JP2007198782A - 多層膜反射鏡及び露光装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】屈折率の高い物質上で生じる拡散と、屈折率の低い物質上で生じる拡散とをそれぞれ防止し反射率の低下を防止する多層膜反射鏡を提供する。
【解決手段】 基板表面に所定の物質を主成分とする少なくとも2種類の層6、8を交互に周期的に成膜することにより構成される多層膜12を備える多層膜反射鏡2において、前記多層膜12の界面毎に下層の膜を形成する所定の物質に基づいて、材質及び厚さのうちの少なくとも1つが異なる拡散防止層10a、10bが形成されている。
【選択図】 図1
【解決手段】 基板表面に所定の物質を主成分とする少なくとも2種類の層6、8を交互に周期的に成膜することにより構成される多層膜12を備える多層膜反射鏡2において、前記多層膜12の界面毎に下層の膜を形成する所定の物質に基づいて、材質及び厚さのうちの少なくとも1つが異なる拡散防止層10a、10bが形成されている。
【選択図】 図1
Description
この発明は、基板表面に多層膜を形成した多層膜反射鏡及び多層膜反射鏡を備える露光装置に関するものである。
近年、半導体集積回路の微細化の進展に伴い、光の回折限界によって制限される光学系の解像力を向上させるために、従来の紫外線に代えて、これより短い波長(例えば11〜14nm程度)の極端紫外線を使用した投影露光装置が開発されている(特許文献1参照)。
上述の極端紫外線を使用した投影露光装置(EUV露光装置)においては、極端紫外線が透過する物質が存在しないため、光学系は反射鏡によって構成される必要があるが、この波長域では物質の屈折率が1に非常に近いので、屈折や反射を利用した従来の光学素子と異なり、干渉により光を強めあう多層膜ミラーなどが使用される。この多層膜ミラーは、使用される波長域において屈折率の高い物質(例えばSi)と、屈折率の低い物質(例えばMo)を基板上に交互に積層させた多層膜を有している。
しかし、屈折率の高い物質と屈折率の低い物質を交互に積層させた場合、両物質間で拡散が生じ、反射率の低下や半値幅減少など、光学特性の低下を招くため、反射率向上などのために屈折率の高い物質と屈折率の低い物質との間に生じる拡散を防止する必要がある。ここで、屈折率の高い物質上に屈折率の低い物質を積層させた場合に生じる拡散と、屈折率の低い物質上に屈折率の高い物質を積層させた場合に生じる拡散とでは拡散の状態が異なることが知られている。
この発明の課題は、屈折率の高い物質上で生じる拡散と、屈折率の低い物質上で生じる拡散とをそれぞれ防止し反射率の低下を防止する多層膜反射鏡及び該多層膜反射鏡を備えた露光装置を提供することである。
この発明の多層膜反射鏡は、基板表面に所定の物質を主成分とする少なくとも2種類の層(6、8)を交互に周期的に成膜することにより構成される多層膜(12)を備える多層膜反射鏡(2)において、前記多層膜(12)の界面毎に下層の膜を形成する所定の物質に基づいて、材質及び厚さのうちの少なくとも1つが異なる拡散防止層(10a、10b)が形成されていることを特徴とする。
また、この発明の露光装置は、この発明の多層膜反射鏡(2)を光学系の少なくとも一部に備えることを特徴とする。
この発明の多層膜反射鏡によれば、多層膜の界面毎に下層の膜を形成する所定の物質に基づいて、材質及び厚さのうち少なくとも1つが異なる拡散防止層が形成されているため、多層膜の界面における物質間の拡散を防止することができる。したがって、界面において物質間の拡散が生じることによる反射率の低下を防止することができる。
また、この発明の露光装置によれば、光学系の少なくとも一部に多層膜の界面毎に下層の膜を形成する所定の物質に基づいて、材質及び厚さのうち少なくとも1つが異なる拡散防止層が形成された多層膜反射鏡を備えているため、多層膜の界面における物質の拡散を防止することができ、良好な露光を行うことができる。
図面を参照して、この発明の第1の実施の形態にかかる多層膜反射鏡について説明する。多層膜反射鏡は、例えば極端紫外光(EUV光)を露光光とするEUV露光装置等に用いられる。図1は、第1の実施の形態にかかる多層膜反射鏡2の断面図である。図1に示すように、多層膜反射鏡2は、高精度な形状に研磨された低熱膨張ガラス基板4の表面に多層膜12を備えている。ここで多層膜12は、物質1を主成分とする層(以下、物質1層という。)6と物質2を主成分とする層(以下、物質2層という。)8が交互に周期的に成膜されており、物質1層6と物質2層8との間には拡散防止層10aが、物質2層8と物質1層6との間には拡散防止層10bがそれぞれ形成されている。
物質1層6と物質2層8を交互に周期的に積層させた多層膜においては、物質1層6の上に物質2層8が積層される物質2/物質1界面と、物質2層8の上に物質1層6が積層される物質1/物質2界面とが存在する。物質2/物質1界面と、物質1/物質2界面においては、物質1層6(物質2層8)の上に物質2層8(物質1層6)が積層される際に、高いエネルギーを持って飛来してくる物質2粒子(物質1粒子)が物質1層6(物質2層8)に入り込むことによって拡散が生じるが、物質2/物質1界面と、物質1/物質2界面とでは拡散の状態が異なる。したがって、この発明の実施の形態においては、物質2/物質1界面に拡散防止層10aを、物質1/物質2界面には、拡散防止層10aとは異なる拡散防止層10bをそれぞれ積層している。即ち、物質2/物質1界面と物質1/物質2界面とにそれぞれ最適化された拡散防止層10a、10bを積層することにより、物質2が物質1層6に拡散すること及び物質1が物質2層8に拡散することをそれぞれ防止することができる。
なお、物質1を主成分とする層、物質2を主成分とする層及び物質3を主成分とする層を周期的に積層させることによって多層膜を形成する場合には、物質2/物質1界面、物質3/物質2界面、物質1/物質3界面のそれぞれにおいて、それぞれ最適化された拡散防止層を積層することにより、物質2が物質1層に、物質3が物質2層に、物質1が物質3層にそれぞれ拡散することを防止することができる。
拡散防止層の材質及び厚さは、多層膜の界面毎に下層の膜を形成する所定の物質や成膜条件に基づいて定められる。更に、下層の膜を形成する物質のみでなく、下層の膜を形成する物質と該下層上に形成される膜を形成する物質、即ち、界面における下層の膜を形成する物質と上層の膜を形成する物質の組合わせによっても拡散防止層の材質及び厚さが定められる。
また、拡散防止層の材質としては、例えば、B4C、C、MoSi2、MoC、MoO2等が用いられる。その他に、シリコン、ホウ素等の非金属元素の酸化物、ホウ化物、珪化物、炭化物、窒化物、フッ化物、及びベリリウム化合物や、Sr,Ba,Sc,Y,La,Ca,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Tb,Ti,Zr,V,Nb,Mo,Tc,Ru,Rh,Pd,Al,Cr,Be,Ga,Dy,Hf,Re,Fe,Th,Rb等の各種金属やその酸化物、ホウ化物、珪化物、炭化物、窒化物、フッ化物、及びベリリウム化合物を用いることができる。
具体的には、拡散防止層の材質として、SiO2,SiO,B2O3等の非金属酸化物が使用可能である。また、NbO,NbO2,Nb2O5,CrO,Cr2O3,CrO3,Al2O3,ZrO2,Sc2O3,Tb2O3,PdO,Pd2O3,PdO4,RuO2,RuO3,RuO4,Rh2O3,RhO2,TiO,Ti2O3,TiO2,MoO,Mo2O3,MoO2,Mo2O5,VO,V2O3,VO2,V2O5等の金属酸化物が使用可能である。さらに、BaO,BeO,Be2O,CaO,Eu2O3,Gd2O3,La2O3,Mo4O11,Mo8O23,MoO3,Mo9O24,NdO,Nd2O3,PrO1.778,PrO1.833,PrO1.8,PrO1.818,Sm2O3,SrO,Ti3O2,Ti2O,Ti3O,Ti1−xO,TinO2n−1(n=2−9),VO1.76,VO1.57,VO1.80,VO1.84,VO1.86,V6O13,V8O,V4O,V2O,V3O5,V4O7,V5O9,V7O13,V6O13,Y2O3,ZrO2−x等の金属酸化物も使用可能である。
また、拡散防止層の材質として、SiBx,SiB6,SiB3等の非金属ホウ化物も使用可能である。また、BeB2,CaB6,ScB2,ScB12,GdB6,TiB2,ZrB2,TaB2,Cr4B,CrB,Cr3B4,CrB2,Mo2B5,W2B3,W2B5,ZrB12,GaB6,SrB6,NbB,Nb3B4,NbB2等の金属ホウ化物が使用可能である。さらに、BeB12,BeB9,BeB6,BeB4,Be2B,Be4B,EuB6,GdB2,Gd2B5,GdB4,GdB66,Mo2B,MoB,Mo3B2,MoB2,MoB4,Nb3B2,Nd2B5,NdB4,NdB6,NdB66,Pr2B5,PrB4,PrB6,RhB1.1,Rh7B3,RuB,Ru7B3,Ru2B3,RuB2,Sm2B5,SmB4,SmB6,SmB66,TbB2,TbB4,TbB6,TbB12,TbB66,TiB,Ti3B4,V3B2,VB,V5B6,V3B4,V2B3,VB2等の金属ホウ化物も使用可能である。
更に、拡散防止層の材質として、BaSi2,LaSi2,DySi2,ZrSi,ZrSi2,HfSi2,CrSi2,MnSi2,ReSi2,FeSi2,PdSi,ThSi2,CaSi,Ca2Si,CaSi2,V2Si,VSi2,RuSi,RhSi2,TbSi2等の金属珪化物も使用可能である。さらに、BaSi,Mo3Si,Mo5Si3,Nb5Si3,NbSi2,Pd3Si,Pd2Si,Pd9Si4,Ru2Si,Ru2Si3,Sr2Si,SrSi2,SrSi,TiSi,Ti3Si,Ti5Si3,Ti3Si,Ti5Si4,TiSi2,Ti6Si5,V3Si,V5Si3,V6Si5,Y5Si3,Y5Si4,YSi,Y3Si5,Zr2Si,Zr4Si,Zr5Si3,Zr3Si2,Zr5Si4等の金属珪化物も使用可能である。
また、拡散防止層の材質として、SiC,B4C等の非金属炭化物も使用可能である。また、LaC2,Be2C,Mo2C,MoC,VC,V4C3,V5C,TiC,ZrC等の金属炭化物が使用可能である。さらに、Eu4C2,Eu2C3,EuC2,EuC6,Gd2C,Gd4C2,Gd2C3,GdC2,La2C3,MoC1−x,Nb2C,NbC,Nd2C3,NdC2,Sc2C,Sc4C3,Sc13C10,Sc15C19,Sm3C,Sm2C3,SmC2,Tb4C2,Tb2C,Tb2C3,TbC2,Ti2C,V2C,V4C3−x,V6C5,V8C7,Y2C,Y4C2,Y15C19,Y2C3,YC2等の金属炭化物も使用可能である。
また、拡散防止層の材質として、SiN,Si2N3,Si3N4,BN,BN2等の非金属窒化物も使用可能である。また、YN,Ca3N2,ScN,ZrN,Zr3N2,Sr3N2,TiN,Ti3N4,NbN,NdN,Be3N2,Ba3N2,VN,MoN,Mo2N,LaN,AlN等の金属窒化物が使用可能である。さらに、Nb2N,Ti2N,V2N1−x,VN1−x,V32N28等の金属窒化物も使用可能である。
また、拡散防止層の材質として、SrF2,NiF2,YF3等のフッ化物も使用可能である。また、拡散防止層の材質として、BaBe13,CaBe13,EuBe13,GdBe13,LaBe13,Mo3Be,MoBe2,MoBe12,NbBe12,Nb2Be17,NbBe3,NbBe2,Nb3Be2,NdBe13,PdBe12,PdBe5,Pd2Be,Pd3Be,PdBe,Pd3Be2,Pd4Be3,PrBe13,Ru3Be17,Ru3Be10,RuBe2,Ru2Be3,ScBe5,Sc2Be17,ScBe13,SmBe13,SrBe13,TbBe13,TiBe2,TiBe3,Ti2Be17,TiBe12,VBe12,VBe2,YBe13,ZrBe13,Zr2Be17,ZrBe5,ZrBe2等のベリリウム化合物も使用可能である。
また、拡散防止層の材質としては、上述の物質からなる群から選ばれた少なくとも1つを含むものであればよいが、上述の物質からなる群から選ばれた複数の物質を用いてもよい。即ち、多層膜反射鏡の反射率が高くなるように、多層膜の界面毎に下層の膜を形成する物質、または、多層膜の界面毎における下層の膜を形成する物質と上層の膜を形成する物質の組み合わせに基づいて、拡散防止層の材質、構成、厚みを最適化する。なお、極端紫外線になると材料の吸収が大きくなるため、拡散防止層の厚みは3nm以下にすることが好ましい。
ここで、物質1層と物質2層とを積層させて多層膜を形成する際、界面毎に拡散防止層を形成することなく、成膜条件を最適化することによって、物質2が物質1層に、物質1が物質2層に拡散することを防止してもよい。即ち、拡散は、例えば、スパッタリングや蒸着等で物質2層の上に物質1が積層される際に、高いエネルギーをもって飛来してくる物質1粒子が物質2層に入り込むことによって生じる。そこで、物質1層に物質2層を積層させる際及び物質2層に物質1層を積層させる際のそれぞれにおいて、飛来粒子のエネルギーを低減させるように成膜条件を最適化することによって、拡散を防止してもよい。飛来粒子のエネルギーを低減させる方法としては、例えば、成膜チャンバー内に不活性なガスを導入し、飛来粒子と衝突させることによって飛来粒子の速度を低下させる等の方法がある。
なお、飛来粒子のエネルギーを低減させた場合には、膜の密度が低くなったり、島状成長などにより均一な膜形成が阻害される可能性が生じる。従って、例えば、物質1層上に物質2層を形成する場合には、飛来粒子のエネルギーを低減させた状態で物質2層を1nm程度成膜した後、不活性なガスの導入を停止し、飛来粒子のエネルギーを低減させることなく成膜を行う。
次に、図面を参照して、この発明の第2の実施の形態にかかるEUV露光装置について説明する。図2は、第2の実施の形態にかかるEUV露光装置(縮小投影露光装置)の概略構成を示す図である。図2に示すEUV露光装置においては、光路上はすべて真空(例えば、1×10−3Pa以下)に保たれている。EUV露光装置は、光源を含む照明光学系ILを備えている。照明光学系ILから射出されたEUV光(一般的には波長5〜20nmを指し、具体的には波長13.5nm、11nmが用いられる。)は、折り返しミラー301により反射され、パターンが形成されているレチクル302上を照射する。
レチクル302は、反射型のレチクルであり、レチクルステージ303に固定されたチャック303aに保持されている。レチクルステージ303は、走査方向に100nm以上移動可能に構成されており、走査方向と直行する方向及び光軸方向に微小移動可能に構成されている。レチクルステージ303の走査方向及び走査方向に直交する方向の位置は図示しないレーザ干渉計により高精度に制御され、光軸方向の位置はレチクルフォーカス送光系304とレチクルフォーカス受光系305からなるレチクルフォーカスセンサにより制御されている。
レチクル302にはEUV光を反射する多層膜(例えば、モリブデン(Mo)/シリコン(Si)やモリブデン(Mo)/ベリリウム(Be))が成膜されており、この多層膜の上の吸収層(例えば、ニッケル(Ni)やアルミニウム(Al))によりパターニングされている。レチクル302により反射されたEUV光は、光学鏡筒314内に入射する。
光学鏡筒314内には、複数(この実施の形態においては4つ)のミラー306、307、308、309が設置されている。これらのミラー306〜309の少なくとも1つは、第1の実施の形態にかかる多層膜反射鏡により構成されている。なお、この実施の形態においては、投影光学系として4つのミラーを備えているが、6つまたは8つのミラーを備えるようにしてもよい。この場合には、開口数(NA)をより大きくすることができる。
光学鏡筒314内に入射したEUV光は、ミラー306により反射された後、ミラー307、ミラー308、ミラー309により順次反射され、光学鏡筒314内から射出して、ウエハ310に入射する。なお、ミラー306〜309等により構成される投影光学系の縮小倍率は、例えば1/4または1/5である。また、光学鏡筒314の近傍には、ウエハ310のアライメントを行うオフアクシス顕微鏡315が設置されている。
ウエハ310は、ウエハステージ311に固定されたチャック311a上に保持されている。ウエハステージ311は、光軸と直交する面内に設置されており、光軸と直交する面内に例えば300〜400nm移動可能に構成されている。また、ウエハステージ311は、光軸方向にも微小移動可能に構成されている。ウエハステージ311の光軸方向の位置は、ウエハオートフォーカス送光系312とウエハオートフォーカス受光系313からなるウエハオートフォーカスセンサにより制御されている。ウエハステージ311の光軸と直交する面内における位置は、図示しないレーザ干渉計により高精度に制御されている。
露光時には、レチクルステージ303とウエハステージ311は、投影光学系の縮小倍率と同一の速度比、例えば、(レチクルステージ303の移動速度):(ウエハステージ311の移動速度)=4:1または5:1で同期走査する。
この第2の実施の形態にかかるEUV露光装置によれば、投影光学系を構成するミラーの少なくとも1つが第1の実施の形態にかかる多層膜反射鏡により構成されているため、多層膜の界面における物質間の拡散による反射率低下が生じない高精度な面形状を有する光学系により良好な露光を行うことができる。
なお、第2の実施の形態においては、ミラー306〜309の少なくとも1つが第1の実施の形態にかかる多層膜反射鏡により構成されているが、照明光学系ILに含まれるミラー、折り返しミラー301、レチクル302等が第1の実施の形態にかかる多層膜反射鏡により構成されるようにしてもよい。
実施例1では、物質1としてモリブデン(Mo)を用い、物質2としてシリコン(Si)を用い、Mo層にSi層を積層するSi/Mo界面に、SiO2を1nm、Si層にMo層を積層するMo/Si界面にB4Cを1nmそれぞれ拡散防止層として積層した。SiO2はSiとの親和性がよく、強固な共有結合を有するため、重いMoが飛来してもSi層にMo粒子が拡散しにくいため、Mo/Si界面においてSi層にMo粒子が拡散することを防止できる。また、B4Cは非常に軽い分子量であり、Mo層に入り込むことがないため、Si/Mo界面において、飛来したSi粒子をB4Cが受け止め、Mo層にSi粒子が拡散することを防止することができる。
実施例2では、物質1としてモリブデン(Mo)を用い、物質2としてシリコン(Si)を用い、異なる物質を主成分とする層を形成する際に、不活性なガスとしてArガスを10−2Paまで導入し、飛来粒子の速度を低減させた。そして、Mo層(Si層)上にSi層(Mo層)が1nm形成された時点でArガスの導入を停止し、その後に形成される膜の密度を向上させた。飛来粒子の速度を低減させることによって、飛来粒子が下層に入り込むのを防止し、Mo/Si界面及びSi/Mo界面において拡散が生じることを防止することができる。また、界面以降の部分においては、飛来粒子の速度を低減させることなく成膜を行っているため、最終的には均一な膜が形成される。
2・・・多層膜反射鏡、4・・・ガラス基板、6・・・物質1層、8・・・物質2層、10a、10b・・・拡散防止層、12・・・多層膜、IL・・・照明光学系、302・・・レチクル、303・・・レチクルステージ、306〜309・・・ミラー、310・・・ウエハ、311・・・ウエハステージ。
Claims (6)
- 基板表面に所定の物質を主成分とする少なくとも2種類の層を交互に周期的に成膜することにより構成される多層膜を備える多層膜反射鏡において、
前記多層膜の界面毎に下層の膜を形成する所定の物質に基づいて、材質及び厚さのうちの少なくとも1つが異なる拡散防止層が形成されていることを特徴とする多層膜反射鏡。 - 前記多層膜は、物質1を主成分とする層と、物質2を主成分とする層を交互に周期的に成膜することにより構成されることを特徴とする請求項1記載の多層膜反射鏡。
- 前記物質1は、Moであり、前記物質2は、Siであることを特徴とする請求項2記載の多層膜反射鏡。
- 前記拡散防止層は、カーボン、炭化物、酸化物、窒化物及び珪化物からなる群から選ばれた少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか一項に記載の多層膜反射鏡。
- 前記拡散防止層は、3nm以下の厚さを有することを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れか一項に記載の多層膜反射鏡。
- 請求項1乃至請求項5の何れか一項に記載の多層膜反射鏡を光学系の少なくとも一部に備えることを特徴とする露光装置。
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