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JP2015020240A - Cutting device - Google Patents

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JP2015020240A
JP2015020240A JP2013150079A JP2013150079A JP2015020240A JP 2015020240 A JP2015020240 A JP 2015020240A JP 2013150079 A JP2013150079 A JP 2013150079A JP 2013150079 A JP2013150079 A JP 2013150079A JP 2015020240 A JP2015020240 A JP 2015020240A
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cutting
blade
height position
light
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勝彦 赤瀬
Katsuhiko Akase
勝彦 赤瀬
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Disco Abrasive Systems Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cutting device in which a replacing frequency of a chuck table can be reduced more than before.SOLUTION: The cutting device has: light emitting means 60; light receiving means 62 that faces the light emitting means and receives light emitted from the light emitting means; and a height detection portion including a height detection surface 64 positioned at the same height as that of a light passage outside the light passage between the light emitting means and the light receiving means, and also comprises: blade detecting means 36 that detects a height position of the lowermost end of a cutting blade by positioning the cutting blade between the light emitting means and the light receiving means; height position detecting means that detects a height position of a holding surface of holding means and a height position of the height detection surface of the blade detecting means; and calculating means that calculates a position obtained by adding a difference between the height position of the holding surface and the height position of the height detection surface detected by the height position detecting means to the lowermost end position of the cutting blade detected by the blade detecting means, as a reference position for the cutting blade relative to the holding surface 18a.

Description

本発明は、一般的に切削装置に関して、特に、切削ブレードの原点位置(基準位置)を検出するセットアップ機構に関する。   The present invention generally relates to a cutting apparatus, and more particularly, to a setup mechanism that detects an origin position (reference position) of a cutting blade.

半導体ウエーハ等の切断は、一般にダイシング装置と呼ばれる切削装置によって実施される。切削装置は、回転する切削ブレードによって半導体ウエーハ等の被加工物を切削する。この切削ブレードは、使用によって磨耗しその直径が減少する。   A semiconductor wafer or the like is cut by a cutting device generally called a dicing device. The cutting apparatus cuts a workpiece such as a semiconductor wafer with a rotating cutting blade. This cutting blade is worn away by use and its diameter decreases.

このため切削装置は、切削ブレードの直径の減少に対応して切削ブレードの切り込み方向の基準位置を調整する必要があり、この基準位置を非接触で検出するブレード検出機構(非接触セットアップセンサー)を一般的に備えている。(例えば、特開平8−174416号公報参照)。   For this reason, it is necessary for the cutting device to adjust the reference position in the cutting direction of the cutting blade in response to a decrease in the diameter of the cutting blade, and a blade detection mechanism (non-contact setup sensor) that detects this reference position in a non-contact manner. Generally equipped. (For example, see JP-A-8-174416).

ところが、非接触セットアップセンサーを備えた切削装置であっても、チャックテーブルの保持面と非接触セットアップセンサーとの位置関係を検出するために、使用時には、チャックテーブルの保持面と面一の枠体の上面に切削ブレードを当接させ、切削ブレードの原点位置を検出する接触セットアップを実施していた(例えば特開昭61−71967号公報参照)。   However, even in a cutting machine equipped with a non-contact setup sensor, in order to detect the positional relationship between the chuck table holding surface and the non-contact setup sensor, the frame body is flush with the chuck table holding surface during use. A contact setup was performed in which the cutting blade was brought into contact with the upper surface of the steel plate and the origin position of the cutting blade was detected (see, for example, JP-A-61-71967).

特開平8−174416号公報JP-A-8-174416 特開昭61−71967号公報JP-A-61-71967

切削ブレードがチャックテーブルの枠体に当接すると、切削ブレードはチャックテーブルの枠体に僅かながら切り込む。一度切り込んだ部分には切削痕が形成されるため、再度同じ部分ではセットアップは実施できない。   When the cutting blade comes into contact with the chuck table frame, the cutting blade slightly cuts into the chuck table frame. Since a cut mark is formed in the part once cut, setup cannot be performed again in the same part.

そこで、その都度位置を変えながら接触セットアップを実施するが、セットアップを実施するスペースがなくなったチャックテーブルは交換しており、非常にコストが嵩むという問題があった。   Therefore, contact setup is carried out while changing the position each time, but the chuck table that does not have the space for carrying out the setup is replaced, and there is a problem that the cost is very high.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、チャックテーブルの交換頻度を従来より低減可能な切削装置を提供することである。   This invention is made | formed in view of such a point, The place made into the objective is providing the cutting device which can reduce the replacement frequency of a chuck table conventionally.

本発明によると、被加工物を保持する保持面を有する保持手段と、該保持手段に保持された被加工物を切削する切削ブレードを有する切削手段と、を備えた切削装置であって、発光手段と、該発光手段に対面し該発光手段から出射された光を受光する受光手段と、該発光手段と該受光手段との間の光路の外側で該光路と同じ高さ位置の高さ検出面を含む高さ検出部と、を有し、該発光手段と該受光手段との間に該切削ブレードが位置づけられることで該切削ブレードの最下端の高さ位置を検出するブレード検出手段と、該保持手段の該保持面の高さ位置を検出するとともに該ブレード検出手段の該高さ検出面の高さ位置を検出する高さ位置検出手段と、該ブレード検出手段で検出された該切削ブレードの最下端位置に、該高さ位置検出手段で検出された該保持面の高さ位置と該高さ検出面の高さ位置との差を加算した位置を、該保持面に対する該切削ブレードの基準位置として算出する算出手段と、を備えたことを特徴とする切削装置が提供される。   According to the present invention, there is provided a cutting device comprising: a holding unit having a holding surface for holding a workpiece; and a cutting unit having a cutting blade for cutting the workpiece held by the holding unit. A light receiving means that faces the light emitting means and receives the light emitted from the light emitting means, and a height detection at the same height position as the optical path outside the optical path between the light emitting means and the light receiving means A height detecting unit including a surface, and a blade detecting means for detecting a height position of a lowermost end of the cutting blade by positioning the cutting blade between the light emitting means and the light receiving means, Height position detecting means for detecting the height position of the holding surface of the holding means and detecting the height position of the height detecting surface of the blade detecting means, and the cutting blade detected by the blade detecting means At the lowest position of the Calculating means for calculating a position obtained by adding a difference between the height position of the held holding surface and the height position of the height detection surface as a reference position of the cutting blade with respect to the holding surface; A cutting device is provided.

好ましくは、前記高さ位置検出手段は、前記保持手段に保持された被加工物の表面を撮像する撮像手段と、該撮像手段を鉛直方向に移動させる移動手段と、該撮像手段の高さ位置を検出する撮像手段高さ位置検出手段と、から構成される。   Preferably, the height position detecting means includes an image pickup means for picking up an image of the surface of the workpiece held by the holding means, a moving means for moving the image pickup means in the vertical direction, and a height position of the image pickup means. Imaging means height position detecting means for detecting.

本発明の切削装置は、切削ブレードの最下端位置を検出するブレード検出手段と、保持手段の保持面の高さ位置とブレード検出手段の高さ検出面の高さ位置を検出する高さ位置検出手段と、保持面に対する切削ブレードの基準位置を算出する算出手段を備えるため、接触セットアップを実施することなく高精度に切削ブレードを所定の高さ位置に位置付けることが可能となる。接触セットアップを実施して保持手段に切削ブレードが切り込む必要がないため、保持手段の交換頻度を従来より低減できる。   The cutting apparatus according to the present invention includes a blade detection unit that detects a lowermost position of a cutting blade, a height position detection that detects a height position of a holding surface of the holding unit and a height detection surface of the blade detection unit. Since the means and the calculating means for calculating the reference position of the cutting blade with respect to the holding surface are provided, the cutting blade can be positioned at a predetermined height position with high accuracy without performing contact setup. Since it is not necessary to perform the contact setup to cut the cutting blade into the holding means, the replacement frequency of the holding means can be reduced as compared with the prior art.

実施形態に係る切削装置の斜視図である。It is a perspective view of the cutting device concerning an embodiment. 図1に示した切削装置の一部断面側面図である。It is a partial cross section side view of the cutting device shown in FIG. ブレード検出手段(非接触セットアップセンサー)の斜視図である。It is a perspective view of a blade detection means (non-contact setup sensor). 撮像ユニットに内蔵された顕微鏡のオートフォーカスを利用してチャックテーブルの保持面高さとブレード検出手段の高さ検出面の高さを検出する様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that the holding surface height of a chuck table and the height detection surface height of a blade detection means are detected using the autofocus of the microscope incorporated in the imaging unit. ブレード検出手段で切削ブレードの最下端の位置を検出する様子を示す側面図である。It is a side view which shows a mode that the position of the lowest end of a cutting blade is detected by a blade detection means.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明実施形態に係る切削装置2の斜視図が示されている。切削装置2の前面側には、オペレーターが加工条件等の装置に対する指示を入力するための操作パネル4が設けられている。装置上部には、オペレーターに対する案内画面や後述する撮像ユニットによって撮像された画像が表示されるCRT等の表示モニタ―6が設けられている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, a perspective view of a cutting device 2 according to an embodiment of the present invention is shown. On the front side of the cutting device 2, an operation panel 4 is provided for an operator to input instructions to the device such as machining conditions. In the upper part of the apparatus, there is provided a display monitor 6 such as a CRT on which a guidance screen for an operator and an image captured by an imaging unit described later are displayed.

切削装置2の切削対象であるウエーハ11は環状フレームFに装着されたダイシングテープTに貼着された後、ウエーハカセット8中に複数枚収容される。ウエーハカセット8は上下動可能なカセットエレベータ9上に載置される。   A plurality of wafers 11 to be cut by the cutting apparatus 2 are attached to a dicing tape T attached to an annular frame F, and then stored in a wafer cassette 8. The wafer cassette 8 is placed on a cassette elevator 9 that can move up and down.

ウエーハカセット8の後方には、ウエーハカセット8から切削前のウエーハ11を搬出するとともに、切削後のウエーハをウエーハカセット8に搬入する搬出ユニット10が配設されている。   Behind the wafer cassette 8 is disposed a carry-out unit 10 for carrying the wafer 11 before cutting from the wafer cassette 8 and carrying the wafer after cutting into the wafer cassette 8.

ウエーハカセット8と搬出入ユニット10との間には、搬出入対象のウエーハ11が一時的に載置される領域である仮置き領域12が設けられており、仮置き領域12には、ウエーハ11をセンタリングする位置合わせ機構14が配設されている。   Between the wafer cassette 8 and the carry-in / out unit 10, a temporary placement area 12, which is an area on which the wafer 11 to be carried in / out, is temporarily placed, is provided. An alignment mechanism 14 for centering is provided.

仮置き領域12の近傍には、ウエーハ11を吸着して搬送する旋回アームを有する搬送ユニット16が配設されており、仮置き領域12に搬出されてセンタリングされたウエーハ11は、搬送ユニット16により吸着されてチャックテーブル18上に搬送され、このチャックテーブル18に吸引保持される。   A transport unit 16 having a swivel arm that sucks and transports the wafer 11 is disposed in the vicinity of the temporary placement area 12. The wafer 11 that is unloaded and centered in the temporary placement area 12 is placed by the transport unit 16. The chuck table 18 is sucked and conveyed onto the chuck table 18, and is sucked and held by the chuck table 18.

チャックテーブル18は、回転可能且つ図示しない加工送り機構によりX軸方向に往復動可能に構成されており、チャックテーブル18のX軸方向の移動経路の上方には、ウエーハ11の切削すべき領域を検出するアライメントユニット22が配設されている。20は環状フレームFをクランプするクランプである。チャックテーブル18に隣接してブレード検出手段(非接触セットアップセンサ)36が配設されている。   The chuck table 18 is configured to be rotatable and reciprocally movable in the X-axis direction by a machining feed mechanism (not shown). An area to be cut of the wafer 11 is formed above the movement path of the chuck table 18 in the X-axis direction. An alignment unit 22 for detection is provided. Reference numeral 20 denotes a clamp for clamping the annular frame F. A blade detection means (non-contact setup sensor) 36 is disposed adjacent to the chuck table 18.

アライメントユニット22は、ウエーハ11の表面を撮像する撮像ユニット(撮像手段)24を備えており、撮像により取得した画像に基づき、パターンマッチング等の画像処理によって切削すべき領域を検出することができる。撮像ユニット24によって取得された画像は、表示モニタ6に表示される。撮像ユニット24はオートフォーカス機構を備えた顕微鏡とCCDカメラを有している。   The alignment unit 22 includes an imaging unit (imaging means) 24 that images the surface of the wafer 11, and can detect a region to be cut by image processing such as pattern matching based on an image acquired by imaging. The image acquired by the imaging unit 24 is displayed on the display monitor 6. The imaging unit 24 has a microscope equipped with an autofocus mechanism and a CCD camera.

アライメントユニット22の左側には、チャックテーブル18に保持されたウエーハ11に対して切削加工を施す切削ユニット26が配設されている。切削ユニット26はアライメントユニット22と一体的に構成されており、両者が連動してY軸方向及びZ軸方向に移動する。   On the left side of the alignment unit 22, a cutting unit 26 for cutting the wafer 11 held on the chuck table 18 is disposed. The cutting unit 26 is configured integrally with the alignment unit 22, and both move together in the Y-axis direction and the Z-axis direction.

切削ユニット26は、回転可能なスピンドル28の先端に外周に切刃を有する切削ブレード30が装着されて構成され、Y軸方向及びZ軸方向に移動可能となっている。切削ユニット26のY軸方向の移動は図示しない割り出し送り機構により達成される。   The cutting unit 26 is configured by mounting a cutting blade 30 having a cutting edge on the outer periphery of the end of a rotatable spindle 28 and is movable in the Y-axis direction and the Z-axis direction. The movement of the cutting unit 26 in the Y-axis direction is achieved by an index feed mechanism (not shown).

34は切削加工の終了したウエーハ11を洗浄するスピンナ洗浄ユニットであり、切削加工の終了したウエーハ11は搬送ユニット32によりスピンナ洗浄ユニット34まで搬送され、スピンナ洗浄ユニット34でスピン洗浄及びスピン乾燥される。   Reference numeral 34 denotes a spinner cleaning unit that cleans the wafer 11 that has been subjected to the cutting process. The wafer 11 that has been subjected to the cutting process is transported to the spinner cleaning unit 34 by the transport unit 32 and is spin cleaned and spin dried by the spinner cleaning unit 34. .

図2を参照すると、切削装置2の一部断面側面図が示されている。チャックテーブル18はボールねじとパルスモータとから構成される加工送り機構(X軸送り機構)38により図1でX軸方向に移動される。   Referring to FIG. 2, a partial cross-sectional side view of the cutting device 2 is shown. The chuck table 18 is moved in the X-axis direction in FIG. 1 by a machining feed mechanism (X-axis feed mechanism) 38 composed of a ball screw and a pulse motor.

切削ユニット26は、スピンドルハウジング27中に回転可能に収容されたスピンドル28と、スピンドル28を回転するモーター25と、スピンドル28の先端部に装着された切削ブレード30とを含んでいる。図2では、撮像ユニット24の取り付け位置は模式的に記されており、撮像ユニット24は切削ユニット26とともにY軸方向及びZ軸方向に移動可能に搭載されている。   The cutting unit 26 includes a spindle 28 that is rotatably accommodated in a spindle housing 27, a motor 25 that rotates the spindle 28, and a cutting blade 30 that is attached to the tip of the spindle 28. In FIG. 2, the mounting position of the imaging unit 24 is schematically shown, and the imaging unit 24 is mounted so as to be movable in the Y-axis direction and the Z-axis direction together with the cutting unit 26.

即ち、切削ユニット26は、ボールねじ40とパルスモータ42とから構成される割
出し送り機構(Y軸移動機構)44によりY軸方向に移動される。撮像ユニット26のY軸方向の位置は、読み取りヘッド48によりリニアスケール46の目盛を読み取ることにより検出され、検出値は切削装置2のコントローラのメモリに格納される。
That is, the cutting unit 26 is moved in the Y-axis direction by an index feed mechanism (Y-axis moving mechanism) 44 composed of the ball screw 40 and the pulse motor 42. The position of the imaging unit 26 in the Y-axis direction is detected by reading the scale of the linear scale 46 with the reading head 48, and the detected value is stored in the memory of the controller of the cutting apparatus 2.

切削ユニット26は、ボールねじ50とパルスモータ52とから構成される切り込み送り機構(Z軸移動機構)54によりZ軸方向に移動される。Z軸方向の位置は、読み取りヘッド58でリニアスケール56の目盛を読み取ることにより検出され、検出値はコントローラのメモリに格納される。   The cutting unit 26 is moved in the Z-axis direction by a cutting feed mechanism (Z-axis moving mechanism) 54 including a ball screw 50 and a pulse motor 52. The position in the Z-axis direction is detected by reading the scale of the linear scale 56 with the reading head 58, and the detected value is stored in the memory of the controller.

図3を参照すると、ブレード検出手段(非接触セットアップセンサ)36の斜視図が示されている。ブレード検出手段36は、水平部37aと垂直部37bを有する取り付け部材37を含んでおり、取り付け部材37がチャックテーブル18に隣接して配設されている。   Referring to FIG. 3, a perspective view of the blade detection means (non-contact setup sensor) 36 is shown. The blade detection means 36 includes an attachment member 37 having a horizontal portion 37 a and a vertical portion 37 b, and the attachment member 37 is disposed adjacent to the chuck table 18.

取り付け部材37の垂直部37bの先端はブレード侵入部39を画成するU形状に形成されており、このブレード侵入部39を挟んで発光手段の発光部60と発光部60から出射された光を受光する受光手段の受光部62が配設されている。   The tip of the vertical portion 37b of the attachment member 37 is formed in a U shape that defines a blade intrusion portion 39, and light emitted from the light emitting portion 60 and the light emitting portion 60 of the light emitting means is sandwiched between the blade intrusion portion 39. A light receiving portion 62 of light receiving means for receiving light is disposed.

63は発光部60から出射された光の光路を示している。例えば、発光部60は光ファイバーを介して光源に接続されており、受光部62は光ファイバーを介してフォトディテクター等の光電変換部に接続されている。   Reference numeral 63 denotes an optical path of light emitted from the light emitting unit 60. For example, the light emitting unit 60 is connected to a light source via an optical fiber, and the light receiving unit 62 is connected to a photoelectric conversion unit such as a photodetector via an optical fiber.

本実施形態のブレード検出手段36は、光路63の外側に光路63と同一高さの高さ検出面64を含む高さ検出部を有している。取り付け部材37の水平部37aには、発光部60及び受光部62の端面に恒温調整された洗浄水を供給する洗浄水供給ノズル66a,66bと、発光部60及び受光部62の端面にエアを供給するエア供給ノズル68a,68bが配設されている。   The blade detection unit 36 of this embodiment has a height detection unit including a height detection surface 64 having the same height as the optical path 63 outside the optical path 63. In the horizontal portion 37 a of the mounting member 37, air is supplied to cleaning water supply nozzles 66 a and 66 b for supplying cleaning water whose temperature is adjusted to the end surfaces of the light emitting unit 60 and the light receiving unit 62 and to the end surfaces of the light emitting unit 60 and the light receiving unit 62. Air supply nozzles 68a and 68b to be supplied are disposed.

本実施形態では、図4に模式的に示すように、チャックテーブル18の保持面18aの高さを検出するとともに、ブレード検出手段36の高さ検出面64の高さ位置を検出するのに撮像ユニット24の顕微鏡のオートフォーカス機構を利用する。   In the present embodiment, as schematically shown in FIG. 4, imaging is performed to detect the height of the holding surface 18 a of the chuck table 18 and the height position of the height detection surface 64 of the blade detection unit 36. The autofocus mechanism of the microscope of the unit 24 is used.

チャックテーブル18の保持面18aの高さ位置を検出するとともにブレード検出手段36の高さ検出面64の高さ位置を検出する高さ位置検出手段は、撮像ユニット24と、撮像ユニット24を鉛直方向に移動させるZ軸移動機構54と、撮像ユニット24の高さ位置を検出するリニアスケール56と読み取りヘッド58とから構成される撮像ユニット位置検出手段と、を含んでいる。
チャックテーブル18の保持面18aの高さ位置を検出するには、Z軸移動機構54のパルスモータ52を駆動して、撮像ユニット24をチャックテーブル18の保持面18aに徐々に近づけ、撮像ユニット24に内蔵された顕微鏡のオートフォーカス機構を利用して、顕微鏡のフォーカスが保持面18aに合った所で、パルスモータ52の駆動を停止し、その時のZ方向位置(高さ位置)をリニアスケール56で読み取り、読み取った高さ位置をコントローラのメモリに格納する。
The height position detecting means for detecting the height position of the holding surface 18a of the chuck table 18 and detecting the height position of the height detecting surface 64 of the blade detecting means 36 moves the imaging unit 24 and the imaging unit 24 in the vertical direction. A Z-axis moving mechanism 54 for moving the image pickup unit 24, and an image pickup unit position detecting unit including a linear scale 56 for detecting the height position of the image pickup unit 24 and a reading head 58.
In order to detect the height position of the holding surface 18 a of the chuck table 18, the pulse motor 52 of the Z-axis moving mechanism 54 is driven so that the imaging unit 24 gradually approaches the holding surface 18 a of the chuck table 18. By using the autofocus mechanism of the microscope built in, the driving of the pulse motor 52 is stopped when the focus of the microscope matches the holding surface 18a, and the Z-direction position (height position) at that time is set to the linear scale 56. And store the read height position in the memory of the controller.

次いで、X軸移動機構38及びY軸移動機構44を駆動して、撮像ユニット24をブレード検出手段36の高さ検出面64の上方に位置付ける。そして、Z軸移動機構54のパルスモータ52を駆動して、撮像ユニット24をブレード検出手段36の高さ検出面64に徐々に近づけ、顕微鏡のフォーカスが合った所でパルスモータ52の駆動を停止し、この時のZ方向位置をリニアスケール56で読み取り、読み取った高さ位置をコントローラのメモリに格納する。   Next, the X-axis moving mechanism 38 and the Y-axis moving mechanism 44 are driven to position the imaging unit 24 above the height detection surface 64 of the blade detection unit 36. Then, the pulse motor 52 of the Z-axis moving mechanism 54 is driven, and the imaging unit 24 is gradually brought closer to the height detection surface 64 of the blade detection means 36, and the drive of the pulse motor 52 is stopped when the microscope is in focus. Then, the Z-direction position at this time is read by the linear scale 56, and the read height position is stored in the memory of the controller.

コントローラのメモリには、チャックテーブル18の保持面18aの高さ位置とブレード検出手段36の高さ検出面64の高さ位置が格納されているため、コントローラは保持面18aと高さ検出面64との高さの差を容易に算出することができ、算出された高さ位置の差をメモリに格納する。高さの差は一端検出されると、チャックテーブル18を新たなチャックテーブルに交換しない限り一定である。   Since the memory of the controller stores the height position of the holding surface 18a of the chuck table 18 and the height position of the height detection surface 64 of the blade detection means 36, the controller stores the holding surface 18a and the height detection surface 64. The height difference can be easily calculated, and the calculated height position difference is stored in the memory. Once the height difference is detected, it is constant unless the chuck table 18 is replaced with a new chuck table.

次いで、ブレード検出手段36による切削ブレード28の最下端の位置(刃先の切り込み方向の位置)を検出するブレード最下端位置検出ステップを実施する。このブレード最下端位置検出ステップでは、図5に示すように、Z軸送り機構54のパルスモータ52を駆動して、切削ブレード28をブレード検出手段36のブレード侵入部39に上方から侵入させていく。   Next, a blade bottom end position detecting step of detecting the bottom end position of the cutting blade 28 (position of the cutting edge in the cutting direction) by the blade detecting means 36 is performed. In this blade lowest end position detection step, as shown in FIG. 5, the pulse motor 52 of the Z-axis feed mechanism 54 is driven to allow the cutting blade 28 to enter the blade entry portion 39 of the blade detection means 36 from above. .

この時、切削ブレード28が発光部60と受光部62との間を全く遮っていない場合は、受光部62が受光する光量は最大である。切削ブレ―ド28がブレード侵入部39に侵入されるのに従って、切削ブレード28が発光部60から出射される光ビームを遮る量は徐々に増加するので、受光部62が受光する光量は徐々に減少する。   At this time, when the cutting blade 28 does not block between the light emitting unit 60 and the light receiving unit 62, the amount of light received by the light receiving unit 62 is maximum. As the cutting blade 28 enters the blade intrusion portion 39, the amount by which the cutting blade 28 blocks the light beam emitted from the light emitting portion 60 gradually increases, so the amount of light received by the light receiving portion 62 gradually increases. Decrease.

そして、切削ブレード28が発光部60と受光部62の中心を結ぶ位置に達した時、受光部62に接続されたフォトディテクター等の光電変換部からの出力電圧が基準電圧になるように設定されている。   When the cutting blade 28 reaches the position connecting the center of the light emitting unit 60 and the light receiving unit 62, the output voltage from the photoelectric conversion unit such as a photodetector connected to the light receiving unit 62 is set to be a reference voltage. ing.

従って、光電変換部の出力電圧が基準電圧になったとき、Z軸移動機構54のパルスモータ52の駆動を停止し、この時のZ方向位置をリニアスケール56で読み取り、コントローラのメモリに格納する。   Accordingly, when the output voltage of the photoelectric conversion unit becomes the reference voltage, the driving of the pulse motor 52 of the Z-axis moving mechanism 54 is stopped, and the Z-direction position at this time is read by the linear scale 56 and stored in the memory of the controller. .

そして、ブレード検出手段36で検出された切削ブレード28の最下端位置に、高さ位置検出手段で検出された保持面18aの高さ位置と高さ検出面64の高さ位置との差を加算した位置を、チャックテーブル18の保持面18aに対する切削ブレード28の基準位置とする。   Then, the difference between the height position of the holding surface 18a detected by the height position detecting means and the height position of the height detecting surface 64 is added to the lowermost position of the cutting blade 28 detected by the blade detecting means 36. This position is set as a reference position of the cutting blade 28 with respect to the holding surface 18 a of the chuck table 18.

この基準位置の算出はコントローラの算出手段、すなわち演算部で実施する。切削ブレード28の基準位置は、切削ブレード28がチャックテーブル18の保持面18aに接触する位置であり、この基準位置に基づいて切削ブレード30の切り込み方向の位置を制御する。   The calculation of the reference position is performed by the calculation means of the controller, that is, the calculation unit. The reference position of the cutting blade 28 is a position where the cutting blade 28 contacts the holding surface 18 a of the chuck table 18, and the position of the cutting blade 30 in the cutting direction is controlled based on this reference position.

上述した実施形態では、撮像ユニット24の顕微鏡のオートフォーカス機構を利用して、チャックテーブル18の保持面18aの高さ位置及びブレード検出手段(非接触セットアップセンサ)36の高さ検出面64の高さ位置を検出するため、接触セットアップを実施することなく高精度に切削ブレード30を所定の高さ位置に位置付けることができる。接触セットアップを実施してチャックテーブル18に切削ブレード30が切り込む必要がないため、チャックテーブル18の交換頻度を従来に比較して低減することができる。   In the above-described embodiment, the height position of the holding surface 18a of the chuck table 18 and the height detection surface 64 of the blade detection means (non-contact setup sensor) 36 are utilized using the autofocus mechanism of the microscope of the imaging unit 24. Since the position is detected, the cutting blade 30 can be positioned at a predetermined height position with high accuracy without performing contact setup. Since it is not necessary to cut the cutting blade 30 into the chuck table 18 by performing contact setup, the replacement frequency of the chuck table 18 can be reduced as compared with the conventional case.

2 切削装置
18 チャックテーブル
18a 保持面
26 切削ユニット
30 切削ブレード
38 加工送り機構(X軸移動機構)
44 割出し送り機構(Y軸送り機構)
46,56 リニアスケール
48,58 読み取りヘッド
54 切り込み送り機構(Z軸移動機構)
36 ブレード検出手段(非接触セットアップセンサ)
60 発光部
62 受光部
64 高さ検出面
2 Cutting device 18 Chuck table 18a Holding surface 26 Cutting unit 30 Cutting blade 38 Processing feed mechanism (X-axis moving mechanism)
44 Index feed mechanism (Y-axis feed mechanism)
46, 56 Linear scale 48, 58 Reading head 54 Cutting feed mechanism (Z-axis moving mechanism)
36 Blade detection means (non-contact setup sensor)
60 Light Emitting Unit 62 Light Receiving Unit 64 Height Detection Surface

Claims (2)

被加工物を保持する保持面を有する保持手段と、該保持手段に保持された被加工物を切削する切削ブレードを有する切削手段と、を備えた切削装置であって、
発光手段と、該発光手段に対面し該発光手段から出射された光を受光する受光手段と、該発光手段と該受光手段との間の光路の外側で該光路と同じ高さ位置の高さ検出面を含む高さ検出部と、を有し、該発光手段と該受光手段との間に該切削ブレードが位置づけられることで該切削ブレードの最下端の高さ位置を検出するブレード検出手段と、
該保持手段の該保持面の高さ位置を検出するとともに該ブレード検出手段の該高さ検出面の高さ位置を検出する高さ位置検出手段と、
該ブレード検出手段で検出された該切削ブレードの最下端位置に、該高さ位置検出手段で検出された該保持面の高さ位置と該高さ検出面の高さ位置との差を加算した位置を、該保持面に対する該切削ブレードの基準位置として算出する算出手段と、
を備えたことを特徴とする切削装置。
A cutting device comprising: holding means having a holding surface for holding a workpiece; and cutting means having a cutting blade for cutting the workpiece held by the holding means,
A light-emitting means, a light-receiving means that faces the light-emitting means and receives light emitted from the light-emitting means, and a height at the same height as the optical path outside the optical path between the light-emitting means and the light-receiving means A height detection unit including a detection surface; and a blade detection unit that detects a height position of a lowermost end of the cutting blade by positioning the cutting blade between the light emitting unit and the light receiving unit. ,
A height position detecting means for detecting a height position of the holding surface of the holding means and detecting a height position of the height detecting surface of the blade detecting means;
The difference between the height position of the holding surface detected by the height position detecting means and the height position of the height detecting surface is added to the lowest end position of the cutting blade detected by the blade detecting means. Calculating means for calculating a position as a reference position of the cutting blade with respect to the holding surface;
A cutting apparatus comprising:
前記高さ位置検出手段は、前記保持手段に保持された被加工物の表面を撮像する撮像手段と、該撮像手段を鉛直方向に移動させる移動手段と、該撮像手段の高さ位置を検出する撮像手段高さ位置検出手段と、から構成される請求項1記載の切削装置。   The height position detection means detects an image pickup means for picking up an image of the surface of the workpiece held by the holding means, a moving means for moving the image pickup means in the vertical direction, and a height position of the image pickup means. The cutting apparatus according to claim 1, further comprising: an imaging unit height position detection unit.
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