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JP2008109134A - Vacuum processing device and method of vacuum processing - Google Patents

Vacuum processing device and method of vacuum processing Download PDF

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JP2008109134A
JP2008109134A JP2007270341A JP2007270341A JP2008109134A JP 2008109134 A JP2008109134 A JP 2008109134A JP 2007270341 A JP2007270341 A JP 2007270341A JP 2007270341 A JP2007270341 A JP 2007270341A JP 2008109134 A JP2008109134 A JP 2008109134A
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processing
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vacuum
wafers
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廣治 西畑
Kazuhiro Shiroo
和博 城尾
Shiyouji Ikuhara
祥二 幾原
Tetsuya Tawara
哲也 田原
Masashi Okiguchi
昌司 沖口
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Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Corp
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Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vacuum processing device and a method of vacuum processing capable of, when an automatic operation is temporarily broken because of a difficulty encountered during the automatic operation to feed a work piece provided from a first cassette to a first vacuum processing chamber and feed a work piece provided from a second cassette to a second vacuum processing chamber to process the work pieces, delivering a wafer remaining in a device, which encounters the difficulty, to a source cassette and continuing the processing. <P>SOLUTION: There are employed two cassettes 7-1, 7-2 in the vacuum processing device, which operates to: carry wafers, each accommodated in an individual cassette, to any of vacuum processing chambers 2-1 to 2-4 through a carrying means 8, switchable chambers 3, 4 and a vacuum carrying means 5; and subject to either a parallel processing to subject the carried wafers to different processing through the application of recipes differing from one cassette to another, or a parallel processing to subject wafers, which have been accommodated in individual cassettes, to common processing through the application of a common recipe. After a difficulty is encountered during an automatic operation to bring back the wafers, which have been subjected to the parallel processing, to the source cassettes through the switchable chambers and the difficulty causes a temporal break of the automatic operation, the vacuum processing device carries a wafer remaining in a device, which encounters the difficulty, to the source cassette and then continues the processing. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、プロセス処理を行う2つ以上のプロセス処理装置と、ウェハの搬送を行う搬
送処理装置で構成され、少なくとも2つ以上のプロセス処理装置を使って処理する処理方
法及び処理装置に関する。
The present invention relates to a processing method and a processing apparatus that include two or more process processing apparatuses that perform process processing and a transfer processing apparatus that transfers a wafer, and perform processing using at least two or more process processing apparatuses.

従来の装置は、例えば、特許文献1,2,3に示すように搬送室に処理室を接続したシ
ステムにおいて、別々のウェハを別々の処理室で同時に実行したり、又はウェハを順次に
2つ以上の処理室を経由して処理することのできる装置及びその搬送に関するものであっ
た。
特開昭63−133532号公報 特開昭63−252439号公報 特開昭63−129641号公報
For example, in a system in which a processing chamber is connected to a transfer chamber as shown in Patent Documents 1, 2, and 3, conventional apparatuses execute different wafers simultaneously in different processing chambers, or two wafers sequentially. The present invention relates to an apparatus capable of processing via the above processing chamber and its transfer.
JP 63-133532 A JP-A-63-252439 JP-A-63-129641

上記従来技術は、2つ以上のプロセス処理を施すにつき、ウェハを真空雰囲気の搬送路
を介して2つ以上の処理室に搬送し、個々の処理室では、その処理室が持つ固有の処理を
施すことにより、大気状態にさらすことなく真空中で複数のプロセス処理をする為の装置
構成、搬送方法を考案したものであった。
In the above prior art, when two or more process processes are performed, a wafer is transferred to two or more process chambers via a transfer path in a vacuum atmosphere, and each process chamber has its own process. By applying this method, an apparatus configuration and a transport method for performing a plurality of processes in a vacuum without being exposed to atmospheric conditions have been devised.

ところで、従来技術では2つ以上の処理室を処理経路として使って運転している運転中
に、どれかの処理室が故障等で使用できなくなった時に正常な処理室を使って処理を続行
する運転については、考慮されていなかった。
By the way, in the prior art, during operation that uses two or more processing chambers as processing paths, when one of the processing chambers cannot be used due to a failure or the like, processing is continued using a normal processing chamber. Driving was not considered.

又、運転開始時修復する必要のある処理室がある場合でも、正常な処理室のみを使って
装置を運転する方法についても考慮されていなかった。
Further, even when there is a processing chamber that needs to be repaired at the start of operation, a method for operating the apparatus using only a normal processing chamber has not been considered.

又、2つ以上の処理室を処理経路として使って運転中にその運転を一時中断させ、中断
させる迄にその運転の処理経路に使っていなかった処理室を処理経路として使った割り込
み処理を優先的に実行し、その割り込み処理が終了した後は一時中断させていた処理を続
行させる運転する方法についても考慮されていなかった。
In addition, two or more processing chambers are used as processing paths, and the operation is temporarily suspended during operation, and priority is given to interrupt processing using a processing chamber that has not been used as the processing path for the operation until the operation is interrupted. However, the method of driving to continue the process that was temporarily interrupted after the interruption process was completed was not considered.

又、2つ以上の処理室を処理経路として使って運転中にその運転の処理経路に使用して
いない処理室の機器に対する操作指示の方法については考慮されていなかった。またその
運転の処理経路に使用していない処理室の機器に対する操作指示を通常操作する操作部と
離れた場所にある操作部で行う場合での操作上の安全性確保についても考慮されていなか
った。
In addition, a method for instructing operation of equipment in a processing chamber that is not used in the processing path of the operation during operation using two or more processing chambers as a processing path has not been considered. In addition, it has not been considered to ensure operational safety when operating instructions for processing chamber equipment not used in the processing path of the operation are performed by an operating section that is normally operated and an operating section that is located remotely. .

このように従来技術は処理室が正常な状態にあるときの運転を考慮したものであるが、
処理室が異常等で使用できない時の運転、割り込み処理、運転中での運転の一時中断及び
中断状態から再開運転や、運転中に処理経路に使用していない処理室の操作、運用等につ
いては考慮されていないため、例えば同種の処理室が接続されておれば、他方の正常な処
理室を使って運転を続行するという装置の運転方法が考慮されておらず、稼働率の低い装
置であった。
As described above, the conventional technology considers operation when the processing chamber is in a normal state.
About operation when the treatment room cannot be used due to an abnormality, interrupt processing, operation suspension during operation, resume operation from suspended state, operation of the treatment room that is not used for the treatment path during operation, operation, etc. For example, if the same type of processing chamber is connected, the operation method of the device to continue operation using the other normal processing chamber is not considered, and the device has a low operating rate. It was.

本発明は、プロセス処理を行う2つ以上のプロセス処理装置と、ウェハの搬送を行う搬
送処理装置で構成され、少なくとも2つ以上のプロセス処理装置を使って処理する真空処
理装置において、
1)2つ以上の処理室を処理経路として使って運転中に、処理室の内どれかが故障等で
使用できなくなった場合でも運転続行でき、又、
2)修復する必要のあるプロセス処理装置がある場合は、正常な処理室のみを処理経路
として使って運転でき、又
3)運転中に運転の一時中断、及び中断状態からの再開運転、及び運転中に運転を一時
中断させ、中断させる迄にその運転の処理経路に使っていなかった処理室を処理経路とし
て使った割り込み処理を実行し、その割り込み処理が終了した後は一時中断させていた処
理を続行させる運転ができ、又
4)2つ以上の処理室を処理経路として使って運転中に、その運転の処理経路に使用し
ていない処理室の機器に対する操作指示ができ、またその運転の処理経路に使用していな
い処理室の機器に対して操作指示をする場合や、通常の操作指示をする操作部と離れた場
所にある操作部で行う場合、操作上の安全性確保できるようにすることにより、装置の稼
働率を向上できる真空処理装置を提供することにある。
The present invention is a vacuum processing apparatus that includes two or more process processing apparatuses that perform process processing and a transfer processing apparatus that transfers a wafer, and performs processing using at least two or more process processing apparatuses.
1) During operation using two or more processing chambers as processing paths, operation can be continued even if any of the processing chambers cannot be used due to a failure, etc.
2) When there is a process processing device that needs to be repaired, it can be operated using only a normal processing chamber as a processing path, and 3) Operation is temporarily interrupted during operation, and resumed operation and operation from an interrupted state. The operation that was interrupted during the operation, interrupt processing using the processing chamber that was not used as the processing path for that operation until the operation was interrupted, and the processing that was temporarily interrupted after the interrupt processing ended 4) During operation using two or more processing chambers as processing paths, operation instructions can be given to equipment in processing chambers that are not used in the processing path of the operation. When operating instructions for equipment in a processing chamber that is not used in the processing path, or when using an operating section that is remote from the operating section that gives normal operating instructions, it is possible to ensure operational safety. You It makes is to provide a vacuum processing apparatus capable of improving the operating rate of the apparatus.

上記目的を達成するために、プロセス処理装置の運転有効/無効であることを示す運転
情報信号を発生する運転情報信号発生手段を各プロセス処理装置毎に設け、その運転情報
信号を記憶する運転情報信号記憶手段を設け、運転情報信号を元にして運転無効である該
プロセス処理装置を使用せず、他の有効なプロセス処理装置を使って運転続行する装置制
御手段を設けたものである。
In order to achieve the above object, operation information signal generating means for generating an operation information signal indicating that the operation of the process processing apparatus is valid / invalid is provided for each process processing apparatus, and the operation information signal for storing the operation information signal is stored. A signal storage means is provided, and an apparatus control means for continuing the operation using another effective process processing apparatus without using the process processing apparatus that is invalid based on the operation information signal is provided.

装置の運転においては、運転途中に或プロセス処理装置が故障等で使用できなくなった
場合は、装置運転を一時中断し、オペレータに運転続行/中止の判断を促し、続行する場
合は、装置運転続行の処置を施すことで運転続行が可能となるようにしたものである。
During the operation of the equipment, if the process processing equipment cannot be used due to a failure or the like during the operation, the equipment operation is temporarily suspended and the operator is prompted to continue / stop the operation. The operation can be continued by performing the above-mentioned procedure.

又、運転開始時点で修復、保守等する必要のあるプロセス処理装置がある状態で運転を
開始する場合は、運転開始前に修復、保守等する必要のあるプロセス処理装置を使わず、
有効なプロセス処理装置を使って装置運転する処置を施すことで運転が可能となるように
したものである。
Also, when starting operation with a process processing device that needs to be repaired or maintained at the start of operation, do not use a process processing device that needs to be repaired or maintained before starting operation.
The operation can be performed by performing a process for operating the apparatus using an effective process processing apparatus.

本発明によれば、運転途中に或プロセス処理装置が故障等で使用できなくなった場合や
、運転開始時点で修復や保守の必要のあるプロセス処理装置がある状態で運転を開始する
場合や、運転途中に或プロセス処理装置の運転を中断させ他の有効なプロセス処理装置を
使って運転中に、先に中断させたプロセス処理装置を運転再開する場合に、装置運転続行
の処置を施すことで運転続行が可能となるようにしたことにより、プロセス処理を行う複
数のプロセス処理装置と、ウェハの搬送を行う搬送処理装置で構成された真空処理装置で
は、複数ある処理室の内、どれかが故障等で使用できなくなった場合でも運転続行ができ
、又運転開始時修復や保守する必要のあるプロセス処理装置がある場合でも、正常なプロ
セス処理装置を使って運転でき、装置の稼働率を向上することができる。
According to the present invention, when a process processing device cannot be used due to a failure or the like during operation, or when the operation is started with a process processing device that needs repair or maintenance at the start of operation, When the operation of a certain process processing device is interrupted and another process processing device is being used and the process processing device that was previously interrupted is restarted, the operation is continued by taking measures to continue the operation of the device. In a vacuum processing system consisting of multiple process processing devices that perform process processing and transfer processing devices that transfer wafers, one of the multiple processing chambers has failed. Operation can be continued even if it becomes unusable, etc., and even if there is a process processing device that needs to be repaired or maintained at the start of operation, it can be operated using a normal process processing device. It is possible to improve the operating rate of the apparatus.

以下、本発明の一実施例を図1〜図10に示す。   An embodiment of the present invention is shown in FIGS.

図1は、一実施例であり、プロセス処理装置が搬送処理装置に4室接続され、処理装置
にウエハを搬入する為のカセットは処理装置本体の前に設置した大気搬送装置に設置し、
該カセットから1枚ずつ取り出し処理装置に搬入し処理する装置構成図を示す。プロセス
処理装置が4つ以上接続されても構わない。1はウェハの搬送を行う搬送処理装置であり
ロードロック室のウエハをウエハの搬送スケジュールに従ってプロセス処理装置2−1〜
2−4に搬送し、プロセス処理装置で処理終了したウエハを次のプロセス処理装置に搬送
し、全てのプロセス処理が終了したウエハをアンロードロック室に搬送する。2−1〜2
−4はプロセス処理を行うプロセス処理装置である。プロセス処理としてはエッチング、
後処理、成膜、スパッタ、CVD、水洗処理等ウエハのプロセス処理全てを含む。3はロ
ードロック室であり大気搬送装置6にあるウエハを搬送処理装置に搬入する室、4はアン
ロードロック室であり真空処理室にあるウエハを大気搬送装置6に搬出する室、5は搬送
処理装置内に設置されウェハの搬送を行う真空ロボット、6はウェハを収納したカセット
を設置するための大気搬送装置、7は処理するウェハを収納したカセットであり製品用ウ
エハを収納したカセットやクリーニング用ウエハを収納したカセットである。8は大気搬
送装置上のカセット内のウェハをカセットから搬出し、ロードロック室3に搬入し、また
アンロードロック室4のウエハを元のカセットに戻す大気ロボットを示す。
FIG. 1 shows an embodiment in which a process processing apparatus is connected to a transfer processing apparatus in four chambers, and a cassette for carrying a wafer into the processing apparatus is installed in an atmospheric transfer apparatus installed in front of the processing apparatus main body.
The apparatus block diagram which takes out one by one from this cassette and carries it in to a processing apparatus is shown. Four or more process processing apparatuses may be connected. Reference numeral 1 denotes a transfer processing apparatus that transfers a wafer, and processes the wafers in the load lock chamber in accordance with the wafer transfer schedule.
The wafer transferred to 2-4 and processed by the process processing apparatus is transferred to the next process processing apparatus, and the wafer after completion of all the process processing is transferred to the unload lock chamber. 2-1 to 2
Reference numeral -4 denotes a process processing apparatus that performs process processing. Etching as process treatment,
This includes all wafer processing such as post-processing, film formation, sputtering, CVD, and water washing. 3 is a load lock chamber, a chamber for carrying wafers in the atmospheric transfer device 6 into the transfer processing device, 4 is a chamber for unloading lock chambers and carrying out wafers in the vacuum processing chamber to the atmospheric transfer device 6, and 5 is transfer A vacuum robot installed in the processing apparatus for carrying wafers, 6 is an atmospheric transfer apparatus for installing cassettes containing wafers, and 7 is a cassette containing wafers to be processed. It is the cassette which accommodated the wafer for use. Denoted at 8 is an atmospheric robot for unloading the wafer in the cassette on the atmospheric transfer device from the cassette, loading it into the load lock chamber 3, and returning the wafer in the unload lock chamber 4 to the original cassette.

通常の運転にあたっては、オペレータは、カセット7−1(又は7ー2)を大気搬送装
置6に設置する。その後表示手段13、入力手段14とを使って運転条件の設定を行った
後運転の開始指示を行うことで、ウェハの搬送が開始しプロセス処理装置2−1(2−2
〜2−4)に搬送され、プロセス処理を行って元のカセットに戻される。元のカセット内
のウェハが全て処理されるとそのカセットの回収の為にこの図に示していないブザーを鳴
らし、オペレータにカセット回収要求を通報し、オペレータがカセットを取り除く。尚、
運転条件設定の1部である処理経路の設定においては、その処理に使用するプロセス処理
装置をウェハの処理する順序にプロセス処理装置の記号等を使って設定する。
In normal operation, the operator installs the cassette 7-1 (or 7-2) in the atmospheric transfer device 6. Thereafter, the operation conditions are set using the display means 13 and the input means 14, and then the operation start instruction is given, whereby the wafer transfer starts and the process processing apparatus 2-1 (2-2).
To 2-4), processed, and returned to the original cassette. When all the wafers in the original cassette have been processed, a buzzer (not shown) is sounded to collect the cassette, the operator is notified of the cassette collection request, and the operator removes the cassette. still,
In setting the processing path, which is a part of the operating condition setting, the process processing apparatus used for the processing is set in the processing order of the wafer using a symbol of the process processing apparatus.

このウエハの処理順序は、運転モードとして表1に示す。

Figure 2008109134
The wafer processing sequence is shown in Table 1 as operation modes.
Figure 2008109134

以下のこの運転モードの説明ではプロセス処理装置2ー2と2ー3は同一のプロセス処
理を(この実施例ではエッチング処理とする)、プロセス処理装置2ー1と2ー4は同一
のプロセス処理を(この実施例では後処理とする)するものとして説明する。またプロセ
ス処理の実施例としては、プロセス処理装置2ー2または2ー3を使ったエッチング処理
を行った後、プロセス処理装置2ー1と2ー4を使った後処理を行うものとする。またウ
エハの処理条件によってはエッチング処理のみであっても良い。
In the following description of this operation mode, the process processing apparatuses 2-2 and 2-3 perform the same process processing (in this embodiment, etching process), and the process processing apparatuses 2-1 and 2-4 perform the same process processing. Will be described as post-processing in this embodiment. As an example of the process processing, it is assumed that after the etching process using the process processing apparatus 2-2 or 2-3 is performed, the post-processing using the process processing apparatuses 2-1 and 2-4 is performed. Further, depending on the processing conditions of the wafer, only the etching process may be performed.

1)1カセット1レシピ並列運転
同一のプロセス処理条件(以下では、プロセス処理条件をレシピと称する)で処理する
ウエハが収納されたカセット内の最下段もしくは最上段のウエハから順番にカセットから
抜き出し搬送処理装置に搬入しプロセス処理をするものである。ウエハは、プロセス処理
装置2ー2でエッチング処理した後プロセス処理装置2ー1で後処理をして元のカセット
に戻す経路(この経路Aという)と、プロセス処理装置2ー3でエッチング処理した後プ
ロセス処理装置2ー4で後処理をして元のカセットに戻す経路(この経路Bという)の両
方を使って処理する。
1) 1 cassette 1 recipe parallel operation The lowermost or uppermost wafer in the cassette in which the wafers to be processed under the same process processing conditions (hereinafter referred to as recipes) are extracted and transferred from the cassette in order. It is carried into a processing device and processed. The wafer is etched by the process processing apparatus 2-2, then processed by the process processing apparatus 2-1 and then returned to the original cassette (this path A), and etched by the process processing apparatus 2-3. The post-processing apparatus 2-4 performs post-processing and performs processing using both of the paths that return to the original cassette (this path B).

この実施例での処理順序は
経路A:カセットC1→プロセス処理装置2ー2→プロセス処理装置2ー1→カ
セットC1
経路B:カセットC1→プロセス処理装置2ー3→プロセス処理装置2ー4→カ
セットC1
の組み合わせとしたが、
経路C:カセットC1→プロセス処理装置2ー2→プロセス処理装置2ー4→カ
セットC1
経路D:カセットC1→プロセス処理装置2ー3→プロセス処理装置2ー1→カ
セットC1
の組み合わせであっても良い。
The processing order in this embodiment is as follows: path A: cassette C1 → process processing device 2-2 → process processing device 2-1 →
Set C1
Path B: Cassette C1 → Process processing device 2-3 → Process processing device 2-4 → C
Set C1
The combination of
Path C: Cassette C1 → Process processing device 2-2 → Process processing device 2-4 → C
Set C1
Path D: Cassette C1 → Process processing device 2-3 → Process processing device 2-1 → C
Set C1
It may be a combination of

ウエハの処理は、1枚目のウエハは経路A、2枚目は経路B、3枚目のウエハは経路A
、4枚目は経路B、・・・という順序でカセット内の最終ウエハ迄処理を行う。C1カセ
ット内の全てを処理終了するとC1カセットの処理終了とカセット交換をオペレータに通
報する為にこの図に示していないブザーを鳴らす。この時迄にC2カセットが設置されて
あれば、C1カセットの処理終了に引き続きC2カセットの処理に移る。C2カセットに
ついてもC1カセットの場合と同じ順序で処理を行い、C2カセット内の全てを処理終了
するとC2カセットの処理終了とカセット交換をオペレータに通報する為にこの図に示し
ていないブザーを鳴らす。この時迄にC1カセットが設置されてあれば、C2カセットの
処理終了に引き続きC1カセットの処理に移る。以降この運転サイクル繰り返しを行う。
Wafer processing is route A for the first wafer, route B for the second wafer, route A for the third wafer.
The fourth wafer is processed in the order of path B,... Up to the last wafer in the cassette. When all the processing in the C1 cassette is completed, a buzzer not shown in this figure is sounded to notify the operator of the completion of processing of the C1 cassette and cassette replacement. If the C2 cassette has been installed by this time, the process proceeds to the C2 cassette following the end of the process of the C1 cassette. The C2 cassette is processed in the same order as in the case of the C1 cassette. When all the processing in the C2 cassette is completed, a buzzer not shown in this figure is sounded to notify the operator of the completion of the C2 cassette processing and the cassette replacement. If the C1 cassette has been installed by this time, the process proceeds to the C1 cassette processing after the end of the processing of the C2 cassette. Thereafter, this operation cycle is repeated.

この運転を終了する場合は、主制御部11から運転終了の操作入力を行うことで運転が終
了する。
When ending this operation, the operation is ended by inputting an operation end operation from the main control unit 11.

処理を終了する方法として、以下の5モードがある。   There are the following five modes as methods for terminating the processing.

ア)ウエハ供給停止:処理中のカセットからのウエハ取り出しを中止する。
(2カセットを1ロットとして運転している場合は、指定した方のカセットか
らのウエハ取り出しを中止する。)
イ)カセット供給停止:現在処理中のカセット内のウエハを全て処理終了した後、
その処理終了迄に設置されてあったカセットの処理を中止する。
(2カセットを1ロットとして運転している場合は、指定した方のカセット内の
ウエハを全て処理終了した後、その時迄に設置されてあったカセットの処理を中
止する。)
ウ)サイクル停止:現在実行中のプロセス処理、排気、リーク、搬送等の動作終了
後その場で停止する。
エ)処理室一時停止:指定処理室について、現在処理中のプロセス処理終了後停止
する。この場合は、運転の再開操作により一時停止した状態から運転を再開す
ることができる。またその処理室のみ手動操作は可能である。
A) Wafer supply stop: Stops wafer removal from the cassette being processed.
(If you are operating two cassettes as one lot, whichever cassette you specify?
The wafer removal is stopped. )
B) Stop cassette supply: After all wafers in the cassette currently being processed are processed,
The processing of the cassette that has been installed before the end of the processing is stopped.
(If two cassettes are operated as one lot, after processing all the wafers in the specified cassette, processing of the cassettes installed up to that point is in progress.
Stop. )
C) Cycle stop: End of process processing, exhaust, leak, transfer, etc. currently being executed
Then stop on the spot.
D) Processing chamber pause: Stops the specified processing chamber after the current processing is complete
To do. In this case, restart the operation from the state where it was temporarily stopped by the restart operation.
Can. Only the processing chamber can be manually operated.

オ)即停止:実行中の全ての動作を即時停止する。     E) Immediate stop: Immediately stop all running operations.

処理終了に当たってはいずれの方法によっても良い。   Any method may be used to terminate the processing.

2)2カセット1レシピ並列運転
同一のプロセス処理条件(レシピ)で処理するウエハが収納されたカセット内の最下段
もしくは最上段のウエハから順番にカセットから抜き出し搬送処理装置に搬入しプロセス
処理をするものである。
2) Two-cassette one-recipe parallel operation The lowermost wafer or the uppermost wafer in the cassette containing wafers to be processed under the same process processing conditions (recipe) is sequentially extracted from the cassette and loaded into a transfer processing apparatus for processing. Is.

この場合のカセットから抜き出し搬送処理装置に搬入しプロセス処理をする運転が前記
の「1カセット1レシピ並列運転」の場合と異なる。
前記の「1カセット1レシピ並列運転」の場合は、同一カセットから順次ウエハを抜き
出し搬送処理装置に搬入しプロセス処理を実施し、そのカセットのウエハを全て終了した
後次のカセットのウエハの処理に移ったが、本「2カセット1レシピ並列運転」では、カ
セットC1とカセットC2から交互にウエハを抜き出し搬送処理装置に搬入しプロセス処
理を実施する。ウエハの処理経路は前記の「1カセット1レシピ並列運転」の場合と同様
に、プロセス処理装置2ー2でエッチング処理した後プロセス処理装置2ー1で後処理を
して元のカセットに戻す経路(この経路Aという)と、プロセス処理装置2ー3でエッチ
ング処理した後プロセス処理装置2ー4で後処理をして元のカセットに戻す経路(この経
路Bという)の両方を使って処理する。
In this case, the operation for extracting the process from the cassette and carrying it into the transport processing apparatus is different from the above-described “one cassette / one recipe parallel operation”.
In the case of the “one cassette / one recipe parallel operation”, the wafers are sequentially extracted from the same cassette, loaded into the transfer processing apparatus, processed, and after all the wafers in the cassette are finished, the wafers in the next cassette are processed. However, in this “two-cassette / one-recipe parallel operation”, wafers are alternately extracted from the cassette C1 and the cassette C2 and loaded into a transfer processing apparatus to perform process processing. The wafer processing path is the same as in the case of the “one cassette / one recipe parallel operation” described above, the etching process is performed by the process processing apparatus 2-2, the post-processing is performed by the process processing apparatus 2-1, and the original cassette is returned to the original cassette. Processing is performed using both (this path A) and a path (called this path B) that is etched by the process processing apparatus 2-3 and then post-processed by the process processing apparatus 2-4 and returned to the original cassette. .

この実施例での処理順序の経路A、Bもしくは経路C、Dについては前記前記「1カセ
ット1レシピ並列運転」の場合と同じである。
The processing order routes A and B or routes C and D in this embodiment are the same as those in the case of the “one cassette one recipe parallel operation”.

ウエハの処理は、1枚目のウエハはC1カセットからの1枚目を経路A、2枚目はC2
カセットからの1枚目を経路B、3枚目のウエハはC1カセットからの2枚目を経路A、
4枚目はC2カセットからの2枚目を経路B、・・・という順序でカセット内の最終ウエ
ハ迄処理を行う。C1もしくはC2カセット内の全てを処理終了するとC1(またはC2
)カセットの処理終了とカセット交換をオペレータに通報する為にこの図に示していない
ブザーを鳴らす。この終了したカセットが取り除かれ新しいカセットが設置されるまでは
、他方のカセット側の処理のみ継続されている。新しいカセットが設置されると前記のよ
うにC1とC2カセットから交互ににウエハを抜き出し搬送処理装置に搬入しプロセス処
理を実施する。以降この運転サイクル繰り返しを行う。この運転を終了する場合は、主制
御部11から運転終了の操作入力を行う事で運転が終了する。終了方法は前記「1カセッ
ト1レシピ並列運転」の場合と同じである。
For wafer processing, the first wafer is route A from the C1 cassette and the second is C2.
The first sheet from the cassette is route B, the third wafer is the second sheet from the C1 cassette, the path A,
For the fourth sheet, the second sheet from the C2 cassette is processed to the last wafer in the cassette in the order of path B,. When all of the C1 or C2 cassette is processed, C1 (or C2
) A buzzer not shown in this figure is sounded to notify the operator of the completion of cassette processing and cassette replacement. Until the completed cassette is removed and a new cassette is installed, only the processing on the other cassette side is continued. When a new cassette is installed, the wafers are alternately extracted from the C1 and C2 cassettes as described above and loaded into the transfer processing apparatus to carry out the process. Thereafter, this operation cycle is repeated. When ending this operation, the operation is ended by inputting an operation end operation from the main control unit 11. The end method is the same as in the case of the “one cassette / one recipe parallel operation”.

3)2カセット2レシピ並列運転
この運転では、C1カセットとC2カセットとのウエハ処理レシピが異なる事以外は前
記「2カセット1レシピ並列運転」と同じある。
3) Two-cassette two-recipe parallel operation This operation is the same as the “two-cassette one-recipe parallel operation” except that the wafer processing recipes of the C1 cassette and the C2 cassette are different.

4)1カセット1レシピ直列運転
この運転では、同一のプロセス処理条件(レシピ)で処理するウエハが収納されたカセ
ット内の最下段もしくは最上段のウエハから順番にカセットから抜き出し搬送処理装置に
搬入しプロセス処理をすることは前記「1カセット1レシピ並列運転」の場合と同じであ
る。ところがウエハの処理経路は前記「1カセット1レシピ並列運転」の場合と異なる。
4) 1 cassette 1 recipe serial operation In this operation, the wafers to be processed under the same process processing conditions (recipe) are sequentially extracted from the lowest or uppermost wafer in the cassette and loaded into the transfer processing device. Process processing is the same as in the case of “one cassette / one recipe parallel operation”. However, the wafer processing path is different from that in the “one cassette / one recipe parallel operation”.

本「1カセット1レシピ直列運転」では、ウエハはプロセス処理装置2ー2(もしくはプ
ロセス処理装置2ー3)でエッチング処理した後、更にプロセス処理装置2ー3(もしく
はプロセス処理装置2ー2)でエッチング処理した後、プロセス処理装置2ー1(もしく
はプロセス処理装置2ー4)で後処理をして元のカセットに戻す経路(この経路Eという
)で処理する。
In this “one cassette one recipe serial operation”, the wafer is etched by the process processing device 2-2 (or the process processing device 2-3), and then further processed by the process processing device 2-3 (or the process processing device 2-2). After the etching process, the process processing apparatus 2-1 (or the process processing apparatus 2-4) performs the post-processing and returns to the original cassette (this path E).

ウエハの処理は、1枚目のウエハは経路E、2枚目は経路E、3枚目のウエハは経路E
、4枚目は経路E、・・・という順序でカセット内の最終ウエハ迄処理を行う。C1カセ
ット内の全てを処理終了するとC1カセットの処理終了とカセット交換をオペレータに通
報する為にこの図に示していないブザーを鳴らす。この時迄にC2カセットが設置されて
あれば、C1カセットの処理終了に引き続きC2カセットの処理に移る。C2カセットに
ついてもC1カセットの場合と同じ順序で処理を行い、C2カセット内の全てを処理終了
するとC2カセットの処理終了とカセット交換をオペレータに通報する為にこの図に示し
ていないブザーを鳴らす。この時迄にC1カセットが設置されてあれば、C2カセットの
処理終了に引き続きC1カセットの処理に移る。以降この運転サイクル繰り返しを行う。
The wafer processing is route E for the first wafer, route E for the second wafer, and route E for the third wafer.
The fourth wafer is processed up to the last wafer in the cassette in the order of path E,. When all the processing in the C1 cassette is completed, a buzzer not shown in this figure is sounded to notify the operator of the completion of processing of the C1 cassette and cassette replacement. If the C2 cassette has been installed by this time, the process proceeds to the C2 cassette following the end of the process of the C1 cassette. The C2 cassette is processed in the same order as in the case of the C1 cassette. When all the processing in the C2 cassette is completed, a buzzer not shown in this figure is sounded to notify the operator of the completion of the C2 cassette processing and the cassette replacement. If the C1 cassette has been installed by this time, the process proceeds to the C1 cassette processing after the end of the processing of the C2 cassette. Thereafter, this operation cycle is repeated.

この運転を終了する場合は、主制御部11から運転終了の操作入力を行う事で運転が終了
する。終了方法は前記「1カセット1レシピ並列運転」の場合と同じである。
When ending this operation, the operation is ended by inputting an operation end operation from the main control unit 11. The end method is the same as in the case of the “one cassette / one recipe parallel operation”.

また、装置を保守、メンテナンスする場合は補助操作盤22内にある表示手段26、入
力手段25とを使って装置の機側で操作することができる。この補助操作盤22は可搬型
の操作端末(例えばノートパソコン)であり装置の近くまで持ち運び、装置状態を目視し
ながら表示手段26に表示される装置情報(例えば入出力ビットのON/OFF情報、エ
ラー情報等)を保守、メンテナンスの操作に活用でき、保守、メンテナンスの操作性を向
上させているものである。この補助操作盤22では、主制御部11と同じ機能を有してい
るが、オペレータに対する安全性を確保する為に主制御部11と補助操作盤22とで同時
に操作する場合は、片方しか操作入力できないように誤操作防止機能を設けてある。
Further, when the apparatus is maintained, maintenance can be performed on the machine side of the apparatus using the display means 26 and the input means 25 in the auxiliary operation panel 22. The auxiliary operation panel 22 is a portable operation terminal (for example, a notebook personal computer), which is carried close to the device, and device information (for example, ON / OFF information of input / output bits, etc.) displayed on the display means 26 while visually checking the device state. Error information, etc.) can be utilized for maintenance and maintenance operations, and the operability of maintenance and maintenance is improved. This auxiliary operation panel 22 has the same function as the main control unit 11, but in order to ensure safety for the operator, only one of them can be operated when operating the main control unit 11 and the auxiliary operation panel 22 at the same time. An erroneous operation prevention function is provided to prevent input.

図2は、別の一実施例あり、プロセス処理装置が搬送処理装置に4室接続され、処理装
置にウエハを搬入する為のカセットは処理装置本体内のロードロック室に設置し、カセッ
トから1枚ずつ取り出し処理装置に搬入し処理する装置構成図を示す。プロセス処理装置
がこれ以上接続されても構わない。装置構成としては図1に示す構成からウェハを収納し
たカセットを設置するための大気搬送装置6、大気ロボット8を削除したものである。ウ
エハのカセットからの搬出がロードロック室3からとなり、カセットへの収納がアンロー
ドロック室4となる以外の各機器の機能及び構成は図1と同じである。また運転モードに
おいては、
1)1カセット1レシピ並列運転
同一のプロセス処理条件(レシピ)で処理するウエハが収納されたカセット内の最下
段もしくは最上段のウエハから順番にカセットから抜き出しプロセス処理装置に搬入しプ
ロセス処理をするものである。ウエハは、プロセス処理装置2ー2でエッチング処理した
後プロセス処理装置2ー1で後処理をして元のカセットに戻す経路(この経路Aという)
と、プロセス処理装置2ー3でエッチング処理した後プロセス処理装置2ー4で後処理を
して元のカセットに戻す経路(この経路Bという)の両方を使って処理する。
FIG. 2 shows another embodiment. The process processing apparatus is connected to four chambers in the transfer processing apparatus, and a cassette for carrying wafers into the processing apparatus is installed in a load lock chamber in the processing apparatus main body. The apparatus block diagram which carries out one sheet at a time and carries in to a processing apparatus is shown. More process processing devices may be connected. As an apparatus configuration, the atmospheric transfer apparatus 6 and the atmospheric robot 8 for installing a cassette containing wafers are deleted from the configuration shown in FIG. The functions and configurations of each device are the same as those in FIG. 1 except that the wafers are unloaded from the load lock chamber 3 and stored in the cassette is the unload lock chamber 4. In operation mode,
1) 1 cassette 1 recipe parallel operation The lowermost wafer or the uppermost wafer in the cassette containing the wafers to be processed under the same process processing conditions (recipe) is sequentially extracted from the cassette and loaded into the process processing apparatus for processing. Is. The wafer is subjected to an etching process in the process processing apparatus 2-2, followed by a post-process in the process processing apparatus 2-1 and returned to the original cassette (referred to as this path A).
Then, the etching process is performed by the process processing unit 2-3, and the post-processing is performed by the process processing unit 2-4, and the process is performed using both paths (referred to as the path B) for returning to the original cassette.

この実施例での処理順序は
経路A:ロードロック室内カセット→プロセス処理装置2ー2→プロセス処理装置
2ー1→アンロードロック室内カセット
経路B:ロードロック室内カセット→ プロセス処理装置2ー3→プロセス処理装
置2ー4→アンロードロック室内カセット
又は、
経路C:ロードロック室内カセット→プロセス処理装置2ー2→プロセス処理装置
2ー4→アンロードロック室内カセット
経路D:ロードロック室内カセット→プロセス処理装置2ー3→プロセス処理装置
2ー1→アンロードロック室内カセット
の組み合わせであっても良い。また上記処理順序では処理したウエハはアンロードロック
室内カセットに戻したがウエハを取り出したロードロック室内カセットに戻すこともでき
る。
The processing order in this embodiment is as follows: Path A: Load-lock indoor cassette → Process processing device 2-2 → Process processing device
2-1 → Unload lock indoor cassette Path B: Load lock indoor cassette → Process processing equipment 2-3 → Process processing equipment
Station 2-4 → Unload lock indoor cassette or
Path C: Load lock indoor cassette → Process processing device 2-2 → Process processing device
2-4 → Unload lock indoor cassette Path D: Load lock indoor cassette → Process processing equipment 2-3 → Process processing equipment
A combination of 2-1 → unload lock indoor cassette may be used. In the above processing sequence, the processed wafers are returned to the unload lock chamber cassette, but can be returned to the load lock chamber cassette from which the wafers were taken out.

本実施例では経路Aと経路Bを並行してロードロック室内のカセットから抜き出したウ
エハはアンロードロック室内のカセットに戻す処理の例を示す。ウエハの処理は、1枚目
のウエハは経路A、2枚目は経路B、3枚目のウエハは経路A、4枚目は経路B、・・・
という順序でカセット内の最終ウエハ迄処理を行う。
In the present embodiment, an example of processing in which the wafers extracted from the cassette in the load lock chamber in parallel with the routes A and B is returned to the cassette in the unload lock chamber is shown. Wafer processing is route A for the first wafer, route B for the second wafer, route A for the third wafer, route B for the fourth wafer,...
In this order, processing is performed up to the last wafer in the cassette.

ロードロック室内カセット内の全てを処理終了するとロードロック室内カセットとアン
ロードロック室内カセットの処理終了とカセット交換をオペレータに通報する為にこの図
に示していないブザーを鳴らす。次に新たな未処理ウエハの入ったカセットをロードロッ
ク室に、空のカセットをアンロードロック室設置して、以降この運転サイクル繰り返しを
行う。この運転を終了する場合は、主制御部11から運転終了の操作入力を行う事で運転
が終了する。終了方法は前記「1カセット1レシピ並列運転」の場合と同じである。
When all processing in the load lock indoor cassette is completed, a buzzer not shown in this figure is sounded to notify the operator of the completion of processing of the load lock indoor cassette and the unload lock indoor cassette and cassette replacement. Next, a cassette containing a new unprocessed wafer is installed in the load lock chamber, and an empty cassette is installed in the unload lock chamber. Thereafter, this operation cycle is repeated. When ending this operation, the operation is ended by inputting an operation end operation from the main control unit 11. The end method is the same as in the case of the “one cassette / one recipe parallel operation”.

2)2カセット1レシピ並列運転
同一のプロセス処理条件(以下では、プロセス処理条件をレシピと称する)で処理する
ウエハが収納されたカセット内の最下段もしくは最上段のウエハから順番にカセットから
抜き出しプロセス処理装置に搬入しプロセス処理をするものである。
2) Two-cassette / one-recipe parallel operation A process of extracting from the cassette in order from the lowest or highest wafer in a cassette containing wafers to be processed under the same process processing conditions (hereinafter referred to as recipes). It is carried into a processing device and processed.

前記の「1カセット1レシピ並列運転」の場合は、同一カセットから順次ウエハを抜き
出しプロセス処理装置に搬入しプロセス処理を実施し、そのカセットのウエハを全て終了
した後次のカセットのウエハの処理に移ったが、本「2カセット1レシピ並列運転」では
、ロードロック室内のカセットとアンロードロック室内のカセットから交互にウエハを抜
き出しプロセス処理装置に搬入しプロセス処理を実施する。ウエハの処理経路は前記の「
1カセット1レシピ並列運転」の場合と同様に、プロセス処理装置2ー2でエッチング処
理した後プロセス処理装置2ー1で後処理をして元のカセットに戻す経路(この経路Aと
いう)と、プロセス処理装置2ー3でエッチング処理した後、プロセス処理装置2ー4で
後処理をして元のカセットに戻す経路(この経路Bという)の両方を使って処理する。
In the case of the “one cassette / one recipe parallel operation”, the wafers are sequentially extracted from the same cassette, loaded into the process processing apparatus, and the process processing is performed. After all the wafers in the cassette are completed, the wafers in the next cassette are processed. However, in this “two-cassette one-recipe parallel operation”, wafers are alternately extracted from the cassettes in the load lock chamber and the cassettes in the unload lock chamber and loaded into the process processing apparatus to perform process processing. The wafer processing path is
As in the case of “one cassette and one recipe parallel operation”, a path (hereinafter referred to as “path A”) for performing an etching process in the process processing device 2-2 and then performing a post-processing in the process processing device 2-1 to return to the original cassette; After the etching process by the process processing apparatus 2-3, the process processing apparatus 2-4 performs the post-processing and uses both of the paths (this path B) to return to the original cassette.

この実施例での処理順序の経路A、Bもしくは経路C、Dについては前記前記「1カセ
ット1レシピ並列運転」の場合と同じである。
The processing order routes A and B or routes C and D in this embodiment are the same as those in the case of the “one cassette one recipe parallel operation”.

ウエハの処理は、1枚目のウエハはロードロック室内のカセットからの1枚目を経路A
、2枚目はアンロードロック室内のカセットからの1枚目を経路B、3枚目のウエハはロ
ードロック室内のカセットからの2枚目を経路A、4枚目はアンロードロック室内のカセ
ットからの2枚目を経路B、・・・という順序でカセット内の最終ウエハ迄処理を行う。
In the wafer processing, the first wafer is route A from the cassette in the load lock chamber.
The second sheet is the path B from the cassette in the unload lock chamber, the third wafer is the path A from the cassette in the load lock chamber, the fourth sheet is the cassette in the unload lock chamber The second wafer is processed up to the last wafer in the cassette in the order of path B,.

ロードロック室内もしくはアンロードロック室カセット内の全てのウエハを処理終了する
とロードロック室内(またはアンロードロック室内)カセットの処理終了とカセット交換
をオペレータに通報する為にこの図に示していないブザーを鳴らす。この終了したカセッ
トが取り除かれ新しいカセットが設置されるまでは、他方のカセット側の処理のみ継続さ
れている。新しいカセットが設置されると前記のようにロードロック室内とアンロードロ
ック室内カセットから交互ににウエハを抜き出しプロセス処理装置に搬入しプロセス処理
を実施する。以降この運転サイクル繰り返しを行う。この運転を終了する場合は、主制御
部11から運転終了の操作入力を行う事で運転が終了する。終了方法は前記「1カセット
1レシピ並列運転」の場合と同じである。
When all wafers in the load lock chamber or unload lock chamber cassette have been processed, a buzzer not shown in this figure is used to notify the operator of the completion of the processing in the load lock chamber (or unload lock chamber) and cassette replacement. Sound. Until the completed cassette is removed and a new cassette is installed, only the processing on the other cassette side is continued. When a new cassette is installed, the wafer is alternately extracted from the cassette in the load lock chamber and the unload lock chamber as described above, and is carried into the process processing apparatus to carry out the process processing. Thereafter, this operation cycle is repeated. When ending this operation, the operation is ended by inputting an operation end operation from the main control unit 11. The end method is the same as in the case of the “one cassette / one recipe parallel operation”.

3)2カセット2レシピ並列運転
この運転では、ロードロック室内のカセットとアンロードロック室内のカセットとのウ
エハ処理レシピが異なる事以外は前記「2カセット1レシピ並列運転」と同じある。
3) Two-cassette / two-recipe parallel operation This operation is the same as the “two-cassette / one-recipe parallel operation” except that the wafer processing recipe differs between the cassette in the load lock chamber and the cassette in the unload lock chamber.

4)1カセット1レシピ直列運転
この運転では、同一のプロセス処理条件(以下では、プロセス処理条件をレシピと称す
る)で処理するウエハが収納されたカセット内の最下段もしくは最上段のウエハから順番
にカセットから抜き出しプロセス処理装置に搬入しプロセス処理をすることは前記「1カ
セット1レシピ並列運転」の場合と同じである。ところがウエハの処理経路は前記「1カ
セット1レシピ並列運転」の場合と異なる。本「1カセット1レシピ直列運転」では、ウ
エハはプロセス処理装置2ー2(もしくはプロセス処理装置2ー3)でエッチング処理し
た後、更にプロセス処理装置2ー3(もしくはプロセス処理装置2ー2)でエッチング処
理した後、プロセス処理装置2ー1(もしくはプロセス処理装置2ー4)で後処理をして
元のカセットに戻す経路(この経路Eという)で処理する。
4) 1 cassette 1 recipe serial operation In this operation, the wafers to be processed under the same process processing conditions (hereinafter referred to as “recipes”) are processed in order from the lowest or highest wafer in the cassette. Extracting from the cassette and carrying it in to the process processing apparatus is the same as in the case of “one cassette / one recipe parallel operation”. However, the wafer processing path is different from that in the “one cassette / one recipe parallel operation”. In this “one cassette one recipe serial operation”, the wafer is etched by the process processing device 2-2 (or the process processing device 2-3), and then further processed by the process processing device 2-3 (or the process processing device 2-2). After the etching process, the process processing apparatus 2-1 (or the process processing apparatus 2-4) performs the post-processing and returns to the original cassette (this path E).

本実施例では経路Eでロードロック室内のカセットから抜き出したウエハはアンロード
ロック室内のカセットに戻す処理の例を示す。ウエハの処理は、1枚目のウエハは経路E
、2枚目は経路E、3枚目のウエハは経路E、4枚目は経路E、・・・という順序でカセ
ット内の最終ウエハ迄処理を行う。カセット内の全てを処理終了するとロードロック室内
カセットとアンロードロック室内カセットの処理終了と交換をオペレータに通報する為に
この図に示していないブザーを鳴らす。
In this embodiment, an example of processing for returning the wafer extracted from the cassette in the load lock chamber to the cassette in the unload lock chamber by the path E is shown. The wafer is processed by the path E of the first wafer.
The second wafer is processed by the path E, the third wafer is processed by the path E, the fourth sheet is processed by the path E, and so on until the last wafer in the cassette is processed. When all the processing in the cassette is completed, a buzzer not shown in this figure is sounded to notify the operator of the completion and replacement of the load lock indoor cassette and the unload lock indoor cassette.

次に新たな未処理ウエハの入ったカセットをロードロック室に、空のカセットをアンロ
ードロック室に設置して、以降この運転サイクル繰り返しを行う。この運転を終了する場
合は、主制御部11から運転終了の操作入力を行う事で運転が終了する。終了方法は前記
「1カセット1レシピ並列運転」の場合と同じである。
Next, a cassette containing a new unprocessed wafer is installed in the load lock chamber, and an empty cassette is installed in the unload lock chamber. Thereafter, this operation cycle is repeated. When ending this operation, the operation is ended by inputting an operation end operation from the main control unit 11. The end method is the same as in the case of the “one cassette / one recipe parallel operation”.

図3は、制御構成図を示す。本実施例では、装置全体の主制御部は、搬送処理装置に搭
載している場合を示す。尚、装置全体の主制御部は、搬送処理装置以外にあっても構わな
い。また表示手段13、入力手段14は主制御部とは別の制御ユニットとして構成しても
良い。11は、装置全体を制御する主制御部の構成を示す。制御手段としては、本発明の
請求範囲に該当する部分のみを抜き出して記述しており、装置を動かす上での必要な入出
力制御部分(DI/O、AI/O)については、記述していない。16は、処理装置内で
のウェハの処理順序を記憶する処理順序情報記憶手段であり、例えばRAM(Rando
m Access Memory)である。このウェハの処理順序は、運転開始前に表示
手段13、入力手段14とを使ってオペレータによって入力されたデータが記憶される。
FIG. 3 shows a control configuration diagram. In this embodiment, the main control unit of the entire apparatus is shown mounted on the transport processing apparatus. Note that the main control unit of the entire apparatus may be other than the transport processing apparatus. The display unit 13 and the input unit 14 may be configured as a control unit different from the main control unit. Reference numeral 11 denotes a configuration of a main control unit that controls the entire apparatus. As the control means, only the portions corresponding to the claims of the present invention are extracted and described, and the input / output control portions (DI / O, AI / O) necessary for operating the device are described. Absent. Reference numeral 16 denotes processing order information storage means for storing the processing order of wafers in the processing apparatus. For example, RAM (Rando)
m Access Memory). The wafer processing order stores data input by the operator using the display means 13 and the input means 14 before the start of operation.

17は、プロセス処理装置18−1〜18−4の運転有効/無効であることを示す運転情
報信号を記憶する運転情報信号記憶手段であり、例えばRAMである。13は、運転状態
、運転条件の設定内容、運転の開始指示/終了の表示を行う表示手段であり、例えばCR
Tである。14は、運転条件の設定、運転の開始指示入力、プロセス処理条件、保守やメ
ンテナンスの操作入力等を行う入力手段であり、例えばキーボードである。15は、上記
プロセス処理装置18−1〜18−4の運転有効/無効であることを示す運転情報信号状
態を判断し、自動運転中にプロセス処理装置18−1〜18−4のどれかが運転不可とな
っても該プロセス処理装置を使用せず、他のプロセス処理装置を使って運転続行する処理
手順を記憶した装置制御手段であり、例えばROM(Read Only Memory
)である。12は、上記13〜17を制御する中央制御手段であり、例えば、CPU(C
entral Processor Unit)である。18−1〜18−4は、ウェハ
のプロセス処理を行うプロセス処理装置である。この処理装置としては、エッチング、後
処理、成膜、スパッタ、CVD、水処理等ウエハのプロセス処理を行う処理であれば、何
であっても良い。19−1〜19−4は、プロセス処理装置18−1〜18−4の運転有
効/無効であることを示す運転情報信号を発生する運転情報信号発生手段である。本実施
例では、プロセス処理装置に設けているが、どこにあっても良い。この運転情報信号を発
生する手段として、
1)プロセス処理装置の装置電源の遮断信号を用いる
2)プロセス処理装置の使用の有効/無効を設定する運転切り替え信号(例えば、切り
替えスイッチ)を用いる
3)プロセス処理装置の使用の有効/無効を示す運転制御信号として、オペレータが設
定入力した入力情報を用いる
ことができる。
Reference numeral 17 denotes an operation information signal storage means for storing an operation information signal indicating that the operation of the process processing devices 18-1 to 18-4 is valid / invalid, for example, a RAM. Reference numeral 13 denotes a display means for displaying the operating state, the setting contents of the operating conditions, and the start instruction / end of the operation.
T. Reference numeral 14 denotes input means for performing setting of operating conditions, input of operation start instructions, process processing conditions, maintenance and maintenance operation input, and the like, for example, a keyboard. 15 determines an operation information signal state indicating that the operation of the process processing devices 18-1 to 18-4 is valid / invalid, and any of the process processing devices 18-1 to 18-4 is in an automatic operation. It is a device control means for storing a processing procedure for continuing operation using another process processing device without using the process processing device even when the operation becomes impossible. For example, ROM (Read Only Memory)
). 12 is a central control means for controlling the above 13 to 17, for example, CPU (C
central Processor Unit). Reference numerals 18-1 to 18-4 denote process processing apparatuses that perform wafer process processing. This processing apparatus may be any processing as long as it performs wafer processing such as etching, post-processing, film formation, sputtering, CVD, and water processing. Reference numerals 19-1 to 19-4 denote operation information signal generating means for generating an operation information signal indicating that the operation of the process processing devices 18-1 to 18-4 is valid / invalid. In this embodiment, it is provided in the process processing apparatus, but may be located anywhere. As means for generating this driving information signal,
1) Use the power supply shut-off signal of the process processing device 2) Use an operation switching signal (for example, a changeover switch) to set whether to enable / disable the use of the process processing device 3) Enable / disable the use of the process processing device Input information set and input by the operator can be used as the operation control signal to be shown.

20と21は、装置全体を制御する主制御部11と補助操作盤22とを接続する通信手
段である。補助操作盤22、25、26は上述した用途に使用するものである。24は補
助操作盤での端末機能を制御する処理手順を記憶した端末制御手段である。23は上記2
1、24から26を制御する中央制御手段であり、例えば、CPU(Central P
rocessor Unit)である。
Reference numerals 20 and 21 denote communication means for connecting the main controller 11 that controls the entire apparatus and the auxiliary operation panel 22. The auxiliary operation panels 22, 25, and 26 are used for the above-described purposes. Reference numeral 24 denotes terminal control means for storing processing procedures for controlling terminal functions on the auxiliary operation panel. 23 is 2 above
Central control means for controlling 1, 24 to 26, for example, CPU (Central P
processor unit).

図4は、運転情報信号図である。各プロセス処理装置毎に運転の有効/無効を示す情報
が記憶される。この場合では、有効な場合は、1を、無効な場合は、0を示すが区別でき
る内容であれば、記号や数字であっても良い。この情報は、運転情報信号発生手段19−
1〜19−4の信号状態が反映されたものであり、運転情報信号記憶手段17に記憶され
る。
FIG. 4 is a driving information signal diagram. Information indicating validity / invalidity of operation is stored for each process processing apparatus. In this case, 1 is displayed if it is valid, and 0 is displayed if it is invalid, but it may be a symbol or a number as long as it can be distinguished. This information is the driving information signal generating means 19-
The signal states 1 to 19-4 are reflected and stored in the operation information signal storage means 17.

図5は、処理順序情報図である。運転条件設定の一つとして、オペレータが運転開始前
に表示手段13、入力手段14とを使ってウェハの処理する順序を設定した情報である。
FIG. 5 is a processing order information diagram. One of the operating condition settings is information in which the operator sets the order in which wafers are processed using the display means 13 and the input means 14 before the operation is started.

この情報は処理順序情報記憶手段に記憶される。 This information is stored in the processing order information storage means.

図6は、装置運転フロー図を示す。オペレータは運転開始前に処理装置として構成され
ているプロセス処理装置の内、故障等で運転に使用できない、又は保守(プラズマクリー
ニングも含む)の為使用しないプロセス処理装置があるか否かを判断する(30)。使用
できない(又は、使用しない)プロセス処理装置があれば、運転情報信号発生手段19を
用いて図4に記述した状態になるように設定する(32)。この設定の方法の一つとして

1)プロセス処理装置の装置電源の遮断信号を用いる場合は、該プロセス処理装置の装
置電源供給用電磁開閉器をOFFする。これにより、遮断信号が発生し、運転情報信号記
憶手段17に伝えられ、図4に記載された情報として記憶される。
FIG. 6 shows an apparatus operation flowchart. Before starting operation, the operator determines whether there is a process processing apparatus configured as a processing apparatus that cannot be used for operation due to a failure or the like or is not used for maintenance (including plasma cleaning). (30). If there is a process processing apparatus that cannot be used (or is not used), the operation information signal generating means 19 is set so as to be in the state described in FIG. 4 (32). One way to do this is to
1) When using an apparatus power supply cutoff signal for a process processing apparatus, the apparatus power supply electromagnetic switch of the process processing apparatus is turned off. As a result, a shut-off signal is generated, transmitted to the operation information signal storage means 17, and stored as information described in FIG.

2)プロセス処理装置の使用の有無を設定する運転切り替え信号(例えば、切り替えス
イッチ)を用いる場合は、該プロセス処理装置に割り当てられた切り替えスイッチを有効
又は無効の状態に設定する。これにより、切り替え信号が確定し、運転情報信号記憶手段
17に伝えられ、図4に記載された情報として記憶される。
2) When using an operation switching signal (for example, a changeover switch) for setting whether or not the process processing device is used, the changeover switch assigned to the process processing device is set to a valid or invalid state. As a result, the switching signal is determined, transmitted to the driving information signal storage means 17, and stored as the information described in FIG.

3)プロセス処理装置の使用の有効/無効を示す運転制御信号として、オペレータが設
定入力した入力情報を用いる場合は、オペレータは、該プロセス処理装置に割り当てられ
た設定情報を入力手段14より入力する。これにより、設定情報が確定し、運転情報信号
記憶手段17に伝えられ、図4に記載された情報として記憶される。装置接続構成を決定
した後、自動運転をスタートする(34)。
3) When using the input information set and input by the operator as the operation control signal indicating the validity / invalidity of the use of the process processing apparatus, the operator inputs the setting information assigned to the process processing apparatus from the input unit 14. . As a result, the setting information is finalized, transmitted to the driving information signal storage means 17, and stored as the information described in FIG. After determining the device connection configuration, automatic operation is started (34).

尚、ウェハの処理する順序は以下のように製品処理条件として設定する。 The wafer processing order is set as product processing conditions as follows.

1)ウエハの運転モードを選択する。   1) Select a wafer operation mode.

「1カセット1レシピ並列」、「2カセット1レシピ並列」、
「2カセット2レシピ並列」、「1カセット1レシピ直列」のいずれかを選択
2)ウエハの搬送経路を設定する。
"1 cassette 1 recipe parallel", "2 cassette 1 recipe parallel",
Select either "2 cassette 2 recipe parallel" or "1 cassette 1 recipe serial" 2) Set wafer transfer path.

カセット毎にウエハの処理経路をプロセス処理装置の記号を使ってパラレルまたはシリ
ーズ処理を設定する。代表的な設定例を以下に示す。(ウエハ処理経路は、前述のように
組み合わせが可能である)
2ー1)パラレル処理の場合:
C1:E1→A1、C1:E2→A2
C2:E1→A1、C2:E2→A2
E1:プロセス処理装置2ー2、E2:プロセス処理装置2ー3
A1:プロセス処理装置2ー1、A2:プロセス処理装置2ー4
2ー2)シリーズ処理の場合:
C1:E1→E2→A1
C2:E2→E1→A2
3)プロセス処理室毎にプロセス処理条件(プロセスレシピともいう)を設定する。
For each cassette, the wafer processing path is set to parallel or series processing using the symbol of the processing apparatus. A typical setting example is shown below. (Wafer processing paths can be combined as described above)
2-1) For parallel processing:
C1: E1 → A1, C1: E2 → A2
C2: E1 → A1, C2: E2 → A2
E1: Process processing device 2-2, E2: Process processing device 2-3
A1: Process processing device 2-1, A2: Process processing device 2-4
2-2) For series processing:
C1: E1 → E2 → A1
C2: E2 → E1 → A2
3) A process processing condition (also called a process recipe) is set for each process processing chamber.

以上の製品処理条件を設定した後、自動運転開始の起動をかける。   After setting the above product processing conditions, start automatic operation start.

図7は、自動運転フロー図を示す。自動運転を開始すると、処理すべきウェハを全て搬
送したかを判断し、搬送済であれば処理が終了し、搬送必要であれば、自動運転処理に進
む(40)。自動運転中に異常等が発生し、運転が一時中断した状態にあるか否かを判断
する(42)。異常が無ければ、運転を続行する(44へ)。運転に使用できないプロセ
ス処理装置がある場合は、該プロセス処理装置を使わないで運転続行が可能か否かをオペ
レータが判断する(70)。続行が不可能な場合は、オペレータが自動運転の中止設定を
行うことにより、装置は自動運転停止処理を行う(90)。
FIG. 7 shows an automatic operation flowchart. When the automatic operation is started, it is determined whether all the wafers to be processed have been transferred. If the transfer has been completed, the process ends. If transfer is necessary, the process proceeds to the automatic operation process (40). It is determined whether or not an abnormality or the like has occurred during automatic operation and the operation is temporarily suspended (42). If there is no abnormality, the operation is continued (to 44). If there is a process processing apparatus that cannot be used for operation, the operator determines whether the operation can be continued without using the process processing apparatus (70). If continuation is impossible, the operator performs automatic operation stop processing by setting the automatic operation to be stopped by the operator (90).

続行が可能な場合でも、プロセス処理装置にウェハが残っている場合、真空ロボットの
ハンド上にウェハが残っている場合、ロードロック室やアンロードロック室にウェハが残
っている場合等がある。
Even when continuation is possible, there are cases where a wafer remains in the process processing apparatus, a wafer remains on the hand of the vacuum robot, a wafer remains in the load lock chamber or the unload lock chamber, and the like.

このように自動運転中に異常が発生し、自動運転の続行ができなくなり自動運転が一時
中断した状態から引き続き自動運転を再開し、続行するため、異常が発生した機器内に残
存しているウェハを元のカセットに搬出する処理を行なう。これは自動運転中に異常が発
生した時点では処理装置内の全ウェハの搬送・処理のスケジュールが確定しているため、
異常が発生した機器にあるウェハを取り出したカセット7に戻さないとウェハの搬送・処
理のスケジュールが狂ってしまい、自動運転の一時中断状態からの再開、自動運転続行が
できなくなるためである。処理装置内に残存しているウェハの処置例を以下に示す。装置
内に残存ウェハがあるか否か判断する(72)。残存しているウェハのうちエッチング処
理をするか否かを判断する(74)。処理室内に残存しているウェハのうち、エッチング
処理の途中で異常が発生した場合は、残りのエッチング処理を実施した後(76)、ウェ
ハを元のカセットに戻す(78)。これはできうる限りウェハを救済するために行なうも
のである。また真空ロボットのウェハハンド上にウェハが残っている場合や、ロードロッ
ク室アンロードロック室にウェハが残っている場合は、機器個別の操作(ロック室の排気
/リーク,ウェハの搬送)を行なって、そのウェハを元のカセットに戻す(78)。以上
のように異常の発生した機器にあったウェハは必要な処置を実施し元のカセットに戻した
後、一時中断していた自動運転を再開する操作を行なう。このようにすることで異常が発
生した機器(処理室や真空ロボット等)にあったウェハのトラッキング情報は、正常な経
路で処理されたのと同等となり、自動運転が再開できることになる。以上のような処理装
置内に残存していたウェハの処置を行なった後、使用しないプロセス処理装置に対して図
6の(32)にて示した内容と同じ運転情報信号発生手段の切り替え操作(80)を行う
。異常発生情報をリセットし(82)、自動運転を続行する。
In this way, abnormalities occur during automatic operation, and automatic operation cannot be continued, and automatic operation is resumed from the state where automatic operation was temporarily suspended. Is carried out to the original cassette. This is because the transfer / processing schedule for all wafers in the processing equipment is fixed when an abnormality occurs during automatic operation.
This is because if the wafer in the device in which the abnormality has occurred is not returned to the cassette 7 from which the wafer has been taken out, the wafer transfer / processing schedule will be out of order, and it will not be possible to resume the automatic operation from the temporarily interrupted state and continue the automatic operation. An example of the treatment of the wafer remaining in the processing apparatus is shown below. It is determined whether there is a remaining wafer in the apparatus (72). It is determined whether or not to etch the remaining wafer (74). If an abnormality occurs during the etching process among the wafers remaining in the processing chamber, after performing the remaining etching process (76), the wafer is returned to the original cassette (78). This is done to save the wafer as much as possible. If a wafer remains on the vacuum robot's wafer hand, or if a wafer remains in the load lock chamber / unload lock chamber, perform individual device operations (lock chamber exhaust / leak, wafer transfer). Then, the wafer is returned to the original cassette (78). As described above, the wafer in the apparatus in which an abnormality has occurred is subjected to necessary measures and returned to the original cassette, and then an operation for resuming the automatic operation that has been temporarily suspended is performed. By doing so, the tracking information of the wafer in the device (processing chamber, vacuum robot, etc.) where the abnormality has occurred becomes equivalent to that processed in the normal route, and automatic operation can be resumed. After the treatment of the wafer remaining in the processing apparatus as described above is performed, the operation information signal generating means switching operation same as the content shown in (32) of FIG. 80). The abnormality occurrence information is reset (82), and the automatic operation is continued.

正常な運転状態では、次のウェハの搬送経路を処理順序情報記憶手段16に記憶されて
ある情報を読み出し(44)、運転情報信号記憶手段17に記憶されてある情報と整合処
理し搬送順路を決定する(46)。決定した搬送順路はカセットより搬出するウェハ毎に
搬送順路データを持っても良いし、処理順序情報記憶手段16とは別の処理順序情報テー
ブルを作成し、ウェハを搬送する際には、このテーブルを参照するようにしても良い。搬
送順路が決定すると大気ロボット8はカセット7よりウェハを搬出し(48)、上記決定
した搬送順路に登録されてあるプロセス処理装置に搬送し(50)、ウェハの処理を行う
(52)。このウェハ搬送処理及びプロセス処理で異常が発生した場合は、引き続き自動
運転を継続する為に処理続行可能な処理はその個々の処理を終了させるまで実行した後、
自動運転を一時中断状態にする。(例えばN枚目のウェハのエッチング処理中であれば、
そのN枚目のウェハのエッチング処理が終了するまでエッチング処理を継続し、終了した
時点で自動運転を一時中断する。また真空ロボット5によるウェハ搬送中に他の処理で異
常が発生したら、真空ロボット5は、所定の場所へのウェハ搬送を終了した時点で自動運
転を一時中断する。)この後異常発生したことを示す異常発生情報(図示は無し)を記憶
させた後、装置を一時中断状態にオペレータに中断したことを表示手段13に表示すると
ともに図示しないブザーを鳴らす。この後(42)に戻り、所定のフローで処理する。
In a normal operation state, the information stored in the processing order information storage unit 16 is read out for the next wafer transfer route (44), and is aligned with the information stored in the operation information signal storage unit 17, and the transfer route is set. Determine (46). The determined transfer route may have transfer route data for each wafer to be unloaded from the cassette. When a processing order information table different from the processing order information storage unit 16 is created and the wafer is transferred, this table You may make it refer to. When the transfer route is determined, the atmospheric robot 8 unloads the wafer from the cassette 7 (48), transfers it to the process processing apparatus registered in the determined transfer route (50), and processes the wafer (52). When an abnormality occurs in this wafer transfer process and process process, in order to continue the automatic operation, the process that can continue the process is executed until the individual process is finished,
Suspend automatic operation. (For example, if the Nth wafer is being etched,
The etching process is continued until the etching process of the Nth wafer is completed, and the automatic operation is temporarily interrupted when the etching process is completed. If an abnormality occurs in other processing during wafer transfer by the vacuum robot 5, the vacuum robot 5 temporarily stops the automatic operation when the wafer transfer to a predetermined place is completed. After the abnormality occurrence information (not shown) indicating that an abnormality has occurred is stored thereafter, the display means 13 displays that the apparatus has been temporarily suspended and the buzzer (not shown) is sounded. Thereafter, the process returns to (42) and processing is performed according to a predetermined flow.

図8は、異常発生後の自動運転再開処理図を示す。以下に図7で述べた自動運転中に異
常が発生した後の自動運転再開迄の処理について説明する。図Aは表1での「1カセット
1レシピ並列運転」の運転モードでウエハの搬送経路が
C1:E1→A1及びE2→A2
C2:E1→A1及びE2→A2にて運転し、E2では(N)枚目
のウエハがエッチング処理中でA1では(Nー1)枚目のウエハが後処理中の時に図Bに
示すようにE2で異常が発生すると、エッチング処理は終了しA1の(Nー1)枚目のウ
エハは後処理終了後、アンロードロック室4に搬出しないで自動運転を一時中断する。E
2で異常の発生した(N)枚目ウエハについては図7の76と78の処置を行う。その後
E2とA2については図7の80の運転情報信号発生手段による切替操作として図6の説
明で説明した1)または2)または3)の操作を行い、図4で示したようにプロセス処理
装置3(E2)、プロセス処理装置4(A2)の運転情報を「無効:0」とする。この後
異常発生情報をリセット(図7の80)し、自動運転を再開する。再開後は図Cのように
A2の(Nー1)枚目のウエハはアンロードロック室4に搬送され、以降はE1とA1と
を使って処理を続行する。
FIG. 8 shows an automatic driving resumption processing diagram after occurrence of an abnormality. In the following, processing up to restarting automatic operation after an abnormality has occurred during automatic operation described in FIG. 7 will be described. Figure A shows the wafer transfer path in the operation mode of “1 cassette 1 recipe parallel operation” in Table 1.
C1: E1 → A1 and E2 → A2
C2: E1 → A1 and E2 → A2 are operated. In E2, the (N) th wafer is in the etching process, and in A1, the (N-1) th wafer is in the post-process, as shown in FIG. If an abnormality occurs at E2, the etching process is terminated, and the automatic operation is temporarily suspended without carrying out the (N−1) -th wafer of A1 after the completion of the post-processing. E
For the (N) th wafer in which an abnormality occurred in step 2, the treatments 76 and 78 in FIG. 7 are performed. Thereafter, for E2 and A2, the operation 1), 2) or 3) described in the description of FIG. 6 is performed as the switching operation by the operation information signal generating means 80 of FIG. 7, and the process processing apparatus as shown in FIG. 3 (E2), the operation information of the process processor 4 (A2) is set to “invalid: 0”. Thereafter, the abnormality occurrence information is reset (80 in FIG. 7), and the automatic operation is resumed. After restarting, the (N−1) -th wafer of A2 is transferred to the unload lock chamber 4 as shown in FIG. C, and thereafter the processing is continued using E1 and A1.

次に、運転情報を「無効:0」としたプロセス処理装置3(E2)、プロセス処理装置
4(A2)については、補助操作盤22を使って異常原因を究明する為にプロセス処理装
置3(E2)、プロセス処理装置4(A2)に対して機器動作を行う為の操作入力が行え
る。例えば、プロセス処理装置3(E2)内の本図に示していないウエハ押し上げ操作を
行い動作を確認する。
Next, with respect to the process processing device 3 (E2) and the process processing device 4 (A2) in which the operation information is set to “invalid: 0”, the process processing device 3 ( E2) An operation input for performing an apparatus operation on the process processing apparatus 4 (A2) can be performed. For example, a wafer push-up operation (not shown) in the process processing apparatus 3 (E2) is performed to confirm the operation.

このような操作により異常原因を対策でき、「無効:0」としたプロセス処理装置3(
E2)、プロセス処理装置4(A2)をウエハの処理経路に復帰させる手順を以下に示す
。次に図Cの運転中に自動運転の中断操作を行い、運転モードの処理経路から切り離した
E2とA2とを有効と設定することで図Aに移行することができ、
運転モードでウエハの搬送経路が
C1:E1→A1及びE2→A2
C2:E1→A1及びE2→A2にて運転できる。
By such an operation, the cause of the abnormality can be counteracted, and the process processing apparatus 3 (“invalid: 0”) (
E2) A procedure for returning the process processing apparatus 4 (A2) to the wafer processing path is shown below. Next, the automatic operation can be interrupted during the operation shown in FIG. C, and E2 and A2 separated from the processing path in the operation mode can be set to be valid, and the process can move to FIG.
Wafer transfer path in operation mode
C1: E1 → A1 and E2 → A2
C2: It can be operated in E1 → A1 and E2 → A2.

図9は、自動運転中の処理装置運転切り離し処理図を示す。以下に図7で述べた自動運
転中にE2とA2を自動運転処理経路から切り離した後自動運転を再開する処理について
説明する。図Aは図8の図Aの運転経路と同じである。表1での「1カセット1レシピ並
列運転」の運転モードでウエハの搬送経路が
C1:E1→A1及びE2→A2
C2:E1→A1及びE2→A2にて運転し、E2では(N)枚目
のウエハがエッチング処理中でA1では(Nー1)枚目のウエハが後処理中の時に図Aに
示すようにE2とA2に運転停止操作により停止指示が出されると、A1の(Nー1)枚
目のウエハは後処理終了後、元のカセットに戻され、(N)枚目のウエハのエッチング処
理が終了しA2に搬送され後処理終了後元のカセットに戻される。ところで、E2とA2
は運転停止状態となっている為(N+1)枚目以降のウエハは、E1とA1とを使って運
転が続行される。
FIG. 9 shows a processing apparatus operation disconnection processing diagram during automatic operation. Hereinafter, a process of restarting the automatic operation after separating E2 and A2 from the automatic operation processing path during the automatic operation described in FIG. 7 will be described. FIG. A is the same as the operation route of FIG. In the operation mode of “1 cassette 1 recipe parallel operation” in Table 1, the wafer transfer path is
C1: E1 → A1 and E2 → A2
C2: E1 → A1 and E2 → A2 are operated, and in E2, the (N) th wafer is in the etching process, and in A1, the (N-1) th wafer is in the post-process, as shown in FIG. When the stop instruction is issued to E2 and A2 by the operation stop operation, the (N-1) th wafer of A1 is returned to the original cassette after the post-processing is completed, and the etching process of the (N) th wafer is performed. Is completed and conveyed to A2, and after completion of post-processing, it is returned to the original cassette. By the way, E2 and A2
Since the operation is stopped, the (N + 1) th and subsequent wafers continue to operate using E1 and A1.

上記では、自動運転中にE2とA2を自動運転処理経路から切り離す手段として運転停
止操作により停止指示を出すことで切り離しを行ったが、別の方法として処理装置内に組
み込んだ検出器の機能によって停止指示を出すこともできる。一例としては、処理装置内
に組み込んだ異物モニタ装置からの異物測定モニタ値が運転前に設定した設定値を超過し
たことを検知し、この超過した信号をもって自動運転中にE2とA2に停止指示を出すこ
とで運転停止操作と同じ機能を行える。
In the above, separation was performed by issuing a stop instruction by operation stop operation as a means for separating E2 and A2 from the automatic operation processing path during automatic operation, but as another method, the function of the detector incorporated in the processing apparatus A stop instruction can also be issued. As an example, it is detected that the foreign matter measurement monitor value from the foreign matter monitoring device incorporated in the processing device exceeds the set value set before the operation, and with this excess signal, stop instruction is given to E2 and A2 during the automatic operation The same function as the stop operation can be performed by issuing.

また切り離したプロセス処理装置をウエハの搬送経路に復帰させる手順は、図9の説明
で示した内容と同じである。
The procedure for returning the separated process processing apparatus to the wafer transfer path is the same as the contents shown in FIG.

図10は、パイロットカセット処理図を示す。これは自動運転中に割り込み特急処理を
行い、その処理終了後は元の処理を再開し続行するものである。以下に図7で述べた自動
運転中に特定の(この場合はE2とA2とする) 処理装置を現在運転中の運転モードの
処理経路から切り離し、その切り離したE2とA2とを使ってそれまでに運転していたプ
ロセス処理条件とは異なるプロセス処理条件で処理するカセット(このカセットのことを
パイロットカセットと呼ぶ)を割り込んで処理後、元の自動運転を再開し続行する処理に
ついて説明する。図Aは図8での運転経路と同じである。表1での「1カセット1レシピ
並列運転」の運転モードでウエハの搬送経路が
C1:E1→A1及びE2→A2
C2:E1→A1及びE2→A2にて運転し、E2ではC1カセッ
トの(N)枚目のウエハがエッチング処理中で、A1ではC1カセットの(Nー1)枚目
のウエハが後処理中の時に図Aに示すようにE2とA2を使った割り込み特急処理を行う
為に自動運転の中断操作を行う。E2とA2に運転停止操作により停止指示が出されると
、A1の(Nー1)枚目のウエハは後処理終了後、元のカセットに戻され、(N)枚目の
ウエハはエッチング処理が終了しA2に搬送され後処理終了後元のカセットに戻される。
FIG. 10 shows a pilot cassette processing diagram. This is to perform interrupt express processing during automatic operation, and resume and continue the original processing after the end of the processing. In the automatic operation described below with reference to FIG. 7, a specific processing device (in this case, E2 and A2) is disconnected from the processing path of the current operating mode, and until then, using the disconnected E2 and A2 A process for interrupting and processing a cassette to be processed under a process processing condition different from the process processing condition that has been operated (this cassette is referred to as a pilot cassette) and then restarting and continuing the original automatic operation will be described. FIG. A is the same as the driving route in FIG. In the operation mode of “1 cassette 1 recipe parallel operation” in Table 1, the wafer transfer path is
C1: E1 → A1 and E2 → A2
C2: E1 → A1 and E2 → A2 are operated. In E2, the (N) th wafer in the C1 cassette is being etched, and in A1, the (N-1) th wafer in the C1 cassette is being post-processed. At this time, as shown in FIG. A, the automatic operation interruption operation is performed in order to execute the interrupt express processing using E2 and A2. When the stop instruction is issued to E2 and A2 by the operation stop operation, the (N-1) th wafer of A1 is returned to the original cassette after the post-processing is completed, and the (N) th wafer is etched. After completion of the post-processing, the sheet is returned to the original cassette.

ところで、E2とA2は運転停止状態となっている為(N+1)枚目以降のウエハは、E
1とA1とを使って運転が続行される(図C)。E1とA1とを使った運転中に、E2と
A2とを使った割り込み特急処理のカセットがC2(7ー2)に置かれ割り込み処理の起
動運転が掛かけられる(図C)とその時迄にC1(7−1)カセットから抜き出されたウ
エハが全て処理されC1カセットに搬入後、C1カセット内ウエハのE1とA1とを使っ
た運転は一時中断状態となり、割り込み特急処理用のカセットC2内ウエハの処理が開始
される(図D)。C2カセットのウエハについては順次E2 → A2の処理を行いC2
カセットに搬入する。パイロットカセットの処理が終了すると割り込み処理終了と一時中
断状態の運転の再開設定を行い、中断していたC1(7−1)カセットからウエハの処理
が再開する(図Cの状態に戻る)。次に図Cに戻った状態で運転中に自動運転の中断操作
を行い、運転モードの処理経路から切り離したE2とA2とを有効と設定することで図A
に移行することができ、運転モードでウエハの搬送経路が
C1:E1→A1及びE2→A2
C2:E1→A1及びE2→A2にて運転できる。
By the way, since E2 and A2 are in an operation stop state, the (N + 1) th and subsequent wafers are E
Operation is continued using 1 and A1 (Figure C). During the operation using E1 and A1, the interrupt express processing cassette using E2 and A2 is placed in C2 (7-2) and the interrupt processing is started (Figure C). After all the wafers extracted from the C1 (7-1) cassette are processed and loaded into the C1 cassette, the operation using the E1 and A1 wafers in the C1 cassette is temporarily suspended, and the interrupt express processing cassette C2 Wafer processing is started (FIG. D). For the wafers in the C2 cassette, the process of E2 → A2 is performed in order and
Load it into the cassette. When the processing of the pilot cassette is finished, the interruption processing is finished and the operation of the temporarily suspended state is resumed, and the wafer processing is resumed from the suspended C1 (7-1) cassette (returns to the state of FIG. C). Next, the automatic operation is interrupted during the operation in the state returned to FIG. C, and E2 and A2 separated from the processing path in the operation mode are set to be valid, so that FIG.
The wafer transfer path can be changed in the operation mode.
C1: E1 → A1 and E2 → A2
C2: It can be operated in E1 → A1 and E2 → A2.

以上に述べた内容でも分かるように故障等で運転に使用できない、又は修復や保守(プ
ラズマクリーニングも含む)の為使用しないプロセス処理装置は、運転情報信号記憶手段
17に記憶されており、装置制御手段はこの情報を参照して運転を進める為、無効と設定
したプロセス処理装置に搬送することはない。又この無効と設定したプロセス処理装置で
は、修復、保守及び不具合原因を行うために、続行している自動運転でのウェハ処理と並
行してメンテナンス操作(例えば、プラズマクリーニング処理、ガスライン排気処理、ウ
ェハプッシャーの押上げ/押下げ動作)を行なうことができる。この場合無効と設定した
プロセス処理装置に対して機側で修復、保守及び不具合原因のための操作入力としては前
述の補助操作盤22を用いる。ところで通常生産ラインでは、図1に示す大気搬送装置6
がクリーンルーム側に搬送処理装置1、プロセス処理装置2−1〜2−4は、メンテルー
ム側に設置されており、クリーンルーム側とメンテルーム側との間は、パーテーションで
区切られており、片側から他方は、充分に視界がきかない場合がある。また補助操作盤2
2は、主制御部11にも接続されているが、補助操作盤22は主制御部11とは、普通は
離れた場所でかつ別々の人が操作することがある。このような場合に、どちらの操作部で
も操作ができるようにしておくと、特に機側で補助操作盤22を用いて操作する場合、操
作しているオペレータに対して安全上の災害の発生させることが考えられるため、この災
害を防止するため補助操作盤22を用いて機側でプロセス処理装置に操作(例えばウエハ
押し上げの上昇/下降操作)を行なう時は、主制御部11は機器への操作ができないよう
に機能上インターロックをかけている。
As can be seen from the above description, a process processing apparatus that cannot be used for operation due to a failure or the like or is not used for repair or maintenance (including plasma cleaning) is stored in the operation information signal storage means 17 and is controlled by the apparatus. The means refers to this information and proceeds with the operation, so that the means is not transferred to the process processing apparatus set as invalid. Further, in the process processing apparatus set as invalid, maintenance operations (for example, plasma cleaning processing, gas line exhaust processing, The wafer pusher can be pushed up / down. In this case, the above-described auxiliary operation panel 22 is used as an operation input for repair, maintenance and cause of failure on the machine side with respect to the process processing apparatus set as invalid. Incidentally, in the normal production line, the atmospheric transfer device 6 shown in FIG.
However, the transfer processing device 1 and the process processing devices 2-1 to 2-4 are installed on the maintenance room side, and the clean room side and the maintenance room side are partitioned by a partition, and from one side On the other hand, the field of view may not be sufficient. Auxiliary operation panel 2
2 is also connected to the main control unit 11, but the auxiliary operation panel 22 may be operated by a different person usually at a location away from the main control unit 11. In such a case, if it is possible to operate with either of the operation units, a safety disaster may be caused to the operating operator, particularly when operating with the auxiliary operation panel 22 on the machine side. Therefore, in order to prevent this disaster, when the auxiliary processing panel 22 is used to operate the process processing apparatus (for example, ascending / descending operation of the wafer push-up) on the machine side, the main control unit 11 controls the apparatus. Functionally interlocked to prevent operation.

以上の内容でもって、自動運転中にその処理に使用していない処理室を使った処理、及
びその処理室への操作を実行することができる。
With the above contents, it is possible to execute processing using a processing chamber not used for the processing and operation to the processing chamber during automatic operation.

本発明による真空処理装置の一実施例を示す平面図である。It is a top view which shows one Example of the vacuum processing apparatus by this invention. 本発明による真空処理装置の他の実施例を示す平面図である。It is a top view which shows the other Example of the vacuum processing apparatus by this invention. 図1の一実施例の真空処理装置における装置制御手段の制御構成図である。It is a control block diagram of the apparatus control means in the vacuum processing apparatus of one Example of FIG. 図1の一実施例の真空処理装置における装置制御手段の運転情報信号を示す図である。It is a figure which shows the driving | operation information signal of the apparatus control means in the vacuum processing apparatus of one Example of FIG. 図1の一実施例の真空処理装置における装置制御手段の処理順序情報を示す図である。It is a figure which shows the process order information of the apparatus control means in the vacuum processing apparatus of one Example of FIG. 図1の一実施例の真空処理装置における装置制御手段の自動運転のフロー図である。It is a flowchart of the automatic operation | movement of the apparatus control means in the vacuum processing apparatus of one Example of FIG. 図6の自動運転フローの詳細を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the detail of the automatic driving | running | working flow of FIG. 図1の一実施例の真空処理装置における異常発生後の自動運転再開処理時の動作状態を示す図である。It is a figure which shows the operation state at the time of the automatic operation resumption process after abnormality generation in the vacuum processing apparatus of one Example of FIG. 図1の一実施例の真空処理装置における自動運転中の処理装置運転切り離し処理の動作状態を示す図である。It is a figure which shows the operation state of the processing apparatus driving | operation disconnection process in the automatic operation in the vacuum processing apparatus of one Example of FIG. 図1の一実施例の真空処理装置における自動運転中のパイロットカセット処理時の状態変化を示す図である。It is a figure which shows the state change at the time of the pilot cassette process in automatic operation in the vacuum processing apparatus of one Example of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1…搬送処理装置、2−1,2,3,4…プロセス処理装置、3…ロードロック室、4
…アンロードロック室、5…真空ロボット、6…大気搬送装置、7…カセット、8…大気
ロボット、11…主制御部、12…中央制御手段、13…表示手段、14…入力手段、1
5…装置制御手段、16…処理順序情報記憶手段、17…運転情報信号記憶手段、18−
1,2,3,4…プロセス処理装置、19−1,2,3,4…運転情報信号発生手段、2
0,21…通信手段、22…補助操作盤、23…中央制御手段、24…端末制御手段、2
5…入力手段、26…表示手段。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Transfer processing apparatus, 2-1, 2, 3, 4 ... Process processing apparatus, 3 ... Load lock chamber, 4
... unload lock chamber, 5 ... vacuum robot, 6 ... atmospheric transfer device, 7 ... cassette, 8 ... atmospheric robot, 11 ... main control unit, 12 ... central control means, 13 ... display means, 14 ... input means, 1
5 ... Device control means, 16 ... Processing order information storage means, 17 ... Driving information signal storage means, 18-
1, 2, 3, 4 ... process processing device, 19-1, 2, 3, 4 ... operation information signal generating means, 2
0, 21 ... communication means, 22 ... auxiliary operation panel, 23 ... central control means, 24 ... terminal control means, 2
5 ... input means, 26 ... display means.

Claims (3)

ウェハを真空処理する複数の真空処理室と、該各真空処理室にウェハを搬入出する真空
搬送手段と、前記各真空処理室へウェハを搬入出するための大気雰囲気もしくは真空雰囲
気に切り替え可能な室と、ウェハを収納できる複数のカセットを載置し得るカセット載置
手段と、該カセット載置手段上の任意のカセット内からウェハを抜き取れるように構成さ
れた搬送手段と、前記任意のカセット内のウェハを前記搬送手段及び前記切り替え可能な
室並びに前記真空搬送手段を介して各真空処理室に搬入し、前記各真空処理室で真空処理
された処理済ウェハを搬出するための搬送制御を行う制御手段とで構成された真空処理装
置において、
少なくとも2つのカセットを使用し、各カセット毎に収納されたウエハを前記搬送手段及び前記切り替え可能な室並びに前記真空搬送手段を介して前記いずれかの真空処理室へ搬送し、搬送したウエハに前記カセット毎に異なるレシピを適用して異なる処理を施す並列処理、または各カセットに収納されたウエハに共通のレシピを適用して共通の処理を施す並列処理の何れかを施すとともに並列処理を施した後のウエハを前記切り替え可能な室を介してもとのカセットに戻す自動運転中に異常が発生し、自動運転を一時中断した後、異常が発生した機器内に残存しているウェハをもとのカセットに搬出し、前記処埋を続行することを特徴とする真空処理装置。
A plurality of vacuum processing chambers for vacuum processing of wafers, vacuum transfer means for loading / unloading wafers into / from the respective vacuum processing chambers, and switching to an air atmosphere or vacuum atmosphere for loading / unloading wafers into / from each of the vacuum processing chambers A cassette, a cassette mounting means capable of mounting a plurality of cassettes capable of storing wafers, a transfer means configured to extract a wafer from an arbitrary cassette on the cassette mounting means, and the arbitrary cassette The wafer is transferred into each vacuum processing chamber via the transfer means, the switchable chamber, and the vacuum transfer means, and transfer control is carried out to carry out processed wafers vacuum processed in each vacuum processing chamber. In a vacuum processing apparatus configured with control means to perform,
Using at least two cassettes, wafers stored in each cassette are transferred to the vacuum processing chamber via the transfer means, the switchable chamber, and the vacuum transfer means, and the transferred wafers are Parallel processing was performed, either parallel processing for applying different recipes by applying different recipes for each cassette, or parallel processing for applying common processing to wafers stored in each cassette. An error occurs during automatic operation to return the subsequent wafer to the original cassette through the switchable chamber, and after the automatic operation is temporarily suspended, the wafer remaining in the apparatus in which the abnormality has occurred A vacuum processing apparatus characterized in that it is carried out to a cassette and the processing is continued.
ウェハを真空処理する複数の真空処理室と、該各真空処理室にウェハを搬搬入出する真
空搬送手段と、前記各真空処理室へウェハを搬入出するための大気雰囲気もしくは真空雰
囲気に切り替え可能な室と、ウェハを収納できる複数のカセットを載置し得るカセット載
置手段と、該カセット載置手段上の任意のカセット内からウェハを抜き取れるように構成
された搬送手段とを備え、前記任意のカセット内のウェハを前記搬送手段及び前記切り替
え可能な室並びに前記真空搬送手段を介して真空処理室に搬入し、前記各真空処理室で真
空処理された処理済ウェハを搬出するための搬送制御を行う制御手段とで構成された真空
処理装置を用いてウェハの真空処理を行う真空処理方法において、
少なくとも2つのカセットを使用し、各カセット毎に収納されたウエハを前記搬送手段及び前記切り替え可能な室並びに前記真空搬送手段を介して前記いずれかの真空処理室へ搬送し、搬送したウエハに前記カセット毎に異なるレシピを適用して異なる処理を施す並列処理、または各カセットに収納されたウエハに共通のレシピを適用して共通の処理を施す並列処理の何れかを施すとともに並列処理を施した後のウエハを前記切り替え可能な室を介してもとのカセットに戻す自動運転中に異常が発生し、自動運転を一時中断した後、異常が発生した機器内に残存しているウェハをもとのカセットに搬出し、前記処埋を続行することを特徴とする真空処理方法。
Multiple vacuum processing chambers for vacuum processing of wafers, vacuum transfer means for loading / unloading wafers into / from each vacuum processing chamber, and switching to atmospheric or vacuum atmosphere for loading / unloading wafers into / from each vacuum processing chamber A cassette mounting means capable of mounting a plurality of cassettes capable of storing wafers, and a transfer means configured to extract a wafer from an arbitrary cassette on the cassette mounting means, Transport for carrying wafers in an arbitrary cassette into a vacuum processing chamber via the transport means, the switchable chamber, and the vacuum transport means, and carrying out processed wafers vacuum-processed in the vacuum processing chambers In a vacuum processing method for performing vacuum processing of a wafer using a vacuum processing apparatus configured with control means for performing control,
Using at least two cassettes, wafers stored in each cassette are transferred to the vacuum processing chamber via the transfer means, the switchable chamber, and the vacuum transfer means, and the transferred wafers are Parallel processing was performed, either parallel processing for applying different recipes by applying different recipes for each cassette, or parallel processing for applying common processing to wafers stored in each cassette. An error occurs during automatic operation to return the subsequent wafer to the original cassette through the switchable chamber, and after the automatic operation is temporarily suspended, the wafer remaining in the apparatus in which the abnormality has occurred The vacuum processing method is characterized in that the processing is carried out in a cassette and the processing is continued.
カセット載置手段に載置される任意のカセット内からウェハを抜き取り、大気雰囲気もしくは真空雰囲気に切り替え可能な室を経由して複数の真空処理室に搬送し、ウェハの真空処理を行う真空処理方法において、
少なくとも2つのカセットを使用し、各カセット毎に収納されたウエハを抜き取れるように構成された搬送手段、前記切り替え可能な室並びに前記真空搬送手段を介して搬送し、搬送したウェハに前記カセット毎に異なるレシピを適用して異なる処理を施す並列処理、または各カセットに収納されたウエハに共通のレシピを適用して共通の処理を施す並列処理の何れかを施すとともに並列処理を施した後のウエハを前記切り替え可能な室を介してもとのカセットに戻す自動運転中に異常が発生し、自動運転を一時中断した後、異常が発生した機器内に残存しているウェハをもとのカセットに搬出し、前記処埋を続行することを特徴とする真空処理方法。
Vacuum processing method for performing wafer vacuum processing by extracting a wafer from an arbitrary cassette mounted on the cassette mounting means and transporting the wafer to a plurality of vacuum processing chambers via a chamber that can be switched to an air atmosphere or a vacuum atmosphere. In
At least two cassettes are used, and the wafer stored in each cassette is transferred through the transfer means, the switchable chamber and the vacuum transfer means, and each wafer is transferred to the transferred wafer. After applying the parallel processing and applying the parallel processing to apply different processes to the different recipes or the parallel processing to apply the common recipe to the wafers stored in each cassette An error occurs during automatic operation to return the wafer to the original cassette through the switchable chamber. After the automatic operation is temporarily suspended, the wafer remaining in the device in which the abnormality has occurred is returned to the original cassette. The vacuum processing method is characterized in that the processing is carried out and the processing is continued.
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