Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP2007206594A - Electro-optical apparatus and electronic equipment - Google Patents

Electro-optical apparatus and electronic equipment Download PDF

Info

Publication number
JP2007206594A
JP2007206594A JP2006028027A JP2006028027A JP2007206594A JP 2007206594 A JP2007206594 A JP 2007206594A JP 2006028027 A JP2006028027 A JP 2006028027A JP 2006028027 A JP2006028027 A JP 2006028027A JP 2007206594 A JP2007206594 A JP 2007206594A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive film
film
layer
electro
interlayer insulating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006028027A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kimiya Nagasawa
仁也 長澤
Kazuya Nakayama
和也 中山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2006028027A priority Critical patent/JP2007206594A/en
Publication of JP2007206594A publication Critical patent/JP2007206594A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-optical apparatus in which the level differences, in response to the positions of an outer circuit connection terminal produced on a substrate are reduced. <P>SOLUTION: The outer circuit connecting terminal 102e, which is a part of a relay line 91e formed on the same layer with relay lines 91d, 91f, is connected to the relay line 91e connected electrically to a ground voltage line 93a. Thus, positions along height direction of the outer circuit connection terminals 102d, 102e and 102f to which an image signal, a second electric source signal VSSX and a counter electrode voltage LCCOM are respectively supplied can be unified. Accordingly, the turbulence of a rubbing roller due to the differences of etching depths of the plurality of outer circuit connection terminals 102, that is, hair turbulence of cloth material of the rubbing roller which may occur upon rubbing almost can be removed to permit virtually homogeneous rubbing. As a result, rubbing stripes in image display can be restrained or prevented from occurring due to the turbulence of the rubbing roller. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えば液晶装置等の電気光学装置及びその製造方法、並びに該電気光学装置を備えた、例えば液晶プロジェクタ等の電子機器の技術分野に関する。   The present invention relates to an electro-optical device such as a liquid crystal device and a manufacturing method thereof, and a technical field of an electronic apparatus such as a liquid crystal projector including the electro-optical device.

この種の電気光学装置では、画素電極等の表示用電極や、これを駆動するためのデータ線駆動回路、走査線駆動回路等の回路部が設けられた基板上に、その一辺の縁に沿って、複数の外部回路接続端子が配列されている。基板上には更に、これら複数の外部回路接続端子から走査線駆動回路やデータ線駆動回路等の回路部へ複数種類の信号を供給するための複数の信号配線が配線される。   In this type of electro-optical device, a display electrode such as a pixel electrode, a data line driving circuit for driving the electrode, a circuit unit such as a scanning line driving circuit, and the like are provided along the edge of one side. A plurality of external circuit connection terminals are arranged. Further, a plurality of signal wirings for supplying a plurality of types of signals from the plurality of external circuit connection terminals to a circuit unit such as a scanning line driving circuit and a data line driving circuit are provided on the substrate.

このような信号配線については、例えば特許文献1では、元々の配線に加えて、画素内の導電膜と同一膜から追加の配線を形成する、即ち冗長配線構造にすることにより、工程数を増加させずに配線の低抵抗化を図るという工夫がなされている。   Regarding such signal wiring, for example, in Patent Document 1, in addition to the original wiring, the number of processes is increased by forming an additional wiring from the same film as the conductive film in the pixel, that is, by forming a redundant wiring structure. A device has been devised to reduce the resistance of the wiring without making it.

特開2002−229061号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2002-229061

特許文献1のように、複数の導電膜を用いて配線を形成する場合でも、配線と外部回路との接続を行うための入力端子は、全て同一膜で形成するのが好ましい。   Even in the case where a wiring is formed using a plurality of conductive films as in Patent Document 1, it is preferable that all input terminals for connecting the wiring and the external circuit are formed of the same film.

その際、端子と異なる膜によって引き回されている配線については、配線の膜と端子の膜とを接続するためにコンタクトホールを形成する必要がある。   At that time, for a wiring routed by a film different from the terminal, it is necessary to form a contact hole in order to connect the wiring film and the terminal film.

しかし、電気光学装置の構造によっては、当該コンタクトホールを形成する際に、画素に形成された蓄積容量を構成する誘電体膜に対してエッチングをしなくてはならない場合がある。   However, depending on the structure of the electro-optical device, when the contact hole is formed, the dielectric film constituting the storage capacitor formed in the pixel may have to be etched.

この際、蓄積容量を構成する誘電体膜に直接エッチング等によりコンタクトホールを形成すれば、誘電体膜の特性に悪影響を与えてしまい、正常な蓄積容量として機能させることが困難となるという技術的問題点がある。   At this time, if the contact hole is formed directly in the dielectric film constituting the storage capacitor by etching or the like, the characteristics of the dielectric film are adversely affected, making it difficult to function as a normal storage capacitor. There is a problem.

本発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであり、端子と該端子と異なる層で形成された配線とを接続する構造を備えた電気光学装置及び該電気光学装置を備えた電子機器を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and includes an electro-optical device having a structure for connecting a terminal and a wiring formed of a layer different from the terminal, and an electronic apparatus including the electro-optical device. The issue is to provide.

本発明の第1の発明に係る電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上に、画素領域に配列された複数の画素電極と、前記複数の画素電極より層間絶縁膜を介して下層側に配置されており、下側電極、誘電体膜及び上側電極が順に積層されてなる蓄積容量と、前記画素領域の周辺に形成される導電膜であって、前記上側電極と同層の第1導電膜、前記下側電極と同層の第2導電膜、及び前記第2導電膜よりも下層側に配置されており、且つ前記第2導電膜に電気的に接続された第3導電膜と、前記周辺領域において前記第1導電膜の上層側に形成されており、前記第1導電膜及び前記第2導電膜を電気的に中継接続する中継層と、前記第1乃至第3導電膜のうち少なくとも一つの導電膜で形成される端子部とを備える。   In order to solve the above problem, an electro-optical device according to a first aspect of the present invention includes a plurality of pixel electrodes arranged in a pixel region on a substrate, and a lower layer than the plurality of pixel electrodes through an interlayer insulating film. A storage capacitor in which a lower electrode, a dielectric film, and an upper electrode are sequentially stacked, and a conductive film formed around the pixel region, the first layer being in the same layer as the upper electrode. A first conductive film, a second conductive film in the same layer as the lower electrode, and a third conductive film disposed on a lower layer side than the second conductive film and electrically connected to the second conductive film And a relay layer that is formed on the upper side of the first conductive film in the peripheral region and electrically connects the first conductive film and the second conductive film, and the first to third conductive films A terminal portion formed of at least one conductive film.

本発明の第1の発明に係る電気光学装置によれば、基板上における画素領域には、複数の画素電極が、例えばマトリクス状に配列されている。即ち、画素領域には、例えば縦横に複数のデータ線及び複数の走査線が形成されており、これらデータ線及び走査線の交差に対応して画素電極が設けられている。各画素電極は、これに電気的に接続された、例えば画素スイッチング素子を介してデータ線及び走査線に電気的に接続される。ここに「画素領域」とは、基板上で平面的に見て複数の画素電極が配列された領域、即ち、複数の画素電極により画像を表示させるための領域を意味し、例えば本発明の実施形態に係る「画像表示領域」が、その一例或いは典型例となる。   In the electro-optical device according to the first aspect of the present invention, a plurality of pixel electrodes are arranged in a matrix, for example, in the pixel region on the substrate. That is, in the pixel region, for example, a plurality of data lines and a plurality of scanning lines are formed vertically and horizontally, and pixel electrodes are provided corresponding to the intersections of these data lines and scanning lines. Each pixel electrode is electrically connected to the data line and the scanning line via, for example, a pixel switching element electrically connected thereto. Here, the “pixel region” means a region where a plurality of pixel electrodes are arranged in a plan view on the substrate, that is, a region for displaying an image by a plurality of pixel electrodes. The “image display area” according to the form is an example or a typical example.

このように構成された電気光学装置の動作時には、基板上では、例えば走査信号が供給されることによって各走査線は選択される。そして例えば、選択された走査線より走査信号が供給されることにより画素スイッチング素子がオン状態となると、データ線及び画素スイッチング素子を介して画素電極には画像信号が供給される。これらの結果、画素電極とこれに対向すると共に所定電位に維持された、例えば対向電極との間に印加電圧が印加される。これにより、電気光学装置では、画素電極及び対向電極間に狭持された、例えば液晶等の電気光学物質の配向状態を変化させて、光源から入射される光を変調し、画素領域において画像表示が行われる。この際、蓄積容量によって、画素電極における電位保持特性が向上し、画像を表示する際の高コントラスト化が可能となる。   When the electro-optical device configured as described above is operated, each scanning line is selected by supplying a scanning signal, for example, on the substrate. For example, when the pixel switching element is turned on by supplying a scanning signal from the selected scanning line, an image signal is supplied to the pixel electrode via the data line and the pixel switching element. As a result, an applied voltage is applied between the pixel electrode and the counter electrode, for example, facing the pixel electrode and maintained at a predetermined potential. As a result, in the electro-optical device, the alignment state of an electro-optical material such as liquid crystal sandwiched between the pixel electrode and the counter electrode is changed to modulate light incident from the light source and display an image in the pixel region. Is done. At this time, the storage capacitor improves the potential holding characteristics of the pixel electrode, and enables high contrast when displaying an image.

第1導電膜は、誘電体膜の延在部上に配置されており、第2導電膜は、誘電体膜より下層側に配置されている。第1導電膜及び第2導電膜は、後に述べる中継層によって互いに電気的に接続されている。第3導電膜は第2導電膜の下層側に形成されており、且つ第2導電膜に電気的に接続されている。したがって、第1導電膜、第2導電膜及び第3導電膜は、相互に電気的に接続されていることになり、これら導電膜の何れか一の導電膜が形成された層に端子部が設けられている。   The first conductive film is disposed on the extending portion of the dielectric film, and the second conductive film is disposed on the lower layer side than the dielectric film. The first conductive film and the second conductive film are electrically connected to each other by a relay layer described later. The third conductive film is formed on the lower layer side of the second conductive film, and is electrically connected to the second conductive film. Therefore, the first conductive film, the second conductive film, and the third conductive film are electrically connected to each other, and the terminal portion is formed on the layer in which any one of these conductive films is formed. Is provided.

端子部は、第1、第2及び第3導電膜から、例えば電気光学装置の設計に応じて選択された一の導電膜が、画素領域の周辺に位置する周辺領域において、例えば層間絶縁膜から露出した部分である。したがって、第1、第2及び第3導電膜を外部回路と接続するための外部回路接続端子等の端子部をこれら導電膜の夫々が形成された層の何れかの層に設けることが可能であり、周辺領域に設けられる複数の端子部相互の高さ方向(即ち、基板の厚み方向)に沿った位置を統一できる。より具体的には、例えば、外部回路接続端子等の端子部を第1導電膜から形成することなく、第1導電膜に電気的に接続された第2導電膜、又は第3導電膜が層間絶縁膜から露出する部分を端子部とすることができる。言い換えれば、第1導電膜、第2導電膜及び第2導電膜が相互に電気的に接続されているため、これら導電膜の夫々を外部回路と接続するため端子部は、設計に応じて第1、第2及び第3導電膜の何れか一の導電膜と同層に設けることができ、例えば他の端子部の位置に合わせて一の導電膜を選択することによって、複数の外部回路接続端子等の端子部の位置を統一できる。   The terminal portion is formed of, for example, an interlayer insulating film in a peripheral region where one conductive film selected from the first, second, and third conductive films, for example, according to the design of the electro-optical device, is located around the pixel region. It is an exposed part. Accordingly, a terminal portion such as an external circuit connection terminal for connecting the first, second and third conductive films to an external circuit can be provided in any one of the layers in which these conductive films are formed. In addition, it is possible to unify the positions along the height direction of the plurality of terminal portions provided in the peripheral region (that is, the thickness direction of the substrate). More specifically, for example, the second conductive film or the third conductive film electrically connected to the first conductive film is not formed between the first conductive film without forming terminal portions such as external circuit connection terminals from the first conductive film. A portion exposed from the insulating film can be a terminal portion. In other words, since the first conductive film, the second conductive film, and the second conductive film are electrically connected to each other, the terminal portion for connecting each of the conductive films to the external circuit is designed according to the design. It can be provided in the same layer as any one of the first, second and third conductive films. For example, by selecting one conductive film in accordance with the position of the other terminal portion, a plurality of external circuit connections The position of terminals such as terminals can be unified.

よって、複数の外部回路接続端子等の端子部を形成するための例えばエッチング等によるエッチング深さを揃えることができ、ラビング処理の際に発生し得る、複数の外部回路接続端子のエッチング深さの差異、即ち基板上に生じる段差に起因したラビングロールの乱れ(即ち、ラビングロールのクロス材の毛乱れ)を低減できる。その結果、ラビングロールの乱れに起因して画像を表示する際にラビングスジが発生してしまうことを低減でき、画質の高めることが可能である。   Therefore, the etching depth by, for example, etching for forming terminal portions such as a plurality of external circuit connection terminals can be made uniform, and the etching depth of the plurality of external circuit connection terminals that can occur during the rubbing process can be adjusted. The difference, that is, the disturbance of the rubbing roll due to the level difference generated on the substrate (that is, the disturbance of the cloth of the rubbing roll cloth) can be reduced. As a result, it is possible to reduce the occurrence of rubbing streaks when displaying an image due to disturbance of the rubbing roll, and it is possible to improve the image quality.

中継層は、第1導電膜と第2導電膜とを電気的に中継接続している。したがって、第1導電膜を第2導電膜に電気的に接続するためのコンタクトホールを開孔する際に、例えばフォトエッチング等を、第1導電膜下に配置された誘電体膜の延在部に、直接即ち該延在部上に層間絶縁膜がない状態(言い換えれば、誘電体膜の延在部の上層側の表面が大気又は雰囲気にさらされた状態、即ち誘電体膜が露出された状態)で施さずに済む。即ち、例えばフォトエッチング等を、第1導電膜が形成されない領域に積層されることとなる層間絶縁膜を介して誘電体膜の延在部に施すことにより、誘電体膜の特性劣化を招くことなく第1導電膜を第2導電膜に電気的に接続するためのコンタクトホール(即ち、中継層を第2導電膜に電気的に接続するためのコンタクトホール)を開孔できる。従って、コンタクトホールを開孔するための例えばフォトエッチング等を誘電体膜の延在部に施すことによって、画素電極に電気的に接続された蓄積容量を構成する誘電体膜の特性に悪影響を及ぼしてしまうことを抑制或いは防止できる。これにより、蓄積容量の電位保持特性が低下することを抑制でき、画像表示におけるコントラストが低減してしまう等、画像品質が劣化してしまうことを抑制或いは防止できる。   The relay layer electrically connects the first conductive film and the second conductive film. Therefore, when opening a contact hole for electrically connecting the first conductive film to the second conductive film, for example, photoetching or the like is performed to extend the dielectric film disposed below the first conductive film. In addition, there is no interlayer insulating film directly on the extension portion (in other words, the surface on the upper layer side of the extension portion of the dielectric film is exposed to the atmosphere or atmosphere, that is, the dielectric film is exposed. State)). That is, for example, photoetching or the like is performed on the extended portion of the dielectric film through the interlayer insulating film that is to be laminated in the region where the first conductive film is not formed, thereby causing deterioration of the characteristics of the dielectric film. Instead, a contact hole for electrically connecting the first conductive film to the second conductive film (that is, a contact hole for electrically connecting the relay layer to the second conductive film) can be formed. Therefore, for example, photoetching for opening the contact hole is performed on the extended portion of the dielectric film, thereby adversely affecting the characteristics of the dielectric film constituting the storage capacitor electrically connected to the pixel electrode. Can be suppressed or prevented. Thereby, it is possible to suppress a decrease in the potential holding characteristic of the storage capacitor, and it is possible to suppress or prevent the image quality from deteriorating, for example, the contrast in the image display is reduced.

加えて、本発明では特に、第1導電膜、第2導電膜及び第3導電膜の夫々が相異なる層に位置しているため、第1導電膜、第2導電膜及び第3導電膜の夫々に電気的に接続された配線等は、基板上で基板面の法線に沿った方向から見て少なくとも一部において互いに重なる部分を有する。よって、基板をその法線方向から見た一定領域内に、複数の信号配線等の導電膜を互いにショートしないように配線した場合でも、これら信号配線は、周辺領域において互いに同層に設けられた各端子部の夫々に電気的に接続されている。即ち、一本一本の配線幅を相対的に広く確保しつつ、より多くの信号配線を配線することが可能となる。これにより、画素領域を広く確保しつつ、周辺領域の削減による基板全体、惹いては電気光学装置の全体の小型化を図ることが可能となる。   In addition, in the present invention, in particular, since the first conductive film, the second conductive film, and the third conductive film are located in different layers, the first conductive film, the second conductive film, and the third conductive film Each of the wirings and the like that are electrically connected to each other has a portion that overlaps at least partly when viewed from the direction along the normal of the substrate surface on the substrate. Therefore, even when the conductive films such as a plurality of signal wirings are not short-circuited in a certain region when the substrate is viewed from the normal direction, these signal wirings are provided in the same layer in the peripheral region. Each terminal part is electrically connected. That is, it is possible to wire more signal wirings while ensuring a relatively wide wiring width for each one. Accordingly, it is possible to reduce the size of the entire substrate, that is, the entire electro-optical device by reducing the peripheral region while ensuring a wide pixel region.

尚、このような複数の信号配線の夫々は、複数の導電膜のうち、例えば信号の種類に対応した相互に異なる導電膜から形成されている。ここに「信号の種類」とは、画像信号等の画像を表示するための画像の内容に応じた信号、及び、画素部或いは周辺領域に配置された駆動回路を駆動するための電源をも含む。   Each of the plurality of signal wirings is formed of, for example, different conductive films corresponding to the type of signal among the plurality of conductive films. Here, the “signal type” includes a signal corresponding to the content of an image for displaying an image such as an image signal, and a power source for driving a driving circuit arranged in a pixel portion or a peripheral region. .

以上説明したように、本発明の第1の発明に係る電気光学装置によれば、基板サイズを縮小することができ、電気光学装置を小型化することが可能であると共に、ラビングムラに起因する画質の低を抑制できる。加えて、誘電体膜の特性が低下することを抑制でき、より一層高品位の画像を表示することが可能である。   As described above, according to the electro-optical device according to the first aspect of the present invention, the substrate size can be reduced, the electro-optical device can be downsized, and the image quality caused by the rubbing unevenness can be reduced. Can be suppressed. In addition, it is possible to suppress the deterioration of the characteristics of the dielectric film, and it is possible to display a higher quality image.

本発明の第1の発明に係る電気光学装置の一の態様では、前記周辺領域において、前記端子部と異なる他の端子部を備えており、前記他の端子部は、前記一の導電膜と同一膜である他の導電膜が前記層間絶縁膜から露出した部分であってもよい。   In an aspect of the electro-optical device according to the first aspect of the present invention, the peripheral region includes another terminal portion different from the terminal portion, and the other terminal portion includes the one conductive film. The other conductive film which is the same film may be a portion exposed from the interlayer insulating film.

この態様によれば、周辺領域に設けられた複数の端子部の夫々の高さ方向に沿った位置を相互に統一することができる。したがって、端子部の位置に応じて基板上に生じる段差を低減でき、ラビングムラに起因する画質の低下を抑制できる。   According to this aspect, it is possible to unify the positions along the height direction of the plurality of terminal portions provided in the peripheral region. Therefore, the level | step difference which arises on a board | substrate according to the position of a terminal part can be reduced, and the fall of the image quality resulting from a rubbing nonuniformity can be suppressed.

本発明の第1の発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記一の導電膜は、前記第1導電膜であり、前記端子部は、前記第1導電膜が前記層間絶縁膜から露出した部分であってもよい。   In another aspect of the electro-optical device according to the first aspect of the present invention, the one conductive film is the first conductive film, and in the terminal portion, the first conductive film is exposed from the interlayer insulating film. The part may be

この態様によれば、第2導電膜又は第3導電膜が層間絶縁膜に露出した部分を端子部にする場合に比べて、中継層及び端子部間に生じる段差を相対的に小さくでき、ラビングムラをより効果的に低減できる。   According to this aspect, compared with the case where the portion where the second conductive film or the third conductive film is exposed to the interlayer insulating film is used as the terminal portion, the step generated between the relay layer and the terminal portion can be relatively reduced, and the rubbing unevenness can be achieved. Can be reduced more effectively.

本発明の第2の発明に係る電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上に、画素領域に配列された複数の画素電極と、前記複数の画素電極より層間絶縁膜を介して下層側に配置されており、下側電極、誘電体膜及び上側電極が順に積層されてなる蓄積容量と、前記画素領域の周辺に形成される導電膜であって、前記上側電極と同層の第1導電膜、及び前記下側電極と同層の第2導電膜と、前記第1導電膜の上層側に形成されており、前記第1導電膜及び前記第2導電膜を電気的に中継接続する中継層と、前記第1導電膜と第2導電膜との少なくとも一方で形成される端子部とを備える。   In order to solve the above problem, an electro-optical device according to a second aspect of the present invention includes a plurality of pixel electrodes arranged in a pixel region on a substrate, and a lower layer than the plurality of pixel electrodes through an interlayer insulating film. A storage capacitor in which a lower electrode, a dielectric film, and an upper electrode are sequentially stacked, and a conductive film formed around the pixel region, the first layer being in the same layer as the upper electrode. 1 conductive film, a second conductive film in the same layer as the lower electrode, and an upper layer side of the first conductive film, and electrically connecting the first conductive film and the second conductive film And a terminal portion formed on at least one of the first conductive film and the second conductive film.

本発明の第2の発明に係る電気光学装置によれば、上述の本発明の電気光学装置と同様に、第1導電膜及び第2導電膜間に介在する誘電体膜の特性を低下させることなく、端子部の高さ方向に沿った位置を統一できる。ラビングムラに起因する画質の低下を抑制できると共に、誘電体膜の特性が低下することを抑制でき、より一層高品位の画像を表示することが可能である。また、基板サイズを縮小することができ、電気光学装置を小型化することが可能である。   According to the electro-optical device according to the second aspect of the present invention, the characteristic of the dielectric film interposed between the first conductive film and the second conductive film is reduced as in the electro-optical device according to the present invention described above. The position along the height direction of the terminal portion can be unified. It is possible to suppress deterioration in image quality due to uneven rubbing and to suppress deterioration in the characteristics of the dielectric film, and to display a higher quality image. In addition, the substrate size can be reduced, and the electro-optical device can be reduced in size.

本発明の第2の発明に係る電気光学装置の一の態様では、前記周辺領域において、前記端子部と異なる他の端子部を備えており、前記他の端子部は、前記導電膜と同一膜である他の導電膜が前記層間絶縁膜から露出した部分であってもよい。   In an aspect of the electro-optical device according to the second aspect of the present invention, the peripheral region includes another terminal portion different from the terminal portion, and the other terminal portion is the same film as the conductive film. The other conductive film may be a portion exposed from the interlayer insulating film.

この態様によれば、周辺領域に設けられた複数の端子部の夫々の高さ方向に沿った位置を統一することができる。したがって、端子部の位置に応じて基板上に生じる段差を低減でき、ラビングムラに起因する画質の低下を抑制できる。   According to this aspect, the positions along the height direction of the plurality of terminal portions provided in the peripheral region can be unified. Therefore, the level | step difference which arises on a board | substrate according to the position of a terminal part can be reduced, and the fall of the image quality resulting from a rubbing nonuniformity can be suppressed.

本発明の第1及び第2の発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記中継層は、前記画素電極と同一膜であってもよい。   In another aspect of the electro-optical device according to the first and second aspects of the present invention, the relay layer may be the same film as the pixel electrode.

この態様によれば、画素電極を形成する際に並行して中継層を形成でき、簡便な製造プロセスによって中継層を形成することが可能である。「同一膜」とは、製造工程における同一機会に成膜される膜を意味し、同一種類の膜である。尚、「同一膜」とは、一枚の膜として連続していることまでも要求する趣旨ではなく、基本的に、同一膜のうち相互に分断されている膜部分であれば足りる趣旨である。したがって、画素電極及び中継層が一枚の膜として連続していることまでも要求する趣旨ではなく、基本的に、同一膜のうち相互に分断されている膜部分であれば足りる趣旨である。   According to this aspect, the relay layer can be formed in parallel with the formation of the pixel electrode, and the relay layer can be formed by a simple manufacturing process. The “same film” means films formed on the same occasion in the manufacturing process and are the same kind of film. The “same film” does not mean that it is continuous as a single film, but basically, it is sufficient if the film parts of the same film are separated from each other. . Therefore, the purpose is not to require that the pixel electrode and the relay layer are continuous as a single film, but basically, it is sufficient to use film parts that are separated from each other in the same film.

本発明の第1及び第2の発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記中継層は、前記層間絶縁膜に開孔された第1コンタクトホールを介して前記第1導電膜に電気的に接続されると共に、前記層間絶縁膜及び前記延在部を貫通して開孔された第2コンタクトホールを介して前記第2導電膜に電気的に接続されていてもよい。   In another aspect of the electro-optical device according to the first and second inventions of the present invention, the relay layer is electrically connected to the first conductive film through a first contact hole opened in the interlayer insulating film. And may be electrically connected to the second conductive film through a second contact hole opened through the interlayer insulating film and the extending portion.

この態様によれば、第1導電膜は、例えば第1導電膜上層の層間絶縁膜に開孔された第1コンタクトホールを介して、第1導電膜に電気的に接続されると共に、第1導電膜上の層間絶縁膜と誘電体膜の延在部とを貫通して開孔された第2コンタクトホールを介して、第2導電膜に電気的に接続される。よって、第1導電膜と第2導電膜とを、第1及び第2コンタクトホールを介して、中継層によって確実に電気的に接続することができる。特に、誘電体膜の延在部が露出している製造段階で、該誘電体膜に対してエッチングを施す状態を経る必要なく、誘電体膜を突き抜けて上下導通をとることが可能である。   According to this aspect, the first conductive film is electrically connected to the first conductive film, for example, via the first contact hole opened in the interlayer insulating film on the first conductive film, and the first conductive film It is electrically connected to the second conductive film through a second contact hole opened through the interlayer insulating film on the conductive film and the extending portion of the dielectric film. Therefore, the first conductive film and the second conductive film can be reliably electrically connected by the relay layer through the first and second contact holes. In particular, in the manufacturing stage where the extended portion of the dielectric film is exposed, it is possible to achieve vertical conduction through the dielectric film without having to go through a state of etching the dielectric film.

本発明の第1及び第2の発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記基板及び前記基板と対向配置された対向基板を相互に接着するシール材を備え、前記中継層は、前記周辺領域のうち前記シール材が配置されたシール領域の外側に形成されていてもよい。   In another aspect of the electro-optical device according to the first and second aspects of the present invention, the electro-optical device includes a sealing material that bonds the substrate and the counter substrate disposed opposite to the substrate, and the relay layer includes the peripheral layer You may form in the outer side of the sealing area | region where the said sealing material is arrange | positioned among area | regions.

この態様によれば、中継層によって画像表示が殆ど或いは全く妨げられることがなく、且つ、基板サイズを殆ど或いは全く大きくすることなく、中継層によって第1導電膜と第2導電膜とを電気的に中継できる。   According to this aspect, the first conductive film and the second conductive film are electrically connected by the relay layer with little or no hindrance to the image display by the relay layer and with little or no increase in the substrate size. Can be relayed to.

本発明に係る電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置を備えている。   In order to solve the above problems, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described electro-optical device of the present invention.

本発明に係る電子機器によれば、上述した本発明に係る電気光学装置を具備してなるので、高品位の表示が可能な、投射型表示装置、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明に係る電子機器として、例えば電子ペーパなどの電気泳動装置等も実現することが可能である。   According to the electronic apparatus according to the present invention, since the electro-optical device according to the present invention described above is provided, a projection display device, a mobile phone, an electronic notebook, a word processor, and a viewfinder type capable of high-quality display. Alternatively, various electronic devices such as a monitor direct-view video tape recorder, a workstation, a videophone, a POS terminal, and a touch panel can be realized. In addition, as an electronic apparatus according to the present invention, for example, an electrophoretic device such as electronic paper can be realized.

本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。   Such an operation and other advantages of the present invention will become apparent from the embodiments described below.

以下、図面を参照しながら本発明の第1及び第2の発明に係る電気光学装置、及びそのような電気光学装置を具備してなる電子機器の各実施形態を説明する。以下の実施形態では、本発明の第1及び第2の発明に係る電気光学装置の一例である駆動回路内蔵型のTFTアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例に挙げる。   Embodiments of an electro-optical device according to first and second inventions of the present invention and an electronic apparatus including such an electro-optical device will be described below with reference to the drawings. In the following embodiments, a TFT active matrix driving type liquid crystal device with a built-in driving circuit, which is an example of the electro-optical device according to the first and second inventions of the present invention, will be described as an example.

<第1実施形態>
先ず、図1から図21を参照しながら、本発明の第1の発明に係る電気光学装置の実施形態を説明する。
<First Embodiment>
First, an embodiment of an electro-optical device according to the first invention of the present invention will be described with reference to FIGS.

本実施形態に係る液晶装置1の全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る液晶装置1の構成を示す平面図であり、図2は、図1のH−H´線断面図である。   The overall configuration of the liquid crystal device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the liquid crystal device 1 according to the present embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line HH ′ of FIG.

図1及び図2において、本実施形態に係る液晶装置1では、TFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入されており、TFTアレイ基板10と対向基板20とは、本発明に係る「画素領域」の一例としての画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域52aに設けられたシール材52により相互に接着されている。   1 and 2, in the liquid crystal device 1 according to the present embodiment, a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 are disposed to face each other. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20, and the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are surrounded by an image display region 10a as an example of the “pixel region” according to the present invention. They are bonded to each other by a sealing material 52 provided in a sealing region 52a located in the area.

図1において、シール材52が配置されたシール領域52aの内側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域52aの外側に位置する領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。この一辺に沿ったシール領域52aよりも内側に、サンプリング回路7が額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿ったシール領域52aの外側に設けられている。更に、このように画像表示領域10aの両側に設けられた二つの走査線駆動回路104間をつなぐため、TFTアレイ基板10の残る一辺に沿って、複数の配線105が設けられている。TFTアレイ基板10上には、対向基板20の4つのコーナー部に対向する領域に、両基板間を上下導通材107で接続するための上下導通端子106が配置されている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   In FIG. 1, a light-shielding frame light-shielding film 53 that defines the frame area of the image display region 10 a is provided on the counter substrate 20 side in parallel with the inside of the seal region 52 a where the sealing material 52 is disposed. In the peripheral region, the data line driving circuit 101 and the external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in a region located outside the sealing region 52 a where the sealing material 52 is disposed. The sampling circuit 7 is provided so as to be covered with the frame light-shielding film 53 on the inner side of the seal region 52a along the one side. The scanning line driving circuit 104 is provided outside the seal region 52a along two sides adjacent to the one side. Further, a plurality of wirings 105 are provided along the remaining one side of the TFT array substrate 10 in order to connect the two scanning line driving circuits 104 provided on both sides of the image display region 10a. On the TFT array substrate 10, vertical conduction terminals 106 for connecting the two substrates with the vertical conduction material 107 are arranged in regions facing the four corner portions of the counter substrate 20. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

TFTアレイ基板10上には、複数の外部岐路接続端子102と、データ線駆動回路101、走査線駆動回路104、上下導通端子106等とを電気的に接続するための引回配線90が形成されている。   On the TFT array substrate 10, lead wires 90 are formed for electrically connecting the plurality of external branch connection terminals 102 to the data line driving circuit 101, the scanning line driving circuit 104, the vertical conduction terminal 106, and the like. ing.

図2において、TFTアレイ基板10上には、駆動素子である画素スイッチング用のTFT(Thin Film Transistor)や走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成される。画像表示領域10aには、画素スイッチング用TFTや走査線、データ線等の配線の上層に画素電極9aが設けられている。対向基板20におけるTFTアレイ基板10との対向面上に、遮光膜23が形成されている。そして、遮光膜23上に、ITO等の透明材料からなる対向電極21が複数の画素電極9aと対向して形成される。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, a laminated structure in which wiring such as a pixel switching TFT (Thin Film Transistor) as a driving element, a scanning line, and a data line is formed. In the image display area 10a, a pixel electrode 9a is provided in an upper layer of wiring such as a pixel switching TFT, a scanning line, and a data line. A light shielding film 23 is formed on the surface of the counter substrate 20 facing the TFT array substrate 10. A counter electrode 21 made of a transparent material such as ITO is formed on the light shielding film 23 so as to face the plurality of pixel electrodes 9a. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between the pair of alignment films.

次に、液晶装置1の主要な構成について図3を参照して説明する。図3は、本実施形態に係る液晶装置1の要部の構成を示す平面図である。   Next, a main configuration of the liquid crystal device 1 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a plan view showing a configuration of a main part of the liquid crystal device 1 according to the present embodiment.

図3において、液晶装置1は、例えば石英基板、ガラス基板或いはシリコン基板等からなるTFTアレイ基板10と対向基板20(図2参照)とが液晶層を介して対向配置され、画像表示領域10aにおいて区画配列された画素電極9aに印加する電圧を制御し、液晶層50(図2参照)にかかる電界を画素毎に変調する構成となっている。これにより、両基板間の透過光量が制御され、画像が階調表示される。この液晶装置はTFTアクティブマトリクス駆動方式を採り、TFTアレイ基板10における画素表示領域10aには、マトリクス状に配置された複数の画素電極9aと、互いに交差して配列された複数の走査線11a及びデータ線6aとが形成され、画素に対応する画素部が構築されている。画像表示領域10aの周辺領域には、データ線駆動回路101等の駆動回路、外部回路接続端子102及び静電保護回路410が形成されている。静電保護回路410の具体的構成としては、例えばダイオード接続されたTFTを介して、或いはダイオードを介して引回配線90が電源配線等に接続された形式のものなど、既存の各種形式の静電保護回路を採用可能である。   In FIG. 3, a liquid crystal device 1 includes a TFT array substrate 10 made of, for example, a quartz substrate, a glass substrate, or a silicon substrate, and a counter substrate 20 (see FIG. 2) opposed to each other via a liquid crystal layer. The voltage applied to the pixel electrodes 9a arranged in a partitioned manner is controlled to modulate the electric field applied to the liquid crystal layer 50 (see FIG. 2) for each pixel. Thereby, the amount of transmitted light between the two substrates is controlled, and the image is displayed in gradation. This liquid crystal device employs a TFT active matrix driving method, and a plurality of pixel electrodes 9a arranged in a matrix and a plurality of scanning lines 11a arranged in a matrix and a plurality of scanning lines 11a are arranged in the pixel display region 10a of the TFT array substrate 10. A data line 6a is formed, and a pixel portion corresponding to the pixel is constructed. In the peripheral area of the image display area 10a, a drive circuit such as the data line drive circuit 101, an external circuit connection terminal 102, and an electrostatic protection circuit 410 are formed. The specific configuration of the electrostatic protection circuit 410 includes, for example, various types of existing static electricity such as a diode-connected TFT or a type in which the routing wiring 90 is connected to a power supply wiring or the like via a diode. An electric protection circuit can be adopted.

更に、画像信号VID1〜VID6を供給するための画像信号線91及び接地電位の電源である第2電源VSSX、VSSYを供給するための接地電位線93を含む複数の引回配線90が、外部回路接続端子102からデータ線駆動回路101等の駆動回路へ引き回されている。   Further, a plurality of lead wirings 90 including an image signal line 91 for supplying the image signals VID1 to VID6 and a ground potential line 93 for supplying the second power sources VSSX and VSSY which are power sources of the ground potential are provided in an external circuit. The connection terminal 102 is routed to a driving circuit such as the data line driving circuit 101.

画像信号線91及び対向電極電位線99は夫々、画像信号線91、対向電極電位線99及び接地電位線93を構成する導電膜と比べて高抵抗である放電抵抗700を介して、接地電位線93aに電気的に接続されている。   The image signal line 91 and the counter electrode potential line 99 are connected to the ground potential line via a discharge resistor 700 which is higher in resistance than the conductive film constituting the image signal line 91, the counter electrode potential line 99 and the ground potential line 93, respectively. 93a is electrically connected.

対向基板20(図2参照)上に、画素電極9aに対向する対向電極21が形成されている。引回配線90は、対向電極21に対向電極電位LCCOMを供給するための対向電極電位線99を含んでいる。TFTアレイ基板10上に、対向電極電位線99及び対向電極21を相互に電気的に接続するための上下導通端子106が形成されており、TFTアレイ基板10及び対向基板20(図2参照)間に、上下導通端子106及び対向電極21(図2参照)を相互に電気的に接続する上下導通材107が設けられている。   A counter electrode 21 is formed on the counter substrate 20 (see FIG. 2) so as to face the pixel electrode 9a. The lead wiring 90 includes a counter electrode potential line 99 for supplying the counter electrode potential LCCOM to the counter electrode 21. A vertical conduction terminal 106 for electrically connecting the counter electrode potential line 99 and the counter electrode 21 to each other is formed on the TFT array substrate 10, and between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 (see FIG. 2). In addition, a vertical conduction member 107 for electrically connecting the vertical conduction terminal 106 and the counter electrode 21 (see FIG. 2) to each other is provided.

次に、このように構成された本実施形態の液晶装置1の動作について、図3を参照しつつ説明する。   Next, the operation of the liquid crystal device 1 of the present embodiment configured as described above will be described with reference to FIG.

本実施形態の液晶装置1の動作時には、外部回路接続端子102にFPC等を介して接続された外部回路から外部回路接続端子102及び引回配線90を経由して、データ線駆動回路101を動作させるための、クロック信号、第1電源信号VDDX、第2電源信号VSSX、制御信号及び画像信号VID1〜VID6等の各種信号がデータ線駆動回路101に供給される。これと並行して、外部回路から外部回路接続端子102及び引回配線90を経由して、走査線駆動回路104を動作させるための、クロック信号、第1電源信号VDDY、第2電源信号VSSY、制御信号等の各種信号が走査線駆動回路104に供給される。この際、引回配線90のうち接地電位線93aを介して接地電位である第2電源信号VSSXがデータ線駆動回路101に供給され、接地電位線93bを介して接地電位である第2電源信号VSSYが走査線駆動回路104に供給される。また、引回配線90のうち画像信号線91を介して画像信号VID1〜VID6がサンプリング回路7に供給される。他方で、引回配線90のうち対向電極電位線99を介して、更に上下導通端子106及び上下導通材107を介して、対向電極電位LCCOMが対向電極21(図2参照)に供給される。これらにより、データ線駆動回路101によりデータ線6aを介して画像信号VID1〜VID6が画素部に供給されると共に、走査線駆動回路104により走査線11aを介して走査信号が画素部に供給され、画素電極9a及び対向電極21間に挟持された、液晶層50を各画素部で駆動することで、アクティブマトリクス駆動が行なわれる。   During the operation of the liquid crystal device 1 of the present embodiment, the data line driving circuit 101 is operated from the external circuit connected to the external circuit connection terminal 102 via the FPC or the like via the external circuit connection terminal 102 and the lead wiring 90. Various signals such as a clock signal, a first power supply signal VDDX, a second power supply signal VSSX, a control signal, and image signals VID1 to VID6 are supplied to the data line driving circuit 101. In parallel with this, the clock signal, the first power supply signal VDDY, the second power supply signal VSSY, and the like for operating the scanning line driving circuit 104 from the external circuit via the external circuit connection terminal 102 and the lead wiring 90, Various signals such as a control signal are supplied to the scanning line driving circuit 104. At this time, the second power supply signal VSSX having the ground potential is supplied to the data line driving circuit 101 via the ground potential line 93a in the routing wiring 90, and the second power supply signal having the ground potential is supplied via the ground potential line 93b. VSSY is supplied to the scan line driver circuit 104. In addition, the image signals VID <b> 1 to VID <b> 6 are supplied to the sampling circuit 7 through the image signal line 91 in the routing wiring 90. On the other hand, the counter electrode potential LCCOM is supplied to the counter electrode 21 (see FIG. 2) through the counter electrode potential line 99 of the routing wiring 90 and further through the vertical conduction terminal 106 and the vertical conduction material 107. Thus, the image signal VID1 to VID6 is supplied to the pixel portion by the data line driving circuit 101 via the data line 6a, and the scanning signal is supplied to the pixel portion by the scanning line driving circuit 104 via the scanning line 11a. Active matrix driving is performed by driving the liquid crystal layer 50 sandwiched between the pixel electrode 9a and the counter electrode 21 in each pixel portion.

次に、本実施形態に係る液晶装置1の画素部の構成について、図4から図7を参照して説明する。図4は、液晶装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図である。図5及び図6は、TFTアレイ基板上の画素部に係る部分構成を表す平面図であり、図5及び図6は、夫々、後述する積層構造のうち下層部分(図5)と上層部分(図6)に相当する。図7は、図5及び図6を重ね合わせた場合のA−A´断面図である。尚、図7においては、各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。   Next, the configuration of the pixel portion of the liquid crystal device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is an equivalent circuit diagram of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixels formed in a matrix that forms an image display area of the liquid crystal device. FIGS. 5 and 6 are plan views showing a partial configuration related to the pixel portion on the TFT array substrate. FIGS. 5 and 6 are respectively a lower layer portion (FIG. 5) and an upper layer portion ( This corresponds to FIG. FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line AA ′ when FIGS. 5 and 6 are overlapped. In FIG. 7, the scale of each layer / member is different for each layer / member so that each layer / member can be recognized on the drawing.

図4において、本実施形態に係る液晶装置の画像表示領域10aを構成するマトリクス状に形成された複数の画素の夫々には、画素電極9aと当該画素電極9aをスイッチング制御するためのTFT30とが形成されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該TFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、・・・、Snは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。   In FIG. 4, a pixel electrode 9a and a TFT 30 for controlling the switching of the pixel electrode 9a are provided for each of a plurality of pixels formed in a matrix configuration of the image display region 10a of the liquid crystal device according to the present embodiment. The data line 6 a formed and supplied with an image signal is electrically connected to the source of the TFT 30. The image signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a. May be.

また、TFT30のゲートに走査線11aが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線11aにパルス的に走査信号G1、G2、・・・、Gmを、この順に線順次で印加するように構成されている。画素電極9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、・・・、Snを所定のタイミングで書き込む。   Further, the scanning line 11a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the scanning signals G1, G2,..., Gm are applied to the scanning line 11a in a pulse-sequential manner in this order at a predetermined timing. It is configured as follows. The pixel electrode 9a is electrically connected to the drain of the TFT 30, and the image signal S1, S2,... Supplied from the data line 6a is closed by closing the switch of the TFT 30 serving as a switching element for a certain period. Sn is written at a predetermined timing.

画素電極9aを介して液晶層50の液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、・・・、Snは、対向基板に形成された対向電極との間で一定期間保持される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として液晶装置からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出射する。   A predetermined level of image signals S1, S2,..., Sn written in the liquid crystal of the liquid crystal layer 50 through the pixel electrode 9a is held for a certain period with the counter electrode formed on the counter substrate. The liquid crystal modulates light and enables gradation display by changing the orientation and order of the molecular assembly depending on the applied voltage level. In the normally white mode, the transmittance for incident light is reduced according to the voltage applied in units of each pixel, and in the normally black mode, the light is incident according to the voltage applied in units of each pixel. The light transmittance is increased, and light having a contrast corresponding to an image signal is emitted from the liquid crystal device as a whole.

ここで保持された画像信号がリークするのを防ぐために、画素電極9aと対向電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70が付加されている。蓄積容量70の一方の電極は、画素電極9aと並列してTFT30のドレインに接続され、他方の電極は、対向電極電位LCCOMとなるように、対向電極電位線99と電気的に接続された固定電位線である容量電極300に電気的に接続されている。   In order to prevent the image signal held here from leaking, a storage capacitor 70 is added in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode. One electrode of the storage capacitor 70 is connected to the drain of the TFT 30 in parallel with the pixel electrode 9a, and the other electrode is fixed electrically connected to the counter electrode potential line 99 so as to have the counter electrode potential LCCOM. The capacitor electrode 300 which is a potential line is electrically connected.

次に、上述の動作を実現する画素部の具体的構成について、図5から図7を参照して説明する。   Next, a specific configuration of the pixel portion that realizes the above-described operation will be described with reference to FIGS.

図5から図7では、上述した画素部の各回路要素が、パターン化され、積層された導電膜としてTFTアレイ基板10上に構築されている。TFTアレイ基板10は、例えば、ガラス基板、石英基板、SOI基板、半導体基板等からなり、例えばガラス基板や石英基板からなる対向基板20と対向配置されている。また、各回路要素は、下から順に、走査線11aを含む第1層、TFT30等を含む第2層、データ線6a等を含む第3層、蓄積容量70等を含む第4層、画素電極9a等を含む第5層からなる。また、第1層−第2層間には下地絶縁膜12、第2層−第3層間には第1層間絶縁膜41、第3層−第4層間には第2層間絶縁膜42、第4層−第5層間には第3層間絶縁膜43及び層間絶縁膜49がそれぞれ設けられ、前述の各要素間が短絡することを防止している。尚、このうち、第1層から第3層が下層部分として図5に示され、第4層から第5層が上層部分として図6に示されている。   5 to 7, each circuit element of the pixel portion described above is structured on the TFT array substrate 10 as a patterned and laminated conductive film. The TFT array substrate 10 is made of, for example, a glass substrate, a quartz substrate, an SOI substrate, a semiconductor substrate, and the like, and is disposed to face the counter substrate 20 made of, for example, a glass substrate or a quartz substrate. Each circuit element includes, in order from the bottom, the first layer including the scanning line 11a, the second layer including the TFT 30 and the like, the third layer including the data line 6a and the like, the fourth layer including the storage capacitor 70 and the like, and the pixel electrode It consists of the 5th layer containing 9a etc. Further, the base insulating film 12 is provided between the first layer and the second layer, the first interlayer insulating film 41 is provided between the second layer and the third layer, the second interlayer insulating film 42 is provided between the third layer and the fourth layer, and the fourth layer. A third interlayer insulating film 43 and an interlayer insulating film 49 are provided between the layer and the fifth layer, respectively, to prevent a short circuit between the aforementioned elements. Of these, the first to third layers are shown in FIG. 5 as lower layer portions, and the fourth to fifth layers are shown in FIG. 6 as upper layer portions.

(第1層の構成―走査線等―)
第1層は、走査線11aで構成されている。走査線11aは、図5のX方向に沿って延びる本線部と、データ線6aが延在する図5のY方向に延びる突出部とからなる形状にパターニングされている。このような走査線11aは、例えば導電性ポリシリコンからなり、その他にもチタン(Ti)、クロム(Cr)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、モリブデン(Mo)等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド又はこれらの積層体等により形成することができる。走査線11aは、TFT30の下層側に、チャネル領域1a´に対向する領域を含むように配置されている。このため、TFTアレイ基板10における裏面反射や、液晶装置をライトバルブとして用いて複板式のプロジェクタを構築した場合に、他の液晶装置から発せられプリズム等の合成光学系を突き抜けてくる光などの、戻り光についても、走査線11aによりチャネル領域1a´を下層側から遮光できる。
(Structure of the first layer-scanning lines, etc.)
The first layer is composed of scanning lines 11a. The scanning line 11a is patterned into a shape including a main line portion extending along the X direction in FIG. 5 and a protruding portion extending in the Y direction in FIG. 5 where the data line 6a extends. Such a scanning line 11a is made of, for example, conductive polysilicon, among other high melting point metals such as titanium (Ti), chromium (Cr), tungsten (W), tantalum (Ta), molybdenum (Mo), etc. It can be formed of a metal simple substance, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, or a laminate thereof including at least one of the above. The scanning line 11a is arranged on the lower layer side of the TFT 30 so as to include a region facing the channel region 1a ′. For this reason, when a double-plate type projector is constructed using a back surface reflection on the TFT array substrate 10 or a liquid crystal device as a light valve, light emitted from other liquid crystal devices and penetrating through a synthetic optical system such as a prism is used. As for return light, the channel region 1a 'can be shielded from the lower layer side by the scanning line 11a.

(第2層の構成―TFT等―)
第2層は、TFT30で構成されている。TFT30は、例えばLDD(Lightly Doped Drain)構造とされ、ゲート電極3a、半導体層1a、ゲート電極3a及び半導体層1aを絶縁するゲート絶縁膜を含んだ絶縁膜2を備えている。ゲート電極3aは、例えば導電性ポリシリコンで形成される。半導体層1aは、例えばポリシリコンからなり、チャネル領域1a´、低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1c、並びに高濃度ソース領域1d及び高濃度ドレイン領域1eからなる。尚、TFT30は、LDD構造を有することが好ましいが、低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1cに不純物打ち込みを行わないオフセット構造であってもよいし、ゲート電極3aをマスクとして不純物を高濃度に打ち込んで高濃度ソース領域及び高濃度ドレイン領域を形成する自己整合型であってもよい。
(Second layer configuration-TFT, etc.)
The second layer is composed of the TFT 30. The TFT 30 has an LDD (Lightly Doped Drain) structure, for example, and includes an insulating film 2 including a gate electrode 3a, a semiconductor layer 1a, a gate electrode 3a, and a gate insulating film that insulates the semiconductor layer 1a. The gate electrode 3a is made of, for example, conductive polysilicon. The semiconductor layer 1a is made of, for example, polysilicon, and includes a channel region 1a ′, a low concentration source region 1b and a low concentration drain region 1c, and a high concentration source region 1d and a high concentration drain region 1e. The TFT 30 preferably has an LDD structure. However, the TFT 30 may have an offset structure in which no impurity is implanted into the low concentration source region 1b and the low concentration drain region 1c. It may be a self-aligned type in which a high concentration source region and a high concentration drain region are formed by implanting the film.

TFT30のゲート電極3aは、その一部分3bにおいて、下地絶縁膜12に形成されたコンタクトホール12cvを介して走査線11aに電気的に接続されている。下地絶縁膜12は、例えばシリコン酸化膜等からなり、第1層と第2層の層間絶縁機能の他、TFTアレイ基板10の全面に形成されることで、基板表面の研磨による荒れや汚れ等が惹き起こすTFT30の素子特性の変化を防止する機能を有している。   The gate electrode 3a of the TFT 30 is electrically connected to the scanning line 11a through a contact hole 12cv formed in the base insulating film 12 in a part 3b thereof. The base insulating film 12 is made of, for example, a silicon oxide film, and is formed on the entire surface of the TFT array substrate 10 in addition to the interlayer insulating function between the first layer and the second layer. Has a function of preventing changes in the element characteristics of the TFT 30 caused by the above.

尚、本実施形態に係るTFT30は、トップゲート型であるが、ボトムゲート型であってもかまわない。   The TFT 30 according to the present embodiment is a top gate type, but may be a bottom gate type.

(第3層の構成―データ線等―)
第3層は、データ線6a及び中継層600で構成されている。
(3rd layer configuration-data lines, etc.)
The third layer is composed of a data line 6a and a relay layer 600.

データ線6aは、下から順にアルミニウム、窒化チタン、窒化シリコンの3層膜として形成されている。データ線6aは、TFT30のチャネル領域1a´を部分的に覆うように形成されている。このため、チャネル領域1a´に近接配置可能なデータ線6aによって、上層側からの入射光に対して、TFT30のチャネル領域1a´を遮光できる。データ線6aは、第1層間絶縁膜41を貫通するコンタクトホール81を介して、TFT30の高濃度ソース領域1dと電気的に接続されている。   The data line 6a is formed as a three-layer film of aluminum, titanium nitride, and silicon nitride in order from the bottom. The data line 6 a is formed so as to partially cover the channel region 1 a ′ of the TFT 30. For this reason, the channel region 1a ′ of the TFT 30 can be shielded against incident light from the upper layer side by the data line 6a that can be disposed close to the channel region 1a ′. The data line 6 a is electrically connected to the high concentration source region 1 d of the TFT 30 through a contact hole 81 that penetrates the first interlayer insulating film 41.

尚、データ線6aにおけるチャネル領域1a´に対向する側には、データ線6aの本体を構成するAl膜等の導電膜に比べて反射率が低い導電膜を形成してもよい。このようにすれば、データ線6aにおけるチャネル領域1a´に対向する側の面で戻り光が反射して、これから多重反射光や迷光等が発生することを防止できる。   Note that a conductive film having a lower reflectance than the conductive film such as an Al film constituting the main body of the data line 6a may be formed on the side of the data line 6a facing the channel region 1a ′. In this way, it is possible to prevent the return light from being reflected by the surface of the data line 6a facing the channel region 1a 'and generating multiple reflected light, stray light, and the like.

中継層600は、データ線6aと同一膜として形成されている。中継層600とデータ線6aとは、図5に示したように、夫々が分断されるように形成されている。中継層600は、第1層間絶縁膜41を貫通するコンタクトホール83を介して、TFT30の高濃度ドレイン領域1eと電気的に接続されている。   The relay layer 600 is formed as the same film as the data line 6a. As shown in FIG. 5, the relay layer 600 and the data line 6a are formed so as to be separated from each other. The relay layer 600 is electrically connected to the high-concentration drain region 1 e of the TFT 30 through a contact hole 83 that penetrates the first interlayer insulating film 41.

第1層間絶縁膜41は、例えばNSG(ノンシリケートガラス)によって形成されている。その他、第1層間絶縁膜41には、PSG(リンシリケートガラス)、BSG(ボロンシリケートガラス)、BPSG(ボロンリンシリケートガラス)等のシリケートガラス、窒化シリコンや酸化シリコン等を用いることができる。   The first interlayer insulating film 41 is made of, for example, NSG (non-silicate glass). In addition, for the first interlayer insulating film 41, silicate glass such as PSG (phosphorus silicate glass), BSG (boron silicate glass), BPSG (boron phosphorus silicate glass), silicon nitride, silicon oxide, or the like can be used.

(第4層の構成―蓄積容量等―)
第4層は、蓄積容量70で構成されている。蓄積容量70は、容量電極300と下部電極71とが誘電体膜75を介して対向配置された構成となっている。
(Fourth layer configuration-storage capacity, etc.)
The fourth layer includes a storage capacitor 70. The storage capacitor 70 has a configuration in which a capacitor electrode 300 and a lower electrode 71 are disposed to face each other with a dielectric film 75 interposed therebetween.

本発明に係る「上側電極」の一例としての容量電極300は、対向電極電位線99に電気的に接続されており、容量電極300の電位は対向電極電位LCCOMに保持される。   The capacitor electrode 300 as an example of the “upper electrode” according to the present invention is electrically connected to the counter electrode potential line 99, and the potential of the capacitor electrode 300 is held at the counter electrode potential LCCOM.

本発明に係る「下側電極」の一例である下部電極71は、第2層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール84を介して、中継層600と電気的に接続されている。即ち、下部電極71は、中継層600を介して、TFT30の高濃度ドレイン1eと電気的に接続されている。   The lower electrode 71, which is an example of the “lower electrode” according to the present invention, is electrically connected to the relay layer 600 through a contact hole 84 that penetrates the second interlayer insulating film 42. That is, the lower electrode 71 is electrically connected to the high concentration drain 1 e of the TFT 30 through the relay layer 600.

容量電極300又は下部電極71は、例えば、Ti、Cr、W、Ta、Mo等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの、或いは好ましくはタングステンシリサイドからなる。このため、データ線6a上に層間絶縁膜42を介して近接配置可能な蓄積容量70によって、上層側からの入射光に対してTFT30のチャネル領域1a´を、より一層確実に遮光できる。   Capacitance electrode 300 or lower electrode 71 is, for example, a metal simple substance containing at least one of refractory metals such as Ti, Cr, W, Ta, and Mo, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, and a laminate thereof. Or preferably, it consists of tungsten silicide. For this reason, the channel region 1 a ′ of the TFT 30 can be more reliably shielded from incident light from the upper layer side by the storage capacitor 70 that can be disposed close to the data line 6 a via the interlayer insulating film 42.

図6に示すように、誘電体膜75は、TFTアレイ基板10上で平面的に見て画素毎の開口領域の間隙に位置する非開口領域に形成されている、即ち、開口領域に殆ど形成されていない。よって、誘電体膜75が、仮に不透明な膜であっても、開口領域における透過率を低下させないで済む。従って、誘電体膜75は、透過率を考慮せず、誘電率が高いプラズマシリコン窒化膜(pSiN)等から形成されている。このため更に、誘電体膜75は、水分や湿気を防ぐための膜としても機能させることが可能となり、耐水性、耐湿性を高めることも可能となる。尚、誘電体膜としては、シリコン窒化膜の他、例えば、酸化ハフニュウム(HfO2)、アルミナ(Al2O3)、酸化タンタル(Ta2O5)等の単層膜又は多層膜を用いてもよい。   As shown in FIG. 6, the dielectric film 75 is formed in the non-opening region located in the gap between the opening regions for each pixel when viewed in plan on the TFT array substrate 10, that is, almost formed in the opening region. It has not been. Therefore, even if the dielectric film 75 is an opaque film, it is not necessary to reduce the transmittance in the opening region. Therefore, the dielectric film 75 is formed of a plasma silicon nitride film (pSiN) or the like having a high dielectric constant without considering the transmittance. For this reason, the dielectric film 75 can also function as a film for preventing moisture and moisture, and can also improve water resistance and moisture resistance. In addition to the silicon nitride film, for example, a single layer film or a multilayer film such as hafnium oxide (HfO 2), alumina (Al 2 O 3), tantalum oxide (Ta 2 O 5) or the like may be used as the dielectric film.

第2層間絶縁膜42は、例えばNSGによって形成されている。その他、第2層間絶縁膜42には、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス、窒化シリコンや酸化シリコン等を用いることができる。第2層間絶縁膜42の表面は、化学的研磨処理(Chemical Mechanical Polishing:CMP)や研磨処理、スピンコート処理、凹への埋め込み処理等の平坦化処理がなされている。よって、下層側のこれらの要素に起因した凹凸が除去され、第2層間絶縁層42の表面は平坦化されている。このため、TFTアレイ基板10と対向基板20との間に挟みこまれた液晶層50の配向状態に乱れを生じさせる可能性を低減することができ、より高品位な表示が可能となる。尚、このような平坦化処理は、他の層間絶縁膜の表面に対して行ってもよい。   The second interlayer insulating film 42 is made of, for example, NSG. In addition, for the second interlayer insulating film 42, silicate glass such as PSG, BSG, or BPSG, silicon nitride, silicon oxide, or the like can be used. The surface of the second interlayer insulating film 42 is subjected to a planarization process such as a chemical polishing process (CMP), a polishing process, a spin coat process, or a recess embedding process. Therefore, the unevenness caused by these elements on the lower layer side is removed, and the surface of the second interlayer insulating layer 42 is flattened. For this reason, the possibility of causing disturbance in the alignment state of the liquid crystal layer 50 sandwiched between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 can be reduced, and higher-quality display can be achieved. Such planarization may be performed on the surface of another interlayer insulating film.

(第5層の構成―画素電極等―)
第4層の全面には第3層間絶縁膜43が形成され、更にその上に、第5層として画素電極9aが形成されている。第3層間絶縁膜43は、例えばNSGによって形成されている。その他、第3層間絶縁膜43には、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス、窒化シリコンや酸化シリコン等を用いることができる。第3層間絶縁膜43の表面は、第2層間絶縁膜42と同様にCMP等の平坦化処理がなされている。
(Fifth layer configuration-pixel electrode, etc.)
A third interlayer insulating film 43 is formed on the entire surface of the fourth layer, and a pixel electrode 9a is formed thereon as a fifth layer. The third interlayer insulating film 43 is made of, for example, NSG. In addition, the third interlayer insulating film 43 can be made of silicate glass such as PSG, BSG, or BPSG, silicon nitride, silicon oxide, or the like. The surface of the third interlayer insulating film 43 is subjected to a planarization process such as CMP similarly to the second interlayer insulating film 42.

画素電極9a(図6中、破線9a´で輪郭が示されている)は、縦横に区画配列された画素領域の各々に配置され、その境界にデータ線6a及び走査線11aが格子状に配列するように形成されている(図5及び図6参照)。画素電極9aは、例えばITO(Indium Tin Oxide)等の透明導電膜からなる。   The pixel electrode 9a (the outline is indicated by a broken line 9a 'in FIG. 6) is arranged in each of the pixel areas partitioned and arranged vertically and horizontally, and the data lines 6a and the scanning lines 11a are arranged in a grid at the boundary. (See FIGS. 5 and 6). The pixel electrode 9a is made of a transparent conductive film such as ITO (Indium Tin Oxide).

画素電極9aは、層間絶縁膜43を貫通するコンタクトホール85を介して、下部電極71と電気的に接続されている(図7参照)。即ち、下部電極71の電位は、画素電位となっている。   The pixel electrode 9a is electrically connected to the lower electrode 71 through a contact hole 85 that penetrates the interlayer insulating film 43 (see FIG. 7). That is, the potential of the lower electrode 71 is a pixel potential.

下部電極71、中継層600、及びTFT30の高濃度ドレイン領域1eは、コンタクトホール84及び83を介して、電気的に接続されている。即ち、画素電極9aとTFT30の高濃度ドレイン領域1eとは、中継層600及び容量電極300を中継して中継接続されている。従って、画素電極9a及びドレイン間の層間距離が長くて一つのコンタクトホールで両者間を接続するのが困難となる事態を回避できる。しかも、積層構造及び製造工程の複雑化を招かない。   The lower electrode 71, the relay layer 600, and the high concentration drain region 1 e of the TFT 30 are electrically connected via contact holes 84 and 83. That is, the pixel electrode 9a and the high-concentration drain region 1e of the TFT 30 are relay-connected through the relay layer 600 and the capacitor electrode 300. Therefore, it is possible to avoid a situation in which it is difficult to connect the pixel electrode 9a and the drain with a single contact hole due to a long interlayer distance. In addition, the laminated structure and the manufacturing process are not complicated.

画素電極9aの上側には、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜16が設けられている。   An alignment film 16 that has been subjected to a predetermined alignment process such as a rubbing process is provided above the pixel electrode 9a.

以上が、TFTアレイ基板10側の画素部の構成である。   The above is the configuration of the pixel portion on the TFT array substrate 10 side.

他方、対向基板20には、その対向面の全面に対向電極21が設けられており、更にその上(図7では対向電極21の下側)に配向膜22が設けられている。対向電極21は、画素電極9aと同様、例えばITO膜等の透明導電性膜からなる。尚、対向基板20と対向電極21の間には、TFT30における光リーク電流の発生等を防止するため、少なくともTFT30と正対する領域を覆うように遮光膜23が設けられている。   On the other hand, the counter substrate 20 is provided with a counter electrode 21 on the entire surface of the counter substrate 20, and an alignment film 22 is further provided thereon (under the counter electrode 21 in FIG. 7). As with the pixel electrode 9a, the counter electrode 21 is made of a transparent conductive film such as an ITO film. A light-shielding film 23 is provided between the counter substrate 20 and the counter electrode 21 so as to cover at least a region facing the TFT 30 in order to prevent generation of light leakage current in the TFT 30.

このように構成されたTFTアレイ基板10及び対向基板20の間には、液晶層50が設けられている。液晶層50は、TFTアレイ基板10及び対向基板20の周縁部をシール材により封止して形成した空間に液晶を封入して形成される。液晶層50は、画素電極9aと対向電極21との間に電界が印加されていない状態において、ラビング処理等の配向処理が施された配向膜16及び配向膜22によって、所定の配向状態をとるようになっている。   A liquid crystal layer 50 is provided between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 thus configured. The liquid crystal layer 50 is formed by sealing liquid crystal in a space formed by sealing the peripheral portions of the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 with a sealing material. The liquid crystal layer 50 takes a predetermined alignment state by the alignment film 16 and the alignment film 22 that have been subjected to an alignment process such as a rubbing process in a state where an electric field is not applied between the pixel electrode 9 a and the counter electrode 21. It is like that.

以上に説明した画素部の構成は、図5及び図6に示すように、各画素部に共通である。前述の画像表示領域10a(図1参照)には、かかる画素部が周期的に形成されていることになる。他方、このような液晶装置では、画像表示領域10aの周囲に位置する周辺領域に、図1及び図2を参照して説明したように、走査線駆動回路104及びデータ線駆動回路101等の駆動回路が形成されている。   The configuration of the pixel portion described above is common to each pixel portion as shown in FIGS. Such pixel portions are periodically formed in the image display region 10a (see FIG. 1). On the other hand, in such a liquid crystal device, as described with reference to FIGS. 1 and 2, the scanning line driving circuit 104, the data line driving circuit 101, and the like are driven in the peripheral area located around the image display area 10a. A circuit is formed.

次に、図7に加えて、図8及び図9を参照しながら放電抵抗700の構成を説明する。図8は、図3におけるC1の部分拡大平面図である。図9は、図8におけるB−B´線断面図である。   Next, the configuration of the discharge resistor 700 will be described with reference to FIGS. 8 and 9 in addition to FIG. FIG. 8 is a partially enlarged plan view of C1 in FIG. 9 is a cross-sectional view taken along line BB ′ in FIG.

図8において、対向電極電位線99は、放電抵抗700としての放電抵抗700Lを介して、接地電位線93aに電気的に接続されている。   In FIG. 8, the counter electrode potential line 99 is electrically connected to the ground potential line 93a through a discharge resistor 700L as the discharge resistor 700.

画像信号線91は、シリアル−パラレル展開された複数の画像信号VID1〜VID6が供給される複数の画像信号線91A〜91Fからなり、複数の画像信号線91A〜91Fの夫々は、放電抵抗700として複数の放電抵抗700a〜700fのうち対応する一の放電抵抗を介して接地電位線93aに電気的に接続されている。   The image signal line 91 includes a plurality of image signal lines 91 </ b> A to 91 </ b> F to which a plurality of image signals VID <b> 1 to VID <b> 6 developed serially and in parallel are supplied. Each of the plurality of image signal lines 91 </ b> A to 91 </ b> F is a discharge resistor 700. The plurality of discharge resistors 700a to 700f are electrically connected to the ground potential line 93a via a corresponding one discharge resistor.

図9において、放電抵抗700は、TFTアレイ基板10上に下地絶縁膜12を介して、不純物ドープされた半導体層700aから構成されている。半導体層700aには、画素スイッチング用のTFTを構成する半導体膜に対して行われる不純物ドープとは別である専用の不純物ドープが行なわれることで、半導体素子を構成する半導体膜とは異なる抵抗値を有する。更に、放電抵抗700と画像信号線91及び対向電極電位線99との接続部には、放電抵抗700よりも高濃度に不純物ドープされた半導体層700aから構成された高濃度不純物ドープ部分700d及び700eが局所的に存在している。放電抵抗700上には、高濃度不純物ドープ部分700d及び700eへ通じるコンタクトホール86及び87が夫々開孔された第1層間絶縁膜41が形成されている。   In FIG. 9, the discharge resistor 700 is composed of a semiconductor layer 700 a doped with impurities on the TFT array substrate 10 via a base insulating film 12. The semiconductor layer 700a is subjected to a dedicated impurity doping that is different from the impurity doping performed on the semiconductor film constituting the pixel switching TFT, so that the resistance value is different from that of the semiconductor film constituting the semiconductor element. Have Further, at the connection portion between the discharge resistor 700 and the image signal line 91 and the counter electrode potential line 99, high-concentration impurity doped portions 700d and 700e each composed of a semiconductor layer 700a doped with an impurity higher than the discharge resistor 700. Exists locally. On the discharge resistor 700, a first interlayer insulating film 41 in which contact holes 86 and 87 leading to the high-concentration impurity doped portions 700d and 700e are formed, respectively.

第1層間絶縁層41の上には、対向電極電位線99及び接地電位線93aが形成されている。対向電極電位線99は、コンタクトホール86を介して、高濃度不純物ドープ部分700dに電気的に接続されており、接地電位線93aは、コンタクトホール87を介して、高濃度不純物ドープ部分700eに電気的に接続されている。対向電極電位線99上には第2層間絶縁膜42及び第3層間絶縁膜43が順に形成されており、接地電位線93a上には第3層間絶縁膜43が形成されている。   On the first interlayer insulating layer 41, a counter electrode potential line 99 and a ground potential line 93a are formed. The counter electrode potential line 99 is electrically connected to the high concentration impurity doped portion 700d through the contact hole 86, and the ground potential line 93a is electrically connected to the high concentration impurity doped portion 700e through the contact hole 87. Connected. A second interlayer insulating film 42 and a third interlayer insulating film 43 are sequentially formed on the counter electrode potential line 99, and a third interlayer insulating film 43 is formed on the ground potential line 93a.

尚、本実施形態においては、放電抵抗700は、データ線駆動回路用の接地電位線93aに接続されているが、走査線駆動回路用の接地電位線93bに接続されていてもよい。   In the present embodiment, the discharge resistor 700 is connected to the ground potential line 93a for the data line driving circuit, but may be connected to the ground potential line 93b for the scanning line driving circuit.

また、画像信号線91は、対応するコンタクトホール及び接地電位線93aを介して各放電抵抗700に電気的に接続されている。したがって、したがって、画像信号線91及び対向電極電位線99の夫々に蓄積された電荷を接地電位線93aに逃がすことが可能である。   Further, the image signal line 91 is electrically connected to each discharge resistor 700 through a corresponding contact hole and a ground potential line 93a. Therefore, the charges accumulated in the image signal line 91 and the counter electrode potential line 99 can be released to the ground potential line 93a.

次に、図10乃至図15を参照しながら、本実施形態に係る端子部の構成を説明する。図10乃至図12は、複数の外部回路接続端子102のうち画像信号線91に電気的に接続された外部回路接続端子102d、接地電位線93aに電気的に接続された外部回路接続端子102e、及び対向電極電位線99に電気的に接続された外部回路接続端子102fの夫々の構成を示す平面図である。図13は、図10におけるD−D´線断面図である。図14は、図11におけるE−E´線断面図である。図15は、図12におけるF−F´線断面図である。   Next, the configuration of the terminal portion according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 10 to 15. 10 to 12 show an external circuit connection terminal 102d electrically connected to the image signal line 91 among the plurality of external circuit connection terminals 102, an external circuit connection terminal 102e electrically connected to the ground potential line 93a, 4 is a plan view showing the configuration of each of the external circuit connection terminals 102 f electrically connected to the counter electrode potential line 99. 13 is a cross-sectional view taken along the line DD ′ in FIG. 14 is a cross-sectional view taken along line EE ′ in FIG. 15 is a cross-sectional view taken along line FF ′ in FIG.

図13乃至図15に示すように、液晶装置1は、TFTアレイ基板10上の周辺領域のうちシール領域52aの外側に本発明の第1の発明に係る「他の端子部」の夫々一例である外部回路接続端子102d及び102e、並びに本発明の第1の発明に係る「端子部」の一例である102fを備えている。液晶装置1は、外部回路接続端子102d、102e及び102fの夫々に対応して中継配線91d、中継配線91e、中継層901e、コンタクトホール191e及び192e、中継配線93e、中継配線91f、中継層901f、コンタクトホール191f及び192f、中継配線93f、コンタクトホール193f、及び中継配線99fを備えている。尚、外部回路接続端子102d、102e及び102fは、画像信号線91を構成する導電膜、即ち、容量電極300を構成する導電膜と同一膜から形成されている。即ち、中継配線91d及び91eの夫々が、本発明の第1の発明に係る「他の導電膜」の一例である。   As shown in FIGS. 13 to 15, the liquid crystal device 1 is an example of “another terminal portion” according to the first invention of the present invention outside the seal region 52 a in the peripheral region on the TFT array substrate 10. Some external circuit connection terminals 102d and 102e and 102f which is an example of the “terminal portion” according to the first aspect of the present invention are provided. The liquid crystal device 1 corresponds to each of the external circuit connection terminals 102d, 102e, and 102f. Contact holes 191f and 192f, relay wiring 93f, contact holes 193f, and relay wiring 99f are provided. The external circuit connection terminals 102d, 102e, and 102f are formed of the same film as the conductive film forming the image signal line 91, that is, the conductive film forming the capacitor electrode 300. That is, each of the relay wirings 91d and 91e is an example of “another conductive film” according to the first invention of the present invention.

図13乃至図15に示すように、誘電体膜75は、TFTアレイ基板10上の周辺領域のうちシール領域52aの外側に延在する延在部75sを有している。延在部75sの下層側には、層間絶縁膜49が、例えばNSGによって形成されている。尚、層間絶縁膜49は、NSGの他、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス、窒化シリコンや酸化シリコン等を用いることができる。   As shown in FIGS. 13 to 15, the dielectric film 75 has an extending portion 75 s extending outside the seal region 52 a in the peripheral region on the TFT array substrate 10. On the lower layer side of the extending portion 75s, an interlayer insulating film 49 is formed by NSG, for example. The interlayer insulating film 49 may be made of silicate glass such as PSG, BSG, or BPSG, silicon nitride, silicon oxide, or the like in addition to NSG.

図10及び図13において、外部回路接続端子102dは、中継配線91dに電気的に接続されている。中継配線91dは、誘電体膜75のうちシール領域52aの外側に延びる延在部75s上に形成された外部回路接続端子102dと同一膜として一体的に形成されている。より具体的には、外部回路接続端子102dは、中継配線91dのうち第3層間絶縁膜43に形成された開口部に露出する部分である。   10 and 13, the external circuit connection terminal 102d is electrically connected to the relay wiring 91d. The relay wiring 91d is integrally formed as the same film as the external circuit connection terminal 102d formed on the extending portion 75s extending outside the seal region 52a in the dielectric film 75. More specifically, the external circuit connection terminal 102d is a portion exposed to the opening formed in the third interlayer insulating film 43 in the relay wiring 91d.

図11及び図14に示すように、外部回路接続端子102eは、中継配線93eに電気的に接続された中継配線91eのうち、第3層間絶縁膜43に形成された開口部から露出した部分である。中継配線91eは、図6に示した誘電体膜75のうちシール領域の外側に延びる延在部75s上に形成されており、中継配線91dが形成された層と同一層に同一膜として形成されている。中継層901eは、第3層間絶縁膜43上に画素電極9aと同一機会に形成された同一膜である。中継層901eは、中継配線91eに電気的に接続されたコンタクトホール191eと、延在部75sの下側の形成された層間絶縁膜49の下層側に延びる中継配線93eに電気的に接続されたコンタクトホール192eとを電気的に中継接続する。したがって、中継層901eは、中継配線93e及び外部回路接続端子102eを電気的に接続しており、外部回路接続端子102eに供給される接地電位である第2電源信号VSSXが中継層901eを介して中継配線93eに供給される。   As shown in FIGS. 11 and 14, the external circuit connection terminal 102e is a portion exposed from the opening formed in the third interlayer insulating film 43 in the relay wiring 91e electrically connected to the relay wiring 93e. is there. The relay wiring 91e is formed on the extending portion 75s extending outside the seal region in the dielectric film 75 shown in FIG. 6, and is formed in the same layer as the layer where the relay wiring 91d is formed as the same film. ing. The relay layer 901e is the same film formed on the third interlayer insulating film 43 on the same occasion as the pixel electrode 9a. The relay layer 901e is electrically connected to the contact hole 191e electrically connected to the relay wiring 91e and the relay wiring 93e extending to the lower layer side of the interlayer insulating film 49 formed below the extending portion 75s. The contact hole 192e is electrically relay-connected. Therefore, the relay layer 901e electrically connects the relay wiring 93e and the external circuit connection terminal 102e, and the second power supply signal VSSX that is the ground potential supplied to the external circuit connection terminal 102e is passed through the relay layer 901e. It is supplied to the relay wiring 93e.

中継配線93eは、図3、図8及び図9に示した接地電位線93aと同一膜として形成されており、接地電位線93aと相互に電気的に接続されている。   The relay wiring 93e is formed as the same film as the ground potential line 93a shown in FIGS. 3, 8, and 9, and is electrically connected to the ground potential line 93a.

コンタクトホール192eは、第3層間絶縁膜43、延在部75s及び層間絶縁膜49を貫通する孔部に画素電極9aを構成する導電材料が埋め込まれて形成されている。したがって、延在部75s、即ち誘電体膜75のうちコンタクトホール192eが形成されない領域に位置する部分は、第3層間絶縁膜43によって覆われており、コンタクトホール192eを形成する際に第3層間絶縁膜43、延在部75s及び層間絶縁膜49に施すエッチング処理によって誘電体膜75のうちコンタクトホール192eが形成されない領域に位置する部分の特性が劣化することを低減できる。   The contact hole 192e is formed by embedding a conductive material constituting the pixel electrode 9a in a hole that penetrates the third interlayer insulating film 43, the extending portion 75s, and the interlayer insulating film 49. Therefore, the extension 75s, that is, the portion of the dielectric film 75 that is located in the region where the contact hole 192e is not formed is covered with the third interlayer insulating film 43, and the third interlayer is formed when the contact hole 192e is formed. It is possible to reduce the deterioration of the characteristics of the portion of the dielectric film 75 located in the region where the contact hole 192e is not formed by the etching process performed on the insulating film 43, the extending portion 75s, and the interlayer insulating film 49.

図12及び図15に示すように、本発明の第1の発明に係る「端子部」の一例である外部回路接続端子102fは、本発明の第1の発明に係る「第1導電膜」の一例である中継配線91f、本発明の第1の発明に係る「第2導電膜」の一例である中継配線93f、及び本発明の第1の発明に係る「第3導電膜」の一例である中継配線99fのうち本発明の第1の発明に係る「一の導電膜」の一例とされる中継配線91fが、第3層間絶縁膜43の開口部から露出する部分である。   As shown in FIGS. 12 and 15, the external circuit connection terminal 102f, which is an example of the “terminal portion” according to the first aspect of the present invention, is the “first conductive film” according to the first aspect of the present invention. It is an example of the relay wiring 91f as an example, the relay wiring 93f as an example of the “second conductive film” according to the first invention of the present invention, and the “third conductive film” according to the first invention of the present invention. Of the relay wiring 99f, the relay wiring 91f as an example of “one conductive film” according to the first aspect of the present invention is a portion exposed from the opening of the third interlayer insulating film 43.

中継配線99fは、第1層間絶縁膜41上に形成されたデータ線6a及び中継層600と同一層に同一膜として形成されている。したがって、中継配線99fは、対向電極電位線99と同一膜として形成されており、相互に電気的に接続されている。中継配線93fは、第2層間絶縁膜42上に下側電極71及び接地電位線93aと同一膜として形成されている。中継配線99fは、第2層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール193fを介して、中継配線93fに電気的に接続されている。   The relay wiring 99 f is formed as the same film in the same layer as the data line 6 a and the relay layer 600 formed on the first interlayer insulating film 41. Therefore, the relay wiring 99f is formed as the same film as the counter electrode potential line 99 and is electrically connected to each other. The relay wiring 93f is formed on the second interlayer insulating film 42 as the same film as the lower electrode 71 and the ground potential line 93a. The relay wiring 99f is electrically connected to the relay wiring 93f through a contact hole 193f that penetrates the second interlayer insulating film 42.

中継配線91fは、誘電体膜75の延在部75s上に形成されている。中継配線91fは、中継配線91d及び91e、並びに容量電極300と同一膜として形成されており、本発明の第1の発明に係る「第1コンタクトホール」の一例であるコンタクトホール191f、本発明の第1の発明に係る「中継層」の一例である中継層901f、及び本発明の第1の発明に係る「第2コンタクトホール」の一例であるコンタクトホール192fを介して中継配線93fに電気的に接続されている。したがって、外部回路接続端子102fは、コンタクトホール191f、中継層901f、コンタクトホール192f、中継配線93f及びコンタクトホール193を介して中継配線99fに電気的に接続されている。したがって、外部回路接続端子102fに供給される対向電極電位LCCOMは、外部回路接続端子102fの下層側に位置する中継配線99fに電気的に接続された対向電極電位線99に供給される。   The relay wiring 91 f is formed on the extending portion 75 s of the dielectric film 75. The relay wiring 91f is formed as the same film as the relay wirings 91d and 91e and the capacitor electrode 300, and is a contact hole 191f which is an example of the “first contact hole” according to the first invention of the present invention. The relay layer 901f, which is an example of the “relay layer” according to the first invention, and the relay wiring 93f via the contact hole 192f, which is an example of the “second contact hole” according to the first invention of the present invention. It is connected to the. Therefore, the external circuit connection terminal 102f is electrically connected to the relay wiring 99f through the contact hole 191f, the relay layer 901f, the contact hole 192f, the relay wiring 93f, and the contact hole 193. Therefore, the counter electrode potential LCCOM supplied to the external circuit connection terminal 102f is supplied to the counter electrode potential line 99 that is electrically connected to the relay wiring 99f located on the lower layer side of the external circuit connection terminal 102f.

コンタクトホール191f及び192fは、コンタクトホール191e及び192eと同様の方法を用いて形成されている。したがって、誘電体膜75のうちコンタクトホール192fが形成されない領域に位置する部分は、第3層間絶縁膜43によって覆われており、コンタクトホール192eを形成する際に第3層間絶縁膜43、延在部75s及び層間絶縁膜49に施すエッチング処理によって誘電体膜75のうちコンタクトホール192eが形成されない領域に位置する部分の特性が劣化することを低減できる。   The contact holes 191f and 192f are formed using the same method as the contact holes 191e and 192e. Therefore, a portion of the dielectric film 75 located in a region where the contact hole 192f is not formed is covered with the third interlayer insulating film 43, and the third interlayer insulating film 43 extends when the contact hole 192e is formed. It is possible to reduce the deterioration of the characteristics of the portion of the dielectric film 75 located in the region where the contact hole 192e is not formed by the etching process performed on the portion 75s and the interlayer insulating film 49.

より具体的には、本実施形態では特に、上述の如き中継層901e及び901fを備えているので、コンタクトホール192e及び192fを開孔する際のフォトエッチングは、誘電体膜75の延在部75sに層間絶縁膜43がある状態で行われる。即ち、誘電体膜75の延在部75sに、直接即ち該延在部75s上に層間絶縁膜がない状態(言い換えれば、誘電体膜75の延在部75sの上層側の表面が大気又は雰囲気にさらされた状態、即ち誘電体膜75が露出された状態)で施さずに済む。   More specifically, in the present embodiment, since the relay layers 901e and 901f are provided as described above, the photoetching when opening the contact holes 192e and 192f is performed by the extending portion 75s of the dielectric film 75. In the state where the interlayer insulating film 43 is present. That is, the extended portion 75s of the dielectric film 75 has no interlayer insulating film directly, that is, on the extended portion 75s (in other words, the surface on the upper layer side of the extended portion 75s of the dielectric film 75 has an atmosphere or atmosphere. In a state where the dielectric film 75 is exposed).

すなわち、仮に中継配線91eから直接93eに達するコンタクトホールを開口しようとすると、誘電体膜75が露出した状態でエッチングを行わなくてはならないから、誘電体膜75にダメージを与えてしまうおそれがあるが、上述の構成であれば、誘電体膜75が露出した状態ではエッチングが行われないので、上記の不具合を解消できる。   That is, if an attempt is made to open a contact hole that reaches 93e directly from the relay wiring 91e, etching must be performed with the dielectric film 75 exposed, which may damage the dielectric film 75. However, with the above-described configuration, etching is not performed in a state where the dielectric film 75 is exposed, and thus the above-described problem can be solved.

よって、コンタクトホールを開孔するためのフォトエッチング等のエッチング処理を誘電体膜75の延在部75sに施すことによって、画素電極9aに電気的に接続された蓄積容量70を構成する誘電体膜75の特性に悪影響を及ぼしてしまうことを抑制或いは防止できる。これにより、画像表示におけるコントラストが低減してしまう等、画像品質が劣化してしまうことを抑制或いは防止できる。   Therefore, the dielectric film constituting the storage capacitor 70 electrically connected to the pixel electrode 9a by performing an etching process such as photoetching for opening the contact hole on the extending portion 75s of the dielectric film 75. It is possible to suppress or prevent adverse effects on the 75 characteristics. Thereby, it can suppress or prevent that image quality deteriorates, such as the contrast in image display reducing.

本実施形態に係る液晶装置1によれば、対向電極電位線99に対向電極電位LCCOMを供給するための外部回路接続端子102fが中継配線91dと同層に形成された中継配線91fに形成されているため、相互に外部回路接続端子の高さ方向に沿った位置を統一できる。したがって、高さ方向に沿って互いに異なる位置に形成された外部回路接続端子によって生じる段差を低減できる。よって、このような段差に起因して生じるラビングムラを低減でき、画質の低下を抑制することが可能である。   According to the liquid crystal device 1 according to the present embodiment, the external circuit connection terminal 102f for supplying the counter electrode potential LCCOM to the counter electrode potential line 99 is formed in the relay wiring 91f formed in the same layer as the relay wiring 91d. Therefore, the positions along the height direction of the external circuit connection terminals can be unified. Therefore, the level | step difference produced by the external circuit connection terminal formed in the mutually different position along the height direction can be reduced. Therefore, rubbing unevenness caused by such a step can be reduced, and deterioration in image quality can be suppressed.

加えて、中継配線91d及び91fと同層に形成された中継配線91eの一部である外部回路接続端子102eは、接地電位線93aに電気的に接続された中継配線91eに接続されているため、画像信号、第2電源信号VSSX、及び対向電極電位LCCOMの夫々が供給される外部回路接続端子102d、102e及び102fの高さ方向に沿った位置を統一できる。従って、ラビング処理の際に発生し得る、複数の外部回路接続端子102のエッチング深さの差異に起因したラビングロールの乱れ(即ち、ラビングロールのクロス材の毛乱れ)を殆ど無くすことができ、殆ど均一にラビング処理を行うことができる。その結果、ラビングロールの乱れに起因して画像表示におけるラビングスジが発生してしまうことを抑制或いは防止できる。   In addition, the external circuit connection terminal 102e, which is a part of the relay wiring 91e formed in the same layer as the relay wirings 91d and 91f, is connected to the relay wiring 91e that is electrically connected to the ground potential line 93a. The positions along the height direction of the external circuit connection terminals 102d, 102e, and 102f to which the image signal, the second power supply signal VSSX, and the counter electrode potential LCCOM are supplied can be unified. Therefore, the rubbing roll disorder (that is, the rubbing roll cloth hair disorder) caused by the difference in etching depth of the plurality of external circuit connection terminals 102 that can occur during the rubbing treatment can be almost eliminated. The rubbing process can be performed almost uniformly. As a result, it is possible to suppress or prevent the occurrence of rubbing streaks in image display due to the rubbing roll disturbance.

本実施形態に係る液晶装置1では、特に外部回路接続端子102d、102e及び102fが容量電極300と同一層、即ち画像信号線91、接地電位線93a及び対向電極電位線99のうち最も上層に位置する配線と同一層に設けられているため、下層側に外部回路接続端子を設ける場合に比べて相対的に中継層901との間に生じる段差がより一層低減されており、ラビングムラを低減させる観点からみれば、外部回路接続端子の位置はより好ましい位置に統一されていることになる。   In the liquid crystal device 1 according to this embodiment, the external circuit connection terminals 102d, 102e, and 102f are particularly located in the same layer as the capacitor electrode 300, that is, the uppermost layer among the image signal line 91, the ground potential line 93a, and the counter electrode potential line 99. Since the wiring layer is provided in the same layer as the wiring to be connected, the step generated between the relay layer 901 and the external circuit connection terminal on the lower layer side is further reduced and the rubbing unevenness is reduced. In view of this, the positions of the external circuit connection terminals are unified at a more preferable position.

外部回路接続端子102d、102e及び102fによれば、これら外部回路接続端子の夫々に電気的に接続される、例えば画像信号線91、接地電位線93a、及び対向電極電位線99をTFTアレイ基板10上で相互に重なるように互いに異なる層の夫々に形成できるため、これら配線を形成するために要する面積を低減できる。したがって、TFTアレイ基板10のサイズを縮小することができ、液晶装置1を小型化することが可能である。   According to the external circuit connection terminals 102d, 102e, and 102f, for example, the image signal line 91, the ground potential line 93a, and the counter electrode potential line 99 that are electrically connected to each of these external circuit connection terminals are connected to the TFT array substrate 10. Since different layers can be formed so as to overlap each other, the area required to form these wirings can be reduced. Therefore, the size of the TFT array substrate 10 can be reduced, and the liquid crystal device 1 can be reduced in size.

本実施形態では特に、中継層901e及び901fは、周辺領域のうちシール領域52aの外側に配置されているので、画像表示領域10aにおける画像表示を殆ど或いは全く妨げることなく、且つ、TFTアレイ基板10のサイズを殆ど或いは全く大きくすることなく、外部回路接続端子102e及び102fの夫々を接地電位線93a及び対向電極電位線99の夫々に電気的に接続することも可能である。   In the present embodiment, in particular, the relay layers 901e and 901f are arranged outside the seal region 52a in the peripheral region, so that the image display in the image display region 10a is hardly or not disturbed, and the TFT array substrate 10 The external circuit connection terminals 102e and 102f can be electrically connected to the ground potential line 93a and the counter electrode potential line 99, respectively, with little or no increase in size.

(変形例)
次に、図16乃至図21を参照しながら、本実施形態の液晶装置の変形例を説明する。尚、以下では上述の液晶装置1と共通する部分に共通の参照符号を付して説明し、共通する部分の詳細な説明を省略する。図16乃至図18は、中継配線91gに電気的に接続された外部回路接続端子102g、中継配線93hに電気的に接続された外部回路接続端子102h、及び中継配線99iに電気的に接続された外部回路接続端子102iの夫々の構成を示す平面図である。尚、中継配線91gは、画像信号線91に電気的に接続されている。中継配線93hは、接地電位線93aに電気的に接続されている。中継配線99iは、対向電極電位線99に電気的に接続されている。図19は、図16におけるG−G´線断面図である。図20は、図17におけるH−H´線断面図である。図21は、図18におけるI−I´線断面図である。尚、以下では、外部回路接続端子の構成を主として説明する。
(Modification)
Next, a modification of the liquid crystal device of the present embodiment will be described with reference to FIGS. In the following description, parts common to the above-described liquid crystal device 1 are denoted by common reference numerals, and detailed description of common parts is omitted. 16 to 18, the external circuit connection terminal 102g electrically connected to the relay wiring 91g, the external circuit connection terminal 102h electrically connected to the relay wiring 93h, and the relay wiring 99i are electrically connected. It is a top view which shows each structure of the external circuit connection terminal 102i. The relay wiring 91g is electrically connected to the image signal line 91. The relay wiring 93h is electrically connected to the ground potential line 93a. The relay wiring 99i is electrically connected to the counter electrode potential line 99. 19 is a cross-sectional view taken along the line GG ′ in FIG. FIG. 20 is a cross-sectional view taken along the line HH ′ in FIG. 21 is a cross-sectional view taken along the line II ′ in FIG. Hereinafter, the configuration of the external circuit connection terminal will be mainly described.

図16及び図19に示すように、本発明の第1の発明に係る「端子部」の一例である外部回路接続端子102gは、本発明の第1の発明に係る「第3導電膜」の一例である中継配線99g、本発明の第1の発明に係る「第2導電膜」の一例である中継配線93g、及び本発明の第1の発明に係る「第1導電膜」の一例である中継配線91gのうち本発明の第1の発明に係る「一の導電膜」の一例とされる中継配線99gが、第3層間絶縁膜43の開口部から露出する部分である。   As shown in FIGS. 16 and 19, the external circuit connection terminal 102g, which is an example of the “terminal portion” according to the first aspect of the present invention, is formed of the “third conductive film” according to the first aspect of the present invention. It is an example of the relay wiring 99g as an example, the relay wiring 93g as an example of the “second conductive film” according to the first invention of the present invention, and the “first conductive film” according to the first invention of the present invention. Of the relay wiring 91g, the relay wiring 99g, which is an example of “one conductive film” according to the first aspect of the present invention, is a portion exposed from the opening of the third interlayer insulating film 43.

中継配線99gは、第1層間絶縁膜41上に形成されたデータ線6a及び中継層600と同一層に同一膜として形成されている。中継配線93gは、第2層間絶縁膜42上に下側電極71及び接地電位線93aと同一膜として形成されている。中継配線99gは、第2層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール193gを介して、中継配線93gに電気的に接続されている。   The relay wiring 99g is formed as the same film in the same layer as the data line 6a and the relay layer 600 formed on the first interlayer insulating film 41. The relay wiring 93g is formed on the second interlayer insulating film 42 as the same film as the lower electrode 71 and the ground potential line 93a. The relay wiring 99g is electrically connected to the relay wiring 93g through a contact hole 193g penetrating the second interlayer insulating film 42.

中継配線91gは、誘電体膜75の延在部75s上に形成されている。中継配線91gは、容量電極300と同一膜として形成されており、本発明の第1の発明に係る「第1コンタクトホール」の一例であるコンタクトホール192g、中継層901g、及び本発明の第1の発明に係る「第2コンタクトホール」の一例であるコンタクトホール191gを介して中継配線93gに電気的に接続されている。中継層901gは、第3層間絶縁膜43上に画素電極9aと同一膜として形成されている。コンタクトホール191gは、第3層間絶縁膜43、延在部75s及び層間絶縁膜49を貫通する孔部に画素電極9aを構成する導電材料を埋め込んで形成されている。   The relay wiring 91g is formed on the extending portion 75s of the dielectric film 75. The relay wiring 91g is formed as the same film as the capacitor electrode 300, and is a contact hole 192g which is an example of the “first contact hole” according to the first invention of the present invention, the relay layer 901g, and the first of the present invention. It is electrically connected to the relay wiring 93g through a contact hole 191g which is an example of the “second contact hole” according to the present invention. The relay layer 901g is formed on the third interlayer insulating film 43 as the same film as the pixel electrode 9a. The contact hole 191g is formed by burying a conductive material constituting the pixel electrode 9a in a hole that penetrates the third interlayer insulating film 43, the extending portion 75s, and the interlayer insulating film 49.

したがって、外部回路接続端子102gは、中継配線99g、コンタクトホール193g、中継配線93g、コンタクトホール191g、中継層901g及びコンタクトホール192gを介して、外部回路接続端子102gの上層側に形成された中継配線91gに電気的に接続されている。中継配線91gは、画像信号線91に電気的に接続されているため、外部回路接続端子102gは、画像信号線91に電気的に接続されていることになる。   Therefore, the external circuit connection terminal 102g is connected to the relay wiring 99g, the contact hole 193g, the relay wiring 93g, the contact hole 191g, the relay layer 901g, and the contact hole 192g. It is electrically connected to 91g. Since the relay wiring 91g is electrically connected to the image signal line 91, the external circuit connection terminal 102g is electrically connected to the image signal line 91.

尚、誘電体膜75は、第3層間絶縁膜43に覆われているため、コンタクトホール191gを形成する際に延在部75sをエッチング処理することによって誘電体膜75の特性が劣化することを低減或いは防止できる。これにより、画像表示におけるコントラストが低減してしまう等、画像品質が劣化してしまうことを抑制或いは防止できる。   Since the dielectric film 75 is covered with the third interlayer insulating film 43, the characteristics of the dielectric film 75 are deteriorated by etching the extending portion 75s when the contact hole 191g is formed. It can be reduced or prevented. Thereby, it can suppress or prevent that image quality deteriorates, such as the contrast in image display reducing.

図17及び図20に示すように、外部回路接続端子102hは、中継配線99hのうち第3層間絶縁膜43に形成された開口部から露出した部分である。中継配線99hは、第1層間絶縁膜41に対向電極電位線99と同一膜として形成されており、第2層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール193hを介して中継配線93hに電気的に接続されている。中継配線93hは、接地電位線93aと同一膜として形成されており、相互に電気的に接続されている。   As shown in FIGS. 17 and 20, the external circuit connection terminal 102h is a portion exposed from the opening formed in the third interlayer insulating film 43 in the relay wiring 99h. The relay wiring 99h is formed in the first interlayer insulating film 41 as the same film as the counter electrode potential line 99, and is electrically connected to the relay wiring 93h through a contact hole 193h penetrating the second interlayer insulating film 42. ing. The relay wiring 93h is formed as the same film as the ground potential line 93a and is electrically connected to each other.

したがって、外部回路接続端子102hに供給される接地電位である第2電源信号VSSXは、コンタクトホール193h及び中継配線93hを介して接地電位線93aに供給される。   Therefore, the second power supply signal VSSX which is the ground potential supplied to the external circuit connection terminal 102h is supplied to the ground potential line 93a via the contact hole 193h and the relay wiring 93h.

図18及び図21において、外部回路接続端子102iは、対向電極電位線99に電気的に接続された中継配線99iが第3層間絶縁膜43の開口部から露出する部分である。   18 and 21, the external circuit connection terminal 102 i is a part where the relay wiring 99 i electrically connected to the counter electrode potential line 99 is exposed from the opening of the third interlayer insulating film 43.

このように、本例の液晶装置が備える外部回路接続端子102g、102h及び102iは、第1層間絶縁膜41上の同一層に設けられている。したがって、上述の外部回路接続端子102d、102e及び102fと同様にTFTアレイ基板10上の互いに異なる層の夫々に形成された画像信号線91、接地電位線93a及び対向電極電位線99の夫々に対して、互いに同一層に形成された外部回路接続端子102g、102h及び102iから画像信号、第2電源信号VSSX及び対向電極電位LCCOMの夫々を供給できる。外部回路接続端子102g、102h及び102iは高さ方向に沿った位置が統一されており、ラビングロールの乱れに起因して画像表示におけるラビングスジが発生してしまうことを抑制或いは防止できる。   As described above, the external circuit connection terminals 102 g, 102 h and 102 i included in the liquid crystal device of this example are provided in the same layer on the first interlayer insulating film 41. Therefore, similarly to the external circuit connection terminals 102d, 102e, and 102f described above, the image signal lines 91, the ground potential lines 93a, and the counter electrode potential lines 99 that are formed in different layers on the TFT array substrate 10 respectively. Thus, the image signal, the second power supply signal VSSX, and the counter electrode potential LCCOM can be supplied from the external circuit connection terminals 102g, 102h, and 102i formed in the same layer. The positions along the height direction of the external circuit connection terminals 102g, 102h, and 102i are unified, and it is possible to suppress or prevent the occurrence of rubbing streaks in image display due to disturbance of the rubbing roll.

<第2実施形態>
次に、図22から図27を参照しながら、本発明の第2の発明に係る電気光学装置の実施形態を説明する。図22乃至図24は、中継配線91jに電気的に接続された外部回路接続端子102j、中継配線93kに電気的に接続された外部回路接続端子102k、及び中継配線99lに電気的に接続された外部回路接続端子102lの夫々の構成を示す平面図である。図25は、図22におけるJ−J´線断面図である。図26は、図23におけるK−K´線断面図である。図27は、図24におけるL−L´線断面図である。
Second Embodiment
Next, an embodiment of the electro-optical device according to the second invention of the present invention will be described with reference to FIGS. 22 to 24, the external circuit connection terminal 102j electrically connected to the relay wiring 91j, the external circuit connection terminal 102k electrically connected to the relay wiring 93k, and the relay wiring 99l are electrically connected. It is a top view which shows each structure of the external circuit connection terminal 102l. 25 is a cross-sectional view taken along line JJ ′ in FIG. 26 is a cross-sectional view taken along the line KK ′ in FIG. 27 is a cross-sectional view taken along line LL ′ in FIG.

図22乃至図24に示すように、本実施形態に係る液晶装置は、TFTアレイ基板10上の周辺領域のうちシール領域52aの外側に、本発明の第2の発明に係る「他の端子部」の夫々一例である外部回路接続端子102k及び102l、並びに本発明の第2の発明に係る「端子部」の一例である102jを備えている。本実施形態に係る液晶装置は、各外部回路接続端子102j、102k及び102lの夫々に対応して設けられた中継配線91j、中継層901j、コンタクトホール191j及び192j、中継配線93j、93k、93l、及び99l、並びにコンタクトホール193lを備えている。   As shown in FIG. 22 to FIG. 24, the liquid crystal device according to the present embodiment is provided on the outer side of the seal region 52a in the peripheral region on the TFT array substrate 10. Are external circuit connection terminals 102k and 102l, and 102j, which is an example of the “terminal portion” according to the second aspect of the present invention. In the liquid crystal device according to the present embodiment, the relay wiring 91j, the relay layer 901j, the contact holes 191j and 192j, the relay wirings 93j, 93k, 93l, provided corresponding to the external circuit connection terminals 102j, 102k, and 102l, respectively. And 99l, and a contact hole 193l.

尚、外部回路接続端子102j、102k及び102lは、接地電位線93aと同一膜から形成されており、中継配線93jは、本発明の第2の発明に係る「一方の導電膜」の一例であり、中継配線93k及び93lの夫々は、本発明の第2の発明に係る「他の導電膜」の一例である。   The external circuit connection terminals 102j, 102k, and 102l are formed of the same film as the ground potential line 93a, and the relay wiring 93j is an example of “one conductive film” according to the second aspect of the present invention. Each of the relay wirings 93k and 93l is an example of “another conductive film” according to the second invention of the present invention.

図22及び図25において、外部回路接続端子102jは、本発明の第2の発明に係る「第2導電膜」の一例でもある中継配線93jが第3層間絶縁膜43の開口部から露出する部分であり、本発明の第2の発明に係る「第2コンタクトホール」の一例であるコンタクトホール192j、本発明の第2の発明に係る「中継層」の一例である中継層901j、及び本発明の第2の発明に係る「第1コンタクトホール」の一例であるコンタクトホール191jを介して、本発明の第2の発明に係る「第1導電膜」の一例である中継配線91jに電気的に接続されている。   22 and 25, the external circuit connection terminal 102 j is a portion where the relay wiring 93 j that is also an example of the “second conductive film” according to the second invention of the present invention is exposed from the opening of the third interlayer insulating film 43. The contact hole 192j, which is an example of the “second contact hole” according to the second invention of the present invention, the relay layer 901j, which is an example of the “relay layer” according to the second invention of the present invention, and the present invention The relay wiring 91j, which is an example of the “first conductive film” according to the second invention of the present invention, is electrically connected via the contact hole 191j, which is an example of the “first contact hole” according to the second invention. It is connected.

中継配線93jは、図7に示した下側電極71と同一膜として形成されている。中継配線91jは、容量電極300と同一膜として形成されており、画像信号線91に電気的に接続されている。したがって、外部回路接続端子102jに供給される画像信号は、外部回路接続端子102jの上層側に形成された画像信号線91に供給される。   The relay wiring 93j is formed as the same film as the lower electrode 71 shown in FIG. The relay wiring 91j is formed as the same film as the capacitor electrode 300, and is electrically connected to the image signal line 91. Therefore, the image signal supplied to the external circuit connection terminal 102j is supplied to the image signal line 91 formed on the upper layer side of the external circuit connection terminal 102j.

コンタクトホール192jは、第3層間絶縁膜43、延在部75s及び層間絶縁膜49を貫通する孔部に画素電極9aを構成する導電材料が埋め込まれて形成されている。したがって、延在部75s、即ち誘電体膜75のうちコンタクトホール192jが形成されない領域に位置する部分は、第3層間絶縁膜43によって覆われている。これにより、コンタクトホール192jを形成する際に第3層間絶縁膜43、延在部75s及び層間絶縁膜49に施すエッチング処理によって誘電体膜75のうちコンタクトホール192jが形成されない領域に位置する部分の特性が劣化することを低減できる。   The contact hole 192j is formed by embedding a conductive material constituting the pixel electrode 9a in a hole that penetrates the third interlayer insulating film 43, the extending portion 75s, and the interlayer insulating film 49. Therefore, the extended portion 75 s, that is, the portion of the dielectric film 75 located in the region where the contact hole 192 j is not formed is covered with the third interlayer insulating film 43. As a result, when the contact hole 192j is formed, the portion of the dielectric film 75 located in the region where the contact hole 192j is not formed by the etching process performed on the third interlayer insulating film 43, the extending portion 75s, and the interlayer insulating film 49. Deterioration of characteristics can be reduced.

図23及び図26に示すように、外部回路接続端子102kは、第3層間絶縁膜43に形成された開口部から中継配線93kが露出した部分である。外部回路接続端子102kに供給された第2電源電位VSSXは、中継配線93kを介して接地電位線93aに供給される。   As shown in FIGS. 23 and 26, the external circuit connection terminal 102 k is a portion where the relay wiring 93 k is exposed from the opening formed in the third interlayer insulating film 43. The second power supply potential VSSX supplied to the external circuit connection terminal 102k is supplied to the ground potential line 93a via the relay wiring 93k.

図24及び図27に示すように、外部回路接続端子102lは、中継配線93lが第3層間絶縁膜43の開口部から露出する部分である。中継配線93lは、第2層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール193lを介して中継配線99lに電気的に接続されている。中継配線99lは、第2層間絶縁膜42を介して中継配線93lの下層側に形成されている。したがって、外部回路接続端子102lに供給された対向電極電位LCCOMは、外部回路接続端子102lが形成された層と異なる層に形成された中継配線99lを介して対向電極電位線99に供給される。   As shown in FIGS. 24 and 27, the external circuit connection terminal 102 l is a portion where the relay wiring 93 l is exposed from the opening of the third interlayer insulating film 43. The relay wiring 93l is electrically connected to the relay wiring 99l through a contact hole 193l that penetrates the second interlayer insulating film 42. The relay wiring 99l is formed on the lower layer side of the relay wiring 93l with the second interlayer insulating film 42 interposed therebetween. Therefore, the counter electrode potential LCCOM supplied to the external circuit connection terminal 102l is supplied to the counter electrode potential line 99 via the relay wiring 99l formed in a layer different from the layer where the external circuit connection terminal 102l is formed.

本実施形態に係る液晶装置によれば、中継配線99lに対向電極電位LCCOMを供給するための外部回路接続端子102l、第2電源信号VSSXが供給される外部回路接続端子102k、及び画像信号が供給される外部回路接続端子102jが、TFTアレイ基板10上の同一層に形成されていることになる。したがって、外部回路接続端子を形成する際に第3層間絶縁膜43等に対して施すエッチング処理の深さが統一されることになり、外部回路接続端子の位置に応じてTFTアレイ基板10上に生じる段差を低減できる。したがって、ラビング処理の際に発生し得る、複数の外部回路接続端子102のエッチング深さの差異に起因したラビングロールの乱れ(即ち、ラビングロールのクロス材の毛乱れ)を殆ど無くすことができ、殆ど均一にラビング処理を行うことができる。その結果、ラビングロールの乱れに起因して画像表示におけるラビングスジが発生してしまうことを抑制或いは防止できる。   According to the liquid crystal device according to the present embodiment, the external circuit connection terminal 102l for supplying the counter electrode potential LCCOM to the relay wiring 99l, the external circuit connection terminal 102k to which the second power supply signal VSSX is supplied, and the image signal are supplied. The external circuit connection terminal 102j to be formed is formed in the same layer on the TFT array substrate 10. Therefore, the depth of the etching process applied to the third interlayer insulating film 43 and the like when forming the external circuit connection terminal is unified, and the TFT array substrate 10 is formed on the TFT array substrate 10 according to the position of the external circuit connection terminal. The level | step difference which arises can be reduced. Therefore, the rubbing roll disturbance (that is, the rubbing roll cloth material disturbance) caused by the difference in the etching depth of the plurality of external circuit connection terminals 102 that can occur during the rubbing treatment can be almost eliminated. The rubbing process can be performed almost uniformly. As a result, it is possible to suppress or prevent the occurrence of rubbing streaks in image display due to the rubbing roll disturbance.

また、本実施形態に係る液晶装置が備える外部回路接続端子102j、102k及び102lによれば、これら外部回路接続端子の夫々に電気的に接続される画像信号線、接地電位線、及び対向電極電位線をTFTアレイ基板10上で互いに重なるように互いに異なる層の夫々に形成できるため、これら配線を形成するために要する面積を低減できる。したがって、TFTアレイ基板10のサイズを縮小することができ、液晶装置を小型化することが可能である。   Further, according to the external circuit connection terminals 102j, 102k, and 102l included in the liquid crystal device according to the present embodiment, the image signal line, the ground potential line, and the counter electrode potential that are electrically connected to each of these external circuit connection terminals. Since the lines can be formed in different layers so as to overlap each other on the TFT array substrate 10, the area required to form these wirings can be reduced. Therefore, the size of the TFT array substrate 10 can be reduced, and the liquid crystal device can be miniaturized.

本実施形態では特に、中継層901jは、周辺領域のうちシール領域52aの外側に配置されているので、画像表示領域10aにおける画像表示を殆ど或いは全く妨げることなく、且つ、TFTアレイ基板10のサイズを殆ど或いは全く大きくすることなく、外部回路接続端子102jを画像信号線91に電気的に接続できる。   Particularly in the present embodiment, since the relay layer 901j is disposed outside the seal region 52a in the peripheral region, the image display in the image display region 10a is hardly or completely prevented, and the size of the TFT array substrate 10 is reduced. The external circuit connection terminal 102j can be electrically connected to the image signal line 91 with little or no increase.

以上説明したように、第1及び第2実施形態に係る液晶装置によれば、TFTアレイ基板10上で互いに重なる配線等の導電膜を、互いに同一層に形成された外部回路接続端子に電気的に接続でき、誘電体膜75の特性劣化を低減或いは防止しつつ、複数の外部回路接続端子相互の高さ方向に沿った位置の相違によって生じる段差を低減できる。これにより、ラビングムラを低減或いは防止することが可能となり、ラビングスジが生じない高品位の画像を表示できる電気光学装置を提供できる。   As described above, according to the liquid crystal device according to the first and second embodiments, conductive films such as wirings overlapping each other on the TFT array substrate 10 are electrically connected to the external circuit connection terminals formed in the same layer. The step difference caused by the difference in the position along the height direction between the plurality of external circuit connection terminals can be reduced while reducing or preventing the characteristic deterioration of the dielectric film 75. Accordingly, rubbing unevenness can be reduced or prevented, and an electro-optical device that can display a high-quality image without causing rubbing streaks can be provided.

<電子機器>
次に、上述した電気光学装置の一例である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。尚、ここでは、液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。
<Electronic equipment>
Next, a case where the liquid crystal device which is an example of the above-described electro-optical device is applied to various electronic devices will be described. Here, a projector using a liquid crystal device as a light valve will be described.

図28は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。図28に示されるように、プロジェクタ1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。ランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106及び2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110B及び1110Gに入射される。   FIG. 28 is a plan view showing a configuration example of a projector. As shown in FIG. 28, a projector 1100 includes a lamp unit 1102 made of a white light source such as a halogen lamp. The projection light emitted from the lamp unit 1102 is separated into three primary colors of RGB by four mirrors 1106 and two dichroic mirrors 1108 arranged in the light guide 1104, and liquid crystal as a light valve corresponding to each primary color. The light enters the panels 1110R, 1110B, and 1110G.

液晶パネル1110R、1110B及び1110Gの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム1112に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、R及びBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。従って、各色の画像が合成される結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。   The configurations of the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G are the same as those of the liquid crystal device described above, and are driven by R, G, and B primary color signals supplied from the image signal processing circuit. The light modulated by these liquid crystal panels enters the dichroic prism 1112 from three directions. In the dichroic prism 1112, R and B light is refracted at 90 degrees, while G light travels straight. Therefore, as a result of the synthesis of the images of the respective colors, a color image is projected onto the screen or the like via the projection lens 1114.

ここで、各液晶パネル1110R、1110B及び1110Gによる表示像について着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110Bによる表示像に対して左右反転することが必要となる。   Here, paying attention to the display images by the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G, the display image by the liquid crystal panel 1110G needs to be horizontally reversed with respect to the display images by the liquid crystal panels 1110R and 1110B.

尚、液晶パネル1110R、1110B及び1110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。   In addition, since light corresponding to each primary color of R, G, and B is incident on the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G by the dichroic mirror 1108, it is not necessary to provide a color filter.

プロジェクタ1100は、ラビングスジが低減された液晶パネルを備えて構成されているため、高品位の画像を表示できる。   Since the projector 1100 includes a liquid crystal panel with reduced rubbing lines, it can display a high-quality image.

尚、図28を参照して説明した電子機器の他にも、モバイル型のパーソナルコンピュータや、携帯電話、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器に上述の電気光学装置を適用可能であるのは言うまでもない。   In addition to the electronic device described with reference to FIG. 28, a mobile personal computer, a mobile phone, a liquid crystal television, a viewfinder type, a monitor direct view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, and an electronic notebook , Calculators, word processors, workstations, videophones, POS terminals, devices with touch panels, and the like. Needless to say, the above-described electro-optical device can be applied to these various electronic devices.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置、及び該電気光学装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately changed without departing from the spirit or idea of the invention that can be read from the claims and the entire specification, and an electro-optical device with such a change, In addition, an electronic apparatus including the electro-optical device is also included in the technical scope of the present invention.

第1実施形態に係る液晶装置1の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the liquid crystal device 1 which concerns on 1st Embodiment. 図1のH−H´線断面図である。It is the HH 'sectional view taken on the line of FIG. 第1実施形態に係る液晶装置1の要部の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the principal part of the liquid crystal device 1 which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る電気光学装置の画像表示領域を構成する複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図である。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of various elements and wirings in a plurality of pixels constituting an image display region of the electro-optical device according to the first embodiment. TFTアレイ基板上の画素部に係る部分構成を表す平面図である(その1)。It is a top view showing the partial structure which concerns on the pixel part on a TFT array substrate (the 1). TFTアレイ基板上の画素部に係る部分構成を表す平面図である(その2)。It is a top view showing the partial structure which concerns on the pixel part on a TFT array substrate (the 2). 図5及び図6を重ね合わせた場合のA−A´線断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line AA ′ when FIG. 5 and FIG. 6 are superimposed. 図3におけるC1の部分拡大平面図である。FIG. 4 is a partially enlarged plan view of C1 in FIG. 3. 図8におけるB−B´線断面図である。FIG. 9 is a sectional view taken along line BB ′ in FIG. 8. 第1実施形態に係る電気光学装置が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その1)である。FIG. 6 is a plan view (part 1) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in the electro-optical device according to the first embodiment. 第1実施形態に係る電気光学装置が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その2)である。FIG. 6 is a plan view (part 2) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in the electro-optical device according to the first embodiment. 第1実施形態に係る電気光学装置が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その3)である。FIG. 6 is a plan view (part 3) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in the electro-optical device according to the first embodiment. 図10におけるD−D´線断面図である。It is the DD 'sectional view taken on the line in FIG. 図11におけるE−E´線断面図である。It is the EE 'sectional view taken on the line in FIG. 図12におけるF−F´線断面図である。It is the FF 'sectional view taken on the line in FIG. 第1実施形態に係る電気光学装置の変形例が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その1)である。FIG. 6 is a plan view (part 1) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in a modification of the electro-optical device according to the first embodiment. 第1実施形態に係る電気光学装置の変形例が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その2)である。FIG. 9 is a plan view (part 2) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in a modification of the electro-optical device according to the first embodiment. 第1実施形態に係る電気光学装置の変形例が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その3)である。FIG. 9 is a plan view (part 3) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in a modification of the electro-optical device according to the first embodiment. 図16におけるG−G´線断面図である。It is the GG 'sectional view taken on the line in FIG. 図17におけるH−H´線断面図である。It is the HH 'sectional view taken on the line in FIG. 図18におけるI−I´線断面図である。It is the II 'sectional view taken on the line in FIG. 第2実施形態に係る電気光学装置の変形例が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その1)である。FIG. 10 is a plan view (part 1) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in a modification of the electro-optical device according to the second embodiment. 第2実施形態に係る電気光学装置の変形例が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その2)である。FIG. 12 is a plan view (part 2) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in a modification of the electro-optical device according to the second embodiment. 第2実施形態に係る電気光学装置の変形例が備える外部回路接続端子の構成を示す平面図(その2)である。FIG. 12 is a plan view (part 2) illustrating a configuration of an external circuit connection terminal included in a modification of the electro-optical device according to the second embodiment. 図22におけるJ−J´線断面図である。It is the JJ 'sectional view taken on the line in FIG. 図23におけるK−K´線断面図である。FIG. 24 is a sectional view taken along line KK ′ in FIG. 23. 図24におけるL−L´線断面図である。It is the LL 'sectional view taken on the line in FIG. 本実施形態に係る電子機器の一例の構成を示した平面図である。It is the top view which showed the structure of an example of the electronic device which concerns on this embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・液晶装置、91・・・画像信号線、93・・・接地電位線、90・・・引回配線、102・・・外部回路接続端子   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid crystal device, 91 ... Image signal line, 93 ... Grounding potential line, 90 ... Lead wiring, 102 ... External circuit connection terminal

Claims (9)

基板上に、
画素領域に配列された複数の画素電極と、
前記複数の画素電極より層間絶縁膜を介して下層側に配置されており、下側電極、誘電体膜及び上側電極が順に積層されてなる蓄積容量と、
前記画素領域の周辺に形成される導電膜であって、前記上側電極と同層の第1導電膜、前記下側電極と同層の第2導電膜、及び前記第2導電膜よりも下層側に配置されており、且つ前記第2導電膜に電気的に接続された第3導電膜と、
前記周辺領域において前記第1導電膜の上層側に形成されており、前記第1導電膜及び前記第2導電膜を電気的に中継接続する中継層と、
前記第1乃至第3導電膜のうち少なくとも一つの導電膜で形成される端子部とを備えたこと
を特徴とする電気光学装置。
On the board
A plurality of pixel electrodes arranged in a pixel region;
A storage capacitor that is disposed on the lower layer side through the interlayer insulating film from the plurality of pixel electrodes, and in which a lower electrode, a dielectric film, and an upper electrode are sequentially laminated,
A conductive film formed around the pixel region, the first conductive film in the same layer as the upper electrode, the second conductive film in the same layer as the lower electrode, and the lower layer side than the second conductive film And a third conductive film electrically connected to the second conductive film,
A relay layer formed on an upper layer side of the first conductive film in the peripheral region, and electrically relay-connecting the first conductive film and the second conductive film;
An electro-optical device comprising: a terminal portion formed of at least one of the first to third conductive films.
前記周辺領域において、前記端子部と異なる他の端子部を備えており、
前記他の端子部は、前記一の導電膜と同一膜である他の導電膜が前記層間絶縁膜から露出した部分であること
を特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
In the peripheral region, provided with another terminal portion different from the terminal portion,
The electro-optical device according to claim 1, wherein the other terminal portion is a portion where another conductive film that is the same film as the one conductive film is exposed from the interlayer insulating film.
前記端子部を形成する導電膜は、前記第1導電膜であり、前記端子部は、前記第1導電膜が前記層間絶縁膜から露出した部分であること
を特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。
The conductive film forming the terminal portion is the first conductive film, and the terminal portion is a portion where the first conductive film is exposed from the interlayer insulating film. The electro-optical device described.
基板上に、
画素領域に配列された複数の画素電極と、
前記複数の画素電極より層間絶縁膜を介して下層側に配置されており、下側電極、誘電体膜及び上側電極が順に積層されてなる蓄積容量と、
前記画素領域の周辺に形成される導電膜であって、前記上側電極と同層の第1導電膜、及び前記下側電極と同層の第2導電膜と、
前記第1導電膜の上層側に形成されており、前記第1導電膜及び前記第2導電膜を電気的に中継接続する中継層と、
前記第1導電膜と第2導電膜との少なくとも一方で形成される端子部と、
を備えたこと
を特徴とする電気光学装置。
On the board
A plurality of pixel electrodes arranged in a pixel region;
A storage capacitor that is disposed on the lower layer side through the interlayer insulating film from the plurality of pixel electrodes, and in which a lower electrode, a dielectric film, and an upper electrode are sequentially laminated,
A conductive film formed around the pixel region, the first conductive film in the same layer as the upper electrode, and the second conductive film in the same layer as the lower electrode;
A relay layer formed on an upper layer side of the first conductive film and electrically relay-connecting the first conductive film and the second conductive film;
A terminal portion formed on at least one of the first conductive film and the second conductive film;
An electro-optical device comprising:
前記周辺領域において、前記端子部と異なる他の端子部を備えており、
前記他の端子部は、前記導電膜と同一膜である他の導電膜が前記層間絶縁膜から露出した部分であること
を特徴とする請求項4に記載の電気光学装置。
In the peripheral region, provided with another terminal portion different from the terminal portion,
The electro-optical device according to claim 4, wherein the other terminal portion is a portion where another conductive film that is the same film as the conductive film is exposed from the interlayer insulating film.
前記中継層は、前記画素電極と同一膜であること
を特徴とする請求項1から6の何れか一項に記載の電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, wherein the relay layer is the same film as the pixel electrode.
前記中継層は、前記層間絶縁膜に開孔された第1コンタクトホールを介して前記第1導電膜に電気的に接続されると共に、前記層間絶縁膜及び前記延在部を貫通して開孔された第2コンタクトホールを介して前記第2導電膜に電気的に接続されていること
を特徴とする請求項1から6の何れか一項に記載の電気光学装置。
The relay layer is electrically connected to the first conductive film through a first contact hole formed in the interlayer insulating film, and is opened through the interlayer insulating film and the extending portion. The electro-optical device according to claim 1, wherein the electro-optical device is electrically connected to the second conductive film through the formed second contact hole.
前記基板及び前記基板と対向配置された対向基板を相互に接着するシール材を備え、
前記中継層は、前記周辺領域のうち前記シール材が配置されたシール領域の外側に形成されていること
を特徴とする請求項1から7の何れか一項に記載の電気光学装置。
A sealant for adhering the substrate and the opposite substrate disposed opposite to the substrate;
The electro-optical device according to claim 1, wherein the relay layer is formed outside a sealing region in which the sealing material is disposed in the peripheral region.
請求項1から8の何れか一項に記載の電気光学装置を具備してなること
を特徴とする電子機器。
An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to any one of claims 1 to 8.
JP2006028027A 2006-02-06 2006-02-06 Electro-optical apparatus and electronic equipment Withdrawn JP2007206594A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006028027A JP2007206594A (en) 2006-02-06 2006-02-06 Electro-optical apparatus and electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006028027A JP2007206594A (en) 2006-02-06 2006-02-06 Electro-optical apparatus and electronic equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007206594A true JP2007206594A (en) 2007-08-16

Family

ID=38486091

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006028027A Withdrawn JP2007206594A (en) 2006-02-06 2006-02-06 Electro-optical apparatus and electronic equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007206594A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8803867B2 (en) 2011-09-28 2014-08-12 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8803867B2 (en) 2011-09-28 2014-08-12 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
US9030458B2 (en) 2011-09-28 2015-05-12 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4285551B2 (en) ELECTRO-OPTICAL DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND ELECTRONIC DEVICE
JP5245333B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP3700697B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4225347B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP5381031B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4241777B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP2009122253A (en) Electro-optical device and electronic equipment
JP2009047967A (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP5532568B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4882662B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4225348B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4655943B2 (en) Electro-optical device, manufacturing method thereof, and conductive layer connection structure
JP2009122256A (en) Electro-optical device and electronic equipment
JP2008040399A (en) Substrate for electrooptical device, electrooptical device, and electronic apparatus
JP2008225034A (en) Electro-optical device and electronic equipment
JP4245008B2 (en) Electro-optical device substrate, electro-optical device, and electronic apparatus
JP5104140B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4857775B2 (en) Electro-optic device
JP4973024B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP2007225760A (en) Electrooptical device and electronic equipment equipped with the same
JP5186728B2 (en) Electro-optical device substrate, electro-optical device, and electronic apparatus
JP5292738B2 (en) Electro-optical device substrate, electro-optical device, and electronic apparatus
JP5055828B2 (en) Electro-optical device substrate, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2008191518A (en) Electrooptical device, substrate for same, and electronic equipment
JP2007206594A (en) Electro-optical apparatus and electronic equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20090407