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JP2012026009A - Thin film deposition device - Google Patents

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JP2012026009A
JP2012026009A JP2010167149A JP2010167149A JP2012026009A JP 2012026009 A JP2012026009 A JP 2012026009A JP 2010167149 A JP2010167149 A JP 2010167149A JP 2010167149 A JP2010167149 A JP 2010167149A JP 2012026009 A JP2012026009 A JP 2012026009A
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JP
Japan
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thin film
discharge device
material gas
device main
main body
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Application number
JP2010167149A
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Japanese (ja)
Inventor
Itsushin Yo
一新 楊
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Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology of forming a thin film in a desired shape on a large substrate with a high efficiency in use of a thin film material.SOLUTION: Discharging device main bodies 31-31are arranged at a location facing a placing surface 13 of a treatment table 12 in a vacuum tank 11, heat insulating boards 42-42are arranged between the discharging device main bodies 31-31and the placing surface 13, capillaries 33-33connected to the discharging device main bodies 31-31are inserted into holes 43-43formed in the heat insulating boards 42-42, and tips of the capillaries 33-33are extended to a position closer to the placing surface 13 than the heat insulating boards 42-42. When the vacuum tank 11 is evacuated and material gas is discharged from the capillaries 33-33to deposit a thin film on a surface of an object of deposition on the placing surface 13, the tips of the capillaries 33-33can be heated to at least an evaporation temperature, the tips of the capillaries 33-33may not be blocked by condensation of the material gas, and a linear thin film can be formed on the surface of the object of deposition.

Description

本発明は、薄膜形成装置に関する。   The present invention relates to a thin film forming apparatus.

従来より、真空槽内に、表面にマスクが固定された基板が配置され、真空雰囲気中で基板表面に向けて材料ガス放出装置から有機又は無機の薄膜材料蒸気が放出され、マスクの開口のパターン通りに成形された薄膜が基板表面に形成される薄膜形成工程が行われている。   Conventionally, a substrate with a mask fixed on the surface is placed in a vacuum chamber, and organic or inorganic thin film material vapor is released from the material gas discharge device toward the substrate surface in a vacuum atmosphere, and the pattern of the mask openings A thin film forming process is performed in which a thin film formed as described above is formed on the substrate surface.

しかし、薄膜材料を加熱・蒸発させて材料ガスを生成するために、材料ガス放出装置は高温に昇温しており、材料ガスの到達量が減らないように、基板と材料ガス放出装置とが近接して配置されると、マスクが材料ガス放出装置によって加熱され、膨張してパターンが拡大したり、ずれてしまうという問題がある。このようなパターンは、直線状であり、RGBの各有機薄膜を平行で等間隔な直線状に形成する場合が多い。   However, in order to generate the material gas by heating and evaporating the thin film material, the material gas discharge device is heated to a high temperature, and the substrate and the material gas discharge device are not connected so that the arrival amount of the material gas does not decrease. If they are arranged close to each other, the mask is heated by the material gas releasing device, and there is a problem that the pattern expands and shifts. Such a pattern is linear, and the RGB organic thin films are often formed in parallel and equally spaced linear shapes.

また、材料ガス放出装置から放出された材料ガスはマスクに付着すると、マスクの開口部分にも薄膜が形成され、開口形状が歪んでしまう場合がある。また、マスクに付着した薄膜は使用できないので、無駄が多いと言える。   In addition, when the material gas released from the material gas discharge device adheres to the mask, a thin film is also formed in the opening portion of the mask, and the opening shape may be distorted. Moreover, since the thin film adhering to the mask cannot be used, it can be said that it is wasteful.

特開2009−253088号公報JP 2009-253088 A 特開2005−56614号公報JP-A-2005-56614 特開2000−106278号公報JP 2000-106278 A

本発明は、上記従来技術の不都合な点を解決することを目的としており、薄膜材料の使用効率が高く、大型基板に所望形状の薄膜を形成できる技術を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a technique capable of forming a thin film having a desired shape on a large-sized substrate with high use efficiency of a thin film material.

上記課題を解決するために本発明は、真空槽と、前記真空槽内に配置され、成膜対象物が載置面上に配置される処理台と、材料ガスを前記真空槽内に放出させて前記載置面上の前記成膜対象物に到達させ、薄膜を形成する材料ガス放出装置とを有する薄膜形成装置であって、前記材料ガス放出装置は、前記載置面と対面する位置に配置された防熱板と、前記防熱板よりも、前記載置面から遠い位置に配置された放出装置本体と、前記放出装置本体に接続された細管と、前記防熱板に形成され、前記細管が挿通された孔とを有し、前記細管の先端は前記載置面に向けられ、前記放出装置本体内の材料ガスが前記孔から放出され、放出された前記材料ガスが、前記処理台に配置された成膜対象物の表面に到達して薄膜が形成される薄膜形成装置である。
本発明は薄膜形成装置であって、前記細管の下端は前記防熱板よりも前記処理台に近い位置に配置された薄膜形成装置である。
本発明は薄膜形成装置であって、前記細管と前記孔の内周とは離間された薄膜形成装置である。
本発明は薄膜形成装置であって、前記細管と前記孔の内周との間には断熱材が配置された薄膜形成装置である。
本発明は薄膜形成装置であって、前記材料ガス放出装置には、前記放出装置本体とは離間した位置に、内部に薄膜材料が配置されたガス発生装置が設けられ、前記ガス発生装置は前記放出装置本体に接続され、前記ガス発生装置内で前記薄膜材料が加熱されて蒸発して前記材料ガスが生成され、前記放出装置本体に供給されるように構成された薄膜形成装置である。
本発明は薄膜形成装置であって、前記材料ガス放出装置には、前記放出装置本体の内部に、薄膜材料が配置されたガス発生装置が設けられ、前記ガス発生装置で前記薄膜材料が加熱されて蒸発して前記材料ガスが生成され、前記放出装置本体に供給される薄膜形成装置である。
本発明は薄膜形成装置であって、前記材料ガス放出装置を複数有する薄膜形成装置である。
In order to solve the above-described problems, the present invention provides a vacuum chamber, a processing table disposed in the vacuum chamber, and an object to be deposited on the mounting surface, and a material gas discharged into the vacuum chamber. A thin film forming apparatus having a material gas releasing device that reaches the film formation target on the mounting surface and forms a thin film, wherein the material gas discharging device is at a position facing the mounting surface. The heat insulating plate disposed, the discharge device main body disposed at a position farther from the placement surface than the heat insulating plate, a thin tube connected to the discharge device main body, and the heat insulating plate, the thin tube being formed And a tip of the thin tube is directed to the mounting surface, the material gas in the discharge device body is discharged from the hole, and the discharged material gas is disposed on the processing table. A thin film forming device that reaches the surface of the film formation target and forms a thin film. That.
This invention is a thin film forming apparatus, Comprising: The lower end of the said thin tube is a thin film forming apparatus arrange | positioned in the position near the said process stand rather than the said heat insulation board.
The present invention is a thin film forming apparatus, wherein the thin tube and the inner periphery of the hole are separated from each other.
The present invention is a thin film forming apparatus, in which a heat insulating material is disposed between the narrow tube and the inner periphery of the hole.
The present invention is a thin film forming apparatus, wherein the material gas discharge device is provided with a gas generation device having a thin film material disposed therein at a position separated from the discharge device main body. The thin film forming apparatus is connected to a discharge apparatus main body, and is configured such that the thin film material is heated and evaporated in the gas generation apparatus to generate the material gas and is supplied to the discharge apparatus main body.
The present invention is a thin film forming apparatus, wherein the material gas discharge device is provided with a gas generating device in which a thin film material is disposed inside the discharge device main body, and the thin film material is heated by the gas generating device. The material gas is generated by evaporation and supplied to the main body of the discharge device.
The present invention is a thin film forming apparatus, which is a thin film forming apparatus having a plurality of the material gas releasing devices.

マスクを使用せずに、所望形状の薄膜を形成できる。
また、放出した材料ガスが無駄にならない。
また、大型基板に所望形状の薄膜を形成することができる。
A thin film having a desired shape can be formed without using a mask.
Also, the released material gas is not wasted.
In addition, a thin film having a desired shape can be formed on a large substrate.

本発明の薄膜形成装置の内部構成図Internal configuration diagram of thin film forming apparatus of the present invention 載置面上に成膜対象物が配置された状態を説明するための図The figure for demonstrating the state by which the film-forming target object has been arrange | positioned on a mounting surface 材料ガス放出装置の構造を説明するための図The figure for demonstrating the structure of material gas discharge device 載置面上に成膜対象物が配置された状態を説明するための図The figure for demonstrating the state by which the film-forming target object has been arrange | positioned on a mounting surface 直線状の薄膜の形成を説明するための図Diagram for explaining the formation of a linear thin film 放出装置本体の内部にガス発生装置が設けられた構造を説明するための図The figure for demonstrating the structure where the gas generator was provided in the inside of the discharge | release apparatus main body 逐行走査形状の薄膜の形成を説明するための図The figure for demonstrating formation of the thin film of a scanning shape

図1を参照し、符号10は、本発明の薄膜形成装置を示している。
この薄膜形成装置10は、真空槽11と処理台12とを有している。
この処理台12は、成膜対象物を配置する載置面13を有しており、ここでは処理台12は、載置面13を鉛直上方に向け、真空槽11の内部に配置されている。図2は、載置面13上に板状の成膜対象物20が配置された状態である。
With reference to FIG. 1, the code | symbol 10 has shown the thin film forming apparatus of this invention.
The thin film forming apparatus 10 includes a vacuum chamber 11 and a processing table 12.
The processing table 12 has a mounting surface 13 on which a film formation target is placed. Here, the processing table 12 is placed inside the vacuum chamber 11 with the mounting surface 13 facing vertically upward. . FIG. 2 shows a state in which a plate-shaped film formation target 20 is arranged on the mounting surface 13.

真空槽11には真空ポンプ14が接続されており、内部は真空排気されて真空雰囲気にされている。
また、薄膜形成装置10は、1乃至複数個の材料ガス放出装置301、302、303を有している。
A vacuum pump 14 is connected to the vacuum chamber 11, and the inside is evacuated to a vacuum atmosphere.
Further, the thin film forming apparatus 10 includes one to a plurality of material gas discharge devices 30 1 , 30 2 , 30 3 .

材料ガス放出装置301、302、303の構造は同じであり、図3に、一台の材料ガス放出装置301を例にして説明すると、材料ガス放出装置301は、放出装置本体311と、ガス発生装置321とを有している。
放出装置本体311は、載置面13と対面する位置に配置されており、ここでは、載置面13の上方に配置されている。
Material structure of the gas discharge device 30 1, 30 2, 30 3 are the same, in Figure 3, will be described with the single material gas discharge device 30 1 in Example, the material gas discharge device 30 1, the release device body 31 1 and a gas generator 32 1 are provided.
Emitting device main body 31 1 is disposed at the position facing the mounting surface 13, here, it is arranged above the mounting surface 13.

放出装置本体311の載置面13と対面する部分には、細管331が鉛直に設けられており、細管331の先端は、載置面13に向けられている。細管331の中空部分は、放出装置本体311の内部の空間に接続されている。
ガス発生装置321は、放出装置本体311と離間した位置に配置されている。ここではガス発生装置321は真空槽11の内部に配置されているが、真空槽11の外部に配置されていてもよい。
A narrow tube 33 1 is provided vertically at a portion facing the mounting surface 13 of the discharge device main body 31 1 , and the tip of the thin tube 33 1 is directed to the mounting surface 13. A hollow portion of the thin tube 33 1 is connected to a space inside the discharge device main body 31 1 .
The gas generator 32 1 is arranged at a position separated from the discharge device main body 31 1 . Here, the gas generator 32 1 is disposed inside the vacuum chamber 11, but may be disposed outside the vacuum chamber 11.

ガス発生装置321には、薄膜材料用の蒸発容器34a、34bを一又は複数台設けられており、この例では、蒸発容器34a、34bが二台設けられ、一方の蒸発容器34aにはホストとなる有機材料である薄膜材料35aが配置され、他方の蒸発容器34bには、ドーパントとなる有機材料である薄膜材料35bが配置されている。 The gas generator 32 1 is provided with one or a plurality of evaporation containers 34a and 34b for thin film materials. In this example, two evaporation containers 34a and 34b are provided, and one evaporation container 34a has a host. A thin film material 35a which is an organic material to be used is disposed, and a thin film material 35b which is an organic material to be a dopant is disposed in the other evaporation container 34b.

各蒸発容器34a、34bには、線状のヒータ36a、36bが巻き回されており、ヒータ36a、36bが発熱して、各蒸発容器34a、34b内の薄膜材料35a、35bが加熱され、蒸発温度以上の温度に昇温して、薄膜材料35a、35bの蒸気から成る材料ガスが生成されるようになっている。   Linear heaters 36a and 36b are wound around the respective evaporation containers 34a and 34b. The heaters 36a and 36b generate heat, and the thin film materials 35a and 35b in the respective evaporation containers 34a and 34b are heated to evaporate. By raising the temperature to a temperature equal to or higher than the temperature, a material gas composed of vapors of the thin film materials 35a and 35b is generated.

ガス発生装置321と放出装置本体311とは、供給管37a、37bによって接続され、ガス発生装置321内で生成された材料ガスは供給管37a、37bを通り、放出装置本体311に供給される。ここでは二本の供給管37a、37bによって、二個の蒸発容器34a、34bと放出装置本体311とが、それぞれ別々に接続され、ホスト用の有機材料ガスとドーパント用の有機材料ガスとは別々に放出装置本体311に供給され、放出装置本体311内で混合され、細管331を通って細管331の先端から真空槽11の内部に放出される。 The gas generator 32 1 and the discharge device main body 31 1 are connected by supply pipes 37a and 37b, and the material gas generated in the gas generation device 32 1 passes through the supply pipes 37a and 37b to the discharge device main body 31 1 . Supplied. The two supply pipes 37a, 37b here, two of the evaporation container 34a, 34b and the discharge device body 31 1 and is, are respectively separately connected to an organic material gas for the organic material gas and the dopant for the host is supplied separately to the discharge apparatus main body 31 1, is mixed with a release device body 31 within 1, is discharged through the capillary 33 1 from the tip of the capillary 33 1 inside the vacuum chamber 11.

図4は、板状の成膜対象物20が載置面13上に配置された状態であり、処理台12上の成膜対象物20と放出装置本体311とは一の薄膜形成直線に沿った方向に相対的に移動できるように構成されており、細管331先端から放出された材料ガスによって、成膜対象物20表面には、薄膜が線状に形成される。 Figure 4 is a state where the plate-shaped object to be film 20 is disposed on the mounting surface 13, on one of the thin film forming straight line with the film-forming target 20 on the processing table 12 and the discharge device body 31 1 along direction is configured so as to be relatively movable with, a material gas discharged from capillaries 33 1 tip, the film-forming target 20 surface, a thin film is formed into a linear shape.

本例の薄膜形成装置10は、RGB各色のドーパントがそれぞれガス発生装置321、322、323に配置された三台の材料ガス放出装置301、302、303を有しており、三台の放出装置本体311、312、313は、相対的に静止した状態で、放出装置本体311、312、313と成膜対象物20とが、上述した一の薄膜形成直線に沿った方向に相対的に直線移動して、成膜対象物20表面に、マスクを設けなくても、R色と、G色と、B色の三本の直線状の有機薄膜が形成される。 The thin film forming apparatus 10 of this example has three material gas discharge apparatuses 30 1 , 30 2 , and 30 3 in which dopants of RGB colors are arranged in gas generators 32 1 , 32 2 , and 32 3 , respectively. The three discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 are relatively stationary, and the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 and the film formation target 20 are the one thin film described above. Even if a mask is not provided on the surface of the film formation target 20, the three linear organic thin films of R color, G color, and B color are formed by moving relatively linearly in the direction along the formation straight line. It is formed.

そして、材料ガスが成膜対象物20に到達しない状態で、薄膜形成直線と交差する方向に相対的に移動し、細管331、332、333先端が、成膜対象物20上の有機薄膜の未成膜な部分と対面するようにし、薄膜形成直線に沿って相対移動させると、図5に示すように、R色と、G色と、B色の三本一組の直線状の有機薄膜21R、21G、21Bが複数組平行に形成される。 Then, in a state where the material gas does not reach the film formation target 20, it moves relatively in the direction intersecting the thin film formation straight line, and the tips of the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 are organic on the film formation target 20. When facing a non-deposited portion of the thin film and relatively moving along the thin film formation straight line, as shown in FIG. 5, a set of three linear organic colors of R color, G color, and B color Multiple sets of thin films 21 R , 21 G , 21 B are formed in parallel.

各放出装置本体311、312、313は、加熱装置を有しており、加熱装置から供給される熱で、放出装置本体311、312、313内部に供給された材料ガスが、放出装置本体311、312、313の内壁面に析出しないようにされている。ここでは、加熱装置は線状ヒータ381、382、383で構成され、線状ヒータ381、382、383が放出装置本体311、312、313の外周に巻き回され、放出装置本体311、312、313と、細管331、332、333とが加熱されて供給された薄膜材料蒸気の蒸発温度以上の温度に昇温するようにされている。 Each discharge device main body 31 1 , 31 2 , 31 3 has a heating device, and the material gas supplied to the inside of the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 is generated by heat supplied from the heating device. The discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 are not deposited on the inner wall surfaces. Here, the heating device is composed of linear heaters 38 1 , 38 2 , 38 3 , and the linear heaters 38 1 , 38 2 , 38 3 are wound around the outer periphery of the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3. The discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 and the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 are heated to a temperature equal to or higher than the evaporation temperature of the supplied thin film material vapor.

放出装置本体311、312、313と載置面13との間には、防熱板421、422、423が配置されている。
ここでは、各放出装置本体311、312、313は、それぞれ別々の冷却容器411、412、413内に配置されている。
Between the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 and the mounting surface 13, heat insulating plates 42 1 , 42 2 , 42 3 are arranged.
Here, each discharge device main body 31 1 , 31 2 , 31 3 is arranged in a separate cooling vessel 41 1 , 41 2 , 41 3 , respectively.

各冷却容器411、412、413は、底面部分が放出装置本体311、312、313と載置面13の間に配置されており、各冷却容器411、412、413の底面部分が、加熱された放出装置本体311、312、313や、放出装置本体311、312、313に巻き回された線状ヒータ381、382、383から放出される輻射熱を遮蔽して、輻射熱が載置面13上に配置された成膜対象物20に到達しないようにする防熱板421、422、423にされている。 Each cooling container 41 1 , 41 2 , 41 3 has a bottom portion disposed between the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 and the mounting surface 13, and each cooling container 41 1 , 41 2 , 41 3 is formed from the heated discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 and the linear heaters 38 1 , 38 2 , 38 3 wound around the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3. The heat insulating plates 42 1 , 42 2 , and 42 3 are configured to shield the radiant heat that is released and prevent the radiant heat from reaching the film formation target 20 disposed on the mounting surface 13.

各防熱板421、422、423は、載置面13と対面し、載置面13とは離間して配置されている。各防熱板421、422、423には、それぞれ孔431、432、433が設けられ、各冷却容器411、412、413内に配置された放出装置本体311、312、313に接続された細管331、332、333は、防熱板421、422、423の孔431、432、433に挿通され、各細管331、332、333の先端は、防熱板421、422、423よりも載置面13に近い位置まで伸ばされ、細管331、332、333から放出される材料ガスが防熱板421、422、423に接触しないようにされている。 Each of the heat insulating plates 42 1 , 42 2 , and 42 3 faces the mounting surface 13 and is disposed away from the mounting surface 13. The heat insulating plates 42 1 , 42 2 , and 42 3 are provided with holes 43 1 , 43 2 , and 43 3 , respectively, and the discharge device main bodies 31 1 , arranged in the cooling containers 41 1 , 41 2 , and 41 3 , respectively. 31 2, 31 3 connected to tubules 33 1, 33 2, 33 3, heat insulating board 42 1, 42 2, 42 3 of holes 43 1, 43 2, is inserted into the 43 3, the capillary tube 33 1, 33 The tips of 2 and 33 3 are extended to a position closer to the mounting surface 13 than the heat insulating plates 42 1 , 42 2 and 42 3 , and the material gas released from the thin tubes 33 1 , 33 2 and 33 3 is heated. 1 , 42 2 , and 42 3 are not brought into contact with each other.

ここでは、冷却容器411、412、413の側壁の外周には、液状の冷却媒体が流れる冷却管441、442、443が巻き回されており、輻射熱は冷却容器411、412、413で遮蔽され、真空槽11の槽壁が加熱されないようになっている。 Here, cooling pipes 44 1 , 44 2 , and 44 3 through which a liquid cooling medium flows are wound around the outer periphery of the side walls of the cooling containers 41 1 , 41 2 , and 41 3 , and radiant heat is supplied to the cooling containers 41 1 , It is shielded by 41 2 and 41 3 so that the tank wall of the vacuum chamber 11 is not heated.

防熱板421、422、423の載置面13に向く面とは反対の面には輻射熱が到達するが、防熱板421、422、423は冷却容器411、412、413と接触しており、冷却管441、442、443によって冷却容器411、412、413が冷却されると、防熱板421、422、423は間接的に冷却され、高温にはならないようになっている。 Heat insulating board 42 1, 42 2, 42 and 3 surface facing the mounting surface 13 of the arriving radiation heat on the opposite side, but the heat insulating plate 42 1, 42 2, 42 3 is cooled container 41 1, 41 2, 41 3 is in contact with, the cooling pipes 44 1, 44 2, 44 3 by a cooling vessel 41 1, 41 2, 41 3 is cooled, heat insulating board 42 1, 42 2, 42 3 is indirectly cooled It is designed not to become hot.

防熱板421、422、423の孔431、432、433の内周面の直径は、細管331、332、333の外径よりも大きく、放出装置本体311、312、313の幅よりも小さくされており、細管331、332、333の外周面と孔431、432、433の内周面が離間しているか、又は、細管331、332、333の外周面と内周面の間の部分に断熱材が充填されている。 Heat insulating board 42 1, 42 2, 42 3 of holes 43 1, 43 2, 43 the diameter of the inner peripheral surface of 3, thin tube 33 1, 33 2, 33 3 larger than the outer diameter, releasing apparatus main body 31 1, 31 2, 31 are smaller than the third width, or thin tube 33 1, 33 2, 33 3 the outer peripheral surface and the hole 43 1, 43 2, 43 the inner circumferential surface of the 3 are spaced apart, or, capillary 33 A portion between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of 1 , 33 2 , 33 3 is filled with a heat insulating material.

どちらの場合でも、昇温された細管331、332、333の熱は防熱板421、422、423には伝導されず、細管331、332、333先端が蒸発温度未満の温度に冷却されないようになっている。
このように、細管331、332、333先端は蒸発温度以上にされており、細管331、332、333先端で材料ガスが凝縮して閉塞されないようになっており、また、載置面13上に配置された成膜対象物20が、輻射熱によって加熱されないようになっている。
In either case, the heated heat of the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 is not conducted to the heat insulating plates 42 1 , 42 2 , 42 3, and the tips of the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 are at the evaporation temperature. It is not cooled down to a temperature below.
In this way, the tips of the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 are set to the evaporating temperature or higher, and the material gas is not condensed and blocked at the tips of the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 , The film formation target 20 disposed on the mounting surface 13 is not heated by radiant heat.

処理台12の内部には冷却装置16が配置されており、成膜対象物20は冷却装置16によって冷却され、成膜対象物20の表面に到達した材料ガスは効率的に凝集され、材料ガスが成膜対象物20表面で反射されて真空槽11内に拡散しにくいようにされている。   A cooling device 16 is disposed inside the processing table 12, the film formation target 20 is cooled by the cooling device 16, and the material gas that has reached the surface of the film formation target 20 is efficiently aggregated to form a material gas. Is reflected on the surface of the film formation target 20 and is difficult to diffuse into the vacuum chamber 11.

なお、図3、4に符号321で示すように、真空槽11内に膜厚センサー46a、46bを設けておき、各蒸発容器321、322、323にサンプル管47a、47bを設けて、各蒸発容器321、322、323内で生成された材料ガスが膜厚センサー46a、46bの検出面に到達して薄膜が形成されるようにしておき、同じ蒸発容器321、322、323内で生成された材料ガスによって形成される薄膜のうち、膜厚センサ46a、46bが検出する薄膜の膜厚と、成膜対象物20表面に形成される薄膜の膜厚との関係を予め求めておくと、膜厚センサ46a、46bが検出した膜厚の値によって、成膜対象物20表面の薄膜の膜厚値が分かる。 As indicated by reference numeral 32 1 in FIGS. 3 and 4, thickness sensors 46a, may be provided to 46b, each evaporation container 32 1, 32 2, 32 3 to the sample tube 47a, and 47b provided in the vacuum chamber 11 The material gas generated in each evaporation container 32 1 , 32 2 , 32 3 reaches the detection surface of the film thickness sensor 46a, 46b so that a thin film is formed, and the same evaporation container 32 1 , Among the thin films formed by the material gas generated in 32 2 and 32 3 , the film thickness of the thin film detected by the film thickness sensors 46a and 46b, and the film thickness of the thin film formed on the surface of the film formation target 20 Is obtained in advance, the film thickness value of the thin film on the surface of the film formation target 20 can be determined from the film thickness values detected by the film thickness sensors 46a and 46b.

以上は、放出装置本体311、312、313を相対的に静止させていたが、各放出装置本体311、312、313を薄膜形成直線に沿った方向に成膜対象物20との間で相対的に移動させると共に、成膜対象物20の表面とは平行に、薄膜形成直線とは垂直な方向に個別に移動させることもできる。 In the above, the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 are relatively stationary, but the respective discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 are placed in the direction along the thin film formation straight line 20. And can be moved individually in a direction parallel to the surface of the film formation target 20 and perpendicular to the thin film formation straight line.

図1〜4の符号511、512、513は、カメラであり、このカメラ511、512、513が成膜対象物20表面のパターンを撮影して撮影画像を制御装置521、522、523に伝送し、制御装置521、522、523が電送された撮影画像中からアラインメントマークとなるパターン認識し、アラインメントマーク位置と放出装置本体311、312、313との相対的な位置関係を認識して相対位置の誤差量を求め、移動装置531、532、533を動作させて放出装置本体311、312、313を薄膜形成直線とは垂直な方向に移動させて相対位置の誤差量をゼロに近づけ、各放出装置本体311、312、313が成膜対象物20表面の正確な位置に薄膜を形成するようにするとよい。 Reference numerals 51 1 , 51 2 , 51 3 in FIGS. 1 to 4 are cameras, and the cameras 51 1 , 51 2 , 51 3 capture the pattern on the surface of the film formation target 20 and control the captured images to the control device 52 1. , 52 2 , 52 3 , the control device 52 1 , 52 2 , 52 3 recognizes the pattern that becomes the alignment mark from the captured image, and the alignment mark position and the emission device main body 31 1 , 31 2 , 31 are recognized. 3 is recognized to determine an error amount of the relative position, and the moving devices 53 1 , 53 2 , and 53 3 are operated to set the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , and 31 3 as thin film formation straight lines. Is moved in a vertical direction so that the error amount of the relative position is brought close to zero so that each of the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 forms a thin film at an accurate position on the surface of the film formation target 20. .

上記実施例では、放出装置本体311とは離間した位置にガス発生装置321が設けられていたが、図6に示すように、放出装置本体311、312、313の内部にガス発生装置321、322、323を設けてもよい。
また、この図6に示すように、サンプル管471、472、473は、放出装置本体311、312、313に接続され、膜厚センサ461、462、463によって膜厚を測定するようにしてもよい。
In the above embodiment, the gas generator 32 1 is provided at a position separated from the discharge device main body 31 1. However, as shown in FIG. 6, the gas generation device 31 1 , 31 2 , 31 3 has gas inside the discharge device main body 31 1 . Generators 32 1 , 32 2 , 32 3 may be provided.
Further, as shown in FIG. 6, the sample tubes 47 1 , 47 2 , and 47 3 are connected to the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , and 31 3 , and the film thickness sensors 46 1 , 46 2 , and 46 3 are used for the membranes. The thickness may be measured.

また、放出装置本体311、312、313は成膜対象物20表面に直線状の薄膜21R、21G、21Bを形成するだけではなく、図7に示すように逐行走査形状の薄膜22を形成することもでき、すなわち幅を有する線状の薄膜で長方形パターン23を埋めることもできる。符号24は細管の逐行走査跡を示している。 In addition, the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 not only form the linear thin films 21 R , 21 G , 21 B on the surface of the film formation target 20, but also perform the successive scanning shape as shown in FIG. The thin film 22 can be formed, that is, the rectangular pattern 23 can be filled with a linear thin film having a width. Reference numeral 24 denotes a continuous scanning trace of the narrow tube.

有機ELディスプレイを作製する際、HIL/HTLをフレームマスクで成膜した後、本発明でR、G、B発光ドットを作製し、次いでフレームマスクでETL/EIL/電極層を作ることが可能である。
薄膜は、一層に限定されず、例えば、成膜対象物20側から、R色、G色又はB色の場合、TCO基板/HIL/HTL/EL(R)/ETL/EILの多層の薄膜、TCO基板/HIL/HTL/EL(G)/ETL/EILの多層の薄膜、又はTCO基板/HIL/HTL/EL(B)/ETL/EILの多層の薄膜を形成し、これらRGBの薄膜を、成膜対象物20上に、繰り返しこの順序で配置することができる。
When manufacturing an organic EL display, it is possible to form HIL / HTL with a frame mask, and then produce R, G, B light emitting dots with the present invention, and then make an ETL / EIL / electrode layer with the frame mask.
The thin film is not limited to one layer. For example, in the case of R color, G color, or B color from the film formation target 20 side, a multilayer thin film of TCO substrate / HIL / HTL / EL (R) / ETL / EIL, A multilayer thin film of TCO substrate / HIL / HTL / EL (G) / ETL / EIL or a multilayer thin film of TCO substrate / HIL / HTL / EL (B) / ETL / EIL is formed. The film can be repeatedly arranged in this order on the film formation target 20.

例えば、細管331、332、333の中空部分の幅は20μm程度、成膜する線の幅によって載置面13上に配置した成膜対象物20表面と細管331、332、333の先端との間の距離は0.01mm以上5cm以下の範囲で成膜することができる。成膜する線の幅は最小20μm余で形成することができる。 For example, the hollow portions of the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 have a width of about 20 μm, and the surface of the film formation target 20 arranged on the placement surface 13 and the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 depending on the width of the film forming line. The film can be deposited within a range of 0.01 mm or more and 5 cm or less between the tips of 3 . The line can be formed with a minimum width of about 20 μm.

薄膜からなる線の幅は細管331、332、333の中空部分の幅および成膜対象物20表面と細管331、332、333の先端との間の距離で調整できる。細管331、332、333の中空部分の幅が小さいほど、又成膜対象物20表面と細管331、332、333の先端との間の距離が短いほど、薄膜からなる線の幅は小さい。 The width of the line formed of a thin film can be adjusted by the distance between the tip of the capillary 33 1, 33 2, 33 width and the film-forming target of 3 hollow portion 20 surface and the thin tube 33 1, 33 2, 33 3. As the width of the hollow portion of the capillary 33 1, 33 2, 33 3 is small, as the distance between the tip of MataNaru film object 20 surface and the thin tube 33 1, 33 2, 33 3 is short, the line formed of a thin film The width of is small.

なお、複数の細管331、332、333は、薄膜形成直線とは垂直な方向に離間すると共に、放出装置本体311、312、313同士を離間させるために、薄膜形成直線方向にも離間されている。 The plurality of thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 are separated in a direction perpendicular to the thin film formation straight line, and in order to separate the discharge device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3 from each other, the thin film formation straight direction Is also spaced apart.

また、細管331、332、333の中心間距離は、形成する薄膜の中心間距離に等しく設定しても良いし、一本の細管331、332、333が一回の相対移動で形成する薄膜を複数本側面を接触させて成膜する場合は、細管331、332、333の中心間距離を合成薄膜の中心間距離に設定するとよい。 Further, the distance between the centers of capillaries 33 1, 33 2, 33 3 is equal may be set to the distance between the centers of the thin film to be formed, a single capillary 33 1, 33 2, 33 3 is one of the relative When a thin film formed by movement is formed by bringing a plurality of side surfaces into contact with each other, the distance between the centers of the thin tubes 33 1 , 33 2 , 33 3 may be set to the distance between the centers of the synthetic thin films.

なお、上記例では、各蒸発容器内に異なるドーパントを配置して、各放出装置本体311、312、313から異なる色の有機薄膜を形成するようにしたが、同じドーパントを配置して各放出装置本体311、312、313から同じ色の有機薄膜を形成してもよい。 In the above example, different dopants are arranged in each evaporation container, and organic thin films of different colors are formed from the respective emission device main bodies 31 1 , 31 2 , 31 3. each release apparatus main body 31 1, 31 2, 31 3 may from be formed organic thin film of the same color.

10……薄膜形成装置
11……真空槽
12……処理台
13……載置面
20……成膜対象物
301、302、303……材料ガス放出装置
311、312、313……放出装置本体
321、322、323……ガス発生装置
331、332、333……細管
421、422、423……防熱板
431、432、433……孔
10 ...... thin film forming apparatus 11 ...... vacuum tank 12 ...... processing table 13 ...... mounting surface 20 ...... film formation object 30 1, 30 2, 30 3 ...... material gas discharge device 31 1, 31 2, 31 3 ...... Release device main body 32 1 , 32 2 , 32 3 ...... Gas generator 33 1 , 33 2 , 33 3 …… Narrow tube
42 1 , 42 2 , 42 3 ...... Heat shields 43 1 , 43 2 , 43 3 ...... Hole

Claims (7)

真空槽と、
前記真空槽内に配置され、成膜対象物が載置面上に配置される処理台と、
材料ガスを前記真空槽内に放出させて前記載置面上の前記成膜対象物に到達させ、薄膜を形成する材料ガス放出装置とを有する薄膜形成装置であって、
前記材料ガス放出装置は、前記載置面と対面する位置に配置された防熱板と、
前記防熱板よりも、前記載置面から遠い位置に配置された放出装置本体と、
前記放出装置本体に接続された細管と、
前記防熱板に形成され、前記細管が挿通された孔とを有し、
前記細管の先端は前記載置面に向けられ、前記放出装置本体内の材料ガスが前記孔から放出され、放出された前記材料ガスが、前記処理台に配置された成膜対象物の表面に到達して薄膜が形成される薄膜形成装置。
A vacuum chamber;
A processing table disposed in the vacuum chamber, and a film formation target is disposed on a mounting surface;
A thin film forming apparatus having a material gas releasing device for discharging a material gas into the vacuum chamber to reach the film formation target on the mounting surface and forming a thin film;
The material gas discharge device includes a heat insulating plate disposed at a position facing the mounting surface,
The discharge device main body arranged at a position farther from the placement surface than the heat insulating plate,
A capillary tube connected to the discharge device body;
A hole formed in the heat insulating plate and through which the thin tube is inserted;
The tip of the narrow tube is directed to the mounting surface, the material gas in the discharge device main body is released from the hole, and the released material gas is applied to the surface of the film formation target disposed on the processing table. A thin film forming device that reaches and forms a thin film.
前記細管の下端は前記防熱板よりも前記処理台に近い位置に配置された請求項1記載の薄膜形成装置。   The thin film forming apparatus according to claim 1, wherein a lower end of the thin tube is disposed at a position closer to the processing table than the heat insulating plate. 前記細管と前記孔の内周とは離間された請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の薄膜形成装置。   The thin film forming apparatus according to claim 1, wherein the narrow tube and the inner periphery of the hole are separated from each other. 前記細管と前記孔の内周との間には断熱材が配置された請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の薄膜形成装置。   The thin film forming apparatus according to claim 1, wherein a heat insulating material is disposed between the narrow tube and the inner periphery of the hole. 前記材料ガス放出装置には、前記放出装置本体とは離間した位置に、内部に薄膜材料が配置されたガス発生装置が設けられ、
前記ガス発生装置は前記放出装置本体に接続され、前記ガス発生装置内で前記薄膜材料が加熱されて蒸発して前記材料ガスが生成され、前記放出装置本体に供給されるように構成された請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載の薄膜形成装置。
The material gas discharge device is provided with a gas generation device in which a thin film material is disposed inside at a position separated from the discharge device main body,
The gas generator is connected to the discharge device main body, and the thin film material is heated and evaporated in the gas generator to generate the material gas, which is supplied to the discharge device main body. The thin film forming apparatus according to any one of claims 1 to 4.
前記材料ガス放出装置には、前記放出装置本体の内部に、薄膜材料が配置されたガス発生装置が設けられ、
前記ガス発生装置で前記薄膜材料が加熱されて蒸発して前記材料ガスが生成され、前記放出装置本体に供給される請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載の薄膜形成装置。
The material gas release device is provided with a gas generator in which a thin film material is disposed inside the discharge device main body,
5. The thin film forming apparatus according to claim 1, wherein the thin film material is heated and evaporated by the gas generator to generate the material gas, and the thin film material is supplied to the discharge device main body.
前記材料ガス放出装置を複数有する請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の薄膜形成装置。   The thin film forming apparatus according to claim 1, comprising a plurality of the material gas releasing devices.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000234163A (en) * 1999-05-19 2000-08-29 Fukushima Prefecture Evaporating device for organic compound
JP2007031828A (en) * 2005-07-28 2007-02-08 Applied Materials Gmbh & Co Kg Vapor deposition apparatus
JP2008311231A (en) * 2008-06-26 2008-12-25 Seiko Epson Corp Film forming device, method of manufacturing electronic device, and method of manufacturing electro-optic device
JP2010126753A (en) * 2008-11-26 2010-06-10 Canon Inc Vapor deposition apparatus and method for manufacturing organic light-emission apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000234163A (en) * 1999-05-19 2000-08-29 Fukushima Prefecture Evaporating device for organic compound
JP2007031828A (en) * 2005-07-28 2007-02-08 Applied Materials Gmbh & Co Kg Vapor deposition apparatus
JP2008311231A (en) * 2008-06-26 2008-12-25 Seiko Epson Corp Film forming device, method of manufacturing electronic device, and method of manufacturing electro-optic device
JP2010126753A (en) * 2008-11-26 2010-06-10 Canon Inc Vapor deposition apparatus and method for manufacturing organic light-emission apparatus

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