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JP2015082570A - ウエーハ加工システム - Google Patents

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祐樹 安田
Yuki Yasuda
祐樹 安田
毅 北浦
Takeshi Kitaura
毅 北浦
寛 吉村
Hiroshi Yoshimura
寛 吉村
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Disco Abrasive Systems Ltd
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Abstract

【課題】ウエーハを搬送中にウエーハを常に濡れた状態に保つとともに、ウエーハに供給した純水等の液体が装置内に飛散することを防止するウエーハ加工システムを提供する。
【解決手段】搬出されたウエーハ11を搬送する搬送手段と、該搬送手段が移動する直線上の搬送経路と、前記搬送手段を移動させる移動手段と、該搬送経路に沿って隣接して配設されたウエーハにそれぞれ加工を施す複数の加工装置と、を具備し、前記搬送手段は、搬送中のウエーハを保持するとともに複数の該加工装置の間でウエーハを受け渡す保持機構74と、保持機構74を支持するアーム部34と、保持機構74に保持されたウエーハの上面に液体を供給する液体供給手段78と、保持機構74に保持されたウエーハよりも下方に位置し、液体供給手段78によってウエーハの上面に供給された後にウエーハから流れ落ちた液体を受け止めて貯留する貯留部を有するトレーと、を含む。
【選択図】図3

Description

本発明は、半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等のウエーハを加工するための独立した複数の加工装置を備えたウエーハ加工システム(クラスタ加工装置)に関する。
例えば、半導体デバイス製造プロセスにおいては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に形成されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって区画された各領域にIC,LSI等のデバイスを形成し、デバイスが形成された各領域を分割予定ラインに沿って切削装置又はレーザー加工装置によって分割することにより、個々の半導体デバイスを製造している。
通常、半導体ウエーハを分割予定ラインに沿って切削して個々のデバイスに分割するのに先立って、個々に分割されたデバイスの小型化及び軽量化を図るために、半導体ウエーハの裏面を研削装置により研削して所望の厚さに加工している。
研削装置により半導体ウエーハの裏面を研削すると、ウエーハの被研削面に研削歪が残留する。研削歪がウエーハの裏面に残留したままであると、ウエーハを分割して形成されるデバイスの抗折強度を低下させる恐れがあるため、ウエーハの被研削面を研磨装置により研磨して研削歪を除去することも行われている。
このように半導体デバイス製造に関わる切削装置、研削装置、研磨装置等の加工装置を使用するユーザーの要望は多岐にわたり、加工装置メーカーにおいて多種類の加工装置を用意していても、ユーザーの要望に対応できない場合がある。
そこで、ユーザーの要望に柔軟に対応できるように、ウエーハ搬送手段に沿って複数の加工装置を隣接して配置したウエーハ加工装置が特開2012−175022号公報で提案されている。
特開2012−175022号公報 特開2010−56327号公報
このような構成のウエーハ加工装置では、工程順に従って複数の加工装置間をウエーハが移動してウエーハの加工が実施されるが、加工装置間をウエーハが移動する際にウエーハの表面に異物が付着する場合がある。
ウエーハが搬送される際に加工液や洗浄液によってウエーハ表面が濡れた状態となっている場合が多いが、搬送中にウエーハが乾燥すると表面に付着していた異物がウエーハ表面に固着し、洗浄しても異物を除去できない場合がある。このような問題を解決するために、搬送中にウエーハを常に濡れた状態に保つ技術が特許文献2に開示されている。
搬送中にウエーハの表面を濡らしておくためには純水などの液体を常に供給しておかなければならないが、ウエーハ上に供給され流れ落ちた純水が装置内に飛散し、搬送機構や周辺の加工装置の故障原因となる可能性がある。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ウエーハを搬送中にウエーハを常に濡れた状態に保つとともに、ウエーハに供給した純水等の液体が装置内に飛散することを防止するウエーハ加工システムを提供することである。
本発明によると、ウエーハに加工を施すウエーハ加工システムであって、複数のウエーハを収容したカセットを載置するカセット載置機構と、該カセット載置機構上に載置されたカセットに対してウエーハを搬出入する搬出入手段と、該搬出入手段によって搬出されたウエーハを搬送する搬送手段と、該搬送手段が移動する直線状の搬送経路と、該搬送手段を該搬送経路に沿って移動させる移動手段と、該搬送経路に沿って隣接して配設されたウエーハにそれぞれ加工を施す複数の加工装置と、を具備し、該搬送手段は、搬送中のウエーハを保持するとともに該複数の加工装置の間でウエーハを受け渡す保持機構と、該保持機構を支持するアーム部と、該保持機構に保持されたウエーハの上面に液体を供給する液体供給手段と、該保持機構に保持されたウエーハよりも下方に位置し、該液体供給手段によってウエーハの上面に供給された後にウエーハから流れ落ちた液体を受け止めて貯留する貯留部を有するトレーと、該トレーに貯留された液体を該搬送手段の外部に搬出する排出手段と、を含み、該液体供給手段は、液体供給源と、液体をウエーハの上面に吐出する液体供給孔と、該液体供給源と連通して液体を該液体供給孔に送る該アーム部に沿って配設された液体供給経路とを含み、該液体供給手段は該保持機構に保持されたウエーハの上面に常時液体を供給し、該排出手段は、該トレーに貯留された液体を吸引する吸引口と、該吸引口から吸引された液体を該搬送手段の外部に排出する排出経路と、該吸引口に負圧を発生させる吸引手段と、を有していることを特徴とするウエーハ加工システムが提供される。
好ましくは、ウエーハ加工システムは、該搬送手段の該トレーから吸引された液体が排出されるとともに、該アーム部に支持された該保持機構が該トレー上方の搬送位置と該トレーの上方から外れた受け渡し位置との間で移動する際にウエーハから流れ落ちた液体を受け止める、該搬送経路に沿って配設された樋形状の排水路、を更に具備している。
好ましくは、該保持機構は、放射方向に伸長する3つ以上の案内部を有する支持プレートと、それぞれ該案内部を介して該支持プレートに移動可能に支持されたウエーハの外周縁を保持する3つ以上の保持部材と、該案内部に沿って該各保持部材を移動させる保持部材移動手段と、を含む。
本発明のウエーハ加工システムは、搬送手段がウエーハ保持機構に保持されたウエーハに液体を供給する液体供給手段と、ウエーハ上面に供給された後にウエーハから流れ落ちた液体を受け止めるトレーを備えているため、搬送経路に沿ってウエーハを搬送する間にウエーハを常に濡れた状態に保つことができるとともに、ウエーハに供給した純水等の液体が装置内に飛散することを防止できる。
本発明実施形態に係るウエーハ加工システムの模式的平面図である。 半導体ウエーハの表面側斜視図である。 図3(A)はウエーハを保持しようと位置付けられた保持機構の縦断面図、図3(B)はウエーハを保持した状態の保持機構の縦断面図である。 図4(A)は保持機構の分解斜視図、図4(B)は保持機構の平面図である。 ウエーハ搬送ロボットのベース部に配設されたトレーの斜視図である。 図1に示したウエーハ加工システムの一部断面右側面図である。 保持機構がトレー内に収容された状態のウエーハ搬送ロボットの一部断面側面図である。 第1及び第2のウエーハ搬送ロボットを備えた図1に示したウエーハ加工システムの一部断面右側面図である。 第2のウエーハ搬送ロボットのベースに配設されたトレーを示す斜視図である。 保持機構がトレー内に収容された状態の第2のウエーハ搬送ロボットの一部断面側面図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明実施形態に係るウエーハ加工システム(クラスタ加工装置)10の模式的平面図が示されている。図2はその一部断面側面図である。
ウエーハ加工システム10は、複数のウエーハを使用したカセット16を載置するカセット載置機構12をその一端部に備えている。カセット載置機構12は、互いに独立して作動可能な複数のカセットエレベータ14a〜14dを有している。各カセットエレベータ14a〜14d上には複数のウエーハを収容したカセット16が載置され、各カセット16を上下方向に独立して移動可能である。
カセット載置機構12に隣接してウエーハ搬出入手段としてのウエーハ搬出入ロボット18がガイドレール26に案内されてY軸方向に移動可能に配設されている。ウエーハ搬出入ロボット18の移動手段は、Y軸方向にガイドレール26に沿って配設された一次コイルと、ウエーハ搬出入ロボット18の図示しないハウジング内に配設された二次コイルとを含むリニアモータから構成される。
ウエーハ搬出入ロボット18の図示しないハウジング上にはベース20が上下方向(Z軸方向)に移動可能に配設されている。このベース20には、旋回及び伸縮可能なアーム部(リンク機構)22が取り付けられており、アーム部22の先端部にウエーハを吸着可能なハンド24が回動可能に取り付けられている。
カセット載置機構12に対して直交する方向に伸長する直線状の搬送経路28が設けられている。ウエーハ搬送手段としてのウエーハ搬送ロボット(第1のウエーハ搬送ロボット)30がX軸方向に伸長するガイドレール38に案内されてX軸方向に移動可能に配設されている。
ウエーハ搬送ロボット30の移動手段は、ガイドレール38に沿ってX軸方向に直線状に配設された一次コイルと、ウエーハ搬送ロボット30のハウジング92(図6参照)内に配設された二次コイルとを有するリニアモータから構成される。
すなわち、図6に示すように、ガイドレール支持部材94が搬送経路28を部分的に覆うフレーム90に固定されており、このガイドレール支持部材94に一対のガイドレール38が搬送経路28に沿って固定されている。
ウエーハ搬送ロボット30のハウジング92にはガイドレール38に嵌合する一対の突起部96が固定されており、一次コイル及び二次コイルからなるリニアモータを駆動すると、ウエーハ搬送ロボット30が一対のガイドレール38に案内されてX軸方向に移動される。
ウエーハ搬送ロボット30は、上下方向(Z軸方向)に移動可能なベース32と、ベース32に旋回及び伸縮可能に取り付けられたアーム部(リンク機構)34と、アーム部34の先端部に回動可能に取り付けられたウエーハを保持する保持機構36とから構成される。
直線状の搬送経路28に隣接して位置合わせテーブル40が配設されている。位置合わせテーブル40は半径方向に移動可能な複数の位置合わせピン42を有しており、ウエーハ搬出入ロボット18によりカセット16内から搬出されたウエーハはこの位置合わせテーブル40上に載置されて、複数の位置合わせピン42が同時に半径方向中心側に移動することにより、ウエーハの中心位置合わせが実施される。
44は研削装置であり、ウエーハに対して粗研削を実施する粗研削ユニット46及びウエーハに対して仕上げ研削を実施する仕上げ研削ユニット48を備えている。50は矢印a方向に回転可能なターンテーブルであり、3個のチャックテーブル52が互いに120°離間してターンテーブル50上に配設されている。
各チャックテーブル52は、ターンテーブル50を回転することにより、チャックテーブル52に対してウエーハを搬入・搬出するウエーハ搬入・搬出領域Aと、粗研削ユニット46に対向した粗研削領域Bと、仕上げ研削ユニット48に対向した仕上げ研削領域Cに位置付けられる。
研削装置44に対向するように直線状の搬送経路28の反対側には研磨装置54が搬送経路28に隣接して配設されている。研磨装置54は、研磨ユニット55と、回転駆動されるターンテーブル56と、ターンテーブル56上に配設された2個のチャックテーブル58とを備えている。研磨ユニット55は、例えば固定砥粒を含有した研磨パッドを有している。
直線状の搬送経路28に対して、位置合わせテーブル40の反対側にはスピンナー洗浄装置60が搬送経路28に隣接して配設されている。スピンナー洗浄装置60は、回転駆動されるスピンナーテーブル62と、純水等の洗浄液を噴出する洗浄ノズル64を備えている。
図2を参照すると、半導体ウエーハ(以下、単にウエーハと略称することがある)11の表面側斜視図が示されている。半導体ウエーハ11の表面11aには格子状に複数の分割予定ライン13が形成されており、交差する分割予定ライン13によって区画された各領域にIC,LSI等のデバイス15が形成されている。11bはウエーハ11の裏面である。
図3を参照すると、ウエーハ搬送ロボット30のアーム部34に支持された保持機構36の縦断面図が示されている。図3(A)はウエーハ11を保持しようとする状態の、図3(B)は保持部材74でウエーハ11を保持している状態の縦断面図を示している。図4(A)は保持機構36の分解斜視図、図4(B)は支持プレート66の平面図をそれぞれ示している。
保持機構36は、放射方向に形成された6個の案内部(長穴)75を有する支持プレート66と、案内部75に沿って放射方向に移動されるように適合したウエーハ11の外周縁を保持する6個の保持部材74と、各保持部材74を移動する支持プレート66に固定されたエアシリンダ72とを含んでいる。保持部材74はゴム、樹脂等の弾性体から形成されている。
エアシリンダ72のピストンロッド72aの先端部に各保持部材74がボルト76で固定されている。本実施形態では、全てのエアシリンダ72のピストンロッド72aが同時に伸縮するように作動する。本実施形態では、保持部材74及びエアシリンダ72が6個設けられているが、保持部材74はウエーハ11の外周縁を保持するために3個以上配設されていればよく、エアシリンダ72も保持部材74に対応して3個以上設けられていればよい。
保持機構36は接続部材68を介してウエーハ搬送ロボット30のアーム部34の先端部に固定されている。即ち、図4(A)に示すように、支持プレート66に形成された液体供給孔71,接続部材68に形成された貫通孔73及びアーム部34の先端部に形成された図示しない挿入孔中にパイプ70を挿入することにより、保持機構36はアーム部34の先端部に取り付けられる。
支持プレート66に形成された液体供給孔71は、パイプ70、アーム部34に形成された液体供給路35及び液体供給経路37を介して純水等の液体を供給する液体供給源78に接続されている。
液体供給源78と、液体供給経路37と、液体供給路35と、パイプ70と、液体供給孔71とで液体供給手段を構成する。特に図示しないが、液体供給経路37には液体供給経路37を液体供給源38に選択的に接続する電磁切替弁が挿入されている。
位置合わせテーブル40上で位置合わせされたウエーハ11をウエーハ搬送ロボット30の保持機構36で保持するには、図3(A)に示すように、エアシリンダ72を作動して保持部材74を案内部75の放射方向外側に移動させる。次いで、アーム部34を保持部材74の概略中心がウエーハ11の高さ位置に一致するまで所定距離下降させる。
この状態で、エアシリンダ72を作動してピストンロッド72aを縮めると保持部材74がウエーハ11の外周縁を保持する。尚、ウエーハ11は研削装置44で裏面研削を実施するため、裏面11bが上側となって保持機構36によって保持される。
保持機構36でウエーハ11を保持すると、電磁切替弁を接続位置に切り替えて液体供給経路37を液体供給源78に接続する。その結果、液体供給源78から供給される純水等の液体80が支持プレート66に形成された液体供給孔71を介して保持部材74に保持されたウエーハ11の上面(裏面)11b上に供給される。ウエーハ11を保持機構36で保持している間、液体80が常に供給され続ける。
図5に示すように、ウエーハ搬送ロボット30のベース部32の周囲を囲うようにトレー82が配設されている。トレー82は液体供給手段によってウエーハ11の上面に供給された後にウエーハ11から流れ落ちた液体を受け止めて貯留する貯留部82aをその中心部に有している。貯留部82aには吸引口84aが開口している。
リンク機構からなるアーム部34を図5及び図6に示すように伸ばしたり、図7に示すように縮めたりすることにより、保持機構36はトレー82の上方から外れたウエーハ受け渡し位置と、トレー82の上方に収容されたウエーハ搬送位置との間で移動される。ウエーハ搬送中には、保持機構36は常にトレー82の上方に収容される搬送位置に維持される。
図5及び図7に示すように、トレー82の貯留部82aに開口した吸引口84aは、貯留部82に溜まった液体を排出する排出経路84に接続されており、排出経路84の途中には吸引口84aに負圧を発生させる吸引手段86が挿入されている。
本実施形態では、トレー82に貯留された液体を吸引する吸引口84aと、吸引口84aから吸引された液体を搬送ロボット30の外部に排出する排出経路84と、吸引口84aに負圧を発生させる吸引手段86とで排出手段を構成する。
排出経路84から排出された液体は、搬送経路28に沿って配設された排水路88中に排出される。排水路88はX軸方向に一端が低くなるように傾いて配設されているため、排水路88中に排出された液体はウエーハ加工システム10の装置外に排出される。
本実施形態ではさらに、搬送機構36がトレー82の上方に収容されたウエーハ搬送位置とトレー82の上方から外れたウエーハ受け渡し位置との間で移動する際に、ウエーハ11から流れ落ちた液体は排水路88で受け止めるため、装置内に液体が飛散することが防止される。
次に、図8乃至図10を参照して、搬送経路28中に配設された第2のウエーハ搬送ロボット98について説明する。図8に示すように、本実施形態のウエーハ加工システム10では、搬送路28中に下方に位置するウエーハ搬送ロボット30と、上方に位置する第2のウエーハ搬送ロボット98とが2段構成で配設されている。各ウエーハ搬送ロボット30,98はそれぞれ独立して作動可能である。図1では、第2のウエーハ搬送ロボット98は省略されている。
第2のウエーハ搬送ロボット98は、ウエーハ搬送ロボット30の移動手段と同様に、リニアモータを駆動することによりガイドレール支持部材112に支持された一対のガイドレール110に案内されて搬送経路28中をX軸方向に移動される。
第2のウエーハ搬送ロボット98のベース102は上下方向に移動可能にハウジング100中に収容されており、ベース102に旋回及び伸縮可能にアーム部106が取り付けられている。
アーム部106の先端部には保持機構36と同様な保持機構108が連結されている。特に図示しないが、保持機構108には図3に示したのと同様な液体供給手段が接続されている。
図9に最もよく示されるように、第2のウエーハ搬送ロボット98のハウジング100にトレー支持部材104を介してトレー114が取り付けられている。トレー114はその断面が概略三角錐形状をしており、その中央部に液体を貯留する貯留部114aを有している。
トレー114の貯留部114aにはトレー114に貯留された液体を吸引する排出経路116の吸引口116aが開口しており、排出経路116には吸引口116aに負圧を発生させる吸引手段118が挿入されている。
第2のウエーハ搬送ロボット98もウエーハ搬送ロボット30と同様にアーム部106を伸縮することにより、図9に示すように、トレー114の上方から外れたウエーハ受け渡し位置と、図10に示すように、トレー114の上方に収容されたウエーハ搬送位置とに位置付けられる。
ウエーハ搬送中には、液体供給手段により常に保持機構108に保持されたウエーハ上に液体が供給されているため、保持機構108は図10に示すように常にトレー114の上方に位置付けられ、ウエーハ11から流れ落ちた液体をトレー114で受け止めて貯留部114aに貯留する。
貯留部114aに貯留された液体は、吸引手段118を作動することにより排出経路116の吸引口116aから吸引され、図8に示すように、搬送経路28に沿って配設された排水路120中に排出される。
排水路120は排水路88と同様に、一端が他端よりも低くなるように斜めに傾斜して配設されているため、排水路120中に排出された液体はウエーハ加工システム10の装置外に排出される。
本実施形態のウエーハ加工システム10では、ウエーハ搬送ロボット30と第2のウエーハ搬送ロボット98を上下方向に2段構成で配設したので、一方のウエーハ搬送ロボット30でウエーハ11を研削装置44のチャックテーブル52に搬入している時、他方の第2の搬送ロボット98を例えば研磨装置54からスピンナー洗浄装置60までウエーハを搬送する用途に使用することができ、作業効率が向上する。
また、ウエーハ搬送ロボット30及び第2のウエーハ搬送ロボット98でも、ウエーハ11を搬送中はウエーハ11を保持する保持機構36,108をトレー82,114の上方に収容した状態で搬送するため、搬送中にウエーハ11に供給した純水等の液体が装置内に飛散することを防止できる。
10 ウエーハ加工システム
12 カセット載置機構
18 ウエーハ搬出入ロボット
28 搬送経路
30 ウエーハ搬送ロボット
36,108 保持機構
40 位置合わせテーブル
44 研削装置
54 研磨装置
60 スピンナー洗浄装置
66 支持プレート
74 保持部材
78 液体供給源
82,114 トレー
82a,114a 貯留部

Claims (3)

  1. ウエーハに加工を施すウエーハ加工システムであって、
    複数のウエーハを収容したカセットを載置するカセット載置機構と、
    該カセット載置機構上に載置されたカセットに対してウエーハを搬出入する搬出入手段と、
    該搬出入手段によって搬出されたウエーハを搬送する搬送手段と、
    該搬送手段が移動する直線状の搬送経路と、
    該搬送手段を該搬送経路に沿って移動させる移動手段と、
    該搬送経路に沿って隣接して配設されたウエーハにそれぞれ加工を施す複数の加工装置と、を具備し、
    該搬送手段は、搬送中のウエーハを保持するとともに該複数の加工装置の間でウエーハを受け渡す保持機構と、該保持機構を支持するアーム部と、該保持機構に保持されたウエーハの上面に液体を供給する液体供給手段と、該保持機構に保持されたウエーハよりも下方に位置し、該液体供給手段によってウエーハの上面に供給された後にウエーハから流れ落ちた液体を受け止めて貯留する貯留部を有するトレーと、該トレーに貯留された液体を該搬送手段の外部に搬出する排出手段と、を含み、
    該液体供給手段は、液体供給源と、液体をウエーハの上面に吐出する液体供給孔と、該液体供給源と連通して液体を該液体供給孔に送る該アーム部に沿って配設された液体供給経路とを含み、該液体供給手段は該保持機構に保持されたウエーハの上面に常時液体を供給し、
    該排出手段は、該トレーに貯留された液体を吸引する吸引口と、該吸引口から吸引された液体を該搬送手段の外部に排出する排出経路と、該吸引口に負圧を発生させる吸引手段と、を有していることを特徴とするウエーハ加工システム。
  2. 該搬送手段の該トレーから吸引された液体が排出されるとともに、該アーム部に支持された該保持機構が該トレー上方の搬送位置と該トレーの上方から外れた受け渡し位置との間で移動する際にウエーハから流れ落ちた液体を受け止める、該搬送経路に沿って配設された樋形状の排水路、を更に具備していることを特徴とする請求項1記載のウエーハ加工システム。
  3. 該保持機構は、放射方向に伸長する3つ以上の案内部を有する支持プレートと、それぞれ該案内部を介して該支持プレートに移動可能に支持されたウエーハの外周縁を保持する3つ以上の保持部材と、該案内部に沿って該各保持部材を移動させる保持部材移動手段と、を含むことを特徴とする請求項1又は2記載のウエーハ加工システム。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170088112A (ko) * 2016-01-22 2017-08-01 하이윈 테크놀로지스 코포레이션 클램핑 기구
US10040204B2 (en) * 2016-08-24 2018-08-07 Disco Corporation Plate-shaped workpiece transfer apparatus and processing apparatus
JP2021132178A (ja) * 2020-02-21 2021-09-09 株式会社ディスコ 加工装置
WO2023084977A1 (ja) * 2021-11-10 2023-05-19 株式会社荏原製作所 基板処理装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110416351A (zh) * 2018-04-27 2019-11-05 北京创昱科技有限公司 晶片加工系统

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09234688A (ja) * 1996-02-28 1997-09-09 Ebara Corp ワーク搬送ロボットの防水機構
JPH09244259A (ja) * 1996-03-13 1997-09-19 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JPH1074717A (ja) * 1996-05-10 1998-03-17 Canon Inc 精密研磨装置および精密研磨方法
JPH11284047A (ja) * 1998-03-31 1999-10-15 Shibaura Mechatronics Corp ローディング装置、ロボット装置およびローディング方法
JP2003037150A (ja) * 2002-04-08 2003-02-07 Shibaura Mechatronics Corp 処理装置およびその方法、ロボット装置
JP2003282666A (ja) * 2002-03-25 2003-10-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板搬送装置および基板処理装置
JP2010056327A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Disco Abrasive Syst Ltd ワーク保持機構
JP2011211221A (ja) * 2003-10-08 2011-10-20 Miyagi Nikon Precision Co Ltd 基板搬送装置及び基板搬送方法、露光装置及び露光方法、デバイス製造装置及びデバイス製造方法
JP2012175022A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハ加工装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09234688A (ja) * 1996-02-28 1997-09-09 Ebara Corp ワーク搬送ロボットの防水機構
JPH09244259A (ja) * 1996-03-13 1997-09-19 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JPH1074717A (ja) * 1996-05-10 1998-03-17 Canon Inc 精密研磨装置および精密研磨方法
JPH11284047A (ja) * 1998-03-31 1999-10-15 Shibaura Mechatronics Corp ローディング装置、ロボット装置およびローディング方法
JP2003282666A (ja) * 2002-03-25 2003-10-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板搬送装置および基板処理装置
JP2003037150A (ja) * 2002-04-08 2003-02-07 Shibaura Mechatronics Corp 処理装置およびその方法、ロボット装置
JP2011211221A (ja) * 2003-10-08 2011-10-20 Miyagi Nikon Precision Co Ltd 基板搬送装置及び基板搬送方法、露光装置及び露光方法、デバイス製造装置及びデバイス製造方法
JP2010056327A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Disco Abrasive Syst Ltd ワーク保持機構
JP2012175022A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハ加工装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170088112A (ko) * 2016-01-22 2017-08-01 하이윈 테크놀로지스 코포레이션 클램핑 기구
KR101882891B1 (ko) 2016-01-22 2018-07-27 하이윈 테크놀로지스 코포레이션 클램핑 기구
US10040204B2 (en) * 2016-08-24 2018-08-07 Disco Corporation Plate-shaped workpiece transfer apparatus and processing apparatus
JP2021132178A (ja) * 2020-02-21 2021-09-09 株式会社ディスコ 加工装置
JP7444633B2 (ja) 2020-02-21 2024-03-06 株式会社ディスコ 加工装置
WO2023084977A1 (ja) * 2021-11-10 2023-05-19 株式会社荏原製作所 基板処理装置

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