JP2009200189A - 電子部品搭載型半導体チップ - Google Patents
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Abstract
【課題】電子部品を内蔵することで、プリント配線板の高密度実装を可能にする電子部品搭載型半導体チップを実現する
【解決手段】半導体集積回路を有する半導体チップ1に、コンデンサ等の電子部品3を内蔵するための凹部を加工し、該凹部に電子部品3を搭載し、半導体チップパッド2と電子部品パッド4を接続する。この電子部品搭載型半導体チップを、プリント配線板に実装することで、高密度実装を可能とする。。また、半導体チップパッド2を有する表面と反対側に、電子部品3を搭載するための凹部を形成し、VIAで接続すれば、より一層の高密度実装が可能となる。
【選択図】図1
【解決手段】半導体集積回路を有する半導体チップ1に、コンデンサ等の電子部品3を内蔵するための凹部を加工し、該凹部に電子部品3を搭載し、半導体チップパッド2と電子部品パッド4を接続する。この電子部品搭載型半導体チップを、プリント配線板に実装することで、高密度実装を可能とする。。また、半導体チップパッド2を有する表面と反対側に、電子部品3を搭載するための凹部を形成し、VIAで接続すれば、より一層の高密度実装が可能となる。
【選択図】図1
Description
本発明は、高密度実装と高速伝送を可能とする電子部品搭載型半導体チップに関するものである。
近年、電子機器のプリント回路基板やそれに実装されるLSIの高機能高性能化が進展する中で、半導体チップとプリント配線板の接続はワイヤーボンディングや半田ボールが広く使われている。プリント配線板上の伝送線路のインピーダンスコントロールや整合終端が行われたとしても、ワイヤーボンディングによるインピーダンスの不整合などによって信号品質が問題となっている。また、急速な周波数の高速化に伴って、部品間を接続する短い配線までもが問題となってきている。
このような問題を解決するために、新しい実装構造やICの実装方法が提案されている。例えば、特許文献1によれば、IC間の配線を短くするために半導体チップを3次元的に積層した構造のLSIが知られている。
図8は一従来例による、半導体チップを三次元的に実装したプリント配線板を示す。これは、絶縁層108を有するインターポーザ基板やプリント配線板を備え、2つの半導体チップ101と2つのパッシブ部品103が内蔵される。これらの内蔵部品は、プリント配線板配線や、インターポーザ基板配線107や、プリント配線板VIAもしくはインターポーザ基板VIA106によって接続されている。
プリント配線板を用いて回路を構成し、高速な周波数で回路を駆動する場合には、ワイヤーボンディングや半田ボールの不整合による影響が配線にノイズとしてのってしまうため、シグナルインティグリティの低下といった問題が発生する。また、半導体チップとプリント配線板をワイヤーボンディングで接続するための領域を確保する必要がある。さらに、プリント配線板とワイヤーボンディングの接続点は半導体チップの外側に限定されるため、複数の半導体チップやその他の電子部品を高密度に実装することに限界がある。
また、プリント配線板に半導体チップを埋め込み、プリント配線板の配線と半導体チップのパッドを接続する方法では、半導体チップの上下の配線接続や、半導体チップを上下に積層した場合の半導体チップ間の配線接続が長くなってしまう。
本発明は、高速伝送と高密度実装を可能とする電子部品搭載型半導体チップを提供することを目的とするものである。
本発明の電子部品搭載型半導体チップは、半導体集積回路と、電子部品を収容するために形成された凹部又は貫通穴と、前記凹部又は貫通穴に実装された電子部品と、前記電子部品及び前記半導体集積回路に接続された電気接続手段と、を備えたことを特徴とする。
半導体チップに凹部又は貫通穴をあけて、その中に電子部品を内蔵し、さらに、半導体チップの接続端子と半導体チップに内蔵された電子部品の接続端子を接続することにより、高速伝送が可能となる。また、半導体チップ内部に、別部品として形成したコンデンサ等の電子部品を内蔵することで、電源グラウンドバウンスのノイズを抑制する効果がある。
半導体プロセスにより半導体チップ上に形成された回路とは反対側の面から、半導体チップの接続端子までをVIAで接続することで、さらに、高密度な配線と部品実装を行うことも可能となり、これによって高密度実装を実現できる。
半導体チップの接続端子と半導体チップに内蔵された電子部品の接続端子を接続すれば、インターポーザ基板やプリント配線板の不整合による反射を低減し、配線分岐、スタブ配線をなくすことにより、高速動作を可能とする半導体チップを提供できる。このような半導体チップを用いることで、プリント回路基板の小型軽量化が可能となる。
半導体チップの凹部もしくは貫通穴の壁面が斜めであれば、そこに実装する電子部品の少なくとも一部が壁面と同様な形状であることによって、位置合わせが容易な構成を実現できる。
半導体チップなどの部品を複数個使用して、プリント配線板に三次元実装する場合に、抵抗やコンデンサなどの電子部品を半導体チップに内蔵することで、厚みが薄く、しかも、高速動作が可能なプリント回路基板を実現できる。
本発明を実施するための最良の形態を図面を参照して説明する。
図1は、実施例1による電子部品搭載型半導体チップの一部を切断した一部断面斜視図である。
電子部品搭載型半導体チップである半導体チップ1は、半導体集積回路と、第1の電気接続手段である半導体チップパッド2を有し、半導体チップ1に内蔵される電子部品3は、電子部品パッド4を備える。
半導体チップ1には、電子部品3を収容する凹部が形成され、半導体チップパッド2と電子部品3の電子部品パッド4が接続されている。
半導体チップ表面に凹部を形成し、その内部に、別部品として形成したコンデンサや抵抗等の電子部品を内蔵(実装)することで、電源グラウンドバウンスのノイズを抑制し、かつ高密度実装を実現できる。
図2は、実施例2による電子部品搭載型半導体チップ一部を切断した一部断面斜視図である。
半導体チップ1をくり抜いた貫通穴に電子部品13が内蔵され、半導体チップパッド2と電子部品パッド14が接続されている。
半導体チップの厚みと同じ、もしくは、それよりも厚い電子部品を内蔵することが可能となる。
図3は、実施例3による電子部品搭載型半導体チップの一部を切断した一部断面斜視図である。
半導体チップ1は、半導体集積回路と、第1の電気接続手段である半導体チップパッド2を有し、半導体チップ1に内蔵される電子部品3は、電子部品パッド4を備える。
半導体チップ1には、電子部品3を収容する凹部と、半導体チップ1及び半導体チップパッド2を貫通するVIA5が形成される。半導体チップパッド2と電子部品パッド4が、第2の電気接続手段であるVIA5の導体によって接続されている。
半導体チップの裏面側に電子部品を搭載することで、半導体チップ上に形成される回路の有効面積を広く活用することが可能となる。
図4は、実施例4による電子部品搭載型半導体チップの一部を切断した一部断面斜視図である。
電子部品搭載型半導体チップである半導体チップ1は、半導体集積回路と、第1の電気接続手段である半導体チップパッド2を有し、半導体チップ1に内蔵される電子部品3は、電子部品パッド4を備える。
半導体チップ1には半導体チップパッド2まで開口するVIA5が設けられており、半導体チップパッド2と電子部品パッド4が、第2の電気接続手段であるVIA5の導体によって接続されている。
半導体プロセスにより半導体チップ上に形成された回路とは反対の面(裏面)から、半導体チップパッドまでをVIAで接続することで、半導体チップを貫通する穴をあける図3の構成よりも、さらに高密度な配線と部品実装を行うことができる。これにより、より一層の高密度実装が可能となる。
図5は、図4の電子部品搭載型半導体チップの製造方法を示す工程図である。
図5(a)に示すように、半導体チップ1は、半導体プロセスによって、半導体ウエハに半導体集積回路と半導体チップパッド2を形成したものであり、この半導体チップ1に、(b)に示すように垂直壁を有する凹部1aを加工する。
図5(c)に示すように、半導体チップ1の凹部1aに電子部品3を実装し、(d)に示すように半導体チップ1に半導体チップパッド2まで貫通する穴をあけ、穴の内部を絶縁被膜で覆う。
図5(e)に示すように、半導体チップ1にあけられた半導体チップパッド2まで穴の内部をメッキすることによって、VIA5を形成し、半導体チップパッド2と電子部品パッド4をメッキ(導体)によって接続する。
図6は、実施例5による電子部品搭載型半導体チップの製造方法を示す工程図である。
図6(a)に示すように、半導体チップ1は、半導体プロセスによって、半導体ウエハに半導体集積回路と半導体チップパッド2を形成したものであり、この半導体チップ1に、(b)に示すように、壁面が傾斜した凹部1bを加工する。
図5(c)に示すように、半導体チップ1の凹部1bの壁面と整合する傾斜壁を有する電子部品3を実装し、(d)に示すように、半導体チップ1と電子部品パッド4の一部を切削して半導体チップパッド2まで貫通する穴をあけ、穴の内部を絶縁被膜で覆う。
図5(e)に示すように、半導体チップ1にあけられた半導体チップパッド2まで穴の内部をメッキすることによって、VIA5を形成し、半導体チップパッド2と電子部品パッド4をメッキ(導体)によって接続する。
本実施例では、電子部品の傾斜壁により、電子部品を半導体チップの凹部に実装する際の位置合わせが容易となる。また、電子部品を半導体チップの凹部に実装する際の位置にズレが生じた場合でも、半導体チップパッドと電子部品チップパッドの接続が確実に行なわれる。
図7は、図1の半導体チップ1を三次元的に実装したプリント配線板及びインターポーザ基板からなるプリント回路基板を示す。半導体チップ1は、電子部品3を内蔵し、電子部品3は、VIA5によってプリント配線板VIA、もしくは、インターポーザ基板VIA6及びプリント配線板配線、もしくは、インターポーザ基板配線7に接続される。プリント配線板及びインターポーザ基板は絶縁層8を有する。
電子部品を内蔵した半導体チップを、プリント配線板の内部に実装し、さらに、プリント配線板の配線やVIAによって電子部品を接続することで、プリント配線板の高密度実装と、プリント回路基板の小型軽量化が可能となる。
1 半導体チップ
2 半導体チップパッド
3、13 電子部品
4、14 電子部品パッド
5 VIA
2 半導体チップパッド
3、13 電子部品
4、14 電子部品パッド
5 VIA
Claims (6)
- 半導体集積回路と、
電子部品を収容するために形成された凹部又は貫通穴と、
前記凹部又は貫通穴に実装された電子部品と、
前記電子部品及び前記半導体集積回路に接続された電気接続手段と、を備えたことを特徴とする電子部品搭載型半導体チップ。 - 半導体集積回路と、
前記半導体集積回路に接続された第1の電気接続手段と、
電子部品を収容するために形成された凹部又は貫通穴と、
前記凹部又は貫通穴に実装された電子部品と、
前記電子部品を前記第1の電気接続手段に接続するための第2の電気接続手段と、を備えたことを特徴とする電子部品搭載型半導体チップ。 - 前記電子部品はコンデンサであることを特徴とする請求項1又は2記載の電子部品搭載型半導体チップ。
- 前記電子部品は抵抗であることを特徴とする請求項1又は2記載の電子部品搭載型半導体チップ。
- 前記第2の電気接続手段は、VIAを有することを特徴とする請求項2ないし4いずれかに記載の電子部品搭載型半導体チップ。
- 半導体集積回路及び電気接続手段を有する半導体チップに凹部又は貫通穴を加工する工程と、
前記半導体チップの前記凹部又は貫通穴に電子部品を実装する工程と、
前記電子部品を前記半導体チップの前記電気接続手段に接続する工程と、を有することを特徴とする電子部品搭載型半導体チップの製造方法。
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