JP2010129136A - データ記憶装置、リード回路及びデータ記憶装置の製造方法。 - Google Patents

Abstract

【課題】ディスク媒体のサーボ信号の等化のためのサーボパラメータを調整する方法に関し、短時間で精度の高いパラメータ調整を行う。
【解決手段】記憶媒体（１９）にサーボ情報（３０）とサーボパラメータ調整用信号（３２）を記録し、ヘッド（２５）により媒体（１９）からリードされたサーボパラメータ調整用信号（３２）のエラーレートで、等化回路（５）のサーボパラメータを調整する。本来のサーボ領域（３０）を使って、サーボにオントラック、シーク動作をさせて、パラメータ調整する。パラメータ調整領域で変化させているパラメータが、本来のサーボ動作に影響せず、安定した状態でパラメータ調整をおこなうことができる。
【選択図】図３

Description

本発明は、ヘッドにより記憶媒体からデータを読み出すデータ記憶装置、リード回路及びデータ記憶装置の製造方法に関し、特に、ヘッドから出力されるアナログ信号の等化・復調処理を行うデータ記憶装置、リード回路及びデータ記憶装置の製造方法に関する。

近年のデータ電子化処理の要求により、データを記憶する磁気ディスク装置や光ディスク装置の媒体記憶装置に、大容量化が要求されている。このため、ディスク媒体は、益々トラック密度や記録密度が高くなっている。

ＨＤＤ（Hard Disk Drive)等の磁気記憶装置では、ヘッドの位置制御情報を示すサーボ情報が、媒体に記録されている。図１６に示すように、１トラックにおいて、データ領域２００間に、サーボ情報２０２を埋め込むEmbedded方式が主流である。

ヘッドにより媒体から読み出された信号から、サーボゲート信号ＳＧで、サーボ信号２０２は抽出される。サーボ信号２０２は、ＲＤＣ（リードチャネル回路：Read Channel Combo）により、信号等化処理され、サーボ制御に必要なサーボデータとして、出力される。

このＲＤＣでは、サーボ信号を正しく処理するために、信号等化を最適化する必要がある。この最適化のため、ＲＤＣ内部にあるフィルタ（ＣＴＦ（Continuous Time Filter）、ＦＩＲ（Finite Impulse Response)等)のパラメータ値や、ゲイン調整するＶＧＡ(Variable Gain Amplifier)のパラメータ値や、その他の種々の回路パラメータ値を調整する。通常、サーボ信号に対するこれらのパラメータは、設計時に決定したパラメータを、全ＨＤＤ製品に適用するか、或いは、製造時、ＨＤＤ製品毎に、最適化したパラメータが適用される。

このようなパラメータの自動調整方法として、データ領域のパラメータを最適化する方法が、提案されている（例えば、特許文献１参照）。
特開２００４−１４０９０号公報

通常、データ領域は、データビット数が多い（例えば、４０００ビット／セクタ 以上）ため、データエラーレートを指標に、パラメータ調整や品質のモニタを比較的容易におこうことができる。しかしながら、サーボ領域は、データ領域に比べ、領域が小さく、サーボビット数が少ないため、復調したサーボビットのサーボエラーレート（例えば、サーボ情報の始まりを示すServo Sync Mark(SSM)の検出率等）を指標に、パラメータ調整を行うためには、多大な時間を必要とする。

そのため、サーボ信号に対するパラメータ調整は、設計、開発期間や製造工程時間との兼ね合いとなってしまい、十分な調整ができない問題がある。特に、近年の記録密度の向上に伴い、信号間干渉が大きくなり、且つ信号帯域が広くなっているおり、ディスクの回転速度も高速化しているため、十分な調整が、困難である。

また、サーボ信号に対するパラメータ調整時に、調整値によっては、サーボエラーが多発して、サーボオントラックができなくなり、サーボエラーレートの測定自体が不可能になってしまう問題もある。

更に、サーボ情報のグレイコード情報は、位置情報を含むため、通常、１のサーボフレームは、半径方向に隣接する他のサーボフレームのグレイコードと1ビット異なる、構成を採用している。そのため、図１７及び図１８に示すように、媒体の半径方向に、ヘッド２１０が、いくつものサーボフレームを横切るシーク動作中は、いくつものグレイコードパターンＧＣをリードすることになる。このため、パターン期待値が一定でないため、グレイコード領域でのシークエラーレート測定は困難である。

例えば、図１７のように、ヘッド２１０が、サーボ情報のグレイコードを横切るシーク動作では、ヘッド２１０からのサーボ信号により、グレイコードは、「００１０」と読める。一方、図１８のように、ヘッド２１０が、サーボ情報のグレイコードを横切るシーク動作では、ヘッド２１０からのサーボ信号により、グレイコードは、「００１１」と読める。

本来、グレイコード情報は、おおまかな位置情報を得ることが目的なので、シーク中は、図１７のように、「００１０」、または、図１８のように、「００１１」のどちらが読めても、ＨＤＤとしては、正しい動作となる。

しかし、この様な条件下では、正しい(期待する)パターンが一意でないため、グレイコードのビットの誤り率を算出することが難しい。そのため、従来は、先頭位置マーク（ＳＳＭ）等の検出率のみを用いて、シークエラーレートを測定しなければならず、測定に多大な時間を要している。

従って、本発明の目的は、アナログのサーボ信号を等化処理するための回路パラメータの調整を精度良く行うためのデータ記憶装置、リード回路及びデータ記憶装置の製造方法を提供することにある。

又、本発明の他の目的は、サーボ信号を等化処理するための回路パラメータの調整を、短時間で行うためのデータ記憶装置、リード回路及びデータ記憶装置の製造方法を提供することにある。

この目的の達成のため、データ記憶装置の製造方法は、記憶媒体のトラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体の前記サーボ信号を、ヘッドにより読み取るステップと、前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号を等化・復調回路で、復調処理し、前記記憶媒体のサーボ信号を用いて、前記ヘッドを前記記憶媒体にオントラック又はシークするステップと、前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを設定し、前記ヘッドにより、前記サーボパラメータ調整用信号を読み取り、前記読み取ったサーボパラメータ調整用信号を等化・復調回路で、復調処理し、復調処理結果からエラーを測定するステップと、前記サーボパラメータを変更して、前記測定ステップを繰り返すステップと、複数回の前記測定結果から、前記サーボパラメータの最適値を決定するステップとを有する。

又、データ記憶装置は、記憶媒体のトラックの信号を読み取るヘッドと、前記ヘッドを前記記憶媒体のトラック横断方向に移動するアクチュエータと、前記ヘッドにより読み取った信号を等化、復調する等化・復調回路と、前記トラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体から前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号の復調処理結果を用いて、前記ヘッドを前記記憶媒体にオントラック又はシーク制御するコントローラと、前記ヘッドにより読み取られた前記サーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定する測定回路とを有し、前記制御回路は、前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを変更しながら、前記ヘッドにより、前記サーボパラメータ調整用信号を読み取らせ、前記測定回路で、読み取ったサーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定させ、複数回の前記測定結果から、前記サーボパラメータの最適値を決定する。

更に、リード回路は、記憶媒体のトラックの信号を読み取るヘッドにより読み取った信号を等化、復調する等化・復調回路と、前記トラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体から前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号の復調処理結果から位置情報を復調する回路と、前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを変更しながら、前記ヘッドにより読み取られた前記サーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定する測定回路とを有する。

記憶媒体にサーボ情報とサーボパラメータ調整用信号を記録し、ヘッドにより媒体からリードされたサーボパラメータ調整用信号でサーボパラメータを調整するため、短時間で精度の高いパラメータ調整ができる。また、本来のサーボ領域を使って、サーボにオントラック、シーク動作をさせているため、パラメータ調整領域で変化させているパラメータが、本来のサーボ動作に影響せず、安定した状態でパラメータ調整をおこなうことができる。

以下、本発明の実施の形態を、データ記憶装置、リード回路の第１の実施の形態、サーボパラメータの調整処理、リード回路の第２の実施の形態、他の実施の形態の順で説明する。

（データ記憶装置）
図１は、本発明の一実施の形態のデータ記憶装置の構成図、図２は、図１のディスクとサーボ情報との説明図、図３は、図１の構成のディスクのサーボ調整情報と調整処理の説明図、図４は、図１の構成のサーボパラメータ調整処理フロー図である。図１は、データ記憶装置として、磁気ディスクにデータをリード／ライトする磁気ディスク装置（ＨＤＤ）を例に示す。

図１に示すように、磁気ディスク装置１０は、パーソナルコンピュータに内蔵され、パーソナルコンピュータのホスト（図示せず）と、ＳＡＳ、ＡＴＡ（ＡＴ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ）規格等のインターフェースのケーブル９で接続される。

磁気ディスク装置１０は、磁気ディスク１９と、磁気ディスク１９を回転するスピンドルモータ２０と、磁気ディスク１９にデータをリード／ライトする磁気ヘッド２５と、磁気ヘッド２５を磁気ディスク１９の半径方向（トラック横断方向）に移動するアクチュエータ（ＶＣＭ）２２とを備える。

又、制御部として、ＨＤＣ（Hard Disk Controller）２６と、データバッファ１４と、ＭＰＵ１１と、メモリ（ＲＡＭ）１３と、リードチャネル回路（ＲＤＣ）２４と、ヘッドＩＣ１８と、スピンドルモータドライバ２１と、ＶＣＭドライバ２３と、ショックセンサー（振動センサ）２８と、これらを接続するバス１７とを備える。

ＨＤＣ２６は、ホストからタスクをセットするタスクファイル１２Ａを有するインターフェース制御回路１２と、データバッファ１４を制御するデータバッファ制御回路１５と、記録データのフォーマット変換し、リードデータの逆フォーマット変換を行うフォーマット変換回路１６とを有する。リードチャネル回路２４は、磁気ヘッド２５のリード信号を等化し、且つデータの復調を行うとともに、リードゲート、ライトゲート、リードクロック、ライトクロックの生成を行う。

データバッファ１４は、キャッシュメモリの役目を果たし、ホストからのライトデータをリングバッファ１４−１に保存し、磁気ディスク１９からのリードデータを保存する。そして、ライトバック時には、データバッファ１４のライトデータを、磁気ディスクにライトし、リード時には、データバッファ１４のリードデータを、ホストへ転送する。

ヘッドＩＣ１８は、ライト時は、ライトデータに従い、磁気ヘッド２５に記録電流を流し、リード時は、磁気ヘッド２５からの読取信号を増幅して、リードチャネル回路１６に出力する。スピンドルドライバ２１は、スピンドルモータ２０を回転駆動する。ＶＣＭドライバ２３は、磁気ヘッド２５を移動するＶＣＭ２２を駆動する。

ＭＰＵ（Micro Processor）１１は、磁気ヘッド２５の位置検出及び位置制御、リード／ライト制御、リトライ制御を行う。メモリ（ＲＯＭ／ＲＡＭ）１３は、ＭＰＵ１１の処理に必要なデータを格納する。ショックセンサー２８は、振動を検出し、検出信号を、バス１７を介し、ＭＰＵ１１に出力する。

ＭＰＵ１１は、ヘッドＩＣ１８、リードチャネル回路２４からの磁気ディスク１９のサーボ信号から位置を検出し、ＶＣＭ２２をシーク、オントラック制御するとともに、検出位置からオフトラック検出する。ライト時に、オフトラック検出すると、ライトエラーと判定し、そのセクターのライトゲート発生を停止する。

図２に示すように、磁気ディスク１９は、外周から内周に渡り、各トラックにサーボ信号（位置信号）３０が、円周方向に、等間隔に配置される。各トラックは、複数のセクタで構成され、図２の実線は、サーボ信号３０の記録位置を示す。

図３に示すように、位置制御用サーボ信号３０のフォーマットは、例えば、位相を引き込むためのPreamble領域３０−１、データの始まりを示す先頭位置マークのServo Sync Mark(SSM)３０−２、位置情報を表すGray Code(GC)３０−３、オントラック調整するためのPosition Error Signal(PES)３０−４から構成される。

この位置制御用サーボ信号３０を、磁気ヘッド２５の出力から抽出するためのゲート信号として、ＳＧ(サーボゲート)信号が生成される。ＳＧ信号は、位置制御用サーボ信号３０のPreamble３０−１の途中でアサートされ、サーボデータの終端でデアサートされる。

本実施の形態では、この位置制御用サーボ信号３０の間のデータ領域に、サーボパターン調整信号３２を記録する。このサーボパターン調整信号（以下、ＳＰＴＡという）３２は、信号振幅や周波数、位相を引き込むためのPreamble領域３２−１と、サーボパラメータ調整用データ（ＳＰＴ＿Ｄ)３２−３と、ＳＰＴ＿Ｄ３２−３の始まりを示す先頭位置マーク(SPT_SSM)３２−２とで構成される。

このＳＰＴＡ３２を、磁気ヘッド２５の出力から抽出するためのゲート信号として、サーボ調整ゲート（ＳＴＧ）信号を生成する。ＳＴＧ信号のゲートタイミングは、ＳＧ信号と同様に、Preamble３２−１の途中でアサートされ、ＳＰＴ＿Ｄの終端でデアサートされる。

このＳＴＧ信号により、ＲＤＣ２４内部の各等化回路（後述する）に、ＳＰＴＡ用（サーボパラメータ調整用）のパラメータが、後述するレジスタから、設定(反映)される。図３では、ＳＴＧ信号のアサート区間で、ＲＤＣ２４内部の各等化回路に、SPTA用のパラメータが設定される。

このパラメータが、ＲＤＣ２４内部の各等化回路に設定され、磁気ヘッド２５からのＳＰＴＡ信号が等化され、後段の検出器やデコーダにおいて、「０」、「１」のデジタル値として出力される。出力されたデジタル値は、ＲＤＣ内部、又は上位のＨＤＣ(Hard Disk Controller)において、エラー数がカウントされ、最終的に、ファーム等でエラーレートとして評価され、その時点のＳＰＴＡパラメータの良し悪しが判定され、最適値に調整される。

このＳＰＴＡ３２のPreamble３２−１は、位置制御用サーボ領域３０で使用しているフォーマットと同じものが好ましく、通常は、２Ｔ周期のパターンを使用する。ＳＰＴ＿ＳＳＭ３２−２は、位置制御用サーボ３０で使用しているＳＳＭパターン３０−２と異なり、ＳＳＭパターン３０−２とは、ハミング距離が大きいものを使用することが望ましい。

その理由は、ＨＤＤを起動して、最初に、位置制御用サーボ３０を使用して、オントラックする時は、位置制御用サーボ３０の位置を認識できないため、通常より長い、サーボゲートＳＧをアサートし、位置制御用サーボ３０のＳＳＭ３０−２を見つけて、位置を確定できた後、通常のサーボゲートＳＧをアサートして、オントラック動作をする。これを、Ｓｔａｒｔ ｕｐ ｍｏｄｅという。

ここで、もし、調整用のＳＰＴ＿ＳＳＭ３２−２が、位置制御用サーボ３０で使用しているＳＳＭパターン３０−２と同じ場合、ＳＰＴＡ３２のＳＳＭ３２−２を、ＳＳＭ３０−２と、誤検出してしまう可能性がある。このため、位置制御用サーボ３０で使用しているＳＳＭパターン３０−２とは、大きく異なるパターンが望ましい。

ＳＰＴ＿Ｄ３２−３は、ＳＰＴＡ３２の大半を占め、この領域が、位置制御用サーボ３０の長さより十分長くとれるため、サーボパラメータチューニングの時間短縮が可能となる。また、ＳＰＴＡ３２をリードする時は、位置制御用サーボ領域３０でサーボ制御をしているため、ＳＰＴ＿Ｄ３２−３のパターンは、位置制御用サーボ３０のＧＣパターン３０−３の様に、パターンの制約はない。

そのため、例えば、ＳＰＴ＿Ｄ３２−３を、全ＳＰＴＡフレーム３２で同じパターンにすることにより、シーク中のエラーレートも測定可能となり、短時間でパラメータ調整等を可能にする。ただし、ＳＰＴ＿Ｄパターン３２−３も、Ｓｔａｒｔ ｕｐ ｍｏｄｅで、誤検出されないように、位置制御用サーボ３０のＳＳＭ３０−２とは、ハミング距離が大きいパターンを選定することが望ましい。

図３の例では、位置制御用サーボ信号３０間に、１つのＳＰＴＡ３２が存在しているが、２つ以上のＳＰＴＡ領域を設ける方法も採用できる。この方法の利点としては、各ＳＰＴＡ３２のPreamble３２−１で、周波数の再引き込みをするため、磁気ディスクの偏心などによる、位置制御用サーボ領域３０間での周波数変動に対する耐性が増す。

図４は、図３のＳＰＴＡを使用した磁気ディスク装置の製造工程の流れを示したものである。

（Ｓ１０）磁気ディスク媒体１９に、サーボ領域のデータ３０を書込む。ここでは、サーボトラックライタ（ＳＴＷ)に、磁気ディスク媒体１９をセットして、磁気ディスク媒体１９の各トラックに、図２に示したように、予めサーボ領域のデータ３０を書込む。このサーボ領域のデータは、図３で説明したものである。これと同時に、ＳＴＷは、磁気ディスク媒体１９に、ＳＰＴＡ(サーボパラメータ調整領域)３２のデータをライトする。即ち、図３で説明したように、磁気ディスク１９の各トラックには、通常の位置制御用サーボ信号３０間に、サーボパラメータ調整信号３２が、書き込まれる。このサーボパラメータ調整信号３２は、いわゆる、ユーザー使用領域に書き込まれる。

このように、ＳＴＷにより、通常の位置制御用サーボ信号３０間に、サーボパラメータ調整信号３２が書き込まれた磁気ディスク媒体１９を作成する。

（Ｓ１２）次に、このように作成された磁気ディスク媒体１９を、図１のように、ＨＤＤ１０に組込む。即ち、ＨＤＤ１０のスピンドルモータ２０に取り付ける。そして、アクチュエータ２２を取り付け、ＨＤＤ１０を組み立てる。ＨＤＤの電源をオンとして、磁気ヘッド２５で読み取った位置制御サーボ信号３０により、指定トラックに、オントラック制御し、オントラック可能な状態にする。この時のサーボパラメータは、ＲＤＣ２４のチューニング前なので、ある程度のエラーは許容する。

（Ｓ１４）次に、オントラック状態で、後述するように、ＲＤＣ２４の各回路のパラメータを設定し、磁気ヘッド２５により、磁気ディスク１９のサーボパラメータ調整信号（ＳＰＴＡ）を読み出し、検出率やエラーレートを測定する。このＲＤＣ２４の各回路のパラメータを変更し、同様に、磁気ヘッド２５により、磁気ディスク１９のサーボパラメータ調整信号（ＳＰＴＡ）を読み出し、検出率やエラーレートを測定し、ＳＰＴＡを使ったサーボパラメータの調整をおこなう。即ち、検出率やエラーレートが最少となるパラメータを見つける。

（Ｓ１６）調整したサーボパラメータを、位置決め用サーボ信号のパラメータに決定し、格納する。

（Ｓ１８）そして、格納したパラメータを、ＲＤＣ２４の各回路に設定し、磁気ヘッド２５からの位置制御用サーボ信号３０を等化、復調する。その位置情報により、アクチュエータ２２を、オントラック制御する。この時、磁気ヘッド２５は、位置制御用サーボ信号３０でオントラックしているため、磁気ヘッド２５は、そのトラックのＳＰＴＡ３２をオーバーライトして、消去し、データ領域として使用できるようにする。

このような調整は、全トラックで行っても良いが、磁気ディスクを、半径方向に複数のゾーンに分割し、各ゾーンが、複数のトラックで構成されたものでは、各ゾーンの代表トラックでサーボパラメータの調整を行い、その調整したパラメータ値を、そのゾーンの各トラックの調整値に使用しても良い。

同様に、ゾーン内でシーク動作を行い、シーク時のサーボパラメータの調整を行い、その調整したパラメータ値を、そのゾーンのシーク時の調整値に使用しても良い。

このように、ヘッドにより媒体からリードされたサーボパラメータ調整用信号情報から、短時間で精度の高いパラメータ調整ができる。また、本来のサーボ領域を使って、オントラック、シーク動作をさせているため、パラメータ調整領域で変化させているパラメータは、本来のサーボ動作に影響せず、安定した状態でパラメータ調整をおこなうことができる。

更に、サーボパラメータ調整領域を全て同一パターンで形成することで、半径方向にいくつものサーボフレームを横切るシーク動作中なども、エラーレート測定が可能となり、測定時間の短縮が図れる。

（リード回路の第１の実施の形態）
図５は、図１のリード回路（リードチャネル）の第１の実施の形態のブロック図、図６は、図５のリード回路におけるパラメータ調整動作の説明図である。

図５は、リードチャネルのサーボ復調ブロックのみを示す。図５に示すように、等化・復調回路５は、磁気ヘッド（リードヘッド）２５からのアナログ電圧（読み出し信号）を、読み出しデータに、等化・復調する。等化・復調回路５は、例えば、ハイパスフィルタ４０、可変利得アンプ（ＶＧＡ）４２、ＣＴＦ（Continuous Time Filter）４６、Ａ／Ｄコンバータ４８、ＦＩＲフィルタ５０、タイミングリカバリー回路５２、ＡＧＣ（Automatic Gain Control）回路５４とで構成される。

ハイパスフィルタ４０が、再生信号（読み出し信号）の低周波成分をカットし、可変利得アンプ４２が、読み出し信号を振幅調整し、ＣＴＦ４６が、振幅調整されたリード信号の高周波数域をカットし、Ａ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）４８が、そのアナログ出力をデジタル信号へ変換する。その後、ＦＩＲ（Ｆｉｎｉｔｅ Ｉｍｐｕｌｓｅ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）フィルタ５０が、ＰＲ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）波形等化を行う。

タイミングリカバリー回路５２は、ＡＤＣ４８の出力に従い、ＡＤＣ４８のサンプルタイミングを調整する。ＡＧＣ回路５４は、ＡＤＣ４８の出力値に応じて、ＶＧＡ４２のゲインを自動調整する。

ＳＳＭ検出回路８０は、位置制御用サーボ信号３０のＳＳＭを検出する。グレイコード・デコーダ８２は、位置制御用サーボ信号３０のグレイコードと、ＰＥＳをデコードする。ＳＶＤフォーマッタ回路８４は、デコード結果を、サーボデータ（位置データ）のフォーマットに直し、出力する。サーボゲート発生器１００は、磁気ディスク１９の回転に同期して、サーボゲート信号ＳＧを発生する。

又、各等化パラメータとして、位置制御用サーボ波形の等化で使用するサーボパラメータを格納するレジスタ１０２と、ＳＰＴＡ波形等化で使用するＳＰＴＡパラメータを格納するレジスタ９８と、データ部の波形等化で使用する他のパラメータを格納するレジスタ１０６とを有する。それぞれ、ＳＧアサート区間、ＳＴＧアサート区間、ＳＧ＆ＳＴＧデアサート区間で有効となる。

これらのパラメータは、各等化回路に対しそれぞれの値を持つものであり、図３で示したように、調整中に、これらのパラメータが、ＳＧ，ＳＴＧに応じて、等化回路に設定される。

本実施の形態では、ＳＰＴＡ３２を抽出するためのＳＴＧを生成するＳＴＧ生成回路７と、ＳＰＴＡ３２のエラーを検出する回路６とを設ける。

先ず、サーボ調整ゲートＳＴＧの生成を説明する。この例では、Disk Synchronous Write（ＤＳＷ）機能の一部を拡張利用して実現する。即ち、ＤＳＷは、自走カウンター(Modulo Counter)８６、ラッチ回路９０、ＳＦＧ(Servo Frequency Generator)８８，タイムスタンプ回路９２を有する。

図６のＤＳＷの一部動作及びＳＴＧ生成タイミングの説明図を参照して、説明する。ＤＳＷ機能は、各位置制御用サーボ信号３０内のＳＳＭ３０−２を検出した時に、自走カウンター(Modulo Counter)８６の値を、ラッチ回路９０でラッチする機能を有する。このＳＳＭ３０−２を検出した時に、ラッチする、ＳＦＧ(Servo Frequency Generator)を基準としたカウンター値を、ここでは、タイムスタンプ（ＴＳ）値と呼ぶ。

図６では、理想のＴＳ間隔（ＳＳＭ間隔）を、１０００カウンター値として、ＴＳｎ−１＝１０００，ＴＳｎ＝２０００，ＴＳｎ＋１＝２０００，ＴＳｎ＋１＝３００１，ＴＳｎ＋２＝４００２である例を示す。途中、ＴＳｎ＋１から、間隔が、「＋１００１」となっているのは、磁気ディスク１９の偏心などを起因とした誤差が、カウントのズレとして見えることを意味している。

ＤＳＷは、図示しないファームウェアで、図６中の（ＴＳｎ−ＴＳｎ−１）と、理想のＳＳＭ間隔とのズレ量を元に、周波数ズレを計算し、この値を、リードチャネル２４の内部の周波数修正回路や、ＨＤＣのセクターパルス発生器（Sector Pulse Generator）にフィードバックすることで、周波数のズレを補正する仕組みである。

この実施の形態では、このタイムスタンプ値ＴＳを元に、サーボ調整ゲートＳＴＧを生成する。以下にその方法を説明する。図６に示すように、位置制御用サーボ信号３０のＳＳＭが安定して検出できる様になったことを確認後、ファームウェアで、ＳＰＴＡリード処理を開始させる。

次に、ＳＳＭの検出位置（ＴＳｎ）から、ＳＰＴＡ波形の開始付近となるＳＴＧアサート位置（ＳＴＧＡ）までの自走カウンター値を、「ａ」とし、また、ＳＴＧをアサートしている時間長を定めるカウンター値を、「ｂ」と定める。これらから、ＳＴＧのアサート位置（ＳＴＧＡ）、デアサート位置（ＳＴＧＢ）は、次の様に求めることができる。

ＳＴＧＡ＝ＴＳｎ＋ａ
ＳＴＧＢ＝ＳＴＧＡ＋ｂ＝ＴＳｎ＋ａ＋ｂ
図５に示すように、ＳＴＧをアサート/デアサートさせたい位置ａ，ｂを格納するレジスタ９４を設け、ＳＴＧ発生器９６に、レジスタ９４の位置データａ，ｂを予め設定しておく。そして、ＳＴＧ発生器９６は、タイムスタンプレジスタ９２からタイムスタンプ値（ＴＳｎ）を読み出し、前述の計算により、ＳＴＧのアサート位置（ＳＴＧＡ）、デアサート位置（ＳＴＧＢ）を計算し、図６のように、ＳＴＧ信号をアサート、デアサートする。

このＳＴＧ信号は、図５のパラメータ切り替え回路１０４に入力する。パラメータ切り替え回路１０４は、ＳＧ信号のアサート区間では、レジスタ１０２の位置制御用サーボ波形の等化で使用するサーボパラメータを、各等化回路４０〜５０に出力し、設定する。又、パラメータ切り替え回路１０４は、ＳＴＧ信号アサート区間では、レジスタ９８のＳＰＴＡ波形等化で使用するＳＰＴＡパラメータを、各等化回路４０〜５０に出力し、設定する。

更に、パラメータ切り替え回路１０４は、ＳＧ信号とＳＴＧ信号のデアサート区間では、レジスタ１０６のデータ部の波形等化で使用する他のパラメータを、各等化回路４０〜５０に出力し、設定する。この様子は、図３に示してある。

次に、ＳＰＴＡエラーレート測定回路６を説明する。ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出回路６０は、図３のＳＰＴＡ３２のＳＳＭ３２−２を検出する。ＳＰＴ＿Ｄデコード回路６２は、ＳＳＭ３２−２が検出された場合、後続信号を、ＳＰＴ＿Ｄ３２−３と見なし、デコードする。理想ＳＰＴ＿Ｄパターンレジスタ６４は、理想ＳＰＴ＿Ｄパターンを格納する。

比較器６６は、デコード回路６２でデコードされたパターンと、レジスタ６４の理想ＳＰＴ＿Ｄパターンとを比較し、ビット毎に、一致、不一致のいずれかを出力する。エラーカウンタ６８は、不一致ビット数をカウントする。ＳＰＴ＿ＳＳＭカウンタ７０は、ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出回路６０のＳＰＴ＿ＳＳＭ検出数をカウントする。レジスタ７２は、エラーカウンタ６８の不一致ビット数と、ＳＰＴ＿ＳＳＭカウンタ７０のＳＳＭ検出数を格納する。

次に、切り替え回路６１は、ＳＧ信号のアサート区間は、ＦＩＲフィルタ５０の出力を、ＳＳＭ検出器８０に出力する。一方、切り替え回路６１は、ＳＴＧ信号のアサート区間は、ＦＩＲフィルタ５０の出力を、ＳＰＴＡエラーレート測定回路６のＳＰＴ＿ＳＳＭ検出器６０に出力する。従って、切り替え回路６１は、ＳＴＧ信号により、ＦＩＲ出力を、通常のサーボ処理経路(ＳＳＭ検出回路８０以降)と、ＳＰＴＡ処理経路(ＳＰＴＡエラーレート測定回路６)に切替える。

このＳＰＴＡエラーレート測定回路６の動作を説明する。切り替え回路６１が、ＳＴＧ信号のアサートで、ＳＰＴＡ処理経路を選択すると、ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出回路６０は、ＳＰＴ＿ＳＳＭ３２−２の検出を開始する。

ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出回路６０が、ＳＰＴ＿ＳＳＭパターンを検出すると、ＳＰＴ＿ＳＳＭを検出した旨(SPT_SSM found)を、検出しなかった場合は、ＳＰＴ＿ＳＳＭを検出しなかった旨(SPT_SSM NOT found)を、ＳＰＴ＿ＳＳＭカウンタ７０に通知する。ＳＰＴ＿ＳＳＭカウンタ７０は、ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出数をカウントする。

ＳＰＴ＿Ｄデコーダ６２は、ＳＰＴ＿ＳＳＭを検出した場合は、ＳＰＴ＿ＳＳＭの後続信号をＳＰＴ＿Ｄと見なし、デコードする。デコードされたデータは、レジスタ６４に、予め格納された理想ＳＰＴ＿Ｄパターンと、比較器６６で比較される。

比較器６６の比較結果により、理想ＳＰＴ＿Ｄパターンと不一致のビットは、エラーカウンタ６８でカウントされ、カウント値は、レジスタ７２に記録される。ＨＤＣ２６（又は、ＭＰＵ１１）のファームウェア１１−１は、レジスタ７２のＳＰＴ＿ＳＳＭ検出数や、ＳＰＴ＿Ｄのエラービット数を元に、エラーレートを算出する。このファームウェアは、後述する。

なお、上記レジスタ７２は、毎ＳＴＧごとに値をリセット、または値を累積するモードを選択でき、ファーム処理に柔軟に対応できる。

このようにして、サーボ信号間に、サーボパラメータ調整信号を記録しても、サーボ信号からサーボパラメータゲート信号ＳＴＧを生成して、サーボパラメータ調整信号のリード信号を抽出でき、サーボパラメータ調整信号のＳＳＭ検出率やエラーレートを測定できる。

（サーボパラメータの調整処理）
次に、図５のＨＤＣ２６又はＭＰＵ１１のファームウェア１１−１によるサーボパラメータ調整処理を説明する。図７及び図８は、本発明の一実施の形態のサーボパラメータ調整処理フロー図、図９及び図１０は、サーボパラメータの調整例の説明図である。

以下、図９及び図１０を参照して、図７及び図８のサーボパラメータ調整処理を説明する。

（Ｓ３０）ＨＤＤの起動時に、磁気ヘッド２５で読み取った位置制御サーボ信号３０により、指定トラックに、オントラック制御し、オントラック可能な状態にする。即ち、最初に、位置制御用サーボ３０を使用して、オントラックする時は、位置制御用サーボ３０の位置を認識できないため、通常より長いサーボゲートＳＧをアサートし（Ｓｔａｒｔ ｕｐ ｍｏｄｅ）、位置制御用サーボ３０のＳＳＭ３０−２を見つける。

ＨＤＣ２６又はＭＰＵ１１のファームウェア１１−１は、ＳＳＭ検出器８０のＳＳＭ検出信号から、ＳＳＭ３０−２を、連続してｍ（ｍ＞１）回検出したかを判定する。ＳＳＭ３０−２を、連続してｍ（ｍ＞１）回検出しなかった時は、位置を確定できないため、Ｓｔａｒｔ ｕｐ ｍｏｄｅによるＳＳＭの検出を継続する。

上述の通り、Ｓｔａｒｔ ｕｐ ｍｏｄｅは、最初に、サーボゲートＳＧを任意の場所でアサートするため、信号が無い部分や他の信号をリードすることがある。そのため、その様な意図しない信号をリードしても、ＲＤＣ２４の復調回路のタイミングループ等に異常をきたさない様なモードである点が、以下のＮｏｒｍａｌ ｍｏｄｅと異なる。

（Ｓ３２）ＳＳＭ３０−２を、連続してｍ（ｍ＞１）回検出した場合には、位置を確定できたため、通常のサーボゲートＳＧをアサートして、オントラック動作をする。これを、Ｎｏｒｍａｌ ｍｏｄｅという。ＨＤＣ２６又はＭＰＵ１１のファームウェア１１−１は、ＳＳＭ検出器８０のＳＳＭ検出信号から、ＳＳＭ３０−２を、連続してｎ（ｎ＞１）回検出したかを判定する。

ＳＳＭ３０−２を、連続してｎ（ｎ＞１）回検出しなかった時は、Ｎｏｒｍａｌ ｍｏｄｅで、位置を確定できないため、Ｎｏｒｍａｌ ｍｏｄｅによるＳＳＭの検出を継続する。尚、この時のサーボパラメータは、ＲＤＣ２４のチューニング前なので、ある程度のエラーは許容する。

（Ｓ３４）次に、オントラック状態で、ＲＤＣ２４の各回路のパラメータを設定し、磁気ヘッド２５により、磁気ディスク１９のサーボパラメータ調整信号（ＳＰＴＡ）を読み出し、ＳＰＴＡエラーレート測定回路６により、検出率やエラーレートを測定する。このＲＤＣ２４の各回路のパラメータを変更し、同様に、磁気ヘッド２５により、磁気ディスク１９のサーボパラメータ調整信号（ＳＰＴＡ）を読み出し、検出率やエラーレートを測定する。

調整パラメータの例としては、ＣＴＦ４６のｆｃ(カットオフ周波数)値や、Ｂｏｏｓｔ(ブースト)値、ＦＩＲ５０のＴＡＰ値などである。例えば、図９は、等化回路５のＣＴＦ４６のパラメータ調整の例を示し、サーボパラメータとして、ＣＴＦ４６のブースト設定値と、ｆｃ設定値を示す。図９のように、設定したブースト値に対し、ｆｃ設定値を変更し、変更毎に、エラーレートを測定し、測定値を格納する。同様に、ブースト値を変更し、変更したブースト値に対し、ｆｃ設定値を変更し、変更毎に、エラーレートを測定し、測定値を格納する。

即ち、ＣＴＦ４６のｆｃ、Ｂｏｏｓｔ設定値を変化させ、各々の設定で，ＳＰＴ＿Ｄのエラーレートを測定したものを、図９に示す。尚、図９の測定値は、Ｌｏｇ表示（Ｌｏｇ１０（ＳＰＴ＿Ｄエラービット数÷ＳＰＴ＿Ｄ総リード数)を示している。

（Ｓ３６）このように測定した結果から、ＳＰＴＡを使ったサーボパラメータの最適値を決定する。即ち、検出率やエラーレートが最少となるパラメータを見つける。図９の測定結果を、図示すると、図１０のようになり、最小の測定エラーレート＝−６．２に対応するブースト設定値が、「２」、ｆｃ設定値が「４」を、ＣＴＦ４６の最適パラメータとして、決定する。

（Ｓ３８）同様に、オントラック状態で、ＲＤＣ２４の他の等化回路（例えば、ＦＩＲ）のパラメータを設定し、磁気ヘッド２５により、磁気ディスク１９のサーボパラメータ調整信号（ＳＰＴＡ）を読み出し、ＳＰＴＡエラーレート測定回路６により、検出率やエラーレートを測定する。この回路のパラメータを変更し、同様に、磁気ヘッド２５により、磁気ディスク１９のサーボパラメータ調整信号（ＳＰＴＡ）を読み出し、検出率やエラーレートを測定する。

（Ｓ４０）このように測定した結果から、同様に、ＳＰＴＡを使ったサーボパラメータの最適値を決定する。即ち、検出率やエラーレートが最少となる最適パラメータを見つける。

（Ｓ４２）このように決定した等化回路のサーボパラメータを、位置制御用サーボ信号のパラメータとして、設定する。例えば、図５のサーボパラメータレジスタ１０２に格納する。

以上の説明は、図１１のように、ヘッド２５を指定トラックにオントラックして、サーボパラメータを調整した例で説明した。図１２のように、シーク動作する場合には、サーボパラメータの最適値が、オントラックの場合と異なることがある。

即ち、図１１のオントラック時には、同一シリンダのサーボをリードするため、サーボ信号をリードした時に、大きな位相変動は比較的生じない。しかし、図１２のシーク時では、複数シリンダに渡ってサーボ信号をリードするため、ＳＴＷ時のジッター等で生じたサーボ信号の書き継ぎのズレの影響が見えてくる。

この様に、オントラック時とシーク時でサーボ信号特性に違いがあるため、サーボパラメータ等の調整に差異が生じる場合がある。特に、図１１のように、サーボ信号３０が、トラックでずれて、書き込まれた場合には、図１２に示す、シーク動作した場合の再生波形を、図１３に示す。図１３において、実線が、オントラック時の再生波形、点線が、シーク時の再生波形を示す。図１３から明らかなように、隣接シリンダ（トラック）で、シーク時と、オントラック時で、再生波形の位相がずれる。このため、図７、図８と同様の処理で、シーク時のサーボパラメータを測定し、調整する。

このように、本来のサーボ領域で、オントラック、又は、シーク処理をさせた状態で、本来のサーボ領域とは別に十分に広い領域に、調整用サーボデータをライトした領域(サーボパラメータ調整領域)を用いる。そして、そのサーボパラメータ調整領域をリード処理するためのゲートを生成し、そのゲート間でのみ有効な復調用パラメータをもとに復調処理をおこない、復調されたデータのエラー数を出力、算出し、それらをもとにパラメータの最適化を図ることができる。

（リード回路の第２の実施の形態）
図１４は、図１のリード回路（リードチャネル）の第２の実施の形態のブロック図、図１５は、図１４のリード回路におけるパラメータ調整動作の説明図である。図１４において、図５で示したものと同一のものは、同一の記号で示してある。

図１４に示すように、等化・復調回路５は、図５と同様に、磁気ヘッド（リードヘッド）２５からのアナログ電圧（読み出し信号）を、読み出しデータに、等化・復調する。等化・復調回路５は、例えば、ハイパスフィルタ４０、可変利得アンプ（ＶＧＡ）４２、ＣＴＦ（Continuous Time Filter）４６、Ａ／Ｄコンバータ４８、ＦＩＲフィルタ５０、タイミングリカバリー回路５２、ＡＧＣ（Automatic Gain Control）回路５４とで構成される。

ＳＳＭ検出回路８０は、位置制御用サーボ信号３０のＳＳＭを検出する。グレイコード・デコーダ８２は、位置制御用サーボ信号３０のグレイコードと、ＰＥＳをデコードする。ＳＶＤフォーマッタ回路８４は、デコード結果を、サーボデータ（位置データ）のフォーマットに直し、出力する。

サーボゲート発生器１００は、磁気ディスク１９の回転に同期して、サーボゲート信号ＳＧを発生する。又、各等化パラメータとして、位置制御用サーボ波形の等化で使用するサーボパラメータを格納するレジスタ１０２と、ＳＰＴＡ波形等化で使用するＳＰＴＡパラメータを格納するレジスタ９８と、データ部の波形等化で使用する他のパラメータを格納するレジスタ１０６とを有する。

又、ＤＳＷ機能として、自走カウンター(Modulo Counter)８６、ラッチ回路９０、ＳＦＧ(Servo Frequency Generator)８８，タイムスタンプ回路９２を有する。

ＳＰＴＡエラーレート測定回路６では、ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出回路６０は、図３のＳＰＴＡ３２のＳＳＭ３２−２を検出する。ＳＰＴ＿Ｄデコード回路６２は、ＳＳＭ３２−２が検出された場合、後続信号を、ＳＰＴ＿Ｄ３２−３と見なし、デコードする。理想ＳＰＴ＿Ｄパターンレジスタ６４は、理想ＳＰＴ＿Ｄパターンを格納する。

比較器６６は、デコード回路６２でデコードされたパターンと、レジスタ６４の理想ＳＰＴ＿Ｄパターンとを比較し、ビット毎に、一致、不一致のいずれかを出力する。エラーカウンタ６８は、不一致ビット数をカウントする。ＳＰＴ＿ＳＳＭカウンタ７０は、ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出回路６０のＳＰＴ＿ＳＳＭ検出数をカウントする。レジスタ７２は、エラーカウンタ６８の不一致ビット数と、ＳＰＴ＿ＳＳＭカウンタ７０のＳＳＭ検出数を格納する。

次に、切り替え回路６１は、ＳＧ信号のアサート期間は、ＦＩＲフィルタ５０の出力を、ＳＳＭ検出器８０に出力する。一方、切り替え回路６１は、ＳＴＧ信号のアサート区間は、ＦＩＲフィルタ５０の出力を、ＳＰＴＡエラーレート測定回路６のＳＰＴ＿ＳＳＭ検出器６０に出力する。

図５の例では、ＲＤＣ２４内部でＳＴＧを生成する方法を示したが、この実施の形態では、ＳＴＧ生成の回路９４，９６を、ＨＤＣ２６に設け、仲介レジスタ１０８を介しタイムスタンプ値ＴＣを受け、ＨＤＣ２６からＲＤＣ２４へＳＴＧ信号を入力する。

また、切り替え回路１０４は、ＳＴＧ信号の他に、ＳＰＴ＿ＳＳＭ検出器６０のＳＰＴ＿ＳＳＭｆｏｕｎｄ信号が、入力される。これにより、図１５に示すように、ＳＴＧゲートのアサートからサーボパラメータ調整領域のデータ先頭位置マークＳＰＴ＿ＳＳＭの検出までは、位置制御用サーボ等化パラメータが設定され、先頭位置マークＳＰＴ＿ＳＳＭ検出後から、上記ＳＴＧゲートのデアサートまでは、その区間のみ有効となる復調用パラメータへ切替える。

この方法の利点は、ＳＰＴＡ等化パラメータ調整時に、最適値から外れた値を設定しても、位置制御用パラメータで復調するＳＰＴ＿ＳＳＭは検出でき、ＳＰＴ＿Ｄのエラーレートを測定することが可能となることである。この例でも、ＳＰＴ＿ＳＳＭが見つからないと、そのＳＰＴＡのＳＰＴ＿Ｄをリードすることができない。

（他の実施の形態）
図３、図１５の例では、位置制御用サーボ領域間に、１つのＳＰＴＡ領域を設ける場合に、ＳＴＧを生成する例を示した。同様に、位置制御用サーボ領域間に、２つ以上のＳＰＴＡ領域を設けることができる。この方法でのＳＴＧ生成方法は、レジスタ９４の設定値を拡張することで実現できる。例えば、第１のＳＰＴＡに対しては、前述ように、ＳＴＧ信号を「ａ」、「ｂ」を用いて、生成する。第２のＳＰＴＡに対しては、時間ｃ（ｃ＞ａ＋ｂ）、ｄを用いて、同様にＳＴＧ信号のアサート、デアサートを制御する。

又、前述の実施の形態では、データ記憶装置を磁気ディスク装置で説明したが、光ディスク、光磁気ディスク、セクタ単位に記録する他の記憶媒体を使用した記憶装置にも適用できる。更に、インターフェースは、ＡＴＡに限らず、他のインターフェースにも適用できる。

以上、本発明を実施の形態により説明したが、本発明の趣旨の範囲内において、本発明は、種々の変形が可能であり、本発明の範囲からこれらを排除するものではない。

（付記１）
記憶媒体のトラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体の前記サーボ信号を、ヘッドにより読み取るステップと、前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号を等化・復調回路で、復調処理し、前記記憶媒体のサーボ信号を用いて、前記ヘッドを前記記憶媒体にオントラック又はシークするステップと、前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを設定し、前記ヘッドにより、前記サーボパラメータ調整用信号を読み取り、前記読み取ったサーボパラメータ調整用信号を等化・復調回路で、復調処理し、復調処理結果からエラーを測定するステップと、前記サーボパラメータを変更して、前記測定ステップを繰り返すステップと、複数回の前記測定結果から、前記サーボパラメータの最適値を決定するステップとを有することを特徴とするデータ記憶装置の製造方法。

（付記２）
測定ステップは、復調した前記サーボ信号からサーボパラメータ処理のためのゲート信号を作成するステップと、前記サーボパラメータのゲート信号により、前記復調された信号から前記サーボパラメータ調整用信号を抽出し、前記エラーを測定するステップとを有することを特徴とする付記１のデータ記憶装置の製造方法。

（付記３）
前記記憶媒体に、前記サーボ信号と、前記サーボパラメータ調整用信号を記録するステップを更に有することを特徴とする付記１のデータ記憶装置の製造方法。

（付記４）
前記ゲート信号を作成するステップは、前記サーボ信号のサーボマークを検出した時刻であるタイムスタンプ値を測定し、前記タイムスタンプ値から予め設定したアサート位置までのカウント値と、デアサート位置までのカウント値を用いて、前記ゲート信号を作成することを特徴とする付記２のデータ記憶装置の製造方法。

（付記５）
前記サーボパラメータ調整用信号は、サーボマークと調整用信号パターンからなることを特徴とする付記１のデータ記憶装置の製造方法。

（付記６）
前記測定ステップは、前記サーボパラメータ調整用信号のサーボマークの検出率又は前記サーボパラメータ調整用信号の信号パターンのエラーレートを測定するステップからなることを特徴とする付記１のデータ記憶装置の製造方法。

（付記７）
記憶媒体のトラックの信号を読み取るヘッドと、前記ヘッドを前記記憶媒体のトラック横断方向に移動するアクチュエータと、前記ヘッドにより読み取った信号を等化、復調する等化・復調回路と、前記トラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体から前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号の復調処理結果を用いて、前記ヘッドを前記記憶媒体にオントラック又はシーク制御するコントローラと、前記ヘッドにより読み取られた前記サーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定する測定回路とを有し、前記制御回路は、前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを変更しながら、前記ヘッドにより、前記サーボパラメータ調整用信号を読み取らせ、前記測定回路で、読み取ったサーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定させ、複数回の前記測定結果から、前記サーボパラメータの最適値を決定することを特徴とするデータ記憶装置。

（付記８）
前記復調した前記サーボ信号からサーボパラメータ処理のためのゲート信号を作成するゲート作成回路と、前記サーボパラメータのゲート信号により、前記復調された信号から前記サーボパラメータ調整用信号を、前記測定回路に出力するゲート回路とを有することを特徴とする付記７のデータ記憶装置。

（付記９）
前記制御回路は、前記決定後、前記ヘッドにより、前記記憶媒体の前記サーボパラメータ調整用信号を消去することを特徴とする付記７のデータ記憶装置。

（付記１０）
前記ゲート作成回路は、前記サーボ信号のサーボマークを検出した時刻であるタイムスタンプ値の測定値と、前記タイムスタンプ値から予め設定したアサート位置までのカウント値と、デアサート位置までのカウント値を用いて、前記ゲート信号を作成する回路を有することを特徴とする付記８のデータ記憶装置。

（付記１１）
前記測定回路は、前記サーボパラメータ調整用信号のサーボマークの検出率又は前記サーボパラメータ調整用信号の信号パターンのエラーレートを測定する回路を有することを特徴とする付記７のデータ記憶装置。

（付記１２）
前記サーボ信号の復調結果から位置情報を作成する回路を有し、前記ゲート回路は、ゲート信号により、前記復調結果を、前記作成回路又は前記測定回路に選択的に出力することを特徴とする付記７のデータ記憶装置。

（付記１３）
前記等化・復調回路は、前記ヘッドのアナログ信号の帯域、レベルを制限する回路と、前記制限された信号を等化する等化回路とを有することを特徴とする付記７のデータ記憶装置。

（付記１４）
記憶媒体のトラックの信号を読み取るヘッドにより読み取った信号を等化、復調する等化・復調回路と、前記トラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体から前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号の復調処理結果から位置情報を復調する回路と、前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを変更しながら、前記ヘッドにより読み取られた前記サーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定する測定回路とを有することを特徴とするリード回路。

（付記１５）
前記復調した前記サーボ信号からサーボパラメータ処理のためのゲート信号を作成するゲート作成回路と、前記サーボパラメータのゲート信号により、前記復調された信号から前記サーボパラメータ調整用信号を、前記測定回路に出力するゲート回路とを有することを特徴とする付記１４のリード回路。

（付記１６）
前記ゲート作成回路は、前記サーボ信号のサーボマークを検出した時刻であるタイムスタンプ値の測定値と、前記タイムスタンプ値から予め設定したアサート位置までのカウント値と、デアサート位置までのカウント値を用いて、前記ゲート信号を作成する回路を有することを特徴とする付記１５のリード回路。

（付記１７）
前記測定回路は、前記サーボパラメータ調整用信号のサーボマークの検出率又は前記サーボパラメータ調整用信号の信号パターンのエラーレートを測定する回路を有することを特徴とする付記１４のリード回路。

（付記１８）
前記ゲート回路は、ゲート信号により、前記復調結果を、前記復調回路又は前記測定回路に選択的に出力することを特徴とする付記１４のリード回路。

（付記１９）
前記等化・復調回路は、前記ヘッドのアナログ信号の帯域、レベルを制限する回路と、前記制限された信号を等化する等化回路とを有することを特徴とする付記１４のリード回路。

記憶媒体にサーボ情報とサーボパラメータ調整用信号を記録し、ヘッドにより媒体からリードされたサーボパラメータ調整用信号でサーボパラメータを調整するため、短時間で精度の高いパラメータ調整ができる。また、本来のサーボ領域を使って、サーボにオントラック、シーク動作をさせているため、パラメータ調整領域で変化させているパラメータが、本来のサーボ動作に影響せず、安定した状態でパラメータ調整をおこなうことができる。

本発明の一実施の形態のデータ記憶装置の構成図である。 図１のディスク媒体とサーボ情報の説明図である。 本発明の第１の実施の形態の媒体フォーマットの説明図である。 本発明の第１の実施の形態の磁気ディスク装置の製造方法の説明図である。 本発明の第１の実施の形態のリード回路のブロック図である。 図５のサーボ調整パラメータゲート生成の説明図である。 本発明の一実施の形態のサーボパラメータ調整処理フロー図（その１）である。 本発明の一実施の形態のサーボパラメータ調整処理フロー図（その２）である。 図７及び図８のサーボパラメータの一例の説明図である。 図９によるサーボパラメータ最適化決定の説明図である。 図７及び図８のオントラック時の動作説明図である。 図７及び図８のシーク時の動作説明図である。 図１１のオントラック時と、図１２のシーク時との再生波形の説明図である。 本発明の第２の実施の形態のリード回路のブロック図である。 図１４のサーボ調整パラメータによる調整動作の説明図である。 従来のサーボフォーマットの説明図である。 従来のシーク動作時の調整処理の説明図である。 従来のシーク動作の調整処理の他の説明図である。

符号の説明

５ 等化回路
６ ＳＰＴＡエラーレート測定回路
７ ＳＴＧ生成回路
１０ ディスク装置
１１ ＭＰＵ（処理ユニット）
２６ ＨＤＣ
１３ メモリ（ＲＯＭ／ＲＡＭ）
１４ データバッファ
１５ データバッファ制御回路
２４ リードチャネル回路
１７ バス
１８ ヘッドＩＣ
１９ 記憶媒体（磁気ディスク）
２０ スピンドルモータ
２２ アクチュエータ（ＶＣＭ）
２５ ヘッド（磁気ヘッド）
３０ サーボ領域（信号）
３２ サーボパラメータ調整領域（信号）

Claims (5)

1. 記憶媒体のトラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体の前記サーボ信号を、ヘッドにより読み取るステップと、
   前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号を等化・復調回路で、復調処理し、前記記憶媒体のサーボ信号を用いて、前記ヘッドを前記記憶媒体にオントラック又はシークするステップと、
   前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを設定し、前記ヘッドにより、前記サーボパラメータ調整用信号を読み取り、前記読み取ったサーボパラメータ調整用信号を等化・復調回路で、復調処理し、復調処理結果からエラーを測定するステップと、
   前記サーボパラメータを変更して、前記測定ステップを繰り返すステップと、
   複数回の前記測定結果から、前記サーボパラメータの最適値を決定するステップとを有する
   ことを特徴とするデータ記憶装置の製造方法。
2. 測定ステップは、
   復調した前記サーボ信号からサーボパラメータ処理のためのゲート信号を作成するステップと、
   前記サーボパラメータのゲート信号により、前記復調された信号から前記サーボパラメータ調整用信号を抽出し、前記エラーを測定するステップとを有する
   ことを特徴とする請求項１のデータ記憶装置の製造方法。
3. 記憶媒体のトラックの信号を読み取るヘッドと、
   前記ヘッドを前記記憶媒体のトラック横断方向に移動するアクチュエータと、
   前記ヘッドにより読み取った信号を等化、復調する等化・復調回路と、
   前記トラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体から前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号の復調処理結果を用いて、前記ヘッドを前記記憶媒体にオントラック又はシーク制御する制御回路と、
   前記ヘッドにより読み取られた前記サーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定する測定回路とを有し、
   前記制御回路は、前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを変更しながら、前記ヘッドにより、前記サーボパラメータ調整用信号を読み取らせ、前記測定回路で、読み取ったサーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定させ、複数回の前記測定結果から、前記サーボパラメータの最適値を決定する
   ことを特徴とするデータ記憶装置。
4. 前記復調した前記サーボ信号からサーボパラメータ処理のためのゲート信号を作成するゲート作成回路と、
   前記サーボパラメータのゲート信号により、前記復調された信号から前記サーボパラメータ調整用信号を、前記測定回路に出力するゲート回路とを有する
   ことを特徴とする請求項３のデータ記憶装置。
5. 記憶媒体のトラックの信号を読み取るヘッドにより読み取った信号を等化、復調する等化・復調回路と、
   前記トラックに、所定の間隔で記録されたサーボ信号の間の領域に、サーボパラメータ調整用信号をライトした前記記憶媒体から前記ヘッドにより読み取ったサーボ信号の復調処理結果から位置情報を復調する回路と、
   前記等化・復調回路にサーボ信号読み取り用のサーボパラメータを変更しながら、前記ヘッドにより読み取られた前記サーボパラメータ調整用信号の復調処理結果からエラーを測定する測定回路とを有する
   ことを特徴とするリード回路。