JP2010197926A - クロストーク補正テーブル取得装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】電気的なクロストークの補正データと光学的なクロストークの補正データをサブ
画素のRGB別に分離して、容易に電気LUTと光学LUTを取得することができ、更に
、補正データを0にする階調の基準が異なってもその分離方法を適用することができる。
【解決手段】サブ画素が交互に隣接した第1画像と第2画像をスリットの遮光により夫々
異なる視方向に判別可能に表示する液晶表示モジュールの電気補正テーブルと光学補正テ
ーブルを取得するクロストーク補正テーブル取得装置10であって、補正対象のサブ画素
が第1画像であるとき、液晶表示パネルに表示された第1画像の光学特性を測定する光学
測定器と、光学測定器で測定される液晶表示パネルの領域内の第2画像のRGB3色のサ
ブ画素の階調中1色のみのサブ画素の階調を基準値以外で表示させる制御部14を備えた
。
【選択図】 図12
画素のRGB別に分離して、容易に電気LUTと光学LUTを取得することができ、更に
、補正データを0にする階調の基準が異なってもその分離方法を適用することができる。
【解決手段】サブ画素が交互に隣接した第1画像と第2画像をスリットの遮光により夫々
異なる視方向に判別可能に表示する液晶表示モジュールの電気補正テーブルと光学補正テ
ーブルを取得するクロストーク補正テーブル取得装置10であって、補正対象のサブ画素
が第1画像であるとき、液晶表示パネルに表示された第1画像の光学特性を測定する光学
測定器と、光学測定器で測定される液晶表示パネルの領域内の第2画像のRGB3色のサ
ブ画素の階調中1色のみのサブ画素の階調を基準値以外で表示させる制御部14を備えた
。
【選択図】 図12
Description
本発明は、サブ画素が交互に隣接した第1画像と第2画像をスリットの遮光により夫々
異なる視方向に判別可能に表示する液晶表示パネルに用いられる電気的なクロストーク補
正テーブルと光学的なクロストーク補正テーブルを取得するクロストーク補正テーブル取
得装置に関する。
異なる視方向に判別可能に表示する液晶表示パネルに用いられる電気的なクロストーク補
正テーブルと光学的なクロストーク補正テーブルを取得するクロストーク補正テーブル取
得装置に関する。
液晶表示パネルはCRT(Cathode Ray Tube:陰極線管)と比較して軽量、薄型、低消
費電力という特徴があるため、表示用として多くの電子機器に使用されている。液晶表示
パネルの入力電圧と輝度の関係は、テレビジョン放送の伝送上の都合やCRTとの特性の
差や人間の目の特性から、一般的にγ値を2.2として、輝度を入力電圧のγ乗の明るさ
で表示するようにしている。液晶表示パネルに印加する電圧は階調度に応じた値であり、
アナログ電圧で液晶分子のツイスト量を制御して所定の階調度で画像を表示する。階調度
の数は、液晶表示パネルによって異なり、例えば128階調、64階調、32階調などが
あり、それぞれ、7ビット、6ビット、5ビットのデジタル信号で表現されている。
費電力という特徴があるため、表示用として多くの電子機器に使用されている。液晶表示
パネルの入力電圧と輝度の関係は、テレビジョン放送の伝送上の都合やCRTとの特性の
差や人間の目の特性から、一般的にγ値を2.2として、輝度を入力電圧のγ乗の明るさ
で表示するようにしている。液晶表示パネルに印加する電圧は階調度に応じた値であり、
アナログ電圧で液晶分子のツイスト量を制御して所定の階調度で画像を表示する。階調度
の数は、液晶表示パネルによって異なり、例えば128階調、64階調、32階調などが
あり、それぞれ、7ビット、6ビット、5ビットのデジタル信号で表現されている。
液晶表示パネルにおいては、所定の階調の電圧が印加されても隣接サブ画素の階調が異
なるときは電気的なクロストークが発生して、異なる輝度になることがある。この電気的
なクロストークの原因は、走査線の電圧が切り替わることに伴って発生したスパイクが、
画素に印加されている電圧実効値を変動させるためと考えられている。特に、立体画像を
表示するためや運転席と助手席に異なる画像を表示するために開発された2画面表示用の
液晶表示パネルにおいては、隣接サブ画素に異なる画像が入力されるために、電気的なク
ロストークが多く発生する。
なるときは電気的なクロストークが発生して、異なる輝度になることがある。この電気的
なクロストークの原因は、走査線の電圧が切り替わることに伴って発生したスパイクが、
画素に印加されている電圧実効値を変動させるためと考えられている。特に、立体画像を
表示するためや運転席と助手席に異なる画像を表示するために開発された2画面表示用の
液晶表示パネルにおいては、隣接サブ画素に異なる画像が入力されるために、電気的なク
ロストークが多く発生する。
このため、液晶表示パネルを使用する液晶表示装置は、電気的なクロストーク補正を行
った電圧を液晶表示パネルに印加するようにしている。この補正方法は、下記特許文献1
に開示されているように、設計者は予め被補正サブ画素の各階調と隣接サブ画素の各階調
の全組み合わせの補正データを実験で求めて電気な補正テーブル(以降、「補正テーブル
」をLUT(Lookup Table)と称する)を作成して液晶表示装置のEEPROMなどに記
憶させておく。液晶表示装置は、補正サブ画素の階調と隣接サブ画素の階調に対応する補
正データを電気的なLUTから読み取り、これを補正サブ画素の階調に加算して液晶表示
パネルに出力するようにしている。
った電圧を液晶表示パネルに印加するようにしている。この補正方法は、下記特許文献1
に開示されているように、設計者は予め被補正サブ画素の各階調と隣接サブ画素の各階調
の全組み合わせの補正データを実験で求めて電気な補正テーブル(以降、「補正テーブル
」をLUT(Lookup Table)と称する)を作成して液晶表示装置のEEPROMなどに記
憶させておく。液晶表示装置は、補正サブ画素の階調と隣接サブ画素の階調に対応する補
正データを電気的なLUTから読み取り、これを補正サブ画素の階調に加算して液晶表示
パネルに出力するようにしている。
また、第1視方向と第2視方向にそれぞれ異なる画像を判別可能に表示する2画面液晶
表示パネルでは、スリットを有する遮光層を用いているが、このスリットを有する遮光層
に起因する光学的なクロストークも発生する。この光学的なクロストークの原因は、隣接
画素の同色のサブ画素からの光が遮光層のスリットの周縁で回折して起こる光漏れによる
ものである。このために、設計者は予め被補正サブ画素の各階調と隣接画素の同色のサブ
画素の各階調の全組み合わせの補正データを実験で求めて光学的なLUTを作成して液晶
表示装置のEEPROMなどに記憶させておく。液晶表示装置は、補正サブ画素の階調と
隣接画素の同色のサブ画素の階調に対応する補正データを光学LUTから読み取って、こ
れを補正サブ画素の階調に加算して液晶表示パネルに出力する。
表示パネルでは、スリットを有する遮光層を用いているが、このスリットを有する遮光層
に起因する光学的なクロストークも発生する。この光学的なクロストークの原因は、隣接
画素の同色のサブ画素からの光が遮光層のスリットの周縁で回折して起こる光漏れによる
ものである。このために、設計者は予め被補正サブ画素の各階調と隣接画素の同色のサブ
画素の各階調の全組み合わせの補正データを実験で求めて光学的なLUTを作成して液晶
表示装置のEEPROMなどに記憶させておく。液晶表示装置は、補正サブ画素の階調と
隣接画素の同色のサブ画素の階調に対応する補正データを光学LUTから読み取って、こ
れを補正サブ画素の階調に加算して液晶表示パネルに出力する。
このように、電気的なクロストークは隣接するサブ画素の階調に基づいて補正され、光
学的なクロストークは隣接画素の同色のサブ画素の階調に基づいて補正されるために、電
気LUTと光学LUTは別々のLUTとして実験で求める必要があった。しかしながら、
一つのサブ画素に電気的なクロストークと光学的なクロストークが発生するために、実験
でそれぞれのクロストーク量をサブ画素のRGB別に分離して求めることは困難であった
。そこで、電気的なクロストークの補正データと光学的なクロストークの補正データをサ
ブ画素のRGB別に分離して求める方法が要望されている。
学的なクロストークは隣接画素の同色のサブ画素の階調に基づいて補正されるために、電
気LUTと光学LUTは別々のLUTとして実験で求める必要があった。しかしながら、
一つのサブ画素に電気的なクロストークと光学的なクロストークが発生するために、実験
でそれぞれのクロストーク量をサブ画素のRGB別に分離して求めることは困難であった
。そこで、電気的なクロストークの補正データと光学的なクロストークの補正データをサ
ブ画素のRGB別に分離して求める方法が要望されている。
また、電気LUTと光学LUTは補正データを0にする階調の基準をどこにするかによ
り、複種類のLUTがある。例えば、図9Aは白基準の電気LUTであり、隣接サブ画素
の階調が白の63階調のときを補正データ0としたものである。また、図9Bは自身基準
の電気LUTであり、両方の階調が等しいときを補正データ0としたものである。更に、
図9Cは黒基準の電気LUTであり、隣接サブ画素の階調が黒の0階調のときを補正デー
タ0としたものである。このように、2画面表示用の液晶表示パネルには複種類のLUT
があるが、いずれの種類のLUTに対しても同一の電気的なクロストークの補正データと
光学的なクロストークの補正データを分離する方法を適用できるようにすることが望まし
い。
り、複種類のLUTがある。例えば、図9Aは白基準の電気LUTであり、隣接サブ画素
の階調が白の63階調のときを補正データ0としたものである。また、図9Bは自身基準
の電気LUTであり、両方の階調が等しいときを補正データ0としたものである。更に、
図9Cは黒基準の電気LUTであり、隣接サブ画素の階調が黒の0階調のときを補正デー
タ0としたものである。このように、2画面表示用の液晶表示パネルには複種類のLUT
があるが、いずれの種類のLUTに対しても同一の電気的なクロストークの補正データと
光学的なクロストークの補正データを分離する方法を適用できるようにすることが望まし
い。
本発明は、このような従来技術の問題点を解決すべくなされたものである。すなわち、
本発明の目的は、電気的なクロストークの補正データと光学的なクロストークの補正デー
タをサブ画素のRGB別に分離して、容易に電気LUTと光学LUTを取得することがで
き、更に、補正データを0にする階調の基準が異なってもその分離方法を適用することが
できるクロストーク補正テーブル取得装置を提供することにある。
本発明の目的は、電気的なクロストークの補正データと光学的なクロストークの補正デー
タをサブ画素のRGB別に分離して、容易に電気LUTと光学LUTを取得することがで
き、更に、補正データを0にする階調の基準が異なってもその分離方法を適用することが
できるクロストーク補正テーブル取得装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明のクロストーク補正テーブル取得装置は、RGB3つ
で一つの画素を構成するサブ画素が交互に隣接した第1画像と第2画像をスリットの遮光
により夫々異なる視方向に判別可能に表示する液晶表示パネルに生じる電気的なクロスト
ークと光学的なクロストークを補正するために、補正対象のサブ画素の階調と隣接サブ画
素の階調に対応した補正データからなる電気補正テーブルと、補正対象のサブ画素の階調
と隣接画素の同色のサブ画素に対応した補正データからなる光学補正テーブルが設けられ
、補正対象のサブ画素の階調に前記電気補正テーブルの補正データに基づく階調と前記光
学補正テーブルの補正データに基づく階調が加算されることによりクロストーク補正を行
うクロストーク補正部の前記電気補正テーブルと前記光学補正テーブルを取得するクロス
トーク補正テーブル取得装置において、補正データを0とする階調の基準値をそれぞれの
補正対象のサブ画素の階調に対して隣接サブ画素の階調と隣接画素の同色のサブ画素の階
調に設定し、補正対象のサブ画素の光学特性がこの基準値のときの光学特性との誤差が小
さくなるように階調が補正される前記電気補正テーブルおよび前記光学補正テーブルであ
って、補正対象のサブ画素が前記第1画像であるとき、前記液晶表示パネルに表示された
前記第1画像の光学特性を測定する光学測定器と、該光学測定器で測定される前記液晶表
示パネルの領域内の前記第2画像のRGB3色のサブ画素の階調中1色のみのサブ画素の
階調を前記基準値以外で表示させる制御部を備えたことを特徴とする。
で一つの画素を構成するサブ画素が交互に隣接した第1画像と第2画像をスリットの遮光
により夫々異なる視方向に判別可能に表示する液晶表示パネルに生じる電気的なクロスト
ークと光学的なクロストークを補正するために、補正対象のサブ画素の階調と隣接サブ画
素の階調に対応した補正データからなる電気補正テーブルと、補正対象のサブ画素の階調
と隣接画素の同色のサブ画素に対応した補正データからなる光学補正テーブルが設けられ
、補正対象のサブ画素の階調に前記電気補正テーブルの補正データに基づく階調と前記光
学補正テーブルの補正データに基づく階調が加算されることによりクロストーク補正を行
うクロストーク補正部の前記電気補正テーブルと前記光学補正テーブルを取得するクロス
トーク補正テーブル取得装置において、補正データを0とする階調の基準値をそれぞれの
補正対象のサブ画素の階調に対して隣接サブ画素の階調と隣接画素の同色のサブ画素の階
調に設定し、補正対象のサブ画素の光学特性がこの基準値のときの光学特性との誤差が小
さくなるように階調が補正される前記電気補正テーブルおよび前記光学補正テーブルであ
って、補正対象のサブ画素が前記第1画像であるとき、前記液晶表示パネルに表示された
前記第1画像の光学特性を測定する光学測定器と、該光学測定器で測定される前記液晶表
示パネルの領域内の前記第2画像のRGB3色のサブ画素の階調中1色のみのサブ画素の
階調を前記基準値以外で表示させる制御部を備えたことを特徴とする。
本発明のクロストーク補正テーブル取得装置によれば、このように、第2画像のRGB
3色のサブ画素の階調中1色のみのサブ画素の階調を前記基準値以外で表示させることに
より、他の2色のサブ画素による補正データは0でよいので、図13、図14に示すよう
に、基準値以外の1色を隣接サブ画素とする色の第1画像のサブ画素は電気的な補正とな
り、基準値以外の1色を隣接画素の同色サブ画素とする色の第1画像のサブ画素は光学的
な補正となって、電気的なクロストークの補正データと光学的なクロストークの補正デー
タをサブ画素のRGB別に分離することができる。また、補正データが0である基準値に
基づく方法であるので、本発明を、自身基準、白基準、黒基準など複種類のLUTに適用
することができる。
3色のサブ画素の階調中1色のみのサブ画素の階調を前記基準値以外で表示させることに
より、他の2色のサブ画素による補正データは0でよいので、図13、図14に示すよう
に、基準値以外の1色を隣接サブ画素とする色の第1画像のサブ画素は電気的な補正とな
り、基準値以外の1色を隣接画素の同色サブ画素とする色の第1画像のサブ画素は光学的
な補正となって、電気的なクロストークの補正データと光学的なクロストークの補正デー
タをサブ画素のRGB別に分離することができる。また、補正データが0である基準値に
基づく方法であるので、本発明を、自身基準、白基準、黒基準など複種類のLUTに適用
することができる。
また、本発明のクロストーク補正テーブル取得装置においては、前記補正対象のサブ画
素の階調がi1で前記隣接サブ画素の階調と前記隣接画素の同色のサブ画素の階調がi2
であるときの前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)と前記光学補正テー
ブルの補正データH2(i1、i2)を取得するとき、前記光学測定器が測定する領域内
の、前記第1画像のRGB全サブ画素の階調がi1で、前記第2画像のRGB全サブ画素
の階調が前記第1画像の階調i1に対応する前記基準値B(i1)のときの前記第1画像
の輝度を標準輝度k1(i1)として、また、そのときの前記第1画像のu'v'色度座標
を標準u'v'色度座標u'(i1)、v'(i1)として記憶する記憶回路を備え、
前記制御部は、前記第2画像のRGB全サブ画素の階調をi2にさせ、第1画像のサブ
画素の階調をRGB全て同じ値hで変化させることにより前記第1画像の輝度が前記標準
輝度k1(i1)に最も近い第1画像の輝度となる補正データhを求め、この補正データ
hを前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)と前記光学補正テーブルの補
正データH2(i1、i2)の合計とし、前記制御部は、前記第2画像のRGB3色中1
色のサブ画素の階調をi2にさせ、残りの2色のサブ画素の階調を前記基準値B(i1)
にさせ、前記階調i2のサブ画素が隣接サブ画素となる第1画像のサブ画素の階調をh1
変化させ、且つ、前記階調i2のサブ画素が隣接画素の同色サブ画素となる第1画像のサ
ブ画素の階調をh−h1=h2変化させることにより前記第1画像のu'v'色度座標が前
記標準u'v'色度座標u'(i1)、v'(i1)に最も近い第1画像の輝度となるh1と
h2を求めて、h1を前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)とし、h2
を前記光学補正テーブルの補正データH2(i1、i2)として前記記憶回路に記憶させ
るものであることが好ましい。
素の階調がi1で前記隣接サブ画素の階調と前記隣接画素の同色のサブ画素の階調がi2
であるときの前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)と前記光学補正テー
ブルの補正データH2(i1、i2)を取得するとき、前記光学測定器が測定する領域内
の、前記第1画像のRGB全サブ画素の階調がi1で、前記第2画像のRGB全サブ画素
の階調が前記第1画像の階調i1に対応する前記基準値B(i1)のときの前記第1画像
の輝度を標準輝度k1(i1)として、また、そのときの前記第1画像のu'v'色度座標
を標準u'v'色度座標u'(i1)、v'(i1)として記憶する記憶回路を備え、
前記制御部は、前記第2画像のRGB全サブ画素の階調をi2にさせ、第1画像のサブ
画素の階調をRGB全て同じ値hで変化させることにより前記第1画像の輝度が前記標準
輝度k1(i1)に最も近い第1画像の輝度となる補正データhを求め、この補正データ
hを前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)と前記光学補正テーブルの補
正データH2(i1、i2)の合計とし、前記制御部は、前記第2画像のRGB3色中1
色のサブ画素の階調をi2にさせ、残りの2色のサブ画素の階調を前記基準値B(i1)
にさせ、前記階調i2のサブ画素が隣接サブ画素となる第1画像のサブ画素の階調をh1
変化させ、且つ、前記階調i2のサブ画素が隣接画素の同色サブ画素となる第1画像のサ
ブ画素の階調をh−h1=h2変化させることにより前記第1画像のu'v'色度座標が前
記標準u'v'色度座標u'(i1)、v'(i1)に最も近い第1画像の輝度となるh1と
h2を求めて、h1を前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)とし、h2
を前記光学補正テーブルの補正データH2(i1、i2)として前記記憶回路に記憶させ
るものであることが好ましい。
本発明のクロストーク補正テーブル取得装置によれば、電気補正テーブルの補正データ
と前記光学補正テーブルの補正データの合計を条件に階調を変更させるので、階調の変更
回数が少なくなり、効率良く電気補正テーブルの補正データと前記光学補正テーブルの補
正データを取得することができる。
と前記光学補正テーブルの補正データの合計を条件に階調を変更させるので、階調の変更
回数が少なくなり、効率良く電気補正テーブルの補正データと前記光学補正テーブルの補
正データを取得することができる。
また、本発明のクロストーク補正テーブル取得装置においては、前記補正データを0に
する基準値は隣接サブ画素及び隣接画素の同色サブ画素が白表示となる階調であることが
好ましい。
する基準値は隣接サブ画素及び隣接画素の同色サブ画素が白表示となる階調であることが
好ましい。
本発明のクロストーク補正テーブル取得装置によれば、LUTは白基準であるので、補
正値に負は無い。即ち、補正値の最小値は0であるので、実験で仮の補正の初期値を0か
らスタートしてインクリメントさせながら最適な光学特性となる補正値を求めればよい。
これに対して、自身基準では補正値は正負の両方があるために、補正値の最小値が未定で
ある。したがって、実験で最適な光学特性となる補正値を求めるときは、非常に大きな仮
の補正値を設定するか、あるいはインクリメントとデクリメントの両方を行わなければな
らず、補正テーブルを取得するために多くの時間を消費する。このように、白基準にすれ
ば短時間で補正テーブルを取得することができる。また、自身基準のLUTと比較して階
調の差が目立つ輝度が低い部分の階調を広く補正することができるようになる。なお、輝
度が高い部分にわずか補正できない領域があるが、ここは輝度が高いために輝度の誤差が
目立ち難くなる。
正値に負は無い。即ち、補正値の最小値は0であるので、実験で仮の補正の初期値を0か
らスタートしてインクリメントさせながら最適な光学特性となる補正値を求めればよい。
これに対して、自身基準では補正値は正負の両方があるために、補正値の最小値が未定で
ある。したがって、実験で最適な光学特性となる補正値を求めるときは、非常に大きな仮
の補正値を設定するか、あるいはインクリメントとデクリメントの両方を行わなければな
らず、補正テーブルを取得するために多くの時間を消費する。このように、白基準にすれ
ば短時間で補正テーブルを取得することができる。また、自身基準のLUTと比較して階
調の差が目立つ輝度が低い部分の階調を広く補正することができるようになる。なお、輝
度が高い部分にわずか補正できない領域があるが、ここは輝度が高いために輝度の誤差が
目立ち難くなる。
また、本発明のクロストーク補正テーブル取得装置においては、前記補正データを0に
する基準値は隣接サブ画素及び隣接画素の同色サブ画素の階調と補正対象のサブ画素の階
調が同じになる階調であることが好ましい。
する基準値は隣接サブ画素及び隣接画素の同色サブ画素の階調と補正対象のサブ画素の階
調が同じになる階調であることが好ましい。
本発明のクロストーク補正テーブル取得装置によれば、LUTは自身基準であるので、
コントラストが高くなるよう補正することができるようになる。
コントラストが高くなるよう補正することができるようになる。
以下、実施形態及び図面を参照にして本発明を実施するための形態を説明するが、以下
に示す実施形態は、本発明をここに記載したものに限定することを意図するものではなく
、本発明は特許請求の範囲に示した技術思想を逸脱することなく種々の変更を行ったもの
にも均しく適用し得るものである。なお、この明細書における説明のために用いられた各
図面においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各
部材毎に縮尺を異ならせて表示しており、必ずしも実際の寸法に比例して表示されている
ものではない。
に示す実施形態は、本発明をここに記載したものに限定することを意図するものではなく
、本発明は特許請求の範囲に示した技術思想を逸脱することなく種々の変更を行ったもの
にも均しく適用し得るものである。なお、この明細書における説明のために用いられた各
図面においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各
部材毎に縮尺を異ならせて表示しており、必ずしも実際の寸法に比例して表示されている
ものではない。
本実施形態のクロストーク補正テーブル取得装置10は、液晶モジュール11中の液晶
表示パネル12に表示される画像の光学特性を測定して電気LUTと光学LUTを取得す
るための装置である。図1に示すように、液晶モジュール11は液晶表示パネル12の背
面から光を照射するバックライト13を有している。クロストーク補正テーブル取得装置
10は、各部を制御する制御部14と、制御部14が動作するプログラムや制御部14の
動作に必要なデータを記憶する記憶回路15と、制御部14から出力された例えばDVI
(Digital Visual Interface)規格の画像信号を液晶表示パネル12に適合する信号に変
換する画像処理回路16と、バックライト13を駆動するバックライト駆動回路17と、
液晶表示パネル12に表示された画像の輝度や色度などの光学特性を測定する光学測定器
18と、制御部14の例えばUSBポートと光学測定器18のRS232Cインターフェ
ースを相互に変換するIF(インターフェース)19を有している。
表示パネル12に表示される画像の光学特性を測定して電気LUTと光学LUTを取得す
るための装置である。図1に示すように、液晶モジュール11は液晶表示パネル12の背
面から光を照射するバックライト13を有している。クロストーク補正テーブル取得装置
10は、各部を制御する制御部14と、制御部14が動作するプログラムや制御部14の
動作に必要なデータを記憶する記憶回路15と、制御部14から出力された例えばDVI
(Digital Visual Interface)規格の画像信号を液晶表示パネル12に適合する信号に変
換する画像処理回路16と、バックライト13を駆動するバックライト駆動回路17と、
液晶表示パネル12に表示された画像の輝度や色度などの光学特性を測定する光学測定器
18と、制御部14の例えばUSBポートと光学測定器18のRS232Cインターフェ
ースを相互に変換するIF(インターフェース)19を有している。
次に、光学特性が測定される液晶表示パネル12について説明する。図2は液晶表示パ
ネル12の画素を示す図である。この液晶表示パネル12は、例えばカラーのWVGA規
格のものであるなら、行方向(横方向)に800画素、列方向(縦方向)に480画素有
している。1画素は光の3原色であるR(赤)・G(緑)・B(青)の3つのサブ画素か
らなっている。2画面液晶表示パネル12は、図3Aに示すように、カラーフィルタ層2
0の表示面側(図3Aの上側)に遮光層21を有している。この遮光層21には、図3B
に示すように、例えば市松模様状にスリット22が形成されている。
ネル12の画素を示す図である。この液晶表示パネル12は、例えばカラーのWVGA規
格のものであるなら、行方向(横方向)に800画素、列方向(縦方向)に480画素有
している。1画素は光の3原色であるR(赤)・G(緑)・B(青)の3つのサブ画素か
らなっている。2画面液晶表示パネル12は、図3Aに示すように、カラーフィルタ層2
0の表示面側(図3Aの上側)に遮光層21を有している。この遮光層21には、図3B
に示すように、例えば市松模様状にスリット22が形成されている。
この2画面液晶表示パネル12は、図3Aに示すように、サブ画素の市松模様の一方が
使用者から見て右方向(右ハンドル車の運転席方向)からのみ視認することができ、他方
が左方向(右ハンドル車の助手席方向)からのみ視認することができる。例えば、右方向
ではナビゲーション画面を視認し、左方向はDVD画面を視認することができるようにな
っている。
使用者から見て右方向(右ハンドル車の運転席方向)からのみ視認することができ、他方
が左方向(右ハンドル車の助手席方向)からのみ視認することができる。例えば、右方向
ではナビゲーション画面を視認し、左方向はDVD画面を視認することができるようにな
っている。
2画面液晶表示パネル12に入力される画像は合成画像であり、その画像は、図4に示
すように、例えば800画素×480画素の右視方向の画像と800画素×480画素の
左視方向の画像をサブ画素の市松模様に取捨選択して、1つの800画素×480画素の
画像を合成する。入力画像のサブ画素の階調データは6ビットであり、R・G・Bのそれ
ぞれの輝度は0階調〜63階調の64種類となる。液晶表示パネル1の輝度の駆動制御は
1階調単位である。即ち、整数でない階調を指定することはできない。しかしながら、1
画面(800画素×480画素)の周期、即ちフレーム周期は60Hzと速いことから、
残像を利用し、図5Aに示すように、4フレームを1周期として、1周期中に1階調増加
させるフレームを1つにした、0.25階調単位のFRC(Frame Rate Control)を行う
。例えば、1.75階調の期間中は、1周期の4フレーム中、1フレームを1階調にし、
残り3フレームを2階調にすれば、残像により1.75階調に見えることとなる。また、
フリッカを低減させるために、図5Bに示すように、1階調増加させるサブ画素の位置を
フレームの位置を変えて点在させる。
すように、例えば800画素×480画素の右視方向の画像と800画素×480画素の
左視方向の画像をサブ画素の市松模様に取捨選択して、1つの800画素×480画素の
画像を合成する。入力画像のサブ画素の階調データは6ビットであり、R・G・Bのそれ
ぞれの輝度は0階調〜63階調の64種類となる。液晶表示パネル1の輝度の駆動制御は
1階調単位である。即ち、整数でない階調を指定することはできない。しかしながら、1
画面(800画素×480画素)の周期、即ちフレーム周期は60Hzと速いことから、
残像を利用し、図5Aに示すように、4フレームを1周期として、1周期中に1階調増加
させるフレームを1つにした、0.25階調単位のFRC(Frame Rate Control)を行う
。例えば、1.75階調の期間中は、1周期の4フレーム中、1フレームを1階調にし、
残り3フレームを2階調にすれば、残像により1.75階調に見えることとなる。また、
フリッカを低減させるために、図5Bに示すように、1階調増加させるサブ画素の位置を
フレームの位置を変えて点在させる。
図4のように異なる画像が隣接すると、隣接サブ画素に異なる階調の電圧が印加されて
電気的なクロストークが発生し易くなる。例えば、図6Aに示すように、左視方向の画像
が中間調グレーべたに中央が黒で、右視方向の画像が中間調グレーべたのときは、右視方
向の画像の中央が電気的なクロストークによって電圧が変動してしまうので少し濃い中間
調グレーになって表示される。電気的なクロストークは上述の合成画像に限らず、隣接サ
ブ画素の階調が異なるときに発生するが、特に、合成画像では異なる画像のサブ画素が隣
接するために非常に大きなクロストークとなる。このために、2画面液晶表示パネル12
では電気的なクロストークの補正が必要である。また、図6Bに示すように、遮光層21
のスリット22の周縁で光の回折が生じて、隣接画素の同色のサブ画素からの光が漏れる
。この光学的なクロストークの補正も必要である。
電気的なクロストークが発生し易くなる。例えば、図6Aに示すように、左視方向の画像
が中間調グレーべたに中央が黒で、右視方向の画像が中間調グレーべたのときは、右視方
向の画像の中央が電気的なクロストークによって電圧が変動してしまうので少し濃い中間
調グレーになって表示される。電気的なクロストークは上述の合成画像に限らず、隣接サ
ブ画素の階調が異なるときに発生するが、特に、合成画像では異なる画像のサブ画素が隣
接するために非常に大きなクロストークとなる。このために、2画面液晶表示パネル12
では電気的なクロストークの補正が必要である。また、図6Bに示すように、遮光層21
のスリット22の周縁で光の回折が生じて、隣接画素の同色のサブ画素からの光が漏れる
。この光学的なクロストークの補正も必要である。
図7はこれらの電気的なクロストークの補正と光学的なクロストークの補正を行うクロ
ストーク補正部を備えた2画面表示装置30を示すブロック図である。図7において、実
線は2画面表示装置30を示し、破線は2画面表示装置30が組み込まれるナビゲーショ
ン装置50を示す。2画面表示装置30は、液晶表示パネル12と、ナビゲーション装置
50からの2つのソース画像(ナビゲーション画像、DVD画像)を2画面合成処理とク
ロストーク補正し液晶表示パネル12に出力する信号処理回路31と、信号処理回路31
の動作に必要な種々のデータを記憶するEEPROM32と、液晶表示パネル12に電源
を供給する電源供給回路33を備えている。
ストーク補正部を備えた2画面表示装置30を示すブロック図である。図7において、実
線は2画面表示装置30を示し、破線は2画面表示装置30が組み込まれるナビゲーショ
ン装置50を示す。2画面表示装置30は、液晶表示パネル12と、ナビゲーション装置
50からの2つのソース画像(ナビゲーション画像、DVD画像)を2画面合成処理とク
ロストーク補正し液晶表示パネル12に出力する信号処理回路31と、信号処理回路31
の動作に必要な種々のデータを記憶するEEPROM32と、液晶表示パネル12に電源
を供給する電源供給回路33を備えている。
信号処理回路31は、2つのソース画像を合成する2画面合成部34と、クロストーク
補正を行うクロストーク補正部35と、クロストーク補正部35で補正された信号を液晶
表示パネル12で表示できるように極性やタイミングを制御する出力信号生成部36と、
EEPROM32の入出力を制御するEEPROMコントローラー37を備えている。
補正を行うクロストーク補正部35と、クロストーク補正部35で補正された信号を液晶
表示パネル12で表示できるように極性やタイミングを制御する出力信号生成部36と、
EEPROM32の入出力を制御するEEPROMコントローラー37を備えている。
クロストーク補正部35は、前処理部38と電気補正部39と光学補正部40と演算部
41を備えている。前処理部38は2画面合成部34からの画像信号から必要なデータを
電気補正部39と光学補正部40と演算部41に送出する。電気補正部39はEEPRO
Mコントローラー37からの電気補正テーブル(電気LUT)(図8A参照)を記憶する
電気LUT42を有し、前処理部38から補正対象のサブ画素データと右隣のサブ画素デ
ータを入力して電気LUT42の電気補正テーブルから電気的な補正データを抽出する。
光学補正部40はEEPROMコントローラー37からの光学補正テーブル(光学LUT
)(図8B参照)を記憶する光学LUT43を有し、前処理部38から補正対象のサブ画
素データと右隣の画素の同色サブ画素データを入力して光学LUT43の光学補正テーブ
ルから光学的な補正データを抽出する。演算部41は前処理部38からの補正対象のサブ
画素データに、電気補正部39が抽出した電気的な補正データと、光学補正部40が抽出
した光学的な補正データを加算する。
41を備えている。前処理部38は2画面合成部34からの画像信号から必要なデータを
電気補正部39と光学補正部40と演算部41に送出する。電気補正部39はEEPRO
Mコントローラー37からの電気補正テーブル(電気LUT)(図8A参照)を記憶する
電気LUT42を有し、前処理部38から補正対象のサブ画素データと右隣のサブ画素デ
ータを入力して電気LUT42の電気補正テーブルから電気的な補正データを抽出する。
光学補正部40はEEPROMコントローラー37からの光学補正テーブル(光学LUT
)(図8B参照)を記憶する光学LUT43を有し、前処理部38から補正対象のサブ画
素データと右隣の画素の同色サブ画素データを入力して光学LUT43の光学補正テーブ
ルから光学的な補正データを抽出する。演算部41は前処理部38からの補正対象のサブ
画素データに、電気補正部39が抽出した電気的な補正データと、光学補正部40が抽出
した光学的な補正データを加算する。
EEPROM32には、図8Aに示す電気補正テーブルと図8Bに示す光学補正テーブ
ルが記憶されている。電気補正テーブルには補正対象のサブ画素の全ての階調に対する全
ての隣接サブ画素の階調の電気的な補正データが記憶され、光学補正テーブルには補正対
象のサブ画素の全ての階調に対する隣接画素の同色サブ画素の全ての階調の光学的な補正
データが記憶されている。この補正データは実験で求められた値である。ナビゲーション
装置50の電源スイッチ(不図示)がONにされると、EEPROMコントローラー37
はEEPROM32の電気補正テーブルを電気LUT42に転送し、光学補正テーブルを
光学LUT43に転送する。
ルが記憶されている。電気補正テーブルには補正対象のサブ画素の全ての階調に対する全
ての隣接サブ画素の階調の電気的な補正データが記憶され、光学補正テーブルには補正対
象のサブ画素の全ての階調に対する隣接画素の同色サブ画素の全ての階調の光学的な補正
データが記憶されている。この補正データは実験で求められた値である。ナビゲーション
装置50の電源スイッチ(不図示)がONにされると、EEPROMコントローラー37
はEEPROM32の電気補正テーブルを電気LUT42に転送し、光学補正テーブルを
光学LUT43に転送する。
電気補正テーブルと光学補正テーブルは補正データを0にする階調の基準をどこにする
かにより、複種類のLUTがある。例えば、図9Aは白基準の電気LUTであり、隣接サ
ブ画素の階調が白の63階調のときを補正データ0とし、図9Bは自身基準の電気LUT
であり、両方の階調が等しいときを補正データ0とし、図9Cは黒基準の電気LUTであ
り、隣接サブ画素の階調が黒の0階調のときを補正データ0とする。本実施形態では電気
補正テーブルと光学補正テーブル共に白基準である。白基準のLUTは自身基準のLUT
と比較して階調の差が目立つ輝度が低い部分の階調を広く補正することができる。なお、
輝度が高い部分にわずか補正できない領域があるが、ここは輝度が高いために輝度の誤差
が目立ちにくい。また、自身基準のLUTはコントラストが高いという長所がある。
かにより、複種類のLUTがある。例えば、図9Aは白基準の電気LUTであり、隣接サ
ブ画素の階調が白の63階調のときを補正データ0とし、図9Bは自身基準の電気LUT
であり、両方の階調が等しいときを補正データ0とし、図9Cは黒基準の電気LUTであ
り、隣接サブ画素の階調が黒の0階調のときを補正データ0とする。本実施形態では電気
補正テーブルと光学補正テーブル共に白基準である。白基準のLUTは自身基準のLUT
と比較して階調の差が目立つ輝度が低い部分の階調を広く補正することができる。なお、
輝度が高い部分にわずか補正できない領域があるが、ここは輝度が高いために輝度の誤差
が目立ちにくい。また、自身基準のLUTはコントラストが高いという長所がある。
上述の構成における2画面表示装置30の画像処理について説明する。図7に示すよう
に、2画面合成部34は、ナビゲーション装置50のナビゲーション部51から入力され
る800画素×480画素のナビゲーション画像とDVD再生部52から入力される80
0画素×480画素のDVD再生画像をサブ画素の市松模様に取捨選択して、1つの80
0画素×480画素の画像を合成する。クロストーク補正部35の前処理部38は2画面
合成部34から入力された合成画像より補正対象のサブ画素データ(6ビットの階調デー
タ)を電気補正部39と光学補正部40に出力し、右隣のサブ画素データを電気補正部3
9に出力する。電気補正部39は電気LUT42の電気補正テーブルを用いて、入力され
た補正対象のサブ画素データと右隣のサブ画素データの電気的な補正データを抽出する。
光学補正部40は光学LUT43の光学補正テーブルを用いて、入力された補正対象のサ
ブ画素データと右隣の画素の同色サブ画素データの光学的な補正データを抽出する。演算
部41は前処理部38からの補正対象のサブ画素に、電気補正部39が抽出した電気的な
補正データと、光学補正部40が抽出した光学的な補正データとを加算する。
に、2画面合成部34は、ナビゲーション装置50のナビゲーション部51から入力され
る800画素×480画素のナビゲーション画像とDVD再生部52から入力される80
0画素×480画素のDVD再生画像をサブ画素の市松模様に取捨選択して、1つの80
0画素×480画素の画像を合成する。クロストーク補正部35の前処理部38は2画面
合成部34から入力された合成画像より補正対象のサブ画素データ(6ビットの階調デー
タ)を電気補正部39と光学補正部40に出力し、右隣のサブ画素データを電気補正部3
9に出力する。電気補正部39は電気LUT42の電気補正テーブルを用いて、入力され
た補正対象のサブ画素データと右隣のサブ画素データの電気的な補正データを抽出する。
光学補正部40は光学LUT43の光学補正テーブルを用いて、入力された補正対象のサ
ブ画素データと右隣の画素の同色サブ画素データの光学的な補正データを抽出する。演算
部41は前処理部38からの補正対象のサブ画素に、電気補正部39が抽出した電気的な
補正データと、光学補正部40が抽出した光学的な補正データとを加算する。
上述のように、EEPROM32には、電気的なクロストーク補正を行うための電気L
UTと、光学的なクロストーク補正を行うための光学LUTが予め記憶されている。この
電気LUTと光学LUTを実験で取得する方法について説明する。図10は図1の制御部
14の動作、すなわち、記憶回路15に記憶されているプログラムを制御部14が実行す
る内容を示すフローチャートである。制御部14は、予め内部のレジスタ(図示せず)に
変数の定義(図10の右上欄参照)を行う(ステップS10)。
UTと、光学的なクロストーク補正を行うための光学LUTが予め記憶されている。この
電気LUTと光学LUTを実験で取得する方法について説明する。図10は図1の制御部
14の動作、すなわち、記憶回路15に記憶されているプログラムを制御部14が実行す
る内容を示すフローチャートである。制御部14は、予め内部のレジスタ(図示せず)に
変数の定義(図10の右上欄参照)を行う(ステップS10)。
ここでは、赤色の階調の配列変数R(0)を0、R(1)を1、・・・R(n)をn、
・・・R(63)を63と定義し、緑色の階調の配列変数G(0)を0、G(1)を1、
・・・G(n)をn、・・・G(63)を63と定義し、青色の階調の配列変数B(0)
を0、B(1)を1、・・・B(n)をn、・・・B(63)を63と定義する。また、
非視角側の階調が基準の63階調(補正データが0)で視角側の階調がi1のときの標準
輝度の配列変数をk1(i1)と定義し、光学測定器18によってクロストークを含む状
態で測定された輝度をk2と定義する。また、測定された輝度と標準輝度との更新前の誤
差率をWF1と定義し、更新後の誤差率をWF2と定義する。また、仮の複合補正データ
(複合補正データとは電気的な補正データと光学的な補正データを加えたものである。)
の変数をhと定義し、仮の電気的な補正データをh1と定義し、仮の光学的な補正データ
をh2と定義する。
・・・R(63)を63と定義し、緑色の階調の配列変数G(0)を0、G(1)を1、
・・・G(n)をn、・・・G(63)を63と定義し、青色の階調の配列変数B(0)
を0、B(1)を1、・・・B(n)をn、・・・B(63)を63と定義する。また、
非視角側の階調が基準の63階調(補正データが0)で視角側の階調がi1のときの標準
輝度の配列変数をk1(i1)と定義し、光学測定器18によってクロストークを含む状
態で測定された輝度をk2と定義する。また、測定された輝度と標準輝度との更新前の誤
差率をWF1と定義し、更新後の誤差率をWF2と定義する。また、仮の複合補正データ
(複合補正データとは電気的な補正データと光学的な補正データを加えたものである。)
の変数をhと定義し、仮の電気的な補正データをh1と定義し、仮の光学的な補正データ
をh2と定義する。
更に、それぞれの階調と非視角側の(隣接の)それぞれの階調のときの電気的な補正デ
ータの配列変数をH1(0,0)〜H1(63,63)と定義し、それぞれの階調と非視
角側の(隣接の)それぞれの階調のときの光学的な補正データの配列変数をH2(0,0
)〜H2(63,63)と定義する。また、非視角側の階調が基準の63階調(補正デー
タが0)で視角側の階調がi1のときの標準u'v'色度座標の配列変数をu1'(i1)
,v1'(i1)と定義し、光学測定器18によってクロストークを含む状態で測定され
たu'v'色度座標をu2'v2'と定義し、測定されたu'v'色度座標と標準u'v'色度座
標との更新前の距離をD1と定義し、測定されたu'v'色度座標と標準u'v'色度座標と
の更新後の距離をD2と定義する。なお、補正データが0となる非視角側の階調が基準の
63階調のときのそれぞれの視角側の階調i1の標準輝度k(i1)と、標準u'v'色度
座標u1'(i1),v1'(i1)はあらかじめ測定されて記憶回路15に記憶されてい
る。
ータの配列変数をH1(0,0)〜H1(63,63)と定義し、それぞれの階調と非視
角側の(隣接の)それぞれの階調のときの光学的な補正データの配列変数をH2(0,0
)〜H2(63,63)と定義する。また、非視角側の階調が基準の63階調(補正デー
タが0)で視角側の階調がi1のときの標準u'v'色度座標の配列変数をu1'(i1)
,v1'(i1)と定義し、光学測定器18によってクロストークを含む状態で測定され
たu'v'色度座標をu2'v2'と定義し、測定されたu'v'色度座標と標準u'v'色度座
標との更新前の距離をD1と定義し、測定されたu'v'色度座標と標準u'v'色度座標と
の更新後の距離をD2と定義する。なお、補正データが0となる非視角側の階調が基準の
63階調のときのそれぞれの視角側の階調i1の標準輝度k(i1)と、標準u'v'色度
座標u1'(i1),v1'(i1)はあらかじめ測定されて記憶回路15に記憶されてい
る。
制御部14は、階調のループ用変数i1の初期値を初期値0に設定し、非視角側の階調
のループ用変数i2の初期値を初期値0に設定する(ステップS11)。そして、電気的
な補正データと光学的な補正データの合計である複合補正データの取得処理を行う(ステ
ップS12)。次いで、電気的な補正データと光学的な補正データの取得処理を行う(ス
テップS13)。制御部14は、ステップS13の処理後、非視角側の階調を示すループ
用の変数i2が最終階調の63になるまで、i2を1ずつインクリメントさせて、ステッ
プS12〜ステップS15を繰り返す。ループ用の変数i2が最終階調の63になると(
ステップS14のY)、制御部14は、視角側の階調を示すループ用の変数i1が最終階
調の63になるまで、i1を1ずつインクリメントさせるとともにループ用の変数i2を
0に戻し、ステップS12〜ステップS17を繰り返す。制御部14は、ループ用の変数
i1が最終階調の63になると(ステップS16のY)処理を終了する。
のループ用変数i2の初期値を初期値0に設定する(ステップS11)。そして、電気的
な補正データと光学的な補正データの合計である複合補正データの取得処理を行う(ステ
ップS12)。次いで、電気的な補正データと光学的な補正データの取得処理を行う(ス
テップS13)。制御部14は、ステップS13の処理後、非視角側の階調を示すループ
用の変数i2が最終階調の63になるまで、i2を1ずつインクリメントさせて、ステッ
プS12〜ステップS15を繰り返す。ループ用の変数i2が最終階調の63になると(
ステップS14のY)、制御部14は、視角側の階調を示すループ用の変数i1が最終階
調の63になるまで、i1を1ずつインクリメントさせるとともにループ用の変数i2を
0に戻し、ステップS12〜ステップS17を繰り返す。制御部14は、ループ用の変数
i1が最終階調の63になると(ステップS16のY)処理を終了する。
図11は図10のステップS12である複合補正データの取得処理のサブルーチンであ
る。制御部14は、仮の複合補正データの変数hを最小の0に設定し、測定された輝度と
標準輝度との更新前の誤差率の変数WF1を最大の1に設定する(ステップS20)。そ
して、制御部14は、少なくとも光学測定領域すべての視角側のサブ画素の階調をR(i
1+h),G(i1+h),B(i1+h)で、非視角側のサブ画素の階調をR(i2)
,G(i2),B(i2)で表示させる(ステップS21)。図13AはステップS21
の表示状態を示す図である。図13Aに示すように、視角側のRGB全てのサブ画素には
非視角側のサブ画素の階調i2に対応する電気的なクロストーク補正と光学的なクロスト
ーク補正を必要とする。
る。制御部14は、仮の複合補正データの変数hを最小の0に設定し、測定された輝度と
標準輝度との更新前の誤差率の変数WF1を最大の1に設定する(ステップS20)。そ
して、制御部14は、少なくとも光学測定領域すべての視角側のサブ画素の階調をR(i
1+h),G(i1+h),B(i1+h)で、非視角側のサブ画素の階調をR(i2)
,G(i2),B(i2)で表示させる(ステップS21)。図13AはステップS21
の表示状態を示す図である。図13Aに示すように、視角側のRGB全てのサブ画素には
非視角側のサブ画素の階調i2に対応する電気的なクロストーク補正と光学的なクロスト
ーク補正を必要とする。
制御部14は、この表示の輝度測定データを光学測定器18によって計測された値を変
数kとし(ステップS22)、この階調のときの標準輝度の配列関数k1(i1)との誤
差率WF2=abs((k1(i1)−k)/k1(i1))を計算する(ステップS2
3)。制御部14は、この誤差率が最低になるまで、視角側のサブ画素の階調をFRCの
最小単位である0.25階調ずつインクリメントさせて、誤差率が最低になったときの補
正データhを求める(ステップS24〜S27)。
数kとし(ステップS22)、この階調のときの標準輝度の配列関数k1(i1)との誤
差率WF2=abs((k1(i1)−k)/k1(i1))を計算する(ステップS2
3)。制御部14は、この誤差率が最低になるまで、視角側のサブ画素の階調をFRCの
最小単位である0.25階調ずつインクリメントさせて、誤差率が最低になったときの補
正データhを求める(ステップS24〜S27)。
詳しくは、制御部14は、ステップS23で計算した誤差率WF2が更新前の誤差率W
F1よりも小さければ(ステップS24のN)、まだ誤差が最低になる補正データがある
として誤差率WF1を誤差率WF2に更新したうえで仮の誤差率hを0.25加算する(
ステップS25)。そして、i1+hが最大の63を超えていなければ(ステップS26
のN)、ステップS21に戻る。制御部14は、ステップS23で計算した誤差率WF2
が更新前の誤差率WF1以上であれば(ステップS24のY)、1つ前のループの補正デ
ータのときに誤差率WF2が最低であったとして、現在の補正データhを0.25減算す
る(ステップS27)。この補正データhは電気的な補正データと光学的な補正データの
合計である。また、制御部14は、i1+hが最大の63を超えれば、異常状態になった
ものとして、ループから抜けるためにステップS27に進む。図13Aに示すように、ス
テップS27で求められた補正データhは視角側のサブ画素の階調がi1で非視角側のサ
ブ画素がi2のときの電気的な補正データと光学的な補正データを合わせたものである。
F1よりも小さければ(ステップS24のN)、まだ誤差が最低になる補正データがある
として誤差率WF1を誤差率WF2に更新したうえで仮の誤差率hを0.25加算する(
ステップS25)。そして、i1+hが最大の63を超えていなければ(ステップS26
のN)、ステップS21に戻る。制御部14は、ステップS23で計算した誤差率WF2
が更新前の誤差率WF1以上であれば(ステップS24のY)、1つ前のループの補正デ
ータのときに誤差率WF2が最低であったとして、現在の補正データhを0.25減算す
る(ステップS27)。この補正データhは電気的な補正データと光学的な補正データの
合計である。また、制御部14は、i1+hが最大の63を超えれば、異常状態になった
ものとして、ループから抜けるためにステップS27に進む。図13Aに示すように、ス
テップS27で求められた補正データhは視角側のサブ画素の階調がi1で非視角側のサ
ブ画素がi2のときの電気的な補正データと光学的な補正データを合わせたものである。
図12は図10のステップS13である個々の補正データの取得処理のサブルーチンで
ある。制御部14は、仮の電気的な補正データh1をステップS27で求めた仮の複合補
正データの変数hに設定し、仮の光学的補正データh2を0に設定し、測定されたu'v'
色度座標と標準u'v'色度座標との更新前の距離D1を大きな値10に設定する(ステッ
プS30)。そして、制御部14は、少なくとも光学測定領域すべての視角側のサブ画素
の階調をR(i1),G(i1+h1),B(i1+h2)で、非視角側のサブ画素の階
調をR(63),G(63),B(i2)で表示させる(ステップS31)。図13Bは
ステップS31の表示状態を示す図である。本LUTは白基準であるために、非視角側の
サブ画素の階調が63の白表示のときには補正データは0である。したがって、図13B
に示すように、非視角側のBのサブ画素を隣接サブ画素とする視角側のGのサブ画素のみ
電気的なクロストーク補正を必要とし、視角側のBのサブ画素のみ光学的なクロストーク
補正を必要とする。
ある。制御部14は、仮の電気的な補正データh1をステップS27で求めた仮の複合補
正データの変数hに設定し、仮の光学的補正データh2を0に設定し、測定されたu'v'
色度座標と標準u'v'色度座標との更新前の距離D1を大きな値10に設定する(ステッ
プS30)。そして、制御部14は、少なくとも光学測定領域すべての視角側のサブ画素
の階調をR(i1),G(i1+h1),B(i1+h2)で、非視角側のサブ画素の階
調をR(63),G(63),B(i2)で表示させる(ステップS31)。図13Bは
ステップS31の表示状態を示す図である。本LUTは白基準であるために、非視角側の
サブ画素の階調が63の白表示のときには補正データは0である。したがって、図13B
に示すように、非視角側のBのサブ画素を隣接サブ画素とする視角側のGのサブ画素のみ
電気的なクロストーク補正を必要とし、視角側のBのサブ画素のみ光学的なクロストーク
補正を必要とする。
制御部14は、この表示のu'v'色度座標を光学測定器17によって計測された値を変
数kとし(ステップS32)、標準u'v'色度座標までの距離D2=((u2'−u1'(
i1))^2+(v2'−v1'(i1))^2)^0.5を計算する(ステップS33)
。制御部14は、この距離D2が最低になるまで、仮の電気的な補正データh1をFRC
の最小単位である0.25階調ずつデクリメントさせるともに、仮の光学的な補正データ
h2をFRCの最小単位である0.25階調ずつインクリメントさせて距離D2が最低に
なったときの仮の電気的な補正データh1と仮の光学的な補正データh2を求める(ステ
ップS31〜S36)。
数kとし(ステップS32)、標準u'v'色度座標までの距離D2=((u2'−u1'(
i1))^2+(v2'−v1'(i1))^2)^0.5を計算する(ステップS33)
。制御部14は、この距離D2が最低になるまで、仮の電気的な補正データh1をFRC
の最小単位である0.25階調ずつデクリメントさせるともに、仮の光学的な補正データ
h2をFRCの最小単位である0.25階調ずつインクリメントさせて距離D2が最低に
なったときの仮の電気的な補正データh1と仮の光学的な補正データh2を求める(ステ
ップS31〜S36)。
詳しくは、制御部14は、ステップS33で計算した距離D2が更新前の距離D1以上
でなければ(ステップS34のN)、まだ距離が最低になる補正データがあるとして距離
D1を距離D2に更新したうえで仮の電気的な補正データh1を0.25階調減算すると
ともに、仮の光学的な補正データh2を0.25階調加算させる(ステップS35)。そ
して、変数h1が負でなければ(ステップS36のN)、ステップS31に戻る。制御部
14は、ステップS33で計算した距離D2が更新前の距離D1以上であれば(ステップ
S34のY)、1つ前のループの補正データのときに距離D2が最低であったとして、仮
の電気的な補正データh1を0.25階調加算したものを電気LUTの補正データとして
記憶回路に記憶させ、仮の光学的な補正データh2を0.25階調減算したものを光学L
UTの補正データとして記憶回路に記憶させる(ステップS37)。また、制御部14は
、変数h1が負であれば(ステップS36のY)、異常状態になったものとして、ループ
から抜けるためにステップS37に進む。
でなければ(ステップS34のN)、まだ距離が最低になる補正データがあるとして距離
D1を距離D2に更新したうえで仮の電気的な補正データh1を0.25階調減算すると
ともに、仮の光学的な補正データh2を0.25階調加算させる(ステップS35)。そ
して、変数h1が負でなければ(ステップS36のN)、ステップS31に戻る。制御部
14は、ステップS33で計算した距離D2が更新前の距離D1以上であれば(ステップ
S34のY)、1つ前のループの補正データのときに距離D2が最低であったとして、仮
の電気的な補正データh1を0.25階調加算したものを電気LUTの補正データとして
記憶回路に記憶させ、仮の光学的な補正データh2を0.25階調減算したものを光学L
UTの補正データとして記憶回路に記憶させる(ステップS37)。また、制御部14は
、変数h1が負であれば(ステップS36のY)、異常状態になったものとして、ループ
から抜けるためにステップS37に進む。
このように、本発明はステップS12で、電気LUTの補正データと光学LUTの補正
データの合計を求め、ステップS13で、非視角側のRGB3色のサブ画素の階調中1色
のみのサブ画素の階調を補正データ0以外の階調で表示させることにより、補正すべき電
気的なサブ画素と補正すべき光学的なサブ画素をRGB別に分離させ、電気LUTの補正
データと光学LUTの補正データの合計値を条件階調を変化させて、電気LUTの補正デ
ータと光学LUTの補正データを取得するので、少ない階調の変化で容易に電気LUTの
補正データと光学LUTの補正データをえることができる。また、LUTは多くの補正デ
ータを有しているが、プログラムによって補正データの取得動作を行うために、自動化が
でき、人的な労力を削減することができる。なお、LUTは白基準であるので、補正値に
負は無い。即ち、補正値の最小値は0であるので、ステップS20やステップS30のよ
うに、実験で仮の補正の初期値を0からスタートしてインクリメントさせながら最適な光
学特性となる補正値を求めればよい。これに対して、自身基準では補正値は正負の両方が
あるために、補正値の最小値が未定である。したがって、実験で最適な光学特性となる補
正値を求めるときは、非常に大きな仮の補正値を設定するか、あるいはインクリメントと
デクリメントの両方を行わなければならず、補正テーブルを取得するために多くの時間を
消費する。このように、白基準にすれば短時間で補正テーブルを取得することができる。
データの合計を求め、ステップS13で、非視角側のRGB3色のサブ画素の階調中1色
のみのサブ画素の階調を補正データ0以外の階調で表示させることにより、補正すべき電
気的なサブ画素と補正すべき光学的なサブ画素をRGB別に分離させ、電気LUTの補正
データと光学LUTの補正データの合計値を条件階調を変化させて、電気LUTの補正デ
ータと光学LUTの補正データを取得するので、少ない階調の変化で容易に電気LUTの
補正データと光学LUTの補正データをえることができる。また、LUTは多くの補正デ
ータを有しているが、プログラムによって補正データの取得動作を行うために、自動化が
でき、人的な労力を削減することができる。なお、LUTは白基準であるので、補正値に
負は無い。即ち、補正値の最小値は0であるので、ステップS20やステップS30のよ
うに、実験で仮の補正の初期値を0からスタートしてインクリメントさせながら最適な光
学特性となる補正値を求めればよい。これに対して、自身基準では補正値は正負の両方が
あるために、補正値の最小値が未定である。したがって、実験で最適な光学特性となる補
正値を求めるときは、非常に大きな仮の補正値を設定するか、あるいはインクリメントと
デクリメントの両方を行わなければならず、補正テーブルを取得するために多くの時間を
消費する。このように、白基準にすれば短時間で補正テーブルを取得することができる。
なお、上述のLUTは白基準であったが、白基準での63階調を0階調にすることで、
本発明を容易に黒基準に適用することができる。また、自身基準にも適用することができ
る。図14Aは白基準の図13Aに対応する自身基準の図であり、図14Bは白基準の図
13Bに対応する自身基準の図である。13Bのように、自身基準では視角側と非視角側
の階調が等しいときに補正データが0であるので、非視角側のRGBの内2色のみを視角
側と同じ階調i1にすればよい。
本発明を容易に黒基準に適用することができる。また、自身基準にも適用することができ
る。図14Aは白基準の図13Aに対応する自身基準の図であり、図14Bは白基準の図
13Bに対応する自身基準の図である。13Bのように、自身基準では視角側と非視角側
の階調が等しいときに補正データが0であるので、非視角側のRGBの内2色のみを視角
側と同じ階調i1にすればよい。
10:光学測定システム 11:液晶モジュール 12:液晶表示パネル 13:バッ
クライト 14:制御部 15:記憶回路 16:画像処理回路 17:バックライト駆
動回路 18:光学測定器 19:IF 20:カラーフィルタ層 21:遮光層 22
:スリット 30:2画面表示装置 31:信号処理回路 32:EEPROM 33:
電源供給回路 34:2画面合成部 35:クロストーク補正部 36:出力信号生成部
37:EEPROMコントローラ 38:前処理部 39:電気補正部 40:光学補
正部 41:演算部 42:電気LUT 43:光学LUT 50:ナビゲーション装置
51:ナビゲーション部 52:DVD再生部
クライト 14:制御部 15:記憶回路 16:画像処理回路 17:バックライト駆
動回路 18:光学測定器 19:IF 20:カラーフィルタ層 21:遮光層 22
:スリット 30:2画面表示装置 31:信号処理回路 32:EEPROM 33:
電源供給回路 34:2画面合成部 35:クロストーク補正部 36:出力信号生成部
37:EEPROMコントローラ 38:前処理部 39:電気補正部 40:光学補
正部 41:演算部 42:電気LUT 43:光学LUT 50:ナビゲーション装置
51:ナビゲーション部 52:DVD再生部
Claims (4)
- RGB3つで一つの画素を構成するサブ画素が交互に隣接した第1画像と第2画像をス
リットの遮光により夫々異なる視方向に判別可能に表示する液晶表示パネルに生じる電気
的なクロストークと光学的なクロストークを補正するために、補正対象のサブ画素の階調
と隣接サブ画素の階調に対応した補正データからなる電気補正テーブルと、補正対象のサ
ブ画素の階調と隣接画素の同色のサブ画素に対応した補正データからなる光学補正テーブ
ルが設けられ、補正対象のサブ画素の階調に前記電気補正テーブルの補正データに基づく
階調と前記光学補正テーブルの補正データに基づく階調が加算されることによりクロスト
ーク補正を行うクロストーク補正部の前記電気補正テーブルと前記光学補正テーブルを取
得するクロストーク補正テーブル取得装置において、
補正データを0とする階調の基準値をそれぞれの補正対象のサブ画素の階調に対して隣
接サブ画素の階調と隣接画素の同色のサブ画素の階調に設定し、補正対象のサブ画素の光
学特性がこの基準値のときの光学特性との誤差が小さくなるように階調が補正される前記
電気補正テーブルおよび前記光学補正テーブルであって、
補正対象のサブ画素が前記第1画像であるとき、前記液晶表示パネルに表示された前記
第1画像の光学特性を測定する光学測定器と、該光学測定器で測定される前記液晶表示パ
ネルの領域内の前記第2画像のRGB3色のサブ画素の階調中1色のみのサブ画素の階調
を前記基準値以外で表示させる制御部を備えたことを特徴とするクロストーク補正テーブ
ル取得装置。 - 補正対象のサブ画素の階調がi1で隣接サブ画素の階調と隣接画素の同色のサブ画素の
階調がi2であるときの前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)と前記光
学補正テーブルの補正データH2(i1、i2)を取得するとき、
前記光学測定器が測定する領域内の、前記第1画像のRGB全サブ画素の階調がi1で
、前記第2画像のRGB全サブ画素の階調が前記第1画像の階調i1に対応する前記基準
値B(i1)のときの前記第1画像の輝度を標準輝度k1(i1)として、また、そのと
きの前記第1画像のu'v'色度座標を標準u'v'色度座標u'(i1)、v'(i1)とし
て記憶する記憶回路を備え、
前記制御部は、前記第2画像のRGB全サブ画素の階調をi2にさせ、第1画像のサブ
画素の階調をRGB全て同じ値hで変化させることにより前記第1画像の輝度が前記標準
輝度k1(i1)に最も近い第1画像の輝度となる補正データhを求め、この補正データ
hを前記電気補正テーブルの補正データH1(i1、i2)と前記光学補正テーブルの補
正データH2(i1、i2)の合計とし、
前記制御部は、前記第2画像のRGB3色中1色のサブ画素の階調をi2にさせ、残り
の2色のサブ画素の階調を前記基準値B(i1)にさせ、前記階調i2のサブ画素が隣接
サブ画素となる第1画像のサブ画素の階調をh1変化させ、且つ、前記階調i2のサブ画
素が隣接画素の同色サブ画素となる第1画像のサブ画素の階調をh−h1=h2変化させ
ることにより前記第1画像のu'v'色度座標が前記標準u'v'色度座標u'(i1)、v'
(i1)に最も近い第1画像の輝度となるh1とh2を求めて、h1を前記電気補正テー
ブルの補正データH1(i1、i2)とし、h2を前記光学補正テーブルの補正データH
2(i1、i2)として前記記憶回路に記憶させることを特徴とする請求項1に記載のク
ロストーク補正テーブル取得装置。 - 前記補正データを0にする基準値は隣接サブ画素及び隣接画素の同色サブ画素が白表示
となる階調であることを特徴とする請求項1に記載のクロストーク補正テーブル取得装置
。 - 前記補正データを0にする基準値は隣接サブ画素及び隣接画素の同色サブ画素の階調と
補正対象のサブ画素の階調が同じになる階調であることを特徴とする請求項1に記載のク
ロストーク補正テーブル取得装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009045354A JP2010197926A (ja) | 2009-02-27 | 2009-02-27 | クロストーク補正テーブル取得装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009045354A JP2010197926A (ja) | 2009-02-27 | 2009-02-27 | クロストーク補正テーブル取得装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010197926A true JP2010197926A (ja) | 2010-09-09 |
Family
ID=42822674
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009045354A Pending JP2010197926A (ja) | 2009-02-27 | 2009-02-27 | クロストーク補正テーブル取得装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010197926A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114999335A (zh) * | 2022-06-10 | 2022-09-02 | 长春希达电子技术有限公司 | 基于超宽带、一维包络峰值的led拼接屏修缝方法 |
-
2009
- 2009-02-27 JP JP2009045354A patent/JP2010197926A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114999335A (zh) * | 2022-06-10 | 2022-09-02 | 长春希达电子技术有限公司 | 基于超宽带、一维包络峰值的led拼接屏修缝方法 |
CN114999335B (zh) * | 2022-06-10 | 2023-08-15 | 长春希达电子技术有限公司 | 基于超宽带、一维包络峰值的led拼接屏修缝方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Effective date: 20100702 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Effective date: 20100702 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 |