JP2013197237A - スーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置とその駆動方法、及び光断層画像撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】広帯域なスペクトルと共に、高い光出力を得ることが可能となるスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置を提供する。
【解決手段】同一基板上に、少なくとも2つのスーパールミネッセントダイオードである第1のSLD110と第2のSLD120とを備えた光源装置であって、第1のSLDと第2のSLDは、発光スペクトルが複数のピークを有する、同一基板上に形成された同一の活性層と、第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部130と、合波された光を出力するための出力光導波路140と、を備え、第1のSLDは、第1の電流密度で駆動するための第1の電極部を有し長波長側の発光ピークが支配的となるように構成されると共に、第2のSLDは、第2の電流密度で駆動するための第2の電極部を有し短波長側の発光ピークが支配的となるように構成されている。
【選択図】図1
【解決手段】同一基板上に、少なくとも2つのスーパールミネッセントダイオードである第1のSLD110と第2のSLD120とを備えた光源装置であって、第1のSLDと第2のSLDは、発光スペクトルが複数のピークを有する、同一基板上に形成された同一の活性層と、第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部130と、合波された光を出力するための出力光導波路140と、を備え、第1のSLDは、第1の電流密度で駆動するための第1の電極部を有し長波長側の発光ピークが支配的となるように構成されると共に、第2のSLDは、第2の電流密度で駆動するための第2の電極部を有し短波長側の発光ピークが支配的となるように構成されている。
【選択図】図1
Description
本発明は、スーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置とその駆動方法、及び光断層画像撮像装置に関する。
スーパールミネッセントダイオード(Super Luminescent Diode、以下、SLDと記す)は発光ダイオードのように広帯域なスペクトル分布を有しながら、半導体レーザ同様に比較的高い光出力を得ることが可能な半導体光源である。
SLDは、その特性から高分解能が求められる医療分野や計測分野で注目されており、例えば、生体組織の光断層画像を取得する際のOCT(Optical Coherence Tomography)システムを利用した光断層画像撮像装置の光源として用いられる。
SLDは、その特性から高分解能が求められる医療分野や計測分野で注目されており、例えば、生体組織の光断層画像を取得する際のOCT(Optical Coherence Tomography)システムを利用した光断層画像撮像装置の光源として用いられる。
スペクトルの広帯域化は高分解能な断層画像取得に必要であり、SLDでスペクトルを広帯域化する方法として、例えば、非特許文献1に記載の単一量子井戸(Single Quantum Well、以下SQWと記す)構造を有する活性層を用いることが挙げられる。
SQWを用いたSLDでは、2つのエネルギー準位からの発光スペクトルの重ね合わせを利用して、広いスペクトル半値全幅を実現する。また、SLDは高い光出力と広いスペクトル半値全幅を得ることがトレードオフの関係となっている。
SQWを用いたSLDでは、2つのエネルギー準位からの発光スペクトルの重ね合わせを利用して、広いスペクトル半値全幅を実現する。また、SLDは高い光出力と広いスペクトル半値全幅を得ることがトレードオフの関係となっている。
Quantum Electronics,Vol.33,No.6,pp.471−473,2003
SLDで、高い光出力と2つのエネルギー準位からの発光スペクトルによる広いスペクトル半値全幅を得るには、高注入電流密度での駆動が必要となる。
しかしながら、非特許文献1で記載されるように広いスペクトル半値全幅を実現する際には、2つの発光ピーク強度が同等となる電流密度が存在する。そのため、さらに電流注入を行うと、光出力は増加するが、短波長の発光ピーク強度が増加し、スペクトル半値全幅が減少してしまう。
すなわち、デバイスとしては光出力をまだ得ることができるのに、スペクトル特性の問題から一定以上の高電流注入での駆動ができないという課題を有している。
しかしながら、非特許文献1で記載されるように広いスペクトル半値全幅を実現する際には、2つの発光ピーク強度が同等となる電流密度が存在する。そのため、さらに電流注入を行うと、光出力は増加するが、短波長の発光ピーク強度が増加し、スペクトル半値全幅が減少してしまう。
すなわち、デバイスとしては光出力をまだ得ることができるのに、スペクトル特性の問題から一定以上の高電流注入での駆動ができないという課題を有している。
本発明は上記課題に鑑み、広帯域なスペクトルと共に、高い光出力を得ることが可能となるスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置とその駆動方法、及び光断層画像撮像装置の提供を目的とする。
本発明は、同一基板上に、少なくとも2つのスーパールミネッセントダイオードである第1のSLDと第2のSLDとを備えた光源装置であって、
前記第1のSLDと第2のSLDは、
発光スペクトルが複数のピークを有する、前記同一基板上に形成された同一の活性層と、
前記第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部と、
前記合波された光を出力するための出力光導波路と、
を備え、
前記第1のSLDは、第1の電流密度で駆動するための第1の電極部を有し長波長側の発光ピークが支配的となるように構成されると共に、
第2のSLDは、第2の電流密度で駆動するための第2の電極部を有し短波長側の発光ピークが支配的となるように構成されていることを特徴とする。
また、本発明のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法は、同一基板上に、少なくとも2つのスーパールミネッセントダイオードである第1のSLDと第2のSLDと、を有し、
前記第1のSLDと第2のSLDが、
発光スペクトルが複数の発光ピークを有する、前記同一基板上に形成された同一の活性層と、
前記第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部と、
前記合波された光を出力するための出力光導波路と、
を備え、前記合波部で合波された光を前記出力光導波路から出力するスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法であって、
前記第1のSLDを前記発光スペクトルの長波長側の発光ピークが支配的となる第1の電流密度で駆動すると共に、
前記第2のSLDを前記発光スペクトルの短波長側の発光ピークが支配的となる第2の電流密度で駆動することを特徴とする。
前記第1のSLDと第2のSLDは、
発光スペクトルが複数のピークを有する、前記同一基板上に形成された同一の活性層と、
前記第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部と、
前記合波された光を出力するための出力光導波路と、
を備え、
前記第1のSLDは、第1の電流密度で駆動するための第1の電極部を有し長波長側の発光ピークが支配的となるように構成されると共に、
第2のSLDは、第2の電流密度で駆動するための第2の電極部を有し短波長側の発光ピークが支配的となるように構成されていることを特徴とする。
また、本発明のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法は、同一基板上に、少なくとも2つのスーパールミネッセントダイオードである第1のSLDと第2のSLDと、を有し、
前記第1のSLDと第2のSLDが、
発光スペクトルが複数の発光ピークを有する、前記同一基板上に形成された同一の活性層と、
前記第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部と、
前記合波された光を出力するための出力光導波路と、
を備え、前記合波部で合波された光を前記出力光導波路から出力するスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法であって、
前記第1のSLDを前記発光スペクトルの長波長側の発光ピークが支配的となる第1の電流密度で駆動すると共に、
前記第2のSLDを前記発光スペクトルの短波長側の発光ピークが支配的となる第2の電流密度で駆動することを特徴とする。
本発明によれば、広帯域なスペクトルと共に、高い光出力を得ることが可能となるスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置とその駆動方法、及び光断層画像撮像装置を実現することができる。
本発明は、2つ以上のSLD(スーパールミネッセントダイオード)を備えた光源装置において、短波長側の発光ピークが支配的となるSLDを有することで、広帯域なスペクトルとともに高い光出力を得ることを可能としたものである。以下に、本発明の実施形態におけるSLDを備えた光源装置の構成例について説明する。
本実施形態におけるSLDを備えた光源装置は、同一基板上に形成され同一の活性層を有する2つ以上のSLDと、2つ以上のSLDの出射光を合波する合波部と、合波された光を出力するための光出力導波路とで構成される。
2つ以上のSLDは、活性層の発光スペクトルは複数のピークを有している。
そして、第1の電流密度で駆動するための第1の電極部を有し長波長側の発光ピークが支配的となる第1のSLDと、第2の電流密度で駆動するための第2の電極部を有し短波長の発光ピークが支配的となる第2のSLDで構成される。
本実施形態におけるSLDを備えた光源装置は、同一基板上に形成され同一の活性層を有する2つ以上のSLDと、2つ以上のSLDの出射光を合波する合波部と、合波された光を出力するための光出力導波路とで構成される。
2つ以上のSLDは、活性層の発光スペクトルは複数のピークを有している。
そして、第1の電流密度で駆動するための第1の電極部を有し長波長側の発光ピークが支配的となる第1のSLDと、第2の電流密度で駆動するための第2の電極部を有し短波長の発光ピークが支配的となる第2のSLDで構成される。
活性層の発光スペクトルの複数のピークとは異なるエネルギー準位を有することで発生するピークであり、例えば、基底準位と高次準位による発光ピーク、組成や井戸幅が異なる多重量子井戸構造による異なるエネルギー準位による発光ピークが挙げられる。
このような活性層において、SLDの構造、駆動電流密度等によってどのような発光ピークが発生するかは変化する。
ここで、複数のピークに関して、長波長側の発光ピーク、短波長側の発光ピークとは第1のSLD、第2のSLDといった各SLDにおいてエネルギーの小さい長波長の発光ピークとエネルギーの大きい短波長の発光ピークを意味する。
第1のSLDと第2のSLDが相対的に長波長、短波長ということを意味していない。
また、各発光ピークは電流密度により熱の影響で数nmピークがずれる場合があるが、同じエネルギー準位に起因する発光ピークは同一のものとして考える。
このような活性層において、SLDの構造、駆動電流密度等によってどのような発光ピークが発生するかは変化する。
ここで、複数のピークに関して、長波長側の発光ピーク、短波長側の発光ピークとは第1のSLD、第2のSLDといった各SLDにおいてエネルギーの小さい長波長の発光ピークとエネルギーの大きい短波長の発光ピークを意味する。
第1のSLDと第2のSLDが相対的に長波長、短波長ということを意味していない。
また、各発光ピークは電流密度により熱の影響で数nmピークがずれる場合があるが、同じエネルギー準位に起因する発光ピークは同一のものとして考える。
第2のSLDでは、第2の電流で少なくとも2つの発光ピークが生じ、長波長の発光ピークと短波長の発光ピークのうち、短波長の発光ピークが支配的となる。
第2のSLDは、短波長の発光ピークが支配的となるように高い電流密度で駆動する。そのため、長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度で駆動するときに比べて高い光出力を得ることができるが、スペクトル形状がガウシアンから崩れ、スペクトル半値全幅は小さくなる。
一方、第1のSLDは、第1の電流で長波長の発光ピークが支配的となっているため、単体では広いスペクトル半値全幅を得るに至っていない。
しかし、この2つのSLDを組み合わせることで、ガウシアンから崩れているスペクトル形状を補償し合い、広いスペクトル半値全幅を得ることが可能となる。そして、第2のSLDでは短波長の発光ピークが支配的であるため、通常より光出力の高いSLDを用いることができ、広帯域なスペクトルとともに高い光出力を得ることが可能となる。
第2のSLDは、短波長の発光ピークが支配的となるように高い電流密度で駆動する。そのため、長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度で駆動するときに比べて高い光出力を得ることができるが、スペクトル形状がガウシアンから崩れ、スペクトル半値全幅は小さくなる。
一方、第1のSLDは、第1の電流で長波長の発光ピークが支配的となっているため、単体では広いスペクトル半値全幅を得るに至っていない。
しかし、この2つのSLDを組み合わせることで、ガウシアンから崩れているスペクトル形状を補償し合い、広いスペクトル半値全幅を得ることが可能となる。そして、第2のSLDでは短波長の発光ピークが支配的であるため、通常より光出力の高いSLDを用いることができ、広帯域なスペクトルとともに高い光出力を得ることが可能となる。
ここで、第1のSLDが第2のSLDと比較して短波長の発光ピークが発生しにくい構造とすると、本発明の効果が大きくなる。
これは、第1のSLDで長波長の発光ピーク部分のスペクトルを補償する際に、高い電流密度まで短波長の発光ピークを抑制し電流注入可能となり、より大きい光出力を得ることができるためである。
この構造は例えば、第1のSLDと第2のSLDで発光領域を変化する、光導波方向の素子長や導波路幅を変化することによって実現する。
具体的には、第1のSLDの光導波方向の素子長を第2のSLDの光導波方向の素子長よりも長くすることでより高い電流密度においても短波長の発光ピークを抑制することができる。
これは素子長が長いほうがSLDでの誘導増幅が活発に行われやすく、キャリアの消費が激しいため、短波の発光に寄与する準位までキャリアが供給されにくくなるためである。
さらに、SLDでは素子長を長くすることで大きい光出力を得ることが可能となるため、第2のSLDに比べて素子長の長いSLDを第1のSLDに適用するとより高い光出力を得ることが可能となる。
これは、第1のSLDで長波長の発光ピーク部分のスペクトルを補償する際に、高い電流密度まで短波長の発光ピークを抑制し電流注入可能となり、より大きい光出力を得ることができるためである。
この構造は例えば、第1のSLDと第2のSLDで発光領域を変化する、光導波方向の素子長や導波路幅を変化することによって実現する。
具体的には、第1のSLDの光導波方向の素子長を第2のSLDの光導波方向の素子長よりも長くすることでより高い電流密度においても短波長の発光ピークを抑制することができる。
これは素子長が長いほうがSLDでの誘導増幅が活発に行われやすく、キャリアの消費が激しいため、短波の発光に寄与する準位までキャリアが供給されにくくなるためである。
さらに、SLDでは素子長を長くすることで大きい光出力を得ることが可能となるため、第2のSLDに比べて素子長の長いSLDを第1のSLDに適用するとより高い光出力を得ることが可能となる。
以下に、本発明の実施例について説明する。
[実施例1]
実施例1として、本発明を適用したSLDを備えた光源装置の構成例について、図1と図3を用いて説明する。
本実施例のSLDを備えた光源装置は、同一基板上に形成された2つのSLD、SLD110とSLD120、SLD110とSLD120各々からの出射光を合波する合波部130、合波された光を出力するための出力光導波路140で構成される。
SLD110とSLD120は同一の活性層を有し、活性層には単一量子井戸を用いる。このときのバリア層は単一量子井戸が少なくとも1次準位の発光も可能となるような層構造とする。
SLD110とSLD120は光導波方向の素子長が異なり、SLD110の素子長がSLD120の素子長より長くなっている。
[実施例1]
実施例1として、本発明を適用したSLDを備えた光源装置の構成例について、図1と図3を用いて説明する。
本実施例のSLDを備えた光源装置は、同一基板上に形成された2つのSLD、SLD110とSLD120、SLD110とSLD120各々からの出射光を合波する合波部130、合波された光を出力するための出力光導波路140で構成される。
SLD110とSLD120は同一の活性層を有し、活性層には単一量子井戸を用いる。このときのバリア層は単一量子井戸が少なくとも1次準位の発光も可能となるような層構造とする。
SLD110とSLD120は光導波方向の素子長が異なり、SLD110の素子長がSLD120の素子長より長くなっている。
SLD110、SLD120、合波部130、出力光導波路140は集積二重導波路(Integrated Twin Guide)構造とY分岐導波路構造230を用いることでSLD110とSLD120の出射光を1つの出力部に合波し出力する。
SLD110とSLD120はリッジ導波路構造をとっている。
SLD110とSLD120はリッジ導波路構造をとっている。
つぎに、本実施例のSLDを備えた光源装置における層構成について説明する。
図4は図1のA−A’断面図であり、図5は図1のB−B’断面図である。
図4、図5において、絶縁膜等一部省略して記載している部分もある。
本実施例では、基板上に、つぎのような層が積層した層構成を有している。
すなわち、n型のGaAs基板310上に、
n型クラッド層320としてn−Al0.5GaAs、
導波路層330としてAl0.2GaAs、
n型クラッド層340としてn−Al0.5GaAs、
活性層350としてInGaAs単一量子井戸、
p型クラッド層360としてp−Al0.5GaAs、
コンタクト層370として高ドープのp−GaAs、
が積層される。
図4は図1のA−A’断面図であり、図5は図1のB−B’断面図である。
図4、図5において、絶縁膜等一部省略して記載している部分もある。
本実施例では、基板上に、つぎのような層が積層した層構成を有している。
すなわち、n型のGaAs基板310上に、
n型クラッド層320としてn−Al0.5GaAs、
導波路層330としてAl0.2GaAs、
n型クラッド層340としてn−Al0.5GaAs、
活性層350としてInGaAs単一量子井戸、
p型クラッド層360としてp−Al0.5GaAs、
コンタクト層370として高ドープのp−GaAs、
が積層される。
リッジ部250や各SLD、合波部130を形成した後、絶縁膜450と上部電極380、基板の下には下部電極390が設けられる。
上部電極380はSLD110とSLD120、それぞれを独立で駆動する上部電極381と上部電極382を有する。絶縁膜450にはSiO2、上部電極380にはTi/Au、下部電極390にはAuGe/Ni/Auが用いられる。SLD110とSLD120のリッジ部は、コンタクト層370とp型クラッド層360の途中まで部分的に除去されている。
そして、SLD110とSLD120は活性層350下のn型クラッド層340途中までエッチングされることで分離される。
さらに、SLD110とSLD120とY分岐導波路部分230を残して、n型クラッド層340の途中まで部分的にエッチングを行うことでY分岐導波路230と素子長の異なるSLD110とSLD120が形成される。
SLD110とSLD120の素子長は1.0mmと0.7mmであり、リッジ幅は4umである。
リッジ部250はリッジ端面での反射を防止するために、リッジ端面の垂線とリッジの長手方向に関し、7度傾斜する。
SLD110、SLD120と結合する部分のY分岐導波路230の角度はSLD110、SLD120の傾斜角と同様な傾斜角、ここでは7度傾斜する。さらに、Y分岐導波路230の出力部も7度傾斜する。
また、Y分岐導波路230の出力部、SLD110、SLD120の端面は反射率を制御するために多層の誘電膜を付加してもよい。
上部電極380はSLD110とSLD120、それぞれを独立で駆動する上部電極381と上部電極382を有する。絶縁膜450にはSiO2、上部電極380にはTi/Au、下部電極390にはAuGe/Ni/Auが用いられる。SLD110とSLD120のリッジ部は、コンタクト層370とp型クラッド層360の途中まで部分的に除去されている。
そして、SLD110とSLD120は活性層350下のn型クラッド層340途中までエッチングされることで分離される。
さらに、SLD110とSLD120とY分岐導波路部分230を残して、n型クラッド層340の途中まで部分的にエッチングを行うことでY分岐導波路230と素子長の異なるSLD110とSLD120が形成される。
SLD110とSLD120の素子長は1.0mmと0.7mmであり、リッジ幅は4umである。
リッジ部250はリッジ端面での反射を防止するために、リッジ端面の垂線とリッジの長手方向に関し、7度傾斜する。
SLD110、SLD120と結合する部分のY分岐導波路230の角度はSLD110、SLD120の傾斜角と同様な傾斜角、ここでは7度傾斜する。さらに、Y分岐導波路230の出力部も7度傾斜する。
また、Y分岐導波路230の出力部、SLD110、SLD120の端面は反射率を制御するために多層の誘電膜を付加してもよい。
つぎに、本実施例における上記した各層の作成手順について説明する。
まず、GaAs基板310上に、つぎのように半導体層による各層を、例えば、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法を用いて順次成長させる。
すなわち、GaAs基板310上に、n型クラッド層320、導波路層330、n型クラッド層340、活性層350、p型クラッド層360、コンタクト層370を、順次成長させる。
まず、GaAs基板310上に、つぎのように半導体層による各層を、例えば、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法を用いて順次成長させる。
すなわち、GaAs基板310上に、n型クラッド層320、導波路層330、n型クラッド層340、活性層350、p型クラッド層360、コンタクト層370を、順次成長させる。
各層が積層されたウエハを一般的な半導体リソグラフィー法および半導体エッチングを用いてリッジ部250を形成する。
例えば、スパッタ法を用いて誘電体膜、例えば、SiO2を形成した後、半導体リソグラフィー法を用いてフォトレジストでリッジ形成のためのストライプ形成マスクを形成する。
そこで、ドライエッチング法を用いて、ストライプ形成マスク以外の部分の半導体を選択的に除去する。
このとき、除去する部分はp型クラッド層360の途中までで、例えば、深さは0.8umのリッジ形状を形成する。
例えば、スパッタ法を用いて誘電体膜、例えば、SiO2を形成した後、半導体リソグラフィー法を用いてフォトレジストでリッジ形成のためのストライプ形成マスクを形成する。
そこで、ドライエッチング法を用いて、ストライプ形成マスク以外の部分の半導体を選択的に除去する。
このとき、除去する部分はp型クラッド層360の途中までで、例えば、深さは0.8umのリッジ形状を形成する。
次に、フォトリソグラフィー法およびドライエッチングを用いて、SLD110とSLD120の上部以外の半導体層を除去する。
ここでは、活性層350と導波路層330の間のn型クラッド層340の途中までエッチングを行うことで、SLD110とSLD120を分離する。
さらに、フォトリソグラフィー法およびドライエッチングを用いて、SLD110とSLD120とY分岐導波路230以外の半導体層を除去し、活性層350と導波路層330の間のn型クラッド層340の途中までエッチングを行う。
これにより、集積二重導波路、およびY分岐導波路230が形成されるため、SLD110とSLD120で発生した光を出力光導波路140の出力部に導くことができる。
ここでは、活性層350と導波路層330の間のn型クラッド層340の途中までエッチングを行うことで、SLD110とSLD120を分離する。
さらに、フォトリソグラフィー法およびドライエッチングを用いて、SLD110とSLD120とY分岐導波路230以外の半導体層を除去し、活性層350と導波路層330の間のn型クラッド層340の途中までエッチングを行う。
これにより、集積二重導波路、およびY分岐導波路230が形成されるため、SLD110とSLD120で発生した光を出力光導波路140の出力部に導くことができる。
その後、誘電体膜450、例えばSiO2を半導体表面に形成し、フォトリソグラフィー法によって、リッジ部250上部のSiO2を部分的に除去する。
次に、真空蒸着法およびリソグラフィー法を用いてSLD110とSLD120の上部に各々上部電極380を形成する。上部電極380は、例えばTi/Auである。
そして、下部電極390を形成する。下部電極390は、例えばAuGe/Ni/Auである。良好な電気特性を得るため、高温窒素雰囲気中で電極と半導体を合金化する。
最後に、劈開により端面に結晶面を出し、反射率を調整するための誘電体膜を両端面にコーティングして完成する。
次に、真空蒸着法およびリソグラフィー法を用いてSLD110とSLD120の上部に各々上部電極380を形成する。上部電極380は、例えばTi/Auである。
そして、下部電極390を形成する。下部電極390は、例えばAuGe/Ni/Auである。良好な電気特性を得るため、高温窒素雰囲気中で電極と半導体を合金化する。
最後に、劈開により端面に結晶面を出し、反射率を調整するための誘電体膜を両端面にコーティングして完成する。
つぎに、本実施例におけるSLDを備えた光源装置の駆動方法について説明する。
SLD110とSLD120はそれぞれ独立した電極、上部電極381と上部電極382により、駆動電流を制御する。
SLD110、SLD120では活性層350にInGaAs単一量子井戸を用いているため、低電流密度を設定して駆動すると基底準位による長波長の発光ピーク、高電流密度を設定して駆動すると1次準位による短波長の発光ピークが支配的となる。
なお、ここでは長波長の発光ピークに関して、短波長の発光ピークが弱く、発光ピークが1つしか確認できない状態でも、その発光ピークを長波長の発光ピークと呼ぶこととする。
SLD110とSLD120はそれぞれ独立した電極、上部電極381と上部電極382により、駆動電流を制御する。
SLD110、SLD120では活性層350にInGaAs単一量子井戸を用いているため、低電流密度を設定して駆動すると基底準位による長波長の発光ピーク、高電流密度を設定して駆動すると1次準位による短波長の発光ピークが支配的となる。
なお、ここでは長波長の発光ピークに関して、短波長の発光ピークが弱く、発光ピークが1つしか確認できない状態でも、その発光ピークを長波長の発光ピークと呼ぶこととする。
まず、素子長の異なるSLDの特性として、SLD110とSLD120(SLD110:1.0mm、SLD120:0.7mm)の駆動電流を変化させた際のスペクトル特性および電流−光出力特性について説明する。
図7にSLD110のスペクトル特性、図8にSLD120のスペクトル特性、図9に電流−光出力特性を示す。
ここで、長波長の発光ピークは840nm付近、短波長の発光ピークは810nm付近のピークを指す。
SLD110はSLD120より素子長が長いため、より高い電流密度でも長波長の発光ピークが支配的であり、短波長の発光ピークが抑制されている。
一方、SLD120では短波長の発光ピークが比較的低電流密度においても発生し、電流値が280mAで長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となり、ガウシアンライク形状となっている。
さらに、電流を上げていくと電流値が360mAで示されるように短波長の発光ピークが支配的となり、スペクトルがガウシアン形状から崩れることがわかる。
図7にSLD110のスペクトル特性、図8にSLD120のスペクトル特性、図9に電流−光出力特性を示す。
ここで、長波長の発光ピークは840nm付近、短波長の発光ピークは810nm付近のピークを指す。
SLD110はSLD120より素子長が長いため、より高い電流密度でも長波長の発光ピークが支配的であり、短波長の発光ピークが抑制されている。
一方、SLD120では短波長の発光ピークが比較的低電流密度においても発生し、電流値が280mAで長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となり、ガウシアンライク形状となっている。
さらに、電流を上げていくと電流値が360mAで示されるように短波長の発光ピークが支配的となり、スペクトルがガウシアン形状から崩れることがわかる。
通常、2つのSLDで広帯域化を図る場合には、中心波長の異なる2つのSLDを利用することで波長帯域を補償し合い、広帯域化を行う。
また、本実施例のように同一活性層を利用する場合には、広帯域なスペクトルをもつSLD120を長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となる280mAで2つ駆動させ、光出力を補う。
SLDは素子長によって、光出力とスペクトル半値全幅の関係が決まり、素子長が長いほど光出力は大きくなるが半値全幅は狭くなる。
よって、素子長の短いSLD120のみを用いる場合は半値全幅を広くとる分、光出力が小さくなる。
また、図7、図9に示されるように光出力が大きい素子長の長いSLD110を用いる場合には半値全幅が狭くなる。
また、本実施例のように同一活性層を利用する場合には、広帯域なスペクトルをもつSLD120を長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となる280mAで2つ駆動させ、光出力を補う。
SLDは素子長によって、光出力とスペクトル半値全幅の関係が決まり、素子長が長いほど光出力は大きくなるが半値全幅は狭くなる。
よって、素子長の短いSLD120のみを用いる場合は半値全幅を広くとる分、光出力が小さくなる。
また、図7、図9に示されるように光出力が大きい素子長の長いSLD110を用いる場合には半値全幅が狭くなる。
そこで、本実施例では、上記欠点を補うような構成とし、光出力の小さいSLD120では短波長の発光ピークが支配的となるように駆動することで電流密度を高くして光出力を大きくする。
それと光出力の大きい素子長の長いSLD110を組み合わせて駆動することで、広帯域化と高い光出力を両立する。
それと光出力の大きい素子長の長いSLD110を組み合わせて駆動することで、広帯域化と高い光出力を両立する。
具体的に、本実施例ではSLD110を200mAで駆動し、SLD120を360mAで駆動する。
すなわち、SLD110は長波長の発光ピークが支配的、SLD120では短波長の発光ピークが支配的となるように駆動する。
このように駆動した際のSLD110とSLD120のスペクトルを図2(a)に、SLD110とSLD120の合波スペクトルを図2(b)に示す。
SLD110とSLD120を合波することで、短波長の発光ピークと長波長の発光ピークの強度がほぼ等しい広帯域なスペクトル形状が得られることが確認できる。
SLD120を通常の広帯域化で用いる長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となる電流280mAで駆動した場合と比べ、SLD120を360mAで駆動すると、図9に示されるように光出力は7.5mWから9.0mWに増加する。
そして、SLD120と比べ、短波長の発光ピークが抑制され、光出力が大きいSLD110を200mAで駆動することで、8mWの光出力を得ることができ、合計17mWの光出力を得る。
よって、SLD120を電流280mAで駆動した場合のものを2つ並べた場合と比較して、同等な広帯域なスペクトルを得ながら、より大きい光出力を得ることができる。
すなわち、SLD110は長波長の発光ピークが支配的、SLD120では短波長の発光ピークが支配的となるように駆動する。
このように駆動した際のSLD110とSLD120のスペクトルを図2(a)に、SLD110とSLD120の合波スペクトルを図2(b)に示す。
SLD110とSLD120を合波することで、短波長の発光ピークと長波長の発光ピークの強度がほぼ等しい広帯域なスペクトル形状が得られることが確認できる。
SLD120を通常の広帯域化で用いる長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となる電流280mAで駆動した場合と比べ、SLD120を360mAで駆動すると、図9に示されるように光出力は7.5mWから9.0mWに増加する。
そして、SLD120と比べ、短波長の発光ピークが抑制され、光出力が大きいSLD110を200mAで駆動することで、8mWの光出力を得ることができ、合計17mWの光出力を得る。
よって、SLD120を電流280mAで駆動した場合のものを2つ並べた場合と比較して、同等な広帯域なスペクトルを得ながら、より大きい光出力を得ることができる。
また、光出力をさらに大きくしたい場合には、例えばSLD110を280mA、SLD2を360mAで駆動することによって、合計25mWの光出力を得ることができる。
このとき、図10に示すように長波長の発光ピークが短波長の発光ピークに比べて大きくなるが、前記条件と比べて高い光出力を得ることが可能である。
このように駆動条件を変化することによって、用途に応じたスペクトル形状、光出力を得ることが可能である。
その際に、スペクトル半値全幅を大きく変化させないためには、2つのSLDによる短波長の発光ピーク強度の和と長波長の発光ピーク強度の和の関係が2倍以上ずれないことが必要である。
すなわち、前記第1および第2のSLDのそれぞれの短波長側の発光ピーク強度の和「A」と、長波長側の発光ピーク強度の和「B」の関係が、「1/2A<B<2A」を満たすようにする。
このとき、図10に示すように長波長の発光ピークが短波長の発光ピークに比べて大きくなるが、前記条件と比べて高い光出力を得ることが可能である。
このように駆動条件を変化することによって、用途に応じたスペクトル形状、光出力を得ることが可能である。
その際に、スペクトル半値全幅を大きく変化させないためには、2つのSLDによる短波長の発光ピーク強度の和と長波長の発光ピーク強度の和の関係が2倍以上ずれないことが必要である。
すなわち、前記第1および第2のSLDのそれぞれの短波長側の発光ピーク強度の和「A」と、長波長側の発光ピーク強度の和「B」の関係が、「1/2A<B<2A」を満たすようにする。
駆動条件のみでなく、SLDの素子長も適宜変化させてもよく、これらを適当な条件で組み合わせることで、任意のスペクトル形状、光出力を得ることが可能である。
なお、上記形成方法や半導体材料、電極材料、誘電体材料などは実施例で開示したものに限るものではなく、本発明の主旨を外れないものであれば、他の方法、材料を利用することも可能である。
例えば、基板はp型GaAs基板を用いてもよく、その場合、各半導体層の導電型もそれに応じて変更させる。
活性層は単一量子井戸を用いたが、例えば、多重量子井戸や、井戸幅や組成比が異なる非対称多重量子井戸を用いてもよい。
その場合、単一量子井戸の時と同様に短波長の発光ピークは1次準位による発光、長波長の発光ピークは基底準位による発光でもよい。
また、各量子井戸構造が異なるためそれに対応するエネルギー準位による発光ピークがそれぞれ短波長、長波長の発光ピークとなってもよい。
例えば、活性層に井戸層の材料の異なるInGaAs、GaAs、AlGaAs非対称多重量子井戸を用いると図11のようなスペクトル特性を示す。
駆動電流密度が小さいとき支配的となる長波長の発光ピークは860nm付近、駆動電流密度が大きいときに支配的となる短波長の発光ピークは820nm付近のピークである。
電流密度を上げると長波長の発光ピークに比べて、短波長の発光ピークが2倍以上大きくなっている。このようなスペクトルをもつ場合は、長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となる駆動電流で駆動時の光出力との差が大きくなるため、本発明を用いることでの効果が大きくなる。
なお、上記形成方法や半導体材料、電極材料、誘電体材料などは実施例で開示したものに限るものではなく、本発明の主旨を外れないものであれば、他の方法、材料を利用することも可能である。
例えば、基板はp型GaAs基板を用いてもよく、その場合、各半導体層の導電型もそれに応じて変更させる。
活性層は単一量子井戸を用いたが、例えば、多重量子井戸や、井戸幅や組成比が異なる非対称多重量子井戸を用いてもよい。
その場合、単一量子井戸の時と同様に短波長の発光ピークは1次準位による発光、長波長の発光ピークは基底準位による発光でもよい。
また、各量子井戸構造が異なるためそれに対応するエネルギー準位による発光ピークがそれぞれ短波長、長波長の発光ピークとなってもよい。
例えば、活性層に井戸層の材料の異なるInGaAs、GaAs、AlGaAs非対称多重量子井戸を用いると図11のようなスペクトル特性を示す。
駆動電流密度が小さいとき支配的となる長波長の発光ピークは860nm付近、駆動電流密度が大きいときに支配的となる短波長の発光ピークは820nm付近のピークである。
電流密度を上げると長波長の発光ピークに比べて、短波長の発光ピークが2倍以上大きくなっている。このようなスペクトルをもつ場合は、長波長の発光ピークと短波長の発光ピークが同等の強度となる駆動電流で駆動時の光出力との差が大きくなるため、本発明を用いることでの効果が大きくなる。
また、材料もこれに限られたものでなく、GaAs、GaInP、AlGaInN、AlGaInAsP、AlGaAsSb等の発光材料を用いてもよい。
リッジ幅は4umとしたが、これに限らず適宜変化させてもよい。
各SLDはリッジ部を用い、リッジを傾斜した構造を用いたが、SLDとして動作する構造であればよく、例えば、傾斜リッジを用いずに窓構造で反射を抑える構造を用いてもよい。
合波部としてY分岐型の合波器を用いたが、これに限定されるものではなく、MMI(マルチモード干渉)型などの合波できる機能を持つ他の合波方法であっても良い。
また、ここではモノリシックにSLD110、SLD120と合波部130を作製したが、SLD110とSLD120のみをモノリシックに作製し、合波部130はそれぞれをファイバカプラ等で合波して本構成を満たしてもよい。
2つのSLDを用いたが、3つ以上のSLDを合波させて構成してもよい。
その場合、各SLDの素子長は全て異なるものとしてもよいし、短波長の発光ピークをより補償したいときには2種類の素子長で短い素子長のSLDを2つ、長い素子長のSLDを1つ等としてもよい。
リッジ幅は4umとしたが、これに限らず適宜変化させてもよい。
各SLDはリッジ部を用い、リッジを傾斜した構造を用いたが、SLDとして動作する構造であればよく、例えば、傾斜リッジを用いずに窓構造で反射を抑える構造を用いてもよい。
合波部としてY分岐型の合波器を用いたが、これに限定されるものではなく、MMI(マルチモード干渉)型などの合波できる機能を持つ他の合波方法であっても良い。
また、ここではモノリシックにSLD110、SLD120と合波部130を作製したが、SLD110とSLD120のみをモノリシックに作製し、合波部130はそれぞれをファイバカプラ等で合波して本構成を満たしてもよい。
2つのSLDを用いたが、3つ以上のSLDを合波させて構成してもよい。
その場合、各SLDの素子長は全て異なるものとしてもよいし、短波長の発光ピークをより補償したいときには2種類の素子長で短い素子長のSLDを2つ、長い素子長のSLDを1つ等としてもよい。
[実施例2]
実施例2として、2つのSLD、SLD1110、SLD1120は素子長を同じとした構成例について説明する。
SLD1120では光導波方向に対して、2つに分割した上部電極を有する。
本実施例の構成について、図12の俯瞰図と図13の斜視図を用いて説明する。本実施例では、合波部と、合波された光を出力するための出力光導波路で構成される。
すなわち、実施例1と同様に同一基板上に形成された2つのSLD、SLD1110とSLD1120、SLD1110とSLD1120各々からの出射光を合波する合波部1130、合波された光を出力するための出力光導波路1140で構成される。そして、SLD1110とSLD1120は同一の活性層350を有する。
SLD1120は2つの分割された電極により、異なる電流注入領域、領域1121と領域1122を有する。
領域1121と領域1122の間は例えばフォトリソグラフィー法およびウエットエッチングを用いて上部電極のTi/Au、およびGaAsコンタクト層を取り除くことで別々の電流注入領域としている。
ここで、SLD1110、SLD1120の素子長は1.0mmとし、SLD1120の領域1121の光導波方向の長さを0.7mm、領域1122の光導波方向の長さを0.3mmとする。領域1121と領域1122の間は数umである。
実施例2として、2つのSLD、SLD1110、SLD1120は素子長を同じとした構成例について説明する。
SLD1120では光導波方向に対して、2つに分割した上部電極を有する。
本実施例の構成について、図12の俯瞰図と図13の斜視図を用いて説明する。本実施例では、合波部と、合波された光を出力するための出力光導波路で構成される。
すなわち、実施例1と同様に同一基板上に形成された2つのSLD、SLD1110とSLD1120、SLD1110とSLD1120各々からの出射光を合波する合波部1130、合波された光を出力するための出力光導波路1140で構成される。そして、SLD1110とSLD1120は同一の活性層350を有する。
SLD1120は2つの分割された電極により、異なる電流注入領域、領域1121と領域1122を有する。
領域1121と領域1122の間は例えばフォトリソグラフィー法およびウエットエッチングを用いて上部電極のTi/Au、およびGaAsコンタクト層を取り除くことで別々の電流注入領域としている。
ここで、SLD1110、SLD1120の素子長は1.0mmとし、SLD1120の領域1121の光導波方向の長さを0.7mm、領域1122の光導波方向の長さを0.3mmとする。領域1121と領域1122の間は数umである。
つぎに、本実施例におけるSLD1110、SLD1120の駆動方法について説明する。
SLD1120に関して、領域1121は通常通り電流を注入し、領域1122は電流を注入しない、もしくは微弱電流を注入する。
すると、SLD1110とSLD1120は素子長が同じにも関わらず、SLD1120の領域1122は吸収領域として働く。そのため、SLD1120の実質の発光領域は領域1121の部分となり、実施例1のように素子長を変化させた効果を得ることが可能となる。
すなわち、SLD1110はSLD1120より素子長が長いSLDとして考えられる。よって、実施例1と同様にSLD1110とSLD1120の領域1121を駆動することで、広帯域なスペクトルと高い光出力を得ることが可能となる。
SLD1120に関して、領域1121は通常通り電流を注入し、領域1122は電流を注入しない、もしくは微弱電流を注入する。
すると、SLD1110とSLD1120は素子長が同じにも関わらず、SLD1120の領域1122は吸収領域として働く。そのため、SLD1120の実質の発光領域は領域1121の部分となり、実施例1のように素子長を変化させた効果を得ることが可能となる。
すなわち、SLD1110はSLD1120より素子長が長いSLDとして考えられる。よって、実施例1と同様にSLD1110とSLD1120の領域1121を駆動することで、広帯域なスペクトルと高い光出力を得ることが可能となる。
このような構造をとることで、SLD1110とSLD1120に関して共に劈開面を利用することができるようになり、特性安定化につながる。
ここでは、SLD1120のみを2つの異なる電流注入領域に分割したが、3つ以上の複数領域に分割してもよく、SLD1110も複数領域に分割してもよい。
その際に、各領域での電流注入量を変化させることで、より任意のスペクトル形状の制御が可能となる。このように各SLD内で複数の電流注入領域に分割することは実施例1に適用してもよい。
また、SLD1110とSLD1120の素子長が同じ場合に、各SLDでリッジ幅を変えることで電流密度を制御し、SLD1110では長波長の発光ピークが支配的、SLD1120では短波長の発光ピークが支配的となるように駆動させてもよい。
リッジ幅は、例えば単純にSLD1110とSLD1120の幅を変えるだけでなく、各SLDで光導波方向に沿って合波部方向に向けて狭くなっていくようなテーパー構造を用いてもよい。
ここでは、SLD1120のみを2つの異なる電流注入領域に分割したが、3つ以上の複数領域に分割してもよく、SLD1110も複数領域に分割してもよい。
その際に、各領域での電流注入量を変化させることで、より任意のスペクトル形状の制御が可能となる。このように各SLD内で複数の電流注入領域に分割することは実施例1に適用してもよい。
また、SLD1110とSLD1120の素子長が同じ場合に、各SLDでリッジ幅を変えることで電流密度を制御し、SLD1110では長波長の発光ピークが支配的、SLD1120では短波長の発光ピークが支配的となるように駆動させてもよい。
リッジ幅は、例えば単純にSLD1110とSLD1120の幅を変えるだけでなく、各SLDで光導波方向に沿って合波部方向に向けて狭くなっていくようなテーパー構造を用いてもよい。
[実施例3]
実施例3として、つぎのような構成例について、図14を用いて説明する。すなわち、本実施例では、
2つのSLD、SLD1310とSLD1320、SLD1310とSLD1320各々からの出射光を合波する合波部1330、合波された光を出力するための出力光導波路1340が、全て同一基板上に形成され、同一活性層1350を有する構成とされている。
図14に示されるように、本実施例は、n型基板上に、n型クラッド層、活性層、p型クラッド層、コンタクト層が積層された構成である。
SLD1310とSLD1320のリッジ部と合波部1330および出力光導波路1340は一般的な半導体リソグラフィー法および半導体エッチングを用いて形成されている。
SLD1310とSLD1320と合波部1330が独立して電流駆動できるように、それぞれに上部電極が形成される。
SLD1310と合波部1330、SLD1320と合波部1330の間は例えばフォトリソグラフィー法およびウエットエッチングを用いて上部電極のTi/Au、およびGaAsコンタクト層を取り除くことで電気的に分離している。
本実施例ではSLD1310、SLD1320だけでなく、合波部1330上にも電極を有し電流注入が可能となっている。
合波部1330と出力光導波路1340にある程度の電流密度を注入することによって合波部1330および出力光導波路1340で導波される光の吸収を抑えることが可能となる。
実施例3として、つぎのような構成例について、図14を用いて説明する。すなわち、本実施例では、
2つのSLD、SLD1310とSLD1320、SLD1310とSLD1320各々からの出射光を合波する合波部1330、合波された光を出力するための出力光導波路1340が、全て同一基板上に形成され、同一活性層1350を有する構成とされている。
図14に示されるように、本実施例は、n型基板上に、n型クラッド層、活性層、p型クラッド層、コンタクト層が積層された構成である。
SLD1310とSLD1320のリッジ部と合波部1330および出力光導波路1340は一般的な半導体リソグラフィー法および半導体エッチングを用いて形成されている。
SLD1310とSLD1320と合波部1330が独立して電流駆動できるように、それぞれに上部電極が形成される。
SLD1310と合波部1330、SLD1320と合波部1330の間は例えばフォトリソグラフィー法およびウエットエッチングを用いて上部電極のTi/Au、およびGaAsコンタクト層を取り除くことで電気的に分離している。
本実施例ではSLD1310、SLD1320だけでなく、合波部1330上にも電極を有し電流注入が可能となっている。
合波部1330と出力光導波路1340にある程度の電流密度を注入することによって合波部1330および出力光導波路1340で導波される光の吸収を抑えることが可能となる。
[実施例4]
実施例4として、本発明の光源装置を備えたOCT装置(光断層画像撮像装置)の構成例について、図6を用いて説明する。
図6に示すように、本実施例のOCT装置は、光出力部100、光出力部100から出射された光を参照光と測定光に分割する光分割部610、参照光反射部630を備える。
また、測定対象物650とそこに光を照射し反射光を伝達させるための照射光学系640からなる測定部620と、参照部を構成する参照ミラーで反射した参照光と反射した測定光を干渉させる干渉部615を備える。
更に、干渉部により得られた干渉光を検出する光検出部660および光検出部660で検出された光に基づいて画像処理を行う(断層像を得る)画像処理部670、画像出力モニタ部680を備える。
実施例4として、本発明の光源装置を備えたOCT装置(光断層画像撮像装置)の構成例について、図6を用いて説明する。
図6に示すように、本実施例のOCT装置は、光出力部100、光出力部100から出射された光を参照光と測定光に分割する光分割部610、参照光反射部630を備える。
また、測定対象物650とそこに光を照射し反射光を伝達させるための照射光学系640からなる測定部620と、参照部を構成する参照ミラーで反射した参照光と反射した測定光を干渉させる干渉部615を備える。
更に、干渉部により得られた干渉光を検出する光検出部660および光検出部660で検出された光に基づいて画像処理を行う(断層像を得る)画像処理部670、画像出力モニタ部680を備える。
以下、OCT装置の具体的構成について説明する。
光出力部100はSLD110とSLD120、2つの出射光をつなぐ合波部130、光ファイバへ光を結合するレンズ605より構成されている。
光ファイバを介して光分割部610により参照光と測定光に分波し、分波された光の一部は参照光反射部630へ入る。
ここでは、光分割部610と干渉部615は同一のファイバカプラを用いている。
参照光反射部630はコリメータレンズ631および632、反射鏡633で構成されており、反射鏡633で反射し再度光ファイバへ入射する。
光ファイバから光分割部610で分波されたもう片方の光である測定光は、測定部620へ入る。
測定部620の測定光学系640はコリメータレンズ641および642、光路を90°曲げるための反射鏡643で構成されている。照射光学系640は入射した光を測定対象物650へ入射するとともに、反射光を再び光ファイバへ結合する役割がある。
光出力部100はSLD110とSLD120、2つの出射光をつなぐ合波部130、光ファイバへ光を結合するレンズ605より構成されている。
光ファイバを介して光分割部610により参照光と測定光に分波し、分波された光の一部は参照光反射部630へ入る。
ここでは、光分割部610と干渉部615は同一のファイバカプラを用いている。
参照光反射部630はコリメータレンズ631および632、反射鏡633で構成されており、反射鏡633で反射し再度光ファイバへ入射する。
光ファイバから光分割部610で分波されたもう片方の光である測定光は、測定部620へ入る。
測定部620の測定光学系640はコリメータレンズ641および642、光路を90°曲げるための反射鏡643で構成されている。照射光学系640は入射した光を測定対象物650へ入射するとともに、反射光を再び光ファイバへ結合する役割がある。
そして、参照光学系630および測定部620から戻ってきた光は干渉部615を通り、光検出部660へ入る。光検出部660はコリメータレンズ661および662、分光器663および分光器663により分光された光のスペクトル情報を得るためのラインセンサ664で構成されている。分光器663はグレーティングを用いている。
光検出部660はそれに入射した光のスペクトル情報を得る構成となっている。光検出部660で得た情報は、断層画像へ変換するための画像処理部670で画像へ変換され、最終的な出力である断層画像情報が得られる。これをパーソナルコンピュータの表示画面等で構成される画像出力モニタ部680で断層画像として表示する。
本実施例で特徴的なのは光出力部100であり、本発明のSLDを備えた光源装置を用いると、広帯域なスペクトルを高い光出力で出力することが可能であるため、奥行き分解能が高解像な断層画像情報を取得可能である。
このOCT装置は、眼科、歯科、皮膚科等における断層画像撮影に有用である。
光検出部660はそれに入射した光のスペクトル情報を得る構成となっている。光検出部660で得た情報は、断層画像へ変換するための画像処理部670で画像へ変換され、最終的な出力である断層画像情報が得られる。これをパーソナルコンピュータの表示画面等で構成される画像出力モニタ部680で断層画像として表示する。
本実施例で特徴的なのは光出力部100であり、本発明のSLDを備えた光源装置を用いると、広帯域なスペクトルを高い光出力で出力することが可能であるため、奥行き分解能が高解像な断層画像情報を取得可能である。
このOCT装置は、眼科、歯科、皮膚科等における断層画像撮影に有用である。
110:SLD
120:SLD
130:合波部
140:出力光導波路
120:SLD
130:合波部
140:出力光導波路
Claims (15)
- 同一基板上に、少なくとも2つのスーパールミネッセントダイオードである第1のSLDと第2のSLDとを備えた光源装置であって、
前記第1のSLDと第2のSLDは、
発光スペクトルが複数のピークを有する、前記同一基板上に形成された同一の活性層と、
前記第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部と、 前記合波された光を出力するための出力光導波路と、
を備え、
前記第1のSLDは、第1の電流密度で駆動するための第1の電極部を有し長波長側の発光ピークが支配的となるように構成されると共に、
第2のSLDは、第2の電流密度で駆動するための第2の電極部を有し短波長側の発光ピークが支配的となるように構成されていることを特徴とするスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。 - 前記第1のSLDは、光導波方向の素子長が前記第2のSLDの光導波方向の素子長より長いことを特徴とする請求項1に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記第1の電流密度は前記第2の電流密度より小さいことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記活性層は、単一量子井戸で構成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記長波長側の発光ピークは、基底準位による発光が支配的となり、
前記短波長側の発光ピークは、1次準位による発光が支配的となることを特徴とする請求項4に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。 - 前記第1のSLDと前記第2のSLDは、光導波方向の素子長が同じであることを特徴とする請求項1、または請求項3から5のいずれか1項に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記第1のSLDと前記第2のSLDは、少なくとも1つのSLDが光導波方向に2つ以上に分割された電極を有することを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記第2のSLDは、前記第2の電流密度で前記短波長側の発光ピークが前記長波長側の発光ピークの2倍以上のピーク強度を有することを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記合波部および前記出力光導波路は前記2つ以上のSLDとモノリシックに形成されていることを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記合波部および前記光出力導波路は、前記第1のSLDと前記第2のSLDの活性層と同一の活性層を有することを特徴とする請求項9に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 前記合波部は電極を有することを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置。
- 同一基板上に、少なくとも2つのスーパールミネッセントダイオードである第1のSLDと第2のSLDと、を有し、
前記第1のSLDと第2のSLDが、
発光スペクトルが複数の発光ピークを有する、前記同一基板上に形成された同一の活性層と、
前記第1のSLDと第2のSLDから出射される出射光を合波する合波部と、 前記合波された光を出力するための出力光導波路と、
を備え、前記合波部で合波された光を前記出力光導波路から出力するスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法であって、
前記第1のSLDを前記発光スペクトルの長波長側の発光ピークが支配的となる第1の電流密度で駆動すると共に、
前記第2のSLDを前記発光スペクトルの短波長側の発光ピークが支配的となる第2の電流密度で駆動することを特徴とするスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法。 - 前記第1のSLDと前記第2のSLDは、少なくとも1つのSLDが光導波方向に2つ以上に分割された電極を有し、それぞれ独立に電流密度を設定して駆動することを特徴とする請求項12に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法。
- 前記第1のSLDを前記第1の電流密度で駆動した時の発光スペクトルおよび前記第2のSLDを前記第2の電流密度で駆動した時の発光スペクトルにおいて、
前記第1および第2のSLDのそれぞれの短波長側の発光ピーク強度の和「A」と、長波長側の発光ピーク強度の和「B」の関係が、
「1/2A<B<2A」を満たすようにすることを特徴とする請求項12または請求項13に記載のスーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置の駆動方法。 - 光断層画像撮像装置であって、
請求項1から11のいずれか1項に記載の光源装置と、
前記光源からの光を測定対象物に照射し測定対象物からの反射光を伝達させる測定部と、
前記光源からの光を参照ミラーに照射し該参照ミラーからの反射光を伝達させる参照部と、
前記測定部からの反射光と前記参照部からの反射光とを干渉させる干渉部と、
前記干渉部からの干渉光を検出する光検出部と、
前記光検出部で検出された光に基づいて前記測定対象物の断層像を得る画像処理部と、
を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
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