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JP2009210429A - Tester and angle adjustment apparatus - Google Patents

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JP2009210429A
JP2009210429A JP2008053920A JP2008053920A JP2009210429A JP 2009210429 A JP2009210429 A JP 2009210429A JP 2008053920 A JP2008053920 A JP 2008053920A JP 2008053920 A JP2008053920 A JP 2008053920A JP 2009210429 A JP2009210429 A JP 2009210429A
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JP2008053920A
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Nobuhiko Kanezashi
信彦 金指
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Nihon Medi Physics Co Ltd
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Nihon Medi Physics Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To conduct an angular resolution test of a nonimage intraoperative gamma probe at an angle of at least ±90° to the vertical direction. <P>SOLUTION: In the embodiment shown in the description, an arm for supporting a probe holding tool is formed into a S-shape (or a reverse S-shape) when it is downwardly viewed in the vertical direction. The arm is extended from a supporting post turnably attached to a base of a probe holding apparatus. A liquid tank for immersing a radiation source is separately prepared. A frame wall of the liquid tank faces the supporting post, and has a shape in which either left or right side approaches the supporting post. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明に係る技術は、もともと放射線を利用した病変部位の特定に用いられるガンマプローブの試験装置のために開発されたものであり、特に、米国電気工業会(The National Electrical Manufacturers Association:NEMA)で策定された規格に基づく試験を行うために開発されたものである。しかし本発明の技術思想は、ガンマプローブのNEMA規格試験のみならず、保持した装置を枠壁に干渉させずに転倒させる必要のある様々な目的のためにも適用可能であることを、予め言明しておく。   The technology according to the present invention was originally developed for a gamma probe test apparatus used for identifying a lesion site using radiation, and in particular, the National Electrical Manufacturers Association (NEMA). It was developed to conduct tests based on established standards. However, it is stated in advance that the technical idea of the present invention can be applied not only to the NEMA standard test of the gamma probe, but also for various purposes that require the held device to fall without interfering with the frame wall. Keep it.

近年、診断や手術の容易化のために、放射性薬剤(RI:放射性同位元素)を目的組織や病変部に蓄積させ、そのRIから放出される放射線をプローブで検出することによって、目的組織や病変部を特定することが行われている。   In recent years, in order to facilitate diagnosis and surgery, a radiopharmaceutical (RI: radioisotope) is accumulated in a target tissue or a lesion, and the radiation emitted from the RI is detected by a probe, so that the target tissue or lesion is detected. The part has been specified.

かかる目的で使用されるガンマプローブは、例えば図1に示すガンマプローブ100のような形状を有しており、ハンドグリップ102から延伸するシャフト104の先端に、コリメータ106で囲まれたガンマ線検出部(図示せず)を有している。術者は、ハンドグリップ102を握ってガンマプローブ100を操作し、コリメータ106の部分(プローブチップ)を体の様々な部位に当てて、ガンマ線が検出されるか否かを調べる。一般的に、ガンマプローブにはガンマ線が検出されたことを音や数値で術者に知らせるような機能が備えられており、RIが蓄積されている部位において鳴動間隔やカウント数が著しく増大することから、術者は目的組織や病変部の位置を特定することができる。したがって、目的組織や病変部の画像化を必要とせずに検査を行うことができる。   The gamma probe used for this purpose has a shape like, for example, the gamma probe 100 shown in FIG. 1, and a gamma ray detection unit (enclosed by a collimator 106 at the tip of the shaft 104 extending from the hand grip 102 ( (Not shown). The operator operates the gamma probe 100 while holding the handgrip 102 and applies a collimator 106 portion (probe tip) to various parts of the body to check whether or not gamma rays are detected. In general, the gamma probe is provided with a function that informs the operator by sound or numerical value that gamma rays have been detected, and the ringing interval and the number of counts are significantly increased at the site where RI is accumulated. Thus, the operator can specify the target tissue and the position of the lesion. Therefore, the inspection can be performed without requiring imaging of the target tissue or the lesioned part.

このような病変部位の特定法は、例えばセンチネルリンパ節生検のラジオアイソトープ法などへ既に広く応用されている。ところが最近まで、ガンマプローブについての性能測定や品質管理試験を実施・報告するための統一基準は存在していなかった。そのような統一基準となりうるものが最初にできたのはようやく2004年になってからであり、米国電気工業会が、非画像術中用ガンマプローブの性能測定と品質管理ガイドライン(Performance Measurements and Quality Control Guidelines for Non-Imaging Intraoperative Gamma Probes)というガイドラインを、NEMA規格NU3−2004として公表した。このガイドラインに代わるような基準を策定しようという他の団体の活動は特に行われておらず、今後、このNEMA規格が我が国においても事実上の標準規格として用いられていくのではないかと考えられている。NEMA規格NU3−2004は、本明細書の記載事項を理解するために、適宜参照されることが望ましい。   Such a method for identifying a lesion site has already been widely applied to, for example, a radioisotope method for sentinel lymph node biopsy. Until recently, however, there was no uniform standard for conducting and reporting performance measurements and quality control tests on gamma probes. It wasn't until 2004 that the first such standard could be established, and the American Electrical Manufacturers' Association determined that Performance Measurements and Quality Control for non-imaging gamma probes. Guidelines for Non-Imaging Intraoperative Gamma Probes) have been published as NEMA Standard NU3-2004. There is no particular activity by other organizations to establish standards that can replace these guidelines, and it is thought that this NEMA standard will be used as a de facto standard in Japan in the future. Yes. The NEMA standard NU3-2004 is preferably referred to as appropriate in order to understand the matters described in this specification.

NEMA規格NU3−2004には、非画像術中用ガンマプローブについて、全部で11種類の性能測定試験を行うべきことが定められている。そのうちの一つは散乱線媒体中における角度分解能試験である。これは、水浴中の一定の水深にある線源から種々の方向(角度)におけるプローブの感度を測定することによって行われ、結果はFWHM(半値幅)及びFWTM(1/10幅)で表される。   The NEMA standard NU3-2004 stipulates that a total of 11 types of performance measurement tests should be performed for non-imaging intraoperative gamma probes. One of them is an angular resolution test in a scattered radiation medium. This is done by measuring the sensitivity of the probe in various directions (angles) from a source at a constant depth in the bath, and the results are expressed in FWHM (half width) and FWTM (1/10 width). The

NEMA規格NU3−2004の第3.9節に基づき、図2(NEMA規格NU3−2004図3−7の翻訳)を参照しつつ、上記の角度分解能試験の概要を簡単に説明しておく。   Based on section 3.9 of the NEMA standard NU3-2004, the outline of the angular resolution test will be briefly described with reference to FIG. 2 (translation of the NEMA standard NU3-2004, FIG. 3-7).

試験は99mTcの点線源を用いて行い、その点線源を水中30mmの深さに設置する。プローブをプローブチップの表面が水面に接触し、且つプローブ軸が水面に対して垂直になるように設置し、線源がプローブ視野の中央に位置するように固定する。水浴の大きさは、適切な散乱容量となるように、少なくとも、幅:8インチ×長さ:8インチ×水深:6インチ(幅:20cm×長さ:20cm×水深:15cm)としなければならない(図2参照:プローブ軸実線)。 The test is performed using a 99m Tc point source and the point source is placed at a depth of 30mm in water. The probe is placed so that the surface of the probe tip is in contact with the water surface and the probe axis is perpendicular to the water surface, and is fixed so that the radiation source is located at the center of the probe field. The size of the water bath should be at least width: 8 inches x length: 8 inches x water depth: 6 inches (width: 20 cm x length: 20 cm x water depth: 15 cm) so as to provide an appropriate scattering capacity. (See FIG. 2: solid line of probe axis).

ここでプローブチップとは、取り外し可能なコリメータ部分をも含むプローブ先端部のことであり、ガンマ線がプローブに入射する部分のことである。またプローブ軸とは、プローブチップの中心を通り、チップ面に垂直な方向をいう。プローブ視野とはプローブが入射する放射線を検出可能な範囲のことで、プローブ軸からの角度で表される。これらの用語は上記NEMA規格の第2.2節に定義されている。   Here, the probe tip refers to a probe tip including a detachable collimator, and is a portion where gamma rays are incident on the probe. The probe axis is a direction that passes through the center of the probe tip and is perpendicular to the tip surface. The probe field is a range in which radiation incident on the probe can be detected, and is represented by an angle from the probe axis. These terms are defined in section 2.2 of the above NEMA standard.

測定は、上記の状態から、プローブ軸の向きを、線源とプローブチップとを結ぶ線に対して−90°から+90°の角度範囲で変化させて、カウント数の変化を計測することにより、行われる(図2参照:プローブ軸破線)。測定中、プローブチップは常に水に触れるようにしておき、すべての測定について条件が一致するようにしなければならない。測定箇所は、FWHMの範囲内で少なくとも10点とすることが好ましい。典型的なプローブの場合、+/−25°の範囲内では5°又はそれ以下の間隔で測定を行い、それ以外では、10°の間隔で測定を行うことが望ましい。測定時間は、最大値が少なくとも 5,000カウントとなるように設定し、FWTM の範囲外の測定点においては、測定点あたり少なくとも500カウント以上が担保できるよう、角度が大きくなるに応じて測定時間を増すことが望まれる。放射能の減衰が5%以下におさまるような短い時間(例えば99mTcであれば20分以内)で測定を終えることが望ましく、測定結果を減衰補正する必要がある場合もある。
NEMA Standards Publication NU3-2004 "Performance Measurements and Quality Control Guidelines for Non-Imaging Intraoperative Gamma Probes" (National Electrical Manufacturers Association)
Measurement is performed by measuring the change in the number of counts by changing the orientation of the probe axis from the above state in the angle range of −90 ° to + 90 ° with respect to the line connecting the radiation source and the probe tip, Performed (see FIG. 2: broken probe axis). During the measurement, the probe tip should always be in contact with water and the conditions must be met for all measurements. The number of measurement points is preferably at least 10 points within the range of FWHM. In the case of a typical probe, it is desirable to measure at intervals of 5 ° or less within the range of +/− 25 °, and at intervals of 10 ° otherwise. The measurement time is set so that the maximum value is at least 5,000 counts, and at measurement points outside the FWTM range, the measurement time increases as the angle increases so that at least 500 counts per measurement point can be secured. It is desirable to increase It is desirable to finish the measurement in a short time (for example, within 20 minutes for 99m Tc) such that the attenuation of radioactivity falls below 5%, and the measurement result may need to be corrected for attenuation.
NEMA Standards Publication NU3-2004 "Performance Measurements and Quality Control Guidelines for Non-Imaging Intraoperative Gamma Probes" (National Electrical Manufacturers Association)

このようにNEMA規格では、プローブの角度分解能を−90°から+90°の範囲まで調べることを求めている。しかし、プローブチップが水に触れた状態を保ったままプローブを倒していくと、プローブ軸が90°に達する前にプローブ保持装置の一部が水槽の縁に干渉してしまい、プローブ軸を90°まで倒すことができない。この様子が図3Bに模式的に描かれており、プローブを倒していくと、プローブを支えるアームが途中で水槽の枠壁に衝突してしまい、それ以上プローブを倒すことができなくなる。このため、NEMA規格で定められる通りに角度分解能試験を行うことができなかった。   As described above, the NEMA standard requires that the angular resolution of the probe be examined from a range of −90 ° to + 90 °. However, if the probe is tilted while keeping the probe tip in contact with water, a part of the probe holding device interferes with the edge of the water tank before the probe shaft reaches 90 °, and the probe shaft is moved to 90 °. Cannot be defeated up to °. This state is schematically illustrated in FIG. 3B. When the probe is tilted, the arm supporting the probe collides with the frame wall of the aquarium, and the probe cannot be further tilted. For this reason, the angular resolution test could not be performed as defined by the NEMA standard.

本発明は、元々かかる課題を解決しようとしてなされたものであり、プローブ軸を少なくとも−90°から+90°の範囲に設定することを可能にしてNEMA規格の角度分解能試験を行えるようにすることを目標になされたものである。しかし本発明の具現化形態は、かかる目的のためだけに適用可能という訳ではなく、本発明が提供する構造を利用しうる様々な目的のために使用されうることには留意されねばならない。   The present invention was originally made to solve such a problem, and it is possible to set the probe axis in a range of at least −90 ° to + 90 ° and perform an NEMA standard angular resolution test. It is a goal. However, it should be noted that embodiments of the present invention are not applicable only for such purposes, but may be used for various purposes that may utilize the structure provided by the present invention.

本発明によるプローブ試験システムは、線源を沈めるための液槽と、使用時には前記液槽に正対して設置せしめられるプローブ保持装置とを具備する。プローブ保持装置は、基台及び支柱と、前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、前記使用時において前記液槽の開口部の上方に位置し、前記支柱が所定の回転角であるときにプローブ軸が鉛直方向を向くようにプローブを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に前記プローブのプローブチップが位置するようにプローブを保持するプローブ保持具と、前記プローブ保持具と前記支柱とを連結するアームを備える。このプローブ保持装置は、上記の回動機構によって支柱を回転させることにより、プローブ軸を−90°から+90°まで自在に傾けることができる。(水面に対して垂直な方向、つまり鉛直方向を0°とする。)   The probe test system according to the present invention includes a liquid tank for sinking the radiation source, and a probe holding device that is installed to face the liquid tank when in use. The probe holding device is a base, a support column, and an attachment part for attaching the support column to the base, and allows the support column to turn right and left from a state in which the support column stands in a vertical direction to a state in which the support column lies in a horizontal direction. A mounting portion having a rotation mechanism, and a probe that is positioned above the opening of the liquid tank at the time of use and holds the probe so that the probe shaft faces a vertical direction when the support column has a predetermined rotation angle. And a probe holder for holding the probe so that a probe tip of the probe is positioned on an extension line of the rotation shaft of the rotation mechanism, and an arm for connecting the probe holder and the column. In this probe holding device, the probe shaft can be freely tilted from −90 ° to + 90 ° by rotating the support column by the rotating mechanism. (The direction perpendicular to the water surface, that is, the vertical direction is 0 °.)

そして、本発明の具現化形態のあるものは、
・ 前記アームは、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、前記支柱側に設けられる、コの字又はU字状に横方向に張り出す第1の張り出し部と、前記プローブ保持具側に設けられ、前記第1の張り出し部とは逆方向にコの字又はU字状に張り出す第2の張り出し部とを有し、
・ 前記液槽は、前記使用時において前記プローブ保持装置に面する前記枠壁の少なくとも一部であって、前記プローブ保持装置に対して、前記支柱が起立位置にあるときに前記アームの前記第1の張り出し部が張り出す方向の反対側の少なくとも一部が、前記プローブ保持装置の方向へ迫り出すように形成される、
という構成を有することができる。
And some of the embodiments of the present invention are:
The arm is a first projecting portion that is provided on the side of the support column and protrudes laterally in a U-shape when viewed from vertically above in a state where the support column stands in the vertical direction. And a second overhang portion provided on the probe holder side and extending in a U-shape or U-shape in a direction opposite to the first overhang portion,
The liquid tank is at least a part of the frame wall facing the probe holding device during the use, and the arm of the arm when the support column is in an upright position with respect to the probe holding device; At least a part on the opposite side of the protruding direction of the protruding portion of 1 is formed so as to protrude toward the probe holding device;
It can have the structure of.

かかる構成によれば、アームの第1の張り出し部が上になるように支柱を倒していくとき、液槽の枠壁の迫り出している部分がアームにおける第1の張り出し部の内側に入り込むため、アームが枠壁に干渉することがなく、プローブ軸が水平になるまで支柱を倒すことが可能になる。このとき、支柱から見てアームの第1の張り出し部より先の部分は、液槽内に没入することになる。   According to such a configuration, when the support column is tilted so that the first overhanging portion of the arm faces upward, the protruding portion of the frame wall of the liquid tank enters the inside of the first overhanging portion of the arm. The arm does not interfere with the frame wall, and the column can be tilted until the probe axis is horizontal. At this time, the portion ahead of the first overhang portion of the arm as viewed from the support column is immersed in the liquid tank.

また上記の構成によれば、アームの第2の張り出し部が上になるように支柱を倒していくとき、液層の枠壁は、前記迫り出し部以外の部分で前記第2の張り出し部の内側に入り込んでいく。さらに、支柱から見てアームの第2の張り出し部より手前の部分が倒れ込む領域では、支柱と枠壁との距離が開いているため、これらの部分は枠壁に干渉することなく、枠壁の外側に倒れ込むことができる。したがって、こちらの側でもアームが枠壁に干渉することがなく、プローブ軸が水平になるまで支柱を倒すことが可能になる。   Further, according to the above configuration, when the support column is tilted so that the second overhanging portion of the arm is on the upper side, the frame wall of the liquid layer is a portion of the second overhanging portion other than the overhanging portion. Get inside. Furthermore, in the region where the portion in front of the second overhanging portion of the arm collapses when viewed from the support column, the distance between the support column and the frame wall is wide, so these portions do not interfere with the frame wall and Can fall outside. Therefore, the arm does not interfere with the frame wall on this side, and the support column can be tilted until the probe axis is horizontal.

すなわち、上記の構成によれば、プローブを保持したままプローブ軸を少なくとも左右90°に傾けることができ、NEMA規格で定められる通りに角度分解能試験を行うことが可能となる。   That is, according to the above configuration, the probe axis can be tilted at least 90 ° to the left and right while holding the probe, and an angular resolution test can be performed as defined by the NEMA standard.

なお、むろんのこと、第1及び第2の張り出し部の大きさ(特に内側の凹部形状の深さ)や形状、アームの長さ、液槽の枠壁の高さや厚さ、迫り出し部の迫り出し具合、液槽と支柱との距離などは、プローブ軸を液槽内に完全に横倒しにできるように、適宜定めるべきである。上記の構成は、液槽の枠壁に干渉せずにプローブを左右に傾けることを可能とするものであるが、例えば液槽の枠壁をアームの位置に比べて著しく高くするなど、不適切な寸法とすれば、上記の効果が得られないことは明らかであるからである。したがって、各構成要素の寸法は上記の効果が得られるよう、適切に定められるべきであるが、それは上記の説明から、実施形態に応じて容易に決定できるであろう。   Needless to say, the size and shape of the first and second overhanging portions (particularly the depth of the inner concave shape), the length of the arm, the height and thickness of the frame wall of the liquid tank, and the protruding portion The degree of protrusion and the distance between the liquid tank and the column should be determined as appropriate so that the probe shaft can be completely laid down in the liquid tank. The above configuration makes it possible to tilt the probe to the left and right without interfering with the frame wall of the liquid tank. For example, the frame wall of the liquid tank is significantly higher than the arm position. This is because it is clear that the above effects cannot be obtained if the dimensions are too large. Therefore, the dimensions of each component should be appropriately determined so as to obtain the above-mentioned effects, but can be easily determined from the above description according to the embodiment.

また、上述のように、上記の構成におけるアームは、支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、コの字又はU字状に横方向に張り出す第1の張り出し部と、それとは逆方向にコの字又はU字状に張り出す第2の張り出し部とを有する。したがって、ある具現化形態では、鉛直上方から見たときに、アームの形状がS字形(逆己字形)又は逆S字形(己字形)を呈する。無論、「コの字」や「U字」「S字」「己字」といった表現は厳密なものではなく比喩的なものであり、全体としてそのような形状であると認識できるといった程度の意味である。支柱側から見て、まず左右いずれか一方にアームが延伸して折り返す部分と、それとは逆方向にアームが延伸して折り返す部分があれば良い。これらの折り返し部の内側に液槽の枠壁が入り込み、枠壁とアームの干渉を避けることができればそれで十分である。したがって、アームの断面が、その全長に亘って同じ水平面内になければないということもなく、鉛直軸方向に上下に曲がっていても構わない。   In addition, as described above, the arm in the above-described configuration is the first overhang that laterally projects in a U-shape or a U-shape when viewed from vertically above in a state where the support column stands in the vertical direction. And a second projecting portion projecting in a U-shape or U-shape in the opposite direction. Accordingly, in some embodiments, the shape of the arm is S-shaped (inverted self-shaped) or inverted S-shaped (self-shaped) when viewed from vertically above. Of course, expressions such as “U”, “U”, “S” and “Self” are not strict but metaphorical, meaning that they can be recognized as such as a whole. It is. As seen from the column side, it is sufficient that there are a portion where the arm extends and bends to the left or right and a portion where the arm extends and bends in the opposite direction. It is sufficient if the frame wall of the liquid tank enters the inside of these folded portions and interference between the frame wall and the arm can be avoided. Therefore, the cross section of the arm does not have to be in the same horizontal plane over the entire length, and may be bent up and down in the vertical axis direction.

従って、本発明の具現化形態のあるものは、
・ 前記液槽における、プローブ試験の遂行時に前記プローブ保持装置に相対する側の枠壁は、該プローブ保持装置に向かって左右いずれか一方に偏して位置する枠壁部分の少なくとも一部が、該プローブ保持装置の方向へ迫り出す形状を有し、
・ 前記アームは、前記試験遂行時に、前記枠壁が前記迫り出した部分を有する側に前記支柱が横倒せしめられた状態において、前記枠壁を乗り越えて前記枠壁の内側へと延伸する第1の折り返し部を有すると共に、前記試験遂行時に、前記枠壁が前記迫り出した分を有する側とは逆側に横倒せしめられた状態で、前記枠壁を乗り越えて前記枠壁の内側へと延伸する第2の折り返し部を有し、
・ 前記液槽の前記枠壁の迫り出しの寸法は、前記試験遂行時に、前記支柱が前記枠壁が迫り出していない側に横倒せしめられた状態で、前記第1の折り返し部が前記枠壁の外側に位置しうるような寸法に定められる、
という構成を有するものであることができる。
Thus, some of the embodiments of the present invention are:
In the liquid tank, at the time of performing the probe test, the frame wall on the side facing the probe holding device is at least a part of the frame wall portion located on either side of the probe holding device, Having a shape protruding toward the probe holding device;
The arm extends over the frame wall and extends to the inside of the frame wall when the test is performed in a state where the column wall is laid down on the side where the frame wall has the protruding portion. 1 over the frame wall to the inside of the frame wall in a state where the frame wall is laid down on the opposite side to the side having the protruding portion when performing the test. And a second folded portion that extends,
The projecting dimension of the frame wall of the liquid tank is such that, when the test is performed, the first folded portion is the frame in a state where the support column is laid down to the side where the frame wall does not project. Dimensioned so that it can be located outside the wall,
It can have the structure of.

上述のプローブ試験システムの構成は、NEMA規格の角度分解能試験を行うことを可能にするために最適な構成ではあるが、前述のように、NEMA規格には他にも10種類の試験が定められている。したがって、角度分解能試験のみならず、他の試験も同じ試験システムによって行うことができれば便利である。   The configuration of the probe test system described above is an optimal configuration to enable the NEMA standard angular resolution test to be performed, but as described above, the NEMA standard has 10 other types of tests. ing. Therefore, it is convenient if not only the angular resolution test but also other tests can be performed by the same test system.

そこで本発明の実施形態においては、前記基台に、前記液槽に対して前記支柱を前後左右に移動せしめるXYステージを備えさせることができる。また前記基台に、前記支柱を上下に移動せしめるZステージを備えさせることもできる。これらの構成によって、プローブの位置を自在に移動することができ、NEMA規格で定められる諸々の試験を遂行することが可能となる。   Therefore, in an embodiment of the present invention, the base can be provided with an XY stage that moves the support column back and forth and from side to side with respect to the liquid tank. In addition, the base may be provided with a Z stage for moving the support column up and down. With these configurations, the position of the probe can be freely moved, and various tests defined by the NEMA standard can be performed.

また、放射線源を保持する装置として、前記液槽に対して前後左右に移動可能とするXYステージを有する台座と、上下へ移動可能なZステージを備える第2の支柱と、前記液槽内で放射線源を設置する線源設置部と、前記第2の支柱と前記線源設置部とを連結する第2のアームとを備える放射線源設置装置が提案される。この放射線源設置装置も、XYステージ及びZステージによって放射線源の位置を自在に調節することが可能であるため、プローブ保持装置のXYZ調節と合わせて、プローブと放射線源の位置を広範囲に調節することが可能となる。   Further, as a device for holding a radiation source, a pedestal having an XY stage that can move in the front-rear and left-right directions with respect to the liquid tank, a second support column that includes a Z stage that can move up and down, and the liquid tank A radiation source installation device is proposed that includes a radiation source installation unit that installs a radiation source, and a second arm that connects the second support column and the radiation source installation unit. Since this radiation source installation apparatus can also freely adjust the position of the radiation source by the XY stage and the Z stage, it adjusts the position of the probe and the radiation source over a wide range together with the XYZ adjustment of the probe holding apparatus. It becomes possible.

さらに本発明の実施形態のあるものは、プローブ保持装置や放射線源設置装置の底部に、これらの装置を固定する機構を備えることができる。かかる固定機構の例として、例えば磁石を用いることができ、たとえば鉄などの磁石が吸いつく物質で作られた台の上に設置することで、プローブ保持装置や放射線源設置装置を容易に固定することができる。磁力をオンオフすることができるマグネットスタンドが市販されているので、当該磁石としてかかるマグネットスタンドを採用すれば、磁力をオフにすることでプローブ保持装置や放射線源設置装置を容易に移動することができ、便利である。   Further, some of the embodiments of the present invention can include a mechanism for fixing these devices to the bottom of the probe holding device or the radiation source installation device. As an example of such a fixing mechanism, for example, a magnet can be used. For example, the probe holding device and the radiation source installation device can be easily fixed by installing on a table made of a substance attracted by a magnet such as iron. be able to. Magnet stands that can turn on and off the magnetic force are commercially available. If this magnet stand is used as the magnet, the probe holding device and the radiation source installation device can be easily moved by turning off the magnetic force. Convenient.

前述のように、本発明は、NEMA規格NU3−2004に定められるガンマプローブの試験を行うためになされた発明ではあるが、本発明によって提示される構成は、その試験のためだけにとどまらず、他の試験や試験以外の目的のために用いられることが可能であるのは言うまでもない。また、試験の対象となる装置もガンマプローブに限定されるものではなく、他の装置に対して応用することも可能である。本発明によれば、保持した装置を枠壁に干渉させずに横倒させることが可能になる。したがって本発明は、ガンマプローブの試験という目的にとどまらず、かかる特徴を必要とする他の様々な目的のために、利用されることが可能である。   As described above, the present invention is an invention made for testing a gamma probe defined in NEMA standard NU3-2004. However, the configuration presented by the present invention is not limited to the test. It goes without saying that it can be used for other tests or purposes other than tests. Further, the device to be tested is not limited to the gamma probe, and can be applied to other devices. According to the present invention, the held device can be laid down without interfering with the frame wall. Thus, the present invention can be utilized not only for the purpose of testing gamma probes, but also for various other purposes that require such features.

この観点から、本発明の具現化形態は、次のようなデバイス角度調節システムを含む。このシステムは、底板の周囲に立設せしめられる枠壁を有する槽と、使用時には前記槽に正対して設置せしめられるデバイス保持機とを具備するデバイス角度調節システムであって、
前記デバイス保持機は、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記使用時において前記槽の開口部の上方に位置し、前記支柱が所定の回転角であるときに、前記デバイスの所定の軸が鉛直方向を向くようにデバイスを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記デバイスの所定の部位が位置するように前記デバイスを保持する、デバイス保持具と、
・ 前記デバイス保持具と前記支柱とを連結するアームと
を有し、
前記アームは、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、前記支柱側に設けられ、左右いずれか一方に前記アームが延伸して折り返す第1の折り返し部と、前記第1の折り返し部の先に設けられ、前記一方とは逆方向に延伸して折り返す第2の折り返し部とを有し、
前記槽は、前記使用時において前記デバイス保持機に面する前記枠壁の少なくとも一部であって、前記デバイス保持機に対して、前記支柱が起立位置にあるときに前記一方とは逆側に偏して位置する枠壁部分の少なくとも一部が、前記デバイス保持機の方向へ迫り出すように形成され、
前記システムは前記使用時において、
・ 前記支柱が、前記アームの前記第1の折り返し部が上になる横倒状態にあるとき、該第1の折り返し部の内側に前記迫り出した枠壁部分が入り込み、
・ 前記支柱が、前記アームの前記第2の折り返し部が上になる横倒状態にあるとき、該第2の折り返し部の内側に、前記迫り出した部分とは異なる枠壁部分が入り込むと共に、前記第1の折り返し部は前記異なる枠壁部分の外側に位置するように寸法が定められる、
システムである。
From this point of view, embodiments of the present invention include the following device angle adjustment system. This system is a device angle adjustment system comprising a tank having a frame wall standing upright around a bottom plate, and a device holder that is installed to face the tank in use.
The device holder is
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate left and right from a state where the support column stands in a vertical direction to a state where the support column lies horizontally.
When the device is in use and positioned above the opening of the tank, and when the support column has a predetermined rotation angle, the device is held so that a predetermined axis of the device faces a vertical direction, and the rotation is performed. A device holder for holding the device such that a predetermined portion of the device is positioned on an extension line of a rotation shaft of the mechanism;
An arm for connecting the device holder and the column;
The arm is provided on the column side when viewed from vertically above in a state where the column stands up in the vertical direction, and the first folding unit that the arm extends and folds to either the left or right side; A second folded portion provided at the tip of the first folded portion, extending in a direction opposite to the one and folded back;
The tank is at least a part of the frame wall facing the device holder during the use, and is opposite to the one when the support column is in an upright position with respect to the device holder. At least a part of the frame wall portion that is biased is formed so as to protrude toward the device holder,
The system is in use,
When the support column is in a sideways state where the first folded portion of the arm is on the upper side, the protruding frame wall portion enters inside the first folded portion,
-When the column is in a sideways state where the second folded portion of the arm is on the upper side, a frame wall portion different from the protruding portion enters inside the second folded portion, and The first folded portion is dimensioned to be located outside the different frame wall portions;
System.

本発明の好適な実施形態のいくつかは、添付の特許請求の範囲に特定されている。しかし本発明の実施形態は、特許請求の範囲や明細書及び図面に明示的に記載されるものに限定されず、本発明の思想を逸脱することなく、様々な形態をとることが可能である。本発明は、本願特許請求の範囲や明細書及び図面に明示的に開示されるか否かにかかわらず、これらの書類から教示されうるあらゆる新規かつ有益な構成を、その範囲に含むものである。   Some of the preferred embodiments of the present invention are specified in the appended claims. However, the embodiments of the present invention are not limited to those explicitly described in the claims, specification and drawings, and can take various forms without departing from the spirit of the present invention. . The present invention includes in its scope all novel and useful configurations that can be taught from these documents, whether or not explicitly disclosed in the claims, specification and drawings.

以下、本発明の実施形態の例を、添付の図面を参照しながら詳しく説明する。   Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図4は、本発明の実施形態の一例であるプローブ試験システムの概略を描いた図である。本発明の実施例であるプローブ試験システム400は、底板の周囲に立設せしめられる枠壁を有する水槽402と、ガンマプローブ404を保持するプローブ保持装置406とを少なくとも備える。プローブ保持装置406は、水槽402に対してXYZ三軸の位置調節機構を有する基台408と、基台408に取り付けられる支柱410、プローブ404を把持するプローブ保持具412、及びプローブ保持具412を支柱410に連結するアーム414を備えている。支柱410は、その一端で基台408に回動可能に取り付けられており、図4に描かれているような鉛直方向に起立する状態から水平方向に完全に横倒する状態まで、左右いずれの方向にも角度を自在に変えることができる。   FIG. 4 is a diagram illustrating an outline of a probe test system which is an example of an embodiment of the present invention. A probe test system 400 according to an embodiment of the present invention includes at least a water tank 402 having a frame wall that is erected around a bottom plate, and a probe holding device 406 that holds a gamma probe 404. The probe holding device 406 includes a base 408 having an XYZ triaxial position adjusting mechanism with respect to the water tank 402, a column 410 attached to the base 408, a probe holder 412 that holds the probe 404, and a probe holder 412. An arm 414 connected to the column 410 is provided. The column 410 is pivotally attached to the base 408 at one end thereof, and can be any of the left and right sides from the state of standing in the vertical direction as depicted in FIG. 4 to the state of being completely laid down in the horizontal direction. The angle can also be changed freely in the direction.

水槽402は、特許請求の範囲に記載される液槽の例であり、プローブ性能試験を行うためのNAMA規格に定められる寸法を満たす。水槽402は、図4に描かれるように、プローブ保持装置406に対向する枠壁の、図で見てプローブ保持装置406より手前側の部分が、奥の部分より迫り出している。言葉を変えれば、図で見てプローブ保持装置406より奥の部分が、手前側の部分より奥まっている。したがって、水槽402の枠壁とプローブ保持装置406との距離は、プローブ保持装置の手前側と奥側で異なっている。水槽402とプローブ保持装置406とは、使用されるとき(すなわちプローブの性能試験を行うとき)にも、図4に描かれるような位置関係で正対し、すなわち、迫り出し部によって段差が設けられる枠壁を有する壁面が、プローブ保持装置406の支柱410の回転軸に正対する。   The water tank 402 is an example of the liquid tank described in the claims, and satisfies the dimensions defined in the NAMA standard for performing the probe performance test. As illustrated in FIG. 4, in the water tank 402, the portion of the frame wall facing the probe holding device 406 that is closer to the probe holding device 406 than the probe holding device 406 protrudes from the back portion. In other words, the part behind the probe holding device 406 is deeper than the part on the near side as seen in the figure. Therefore, the distance between the frame wall of the water tank 402 and the probe holding device 406 is different between the near side and the far side of the probe holding device. When the water tank 402 and the probe holding device 406 are used (that is, when performing a probe performance test), they face each other in the positional relationship as depicted in FIG. 4, that is, a step is provided by the protruding portion. The wall surface having the frame wall faces the rotation axis of the column 410 of the probe holding device 406.

使用時において、プローブ保持具412は、図4に描かれるように、水槽402の開口部の上方に位置し、支柱410が所定の回転角にあるとき(典型的には0°すなわち鉛直方向に直立しているとき)に、プローブ404のシャフト416が鉛直方向に向くように、プローブ404のグリップ部418を把持する。シャフト416の延伸軸は、プローブ404のプローブ軸に一致する。このとき、プローブ404のプローブチップ420(コリメータ422の入射部)が、支柱410の回転軸の延長線上に位置するように、グリップ部418を把持する。   In use, as shown in FIG. 4, the probe holder 412 is located above the opening of the aquarium 402 and when the column 410 is at a predetermined rotation angle (typically 0 °, ie in the vertical direction). The grip portion 418 of the probe 404 is gripped so that the shaft 416 of the probe 404 faces in the vertical direction (when standing upright). The extension axis of the shaft 416 coincides with the probe axis of the probe 404. At this time, the grip portion 418 is gripped so that the probe tip 420 of the probe 404 (the incident portion of the collimator 422) is positioned on the extension line of the rotation axis of the support column 410.

プローブ試験システム400は、プローブの試験を行うために用いる放射線源を設置するための線源設置装置430を備えることができる。線源設置装置430は、水槽402に対して前後左右に移動可能なXYステージを有する台座432と、上下へ移動可能なZステージを備える主柱434と、先端部に線源を載置する部分436を有するアーム438とを有する。試験の実施の際、線源設置装置430は、図4に描かれるように、水槽402を挟んでプローブ保持装置406に対向して設置され、XYステージ及びZステージによって、線源の位置の3軸調整を可能とする。このため、プローブチップと線源の位置関係を様々に調節して試験を行うことが可能である。しかし、線源の設置には必ずしも装置430のような複雑な装置を用いる必要はなく、もっと簡単な設置具を用いてもよい。例えば水槽402の底板に突設した柱状の構造物の頂面に、線源を載置するだけでもよい。   The probe test system 400 can include a radiation source installation device 430 for installing a radiation source used to perform a probe test. The radiation source installation device 430 includes a pedestal 432 having an XY stage that can move forward, backward, left, and right with respect to the water tank 402, a main column 434 that includes a Z stage that can move up and down, and a portion on which the radiation source is placed Arm 438 having 436. When performing the test, the radiation source installation device 430 is installed to face the probe holding device 406 with the water tank 402 interposed therebetween, as illustrated in FIG. Axis adjustment is possible. For this reason, it is possible to perform the test by variously adjusting the positional relationship between the probe tip and the radiation source. However, it is not always necessary to use a complicated device such as the device 430 for installing the radiation source, and a simpler installation tool may be used. For example, the radiation source may be simply placed on the top surface of a columnar structure protruding from the bottom plate of the water tank 402.

プローブ試験システム400は、鉄板440を備えてもよい。プローブ保持装置406や線源設置装置430の底部に磁石を設け、鉄板440に引きつけさせることで、これらの装置を容易に固定することができる。   The probe test system 400 may include an iron plate 440. By providing magnets at the bottom of the probe holding device 406 and the radiation source installation device 430 and attracting them to the iron plate 440, these devices can be easily fixed.

図5は、プローブ保持装置406の基台408の構成の一例を描いた図であり、(a)〜(e)は、それぞれ基台408の上面図、正面図、左側面図、背面図、右側面図である。   FIG. 5 is a diagram illustrating an example of the configuration of the base 408 of the probe holding device 406. FIGS. 5A to 5E are a top view, a front view, a left side view, a rear view, and a bottom view of the base 408, respectively. It is a right view.

基台408は、最底部にレバー501で磁力をオンオフできるマグネットチャンク502を有し、その上にX軸方向(プローブ試験の遂行時において、水槽402に対して平行移動する方向)の位置調節を可能とするX軸ステージ504と、Y軸方向(プローブ試験の遂行時において、水槽402に近づいたり離れたりする方向)の位置調節を可能とするY軸ステージ506を有する。Y軸ステージ506の上には主柱508が立設されており、さらに主柱508にはZ軸方向(上下方向)の位置調節を可能とするZ軸ステージ510が取り付けられている。Z軸ステージ510には角度ステージ512が取り付けられており、図4に描かれる支柱410は、この角度ステージ512に取り付けられることにより、回動可能とせしめられる。支柱410は、角度ステージ512に設けられる四つのネジ穴514a〜514dに、ネジで固定される。従って角度ステージ512は、支柱410を基台408に取り付ける取り付け部としての役割を果たす。また角度ステージ512は、少なくとも左右90°の範囲に回転することができ、任意の角度に固定されることができる。このため角度ステージ512は、支柱410を、鉛直方向に起立する状態から少なくとも水平方向に横倒する状態まで左右に回動自在とすることができる。角度ステージ512は、回転角度を無段階調節できる型のものであってもよいし、所定の間隔でのみ回転できる型のものであってもよい。また角度ステージ512は、支柱410を固定する角度を無段階調節できる型のものであってもよいし、所定の角度でのみ固定可能である型のものであってもよい。   The base 408 has a magnet chunk 502 that can turn on and off the magnetic force with a lever 501 at the bottom, and adjusts the position in the X-axis direction (direction parallel to the water tank 402 when performing a probe test) thereon. An X-axis stage 504 that can be used, and a Y-axis stage 506 that can adjust the position in the Y-axis direction (direction of approaching or leaving the water tank 402 when the probe test is performed). A main pillar 508 is erected on the Y-axis stage 506, and a Z-axis stage 510 that allows position adjustment in the Z-axis direction (vertical direction) is attached to the main pillar 508. An angle stage 512 is attached to the Z-axis stage 510, and the column 410 depicted in FIG. 4 can be rotated by being attached to the angle stage 512. The column 410 is fixed to the four screw holes 514a to 514d provided in the angle stage 512 with screws. Therefore, the angle stage 512 serves as an attachment portion for attaching the column 410 to the base 408. The angle stage 512 can rotate at least in the range of 90 ° to the left and right, and can be fixed at an arbitrary angle. For this reason, the angle stage 512 can turn the support column 410 to the left and right from a state in which the support column 410 stands in the vertical direction to a state in which the support column 410 lies at least horizontally. The angle stage 512 may be of a type capable of continuously adjusting the rotation angle, or of a type capable of rotating only at a predetermined interval. The angle stage 512 may be of a type that can adjust the angle at which the column 410 is fixed steplessly, or of a type that can be fixed only at a predetermined angle.

XYZそれぞれの方向の位置調節は、X軸移動調整ダイヤル516,Y軸移動調整ダイヤル518,Z軸移動調整ダイヤル520を操作することにより行うことができる。522,524,526は、それぞれX軸位置目盛り、Y軸位置目盛り、Z軸位置目盛りであり、これらの目盛りによって、XYZ方向の位置特定を精密に行うことができる。角度ステージ512は、回転移動調節棒528を緩めることで回転させることができ、回転移動調節棒528を締めると角度ステージ512は固定される。角度ステージ512の回転角は、回転位置目盛り530によって特定することができる。   The position adjustment in each direction of XYZ can be performed by operating the X-axis movement adjustment dial 516, the Y-axis movement adjustment dial 518, and the Z-axis movement adjustment dial 520. Reference numerals 522, 524, and 526 denote an X-axis position scale, a Y-axis position scale, and a Z-axis position scale, respectively. With these scales, position specification in the XYZ directions can be accurately performed. The angle stage 512 can be rotated by loosening the rotational movement adjustment rod 528. When the rotational movement adjustment rod 528 is tightened, the angle stage 512 is fixed. The rotation angle of the angle stage 512 can be specified by the rotation position scale 530.

図6は、図4に描かれた支柱410・プローブ保持具412・アーム414を拡大して描いた図ある。図6(a)〜(c)は、それぞれこれらを斜め上から見た図、斜め下から見た図、真上から見た図である。   FIG. 6 is an enlarged view of the column 410, the probe holder 412 and the arm 414 depicted in FIG. 6 (a) to 6 (c) are a diagram of these viewed from diagonally above, a diagram viewed from diagonally below, and a diagram viewed from directly above.

これらの図に描かれるように、アーム414は、支柱410の上部から延伸しており、支柱410と一体的に形成されている。支柱410及びアーム414の材質は特に制限されないが、角度ステージ512によって容易に固定されうるように、できるだけ軽い材質であることが好ましく、また、プローブ404を保持したときにたわみを生じない程度の強度を有することが好ましい。さらに本実施例の場合、アーム414の一部は試験の最中に水中に没するので、サビを生じない材質であることが好ましい。これらの要求を満たす材質の一例として、アクリルが挙げられる。   As depicted in these drawings, the arm 414 extends from the top of the column 410 and is formed integrally with the column 410. The material of the column 410 and the arm 414 is not particularly limited, but is preferably as light as possible so that it can be easily fixed by the angle stage 512, and is strong enough not to cause deflection when the probe 404 is held. It is preferable to have. Further, in the case of this embodiment, a part of the arm 414 is submerged in water during the test, and therefore, it is preferable that the material does not cause rust. An example of a material that satisfies these requirements is acrylic.

図6(a)〜(c)に描かれるように、アーム414は、鉛直上方から見たときに、まず右方向に延伸し、その後折り返して左方向に延伸する。さらに支柱410に交差しつつ左方向に延伸し、再び折り返した後に再度右方向に延伸し、ちょうど支柱410に交差するあたりで終端する。このためアーム414を鉛直上方から見ると、右方に存する折り返し部と、左方に存する折り返し部の2つの折り返し部を有し、全体としてアルファベットの"S"又は漢字の「己」の逆のような形状を呈する。言葉を換えて説明すると、アーム414は、支柱410に近い方に、上から見て右側にコの字又はU字状に張り出す第1の張り出し部602を有し、また、プローブ保持具412に近い方に、上から見て左側にコの字又はU字状に張り出す第2の張り出し部604を有する。第1の張り出し部602の内側の空間602aと、第2の張り出し部604の内側の空間604aは、支柱410が横に倒されたときに、水槽402の枠壁が入り込む空間となる。   As illustrated in FIGS. 6A to 6C, the arm 414 first extends in the right direction when viewed from above, and then turns back and extends in the left direction. Furthermore, it extends in the left direction while intersecting with the support column 410, is folded back again, extends in the right direction again, and terminates just at the time of intersecting with the support column 410. For this reason, when the arm 414 is viewed from vertically above, it has two folded portions, a folded portion that exists on the right side and a folded portion that exists on the left side, and is the reverse of the alphabet “S” or the Chinese character “self” as a whole. It exhibits such a shape. In other words, the arm 414 has a first projecting portion 602 that projects in a U shape or a U shape on the right side when viewed from above, closer to the support column 410, and the probe holder 412. The second projecting portion 604 projects in a U-shape or U-shape on the left side as viewed from above. The space 602a inside the first overhanging portion 602 and the space 604a inside the second overhanging portion 604 are spaces into which the frame wall of the water tank 402 enters when the support column 410 is tilted sideways.

アーム414の末端部、すなわち第2の張り出し部604の末端部分の板604d上には、プローブ保持具412がネジ608によって固定されている。プローブ保持具412は、ネジ610aおよび610bを締めることにより、プローブ404のグリップ部418を把持するように構成される。プローブ保持具412は、プローブ404を把持した時に、支柱410の長手方向の軸とプローブ404のプローブ軸が平行になる位置であって、更にプローブチップ420の中央部が角度ステージ512の回転軸の延長線上に位置しうるような位置に取り付けられる。従って、支柱410が鉛直方向に起立している時に、プローブ404のプローブ軸も鉛直方向に向けられることになり、また角度ステージ512が回転して支柱410が傾けられても、プローブチップ中央部の位置は変化しない。(むろん、誤差の範囲内でということである。)   A probe holder 412 is fixed by a screw 608 on the plate 604 d of the end portion of the arm 414, that is, the end portion of the second overhang portion 604. The probe holder 412 is configured to grip the grip portion 418 of the probe 404 by tightening the screws 610a and 610b. The probe holder 412 is a position where the longitudinal axis of the support column 410 and the probe axis of the probe 404 are parallel when the probe 404 is gripped, and the center portion of the probe tip 420 is the rotation axis of the angle stage 512. It is attached at a position that can be located on the extension line. Therefore, when the support column 410 stands up in the vertical direction, the probe axis of the probe 404 is also directed in the vertical direction, and even if the angle stage 512 is rotated and the support column 410 is tilted, The position does not change. (Of course, it is within the range of error.)

特に図6(a)においてよく分かるように、第2の張り出し部604の折り返し部の板604cは、第1の張り出し部の延長である板604bに対して斜め上方に角度がつけられている。これにより、板604bと板604dとが平行ではなくなり、一定の角度がつくこととなる。これは、図4に描かれるように、プローブ404のグリップ部418の中心軸とシャフト416の中心軸がずれていることに対応するものであり、支柱410の長手方向の軸とプローブ404のプローブ軸を平行にするための構造である。   As can be seen particularly in FIG. 6A, the folded plate 604c of the second overhanging portion 604 is angled obliquely upward with respect to the plate 604b which is an extension of the first overhanging portion. As a result, the plate 604b and the plate 604d are not parallel, and a certain angle is formed. This corresponds to the fact that the center axis of the grip portion 418 of the probe 404 is shifted from the center axis of the shaft 416 as depicted in FIG. This is a structure for making the axes parallel.

なお、板604cによって形成される板604bと板604dとの間の角度は例示的なものであり、プローブの形状によって適宜定められるべきものであり、グリップ部の中心軸とプローブ軸が一致しているようなプローブの場合には、板604bと板604dとの間に角度をつける必要もないことはもちろんである。また、板604bと板604dとの間に角度を可変とする構造を設け、様々なプローブに対応しうるように構成してもよい。   It should be noted that the angle between the plate 604b and the plate 604d formed by the plate 604c is exemplary, and should be determined as appropriate according to the shape of the probe, and the center axis of the grip portion matches the probe axis. Of course, in the case of such a probe, it is not necessary to provide an angle between the plate 604b and the plate 604d. Further, a structure in which the angle is variable between the plate 604b and the plate 604d may be provided so as to be compatible with various probes.

図6(b)に分かり易く描かれるように、支柱410の下部には四つの穴612a〜612dが設けられている。これらの穴にネジを通して角度ステージ512のネジ穴514a〜514dに螺合することにより、支柱410は角度ステージ512に固定される。支柱410が角度ステージ512に固定された様子を図7に示す。図7に模式的に描かれるように、支柱410は、角度ステージ512の働きにより、鉛直方向0°として少なくとも左右90°の範囲で回動可能であり、任意の角度で固定されることができる。   As can be easily seen in FIG. 6B, four holes 612 a to 612 d are provided in the lower portion of the column 410. The pillars 410 are fixed to the angle stage 512 by screwing these holes into screws holes 514 a to 514 d of the angle stage 512. A state in which the support column 410 is fixed to the angle stage 512 is shown in FIG. As schematically illustrated in FIG. 7, the support column 410 can be rotated in the range of at least 90 ° left and right as the vertical direction 0 ° by the action of the angle stage 512 and can be fixed at an arbitrary angle. .

図8は、水槽402の拡大図である。本実施例において水槽402はアクリルで作られているが、むろん他の材料で作られても構わない。水槽の幅、奥行き、高さは、使用される目的に応じて適宜決定されるべきである。NEMA規格NU3−2004に基づくプローブ性能試験を行う場合には、少なくとも、幅:8インチ×長さ:8インチ×水深:6インチ(幅:20cm×長さ:20cm×水深:15cm)の寸法が必要である。   FIG. 8 is an enlarged view of the water tank 402. In this embodiment, the water tank 402 is made of acrylic, but may be made of other materials. The width, depth, and height of the aquarium should be appropriately determined according to the purpose of use. When performing a probe performance test based on NEMA standard NU3-2004, at least the dimensions of width: 8 inches x length: 8 inches x water depth: 6 inches (width: 20 cm x length: 20 cm x water depth: 15 cm) is necessary.

枠壁402a及び402bは、プローブ試験を実施する際にプローブ保持装置406と相対する面である。図4にも描かれているように、手前側と奥側で奥行きが異なっている。手前側の枠壁402aは奥側の枠壁402bに比べて、プローブ保持装置406の方へ相対的に迫り出しており、奥側の枠壁402bは、手前側の枠壁402aに比べて相対的に奥行きが小さくなっている。このため、枠壁402aと402bの間には、段差402cが形成される。   The frame walls 402a and 402b are surfaces facing the probe holding device 406 when the probe test is performed. As illustrated in FIG. 4, the depth is different between the near side and the far side. The near-side frame wall 402a protrudes relatively toward the probe holding device 406 as compared to the far-side frame wall 402b, and the far-side frame wall 402b is relatively smaller than the near-side frame wall 402a. The depth is getting smaller. For this reason, a step 402c is formed between the frame walls 402a and 402b.

図9は、図4に描かれた線源設置装置430の拡大図である。線源設置装置430は、最下層にマグネットチャンク902を備え、その上にX軸ステージ904、Y軸ステージ906を備える。Y軸ステージ906の上には主柱434が立設され、主柱434にはZ軸ステージ908が取り付けられている。さらにZ軸ステージ908には図で見て逆己字型(又はS字型)を呈するアーム438が取り付けられており、アーム438の先端部が水槽402の中で真上を向くように構成される。アーム438の先端部436は、放射線源を載置する部分として用いられる。XYZ三つのステージを適宜操作することにより、放射線源の位置を水槽中で自在に調節することができる。   FIG. 9 is an enlarged view of the radiation source installation device 430 depicted in FIG. The radiation source installation device 430 includes a magnet chunk 902 on the lowermost layer, and an X-axis stage 904 and a Y-axis stage 906 thereon. A main pillar 434 is erected on the Y-axis stage 906, and a Z-axis stage 908 is attached to the main pillar 434. Further, the Z-axis stage 908 is attached with an arm 438 having an inverted self-shape (or S-shape) as seen in the figure, and is configured so that the tip end portion of the arm 438 faces directly upward in the water tank 402. The The tip portion 436 of the arm 438 is used as a portion on which the radiation source is placed. By appropriately operating the three XYZ stages, the position of the radiation source can be freely adjusted in the water tank.

図10(a)〜(d)は、図4に描かれる状態から支柱410を倒していったときに、水槽402の枠壁とアーム414の空間配置がどのようになるのかを説明するための図である。   FIGS. 10A to 10D are diagrams for explaining how the spatial arrangement of the frame wall of the water tank 402 and the arm 414 becomes when the support column 410 is tilted from the state depicted in FIG. FIG.

図10(a)は、支柱410を、図4に描かれる状態から、支柱410に向かって右側に少し倒した状態を描いている。この状態では、アーム414の全体が未だ枠壁402aの上側にある。図10(b)は、図10(a)の状態からさらに支柱410を倒した状態を描いている。この状態では、支柱410の上端からプローブ保持具412へと向かう直線が、すでに枠壁402aの上端より低い位置を通っており、アーム414の形状に工夫がなければ、アームが枠壁402aに干渉しているところである。しかしアーム414は、第1の張り出し部602を有し、その内側602aに枠壁402aが入り込むことができるため、支柱410を倒していってもアーム414が枠壁に干渉することがない。すなわちアーム414は、横倒状態において、枠壁402aを乗り越えるように折り返すアーム形状を有するため、枠壁402aに干渉せずに倒れ込むことができる。また、アーム414の張り出し部602より先の部分は水槽の中に入り込むため、やはり水槽に干渉することがない。   FIG. 10A illustrates a state in which the support column 410 is slightly tilted to the right side toward the support column 410 from the state illustrated in FIG. In this state, the entire arm 414 is still above the frame wall 402a. FIG. 10B illustrates a state where the support column 410 is further tilted from the state of FIG. In this state, the straight line from the upper end of the column 410 toward the probe holder 412 has already passed through a position lower than the upper end of the frame wall 402a, and the arm interferes with the frame wall 402a unless the shape of the arm 414 is devised. I am doing it. However, since the arm 414 has the first overhanging portion 602 and the frame wall 402a can enter the inner side 602a, the arm 414 does not interfere with the frame wall even when the support column 410 is tilted. That is, the arm 414 has an arm shape that is folded back so as to get over the frame wall 402a in a sideways state, and therefore can fall down without interfering with the frame wall 402a. Moreover, since the part ahead of the overhang | projection part 602 of the arm 414 enters the water tank, it does not interfere with the water tank.

図10(c)は、図10(b)の状態からさらに支柱410を倒し、支柱410が完全に水平方向に横倒している状態を描いている。張り出し部602の内側の凹部602aの奥行きは十分に深く取ってあるため、この状態においてもアーム414が枠壁402aに干渉することはない。そして前述のように、プローブ404はプローブ軸が支柱410の長手方向の軸と平行になるように保持されているため、図10(c)の状態においてはプローブ軸の方向も水平方向まで完全に横倒している。また前述のように、プローブチップ420の中央部は支柱410の回転軸に位置しているため、図10(a)〜(c)のいずれの状態であってもプローブチップ420の中央部の位置は変わらない。   FIG. 10C illustrates a state in which the support column 410 is further tilted from the state of FIG. 10B and the support column 410 is completely laid down in the horizontal direction. Since the recess 602a inside the overhanging portion 602 is sufficiently deep, the arm 414 does not interfere with the frame wall 402a even in this state. As described above, since the probe 404 is held so that the probe axis is parallel to the longitudinal axis of the support column 410, in the state of FIG. Lying down. Further, as described above, since the center portion of the probe tip 420 is located on the rotation axis of the support column 410, the position of the center portion of the probe tip 420 is the same in any state of FIGS. 10 (a) to 10 (c). Will not change.

図10(d)は、図10(c)の状態を水槽402の反対側から見た図である。枠壁402aが張り出し部602の内側に逃がされており、アーム414と枠壁402aの干渉が避けられていることがよくわかる。   FIG. 10D is a view of the state of FIG. 10C viewed from the opposite side of the water tank 402. It can be clearly seen that the frame wall 402a has escaped to the inside of the overhanging portion 602 and interference between the arm 414 and the frame wall 402a is avoided.

図11は、支柱410を、図10(c)とは反対に、図4に描かれる状態から向かって左側に水平方向まで完全に横倒させた状態を描いた図である。この図に描かれるように、水槽の枠壁402bが第2の張り出し部604の内側604a(図6(c)参照)に入り込むため、やはり、水槽402の枠壁とアーム414の干渉が避けられている。すなわちアーム414は、図11に描かれる横倒状態において、枠壁402bを乗り越えるように折り返すアーム形状を有するため、枠壁402bに干渉せずに倒れ込むことができる。また、枠壁402bと支柱410との距離が、段差402cがある分、枠壁402aと支柱410との距離よりも開いているため、枠壁402bと支柱410との間の空間に、枠壁402bと干渉せずに第1の張り出し部602が倒れ込むことができる。したがって支柱410は、水槽402の枠壁に全く干渉することなく、プローブ404が保持されたまま水平方向90°まで完全に横倒することができる。このとき、プローブ404のプローブ軸も完全に水平方向を向くことは前記と同様であり、また、支柱410の回動中にプローブチップ420の中央部の位置が変化しないことも同様である。   FIG. 11 is a diagram depicting a state in which the support column 410 is completely laid down to the left side in the horizontal direction from the state depicted in FIG. 4, as opposed to FIG. 10 (c). As illustrated in this figure, since the frame wall 402b of the aquarium enters the inner side 604a (see FIG. 6C) of the second overhanging portion 604, the interference between the frame wall of the aquarium 402 and the arm 414 is also avoided. ing. That is, since the arm 414 has an arm shape that is folded back so as to get over the frame wall 402b in the sideways state depicted in FIG. 11, the arm 414 can fall down without interfering with the frame wall 402b. In addition, since the distance between the frame wall 402b and the support column 410 is larger than the distance between the frame wall 402a and the support column 410 due to the step 402c, the frame wall 402b and the support column 410 have a space between the frame wall 402b and the support column 410. The first overhang portion 602 can fall down without interfering with 402b. Therefore, the column 410 can be completely laid down to 90 ° in the horizontal direction while holding the probe 404 without interfering with the frame wall of the water tank 402. At this time, the probe axis of the probe 404 is also oriented completely in the horizontal direction as described above, and the center portion of the probe tip 420 does not change during the rotation of the column 410.

このように、プローブ保持装置406と水槽402は、アーム414の独特の形状と、枠壁402a〜402cの独特の形状により、アーム414が水槽402の枠壁に干渉することなく、プローブを鉛直方向からプラスマイナス90°まで任意の角度に傾けることができる。従って、NEMA規格NU3−2004に定められる角度分解能試験、すなわち、プローブ軸の向きを線源から−90°から+90°の角度範囲で変化させてカウント数の変化を計測する試験を執り行うことができる。   As described above, the probe holding device 406 and the water tank 402 have the unique shape of the arm 414 and the unique shapes of the frame walls 402a to 402c so that the arm 414 does not interfere with the frame wall of the water tank 402 in the vertical direction. Can be tilted at any angle from up to plus or minus 90 °. Therefore, an angular resolution test defined in NEMA standard NU3-2004, that is, a test for measuring a change in the number of counts by changing the direction of the probe axis in the angle range of −90 ° to + 90 ° from the radiation source can be performed. .

さらにプローブ試験システム400は、プローブ保持装置406のXYZ三軸位置調節機構504,506,510及び線源設置装置のXYZ三軸位置調節機構904,906,908によって、線源とプローブチップ420の位置関係を自在に変化させることができるので、NEMA規格NU3−2004に定められる他の試験を執り行うことも可能である。すなわちプローブ試験システム400だけで、前記NEMA規格の主な性能試験を遂行することが可能である。   Further, the probe test system 400 includes the positions of the radiation source and the probe tip 420 by the XYZ triaxial position adjustment mechanisms 504, 506, 510 of the probe holding device 406 and the XYZ triaxial position adjustment mechanisms 904, 906, 908 of the radiation source installation device. Since the relationship can be freely changed, it is possible to conduct other tests defined in the NEMA standard NU3-2004. That is, the main performance test of the NEMA standard can be performed only by the probe test system 400.

さて、これまで説明してきた実施形態においては、アーム414及び枠壁402a〜402cの特殊な形状によって自由な角度調節を可能としたが、枠壁が通常の平板状のものであっても、プローブを左右いずれか一方向に横倒せしめることが可能であれば、NEMA規格で定められる角度分解能試験を行うことは可能である。まずプローブをプローブ保持装置に装着し、鉛直方向から水平方向まで角度を変えつつ試験を行う。次に、プローブを一旦取り外し、その軸回りに180°回転させて再び保持装置に装着する。そして先程と同じように横倒させつつ試験を行えば、前回とは逆の側の角度分解能試験を行ったことになる。この場合、前述の実施形態のように水槽の枠壁が特殊な形状である必要はなく、また、支柱を倒したときに枠壁を逃がすためのアームの張り出し部も最低一カ所あれば済むことになる。   In the embodiments described so far, the angle can be freely adjusted by the special shapes of the arm 414 and the frame walls 402a to 402c. However, even if the frame wall is a normal flat plate, Can be laid down in either one of the left and right directions, it is possible to perform an angular resolution test defined by the NEMA standard. First, the probe is attached to the probe holding device, and the test is performed while changing the angle from the vertical direction to the horizontal direction. Next, the probe is once removed, rotated around its axis by 180 °, and attached to the holding device again. If the test is performed while being laid down in the same manner as before, the angle resolution test on the opposite side to the previous time was performed. In this case, it is not necessary for the frame wall of the water tank to have a special shape as in the above-described embodiment, and there should be at least one protruding portion of the arm for releasing the frame wall when the column is tilted. become.

従って、本発明の具現化形態は、非画像術中用放射線プローブの性能試験を行うためのプローブ保持装置であって、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右少なくとも一方に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記支柱が所定の回転角であるときにプローブ軸が鉛直方向を向くようにプローブを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記プローブのプローブチップが位置するように前記プローブを保持する、プローブ保持具と、
・ 前記プローブ保持具と前記支柱とを連結するアームであって、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、前記支柱の前記少なくとも一方の回動方向とは逆方向に張り出す、コの字状又はU字状を呈する部分を有するアームと、
を具備するプローブ保持装置を含む。
Therefore, an embodiment of the present invention is a probe holding device for performing a performance test of a non-imaging intraoperative radiological probe,
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate at least one of right and left from a state where the support column stands in a vertical direction to a state where the support column lies horizontally. ,
The probe is held so that the probe shaft is oriented vertically when the support column has a predetermined rotation angle, and the probe tip of the probe is positioned on the extension line of the rotation shaft of the rotation mechanism. A probe holder for holding the probe;
An arm that connects the probe holder and the support column, and is opposite to the rotation direction of the at least one of the support columns when viewed from vertically above in a state where the support column stands in the vertical direction; An arm having a U-shaped or U-shaped portion projecting in a direction;
A probe holding device.

また、上記の可倒構造は非画像術中用ガンマプローブの性能試験以外にも、デバイスを保持して角度を様々に変化させる必要のある、様々な目的にも使用しうる。この観点から、本発明の具現化形態は、デバイスを保持するための装置であって、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右少なくとも一方に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記支柱が所定の回転角であるときに、前記デバイスの所定の軸が鉛直方向を向くようにデバイスを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記デバイスの所定の部位が位置するように前記デバイスを保持する、デバイス保持具と、
・ 前記デバイス保持具と前記支柱とを連結するアームであって、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、前記支柱の前記少なくとも一方の回動方向とは逆側に横方向に延伸すると共に後に折り返して逆方向に延伸する部分を有するアームと、
を具備するデバイス保持装置を含む。
In addition to the performance test of the non-imaging gamma probe, the above-described collapsible structure can be used for various purposes in which it is necessary to change the angle while holding the device. From this point of view, an embodiment of the present invention is an apparatus for holding a device,
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate at least one of right and left from a state where the support column stands in a vertical direction to a state where the support column lies horizontally. ,
When the column has a predetermined rotation angle, the device is held such that a predetermined axis of the device faces a vertical direction, and the predetermined axis of the device is on an extension line of the rotation axis of the rotation mechanism. A device holder for holding the device so that the site is located;
An arm that connects the device holder and the support column, and is opposite to the rotation direction of the at least one of the support columns when viewed from above in a state where the support column stands in the vertical direction; An arm having a portion extending in the lateral direction to the side and then folded back and extending in the opposite direction;
Including a device holding device.

以上、本発明の好適な実施形態のいくつかの例を図面を用いて説明してきたが、本発明の実施形態はこれらの例に限定されるわけではなく、本発明の思想を逸脱せずに、様々な形態を取り得ることは言うまでもない。また、アーム414及び枠壁402a〜402cによって実現されるデバイスの保持及び角度調節機構は、ガンマ線プローブの角度分解能試験という目的のみに使用されうる訳ではなく、本明細書に開示されるデバイスの保持及び角度調節機構を必要とする他の様々な目的にも使用されうることは、理解されねばならない。   As described above, some examples of the preferred embodiments of the present invention have been described with reference to the drawings. However, the embodiments of the present invention are not limited to these examples, and do not depart from the spirit of the present invention. Needless to say, it can take various forms. In addition, the device holding and angle adjustment mechanism realized by the arm 414 and the frame walls 402a to 402c may not be used only for the purpose of the angular resolution test of the gamma ray probe, but the device holding disclosed in the present specification. It should be understood that it can also be used for various other purposes that require an angle adjustment mechanism.

ガンマプローブの一例を描いた図Illustration depicting an example of a gamma probe NEMA規格NU3−2004の図3−7の翻訳図NEMA standard NU3-2004 translation of Fig. 3-7 従来のプローブ試験装置の概略図。図3Aはプローブ軸が鉛直方向に向いている状態を描いたものであり、図3Bはプローブを支えるアームが水槽の枠に干渉してしまっている様子を描いた図である。Schematic of a conventional probe test apparatus. FIG. 3A illustrates a state in which the probe axis is oriented in the vertical direction, and FIG. 3B illustrates a state in which the arm supporting the probe interferes with the frame of the aquarium. 本発明の実施形態の一例であるプローブ試験システムの概略Outline of a probe test system as an example of an embodiment of the present invention プローブ保持装置406の基台部408の拡大図Enlarged view of the base 408 of the probe holding device 406 支柱410・プローブ保持具412・アーム414の拡大図Enlarged view of column 410, probe holder 412 and arm 414 支柱410と基台部408とを連結した状態を描いた図The figure which drew the state which connected the support | pillar 410 and the base part 408 水槽402の拡大図Enlarged view of aquarium 402 線源設置装置430の拡大図Enlarged view of the radiation source installation device 430 支柱410を倒していったときの、水槽402の枠壁とアーム414の空間配置の様子を描いた図A diagram depicting the spatial arrangement of the frame wall of the water tank 402 and the arm 414 when the support column 410 is brought down. 支柱410を図10とは逆方向に倒したときの、水槽402の枠壁とアーム414の空間配置の様子を描いた図A diagram depicting the spatial arrangement of the frame wall of the aquarium 402 and the arm 414 when the support column 410 is tilted in the opposite direction to that of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

100 ガンマプローブ
102 ハンドグリップ
104 シャフト
106 コリメータ
400 プローブ試験システム
402 水槽
402a 枠壁
402b 枠壁
402c 段差
404 ガンマプローブ
406 プローブ保持装置
408 基台
410 支柱
412 プローブ保持具
414 アーム
416 シャフト
418 グリップ部
420 プローブチップ
422 コリメータ
430 線源設置装置
432 台座
434 主柱
436 先端部
438 アーム
440 鉄板
501 レバー
502 マグネットチャンク
504 X軸ステージ
506 Y軸ステージ
508 主柱
510 Z軸ステージ
512 角度ステージ
514a−514d ネジ穴
516 X軸移動調整ダイヤル
518 Y軸移動調整ダイヤル
520 Z軸移動調整ダイヤル
528 回転移動調節棒
602 第1の張り出し部
602a 第1の張り出し部の内側の空間
604 第2の張り出し部
604a 第2の張り出し部の内側の空間
610 締め付けネジ
612a−612d 穴
100 Gamma Probe 102 Handgrip 104 Shaft 106 Collimator 400 Probe Test System 402 Water Tank 402a Frame Wall 402b Frame Wall 402c Step 404 Gamma Probe 406 Probe Holding Device 408 Base 410 Post 412 Probe Holder 414 Arm 416 Shaft 418 Grip Portion 420 Probe Tip 422 Collimator 430 Radiation source installation device 432 Base 434 Main column 436 Tip 438 Arm 440 Iron plate 501 Lever 502 Magnet chunk 504 X-axis stage 506 Y-axis stage 508 Main column 510 Z-axis stage 512 Angle stage 514a-514d Screw hole 516 X-axis Movement adjustment dial 518 Y-axis movement adjustment dial 520 Z-axis movement adjustment dial 528 Rotation movement adjustment rod 602 First overhang portion 60 a first inner space 604 a second protruding portion 604a second overhang the inner space 610 tightening screw 612a-612d holes of the overhang portion

Claims (10)

底板の周囲に立設せしめられる枠壁を有する液槽と、使用時には前記液槽に正対して設置せしめられるプローブ保持装置とを具備するプローブ試験システムであって、
前記プローブ保持装置は、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記使用時において前記液槽の開口部の上方に位置し、前記支柱が所定の回転角であるときにプローブ軸が鉛直方向を向くようにプローブを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記プローブのプローブチップが位置するように前記プローブを保持する、プローブ保持具と、
・ 前記プローブ保持具と前記支柱とを連結するアームと、
を有し、
前記アームは、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、
・ 前記支柱側に設けられる、コの字又はU字状に横方向に張り出す第1の張り出し部と、
・ 前記プローブ保持具側に設けられ、前記第1の張り出し部とは逆方向にコの字又はU字状に張り出す第2の張り出し部と、
を有し、
前記液槽は、前記使用時において前記プローブ保持装置に面する前記枠壁の少なくとも一部であって、前記プローブ保持装置に対して、前記支柱が起立位置にあるときに前記アームの前記第1の張り出し部が張り出す方向の反対側の少なくとも一部が、前記プローブ保持装置の方向へ迫り出すように形成され、
前記システムは前記使用時において、
・ 前記支柱が、前記アームの前記第1の張り出し部が上になる横倒状態にあるとき、該第1の張り出し部の内側に前記迫り出した枠壁が入り込み、
・ 前記支柱が、前記アームの前記第2の張り出し部が上になる横倒状態にあるとき、該第2の張り出し部の内側に、前記枠壁が入り込むと共に、前記第1の張り出し部は前記枠壁の外側に位置するように寸法が定められる、
プローブ試験システム。
A probe test system comprising a liquid tank having a frame wall that is erected around a bottom plate, and a probe holding device that is installed to face the liquid tank when used,
The probe holding device is
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate left and right from a state where the support column stands in a vertical direction to a state where the support column lies horizontally.
・ The probe is positioned above the opening of the liquid tank during the use, and holds the probe so that the probe shaft faces in the vertical direction when the column is at a predetermined rotation angle, and the rotation mechanism rotates. A probe holder for holding the probe such that the probe tip of the probe is positioned on an extension line of the shaft;
An arm that connects the probe holder and the support;
Have
When the arm is viewed from vertically above in a state where the support column stands in the vertical direction,
A first projecting portion provided on the support column side and projecting in a lateral direction in a U-shape or U-shape;
A second projecting portion provided on the probe holder side and projecting in a U-shape or U-shape in a direction opposite to the first projecting portion;
Have
The liquid tank is at least a part of the frame wall that faces the probe holding device during the use, and the first of the arms when the support column is in an upright position with respect to the probe holding device. At least a part of the opposite side of the protruding portion of the protruding portion is formed so as to protrude toward the probe holding device,
The system is in use,
When the support column is in a sideways state where the first overhanging portion of the arm is on the upper side, the protruding frame wall enters the inside of the first overhanging portion,
When the support column is in a sideways state where the second projecting portion of the arm is on the upper side, the frame wall enters the inside of the second projecting portion, and the first projecting portion is Dimensioned to be outside the frame wall,
Probe test system.
底板の周囲に立設せしめられる枠壁を有する液槽と、使用時には前記液槽に正対して設置せしめられるプローブ保持装置とを具備するプローブ試験システムであって、
前記プローブ保持装置は、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記使用時において前記液槽の開口部の上方に位置し、前記支柱が所定の回転角であるときにプローブ軸が鉛直方向を向くようにプローブを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記プローブのプローブチップが位置するようにプローブを保持する、プローブ保持具と、
・ 前記プローブ保持具と前記支柱とを連結するアームと
を有し、
前記液槽における、使用時に前記プローブ保持装置に相対する側の前記枠壁は、前記プローブ保持装置に対して左右いずれか一方に偏して位置する枠壁部分の少なくとも一部が、前記プローブ保持装置の方向へ迫り出すように形成され、
前記アームは、前記使用時に、前記枠壁が前記迫り出した部分を有する側に前記支柱が横倒せしめられた状態において、前記枠壁を乗り越えて前記枠壁の内側へと延伸する第1の折り返し部を有すると共に、前記使用時に、前記枠壁が前記迫り出した部分を有する側とは逆側に前記支柱が横倒せしめられた状態で、前記枠壁を乗り越えて前記枠壁の内側へと延伸する第2の折り返し部を有し、
前記液槽の前記枠壁の迫り出しの程度は、前記使用時に、前記枠壁が前記迫り出した部分を有する側とは逆側に横倒せしめられた状態で、前記第1の折り返し部が前記枠壁の外側に位置しうるような程度に定められる、
プローブ試験システム。
A probe test system comprising a liquid tank having a frame wall that is erected around a bottom plate, and a probe holding device that is installed to face the liquid tank when used,
The probe holding device is
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate left and right from a state where the support column stands in a vertical direction to a state where the support column lies horizontally.
・ The probe is positioned above the opening of the liquid tank during the use, and holds the probe so that the probe shaft faces in the vertical direction when the column is at a predetermined rotation angle, and the rotation mechanism rotates. A probe holder for holding the probe so that the probe tip of the probe is positioned on an extension line of the shaft;
An arm that connects the probe holder and the support;
In the liquid tank, the frame wall on the side facing the probe holding device at the time of use is such that at least a part of the frame wall portion located on either side of the probe holding device is biased to the probe holding device. Shaped to squeeze in the direction of the device,
The arm extends to the inside of the frame wall over the frame wall in a state where the support wall is laid down on the side where the frame wall has the protruding portion during the use. In the state of use, the frame wall is overturned to the inside of the frame wall in the state where the column wall is laid down on the opposite side to the side having the protruding portion. And a second folded portion that extends,
The degree of the projecting of the frame wall of the liquid tank is such that the first folded portion is in a state where the frame wall is laid sideways on the opposite side to the side having the projecting part during the use. It is determined to such an extent that it can be located outside the frame wall,
Probe test system.
前記基台は、前記液槽に対して前記支柱を前後左右に移動せしめるXYステージを備える、請求項1または2に記載のプローブ試験システム。   The probe test system according to claim 1, wherein the base includes an XY stage that moves the support column back and forth and from side to side with respect to the liquid tank. 前記基台は、前記支柱を上下に移動せしめるZステージを備える、請求項1から3のいずれかに記載のプローブ試験システム。   The probe test system according to claim 1, wherein the base includes a Z stage that moves the support column up and down. 前記基台の底面に磁石を備える、請求項1から4のいずれかに記載のプローブ試験システム。   The probe test system according to claim 1, further comprising a magnet on a bottom surface of the base. 請求項1から5のいずれかに記載のプローブ試験システムの使用時に、前記プローブ保持装置と前記液槽を挟んで相対して設置される放射線源設置装置であって、
前記液槽に対して前後左右に移動可能とするXYステージを有する台座と、上下へ移動可能なZステージを備える第2の支柱と、前記液槽内で放射線源を設置する線源設置部と、前記第2の支柱と前記線源設置部とを連結する第2のアームとを備える放射線源設置装置。
When using the probe test system according to any one of claims 1 to 5, a radiation source installation device installed relative to the probe holding device and the liquid tank,
A pedestal having an XY stage that can be moved forward, backward, left, and right with respect to the liquid tank; a second support column that includes a Z stage that can move up and down; and a radiation source installation section that installs a radiation source in the liquid tank; A radiation source installation device comprising: a second arm that connects the second support column and the radiation source installation unit.
請求項1から5のいずれかに記載のプローブ試験システムと、請求項6に記載の放射線源設置装置とを備える、プローブ試験システム。   A probe test system comprising: the probe test system according to claim 1; and the radiation source installation device according to claim 6. 底板の周囲に立設せしめられる枠壁を有する槽と、使用時には前記槽に正対して設置せしめられるデバイス保持機とを具備するデバイス角度調節システムであって、
前記デバイス保持機は、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記使用時において前記槽の開口部の上方に位置し、前記支柱が所定の回転角であるときに、前記デバイスの所定の軸が鉛直方向を向くようにデバイスを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記デバイスの所定の部位が位置するように前記デバイスを保持する、デバイス保持具と、
・ 前記デバイス保持具と前記支柱とを連結するアームと、
を有し、
前記アームは、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、前記支柱側に設けられ、左右いずれか一方に前記アームが延伸して折り返す第1の折り返し部と、前記第1の折り返し部の先に設けられ、前記一方とは逆方向に延伸して折り返す第2の折り返し部とを有し、
前記槽は、前記使用時において前記デバイス保持機に面する前記枠壁の少なくとも一部であって、前記デバイス保持機に対して、前記支柱が起立位置にあるときに前記一方とは逆側に偏して位置する枠壁部分の少なくとも一部が、前記デバイス保持機の方向へ迫り出すように形成され、
前記システムは前記使用時において、
・ 前記支柱が、前記アームの前記第1の折り返し部が上になる横倒状態にあるとき、該第1の折り返し部の内側に前記迫り出した枠壁部分が入り込み、
・ 前記支柱が、前記アームの前記第2の折り返し部が上になる横倒状態にあるとき、該第2の折り返し部の内側に、前記迫り出した部分とは異なる枠壁部分が入り込むと共に、前記第1の折り返し部は前記異なる枠壁部分の外側に位置するように寸法が定められる、
デバイス角度調節システム。
A device angle adjustment system comprising: a tank having a frame wall standing upright around a bottom plate; and a device holder that is installed to face the tank when in use;
The device holder is
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate left and right from a state where the support column stands in a vertical direction to a state where the support column lies horizontally.
When the device is in use and positioned above the opening of the tank, and when the support column has a predetermined rotation angle, the device is held so that a predetermined axis of the device faces a vertical direction, and the rotation is performed. A device holder for holding the device such that a predetermined portion of the device is positioned on an extension line of a rotation shaft of the mechanism;
An arm connecting the device holder and the support;
Have
The arm is provided on the column side when viewed from vertically above in a state where the column stands up in the vertical direction, and the first folding unit that the arm extends and folds to either the left or right side; A second folded portion provided at the tip of the first folded portion, extending in a direction opposite to the one and folded back;
The tank is at least a part of the frame wall facing the device holder during the use, and is opposite to the one when the support column is in an upright position with respect to the device holder. At least a part of the frame wall portion that is biased is formed so as to protrude toward the device holder,
The system is in use,
When the support column is in a sideways state where the first folded portion of the arm is on the upper side, the protruding frame wall portion enters inside the first folded portion,
-When the column is in a sideways state where the second folded portion of the arm is on the upper side, a frame wall portion different from the protruding portion enters inside the second folded portion, and The first folded portion is dimensioned to be located outside the different frame wall portions;
Device angle adjustment system.
非画像術中用放射線プローブの性能試験を行うためのプローブ保持装置であって、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで、左右少なくとも一方に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記支柱が所定の回転角であるときにプローブ軸が鉛直方向を向くようにプローブを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記プローブのプローブチップが位置するように前記プローブを保持する、プローブ保持具と、
・ 前記プローブ保持具と前記支柱とを連結するアームであって、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、前記支柱の前記少なくとも一方の回動方向とは逆方向に張り出す、コの字状又はU字状を呈する部分を有するアームと、
を具備するプローブ保持装置。
A probe holding device for performing a performance test of a non-imaging intraoperative radiation probe,
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate at least one of right and left from a state in which the support column stands in a vertical direction to a state in which the support column lies horizontally. When,
The probe is held such that the probe shaft is oriented vertically when the column is at a predetermined rotation angle, and the probe tip of the probe is positioned on the extension line of the rotation shaft of the rotation mechanism. A probe holder for holding the probe;
An arm that connects the probe holder and the support column, and is opposite to the rotation direction of the at least one of the support columns when viewed from vertically above in a state where the support column stands in the vertical direction; An arm having a U-shaped or U-shaped portion projecting in a direction;
A probe holding device comprising:
デバイスを保持するための装置であって、
・ 基台及び支柱と、
・ 前記支柱を前記基台に取り付ける取り付け部であって、該支柱を鉛直方向に起立する状態から水平方向に横倒する状態まで左右少なくとも一方に回動自在とせしめる回動機構を備える取り付け部と、
・ 前記支柱が所定の回転角であるときに、前記デバイスの所定の軸が鉛直方向を向くようにデバイスを保持すると共に、前記回動機構の回動軸の延長線上に、前記デバイスの所定の部位が位置するように前記デバイスを保持する、デバイス保持具と、
・ 前記デバイス保持具と前記支柱とを連結するアームであって、前記支柱が鉛直方向に起立している状態で鉛直上方から見たときに、前記支柱の前記少なくとも一方の回動方向とは逆側に横方向に延伸すると共に後に折り返して逆方向に延伸する部分を有するアームと、
を具備するデバイス保持装置。
An apparatus for holding a device,
・ Base and support,
An attachment portion for attaching the support column to the base, the attachment unit including a rotation mechanism that allows the support column to rotate at least one of right and left from a state where the support column stands in a vertical direction to a state where the support column lies horizontally. ,
When the column has a predetermined rotation angle, the device is held such that a predetermined axis of the device faces a vertical direction, and the predetermined axis of the device is on an extension line of the rotation axis of the rotation mechanism. A device holder for holding the device so that the site is located;
An arm that connects the device holder and the support column, and is opposite to the rotation direction of the at least one of the support columns when viewed from above in a state where the support column stands vertically. An arm having a portion extending in the lateral direction to the side and then folded back and extending in the opposite direction;
A device holding apparatus comprising:
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