JP2006111897A - 端子用材料 - Google Patents
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Abstract
【課題】 軽量でかつ熱伝導率が大きく、鉛フリーハンダを用いた際のハンダ強度に優れた端子用材料を提供する。
【解決手段】 Al基板表面に置換めっきによりZn層を形成させ、その上にNi層、またはNi層とSn層、もしくはNi層とCu層をめっきにより形成させて端子用材料とする。このようにして得られる端子用材料は、40W/m・K以上の熱伝導率を有しており、端子材をハンダ付けする回路基板などから熱を効率的に吸収して放熱することができる。
【選択図】 なし
【解決手段】 Al基板表面に置換めっきによりZn層を形成させ、その上にNi層、またはNi層とSn層、もしくはNi層とCu層をめっきにより形成させて端子用材料とする。このようにして得られる端子用材料は、40W/m・K以上の熱伝導率を有しており、端子材をハンダ付けする回路基板などから熱を効率的に吸収して放熱することができる。
【選択図】 なし
Description
本発明は端子用材料に関わり、特にAlを基板とすることにより軽量でかつ熱伝導率が大きく、鉛フリーハンダを用いた際のハンダ強度に優れた端子用材料に関する。
電子機器等に用いられる端子用材料として、従来は真鍮板にハンダをめっきした材料が用いられてきたが、環境に与える影響から鉛を含まない鉛フリーのハンダを用いることが求められるようになっている。また、電子機器の小型化や軽量化が求められるようになり、それにともなってこれらの電子機器の部品である端子用材料などの部品についても、小型化や軽量化が求められるようになってきており、鉛フリーのハンダ付けが可能な軽量材料として、Al板にSn系のめっきを施した材料が提案されている。
例えば特許文献1には、Al板またはAl系合金金属材にNi系めっき層を介してSnめっき層が形成されたハンダ付け性およびめっき密着性に優れたAl系合金金属板が開示されている。このAl系合金金属板においては、溶融Alめっき鋼板などの基材に真空蒸着法を用いてNi系めっきした後、続いてSnめっきを施す。この方法による場合、NiおよびSnをめっきするために真空蒸着法を用いるが、真空装置などの大掛かりな装置が必要であり、また製膜速度が小さく生産性に乏しいため、安価に製造することが困難である。
また特許文献2には、アルミニウム基材上に錫または錫合金層が、アルミニウム基材と錫または錫合金層との界面に錫の濃度勾配を形成して被覆されたことを特徴とするハンダ付性に優れる錫または錫合金層を被覆したアルミニウム材料が開示されている。このアルミニウム材料においては、アルミニウム合金板に錫を電気めっきした後に加熱する、または溶融した錫合金中にアルミニウム合金板を通すことにより、アルミニウム基材と錫または錫合金層との界面に錫の濃度勾配を形成して錫めっきするが、アルミニウム基材と錫または錫合金層との密着性が不十分であり、特に曲げ加工を施した場合に、錫めっき被膜がアルミニウム基材から剥離しやすい欠点を有している。
特開平05−345969号公報
特開平09−291394号公報
本発明は、軽量でかつ熱伝導率が大きく、鉛フリーハンダを用いた際のハンダ強度に優れた端子用材料を提供することを目的とする。
本発明者は、上記問題点を解決するために、Al板へのハンダ濡れ性に優れ且つ高いハンダ強度を得る手段として、Ni層、あるいはNi層の上にさらに一段とハンダ濡れ性に優れているSn層又はCu層を設けることを着想し、それをめっきが困難なアルミニウム板に真空蒸着によらないでめっきすることを種々研究した結果、Znめっきを施して後Niめっき層を形成することによって良好な密着性が得られることを見出し本発明に到達したものである。
即ち、上記目的を達成する本発明の表面処理Al板は、Al基板表面に、基板側から順にZn層、Ni層を形成してなることを特徴とするもの(請求項1)である。
Al板はめっきが困難であるが、ZnはAl板への高い密着性を有するめっきが可能であり、またZnめっき上へのNiめっきも高い密着性を有するめっきが可能であるので、Al板表面に順にZn層、Ni層を形成することによって、めっき密着性に優れ且つハンダ付けが可能で、放熱性に優れた軽量な表面処理Al板を得ることができる。
即ち、上記目的を達成する本発明の表面処理Al板は、Al基板表面に、基板側から順にZn層、Ni層を形成してなることを特徴とするもの(請求項1)である。
Al板はめっきが困難であるが、ZnはAl板への高い密着性を有するめっきが可能であり、またZnめっき上へのNiめっきも高い密着性を有するめっきが可能であるので、Al板表面に順にZn層、Ni層を形成することによって、めっき密着性に優れ且つハンダ付けが可能で、放熱性に優れた軽量な表面処理Al板を得ることができる。
また上記目的は、Al基板表面に、基板側から順にZn層、Ni層、Sn層を形成してなる端子用材料(請求項2)、またはAl基板表面に、基板側から順にZn層、Ni層、Cu層を形成してなる端子用材料(請求項3)によってより効果的に達成できる。そして、上記(請求項1〜3)のいずれかの端子用材料の他の特徴は、鉛フリーハンダを用いるハンダ強度が3kg/7mm以上であること(請求項4)にある。
本発明の端子用材料は、Al基板表面に置換めっきによりZn層を形成させ、その上にNi層、またはNi層とSn層、もしくはNi層とCu層をめっきにより形成させているので、Al板とめっき層の密着性に優れている。また、最表面となるNi層、Sn層、Cu層は鉛フリーハンダを用いる場合に3kg/7mm以上の高いハンダ強度が得られる。さらに基板がAl板であるので熱伝導率が大きく、端子材を接続する回路基板などの放熱にも寄与することができる。そのため、本発明の端子用材料は、小型で軽量の電子機器などの用途に鉛フリーハンダのハンダ付けが可能な端子用材料として好適に適用することができる。
以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の表面処理Al板の基板となるAlとしては、純Al板およびJIS規格の1000系、2000系、3000系、5000系、6000系、7000系のいずれのAl合金板も用いることができる。これらのAl合金板を脱脂し、次いで酸性エッチングし、引き続きスマットを除去した後、Znを置換めっきする。Znの置換めっきは、硝酸浸漬処理した後、Znによる置換めっき処理を行う。Zn置換めっき処理は第一Zn置換めっき処理、第二Zn置換めっき処理の2回の工程に分けて行うのが好ましいが、1回で行ってもよい。Zn置換めっき処理を2回分けて行うことによって、Al板上にZn層をより均一に形成することができ、後工程でその上にめっきするNiめっきをめっき不良(密着不良)を起こすことなく形成できる利点がある。
本発明の表面処理Al板の基板となるAlとしては、純Al板およびJIS規格の1000系、2000系、3000系、5000系、6000系、7000系のいずれのAl合金板も用いることができる。これらのAl合金板を脱脂し、次いで酸性エッチングし、引き続きスマットを除去した後、Znを置換めっきする。Znの置換めっきは、硝酸浸漬処理した後、Znによる置換めっき処理を行う。Zn置換めっき処理は第一Zn置換めっき処理、第二Zn置換めっき処理の2回の工程に分けて行うのが好ましいが、1回で行ってもよい。Zn置換めっき処理を2回分けて行うことによって、Al板上にZn層をより均一に形成することができ、後工程でその上にめっきするNiめっきをめっき不良(密着不良)を起こすことなく形成できる利点がある。
この場合、各工程の処理後には水洗処理を実施する。この第一Zn置換めっき処理および第二Zn置換めっき処理により形成するZnめっき層は、この置換めっき処理後にNiめっきを施す際にわずかに溶解するので、Zn層の皮膜量としてはNiめっき後の状態で5〜500mg/m2であることが好ましく、30〜300mg/m2であることがより好ましい。皮膜量は処理液中のZnイオン濃度および第二Zn置換めっき処理において処理液中に浸漬する時間を適宜選択して調整する。皮膜量が5mg/m2未満であるとZn層の上に形成するNiめっき層との密着性に乏しくなり、曲げ加工を施した際にめっき層が剥離しやすくなる。一方、皮膜量が500mg/m2を超えるとNiめっきが不均一になり、ハンダ強度が低下する。
次いでこのようにして形成されたZn層の上にNi層をめっきにより形成する。Niめっきは電気めっき法または無電解めっき法のいずれを用いて形成してもよい。無電解めっき法を用いる場合は、還元剤としてP化合物やB化合物を用いるので、Niめっき皮膜はNi−P合金やNi−B合金からなる皮膜として形成するが、電気めっき法による純Niからなる皮膜と同様に、めっき皮膜のAl基板に対する密着性や、優れたハンダ濡れ性およびハンダ強度が得られる。このようにして得られるNi層は、皮膜量として0.2〜50g/m2であることが好ましく、1〜10g/m2であることがより好ましい。皮膜量が0.2g/m2未満であるとNi層がZn層の全面を均一に被覆することができないので十分なハンダ強度が得られない。一方、皮膜量が50g/m2を超えるとハンダ濡れ性およびハンダ強度の向上効果が飽和し、コスト的に有利でなくなる。このようにして本発明の端子用材料が得られる。
本発明の端子用材料は上記のようにして、Al基板表面に、Zn層とNi層を形成した後、さらにその上にSn層またはCu層をめっきにより形成してもよい。CuめっきおよびSnめっきは、それぞれ電気めっき法または無電解めっき法のいずれを用いて形成してもよい。Cuめっきの皮膜量およびSnめっきの皮膜量は、それぞれ0.2〜20g/m2であることが好ましく、1〜10g/m2であることがより好ましい。皮膜量が0.2g/m2未満であると非活性のフラックスを用いた場合にハンダが濡れにくくなる。一方、皮膜量が20g/m2を超えるとハンダ濡れ性およびハンダ強度の向上効果が飽和し、コスト的に有利でなくなる。
以上のようにしてAl基板上にZn層、Ni層、Sn層、もしくはZn層、Ni層、Cu層を形成することによっても、本発明の端子用材料を得ることができる。また、この表面処理Al板をAlの融点以下の温度に加熱して、Al基板とZn層、Zn層とNi層、またはAl基板とZn層とNi層、Zn層とNi層とSn層、もしくはAl基板とZn層とNi層、Zn層とNi層とCu層をそれぞれ相互拡散させることにより、Al基板とめっき層、および各めっき層同士の密着強度を向上させることもできる。
このようにして得られる本発明の端子用材料は、40W/m・K以上の熱伝導率を有しており、端子材をハンダ付けする回路基板などから熱を効率的に吸収して放熱することができる。
以下、実施例を示して本発明をさらに詳細に説明する。
[供試板の作成]
Al合金板(JIS 5052 H19、板厚0.5mm)をめっき基板として、アルカリ液中で脱脂し、次いで硫酸中に浸漬するエッチング処理を施し、引き続いて硝酸中で脱スマット処理を施した後、水酸化ナトリウム:150g/L、ロッシェル塩:50g/L、酸化亜鉛:25g/L、塩化第一鉄:1.5g/Lを含む処理液中に浸漬する第一Zn置換めっき処理を行い、次いで400g/Lの硝酸水溶液中に浸漬して置換析出したZnを除去した後、第一Zn置換めっき処理で用いたのと同一の処理液中に浸漬して第二Zn置換めっき処理を行った。この第二Zn置換めっき処理において、浸漬時間を種々変化させて、表1に示す皮膜量のZn層を形成したZnめっきAl板を得た。
[供試板の作成]
Al合金板(JIS 5052 H19、板厚0.5mm)をめっき基板として、アルカリ液中で脱脂し、次いで硫酸中に浸漬するエッチング処理を施し、引き続いて硝酸中で脱スマット処理を施した後、水酸化ナトリウム:150g/L、ロッシェル塩:50g/L、酸化亜鉛:25g/L、塩化第一鉄:1.5g/Lを含む処理液中に浸漬する第一Zn置換めっき処理を行い、次いで400g/Lの硝酸水溶液中に浸漬して置換析出したZnを除去した後、第一Zn置換めっき処理で用いたのと同一の処理液中に浸漬して第二Zn置換めっき処理を行った。この第二Zn置換めっき処理において、浸漬時間を種々変化させて、表1に示す皮膜量のZn層を形成したZnめっきAl板を得た。
次いで、ZnめっきAl板に無電解めっき法を用いて、Zn層上にNi−12重量%P合金めっき皮膜を、表1に示す皮膜量で形成して供試板とした。一部の供試板については引き続いてZn層とNi層を形成したAl板に電気めっき法を用いてNi層上に純Snめっきまたは純Cuめっき皮膜を、表1に示す皮膜量で形成して供試板とした。一部の供試板については、これらのめっきを施した後、350℃に加熱し、Al板とめっき層および各めっき層同士を相互拡散させる拡散熱処理を施した。
また、比較用として、上記のAl合金板にZn置換めっき層を設けずに直接Niめっき層を設けた供試板、または直接Ni層とその上にSn層を設けた供試板、もしくは直接Ni層とその上にCu層を設けた供試板、さらに上記のAl合金板にZn置換めっき層を設けずにNiめっき層のみを設けた供試板、Snめっき層のみを設けた供試板、Cuめっき層のみを設けた供試板を作成した。
[供試板の特性評価]
上記のようにして得られた供試板を、下記の特性について評価した。
[ハンダ濡れ性]
メニスコグラフ法(MIL−STD−883B)により、SOLDERCHECKER(MODEL SAT−5000、RHESCA製)を使用し、上記の各供試板から切り出した幅7mmの試片をフラックス(EC−19S−8、タムラ化研製)に浸漬し、その後250℃に保持したSn(69.5%)−Ag(30%)−Cu(0.5%)の組成を有する鉛フリーハンダ浴(M705、千住金属((株))製)に前記のフラックスを塗布した試片を、浸漬速度2mm/秒で2mm浸漬し、ハンダが濡れるまでの時間(ゼロクロスタイム)を測定し、下記に示す基準でハンダ濡れ性を評価した。短時間であるほどハンダ濡れ性が良好であることを示す。
◎:5秒未満
○:5〜7秒未満
△:7〜10秒未満
×:10秒以上
上記のようにして得られた供試板を、下記の特性について評価した。
[ハンダ濡れ性]
メニスコグラフ法(MIL−STD−883B)により、SOLDERCHECKER(MODEL SAT−5000、RHESCA製)を使用し、上記の各供試板から切り出した幅7mmの試片をフラックス(EC−19S−8、タムラ化研製)に浸漬し、その後250℃に保持したSn(69.5%)−Ag(30%)−Cu(0.5%)の組成を有する鉛フリーハンダ浴(M705、千住金属((株))製)に前記のフラックスを塗布した試片を、浸漬速度2mm/秒で2mm浸漬し、ハンダが濡れるまでの時間(ゼロクロスタイム)を測定し、下記に示す基準でハンダ濡れ性を評価した。短時間であるほどハンダ濡れ性が良好であることを示す。
◎:5秒未満
○:5〜7秒未満
△:7〜10秒未満
×:10秒以上
[ハンダ強度]
上記の各供試板から切り出した幅7mm、長さ50mmの試片をL字型に折り曲げた2つの切り出し片を、評価面を向かい合わせてT字状になるように重ね、T字の縦棒の部分に厚さ0.5mmの鋼板を挟み、T字の縦棒の下部に0.5mmの空隙部を形成した試片を作成した。この試片の空隙部に上記のハンダ濡れ性の評価に用いたのと同様のフラックスを塗布した後、ソルダーチェッカー(SAT−5000、レスカ製)を用い、250℃に保持した上記の鉛フリーハンダ浴に試片の空隙部を10mmの深さまで浸漬し5秒間保持して空隙部にハンダを充填した後取り出し、Tピール試験片とした。次いでテンシロンを用い、Tピール試験片のT字の横棒の部分をチャックで挟んで引っ張ってT字の縦棒の部分のハンダ充填部を引き剥がし、このときの引張強度をハンダ強度として測定し、下記の基準でハンダ強度の優劣を評価した。
◎:4fgf/7mm以上
○:3〜4fgf/7mm未満
△:1〜3fgf/7mm未満
×:1fgf/7mm未満
上記の各供試板から切り出した幅7mm、長さ50mmの試片をL字型に折り曲げた2つの切り出し片を、評価面を向かい合わせてT字状になるように重ね、T字の縦棒の部分に厚さ0.5mmの鋼板を挟み、T字の縦棒の下部に0.5mmの空隙部を形成した試片を作成した。この試片の空隙部に上記のハンダ濡れ性の評価に用いたのと同様のフラックスを塗布した後、ソルダーチェッカー(SAT−5000、レスカ製)を用い、250℃に保持した上記の鉛フリーハンダ浴に試片の空隙部を10mmの深さまで浸漬し5秒間保持して空隙部にハンダを充填した後取り出し、Tピール試験片とした。次いでテンシロンを用い、Tピール試験片のT字の横棒の部分をチャックで挟んで引っ張ってT字の縦棒の部分のハンダ充填部を引き剥がし、このときの引張強度をハンダ強度として測定し、下記の基準でハンダ強度の優劣を評価した。
◎:4fgf/7mm以上
○:3〜4fgf/7mm未満
△:1〜3fgf/7mm未満
×:1fgf/7mm未満
[めっき皮膜の密着性]
上記の各供試板から幅15mm、長さ50mmの試験片を切り出し、90゜折り曲げ、折り曲げ部にスコッチテープを貼り付け、次いで引き剥がした後、めっき皮膜の剥離の有無を肉眼観察し、下記の基準でめっき皮膜の密着性を評価した。
○:剥離は認められない。
×:剥離が認められる。
上記の各供試板から幅15mm、長さ50mmの試験片を切り出し、90゜折り曲げ、折り曲げ部にスコッチテープを貼り付け、次いで引き剥がした後、めっき皮膜の剥離の有無を肉眼観察し、下記の基準でめっき皮膜の密着性を評価した。
○:剥離は認められない。
×:剥離が認められる。
その結果、表2に示すように、Al板にZn層、Ni層、またはAl板にZn層、Ni層、Sn層を、もしくはAl板にZn層、Ni層、Cu層を形成した本発明の端子材料はハンダの濡れ性に優れ、ハンダ強度も大きい。
本発明のAl基板表面に置換めっきによりZn層を形成させ、その上にNi層、またはNi層とSn層、もしくはNi層とCu層をめっきにより形成させている端子用材料は、Al板とめっき層の密着性に優れており、最表面にNi層、またはSn層、もしくはCu層を設けているので、鉛フリーハンダを用いた際のハンダ濡れ性に優れるとともに、高いハンダ強度が得られる。また基板がAl板であるので熱伝導率が大きく、放熱性に優れている。そのため、本発明の端子用材料は、小型で軽量の電子機器などの用途に鉛フリーハンダのハンダ付けが可能な端子用材料として好適に適用することができる。
Claims (4)
- Al基板表面に、基板側から順にZn層、Ni層を形成してなる端子用材料。
- Al基板表面に、基板側から順にZn層、Ni層、Sn層を形成してなる端子用材料。
- Al基板表面に、基板側から順にZn層、Ni層、Cu層を形成してなる端子用材料。
- 鉛フリーハンダを用いるハンダ強度が3kg/7mm以上である、請求項1〜3のいずれかに記載の端子用材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004298122A JP2006111897A (ja) | 2004-10-12 | 2004-10-12 | 端子用材料 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2004298122A JP2006111897A (ja) | 2004-10-12 | 2004-10-12 | 端子用材料 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2006111897A true JP2006111897A (ja) | 2006-04-27 |
Family
ID=36380667
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JP2004298122A Withdrawn JP2006111897A (ja) | 2004-10-12 | 2004-10-12 | 端子用材料 |
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