JP2011091175A - Radiation image photographing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、放射線画像撮影装置に係り、特に、各放射線検出素子にバイアス電圧を印加する複数のバイアス線およびそれらの結線を備える放射線画像撮影装置に関する。 The present invention relates to a radiographic imaging apparatus, and more particularly, to a radiographic imaging apparatus including a plurality of bias lines for applying a bias voltage to each radiation detection element and their connections.
照射されたX線等の放射線の線量に応じて検出素子で電荷を発生させて電気信号に変換するいわゆる直接型の放射線画像撮影装置や、照射された放射線をシンチレータ等で可視光等の他の波長の電磁波に変換した後、変換され照射された電磁波のエネルギに応じてフォトダイオード等の光電変換素子で電荷を発生させて電気信号に変換するいわゆる間接型の放射線画像撮影装置が種々開発されている。なお、本発明では、直接型の放射線画像撮影装置における検出素子や、間接型の放射線画像撮影装置における光電変換素子を、あわせて放射線検出素子という。 A so-called direct type radiographic imaging device that generates electric charges by a detection element in accordance with the dose of irradiated radiation such as X-rays and converts it into an electrical signal, or other radiation such as visible light with a scintillator or the like. Various so-called indirect radiographic imaging devices have been developed that convert charges to electromagnetic waves after being converted into electrical signals by generating electric charges with photoelectric conversion elements such as photodiodes in accordance with the energy of the converted and irradiated electromagnetic waves. Yes. In the present invention, the detection element in the direct type radiographic imaging apparatus and the photoelectric conversion element in the indirect type radiographic imaging apparatus are collectively referred to as a radiation detection element.
このタイプの放射線画像撮影装置はFPD(Flat Panel Detector)として知られており、従来は支持台(或いはブッキー装置)と一体的に形成されていたが(例えば特許文献1参照)、近年、放射線検出素子等をハウジングに収納した可搬型の放射線画像撮影装置が開発され、実用化されている(例えば特許文献2、3参照)。
This type of radiographic imaging apparatus is known as an FPD (Flat Panel Detector), and conventionally formed integrally with a support base (or a bucky apparatus) (see, for example, Patent Document 1). A portable radiographic imaging device in which an element or the like is housed in a housing has been developed and put into practical use (see, for example,
ところで、放射線検出素子には通常2つの電極が設けられ、一方の電極には薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor。以下、TFTという。)等のスイッチ素子が設けられて放射線検出素子内に蓄積された電荷の読み出しが行われ、他方の電極には放射線検出素子にバイアス電圧(いわゆる逆バイアス電圧を含む。)を印加するバイアス線が接続されることが多い(例えば特許文献4、5参照)。
By the way, the radiation detection element is usually provided with two electrodes, and one electrode is provided with a switch element such as a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT), so that the charge accumulated in the radiation detection element is reduced. Reading is often performed, and a bias line for applying a bias voltage (including a so-called reverse bias voltage) to the radiation detection element is often connected to the other electrode (see, for example,
そして、バイアス電源から各放射線検出素子に対して一定値のバイアス電圧を印加するために、例えば特許文献5の各図に示されているように、二次元状(マトリクス状)に配列された放射線検出素子のうち放射線検出素子の各列ごとに1本ずつバイアス線を配線し、さらに各バイアス線を1本の結線(特許文献5ではVs接続配線と表現されている。)に結束してバイアス電源に接続するように構成されていることが多い。
Then, in order to apply a constant bias voltage to each radiation detection element from the bias power source, for example, as shown in each drawing of
ところで、被写体を介して放射線画像撮影装置に放射線が照射されて放射線画像撮影が行われ、各放射線検出素子に蓄積された電荷を読み出す際、通常、走査線(ゲート線ともいう。)にオン電圧が印加されて走査線にゲート電極が接続されたTFTをオン状態とすることで各放射線検出素子から蓄積された電荷(例えば電子)が信号線に放出される。その際、同時に、バイアス線側にも電荷(例えば正孔)が放出される。 By the way, when a radiation image is captured by irradiating a radiation image capturing apparatus through a subject, and the charge accumulated in each radiation detection element is read, normally, an on-voltage is applied to a scanning line (also referred to as a gate line). Is applied to turn on the TFT whose gate electrode is connected to the scanning line, whereby charges (for example, electrons) accumulated from each radiation detection element are emitted to the signal line. At the same time, charges (for example, holes) are also emitted to the bias line side.
そして、このバイアス線側に放出された電荷は結線に集中して、比較的大きな電流が結線中を流れる。結線は抵抗値を有するため、結線中を比較的大きな電荷が流れることにより電圧の変動が生じる。そのため、放射線検出素子からの電荷の読み出し処理では、各放射線検出素子に蓄積された電荷を正確に読み出すために、各放射線検出素子に一定値のバイアス電圧が印加されていることが望ましいにもかかわらず、バイアス電圧に変動が生じる。 The electric charge released to the bias line side concentrates on the connection, and a relatively large current flows through the connection. Since the connection has a resistance value, a voltage fluctuation occurs when a relatively large charge flows through the connection. For this reason, in the process of reading charges from the radiation detection elements, it is desirable that a constant bias voltage is applied to each radiation detection element in order to accurately read out the charges accumulated in each radiation detection element. Instead, the bias voltage varies.
また、例えば特許文献5に各図に示されているように、バイアス線は走査線と交差するように構成されることも多く、その場合、バイアス線と走査線との間にいわゆる寄生容量が発生する。そして、放射線検出素子からの電荷の読み出し処理の際には、各走査線に印加される電圧がオン電圧とオフ電圧との間で切り替えられるため、それと交差するバイアス線や結線側にも、走査線に印加される電圧が切り替えられるたびに電圧変動が生じる。
Further, for example, as shown in each drawing of
さらに、後述するように、各TFTをオン状態とした状態で放射線が照射されると、各放射線検出素子内で電荷が発生し、バイアス線や結線に流出する電流値の変動を捉えることで放射線画像撮影装置自体が放射線の照射の開始を検出することができる。しかし、この場合には、各放射線検出素子から流出する電流が各バイアス線を介して結線に集中するため、結線中を大きな電流が流れる。そのため、この場合もやはり結線の抵抗値に起因するバイアス電圧の変動が生じる。 Further, as will be described later, when radiation is irradiated with each TFT turned on, electric charges are generated in each radiation detection element, and the radiation is detected by capturing fluctuations in the current value flowing out to the bias line and the connection. The image capturing device itself can detect the start of radiation irradiation. However, in this case, since the current flowing out from each radiation detection element concentrates on the connection via each bias line, a large current flows through the connection. Therefore, also in this case, the bias voltage varies due to the resistance value of the connection.
上記のように結線中を流れる電流を検出して放射線画像撮影装置自体で放射線の照射開始を検出する場合、放射線の照射の開始を検出すると、各放射線検出素子に電荷を蓄積させるために各TFTがオフ状態とされるが、その際、各放射線検出素子に印加されるバイアス電圧に変動を生じていると、その後、各放射線検出素子内で蓄積され読み出される電荷の値が正確な値ではなくなる虞れがある。 When the radiation imaging apparatus itself detects the start of radiation irradiation by detecting the current flowing through the connection as described above, each TFT detects the start of radiation irradiation and accumulates charges in each radiation detection element. In this case, if the bias voltage applied to each radiation detection element is fluctuated, the value of the electric charge accumulated and read out in each radiation detection element is not accurate. There is a fear.
上記のように放射線画像撮影装置がそれ自体で放射線の照射の開始を検出することができるように構成されていない場合も多く、放射線の照射開始時すなわち各放射線検出素子での電荷の蓄積開始時には上記のようなバイアス電圧の変動が生じない場合もある。しかし、少なくとも上記のように各放射線検出素子からの電荷の読み出し時に各放射線検出素子に印加されるバイアス電圧に変動が生じると、各放射線検出素子から蓄積された電荷すなわち画像データを読み出す際に、その値に変動が生じ、最終的に得られる画像データからなる撮影画像の画質が低下するといった問題を生じる。 As described above, the radiographic imaging device is often not configured to detect the start of radiation irradiation by itself, and at the start of radiation irradiation, that is, at the start of charge accumulation in each radiation detection element. In some cases, the bias voltage does not vary as described above. However, when fluctuations occur in the bias voltage applied to each radiation detection element at the time of reading charges from each radiation detection element as described above, at the time of reading the charge accumulated from each radiation detection element, that is, image data, The value fluctuates, and there arises a problem that the image quality of the captured image composed of the finally obtained image data is deteriorated.
本発明は、上記の点を鑑みてなされたものであり、各放射線検出素子に印加するバイアス電圧の変動の影響を低減することが可能な放射線画像撮影装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to provide a radiographic imaging apparatus capable of reducing the influence of fluctuations in bias voltage applied to each radiation detection element.
前記の問題を解決するために、本発明の放射線画像撮影装置は、
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、
前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、
前記各放射線検出素子に接続され、バイアス電源から前記各放射線検出素子にバイアス電圧を印加し、かつ、前記二次元状に配列された複数の放射線検出素子のうち前記放射線検出素子の各列ごとに1本ずつ配線された複数のバイアス線と、
を備える基板と、
前記複数のバイアス線を結束する結線と、
を備え、
前記複数のバイアス線は、フレキシブルプリント基板の各配線にそれぞれ接続され、前記各配線の前記バイアス線に接続された端部とは反対側の端部が、前記基板とは異なる別の基板上で、単位長さあたりの抵抗値が前記各バイアス線の単位長さあたりの抵抗値よりも小さい前記結線に結束されていることを特徴とする。
In order to solve the above-described problem, the radiographic imaging device of the present invention includes:
A plurality of scanning lines and a plurality of signal lines arranged to cross each other;
A plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally in each region partitioned by the plurality of scanning lines and a plurality of signal lines;
A bias voltage is applied to each radiation detection element from a bias power source connected to each radiation detection element, and among each of the plurality of radiation detection elements arranged in a two-dimensional manner, for each column of the radiation detection elements A plurality of bias lines wired one by one;
A substrate comprising:
A connection for binding the plurality of bias lines;
With
The plurality of bias lines are respectively connected to the respective wirings of the flexible printed circuit board, and the end of each wiring opposite to the end connected to the bias line is on a different substrate different from the substrate. The resistance value per unit length is bundled with the connection smaller than the resistance value per unit length of each bias line.
また、本発明の放射線画像撮影装置は、
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、
前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、
前記各放射線検出素子に接続され、バイアス電源から前記各放射線検出素子にバイアス電圧を印加し、かつ、前記二次元状に配列された複数の放射線検出素子のうち前記放射線検出素子の各列ごとに1本ずつ配線された複数のバイアス線と、
を備える基板と、
前記複数のバイアス線を結束する結線と、
を備え、
前記複数のバイアス線は、フレキシブルプリント基板の各配線にそれぞれ接続され、前記各配線が、前記フレキシブルプリント基板中で、単位長さあたりの抵抗値が前記各バイアス線の単位長さあたりの抵抗値よりも小さい前記結線に結束されていることを特徴とする。
Moreover, the radiographic imaging device of the present invention is
A plurality of scanning lines and a plurality of signal lines arranged to cross each other;
A plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally in each region partitioned by the plurality of scanning lines and a plurality of signal lines;
A bias voltage is applied to each radiation detection element from a bias power source connected to each radiation detection element, and among each of the plurality of radiation detection elements arranged in a two-dimensional manner, for each column of the radiation detection elements A plurality of bias lines wired one by one;
A substrate comprising:
A connection for binding the plurality of bias lines;
With
The plurality of bias lines are respectively connected to each wiring of a flexible printed circuit board, and each wiring is a resistance value per unit length of each bias line in the flexible printed circuit board. It is characterized by being bound to the smaller wire connection.
本発明のような方式の放射線画像撮影装置によれば、結線の単位長さあたりの抵抗値が各バイアス線の単位長さあたりの抵抗値よりも小さくなるように形成されているため、結線中で生じる電圧の変動に基づくバイアス電圧の変動をより小さいものとすることが可能となり、また、バイアス電圧に変動が生じても速やかに元の一定値に回復させることが可能となる。そのため、結線を介して各放射線検出素子に印加するバイアス電圧に変動が生じたとしても、その変動の影響を低減することが可能となり、最終的に得られる画像データからなる撮影画像の画質の低下を防止することが可能となる。 According to the radiographic imaging apparatus of the system as in the present invention, the resistance value per unit length of the connection is formed so as to be smaller than the resistance value per unit length of each bias line. Thus, it is possible to make the fluctuation of the bias voltage based on the fluctuation of the voltage generated in (1) smaller, and even if the bias voltage fluctuates, it can be promptly restored to the original constant value. Therefore, even if fluctuations occur in the bias voltage applied to each radiation detection element via the connection, the influence of the fluctuations can be reduced, and the image quality of the captured image consisting of the finally obtained image data is reduced. Can be prevented.
以下、本発明に係る放射線画像撮影装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。 Embodiments of a radiographic image capturing apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
なお、以下では、放射線画像撮影装置が、シンチレータ等を備え、照射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像撮影装置である場合について説明するが、本発明は、直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することが可能である。また、放射線画像撮影装置が可搬型である場合について説明するが、支持台等と一体的に形成された放射線画像撮影装置に対しても適用される。 In the following description, the radiographic imaging device is a so-called indirect radiographic imaging device that includes a scintillator or the like and converts the irradiated radiation into electromagnetic waves of other wavelengths such as visible light to obtain an electrical signal. As will be described, the present invention can also be applied to a direct radiographic imaging apparatus. Although the case where the radiographic image capturing apparatus is portable will be described, the present invention is also applicable to a radiographic image capturing apparatus formed integrally with a support base or the like.
図1は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置の外観斜視図であり、図2は、図1のA−A線に沿う断面図である。本実施形態に係る放射線画像撮影装置1は、図1や図2に示すように、筐体2内にシンチレータ3や基板4等が収納されて構成されている。
FIG. 1 is an external perspective view of the radiographic image capturing apparatus according to the present embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. As shown in FIGS. 1 and 2, the radiation image capturing apparatus 1 according to the present embodiment is configured by housing a
筐体2は、少なくとも放射線入射面Rが放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されている。なお、図1や図2では、筐体2がフレーム板2Aとバック板2Bとで形成された、いわゆる弁当箱型である場合が示されているが、筐体2を一体的に角筒状に形成した、いわゆるモノコック型とすることも可能である。
The
また、図1に示すように、筐体2の側面部分には、電源スイッチ36や、LED等で構成されたインジケータ37、図示しないバッテリ41(後述する図10参照)の交換等のために開閉可能とされた蓋部材38等が配置されている。また、本実施形態では、蓋部材38の側面部には、画像データ等を外部装置に無線で転送するための転送手段であるアンテナ装置39が埋め込まれている。
As shown in FIG. 1, the side surface of the
なお、画像データ等を外部装置に有線方式で転送するように構成することも可能であり、その場合は、例えば、転送手段として、ケーブル等を差し込むなどして接続するための接続端子等が放射線画像撮影装置1の側面部等に設けられる。また、アンテナ装置39の位置は蓋部材38の部分に限定されず、放射線画像撮影装置1の側面等の適宜の位置に設けられる。
It is also possible to transfer the image data or the like to an external device in a wired manner. In this case, for example, as a transfer means, a connection terminal or the like for connecting by inserting a cable or the like is used as radiation. It is provided on the side surface of the image capturing apparatus 1 or the like. The position of the
また、図2に示すように、筐体2の内部には、基板4の下方側に図示しない鉛の薄板等を介して基台31が配置され、基台31には、電子部品32等が配設されたPCB基板33や緩衝部材34等が取り付けられている。なお、本実施形態では、基板4やシンチレータ3の放射線入射面Rには、それらを保護するためのガラス基板35が配設されている。
As shown in FIG. 2, a
シンチレータ3は、基板4の後述する検出部Pに貼り合わされるようになっている。シンチレータ3は、例えば、蛍光体を主成分とし、放射線の入射を受けると300〜800nmの波長の電磁波、すなわち可視光を中心とした電磁波に変換して出力するものが用いられる。
The
基板4は、本実施形態では、ガラス基板で構成されており、図3に示すように、基板4のシンチレータ3に対向する側の面4a上には、複数の走査線5と複数の信号線6とが互いに交差するように配設されている。基板4の面4a上の複数の走査線5と複数の信号線6により区画された各小領域rには、放射線検出素子7がそれぞれ設けられている。
In the present embodiment, the
このように、走査線5と信号線6で区画された各小領域rに二次元状に配列された複数の放射線検出素子7が設けられた領域r全体、すなわち図3に一点鎖線で示される領域が検出部Pとされている。
Thus, the entire region r in which a plurality of
本実施形態では、放射線検出素子7としてフォトダイオードが用いられているが、この他にも例えばフォトトランジスタ等を用いることも可能である。各放射線検出素子7は、図3や図4の拡大図に示すように、スイッチ手段であるTFT8のソース電極8sに接続されている。また、TFT8のドレイン電極8dは信号線6に接続されている。
In the present embodiment, a photodiode is used as the
そして、TFT8は、後述する走査駆動手段15により、接続された走査線5にオン電圧が印加され、ゲート電極8gにオン電圧が印加されるとオン状態となり、放射線検出素子7内で発生し蓄積されている電荷を信号線6に放出させるようになっている。また、TFT8は、接続された走査線5にオフ電圧が印加され、ゲート電極8gにオフ電圧が印加されるとオフ状態となり、放射線検出素子7から信号線6への電荷の放出を停止して、放射線検出素子7内で発生した電荷を放射線検出素子7内に保持して蓄積させるようになっている。
The
ここで、本実施形態における放射線検出素子7やTFT8の構造について、図5に示す断面図を用いて簡単に説明する。図5は、図4におけるX−X線に沿う断面図である。
Here, the structure of the
基板4の面4a上に、AlやCr等からなるTFT8のゲート電極8gが走査線5と一体的に積層されて形成されており、ゲート電極8g上および面4a上に積層された窒化シリコン(SiNx)等からなるゲート絶縁層81上のゲート電極8gの上方部分に、水素化アモルファスシリコン(a−Si)等からなる半導体層82を介して、放射線検出素子7の第1電極74と接続されたソース電極8sと、信号線6と一体的に形成されるドレイン電極8dとが積層されて形成されている。
A
ソース電極8sとドレイン電極8dとは、窒化シリコン(SiNx)等からなる第1パッシベーション層83によって分割されており、さらに第1パッシベーション層83は両電極8s、8dを上側から被覆している。また、半導体層82とソース電極8sやドレイン電極8dとの間には、水素化アモルファスシリコンにVI族元素をドープしてn型に形成されたオーミックコンタクト層84a、84bがそれぞれ積層されている。以上のようにしてTFT8が形成されている。
The
また、放射線検出素子7の部分では、基板4の面4a上に前記ゲート絶縁層81と一体的に形成される絶縁層71の上にAlやCr等が積層されて補助電極72が形成されており、補助電極72上に前記第1パッシベーション層83と一体的に形成される絶縁層73を挟んでAlやCr、Mo等からなる第1電極74が積層されている。第1電極74は、第1パッシベーション層83に形成されたホールHを介してTFT8のソース電極8sに接続されている。
In the
第1電極74の上には、水素化アモルファスシリコンにVI族元素をドープしてn型に形成されたn層75、水素化アモルファスシリコンで形成された変換層であるi層76、水素化アモルファスシリコンにIII族元素をドープしてp型に形成されたp層77が下方から順に積層されて形成されている。
On the
放射線画像撮影装置1の筐体2の放射線入射面Rから放射線が入射し、シンチレータ3で可視光等の電磁波に変換され、変換された電磁波が図中上方から照射されると、電磁波は放射線検出素子7のi層76に到達して、i層76内で電子正孔対が発生する。放射線検出素子7は、このようにして、シンチレータ3から照射された電磁波を電荷に変換するようになっている。
When radiation enters from the radiation incident surface R of the
また、p層77の上には、ITO等の透明電極とされた第2電極78が積層されて形成されており、照射された電磁波がi層76等に到達するように構成されている。本実施形態では、以上のようにして放射線検出素子7が形成されている。なお、p層77、i層76、n層75の積層の順番は上下逆であってもよい。また、本実施形態では、放射線検出素子7として、上記のようにp層77、i層76、n層75の順に積層されて形成されたいわゆるpin型の放射線検出素子を用いる場合が説明されているが、これに限定されない。
On the
放射線検出素子7の第2電極78の上面には、第2電極78を介して放射線検出素子7にバイアス電圧を印加するアルミニウム等からなるバイアス線9が接続されている。なお、放射線検出素子7の第2電極78やバイアス線9、TFT8側に延出された第1電極74、TFT8の第1パッシベーション層83等、すなわち放射線検出素子7とTFT8の上面部分は、その上方側から窒化シリコン(SiNx)等からなる第2パッシベーション層79で被覆されている。
A
図3や図4に示すように、本実施形態では、それぞれ列状に配置された複数の放射線検出素子7に1本のバイアス線9が接続されており、各バイアス線9はそれぞれ信号線6に平行に配設されている。
As shown in FIGS. 3 and 4, in this embodiment, one
本実施形態では、図3に示すように、各走査線5や各信号線6、各バイアス線9は、それぞれ基板4の端縁部付近に設けられた入出力端子(パッドともいう)11に接続されている。各走査線5や各信号線6の各入出力端子11には、図6に示すように、IC12a等のチップが組み込まれたCOF(Chip On Film)12が異方性導電接着フィルム(Anisotropic Conductive Film)や異方性導電ペースト(Anisotropic Conductive Paste)等の異方性導電性接着材料13を介して接続されている。
In the present embodiment, as shown in FIG. 3, each
そして、COF12は、基板4の裏面4b側に引き回され、裏面4b側で前述したPCB基板33に接続されるようになっている。このようにして、放射線画像撮影装置1の基板4部分が形成されている。なお、図6では、電子部品32等の図示が省略されている。
The
また、本実施形態では、図7に示すように、各バイアス線9の各入出力端子11には、フレキシブルプリント基板(Flexible printed circuits。フレキシブル基板やフレキ等とも言われる。)Fの銅線等からなる各配線Faが、図6の場合と同様に、図7では図示しない異方性導電性接着材料等を介して接続されている。
In the present embodiment, as shown in FIG. 7, each input /
フレキシブルプリント基板Fは、図6に示したCOF12と同様に基板4の裏面4b側に引き回され、裏面4b側で前述したPCB基板33に接続されるようになっている。また、本実施形態では、図7に示すように、各バイアス線9に接続されたフレキシブルプリント基板Fの各配線Faの、バイアス線9が接続された端部とは反対側の端部が、PCB基板33上で、単位長さあたりの抵抗値が各バイアス線9の単位長さあたりの抵抗値よりも小さい銅線等からなる結線10に結束されている。
The flexible printed circuit board F is routed to the
その際、結線10の幅を広げたり厚さを分厚く形成する等して、結線10の単位長さあたりの抵抗値をさらに低下させるように構成することも可能である。また、図8に示すように、フレキシブルプリント基板F中で、各配線Faが銅線等からなる結線10に結束されるように構成することも可能である。
At that time, it is possible to further reduce the resistance value per unit length of the
なお、図7や図8では、全てのバイアス線9を1枚のフレキシブルプリント基板Fの各配線Faに接続する場合を示したが、各バイアス線9を複数枚のフレキシブルプリント基板Fに分けて各配線Faと接続するように構成することも可能である。
7 and FIG. 8, the case where all the
また、図9に示すように、バイアス線9を基板4の検出部Pの外側の位置で結線10に結束するように構成し、例えば基板上4の結線10の幅を広げることで結線10の単位長さあたりの抵抗値を各バイアス線9の単位長さあたりの抵抗値よりも小さくするように形成することが考えられる。
Further, as shown in FIG. 9, the
しかし、このように構成する場合、本実施形態の後述する効果と同様の効果を実現するためには結線10の幅を相当程度広げなければならなくなるが、基板4やそれを収納する筐体2のサイズには実際上の制限があり、結線10の幅を広げることで単位長さあたりの抵抗値を小さくする手法は事実上採用できない。
However, in the case of such a configuration, in order to realize the same effect as that described later of the present embodiment, the width of the
また、例えば基板4上の結線10の厚さを分厚く形成することで結線10の単位長さあたりの抵抗値を各バイアス線9の単位長さあたりの抵抗値よりも小さくするように形成することも考えられるが、この場合も、本実施形態の後述する効果と同様の効果を実現するためには結線10の厚さを相当程度分厚く形成しなければならない。
Further, for example, by forming the
しかし、そのように構成すると、図2に示した基板4とガラス基板35の間の所定の間隔より結線10の厚さの方が大きくなり、シンチレータ3と放射線検出素子7との間隔が、結線10に近い側では大きくなり、結線10から遠い側では小さくなってしまう。従って、結線10の厚さを分厚く形成することで単位長さあたりの抵抗値を小さくする手法も事実上採用できない。
However, with such a configuration, the thickness of the
なお、上記のように、PCB基板33上(図6参照)やフレキシブルプリント基板F中(図7参照)で結線10の幅を広げたり厚さを分厚く形成することに対しては特段の制限がないため、それらの変形は適宜行うことができる。
As described above, there are special restrictions on increasing the width of the
ここで、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の回路構成について説明する。図10は本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の等価回路を表すブロック図である。 Here, the circuit configuration of the radiographic image capturing apparatus 1 according to the present embodiment will be described. FIG. 10 is a block diagram showing an equivalent circuit of the radiation image capturing apparatus 1 according to this embodiment.
前述したように、基板4の検出部Pの各放射線検出素子7は、その第2電極78にそれぞれバイアス線9が接続されており、各バイアス線9はフレキシブルプリント基板Fの銅線等からなる各配線Faに接続され、本実施形態では、PCB基板33上で銅線等からなる結線10に結束されている。結線10はバイアス電源14に接続されている。
As described above, each
バイアス電源14は、結線10および各バイアス線9を介して各放射線検出素子7の第2電極78にそれぞれバイアス電圧を印加するようになっている。また、バイアス電源14は、後述する制御手段22に接続されており、制御手段22は、バイアス電源14から各放射線検出素子7に印加するバイアス電圧を制御するようになっている。
The
また、本実施形態では、バイアス線9の結線10に、結線10中を流れる電流の電流量を検出する電流検出手段43が設けられている。
In the present embodiment, the current detection means 43 that detects the amount of current flowing through the
前述したように、放射線画像撮影の際、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されると、各放射線検出素子7のi層76(図5参照)内で電子正孔対が発生する。その際、例えばTFT8をオン状態としておくと、各放射線検出素子7内で発生した電子正孔対のうち、一方の電荷(本実施形態では電子)がTFT8を介して信号線6に流出し、他方の電荷(本実施形態では正孔)がバイアス線9に流れ出して結線10に電流が流れる。
As described above, when the radiation image capturing apparatus 1 is irradiated with radiation at the time of capturing a radiation image, electron-hole pairs are generated in the i layer 76 (see FIG. 5) of each
後述する制御手段22は、電流検出手段43で検出された結線10中を流れる電流の値を監視するようになっており、図11に示すように、放射線の照射開始により結線10中を流れる電流Iが増加するが、その電流値Iが所定値Ithになった時刻T1を放射線の照射が開始された時刻として検出するようになっている。なお、この他にも、例えば電流値Iの時間微分値が所定の閾値になった時刻を放射線の照射開始時刻として検出するように構成することも可能である。
The control means 22, which will be described later, monitors the value of the current flowing through the
なお、このままTFT8をオン状態としておくと、放射線の照射によって発生した電荷(画像データ)が各放射線検出素子7から流出してしまう。そのため、制御手段22は、放射線の照射開始を検出すると、すぐに各TFT8をオフ状態として各放射線検出素子7に電荷を蓄積させるようになっている。そのため、図11に示すように、各バイアス線9を介して結線10に流れる電流値は次第に減少して結線10中をほとんど流れなくなる。なお、本発明においては、電流検出手段43は必ずしも設けられなくてもよい。
If the
図10に示すように、本実施形態では、バイアス線9が放射線検出素子7の第2電極78側すなわちp層77側(図5参照)に接続されている。このことからも分かるように、放射線検出素子7の第2電極78には、バイアス電源14から、第1電極74側にかかる電圧以下のバイアス電圧(すなわちいわゆる逆バイアス電圧)がバイアス線9を介して印加されるようになっている。
As shown in FIG. 10, in the present embodiment, the
各放射線検出素子7の第1電極74はTFT8のソース電極8s(図10中ではSと表記されている。)に接続されており、各TFT8のゲート電極8g(図10中ではGと表記されている。)は、後述する走査駆動手段15のゲートドライバ15bから延びる走査線5の各ラインL1〜Lxにそれぞれ接続されている。また、各TFT8のドレイン電極8d(図10中ではDと表記されている。)は各信号線6にそれぞれ接続されている。
The
走査駆動手段15は、本実施形態では、ゲートドライバ15bにオン電圧とオフ電圧を供給する電源回路15aと、走査線5の各ラインL1〜Lxに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧の間で切り替えて各TFT8のオン状態とオフ状態とを切り替えるゲートドライバ15bとを備えている。
In the present embodiment, the
また、各信号線6は、読み出しIC16内に形成された各読み出し回路17にそれぞれ接続されている。読み出し回路17は、増幅回路18と、相関二重サンプリング(Correlated Double Sampling。図中ではCDSと表記されている。)回路19と、アナログマルチプレクサ21と、A/D変換器20とで構成されている。
Each
そして、例えば、放射線画像撮影で被写体を介して放射線画像撮影装置1に放射線が照射され、シンチレータ3で放射線が他の波長の電磁波に変換されて、その直下の放射線検出素子7に照射される。そして、放射線検出素子7で照射された放射線の線量(電磁波の光量)に応じて電荷(電気信号)が発生する。
For example, in radiographic imaging, radiation is applied to the radiographic imaging device 1 through the subject, and the
各放射線検出素子7からの電荷の読み出し処理においては、走査駆動手段15のゲートドライバ15bからオン電圧が印加される走査線5の各ラインL1〜Lxが順次切り替えられながら、各走査線5を介してゲート電極8gにオン電圧が印加されたTFT8がオン状態となると、放射線検出素子7から信号線6に電荷が放出される。
In the process of reading charges from each
そして、放射線検出素子7から放出された電荷量に応じて増幅回路18から電圧値が出力され、それを相関二重サンプリング回路19で相関二重サンプリングしてアナログ値の画像データがマルチプレクサ21に出力される。マルチプレクサ21から順次出力された画像データは、A/D変換器20で順次デジタル値の画像データに変換され、記憶手段40に出力されて順次保存されるようになっている。
Then, a voltage value is output from the
制御手段22は、CPU(Central Processing Unit)やROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピュータや、FPGA(Field Programmable Gate Array)等により構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。 The control means 22 includes a CPU (Central Processing Unit), ROM (Read Only Memory), RAM (Random Access Memory), a computer having an input / output interface connected to the bus, an FPGA (Field Programmable Gate Array), and the like. ing. It may be configured by a dedicated control circuit.
制御手段22は、放射線画像撮影装置1の走査駆動手段15や読み出し回路17等の各機能部を制御して、各放射線検出素子7のリセット処理や各放射線検出素子7内での電荷の蓄積、それらからの電荷の読み出し等の種々の処理を実行するようになっている。
The
また、制御手段22には、DRAM(Dynamic RAM)等で構成される記憶手段40や、放射線画像撮影装置1の各機能部に電力を供給するバッテリ41が接続されている。また、バッテリ41には、クレードル等の図示しない充電装置からバッテリ41に電力を供給してバッテリ41を充電する際の接続端子42が取り付けられている。さらに、制御手段22には、前述したアンテナ装置39が接続されており、外部装置との間で画像データや各種信号等の種々の情報を送受信できるようになっている。
The control means 22 is connected to a storage means 40 constituted by a DRAM (Dynamic RAM) or the like, and a
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の作用について説明する。 Next, the operation of the radiation image capturing apparatus 1 according to this embodiment will be described.
従来の放射線画像撮影装置では、前述した特許文献5に記載された放射線画像撮影装置のように、バイアス線9と結線(特許文献5ではVs接続配線)10を例えばアルミニウム等の同じ材料で同一の製膜プロセスで基板4上に形成していた。また、その際、結線10の単位長さあたりの抵抗値を小さくするために、結線10の幅が広げられたり、厚さが分厚くなるように形成されることもあった。
In the conventional radiographic image capturing apparatus, as in the radiographic image capturing apparatus described in
しかし、前述したように、結線10の幅を広げたり、厚さを分厚くすると、基板4等のサイズが大きくなったり基板4とガラス基板35との間隔が不均一になったりする弊害があり、結線10の幅や厚さの拡大には限界があった。そのため、結線10の幅や厚さを拡大させて結線10の単位長さあたりの抵抗値を小さくするとしても、抵抗値を多少小さくすることができる程度であった。
However, as described above, when the width of the
そのため、従来の放射線画像撮影装置に、例えば本実施形態のような電流検出手段43を設けた場合、図11に示したように、放射線の照射開始時には、各放射線検出素子7から流出した電荷(正孔)が各バイアス線9を介して結線10に集中して流れ、結線10中を大きな電流が流れる。
Therefore, when the current radiation imaging apparatus is provided with the current detection means 43 as in the present embodiment, for example, as shown in FIG. Holes) concentrate on the
そして、このように結線10中を大きな電流が流れると、結線10がある大きさの単位長さあたりの抵抗値を有するため、前述したように、結線10で電圧の変動が生じ、各放射線検出素子7に一定値が印加されるべきバイアス電圧の値に変動が生じてしまう。上記のように、電流検出手段43が検出した電流値が上昇するとすぐに各TFT8がオフ状態とされて各放射線検出素子7内での電荷の蓄積が開始されるが、バイアス電圧が変動している最中に各TFT8がオフ状態とされるため、その後、各放射線検出素子7内に蓄積され読み出される電荷の値が正確な値ではなくなる虞れがあった。
When a large current flows in the
このように、電流検出手段43による放射線の照射開始の検出時には、バイアス電圧が変動している最中に各TFT8がオフ状態とされるため、オフ状態とされる時点での結線10での電圧の変動の大きさが、各放射線検出素子7内に蓄積される電荷の値に影響を与える。
Thus, when the start of radiation irradiation is detected by the current detection means 43, each
また、放射線画像撮影後の各放射線検出素子7からの電荷の読み出し処理においては、各放射線検出素子7内に蓄積された電荷(画像データ)は、走査駆動手段15のゲートドライバ15bからオン電圧が印加される走査線5の各ラインL1〜Lxが順次切り替えられながら、走査線5の各ラインL1〜Lxにゲート電極8gが接続されたTFT8が順次オン状態となり、各放射線検出素子7から電荷が読み出される。
Further, in the process of reading charges from each
その際、オン電圧が印加された走査線5にTFT8を介して接続されている各放射線検出素子7は数千個に及び、各放射線検出素子7から各信号線6に電荷(電子)が読み出されると同時に、各バイアス線9に他方の電荷(正孔)が流出する。そして、それらの電荷(正孔)が結線10に集中して流れるため、この場合にも結線10中を比較的大きな電流が流れる。
At that time, the
そして、結線10中を比較的大きな電流が流れると、上記と同様に結線10で電圧の変動が生じ、各放射線検出素子7からの電荷(電子)の読み出し中にバイアス電圧の値が変動する。そのため、各放射線検出素子7から読み出される画像データの値が本来の値ではなくなってしまう虞れがあった。
When a relatively large current flows through the
各放射線検出素子7からの電荷の読み出しの際には、前述したように、読み出し開始時に増幅回路18から出力される電圧値と、各放射線検出素子7から電荷が読み出された時点で増幅回路18から出力される電圧値とが相関二重サンプリング回路19でサンプリングされ、その差分が画像データとして出力される。
When reading out charges from each
そのため、各放射線検出素子7からの電荷の読み出し時においては、読み出し時に結線10中を電流が流れることによる電圧の変動の大きさ自体よりも、結線10中を電流が流れることにより変動したバイアス電圧が相関二重サンプリング回路19における2回目のサンプリング時点で元のバイアス電圧に戻っているか否かが、各放射線検出素子7から読み出される電荷の値に影響を与える。
Therefore, at the time of reading out charges from each
そして、従来の放射線画像撮影装置では、結線10の単位長さあたりの抵抗値が大きいため、結線10中を流れる電流値が大きくなり、バイアス電圧の値が大きく変動するため、バイアス電圧が、相関二重サンプリング回路19における2回目のサンプリング時点で元のバイアス電圧に戻らない場合が多かった。そのため、各放射線検出素子7から読み出される電荷の値に影響を与えていた。
In the conventional radiographic imaging apparatus, since the resistance value per unit length of the
それに対し、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1では、各バイアス線9をフレキシブルプリント基板Fの各配線Faにそれぞれ接続し、各配線Faの反対側の端部をPCB基板33上やフレキシブルプリント基板F中で銅線等からなる結線10に結束されている。そして、結線10は銅線等で形成されており、その単位長さあたりの抵抗値が、アルミニウムで形成された各バイアス線9の単位長さあたりの抵抗値よりも小さくなるように形成されている。
On the other hand, in the radiographic image capturing apparatus 1 according to the present embodiment, each
また、前述したように、結線10を、PCB基板33上(図6参照)やフレキシブルプリント基板F中(図7参照)で幅を広げたり厚さを分厚く形成して、単位長さあたりの抵抗値をさらに小さくすることもできる。
Further, as described above, the
そのため、放射線画像撮影の際の放射線の照射開始時や各放射線検出素子7からの電荷(画像データ)の読み出し時等に、上記のように結線10中を大きな電流が流れても、結線10の単位長さあたりの抵抗値が小さいため、結線10で生じる電圧の変動を微小なものとなる。また、このように結線10で生じる電圧の変動が微小であるため、結線10で生じる電圧の変動に基づいてバイアス電圧の変動が生じても、バイアス電圧が速やかに元の所定の一定値に回復する。
For this reason, even when a large current flows through the
そのため、上記のように放射線の照射開始時や画像データの読み出し時等に各放射線検出素子7に蓄積されたり各放射線検出素子7から読み出される電荷に及ぼされる影響が低減される。
For this reason, as described above, the influence exerted on the charge accumulated in each
以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1によれば、結線10の単位長さあたりの抵抗値が、各バイアス線9の単位長さあたりの抵抗値よりも小さくなるように形成されているため、結線10中で生じる電圧の変動に基づくバイアス電圧の変動をより小さいものとすることが可能となり、また、バイアス電圧に変動が生じても速やかに元の一定値に回復させることが可能となる。
As described above, according to the radiographic imaging apparatus 1 according to the present embodiment, the resistance value per unit length of the
そのため、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1では、結線10を介して各放射線検出素子7に印加するバイアス電圧に変動が生じたとしても、その変動の影響を低減することが可能となり、最終的に得られる画像データからなる撮影画像の画質の低下を防止することが可能となる。
Therefore, in the radiographic image capturing apparatus 1 according to the present embodiment, even if a variation occurs in the bias voltage applied to each
また、その際、前述したように、PCB基板33上やフレキシブルプリント基板F中で結線10の幅を広げたり厚さを分厚く形成する等して結線10の単位長さあたりの抵抗値をより低下させるように構成すれば、結線10中で生じる電圧の変動に基づくバイアス電圧の変動をさらに小さいものとすることが可能となり、また、バイアス電圧に変動が生じても速やかに元の一定値に回復するように構成することが可能となる。
At that time, as described above, the resistance value per unit length of the
そのため、結線10を介して各放射線検出素子7に印加するバイアス電圧の変動の影響を格段に低減することが可能となり、最終的に得られる画像データからなる撮影画像の画質の低下をより有効に防止することが可能となる。
Therefore, it is possible to significantly reduce the influence of fluctuations in the bias voltage applied to each
なお、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1や特許文献4、5に記載の放射線画像撮影装置では、図4等に示したように、バイアス線9が放射線検出素子7の第2電極78の上方を横切るように配線されているが、上記のようにバイアス線9がアルミニウム等の不透明な材料で形成されるため、上記のように配線されると、バイアス線9の分だけ放射線検出素子7の開口率が低下する。
In the radiographic image capturing apparatus 1 according to the present embodiment and the radiographic image capturing apparatuses described in
そして、放射線検出素子7の開口率が低下すると、シンチレータ3から放射線検出素子7に同じ光量の電磁波が照射されても放射線検出素子で得られる画像データの値が小さくなり、S/N比が悪化する場合がある。
And if the aperture ratio of the
そこで、例えば図12に示すように、バイアス線9を絶縁層を介して走査線5や信号線6の上方(すなわちシンチレータ3側)にそれらと平行に設けるように構成することが可能である。
Therefore, for example, as shown in FIG. 12, the
このように構成すれば、バイアス線9が少なくとも放射線検出素子7の上方を横切らないようにすることができるため、放射線検出素子7の開口率を向上させ、放射線画像のS/N比を向上させることが可能となる。
With this configuration, it is possible to prevent the
なお、この場合、バイアス線9を信号線6の上方に設けると、バイアス線9に印加されるバイアス電圧の変動やゆらぎが絶縁層を介して信号線6に伝わり、信号線6を介して読み出される画像データに悪影響を及ぼすことが考えられるため、図12に示したように、バイアス線9は走査線5の上方に設けることが好ましい。
In this case, if the
なお、その他、本発明が本実施の形態に限定されず、適宜変更可能であることはいうまでもない。 In addition, it goes without saying that the present invention is not limited to this embodiment and can be changed as appropriate.
1 放射線画像撮影装置
4 基板
5 走査線
6 信号線
7 放射線検出素子
9 バイアス線
10 結線
14 バイアス電源
33 PCB基板(別の基板)
F フレキシブルプリント基板
Fa 配線
r 領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
F Flexible printed circuit board Fa Wiring r area
Claims (4)
前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、
前記各放射線検出素子に接続され、バイアス電源から前記各放射線検出素子にバイアス電圧を印加し、かつ、前記二次元状に配列された複数の放射線検出素子のうち前記放射線検出素子の各列ごとに1本ずつ配線された複数のバイアス線と、
を備える基板と、
前記複数のバイアス線を結束する結線と、
を備え、
前記複数のバイアス線は、フレキシブルプリント基板の各配線にそれぞれ接続され、前記各配線の前記バイアス線に接続された端部とは反対側の端部が、前記基板とは異なる別の基板上で、単位長さあたりの抵抗値が前記各バイアス線の単位長さあたりの抵抗値よりも小さい前記結線に結束されていることを特徴とする放射線画像撮影装置。 A plurality of scanning lines and a plurality of signal lines arranged to cross each other;
A plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally in each region partitioned by the plurality of scanning lines and a plurality of signal lines;
A bias voltage is applied to each radiation detection element from a bias power source connected to each radiation detection element, and among each of the plurality of radiation detection elements arranged in a two-dimensional manner, for each column of the radiation detection elements A plurality of bias lines wired one by one;
A substrate comprising:
A connection for binding the plurality of bias lines;
With
The plurality of bias lines are respectively connected to the respective wirings of the flexible printed circuit board, and the end of each wiring opposite to the end connected to the bias line is on a different substrate different from the substrate. The radiation image capturing apparatus, wherein a resistance value per unit length is bound to the connection smaller than a resistance value per unit length of each bias line.
前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、
前記各放射線検出素子に接続され、バイアス電源から前記各放射線検出素子にバイアス電圧を印加し、かつ、前記二次元状に配列された複数の放射線検出素子のうち前記放射線検出素子の各列ごとに1本ずつ配線された複数のバイアス線と、
を備える基板と、
前記複数のバイアス線を結束する結線と、
を備え、
前記複数のバイアス線は、フレキシブルプリント基板の各配線にそれぞれ接続され、前記各配線が、前記フレキシブルプリント基板中で、単位長さあたりの抵抗値が前記各バイアス線の単位長さあたりの抵抗値よりも小さい前記結線に結束されていることを特徴とする放射線画像撮影装置。 A plurality of scanning lines and a plurality of signal lines arranged to cross each other;
A plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally in each region partitioned by the plurality of scanning lines and a plurality of signal lines;
A bias voltage is applied to each radiation detection element from a bias power source connected to each radiation detection element, and among each of the plurality of radiation detection elements arranged in a two-dimensional manner, for each column of the radiation detection elements A plurality of bias lines wired one by one;
A substrate comprising:
A connection for binding the plurality of bias lines;
With
The plurality of bias lines are respectively connected to each wiring of a flexible printed circuit board, and each wiring is a resistance value per unit length of each bias line in the flexible printed circuit board. A radiographic image capturing apparatus, wherein the radiographic image capturing apparatus is bound to the smaller wire connection.
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