Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP2015039593A - Ultrasonic diagnostic device and method of controlling the same - Google Patents

Ultrasonic diagnostic device and method of controlling the same Download PDF

Info

Publication number
JP2015039593A
JP2015039593A JP2013173373A JP2013173373A JP2015039593A JP 2015039593 A JP2015039593 A JP 2015039593A JP 2013173373 A JP2013173373 A JP 2013173373A JP 2013173373 A JP2013173373 A JP 2013173373A JP 2015039593 A JP2015039593 A JP 2015039593A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveform
probe
cable
diagnostic apparatus
ultrasonic diagnostic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013173373A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
博幸 ▲高▼向
博幸 ▲高▼向
Hiroyuki Takamukai
今川 健吾
Kengo Imagawa
健吾 今川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Aloka Medical Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Aloka Medical Ltd filed Critical Hitachi Aloka Medical Ltd
Priority to JP2013173373A priority Critical patent/JP2015039593A/en
Publication of JP2015039593A publication Critical patent/JP2015039593A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To compensate a frequency component which is attenuated by a probe provided with a probe cable.SOLUTION: An ultrasonic diagnostic device 100 includes: a probe 150 provided with a probe cable 110; a display part 130 which displays an ultrasonic image on the basis of an echo signal generated by the probe 150 when the probe 150 receives echo by the ultrasonic wave transmitted from the probe 150 to an inspection object portion; a reference waveform generation part 144 which generates the waveform for wave transmission to the inspection object portion; and a wave transmission waveform generation part 140 which generates a corrected waveform by correcting the waveform generated by the reference waveform generation part 144 in accordance with attenuation characteristics of the probe 150 provided with the probe cable 110, and is characterized so that the waveform corrected by the wave transmission waveform generation part 140 is transmitted to the probe cable 110 of the probe 150 and the probe 150 transmits the ultrasonic wave.

Description

本発明は超音波診断装置に関する。 The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus.

超音波診断装置は人体の色々な部位の検査に広く使用され、超音波診断装置により得られる部位の超音波画像は、病気の診断のためにたいへん重要な情報を提供する。病気の症状を早い時期に見つけ出すためには、超音波画像の画質の向上が欠かせない。超音波診断装置によって提供される超音波画像のさらなる高画質が望まれている。   Ultrasound diagnostic apparatuses are widely used for examining various parts of the human body, and ultrasonic images of the parts obtained by the ultrasonic diagnostic apparatus provide very important information for diagnosing diseases. In order to find out the symptoms of the disease early, it is essential to improve the quality of ultrasound images. There is a demand for higher image quality of ultrasonic images provided by an ultrasonic diagnostic apparatus.

超音波画像の画質を向上させるためには、探触子から計測対象部位に対して送信する超音波送信信号の周波数をできるだけ高くし、波長の短い超音波を使用することが望ましい。一方周波数の高い超音波は伝搬途中における減衰率が大きい。体内の深い位置にある部位の画像を得ようとすると高い周波数の超音波送信信号を使用した場合には、計測対象部位に到達するまでに超音波送信信号が大きく減衰し、さらに計測対象部位からのエコーが探触子に到達するまでに大きく減衰してしまう。このため計測対象部位から得られるエコーすなわち反射波の信号が非常に小さくなってしまう。超音波画像の画質を向上するために超音波送信信号の周波数を高くしたにも係らず、計測対象部位が深い場合には、得られる超音波画像の画質がかえって低下することになる。   In order to improve the image quality of the ultrasonic image, it is desirable to use as high a frequency as possible of the ultrasonic transmission signal transmitted from the probe to the measurement target site and to use an ultrasonic wave having a short wavelength. On the other hand, an ultrasonic wave having a high frequency has a large attenuation rate during propagation. When an ultrasonic transmission signal with a high frequency is used to obtain an image of a part located deep inside the body, the ultrasonic transmission signal is greatly attenuated before reaching the measurement target part, and further from the measurement target part. Is greatly attenuated until it reaches the probe. For this reason, the echo obtained from the measurement target part, that is, the signal of the reflected wave becomes very small. In spite of increasing the frequency of the ultrasonic transmission signal in order to improve the image quality of the ultrasonic image, the image quality of the obtained ultrasonic image is lowered when the measurement target part is deep.

一方計測対象部位が、乳腺や甲状腺のように体表近傍にある場合、超音波送信信号を高い周波数とすることにより画質を向上することができる。このように超音波診断装置では、撮影対象の部位の位置が、体の深い位置か体表近傍かによって使用する超音波の送信信号の周波数を広範囲に変えることが望ましい。超音波診断装置は、超音波送信信号として送信したい超音波波形を発生するための電気信号を送信波形生成部で生成し、生成された上記電気信号を探触子へ送信し、探触子で上記電気信号に基づいた波形の超音波送信信号を計測対象部位へ送信する。   On the other hand, when the measurement target site is in the vicinity of the body surface such as the mammary gland or the thyroid gland, the image quality can be improved by setting the ultrasonic transmission signal to a high frequency. As described above, in the ultrasonic diagnostic apparatus, it is desirable to change the frequency of the ultrasonic transmission signal to be used in a wide range depending on whether the position of the part to be imaged is a deep body position or the vicinity of the body surface. The ultrasonic diagnostic apparatus generates an electric signal for generating an ultrasonic waveform to be transmitted as an ultrasonic transmission signal by a transmission waveform generation unit, transmits the generated electric signal to the probe, and An ultrasonic transmission signal having a waveform based on the electrical signal is transmitted to the measurement target region.

上述したように計測対象に従って超音波送信信号の周波数を適切に選択することが望ましく、使用される超音波送信信号の周波数がより広範囲になる傾向にある。このため例えば特許文献1で、高い周波数で使用するための探触子が提案されている。   As described above, it is desirable to appropriately select the frequency of the ultrasonic transmission signal according to the measurement target, and the frequency of the ultrasonic transmission signal used tends to be wider. For this reason, for example, Patent Document 1 proposes a probe for use at a high frequency.

特開2008−118168号公報JP 2008-118168 A

超音波送信信号の周波数を広範囲に変化させても十分な画質を得るとの観点ではまだまだ完全とは言えない。さらに超音波画像の質向上が望まれている。従来から探触子の性能の改善等が色々提案されている。しかし探触子だけでなく超音波診断装置の装置全体からの性能の改善の検討が望まれる。   From the viewpoint of obtaining sufficient image quality even if the frequency of the ultrasonic transmission signal is changed over a wide range, it is still not perfect. Furthermore, it is desired to improve the quality of ultrasonic images. There have been various proposals to improve the performance of a probe. However, it is desired to study the improvement of performance not only from the probe but also from the whole ultrasonic diagnostic apparatus.

本発明の目的は、超音波画像の画質がより向上する、超音波診断装置を提供することである。   An object of the present invention is to provide an ultrasonic diagnostic apparatus in which the image quality of an ultrasonic image is further improved.

本発明の超音波診断装置は、探触子ケーブルを有する探触子と、前記探触子から検査対象部位に送波された超音波によるエコーを前記探触子が受けて、前記探触子が生成したエコー信号を処理する、受波整相部および信号処理部と、前記エコー信号に基づく超音波画像を表示する表示部と、前記検査対象部位に送波するための波形を生成する基準波形生成部と、前記探触子ケーブルを有する前記探触子の減衰特性に従って前記基準波形生成部により生成された波形を補正して補正した波形を生成する送波波形生成部と、を備え、前記送波波形生成部により補正された前記波形が前記探触子の前記探触子ケーブルに送られ、前記探触子が前記超音波を送信する、ことを特徴とする。   The ultrasonic diagnostic apparatus according to the present invention includes a probe having a probe cable, and the probe receives an echo by an ultrasonic wave transmitted from the probe to a site to be inspected, and the probe A wave receiving and phasing unit for processing the generated echo signal, a display unit for displaying an ultrasonic image based on the echo signal, and a reference for generating a waveform to be transmitted to the examination site A waveform generation unit, and a transmission waveform generation unit that generates a corrected waveform by correcting the waveform generated by the reference waveform generation unit according to the attenuation characteristics of the probe having the probe cable, The waveform corrected by the transmission waveform generation unit is sent to the probe cable of the probe, and the probe transmits the ultrasonic wave.

本発明によれば、超音波画像の画質がより向上した超音波診断装置を得ることができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the ultrasonic diagnosing device which the image quality of the ultrasonic image improved more can be obtained.

本発明の一実施例である超音波診断装置100の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of an ultrasonic diagnostic apparatus 100 that is an embodiment of the present invention. 探触子の構造を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the structure of a probe. 探触子ケーブルを備えた探触子が有する、波形の周波数成分に対する減衰特性を示すグラフである。It is a graph which shows the attenuation characteristic with respect to the frequency component of a waveform which the probe provided with the probe cable has. 送波波形生成部の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a transmission waveform production | generation part. 特性回路の具体例であるピーキング回路を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the peaking circuit which is a specific example of a characteristic circuit. ピーキング回路の特性を説明する特性図である。It is a characteristic view explaining the characteristic of a peaking circuit. 基準波形を示すグラフである。It is a graph which shows a reference waveform. 探触子による波形の歪を説明するグラフである。It is a graph explaining the distortion of the waveform by a probe. 特性回路による補正の結果を説明するグラフである。It is a graph explaining the result of correction | amendment by a characteristic circuit. 図9に示す補正された波形を探触子ケーブルに加えた場合の、探触子から出力される超音波の波形を説明するグラフである。10 is a graph for explaining a waveform of an ultrasonic wave output from the probe when the corrected waveform shown in FIG. 9 is applied to the probe cable. 送波波形生成部の一実施例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows one Example of a transmission waveform production | generation part. 送波回路の出力端の出力波形を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the output waveform of the output terminal of a transmission circuit. 波形比較演算部の動作を説明するブロック図である。It is a block diagram explaining operation | movement of a waveform comparison calculating part. 図13に記載のブロック図の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the operation | movement of the block diagram described in FIG. メモリに記憶されているデータベースを説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the database memorize | stored in memory. 基準波形の設定動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the setting operation | movement of a reference waveform. 選択回路の制御データを求めるフローチャートである。It is a flowchart which calculates | requires the control data of a selection circuit. 送波波形生成部が補正された基準波形を生成する代案を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the alternative which produces | generates the reference | standard waveform by which the transmission waveform production | generation part was correct | amended. 図18に記載の代案で使用されるデータベースを説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the database used with the alternative of FIG.

本発明の実施例を説明するための図面において、略同一の構成あるいは略同一の処理を行うステップに対して同一符号を付す。同一符号の構成やステップに関して繰り返し説明を省略する場合がある。   In the drawings for explaining the embodiments of the present invention, the same reference numerals are assigned to the steps of performing substantially the same configuration or substantially the same processing. The description of the same reference numerals and steps may not be repeated.

〔1.超音波診断装置100の全体構成〕
図1は、本発明の一実施例である超音波診断装置100の構成を示すブロック図である。メモリ250には検査対象である部位や送信する超音波の周波数やサンプリング点数や遅延量等に応じた様々な波形データがデータベースとして格納されている。検査対象に向けて送信する超音波送波信号を生成するには、まず使用探触子、送信周波数等の送波条件に応じてデータベースを検索し、最適なビーム波形を決定する。メモリ250から検索された超音波波形のデータおよび遅延量が送波整相部144に送られる。
[1. Overall configuration of ultrasonic diagnostic apparatus 100]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an ultrasonic diagnostic apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. The memory 250 stores various waveform data as a database according to the region to be examined, the frequency of ultrasonic waves to be transmitted, the number of sampling points, the amount of delay, and the like. In order to generate an ultrasonic transmission signal to be transmitted toward an inspection object, first, a database is searched according to transmission conditions such as a probe to be used and a transmission frequency, and an optimum beam waveform is determined. The ultrasonic waveform data retrieved from the memory 250 and the delay amount are sent to the transmission phasing unit 144.

送波整相部144では、メモリ250より読み出した波形データから超音波波形を表す基準波形のデジタル信号を生成し、DAコンバータ142によってデジタル信号からアナログ信号に変換する。DAコンバータ142によりアナログ信号に変換された信号が、送波波形生成部140に送られ、さらに超音波診断装置100の超音波診断装置本体102と探触子150とを繋ぐ探触子ケーブル110を通して探触子探触子150に送られ、探触子150より超音波信号が検査対象部位に向けて送信される。送波整相部144は検査対象部位に応じて該検査対象部位に向けて送信される基準波形を生成する基準波形生成部として動作する。   The transmission wave phasing unit 144 generates a digital signal having a reference waveform representing an ultrasonic waveform from the waveform data read from the memory 250, and converts the digital signal into an analog signal by the DA converter 142. The signal converted into the analog signal by the DA converter 142 is sent to the transmission waveform generation unit 140 and further passed through the probe cable 110 that connects the ultrasonic diagnostic apparatus main body 102 of the ultrasonic diagnostic apparatus 100 and the probe 150. The probe 150 is sent to the probe 150, and an ultrasonic signal is transmitted from the probe 150 toward the inspection target region. The wave transmission phasing unit 144 operates as a reference waveform generation unit that generates a reference waveform transmitted toward the examination target site according to the examination target site.

検査対象部位に向けて送信された超音波信号に基づくエコーを探触子150が受信し、超音波受信信号を発生する。超音波受信信号は探触子ケーブル110を介して送受分離回路116に送られ、送受分離回路116を通って送受分離回路116からADコンバータ122に送られデジタル信号に変換される。前記デジタル信号は、受波整相部124で整相処理され、信号処理部126で信号処理され、信号処理された信号はDSC部128を経て、その後表示部130で超音波画像が表示される。   The probe 150 receives an echo based on the ultrasonic signal transmitted toward the inspection target site, and generates an ultrasonic reception signal. The ultrasonic reception signal is sent to the transmission / reception separation circuit 116 via the probe cable 110, sent to the AD converter 122 from the transmission / reception separation circuit 116 through the transmission / reception separation circuit 116, and converted into a digital signal. The digital signal is subjected to phasing processing by the wave receiving phasing unit 124, signal processing is performed by the signal processing unit 126, and the signal-processed signal passes through the DSC unit 128, and then an ultrasonic image is displayed on the display unit 130. .

なお、上記各部の制御は、操作者による操作に従って制御部300によって行われる。また以下で説明する各フローチャートの実行や、以下で説明するメモリ250に記憶されているデータベースの検索や、送波波形生成部140が行う色々な演算処理は、制御部300によって行われる。もちろんこれは一実施例であり、例えば送波整相部144や送波波形生成部140がメモリ250に記憶されているデータベースを検索する機能を備えていても良い。また送波波形生成部140が色々な演算処理を行う機能を備えていても良い。しかし、このような処理を制御部300において集中的に処理することにより、各アップリケーションプログラムの作成や管理が容易となり、超音波診断装置100の信頼性の向上につながる。   Note that the control of each unit is performed by the control unit 300 in accordance with an operation by the operator. The control unit 300 performs each flowchart described below, searches a database stored in the memory 250 described below, and various calculation processes performed by the transmission waveform generation unit 140. Of course, this is only an example. For example, the transmission phasing unit 144 and the transmission waveform generation unit 140 may have a function of searching a database stored in the memory 250. Further, the transmission waveform generation unit 140 may have a function of performing various arithmetic processes. However, by intensively processing such processing in the control unit 300, it becomes easy to create and manage each application program, leading to improvement in the reliability of the ultrasonic diagnostic apparatus 100.

〔2.探触子150の構造〕
図2は、探触子150の一例を示す概念図である。探触子ケーブル110から送られてきたアナログ電気信号を圧電材156が機械振動に変換し超音波が発生する。発生した超音波は、音響整合層154を介して音響レンズ152から送信される。音響レンズ152は、探触子150から出力される超音波が広がってしまうのを防止し、収束させる働きをする。これにより分解能が向上する。
[2. Structure of probe 150]
FIG. 2 is a conceptual diagram showing an example of the probe 150. The piezoelectric material 156 converts the analog electrical signal sent from the probe cable 110 into mechanical vibration, and ultrasonic waves are generated. The generated ultrasonic wave is transmitted from the acoustic lens 152 via the acoustic matching layer 154. The acoustic lens 152 functions to prevent the ultrasonic wave output from the probe 150 from spreading and converge. This improves the resolution.

超音波のエコーは音響レンズ152や音響整合層154を介して圧電材156を振動させ、圧電材156は機械振動を電気信号である超音波受信信号を発生する。   The ultrasonic echo vibrates the piezoelectric material 156 through the acoustic lens 152 and the acoustic matching layer 154, and the piezoelectric material 156 generates an ultrasonic reception signal that is an electrical signal of mechanical vibration.

〔3.探触子ケーブル110および探触子150の特性〕
探触子150は検査部位等に対応して、検査精度が向上するように色々工夫された構造を備えている。しかし基本的な特性として送波波形生成部140から探触子150に送られてくるアナログ信号の周波数が高くなるにつれて、送波波形生成部140が発生するアナログ電気信号に対する探触子150から出力される超音波波形の歪が大きくなる。すなわちアナログ信号の周波数が高くなるにつれて減衰量が大きくなる傾向がある。
[3. Characteristics of probe cable 110 and probe 150]
The probe 150 has a structure that is devised in various ways so as to improve the inspection accuracy corresponding to the inspection region. However, as a basic characteristic, as the frequency of the analog signal transmitted from the transmission waveform generation unit 140 to the probe 150 increases, the analog electric signal generated by the transmission waveform generation unit 140 is output from the probe 150. The distortion of the ultrasonic waveform is increased. That is, the attenuation tends to increase as the frequency of the analog signal increases.

図3は、各周波数の信号における探触子レンズ、ケーブルを通す前後の減衰量の一例を示した図である。点線で示したグラフAの周波数特性の信号を、探触子150の音響レンズ152や探触子ケーブル110を通した後の信号の周波数特性の一例を実線であるグラフBで示す。送波波形生成部140が発生したアナログ電気信号は、例えばグラフAに記載の如く、多くの周波数成分を有している。グラフAの各周波数成分が一様に減衰するのではなく、周波数成分が高くなるにしたがって減衰量が増大する。減衰量は一般に次の数式(数1)で表すことが出来る。
減衰量[dB] = 減衰係数[dB/cm・MHz] × 周波数[MHz] × 通過距離[cm] ・・・(数1)
FIG. 3 is a diagram showing an example of the attenuation amount before and after passing through the probe lens and the cable in the signal of each frequency. An example of the frequency characteristic of the signal after passing through the acoustic lens 152 of the probe 150 and the probe cable 110 is shown by a graph B which is a solid line. The analog electrical signal generated by the transmission waveform generation unit 140 has many frequency components as described in the graph A, for example. Each frequency component of the graph A is not attenuated uniformly, but the amount of attenuation increases as the frequency component increases. The attenuation amount can be generally expressed by the following formula (Equation 1).
Attenuation [dB] = Attenuation coefficient [dB / cm · MHz] × Frequency [MHz] × Passing distance [cm] (Equation 1)

(数1)に示すように周波数が高くなるほど減衰量が大きくなる。例えばグラフAで示す周波数成分の状態が、送波波形生成部140が生成したアナログ電気信号の周波数成分であると仮定し、グラフBが、探触子150が出力する超音波信号の周波数成分であると仮定する。例えば周波数成分が5.0MHz成分と、周波数成分が6.5MHz成分とに着目して、グラフAに対するグラフBでの減衰の状態を見る。6.5MHz成分の減衰量に対して6.5MHz成分の減衰の方が非常に大きく、6.5MHzの周波数成分では、約20dB減衰していることが分かる。   As shown in (Expression 1), the amount of attenuation increases as the frequency increases. For example, assuming that the state of the frequency component shown in the graph A is the frequency component of the analog electrical signal generated by the transmission waveform generation unit 140, the graph B is the frequency component of the ultrasonic signal output by the probe 150. Assume that there is. For example, paying attention to the frequency component being a 5.0 MHz component and the frequency component being a 6.5 MHz component, the state of attenuation in the graph B with respect to the graph A is seen. It can be seen that the attenuation of the 6.5 MHz component is much larger than the attenuation amount of the 6.5 MHz component, and the frequency component of 6.5 MHz is attenuated by about 20 dB.

このように探触子150出力される送信信号の周波数特性は所望の周波数特性と比較して高周波成分が少なくなることが分かる。検査対象部位にとって最適な周波数特性を持つ送信信号を送波波形生成部140から探触子ケーブル110を介して探触子150に送るとしても、探触子150が生成して検査対象部位に向けて送信する超音波波形の周波数成分は、最適な周波数特性から離れたものとなる。超音波診断装置100の超音波画像の画質を低下させる要因となっている。   Thus, it can be seen that the frequency characteristic of the transmission signal output from the probe 150 has less high-frequency components than the desired frequency characteristic. Even if a transmission signal having a frequency characteristic optimal for the inspection target part is sent from the transmission waveform generation unit 140 to the probe 150 via the probe cable 110, the probe 150 generates and directs the transmission signal toward the inspection target part. The frequency component of the ultrasonic waveform transmitted in this manner is far from the optimum frequency characteristic. This is a factor that degrades the image quality of the ultrasonic image of the ultrasonic diagnostic apparatus 100.

〔4.超音波診断装置100の周波数特性の改善〕
探触子ケーブル110や探触子150の周波数特性を改善することにより、上述した課題に対応することが研究されていると思われるが、それだけでは、十分な成果が得られない。そこで本実施例では、探触子ケーブル110や探触子150の特性を考慮した送信信号を送波波形生成部140で生成する。この生成回路の一例を図4に示す。図4は、本発明の一実施例である送波波形生成部140の1チャンネルに対する構成を説明するブロック図である。送波波形生成部140は1チャンネルだけでなく複数チャンネル有していても良く、その場合には、図4に示す1チャンネルを並列に複数個設けることで対応することが可能となる。
[4. Improvement of frequency characteristics of ultrasonic diagnostic apparatus 100]
It seems that research has been conducted to cope with the above-mentioned problems by improving the frequency characteristics of the probe cable 110 and the probe 150, but sufficient results cannot be obtained by itself. Therefore, in this embodiment, the transmission waveform generation unit 140 generates a transmission signal in consideration of the characteristics of the probe cable 110 and the probe 150. An example of this generation circuit is shown in FIG. FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration for one channel of the transmission waveform generation unit 140 according to an embodiment of the present invention. The transmission waveform generation unit 140 may have not only one channel but also a plurality of channels. In this case, it is possible to cope with this by providing a plurality of one channel shown in FIG. 4 in parallel.

DAコンバータ142によってアナログ変換された送信信号は選択回路220により制御部300によって選択された特性補正回路200を構成する特性回路に分岐する。1つの特性回路だけでなく、場合によっては複数の特性回路に分岐し、合成回路230で合成されて増幅回路240に送るようにしても良い。特性補正回路200は、各々異なる周波数特性をもった複数の特性回路202や204や206を有している。送波波形生成部140から適切な特性の送信信号が出力されるように、制御部300は選択回路220を制御して、複数の特性回路202や204や206の内、1つまたは複数個を選択し、選択された特性回路に送信信号を供給あるいは分岐して複数の特性回路に供給する。各特性回路の出力は合成回路230で合成され、合成された信号が増幅回路240で増幅されて、探触子ケーブル110へ送出される。   The transmission signal analog-converted by the DA converter 142 branches to a characteristic circuit constituting the characteristic correction circuit 200 selected by the control unit 300 by the selection circuit 220. Not only one characteristic circuit but also a plurality of characteristic circuits may be branched depending on circumstances, and synthesized by the synthesis circuit 230 and sent to the amplifier circuit 240. The characteristic correction circuit 200 includes a plurality of characteristic circuits 202, 204, and 206 each having different frequency characteristics. The control unit 300 controls the selection circuit 220 to output one or more of the plurality of characteristic circuits 202, 204, and 206 so that a transmission signal having an appropriate characteristic is output from the transmission waveform generation unit 140. The transmission signal is selected or supplied to the selected characteristic circuit or supplied to a plurality of characteristic circuits. The output of each characteristic circuit is synthesized by the synthesis circuit 230, and the synthesized signal is amplified by the amplifier circuit 240 and sent to the probe cable 110.

このようにして送波波形生成部140で送信信号が補正されることにより、最適状態に対して高周波成分の波高値が必要以上に大きく補正された送信信号を探触子ケーブル110に供給される。このように、高周波成分の波高値が必要以上に大きく補正された送信信号を探触子ケーブル110に供給することにより、探触子ケーブル110や探触子150で高周波成分が大きく減衰しても、探触子150から最適な特性の超音波信号が出力され、検査対象の部位に送信される。このようにすることにより、超音波診断装置100が生成する超音波画像の画質を向上することができる。   In this way, the transmission signal is corrected by the transmission waveform generation unit 140, whereby a transmission signal in which the peak value of the high frequency component is corrected to be larger than necessary with respect to the optimum state is supplied to the probe cable 110. . Thus, even if the high-frequency component is attenuated greatly by the probe cable 110 or the probe 150 by supplying the probe signal 110 with the transmission signal in which the peak value of the high-frequency component is corrected more than necessary. Then, an ultrasonic signal having an optimum characteristic is output from the probe 150 and transmitted to a region to be inspected. By doing in this way, the image quality of the ultrasonic image which the ultrasonic diagnostic apparatus 100 produces | generates can be improved.

探触子ケーブル110を備えた探触子150には、色々な種類があり、検査対象の部位に応じて選択される。探触子ケーブル110を備えた探触子150は、その種類に応じて、また製品に応じて色々特性が異なっている。また検査対象部位によって使用される超音波の周波数が異なる。乳腺や甲状腺のように体面に近い位置に存在する部位に対しては、高い周波数が使用される。仮に同じ探触子ケーブル110を備えた同じ探触子150であっても、使用する周波数が異なると、減衰量が異なる。従って制御部300は、検査対象部位や探触子ケーブル110を備えた同じ探触子150の種類等に応じて選択回路220を制御し、検査対象部位や探触子ケーブル110を備えた同じ探触子150の種類等に応じた補正を行う。   There are various types of the probe 150 including the probe cable 110, and the probe 150 is selected according to the region to be inspected. The probe 150 including the probe cable 110 has various characteristics depending on the type and the product. Moreover, the frequency of the ultrasonic wave used differs with a region to be examined. A high frequency is used for a portion that is close to the body surface, such as a mammary gland and a thyroid gland. Even if the same probe 150 is provided with the same probe cable 110, the amount of attenuation differs if the frequency used is different. Therefore, the control unit 300 controls the selection circuit 220 according to the type of the inspection target region and the same probe 150 including the probe cable 110, and the like, and the same probe including the inspection target region and the probe cable 110 is controlled. Correction according to the type of the touch element 150 is performed.

〔4.1 特性補正回路200の説明〕
特性補正回路200が有する各特性回路202または204または206は、例えばそれぞれ異なる特性のピーキング回路で作られる。特性回路を代表して特性回路202を例としてピーキング回路を使用して特性回路202を構成した場合の一実施例を図5に記載する。入力端子252と出力端子254との間にコイル256とコンデンサ258を直列に接続し、更に抵抗262と抵抗264との分圧点を出力端子254と接続する。このピーキング回路で図6に示す特性を得るように図5に示す各回路素子の値が選ばれている。例えばコイル256とコンデンサ258との共振周波数が6.5MHzとなるようにコイル256やコンデンサ258の値を選ぶことにより、6.5MHzでの減衰量をゼロとすることができる。すなわち6.5MHzでは、コイル256とコンデンサ258との直列回路のインピーダンスが理論的にはゼロとなり、入力端子252と出力端子254とが短絡されたのと同様の状態となる。周波数が非常に低い状態や逆に非常に高い状態では、コイル256とコンデンサ258との直列回路のインピーダンスが無限大に近い状態となり、減衰量は抵抗262と抵抗264との分圧比で定まる。共振周波数より低い周波数の領域や高い周波数の領域はコイル256やコンデンサ258の関係で決まるが、特に共振周波数より低い周波数の領域ではコンデンサ258のインピーダンスが大きくなるので、コンデンサ258の容量に大きく依存する特性となる。一方共振周波数より高い周波数の領域では、コイル256のインピーダンスが大きくなるので、コイル256の値に大きく依存して特性が定まる。このようにして、コイル256やコンデンサ258、さらに262や抵抗264の値を選択することにより、希望の特性を設定でき、図6に記載の特性を得ることができる。
[4.1 Description of Characteristic Correction Circuit 200]
Each characteristic circuit 202, 204, or 206 included in the characteristic correction circuit 200 is made of, for example, a peaking circuit having a different characteristic. FIG. 5 shows an embodiment in which the characteristic circuit 202 is configured by using a peaking circuit by taking the characteristic circuit 202 as an example of the characteristic circuit. A coil 256 and a capacitor 258 are connected in series between the input terminal 252 and the output terminal 254, and a voltage dividing point between the resistor 262 and the resistor 264 is connected to the output terminal 254. The values of the circuit elements shown in FIG. 5 are selected so as to obtain the characteristics shown in FIG. 6 with this peaking circuit. For example, by selecting the values of the coil 256 and the capacitor 258 so that the resonance frequency of the coil 256 and the capacitor 258 becomes 6.5 MHz, the attenuation at 6.5 MHz can be made zero. That is, at 6.5 MHz, the impedance of the series circuit of the coil 256 and the capacitor 258 is theoretically zero, and the state is the same as when the input terminal 252 and the output terminal 254 are short-circuited. When the frequency is very low or very high, the impedance of the series circuit of the coil 256 and the capacitor 258 is almost infinite, and the attenuation is determined by the voltage division ratio of the resistor 262 and the resistor 264. The frequency range lower than the resonance frequency and the higher frequency range are determined by the relationship between the coil 256 and the capacitor 258. In particular, the impedance of the capacitor 258 increases in the frequency range lower than the resonance frequency, and therefore greatly depends on the capacitance of the capacitor 258. It becomes a characteristic. On the other hand, in the frequency region higher than the resonance frequency, the impedance of the coil 256 becomes large, so that the characteristic is determined largely depending on the value of the coil 256. In this way, by selecting the values of the coil 256, the capacitor 258, the 262, and the resistor 264, desired characteristics can be set, and the characteristics shown in FIG. 6 can be obtained.

〔4.2 特性補正回路200の補正動作の説明〕
上述したように探触子150から被検体10の検査対象部位へ送信する超音波の好ましい波形は検査対象部位等に基づいて、メモリ250が有するデータベースから読み出され、好ましい波形のアナログ信号170がDAコンバータ142から出力される。この好ましい波形のアナログ信号170の一例を図7に記載する。この例では、中心周波数5.0MHzで6.5MHz付近までの周波数帯域幅を持つ波形を表していて、中心周波数5.0MHzに対して6.5MHz付近では少し振幅が小さくなっている。この好ましい波形のアナログ信号170を、特性補正回路200を介さないで直接増幅回路240から探触子ケーブル110に出力した場合に、探触子ケーブル110や探触子150は、図3で説明の特性を備えており、図8に記載のグラフ162で示す波形の超音波が探触子150から出力される。
[4.2 Explanation of Correction Operation of Characteristic Correction Circuit 200]
As described above, a preferable waveform of the ultrasonic wave transmitted from the probe 150 to the inspection target region of the subject 10 is read from the database of the memory 250 based on the inspection target region and the like, and an analog signal 170 having a preferable waveform is obtained. Output from the DA converter 142. An example of this preferred waveform analog signal 170 is shown in FIG. In this example, a waveform having a frequency bandwidth up to around 6.5 MHz at a center frequency of 5.0 MHz is shown, and the amplitude is slightly smaller in the vicinity of 6.5 MHz with respect to the center frequency of 5.0 MHz. When the analog signal 170 having a preferable waveform is output directly from the amplifier circuit 240 to the probe cable 110 without passing through the characteristic correction circuit 200, the probe cable 110 and the probe 150 are described with reference to FIG. The ultrasonic wave having the characteristic and having the waveform shown by the graph 162 in FIG. 8 is output from the probe 150.

すなわち探触子ケーブル110や探触子150は、図3で説明の如く、探触子レンズやケーブルを通過することにより、6.5MHzの帯域は5.0MHzに対して約20dB減衰する。このため図8において、探触子ケーブル110に送られた好ましい波形のアナログ信号170はグラフ162で示す波形となる。この結果、好ましい波形のアナログ信号170に比べ6.5MHz付近の高周波成分が減衰した特性になり、好ましい波形のアナログ信号170の周波数特性と大きく異なる特性になる。   That is, as described with reference to FIG. 3, the probe cable 110 and the probe 150 pass through the probe lens and the cable, and the 6.5 MHz band is attenuated by about 20 dB with respect to 5.0 MHz. Therefore, in FIG. 8, the analog signal 170 having a preferable waveform sent to the probe cable 110 has a waveform shown by a graph 162. As a result, the high-frequency component near 6.5 MHz is attenuated as compared with the analog signal 170 having a preferable waveform, which is significantly different from the frequency characteristic of the analog signal 170 having a preferable waveform.

図4に記載の実施例では、好ましい波形のアナログ信号170を図5に記載の特性回路で修正することにより、探触子150から好ましい波形の超音波を出力することができる。図4に記載の回路おいて、図6に示す特性を持つ特性回路202に選択回路220を介して好ましい波形のアナログ信号170が入力されると、増幅回路240から図9に実線で記載のグラフで示す周波数成分からなる波形の信号172が出力される。実線で示すグラフ172は、5.0MHzの振幅より6.5MHzの振幅が大きくなっている。   In the embodiment shown in FIG. 4, an ultrasonic signal having a preferable waveform can be output from the probe 150 by correcting the analog signal 170 having a preferable waveform with the characteristic circuit shown in FIG. 5. In the circuit shown in FIG. 4, when an analog signal 170 having a preferable waveform is input to the characteristic circuit 202 having the characteristics shown in FIG. 6 via the selection circuit 220, the graph shown by the solid line in FIG. A signal 172 having a waveform composed of frequency components indicated by In the graph 172 indicated by the solid line, the amplitude of 6.5 MHz is larger than the amplitude of 5.0 MHz.

図5に示す特性回路202が持つ図6に示す周波数特性は6.5MHzをピーク周波数として、5MHz付近が10dB程度減衰させることを特徴とする。この特性は、図3で説明した如く、信号が探触子ケーブル110や音響レンズ152を通過することにより減衰する周波数特性と、対応するように設定されている。このため図6に示す周波数特性を持つ特性回路202の入力端子252に希望する周波数特性の信号を入力し、特性回路202により、探触子ケーブル110や音響レンズ152を通過することにより受ける各周波数成分の減衰を事前に補う修正を行う。この結果探触子150から出力される超音波信号の出力特性は、図10に記載の実線で示すグラフ162の特性となる。   The frequency characteristic shown in FIG. 6 possessed by the characteristic circuit 202 shown in FIG. 5 is characterized in that 6.5 MHz is a peak frequency and the vicinity of 5 MHz is attenuated by about 10 dB. As described with reference to FIG. 3, this characteristic is set so as to correspond to the frequency characteristic in which the signal is attenuated by passing through the probe cable 110 and the acoustic lens 152. Therefore, a signal having a desired frequency characteristic is input to the input terminal 252 of the characteristic circuit 202 having the frequency characteristic shown in FIG. 6, and each frequency received by the characteristic circuit 202 by passing through the probe cable 110 and the acoustic lens 152. Make corrections to compensate for component attenuation in advance. As a result, the output characteristic of the ultrasonic signal output from the probe 150 is the characteristic of the graph 162 indicated by the solid line in FIG.

図10で実線のグラフ162により示される特性は、図7の好ましい波形のアナログ信号170で示す特性にたいへん近い特性であり、検査精度の向上につながる。このように検査精度の向上に大きく貢献する検査は、特に体面近傍の検査である。検査の部位としては甲状腺や乳腺である。なお、ここで6.5MHz周波数が20dB減衰するのに対して、図6に記載のように特性回路202による6.5MHz周波数の修正量を10dBとしたのは、5.0MHz周波数に対する6.5MHz周波数の修正量が20dB程度となるように回路素子の値を設定すると、ピーキング回路で構成する特性回路202が発振を起こす恐れがあるためである。   The characteristic indicated by the solid line graph 162 in FIG. 10 is very close to the characteristic indicated by the analog signal 170 having a preferable waveform in FIG. 7, which leads to an improvement in inspection accuracy. In this way, the inspection that greatly contributes to the improvement of the inspection accuracy is particularly an inspection near the body surface. The examination site is the thyroid gland and mammary gland. Here, while the 6.5 MHz frequency is attenuated by 20 dB, the correction amount of the 6.5 MHz frequency by the characteristic circuit 202 is 10 dB as shown in FIG. This is because if the value of the circuit element is set such that the frequency correction amount is about 20 dB, the characteristic circuit 202 configured by the peaking circuit may oscillate.

実際には正極性から負極性まで振れる波形からなる信号が送波波形生成部140に入力されるので、図4の回路の入力側に送波回路210が設けられている。送波回路210が設けられた送波波形生成部140を図11に示す。送波回路210は、正極電源に接続されたPMOSFETと負極電源に接続されたNMOSFETからなり、DAコンバータ142から負極性の信号が入力されると、PMOSFETが導通状態となり、接続点Aは正極電源に接続される。一方DAコンバータ142から正極性の信号が入力されると、NMOSFETが導通状態となり、接続点Aは負極電源に接続される。従って双極性を備える1パルスで送波回路210が駆動されたとすると、PMOSFETとNMOSFETとの接続点Aには、理想的には、図12に記載の波形が発生する。   In practice, since a signal having a waveform that swings from positive polarity to negative polarity is input to the transmission waveform generation unit 140, a transmission circuit 210 is provided on the input side of the circuit of FIG. A transmission waveform generation unit 140 provided with the transmission circuit 210 is shown in FIG. The transmission circuit 210 includes a PMOSFET connected to a positive power source and an NMOSFET connected to a negative power source. When a negative signal is input from the DA converter 142, the PMOSFET becomes conductive, and the connection point A is a positive power source. Connected to. On the other hand, when a positive signal is input from the DA converter 142, the NMOSFET becomes conductive, and the connection point A is connected to the negative power source. Therefore, if the transmission circuit 210 is driven with one pulse having bipolar polarity, the waveform shown in FIG. 12 is ideally generated at the connection point A between the PMOSFET and the NMOSFET.

しかし、実際には、接続点Aには負荷が接続されているため、波形が劣化する。なお、図11に記載したそれぞれのMOSFETのゲート・ソース間の回路は概念を説明するための説明図であり、具体的な回路は省略している。   However, since a load is actually connected to the connection point A, the waveform deteriorates. In addition, the circuit between the gate and source of each MOSFET described in FIG. 11 is an explanatory diagram for explaining the concept, and a specific circuit is omitted.

〔4.3 他の実施例の説明〕
上述したように探触子ケーブル110や探触子150が有する特性を校正する他の実施例を図13に示す。本実施例は、探触子ケーブル110や探触子150が有する特性を超音波診断装置100の本体側で検知して校正する機能を有している。説明を簡単にするために本実施例では、送波波形生成部140の送波を1チャンネルとしている。1チャンネルだけでなくさらにチャンネルを増やすことが必要な場合には、同様の回路を必要に応じで複数個設けることにより、複数チャンネルに増やすことができる。
[4.3 Description of Other Examples]
FIG. 13 shows another embodiment for calibrating the characteristics of the probe cable 110 and the probe 150 as described above. This embodiment has a function of detecting and calibrating the characteristics of the probe cable 110 and the probe 150 on the main body side of the ultrasonic diagnostic apparatus 100. In order to simplify the explanation, in this embodiment, the transmission waveform generation unit 140 transmits one channel. When it is necessary to increase the number of channels as well as one, it is possible to increase the number of channels by providing a plurality of similar circuits as necessary.

本実施例では、実際の超音波を検査対象部位に向けて送信する前に、探触子ケーブル110や探触子150の特性をキャリブレーションするためのキャリブレーションモードを実行する。キャリブレーションモードでは、送波整相部144が基準波形を生成して、探触子ケーブル110の周波数特性や探触子150の周波数特性を検知するために、そのアナログ信号を探触子ケーブル110に送信する。この基準波形は、この後行う検査の対象部位あるいは検査に使用する探触子150に対応して定められる。例えば検査対象部位あるいは探触子150に基づいてメモリ250に設けられているデータベースを検索することにより求めることができる。この基準波形は、これから検査しようとする部位に対応しているあるいは検査に使用する探触子150に適合した超音波の送信波に対応した周波数特性を有している。   In the present embodiment, a calibration mode for calibrating the characteristics of the probe cable 110 and the probe 150 is executed before transmitting the actual ultrasonic wave toward the inspection target part. In the calibration mode, the transmission phasing unit 144 generates a reference waveform and detects the frequency characteristic of the probe cable 110 and the frequency characteristic of the probe 150 in order to detect the analog signal of the probe cable 110. Send to. This reference waveform is determined in accordance with the target site for the subsequent inspection or the probe 150 used for the inspection. For example, it can be obtained by searching a database provided in the memory 250 based on the inspection target part or the probe 150. The reference waveform has a frequency characteristic corresponding to a transmission wave of an ultrasonic wave corresponding to a part to be inspected or adapted to the probe 150 used for the inspection.

標準波形生成部として動作する送波整相部144が発生した基準波形がDAコンバータ142でアナログ信号に変換され、探触子ケーブル110へ送られる。キャリブレーションの処理を行うキャリブレーションモードでは、特性補正回路200は上記変換されたアナログ信号に対して補正を加えないでそのまま、あるいは単に増幅した状態で探触子ケーブル110に送信する。このために特性補正回路200は、無補正回路208を備えている。キャリブレーションモードでは、制御部300は、補正が加えられない無補正回路208を選択し、アナログ信号に変換された基準波形が、無補正回路208を経由して送信用の増幅回路240で増幅され、超音波診断装置100の本体から探触子ケーブル110へ出力される。   The reference waveform generated by the transmission phasing unit 144 operating as the standard waveform generation unit is converted to an analog signal by the DA converter 142 and sent to the probe cable 110. In the calibration mode in which the calibration process is performed, the characteristic correction circuit 200 transmits the converted analog signal to the probe cable 110 as it is without being corrected or simply amplified. For this purpose, the characteristic correction circuit 200 includes a non-correction circuit 208. In the calibration mode, the control unit 300 selects the uncorrected circuit 208 that is not corrected, and the reference waveform converted into the analog signal is amplified by the transmission amplifier circuit 240 via the uncorrected circuit 208. The signal is output from the main body of the ultrasonic diagnostic apparatus 100 to the probe cable 110.

アナログ信号に変換された基準波形は、探触子ケーブル110が有する検査時に使用されるケーブル112を通って探触子150に送られる。探触子150の内部にはキャリブレーションモードでのみ導通するスイッチ312があり、超音波探触子の音響レンズ152で反射し、探触子ケーブル110のケーブル114を通過後の減衰した送波信号を超音波診断装置100の本体にフィードバックする。   The reference waveform converted into the analog signal is sent to the probe 150 through the cable 112 used at the time of inspection of the probe cable 110. Inside the probe 150 is a switch 312 that is conductive only in the calibration mode, reflected by the acoustic lens 152 of the ultrasonic probe, and attenuated transmitted signal after passing through the cable 114 of the probe cable 110. Is fed back to the main body of the ultrasonic diagnostic apparatus 100.

スイッチ312を介してフィードバックされた信号は減衰器324を通りLNA部330に入力される。キャリブレーションモードでは、スイッチ332は減衰器324側に接続されている。このため減衰器324の出力がLNA部330を通り、DAコンバータ336に入力される。DAコンバータ336でデジタル信号に変換されて、内部に波形メモリ352を備える波形比較演算部350に格納される。   The signal fed back via the switch 312 passes through the attenuator 324 and is input to the LNA unit 330. In the calibration mode, the switch 332 is connected to the attenuator 324 side. Therefore, the output of the attenuator 324 passes through the LNA unit 330 and is input to the DA converter 336. The signal is converted into a digital signal by the DA converter 336 and stored in the waveform comparison calculation unit 350 including the waveform memory 352 therein.

波形比較演算部350には、送波整相部144が発生したデジタル信号で表される基準波形が入力される。入力された基準波形と波形メモリ352に格納された波形とが比較される。この比較結果により、基準波形のアナログ信号が探触子ケーブル110のケーブル112を通ることにより、どの周波数成分が基準波形に対してどの程度減衰するかを、波形比較演算部350は演算して求めることができる。探触子150の出力の送信信号が所望の送信信号と近くなるようにするには、特性回路202から特性回路206の内のどの特性回路を選択したらよいかすなわち選択回路220の制御内容を、演算で求めることができる。演算により求められた選択回路220の制御内容が波形比較演算部350から制御部300に送られ、検査時の制御に使用される。   A reference waveform represented by a digital signal generated by the transmission phasing unit 144 is input to the waveform comparison calculation unit 350. The input reference waveform and the waveform stored in the waveform memory 352 are compared. Based on the comparison result, the waveform comparison calculation unit 350 calculates and determines which frequency component is attenuated with respect to the reference waveform when the analog signal of the reference waveform passes through the cable 112 of the probe cable 110. be able to. In order to make the transmission signal of the output of the probe 150 close to the desired transmission signal, which characteristic circuit of the characteristic circuit 206 should be selected from the characteristic circuit 202, that is, the control content of the selection circuit 220, Can be calculated The control content of the selection circuit 220 obtained by the calculation is sent from the waveform comparison calculation unit 350 to the control unit 300 and used for the control during the inspection.

先ず、使用する探触子ケーブル110を備えた探触子150の周波数特性を補正するための選択回路220の制御内容をキャリブレーションモードにおいて検知し、その後、実際の超音波の送波を開始し、検査対象部位の検査を行う。   First, the control content of the selection circuit 220 for correcting the frequency characteristics of the probe 150 including the probe cable 110 to be used is detected in the calibration mode, and then actual ultrasonic wave transmission is started. The inspection target part is inspected.

なお波形比較演算部350による基準波形と探触子150から得られた信号との比較演算は、上述のように波形信号の状態で行ってもよいし、比較対象のそれぞれの波形を周波数分布に変換して互いに比較しても良い。   The comparison operation between the reference waveform and the signal obtained from the probe 150 by the waveform comparison calculation unit 350 may be performed in the state of the waveform signal as described above, or each waveform to be compared is converted into a frequency distribution. They may be converted and compared with each other.

検査対象部位によって探触子は適した形状のものに切り替えられ、また使用される超音波の周波数も切り替えられる。このため探触子ケーブル110を備えた探触子150の減衰特性がその度に変わる。図13を使用して説明した実施例では、検査開始前に使用する探触子150の特性を検知することができ、キャリブレーションの方法を演算により求めることができる。従ってその効果は非常に大きい。キャリブレーションモードの開始は、例えば、超音波装置の操作部にキャリブレーション開始用の入力手段、例えば操作ボタン等を設け、操作者が操作ボタンを操作することにより、図13で説明した動作が開始されるようにしても良い。   The probe is switched to a suitable shape depending on the region to be inspected, and the frequency of the ultrasonic wave used is also switched. For this reason, the attenuation characteristic of the probe 150 provided with the probe cable 110 changes each time. In the embodiment described with reference to FIG. 13, the characteristic of the probe 150 used before the start of inspection can be detected, and the calibration method can be obtained by calculation. Therefore, the effect is very large. The calibration mode is started by, for example, providing an input means for starting calibration, such as an operation button, in the operation unit of the ultrasonic apparatus, and the operation described with reference to FIG. 13 is started when the operator operates the operation button. You may be made to do.

キャリブレーションモードが終了し検査状態に移ると、スイッチ312が解放状態となり、またスイッチ332は送受分離回路116の方に接続される。メモリ250の検索結果に基づいて得られた波形データから送波整相部144は基準波形を生成し、生成された基準波形が、送波整相部144からDAコンバータ142に送られる。DAコンバータ142により基準波形はアナログ信号に変換される。先のキャリブレーションモードで検知された制御内容に基づいて、制御部300は選択回路220を制御し、アナログ信号に変換された基準波形の信号は、選択された特性回路で図9で説明したように補正されて、増幅回路240を介して探触子ケーブル110のケーブル112を通り、探触子150に導かれる。探触子ケーブル110のケーブル112で周波数成分に応じた減衰が生じるが、図10で説明したように減衰した結果の波形が望ましい状態の波形となるように特性補正回路200で補正されているので、望ましい波形の超音波が探触子150から出力される。   When the calibration mode ends and the test state is entered, the switch 312 is released, and the switch 332 is connected to the transmission / reception separating circuit 116. The wave phasing unit 144 generates a reference waveform from the waveform data obtained based on the search result of the memory 250, and the generated reference waveform is sent from the wave phasing unit 144 to the DA converter 142. The reference waveform is converted into an analog signal by the DA converter 142. Based on the control content detected in the previous calibration mode, the control unit 300 controls the selection circuit 220, and the reference waveform signal converted to the analog signal is the selected characteristic circuit as described with reference to FIG. And is guided to the probe 150 through the amplifier 112 through the cable 112 of the probe cable 110. Although attenuation according to the frequency component occurs in the cable 112 of the probe cable 110, the characteristic correction circuit 200 corrects the waveform as a result of attenuation as described with reference to FIG. The ultrasonic wave having a desired waveform is output from the probe 150.

検査対象部位からのエコーが探触子150により受信されてエコー信号に変換され、エコー信号は、探触子ケーブル110から送受分離回路116に導かれる。図1で説明したようにエコー信号は送受分離回路116からスイッチ332を介してLNA部330に導かれ、DAコンバータ336でデジタル信号に変換されて、受波整相部124に送られ、その後図1で説明した如く超音波画像が生成されて、表示部130により表示される。   The echo from the inspection target site is received by the probe 150 and converted into an echo signal, and the echo signal is guided from the probe cable 110 to the transmission / reception separating circuit 116. As described with reference to FIG. 1, the echo signal is guided from the transmission / reception separating circuit 116 to the LNA unit 330 via the switch 332, converted into a digital signal by the DA converter 336, and sent to the wave receiving and phasing unit 124. As described in 1, an ultrasonic image is generated and displayed on the display unit 130.

〔4.4 キャリブレーションモードの動作説明〕
図13を用いてキャリブレーションモードにおける動作を説明したが、図14のフローチャートを用いて動作のシーケンスを説明する。検査のための部位の入力や使用する探触子150の入力、超音波の周波数の入力などが行われると、ステップS100で始まるキャリブレーションモードの実行が開始される。ステップS101で、操作者によるキャリブレーションの実施の指示の有無が判断される。キャリブレーションの実施の指示がない場合には、ステップS112から実行がステップS200に移り、検査が実行される検出モードとなる。
[4.4 Explanation of operation in calibration mode]
Although the operation in the calibration mode has been described with reference to FIG. 13, the operation sequence will be described with reference to the flowchart of FIG. When an input of a part for inspection, an input of the probe 150 to be used, an input of an ultrasonic frequency, or the like is performed, execution of the calibration mode starting at step S100 is started. In step S101, it is determined whether or not there is an instruction to perform calibration by the operator. If there is no instruction to perform calibration, execution proceeds from step S112 to step S200, and a detection mode in which inspection is executed is set.

キャリブレーションの実施の指示がある場合に、ステップS112の後ステップS114を実行する。ステップS114で操作者が指示を出すと、例えば操作者がキャリブレーションの指示を入力するボタンを押すと、この指示に基づいて、図13で説明したアナログの標準波形が探触子ケーブル110に送られる。さらに探触子ケーブル110のケーブル114を介して超音波診断装置100の本体にフィードバックされ、波形比較演算部350の波形メモリ352に記憶される。ステップS116で波形比較演算部350により探触子ケーブル110や探触子150の減衰量が演算され、ステップS118で、特性補正回路200を操作するための制御内容が求められる。すなわちどの特性回路を選択するかの制御データが、波形比較演算部350から制御部300に送られ、検査時の制御に利用される。   When there is an instruction to perform calibration, step S114 is executed after step S112. When the operator gives an instruction in step S114, for example, when the operator presses a button for inputting a calibration instruction, the analog standard waveform described in FIG. 13 is sent to the probe cable 110 based on this instruction. It is done. Further, it is fed back to the main body of the ultrasonic diagnostic apparatus 100 via the cable 114 of the probe cable 110 and stored in the waveform memory 352 of the waveform comparison calculation unit 350. In step S116, the attenuation amount of the probe cable 110 and the probe 150 is calculated by the waveform comparison calculation unit 350, and in step S118, control details for operating the characteristic correction circuit 200 are obtained. That is, control data for selecting which characteristic circuit is sent from the waveform comparison calculation unit 350 to the control unit 300 and used for control during inspection.

ステップS120でキャリブレーションの処理を終了し、ステップS200に実行が移り、検査を開始できる検査モードとなる。検査中に操作者がキャリブレーションを行いたいと判断した場合には、キャリブレーションを指示する操作、例えば入力用のボタンを操作することにより、図14のキャリブレーションモードが実行される。   In step S120, the calibration process is terminated, and the execution shifts to step S200 to enter an inspection mode in which an inspection can be started. When the operator decides to perform calibration during the inspection, the calibration mode shown in FIG. 14 is executed by operating an operation for instructing calibration, for example, an input button.

図13でステップS114のステップがなくても良いが、操作者の行う準備の状態と、超音波診断装置100の処理とのタイミングを合わせる意味で、ステップS114を設ける方が望ましい。例えば探触子150の取り付けに手間取っていたり、その他操作者がまだ準備中なのにステップS116が実行されたりといった、不都合が生じる可能性があり、エラーが発生する恐れがある。また、ステップS114では、操作者がキャリブレーションの指示ボタンを押す設定となっているが、探触子を選択した時点、探触子の周波数レンジを選択した時点など、送波の特性が変わることが生じる操作時に自動的にステップS114が実行されたとして次のステップに進んでも良い。   In FIG. 13, step S <b> 114 may not be provided, but it is desirable to provide step S <b> 114 in order to match the timing of the preparation performed by the operator and the processing of the ultrasonic diagnostic apparatus 100. For example, there is a possibility that inconveniences such as troublesome installation of the probe 150 or other execution of step S116 while the operator is still preparing may cause an error. In step S114, the operator presses the calibration instruction button. However, the transmission characteristics change when the probe is selected or when the probe frequency range is selected. It is also possible to proceed to the next step on the assumption that step S114 is automatically executed at the time of the operation in which occurrence occurs.

ステップS118における、特性回路としてのピーキング回路を選択する処理では、探触子150が出力する超音波のパワーについて、安全なパワーを越えない制限値を加味して行われるものである。   In the process of selecting the peaking circuit as the characteristic circuit in step S118, the ultrasonic power output from the probe 150 is added in consideration of a limit value that does not exceed safe power.

〔5.メモリ250のデータベースの説明〕
図15は、基準波形のデータが記憶されている、メモリ250に設けられたデータベース402を示す。検索ワードとして検査の対象部位を入力して検索すると、検査対象部位に関する最適な周波数や波形のデータが読み出される。また周波数を検索ワードとして検索すると、最適な波形のデータが読み出される。その他サンプリング数や遅延量を検索ワードとした場合にも、最適な波形のデータが読み出される。
[5. Description of database in memory 250]
FIG. 15 shows a database 402 provided in the memory 250 in which reference waveform data is stored. When a search target part is input as a search word and searched, optimum frequency and waveform data relating to the test target part are read out. When searching using the frequency as a search word, the data of the optimum waveform is read out. In addition, when the number of samplings and the amount of delay are used as search words, data having an optimum waveform is read out.

このデータベース402を使用した標準波形の設定を図16に記載のフローチャートを用いて説明する。図1で送波整相部144における基準波形の生成や図13で送波整相部144における基準波形の生成動作が開始されると、図16のステップS140で示すフローチャートが開始される。ステップS142で検査対象の部位を入力するあるいは既に入力されている検査対象の部位のデータを読み出す。ステップS144で検査対象の部位を検索ワードとして最適の周波数および基準波形を読み出して表示する。さらにサンプリング数や遅延量を表示しても良い。   Setting of a standard waveform using the database 402 will be described with reference to a flowchart shown in FIG. When the generation of the reference waveform in the transmission phasing unit 144 in FIG. 1 and the generation of the reference waveform in the transmission phasing unit 144 in FIG. 13 are started, the flowchart shown in step S140 in FIG. 16 is started. In step S142, a part to be examined is input or data of a part to be examined that has already been input is read. In step S144, the optimum frequency and reference waveform are read and displayed using the region to be examined as a search word. Further, the sampling number and the delay amount may be displayed.

操作者は表示された内容で検査を行う場合には、同意「Y」を意味する操作を行い、そうでない場合には、否「N」を表す操作を行う。もし否「N」を表す操作が行われ、ステップS148で操作者が新たなデータを入力した場合には、ステップS148で新たな入力データに基づく検索が、図15に示すデータベース402に対して行われ、新しい基準波形が読み出される。   The operator performs an operation indicating consent “Y” when performing the inspection with the displayed contents, and performs an operation indicating “N” when not performing the inspection. If an operation indicating NO is performed and the operator inputs new data in step S148, a search based on the new input data is performed on the database 402 shown in FIG. 15 in step S148. A new reference waveform is read out.

ステップS144あるいはステップS148でデータベース402の検索により読み出された波形データが送波整相部144に設定され、144は設定されたデータに基づいて基準波形をDAコンバータ142を介して送波波形生成部140に送信する。なお、データベース402の検索ワードによる検索は、送波整相部144が行っても良いが、送波整相部144の代わりに制御部300が行っても良い。   The waveform data read out by searching the database 402 in step S144 or step S148 is set in the transmission phasing unit 144, and 144 generates a transmission waveform based on the set data via the DA converter 142. To the unit 140. The search by the search word in the database 402 may be performed by the transmission wave phasing unit 144, but may be performed by the control unit 300 instead of the transmission wave phasing unit 144.

図14に記載のキャリブレーションの処理や図17に記載のキャリブレーションの動作は、操作者の操作に基づいて行われる。例えば図15の破線で示す如く、操作者がキャリブレーションの処理が必要と判断すると、キャリブレーションの指示を超音波診断装置100の入力部に対して行う。キャリブレーションの指示が行われると直ちに図14のフローチャートがスタートする。   The calibration process shown in FIG. 14 and the calibration operation shown in FIG. 17 are performed based on the operation of the operator. For example, as indicated by a broken line in FIG. 15, when the operator determines that calibration processing is necessary, a calibration instruction is given to the input unit of the ultrasonic diagnostic apparatus 100. As soon as calibration is instructed, the flowchart of FIG. 14 starts.

また、図4における選択回路220の制御も同様である。操作者がキャリブレーション処理が必要と判断すると、ステップS180で示すフローチャートが動作して、ステップS182から実行がステップS184へ移る。ステップS184では、制御部300が既に設定されている検査に使用する周波数と検査に使用する探触子150の製品名あるいは型式などの探触子150を特定するワードに基づいてデータベースを読出し、特性補正回路200が有する特性回路202や特性回路204、特性回路206の内のどの特性回路を使用するかを決定する。図示しないが、予め検査に使用する周波数と検査に使用する探触子150の型式とを検索ワードとして、最適な補正を行うための特性回路の選択データが記憶されており、使用する周波数と検査に使用する探触子150の型式とを検索ワードとして最適な特性回路を選択することができる。本実施例では、説明を簡単にするために特性補正回路200は3個の特性回路しかもたないが、実際の製品では多くの特性回路を備えることが可能であり、最適な補正を行うことができる。   The control of the selection circuit 220 in FIG. 4 is also the same. When the operator determines that the calibration process is necessary, the flowchart shown in step S180 is operated, and the execution proceeds from step S182 to step S184. In step S184, the control unit 300 reads the database based on the frequency used for the inspection that has already been set and the word identifying the probe 150 such as the product name or model of the probe 150 used for the inspection. Which characteristic circuit among the characteristic circuit 202, the characteristic circuit 204, and the characteristic circuit 206 included in the correction circuit 200 is to be used is determined. Although not shown, characteristic circuit selection data for optimal correction is stored in advance using the frequency used for the inspection and the type of the probe 150 used for the inspection as a search word, and the frequency used and the inspection are stored. The optimum characteristic circuit can be selected using the type of the probe 150 to be used as a search word. In this embodiment, the characteristic correction circuit 200 has only three characteristic circuits for the sake of simplicity. However, an actual product can have many characteristic circuits, and optimal correction can be performed. it can.

ステップS184で最適な特性回路が検索され、その結果を制御部300に設定する。制御部300は、例えば図4に記載の選択回路220の制御において、設定された特性回路を、選択回路220を制御することにより、選択することができる。   In step S184, an optimum characteristic circuit is searched, and the result is set in the control unit 300. For example, in the control of the selection circuit 220 illustrated in FIG. 4, the control unit 300 can select the set characteristic circuit by controlling the selection circuit 220.

〔6.特性補正回路200を使用した補正に対する他の実施例の説明〕
図4や図11、図13の実施例では、探触子ケーブル110を備えた探触子150の減衰特性の補正を行うために、一例として複数の特性回路を備える特性補正回路200を使用していた。図18と図19は、特性補正回路200の代わりにソフトウエアによる処理により、上記補正を行う。ステップS250が開始されると、例えば図16で説明した方法により、基準波形が決定される。また、検査に使用する探触子150の型式などは、探触子150を超音波診断装置100に接続したことにより、あるいは操作者の入力操作により、検知することができる。予め基準波形と探触子150の型式とを検索ワードとして図9で説明した補正された波形をデータベース404として記憶している。ステップS256において、データベース404を検索し、図9で説明した特性補正回路200において補正された特性を有する波形を、データベース404から検索する。このデータベース404に基づいて取得した波形データを送波整相部144に設定する。
[6. Description of another embodiment for correction using characteristic correction circuit 200]
4, 11, and 13, the characteristic correction circuit 200 including a plurality of characteristic circuits is used as an example in order to correct the attenuation characteristics of the probe 150 including the probe cable 110. It was. 18 and 19, the above correction is performed by processing using software instead of the characteristic correction circuit 200. When step S250 is started, the reference waveform is determined by the method described in FIG. 16, for example. The type of the probe 150 used for the inspection can be detected by connecting the probe 150 to the ultrasonic diagnostic apparatus 100 or by an input operation of the operator. The corrected waveform described with reference to FIG. 9 is stored as the database 404 in advance using the reference waveform and the type of the probe 150 as search words. In step S256, the database 404 is searched, and a waveform having a characteristic corrected by the characteristic correction circuit 200 described with reference to FIG. Waveform data acquired based on the database 404 is set in the transmission phasing unit 144.

このようにすることにより、送波波形生成部140で生成していた探触子150の減衰をキャリブレーションするための補正された波形を送波整相部144で発生し、探触子ケーブル110に送信する。このようにすることにより、特性補正回路200を使用することなく、特性補正回路200と同様の出力を得ることができる。   Thus, a corrected waveform for calibrating the attenuation of the probe 150 generated by the transmission waveform generation unit 140 is generated by the transmission phasing unit 144, and the probe cable 110 is generated. Send to. By doing so, an output similar to that of the characteristic correction circuit 200 can be obtained without using the characteristic correction circuit 200.

〔7.上述した実施例の効果〕
上述した実施例の効果について、既に記載したがさらに加えて次に説明する。
[7. Effect of the above-described embodiment]
The effects of the above-described embodiment have already been described, but will be further described below.

任意周波数をピークとする特性回路としてのピーキング回路に送信信号を通して周波数特性を調整することで、超音波装置出力後の音響レンズ152あるいは探触子ケーブル110での減衰分を考慮した送波波形を生成できる。   By adjusting the frequency characteristics through the transmission signal to a peaking circuit as a characteristic circuit having a peak at an arbitrary frequency, a transmission waveform in consideration of the attenuation in the acoustic lens 152 or the probe cable 110 after output from the ultrasonic device is obtained. Can be generated.

上記実施例では、説明を簡単にするために選択回路220で1つの特性回路を選択したが、本実施例では、特性回路の複数の出力を合成することか可能な合成回路230を備えている。従って選択回路220で複数の特性回路を選択して、複数の特性回路に分岐して基準信号を印加することが可能となる。各々を異なる周波数特性を持った複数個の特性回路に基準信号を分岐することにより、その各出力信号を足し合わせることで様々な周波数特性を持つ送波波形を生成することができる。このため多様な補正が可能となり、探触子毎に最適な送波波形を出力することが可能となる。診断対象部位に最適な送波波形が生成可能となるので画質向上が可能となる。   In the above embodiment, one characteristic circuit is selected by the selection circuit 220 to simplify the description. However, in this embodiment, a synthesis circuit 230 capable of synthesizing a plurality of outputs of the characteristic circuit is provided. . Accordingly, it is possible to select a plurality of characteristic circuits by the selection circuit 220, branch to the plurality of characteristic circuits, and apply the reference signal. By splitting the reference signal into a plurality of characteristic circuits, each having a different frequency characteristic, a transmission waveform having various frequency characteristics can be generated by adding the output signals. For this reason, various corrections are possible, and an optimum transmission waveform can be output for each probe. Since an optimal transmission waveform can be generated for the site to be diagnosed, image quality can be improved.

超音波装置の接続探触子に対し、減衰量を補償して最適な送波波形生成を制御する送波波形キャリブレーション機能を有し、超音波装置の操作者が装置上のボタンを押す等の動作で指示することにより、自動的に送波波形キャリブレーションが開始できる機構であるため、接続探触子が変更となった場合でも簡便に最適な送信信号の較正が実現できる。   It has a transmission waveform calibration function that compensates the attenuation and controls the generation of the optimal transmission waveform for the connection probe of the ultrasonic device, and the operator of the ultrasonic device presses a button on the device. By this instruction, the transmission waveform calibration can be automatically started. Therefore, even when the connection probe is changed, the optimum transmission signal calibration can be easily realized.

探触子から実際に出力される送波信号の周波数特性をフィードバックして較正を行なうことができるので、特性補正回路200および送波整相部144での送信波形生成の組合せで不要な高周波成分を低減することが可能となる。これにより探触子レンズでの熱損失を低減でき、探触子レンズの温度上昇を抑えることが可能となる。   Since the frequency characteristics of the transmission signal actually output from the probe can be fed back and calibrated, an unnecessary high-frequency component can be obtained by combining the transmission waveform generation in the characteristic correction circuit 200 and the transmission phasing unit 144. Can be reduced. Thereby, the heat loss in the probe lens can be reduced, and the temperature rise of the probe lens can be suppressed.

100・・・超音波診断装置、102・・・超音波診断装置本体、110・・・探触子ケーブル、112・・・ケーブル、114・・・ケーブル、116・・・送受分離回路、122・・・ADコンバータ、124・・・受波整相部、126・・・信号処理部、130・・・表示部、140・・・送波波形生成部、150・・・探触子、200・・・特性補正回路、202・・・特性回路、204・・・特性回路、206・・・特性回路、208・・・無補正回路。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Ultrasonic diagnostic apparatus, 102 ... Ultrasonic diagnostic apparatus main body, 110 ... Probe cable, 112 ... Cable, 114 ... Cable, 116 ... Transmission / reception separation circuit, 122. .. AD converter 124... Received wave phasing section 126... Signal processing section 130... Display section 140... Transmission waveform generating section 150. ..Characteristic correction circuit 202 ... Characteristic circuit 204 ... Characteristic circuit 206 ... Characteristic circuit 208 ... No correction circuit

Claims (10)

探触子ケーブルを有する探触子と、
前記探触子から検査対象部位に送波された超音波によるエコーを前記探触子が受けて、前記探触子が生成したエコー信号を処理する、受波整相部および信号処理部と、
前記エコー信号に基づく超音波画像を表示する表示部と、
前記検査対象部位に送波するための波形を生成する基準波形生成部と、
前記探触子ケーブルを有する前記探触子の減衰特性に従って前記基準波形生成部により生成された波形を補正して補正した波形を生成する送波波形生成部と、を備え、
前記送波波形生成部により補正された前記波形が前記探触子の前記探触子ケーブルに送られ、前記探触子が前記超音波を送信する、ことを特徴とする超音波診断装置。
A probe having a probe cable;
A wave phasing unit and a signal processing unit that receive an echo from an ultrasonic wave transmitted from the probe to a site to be inspected and process an echo signal generated by the probe; and
A display unit for displaying an ultrasonic image based on the echo signal;
A reference waveform generation unit that generates a waveform to be transmitted to the examination site;
A transmission waveform generation unit that generates a corrected waveform by correcting the waveform generated by the reference waveform generation unit according to the attenuation characteristics of the probe having the probe cable;
The ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the waveform corrected by the transmission waveform generation unit is sent to the probe cable of the probe, and the probe transmits the ultrasonic wave.
請求項1に記載の超音波診断装置において、さらにデータベースを記憶しているメモリが設けられ、少なくとも検査対象部位を検索ワードとした検索結果から、前記基準波形生成部は前記波形を生成する、ことを特徴とする超音波診断装置。   The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, further comprising a memory storing a database, wherein the reference waveform generation unit generates the waveform from a search result using at least a region to be examined as a search word. An ultrasonic diagnostic apparatus characterized by the above. 請求項1に記載の超音波診断装置において、
送波波形生成部は入力された入力波形の周波数成分に対する振幅を変えて出力する複数の特性回路を有し、さらに前記複数の特性回路はそれぞれ、前記入力波形の周波数成分に対する出力波形の周波数成分の振幅の変化が異なる特性を備えており、
前記探触子ケーブルを有する前記探触子の減衰特性に従って前記特性回路が選択され、選択された前記特性回路によって前記補正した波形が生成される、ことを特徴とする超音波診断装置。
The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1,
The transmission waveform generation unit has a plurality of characteristic circuits that output with varying amplitudes with respect to frequency components of the input waveform, and each of the plurality of characteristic circuits has a frequency component of the output waveform with respect to the frequency components of the input waveform. Has different characteristics of the amplitude change,
The ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the characteristic circuit is selected according to an attenuation characteristic of the probe having the probe cable, and the corrected waveform is generated by the selected characteristic circuit.
請求項3に記載の超音波診断装置において、前記複数の特性回路はピーキング回路で構成される、ことを特徴とする超音波診断装置。   The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 3, wherein the plurality of characteristic circuits are configured by peaking circuits. 請求項1に記載の超音波診断装置において、
波形比較演算部がさらに設けられ、
前記波形比較演算部は、前記探触子ケーブルを有する前記探触子の前記探触子ケーブルに入力した入力波形と少なくとも前記探触子ケーブルを通った後の減衰波形とを比較し、
前記送波波形生成部は前記波形比較演算部の比較結果に基づいて、前記基準波形生成部により生成された波形を補正する、ことを特徴とする超音波診断装置。
The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1,
A waveform comparison calculation unit is further provided,
The waveform comparison operation unit compares an input waveform input to the probe cable of the probe having the probe cable and an attenuation waveform after passing through the probe cable,
The ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the transmission waveform generation unit corrects the waveform generated by the reference waveform generation unit based on a comparison result of the waveform comparison calculation unit.
請求項3に記載の超音波診断装置において、
波形比較演算部がさらに設けられ、
前記波形比較演算部は、前記探触子ケーブルを有する前記探触子の前記探触子ケーブルに入力した入力波形と少なくとも前記探触子ケーブルを通った後の減衰波形とを比較し、
前記送波波形生成部は前記波形比較演算部の比較結果に基づいて、前記複数の特性回路から、好ましい特性回路を選択する、ことを特徴とする超音波診断装置。
The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 3.
A waveform comparison calculation unit is further provided,
The waveform comparison operation unit compares an input waveform input to the probe cable of the probe having the probe cable and an attenuation waveform after passing through the probe cable,
The ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the transmission waveform generation unit selects a preferable characteristic circuit from the plurality of characteristic circuits based on a comparison result of the waveform comparison calculation unit.
請求項5に記載の超音波診断装置において、前記波形比較演算部による前記探触子ケーブルに入力した入力波形と少なくとも前記探触子ケーブルを通った後の減衰波形との比較動作は、キャリブレーションモードにおいて行われ、操作者の指示に従って前記キャリブレーションモードが開始される、ことを特徴とする超音波診断装置。   6. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 5, wherein a comparison operation between an input waveform input to the probe cable by the waveform comparison calculation unit and an attenuated waveform after passing through the probe cable is a calibration. An ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the calibration mode is performed in a mode and the calibration mode is started in accordance with an instruction from an operator. 請求項5に記載の超音波診断装置において、
前記探触子の前記探触子ケーブルは、アナログ波形を探触子に送るための第1ケーブルと、前記第1ケーブルにより減衰したアナログ波形を戻すための第2ケーブルとを備え、前記第2ケーブルを介して戻された前記減衰したアナログ波形がデジタル変換されて前記減衰波形として前記波形比較演算部に送られる、ことを特徴とする超音波診断装置。
The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 5,
The probe cable of the probe includes a first cable for sending an analog waveform to the probe, and a second cable for returning the analog waveform attenuated by the first cable, the second cable The ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the attenuated analog waveform returned via a cable is digitally converted and sent to the waveform comparison calculation unit as the attenuated waveform.
請求項1に記載の超音波診断装置において、
前記送波波形生成部による、前記基準波形生成部により生成された波形の補正は、検査対象部位が乳腺あるいは甲状腺である場合に行われる、ことを特徴とする超音波診断装置。
The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1,
The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the waveform generated by the reference waveform generation unit is corrected by the transmission waveform generation unit when the examination target site is a mammary gland or a thyroid gland.
探触子ケーブルを有する探触子から超音波を検査対象部位に送波する、そのエコーを前記探触子が受信してエコー信号を生成する第1ステップと、
前記エコー信号に基づく超音波画像を表示部に表示する第2ステップと
検査対象部位に送波するための基準波形を生成する第3ステップと、
前記探触子ケーブルを有する前記探触子の減衰特性に従って前記基準波形を補正する第4ステップと、を備え、
前記第4ステップにおいて補正した前記基準波形を前記前記探触子の前記探触子ケーブルへ送ることにより、前記探触子が前記超音波を送波する、ことを特徴とする超音波診断装置の制御方法。
A first step of transmitting an ultrasonic wave from a probe having a probe cable to a region to be inspected, the echo being received by the probe and generating an echo signal;
A second step of displaying an ultrasound image based on the echo signal on the display unit; a third step of generating a reference waveform for transmitting to the examination target site;
A fourth step of correcting the reference waveform according to the attenuation characteristics of the probe having the probe cable,
An ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the probe transmits the ultrasonic wave by sending the reference waveform corrected in the fourth step to the probe cable of the probe. Control method.
JP2013173373A 2013-08-23 2013-08-23 Ultrasonic diagnostic device and method of controlling the same Pending JP2015039593A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013173373A JP2015039593A (en) 2013-08-23 2013-08-23 Ultrasonic diagnostic device and method of controlling the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013173373A JP2015039593A (en) 2013-08-23 2013-08-23 Ultrasonic diagnostic device and method of controlling the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015039593A true JP2015039593A (en) 2015-03-02

Family

ID=52694081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013173373A Pending JP2015039593A (en) 2013-08-23 2013-08-23 Ultrasonic diagnostic device and method of controlling the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2015039593A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190049378A (en) * 2017-11-01 2019-05-09 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same
CN109745071A (en) * 2017-11-01 2019-05-14 三星麦迪森株式会社 Ultrasonic device and its control method
KR20200097471A (en) * 2019-02-08 2020-08-19 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same
KR20200099855A (en) * 2019-02-15 2020-08-25 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190049378A (en) * 2017-11-01 2019-05-09 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same
CN109745071A (en) * 2017-11-01 2019-05-14 三星麦迪森株式会社 Ultrasonic device and its control method
KR102627724B1 (en) 2017-11-01 2024-01-23 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same
KR20200097471A (en) * 2019-02-08 2020-08-19 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same
KR102635039B1 (en) 2019-02-08 2024-02-08 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same
KR20200099855A (en) * 2019-02-15 2020-08-25 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same
KR102709905B1 (en) 2019-02-15 2024-09-26 삼성메디슨 주식회사 Ultrasound apparatus and control method for the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5355924B2 (en) Ultrasonic diagnostic equipment
US20120259225A1 (en) Ultrasound diagnostic apparatus and ultrasound image producing method
KR20070009279A (en) Ultrasound equipment and method for forming transmission and reception beam using delay values of transmission and reception signals stored in memory
JP2015039593A (en) Ultrasonic diagnostic device and method of controlling the same
US9310472B2 (en) Focal point information determination method and apparatus, and ambient sound velocity obtaining method and apparatus
JPH08317926A (en) Ultrasonic tomography device
CN104510498A (en) Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method
JP4761673B2 (en) Ultrasonic diagnostic equipment
JP2017164408A (en) Image generation apparatus and image generation method
KR101980537B1 (en) imaging processing unit, ultrasonic imaging apparatus and image processing method
US20130111278A1 (en) Multi-channel apparatus and hardware phase shift correction method therefor
US9291601B2 (en) Ambient sound velocity obtaining method and apparatus
JPH09173334A (en) Ultrasonic diagnostic system
US20150080732A1 (en) Ultrasound diagnostic apparatus and data processing method
KR101563497B1 (en) Ultrasound imaging device and method for forming an ultrasound compound image
JP2005125081A (en) Ultrasonograph
US20180214135A1 (en) Sound speed calculation system and sound speed calculation method
JP6175569B2 (en) Acoustic wave image generation apparatus and control method thereof
CN114098809B (en) Ultrasonic diagnostic apparatus transmitting system and rapid optimizing method thereof
JP2014068695A (en) Ultrasonic diagnostic apparatus, ultrasonic image generating method, and ultrasonic image generating program
JP4664209B2 (en) Ultrasonic diagnostic apparatus and ultrasonic imaging program for performing imaging thereof
JP2023160577A (en) Ultrasound imaging apparatus and signal processing method
JP4318772B2 (en) Ultrasonic diagnostic equipment
JP2000316854A (en) Ultrasonic device
JP2003325506A (en) Ultrasonic diagnostic apparatus, and method for designing transmission signal