JP2006201630A - Image persistence phenomenon correcting method, self-luminous device, image persistence phenomenon correcting device and program - Google Patents
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Abstract
Description
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。 One embodiment of the present invention relates to a method for correcting a burn-in phenomenon that occurs in a self-luminous device. One embodiment of the present invention relates to a burn-in phenomenon correction apparatus. One embodiment of the present invention relates to a self-luminous device equipped with a burn-in phenomenon correcting device. One embodiment of the present invention relates to a program for causing a computer mounted on a self-luminous device to execute a burn-in correction function.
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ELディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
Flat panel displays are widely used in products such as computer displays, portable terminals, and televisions. Currently, liquid crystal display panels are mainly used, but the narrow viewing angle and slow response speed continue to be pointed out.
On the other hand, an organic EL display formed of a self-luminous element can overcome the above-mentioned problems of viewing angle and responsiveness, and can achieve a thin form, high brightness, and high contrast that do not require a backlight. Therefore, it is expected as a next-generation display device that replaces the liquid crystal display.
ところで、有機EL素子その他の自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域(固定表示領域)の自発光素子は、他の表示領域(動画表示領域)の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
By the way, it is generally known that organic EL elements and other self-light-emitting elements have a characteristic of deteriorating in proportion to the amount of light emission and time.
On the other hand, the content of the image displayed on the display is not uniform. For this reason, the deterioration of the self-luminous element is likely to proceed partially. For example, the self-light-emitting element in the time display area (fixed display area) progresses more rapidly than the self-light-emitting elements in other display areas (moving image display areas).
The luminance of the self-luminous element that has deteriorated is relatively lowered as compared with the luminance of other display areas. In general, this phenomenon is called “burn-in”. Hereinafter, partial deterioration of the self-luminous element is referred to as “burn-in”.
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。例えば、以下のような処理技術が開示されている。
確かに、補正専用のパターンを表示する方法は、焼き付き現象の改善に効果的である。
しかし、この方法は、入力画像を全く無視した補正方法である。このため、補正動作の実行が非使用状態時に限られる問題がある。また、非使用状態が補正に十分な期間存在しなかった場合、焼き付き現象の補正残りが発生する可能性がある。また、焼き付き現象の補正のためだけに電力を消費する問題がある。
Certainly, the method of displaying the correction-specific pattern is effective in improving the burn-in phenomenon.
However, this method is a correction method that completely ignores the input image. For this reason, there is a problem that the execution of the correction operation is limited to a non-use state. Further, if the non-use state does not exist for a period sufficient for correction, there is a possibility that a correction residue of the burn-in phenomenon occurs. In addition, there is a problem that power is consumed only for correcting the burn-in phenomenon.
発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を、自発光装置の使用状態のまま補正する方法として、
(a)自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
(b)算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
(c)入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
(d)累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
(e)累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
(f)算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を有するものを提案する。
なお、自発光装置は、有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネル、PDP(プラズマディスプレイパネル)、CRT(cathode ray tube)、FED(電界放出ディスプレイ)パネル、LEDパネル、プロジェクターを含むものとする。
The inventors pay attention to the above technical problems and propose the following technical methods.
That is, as a method of correcting the burn-in phenomenon of a self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix, with the self-light-emitting device being used,
(A) processing for sequentially calculating a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel based on an input signal related to the driving condition of the self-light-emitting element;
(B) A process of cumulatively adding the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
(C) A process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction or an increasing direction due to light emission of the self-luminous element by an input signal;
(D) When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, a process for instructing to stop execution of the correction operation for the corresponding input signal;
(E) When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction, a process for instructing calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference;
(F) Proposing a method having a process of correcting the corresponding input signal with the calculated correction amount.
The self-luminous device includes an organic EL (electroluminescence) panel, a PDP (plasma display panel), a CRT (cathode ray tube), an FED (field emission display) panel, an LED panel, and a projector.
発明に係る方法は、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新される場合には対応する入力信号を補正し、累積劣化量差の大きさが縮小される方向に更新する場合には対応する入力信号に対する補正を停止する。
すなわち、焼き付き現象を改善できる画素はそのまま表示し、焼き付き現象が改善しない画素は補正したものを表示する。
この結果、自発光装置の使用中も、原画像の画質をある程度維持したまま、自発光装置の焼き付き現象を改善できる。
また、自発光装置を使用状態のまま焼き付き現象を補正できるため、非使用状態の期間不足を原因とする補正残りの発生を無くすことができる。
また、焼き付き補正のためだけに非使用状態中に電力が消費される事態を無くすことができる。
The method according to the invention corrects the corresponding input signal when the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the increasing direction, and updates when the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is reduced. Stops correction for the corresponding input signal.
That is, pixels that can improve the burn-in phenomenon are displayed as they are, and pixels that do not improve the burn-in phenomenon are displayed as corrected.
As a result, the burn-in phenomenon of the self-light-emitting device can be improved while maintaining the image quality of the original image to some extent even during use of the self-light-emitting device.
Further, since the burn-in phenomenon can be corrected while the self-light-emitting device is in use, it is possible to eliminate the occurrence of correction correction due to insufficient period of non-use.
Further, it is possible to eliminate a situation where power is consumed during the non-use state only for burn-in correction.
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
Hereinafter, an embodiment example of a burn-in phenomenon correction technique that employs the technical technique according to the invention will be described.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not illustrated or described in particular in this specification.
The embodiment described below is one embodiment of the present invention and is not limited thereto.
(A)形態例1
(a)焼き付き現象補正装置の構成
図1に、焼き付き現象補正装置(以下、「補正装置」という。)の構成例を示す。
なお、以下に示す補正処理は、同色で発光する画素について実行されるものとする。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
また、入力信号には、輝度を指定する階調値、自発光素子に印加される駆動電流値その他の自発光素子の駆動条件に関する信号が与えられるものとする。
(A) Form example 1
(A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device FIG. 1 shows a configuration example of a burn-in phenomenon correction device (hereinafter referred to as “correction device”).
Note that the following correction processing is executed for pixels that emit light of the same color. The emission color generally refers to three colors of red, blue, and green. However, white is used when a white light source is used.
Further, it is assumed that the input signal is provided with a gradation value designating luminance, a drive current value applied to the self light emitting element, and other signals relating to the driving conditions of the self light emitting element.
補正装置1は、劣化量差算出部3、累積劣化量差算出部5、補正効果予測部7、累積劣化量差蓄積部9、補正動作選択部11、補正量決定部13、劣化量差補正部15を主要な構成要素とする。
劣化量差算出部3は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素(補正対象画素)と基準画素との劣化量差ΔRを算出する処理デバイスである。劣化量差ΔRの算出には、任意の手法を適用できる。例えば、補正対象画素に対応する入力信号値と基準画素に対応する入力信号値との差分を算出する方法を適用できる。
The
The deterioration amount difference calculation unit 3 is a processing device that calculates a deterioration amount difference ΔR between each pixel (correction target pixel) and a reference pixel based on an input signal before correction processing. Any method can be applied to calculate the deterioration amount difference ΔR. For example, a method of calculating the difference between the input signal value corresponding to the correction target pixel and the input signal value corresponding to the reference pixel can be applied.
この形態例の場合、補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる場合、劣化量差ΔRはプラスで表現されるものとする。反対に、補正対象画素の劣化が基準画素に対して遅れている場合、劣化量差ΔRはマイナスで表現されるものとする。算出された劣化量差ΔRは、劣化量差算出部3から累積劣化量差算出部5に与えられる。
なお、基準画素は、自発光装置を構成する実在の画素でも良いし、仮想的な画素として設定しても良い。実在の画素には、例えば累積劣化量が最大の画素、累積劣化量が最小の画素を適用する。また、仮想の画素には、例えば累積劣化量の平均値を与える画素を適用する。
In the case of this embodiment, when the deterioration of the correction target pixel is advanced with respect to the reference pixel, the deterioration amount difference ΔR is expressed as a plus. On the contrary, when the deterioration of the correction target pixel is delayed with respect to the reference pixel, the deterioration amount difference ΔR is expressed as a minus value. The calculated deterioration amount difference ΔR is given from the deterioration amount difference calculation unit 3 to the cumulative deterioration amount
Note that the reference pixel may be an actual pixel constituting the self-light-emitting device, or may be set as a virtual pixel. For example, a pixel having the largest cumulative degradation amount and a pixel having the smallest cumulative degradation amount are applied to the actual pixels. In addition, for example, a pixel that gives an average value of the cumulative deterioration amount is applied to the virtual pixel.
累積劣化量差算出部5は、画素毎の累積劣化量差ΣΔRを算出する処理デバイスである。累積劣化量差算出部5は、入力信号に基づいて算出された劣化量差を加算情報として扱う。一方、累積劣化量差算出部5は、補正効果予測部7から与えられる劣化量差(補正効果)を減算情報として扱う。累積劣化量差算出部5は、劣化量差ΔRの加算又は減算により累積劣化量差ΣΔRの更新処理を実行する。
補正効果予測部7は、補正量決定部13で決定された補正量の補正効果を予測する処理デバイスである。補正効果は劣化量差ΔRとして予測される。補正効果予測部7は、補正効果を累積劣化量差ΣΔRに反映させるために設けられている。
The cumulative deterioration amount
The correction
累積劣化量差蓄積部9は、算出された累積劣化量差ΣΔRを保存する記憶デバイスである。なお、保存される累積劣化量差ΣΔRは、累積劣化量差算出部5によって逐次更新される。すなわち、累積劣化量差ΣΔRは累積劣化量差算出部5に読み出され、前述した加減算処理により逐次更新される。
補正動作選択部11は、次回発光期間の入力信号によって累積劣化量差ΣΔRの大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理デバイスである。
The cumulative deterioration amount difference accumulation unit 9 is a storage device that stores the calculated cumulative deterioration amount difference ΣΔR. The stored cumulative deterioration amount difference ΣΔR is sequentially updated by the cumulative deterioration amount
The correction
この形態例の場合、補正動作選択部11は、次回発光期間の入力信号による更新後の累積劣化量差ΣΔRAとその更新前の累積劣化量差ΣΔRBとを比較し、その大小関係によって累積劣化量差ΣΔRの更新方向を判定する。
更新前の累積劣化量差ΣΔRBは、累積劣化量差蓄積部9から補正動作選択部11に読み出される。また、更新後の累積劣化量差ΣΔRAは、累積劣化量差算出部5から補正動作選択部11に読み出される。
補正動作選択部11は、更新後の累積劣化量差ΣΔRA≧更新前の累積劣化量差ΣΔRBのとき、累積劣化量差が拡大する方向に更新されると判定し、更新後の累積劣化量差ΣΔRA<更新前の累積劣化量差ΣΔRBのとき、累積劣化量差が縮小する方向に更新されると判定する。
図2に、この判定条件と補正動作の関係を示す。この補正動作選択部11が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。
In the case of this embodiment, the correction
The cumulative deterioration amount difference ΣΔRB before the update is read from the cumulative deterioration amount difference accumulation unit 9 to the correction
The correction
FIG. 2 shows the relationship between this determination condition and the correction operation. The correction
補正量決定部13は、入力信号に対する補正量を画素毎に決定する処理デバイスである。補正量決定部13は、累積劣化量差がある期間内に解消される方向で補正量を決定する。補正量の演算手法は任意である。
なお、決定された補正量は、補正効果予測部7と劣化量差補正部15に与えられる。
劣化量差補正部15は、与えられた補正量によって入力信号を補正する処理デバイスである。補正後の入力信号は、自発光素子が配列された表示パネルの駆動信号として出力される。ここでの補正処理は、補正量の加減算の他、入力信号のゲインの増減、補正量との置換などにより実現する。
The correction
The determined correction amount is given to the correction
The deterioration amount
(b)焼き付き補正処理例
図3に、補正装置1で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部11が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔRBを確認する(S1)。
これと並行して、次発光期間の入力信号について、劣化量差算出部3が補正対象画素と基準画素の劣化量差を算出する。この後、劣化量差算出部3は、前発光期間に算出された累積劣化量差に新たに算出された劣化量差を加算し、次発光期間に対応する累積劣化量差ΣΔRAを算出する。
この累積劣化量差ΣΔRAは、補正動作選択部11において確認される(S2)。
(B) Burn-in Correction Processing Example FIG. 3 shows a series of processing operations executed by the
Each time an input signal for the next light emission period is input, the correction
In parallel with this, the deterioration amount difference calculation unit 3 calculates the deterioration amount difference between the correction target pixel and the reference pixel for the input signal of the next light emission period. Thereafter, the deterioration amount difference calculation unit 3 adds the newly calculated deterioration amount difference to the cumulative deterioration amount difference calculated in the previous light emission period, and calculates a cumulative deterioration amount difference ΣΔRA corresponding to the next light emission period.
This cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is confirmed by the correction operation selection unit 11 (S2).
更新前後の累積劣化量差が確認されると、補正動作選択部11は、次発光期間の累積劣化量差ΣΔRAが前発光期間の累積劣化量差ΣΔRBより小さいか否かが判定される(S3)。この判定処理は補正対象画素ごとに実行される。
ここで肯定結果が得られた場合、補正動作選択部11は、補正量決定部13に補正処理の停止を指示する(補正量をゼロに制御する指示を含む。)。劣化量差補正部15は、次発光期間に対応する入力信号を補正せず、そのまま次発光装置に出力する(S4)。
When the cumulative deterioration amount difference before and after the update is confirmed, the correction
When a positive result is obtained here, the correction
一方、否定結果が得られた場合、補正動作選択部11は、補正量決定部13に補正処理の実行を指示する。この指示を受けて、補正量決定部13は、累積劣化量差ΣΔRがある期間内に補正されるように補正量を決定する。この後、劣化量差補正部15が入力信号の補正処理を実行する(S5)。
この処理に続き、補正効果予測部7は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部5に与える。累積劣化量差算出部5は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する(S6)。
On the other hand, when a negative result is obtained, the correction
Following this process, the correction
(c)形態例の効果
一連の処理の実行により、そのままでも焼き付き現象を改善できる画素については、原画像のまま自発光装置に表示できる。このため、画質の維持と焼き付き現象の補正とを同時に実行できる。
勿論、原画像をそのまま自発光装置に表示したのでは累積劣化量差が拡大する場合(焼き付き現象が目立ち易くなる場合)には、累積劣化量差が縮小するように補正動作が実行される。
ここで、補正動作の実行は、補正対象画素の入力信号値を変更することを意味する。従って、補正動作が実行された画素の画質は一般に低下する。
(C) Effects of Embodiments By performing a series of processes, pixels that can improve the burn-in phenomenon as they are can be displayed on the light-emitting device as they are. For this reason, it is possible to simultaneously execute image quality maintenance and image sticking correction.
Of course, when the original image is displayed on the self-light-emitting device as it is, when the accumulated deterioration amount difference increases (when the burn-in phenomenon becomes noticeable), the correction operation is performed so that the accumulated deterioration amount difference is reduced.
Here, executing the correction operation means changing the input signal value of the correction target pixel. Therefore, the image quality of the pixel for which the correction operation has been performed generally decreases.
しかし、場合分けした各状態の存在確率から、自発光装置を構成する全画素が同時に補正される可能性はほとんど無い。従って、補正動作の部分的な実行によってもある程度の画質は確保される。例えば、約半分程度の画素については原画像の画質のまま表示できる。
また、使用中(画像の表示中)も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。すなわち、非使用状態が短くても、焼き付き補正動作を完了できる。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。
However, there is almost no possibility that all the pixels constituting the self-light-emitting device are corrected at the same time from the existence probabilities of the respective states. Therefore, a certain level of image quality is ensured even by partial execution of the correction operation. For example, about half of the pixels can be displayed with the original image quality.
Further, since the burn-in phenomenon correction operation is executed during use (during image display), the correction time in the non-use state can be shortened. That is, even if the non-use state is short, the burn-in correction operation can be completed. In addition, since the correction period in the non-use state can be shortened, useless power consumption can be eliminated.
(B)形態例2
(a)焼き付き現象補正装置の構成
続いて、補正装置の他の構成例について説明する。前述の形態例1では、累積劣化量差の更新前後の変化方向により補正処理の実行と停止を選択する場合について説明したが、この形態例では他の判定手法について説明する。
ここでは、前発光期間までに補正対象画素と基準画素のどちらがより劣化が進んでいるかと、次発光期間の入力信号値の大小関係に基づいて補正動作の実行と停止を選択する場合について説明する。
この形態例では、前発光期間までに生じた劣化の関係を、累積劣化量差の符号(正値/負値)により判定するものとして説明する。
(B) Embodiment 2
(A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device Next, another configuration example of the correction device will be described. In the first embodiment, the case where execution and stop of the correction process are selected according to the change direction before and after the update of the accumulated deterioration amount difference has been described. In this embodiment, another determination method will be described.
Here, a description will be given of a case where the execution or stop of the correction operation is selected based on which of the correction target pixel and the reference pixel is further deteriorated by the previous light emission period and the magnitude relationship of the input signal values in the next light emission period. .
In this embodiment, a description will be given on the assumption that the relationship of deterioration that has occurred until the previous light emission period is determined by the sign (positive value / negative value) of the cumulative deterioration amount difference.
図4に、この方式を採用する補正装置の構成例を示す。
補正装置21は、劣化量差算出部3、累積劣化量差算出部5、補正効果予測部7、累積劣化量差蓄積部9、補正動作選択部23、補正量決定部13、劣化量差補正部15を主要な構成要素とする。
図1との対応部分には同一符号を付して示すように、形態例1との違いは補正動作選択部23のみである。従って、形態例1と同じ構成部分についての説明は省略する。
補正動作選択部23は、入力信号値と累積劣化量差ΣΔRに基づいて補正動作の実行と停止を選択する処理デバイスである。
補正動作選択部23は、累積劣化量差ΣΔRの符号が正値か負値かにより、補正対象画素と基準画素のいずれの劣化が進んでいるかを最初に判定する。
FIG. 4 shows a configuration example of a correction apparatus that employs this method.
The
As shown in FIG. 1, the same reference numerals are assigned to the corresponding parts, and only the correction
The correction
The correction
次に、次発光期間の入力信号値の大小関係により累積劣化量差の変更方向を判断する。
例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が正の場合に(補正対象画素の方が相対的に劣化していることを意味する。)、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも小さいとき、補正動作選択部23は、累積劣化量差が自然に縮小されると判断する。すなわち、焼き付き現象が自然に改善される入力信号値であると判断する。
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が正の場合に、補正対象画素と基準画素の入力信号値が同じか、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも大きいとき、補正動作選択部23は、累積劣化量差が縮小されないと判断する。すなわち、補正処理が必要であると判断する。このとき、補正対象画素に対応する入力信号値は、基準画素に対応する入力信号値よりも小さくなるように補正量が決定される。
Next, the change direction of the accumulated deterioration amount difference is determined based on the magnitude relationship of the input signal values in the next light emission period.
For example, when the accumulated deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is positive (meaning that the correction target pixel is relatively deteriorated), the input signal value for the correction target pixel is more When the input signal value is smaller than the reference pixel, the correction
In addition, for example, when the accumulated deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is positive, the input signal value of the correction target pixel and the reference pixel are the same, or the input signal value for the correction target pixel is the input for the reference pixel. When larger than the signal value, the correction
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が負の場合に(基準画素の方が相対的に劣化していることを意味する。)、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも大きいとき、補正動作選択部23は、累積劣化量差が自然に縮小されると判断する。すなわち、焼き付き現象が自然に改善される入力信号値であると判断する。
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が負の場合に、補正対象画素と基準画素の入力信号値が同じか、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも小さいとき、補正動作選択部23は、累積劣化量差が縮小されないと判断する。すなわち、補正処理が必要であると判断する。このとき、補正対象画素に対応する入力信号値は、基準画素に対応する入力信号値よりも大きくなるように補正量が決定される。
図5に、この判定動作と補正動作の関係を示す。やはり、この補正動作選択部23が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。
For example, when the cumulative deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is negative (meaning that the reference pixel is relatively deteriorated), the input signal value with respect to the correction target pixel is greater. When it is larger than the input signal value for the reference pixel, the correction
Also, for example, when the accumulated deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is negative, the input signal value of the correction target pixel and the reference pixel are the same, or the input signal value for the correction target pixel is the input for the reference pixel. When the value is smaller than the signal value, the correction
FIG. 5 shows the relationship between the determination operation and the correction operation. Again, the correction
(b)焼き付き補正処理例
図6に、補正装置21で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部23が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔRBを確認する(S11)。
また、補正動作選択部23は、次発光期間の入力信号値を、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて確認する(S12)。
次に、補正動作選択部23は、前発光期間の累積劣化量差ΣΔRBが非ゼロか否かを判定する(S13)。
このステップS13で否定結果が得られたとき(すなわち、累積劣化量差ΣΔRB=0のとき)、補正動作選択部23は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する(S14)。
(B) Burn-in Correction Processing Example FIG. 6 shows a series of processing operations executed by the
Each time an input signal for the next light emission period is input, the correction
The correction
Next, the correction
When a negative result is obtained in step S13 (that is, when the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB = 0), the correction
これに対し、肯定結果が得られたとき、補正動作選択部23は、累積劣化量差ΣΔRBが負か否かを判定する(S15)。
なお、ステップS15で肯定結果が得られた場合、補正動作選択部23は、補正対象画素の入力信号値が基準画素以下か否か判定する(S16)。
このステップS16で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔRAが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部23は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する(S14)。
一方、ステップS16で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔRAが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部23は、累積劣化量差ΣΔRAが縮小されるように補正対象画素の入力信号値が基準画素より大きい値に変更されるように補正処理の実行を指示する(S17)。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
On the other hand, when a positive result is obtained, the correction
If a positive result is obtained in step S15, the correction
If a negative result is obtained in this step S16, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced. Accordingly, the correction
On the other hand, if a positive result is obtained in step S16, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is enlarged. Accordingly, the correction
また、ステップS15で否定結果が得られた場合、補正動作選択部23は、補正対象画素の入力信号値が基準画素以上か否か判定する(S18)。
このステップS18で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔR1が縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部23は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する(S14)。
一方、ステップS18で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔR1が拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部23は、累積劣化量差ΣΔR1が縮小されるように補正対象画素の入力信号値が基準画素より小さい値に変更されるように補正処理の実行を指示する(S19)。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
この後、補正効果予測部7は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部5に与える。累積劣化量差算出部5は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する(S20)。
If a negative result is obtained in step S15, the correction
If a negative result is obtained in step S18, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 is reduced. Accordingly, the correction
On the other hand, if a positive result is obtained in step S18, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 is enlarged. Accordingly, the correction
Thereafter, the correction
(c)形態例の効果
このような処理方法を採用する場合にも、そのままでも焼き付き現象を改善できる画像(又は画素)については、原画像のまま自発光装置に表示できる。このため、画質の維持と焼き付き現象の補正とを同時に実行できる。
勿論、原画像をそのまま自発光装置に表示したのでは累積劣化量差が拡大する(焼き付き現象が目立ち易くなる)場合には、累積劣化量差が縮小するように補正動作が実行される。
また、使用中(画像の表示中)も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。すなわち、非使用状態が短くても、焼き付き補正動作を完了できる。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。
(C) Effects of Embodiments When such a processing method is employed, an image (or pixel) that can improve the burn-in phenomenon even if it is used can be displayed on the self-luminous device as it is. For this reason, it is possible to simultaneously execute image quality maintenance and image sticking correction.
Of course, when the original image is displayed on the self-luminous device as it is, if the accumulated deterioration amount difference increases (the burn-in phenomenon becomes more conspicuous), the correction operation is executed so that the accumulated deterioration amount difference is reduced.
Further, since the burn-in phenomenon correction operation is executed during use (during image display), the correction time in the non-use state can be shortened. That is, even if the non-use state is short, the burn-in correction operation can be completed. In addition, since the correction period in the non-use state can be shortened, useless power consumption can be eliminated.
(C)形態例3
(a)焼き付き現象補正装置の構成
この形態例では、劣化量差の算出に劣化率を用いる場合について補正処理の選択動作を説明する。
劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいい、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。
なお、劣化率(単位時間あたりの劣化比率)は、各画素の発光輝度(例えば、駆動電流量)やその時の発熱温度が影響する特性がある。
これは、発光特性の劣化が、入力信号値に比例して進行しない場合に非常に有効な処理手法であり、発明者らが提案する算出手法である。
(C) Embodiment 3
(A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device In this embodiment, the correction processing selection operation will be described in the case where the deterioration rate is used for calculating the deterioration amount difference.
The deterioration rate refers to a value obtained by converting a decrease in light emission amount per unit time, and is obtained from an actual measurement value of light emission characteristics. For example, it is given as a value obtained by converting the actually measured amount of decrease in luminance when light emission by individual gradation values continues for a certain period.
The deterioration rate (deterioration ratio per unit time) has a characteristic that the light emission luminance (for example, drive current amount) of each pixel and the heat generation temperature at that time have an influence.
This is a very effective processing technique when the deterioration of the light emission characteristics does not proceed in proportion to the input signal value, and is a calculation technique proposed by the inventors.
(a)焼き付き現象補正装置の構成
図7に、補正装置の他の形態例を示す。図7に示す補正装置31は、階調値−劣化率変換テーブル33、劣化量差算出部35、累積劣化量差算出部5、補正効果予測部7、累積劣化量差蓄積部9、補正動作選択部37、補正量決定部39、劣化量差補正部15を主要な構成要素とする。
(a−1)階調値−劣化率変換テーブル
このうち、階調値−劣化率変換テーブル33、劣化量差算出部35、補正動作選択部37の3つがこの形態例に特有の構成要素である。以下では、これらの構成要素を主に説明する。なお、他の構成は形態例1と同じであるため説明を省略する。
(A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device FIG. 7 shows another example of the correction device. 7 includes a gradation value-deterioration rate conversion table 33, a deterioration amount
(A-1) Tone value-deterioration rate conversion table Among these, the tone value-deterioration rate conversion table 33, the deterioration amount
階調値−劣化率変換テーブル33(以下、「変換テーブル33」という。)は、入力信号が階調値で与えられる場合に、これを劣化率に変換するためのルックアップテーブルである。
ここで、テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値(8ビットの場合は255)の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業(すなわち、輝度低下率)を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。
The gradation value-deterioration rate conversion table 33 (hereinafter referred to as “conversion table 33”) is a lookup table for converting an input signal into a deterioration rate when given as a gradation value.
Here, the table information is set based on the correspondence relationship between the gradation value and the deterioration rate acquired in the previous experiment. The inventors propose the following method as an example of an experiment for determining table information. For example, when the self-luminous device is turned on for a certain period at a certain fixed gradation value, how much the actually measured luminance is reduced with respect to the initial luminance of the maximum gradation value (255 for 8-bit) The operation of actually measuring (that is, the luminance reduction rate) is repeated for all gradation values.
When the number of gradations is large, a method of sampling an appropriate gradation value and calculating using a relational expression obtained from the result is also conceivable.
図8は、この階調値と劣化率との対応関係を表している。例えば、階調値“n”に対応する劣化率を“Xn
”として表している。なお、図8は8ビットの場合であるので、nは0〜255までの値として与えられる。
図9に、具体例を示す。この例の場合、大階調値(255)の劣化率は0.03%であり、中間階調値(127)の劣化率は0.01%である。また、発光期間が1の場合の劣化量は、それぞれ300×10-4%と100×10-4%である。
なお、この変換テーブルは、階調値から劣化率を読み出すことも、劣化率から階調値を読み出すことも可能である。
FIG. 8 shows the correspondence between the gradation value and the deterioration rate. For example, the deterioration rate corresponding to the gradation value “n” is set to “X n
Note that, since FIG. 8 is a case of 8 bits, n is given as a value from 0 to 255.
FIG. 9 shows a specific example. In this example, the deterioration rate of the large gradation value (255) is 0.03%, and the deterioration rate of the intermediate gradation value (127) is 0.01%. Further, the degradation amounts when the light emission period is 1 are 300 × 10 −4 % and 100 × 10 −4 %, respectively.
In this conversion table, the deterioration rate can be read from the gradation value, or the gradation value can be read from the deterioration rate.
(a−2)劣化量差算出部
劣化量算出部35は、各画素に対応する入力信号値(階調値)から各発光期間の劣化量を算出する処理デバイスである。
劣化量算出部35は、階調値に対応する劣化率を階調値−劣化率変換テーブル33を参照して読み出すと共に、読み出された劣化率に発光時間tを乗算して導出される劣化量の差を算出する処理デバイスである。
図10に、劣化量差算出部35で実行される信号処理例を示す。なお、補正対象画素を画素1、基準画素を画素2として説明する。
まず、劣化量算出部35は、画素1及び2それぞれについて、各階調値と発光期間t1を検出する(S21)。
(A-2) Degradation Amount Difference Calculation Unit The degradation
The deterioration
FIG. 10 shows an example of signal processing executed by the deterioration amount
First, the deterioration
次に、劣化量差算出部35は、検出された各階調値に対応する劣化率を導出する(S22)。ここでは、画素1に対応する劣化率をα1、画素2に対応する劣化率をα2と示す。
劣化量差算出部35は、導出された各劣化率α1、α2に発光期間t1を乗算し、画素1の劣化量R(α1)と、画素2の劣化量R(α2)を算出する(S23)。
この後、劣化量差算出部35は、R(α1)−R(α2)で与えられる演算処理を実行し、画素1と画素2の2画素間における劣化量差ΔRを算出する(S24)。
このように算出された劣化量差ΔRが累積劣化量差算出部5に与えられ、累積劣化量差ΣΔRの更新に用いられる。
Next, the deterioration amount
The deterioration amount
Thereafter, the deterioration amount
The deterioration amount difference ΔR calculated in this way is given to the cumulative deterioration amount
(a−3)補正動作選択部
補正動作選択部37は、前発光期間までの累積劣化量差ΔRと次発光期間の階調値に対応する劣化率α1、α2に基づいて補正動作の実行と停止を選択する処理デバイスである。
まず、補正動作の実行と停止の判断基準を与える補正条件を説明する。
図11及び図12に、補正動作の選択原理を説明する。図10の場合と同様に、補正対象画素を画素1、基準画素を画素2として説明する。また、現在の発光期間をt1、次の発光期間をt2として説明する。なお、以下に示す条件を満たす場合、発光期間t2は、発光期間t1までに発生した累積劣化量差を補正する期間となる。
(A-3) Correction Operation Selection Unit The correction
First, a correction condition that gives a criterion for executing and stopping the correction operation will be described.
11 and 12 explain the selection principle of the correction operation. Similar to the case of FIG. 10, the correction target pixel will be described as
以下では、発光期間t1及びt2が任意の長さであるとして説明する。もっとも、t1とt2は同じ1フレーム期間でも良い。ここでも、画素1に対応する劣化率をα1、画素2に対応する劣化率をα2とする。
この場合、画素1の発光期間t1における劣化量R(α1)は、α1×t1で与えられ、画素2の発光期間t1における劣化量R(α2)は、α2×t2で与えられる。従って、画素2に対する画素1の劣化量差ΔR1は、R(α1)−R(α2)(=(α1−α2)×t1)で与えられる。
In the following description, it is assumed that the light emission periods t1 and t2 have an arbitrary length. However, t1 and t2 may be the same one frame period. Again, the deterioration rate corresponding to the
In this case, the deterioration amount R (α1) of the
図11に、発光期間t1の劣化率α1がα2より大きい場合(すなわち、画素1の劣化が画素2より進んでいる場合)の特性変化を示す。この場合、劣化量差ΔR1は正値となる。なお、図11は、発光期間t1の開始時において画素1と画素2の劣化量が同じであるものとして表している。
図12に、発光期間t1の劣化率α1がα2より小さい場合(すなわち、画素1の劣化が画素2より遅れている場合)の特性変化を示す。この場合、劣化量差ΔR1は負値となる。この図12も、発光期間t1の開始時において画素1と画素2の劣化量が同じであるものとして表している。
FIG. 11 shows a change in characteristics when the deterioration rate α1 of the light emission period t1 is larger than α2 (that is, when the deterioration of the
FIG. 12 shows a characteristic change when the deterioration rate α1 of the light emission period t1 is smaller than α2 (that is, when the deterioration of the
発光期間t2の劣化量差ΔR2も同様に表すことができる。すなわち、ΔR2は、画素1に対応する劣化率β1と画素2に対応する劣化率β2を用い、R(β1)−R(β2)(=(β1−β2)×t2)で表すことができる。
図11及び図12から分かるように、焼き付き現象を改善するには、その原因である劣化量差が小さくなるように更新されること、すなわち、|ΔR1|よりも|ΔR1+ΔR2|の方が小さくなるように更新されることが必要である。
この条件は、|ΔR1|>|ΔR1+ΔR2|で与えられる。
この条件式を満たせば、補正動作を特に実行しなくても原画像をそのまま表示するだけで画素間の劣化量差を縮小することができる。
従って、補正動作の実行と停止の選択は、この条件式を満たすか否かで判定できる。
The deterioration amount difference ΔR2 in the light emission period t2 can be similarly expressed. That is, ΔR2 can be expressed as R (β1) −R (β2) (= (β1−β2) × t2) using the deterioration rate β1 corresponding to the
As can be seen from FIG. 11 and FIG. 12, in order to improve the burn-in phenomenon, update is performed so that the difference in deterioration amount that is the cause is smaller, that is, | ΔR1 + ΔR2 | is smaller than | ΔR1 |. Needs to be updated.
This condition is given by | ΔR1 |> | ΔR1 + ΔR2 |.
If this conditional expression is satisfied, it is possible to reduce the deterioration amount difference between pixels only by displaying the original image as it is without performing any correction operation.
Therefore, execution of the correction operation and selection of stop can be determined by whether or not this conditional expression is satisfied.
以下では、補正動作選択部37で実行される処理動作の具体例を示す。
まず、補正動作選択部37は、現発光期間(この場合は、発光期間t1)での補正対象画素の累積劣化量差ΣΔRBが正値か負値か判定する。すなわち、補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる状態か、それとも遅れている状態かを判定する。
次に、補正動作選択部37は、次発光期間(この場合は、発光期間t2)において、補正対象画素の劣化率と基準画素の劣化率との大小関係を判定する。
例えば、累積劣化量差が正値の場合に、補正対象画素の劣化率β1が基準画素β2の劣化率より低ければ、劣化量差ΔRは縮小する。
従って、補正動作選択部37は、原画像信号のうちでこの条件を満たす画素を、画質低下を引き起こす補正動作が不要であると判断する。
Hereinafter, a specific example of the processing operation executed by the correction
First, the correction
Next, the correction
For example, when the accumulated deterioration amount difference is a positive value, if the deterioration rate β1 of the correction target pixel is lower than the deterioration rate of the reference pixel β2, the deterioration amount difference ΔR is reduced.
Therefore, the correction
また例えば、累積劣化量差が正値の場合に、補正対象画素の劣化率β1が基準画素β2の劣化率より大きいとき又は両階調値が同じとき、劣化量差ΔRは拡大するか現状のままである。
この場合、補正動作選択部37は、補正対象画素の劣化率β1を基準画素β2の劣化率より低くするように補正動作を指示する。
また例えば、累積劣化量差が負値の場合に、補正対象画素の劣化率β1が基準画素β2の劣化率より大きければ、劣化量差ΔRは縮小する。
従って、補正動作選択部37は、原画像信号のうちでこの条件を満たす画素を、画質低下を引き起こす補正動作が不要であると判断する。
Further, for example, when the accumulated deterioration amount difference is a positive value, when the deterioration rate β1 of the correction target pixel is larger than the deterioration rate of the reference pixel β2 or when both gradation values are the same, the deterioration amount difference ΔR is increased or It remains.
In this case, the correction
Further, for example, when the cumulative deterioration amount difference is a negative value, if the deterioration rate β1 of the correction target pixel is larger than the deterioration rate of the reference pixel β2, the deterioration amount difference ΔR is reduced.
Therefore, the correction
また例えば、累積劣化量差が負値の場合に、補正対象画素の劣化率β1が基準画素β2の劣化率より小さいとき又は両階調値が同じとき、劣化量差ΔRは拡大するか現状のままである。
この場合、補正動作選択部37は、補正対象画素の劣化率β1を基準画素β2の劣化率より大きくなるように補正動作を指示する。
図13に、この判定動作と補正動作の関係を示す。やはり、この補正動作選択部37が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。
In addition, for example, when the cumulative deterioration amount difference is a negative value, when the deterioration rate β1 of the correction target pixel is smaller than the deterioration rate of the reference pixel β2 or when both gradation values are the same, the deterioration amount difference ΔR increases or It remains.
In this case, the correction
FIG. 13 shows the relationship between the determination operation and the correction operation. Again, the correction
(a−4)補正量決定部
補正量決定部39は、補正動作の実行が指示されたとき、累積劣化量差蓄積部9から読み出した累積劣化量差ΣΔRが解消されるように劣化率β1を算出する処理デバイスである。
なお、補正量決定部39は、補正用の劣化率β1に対応する階調値(補正量)を階調値−劣化率変換テーブル33を参照して決定する。すなわち、変換テーブルを逆引きすることにより、劣化率に対応する階調値を導出する。
導出された階調値は、補正量として劣化量差補正部15に与えられる。
(A-4) Correction Amount Determination Unit When the correction
The correction
The derived gradation value is given to the deterioration amount
(b)焼き付き補正処理例
図14に、補正装置31で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部37が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔRBを確認する(S31)。
また、補正動作選択部37は、次発光期間の階調値に対応する劣化率を、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて確認する(S32)。
次に、補正動作選択部37は、前発光期間の累積劣化量差ΣΔRBが非ゼロか否かを判定する(S33)。
このステップS33で否定結果が得られたとき(すなわち、累積劣化量差ΣΔR1=0のとき)、補正動作選択部37は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する(S34)。
(B) Burn-in Correction Processing Example FIG. 14 shows a series of processing operations executed by the
Each time an input signal for the next light emission period is input, the correction
In addition, the correction
Next, the correction
When a negative result is obtained in step S33 (that is, when the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 = 0), the correction
これに対し、肯定結果が得られたとき、補正動作選択部37は、累積劣化量差ΣΔR1が負か否かを判定する(S35)。
なお、ステップS35で肯定結果が得られた場合、補正動作選択部37は、補正対象画素の劣化率β1が基準画素の劣化率β2以上か否か判定する(S36)。
このステップS36で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔRAが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部37は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する(S34)。
一方、ステップS36で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔRAが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部23は、累積劣化量差ΣΔRAが縮小されるように補正対象画素の劣化率が基準画素より大きい値に変更されるように補正処理の実行を指示する(S37)。そして、同劣化率について導出された補正量により入力信号の補正が実行される。
On the other hand, when a positive result is obtained, the correction
When a positive result is obtained in step S35, the correction
If a negative result is obtained in this step S36, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced. Therefore, the correction
On the other hand, if a positive result is obtained in step S36, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is enlarged. Accordingly, the correction
また、ステップS35で否定結果が得られた場合、補正動作選択部23は、補正対象画素の劣化率β1が基準画素の劣化率β2以上か否か判定する(S38)。
このステップS38で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔRAが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部37は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する(S34)。
一方、ステップS38で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔRAが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部37は、累積劣化量差ΣΔRAが縮小されるように補正対象画素の劣化率が基準画素より小さい値に変更されるように補正処理の実行を指示する(S39)。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
この後、補正効果予測部7は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部5に与える。累積劣化量差算出部5は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する(S40)。
If a negative result is obtained in step S35, the correction
If a negative result is obtained in this step S38, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced. Therefore, the correction
On the other hand, if a positive result is obtained in step S38, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is increased. Therefore, the correction
Thereafter, the correction
(D)自発光装置への搭載例
図15に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置41は、筐体43に焼き付き現象補正装置45と表示デバイス47を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置45は、前述した補正装置1、21、31のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置45は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
(D) Example of mounting on self-luminous device FIG. 15 shows an example of mounting the burn-in phenomenon correcting device on the self-luminous device.
The self-light-emitting
Here, the burn-in
また、表示デバイス47は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネル、PDP(プラズマディスプレイパネル)、FED(電界放出ディスプレイ)パネル、LEDパネル、CRTが用いられる。
図14の場合、自発光装置41に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置45が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
The
In the case of FIG. 14, the self-light-emitting
(c)形態例の効果
このような処理方法を採用する場合にも、画質の維持と焼き付き現象の補正を同時に実行できる。
更に、この形態例の場合、劣化率を用いて各発光期間の劣化量を正確に算出することができる。すなわち、発光特性の劣化が入力信号値に比例して進行しない場合にも、高い精度で補正量を決定でき、焼き付き現象を無くすことができる。
勿論、使用中(画像の表示中)も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。
(C) Effects of Embodiments Even when such a processing method is employed, image quality maintenance and burn-in correction can be performed simultaneously.
Furthermore, in the case of this embodiment, the deterioration amount of each light emission period can be accurately calculated using the deterioration rate. That is, even when the deterioration of the light emission characteristics does not proceed in proportion to the input signal value, the correction amount can be determined with high accuracy, and the burn-in phenomenon can be eliminated.
Of course, the correction operation for the burn-in phenomenon is performed even during use (during image display), so that the correction time in the non-use state can be shortened. In addition, since the correction period in the non-use state can be shortened, useless power consumption can be eliminated.
(F)他の形態例
(a)前述の形態例では、発光期間t1と補正期間t2が任意長の場合について説明した。
しかし、発光期間t1と補正期間t2は同じでも良い。例えば、単位フィールド又は単位フレームでも良い。この場合、劣化量は、各入力信号値又はその換算値(例えば劣化率)で算出できる。
(b)前述の形態例では、累積劣化量差ΣΔRを保管するように補間量を決定する方法を選択した。
しかし、各発光期間に前発光期間に発生した劣化量差を解消する場合には、累積劣化量差に代えて前発光期間の劣化量差を用いる仕組みを採用すれば良い。すなわち、劣化量差を管理する仕組みを無くし得る。
(F) Other Embodiments (a) In the above-described embodiments, the case where the light emission period t1 and the correction period t2 are arbitrary lengths has been described.
However, the light emission period t1 and the correction period t2 may be the same. For example, a unit field or a unit frame may be used. In this case, the deterioration amount can be calculated by each input signal value or its converted value (for example, deterioration rate).
(B) In the above-described embodiment, the method of determining the interpolation amount is selected so as to store the accumulated deterioration amount difference ΣΔR.
However, in order to eliminate the deterioration amount difference generated in the previous light emission period in each light emission period, a mechanism using the deterioration amount difference in the previous light emission period instead of the cumulative deterioration amount difference may be employed. That is, the mechanism for managing the difference in deterioration amount can be eliminated.
(c)前述の形態例3では、変換テーブルとして単位フレームの階調値と劣化率の対応関係を保存する場合について説明した。
しかし、複数フレームに対応する階調値の積算値と劣化率の対応関係を保存しても良い。この場合、発光期間t1と補正期間t2をそれぞれ複数フレームで与える場合に効果的である。
(d)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
(C) In the above-described third embodiment, the case where the correspondence relationship between the gradation value of the unit frame and the deterioration rate is stored as the conversion table has been described.
However, the correspondence between the integrated value of gradation values corresponding to a plurality of frames and the deterioration rate may be stored. In this case, it is effective when the light emission period t1 and the correction period t2 are each given by a plurality of frames.
(D) Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the gist of the invention. Various modifications and application examples created based on the description of the present specification are also conceivable.
1 焼き付き現象補正装置
3 劣化量差算出部
5 累積劣化量差算出部
7 補正効果予測部
9 累積劣化量差蓄積部
11 補正動作選択部
13 補正量決定部
15 劣化量差補正部
21 焼き付き現象補正装置
23 補正動作選択部
31 焼き付き現象補正装置
33 階調値−劣化率変換テーブル
35 劣化量差算出部
37 補正動作選択部
39 補正量決定部
DESCRIPTION OF
Claims (11)
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 A method of correcting the burn-in phenomenon of a self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix while the self-light-emitting device is in use,
A process of sequentially calculating a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A process of cumulatively adding the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
A process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a direction of reduction or update in a direction of enlargement due to light emission of the self-luminous element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, a process for instructing execution stop of the correction operation for the corresponding input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction, a process for instructing calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference;
And a process of correcting a corresponding input signal with the calculated correction amount.
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差と更新後の累積劣化量差とを比較する処理と、
更新後の累積劣化量差の方が小さい場合、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新後の累積劣化量差の方が大きい場合又は更新前後の累積劣化量差が同じ場合、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
According to the input signal corresponding to the next light emission period, the process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reducing or updated in the direction of increasing,
A process of comparing the accumulated deterioration amount difference before update with the accumulated deterioration amount difference after update;
When the cumulative deterioration amount difference after update is smaller, a process of determining that the cumulative deterioration amount difference is updated in a direction in which the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is reduced;
And determining that the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction when the cumulative deterioration amount difference after the update is larger or the cumulative deterioration amount difference before and after the update is the same. Burn-in correction method.
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差が正値か負値かを判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値と同じか大きいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値より小さいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値より大きいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値と同じか小さいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
According to the input signal corresponding to the next light emission period, the process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reducing or updated in the direction of increasing,
A process of determining whether the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value or a negative value;
A direction in which the magnitude of the cumulative deterioration amount difference increases when the input signal value of the correction target pixel is equal to or greater than the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value. A process for determining that it is updated to
When it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a positive value, and the input signal value of the pixel to be corrected is smaller than the input signal value of the reference pixel, the accumulated deterioration amount difference is updated in a direction to reduce. A process for determining that
When it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a negative value, and the input signal value of the correction target pixel is larger than the input signal value of the reference pixel, the accumulated deterioration amount difference is updated in the direction of reducing. A process for determining that
A direction in which the magnitude of the cumulative degradation amount difference increases when the input signal value of the correction target pixel is the same as or smaller than the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative degradation amount difference before update is a negative value A process for determining that it is updated to
A burn-in phenomenon correction method comprising:
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差が正値か負値かを判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率と同じか大きいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率より小さいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率より大きいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率と同じか小さいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
According to the input signal corresponding to the next light emission period, the process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reducing or updated in the direction of increasing,
A process of determining whether the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value or a negative value;
The deterioration rate derived from the input signal value of the pixel to be corrected is equal to or greater than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value. , Processing for determining that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction;
When it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a positive value, accumulation is performed when the deterioration rate derived from the input signal value of the correction target pixel is smaller than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel. A process for determining that the magnitude of the deterioration amount difference is updated in a decreasing direction;
Accumulated when the deterioration rate derived from the input signal value of the correction target pixel is larger than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel when it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a negative value. A process for determining that the magnitude of the deterioration amount difference is updated in a decreasing direction;
The deterioration rate derived from the input signal value of the pixel to be corrected is equal to or smaller than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative deterioration amount difference before update is a negative value , Processing for determining that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction;
A burn-in phenomenon correction method comprising:
前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the reference pixel is set for each of a plurality of self-light-emitting elements that emit light of the same color.
前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定された画素である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the reference pixel is a pixel virtually set for calculating a correction amount.
前記入力信号は、輝度を指定する階調値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the input signal is a gradation value for designating luminance.
前記入力信号は、自発光素子に印加される駆動電流値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the input signal is a drive current value applied to a self-luminous element.
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する更新方向判定部と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示し、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する補正動作指示部と、
決定された補正量で対応する入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。 A self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix on a substrate,
A deterioration amount difference calculation unit that sequentially calculates a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel, based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A cumulative deterioration amount difference calculating unit that cumulatively adds the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculates a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
An update direction determination unit that determines whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reduction or update in the direction of enlargement due to light emission of the self-light-emitting element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, an instruction to stop execution of the correction operation for the corresponding input signal is issued, and the cumulative deterioration amount difference is updated in the increasing direction. A correction operation instruction unit that instructs calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference,
A self-luminous device comprising: a deterioration amount difference correction unit that corrects a corresponding input signal with a determined correction amount.
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する更新方向判定部と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示し、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する補正動作指示部と、
決定された補正量で対応する入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 A self-light-emitting device burn-in phenomenon correcting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix on a substrate,
A deterioration amount difference calculation unit that sequentially calculates a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel, based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A cumulative deterioration amount difference calculating unit that cumulatively adds the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculates a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
An update direction determination unit that determines whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reduction or update in the direction of enlargement due to light emission of the self-light-emitting element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, an instruction to stop execution of the correction operation for the corresponding input signal is issued, and the cumulative deterioration amount difference is updated in the increasing direction. A correction operation instruction unit that instructs calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference,
A burn-in phenomenon correction device, comprising: a deterioration amount difference correction unit that corrects a corresponding input signal with a determined correction amount.
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
In a computer mounted on a self-luminous device in which a plurality of self-luminous elements are arranged in a matrix,
A process of sequentially calculating a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A process of cumulatively adding the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
A process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a direction of reduction or update in a direction of enlargement due to light emission of the self-luminous element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, a process for instructing execution stop of the correction operation for the corresponding input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction, a process for instructing calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference;
And a process for correcting a corresponding input signal with the calculated correction amount.
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