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JP2013161939A - Sheet material, manufacturing method of sheet material, inductor component, wiring board, and magnetic material - Google Patents

Sheet material, manufacturing method of sheet material, inductor component, wiring board, and magnetic material Download PDF

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JP2013161939A
JP2013161939A JP2012022568A JP2012022568A JP2013161939A JP 2013161939 A JP2013161939 A JP 2013161939A JP 2012022568 A JP2012022568 A JP 2012022568A JP 2012022568 A JP2012022568 A JP 2012022568A JP 2013161939 A JP2013161939 A JP 2013161939A
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resin
magnetic
sheet material
conductor
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Yasuhiko Mano
靖彦 真野
Kazuhiro Yoshikawa
吉川  和弘
Takashi Kariya
隆 苅谷
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To secure electric reliability of a conductor pattern when the conductor pattern is formed on a magnetic material layer.SOLUTION: A sheet material 220a is formed by forming a resin layer 223a on a surface of a magnetic material layer 222a and forming a metal foil 224a on the resin layer 223a. The magnetic material layer 222a has a first insulation material 225 and magnetic material particles 226. The resin layer 223a is formed by a second insulation material. The magnetic material layer 222a contains the magnetic material particles 226 thereby allowing irregularities 226a formed according to shapes of the magnetic material particles 226 to easily occur on a surface of the magnetic material layer 222a. A conductor pattern may be formed on a smooth surface of the resin layer 223a by burying the irregularities 226a with the resin layer 223a formed on the surface of the magnetic material layer 222a. Electric reliability of the conductor pattern is secured with the structure.

Description

本発明は、シート材、シート材の製造方法、インダクタ部品、配線板及び磁性材料に関する。   The present invention relates to a sheet material, a sheet material manufacturing method, an inductor component, a wiring board, and a magnetic material.

携帯電話やノートパソコンに代表される電子機器には、駆動電圧が低く消費電力が小さな低電圧型のマイクロプロセッサが用いられる。低電圧型のマイクロプロセッサを用いることで、電子機器からの発熱を抑え、容量の少ないバッテリーで、長時間電子機器を稼動させることができる。   Low voltage microprocessors with low driving voltage and low power consumption are used in electronic devices typified by mobile phones and notebook computers. By using a low-voltage microprocessor, heat generation from the electronic device can be suppressed, and the electronic device can be operated for a long time with a battery having a small capacity.

電源とマイクロプロセッサ間の配線が長いと、配線のインピーダンスが上がりやすくなり、電源の供給障害が生じ易くなる。このため、配線インピーダンスの上昇を抑制するための技術が、種々提案されている。例えば、複数層の導体回路を有する配線板の内部にインダクタを形成する方法がある。この方法では、所望のインダクタンスを得られるようにするため、大きなインダクタの形成領域が必要になる。しかしながら、導体回路が高密度に形成されている、又は導体回路の層数が少ない場合には、インダクタを形成する領域を十分に確保することが困難となる。このため、インダクタの十分な性能を確保し難くなる可能性がある。   If the wiring between the power source and the microprocessor is long, the impedance of the wiring tends to increase, and power supply failure tends to occur. For this reason, various techniques for suppressing an increase in wiring impedance have been proposed. For example, there is a method of forming an inductor inside a wiring board having a plurality of layers of conductor circuits. In this method, a large inductor formation region is required to obtain a desired inductance. However, when the conductor circuits are formed with high density or the number of layers of the conductor circuits is small, it is difficult to secure a sufficient area for forming the inductor. For this reason, it may be difficult to ensure sufficient performance of the inductor.

そこで、特許文献1には、磁性体粒子を含有した合成樹脂等の磁性体粒子含有絶縁体とインダクタ配線とからなるチップインダクタが開示されている。特許文献1に開示された技術は、磁性体粒子の粒径を複数の異なる大きさとすることで、合成樹脂等の中に磁性体粒子が均一に分散された磁性体粒子含有絶縁体を形成することを可能とする。この技術を用いることで、小さい領域でもインダクタンスを確保することが可能となる。   Therefore, Patent Document 1 discloses a chip inductor including a magnetic particle-containing insulator such as a synthetic resin containing magnetic particles and an inductor wiring. The technique disclosed in Patent Document 1 forms a magnetic particle-containing insulator in which magnetic particles are uniformly dispersed in a synthetic resin or the like by setting the particle size of the magnetic particles to a plurality of different sizes. Make it possible. By using this technique, it is possible to ensure inductance even in a small area.

特開2006−269134号公報JP 2006-269134 A

特許文献1に開示された磁性体粒子含有絶縁体(磁性体層)では、磁性体粒子の形状に応じて表面に凹凸が生じ易い。このため、その表面にインダクタ用の導体パターンを形成することが困難となり、密着性や電気的信頼性を確保することが難しいという課題があった。   In the magnetic particle-containing insulator (magnetic layer) disclosed in Patent Document 1, irregularities are likely to occur on the surface according to the shape of the magnetic particles. For this reason, it is difficult to form a conductor pattern for the inductor on the surface, and there is a problem that it is difficult to ensure adhesion and electrical reliability.

本発明は、上述の事情の下になされたもので、磁性体層の上にインダクタ用の導体パターンを容易に形成することを可能とすることを目的とする。   The present invention has been made under the above-described circumstances, and an object thereof is to make it possible to easily form a conductor pattern for an inductor on a magnetic layer.

上記目的を達成するために、本発明の第1の観点に係るシート材は、
磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層を備えるシート材であって、
前記磁性体層の少なくとも片面に、第2絶縁材料から構成される樹脂層が設けられている。
In order to achieve the above object, the sheet material according to the first aspect of the present invention comprises:
A sheet material comprising a magnetic layer containing magnetic particles and a first insulating material,
A resin layer made of the second insulating material is provided on at least one surface of the magnetic layer.

前記磁性体層の厚さは前記樹脂層の厚さより厚い、ことが好ましい。   The magnetic layer is preferably thicker than the resin layer.

前記樹脂層の表面に金属箔を有する、ことが好ましい。   It is preferable to have a metal foil on the surface of the resin layer.

前記金属箔の前記樹脂層に接する表面は粗化されている、ことが好ましい。   It is preferable that the surface in contact with the resin layer of the metal foil is roughened.

前記磁性体粒子の平均粒子径は0.5〜50μmの範囲内にある、ことが好ましい。   The average particle diameter of the magnetic particles is preferably in the range of 0.5 to 50 μm.

前記第1絶縁材料のガラス転移温度(Tg)は130℃以上である、ことが好ましい。   The glass transition temperature (Tg) of the first insulating material is preferably 130 ° C. or higher.

前記磁性体粒子の前記磁性体層における体積含有率は30体積%〜70体積%の範囲内にある、ことが好ましい。   The volume content of the magnetic particles in the magnetic layer is preferably in the range of 30% by volume to 70% by volume.

前記磁性体粒子は鉄、軟磁性鉄合金、ニッケル、軟磁性ニッケル合金、コバルト、軟磁性コバルト合金、軟磁性鉄(Fe)−シリコン(Si)系合金、軟磁性鉄(Fe)−窒素(N)系合金、軟磁性鉄(Fe)−炭素(C)系合金、軟磁性鉄(Fe)−ホウ素(B)系合金、軟磁性鉄(Fe)−リン(P)系合金、軟磁性鉄(Fe)−アルミニウム(Al)系合金、軟磁性鉄(Fe)−アルミニウム(Al)−シリコン(Si)系合金のいずれか1つ以上から構成される、ことが好ましい。   The magnetic particles are iron, soft magnetic iron alloy, nickel, soft magnetic nickel alloy, cobalt, soft magnetic cobalt alloy, soft magnetic iron (Fe) -silicon (Si) alloy, soft magnetic iron (Fe) -nitrogen (N ) Alloy, soft magnetic iron (Fe) -carbon (C) alloy, soft magnetic iron (Fe) -boron (B) alloy, soft magnetic iron (Fe) -phosphorus (P) alloy, soft magnetic iron ( It is preferably composed of at least one of an Fe) -aluminum (Al) alloy and a soft magnetic iron (Fe) -aluminum (Al) -silicon (Si) alloy.

前記第1絶縁材料は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリフェニレン樹脂、ポリベンゾシクロブテン樹脂、ポリアリーレンエーテル樹脂、ポリシロキサン樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、フッ素樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリシクロオレフィン樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂及びポリスチレン樹脂のいずれか1つ以上から構成される、ことが好ましい。   The first insulating material is epoxy resin, phenol resin, polybenzoxazole resin, polyphenylene resin, polybenzocyclobutene resin, polyarylene ether resin, polysiloxane resin, polyurethane resin, polyester resin, polyester urethane resin, fluorine resin, polyolefin It is preferably composed of at least one of resin, polycycloolefin resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin and polystyrene resin.

前記第2絶縁材料と前記第1絶縁材料とは同じ材料である、ことが好ましい。   It is preferable that the second insulating material and the first insulating material are the same material.

前記磁性体層の表面は凹凸形状を有する、ことが好ましい。   The surface of the magnetic layer preferably has an uneven shape.

前記樹脂層は無機フィラーを含有する、ことが好ましい。   The resin layer preferably contains an inorganic filler.

前記樹脂層は、粗化処理に用いられる溶液に対して、相対的に溶解しやすい成分と、相対的に溶解しにくい成分の少なくとも2つの成分が混合された樹脂で構成されている、ことが好ましい。   The resin layer is composed of a resin in which at least two components of a component that is relatively soluble and a component that is relatively difficult to dissolve in a solution used for the roughening treatment are mixed. preferable.

前記樹脂層の線膨張係数は前記磁性体層の線膨張係数より小さい、ことが好ましい。   The linear expansion coefficient of the resin layer is preferably smaller than the linear expansion coefficient of the magnetic layer.

本発明の第2の観点に係るシート材の製造方法は、
磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層を備えるシート材の製造方法であって、
前記磁性体粒子と前記第1絶縁材料とを混合して前記磁性体層を作製することと、
前記磁性体層の少なくとも片面に、第2絶縁材料から構成される樹脂層を設けることと、
を含む。
The manufacturing method of the sheet material according to the second aspect of the present invention,
A method for producing a sheet material comprising a magnetic layer containing magnetic particles and a first insulating material,
Mixing the magnetic particles and the first insulating material to produce the magnetic layer;
Providing a resin layer made of a second insulating material on at least one surface of the magnetic layer;
including.

前記磁性体層の厚さを、前記樹脂層の厚さよりも厚くする、ことが好ましい。   It is preferable to make the thickness of the magnetic layer thicker than the thickness of the resin layer.

本発明の第3の観点に係るインダクタ部品は、
層間絶縁層とその上のインダクタ用導体パターンとを有するインダクタ部品であって、
前記層間絶縁層は、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層と、該磁性体層の少なくとも片面に設けられ、第2絶縁材料から構成される樹脂層とからなる。
The inductor component according to the third aspect of the present invention is:
An inductor component having an interlayer insulating layer and an inductor conductive pattern thereon,
The interlayer insulating layer includes a magnetic layer containing magnetic particles and a first insulating material, and a resin layer provided on at least one surface of the magnetic layer and made of a second insulating material.

前記磁性体層の厚さは、前記樹脂層の厚さより厚い、ことが好ましい。
前記樹脂層の前記導体パターンに接する表面は粗化されている、ことが好ましい。
The thickness of the magnetic layer is preferably thicker than the thickness of the resin layer.
It is preferable that the surface of the resin layer in contact with the conductor pattern is roughened.

本発明の第4の観点に係る配線板は、
少なくとも一方の表面に開口されてなる開口部を有するコア基板と、前記開口部の内部に収容されるインダクタ部品と、前記開口部の内部に充填されてインダクタ部品を固定する充填樹脂と、を有する配線板であって、
前記インダクタ部品は、層間絶縁層とその上のインダクタ用導体パターンとを有し、
前記層間絶縁層は、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層と、該磁性体層の少なくとも片面に設けられ第2絶縁材料から構成される樹脂層と、からなる。
A wiring board according to a fourth aspect of the present invention is:
A core substrate having an opening formed on at least one surface; an inductor component housed in the opening; and a filling resin filling the opening to fix the inductor component. A wiring board,
The inductor component has an interlayer insulating layer and an inductor conductor pattern thereon,
The interlayer insulating layer includes a magnetic layer including magnetic particles and a first insulating material, and a resin layer provided on at least one surface of the magnetic layer and made of a second insulating material.

前記磁性体層の厚さは、前記樹脂層の厚さより厚い、ことが好ましい。   The thickness of the magnetic layer is preferably thicker than the thickness of the resin layer.

本発明の第5の観点に係る磁性材料は、
磁性体粒子と絶縁材料とを有し、
硬化した状態での線膨張係数は40ppm/K以下である。
The magnetic material according to the fifth aspect of the present invention is:
Having magnetic particles and an insulating material,
The linear expansion coefficient in the cured state is 40 ppm / K or less.

本発明に係るシート材は、磁性体粒子を含む磁性体層の少なくとも片面に樹脂層を備える。このため、磁性体層の上に直接導体パターンを形成する場合に比べて、平坦な樹脂層の表面に導体パターンを形成することができる。これにより、導体パターンの密着性及び電気的信頼性を確保することが可能となる。   The sheet material according to the present invention includes a resin layer on at least one side of a magnetic layer containing magnetic particles. For this reason, compared with the case where a conductor pattern is directly formed on a magnetic body layer, a conductor pattern can be formed on the surface of a flat resin layer. Thereby, it becomes possible to ensure the adhesiveness and electrical reliability of the conductor pattern.

本発明の実施形態に係る配線板の断面図である。It is sectional drawing of the wiring board which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るインダクタ部品の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the example of the inductor components which concern on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るシート材の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the example of the sheet material which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るシート材の製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the sheet material which concerns on embodiment of this invention. 図4に示す製造方法において、磁性体ペーストを形成する工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of forming a magnetic paste in the manufacturing method shown in FIG. 図4に示す製造方法において、磁性体ペーストを硬化させる工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of hardening a magnetic body paste in the manufacturing method shown in FIG. 図4に示す製造方法において、磁性体層(硬化した磁性体ペースト)上に樹脂層を設ける工程を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a step of providing a resin layer on a magnetic layer (cured magnetic paste) in the manufacturing method shown in FIG. 4. 図4に示す製造方法において、粗化された金属箔を樹脂層上に積層する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 4, it is a figure for demonstrating the process of laminating | stacking the roughened metal foil on the resin layer. 本発明の実施形態に係るインダクタ部品の製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the inductor component which concerns on embodiment of this invention. 図6に示す製造方法において、支持体を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a support in the manufacturing method shown in FIG. 6. 図6に示す製造方法において、支持体の上に絶縁基板及び導体層を形成する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 6, it is a figure for demonstrating the process of forming an insulated substrate and a conductor layer on a support body. 図6に示す製造方法において、絶縁基板の上に第1の導体パターンを形成する工程を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a step of forming a first conductor pattern on an insulating substrate in the manufacturing method shown in FIG. 6. 図6に示す製造方法において、第1の導体パターンの上にシート材を積層する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 6, it is a figure for demonstrating the process of laminating | stacking a sheet | seat material on the 1st conductor pattern. 第1の導体パターンの上にシート材が積層された状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the sheet | seat material was laminated | stacked on the 1st conductor pattern. 図6に示す製造方法において、図10の工程の後の工程を説明するための図である。FIG. 11 is a diagram for explaining a step after the step of FIG. 10 in the manufacturing method shown in FIG. 6. 図6に示す製造方法において、図12の工程の後の工程を説明するための図である。FIG. 13 is a diagram for explaining a step after the step of FIG. 12 in the manufacturing method shown in FIG. 6. 図6に示す製造方法において、第2の樹脂層の上に第2の導体パターンを形成する工程を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a step of forming a second conductor pattern on the second resin layer in the manufacturing method shown in FIG. 6. 図6に示す製造方法において、第2の導体パターンの上にシート材を積層する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 6, it is a figure for demonstrating the process of laminating | stacking a sheet material on a 2nd conductor pattern. 図6に示す製造方法において、第3の樹脂層の上に第3の導体層を形成する工程を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a step of forming a third conductor layer on the third resin layer in the manufacturing method shown in FIG. 6. 図6に示す製造方法において、第3の樹脂層の上に第3の導体パターンを形成する工程を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a step of forming a third conductor pattern on the third resin layer in the manufacturing method shown in FIG. 6. 図6に示す製造方法において、支持体を除去する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 6, it is a figure for demonstrating the process of removing a support body. 本発明の実施形態に係るシート材の他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of the sheet material which concerns on embodiment of this invention. シート材の他の例の製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the other example of a sheet | seat material. 図19Bに示す製造方法において、磁性体ペーストを形成する工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of forming a magnetic paste in the manufacturing method shown to FIG. 19B. 図19Bに示す製造方法において、磁性体ペーストを硬化させる工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of hardening a magnetic body paste in the manufacturing method shown to FIG. 19B. 図19Bに示す製造方法において、磁性体層(硬化した磁性体ペースト)上に樹脂層を設ける工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of providing a resin layer on a magnetic body layer (hardened magnetic body paste) in the manufacturing method shown to FIG. 19B. 本発明の実施形態に係る配線板の製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the wiring board which concerns on embodiment of this invention. 図20に示す製造方法において、基板(コア基板)を準備する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of preparing a board | substrate (core board | substrate). 図20に示す製造方法において、基板にスルーホールを形成する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of forming a through hole in a board | substrate. 図20に示す製造方法において、基板にスルーホール導体及び導体層を形成する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of forming a through-hole conductor and a conductor layer in a board | substrate. 図20に示す製造方法において、導体層をパターニングする工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of patterning a conductor layer. 図20に示す製造方法において、キャビティを形成する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of forming a cavity. 図25の工程に続く工程を説明するための図である。FIG. 26 is a diagram for explaining a process following the process of FIG. 25. 図20に示す製造方法において、キャビティ内にインダクタ部品を配置する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of arrange | positioning inductor components in a cavity. キャビティ内にインダクタ部品が配置された状態を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the state by which the inductor components are arrange | positioned in the cavity. 図20に示す製造方法において、インダクタ部品の上に絶縁層を配置する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of arrange | positioning an insulating layer on an inductor component. 図20に示す製造方法において、コア基板とインダクタ部品との隙間に絶縁体を充填する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of filling an insulator with the clearance gap between a core board | substrate and an inductor component. コア基板とインダクタ部品との隙間に絶縁体が充填された状態を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the state with which the insulator was filled in the clearance gap between a core board | substrate and an inductor component. 図20に示す製造方法において、コア基板及びインダクタ部品の上に絶縁層を形成する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of forming an insulating layer on a core board | substrate and an inductor component. 図20に示す製造方法において、ビアホールを形成する工程を説明するための図である。In the manufacturing method shown in FIG. 20, it is a figure for demonstrating the process of forming a via hole. 図32の工程に続く工程を説明するための図である。FIG. 33 is a diagram for explaining a process following the process in FIG. 32. 図33の工程に続く工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process following the process of FIG. 図34の工程に続く工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process following the process of FIG. 図35の工程に続く工程を説明するための図である。FIG. 36 is a diagram for explaining a process following the process of FIG. 35. 本発明の実施形態に係るインダクタ部品の第2の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 2nd example of the inductor component which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るインダクタ部品の第2の例の製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the 2nd example of the inductor component which concerns on embodiment of this invention. 図37Bに示す製造方法において、支持体を示す断面図である。FIG. 38B is a cross-sectional view showing a support in the manufacturing method shown in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、支持体の上に絶縁基板及び導体層を形成する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of forming an insulating substrate and a conductor layer on a support in the manufacturing method shown in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、絶縁基板の上に第1の導体パターンを形成する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of forming the first conductor pattern on the insulating substrate in the manufacturing method shown in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、絶縁基板及び第1の導体パターンの上に磁性体ペーストを塗布する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of applying a magnetic paste on the insulating substrate and the first conductor pattern in the manufacturing method shown in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、磁性体層(磁性体ペーストが硬化した層)の上に絶縁層を積層する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a process of stacking an insulating layer on a magnetic layer (a layer obtained by curing a magnetic paste) in the manufacturing method illustrated in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、ビアホールを形成する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of forming a via hole in the manufacturing method illustrated in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、ビア導体及び導体層を形成する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of forming a via conductor and a conductor layer in the manufacturing method illustrated in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、絶縁層の上に第2の導体パターンを形成する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of forming a second conductor pattern on the insulating layer in the manufacturing method illustrated in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、絶縁層及び第2の導体パターンの上に磁性体ペーストを塗布する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of applying a magnetic paste on the insulating layer and the second conductor pattern in the manufacturing method shown in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、磁性体層(磁性体ペーストが硬化した層)の上に絶縁層及び金属箔を積層する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of laminating an insulating layer and a metal foil on a magnetic layer (a layer obtained by curing a magnetic paste) in the manufacturing method illustrated in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、絶縁層の上に導体層を形成する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of forming a conductor layer on the insulating layer in the manufacturing method illustrated in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、絶縁層の上に第3の導体パターンを形成する工程を説明するための図である。FIG. 38B is a diagram for describing a step of forming a third conductor pattern on the insulating layer in the manufacturing method illustrated in FIG. 37B. 図37Bに示す製造方法において、支持体を除去する工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of removing a support body in the manufacturing method shown to FIG. 37B. 本発明の実施形態に係るインダクタ部品の第3の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 3rd example of the inductor component which concerns on embodiment of this invention. インダクタ部品の導体パターンの形状を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the shape of the conductor pattern of an inductor component. 本発明の実施形態に係るインダクタ部品の第4の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 4th example of the inductor component which concerns on embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
なお、図中、矢印Z1、Z2は、それぞれ配線板の主面(表裏面)の法線方向に相当する配線板の積層方向(又は配線板の厚み方向)を指す。一方、矢印X1、X2及びY1、Y2は、それぞれ積層方向に直交する方向(又は各層の側方)を指す。配線板の主面は、X−Y平面となる。また、配線板の側面は、X−Z平面又はY−Z平面となる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
In the figure, arrows Z1 and Z2 indicate the stacking direction of the wiring boards (or the thickness direction of the wiring boards) corresponding to the normal direction of the main surface (front and back surfaces) of the wiring boards. On the other hand, arrows X1 and X2 and Y1 and Y2 respectively indicate directions orthogonal to the stacking direction (or sides of each layer). The main surface of the wiring board is an XY plane. The side surface of the wiring board is an XZ plane or a YZ plane.

導体層は、一乃至複数の導体パターンで構成される層である。導体層は、電気回路を構成する導体パターン、例えば配線(グランドも含む)、パッド、又はランド等を含む場合もあれば、電気回路を構成しない平面状の導体パターン等を含む場合もある。   The conductor layer is a layer composed of one or more conductor patterns. The conductor layer may include a conductor pattern that constitutes an electric circuit, for example, a wiring (including a ground), a pad, a land, or the like, or a planar conductor pattern that does not constitute an electric circuit.

めっきには、電解めっき等の湿式めっきのほか、PVD(Physical Vapor Deposition)やCVD(Chemical Vapor Deposition)等の乾式めっきも含まれる。   In addition to wet plating such as electrolytic plating, plating includes dry plating such as PVD (Physical Vapor Deposition) and CVD (Chemical Vapor Deposition).

以下、本発明を具体化した実施形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。   DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the invention will be described in detail with reference to the drawings.

本実施形態に係る配線板10は、図1に示すように、基板100(絶縁基板)と、第1ビルドアップ部B1と、第2ビルドアップ部B2と、インダクタ部品200と、ソルダーレジスト11、12と、を有する。本実施形態の配線板10は、矩形板状のリジッド配線板である。ただし、配線板10は、フレキシブル配線板であってもよい。以下、基板100の表裏面(2つの主面)の一方を第1面F1、他方を第2面F2という。また、インダクタ部品200の表裏面(2つの主面)のうち、第1面F1と同じ方向を向く面を第3面F3といい、他方を第4面F4という。   As shown in FIG. 1, the wiring board 10 according to the present embodiment includes a substrate 100 (insulating substrate), a first buildup part B1, a second buildup part B2, an inductor component 200, a solder resist 11, 12 and. The wiring board 10 of this embodiment is a rectangular wiring board. However, the wiring board 10 may be a flexible wiring board. Hereinafter, one of the front and back surfaces (two main surfaces) of the substrate 100 is referred to as a first surface F1, and the other is referred to as a second surface F2. Of the front and back surfaces (two main surfaces) of the inductor component 200, a surface facing the same direction as the first surface F1 is referred to as a third surface F3, and the other is referred to as a fourth surface F4.

第1ビルドアップ部B1は、基板100の第1面F1側に形成され、第2ビルドアップ部B2は、基板100の第2面F2側に形成される。第1ビルドアップ部B1は、絶縁層101(層間絶縁層)と、導体層110と、から構成され、第2ビルドアップ部B2は、絶縁層102(層間絶縁層)と、導体層120と、から構成される。インダクタ部品200は、配線板10に内蔵される。第1ビルドアップ部B1上、第2ビルドアップ部B2上にはそれぞれ、ソルダーレジスト11、12が形成される。   The first buildup portion B1 is formed on the first surface F1 side of the substrate 100, and the second buildup portion B2 is formed on the second surface F2 side of the substrate 100. The first buildup part B1 is composed of an insulating layer 101 (interlayer insulating layer) and a conductor layer 110, and the second buildup part B2 is composed of an insulating layer 102 (interlayer insulating layer), a conductor layer 120, Consists of The inductor component 200 is built in the wiring board 10. Solder resists 11 and 12 are formed on the first buildup part B1 and the second buildup part B2, respectively.

基板100は、絶縁性を有し、配線板10のコア基板となる。基板100の第1面F1上には導体層301が形成され、基板100の第2面F2上には導体層302が形成される。基板100にはキャビティ(開口部)R10が形成される。キャビティR10には、インダクタ部品200が収容される。キャビティR10は、基板100を貫通する貫通孔からなる。キャビティR10の両端(第1面F1側及び第2面F2側)の開口形状はそれぞれ、略長方形になっている。インダクタ部品200の形状は、例えば矩形板状であり、インダクタ部品200の主面の形状は、例えば略長方形である。本実施形態では、インダクタ部品200がキャビティR10に対応した平面形状(例えば略同じ大きさの相似形)を有する。
なお、キャビティR10は基板100を貫通していなくともよい。すなわち、キャビティR10は、深さが基板100の厚みよりも小さく、有底形状であってもよい。
The substrate 100 has an insulating property and becomes a core substrate of the wiring board 10. A conductor layer 301 is formed on the first surface F1 of the substrate 100, and a conductor layer 302 is formed on the second surface F2 of the substrate 100. A cavity (opening) R10 is formed in the substrate 100. The inductor component 200 is accommodated in the cavity R10. The cavity R <b> 10 includes a through hole that penetrates the substrate 100. The opening shapes at both ends (the first surface F1 side and the second surface F2 side) of the cavity R10 are substantially rectangular. The shape of the inductor component 200 is, for example, a rectangular plate, and the shape of the main surface of the inductor component 200 is, for example, a substantially rectangular shape. In the present embodiment, the inductor component 200 has a planar shape (for example, a similar shape having substantially the same size) corresponding to the cavity R10.
Note that the cavity R10 may not penetrate the substrate 100. That is, the cavity R10 may have a bottomed shape with a depth smaller than the thickness of the substrate 100.

本実施形態では、インダクタ部品200の略全体がキャビティR10に収容される。しかしこれに限られず、インダクタ部品200の一部のみがキャビティR10に配置されてもよい。本実施形態では、キャビティR10におけるインダクタ部品200と基板100との隙間R1に、絶縁体101aが充填される。本実施形態では、絶縁体101aが、上層の絶縁層101(詳しくは樹脂絶縁層)を構成する絶縁材料(詳しくは樹脂)からなる(図29B参照)。絶縁体101aは、基板100及びインダクタ部品200のいずれよりも大きな熱膨張係数を有する。絶縁体101aは、インダクタ部品200の周りを完全に覆う。これにより、インダクタ部品200が、絶縁体101a(樹脂)で保護されるとともに、所定の位置に固定される。
なお、絶縁体101aは、上層の絶縁層101とは別の材料であってもよい。
In the present embodiment, substantially the entire inductor component 200 is accommodated in the cavity R10. However, the present invention is not limited to this, and only part of the inductor component 200 may be disposed in the cavity R10. In this embodiment, the insulator 101a is filled in the gap R1 between the inductor component 200 and the substrate 100 in the cavity R10. In the present embodiment, the insulator 101a is made of an insulating material (specifically resin) that constitutes the upper insulating layer 101 (specifically, resin insulating layer) (see FIG. 29B). The insulator 101a has a larger thermal expansion coefficient than either the substrate 100 or the inductor component 200. The insulator 101a completely covers the periphery of the inductor component 200. Thereby, the inductor component 200 is protected by the insulator 101a (resin) and is fixed at a predetermined position.
Note that the insulator 101a may be formed of a material different from that of the upper insulating layer 101.

絶縁層101(第1絶縁層)は、基板100の第1面F1上及びインダクタ部品200の第3面F3上に形成され、絶縁層102(第2絶縁層)は、基板100の第2面F2上及びインダクタ部品200の第4面F4上に形成される。そして、キャビティR10(貫通孔)の一方(第1面F1側)の開口は絶縁層101によって塞がれ、キャビティR10(貫通孔)の他方(第2面F2側)の開口は絶縁層102によって塞がれる。本実施形態では、導体層110及び120が、最外層となる。ただしこれに限られず、より多くの層間絶縁層及び導体層を積層してもよい。   The insulating layer 101 (first insulating layer) is formed on the first surface F1 of the substrate 100 and the third surface F3 of the inductor component 200, and the insulating layer 102 (second insulating layer) is the second surface of the substrate 100. It is formed on F 2 and on the fourth surface F 4 of the inductor component 200. An opening on one side (first surface F1 side) of the cavity R10 (through hole) is closed by the insulating layer 101, and an opening on the other side (second surface F2 side) of the cavity R10 (through hole) is formed by the insulating layer 102. It is blocked. In the present embodiment, the conductor layers 110 and 120 are the outermost layers. However, the present invention is not limited to this, and more interlayer insulating layers and conductor layers may be stacked.

導体層110は、第1面F1側の最外の導体層となり、導体層120は、第2面F2側の最外の導体層となる。導体層110,120上にはそれぞれ、ソルダーレジスト11、12が形成される。ただし、ソルダーレジスト11、12にはそれぞれ、開口部11a、12aが形成されている。このため、導体層110の所定の部位(開口部11aに位置する部位)は、ソルダーレジスト11に覆われず露出しており、パッドP1となる。また、導体層120の所定の部位(開口部12aに位置する部位)は、パッドP2となる。パッドP1は、例えば他の配線板と電気的に接続するための外部接続端子となり、パッドP2は、例えば電子部品を実装するための外部接続端子となる。ただしこれに限られず、パッドP1、P2の用途は任意である。   The conductor layer 110 is the outermost conductor layer on the first surface F1 side, and the conductor layer 120 is the outermost conductor layer on the second surface F2 side. Solder resists 11 and 12 are formed on the conductor layers 110 and 120, respectively. However, openings 11a and 12a are formed in the solder resists 11 and 12, respectively. For this reason, the predetermined part (part located in the opening part 11a) of the conductor layer 110 is exposed without being covered with the solder resist 11, and becomes the pad P1. Moreover, the predetermined site | part (site located in the opening part 12a) of the conductor layer 120 becomes the pad P2. The pad P1 becomes an external connection terminal for electrical connection with, for example, another wiring board, and the pad P2 becomes an external connection terminal for mounting an electronic component, for example. However, the application of the pads P1 and P2 is not limited to this and is arbitrary.

本実施形態では、パッドP1、P2が、その表面に、例えばNi/Au膜からなる耐食層を有する。耐食層は、電解めっき又はスパッタリング等により形成することができる。また、OSP(Organic Solderability Preservative)処理を行うことにより、有機保護膜からなる耐食層を形成してもよい。なお、耐食層は必須の構成ではなく、必要がなければ割愛してもよい。   In the present embodiment, the pads P1 and P2 have a corrosion resistant layer made of, for example, a Ni / Au film on the surface thereof. The corrosion resistant layer can be formed by electrolytic plating or sputtering. Moreover, you may form the corrosion-resistant layer which consists of an organic protective film by performing OSP (Organic Solderability Preservative) process. The corrosion resistant layer is not an essential component and may be omitted if not necessary.

基板100(コア基板)にはスルーホール300aが形成され、スルーホール300a内に導体(例えば銅めっき)が充填されることにより、スルーホール導体300bが形成される。本実施形態では、スルーホール導体300bの形状が、砂時計状(鼓状)である。導体層301、302にはそれぞれ、スルーホール導体300bのランドが含まれる。   Through hole 300a is formed in substrate 100 (core substrate), and through hole conductor 300b is formed by filling conductor (for example, copper plating) in through hole 300a. In the present embodiment, the through-hole conductor 300b has an hourglass shape (a drum shape). Each of the conductor layers 301 and 302 includes a land of the through-hole conductor 300b.

絶縁層101には孔311a及び312a(それぞれビアホール)が形成され、絶縁層102には孔322a(ビアホール)が形成されている。孔311a、312a、322a内にそれぞれ導体(例えば銅のめっき)が充填されることにより、各孔内の導体がそれぞれ、ビア導体311b、312b、322b(それぞれフィルド導体)となる。孔311aは、インダクタ部品200の第3の導体パターン207に達し、ビア導体311bは、基板100の第1面F1側から、インダクタ部品200の第3の導体パターン207に電気的に接続される。   Holes 311 a and 312 a (each via hole) are formed in the insulating layer 101, and a hole 322 a (via hole) is formed in the insulating layer 102. By filling the holes 311a, 312a, and 322a with conductors (for example, copper plating), the conductors in the holes become via conductors 311b, 312b, and 322b (respectively filled conductors). The hole 311a reaches the third conductor pattern 207 of the inductor component 200, and the via conductor 311b is electrically connected to the third conductor pattern 207 of the inductor component 200 from the first surface F1 side of the substrate 100.

基板100の第1面F1上の導体層301と、絶縁層101上の導体層110とは、ビア導体312bを介して互いに電気的に接続され、基板100の第2面F2上の導体層302と、絶縁層102上の導体層120とは、ビア導体322bを介して互いに電気的に接続される。また、基板100の第1面F1上の導体層301と基板100の第2面F2上の導体層302とは、スルーホール導体300bを介して、互いに電気的に接続されている。ビア導体312b、322b及びスルーホール導体300bは、いずれもフィルド導体であり、これらがZ方向にスタックされることで、フィルドスタックが形成される。   The conductor layer 301 on the first surface F1 of the substrate 100 and the conductor layer 110 on the insulating layer 101 are electrically connected to each other via the via conductor 312b, and the conductor layer 302 on the second surface F2 of the substrate 100. The conductor layer 120 on the insulating layer 102 is electrically connected to each other through the via conductor 322b. Further, the conductor layer 301 on the first surface F1 of the substrate 100 and the conductor layer 302 on the second surface F2 of the substrate 100 are electrically connected to each other through the through-hole conductor 300b. The via conductors 312b and 322b and the through-hole conductor 300b are all filled conductors, and these are stacked in the Z direction to form a filled stack.

基板100は、例えばガラスクロス(心材)にエポキシ樹脂を含浸させたもの(以下、「ガラエポ」という。)からなる。心材は、主材料(本実施形態ではエポキシ樹脂)よりも熱膨張率の小さい材料である。心材としては、例えばガラス繊維(例えばガラス布又はガラス不織布)、アラミド繊維(例えばアラミド不織布)、又はシリカフィラー等の無機材料が好ましいと考えられる。ただし、基板100の材料は、基本的に任意である。例えばエポキシ樹脂に代えて、ポリエステル樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂(BT樹脂)、イミド樹脂(ポリイミド)、フェノール樹脂、又はアリル化フェニレンエーテル樹脂(A−PPE樹脂)等を用いてもよい。基板100は、異種材料からなる複数の層から構成されていてもよい。   The substrate 100 is made of, for example, a glass cloth (core material) impregnated with an epoxy resin (hereinafter referred to as “glass epoxy”). The core material is a material having a smaller coefficient of thermal expansion than the main material (in the present embodiment, epoxy resin). As a core material, it is thought that inorganic materials, such as glass fiber (for example, glass cloth or glass nonwoven fabric), an aramid fiber (for example, aramid nonwoven fabric), or a silica filler, are preferable, for example. However, the material of the substrate 100 is basically arbitrary. For example, instead of an epoxy resin, a polyester resin, a bismaleimide triazine resin (BT resin), an imide resin (polyimide), a phenol resin, an allylated phenylene ether resin (A-PPE resin), or the like may be used. The substrate 100 may be composed of a plurality of layers made of different materials.

本実施形態では、絶縁層101、102の各々が、心材を樹脂に含浸してなる。絶縁層101、102は、例えばガラエポからなる。ただしこれに限定されず、例えば絶縁層101、102は心材を含まない樹脂からなってもよい。また、絶縁層101、102の材料は、基本的に任意である。例えばエポキシ樹脂に代えて、ポリエステル樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂(BT樹脂)、イミド樹脂(ポリイミド)、フェノール樹脂、又はアリル化フェニレンエーテル樹脂(A−PPE樹脂)等を用いてもよい。各絶縁層は、異種材料からなる複数の層から構成されていてもよい。   In this embodiment, each of the insulating layers 101 and 102 is formed by impregnating a core material with resin. The insulating layers 101 and 102 are made of glass epoxy, for example. However, the present invention is not limited to this. For example, the insulating layers 101 and 102 may be made of a resin that does not contain a core material. In addition, the material of the insulating layers 101 and 102 is basically arbitrary. For example, instead of an epoxy resin, a polyester resin, a bismaleimide triazine resin (BT resin), an imide resin (polyimide), a phenol resin, an allylated phenylene ether resin (A-PPE resin), or the like may be used. Each insulating layer may be composed of a plurality of layers made of different materials.

導体層110は、銅箔(下層)と、銅めっき(上層)と、から構成され、導体層120は、銅箔(下層)と、銅めっき(上層)と、から構成される。導体層110,120は、例えば電気回路(例えばインダクタ部品200を含む電気回路)を構成する配線、ランド、及び配線板10の強度を高めるためのベタパターンなどを有する。   The conductor layer 110 is composed of copper foil (lower layer) and copper plating (upper layer), and the conductor layer 120 is composed of copper foil (lower layer) and copper plating (upper layer). The conductor layers 110 and 120 have, for example, wirings and lands that form an electric circuit (for example, an electric circuit including the inductor component 200), and a solid pattern for increasing the strength of the wiring board 10.

各導体層及び各ビア導体の材料は、導体であれば任意であり、金属でも非金属でもよい。各導体層及び各ビア導体は、異種材料からなる複数の層から構成されていてもよい。   The material of each conductor layer and each via conductor is arbitrary as long as it is a conductor, and may be metal or nonmetal. Each conductor layer and each via conductor may be composed of a plurality of layers made of different materials.

次に、本発明の実施形態に係るインダクタ部品200の構成について、図2を参照して説明する。図2は、本実施形態に係るインダクタ部品200の断面図である。   Next, the configuration of the inductor component 200 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view of the inductor component 200 according to the present embodiment.

インダクタ部品200は、支持層201と、第1の導体パターン202と、第1の磁性体層222aと、第1の樹脂層223aと、第2の導体パターン206と、ビア導体205bと、第2の磁性体層222bと、第2の樹脂層223bと、第3の導体パターン207と、から構成される。   The inductor component 200 includes a support layer 201, a first conductor pattern 202, a first magnetic layer 222a, a first resin layer 223a, a second conductor pattern 206, a via conductor 205b, Magnetic layer 222b, second resin layer 223b, and third conductor pattern 207.

支持層201の上には、第1の導体パターン202が形成される。第1の導体パターン202の上には、第1の磁性体層222aが形成される。第1の磁性体層222aは、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む。第1の磁性体層222aの上には、第2絶縁材料からなる第1の樹脂層223aが形成される。第1の樹脂層223aの上には、第2の導体パターン206が形成される。第1の導体パターン202と、第2の導体パターン206とは、ビア導体205bによって、電気的に接続されている。ビア導体205bは、磁性体層222a及び樹脂層223aを貫通する。   A first conductor pattern 202 is formed on the support layer 201. On the first conductor pattern 202, a first magnetic layer 222a is formed. The first magnetic layer 222a includes magnetic particles and a first insulating material. A first resin layer 223a made of a second insulating material is formed on the first magnetic layer 222a. A second conductor pattern 206 is formed on the first resin layer 223a. The first conductor pattern 202 and the second conductor pattern 206 are electrically connected by a via conductor 205b. The via conductor 205b penetrates the magnetic layer 222a and the resin layer 223a.

第2の導体パターン206の上には、第2の磁性体層222bが形成される。第2の磁性体層222bは、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む。第2の磁性体層222bの上には、第2絶縁材料からなる第2の樹脂層223bが形成される。第2の樹脂層223bの上には、第3の導体パターン207が形成される。第2の樹脂層223bの上面及び第3の導体パターン207の上面が、インダクタ部品200の第3面F3を形成している。   On the second conductor pattern 206, a second magnetic layer 222b is formed. The second magnetic layer 222b includes magnetic particles and a first insulating material. A second resin layer 223b made of a second insulating material is formed on the second magnetic layer 222b. A third conductor pattern 207 is formed on the second resin layer 223b. The upper surface of the second resin layer 223b and the upper surface of the third conductor pattern 207 form the third surface F3 of the inductor component 200.

本実施形態では、支持層201の材料としては、エポキシ樹脂を用いている。また、第1絶縁材料及び第2絶縁材料は、同じ材料であることが好ましく、それぞれエポキシ樹脂が採用されている。   In the present embodiment, an epoxy resin is used as the material for the support layer 201. Moreover, it is preferable that the 1st insulating material and the 2nd insulating material are the same materials, and the epoxy resin is each employ | adopted.

本実施形態では、支持層201、磁性体層222a、222b、樹脂層223a、223bを構成する各絶縁材料は、基本的に任意である。支持層201の材料、第1絶縁材料、第2絶縁材料は、例えばエポキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂(BT樹脂)、イミド樹脂(ポリイミド)、フェノール樹脂、又はアリル化フェニレンエーテル樹脂(A−PPE樹脂)等を用いることができる。各絶縁層は、異種材料からなる複数の層から構成されていてもよい。   In the present embodiment, the insulating materials constituting the support layer 201, the magnetic layers 222a and 222b, and the resin layers 223a and 223b are basically arbitrary. The material of the support layer 201, the first insulating material, and the second insulating material are, for example, epoxy resin, polyester resin, bismaleimide triazine resin (BT resin), imide resin (polyimide), phenol resin, or allylated phenylene ether resin (A -PPE resin) and the like can be used. Each insulating layer may be composed of a plurality of layers made of different materials.

本実施形態では、インダクタ部品200は、磁性体層を含む複数のシート材220a、220bを用いて形成される(後述の図10及び図15を参照)。図3には、シート材220aの構造を示している。ただし、本実施形態では、シート材220bも、シート材220aと同様の構造を有している。もっとも、これに限られず、異なる構造を有する複数のシート材を用いてインダクタ部品を製造してもよい。   In the present embodiment, the inductor component 200 is formed using a plurality of sheet materials 220a and 220b including a magnetic layer (see FIGS. 10 and 15 described later). FIG. 3 shows the structure of the sheet material 220a. However, in this embodiment, the sheet material 220b also has the same structure as the sheet material 220a. However, the present invention is not limited to this, and the inductor component may be manufactured using a plurality of sheet materials having different structures.

図3に示すように、シート材220aは、磁性体層222aと、樹脂層223aと、金属箔224aと、から構成される。磁性体層222aは、磁性材料から構成される。詳しくは、磁性体層222aは、第1絶縁材料225と磁性体粒子226から構成される。樹脂層223aは、磁性体層222a上に形成され、金属箔224aは、樹脂層223a上に形成される。以下、金属箔224aの表裏面(2つの主面)の一方を第5面F5、他方を第6面F6という。本実施形態では、金属箔(銅箔)224aの第6面F6が樹脂層223aに接している。   As shown in FIG. 3, the sheet material 220a includes a magnetic layer 222a, a resin layer 223a, and a metal foil 224a. The magnetic layer 222a is made of a magnetic material. Specifically, the magnetic layer 222 a is composed of a first insulating material 225 and magnetic particles 226. The resin layer 223a is formed on the magnetic layer 222a, and the metal foil 224a is formed on the resin layer 223a. Hereinafter, one of the front and back surfaces (two main surfaces) of the metal foil 224a is referred to as a fifth surface F5, and the other is referred to as a sixth surface F6. In the present embodiment, the sixth surface F6 of the metal foil (copper foil) 224a is in contact with the resin layer 223a.

第1絶縁材料225のガラス転移温度(Tg)は、130℃以上であることが好ましい。第1絶縁材料225のガラス転移温度が130℃以上であれば、ガラス転移温度が130℃未満である場合に比べて、インダクタ部品200が配線板10の中で加熱されたときに、磁性体層222a,222bが変形しにくくなる。   The glass transition temperature (Tg) of the first insulating material 225 is preferably 130 ° C. or higher. If the glass transition temperature of the first insulating material 225 is 130 ° C. or higher, the magnetic material layer 200 is heated when the inductor component 200 is heated in the wiring board 10 as compared with the case where the glass transition temperature is less than 130 ° C. 222a and 222b are not easily deformed.

第1絶縁材料225は、基本的には、絶縁材料であればよいが、耐熱性の樹脂からなることが好ましい。具体的には、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリフェニレン樹脂、ポリベンゾシクロブテン樹脂、ポリアリーレンエーテル樹脂、ポリシロキサン樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、フッ素樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリシクロオレフィン樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂及びポリスチレン樹脂等、又はこれらの混合物等である。   The first insulating material 225 may basically be an insulating material, but is preferably made of a heat resistant resin. Specifically, for example, epoxy resin, phenol resin, polybenzoxazole resin, polyphenylene resin, polybenzocyclobutene resin, polyarylene ether resin, polysiloxane resin, polyurethane resin, polyester resin, polyester urethane resin, fluorine resin, polyolefin resin , Polycycloolefin resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin and polystyrene resin, or a mixture thereof.

磁性体粒子226の粒子径d1の平均(平均粒子径)は、例えば0.5〜50μmの範囲内にある。磁性体粒子226の平均粒子径は、走査型電子顕微鏡(SEM)写真で100個の磁性体粒子226の粒子径を測定して、算術平均することにより算出される。磁性体粒子226の平均粒子径が0.5μm以上であると、平均粒子径が0.5μm未満である場合に比べて、凝集しにくくなる。これにより、磁性体粒子226を磁性体層222aに均一に分散させることが容易になる。磁性体粒子226の平均粒子径が50μm以下であると、平均粒子径が50μmを超える場合に比べて、粒子同士の摩擦が小さくなる。これにより、磁性体層222aを均一な厚さに構成することが容易となる。   The average particle diameter d1 (average particle diameter) of the magnetic particles 226 is, for example, in the range of 0.5 to 50 μm. The average particle diameter of the magnetic particles 226 is calculated by measuring the particle diameter of 100 magnetic particles 226 with a scanning electron microscope (SEM) photograph and averaging the measured particle diameters. When the average particle diameter of the magnetic particles 226 is 0.5 μm or more, aggregation is less likely than when the average particle diameter is less than 0.5 μm. This facilitates uniform dispersion of the magnetic particles 226 in the magnetic layer 222a. When the average particle diameter of the magnetic particles 226 is 50 μm or less, the friction between the particles becomes smaller than when the average particle diameter exceeds 50 μm. This makes it easy to configure the magnetic layer 222a to have a uniform thickness.

磁性体粒子226の磁性体層222aにおける体積含有率は、30体積%〜70体積%の範囲内にあることが好ましい。体積含有率が30体積%以上であると、30体積%未満である場合に比べて、磁気特性が向上する。体積含有率が70体積%以下であると、70体積%を超える場合に比べて、粒子同士の摩擦が小さくなる。これにより、磁性体層222aを均一な厚さに構成することが容易になる。   The volume content of the magnetic particles 226 in the magnetic layer 222a is preferably in the range of 30% by volume to 70% by volume. When the volume content is 30% by volume or more, the magnetic properties are improved as compared with the case where the volume content is less than 30% by volume. When the volume content is 70% by volume or less, the friction between the particles becomes smaller than when the volume content exceeds 70% by volume. This makes it easy to configure the magnetic layer 222a to have a uniform thickness.

磁性体粒子226を構成する磁性体は、軟磁性体であれば任意であり、例えば鉄、軟磁性鉄合金、ニッケル、軟磁性ニッケル合金、コバルト、軟磁性コバルト合金、軟磁性鉄(Fe)−シリコン(Si)系合金、軟磁性鉄(Fe)−窒素(N)系合金、軟磁性鉄(Fe)−炭素(C)系合金、軟磁性鉄(Fe)−ホウ素(B)系合金、軟磁性鉄(Fe)−リン(P)系合金、軟磁性鉄(Fe)−アルミニウム(Al)系合金、軟磁性鉄(Fe)−アルミニウム(Al)−シリコン(Si)系合金等である。   The magnetic substance constituting the magnetic particles 226 is arbitrary as long as it is a soft magnetic substance. For example, iron, soft magnetic iron alloy, nickel, soft magnetic nickel alloy, cobalt, soft magnetic cobalt alloy, soft magnetic iron (Fe)- Silicon (Si) alloy, soft magnetic iron (Fe) -nitrogen (N) alloy, soft magnetic iron (Fe) -carbon (C) alloy, soft magnetic iron (Fe) -boron (B) alloy, soft Examples of the magnetic iron (Fe) -phosphorus (P) alloy, soft magnetic iron (Fe) -aluminum (Al) alloy, and soft magnetic iron (Fe) -aluminum (Al) -silicon (Si) alloy.

磁性体層222aの厚さd2は、樹脂層223aの厚さd3よりも厚いことが好ましい。これにより、磁性体層222a中に十分な量の磁性体粒子226を含有させることができ、磁気特性が向上する。具体的には、磁性体層222aの厚さd2は、例えば20〜100μmの範囲内にあり、樹脂層223aの厚さd3は、例えば10〜60μmの範囲内にある。   The thickness d2 of the magnetic layer 222a is preferably thicker than the thickness d3 of the resin layer 223a. Thereby, a sufficient amount of magnetic particles 226 can be contained in the magnetic layer 222a, and the magnetic characteristics are improved. Specifically, the thickness d2 of the magnetic layer 222a is, for example, in the range of 20 to 100 μm, and the thickness d3 of the resin layer 223a is, for example, in the range of 10 to 60 μm.

樹脂層223aは、第2絶縁材料から構成される。第2絶縁材料は、基本的には、絶縁材料であればよいが、耐熱性の樹脂であることが好ましい。具体的には、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリフェニレン樹脂、ポリベンゾシクロブテン樹脂、ポリアリーレンエーテル樹脂、ポリシロキサン樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、フッ素樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリシクロオレフィン樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂及びポリスチレン樹脂等、又はこれらの混合物等である。   The resin layer 223a is made of a second insulating material. The second insulating material may be basically an insulating material, but is preferably a heat resistant resin. Specifically, for example, epoxy resin, phenol resin, polybenzoxazole resin, polyphenylene resin, polybenzocyclobutene resin, polyarylene ether resin, polysiloxane resin, polyurethane resin, polyester resin, polyester urethane resin, fluorine resin, polyolefin resin , Polycycloolefin resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin and polystyrene resin, or a mixture thereof.

第2絶縁材料と第1絶縁材料とは同じ材料であることが好ましい。これにより、磁性体層222aと樹脂層223aとの密着性が向上する。また、樹脂層223aの線膨張係数は、磁性体層222aの線膨張係数より小さいことが好ましい。これにより、磁性体層222aが熱変形するおそれが小さくなる。さらに、磁性体層222aを構成する磁性材料は、硬化した状態での線膨張係数が40ppm/K以下であることが好ましい。こうした磁性材料は、インダクタ部品200を始めとする、磁気特性が要求される電気部品に汎用しやすい。   The second insulating material and the first insulating material are preferably the same material. Thereby, the adhesion between the magnetic layer 222a and the resin layer 223a is improved. The linear expansion coefficient of the resin layer 223a is preferably smaller than the linear expansion coefficient of the magnetic layer 222a. Thereby, the possibility that the magnetic layer 222a is thermally deformed is reduced. Furthermore, the magnetic material constituting the magnetic layer 222a preferably has a linear expansion coefficient of 40 ppm / K or less in a cured state. Such a magnetic material is easy to be widely used for electrical components that require magnetic characteristics, such as the inductor component 200.

樹脂層223aは、無機フィラーを含有してもよい。これにより、樹脂層223aの線膨張係数を、磁性体層222aの線膨張係数より小さくすることが容易となる。無機フィラーは、例えばガラス繊維、ガラス粒子、炭酸カルシウム、炭酸ナトリウム、硫酸バリウム、水酸化アルミニウム、アルミナ、シリカ、珪藻土、雲母、タルク等である。   The resin layer 223a may contain an inorganic filler. Thereby, it becomes easy to make the linear expansion coefficient of the resin layer 223a smaller than the linear expansion coefficient of the magnetic layer 222a. Examples of the inorganic filler include glass fiber, glass particles, calcium carbonate, sodium carbonate, barium sulfate, aluminum hydroxide, alumina, silica, diatomaceous earth, mica, and talc.

磁性体層222aの表面は、図3に示すように、凹凸226aを有していてもよい。磁性体層222aが磁性体粒子226を含有することにより、磁性体層222aの表面に磁性体粒子226の形状に応じた凹凸226aが生じやすくなる。この凹凸226aを、磁性体層222aの表面に形成される樹脂層223aが埋めることにより、樹脂層223aの平滑な表面上に導体パターンを形成することができる。これにより、導体パターンの密着性及び電気的信頼性が確保されると考えられる。したがって、シート材220aをインダクタ部品200に使用した場合に、配線板10中のインダクタ部品200の性能を確保することができる。   The surface of the magnetic layer 222a may have irregularities 226a as shown in FIG. When the magnetic layer 222 a contains the magnetic particles 226, irregularities 226 a corresponding to the shape of the magnetic particles 226 are easily generated on the surface of the magnetic layer 222 a. By filling the unevenness 226a with the resin layer 223a formed on the surface of the magnetic layer 222a, a conductor pattern can be formed on the smooth surface of the resin layer 223a. Thereby, it is thought that the adhesiveness and electrical reliability of a conductor pattern are ensured. Therefore, when the sheet material 220a is used for the inductor component 200, the performance of the inductor component 200 in the wiring board 10 can be ensured.

図3に示すように、シート材220aは、樹脂層223aの表面に、金属箔224aを有する。これにより、樹脂層223aの表面に導体パターンを形成することが、より容易になると考えられる。金属箔224aは、例えば銅箔である。金属箔224aの第6面F6(樹脂層223aに接する面)は、粗化されていることが好ましい。これにより、インダクタ部品200の製造工程において、金属箔224aが樹脂層223aから剥がれにくくなると考えられる。   As shown in FIG. 3, the sheet material 220a has a metal foil 224a on the surface of the resin layer 223a. Thereby, it is considered that it is easier to form a conductor pattern on the surface of the resin layer 223a. The metal foil 224a is, for example, a copper foil. The sixth surface F6 (surface in contact with the resin layer 223a) of the metal foil 224a is preferably roughened. Thereby, in the manufacturing process of the inductor component 200, it is considered that the metal foil 224a is hardly peeled off from the resin layer 223a.

次に、図4等を参照して、シート材220aの製造方法について説明する。図4は、本実施形態に係るシート材220aの製造方法を示すフローチャートである。   Next, with reference to FIG. 4 etc., the manufacturing method of the sheet | seat material 220a is demonstrated. FIG. 4 is a flowchart showing a method for manufacturing the sheet material 220a according to the present embodiment.

ステップS11では、磁性体粒子226を第1絶縁材料225と混合して、磁性体ペースト221を作製する。混合方法としては、磁性体粒子226を第1絶縁材料225中に略均一に分散できる方法であればよく、例えば遊星型混合機により混合する。   In step S <b> 11, the magnetic particles 226 are mixed with the first insulating material 225 to produce the magnetic paste 221. Any mixing method may be used as long as the magnetic particles 226 can be dispersed substantially uniformly in the first insulating material 225. For example, the particles are mixed by a planetary mixer.

続けて、ステップS12では、図5Aに示すように、作製した磁性体ペースト221を支持基板440の表面に塗布する。   Subsequently, in step S12, the produced magnetic paste 221 is applied to the surface of the support substrate 440 as shown in FIG. 5A.

続けて、ステップS13では、磁性体層222aを形成する。詳しくは、図5Bに示すように、第1絶縁材料225を例えば加熱して半硬化させる。これにより、磁性体層222aが形成される。   Subsequently, in step S13, the magnetic layer 222a is formed. Specifically, as shown in FIG. 5B, the first insulating material 225 is heated and semi-cured, for example. Thereby, the magnetic layer 222a is formed.

続けて、ステップS14では、樹脂層223aを積層する。詳しくは、図5Cに示すように、磁性体層222aの上に、流動状態の第2絶縁材料を塗布して、加熱して第2絶縁材料を半硬化させる。これにより、樹脂層223aが形成される。   Subsequently, in step S14, the resin layer 223a is laminated. Specifically, as shown in FIG. 5C, the second insulating material in a fluidized state is applied on the magnetic layer 222a and heated to semi-cur the second insulating material. Thereby, the resin layer 223a is formed.

続けて、ステップS15では、金属箔224aを積層する。詳しくは、図5Dに示すように、金属箔224aの片面(例えば第6面F6)を粗化させて、その粗化された面が樹脂層223aの表面に接するようにして圧着させる。銅箔等の金属箔224aの表面を粗化させるには、例えば銅表面粗化薬剤(硫酸−過酸化水素系のエッチング剤等)を用いることができるが、他の方法で粗化させてもよい。これにより、金属箔224aが積層される。   Subsequently, in step S15, the metal foil 224a is laminated. Specifically, as shown in FIG. 5D, one surface (for example, the sixth surface F6) of the metal foil 224a is roughened, and is crimped so that the roughened surface is in contact with the surface of the resin layer 223a. In order to roughen the surface of the metal foil 224a such as copper foil, for example, a copper surface roughening agent (sulfuric acid-hydrogen peroxide-based etching agent or the like) can be used. Good. Thereby, the metal foil 224a is laminated.

続けて、ステップS16では、支持基板440を除去する。その結果、図3に示すシート材220aが完成する。   Subsequently, in step S16, the support substrate 440 is removed. As a result, the sheet material 220a shown in FIG. 3 is completed.

こうして製造したシート材220aを使用するインダクタ部品200の製造方法について、図6等を参照して説明する。図6は、本実施形態に係るインダクタ部品200の製造方法の概略的な内容及び手順を示すフローチャートである。   A method for manufacturing the inductor component 200 using the sheet material 220a manufactured in this way will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flowchart showing a schematic content and procedure of a method for manufacturing the inductor component 200 according to the present embodiment.

ステップS21では、支持体の上に、絶縁層(絶縁基板)及び第1の導体パターンを形成する。   In step S21, an insulating layer (insulating substrate) and a first conductor pattern are formed on the support.

まず、図7に示すように、支持体400を準備する。支持体400は、絶縁体からなる。支持体400の片面(例えば面F10)には、銅箔410が形成されている。   First, as shown in FIG. 7, a support 400 is prepared. The support 400 is made of an insulator. A copper foil 410 is formed on one surface (for example, the surface F10) of the support 400.

続けて、図8に示すように、例えば金属箔を有する樹脂層を、片面(例えば面F10)に銅箔410が形成された支持体400の、銅箔410上に積層する。続けてめっき液を用いて、金属箔をシード層として電解めっきを行うことにより、例えば銅めっきを形成する。そして、樹脂層を加熱硬化させる。これにより、硬化した樹脂層からなる絶縁層(絶縁基板)201、及び金属箔と銅めっきからなる導体層202aが形成される。
この絶縁層201には、ガラスクロス等の心材が含まれていてもよい。
Subsequently, as shown in FIG. 8, for example, a resin layer having a metal foil is laminated on the copper foil 410 of the support 400 in which the copper foil 410 is formed on one surface (for example, the surface F <b> 10). Subsequently, for example, copper plating is formed by performing electroplating using a metal foil as a seed layer using a plating solution. Then, the resin layer is cured by heating. Thereby, an insulating layer (insulating substrate) 201 made of a cured resin layer and a conductor layer 202a made of a metal foil and copper plating are formed.
The insulating layer 201 may include a core material such as glass cloth.

続けて、例えばエッチングレジスト及びエッチング液を用いて、導体層202aのパターニングを行う。具体的には、第1の導体パターン202に対応したパターンを有するエッチングレジストで導体層202aを覆い、導体層202aの、エッチングレジストで覆われない部分(エッチングレジストの開口部で露出する部位)を、エッチングで除去する。これにより、図9に示すように、支持層201上に、第1の導体パターン202が形成される。なお、エッチングは、湿式に限られず、乾式であってもよい。   Subsequently, the conductor layer 202a is patterned using, for example, an etching resist and an etching solution. Specifically, the conductor layer 202a is covered with an etching resist having a pattern corresponding to the first conductor pattern 202, and a portion of the conductor layer 202a that is not covered with the etching resist (a portion exposed at the opening of the etching resist) is covered. And removed by etching. As a result, the first conductor pattern 202 is formed on the support layer 201 as shown in FIG. Note that the etching is not limited to wet, and may be dry.

続けて、図6のステップS22で、シート材220aを積層する。詳しくは、図10に示すように、磁性体層222aと樹脂層223aと、金属箔(例えば銅箔)224aとを有するシート材220aが、第1の導体パターン202上に、プレスにより積層される。これにより、磁性体層222aを形成する半硬化の磁性材料が、第1の導体パターン202が形成されていない部分に入り込む。そして、磁性体層222aと樹脂層223aが加熱硬化される。この結果、図11に示すように、支持層201及び第1の導体パターン202上に、磁性体層222a、樹脂層223a及び金属箔224aが、この順で積層される。   Subsequently, the sheet material 220a is laminated in step S22 of FIG. Specifically, as shown in FIG. 10, a sheet material 220a having a magnetic layer 222a, a resin layer 223a, and a metal foil (for example, copper foil) 224a is laminated on the first conductor pattern 202 by pressing. . As a result, the semi-cured magnetic material forming the magnetic layer 222a enters the portion where the first conductor pattern 202 is not formed. Then, the magnetic layer 222a and the resin layer 223a are heat cured. As a result, as shown in FIG. 11, the magnetic layer 222a, the resin layer 223a, and the metal foil 224a are laminated in this order on the support layer 201 and the first conductor pattern 202.

続けて、図6のステップS23で、ビア導体205b及び第2の導体パターン206が形成される。詳しくは、図12に示すように、例えばレーザにより、磁性体層222a、樹脂層223a及び金属箔224aに孔205a(ビアホール)を形成する。孔205aは、磁性体層222a、樹脂層223a及び金属箔224aを貫通する。そして、孔205aは、インダクタ部品200の第1の導体パターン202に至る。その後、必要に応じて、デスミアを行う。   Subsequently, in step S23 of FIG. 6, the via conductor 205b and the second conductor pattern 206 are formed. Specifically, as shown in FIG. 12, holes 205a (via holes) are formed in the magnetic layer 222a, the resin layer 223a, and the metal foil 224a by, for example, a laser. The hole 205a penetrates the magnetic layer 222a, the resin layer 223a, and the metal foil 224a. The hole 205 a reaches the first conductor pattern 202 of the inductor component 200. Then, desmear is performed as needed.

続けて、例えば化学めっき法により、金属箔224a上及び孔205a内に、例えば銅の無電解めっき膜を形成する。なお、無電解めっきに先立って、例えば浸漬により、パラジウム等からなる触媒を、孔205aの表面に吸着させる。   Subsequently, an electroless plating film of, for example, copper is formed on the metal foil 224a and in the hole 205a by, for example, chemical plating. Prior to the electroless plating, a catalyst made of palladium or the like is adsorbed on the surface of the hole 205a by, for example, immersion.

続けて、無電解めっき膜上に、例えば銅の電解めっきを形成する。具体的には、陽極にめっきする材料である銅を接続し、陰極に被めっき材である無電解めっき膜を接続して、めっき液に浸漬する。そして、両極間に直流の電圧を印加して電流を流し、無電解めっき膜の表面に銅を析出させる。これにより、図13に示すように、孔205aに電解めっきが充填され、例えば銅のめっきからなるビア導体205bが形成される。そして、樹脂層223a上に導体層206aが形成される。   Subsequently, for example, copper electroplating is formed on the electroless plating film. Specifically, copper as a material to be plated is connected to the anode, and an electroless plating film as a material to be plated is connected to the cathode, and immersed in a plating solution. And a direct current voltage is applied between both electrodes, and an electric current is sent, and copper is deposited on the surface of an electroless plating film. As a result, as shown in FIG. 13, the hole 205a is filled with electrolytic plating, and a via conductor 205b made of, for example, copper plating is formed. Then, a conductor layer 206a is formed on the resin layer 223a.

続けて、例えばエッチングレジスト及びエッチング液を用いて、導体層206aのパターニングを行う。具体的には、導体パターン206に対応したパターンを有するエッチングレジストで導体層206aを覆い、導体層206aの、エッチングレジストで覆われない部分(エッチングレジストの開口部で露出する部位)を、エッチングで除去する。これにより、図14に示すように、樹脂層223a上に、第2の導体パターン206が形成される。なお、エッチングは、湿式に限られず、乾式であってもよい。   Subsequently, the conductor layer 206a is patterned using, for example, an etching resist and an etching solution. Specifically, the conductor layer 206a is covered with an etching resist having a pattern corresponding to the conductor pattern 206, and a portion of the conductor layer 206a that is not covered with the etching resist (a portion exposed at the opening of the etching resist) is etched. Remove. Thereby, as shown in FIG. 14, the 2nd conductor pattern 206 is formed on the resin layer 223a. Note that the etching is not limited to wet, and may be dry.

続けて、図6のステップS24で、シート材220bが積層される。詳しくは、図15に示すのと同様に、磁性体層222bと樹脂層223bと、金属箔(例えば銅箔)224bとを有するシート材220bが、第2の導体パターン206上に、プレスにより積層される。これにより、磁性体層222bを形成する未硬化の磁性材料が、第2の導体パターン206が形成されていない部分に入り込む。そして、磁性体層222bと樹脂層223bが加熱硬化される。この結果、図15に示すように、樹脂層223a及び第2の導体パターン206上に、磁性体層222b、樹脂層223b及び金属箔224bが積層される。   Subsequently, in step S24 of FIG. 6, the sheet material 220b is laminated. Specifically, as shown in FIG. 15, a sheet material 220b having a magnetic layer 222b, a resin layer 223b, and a metal foil (for example, copper foil) 224b is laminated on the second conductor pattern 206 by pressing. Is done. As a result, the uncured magnetic material forming the magnetic layer 222b enters the portion where the second conductor pattern 206 is not formed. Then, the magnetic layer 222b and the resin layer 223b are heat cured. As a result, as shown in FIG. 15, the magnetic layer 222b, the resin layer 223b, and the metal foil 224b are laminated on the resin layer 223a and the second conductor pattern 206.

本実施形態の磁性材料は、磁性体粒子が樹脂に等方的に入っているため、X方向、Y方向、Z方向で線膨張係数(CTE)の値が大きくは変わらない。好ましくは、磁性体層222a、磁性体層222bのCTEの値が30ppm/K以下である。   In the magnetic material of this embodiment, since the magnetic particles are isotropically contained in the resin, the value of the linear expansion coefficient (CTE) does not change greatly in the X direction, the Y direction, and the Z direction. Preferably, the CTE value of the magnetic layer 222a and the magnetic layer 222b is 30 ppm / K or less.

続けて、図6のステップS25で、第3の導体パターン207が形成される。   Subsequently, in step S25 of FIG. 6, the third conductor pattern 207 is formed.

詳しくは、上述と同様に、金属箔224b上に、例えば銅の無電解めっき及び電解めっきを形成する。これにより、図16に示すように、樹脂層223b上に導体層207aが形成される。   Specifically, for example, copper electroless plating and electrolytic plating are formed on the metal foil 224b in the same manner as described above. Thereby, as shown in FIG. 16, the conductor layer 207a is formed on the resin layer 223b.

続けて、例えばエッチングレジスト及びエッチング液を用いて、導体層207aのパターニングを行う。具体的には、第3の導体パターン207に対応したパターンを有するエッチングレジストで導体層207aを覆い、導体層207aの、エッチングレジストで覆われない部分(エッチングレジストの開口部で露出する部位)を、エッチングで除去する。これにより、図17に示すように、樹脂層223b上に、第3の導体パターン207が形成される。第3の導体パターン207は、図示しないビア導体により、第2の導体パターン206と接続されている。なお、エッチングは、湿式に限られず、乾式であってもよい。   Subsequently, the conductor layer 207a is patterned using, for example, an etching resist and an etching solution. Specifically, the conductor layer 207a is covered with an etching resist having a pattern corresponding to the third conductor pattern 207, and a portion of the conductor layer 207a that is not covered with the etching resist (a portion exposed at the opening of the etching resist) is formed. And removed by etching. Thereby, as shown in FIG. 17, the 3rd conductor pattern 207 is formed on the resin layer 223b. The third conductor pattern 207 is connected to the second conductor pattern 206 by a via conductor (not shown). Note that the etching is not limited to wet, and may be dry.

続けて、図6のステップS26で、支持体400及び銅箔410が除去される。   Subsequently, in step S26 of FIG. 6, the support 400 and the copper foil 410 are removed.

図18に示すように、支持体400を除去する。続けて、例えばエッチングにより、銅箔410を除去する。これにより、図2に示すインダクタ部品200が完成する。   As shown in FIG. 18, the support body 400 is removed. Subsequently, the copper foil 410 is removed by etching, for example. Thereby, the inductor component 200 shown in FIG. 2 is completed.

このように、本実施形態では、金属箔(銅箔)224a,224bを有するシート材220a,220bを使用してインダクタ部品200を製造している。これに限られるものではなく、インダクタ部品を製造するのに、金属箔のないシート材を使用することも可能である。図19Aに、金属箔のないシート材230の断面図を示す。   Thus, in this embodiment, the inductor component 200 is manufactured using the sheet materials 220a and 220b having the metal foils (copper foils) 224a and 224b. However, the present invention is not limited to this, and it is also possible to use a sheet material without metal foil for manufacturing the inductor component. FIG. 19A shows a cross-sectional view of a sheet material 230 without a metal foil.

図19Aに示すように、シート材230は、磁性体層222cの表面に樹脂層227を形成してなる。磁性体層222cは、第1絶縁材料225cと磁性体粒子226cとを有する。樹脂層227は、2種類の樹脂で構成される。   As shown in FIG. 19A, the sheet material 230 is formed by forming a resin layer 227 on the surface of the magnetic layer 222c. The magnetic layer 222c includes a first insulating material 225c and magnetic particles 226c. The resin layer 227 is composed of two types of resins.

図19Aに示すように、樹脂層227は、粗化処理に用いられる溶液に対して、相対的に溶解しやすい樹脂成分228と、相対的に溶解しにくい樹脂成分229の2つの樹脂が混合された樹脂で構成されている。粗化処理に用いられる溶液に対して、相対的に溶解しやすい樹脂は、例えばポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリスチレン樹脂、アクリル樹脂、ポリアミド、ポリエチレンテレフタレート等の熱可塑性樹脂である。粗化処理に用いられる溶液に対して、相対的に溶解しにくい樹脂は、例えばビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂類である。   As shown in FIG. 19A, in the resin layer 227, two resins of a resin component 228 that is relatively easy to dissolve and a resin component 229 that is relatively difficult to dissolve in the solution used for the roughening treatment are mixed. It is made of resin. Resins that are relatively soluble in the solution used for the roughening treatment are thermoplastic resins such as polyethylene resin, polypropylene resin, polyester resin, polystyrene resin, acrylic resin, polyamide, and polyethylene terephthalate. Resins that are relatively difficult to dissolve with respect to the solution used for the roughening treatment are epoxy resins such as bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, and novolac type epoxy resin.

図19Aに示すシート材を用いたインダクタ部品の製造工程においては、過マンガン酸溶液等の溶液を用いて樹脂層227の表面を粗化する。このとき、上述した樹脂成分228が溶解することで、樹脂層227の表面が粗化される。
その後、樹脂層227の表面に、例えばセミアディティブ法を用いて容易に導体パターンを形成することができると考えられる。
In the inductor component manufacturing process using the sheet material shown in FIG. 19A, the surface of the resin layer 227 is roughened using a solution such as a permanganic acid solution. At this time, the surface of the resin layer 227 is roughened by dissolving the resin component 228 described above.
Thereafter, it is considered that a conductor pattern can be easily formed on the surface of the resin layer 227 using, for example, a semi-additive method.

このように、表面に銅箔等の金属箔を有していないシート材230であっても、インダクタ部品の製造に使用することができる。   Thus, even the sheet material 230 that does not have a metal foil such as a copper foil on the surface can be used for manufacturing inductor components.

次に、図19B等を参照して、シート材230の製造方法について説明する。図19Bは、本実施形態の他の例に係るシート材230の製造方法を示すフローチャートである。   Next, a method for manufacturing the sheet material 230 will be described with reference to FIG. 19B and the like. FIG. 19B is a flowchart showing a method for manufacturing the sheet material 230 according to another example of the present embodiment.

ステップS11では、図4の場合と同様に、磁性体粒子226cを第1絶縁材料225cと混合して、磁性体ペースト221cを作製する。混合方法としては、磁性体粒子226cを第1絶縁材料225c中に略均一に分散できる方法であればよく、例えば遊星型混合機により混合する。   In step S11, similarly to the case of FIG. 4, the magnetic particles 226c are mixed with the first insulating material 225c to produce the magnetic paste 221c. Any mixing method may be used as long as the magnetic particles 226c can be dispersed substantially uniformly in the first insulating material 225c. For example, the magnetic particles 226c are mixed by a planetary mixer.

続けて、ステップS12では、図19Cに示すように、作製した磁性体ペースト221cを支持基板440cの表面に塗布する。   Subsequently, in step S12, as shown in FIG. 19C, the produced magnetic paste 221c is applied to the surface of the support substrate 440c.

続けて、ステップS13では、磁性体層222cを形成する。詳しくは、図19Dに示すように、第1絶縁材料225cを半硬化させる。これにより、磁性体層222cが形成される。   Subsequently, in step S13, the magnetic layer 222c is formed. Specifically, as shown in FIG. 19D, the first insulating material 225c is semi-cured. Thereby, the magnetic layer 222c is formed.

続けて、ステップS28では、粗化処理に用いられる溶液に対して相対的に溶解しやすい樹脂成分228と、相対的に溶解しにくい樹脂成分229とを混合する。混合方法としては、樹脂228と樹脂229とを略均一に混合できる方法であればよく、例えば加熱ニーダー(混練機)により混合する。   Subsequently, in step S28, a resin component 228 that is relatively soluble in the solution used for the roughening treatment and a resin component 229 that is relatively difficult to dissolve are mixed. Any mixing method may be used as long as the resin 228 and the resin 229 can be mixed substantially uniformly. For example, the mixing is performed by a heating kneader (kneader).

続けて、ステップS29では、樹脂層227を形成する。詳しくは、図19Eに示すように、磁性体層222cの上に混合した樹脂228,229を塗布して、加熱硬化する。これにより、樹脂層227が形成される。   Subsequently, in step S29, a resin layer 227 is formed. Specifically, as shown in FIG. 19E, the mixed resins 228 and 229 are applied on the magnetic layer 222c and cured by heating. Thereby, the resin layer 227 is formed.

続けて、ステップS16では、図4の場合と同様に支持基板440を除去する。その結果、図19Aに示すシート材230が完成する。   Subsequently, in step S16, the support substrate 440 is removed as in the case of FIG. As a result, the sheet material 230 shown in FIG. 19A is completed.

次に、図20等を参照して、配線板10の製造方法について説明する。図20は、本実施形態に係る配線板10の製造方法の概略的な内容及び手順を示すフローチャートである。   Next, with reference to FIG. 20 etc., the manufacturing method of the wiring board 10 is demonstrated. FIG. 20 is a flowchart showing a schematic content and procedure of the method for manufacturing the wiring board 10 according to the present embodiment.

ステップS31では、図21に示すように、出発材料として両面銅張積層板1000を準備する。両面銅張積層板1000は、基板100(コア基板)と、基板100の第1面F1上に形成された銅箔1001と、基板100の第2面F2上に形成された銅箔1002と、から構成される。本実施形態では、この段階において、基板100が、完全に硬化した状態のガラエポからなる。   In step S31, as shown in FIG. 21, a double-sided copper-clad laminate 1000 is prepared as a starting material. The double-sided copper clad laminate 1000 includes a substrate 100 (core substrate), a copper foil 1001 formed on the first surface F1 of the substrate 100, a copper foil 1002 formed on the second surface F2 of the substrate 100, Consists of In the present embodiment, at this stage, the substrate 100 is made of a glass epoxy that is completely cured.

続けて、図20のステップS32で、スルーホール導体300b及び導体層301、302を形成する。   Subsequently, in step S32 of FIG. 20, the through-hole conductor 300b and the conductor layers 301 and 302 are formed.

詳しくは、図22に示すように、例えばCOレーザを用いて、第1面F1側からレーザを両面銅張積層板1000に照射することにより孔1003を形成し、第2面F2側からレーザを両面銅張積層板1000に照射することにより孔1004を形成する。孔1003と孔1004とは、X−Y平面において略同じ位置に形成され、最終的にはつながって、両面銅張積層板1000を貫通するスルーホール300aとなる。第1面F1に対するレーザ照射と第2面F2に対するレーザ照射とは、同時に行っても、片面ずつ行ってもよい。スルーホール300aを形成した後には、スルーホール300aについてデスミアを行うことが好ましい。また、レーザ光の吸収効率を高めるため、レーザ照射に先立って銅箔1001、1002の表面を黒化処理してもよい。なお、スルーホール300aの形成は、ドリル又はエッチングなど、レーザ以外の方法で行ってもよい。ただし、レーザ加工であれば、微細な加工をしやすい。特に、スルーホール300aの径(最大直径)が100μm以下の場合には、ドリル加工が困難になるため、レーザ加工が有効である。 Specifically, as shown in FIG. 22, a hole 1003 is formed by irradiating the double-sided copper-clad laminate 1000 with a laser from the first surface F1 side using, for example, a CO 2 laser, and a laser is emitted from the second surface F2 side. Is formed on the double-sided copper-clad laminate 1000 to form a hole 1004. The hole 1003 and the hole 1004 are formed at substantially the same position in the XY plane and are finally connected to form a through hole 300a penetrating the double-sided copper-clad laminate 1000. The laser irradiation on the first surface F1 and the laser irradiation on the second surface F2 may be performed simultaneously or one surface at a time. After the through hole 300a is formed, it is preferable to perform desmearing on the through hole 300a. Further, the surface of the copper foils 1001 and 1002 may be blackened prior to laser irradiation in order to increase the absorption efficiency of laser light. The through hole 300a may be formed by a method other than laser, such as drilling or etching. However, fine processing is easy with laser processing. In particular, when the through hole 300a has a diameter (maximum diameter) of 100 μm or less, drilling becomes difficult, and laser processing is effective.

続けて、例えばパネルめっき法により、図23に示すように、銅箔1001、1002上及びスルーホール300a内に、例えば銅のめっき1005を形成する。具体的には、まず無電解めっきを行い、続けてめっき液を用いて、その無電解めっき膜をシード層として電解めっきを行うことにより、めっき1005を形成する。これにより、スルーホール300aにめっき1005が充填され、スルーホール導体300bが形成される。   Subsequently, as shown in FIG. 23, for example, a copper plating 1005 is formed on the copper foils 1001 and 1002 and in the through holes 300a by, for example, a panel plating method. Specifically, first, electroless plating is performed, and then plating 1005 is formed by performing electrolytic plating using the electroless plating film as a seed layer using a plating solution. Thereby, the through hole 300a is filled with the plating 1005, and the through hole conductor 300b is formed.

続けて、例えばエッチングレジスト及びエッチング液を用いて、基板100の第1面F1及び第2面F2に形成された各導体層のパターニングを行う。具体的には、導体層301、302に対応したパターンを有するエッチングレジストで各導体層を覆い、各導体層の、エッチングレジストで覆われない部分(エッチングレジストの開口部で露出する部位)を、エッチングで除去する。これにより、図24に示すように、基板100の第1面F1、第2面F2上にそれぞれ、導体層301、302が形成される。なお、エッチングは、湿式に限られず、乾式であってもよい。   Subsequently, the conductive layers formed on the first surface F1 and the second surface F2 of the substrate 100 are patterned using, for example, an etching resist and an etching solution. Specifically, each conductor layer is covered with an etching resist having a pattern corresponding to the conductor layers 301 and 302, and a portion of each conductor layer that is not covered with the etching resist (part exposed at the opening of the etching resist) Remove by etching. Thereby, as shown in FIG. 24, conductor layers 301 and 302 are formed on the first surface F1 and the second surface F2 of the substrate 100, respectively. Note that the etching is not limited to wet, and may be dry.

続けて、図20のステップS33で、基板100(コア基板)にキャビティR10を形成する。本実施形態では、基板100にレーザを照射することにより、キャビティR10を形成する。具体的には、例えば四角形を描くようにレーザを照射することにより、基板100における、キャビティR10に対応した領域を、その周りの部分から切り取る。レーザの照射角度は、例えば基板100の第1面F1に対して略垂直の角度とする。これにより、図25に示すように、キャビティR10が形成される。本実施形態では、キャビティR10をレーザにより形成するため、キャビティR10が容易に得られる。キャビティR10は、インダクタ部品200の収容スペースとなる。   Subsequently, in step S33 of FIG. 20, the cavity R10 is formed in the substrate 100 (core substrate). In the present embodiment, the cavity R10 is formed by irradiating the substrate 100 with a laser. Specifically, for example, by irradiating a laser so as to draw a quadrangle, a region corresponding to the cavity R10 in the substrate 100 is cut out from the surrounding portion. The laser irradiation angle is set to be substantially perpendicular to the first surface F1 of the substrate 100, for example. Thereby, as shown in FIG. 25, cavity R10 is formed. In this embodiment, since the cavity R10 is formed by a laser, the cavity R10 can be easily obtained. The cavity R10 is a space for accommodating the inductor component 200.

続けて、図20のステップS34で、インダクタ部品200を、基板100のキャビティR10に配置する。   Subsequently, the inductor component 200 is disposed in the cavity R10 of the substrate 100 in step S34 of FIG.

具体的には、図26に示すように、例えばPET(ポリエチレンテレフタレート)からなるキャリア1006を、基板100の片側(例えば第2面F2)に設ける。これにより、キャビティR10(貫通孔)の一方の開口がキャリア1006で塞がれる。本実施形態では、キャリア1006が、粘着シート(例えばテープ)からなり、基板100側に粘着性を有する。キャリア1006は、例えばラミネートにより、基板100と接着される。   Specifically, as shown in FIG. 26, a carrier 1006 made of, for example, PET (polyethylene terephthalate) is provided on one side of the substrate 100 (for example, the second surface F2). Thereby, one opening of the cavity R10 (through hole) is closed by the carrier 1006. In this embodiment, the carrier 1006 is made of an adhesive sheet (for example, a tape) and has adhesiveness on the substrate 100 side. The carrier 1006 is bonded to the substrate 100 by lamination, for example.

続けて、図27に示すように、キャビティR10(貫通孔)の塞がれた開口とは反対側(Z1側)から、キャビティR10にインダクタ部品200を入れる。インダクタ部品200は、例えば部品実装機によりキャビティR10に入れ込まれる。例えばインダクタ部品200は、真空チャック等により保持され、キャビティR10の上方(Z1側)に運ばれた後、そこから鉛直方向に沿って下降し、キャビティR10に入れられる。これにより、図28に示すように、キャリア1006(粘着シート)上に、インダクタ部品200が配置される。なお、インダクタ部品200の位置決めをする際には、アライメントマークを用いることが好ましい。そうすることで、インダクタ部品200とキャビティR10との位置合わせの精度を高めることが可能になると考えられる。   Subsequently, as shown in FIG. 27, the inductor component 200 is inserted into the cavity R10 from the opposite side (Z1 side) to the opening where the cavity R10 (through hole) is blocked. The inductor component 200 is inserted into the cavity R10 by a component mounting machine, for example. For example, the inductor component 200 is held by a vacuum chuck or the like, conveyed to the upper side (Z1 side) of the cavity R10, and then descends along the vertical direction, and is inserted into the cavity R10. Thereby, as shown in FIG. 28, the inductor component 200 is arrange | positioned on the carrier 1006 (adhesive sheet). Note that it is preferable to use an alignment mark when positioning the inductor component 200. By doing so, it is considered that the alignment accuracy between the inductor component 200 and the cavity R10 can be improved.

続けて、図20のステップS35で、図29Aに示すように、半硬化の状態で、キャビティR10(貫通孔)の塞がれた開口とは反対側(Z1側)の、基板100の第1面F1上及びインダクタ部品200の第3面F3上に、絶縁層101(第1の層間絶縁層)を配置する。絶縁層101は、例えばエポキシ樹脂からなる。なお、絶縁層101は、ガラスクロス等の心材を含んでいてもよい。
続けて、図29Bに示すように、絶縁層101を半硬化の状態でプレスすることにより、絶縁層101から樹脂を流出させてキャビティR10へ流し込む。これにより、図30に示すように、キャビティR10における基板100とインダクタ部品200との隙間R1に絶縁体101a(絶縁層101を構成する樹脂)が充填される。この際、基板100とインダクタ部品200との隙間が狭ければ、インダクタ部品200の固定が弱くても、樹脂がキャビティR10へ流れ込む勢いで、インダクタ部品200の位置ずれや、好ましくない傾きは生じにくい。なお、絶縁体101aは、基板100及びインダクタ部品200のいずれよりも大きな熱膨張係数を有する。
Subsequently, in step S35 of FIG. 20, as shown in FIG. 29A, in the semi-cured state, the first side of the substrate 100 on the opposite side (Z1 side) to the opening where the cavity R10 (through hole) is blocked is formed. An insulating layer 101 (first interlayer insulating layer) is disposed on the surface F1 and the third surface F3 of the inductor component 200. The insulating layer 101 is made of, for example, an epoxy resin. Note that the insulating layer 101 may include a core material such as glass cloth.
Subsequently, as shown in FIG. 29B, by pressing the insulating layer 101 in a semi-cured state, the resin flows out from the insulating layer 101 and flows into the cavity R10. As a result, as shown in FIG. 30, the insulator 101a (resin constituting the insulating layer 101) is filled in the gap R1 between the substrate 100 and the inductor component 200 in the cavity R10. At this time, if the gap between the substrate 100 and the inductor component 200 is narrow, even if the fixing of the inductor component 200 is weak, the resin flows into the cavity R10, so that the displacement of the inductor component 200 and an undesirable inclination are unlikely to occur. . The insulator 101a has a larger thermal expansion coefficient than both the substrate 100 and the inductor component 200.

キャビティR10に絶縁体101aが充填されたら、その充填樹脂(絶縁体101a)とインダクタ部品200との仮溶着を行う。具体的には、加熱により充填樹脂にインダクタ部品200を支持できる程度の保持力を発現させる。これにより、キャリア1006に支持されていたインダクタ部品200が、充填樹脂によって支持されるようになる。その後、キャリア1006を除去する。   When the insulator 101a is filled in the cavity R10, the filling resin (insulator 101a) and the inductor component 200 are temporarily welded. Specifically, the holding resin has a degree of holding power that can support the inductor component 200 on the filled resin by heating. As a result, the inductor component 200 supported by the carrier 1006 is supported by the filling resin. Thereafter, the carrier 1006 is removed.

なお、この段階では、絶縁体101a(充填樹脂)及び絶縁層101は半硬化しているにすぎず、完全には硬化していない。ただしこれに限られず、例えば、この段階で絶縁体101a及び絶縁層101を完全に硬化させてもよい。   At this stage, the insulator 101a (filling resin) and the insulating layer 101 are only semi-cured and are not completely cured. However, the invention is not limited to this. For example, the insulator 101a and the insulating layer 101 may be completely cured at this stage.

続けて、図20のステップS36で、基板100の第2面F2側にビルドアップを行う。   Subsequently, build-up is performed on the second surface F2 side of the substrate 100 in step S36 of FIG.

具体的には、図31に示すように、基板100の第2面F2上に、絶縁層102(第2の層間絶縁層)を配置する。絶縁層102は、例えばエポキシ樹脂からなる。続けて、例えばプレスにより、絶縁層102を半硬化の状態で基板100及びインダクタ部品200に接着させた後、加熱して絶縁層101、102の各々を硬化させる。本実施形態では、粘着シート(キャリア1006)を除去した後に、キャビティR10に充填した樹脂を硬化させるため、絶縁層101、102の硬化を同時に行うことが可能になる。そして、両面の絶縁層101、102の硬化を同時に行うことにより、基板100の反りが抑制されるため、基板100を薄くし易くなる。   Specifically, as illustrated in FIG. 31, the insulating layer 102 (second interlayer insulating layer) is disposed on the second surface F <b> 2 of the substrate 100. The insulating layer 102 is made of, for example, an epoxy resin. Subsequently, the insulating layer 102 is bonded to the substrate 100 and the inductor component 200 in a semi-cured state by, for example, pressing, and then heated to cure each of the insulating layers 101 and 102. In this embodiment, since the resin filled in the cavity R10 is cured after removing the adhesive sheet (carrier 1006), the insulating layers 101 and 102 can be cured simultaneously. Then, by simultaneously curing the insulating layers 101 and 102 on both sides, warpage of the substrate 100 is suppressed, so that the substrate 100 can be easily thinned.

続く図20のステップS37では、ビア導体及び導体層を形成する。   In step S37 of FIG. 20, a via conductor and a conductor layer are formed.

詳しくは、図32に示すように、例えばレーザにより、絶縁層101に孔311a及び312a(それぞれビアホール)を形成し、絶縁層102に孔322a(ビアホール)を形成する。孔311a及び312aの各々は絶縁層101を貫通し、孔322aは絶縁層102を貫通する。そして、孔311aは、インダクタ部品200の第3の導体パターン207に至り、孔312a及び322aの各々は、スルーホール導体300bに至る。その後、必要に応じて、デスミアを行う。   Specifically, as shown in FIG. 32, holes 311a and 312a (via holes) are formed in the insulating layer 101, for example, by laser, and holes 322a (via holes) are formed in the insulating layer 102. Each of the holes 311 a and 312 a penetrates the insulating layer 101, and the hole 322 a penetrates the insulating layer 102. The hole 311a reaches the third conductor pattern 207 of the inductor component 200, and each of the holes 312a and 322a reaches the through-hole conductor 300b. Then, desmear is performed as needed.

続けて、図33に示すように、例えば化学めっき法により、孔311a、312a、322aの側壁を含む絶縁層101,102の表面に、例えば銅の無電解めっき膜1007、1008を形成する。なお、無電解めっきに先立って、例えば浸漬により、パラジウム等からなる触媒を、絶縁層101、102の表面に吸着させる。   Subsequently, as shown in FIG. 33, for example, copper electroless plating films 1007 and 1008 are formed on the surfaces of the insulating layers 101 and 102 including the sidewalls of the holes 311a, 312a and 322a by, for example, chemical plating. Prior to electroless plating, a catalyst made of palladium or the like is adsorbed on the surfaces of the insulating layers 101 and 102, for example, by dipping.

続けて、図34に示すように、リソグラフィ技術又は印刷等により、第1面F1側の主面(無電解めっき膜1007上)に、開口部1009aを有するめっきレジスト1009を、また、第2面F2側の主面(無電解めっき膜1008上)に、開口部1010aを有するめっきレジスト1010を、それぞれ形成する。開口部1009a、1010aはそれぞれ、導体層110,120(図1)に対応したパターンを有する。   Subsequently, as shown in FIG. 34, a plating resist 1009 having an opening 1009a is formed on the main surface (on the electroless plating film 1007) on the first surface F1 side by the lithography technique or printing, and the second surface. A plating resist 1010 having an opening 1010a is formed on the main surface on the F2 side (on the electroless plating film 1008). The openings 1009a and 1010a have patterns corresponding to the conductor layers 110 and 120 (FIG. 1), respectively.

続けて、図35に示すように、例えばパターンめっき法により、めっきレジスト1009、1010の開口部1009a、1010aに、それぞれ例えば銅の電解めっき1011、1012を形成する。具体的には、陽極にめっきする材料である銅を接続し、陰極に被めっき材である無電解めっき膜1007、1008を接続して、めっき液に浸漬する。そして、両極間に直流の電圧を印加して電流を流し、無電解めっき膜1007、1008の表面に銅を析出させる。これにより、孔311a及び312a、孔322aに、それぞれ電解めっき1011、1012が充填され、例えば銅のめっきからなるビア導体311b、312b、322bが形成される。   Subsequently, as shown in FIG. 35, for example, copper electrolytic plating 1011 and 1012 are formed in the openings 1009a and 1010a of the plating resists 1009 and 1010, for example, by pattern plating. Specifically, copper that is a material to be plated is connected to the anode, and electroless plating films 1007 and 1008 that are materials to be plated are connected to the cathode and immersed in a plating solution. Then, a direct current voltage is applied between the two electrodes to pass a current, and copper is deposited on the surfaces of the electroless plating films 1007 and 1008. As a result, the holes 311a and 312a and the hole 322a are filled with the electrolytic plating 1011 and 1012, respectively, and via conductors 311b, 312b and 322b made of, for example, copper plating are formed.

その後、例えば所定の剥離液により、めっきレジスト1009及び1010を除去し、続けて不要な無電解めっき膜1007、1008を除去することにより、図36に示すように、導体層110及び120が形成される。   Thereafter, the plating resists 1009 and 1010 are removed by, for example, a predetermined stripping solution, and then unnecessary electroless plating films 1007 and 1008 are removed, thereby forming the conductor layers 110 and 120 as shown in FIG. The

なお、電解めっきのためのシード層は無電解めっき膜に限られず、無電解めっき膜1007、1008に代えて、スパッタ膜等をシード層として用いてもよい。   The seed layer for electrolytic plating is not limited to the electroless plating film, and a sputtered film or the like may be used as the seed layer instead of the electroless plating films 1007 and 1008.

続けて、図20のステップS38で、絶縁層101、102上にそれぞれ、開口部11aを有するソルダーレジスト11、開口部12aを有するソルダーレジスト12を形成する(図1参照)。導体層110,120はそれぞれ、開口部11a、12aに位置する所定の部位(パッドP1、P2及びランド等)を除いて、ソルダーレジスト11、12で覆われる。ソルダーレジスト11及び12は、例えばスクリーン印刷、スプレーコーティング、ロールコーティング、又はラミネート等により、形成することができる。   Subsequently, in step S38 of FIG. 20, a solder resist 11 having an opening 11a and a solder resist 12 having an opening 12a are formed on the insulating layers 101 and 102, respectively (see FIG. 1). The conductor layers 110 and 120 are covered with solder resists 11 and 12 except for predetermined portions (pads P1 and P2 and lands, etc.) located in the openings 11a and 12a, respectively. The solder resists 11 and 12 can be formed by, for example, screen printing, spray coating, roll coating, or lamination.

続けて、電解めっき又はスパッタリング等により、導体層110,120上、詳しくはソルダーレジスト11、12に覆われないパッドP1、P2(図1参照)の表面にそれぞれ、例えばNi/Au膜からなる耐食層を形成する。また、OSP処理を行うことにより、有機保護膜からなる耐食層を形成してもよい。   Subsequently, by electroplating or sputtering, the corrosion resistance made of, for example, a Ni / Au film on the conductor layers 110 and 120, specifically on the surfaces of the pads P1 and P2 (see FIG. 1) not covered with the solder resists 11 and 12, respectively. Form a layer. Moreover, you may form the corrosion-resistant layer which consists of an organic protective film by performing OSP process.

こうして、基板100の第1面F1上に、絶縁層101及び導体層110から構成される第1ビルドアップ部B1が形成され、基板100の第2面F2上に、絶縁層102及び導体層120から構成される第2ビルドアップ部B2が形成される。その結果、本実施形態の配線板10(図1)が完成する。その後、必要があれば、インダクタ部品200の電気テスト(インダクタンス、Q値及び絶縁性などのチェック)を行う。   Thus, the first buildup part B1 composed of the insulating layer 101 and the conductor layer 110 is formed on the first surface F1 of the substrate 100, and the insulating layer 102 and the conductor layer 120 are formed on the second surface F2 of the substrate 100. A second buildup part B2 composed of As a result, the wiring board 10 (FIG. 1) of this embodiment is completed. Thereafter, if necessary, an electrical test (inductance, Q value, insulation, etc.) of the inductor component 200 is performed.

本実施形態の製造方法は、配線板10の製造に適している。こうした製造方法であれば、低コストで、良好な配線板10が得られると考えられる。   The manufacturing method of this embodiment is suitable for manufacturing the wiring board 10. With such a manufacturing method, it is considered that a good wiring board 10 can be obtained at low cost.

本実施形態の配線板10は、例えば電子部品又は他の配線板と電気的に接続することができる。例えば、半田等により、配線板10のパッドP2に電子部品(例えばICチップ)を実装することができる。また、パッドP1により、配線板10を他の配線板(例えばマザーボード)に実装することができる。本実施形態の配線板10は、例えば携帯電話の回路基板として用いることができる。   The wiring board 10 of this embodiment can be electrically connected to, for example, an electronic component or another wiring board. For example, an electronic component (for example, an IC chip) can be mounted on the pad P2 of the wiring board 10 by solder or the like. Further, the wiring board 10 can be mounted on another wiring board (for example, a mother board) by the pad P1. The wiring board 10 of this embodiment can be used as a circuit board of a mobile phone, for example.

次に、本発明に係る実施形態の第2の例のインダクタ部品210について、図37Aを参照して説明する。図37Aは、本実施形態に係る第2の例のインダクタ部品210を示す断面図である。   Next, the inductor component 210 of the 2nd example of embodiment which concerns on this invention is demonstrated with reference to FIG. 37A. FIG. 37A is a cross-sectional view showing the inductor component 210 of the second example according to the present embodiment.

インダクタ部品210の構成は、上述したインダクタ部品200に類似している。すなわち、絶縁基板211の上に、第1の導体パターン212が形成される。第1の導体パターン212の上には、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む第1の磁性体層222dが形成される。第1の磁性体層222dの上には、第2絶縁材料からなる第1の絶縁層213が形成される。第1の絶縁層213の上には、第2の導体パターン216が形成される。第1の導体パターン212と、第2の導体パターン216とは、磁性体層222d及び樹脂層213を貫通するビア導体215bによって、電気的に接続されている。   The configuration of the inductor component 210 is similar to the inductor component 200 described above. That is, the first conductor pattern 212 is formed on the insulating substrate 211. On the first conductor pattern 212, a first magnetic layer 222d containing magnetic particles and a first insulating material is formed. A first insulating layer 213 made of a second insulating material is formed on the first magnetic layer 222d. A second conductor pattern 216 is formed on the first insulating layer 213. The first conductor pattern 212 and the second conductor pattern 216 are electrically connected by a via conductor 215b that penetrates the magnetic layer 222d and the resin layer 213.

第2の導体パターン216の上には、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む第2の磁性体層222eが形成される。第2の磁性体層222eの上には、第2絶縁材料からなる第2の絶縁層217が形成される。第2の絶縁層217の上には、第3の導体パターン219が形成される。   On the second conductor pattern 216, a second magnetic layer 222e containing magnetic particles and a first insulating material is formed. A second insulating layer 217 made of a second insulating material is formed on the second magnetic layer 222e. A third conductor pattern 219 is formed on the second insulating layer 217.

このように、インダクタ部品210の構成はインダクタ部品200に類似しているが、製造方法が異なる。インダクタ部品210の製造方法について、図37B等を参照して説明する。図37Bは、本実施形態に係る第2の例のインダクタ部品210の製造方法の概略的な内容及び手順を示すフローチャートである。   Thus, the configuration of the inductor component 210 is similar to the inductor component 200, but the manufacturing method is different. A method for manufacturing the inductor component 210 will be described with reference to FIG. 37B and the like. FIG. 37B is a flowchart showing a schematic content and procedure of a manufacturing method of the inductor component 210 of the second example according to the present embodiment.

ステップS41では、支持体420の上に、絶縁層(絶縁基板)211及び導体層212aを形成する。詳しくは、図38に示すように、インダクタ部品210の製造の土台として、支持体420を準備する。支持体420は、片面F11に銅箔430が形成された絶縁体である。   In step S41, an insulating layer (insulating substrate) 211 and a conductor layer 212a are formed on the support 420. Specifically, as shown in FIG. 38, a support body 420 is prepared as a base for manufacturing the inductor component 210. The support body 420 is an insulator in which a copper foil 430 is formed on one surface F11.

続けて、図39に示すように、例えば金属箔を有するプリプレグを、片面F11に銅箔430が形成された支持体420の、銅箔430上に積層する。続けてめっき液を用いて、金属箔をシード層として電解めっきを行うことにより、例えば銅めっきを形成する。そして、プリプレグを加熱硬化させる。これにより、硬化したプリプレグからなる絶縁層(絶縁基板)211、及びプリプレグの金属箔と銅めっきからなる導体層212aが形成される。   Subsequently, as shown in FIG. 39, for example, a prepreg having a metal foil is laminated on the copper foil 430 of the support 420 having the copper foil 430 formed on one surface F11. Subsequently, for example, copper plating is formed by performing electroplating using a metal foil as a seed layer using a plating solution. Then, the prepreg is cured by heating. Thereby, an insulating layer (insulating substrate) 211 made of a cured prepreg, and a conductor layer 212a made of a prepreg metal foil and copper plating are formed.

続けて、図37BのステップS42で、例えばエッチングレジスト及びエッチング液を用いて、導体層212aのパターニングを行う。具体的には、第1の導体パターン212に対応したパターンを有するエッチングレジストで導体層212aを覆い、導体層212aの、エッチングレジストで覆われない部分(エッチングレジストの開口部で露出する部位)を、エッチングで除去する。これにより、図40に示すように、絶縁基板211上に、第1の導体パターン212が形成される。なお、エッチングは、湿式に限られず、乾式であってもよい。   Subsequently, in step S42 in FIG. 37B, the conductor layer 212a is patterned using, for example, an etching resist and an etching solution. Specifically, the conductor layer 212a is covered with an etching resist having a pattern corresponding to the first conductor pattern 212, and a portion of the conductor layer 212a that is not covered with the etching resist (a portion exposed at the opening of the etching resist) is formed. And removed by etching. Thereby, as shown in FIG. 40, the first conductor pattern 212 is formed on the insulating substrate 211. Note that the etching is not limited to wet, and may be dry.

続けて、図37BのステップS43で、磁性体ペースト221dが塗布される。詳しくは、図41に示すように、磁性体ペースト221dが、第1の導体パターン212上に塗布される。これにより、未硬化の磁性体ペースト221dが、第1の導体パターン212が形成されていない部分に入り込む。磁性体ペースト221dは、例えばスクリーン印刷、スプレーコーティング、ロールコーティング、又はラミネート等により、塗布することができる。その後、磁性体ペースト221dは加熱硬化され、第1の磁性体層222dが形成される。   Subsequently, in step S43 of FIG. 37B, the magnetic paste 221d is applied. Specifically, as shown in FIG. 41, a magnetic paste 221d is applied onto the first conductor pattern 212. Thereby, the uncured magnetic paste 221d enters a portion where the first conductor pattern 212 is not formed. The magnetic paste 221d can be applied by, for example, screen printing, spray coating, roll coating, or lamination. Thereafter, the magnetic paste 221d is heat-cured to form the first magnetic layer 222d.

続けて、図37BのステップS44で、絶縁層213が積層・プレスされる。詳しくは、図42に示すように、例えば金属箔214を有する絶縁層213が、第1の磁性体層222dの上に積層される。絶縁層213は、例えばエポキシ樹脂からなる。そして、金属箔214を有する絶縁層213がプレスされ、第1の磁性体層222dに圧着される。その後、絶縁層213が加熱硬化される。
このとき、金属箔214を省略してもよい。その場合、絶縁層213上に例えばセミアディティブ法により導体パターンを形成する。
Subsequently, in step S44 of FIG. 37B, the insulating layer 213 is stacked and pressed. Specifically, as shown in FIG. 42, for example, an insulating layer 213 having a metal foil 214 is laminated on the first magnetic layer 222d. The insulating layer 213 is made of, for example, an epoxy resin. Then, the insulating layer 213 having the metal foil 214 is pressed and pressed against the first magnetic layer 222d. Thereafter, the insulating layer 213 is cured by heating.
At this time, the metal foil 214 may be omitted. In that case, a conductor pattern is formed on the insulating layer 213 by, for example, a semi-additive method.

続けて、図37BのステップS45で、ビア導体215b及び導体層216aが形成される。詳しくは、図43に示すように、例えばレーザにより、第1の磁性体層222d、絶縁層213及び金属箔214に孔215a(ビアホール)を形成する。孔215aは、第1の磁性体層222d、絶縁層213及び金属箔214を貫通する。そして、孔215aは、インダクタ部品210の第1の導体パターン212に至る。その後、必要に応じて、デスミアを行う。   Subsequently, in step S45 of FIG. 37B, the via conductor 215b and the conductor layer 216a are formed. Specifically, as shown in FIG. 43, holes 215a (via holes) are formed in the first magnetic layer 222d, the insulating layer 213, and the metal foil 214 by, for example, a laser. The hole 215a passes through the first magnetic layer 222d, the insulating layer 213, and the metal foil 214. The hole 215a reaches the first conductor pattern 212 of the inductor component 210. Then, desmear is performed as needed.

続けて、例えば化学めっき法により、金属箔214上及び孔215a内に、例えば銅の無電解めっき膜を形成する。無電解めっきに先立って、例えば浸漬により、パラジウム等からなる触媒を、孔215aの表面に吸着させる。   Subsequently, an electroless plating film of, for example, copper is formed on the metal foil 214 and in the hole 215a by, for example, a chemical plating method. Prior to electroless plating, a catalyst made of palladium or the like is adsorbed on the surface of the hole 215a, for example, by dipping.

続けて、無電解めっき膜上に、例えば銅の電解めっきを形成する。具体的には、陽極にめっきする材料である銅を接続し、陰極に被めっき材である無電解めっき膜を接続して、めっき液に浸漬する。そして、両極間に直流の電圧を印加して電流を流し、無電解めっき膜の表面に銅を析出させる。これにより、図44に示すように、孔215aに電解めっきが充填され、例えば銅のめっきからなるビア導体215bが形成される。そして、絶縁層213上に導体層216aが形成される。   Subsequently, for example, copper electroplating is formed on the electroless plating film. Specifically, copper as a material to be plated is connected to the anode, and an electroless plating film as a material to be plated is connected to the cathode, and immersed in a plating solution. And a direct current voltage is applied between both electrodes, and an electric current is sent, and copper is deposited on the surface of an electroless plating film. As a result, as shown in FIG. 44, the hole 215a is filled with electrolytic plating, and a via conductor 215b made of, for example, copper plating is formed. Then, a conductor layer 216a is formed on the insulating layer 213.

続けて、図37BのステップS46で、例えばエッチングレジスト及びエッチング液を用いて、導体層216aのパターニングを行う。具体的には、第2の導体パターン216に対応したパターンを有するエッチングレジストで導体層216aを覆い、導体層216aの、エッチングレジストで覆われない部分(エッチングレジストの開口部で露出する部位)を、エッチングで除去する。これにより、図45に示すように、絶縁層213上に、第2の導体パターン216が形成される。なお、エッチングは、湿式に限られず、乾式であってもよい。   Subsequently, in step S46 of FIG. 37B, the conductor layer 216a is patterned using, for example, an etching resist and an etching solution. Specifically, the conductor layer 216a is covered with an etching resist having a pattern corresponding to the second conductor pattern 216, and a portion of the conductor layer 216a that is not covered with the etching resist (a portion exposed at the opening of the etching resist) is covered. And removed by etching. Thereby, as shown in FIG. 45, the second conductor pattern 216 is formed on the insulating layer 213. Note that the etching is not limited to wet, and may be dry.

続けて、図37BのステップS47で、再び、磁性体ペースト221eが塗布される。詳しくは、図46に示すように、磁性体ペースト221eが、第2の導体パターン216上に塗布される。これにより、未硬化の磁性体ペースト221eが、第2の導体パターン216が形成されていない部分に入り込む。磁性体ペースト221eは、例えばスクリーン印刷、スプレーコーティング、ロールコーティング、又はラミネート等により、塗布することができる。その後、磁性体ペースト221eは加熱硬化され、第2の磁性体層222eが形成される。   Subsequently, in step S47 in FIG. 37B, the magnetic paste 221e is applied again. Specifically, as shown in FIG. 46, the magnetic paste 221e is applied on the second conductor pattern 216. Thereby, the uncured magnetic paste 221e enters a portion where the second conductor pattern 216 is not formed. The magnetic paste 221e can be applied by, for example, screen printing, spray coating, roll coating, or lamination. Thereafter, the magnetic paste 221e is heat-cured to form the second magnetic layer 222e.

続けて、図37BのステップS48で、再び、絶縁層217が積層・プレスされる。詳しくは、図47に示すように、例えば金属箔218を有する絶縁層217が、第2の磁性体層222eの上に積層される。そして、金属箔218を有する絶縁層217がプレスされ、第2の磁性体層222eに圧着される。その後、絶縁層217が加熱硬化される。   Subsequently, in step S48 of FIG. 37B, the insulating layer 217 is again laminated and pressed. Specifically, as shown in FIG. 47, for example, an insulating layer 217 having a metal foil 218 is stacked on the second magnetic layer 222e. Then, the insulating layer 217 having the metal foil 218 is pressed and pressed against the second magnetic layer 222e. Thereafter, the insulating layer 217 is cured by heating.

続けて、図37BのステップS49で、導体層219aが形成される。詳しくは、例えば化学めっき法により、金属箔218上に、例えば銅の無電解めっき膜を形成する。続けて、例えばパターンめっき法により、無電解めっき膜上に、例えば銅の電解めっきを形成する。具体的には、陽極にめっきする材料である銅を接続し、陰極に被めっき材である無電解めっき膜を接続して、めっき液に浸漬する。そして、両極間に直流の電圧を印加して電流を流し、無電解めっき膜の表面に銅を析出させる。これにより、図48に示すように、絶縁層217上に導体層219aが形成される。   Subsequently, the conductor layer 219a is formed in step S49 of FIG. 37B. Specifically, for example, an electroless plating film of copper is formed on the metal foil 218 by, for example, chemical plating. Subsequently, for example, copper electroplating is formed on the electroless plating film by pattern plating, for example. Specifically, copper as a material to be plated is connected to the anode, and an electroless plating film as a material to be plated is connected to the cathode, and immersed in a plating solution. And a direct current voltage is applied between both electrodes, and an electric current is sent, and copper is deposited on the surface of an electroless plating film. As a result, a conductor layer 219a is formed on the insulating layer 217 as shown in FIG.

続けて、図37BのステップS50で、例えばエッチングレジスト及びエッチング液を用いて、導体層219aのパターニングを行う。具体的には、第3の導体パターン219に対応したパターンを有するエッチングレジストで導体層219aを覆い、導体層219aの、エッチングレジストで覆われない部分(エッチングレジストの開口部で露出する部位)を、エッチングで除去する。これにより、図49に示すように、絶縁層217上に、第3の導体パターン219が形成される。なお、エッチングは、湿式に限られず、乾式であってもよい。   Subsequently, in step S50 of FIG. 37B, the conductive layer 219a is patterned using, for example, an etching resist and an etching solution. Specifically, the conductor layer 219a is covered with an etching resist having a pattern corresponding to the third conductor pattern 219, and a portion of the conductor layer 219a that is not covered with the etching resist (a portion exposed at the opening of the etching resist) is covered. And removed by etching. As a result, a third conductor pattern 219 is formed on the insulating layer 217 as shown in FIG. Note that the etching is not limited to wet, and may be dry.

続けて、図37BのステップS51で、支持体420及び銅箔430が除去される。   Subsequently, in step S51 of FIG. 37B, the support body 420 and the copper foil 430 are removed.

詳しくは、図50に示すように、支持体420が除去される。続けて、例えばエッチングにより、銅箔430が除去される。このようにして、図37Aに示すインダクタ部品210が製造される。   Specifically, as shown in FIG. 50, the support 420 is removed. Subsequently, the copper foil 430 is removed by etching, for example. In this way, the inductor component 210 shown in FIG. 37A is manufactured.

次に、本発明に係る実施形態の第3の例のインダクタ部品について、図51を参照して説明する。図51は、本実施形態に係る第3の例のインダクタ部品250を示す断面図である。   Next, an inductor component of a third example of the embodiment according to the invention will be described with reference to FIG. FIG. 51 is a cross-sectional view showing a third example of the inductor component 250 according to the present embodiment.

図51に示すように、インダクタ部品250は、コア252を中心として構成されている。コア252は、例えばエポキシ樹脂とガラスクロス等の心材とからなる。コア252の平面形状は、例えば矩形である。コア252には、2つの貫通孔、すなわちビアホール252aと中心孔257aが穿設されている。コア252の両面には、第1の導体パターン254及び第2の導体パターン253が形成されている。第1の導体パターン254と第2の導体パターン253とは、コア252を貫通するビア導体252bによって、電気的に接続されている。   As shown in FIG. 51, the inductor component 250 is configured around a core 252. The core 252 is made of, for example, an epoxy resin and a core material such as a glass cloth. The planar shape of the core 252 is, for example, a rectangle. The core 252 has two through holes, that is, a via hole 252a and a center hole 257a. A first conductor pattern 254 and a second conductor pattern 253 are formed on both surfaces of the core 252. The first conductor pattern 254 and the second conductor pattern 253 are electrically connected by a via conductor 252 b that penetrates the core 252.

第1の導体パターン254と第2の導体パターン253の上には、磁性材料221からなる磁性体層256及び磁性体層255が、それぞれ形成されている。また、中心孔257a内にも磁性材料221が充填されて、コア磁性体257bが形成されている。第1の導体パターン254、第2の導体パターン253及びビア導体252bは、いずれも銅からなる。   On the first conductor pattern 254 and the second conductor pattern 253, a magnetic layer 256 and a magnetic layer 255 made of the magnetic material 221 are respectively formed. The core hole 257a is also filled with the magnetic material 221 to form the core magnetic body 257b. The first conductor pattern 254, the second conductor pattern 253, and the via conductor 252b are all made of copper.

図51に示される各部の寸法は、T1=30μm、T2=20μm、T3=60μm、T4=20μm、T5=30μm、φ1=700μm、φ2=500μmである。なお、これらの寸法は適宜変更されてもよい。   51 are T1 = 30 μm, T2 = 20 μm, T3 = 60 μm, T4 = 20 μm, T5 = 30 μm, φ1 = 700 μm, and φ2 = 500 μm. These dimensions may be changed as appropriate.

インダクタ部品250の導体パターン253,254の形状について、図52を参照して説明する。図52は、インダクタ部品250の導体パターン253,254の形状を示す斜視図である。   The shapes of the conductor patterns 253 and 254 of the inductor component 250 will be described with reference to FIG. FIG. 52 is a perspective view showing the shapes of the conductor patterns 253 and 254 of the inductor component 250.

図52に示すように、インダクタ部品250の導体パターン253,254の外形は略矩形状である。導体パターン253,254の中心には、中心孔257aに対応する貫通孔が設けられている。ビア導体252bは、導体パターン254の突出した端部に形成されている。   As shown in FIG. 52, the outer shapes of the conductor patterns 253 and 254 of the inductor component 250 are substantially rectangular. A through hole corresponding to the center hole 257a is provided at the center of the conductor patterns 253 and 254. The via conductor 252b is formed at the protruding end of the conductor pattern 254.

かかる構成を有するインダクタ部品250について、周波数50MHzにおいて、インダクタ特性を測定した。測定結果は、インダクタンス(L)が8.97nH、Q値が45.57で、優れたインダクタ特性を有していた。   With respect to the inductor component 250 having such a configuration, the inductor characteristics were measured at a frequency of 50 MHz. As a result of the measurement, the inductance (L) was 8.97 nH, the Q value was 45.57, and the inductor characteristic was excellent.

次に、本発明に係る実施形態の第4のインダクタ部品について、図53を参照して説明する。図53は、本実施形態に係る第4のインダクタ部品260を示す断面図である。   Next, a fourth inductor component according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 53 is a cross-sectional view showing a fourth inductor component 260 according to the present embodiment.

図53に示すように、インダクタ部品260は、コア262を中心として構成されている。コア262は、絶縁体、例えばエポキシ樹脂からなる絶縁層263と、磁性材料221からなる磁性体層264の二層構造となっている。コア262の平面形状は、例えば矩形である。コア262には、ビアホール262aが穿設されている。コア262の両面には、第1の導体パターン266及び第2の導体パターン265が形成されている。   As shown in FIG. 53, the inductor component 260 is configured with a core 262 as a center. The core 262 has a two-layer structure of an insulator, for example, an insulating layer 263 made of an epoxy resin and a magnetic layer 264 made of a magnetic material 221. The planar shape of the core 262 is, for example, a rectangle. A via hole 262a is formed in the core 262. A first conductor pattern 266 and a second conductor pattern 265 are formed on both surfaces of the core 262.

第1の導体パターン266と第2の導体パターン265とは、コア262を貫通するビア導体262bによって、電気的に接続されている。第1の導体パターン266と第2の導体パターン265の上には、磁性材料221からなる磁性体層268及び磁性体層267が、それぞれ形成されている。第1の導体パターン266、第2の導体パターン265及びビア導体262bは、いずれも銅からなる。   The first conductor pattern 266 and the second conductor pattern 265 are electrically connected by a via conductor 262 b that penetrates the core 262. On the first conductor pattern 266 and the second conductor pattern 265, a magnetic layer 268 and a magnetic layer 267 made of the magnetic material 221 are respectively formed. The first conductor pattern 266, the second conductor pattern 265, and the via conductor 262b are all made of copper.

図53に示される各部の寸法は、T1=30μm、T2=20μm、T4=20μm、T5=30μm、T6=30μm、T7=50μm、φ3=300μmである。なお、これらの寸法は適宜変更されてもよい。   53 are T1 = 30 μm, T2 = 20 μm, T4 = 20 μm, T5 = 30 μm, T6 = 30 μm, T7 = 50 μm, and φ3 = 300 μm. These dimensions may be changed as appropriate.

かかる構成を有するインダクタ部品260について、周波数50MHzにおいて、インダクタ特性を測定した。測定結果は、インダクタンス(L)が9.31nH、Q値が46.32で、優れたインダクタ特性を有していた。   With respect to the inductor component 260 having such a configuration, the inductor characteristics were measured at a frequency of 50 MHz. As a result of the measurement, the inductance (L) was 9.31 nH, the Q value was 46.32, and the inductor characteristic was excellent.

比較のため、磁性材料を一切用いていない、いわゆるエアコア型のインダクタ部品について、周波数50MHzにおいて、インダクタ特性を測定した。エアコア型のインダクタ部品は、上記インダクタ部品250を示す図51において、コア252に中心孔257aがなく、磁性体層256、磁性体層255、コア磁性体257bも有しない。測定結果は、インダクタンス(L)が4.73nH、Q値が26.44であった。   For comparison, inductor characteristics were measured at a frequency of 50 MHz for a so-called air-core type inductor component that did not use any magnetic material. In FIG. 51 showing the inductor component 250, the air-core type inductor component does not have the center hole 257a in the core 252 and does not have the magnetic layer 256, the magnetic layer 255, and the core magnetic body 257b. As a result of the measurement, the inductance (L) was 4.73 nH, and the Q value was 26.44.

この結果、インダクタ部品250,260は、磁性材料221を用いることにより磁気特性が発揮され、優れたインダクタ特性を有することが明らかになった。   As a result, it has been clarified that the inductor components 250 and 260 exhibit excellent magnetic characteristics by using the magnetic material 221 and have excellent inductor characteristics.

本発明は、上記実施形態に限定されない。例えば、電解めっきのためのシード層は無電解めっき膜に限られず、無電解めっき膜に代えて、スパッタ膜等をシード層として用いてもよい。   The present invention is not limited to the above embodiment. For example, the seed layer for electrolytic plating is not limited to the electroless plating film, and a sputtered film or the like may be used as the seed layer instead of the electroless plating film.

その他の点についても、上記シート材220a,220b,230、インダクタ部品200,210,250,260、配線板10及び磁性材料の構成、及びその構成要素の種類、性能、寸法、材質、形状、層数、又は配置等は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において任意に変更することができる。   Regarding the other points, the sheet materials 220a, 220b, 230, the inductor components 200, 210, 250, 260, the configuration of the wiring board 10 and the magnetic material, and the types, performances, dimensions, materials, shapes, and layers of the components. The number or arrangement can be arbitrarily changed without departing from the spirit of the present invention.

また、各導体パターンの材料は、上記のものに限定されず、用途等に応じて変更可能である。例えば導体パターンの材料として、銅以外の金属又は非金属の導体材料を用いてもよい。   Moreover, the material of each conductor pattern is not limited to the above, and can be changed according to the application. For example, a metal material other than copper or a non-metal conductor material may be used as the conductor pattern material.

以上、本発明の実施形態について説明したが、設計上の都合やその他の要因によって必要となる様々な修正や組み合わせは、「請求項」に記載されている発明や「発明を実施するための形態」に記載されている具体例に対応する発明の範囲に含まれると理解されるべきである。   The embodiment of the present invention has been described above. However, various modifications and combinations required for design reasons and other factors are not limited to the invention described in the “claims” or the “mode for carrying out the invention”. It should be understood that it is included in the scope of the invention corresponding to the specific examples described in the above.

本発明に係るシート材は、薄型のインダクタ部品を製造するのに適している。本発明に係るシート材の製造方法は、そうしたシート材の製造に適している。本発明に係るインダクタ部品は、配線板に内蔵するのに適している。本発明に係る配線板は、携帯電話などの回路基板を実現するのに適している。本発明に係る磁性材料は、薄型のインダクタ部品を製造するのに適している。   The sheet material according to the present invention is suitable for manufacturing a thin inductor component. The method for manufacturing a sheet material according to the present invention is suitable for manufacturing such a sheet material. The inductor component according to the present invention is suitable for being incorporated in a wiring board. The wiring board according to the present invention is suitable for realizing a circuit board such as a mobile phone. The magnetic material according to the present invention is suitable for manufacturing a thin inductor component.

10 配線板
11,12 ソルダーレジスト層
100 基材
101,102 絶縁層
110,120 導体層
200,210,250,260 インダクタ部品
201,211 絶縁層(絶縁基板)
202,212 第1の導体パターン
202a,212a 第1の導体層
213 第1の絶縁層
205a,215a,252a,262a,311a,312a,322a ビアホール
205b,215b,252b,262b,311b,312b,322b ビア導体
206,216 第2の導体パターン
206a,216a 第2の導体層
207,219 第3の導体パターン
207a,219a 第3の導体層
213,223a,223b 樹脂層
214,218,224a,224b 金属箔
217 第2の絶縁層
220a,220b,230 シート材
221,221c,221d,221e 磁性体ペースト
222a,222b,222c,222d,222e,255,256,264,267,268 磁性体層
225,225c 第1絶縁材料
226,226c 磁性体粒子
226a 凹凸
252,262 コア
253,254,265,266 導体パターン
257a コア貫通孔
300a スルーホール
300b スルーホール導体
301 第3導体層
302 第4導体層
400,420 支持体
410,430 銅箔
F1 第1面
F2 第2面
F3 第3面
F4 第4面
F5 第5面
F6 第6面
F10,F11 面
R1 隙間
R10 キャビティ(貫通孔)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Wiring board 11,12 Solder resist layer 100 Base material 101,102 Insulating layer 110,120 Conductor layer 200,210,250,260 Inductor component 201,211 Insulating layer (insulating substrate)
202, 212 First conductor pattern 202a, 212a First conductor layer 213 First insulating layer 205a, 215a, 252a, 262a, 311a, 312a, 322a Via hole 205b, 215b, 252b, 262b, 311b, 312b, 322b Via Conductor 206, 216 Second conductor pattern 206a, 216a Second conductor layer 207, 219 Third conductor pattern 207a, 219a Third conductor layer 213, 223a, 223b Resin layer 214, 218, 224a, 224b Metal foil 217 Second insulating layer 220a, 220b, 230 Sheet material 221, 221c, 221d, 221e Magnetic paste 222a, 222b, 222c, 222d, 222e, 255, 256, 264, 267, 268 Magnetic layer 225, 225c First insulation material 226, 226c Magnetic particles 226a Concavities and convexities 252, 262 Cores 253, 254, 265, 266 Conductor pattern 257a Core through hole 300a Through hole 300b Through hole conductor 301 Third conductor layer 302 Fourth conductor layer 400, 420 Supports 410, 430 Copper foil F1 1st surface F2 2nd surface F3 3rd surface F4 4th surface F5 5th surface F6 6th surface F10, F11 surface R1 clearance R10 cavity (through-hole)

Claims (22)

磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層を備えるシート材であって、
前記磁性体層の少なくとも片面には、第2絶縁材料から構成される樹脂層が設けられているシート材。
A sheet material comprising a magnetic layer containing magnetic particles and a first insulating material,
A sheet material provided with a resin layer made of a second insulating material on at least one surface of the magnetic layer.
前記磁性体層の厚さは前記樹脂層の厚さより厚い、請求項1に記載のシート材。   The sheet material according to claim 1, wherein a thickness of the magnetic layer is thicker than a thickness of the resin layer. 前記樹脂層の表面に金属箔を有する、請求項1又は2に記載のシート材。   The sheet | seat material of Claim 1 or 2 which has metal foil on the surface of the said resin layer. 前記金属箔の前記樹脂層に接する表面は粗化されている、請求項3に記載のシート材。   The sheet | seat material of Claim 3 with which the surface which contact | connects the said resin layer of the said metal foil is roughened. 前記磁性体粒子の平均粒子径は0.5〜50μmの範囲内にある、請求項1乃至4のいずれか1項に記載のシート材。   The sheet material according to any one of claims 1 to 4, wherein an average particle diameter of the magnetic particles is in a range of 0.5 to 50 µm. 前記第1絶縁材料のガラス転移温度(Tg)は130℃以上である、請求項1乃至5のいずれか1項に記載のシート材。   The sheet material according to any one of claims 1 to 5, wherein a glass transition temperature (Tg) of the first insulating material is 130 ° C or higher. 前記磁性体粒子の前記磁性体層における体積含有率は30体積%〜70体積%の範囲内にある、請求項1乃至6のいずれか1項に記載のシート材。   The sheet material according to any one of claims 1 to 6, wherein a volume content of the magnetic particles in the magnetic layer is in a range of 30 vol% to 70 vol%. 前記磁性体粒子は鉄、軟磁性鉄合金、ニッケル、軟磁性ニッケル合金、コバルト、軟磁性コバルト合金、軟磁性鉄(Fe)−シリコン(Si)系合金、軟磁性鉄(Fe)−窒素(N)系合金、軟磁性鉄(Fe)−炭素(C)系合金、軟磁性鉄(Fe)−ホウ素(B)系合金、軟磁性鉄(Fe)−リン(P)系合金、軟磁性鉄(Fe)−アルミニウム(Al)系合金、軟磁性鉄(Fe)−アルミニウム(Al)−シリコン(Si)系合金のいずれか1つ以上から構成される、請求項1乃至7のいずれか1項に記載のシート材。   The magnetic particles are iron, soft magnetic iron alloy, nickel, soft magnetic nickel alloy, cobalt, soft magnetic cobalt alloy, soft magnetic iron (Fe) -silicon (Si) alloy, soft magnetic iron (Fe) -nitrogen (N ) Alloy, soft magnetic iron (Fe) -carbon (C) alloy, soft magnetic iron (Fe) -boron (B) alloy, soft magnetic iron (Fe) -phosphorus (P) alloy, soft magnetic iron ( The structure according to any one of claims 1 to 7, wherein the alloy is composed of at least one of an Fe) -aluminum (Al) alloy and a soft magnetic iron (Fe) -aluminum (Al) -silicon (Si) alloy. The sheet material described. 前記第1絶縁材料は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリフェニレン樹脂、ポリベンゾシクロブテン樹脂、ポリアリーレンエーテル樹脂、ポリシロキサン樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、フッ素樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリシクロオレフィン樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂及びポリスチレン樹脂のいずれか1つ以上から構成される、請求項1乃至8のいずれか1項に記載のシート材。   The first insulating material is epoxy resin, phenol resin, polybenzoxazole resin, polyphenylene resin, polybenzocyclobutene resin, polyarylene ether resin, polysiloxane resin, polyurethane resin, polyester resin, polyester urethane resin, fluorine resin, polyolefin The sheet | seat material of any one of Claims 1 thru | or 8 comprised from any one or more of resin, polycycloolefin resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin, and polystyrene resin. 前記第2絶縁材料と前記第1絶縁材料とは同じ材料である、請求項1乃至9のいずれか1項に記載のシート材。   The sheet material according to any one of claims 1 to 9, wherein the second insulating material and the first insulating material are the same material. 前記磁性体層の表面は凹凸形状を有する、請求項1乃至10のいずれか1項に記載のシート材。   The sheet material according to claim 1, wherein the surface of the magnetic layer has an uneven shape. 前記樹脂層は無機フィラーを含有する、請求項1乃至11のいずれか1項に記載のシート材。   The sheet material according to claim 1, wherein the resin layer contains an inorganic filler. 前記樹脂層は、粗化処理に用いられる溶液に対して、相対的に溶解しやすい成分と、相対的に溶解しにくい成分の少なくとも2つの成分が混合された樹脂で構成されている、請求項1乃至12のいずれか1項に記載のシート材。   The resin layer is composed of a resin in which at least two components, a component that is relatively soluble and a component that is relatively difficult to dissolve, are mixed in a solution used for the roughening treatment. The sheet material according to any one of 1 to 12. 前記樹脂層の線膨張係数は前記磁性体層の線膨張係数より小さい、請求項1乃至13のいずれか1項に記載のシート材。   The sheet material according to any one of claims 1 to 13, wherein a linear expansion coefficient of the resin layer is smaller than a linear expansion coefficient of the magnetic layer. 磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層を備えるシート材の製造方法であって、
前記磁性体粒子と前記第1絶縁材料とを混合して前記磁性体層を作製することと、
前記磁性体層の少なくとも片面に、第2絶縁材料から構成される樹脂層を設けることと、
を含むシート材の製造方法。
A method for producing a sheet material comprising a magnetic layer containing magnetic particles and a first insulating material,
Mixing the magnetic particles and the first insulating material to produce the magnetic layer;
Providing a resin layer made of a second insulating material on at least one surface of the magnetic layer;
The manufacturing method of the sheet material containing.
前記磁性体層の厚さを、前記樹脂層の厚さよりも厚くする請求項15に記載のシート材の製造方法。   The method for producing a sheet material according to claim 15, wherein the thickness of the magnetic layer is made thicker than the thickness of the resin layer. 層間絶縁層とその上のインダクタ用導体パターンとを有するインダクタ部品であって、
前記層間絶縁層は、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層と、該磁性体層の少なくとも片面に設けられ、第2絶縁材料から構成される樹脂層とからなるインダクタ部品。
An inductor component having an interlayer insulating layer and an inductor conductive pattern thereon,
The interlayer insulating layer is an inductor component comprising a magnetic layer containing magnetic particles and a first insulating material, and a resin layer provided on at least one surface of the magnetic layer and made of a second insulating material.
前記磁性体層の厚さは、前記樹脂層の厚さより厚い請求項17に記載のインダクタ部品。   The inductor component according to claim 17, wherein a thickness of the magnetic layer is greater than a thickness of the resin layer. 前記樹脂層の前記導体パターンに接する表面は粗化されている請求項17または18に記載のインダクタ部品。   The inductor component according to claim 17 or 18, wherein a surface of the resin layer in contact with the conductor pattern is roughened. 少なくとも一方の表面に開口されてなる開口部を有するコア基板と、前記開口部の内部に収容されるインダクタ部品と、前記開口部の内部に充填されてインダクタ部品を固定する充填樹脂と、を有する配線板であって、
前記インダクタ部品は、層間絶縁層とその上のインダクタ用導体パターンとを有し、
前記層間絶縁層は、磁性体粒子と第1絶縁材料とを含む磁性体層と、該磁性体層の少なくとも片面に設けられ第2絶縁材料から構成される樹脂層と、からなる配線板。
A core substrate having an opening formed on at least one surface; an inductor component housed in the opening; and a filling resin filling the opening to fix the inductor component. A wiring board,
The inductor component has an interlayer insulating layer and an inductor conductor pattern thereon,
The interlayer insulating layer is a wiring board comprising a magnetic layer containing magnetic particles and a first insulating material, and a resin layer provided on at least one surface of the magnetic layer and made of a second insulating material.
前記磁性体層の厚さは、前記樹脂層の厚さより厚い請求項20に記載の配線板。   The thickness of the said magnetic body layer is a wiring board of Claim 20 thicker than the thickness of the said resin layer. 磁性体粒子と絶縁材料とを有し、
硬化した状態での線膨張係数は40ppm/K以下である、
磁性材料。
Having magnetic particles and an insulating material,
The linear expansion coefficient in the cured state is 40 ppm / K or less.
Magnetic material.
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