JP2008141074A - 露光装置及びその制御方法並びにデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 レチクルステージの推力に対する反発力を得るための反発力発生手段を有する露光装置において、比較的簡単な構成で効率よくレチクル原版の交換を行うことができるようにすること。
【解決手段】 レチクル原版を交換する場合、テーブル3を所定の交換作業位置に移動させる。このとき、第1磁石8と第2磁石9とによる反発力がテーブル3に対して作用しない位置まで第2磁石9を移動退避させる。レチクル原版の交換完了後は、第2磁石9を、反発力発生手段によりテーブル3に対して反発力を作用させる位置に復帰移動させる。
【選択図】 図3
【解決手段】 レチクル原版を交換する場合、テーブル3を所定の交換作業位置に移動させる。このとき、第1磁石8と第2磁石9とによる反発力がテーブル3に対して作用しない位置まで第2磁石9を移動退避させる。レチクル原版の交換完了後は、第2磁石9を、反発力発生手段によりテーブル3に対して反発力を作用させる位置に復帰移動させる。
【選択図】 図3
Description
本発明は、ウエハ等の基板とレチクル等の原版の双方を走査させることによりレチクル原版のパターンをウエハ基板に露光転写する露光装置及びその制御方法並びにデバイス製造方法に関する。
半導体集積回路を製造するための露光装置は、高集積度に対応すると同時に、単位時間あたりの露光枚数すなわちスループットを向上させ、より安価なチップを提供することが望まれている。この要求を満たすために、現在では、レチクル原版のパターンを矩形状の帯状領域に限定してウエハ基板等に投影しレチクル原版とウエハ基板の双方を同期的に走査させることによってパターン全体をウエハ基板に転写する走査型露光装置が主流となっている。これは、倍率1/4ないし1/5の縮小投影系を有し、露光光の照射領域を矩形状の帯状領域に限定するとともにレチクル原版とウエハ基板を縮小投影系の縮小倍率に等しい速度比で走査させるステージを設けたものである。
図6及び図7はそれぞれ、一般的な走査型露光装置の上方斜視図及びY−Z平面に沿う断面図である。この露光装置は、不図示の露光光源、光学照明系、及びレチクルステージ100、縮小投影系110、ウエハステージ120を有する。
レチクルステージ100は、定盤101、レチクル原版104を搭載するテーブル103、リニアモータ等の直進駆動装置105を含む。ここで、テーブル103は、直進駆動装置105によって定盤101上をY軸方向に往復走行自在に構成されている。一方、ウエハステージ120は、定盤121、ウエハ基板128を搭載するテーブル127、リニアモータ等の直進駆動装置123を含む。ここで、テーブル127は、直進駆動装置123によって定盤121上をX軸、Y軸方向のそれぞれに往復走行自在に構成されている。
縮小投影系110は鏡筒定盤111に固定されており、また、この鏡筒定盤111には、レーザ干渉計106、130が支柱を介して固定されている。このレーザ干渉計106及び130はそれぞれ、テーブル103、127に設置された不図示の反射ミラーにレーザ光を反射させ、レチクルステージ100及びウエハステージ120の位置計測を行う。そしてこれらの位置計測結果はそれぞれ、直進駆動装置105、123にフィードバックされる。
レチクルステージ100とウエハステージ120はそれぞれ、直進駆動装置105、123によって定盤101、121上を往復移動される。露光光によるレチクル原版104のパターン露光中は、これらレチクルステージ100とウエハステージ120の走査速度がそれぞれ一定になるように制御される。
上記のような走査型露光装置においては、スループットを更に向上させて生産性を高めることの要求が年々高まっている。この要求に応えるべく、特許文献1には、レチクルステージのより高速な移動を可能にするため、ステージのストローク端部に磁石からなる反発部材を設置し、大推力発生及び高速維持を実現する移動ステージ装置が開示されている。
図8に、この従来の移動ステージ装置の構成を示す。同図(a)の平面図に示されるように、本体ベース131にはベースガイド132が固定され、ベースガイド132に対して一軸方向に移動可能なように、工作物133を搭載するテーブル134が支持されている。
テーブル134の姿勢は、ベースガイド132の上面とテーブル134の下面との間に配置される軸受け144で規制される。高精度な位置決めが求められる半導体露光装置では、軸受け144として空気軸受けが採用される。テーブル134の両側にはリニアモータ可動子135が固定される。リニアモータ可動子135にはリニアモータ固定子136が非接触で対面し、リニアモータ固定子136は本体ベース131に両端の脚137を介して固定されている。テーブル134の位置はレーザ干渉計を反射ミラー146に照射して計測される。
この移動ステージ装置は、同図(b)に示されるような反発磁石ユニットを備えており、テーブル134の前後には可動磁石ホルダ138と可動磁石139とからなる反発可動子147が固定されている。この可動磁石139は鉛直方向に着磁された板状の単極永久磁石である。この従来例では、上がN極に着磁されている。この反発可動子147は挿入磁石として、ベースガイド132上に配置された反発固定子140と相互に作用してテーブル134に反発力を与え、テーブル134を加減速するように作用する。
またこの反発磁石ユニットは、可動磁石139の各々の磁極面に対して両側から上下磁石142で挟み込む構成にすることで、対面方向の反発力を相殺することができる。上記反発可動子147に対応して、テーブル134に加減速力を与える反発固定子140がベースガイド132上に固定されている。反発固定子140はテーブル134のストロークの両端に1ユニットずつ設けられる。
反発固定子140は、組磁石として、上ヨーク141、上磁石142、両側の横ヨーク143、下磁石142、及び下ヨーク141から構成される。上下磁石142,142は反発可動子147と同様に鉛直方向に着磁された板状単極永久磁石である。ただし、極は反発可動子147と同じ極が対面するように配置される。つまり上磁石142の下面はN極、下磁石142の上面はS極になるように配置される。上ヨーク141、横ヨーク143、及び下ヨーク141は上下磁石142の磁束を側方経由で循環させるために設けられている。
また上下磁石142−142の間隔は反発可動磁石139の厚さより少し大きい間隔をあけ、両横ヨーク143−143の内側間隔は反発可動磁石139の幅より広くとってある。これにより、反発可動磁石139は、上下磁石142,142及び両横ヨーク143,143で形成される穴に非接触で挿入されるようになっている。
このような反発磁石ユニットを用いたステージにより、高速化及び低発熱化が実現される。
前述の特許文献1によれば、テーブル134のストローク端部においては、反発可動磁石139が反発固定子140内に入り込み、これによってテーブル134の移動に対する反発力が付与される。
ここで、上述の特許文献1に記載された露光装置に、レチクル原版の交換を自動的に行うためのレチクルチェンジャを搭載する場合を考える。この場合、レチクル原版の交換に際しては、レチクルチェンジャが光学照明系に干渉しないように注意する必要がある。通常、光学照明系はテーブル134のストローク中央部に設けられるから、レチクルチェンジャがレチクル原版の交換を行う位置はテーブル134のストローク端部側に設定されることになる。
しかし、上述したようにテーブル134のストローク端部は、反発可動磁石139と反発固定子140との相互作用によってテーブル134に対して反発力が生じる位置である。そのため、レチクル原版の交換に際しては、この反発力に抗してテーブル134を保持するための機構が別途必要になる。これはコスト増大の要因となる。また、そのような機構によるテーブル134の保持に伴い、可動磁石139やテーブル134を局所変形させるおそれもあり、さらには、載置するレチクル原版をも変形させてしまう可能性さえある。
したがって本発明の目的は例えば、レチクルステージの推力に対する反発力を得るための反発力発生手段を有する露光装置において、比較的簡単な構成で効率よくレチクル原版の交換を行うことができるようにすることである。その他の目的及び利点については、以下の説明によって明らかになろう。
本発明の一側面によれば、ベースガイド上を第1方向に移動可能に構成された、レチクル原版を載置するためのテーブルと、前記テーブルの前記第1方向の端部に設けられる第1磁石と、前記ベースガイドの前記第1方向の端部において該ベースガイドに前記第1方向に移動可能に設けられる第2磁石とを含み、前記テーブルの前記第1方向における移動ストロークの端部において前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力を前記テーブルに対して作用させる反発力発生手段と、前記反発力発生手段により前記テーブルに対して前記反発力を作用させつつ前記テーブルを前記第1方向に往復駆動する駆動手段と、前記レチクル原版を交換するために前記テーブルを交換作業位置に移動させた時に前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力が前記テーブルに対して作用しない位置まで前記第2磁石を移動退避させる制御手段とを有することを特徴とする露光装置が提供される。
本発明の別の側面によれば、ベースガイド上を第1方向に移動可能に構成された、レチクル原版を載置するためのテーブルと、前記テーブルの前記第1方向の端部に設けられる第1磁石と、前記ベースガイドの前記第1方向の端部において該ベースガイドに前記第1方向に移動可能に設けられる第2磁石とを含み、前記テーブルの前記第1方向における移動ストロークの端部において前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力を前記テーブルに対して作用させる反発力発生手段と、前記反発力発生手段により前記テーブルに対して前記反発力を作用させつつ前記テーブルを前記第1方向に往復駆動する駆動手段と、前記第2磁石を露光光軸に対して略線対称な位置に移動させる制御手段とを有することを特徴とする露光装置が提供される。
本発明の更に別の側面によれば、ベースガイド上を第1方向に移動可能に構成された、レチクル原版を載置するためのテーブルと、前記テーブルの前記第1方向の端部に設けられる第1磁石と、前記ベースガイドの前記第1方向の端部において該ベースガイドに前記第1方向に移動可能に設けられる第2磁石とを含み、前記テーブルの前記第1方向における移動ストロークの端部において前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力を前記テーブルに対して作用させる反発力発生手段と、前記反発力発生手段により前記テーブルに対して前記反発力を作用させつつ前記テーブルを前記第1方向に往復駆動する駆動手段とを有する露光装置の制御方法であって、前記レチクル原版を交換するために前記テーブルを交換作業位置に移動させる第1工程と、前記第1工程により前記テーブルが前記交換作業位置に移動した後、前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力が前記テーブルに対して作用しない位置まで前記第2磁石を移動退避させる第2工程とを有することを特徴とする露光装置の制御方法も提供される。
本発明によれば、レチクルステージの推力に対する反発力を得るための反発力発生手段を有する露光装置において、比較的簡単な構成で効率よくレチクル原版の交換を行うことができる。
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の実施に有利な具体例を示すにすぎない。また、以下の実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の課題解決手段として必須のものであるとは限らない。
(第1実施形態)
図1は本実施形態における露光装置の上方斜視図である。
図1は本実施形態における露光装置の上方斜視図である。
この露光装置は、不図示の露光光源、光学照明系、縮小投影系、及びレチクルステージ1、ウエハステージ12を有する。
レチクルステージ1は、定盤2、レチクル原版5を搭載するテーブル3、直動駆動装置を構成するリニアモータ固定子6及びリニアモータ可動子7等を含む。ここで、テーブル3は定盤2上をY軸方向に往復移動可能に構成されている。具体的には次のような構成を有する。
テーブル3は、不図示の静圧軸受けによって、ベースガイド2上を5μm程度浮上している。テーブル3の両側には磁石が接着されたリニアモータ可動子7が固定される。また、リニアモータ可動子7をZ方向に挟み込むように、リニアモータ固定子6がテーブル3の両側に配置されている。リニアモータ固定子6の内部には複数のコイルがY方向に並んでおり、リニアモータ可動子7の位置にあわせて所定のコイルに電流を流すことによりローレンツ力を発生させ、Y方向の推力を得る。
テーブル3の前後には磁石反発力発生手段として、反発磁石ユニットの可動部である可動磁石8,8が設置されている。この可動磁石8は鉛直方向に着磁された板状の単極永久磁石からなる。一方、ベースガイド2のY方向の両端部には、反発磁石ユニットの固定部9,9が固定されている。固定部9の構成は、図7(b)に示した反発固定子140と同様の構成とすることができる。固定部9に可動磁石8が入り込むことで相互に作用してテーブル3に反発力を発生させ、テーブル3を加減速させることができる。
また、不図示の縮小投影系を固定する鏡筒定盤11のY方向の後端にはレーザ干渉計10も固定されている。このレーザ干渉計10はテーブル3に設けられた不図示の反射ミラーにレーザ光を反射させ、テーブル3のY方向における位置を計測する。
レチクルステージ1の下部に位置するウエハステージ12は、本実施形態においては粗微別体構成をとっている。微動部は、ウエハ基板13が載置されたテーブル14及び不図示の磁気浮上機構、リニアモータなどからなる微動機構、及びレーザ干渉計等の位置計測機構を有し、センタースライダ24とは振動的に絶縁された状態で姿勢制御が可能である。一方、粗動部は、ウエハ基板13のほぼ全域に露光しうるストロークをもち、センタースライダ24を定盤23に対して静圧軸受けによって5μm程度浮上させた状態で、移動可能である。センタースライダ24にはビーム17、18を介してリニアモータ15が接続され、XY方向への駆動が可能となっている。
本実施形態においては、可動磁石8はテーブル3のY方向の両端部に設置され、固定部9はベースガイド2に設けられた凹部30に設置されたガイドレール27上に固定保持されている。この固定部9は固定保持を解除すれば、ガイドレール27に沿って移動可能である。固定保持はテーブル3が往復移動した際の運動エネルギーが反発磁石ユニットによって静止したときに受ける反力に耐え得る保持力を有していればよく、例えば、ガイドレール27を圧電素子による印加電圧により伸縮させて摩擦固定させる構成でよい。なお、固定部9のガイドレール27に沿う移動は、公知の駆動モータ等を使用することにより実現できる。また、固定部9の位置は例えば、当該駆動モータに内蔵されたエンコーダで検出することができる。
また、レチクルステージ1には、レチクル原版を搭載かつ交換可能なレチクルチェンジャ25がリニアモータ固定子6のX方向の外側方に設けられている。このレチクルチェンジャ25は、X方向の内側中央部に延出するアーム28を支持している。このアーム28はレチクル原版を一時保管しておくための不図示のレチクルストッカとレチクルステージ1との間で、レチクル原版の受渡しを行うことが可能な可動ストロークをもつ。レチクルチェンジャ25はこのアーム28を支持するとともに、リニアモータ等からなるアクチュエータで構成される。
次に、レチクルステージ1の往復駆動における加速方法について説明する。通常、初期状態においては、テーブル3は反発加速磁石による反発力が作用しない領域にある。この状態において、リニアモータ可動子7の位置にあわせてリニアモータ固定子6内のコイルに電流を流す。これによりテーブル3は例えば(+)Y方向の推力を得て移動し、ストローク端部にある反発磁石ユニットの固定部9に、反発磁石ユニットの可動磁石8が挿入する。すると、可動磁石8の反発磁石ユニットの固定部9への入り込み量が増えるにつれて、テーブル3が減速する。やがて、速度ゼロとなり可動磁石8の入り込み量が最大となると、テーブル3は移動方向を反転し(−)Y方向へ移動が開始される。可動磁石8の入り込み量が減少していくにつれてテーブル3は加速される。
可動磁石8が固定部9からある程度離れると反発力はゼロになる。その時テーブル3は最大速度まで加速されており、静圧軸受けによってガイドされているため、ほぼ一定の速度で反対側まで移動する。このとき、リニアモータによって今度は(−)Y方向への加速を高めることが可能であり、これらの動作を繰り返し行うことで、徐々に加速させることができる。そして、反発磁石ユニットからの加減速の作用を受けない状態(すなわち、定速状態)の速度を露光時の走査(スキャン)速度まで到達させることが可能である。
上記のような磁石反発力発生手段を用いたレチクルステージの場合、露光時のスキャン速度まで増速するまでには時間を要する。いったん定速駆動を開始してしまうと定速状態時の速度を維持するために必要なエネルギーは、テーブル3移動時に加わる空気抵抗ロス等による速度低下分を補う分に限定される。したがって、スループット向上のためには、レチクルステージ1を定速状態にした後は、ウエハステージ12の動作状態に依らず、速度維持することが望ましい。
図2に、前述したレチクルステージ1とウエハステージ12との駆動フローを示す。図中左側のフローは、レチクルステージ1上のレチクル原版交換から次のレチクル原版交換までの動作フローである。一方右側のフローは、レチクルステージ1の動作に同期して実行される、複数回のウエハ基板交換を含むウエハステージ12の動作フローであり、レチクルステージ1の動作フローとタイミング的な対応関係が分かるように示されている。
レチクル原版交換を行ったレチクルステージ1は(S201)、不図示のセンサによってレチクル原版5の保持位置情報を認識し(S202)、前述の加速方法に基づいて往復動作を行いながらスキャン速度まで増速していく(S203)。
一方ウエハステージ12は、ウエハ基板交換を行った後(S211)、センサによってウエハ基板の保持位置情報や面形状状態の情報を認識するアライメント計測を行う(S212)。その後、このアライメント計測時の情報を基に、ウエハステージ12のテーブル14の姿勢を制御し、レチクルステージ1と動作の同期をとりながら露光時の走査(スキャン)駆動を行う。さらにウエハ基板13上の露光場所をずらすためのステップ駆動を繰り返し、ウエハ基板13面に順次露光を行う(S213)。この露光が終了した時点で、ウエハステージ12は再びウエハ交換を行い(S214)、アライメント計測を経て(S215)、同様の露光を行う(S216)一連の動作を繰り返す。この間レチクルステージ1は、ウエハ基板交換時(S214)及びアライメント計測時(S215)においても往復動作を続け、この定速状態の速度を露光時のスキャン速度に維持する。そして、次のレチクル原版交換(S205)に先だって、レチクルステージ1の往復動作が停止されることになる(S204)。
本実施形態では、定速状態の速度を、レチクル原版5のパターンをウエハ基板13に露光する時のスキャン速度に維持する例を述べたが、スループット向上が同様に図れるのであれば速度を変化させても構わない。例えば、露光時までに増速しスキャン速度が達成できるのであれば、ウエハステージ12におけるウエハ基板交換のときは定速状態の速度がスキャン速度より低い状態で往復移動を行うようにしても構わない。あるいは、ウエハ基板13のアライメント計測時に往復移動により増速し、露光時までにスキャン速度が達成できるのであれば、ウエハステージ12におけるウエハ基板交換のときにはレチクルステージ1を停止させても構わない。
なお、定速状態の速度を露光時のスキャン速度に合わせただけでは、両ステージの露光時のスキャン開始のタイミングにずれを生じ、場合によってはレチクルステージ1において往復移動の1往復程度を待つことになる可能性がある。そのため、両ステージの露光時のスキャン開始のタイミングを合わせる必要がある。そこで、レチクルステージ1及びウエハステージ12のそれぞれに設けられるレーザ干渉計などを用いてステージの位置計測を行う。この計測データを演算し、その結果得られた両ステージの位置及び速度の情報をもとに、両ステージが同期動作するようなシーケンスにて、両ステージの駆動状態を調整する必要がある。
以上により、レチクルステージ1とウエハステージ12を駆動させることにより、高速化に対応した磁石反発力発生手段を用いたレチクルステージをもつ露光装置としてスループット向上を実現できる。
次に、本実施形態におけるレチクル原版交換時の制御処理について説明する。
図3は図1に示された露光装置におけるレチクルステージ部分を示す図であり、(a)及び(c)は上面図、(b)及び(d)はそれぞれ、(a)及び(c)に示されたA−A線に沿う断面図である。また、(e)及び(f)は、(d)に対してテーブル3及び固定部9が移動された状態を示している。
図3において、光学照明系のレンズユニット29に対して、アライメントスコープ26及び、レチクルチェンジャ25のアーム28が併設されている。アライメントスコープ26はアーム28によって載置されたレチクル原版5の保持位置情報を認識し、レチクルステージ1及び、ウエハステージ12の駆動にこの情報がフィードバックされる。
図3(a)、(b)の例は、テーブル3が予め定められたレチクル交換位置におり、レチクルチェンジャ25のアーム28が、不図示のレチクルストッカとの間でレチクル原版の受け渡しを行う位置にいるときを示している。ここで、レチクル原版交換が行われる側の反発磁石ユニットの固定部9(図面右側の固定部9)は、Y方向の後端位置に移動退避されていることに注目されたい。このため、このレチクルの交換作業位置においては可動磁石8との反発力がほとんど作用しない。したがって、テーブル3を反発力に抗して保持するための機構を設ける必要はない。
レチクルストッカからレチクル原版5を受け取ったアーム28は、図3(c)、(d)に示すようなテーブル3上の位置まで移動し、テーブル3上にレチクル原版5を載置する。次に、レチクルステージ1は、テーブル3を図3(e)に示す位置までリニアモータ6を駆動して移動させる。このときレチクル原版5に設けられたアライメントマークを基にアライメントスコープ26によってその位置情報が認識される。
次に、図3(f)のように、さらにテーブル3をリニアモータ6によって露光動作のための所定の基準位置まで移動させる。このとき、一方の固定部9(図示の例では右側の固定部9)を、レチクル原版5に描画されたパターンをウエハ基板13に露光転写するために必要なストロークの位置まで、ガイドレール27に沿って復帰移動させた後(移動量L1)、固定保持する。
その後、前述した図2のフローにおけるテーブル3の往復動作を開始(ステップS3)することになる。もっとも、固定部9を移動させている間に、テーブル3の往復動作を開始しても構わない。テーブル3がその往復移動によって移動してから固定部9に戻ってくるまでの間に、その固定部9を保持固定できれば、加速時間を有効に利用できる。
このように本実施形態では、レチクルチェンジャ25によるレチクル交換時において、レチクル交換位置においてテーブル3に反発力が作用しないように、反発磁石ユニットの固定部9を移動退避させることができる。このため、反発磁石ユニットによってステージ可動範囲を限定させられることがなく、また、レチクル原版の交換を容易にすることができる。さらに、レチクルチェンジャ25のアーム28の設計が容易になる。
また、レチクル原版交換側だけでなく、対向する反発磁石ユニットの固定部9(図面左側の固定部9)も移動可能にすることで、異なる画角サイズのスキャン幅に応じて、往復移動ストロークを設定することが可能となる。なお、往復移動ストロークは、L2+反発磁石ユニットへの反発磁石8の固定部9への入り込み量×2、で表される。このとき、ストロークを最小とするには、一対の反発磁石ユニットの保持固定する位置を露光光軸に対してほぼ線対称な位置(L2/2≒L3、L2/2≒L4)にする。これは、露光時のスキャンは露光光軸を中心として行われるのが一般的であるため、露光光の光軸中心位置から2つの固定部9,9までの間隔が等しいときにストロークが最小となるからである。
(第2実施形態)
次に、図4及び図5を参照して、上述の露光装置を利用したデバイス製造方法の実施形態を説明する。図4は、デバイス(ICやLSIなどの半導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するためのフローチャートである。ここでは、半導体チップの製造方法を例に説明する。
次に、図4及び図5を参照して、上述の露光装置を利用したデバイス製造方法の実施形態を説明する。図4は、デバイス(ICやLSIなどの半導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するためのフローチャートである。ここでは、半導体チップの製造方法を例に説明する。
ステップS1(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を行う。ステップS2(マスク製作)では設計した回路パターンに基づいてマスクを製作する。ステップS3(ウエハ製造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを製造する。ステップS4(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、マスクとウエハを用いて、上記の露光装置によりリソグラフィ技術を利用してウエハ上に実際の回路を形成する。ステップS5(組み立て)は、後工程と呼ばれ、ステップS4によって作製されたウエハを用いて半導体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の組み立て工程を含む。ステップS6(検査)では、ステップS5で作製された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、それが出荷(ステップS7)される。
図5は、ステップ4のウエハプロセスの詳細なフローチャートである。ステップS11(酸化)では、ウエハの表面を酸化させる。ステップS12(CVD)では、ウエハの表面に絶縁膜を形成する。ステップS13(電極形成)では、ウエハ上に電極を蒸着によって形成する。ステップS14(イオン打ち込み)では、ウエハにイオンを打ち込む。ステップS15(レジスト処理)では、ウエハに感光剤を塗布する。ステップS16(露光)では、露光装置によってマスクの回路パターンをウエハに露光する。ステップS17(現像)では、露光したウエハを現像する。ステップS18(エッチング)では、現像したレジスト像以外の部分を削り取る。ステップS19(レジスト剥離)では、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行うことによってウエハ上に多重に回路パターンが形成される。
Claims (7)
- ベースガイド上を第1方向に移動可能に構成された、レチクル原版を載置するためのテーブルと、
前記テーブルの前記第1方向の端部に設けられる第1磁石と、前記ベースガイドの前記第1方向の端部において該ベースガイドに前記第1方向に移動可能に設けられる第2磁石とを含み、前記テーブルの前記第1方向における移動ストロークの端部において前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力を前記テーブルに対して作用させる反発力発生手段と、
前記反発力発生手段により前記テーブルに対して前記反発力を作用させつつ前記テーブルを前記第1方向に往復駆動する駆動手段と、
前記レチクル原版を交換するために前記テーブルを交換作業位置に移動させた時に前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力が前記テーブルに対して作用しない位置まで前記第2磁石を移動退避させる制御手段と、
を有することを特徴とする露光装置。 - 前記制御手段によって移動された前記第2磁石を固定保持する保持手段を更に有することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記交換作業位置は、レチクル原版の交換を自動的に行うレチクルチェンジャが作業する位置であることを特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。
- 前記第1磁石は前記テーブルの前記第1方向における両端部にそれぞれ設けられ、前記第2磁石は、前記ベースガイドの前記第1方向の両端部にそれぞれ設けられるものであり、
前記制御手段は更に、前記レチクル原版の交換完了後、露光動作を行うために、前記テーブルを基準位置に移動させ、前記第2磁石を前記反発力発生手段により前記テーブルに対して前記反発力を作用させる位置に復帰移動させるとともに、露光光軸に対して略線対称な位置に調整する
ことを特徴とする請求項1から3までのいずれか1項に記載の露光装置。 - ベースガイド上を第1方向に移動可能に構成された、レチクル原版を載置するためのテーブルと、
前記テーブルの前記第1方向の端部に設けられる第1磁石と、前記ベースガイドの前記第1方向の端部において該ベースガイドに前記第1方向に移動可能に設けられる第2磁石とを含み、前記テーブルの前記第1方向における移動ストロークの端部において前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力を前記テーブルに対して作用させる反発力発生手段と、
前記反発力発生手段により前記テーブルに対して前記反発力を作用させつつ前記テーブルを前記第1方向に往復駆動する駆動手段と、
前記第2磁石を露光光軸に対して略線対称な位置に移動させる制御手段と、
を有することを特徴とする露光装置。 - ベースガイド上を第1方向に移動可能に構成された、レチクル原版を載置するためのテーブルと、
前記テーブルの前記第1方向の端部に設けられる第1磁石と、前記ベースガイドの前記第1方向の端部において該ベースガイドに前記第1方向に移動可能に設けられる第2磁石とを含み、前記テーブルの前記第1方向における移動ストロークの端部において前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力を前記テーブルに対して作用させる反発力発生手段と、
前記反発力発生手段により前記テーブルに対して前記反発力を作用させつつ前記テーブルを前記第1方向に往復駆動する駆動手段と、
を有する露光装置の制御方法であって、
前記レチクル原版を交換するために前記テーブルを交換作業位置に移動させる第1工程と、
前記第1工程により前記テーブルが前記交換作業位置に移動した後、前記第1磁石と前記第2磁石とによる反発力が前記テーブルに対して作用しない位置まで前記第2磁石を移動退避させる第2工程と、
を有することを特徴とする露光装置の制御方法。 - 請求項1から5までのいずれか1項に記載の露光装置を用いてウエハを露光する工程と、
前記ウエハを現像する工程と、
を有することを特徴とするデバイス製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006327630A JP2008141074A (ja) | 2006-12-04 | 2006-12-04 | 露光装置及びその制御方法並びにデバイス製造方法 |
KR1020070120670A KR20080051058A (ko) | 2006-12-04 | 2007-11-26 | 노광장치, 그 제어방법 및 디바이스 제조방법 |
US11/948,550 US7468783B2 (en) | 2006-12-04 | 2007-11-30 | Exposure apparatus, control method for the same, and device manufacturing method |
TW096145931A TW200841131A (en) | 2006-12-04 | 2007-12-03 | Exposure apparatus, control method for the same, and device manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006327630A JP2008141074A (ja) | 2006-12-04 | 2006-12-04 | 露光装置及びその制御方法並びにデバイス製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008141074A true JP2008141074A (ja) | 2008-06-19 |
Family
ID=39475315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006327630A Withdrawn JP2008141074A (ja) | 2006-12-04 | 2006-12-04 | 露光装置及びその制御方法並びにデバイス製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7468783B2 (ja) |
JP (1) | JP2008141074A (ja) |
KR (1) | KR20080051058A (ja) |
TW (1) | TW200841131A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11360400B2 (en) | 2017-05-19 | 2022-06-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Transport system having a magnetically levitated transportation stage |
WO2019204692A1 (en) | 2018-04-20 | 2019-10-24 | Massachusetts Institute Of Technology | Magnetically-levitated transporter |
US11209373B2 (en) * | 2019-06-21 | 2021-12-28 | Kla Corporation | Six degree of freedom workpiece stage |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3849932B2 (ja) | 2002-08-12 | 2006-11-22 | キヤノン株式会社 | 移動ステージ装置 |
TWI265380B (en) * | 2003-05-06 | 2006-11-01 | Asml Netherlands Bv | Lithographic projection apparatus |
JP4314091B2 (ja) * | 2003-10-03 | 2009-08-12 | キヤノン株式会社 | 露光装置及びデバイス製造方法 |
US7288859B2 (en) * | 2004-01-30 | 2007-10-30 | Nikon Corporation | Wafer stage operable in a vacuum environment |
US7126674B2 (en) * | 2004-06-14 | 2006-10-24 | Asml Netherlands B.V. | Positioning device and device manufacturing method |
-
2006
- 2006-12-04 JP JP2006327630A patent/JP2008141074A/ja not_active Withdrawn
-
2007
- 2007-11-26 KR KR1020070120670A patent/KR20080051058A/ko active IP Right Grant
- 2007-11-30 US US11/948,550 patent/US7468783B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7468783B2 (en) | 2008-12-23 |
KR20080051058A (ko) | 2008-06-10 |
US20080129977A1 (en) | 2008-06-05 |
TW200841131A (en) | 2008-10-16 |
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