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JP2010177291A - Method of generating library data for board appearance inspection, and method of generating inspection data - Google Patents

Method of generating library data for board appearance inspection, and method of generating inspection data Download PDF

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JP2010177291A JP2009015905A JP2009015905A JP2010177291A JP 2010177291 A JP2010177291 A JP 2010177291A JP 2009015905 A JP2009015905 A JP 2009015905A JP 2009015905 A JP2009015905 A JP 2009015905A JP 2010177291 A JP2010177291 A JP 2010177291A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To generate library data depending on features of components in appearance by a simple operation. <P>SOLUTION: One of components of the same type on a substrate is selected as a representative component based on CAD data, and a screen on which a model image of a region including the representative component is displayed is activated. A display field 102 for a list of a component type icon is provided on this screen. When the component type corresponding to the representative component is selected, a sample image of a sub-component type belonging to the selected component type is displayed on the adjacent display field 108. When a user carries out an operation for selecting the sample image and an operation for adding a component body region W in an image display region 100 to the representative component, an inspection region based on a setting rule of the selected sub-component type is set to the representative component, and displayed. Depending on a definite operation to the display, a setting rule of basic library data that is modified so as to match the displayed inspection region is registered as low-level variation of the selected sub-component type. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、部品実装基板の自動外観検査を行う検査装置に検査データを教示する際に使用される部品単位のライブラリデータを、コンピュータを用いて作成する方法、および検査データの作成方法に関する。   The present invention relates to a method of creating library data for each component used when teaching inspection data to an inspection apparatus that performs automatic appearance inspection of a component mounting board, and a method of generating inspection data.

基板外観検査のための検査データには、一般に、検査領域の設定データ(検査領域の数および各検査領域の設定位置および大きさを示すもの)や、各検査領域で被検査部位を抽出するための2値化しきい値、各検査領域における測定処理のロジック、判定基準値などが含まれる。具体的な検査の内容は、部品の外観に応じて異なるため、従来の基板外観検査装置では、ティーチング作業の負荷を軽減するために、検査対象基板の各部品に「ライブラリデータ」と呼ばれる標準の検査データを適用し、適用された検査データを必要に応じて調整するようにしている。   In general, inspection data for substrate appearance inspection is to extract inspection area setting data (indicating the number of inspection areas and the setting position and size of each inspection area), and the inspection site in each inspection area. The binarization threshold value, the logic of the measurement process in each inspection region, the determination reference value, and the like are included. The specific contents of inspection differ depending on the appearance of the parts. Therefore, in the conventional board appearance inspection apparatus, in order to reduce the burden of teaching work, each part of the board to be inspected has a standard called “library data”. The inspection data is applied, and the applied inspection data is adjusted as necessary.

出願人が提供する基板外観検査装置では、各種部品を、それぞれの外観に基づき、複数の部品種に分類し、さらに各部品種を、部品の色彩や電極の数の違いなどに基づき細分類することにより、複数種の「バリエーション」を設定して、バリエーション単位でライブラリデータを登録している。この場合、一般的なティーチング処理では、検査対象基板の良品モデルを撮像して、各部品の画像を表示し、表示された部品に適合する部品種およびバリエーションをユーザに選択させることによって、各部品にライブラリデータを対応づける。   In the circuit board inspection system provided by the applicant, various parts are classified into multiple parts types based on their respective appearances, and each part type is further subdivided based on the color of the parts and the number of electrodes. Thus, multiple types of “variations” are set and library data is registered in units of variations. In this case, in a general teaching process, a non-defective model of the board to be inspected is imaged, an image of each part is displayed, and the user selects a part type and a variation that match the displayed part. Associate library data with.

さらに基板上の各部品にライブラリデータを簡単に対応づけられるようにすることを目的とした発明を開示した文献として、以下の特許文献1,2をあげる。   Further, the following Patent Documents 1 and 2 are cited as documents disclosing the invention for the purpose of making it easy to associate library data with each component on the board.

特許文献1には、検査対象基板のモデルの画像と当該基板の基板設計情報とを用いて、基板設計情報が示す各部品に対応するバリエーションを特定する方法が開示されている。具体的にこの方法では、基板設計情報が示す座標位置にある部品を撮像し、生成された画像に各バリエーションのライブラリデータを順に適用して被検査部位(部品本体およびランド)を抽出し、抽出された被検査部位とその部位の検査に用いる検査領域とが重なる部分の面積を算出する。そして、この重なり面積が最も大きかったバリエーションを処理対象の部品に対応するものとして特定する。   Patent Document 1 discloses a method for specifying a variation corresponding to each component indicated by board design information using an image of a model of a board to be inspected and board design information of the board. Specifically, in this method, the part located at the coordinate position indicated by the board design information is imaged, the library data of each variation is sequentially applied to the generated image, and the inspected part (part main body and land) is extracted and extracted. The area of a portion where the inspection target region and the inspection region used for the inspection of the region overlap is calculated. Then, the variation having the largest overlap area is specified as corresponding to the component to be processed.

さらにこの特許文献1には、特定されたバリエーションの名称と基板設計情報が示す処理対象部品の部品型式とを対応づけた部品コード変換テーブルを作成することによって、基板設計情報が示す各種部品の実装位置にそれぞれ該当するライブラリデータを自動的に適用できる状態にすることが、記載されている。   Further, in Patent Document 1, a component code conversion table in which the name of the specified variation is associated with the component type of the processing target component indicated by the board design information is used to mount various components indicated by the board design information. It is described that library data corresponding to each position can be automatically applied.

一方、特許文献2には、個々の部品の外観情報をユーザ自身に入力させて、入力された外観情報に適合するライブラリデータをデータベースから読み出す方法により、各部品に対応するライブラリデータを特定することが記載されている。また、外観情報を入力する際に、教示対象部品の具体的な画像と、この部品に対応する部品種について入力すべき項目とを表示し、各項目につき、所定数の外観情報の選択肢の中から表示中の部品に該当するものを選択させることが記載されている。   On the other hand, Patent Document 2 specifies the library data corresponding to each component by allowing the user himself / herself to input the appearance information of each component and reading the library data that matches the input appearance information from the database. Is described. In addition, when inputting appearance information, a specific image of the teaching target part and items to be input for the part type corresponding to this part are displayed, and a predetermined number of appearance information options are displayed for each item. It is described that the item corresponding to the displayed part is selected.

特許3906780号公報Japanese Patent No. 3906780 特開2008−32525号公報JP 2008-32525 A

ライブラリデータは、基板検査のエキスパートのノウハウに基づいて設定されるので、各部品に適切なライブラリデータを対応づけることができれば、後は、適用されたデータによる検査領域や検査用パラメータを個々の部品に応じて調整することによって、精度の良い検査を行えるように設定することができる。   The library data is set based on the know-how of board inspection experts. If appropriate library data can be associated with each part, the inspection area and inspection parameters based on the applied data can be used for each part. By adjusting according to this, it can set so that a test | inspection with a sufficient precision can be performed.

しかし、基板の良品モデルの画像を参照しながら各部品に該当する部品種やバリエーションを選択する作業や、ライブラリデータの適用により設定された検査データを調整する作業には、知識や経験が必要であり、初心者に任せるのは困難である。   However, knowledge and experience are required to select the part type and variation corresponding to each part while referring to the non-defective model image of the board, and to adjust the inspection data set by applying library data. Yes, it is difficult to leave it to beginners.

また特許文献1のバリエーションを自動判別する方法でも、2値化処理により本来の外観の特徴が十分反映されない2値パターンが生成された場合には、バリエーションを正しく特定できない可能性がある。たとえば、チップ抵抗などでは、製造上、部品全体に占める電極の割合にかなりのばらつきが見られるが、バリエーションの特定においては、このばらつきを考慮する必要は殆どない。しかし、特許文献1の方法では、電極部分を除く部品本体部を2値化により抽出して検査領域とを比較するので、部品全体に占める電極の割合が大きくなると、検査領域に対する部品本体部の一致度が下がってしまい、バリエーションを正しく特定できない可能性がある。   In the method of automatically discriminating variations of Patent Document 1, if a binary pattern that does not sufficiently reflect the original appearance characteristics is generated by the binarization process, there is a possibility that the variation cannot be correctly specified. For example, in the case of chip resistance and the like, there is a considerable variation in the ratio of electrodes in the entire part in manufacturing, but it is almost unnecessary to consider this variation in specifying the variation. However, in the method of Patent Document 1, since the component main body part excluding the electrode portion is extracted by binarization and compared with the inspection area, if the ratio of the electrode in the entire part increases, the component main body part with respect to the inspection area increases. There is a possibility that the degree of coincidence decreases and the variation cannot be specified correctly.

また、チップ部品には部品本体の色彩の違いに基づきバリエーションが設定されるが、部品本体の2値化処理では、本体表面の印刷パターンの影響により2値化により抽出される面積が小さくなることがある。このような場合には、適合するバリエーションとの照合で部品本体用の検査領域と2値化により抽出された部品本体との重なり面積が小さくなり、バリエーションの特定に誤りが生じる可能性がある。   In addition, variations are set for chip parts based on the difference in color of the component body. However, in the binarization process of the component body, the area extracted by binarization is reduced due to the influence of the print pattern on the body surface. There is. In such a case, the overlapping area between the inspection area for the component main body and the component main body extracted by binarization is reduced by matching with a suitable variation, and there is a possibility that an error occurs in specifying the variation.

特許文献2による方法では、実際の部品の画像表示を参考にして部品やはんだ部分などの外観をユーザに指定させるが、この種の入力の内容はユーザの主観によって異なる可能性がある。またはんだ付け部位などについて微妙な色彩の違いを判断させると、かえってユーザの負荷が増えてしまう。   In the method according to Patent Document 2, the user specifies the appearance of a component, a solder portion, or the like with reference to an image display of an actual component, but the contents of this type of input may vary depending on the user's subjectivity. Also, if a subtle difference in color is determined for a soldered part or the like, the load on the user increases.

本発明では、上記の各問題点を考慮して、簡単な操作により個々の部品の外観上の特徴に応じたライブラリデータを作成できるようにすることによって、経験が乏しいユーザでも、外観検査用の検査データを容易かつ適切に作成できるようにすることを、課題とする。   In the present invention, in consideration of the above-mentioned problems, library data corresponding to the appearance characteristics of individual parts can be created by a simple operation. It is an object to make it possible to create inspection data easily and appropriately.

本発明のライブラリデータの作成方法では、あらかじめ、各種部品をそれぞれの外観に基づき分類することにより設定した複数の部品種を、それぞれ検査用パラメータに影響を及ぼす外観の差異に基づき所定数のサブ部品種に細分類して、サブ部品種毎に検査領域の設定ルールと各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた基本ライブラリデータを設定し、各部品種および各サブ部品種の階層関係と、各サブ部品種の基本ライブラリデータとをコンピュータに登録する。そして、このコンピュータにおいて、以下のステップA,B,C,D,E,Fを実行する。   In the library data creation method of the present invention, a predetermined number of sub-parts are determined based on the difference in appearance that affects each of the inspection parameters. Subdividing into product types, setting basic library data that associates inspection area setting rules with inspection parameters applied to each inspection area for each sub-part type, and the hierarchical relationship between each part type and each sub-part type The basic library data of each sub-part type is registered in the computer. In this computer, the following steps A, B, C, D, E, and F are executed.

ステップAでは、実装される各部品の型式および実装位置ならびに部品の向きを表す基板設計情報と、この基板設計情報に基づき製作された良品基板の画像とを入力する。ステップBでは、基板設計情報に基づき、良品基板に実装されている型式名称が同一の部品の中の1つを代表部品として選択して、この代表部品が識別表示された良品基板の画像を、各部品種の模式図のリストとともに表示する。なお、代表部品を識別する表示には、表示される部品を代表部品のみに限定して表示する処理が含まれる。   In step A, board design information indicating the type and mounting position of each component to be mounted and the orientation of the component, and an image of a non-defective board manufactured based on this board design information are input. In step B, based on the board design information, one of the parts having the same model name mounted on the non-defective board is selected as a representative part, and an image of the non-defective board on which the representative part is identified and displayed Displayed with a list of schematic diagrams for each component type. It should be noted that the display for identifying the representative component includes processing for displaying only the representative component as the displayed component.

ステップCでは、模式図として表示された部品種の中のいずれか1つを選択する操作を受け付けて、選択された部品種に属するサブ部品種の外観の特徴を模式したサンプル画像のリストを良品基板の画像と並列表示する。ステップDでは、良品基板の画像の表示領域において、代表部品に対応する範囲を指定する操作を受け付ける。   In Step C, an operation for selecting any one of the component types displayed as the schematic diagram is accepted, and a list of sample images that schematically illustrate the appearance characteristics of the sub-component types belonging to the selected component type is displayed. Display in parallel with the board image. In Step D, an operation for designating a range corresponding to the representative component in the image display area of the non-defective substrate is accepted.

ステップEでは、サンプル画像として表示されたサブ部品種の中のいずれか1つを選択する操作を受け付けて、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基づき、ステップDで指定された範囲および代表部品の向きに適合するように所定数の検査領域を設定する。   In step E, an operation for selecting any one of the sub-part types displayed as the sample image is accepted, and the range specified in step D based on the inspection area setting rule for the selected sub-part type. A predetermined number of inspection areas are set so as to match the orientation of the representative part.

ステップFでは、ステップEで設定された検査領域を画像の表示領域に重ね表示し、この表示後に確定操作が行われたとき、選択されたサブ部品種の基本ライブラリデータを確定操作時に表示されている検査領域に基づき修正したものを当該サブ部品種のバリエーションのライブラリデータとして、代表部品の型式名称に対応づけて保存する。   In step F, the inspection area set in step E is displayed overlaid on the image display area. When a confirmation operation is performed after this display, the basic library data of the selected sub-part type is displayed during the confirmation operation. The data corrected based on the inspection area is stored as the library data of the variation of the sub-part type in association with the model name of the representative part.

上記の方法では、事前に、部品種毎に、部品本体部の色彩や電極の形状などの想定できる差異に基づき複数のサブ部品種を設定し、サブ部品種毎に基本ライブラリデータを作成する。ただし、ここでいう「サブ部品種毎の基本ライブラリデータ」は、必ずしもサブ部品種毎に独立させる必要はなく、同一部品種内のサブ部品種に共通で設定することができる情報を、上位の部品種の基本ライブラリデータとして共有し、各サブ部品種には他のサブ部品種とは異なる情報のみを設定してもよい。   In the above method, a plurality of sub-part types are set in advance for each part type based on possible differences such as the color of the part main body and the shape of the electrode, and basic library data is created for each sub-part type. However, the “basic library data for each sub-component type” here does not necessarily need to be independent for each sub-component type, and information that can be set in common for sub-component types within the same component type It may be shared as basic library data of component types, and only information different from other sub component types may be set for each sub component type.

上記の方法によれば、ユーザは、処理対象の型式名称の代表部品の画像を、各部品種の模式図のリストやサブ部品種のサンプル画像のリストと照合することによって、代表部品に該当する部品種およびサブ部品種を容易に選択することができる。また代表部品の画像に対する範囲指定操作により、代表部品に対応する範囲を容易に指定することができる。   According to the above method, the user collates the image of the representative part of the model name to be processed with a list of schematic diagrams of each part type and a list of sample images of the sub-part types, so that the part corresponding to the representative part The type and sub-part type can be easily selected. In addition, the range corresponding to the representative part can be easily specified by the range specifying operation for the image of the representative part.

コンピュータでは、上記の各操作を受け付けることによって、ユーザが選択したサブ部品種の基本ライブラリデータに含まれる設定ルールを、代表部品に対応する範囲や代表部品の向きに合わせて適用することで所定数の検査領域を設定し、これらの検査領域を代表部品の画像に重ね表示する。さらにこの表示によりユーザが検査領域が適正であると判断して確定操作を行うと、選択中のサブ部品種のライブラリデータを確定操作時の検査領域に適合するように修正したものを代表部品のライブラリデータとして、当該部品の型式名称に対応づけて保存する。   By accepting each operation described above, the computer applies a set rule included in the basic library data of the sub-part type selected by the user according to the range corresponding to the representative part and the orientation of the representative part. The inspection areas are set, and these inspection areas are displayed superimposed on the image of the representative part. Furthermore, when the user determines that the inspection area is appropriate by this display and performs a confirming operation, the library data of the selected sub-part type is modified so that it matches the inspection area at the confirming operation. Library data is stored in association with the model name of the part.

上記によれば、部品の型式毎に、その型式に適したサブ部品種を選択する操作や、当該サブ部品種には定義されていない外観の特徴を入力する処理を容易に行って、ライブラリデータを作成することができる。また登録されるライブラリデータには、そのライブラリデータを適用する部品の型式名称が対応づけられるので、以後は、この形式名称により基板設計情報への対応づけを自動的に行うことができる。   According to the above, for each part type, library data can be easily obtained by selecting an appropriate sub-part type suitable for that type or inputting an external feature that is not defined for the sub-part type. Can be created. In addition, since the registered library data is associated with the model name of the part to which the library data is applied, it is possible to automatically associate with the board design information using this format name.

つぎに、上記方法の好ましい一実施態様では、ステップEにおいて、電極の数および部品本体に対する電極の配置が複数とおり想定されるタイプのサブ部品種が選択されたとき、代表部品の電極の数および電極の配置状態について入力を受け付けるステップを実行した後に、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールをこの入力内容に合わせて、電極およびはんだ検査用の検査領域を設定する。   Next, in a preferred embodiment of the above method, in step E, when the number of electrodes and the sub-component type of a plurality of types of electrode arrangements with respect to the component body are selected, the number of electrodes of the representative component and After executing the step of accepting input regarding the arrangement state of the electrodes, the inspection area for the selected sub-component type is set in accordance with the input content, and the inspection area for the electrode and solder inspection is set.

上記の態様によれば、IC,SOPなどのリード電極を具備する部品について、実際の部品の電極の数や電極の配置に応じた検査領域を設定するためのライブラリデータを、容易に作成することができる。   According to the above aspect, library data for setting an inspection region according to the number of electrodes of an actual part and the arrangement of the electrodes can be easily created for parts having lead electrodes such as IC and SOP. Can do.

他の好ましい実施態様では、ステップAにおいて、良品基板の部品が実装される前の画像をさらに入力する。またステップEにおいて、ステップCで指定された代表部品の範囲および代表部品の向き、ならびに選択されたサブ部品種のはんだ検査用の検査領域の設定ルールに基づき、部品が実装される前の画像から代表部品に対応するランドを抽出する。さらに、設定ルールに基づくはんだ検査用の検査領域を抽出されたランドに適合するように調整する。   In another preferred embodiment, in step A, an image before the non-defective board component is mounted is further input. Further, in step E, from the image before the component is mounted based on the range of the representative component specified in step C, the orientation of the representative component, and the setting rule of the inspection area for solder inspection of the selected sub-component type. The land corresponding to the representative part is extracted. Furthermore, the inspection area for solder inspection based on the setting rule is adjusted so as to match the extracted land.

上記の態様によれば、実際の部品実装前の基板の画像から抽出されたランドに基づいて、はんだ検査用の検査領域を調整し、調整後の検査領域に応じた設定ルールを含むライブラリデータを作成することが可能になる。よって、このライブラリデータを実際の基板に適用して作成される検査データでも、はんだ検査用の検査領域が基板のランドに対応する範囲に設定される確度が高まり、検査データを修正する頻度を減らすことができる。   According to said aspect, based on the land extracted from the image of the board | substrate before actual component mounting, the test | inspection area for solder inspection is adjusted, The library data containing the setting rule according to the test | inspection area after adjustment It becomes possible to create. Therefore, even in the inspection data created by applying this library data to an actual board, the accuracy of setting the inspection area for solder inspection in the range corresponding to the land of the board is increased, and the frequency of correcting the inspection data is reduced. be able to.

さらに本発明では、上記のステップA〜Fの実行後に、ステップFで保存された新規のライブラリデータに対応づけられた型式名称により前記基板設計情報に登録されている全ての部品に、それぞれその部品の位置および向きに合わせて前記ライブラリデータを適用するステップGを実行することにより、実装部品毎の検査データを容易に作成することが可能になる。   Further, according to the present invention, after executing the above steps A to F, all the components registered in the board design information by the model name associated with the new library data stored in step F are included in the respective components. By executing the step G in which the library data is applied in accordance with the position and orientation, inspection data for each mounted component can be easily created.

上記のとおり、本発明では、同じ型式の部品毎に、代表の部品の画像を部品種の模式図リストやサブ部品種のサンプル画像のリストとともに表示し、当該型式に最も適合するサブ部品種をユーザが容易に選択できるようにした。また選択されたサブ部品種には定義されていない外観の特徴についても、簡単な操作で適切に入力することができるので、検査データの設定に慣れていないユーザでも、実装される部品に適したライブラリデータを容易に作成することが可能になる。   As described above, in the present invention, for each part of the same model, an image of a representative part is displayed together with a schematic diagram list of part types and a list of sample images of sub part types, and the sub part type most suitable for the model is displayed. The user can select easily. Appearance features that are not defined for the selected sub-part type can also be entered appropriately with simple operations, so even users who are not used to setting inspection data are suitable for the parts to be mounted. Library data can be easily created.

また、本発明で作成されるライブラリデータには型式名称が対応づけられているので、この型式名称に基づき基板設計情報中の該当部品にライブラリデータを適用することができる。また、このライブラリデータは、既に、実際の部品の画像に合わせて検査領域の設定ルールが調整されているので、個々の部品に対する検査領域の調整を不要または簡易にすることができ、検査データの作成を効率良く行うことが可能になる。   In addition, since the model name is associated with the library data created in the present invention, the library data can be applied to the corresponding part in the board design information based on the model name. In addition, since this library data has already been adjusted for inspection area setting rules in accordance with the image of the actual part, adjustment of the inspection area for each part can be made unnecessary or simple, and inspection data It becomes possible to create efficiently.

基板外観検査装置の構成を検査データ作成用のコンピュータとの関係とともに示す図である。It is a figure which shows the structure of a board | substrate external appearance inspection apparatus with the relationship with the computer for test | inspection data creation. 検査データ作成システムが提示する基本の設定画面を示す図である。It is a figure which shows the basic setting screen which an inspection data creation system presents. 基本の設定画面について、部品種アイコンの選択を変更した後の表示例を示す図である。It is a figure which shows the example of a display after changing selection of a component type icon about a basic setting screen. バリエーションの作成画面の初期状態の表示例を示す図である。It is a figure which shows the example of a display of the initial state of the creation screen of a variation. 部品本体領域を調整したときの作成画面を示す図である。It is a figure which shows the creation screen when adjusting a component main body area | region. サブ部品種の選択を変更したときの作成画面を示す図である。It is a figure which shows the creation screen when selection of a sub component type is changed. 検査領域の設定表示に表示が切り替えられた状態を示す図である。It is a figure which shows the state switched to the setting display of a test | inspection area | region. 処理対象の型式が変更されたときの作成画面を示す図である。It is a figure which shows a creation screen when the model of a process target is changed. 部品本体領域を調整したときの作成画面を示す図である。It is a figure which shows the creation screen when adjusting a component main body area | region. 部品種の選択を変更したときの作成画面を示す図である。It is a figure which shows the creation screen when selection of a component type is changed. 電極数の入力が完了したときの作成画面を示す図である。It is a figure which shows the creation screen when the input of the number of electrodes is completed. 検査領域の設定表示に表示が切り替えられた状態を示す図である。It is a figure which shows the state switched to the setting display of a test | inspection area | region. 既存バリエーションの確認用のウィンドウが表示された状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the window for confirmation of the existing variation was displayed. 検査データ作成システムの基本の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the basic process sequence of a test | inspection data creation system. バリエーションの作成処理に関する詳細な処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the detailed process sequence regarding the creation process of a variation.

図1は、部品実装基板の自動外観検査を行う検査装置1の主要構成を、この検査装置1に接続されるパーソナルコンピュータ7ととともに示す。   FIG. 1 shows a main configuration of an inspection apparatus 1 that performs an automatic appearance inspection of a component mounting board, together with a personal computer 7 connected to the inspection apparatus 1.

この実施例の検査装置1は、はんだの印刷工程、部品の実装工程、およびリフロー工程により製作された完成体の基板Sを対象にした検査を実行するためのもので、カラー撮影用のカメラ2、照明部3、基板ステージ4、および制御処理部5などにより構成される。   The inspection apparatus 1 according to this embodiment is for performing an inspection on a substrate S of a finished product manufactured by a solder printing process, a component mounting process, and a reflow process. , The illumination unit 3, the substrate stage 4, and the control processing unit 5.

基板ステージ4には、基板Sを支持するためのテーブル部41や、このテーブル部41をX,Yの各軸方向に移動させるための移動機構42などが設けられる。カメラ2は、基板ステージ4の上方に、撮像面を下方に向け、かつ光軸を鉛直方向に合わせた状態で配備される。   The substrate stage 4 is provided with a table unit 41 for supporting the substrate S, a moving mechanism 42 for moving the table unit 41 in the X and Y axial directions, and the like. The camera 2 is arranged above the substrate stage 4 with the imaging surface facing downward and the optical axis aligned with the vertical direction.

照明部3には、赤、緑、青の各色彩光をそれぞれ発する円環状光源3R,3G,3Bが含まれており、基板ステージ4とカメラ3との間に配置される。各光源3R,3G,3Bは、それぞれ径が異なり、また各中心部をカメラ2の光軸に合わせた状態で配備される。これにより、基板Sに対し、赤、緑、青の各光が、それぞれ仰角が異なる方向から照射されるので、はんだフィレットやリード電極などの鏡面反射性の高い部位の傾斜状態を各照明光の色彩パターンにより表現した画像を生成することができる。   The illumination unit 3 includes annular light sources 3R, 3G, and 3B that emit red, green, and blue color lights, respectively, and are disposed between the substrate stage 4 and the camera 3. Each of the light sources 3R, 3G, and 3B has a different diameter, and is disposed in a state in which each central portion is aligned with the optical axis of the camera 2. Thereby, since each light of red, green, and blue is irradiated to the board | substrate S from the direction where an elevation angle differs, the inclination state of highly specular reflective parts, such as a solder fillet and a lead electrode, is shown for each illumination light. An image expressed by a color pattern can be generated.

制御処理部5には、コンピュータによる制御部50のほか、画像入力部51、撮像制御部52、照明制御部53、XYステージ制御部54、メモリ55、表示部56、入力部57、通信インターフェース58などが設けられる。   The control processing unit 5 includes a computer control unit 50, an image input unit 51, an imaging control unit 52, an illumination control unit 53, an XY stage control unit 54, a memory 55, a display unit 56, an input unit 57, and a communication interface 58. Etc. are provided.

画像入力部51には、カメラ2からの画像をディジタル変換するためのA/D変換回路などが含まれる。撮像制御部52は、カメラ2に対し、撮像を指示するタイミング信号を出力し、照明制御部53は、各光源3R,3G,3Bの点消灯動作や光量を制御する。XYステージ制御部54は、基板ステージ4の移動のタイミングやX,Yの各軸方向における移動量を制御する。   The image input unit 51 includes an A / D conversion circuit for digitally converting an image from the camera 2. The imaging control unit 52 outputs a timing signal for instructing imaging to the camera 2, and the illumination control unit 53 controls the on / off operation and the light amount of each of the light sources 3R, 3G, and 3B. The XY stage controller 54 controls the movement timing of the substrate stage 4 and the movement amount in the X and Y axial directions.

メモリ55には、検査を実行するための一連の処理手順が記述されたプログラムや検査データ格納用のデータベース(以下、「検査用データベース」という。)が格納される。検査用データベースには、検査対象の基板Sに実装される部品毎に、設定すべき検査領域の位置および大きさ、各検査領域で被検査部位の色彩を検出するための2値化しきい値、被検査部位の測定値(主として面積)の適否を判定するための判定ロジックや判定基準値など、複数種の検査データが設定される。   The memory 55 stores a program describing a series of processing procedures for executing an inspection and a database for storing inspection data (hereinafter referred to as “inspection database”). In the inspection database, for each component mounted on the substrate S to be inspected, the position and size of the inspection area to be set, the binarized threshold value for detecting the color of the part to be inspected in each inspection area, A plurality of types of inspection data such as determination logic and determination reference values for determining the suitability of the measurement value (mainly area) of the region to be inspected are set.

本明細書では、上記の検査データのうち、被検査部位の色彩を抽出するための2値化しきい値を「色パラメータ」と呼び、判定ロジックや判定基準値を「検査基準データ」と総称する。また、色パラメータおよび検査基準データをひとくくりにして、「検査用パラメータ」という場合もある。   In the present specification, among the above inspection data, the binarized threshold value for extracting the color of the part to be inspected is referred to as “color parameter”, and the determination logic and the determination reference value are collectively referred to as “inspection reference data”. . Further, the color parameters and the inspection reference data may be collectively referred to as “inspection parameters”.

検査用データベースには、さらに基板Sに対するカメラ2の視野の割り付けに関するデータが格納されている。制御部50は、このデータに基づきXYステージ制御部54を介して基板ステージ4の移動を制御することにより、カメラ2を割り付けられた撮像対象領域に順に位置合わせし、撮像を行う。毎時の撮像により生成されたカラー画像は、画像入力部51を介して制御部50に入力され、その内部のメモリ(RAMなど)に格納される。制御部50は、この内部メモリに格納された画像中の部品に順に着目し、着目部品に対し、その検査データに基づき、検査領域の設定、2値化、計測、良否判定の各処理を順に実行する。   The inspection database further stores data related to the assignment of the field of view of the camera 2 to the substrate S. Based on this data, the control unit 50 controls the movement of the substrate stage 4 via the XY stage control unit 54, thereby aligning the camera 2 with the assigned imaging target region in order and performing imaging. A color image generated by imaging every hour is input to the control unit 50 via the image input unit 51 and stored in an internal memory (such as a RAM). The control unit 50 pays attention to the components in the image stored in the internal memory in order, and sequentially sets the inspection area, binarization, measurement, and pass / fail judgment processing for the target component based on the inspection data. Execute.

制御部50は、通信インターフェース58および通信回線6を介して、図中のパーソナルコンピュータ7や図示しない上位機器に接続されている。制御部50は、1枚の基板Sの検査が終了する都度、その基板Sに対する検査の結果や検査に用いられた画像などを、上位機器に出力する。また、検査結果や画像は、表示部56にも表示される。   The control unit 50 is connected to the personal computer 7 in the figure and a host device (not shown) via the communication interface 58 and the communication line 6. Each time the inspection of one substrate S is completed, the control unit 50 outputs the inspection result for the substrate S, the image used for the inspection, and the like to the host device. In addition, the inspection result and the image are also displayed on the display unit 56.

この実施例のパーソナルコンピュータ7には、上記の検査装置で使用される検査データを作成するためのシステム(以下、「検査データ作成システム」または単に「システム」という。)が組み込まれている。この検査データ作成システムには、複数の部品種にそれぞれサブ部品種を対応づけた階層構造データが登録されている。部品種は、想定され得る各種部品の外観を、主として部品本体の形状の違いにより分類することで設定されたものである。サブ部品種は、各部品種を、部品の色彩や電極の形状などの違いに基づき細分類することで設定されたものである。   The personal computer 7 of this embodiment incorporates a system (hereinafter referred to as “inspection data creation system” or simply “system”) for creating inspection data used in the above-described inspection apparatus. In this inspection data creation system, hierarchical structure data in which sub-part types are associated with a plurality of part types is registered. The component type is set by classifying the appearance of various components that can be assumed mainly by the difference in the shape of the component body. The sub component type is set by subdividing each component type based on differences in the color of the component, the shape of the electrode, and the like.

さらに各部品種には、当該部品種に適した検査領域の基本の設定ルールが登録されている。また各サブ部品種には、上位の部品種の検査領域の設定ルールへのリンク情報と、サブ部品種の外観の特徴に応じた検査用パラメータとを含む基本ライブラリデータが登録されている。   Further, for each component type, a basic setting rule of an inspection area suitable for the component type is registered. Each sub-part type is registered with basic library data including link information to the setting rule for the inspection region of the upper part type and inspection parameters corresponding to the appearance characteristics of the sub-part type.

この検査データ作成システムでは、基板Sの良品モデルの画像(以下、「モデル画像」という。)や基板SのCADデータを入力し、これらの入力情報と上記の基本ライブラリデータとを用いて、CADデータが表す部品の型式毎に、その型式に適したサブ部品種を特定し、特定されたサブ部品種にリンクする検査用パラメータを使用して、当該型式に対応するバリエーションのライブラリデータ(以下、単に「バリエーション」という。)を作成して登録する(既にバリエーションが登録されている型式については、この処理は不要である。)。登録処理が終了すると、CADデータが示す各部品にそれぞれその型式に応じたバリエーションを適用して、各部品の検査データを作成する。   In this inspection data creation system, a non-defective model image of the substrate S (hereinafter referred to as “model image”) and CAD data of the substrate S are input, and the CAD data is input using these input information and the basic library data. For each part type represented by the data, specify a sub-part type suitable for that type, and use the inspection parameters linked to the specified sub-part type, and use the library data of the variation corresponding to that type (hereinafter, Simply create a "variation") and register it (this process is not required for models for which variations are already registered). When the registration process ends, each part indicated by the CAD data is applied with a variation corresponding to its model to create inspection data for each part.

さらにこの検査データ作成システムには、作成された検査データによりモデル画像に対するテスト検査を実行する機能や、この検査で不良と判定された部品の検査データを修正する機能などが設けられる。また、後記する部品種アイコンやサンプル画像など、ユーザインターフェースの設定に関わる画像データもシステム内に登録される。   Further, the inspection data creation system is provided with a function of executing a test inspection on a model image using the generated inspection data, a function of correcting inspection data of a part determined to be defective in this inspection, and the like. Also, image data related to user interface settings, such as component type icons and sample images described later, are also registered in the system.

上記の各機能により完成した検査データは、検査装置1に送信され、メモリ55内の検査用データベースに格納される。ただし、この検査データ作成システムを検査装置1内に導入し、検査装置1に直接教示作業を行うことも可能である。   The inspection data completed by each function described above is transmitted to the inspection apparatus 1 and stored in the inspection database in the memory 55. However, it is also possible to introduce the inspection data creation system into the inspection apparatus 1 and perform a teaching operation directly on the inspection apparatus 1.

以下、検査データの作成に用いるバリエーションを作成する処理について、ユーザインターフェースの機能を中心に説明する。   Hereinafter, the process of creating a variation used for creating inspection data will be described focusing on the function of the user interface.

図2〜12は、検査データ入力システムがバリエーションの作成処理を行う際にモニタ17(図1に示す。)に提示する画面を、提示の順に示したものである。まず、図2は、バリエーションの作成画面に進む前の基本の設定画面であって、画面の左側には、モデル画像を表示するための画像表示領域100が設けられる。また右側には、ユーザに処理を進めさせるための処理領域101が設けられる。   2 to 12 show screens presented on the monitor 17 (shown in FIG. 1) in the order of presentation when the examination data input system performs variation creation processing. 2 is a basic setting screen before proceeding to the variation creation screen, and an image display area 100 for displaying a model image is provided on the left side of the screen. On the right side, a processing area 101 for allowing the user to proceed with the processing is provided.

処理領域101には、「部品登録」「検査基準」「テストランニング」「検査画像」の4つのタブが設けられ、選択されたタブに応じた処理用の表示が展開される。バリエーションの作成処理を行う場合には、「部品登録」のタブが選択される。このときの処理領域101には、部品種アイコンの表示欄102、部品種の階層構造の表示欄103、CADデータの読み出し用のボタン104、自動貼り付けボタン105などが表示される。   In the processing area 101, four tabs of “part registration”, “inspection standard”, “test running”, and “inspection image” are provided, and a display for processing corresponding to the selected tab is developed. When the variation creation process is performed, the “part registration” tab is selected. In the processing area 101 at this time, a component type icon display column 102, a component type hierarchical structure display column 103, a CAD data read button 104, an automatic paste button 105, and the like are displayed.

各部品種アイコンは、登録されている部品種につき1つずつ設定される。各部品種アイコンは、対応する部品種の部品に共通する外観を模式したマークとして構成される。また表示欄103には、選択されたアイコンに対応する部品種の階層構造が表示される。初期状態では、一番左上のアイコンが自動選択されているが、図3に示すように、アイコンの選択を変更すると、表示欄103の階層構造の表示もこれに連動して変更される。   One component type icon is set for each registered component type. Each component type icon is configured as a mark that schematically represents the appearance common to the components of the corresponding component type. The display column 103 displays the hierarchical structure of the component type corresponding to the selected icon. In the initial state, the icon at the top left is automatically selected. However, as shown in FIG. 3, when the selection of the icon is changed, the display of the hierarchical structure in the display column 103 is also changed accordingly.

処理領域101の下方には、基板未登録リスト106が表示され、その下方に、全貼り付けボタン107が設けられる。   A substrate unregistered list 106 is displayed below the processing area 101, and an all pasting button 107 is provided below the list.

基板未登録リスト106は、バリエーションが登録されていない部品を、型式が同一のものが連続するように順序づけて表示したものである。この実施例では、CADデータから読み出された品番名称(部品の型式の名称に相当する。)、部品ID(個々の部品に固有に設定された識別コードである。)、実装位置を表す座標、部品の向きを表す角度が表示されている。この一覧表示は、読み出しボタン104の操作に応じてCADデータが読み込まれたことに応じて行われる。   The board unregistered list 106 is a list in which parts for which variations are not registered are ordered in such a way that parts of the same type continue. In this embodiment, the part number name (corresponding to the part model name) read from the CAD data, the part ID (identification code set uniquely for each part), and the coordinates representing the mounting position. An angle representing the orientation of the part is displayed. This list display is performed in response to the reading of CAD data in accordance with the operation of the read button 104.

全貼り付けボタン107は、読み込まれているCADデータが示す各部品に、それぞれ部品型式に対応するバリエーションを対応づけるためのものである。基板未登録リスト106に未登録の部品が表示されている場合には、先にこれらの部品のバリエーションを作成して、登録し、その後に全貼り付けボタン107を操作する必要がある。   The all paste button 107 is for associating each part indicated by the read CAD data with a variation corresponding to each part type. If unregistered parts are displayed in the board unregistered list 106, it is necessary to first create and register variations of these parts and then operate the all paste button 107.

図2に示す画像表示領域100には、部品実装後基板のモデル画像のうち、基板未登録リスト106で選択中の部品(図示例では4番目の部品)を含む範囲が表示されている。またこの画像には、2種類の検査領域W,Rが、それぞれ異なる色彩により表示される(図では、色彩の代わりに一点鎖線および点線で各領域W,Rを表現している。)。   In the image display area 100 shown in FIG. 2, a range including a part (fourth part in the illustrated example) selected in the board unregistered list 106 in the model image of the board after component mounting is displayed. In this image, two types of inspection areas W and R are displayed in different colors (in the figure, each area W and R is represented by a one-dot chain line and a dotted line in place of the color).

検査領域Wは、部品の本体部に対応する範囲を示すものである。以下では、この検査領域Wを「部品本体領域W」という。
部品本体領域Wは、他の検査領域を設定するための基準として用いられるもので、範囲を表す矩形枠の一辺に三角形状のマークMが設定されている。ユーザは、マークMがどの方向を向いているかによって、部品の向きを認識することができる。たとえば、マークMが右向きであれば部品の向きは0度であり、マークMが上向きであれば、部品の向きは90度である。なお、部品本体領域Wの向きは、CADデータが示す部品の向きに基づき設定される。
The inspection area W indicates a range corresponding to the main part of the component. Hereinafter, this inspection area W is referred to as “component body area W”.
The component main body region W is used as a reference for setting another inspection region, and a triangular mark M is set on one side of a rectangular frame representing the range. The user can recognize the orientation of the component depending on which direction the mark M is facing. For example, if the mark M is facing right, the orientation of the component is 0 degree, and if the mark M is facing upward, the orientation of the component is 90 degrees. The orientation of the component main body area W is set based on the orientation of the component indicated by the CAD data.

検査領域Rは、具体的な検査に使用される。検査領域Rの数、大きさ、形状、設定位置は、部品種毎に外観の特徴に応じて定められる。
各検査領域W,Rは、処理領域101で選択されている部品種の設定ルールに基づき、選択中の部品に対して設定されるが、現在の設定は、選択中の部品に適合していない。
The inspection region R is used for a specific inspection. The number, size, shape, and setting position of the inspection region R are determined according to the appearance characteristics for each component type.
Each of the inspection areas W and R is set for the selected part based on the setting rule for the part type selected in the processing area 101, but the current setting does not match the selected part. .

ここで、選択中の部品に対応する部品種(チップ部品)の部品種アイコンを操作すると、図3に示すように、部品本体領域Wはチップ部品用の設定ルールに基づくものに変化し、検査領域Rは、4つの検査領域R1〜R4に変化する。しかし、この段階の検査領域W,R1〜R4も、部品種に登録されているデフォルトの大きさに基づくため、表示中の部品には適合していない。   Here, when the component type icon of the component type (chip component) corresponding to the selected component is operated, the component main body region W changes to that based on the setting rule for the chip component as shown in FIG. The region R changes to four inspection regions R1 to R4. However, since the inspection areas W and R1 to R4 at this stage are also based on the default size registered in the component type, they are not suitable for the component being displayed.

本実施例では、ここでユーザが自動貼り付けボタン105を操作する。この操作は、バリエーションの作成処理の開始を指示するものである。この操作が行われると、図4に示すようなバリエーションの作成画面が立ち上がる。   In this embodiment, the user operates the automatic paste button 105 here. This operation instructs the start of variation creation processing. When this operation is performed, a variation creation screen as shown in FIG. 4 is launched.

この画面にも、画像表示領域100や部品種アイコンの表示欄102が設けられる。この表示欄102では、自動貼り付けボタン105が操作されていたときの選択が維持されている。   Also on this screen, an image display area 100 and a display column 102 for component type icons are provided. In this display field 102, selection when the automatic paste button 105 is operated is maintained.

さらに表示欄102の右手には、サブ部品種のサンプル画像の表示欄108が設けられる。なお、この画面では、ユーザが認識しやすいように、各サンプル画像を「サンプル部品」という名称で提示している。   Further, on the right hand side of the display field 102, a display field 108 for a sample image of the sub-part type is provided. In this screen, each sample image is presented with the name “sample part” so that the user can easily recognize it.

各サンプル画像は、対応するサブ部品種の外観の特徴を模式したもので、表示欄108には、部品種アイコンの表示欄102で選択されている部品種(チップ部品)に属する8種類のサンプル画像が表示されている。これらのサンプル画像にもアイコンの機能が設定されている。   Each sample image is a schematic representation of the appearance characteristics of the corresponding sub-component type, and the display column 108 includes eight types of samples belonging to the component type (chip component) selected in the component type icon display column 102. An image is displayed. These sample images also have icon functions.

さらに、画面の右上の表示欄109には、選択中の型式の部品名称および品番名称や、選択されている部品種およびサブ部品種の属性情報が表示され、その横手に、選択中のサンプル画像が表示される(この画像にはアイコンの機能は設定されていない。)。   Further, in the display field 109 at the upper right of the screen, the part name and part number name of the model being selected, and attribute information of the selected part type and sub part type are displayed, and the selected sample image is displayed on the side. (The icon function is not set in this image.)

画面の右下の「ランド数」の見出しを付けた表示欄110にも、選択中のサブ部品種のサンプル画像が表示され、その上下左右には、電極数を入力するための入力ボックス(符号省略)が設けられる。ただし、この入力ボックスは、リード電極を具備するタイプの部品種が選択されているときのみ有効化されるため、図4では点線により示している。   In the display field 110 with the heading “Number of lands” at the lower right of the screen, sample images of the selected sub-component type are displayed. (Omitted) is provided. However, since this input box is enabled only when a component type having a lead electrode is selected, it is indicated by a dotted line in FIG.

さらにこの表示欄110にある矢印入りのボタン111は、CADデータによる部品の向きの定義が検査データの定義と異なる場合に、これを変更するためのもので、ユーザには、部品本体領域Wの向きを変更するためのウィンドウとして認識される。   Further, a button 111 with an arrow in the display column 110 is used to change the definition of the direction of the part based on the CAD data from the definition of the inspection data. Recognized as a window for changing the orientation.

さらに、表示欄110の下方には、実行ボタン112、一段階前の画面への復帰ボタン113、キャンセルボタン114が設けられる。また、画像表示領域100の下方には、表示倍率の設定領域115や、部品の選択を切り替えるためのボタン116,117などが設けられる。   Further, below the display column 110, an execution button 112, a return button 113 to the previous screen, and a cancel button 114 are provided. Below the image display area 100, a display magnification setting area 115, buttons 116 and 117 for switching the selection of components, and the like are provided.

このバリエーションの作成画面が立ち上げられた時点では、自動貼り付けボタン105が操作されたときに基板未登録リスト106で選択されていた型式の部品の中の1つが代表部品として選択され(図2,3の画面で選択されていた部品とは同一型式の別部品である。)、この部品が含まれる範囲の画像が画像表示領域100に表示されている。また、選択された部品には部品本体領域Wが重ね表示されている。   When this variation creation screen is launched, one of the types of parts selected in the board unregistered list 106 when the automatic paste button 105 is operated is selected as a representative part (FIG. 2). , 3 is another part of the same type as the part selected on the screen of 3), and an image of a range including this part is displayed in the image display area 100. In addition, a component main body area W is superimposed on the selected component.

なお、代表画面の画像の状態が良くない場合などには、この画面の左下にある「同一品番」の欄の選択用ボタン116を操作すれば、代表部品を切り替えることができる。また、その隣の「別品番」の欄の選択ボタン117を操作することで、処理対象の部品型式を変更することもできる。さらにこの段階の画面でも、表示欄102の部品種アイコンを選択し直すことができる。   If the state of the image on the representative screen is not good, the representative part can be switched by operating the selection button 116 in the “same part number” field at the lower left of the screen. Further, by operating the selection button 117 in the column of “Separate product number” next to it, it is possible to change the part type to be processed. Further, the part type icon in the display field 102 can be selected again on the screen at this stage.

上記構成の画面において、ユーザは、まず、画像表示領域100で部品本体領域Wを代表部品に適合する大きさに修正する作業を行う。図5は、画像表示領域100の表示倍率を上げて、この作業を行った状態を示す。   On the screen having the above configuration, the user first performs an operation of correcting the component main body region W to a size suitable for the representative component in the image display region 100. FIG. 5 shows a state where this operation is performed with the display magnification of the image display area 100 increased.

サブ部品種のサンプル画像の表示欄108では、初期段階では、1列目の左端にあるものが自動的に選択されている。このサンプル画像の外観は代表部品とは異なっているので、ユーザは、部品本体部の色彩や形状が代表部品に近いサンプル画像に選択を切り替える操作を行う。図6は、この切替操作後の画面を示すもので、表示欄108の2列目の左端のサンプル画像に選択が変更されている。この変更に応じて、画面の右上や表示欄110内のサンプル画像も変化し、表示欄109内のサブ部品種の属性情報も変更されている。   In the display column 108 of the sub-part type sample image, the one at the left end of the first column is automatically selected in the initial stage. Since the appearance of this sample image is different from that of the representative component, the user performs an operation of switching the selection to a sample image whose color and shape of the component main body portion are close to the representative component. FIG. 6 shows the screen after this switching operation, and the selection has been changed to the leftmost sample image in the second column of the display field 108. In accordance with this change, the sample image in the upper right of the screen and the display column 110 also changes, and the attribute information of the sub-component type in the display column 109 has also changed.

ここで、ユーザがサンプル画像や表示欄109の属性情報が適切であると判断して実行ボタン112を操作すると、画面は図7に示すものに切り替えられる。この画面では、画像表示領域100内に4つの検査領域R1,R2,R3,R4が追加される。また画面の右側では、部品種やサブ部品種の表示欄102,108がなくなり、代わりに、検査領域の構成を表す表示欄118が設けられる。また、画面の左下には、検査領域の編集用のアイコン120の表示領域が設けられ、右下には、「既存バリエーション確認」用のボタン119が設けられる。   Here, when the user determines that the attribute information of the sample image and the display field 109 is appropriate and operates the execution button 112, the screen is switched to the one shown in FIG. In this screen, four inspection areas R1, R2, R3, and R4 are added in the image display area 100. On the right side of the screen, the display columns 102 and 108 for the component type and sub-component type are eliminated, and instead, a display column 118 representing the configuration of the inspection area is provided. In addition, a display area of an inspection area editing icon 120 is provided in the lower left of the screen, and a button 119 for “confirm existing variation” is provided in the lower right.

画像表示領域100に表示された検査領域R1〜R4は、先の図3に示したものと同一機能のものであるが、部品本体領域Wの大きさに合わせて位置や大きさが調整されている。これらのうち、R1,R2ははんだ検査のための検査領域であり、表示欄118の「ランド1」「ランド2」に対応する。R3は部品の有無を検査するための検査領域であって、表示欄118の「実装1」に対応する。また、R4は、検査領域R1,R2の位置を微調整するために、はんだに相当する輝度の高い領域を抽出する処理の対象範囲を示すもので、表示欄118の「自動抽出1」に対応する。
また表示欄118の1番上に示されている「部品本体」は部品本体領域Wに相当する。
The inspection areas R1 to R4 displayed in the image display area 100 have the same function as that shown in FIG. 3, but the position and size are adjusted in accordance with the size of the component main body area W. Yes. Among these, R1 and R2 are inspection areas for solder inspection and correspond to “Land 1” and “Land 2” in the display column 118. R3 is an inspection area for inspecting the presence / absence of a component, and corresponds to “mounting 1” in the display column 118. R4 indicates a target range of processing for extracting a high luminance area corresponding to solder in order to finely adjust the positions of the inspection areas R1 and R2, and corresponds to “automatic extraction 1” in the display column 118. To do.
The “component body” shown at the top of the display column 118 corresponds to the component body region W.

これらの検査領域R1〜R4は、ユーザの操作により修正された部品本体領域Wの範囲やそのマークMが示す部品の向きに、選択されたサブ部品種にリンクする検査領域の設定ルールを適用することにより設定することができるが、この実施例では、検査データの修正頻度を減らすために、部品実装前のモデル画像を用いてはんだ検査用の検査領域R1,R2を調整するようにしている。   For these inspection areas R1 to R4, the inspection area setting rule linked to the selected sub-part type is applied to the range of the part main body area W corrected by the user's operation and the direction of the part indicated by the mark M. In this embodiment, in order to reduce the frequency of correction of inspection data, the inspection areas R1 and R2 for solder inspection are adjusted using a model image before component mounting.

簡単に説明すると、部品実装前基板のモデル画像の代表部品に対応する範囲(たとえば自動抽出用の領域R4を利用する。)から、代表部品の左右の電極に対応するランドを抽出する。そして、各ランドが検査領域R1,R2に包含された状態になるように、検査領域R1,R2の位置や大きさを調整する。   Briefly, lands corresponding to the left and right electrodes of the representative component are extracted from the range corresponding to the representative component of the model image of the board before component mounting (for example, the area R4 for automatic extraction is used). Then, the positions and sizes of the inspection areas R1 and R2 are adjusted so that each land is included in the inspection areas R1 and R2.

上記の検査領域R1〜R4には、それぞれ選択中のサブ部品種の基本ライブラリデータにおいて、各領域に対して設定されている色パラメータや検査基準データが適用される。部品検査用の検査領域R3では部品本体部の色彩を抽出するが、実際の部品の色彩に近いサブ部品種を選択することで、このサブ部品種に設定されている部品抽出用の色パラメータを検査領域R3に適用することができる。また、抵抗とコンデンサとでは、撮像対象外の部品周面の電極の面積や形状が異なり、これによりはんだの濡れ上がり状態も異なるものになるが、コンデンサは角部に丸みがあるので、角部の形状によりサブ部品種を分けることができる。よって、角部の形状が実際の部品に近いサブ部品種を選択することにより、はんだ検査用の検査領域R1,R2に処理対象の部品型式のはんだフィレットの形状に適した検査基準データを設定することができる。   The color parameters and inspection reference data set for each region in the basic library data of the sub-part type being selected are applied to the inspection regions R1 to R4. In the inspection area R3 for component inspection, the color of the component main body is extracted. By selecting a sub-component type close to the actual color of the component, the color parameter for component extraction set for this sub-component type is selected. This can be applied to the inspection region R3. In addition, the area and shape of the electrode on the peripheral surface of the component that is not the subject of imaging differ between the resistor and the capacitor, and this leads to different solder wetting, but the corner of the capacitor is rounded. The sub-part types can be classified according to the shape. Therefore, by selecting a sub component type whose corner shape is close to the actual component, inspection reference data suitable for the shape of the solder fillet of the component type to be processed is set in the inspection regions R1 and R2 for solder inspection. be able to.

ユーザは、各検査領域R1〜R4の設定が適切であると判断すると、再び実行ボタン112を操作する。この操作が行われると、選択中の部品種の下位に、処理対象の型式の品番名称をバリエーション名とする新たなバリエーションが設定される。このバリエーションでは、各検査領域R1〜R4を図7の状態で設定されるように、基本ライブラリデータの設定ルールを修正して適用する。一方で、各検査領域の色パラメータおよび検査基準データについては、原則として基本ライブラリデータの内容がそのまま適用される。   When the user determines that the settings of the inspection regions R1 to R4 are appropriate, the user operates the execution button 112 again. When this operation is performed, a new variation having the product number name of the model to be processed as a variation name is set below the selected component type. In this variation, the basic library data setting rule is modified and applied so that each inspection region R1 to R4 is set in the state of FIG. On the other hand, as a general rule, the contents of the basic library data are applied as they are to the color parameters and inspection reference data of each inspection area.

つぎに、上記の手順で表示されていたチップ部品に対するバリエーションの作成・登録が完了すると、図8に示すように、画像表示領域100の表示は、次の未登録の型式の代表部品を含む範囲のものに切り替えられる。また画面の右側は、最初の状態に戻り、再び部品種アイコンやサンプル画像が表示されるが、この時点では、一段階前の型式に対する選択が残っている。また、画像表示領域100には、部品本体領域Wが表示されているが、この領域Wの大きさも前回の設定によるものである。   Next, when the creation / registration of the variation for the chip part displayed in the above procedure is completed, as shown in FIG. 8, the display in the image display area 100 is a range including the representative part of the next unregistered type. Can be switched to. Also, the right side of the screen returns to the initial state, and the component type icon and the sample image are displayed again. At this point, the selection for the previous model is left. In addition, although the component main body area W is displayed in the image display area 100, the size of the area W is also based on the previous setting.

しかし、図8の例で代表部品として選択されているのは、チップ部品ではなく、リード部品である。このため、まずユーザは、図9に示すように、部品本体領域Wを、代表部品に合わせる作業を実行する。なお、この実施例のシステムでは、リード部品に対する部品本体領域Wは、電極部分を含めずに、パッケージ部分のみを対象とするように定義しているので、ユーザによる操作もこの定義に従って行われる。   However, in the example of FIG. 8, it is not the chip part but the lead part that is selected as the representative part. For this reason, first, as shown in FIG. 9, the user performs an operation of matching the component main body region W with the representative component. In the system of this embodiment, the component main body region W for the lead component is defined so as to target only the package portion without including the electrode portion, so that the operation by the user is also performed according to this definition.

つぎに、ユーザが、表示欄102で代表部品に対応する部品種アイコン(SOP)を選択すると、図10に示すように、表示欄108内の表示が切り替えられる。今回の表示欄108には、電極の形状の違いに基づき分類された2種類のサブ部品種のサンプル画像が表示され、そのうちの一番目のサブ部品種が自動選択されている。さらに、この表示欄108の変化に合わせて、画面の右上および表示欄100内のサンプル画像の表示も更新される。また表示欄109内の部品種やサブ部品種の属性情報の表示も、それぞれ選択されたものに対応する表示に更新される。   Next, when the user selects a part type icon (SOP) corresponding to the representative part in the display field 102, the display in the display field 108 is switched as shown in FIG. In the current display column 108, sample images of two types of sub-part types classified based on the difference in electrode shape are displayed, and the first sub-part type is automatically selected. Further, the display of the sample image in the upper right of the screen and in the display column 100 is also updated in accordance with the change in the display column 108. In addition, the display of the attribute information of the component type and sub-component type in the display field 109 is also updated to a display corresponding to the selected item.

さらに、今回の設定画面では、表示欄110内の電極入力ボックスが有効化され、各ボックスに、デフォルトの電極数(サンプル画像が示す電極数である。)が表示される。   Furthermore, on the setting screen this time, the electrode input box in the display column 110 is validated, and the default number of electrodes (the number of electrodes indicated by the sample image) is displayed in each box.

この実施例では、最初に選択されたサブ部品種が代表部品に対応するものであったので、サブ部品種の選択を変更する操作は行われないが、各入力ボックスの数値を、実際の代表部品の電極数に合うように設定する必要がある。図11は、この入力を行った時点の設定画面を示すもので、上下の入力ボックスの数値が「4」から「7」に変更されている。   In this embodiment, since the sub-part type selected first corresponds to the representative part, no operation for changing the selection of the sub-part type is performed, but the numerical value in each input box is changed to the actual representative type. It is necessary to set so as to match the number of electrodes of the part. FIG. 11 shows a setting screen when this input is performed, and the numerical values in the upper and lower input boxes are changed from “4” to “7”.

この入力後にユーザが実行ボタン112を操作すると、画面は図12に示すものに変更される。この画面は先の図7と同様の構成のものであり、画像表示領域100に、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基く検査領域が追加表示され、画面右側の表示欄118に検査領域の構成が表示される。   When the user operates the execution button 112 after this input, the screen is changed to that shown in FIG. This screen has the same configuration as that of FIG. 7, and an inspection area based on the setting rule for the inspection area of the selected sub-part type is additionally displayed in the image display area 100, and the display field 118 on the right side of the screen is displayed. The configuration of the inspection area is displayed.

具体的に、図12の例の画像表示領域100には、4つの検査領域R11,R12,R13,R14が設定される。これらは、電極を抽出する処理の対象範囲を表すもので、表示欄118内の「IC自動抽出」に相当する。また、これらの検査領域の設定ルールは、4本までの電極を1単位として、検査領域の設定範囲を分割するように設定される。さらにこの図には示していないが、この実施例の部品には、各検査領域R11〜R14内の個々の電極やはんだ付け部位毎に個別の検査領域が設定される。さらに、各検査領域には、それぞれ選択中のサブ部品種で定義された色パラメータおよび検査基準データが対応づけられる。   Specifically, four inspection regions R11, R12, R13, and R14 are set in the image display region 100 in the example of FIG. These represent the target range of the process of extracting the electrodes, and correspond to “IC automatic extraction” in the display field 118. These inspection area setting rules are set such that the inspection area setting range is divided with up to four electrodes as one unit. Further, although not shown in this figure, in the parts of this embodiment, individual inspection regions are set for each individual electrode and soldering part in each of the inspection regions R11 to R14. Furthermore, each inspection area is associated with a color parameter and inspection reference data defined by the currently selected sub-part type.

上記の検査領域R11〜R14も、代表部品に対する部品本体領域Wの範囲やマークMが示す向きに、選択されたサブ部品種による検査領域の設定ルールを適用することにより設定される。さらにこの場合には、実装前基板のモデル画像から代表部品に対応するランドを抽出するほか、実装後基板のモデル画像から代表部品の電極を抽出し、これらの抽出結果に合わせて、はんだ検査用および電極検査用の各検査領域を調整する。   The inspection areas R11 to R14 are also set by applying the inspection area setting rule based on the selected sub-component type in the range of the component main body area W with respect to the representative part and the direction indicated by the mark M. In this case, the land corresponding to the representative component is extracted from the model image of the substrate before mounting, and the electrode of the representative component is extracted from the model image of the substrate after mounting. And each inspection area for electrode inspection is adjusted.

このように、リード部品を処理対象とする場合にも、チップ部品と同様の設定操作に加えて、電極の数を入力する操作を行うことによって、各種検査領域が自動設定され、その設定結果が表示される。この表示内容をユーザが適切であると判断して実行ボタン112を操作すると、選択中の部品種の下位に処理対象の型式の品番名称をバリエーション名とする新規バリエーションが設定される。   As described above, even when a lead component is a processing target, various inspection areas are automatically set by performing an operation of inputting the number of electrodes in addition to the setting operation similar to the chip component, and the setting result is Is displayed. When the user determines that this display content is appropriate and operates the execute button 112, a new variation having the part number of the model to be processed as the variation name is set below the selected part type.

このように、本実施例では、バリエーションの作成対象の型式の部品に外観が類似するサブ部品種を選択する操作を受け付けることにより、処理対象の型式に対応するサブ部品種を特定する。また、ユーザに代表部品の画像を参照させて、サブ部品種には規定されていない外観の特徴(部品本体の大きさ、電極数)を入力させることにより、サブ部品種の検査領域の設定ルール(領域の大きさや数などを定義するもの)を処理対象の型式に合わせて修正して、新規のバリエーションを作成する。サブ部品種の選択や外観の特徴を入力する処理は、上記のとおり、画像表示を参照しながら簡単に行うことができるから、設定処理に不慣れなユーザでも、処理対象の型式に適したライブラリデータを容易に設定することが可能になる。   As described above, in this embodiment, the sub-part type corresponding to the processing target model is specified by accepting an operation for selecting a sub-part type similar in appearance to the part of the model whose variation is to be created. Also, by letting the user refer to the image of the representative part and input the appearance features (part body size, number of electrodes) that are not defined for the sub part type, the setting rule for the inspection area of the sub part type Modify (according to the size and number of areas) according to the model to be processed, and create a new variation. As described above, the process of selecting the sub-part type and inputting the features of the appearance can be easily performed while referring to the image display, so even users who are unfamiliar with the setting process can select library data suitable for the model to be processed. Can be set easily.

さらに上記のバリエーションの作成画面には、以下のような機能も設けられている。
まず検査領域の設定後には、画面の左下に表示されたアイコン120(図7,12参照)を用いて、画像表示領域100に表示された検査領域の位置や大きさを調整したり、コピー操作や貼り付け操作により検査領域を増やしたり、検査領域を削除するなどの編集作業を行うことができる。これにより、ユーザは、自動設定された検査領域をより詳細に調整したり、設定内容を変更した後に、実行ボタン112を操作することができる。
Furthermore, the following functions are also provided on the above-described variation creation screen.
First, after setting the inspection area, the position and size of the inspection area displayed in the image display area 100 are adjusted using the icon 120 (see FIGS. 7 and 12) displayed at the lower left of the screen, and a copy operation is performed. It is possible to perform editing operations such as increasing the inspection area by deleting or pasting or deleting the inspection area. As a result, the user can operate the execution button 112 after adjusting the inspection area that has been automatically set in more detail or changing the setting contents.

つぎに、CADデータによる部品の向きの定義が検査領域の設定ルールに適合していない場合、たとえば、設定ルールで90度と定義している部品の向きをCADデータ側で0度としているような場合には、表示欄100内に設定される操作ボタン111を操作する。このボタン111を操作する毎に、部品本体領域Wの向きが90度ずつ回転する。よって、必要な回数分の操作を行うことにより、部品本体領域Wの向きをシステム側の定義に合わせることができ、変更後の部品本体領域Wに基づいて検査領域の設定ルールを正しく適用することができる。   Next, when the definition of the orientation of the component by CAD data does not conform to the inspection area setting rule, for example, the orientation of the component defined as 90 degrees in the setting rule is 0 degree on the CAD data side. In this case, the operation button 111 set in the display field 100 is operated. Each time this button 111 is operated, the direction of the component main body region W is rotated by 90 degrees. Therefore, by performing the necessary number of operations, the orientation of the component main body area W can be matched with the definition on the system side, and the inspection area setting rules are correctly applied based on the changed component main body area W. Can do.

さらに、検査領域の設定後の画面の右下に設けられたボタン119(図7,図12参照)を操作すると、既に登録されているバリエーションの部品を参照することができ、さらに参照した部品のライブラリデータを処理対象の型式に流用することが可能になる。   Furthermore, by operating a button 119 (see FIGS. 7 and 12) provided at the lower right of the screen after setting the inspection area, it is possible to refer to the already registered variation parts. Library data can be used for the model to be processed.

図13は、図7の画面においてボタン119が操作された場合の表示例を示す。この例では、元の画面の上に、既存のバリエーションを確認するためのウィンドウ200が重ね表示されている。   FIG. 13 shows a display example when the button 119 is operated on the screen of FIG. In this example, a window 200 for confirming an existing variation is overlaid on the original screen.

このウィンドウ200には、部品種アイコンの表示欄201や、この表示欄201で選択されている部品種の階層構造を示す表示欄202が設けられる。表示欄201では選択中のチップ部品のアイコンが選択されており、表示欄202では、選択中のサブ部品種内のバリエーションの1つが選択されている。   The window 200 is provided with a display column 201 for component type icons and a display column 202 indicating the hierarchical structure of the component types selected in the display column 201. In the display column 201, the icon of the selected chip component is selected, and in the display column 202, one of the variations in the selected sub component type is selected.

さらにウィンドウ200には、選択中のサブ部品種の属性情報を表示する欄203と、表示欄で選択されているバリエーションに対応する部品のサムネイル画像204が表示される。このサムネイル画像204は、対応するバリエーションの作成時の代表部品の画像である。さらに、サムネイル画像204の表示欄の下方には、「流用」の指定ボタン205や復帰ボタン206が設けられる。   Further, the window 200 displays a column 203 for displaying the attribute information of the selected sub component type, and a thumbnail image 204 of the component corresponding to the variation selected in the display column. The thumbnail image 204 is an image of a representative part when a corresponding variation is created. Furthermore, a “Divert” designation button 205 and a return button 206 are provided below the display field of the thumbnail image 204.

上記構成のウィンドウ200で、ユーザは、バリエーションの選択を自由に切り替えることができる。また復帰ボタン206を操作すれば、既存バリエーションの確認を終了し、ウィンドウ200を閉じることもできる。これらの切り替えに応じてサムネイル画像204や表示欄203の表示も、切り替えられる。   In the window 200 configured as described above, the user can freely switch the selection of variations. If the return button 206 is operated, the confirmation of the existing variation can be finished and the window 200 can be closed. In accordance with these switching operations, the display of the thumbnail image 204 and the display field 203 is also switched.

ウィンドウ200は、元の画面の画像表示領域100を隠さない範囲に設定されるので、ユーザは、画像表示領域100内の代表部品とサムネイル画像とを比較して、両者の外観が似ているかどうかを判断することができる。ここでユーザが、両者が類似すると判断して「流用」ボタン205を操作すると、その操作時点のウィンドウ200で選択されているバリエーションのライブラリデータの検査用パラメータが処理対象の型式に流用される。この時点でウィンドウ200は消失し、実行ボタン112を操作することによって、新規バリエーションに流用された検査用パラメータを含むライブラリデータが登録されることになる。   Since the window 200 is set to a range that does not hide the image display area 100 of the original screen, the user compares the representative part in the image display area 100 with the thumbnail image to determine whether the appearances of both are similar. Can be judged. When the user determines that the two are similar and operates the “Divert” button 205, the inspection parameter of the library data of the variation selected in the window 200 at the time of the operation is diverted to the type to be processed. At this time, the window 200 disappears, and the library data including the inspection parameters diverted to the new variation is registered by operating the execution button 112.

図14のフローチャートは、上記の検査データ作成システムによる基本的な処理手順を示す。また図15のフローチャートは、バリエーションの作成(図14のST4)に関する詳細な手順を、ユーザが実行する処理(末尾に(ユーザ)と記載されているステップ)を含めて表したものである。   The flowchart of FIG. 14 shows a basic processing procedure by the inspection data creation system. In addition, the flowchart of FIG. 15 shows detailed procedures related to creation of variations (ST4 in FIG. 14) including processing executed by the user (steps described as (user) at the end).

まず、図14を参照して説明すると、システムでは、検査装置1から、教示対象の基板の実装後のモデル画像および実装前のモデル画像を順に入力する(ST1,2)。これによりモニタ17には、図2に示した画面が立ち上げられる。   First, referring to FIG. 14, in the system, a model image after mounting a teaching target board and a model image before mounting are sequentially input from the inspection apparatus 1 (ST1, 2). As a result, the screen shown in FIG.

つぎに、CAD読み込みボタン104の操作に応じて教示対象のCADデータを読み込み(ST3)、バリエーションが登録されていない型式を対象に、バリエーションの作成処理を開始する(ST4)。この処理については、図15を参照して説明する。   Next, CAD data to be taught is read according to the operation of the CAD read button 104 (ST3), and variation creation processing is started for a model for which no variation is registered (ST4). This process will be described with reference to FIG.

この処理は、基板未登録リスト106に表示された部品の1つを選択する操作に応じて開始されるもので、まず、選択された部品の型式を最初の処理対象として選択する(ST101)。つぎに、処理対象の型式の部品の中から代表部品を選択し、この代表部品を含む範囲の画像を表示する(ST102)。なお、図4〜図12に示したように、代表部品は画像表示領域100の中央付近に位置づけられ、また部品本体領域Wによって識別表示されるので、ユーザは、容易に確認することができる。   This process is started in response to an operation for selecting one of the components displayed in the board unregistered list 106. First, the type of the selected component is selected as the first processing target (ST101). Next, a representative part is selected from the types of parts to be processed, and an image in a range including the representative part is displayed (ST102). As shown in FIGS. 4 to 12, the representative part is positioned near the center of the image display area 100 and is identified and displayed by the part main body area W, so that the user can easily confirm it.

つぎに、ユーザにより、表示された代表部品に対応する部品種を選択する操作が行われる(ST103)。これに応じてシステムでは、表示欄108に選択された部品種に所属するサブ部品種のサンプル画像を表示する(ST104)。   Next, the user performs an operation of selecting a component type corresponding to the displayed representative component (ST103). In response to this, the system displays a sample image of the sub component type belonging to the selected component type in the display column 108 (ST104).

部品種のサンプル画像が表示されると、ユーザは、部品本体領域Wを調整する作業(ST105)、サブ部品種を選択する作業(ST106)、電極数を入力する作業(ST107)を順に実行し、実行ボタン112を操作する(ST108)。これに応じてシステムでは、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールを部品本体領域Wに適用して、検査領域を設定する(ST109)。さらに、部品実装前のモデル画像からランドを抽出し(リード部品については、部品実装後のモデル画像から電極を抽出する処理も実行する。)、抽出結果に応じて検査領域を調整する(ST110)。   When the sample image of the component type is displayed, the user sequentially performs the operation of adjusting the component main body region W (ST105), the operation of selecting the sub-component type (ST106), and the operation of inputting the number of electrodes (ST107). Then, the execution button 112 is operated (ST108). In response to this, the system applies the inspection region setting rule of the selected sub-component type to the component main body region W to set the inspection region (ST109). Further, lands are extracted from the model image before component mounting (for lead components, processing for extracting electrodes from the model image after component mounting is also executed), and the inspection area is adjusted according to the extraction result (ST110). .

この後は、調整後の検査領域を画像表示領域100に表示し(ST111)、ユーザによる実行ボタン112の操作に応じて、表示された検査領域の設定ルールと選択中のサブ部品種の検査パラメータとを組み合わせた新規のバリエーションを作成する(ST114)。さらにこの新規バリエーションに選択中の型式の品番名称を付けて登録する(ST115)。   After this, the adjusted inspection area is displayed in the image display area 100 (ST111), and in accordance with the operation of the execution button 112 by the user, the displayed inspection area setting rule and the inspection parameter of the selected sub-part type are displayed. A new variation combining the above is created (ST114). Further, the new variation is registered with the part number of the model being selected (ST115).

以下、未処理の型式を順に選択して同様の処理を基板未登録リスト表示がなくなるまで、同様の手順を繰り返すことにより、CADデータに含まれる全ての型式に対応するバリエーションを作成し、登録することができる。   Thereafter, by selecting the unprocessed model in order and repeating the same procedure until the same process is no longer displayed on the unregistered substrate list, variations corresponding to all the models included in the CAD data are created and registered. be able to.

なお、ユーザが実行するステップのうち、ST105とST106とは、順序が逆になってもよく、また繰り返し実行してもかまわない。また、図2,3の例に示すように、最初の処理対象の型式に対して、バリエーションの作成画面を立ち上げる前に部品種を選択した場合には、この型式についてのST103をスキップしてよい。
さらに1回目の実行ボタン112を操作する処理(ST108)より前であれば、表示欄110のボタン111を操作して、部品本体領域Wの向きを変更することができる。
Of the steps executed by the user, ST105 and ST106 may be reversed in order or may be executed repeatedly. Also, as shown in the examples of FIGS. 2 and 3, when the type of part is selected for the first model to be processed before launching the variation creation screen, ST103 for this model is skipped. Good.
Further, before the process of operating the first execution button 112 (ST108), the direction of the component main body region W can be changed by operating the button 111 in the display column 110.

未処理の型式が全て処理されると(ST115が「NO」)、バリエーションの作成画面は消失し、基本の設定画面(図2,3)の表示に復帰する。   When all the unprocessed types are processed (ST115 is “NO”), the variation creation screen disappears and the display returns to the basic setting screen (FIGS. 2 and 3).

バリエーションの作成処理の終了後の処理について、図14のST5に参照を戻して説明する。ここでは、ユーザの全貼り付けボタン107の操作に応じて、CADデータ中の各部品に、それぞれの実装位置および部品の向きに合わせて当該部品の品番名称によるバリエーションを適用する。これにより基板Sに実装される部品毎に、検査領域の具体的な設定データ(たとえば、検査領域の左上頂点および右下頂点の座標)と、各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた検査データが作成される。   The process after the end of the variation creation process will be described with reference back to ST5 in FIG. Here, according to the user's operation of the all paste button 107, a variation based on the part number of the part is applied to each part in the CAD data according to the mounting position and the direction of the part. Thereby, for each component mounted on the substrate S, the specific setting data of the inspection area (for example, the coordinates of the upper left vertex and the lower right vertex of the inspection area) and the inspection parameters applied to each inspection area are associated with each other. Inspection data is created.

この実施例では、各型式につき、それぞれその型式を表す品番名称をバリエーション名とするバリエーションを登録しているので、上記のST5では、従来のように、CADデータの表す品番名称をバリエーション名に変換する必要がなく、各部品に該当するバリエーションを簡単に読み出すことができる。   In this embodiment, for each model, a variation is registered in which the product name representing the model is a variation name. In ST5, the product number represented by the CAD data is converted into a variation name as in the prior art. Therefore, it is possible to easily read out variations corresponding to each part.

検査データが作成された後は、作成された検査データによるテスト検査を実行し(ST6)、個々の品番名称について、不良と判定された検査項目を含むはんだ検査用の検査領域を対象に、検査領域の設定データを調整する(ST7)。さらに再度テスト検査を実行し(ST8)、不良と判定された個々の部品について、その不良判定がなされた検査領域に対応する色パラメータや検査基準データを調整する(ST9)。   After the inspection data is created, a test inspection is performed using the created inspection data (ST6), and inspection is performed on the inspection area for solder inspection including the inspection item determined to be defective for each part number name. The area setting data is adjusted (ST7). Further, the test inspection is executed again (ST8), and the color parameters and the inspection reference data corresponding to the inspection area where the defect is determined are adjusted for each part determined to be defective (ST9).

ST6,8のテスト検査は、部品実装後基板のモデル画像を対象にするもので、処理領域101の「テストランニング」のタブ(図2,3を参照)を選択し、必要な指定操作を行うことにより実行される。ST7の調整処理は、処理領域101の「検査画像」のタブを選択して実行されるもので、部品実装前基板のモデル画像を用いた自動調整処理(モデル画像からランドを抽出して、抽出されたランドに検査領域を適合させる処理)のほか、ユーザの手操作による調整を行うことができる。   The test inspections of ST6 and ST8 are for model images of boards after component mounting, and the “test running” tab (see FIGS. 2 and 3) in the processing area 101 is selected and necessary designation operations are performed. Is executed. The adjustment process in ST7 is executed by selecting the “inspection image” tab in the processing area 101, and an automatic adjustment process using the model image of the board before component mounting (extracting the land by extracting the land from the model image) In addition to the process of adapting the inspection area to the land obtained, adjustment by manual operation by the user can be performed.

ST9の調整処理は、処理領域101の「検査基準」のタブを選択して実行される。ここでも、部品実装後のモデル画像中の調整対象の領域の画像を処理することにより、色パラメータや検査基準データを自動で調整する方法と、ユーザの手操作により調整する方法とを選択することができる。   The adjustment process of ST9 is executed by selecting the “inspection standard” tab in the processing area 101. Here too, a method for automatically adjusting color parameters and inspection reference data by processing an image of an adjustment target area in a model image after component mounting and a method for adjusting manually by a user are selected. Can do.

1 検査装置
2 カメラ
7 パーソナルコンピュータ
17 モニタ
100 画像表示領域
102 部品種アイコンの表示欄
108 サブ部品種のサンプル画像の表示欄
W 部品本体領域
R,R1、R2,R3,R4,R11,R12,R13,R14 検査領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus 2 Camera 7 Personal computer 17 Monitor 100 Image display area 102 Display column of component type icon 108 Display column of sample image of sub-component type W Component main body region R, R1, R2, R3, R4, R11, R12, R13 , R14 Inspection area

Claims (4)

部品実装基板用の外観検査装置に検査データを教示する際に検査対象の各部品に適用されるライブラリデータを、コンピュータを用いて作成する方法であって、
あらかじめ、各種部品をそれぞれの外観に基づき分類することにより設定した複数の部品種を、それぞれ検査用パラメータに影響を及ぼす外観の差異に基づき所定数のサブ部品種に細分類して、サブ部品種毎に検査領域の設定ルールと各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた基本ライブラリデータを設定し、前記各部品種および各サブ部品種の階層関係と、各サブ部品種の基本ライブラリデータとを前記コンピュータに登録し、
実装される各部品の型式および実装位置ならびに部品の向きを表す基板設計情報と、この基板設計情報に基づき製作された良品基板の画像とを入力するステップA、
前記基板設計情報に基づき、前記良品基板に実装されている型式名称が同一の部品の中の1つを代表部品として選択して、この代表部品が識別表示された前記良品基板の画像を、各部品種の模式図のリストとともに表示するステップB、
前記模式図として表示された部品種の中のいずれか1つを選択する操作を受け付けて、選択された部品種に属するサブ部品種の外観の特徴を模式したサンプル画像のリストを前記良品基板の画像と並列表示するステップC、
前記良品基板の画像の表示領域において、前記代表部品に対応する範囲を指定する操作を受け付けるステップD、
前記サンプル画像として表示されたサブ部品種の中のいずれか1つを選択する操作を受け付けて、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基づき、前記ステップDで指定された範囲および代表部品の向きに適合するように所定数の検査領域を設定するステップE、
前記ステップEで設定された検査領域を前記画像の表示領域に重ね表示し、この表示後に確定操作が行われたとき、前記選択されたサブ部品種の基本ライブラリデータを確定操作時に表示されている検査領域に基づき修正したものを、当該サブ部品種の新規のバリエーションのライブラリデータとして、代表部品の型式名称に対応づけて保存するステップF、の各ステップを、実行することを特徴とする基板外観検査用のライブラリデータの作成方法。
A method of creating, using a computer, library data that is applied to each component to be inspected when teaching inspection data to an appearance inspection apparatus for a component mounting board,
Subpart types are subdivided into a predetermined number of subpart types based on differences in appearance that affect the inspection parameters. Basic library data that associates inspection area setting rules with inspection parameters to be applied to each inspection area is set for each layer, and the hierarchical relationship between each part type and each sub part type, and basic library data for each sub part type Are registered in the computer,
Step A for inputting the board design information indicating the type and mounting position of each component to be mounted and the orientation of the component, and an image of a non-defective board manufactured based on the board design information,
Based on the board design information, one of the parts having the same model name mounted on the non-defective board is selected as a representative part, and an image of the non-defective board on which the representative part is identified and displayed Step B to be displayed with a list of model diagrams
An operation for selecting any one of the component types displayed as the schematic diagram is received, and a list of sample images schematically representing the appearance characteristics of the sub-component types belonging to the selected component type is displayed on the non-defective substrate. Step C for displaying in parallel with the image,
Step D for receiving an operation for designating a range corresponding to the representative component in the display area of the image of the non-defective substrate,
An operation for selecting any one of the sub-part types displayed as the sample image is accepted, and the range and representative designated in step D are determined based on the setting rule for the inspection area of the selected sub-part type. Step E for setting a predetermined number of inspection areas to match the orientation of the part,
When the confirmation area is displayed after the inspection area set in step E is superimposed on the display area of the image and the display area is displayed, the basic library data of the selected sub-part type is displayed during the confirmation operation. A board appearance characterized by executing each step of step F, in which data corrected based on the inspection area is stored as library data of new variations of the sub-part type in association with the model name of the representative part. How to create library data for inspection.
前記ステップEでは、電極の数および部品本体に対する電極の配置が複数とおり想定されるタイプのサブ部品種が選択されたとき、前記代表部品の電極の数および電極の配置状態について入力を受け付けるステップを実行した後に、前記選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールをこの入力内容に合わせて、電極およびはんだ検査用の検査領域を設定する、請求項1に記載された基板外観検査用のライブラリデータの作成方法。   In step E, when a sub-component type of a type in which a plurality of electrodes and a plurality of electrode arrangements with respect to a component body are assumed is selected, an input is received regarding the number of electrodes of the representative component and the electrode arrangement state. The board appearance inspection library according to claim 1, wherein after the execution, the inspection area for the electrode and solder inspection is set in accordance with the input rule according to the setting rule of the inspection area of the selected sub-component type. How to create data. 前記ステップAでは、前記良品基板の部品が実装される前の画像をさらに入力し、
前記ステップEでは、前記ステップCで指定された代表部品の範囲および代表部品の向き、ならびに前記選択されたサブ部品種のはんだ検査用の検査領域の設定ルールに基づき、前記部品が実装される前の画像から代表部品に対応するランドを抽出し、前記設定ルールに基づくはんだ検査用の検査領域を抽出されたランドに適合するように調整する、請求項1に記載された基板外観検査用のライブラリデータの作成方法。
In the step A, further input an image before the non-defective board component is mounted,
In the step E, before the component is mounted based on the range of the representative component specified in the step C and the orientation of the representative component, and the setting rule of the inspection area for solder inspection of the selected sub-component type. The board appearance inspection library according to claim 1, wherein a land corresponding to a representative part is extracted from an image of the board, and an inspection area for solder inspection based on the setting rule is adjusted so as to match the extracted land. How to create data.
部品実装基板用の外観検査装置に教示する検査データを、コンピュータを用いて作成する方法であって、
あらかじめ、各種部品をそれぞれの外観に基づき分類することにより設定した複数の部品種を、それぞれ検査用パラメータに影響を及ぼす外観の差異に基づき所定数のサブ部品種に細分類して、サブ部品種毎に検査領域の設定ルールと各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた基本ライブラリデータを設定し、前記各部品種および各サブ部品種の階層関係と、各サブ部品種の基本ライブラリデータとを前記コンピュータに登録し、
実装される各部品の型式および実装位置ならびに部品の向きを表す基板設計情報と、この基板設計情報に基づき製作された良品基板の画像とを入力するステップA、
前記基板設計情報に基づき、前記良品基板に実装されている型式名称が同一の部品の中の1つを代表部品として選択して、この代表部品が識別表示された前記良品基板の画像を、各部品種の模式図のリストとともに表示するステップB、
前記模式図として表示された部品種の中のいずれか1つを選択する操作を受け付けて、選択された部品種に属するサブ部品種の外観の特徴を模式したサンプル画像のリストを前記良品基板の画像と並列表示するステップC、
前記良品基板の画像の表示領域において、前記代表部品に対応する範囲を指定する操作を受け付けるステップD、
前記サンプル画像として表示されたサブ部品種の中のいずれか1つを選択する操作を受け付けて、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基づき、前記ステップDで指定された範囲および代表部品の向きに適合するように所定数の検査領域を設定するステップE、
前記ステップEで設定された検査領域を前記画像の表示領域に重ね表示し、この表示後に確定操作が行われたとき、前記選択されたサブ部品種の基本ライブラリデータを確定操作時に表示されている検査領域に基づき修正したものを、当該サブ部品種の新規のバリエーションのライブラリデータとして代表部品の型式名称に対応づけて保存するステップF、
前記ステップFで保存された新規のライブラリデータに対応づけられた型式名称により前記基板設計情報が示す各部品に、それぞれその部品の位置および向きに合わせて前記ライブラリデータを適用するステップG、
の各ステップを実行することを特徴とする基板外観検査用の検査データ作成方法。
A method of creating inspection data taught to an appearance inspection apparatus for a component mounting board using a computer,
Subpart types are subdivided into a predetermined number of subpart types based on differences in appearance that affect the inspection parameters. Basic library data that associates inspection area setting rules with inspection parameters to be applied to each inspection area is set for each layer, and the hierarchical relationship between each part type and each sub part type, and basic library data for each sub part type Are registered in the computer,
Step A for inputting the board design information indicating the type and mounting position of each component to be mounted and the orientation of the component, and an image of a non-defective board manufactured based on the board design information,
Based on the board design information, one of the parts having the same model name mounted on the non-defective board is selected as a representative part, and an image of the non-defective board on which the representative part is identified and displayed Step B to be displayed with a list of model diagrams
An operation for selecting any one of the component types displayed as the schematic diagram is received, and a list of sample images schematically representing the appearance characteristics of the sub-component types belonging to the selected component type is displayed on the non-defective substrate. Step C for displaying in parallel with the image,
Step D for receiving an operation for designating a range corresponding to the representative component in the display area of the image of the non-defective substrate,
An operation for selecting any one of the sub-part types displayed as the sample image is accepted, and the range and representative designated in step D are determined based on the setting rule for the inspection area of the selected sub-part type. Step E for setting a predetermined number of inspection areas to match the orientation of the part,
When the confirmation area is displayed after the inspection area set in step E is superimposed on the display area of the image and the display area is displayed, the basic library data of the selected sub-part type is displayed during the confirmation operation. Step F for saving the data corrected based on the inspection area in correspondence with the model name of the representative part as library data of a new variation of the sub-part type.
Applying the library data to each part indicated by the board design information by the model name associated with the new library data stored in step F according to the position and orientation of the part,
An inspection data creating method for inspecting a substrate appearance, characterized in that each of the steps is executed.
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