JP2014092388A - 増強電磁場を用いたアレイ型センサー、並びにアレイ型センサーを使用した測定方法及び測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】同じ形状かつ同じ電磁場増強効果を持つ金属ナノ構造体を2次元的に周期的に配列することで、電磁場ホットスポットの2次元アレイを構成し、レーザービームや試料ステージを走査しながら各ホットスポットのスペクトルを計測しターゲット分子の検出を行い、溶液中の分子の検出や複数の分子の存在比率を得る。
【選択図】図3
Description
ここで、前記複数のナノ構造物の各々は、所定の形状を有する金属のドットの対を電磁場増強特性が発現するギャップを介して対向させたものであってよい。
また、前記複数のナノ構造物は、前記ドットの形状、サイズ、及びギャップが±5nmの誤差範囲内に入ってよい。
また、前記複数のナノ構造物はAuからなってよい。
また、前記複数のナノ構造物の配置の間隔は前記光の回折限界よりも大きくしてよい。
また、前記複数のナノ構造物は基板上に一次元あるいは二次元状に配置されてよい。
また、前記基板は誘電体からなってよい。
また、前記複数のナノ構造物は前記基板から垂直方向に離間して配置されてよい。
また、前記垂直方向の離間の距離は前記複数のナノ構造物のサイズ以上であってよい。
また、前記複数のナノ構造物は周期的に配置されていてよい。
また、前記複数のナノ構造物の配置の間隔は前記複数のナノ構造物の各々から輻射される電磁波が互いに干渉して強め合う距離であってよい。
本発明の他の側面によれば、上記の何れかのアレイ型センサーに測定対象の試料を与えた状態で、前記複数のナノ構造物に順次光を照射し、前記複数のナノ構造物からの光信号をスペクトル計測する、アレイ型センサーを用いた測定方法が与えられる。
ここで、前記光はレーザー光であってよい。
本発明の更に他の側面によれば、上記何れかのアレイ型センサーと、前記アレイ型センサーの前記複数のナノ構造物に順次励起光を与えるレーザー光源と、前記レーザー光源からの励起光を前記複数のナノ構造物に順次照射するための位置決めを行う機構と、前記複数のナノ構造物からの光信号を受け取る光学系と、前記光学系からの前記光信号をスペクトル計測して記録する分光計測系とを設けた測定装置が与えられる。
Claims (14)
- 電磁場増強特性が実質的に同一であるとともに、実質的に同一の形状を有する複数のナノ構造物を、これらのナノ構造物からの光を互いに分離して観測可能な間隔で配置した、アレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物の各々は、所定の形状を有する金属のドットの対を電磁場増強特性が発現するギャップを介して対向させたものである、請求項1に記載のアレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物は、前記ドットの形状、サイズ、及びギャップが±5nmの誤差範囲内に入る、請求項2に記載のアレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物はAuからなる、請求項1から3の何れかに記載のアレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物の配置の間隔は前記光の回折限界よりも大きい、請求項1から4の何れかに記載のアレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物は基板上に一次元あるいは二次元状に配置される、請求項1から5の何れかに記載のアレイ型センサー。
- 前記基板は誘電体からなる、請求項6に記載のアレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物は前記基板から垂直方向に離間して配置される、請求項7に記載のアレイ型センサー。
- 前記垂直方向の離間の距離は前記複数のナノ構造物のサイズ以上である、請求項8に記載のアレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物は周期的に配置されている、請求項1から9の何れかに記載のアレイ型センサー。
- 前記複数のナノ構造物の配置の間隔は前記複数のナノ構造物の各々から輻射される電磁波が互いに干渉して強め合う距離である、請求項1から10の何れかに記載のアレイ型センサー。
- 請求項1から11の何れかに記載のアレイ型センサーに測定対象の試料を与えた状態で、前記複数のナノ構造物に順次光を照射し、前記複数のナノ構造物からの光信号をスペクトル計測する、アレイ型センサーを用いた測定方法。
- 前記光はレーザー光である、請求項12に記載のアレイ型センサーをもちいた測定方法。
- 請求項1から11の何れかに記載のアレイ型センサーと、
前記アレイ型センサーの前記複数のナノ構造物に順次励起光を与えるレーザー光源と、
前記レーザー光源からの励起光を前記複数のナノ構造物に順次照射するための位置決めを行う機構と、
前記複数のナノ構造物からの光信号を受け取る光学系と、
前記光学系からの前記光信号をスペクトル計測して記録する分光計測系と
を設けた測定装置。
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