Z軸方向と交差する方向の面に形成されていても良い。また、D字形状の面の平面度は断面12の平面度より大きい値で構わない。さらに、断面の長さLは、平行度の計測に必要な長さがあれば、断面12の両端がレンズ10の外径面まで無くても構わない。
前述の各実施形態では断面12がレンズ10の厚さ方向であるZ軸方向に形成されている例のみを示したが、断面12は平行度の計測に際して許容範囲内の平面度を有する斜面であっても構わない。すなわち、Z軸方向に対して傾いた方向に形成されている斜めの平面であっても構わない。
また、前述の各実施形態のように断面12を形成しても、レンズ10の外径面14はレンズ10の全周にわたって形成されていることが好ましい。レンズ10の一端を完全に切り落として断面12を形成してしまうと、心出し作業時に接触部材の接触面がなくなってしまうからである。
仮にその他の手法にて心出し作業を行うことが可能であれば、断面12が完全に切り落とされている形状であっても構わない。このほうが平行度測定に必要な断面形成に要する加工コストを抑えることが可能となる。
レンズ10及びレンズ30の面の形状が、回転方向の位置合わせが重要となるような形状であれば本実施形態の適用が必要となる。光軸まわりに軸対称ではないレンズ同士を組み合わせて使用する場合ほど、各々のレンズの厚さ方向に平面を設けて回転方向の位置を精度良く調整することが必要となる。特に、前述の各実施形態のように、非球面かつ光軸まわりの断面形状が全て異なるような形状のレンズの場合に好適である。
光学素子ユニットとは、前述の各実施形態で示したように2つのレンズと2つの保持部材の組み合わせだけでなく、2枚以上のレンズで構成されたユニットや、1つの保持部材で2枚以上のレンズを保持することが可能なユニットのことを指すものとする。
なお、組み立て時においてレンズ10とレンズ30の間のZ軸方向の相対位置を調整する必要がある場合は、不図示のスペーサを挟むことによって予め調整しておく構成としても良い。さらに、各実施形態ではレンズ10、30が対向している場合のみを示したが、各々のレンズの間にその他のレンズが配置されている場合であって、かつレンズ10及びレンズ30の回転方向の相対位置を調整する場合にも適用可能である。
[物品の製造方法]
本発明の物品(半導体集積回路素子、液晶表示素子、CD−RW、光露光装置用のマスク等)の製造方法は、前述の描画装置を用いてSi基板やガラス等の基板上にパターンを露光する工程と、パターンを露光した基板を現像する工程とを有している。さらに、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含んでも良い。
10、30 レンズ(光学素子)
20、40 保持部材
12、22、32、42 断面(厚さ方向又は厚さ方向に対して傾いた方向にある平面)
14、24、34、44 外径面
100 光学素子ユニット
600 露光装置
603 レチクル(原版)
605 基板
620 投影光学系

Claims (11)

  1. 第1の光学素子及び第2の光学素子を有する光学素子ユニットであって、
    前記第1及び前記第2の光学素子には、前記第1及び前記第2の光学素子の厚さ方向又は厚さ方向に対して傾いた方向に平面を有する、段差が形成されていることを特徴とする光学素子ユニット。
  2. 前記平面の平面度は、前記第1の光学素子の平面と前記第2の光学素子の平面との平行度以下であることを特徴とする請求項1に記載の光学素子ユニット。
  3. 前記第1及び前記第2の光学素子の外径面は、全周にわたって形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の光学素子ユニット。
  4. 前記段差は前記第1及び前記第2の光学素子の厚さ方向と交差する方向に面を備え、前記面は、前記第1及び前記第2の光学素子の外周まであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光学素子ユニット。
  5. 前記第1及び第2の光学素子は、互いに対向していることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光学素子ユニット。
  6. 前記段差は前記第1及び前記第2の光学素子の厚さ方向と交差する方向に面を備え、前記面内における前記平面の長さは、前記第1の光学素子の直径及び前記第2の光学素子の直径の、各々1/4以上3/5以下であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光学素子ユニット。
  7. 第1の光学素子及び該第1の光学素子を保持する第1の保持部材と、第2の光学素子及び該第2の光学素子を保持する第2の保持部材とを有する光学素子ユニットであって、
    前記第1の光学素子と、前記第2の光学素子と、前記第1又は前記第2の保持部材のいずれか一方と、は、各々の厚さ方向又は厚さ方向に対して傾いた方向に平面を有する、段差が形成されていることを特徴とする光学素子ユニット。
  8. 1組の光学素子の回転方向における相対位置を調整する方法であって、
    前記1組の光学素子の各々の光学素子の厚さ方向又は厚さ方向に対して傾いた方向に形成されている平面を用いて、前記平面に関する角度情報を取得する工程と、
    前記角度情報を用いて回転方向の相対位置を調整する工程とを有することを特徴とする調整方法。
  9. 前記角度情報は、前記角度情報の基準となる参照面から前記平面までの距離を計測することで求めることを特徴とする請求項8に記載の調整方法。
  10. 原版のパターンを投影光学系を介して基板に照射する露光装置において、前記投影光学系が請求項1乃至7のいずれか1項に係る光学素子ユニットを有していることを特徴とする露光装置。
  11. 請求項10に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
    前記基板を現像する工程とを有することを特徴とする物品の製造方法。
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