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JP2006196505A - Semiconductor laser device - Google Patents

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JP2006196505A
JP2006196505A JP2005003682A JP2005003682A JP2006196505A JP 2006196505 A JP2006196505 A JP 2006196505A JP 2005003682 A JP2005003682 A JP 2005003682A JP 2005003682 A JP2005003682 A JP 2005003682A JP 2006196505 A JP2006196505 A JP 2006196505A
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JP
Japan
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semiconductor laser
stem
laser chip
mounting structure
main surface
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Application number
JP2005003682A
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Inventor
Motoko Sasaki
素子 佐々木
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor laser device whose center axis of a laser beam becomes precisely vertical to a main face of a stem of a package when a semiconductor laser chip whose center axis of the laser beam is inclined to a substrate-side is assembled into the package by a junction down system suitable for a high output operation. <P>SOLUTION: An inclined face 51 is installed on a sub-mount 5 loading the semiconductor laser chip 1 so that width in a direction parallel to the stem main face 25 is reduced as it is detached from the stem 9 in a cross-sectional shape. The semiconductor laser chip 1 is arranged on the fixed face 4 of the inclined face 51. The fixed face 4 is inclined in a direction where an angle α1 which the extension face 23 of the fixed face 4 and the stem main face 25 makes, and which is viewed from the side of sub-mount 5 becomes smaller than 90°. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、光情報処理装置の光源等に用いられる半導体レーザ装置(以下、半導体レーザと称する)に関するものであり、特にその半導体レーザチップ(以下、レーザチップと称する)を設置、収納するパッケージにおいて、レーザチップから出射されるレーザ光の中心軸(遠視野像における光強度分布の中心軸。以下、レーザ光軸という。)のパッケージ主面に対して垂直方向における傾斜を低減可能な半導体レーザの組立構造に関するものである。   The present invention relates to a semiconductor laser device (hereinafter referred to as a semiconductor laser) used for a light source or the like of an optical information processing apparatus, and particularly in a package for installing and storing the semiconductor laser chip (hereinafter referred to as a laser chip). A semiconductor laser capable of reducing the inclination of the central axis of the laser light emitted from the laser chip (the central axis of the light intensity distribution in the far-field image; hereinafter referred to as the laser optical axis) in the direction perpendicular to the package main surface. The present invention relates to an assembly structure.

従来の半導体レーザのパッケージに用いられる組立構造において、レーザチップが搭載されるサブマウント、及びヒートシンク等の組立部材の形状は、直方体(立方体を含む、以下同様)で、その隣接する構成面は互いに直角をなしているため、レーザチップを設置する面はパッケージ主面に対して垂直となる。   In an assembly structure used in a conventional semiconductor laser package, the shape of assembly members such as a submount on which a laser chip is mounted and a heat sink is a rectangular parallelepiped (including a cube, the same applies hereinafter), and adjacent constituent surfaces are mutually Because of the right angle, the surface on which the laser chip is installed is perpendicular to the package main surface.

従って、上記組立部材により、レーザ光軸がレーザ共振器端面の垂直方向から傾斜したレーザチップをパッケージのステム上に組立てた場合、レーザ光軸もパッケージ主面の垂直方向から傾斜するという問題があった。   Therefore, when a laser chip whose laser optical axis is inclined from the vertical direction of the laser resonator end face is assembled on the package stem by the assembly member, there is a problem that the laser optical axis is also inclined from the vertical direction of the package main surface. It was.

このようなレーザ光軸がパッケージ主面から傾斜した半導体レーザを光ディスク書込装置の光ピックアップ等の光源として用いた場合、半導体レーザと光学系との光結合効率が悪くなり、DVD(Digital Versatile Disk)等の光ディスク書込用等の高出力動作が不可欠な用途においては、書込みに必要な十分な高い光密度がディスク面で安定して得られなくなり、書込みエラーが発生する等の問題があった。   When a semiconductor laser having such a laser optical axis tilted from the package main surface is used as a light source such as an optical pickup of an optical disk writing device, the optical coupling efficiency between the semiconductor laser and the optical system is deteriorated, and a DVD (Digital Versatile Disk) is obtained. In applications where high output operation such as for optical disk writing is indispensable, there is a problem that a sufficiently high light density necessary for writing cannot be stably obtained on the disk surface, and a writing error occurs. .

一方、レーザチップの活性層側表面をヒートシンクから離し、その基板側をヒートシンクに固着して設置した従来のジャンクションアップ方式による組立構造の半導体レーザにおいて、ヒートシンクのレーザチップ搭載面を斜めにカットして、レーザチップとヒートシンクとの固着面の延長面と、上記ステム主面とがなすヒートシンク側から見た角度を90°より大きくすることにより、上記レーザ光の光軸の傾斜を補償するキャンパッケージの構造が知られている(例えば特許文献1参照)。   On the other hand, the laser chip mounting surface of the heat sink is cut obliquely in a semiconductor laser with a conventional junction-up assembly structure in which the active layer side surface of the laser chip is separated from the heat sink and the substrate side is fixed to the heat sink. A can package that compensates for the inclination of the optical axis of the laser beam by making the angle seen from the heat sink side formed by the extension surface of the fixing surface of the laser chip and the heat sink and the main surface of the stem larger than 90 °. The structure is known (see, for example, Patent Document 1).

特開平1−138781号公報(第3頁、第1図、第4図)Japanese Laid-Open Patent Publication No. 1-138781 (page 3, FIGS. 1 and 4)

上記、従来の半導体レーザの組立構造においては、レーザチップとヒートシンクとの固着面の延長面と、ステム主面とがなすヒートシンク側の角度を90°より大きくしていたため、レーザ光軸がレーザ共振器端面の垂直方向に対し基板寄りに傾斜したレーザチップを、活性層に近い側のレーザチップ表面をヒートシンクに固着するジャンクションダウン方式の組立構造を用いた半導体レーザに適用した場合、レーザ光軸のステム主面の垂線に対する傾斜が一層大きくなるという問題が生じる。   In the above conventional semiconductor laser assembly structure, the angle of the heat sink side formed by the extension surface of the fixing surface of the laser chip and the heat sink and the main surface of the stem is larger than 90 °, so the laser optical axis is laser resonant. When a laser chip tilted closer to the substrate with respect to the vertical direction of the end face of the device is applied to a semiconductor laser using a junction-down assembly structure in which the laser chip surface close to the active layer is fixed to a heat sink, the laser optical axis There arises a problem that the inclination of the stem main surface with respect to the perpendicular is further increased.

この発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、大電流で駆動され発熱量の多い高出力半導体レーザに適した放熱性の良いジャンクションダウン方式の組立構造による半導体レーザに適用可能であり、かつキャンパッケージのステム主面に対して正確に垂直なレーザ光軸を有する半導体レーザの組立構造を実現することを目的とするものである。   The present invention has been made to solve the above problems, and can be applied to a semiconductor laser having a junction-down assembly structure with good heat dissipation suitable for a high-power semiconductor laser driven with a large current and generating a large amount of heat. An object of the present invention is to realize an assembly structure of a semiconductor laser having a laser optical axis that is exactly perpendicular to the stem main surface of the can package.

また、この発明の第2の目的は、従来の組立装置、工程をそのまま使うことが可能で、組立部材の変更等による組立コストの大きな増大を生ずることなく、ジャンクションアップ、またはジャンクションダウンのいずれの組立方式においても、光学的基準面であるステム主面に対して垂直なレーザ光を実現できる半導体レーザの組立構造を実現することを目的とするものである。   Further, the second object of the present invention is that the conventional assembling apparatus and process can be used as they are, and any of junction up or junction down can be performed without causing a large increase in assembly cost due to a change in assembly members or the like. The assembling method is also intended to realize a semiconductor laser assembling structure capable of realizing a laser beam perpendicular to a stem main surface which is an optical reference surface.

この発明に係る半導体レーザにおいては、レーザ光軸がレーザ共振器端面における垂線に対して基板側に傾斜したレーザチップと、その活性層側の表面が固着されたレーザチップ搭載用構造体をパッケージのステム上に設置するに際し、レーザ光軸がステム主面に対して垂直になるように、レーザチップとレーザチップ搭載用構造体とが固着された固着面の延長面とステム主面とがなすレーザチップ搭載用構造体側から見た角度が90°より小さくなる方向に上記固着面を傾けるようにした。   In the semiconductor laser according to the present invention, the laser chip whose laser optical axis is inclined toward the substrate side with respect to the perpendicular to the end face of the laser resonator and the laser chip mounting structure to which the active layer side surface is fixed are packaged. The laser formed by the stem main surface and the extension surface of the fixing surface to which the laser chip and the laser chip mounting structure are fixed so that the laser optical axis is perpendicular to the main surface of the stem when installed on the stem The fixing surface is inclined in a direction in which the angle viewed from the chip mounting structure side is smaller than 90 °.

この発明は、活性層から出射されるレーザ光軸がレーザ共振器端面における垂線に対して基板側に傾斜したレーザチップを、その活性層側の表面がレーザチップ搭載用構造体に固着された所謂ジャンクションダウンの形態で組立てる場合において、レーザ光軸の傾斜が、レーザチップ搭載用構造体及びステムの構造により補償され、レーザ光軸がパッケージの光学的基準面であるステム主面、または下面に対して正確に垂直な半導体レーザを実現できる。   The present invention is a so-called laser chip in which the laser optical axis emitted from the active layer is inclined to the substrate side with respect to the perpendicular to the end face of the laser resonator, and the surface on the active layer side is fixed to the laser chip mounting structure. When assembled in a junction-down configuration, the tilt of the laser optical axis is compensated by the structure of the laser chip mounting structure and the stem, and the laser optical axis is relative to the main surface of the stem, which is the optical reference surface of the package, or the lower surface. And a vertical semiconductor laser can be realized accurately.

この発明を実施するための実施の形態においては、AlGaInP系材料を用いた660nm帯の光ディスク書込用高出力半導体レーザ(以下高出力レーザと称する)について説明する。   In an embodiment for carrying out the present invention, a 660 nm band high-power semiconductor laser for optical disk writing (hereinafter referred to as a high-power laser) using an AlGaInP-based material will be described.

実施の形態1.
図1の(a)は、この発明を実施するための実施の形態1におけるキャンパッケージ(封止用のキャップは図示せず)のステム上に組立てられた半導体レーザの斜視図、図1の(b)は、図1の(a)の半導体レーザをレーザチップ1、サブマウント5、及びヒートシンク7aを含み、ステム主面25に垂直なA−A面で切断した断面図である。図中、同一の符号は、同一の構成要素を示す。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1A is a perspective view of a semiconductor laser assembled on a stem of a can package (a sealing cap is not shown) according to Embodiment 1 for carrying out the present invention. FIG. 2B is a cross-sectional view of the semiconductor laser of FIG. 1A taken along the AA plane perpendicular to the stem main surface 25, including the laser chip 1, the submount 5, and the heat sink 7a. In the drawings, the same reference numeral indicates the same component.

図1に示す本実施の形態1による半導体レーザにおいて、レーザチップ搭載用構造体(以下、チップ搭載用構造体という)はサブマウント5、及びこのサブマウント5を搭載したヒートシンク7aから構成され、サブマウント5は、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステム9から離れるに従ってステム主面25に平行方向の幅が減少するような傾斜面51を有しており、この傾斜面51の上の一部をなしている固着面4に活性層3側の表面が接するようにレーザチップ1が固着して設置されている。   In the semiconductor laser according to the first embodiment shown in FIG. 1, a laser chip mounting structure (hereinafter referred to as a chip mounting structure) includes a submount 5 and a heat sink 7a on which the submount 5 is mounted. The mount 5 has an inclined surface 51 whose width in the direction parallel to the stem main surface 25 decreases as the distance from the stem 9 increases in the cross section perpendicular to the active layer 3 of the laser chip 1 and including the laser optical axis 21. The laser chip 1 is fixed and installed such that the surface on the active layer 3 side is in contact with the fixing surface 4 forming a part on the inclined surface 51.

なお、サブマウント5は、その形状が直方体(立方体を含む、以下同様))であり、ヒートシンク7aの上の一部をなしている設置面6において、ヒートシンク7aに固着して設置されている。
また、上記ヒートシンク7aは、その形状が直方体であり、レーザ光の出射方向が、ステム主面25に対して概略垂直方向、すなわちステム9の上方になるような形態で、ステム主面25の上の設置面8において、ステム主面25に固着して設置されている。
In addition, the shape of the submount 5 is a rectangular parallelepiped (including a cube, the same applies hereinafter), and the submount 5 is fixedly attached to the heat sink 7a on the installation surface 6 forming a part on the heat sink 7a.
The heat sink 7a has a rectangular parallelepiped shape, and the laser light emission direction is substantially perpendicular to the stem main surface 25, that is, above the stem 9, so that the upper surface of the stem main surface 25 is The installation surface 8 is fixedly installed on the stem main surface 25.

ここに、レーザチップ1は、例えば半導体基板であるGaAs基板(以下、基板と称する)2上に、AlGaInP(アルミニウム・ガリウム・インジウム・リン)系材料によるダブルへテロ構造から形成された活性層3を含み、レーザチップ1の基板2の側の表面、及び活性層3の側の表面にはそれぞれ、金属薄膜及び金メッキ等からなる電極(図1中省略)が形成されている。   Here, the laser chip 1 includes an active layer 3 formed of, for example, a double heterostructure made of AlGaInP (aluminum / gallium / indium / phosphorus) based material on a GaAs substrate (hereinafter referred to as substrate) 2 which is a semiconductor substrate. In addition, electrodes (not shown in FIG. 1) made of a metal thin film and gold plating are formed on the surface of the laser chip 1 on the substrate 2 side and on the surface of the active layer 3 side, respectively.

また、ヒートシンク7aの材料としては、できるだけ熱伝導率が良く、また加工の容易な材料を用いる必要があり、例えば、銀(Ag)、銅(Cu)、鉄(Fe)、アルミニウム(Al)のうち少なくとも一種類を用いることができる。   In addition, as a material of the heat sink 7a, it is necessary to use a material having as good a thermal conductivity as possible and easy to process, for example, silver (Ag), copper (Cu), iron (Fe), aluminum (Al). At least one of them can be used.

レーザチップ1のダブルへテロ構造中の活性層3から出射されるレーザ光軸21は、レーザ共振器端面20における垂線22に対し角度θだけ基板2の側に傾斜している。この角度θは、レーザチップの内部構造、材料や製造プロセス等に依存するが、本実施の形態1に係る高出力レーザの場合は、0.5°〜5°程度である。   The laser optical axis 21 emitted from the active layer 3 in the double hetero structure of the laser chip 1 is inclined toward the substrate 2 by an angle θ with respect to the normal 22 on the laser resonator end face 20. The angle θ depends on the internal structure of the laser chip, the material, the manufacturing process, and the like, but is about 0.5 ° to 5 ° in the case of the high-power laser according to the first embodiment.

上記レーザ光軸21の傾斜の原因は、活性層3の上下の半導体層における実効的な屈折率分布の非対称性によるものであり、高出力レーザにおいては、高出力化及び高出力動作時の特性の安定化のために、設計上、活性層周辺で屈折率分布を非対称にする場合が多い(例えば “ High−Power 980−nm Ridge Waveguide Laser Diodes Including an Asymmetically Expanded Optical Field Normal to the Active Layer”, K.Shigihara et al., IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONIS, VOL. 38,No.8,PP.1081 1088を参照)。   The cause of the inclination of the laser optical axis 21 is due to the asymmetry of the effective refractive index distribution in the semiconductor layers above and below the active layer 3. In many cases, the refractive index distribution is designed to be asymmetrical around the active layer by design (for example, “High-Power 980-nm Ridge Waveguide Laser Diodes Included An Asymmetrically Expanded Optical Element”). K. Shigihara et al., IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONIS, VOL. 38, No. 8, PP. 1081 1088).

図1の(a)、及び(b)において、レーザチップ1は、その活性層3側の表面が、サブマウント5、及びヒートシンク7aからなるチップ搭載用構造体のサブマウント5上の固着面4において、AuSn(金スズ)等の半田材により、ジャンクションダウン方式で固着されている。さらに、このサブマウント5は銀(Ag)等の金属からなるヒートシンク7a上に、同じくAuSn等の半田材を用いて固着されている。   1A and 1B, the laser chip 1 has a fixing surface 4 on the submount 5 of the chip mounting structure whose surface on the active layer 3 side includes the submount 5 and the heat sink 7a. In FIG. 5, the solder is fixed by a junction down method with a solder material such as AuSn (gold tin). Further, the submount 5 is fixed to a heat sink 7a made of a metal such as silver (Ag) using a solder material such as AuSn.

ここで、チップ搭載用構造体を構成するサブマウント5の形状は従来のような板状の直方体ではなく、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステム9から離れるにつれてステム主面25に平行方向における幅(厚さ)が減少するような傾斜面51を有しており、そのステム主面25における垂線に対する傾斜角度βは、上記レーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値(β=θ)とする。この傾斜面51上の固着面4にレーザチップ1が固着されているので、レーザチップ1全体が実効的に反時計廻りの方向に傾斜することになる。   Here, the shape of the submount 5 constituting the chip mounting structure is not a plate-shaped rectangular parallelepiped as in the prior art, but in a cross section perpendicular to the active layer 3 of the laser chip 1 and including the laser optical axis 21, the stem 9. The inclination main surface 25 has an inclined surface 51 whose width (thickness) decreases in a direction parallel to the stem main surface 25, and the inclination angle β with respect to the perpendicular of the stem main surface 25 is the inclination of the laser optical axis 21. The same value as the angle θ to be performed (β = θ). Since the laser chip 1 is fixed to the fixing surface 4 on the inclined surface 51, the entire laser chip 1 is effectively inclined counterclockwise.

これにより、レーザチップ1の固着面4の延長面23も、角度θと同角度だけヒートシンク7a側に傾斜し、上記延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7a側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。
この結果、図1の(b)に示すように、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部から見ると、見かけ上レーザ光の中心軸21がステム主面25に対し正確に垂直方向になるように補償される。
Accordingly, the extension surface 23 of the fixing surface 4 of the laser chip 1 is also inclined to the heat sink 7a side by the same angle as the angle θ, and the angle α1 viewed from the heat sink 7a side formed by the extension surface 23 and the stem main surface 25 is 90. An angle smaller than °, that is, α1 = (90−θ) °.
As a result, as shown in FIG. 1 (b), the inclination of the laser resonator end face 20 of the laser optical axis 21 is apparently accurately seen when the center axis 21 of the laser light is relative to the stem main surface 25 when viewed from outside the package. Compensated to be in the vertical direction.

なお、レーザ光軸21の傾斜する角度θは、本実施の形態1に係る高出力レーザの場合は、0.5°〜5°程度であるので、傾斜面51とステム主面25における垂線のなす角度βも0.5°〜5°とするのが良い。また、実際の上記α1の値としては、例えばレーザ光軸21の傾斜する角度をθ=3°とするとα1=(90−θ)°=87°となる。   Note that the angle θ at which the laser optical axis 21 is inclined is about 0.5 ° to 5 ° in the case of the high-power laser according to the first embodiment, and therefore the perpendicular between the inclined surface 51 and the stem main surface 25 is The formed angle β is also preferably 0.5 ° to 5 °. As the actual value of α1, for example, if the angle of inclination of the laser optical axis 21 is θ = 3 °, α1 = (90−θ) ° = 87 °.

実際の高出力レーザの製品においては、θは構造設計パラメータや製造プロセスにより、素子毎に一定の範囲でばらつくため、そのばらつきの中心値に合わせて、上記、α1(すなわち、サブマウントの傾斜角度β)を設定すれば、レーザ光軸21がステム主面25に対し正確に垂直になる様に補償された半導体レーザを高い歩留まりで得ることができる。   In actual high-power laser products, θ varies within a certain range for each element depending on the structural design parameters and the manufacturing process. Therefore, according to the center value of the variation, α1 (that is, the inclination angle of the submount) If β) is set, a semiconductor laser compensated so that the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25 can be obtained with a high yield.

なお、上記サブマウント5の材料として、基板2と熱膨張係数ができるだけ近く、かつ、熱伝導率の高い、例えば、シリコン(Si)、窒化アルミニウム(AlN)、炭化珪素(SiC)、ダイヤモンド(C)、銅タングステン(CuW)のうち少なくとも一種類を用いることにより、良好な温度特性、及び信頼性を有し、かつレーザ光軸21がステム主面25に対して正確に垂直となる半導体レーザを実現することができる。   As the material of the submount 5, for example, silicon (Si), aluminum nitride (AlN), silicon carbide (SiC), diamond (C) having a thermal expansion coefficient as close as possible to the substrate 2 and high thermal conductivity. ), And using at least one of copper tungsten (CuW), a semiconductor laser having good temperature characteristics and reliability and having the laser optical axis 21 perpendicular to the stem main surface 25 accurately. Can be realized.

また、ヒートシンク7aの材料として、熱伝導率が高く、加工の容易な銀(Ag)、銅(Cu)、鉄(Fe)、アルミニウム(Al)のうち少なくとも一種類の材料を用いることにより、低コストで、良好な温度特性を有し、レーザ光軸21がステム主面25に対して正確に垂直となる半導体レーザを実現することができる。   Further, as the material of the heat sink 7a, by using at least one material of silver (Ag), copper (Cu), iron (Fe), and aluminum (Al) that has high thermal conductivity and is easy to process, low It is possible to realize a semiconductor laser that has good temperature characteristics at a cost and in which the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25.

このようなレーザ光軸がステム主面に対して正確に垂直な半導体レーザを実現することにより、半導体レーザ応用機器において半導体レーザと光学系との光結合効率を高めることができるため、動作電流が低く光学系の安定性が高い、すなわち、信頼性及び製造歩留まりの高い光ディスク書込用の光ピックアップ等を実現できるというメリットが生じる。   By realizing a semiconductor laser in which such a laser optical axis is accurately perpendicular to the main surface of the stem, the optical coupling efficiency between the semiconductor laser and the optical system can be increased in semiconductor laser application equipment. There is a merit that an optical pickup for writing optical discs and the like having low optical system stability and high reliability, that is, high reliability and manufacturing yield can be realized.

実施の形態2.
図2は実施の形態2による半導体レーザの構造を示す断面図である。 本実施の形態2では、図1の(a)、及び(b)の実施の形態1と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 2. FIG.
FIG. 2 is a sectional view showing the structure of the semiconductor laser according to the second embodiment. In the second embodiment, parts that are the same as or equivalent to those in the first embodiment shown in FIGS. 1A and 1B are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different parts are described. .

上記実施の形態1においてはサブマウント5に傾斜面51を設けたが、本実施の形態2においては、図2に示すようにサブマウント5は板状の直方体であり、ヒートシンク7bは、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステムから離れるに従ってステム主面25に平行方向の幅が減少するような傾斜面71を有している。この傾斜面71上の一部をなす設置面6にサブマウント5を設置し、サブマウント5上の表面の固着面4に活性層3側の表面が接するようにレーザチップ1を設置したものである。   In the first embodiment, the submount 5 is provided with the inclined surface 51. However, in the second embodiment, as shown in FIG. 2, the submount 5 is a plate-shaped rectangular parallelepiped, and the heat sink 7b is a laser chip. In a cross section perpendicular to one active layer 3 and including the laser optical axis 21, an inclined surface 71 whose width in the direction parallel to the stem main surface 25 decreases as the distance from the stem increases. The submount 5 is installed on a part of the installation surface 6 on the inclined surface 71, and the laser chip 1 is installed so that the surface on the active layer 3 side is in contact with the fixing surface 4 on the surface of the submount 5. is there.

ここで、ヒートシンク7bの傾斜面71において、その傾斜角度βは、前記レーザ光軸21の傾斜角θと同じ値(β=θ)に設定している。この傾斜面上の一部の設置面6に直方体のサブマウント5が設置されているため、上記実施の形態1と同様、レーザチップ1は実効的に反時計廻りの方向に傾斜することになる。   Here, on the inclined surface 71 of the heat sink 7b, the inclination angle β is set to the same value (β = θ) as the inclination angle θ of the laser optical axis 21. Since the rectangular parallelepiped submount 5 is installed on a part of the installation surface 6 on the inclined surface, the laser chip 1 is effectively inclined counterclockwise as in the first embodiment. .

これにより、レーザチップ1の固着面4の延長面23も、θと同角度だけヒートシンク7b側に傾斜し、上記延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7b側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=90−θとなる。この結果、図2に示すように、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜角θはパッケージ外部から見ると見かけ上補償され、レーザ光軸21はステム主面25に対し正確に垂直になる。   As a result, the extension surface 23 of the fixing surface 4 of the laser chip 1 is also inclined to the heat sink 7b side by the same angle as θ, and the angle α1 viewed from the heat sink 7b side formed by the extension surface 23 and the stem main surface 25 is 90 °. A smaller angle, that is, α1 = 90−θ. As a result, as shown in FIG. 2, the tilt angle θ of the laser resonator 21 at the laser resonator end face 20 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, and the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25. Become.

なお、レーザ光軸21の傾斜角θは、本実施の形態1に係る高出力レーザの場合は、0.5°〜5°程度であるので、傾斜面71とステム主面25における垂線のなす角度βも0.5°〜5°とするのが良い。また、実際の上記α1の値としては、例えばレーザ光軸21の傾斜する角度をθ=3°とするとα1=(90−θ)°=87°となる。 In the case of the high-power laser according to the first embodiment, the inclination angle θ of the laser optical axis 21 is about 0.5 ° to 5 °, so that the perpendicular between the inclined surface 71 and the stem main surface 25 is formed. The angle β is also preferably 0.5 ° to 5 °. As the actual value of α1, for example, if the angle of inclination of the laser optical axis 21 is θ = 3 °, α1 = (90−θ) ° = 87 °.

また、上記実施の形態1では、サブマウント5はAlN(窒化アルミニウム)等のセラミックやシリコン等の硬度が高く加工しにくい材料でできているため、傾斜面を形成するのにコストがかかるが、本実施の形態2によれば、ヒートシンク7bとして加工のし易い銀、銅、鉄等の金属を用いているので、金型による整形法等、量産に向いた安価な方法で傾斜面71を形成できるため、低コストでレーザ光軸21がステム主面25に対して垂直となる半導体レーザを実現できるというメリットがある。   In the first embodiment, since the submount 5 is made of a hard material such as ceramic such as AlN (aluminum nitride) or silicon and difficult to process, it takes cost to form the inclined surface. According to the second embodiment, since the heat sink 7b is made of a metal such as silver, copper, or iron that is easy to process, the inclined surface 71 is formed by an inexpensive method suitable for mass production, such as a shaping method using a mold. Therefore, there is an advantage that a semiconductor laser in which the laser optical axis 21 is perpendicular to the stem main surface 25 can be realized at low cost.

実施の形態3.
図3は実施の形態3による半導体レーザの構造を示す断面図である。本実施の形態3では、図1の(a)、及び(b)の実施の形態1と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ詳細に説明する。
Embodiment 3 FIG.
FIG. 3 is a sectional view showing the structure of the semiconductor laser according to the third embodiment. In the third embodiment, parts that are the same as or equivalent to those in the first embodiment shown in FIGS. 1A and 1B are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different parts are described in detail. explain.

上記、実施の形態2においては、ヒートシンク7bのサブマウント5が設置される側の面全体を傾斜面としていたが、本実施の形態3では、ヒートシンク7cの断面形状において、すなわち、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステム9から離れるに従って、ステム主面25に平行方向の幅が減少するような傾斜面72が、サブマウント7bが設置される側の面の上方の一部領域に形成されている。この傾斜面72上の一部である設置面6に、レーザチップ1の活性層3側の表面が固着面4で固着されたサブマウント5を設置したものである。   In the second embodiment, the entire surface on the side where the submount 5 of the heat sink 7b is installed is the inclined surface. However, in the third embodiment, the cross section of the heat sink 7c, that is, the laser chip 1 In a cross section perpendicular to the active layer 3 and including the laser optical axis 21, an inclined surface 72 whose width in the direction parallel to the stem main surface 25 decreases as the distance from the stem 9 decreases, on the side where the submount 7 b is installed. It is formed in a partial region above the surface. The submount 5 in which the active layer 3 side surface of the laser chip 1 is fixed by the fixing surface 4 is installed on the installation surface 6 which is a part of the inclined surface 72.

本実施の形態3においては、ヒートシンク7cの傾斜面72の傾斜角βは、レーザ光軸21の傾斜角θと同じ角度に設定されおり、またサブマウント5は板状の直方体である。従って、図3から分かるように、レーザチップ1のサブマウント5上の固着面4の延長面23は、ヒートシンク7c側にθと同角度だけ傾斜し、上記延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7c側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。   In the third embodiment, the inclination angle β of the inclined surface 72 of the heat sink 7c is set to the same angle as the inclination angle θ of the laser optical axis 21, and the submount 5 is a plate-shaped rectangular parallelepiped. Therefore, as can be seen from FIG. 3, the extension surface 23 of the fixing surface 4 on the submount 5 of the laser chip 1 is inclined to the heat sink 7c side by the same angle as θ, and is formed by the extension surface 23 and the stem main surface 25. The angle α1 viewed from the heat sink 7c side is smaller than 90 °, that is, α1 = (90−θ) °.

この傾斜面72上の設置面6にレーザチップ1を搭載した直方体のサブマウント5が設置されているため、上記実施の形態1及び2と同様、レーザチップ1は実効的に反時計廻りの方向に傾斜することになる。この結果、図3に示すように、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光はステム主面25に対し正確に垂直方向に出射するようになる。   Since the rectangular parallelepiped submount 5 on which the laser chip 1 is mounted is installed on the installation surface 6 on the inclined surface 72, the laser chip 1 is effectively counterclockwise as in the first and second embodiments. Will be inclined to. As a result, as shown in FIG. 3, the inclination of the laser resonator end face 20 of the laser optical axis 21 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, so that the laser light is emitted in a direction perpendicular to the stem main surface 25 accurately. become.

なお、レーザ光軸21の傾斜角θは、本実施の形態3に係る高出力レーザの場合は、0.5°〜5°程度であるので、傾斜面71とステム主面25における垂線のなす角度βも0.5°〜5°とすれば良い。また、実際の上記α1の値は、例えばレーザ光軸21の傾斜角をθ=3°とするとα1=(90−θ)°=87°となる。   Note that the tilt angle θ of the laser optical axis 21 is about 0.5 ° to 5 ° in the case of the high-power laser according to the third embodiment, so that the perpendicular between the tilted surface 71 and the stem main surface 25 forms. The angle β may also be set to 0.5 ° to 5 °. Further, the actual value of α1 is, for example, α1 = (90−θ) ° = 87 ° when the inclination angle of the laser optical axis 21 is θ = 3 °.

本実施の形態3によれば、既存形状の直方体のヒートシンクをレーザチップのレーザ光軸の傾斜する角度θに合わせて、機械的な研磨等の加工法により種々の角度の傾斜面72を持ったヒートシンクを容易に製作できる。従って、半導体レーザの製造ロット毎の分布の中心地に対応して、傾斜面72の傾斜角度βを選択することにより、レーザ光軸21がステム主面25に対して正確に垂直になるよう補償された半導体レーザを低コストで製作できるというメリットがある。   According to the third embodiment, a rectangular parallelepiped heat sink having an inclined shape 72 having various angles is obtained by a machining method such as mechanical polishing in accordance with the inclination angle θ of the laser optical axis of the laser chip. A heat sink can be easily manufactured. Accordingly, by selecting the inclination angle β of the inclined surface 72 corresponding to the center of distribution for each manufacturing lot of semiconductor lasers, compensation is made so that the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25. There is an advantage that the manufactured semiconductor laser can be manufactured at low cost.

実施の形態4.
図4は実施の形態4による半導体レーザの構造を示す断面図である。本実施の形態4では、図1の(a)、及び(b)の実施の形態1と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 4 FIG.
FIG. 4 is a sectional view showing the structure of the semiconductor laser according to the fourth embodiment. In the fourth embodiment, the same or corresponding parts as those in the first embodiment of FIGS. 1A and 1B are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different parts are described. .

上記実施の形態2では、ヒートシンク7bに傾斜面71を設け、また上記実施の形態3ではヒートシンク7cに傾斜面72を設け、傾斜面71又は72の上に、サブマウント5を設置したが、本実施の形態4では図4に示すように、ヒートシンク7aは実施の形態1と同様に直方体で形成し、このヒートシンク7aとサブマウント5の間に傾斜面73を有する凸部を形成するくさび型の部材11dを設け、この傾斜面73上にサブマウント5を設置し、このサブマウント5上の一部をなす固着面4において、レーザチップ1を活性層3側の表面が接するように固着したものである。   In the second embodiment, the heat sink 7b is provided with the inclined surface 71, and in the third embodiment, the heat sink 7c is provided with the inclined surface 72, and the submount 5 is disposed on the inclined surface 71 or 72. In the fourth embodiment, as shown in FIG. 4, the heat sink 7 a is formed in a rectangular parallelepiped shape as in the first embodiment, and a wedge-shaped that forms a convex portion having an inclined surface 73 between the heat sink 7 a and the submount 5. The member 11d is provided, the submount 5 is installed on the inclined surface 73, and the laser chip 1 is fixed so that the surface on the active layer 3 side is in contact with the fixing surface 4 forming a part on the submount 5 It is.

傾斜面73を有するくさび型の部材11dは、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステム9から離れるに従ってステム主面25に平行方向の幅が減少するような傾斜面73を有し、この傾斜面73の傾斜角βは、レーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値に設定されている。   The wedge-shaped member 11 d having the inclined surface 73 is such that the width in the direction parallel to the stem main surface 25 decreases as the distance from the stem 9 increases in the cross section perpendicular to the active layer 3 of the laser chip 1 and including the laser optical axis 21. The inclination angle β of the inclined surface 73 is set to the same value as the angle θ at which the laser optical axis 21 is inclined.

従って、実施の形態2及び実施の形態3と同様、レーザチップの固着面4の延長面23は、レーザ光軸21の傾斜する角度θと同角度だけヒートシンク7a側に傾斜し、上記延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7a側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。これにより、実施の形態1〜実施の形態3と同様、レーザ光軸21は見かけ上ステム主面25に対し正確に垂直になるように補償される。   Therefore, as in the second and third embodiments, the extension surface 23 of the fixing surface 4 of the laser chip is inclined to the heat sink 7a side by the same angle as the inclination angle θ of the laser optical axis 21, and the extension surface 23 is The angle α1 viewed from the heat sink 7a side formed by the stem main surface 25 is an angle smaller than 90 °, that is, α1 = (90−θ) °. Thereby, similarly to the first to third embodiments, the laser optical axis 21 is compensated so as to be accurately perpendicular to the stem main surface 25.

上記のように、本実施の形態4では、ヒートシンク7aの一部に傾斜面を有する凸部を設ける方法として、くさび型の部材11dを用意し、これをヒートシンク7aとサブマウント5の間に挟んで固定している。この方法によれば、種々の傾斜角度βを持ったくさび型の部材11dを用意することにより、個々のレーザチップ1におけるレーザ光軸21の傾斜角度θのばらつきに対応して、レーザ光軸21がステム主面25に対してより正確に垂直になるように補償できるというメリットがある。   As described above, in the fourth embodiment, as a method of providing a convex portion having an inclined surface on a part of the heat sink 7a, a wedge-shaped member 11d is prepared and sandwiched between the heat sink 7a and the submount 5. It is fixed with. According to this method, by preparing a wedge-shaped member 11d having various inclination angles β, the laser optical axis 21 can be adapted to variations in the inclination angle θ of the laser optical axis 21 in each laser chip 1. Can be compensated so as to be more accurately perpendicular to the stem main surface 25.

また、ヒートシンク7aとサブマウント5の間に傾斜面を有する凸部を設ける他の方法として、銀、銅、鉄等の金属材料によるヒートシンク7aを金型による整形法などにより一体構造として加工して、ヒートシンク7aの一部を突出させて凸部11dを形成しても良い。この方法によれば、半導体レーザとしての組立部材の数が少なくて済み、また組立工程も短縮されるため、光軸21がステムの主面25に対して垂直な半導体レーザを低コストで大量に作製できるというメリットがある。   As another method of providing a convex portion having an inclined surface between the heat sink 7a and the submount 5, the heat sink 7a made of a metal material such as silver, copper, iron or the like is processed into an integrated structure by a shaping method using a mold or the like. Alternatively, the convex portion 11d may be formed by projecting a part of the heat sink 7a. According to this method, the number of assembly members as a semiconductor laser can be reduced, and the assembly process can be shortened. Therefore, a large number of semiconductor lasers whose optical axis 21 is perpendicular to the main surface 25 of the stem are produced at low cost. There is an advantage that it can be manufactured.

実施の形態5.
図5は実施の形態5による半導体レーザの構造を示す断面図である。本実施の形態5では、図1の(a)、及び(b)の実施の形態1、及び図2に示す実施の形態2と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 5. FIG.
FIG. 5 is a sectional view showing the structure of a semiconductor laser according to the fifth embodiment. In the fifth embodiment, parts that are the same as or equivalent to those in the first embodiment shown in FIGS. 1A and 1B and the second embodiment shown in FIG. Is omitted, and only different parts will be described.

上記実施の形態1〜4においては、ヒートシンクとレーザチップの熱膨張係数の差によるストレスによって生じる半導体レーザの信頼性への悪影響を低減するため、チップ搭載用構造体を構成するヒートシンクとレーザチップの間に、熱膨張係数がレーザチップに近いサブマウントを介在させた構造としていた。しかし、本実施の形態5では、ヒートシンクとして、AlN(窒化アルミニウム)のようにレーザチップと熱膨張係数が近く、かつ熱伝導率の高い材料を用いることにより、サブマウントを使用せずに直接ヒートシンクにレーザチップを固着し、半導体レーザとしての信頼性上の悪影響を避けるようにしている。   In the first to fourth embodiments, in order to reduce the adverse effect on the reliability of the semiconductor laser caused by the stress due to the difference between the thermal expansion coefficients of the heat sink and the laser chip, the heat sink and the laser chip that constitute the chip mounting structure are reduced. A structure in which a submount having a thermal expansion coefficient close to that of a laser chip is interposed therebetween. However, in the fifth embodiment, as the heat sink, a material having a thermal expansion coefficient close to that of the laser chip and high thermal conductivity such as AlN (aluminum nitride) is used, so that the heat sink can be directly used without using a submount. A laser chip is fixed to the semiconductor laser to avoid adverse effects on reliability as a semiconductor laser.

本実施の形態5においては、図5に示すように、チップ搭載用構造体を構成するヒートシンク7bは、図2の実施の形態2と同様に、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステム9から離れるに従ってステム主面25に平行方向の幅が減少するような傾斜面71を有しており、この傾斜面71の一部をなす固着面4の上に、レーザチップ1をサブマウントを介さずに活性層3側の表面が接するように直接固着したものである。   In the fifth embodiment, as shown in FIG. 5, the heat sink 7b constituting the chip mounting structure is perpendicular to the active layer 3 of the laser chip 1 and is laser-like, as in the second embodiment of FIG. The cross section including the optical axis 21 has an inclined surface 71 whose width in the direction parallel to the stem main surface 25 decreases as the distance from the stem 9 increases, and above the fixing surface 4 forming a part of the inclined surface 71. In addition, the laser chip 1 is directly fixed so that the surface on the active layer 3 side is in contact without using a submount.

ここで、傾斜面71のステム主面に垂直方向からの傾斜角βは、レーザ光軸21の傾斜角θと同じ値(β=θ)になるように設定されている。この傾斜面71上の固着面4にレーザチップ1が固着されているため、上記実施の形態1〜4と同様、レーザチップ1は実効的に反時計廻りの方向に傾斜することになる。   Here, the inclination angle β from the direction perpendicular to the stem main surface of the inclined surface 71 is set to be the same value (β = θ) as the inclination angle θ of the laser optical axis 21. Since the laser chip 1 is fixed to the fixing surface 4 on the inclined surface 71, the laser chip 1 is effectively inclined counterclockwise as in the first to fourth embodiments.

これにより、レーザチップ1の固着面4の延長面23も、θと同角度だけヒートシンク7a側に傾斜し、上記延長面23(すなわち傾斜面71)とステム主面25のなすヒートシンク7b側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。ここで、レーザ光軸21の傾斜する角度θは、本実施の形態5に係る高出力レーザの場合は、0.5°〜5°程度であるので、傾斜面71とステム主面25における垂線のなす角度βも0.5°〜5°としている。また、実際の上記角度α1の値としては、例えばレーザ光軸21の傾斜角をθ=3°とするとα1=(90−θ)°=87°となる。   As a result, the extension surface 23 of the fixing surface 4 of the laser chip 1 is also inclined to the heat sink 7a side by the same angle as θ, and viewed from the heat sink 7b side formed by the extension surface 23 (ie, the inclined surface 71) and the stem main surface 25. The angle α1 is smaller than 90 °, that is, α1 = (90−θ) °. Here, the inclination angle θ of the laser optical axis 21 is about 0.5 ° to 5 ° in the case of the high-power laser according to the fifth embodiment, and therefore, the perpendicular line between the inclined surface 71 and the stem main surface 25. Is also set to 0.5 ° to 5 °. The actual value of the angle α1 is, for example, α1 = (90−θ) ° = 87 ° when the tilt angle of the laser optical axis 21 is θ = 3 °.

この結果、図5に示すように、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光はステム主面25に対し正確に垂直方向に出射するようになる。   As a result, as shown in FIG. 5, the inclination of the laser resonator end face 20 of the laser optical axis 21 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, and the laser light is emitted accurately in the vertical direction with respect to the stem main surface 25. become.

なお、本実施の形態5では、チップ搭載用構造体を構成するヒートシンクとサブマウントのうち、サブマウントを省略できるので、低コストでステムの主面25に対してレーザ光軸21が正確に垂直になるように補償された半導体レーザを作製できるというメリットがある。   In the fifth embodiment, since the submount can be omitted from the heat sink and the submount constituting the chip mounting structure, the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the main surface 25 of the stem at low cost. There is an advantage that a semiconductor laser compensated to be can be manufactured.

実施の形態6.
図6は実施の形態6による半導体レーザの構造を示す断面図である。本実施の形態6では、図1の(a)、及び(b)の実施の形態1、図3に示す実施の形態3、及び図5に示す実施の形態5と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 6 FIG.
FIG. 6 is a sectional view showing the structure of a semiconductor laser according to the sixth embodiment. In the sixth embodiment, the same or corresponding parts as those in the first embodiment shown in FIGS. 1A and 1B, the third embodiment shown in FIG. 3, and the fifth embodiment shown in FIG. The same reference numerals are attached and the description is omitted, and only different parts will be described.

上記、実施の形態5においては、ヒートシンク7bのサブマウント5が固着される側の面全体を傾斜面としていたが、本実施の形態6では、図3の実施の形態3と同様、ヒートシンク7cの断面形状においてステム9から離れるに従ってステム主面25に平行方向の幅が減少するように、傾斜面72はサブマウント7cが固着される側の面の上方の一部に形成されている。このヒートシンク7c上の傾斜面72の一部である固着面4に、レーザチップ1を活性層3側の表面を固着して設置したものである。   In the fifth embodiment, the entire surface of the heat sink 7b to which the submount 5 is fixed is the inclined surface. However, in the sixth embodiment, the heat sink 7c is similar to the third embodiment in FIG. In the cross-sectional shape, the inclined surface 72 is formed at a part above the surface to which the submount 7c is fixed so that the width in the direction parallel to the stem main surface 25 decreases as the distance from the stem 9 increases. The laser chip 1 is installed with the surface on the active layer 3 side fixed to the fixing surface 4 which is a part of the inclined surface 72 on the heat sink 7c.

ここで、傾斜面72のステム主面25における垂線に対する傾斜角βは、レーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値、すなわちβ=θになるように設定しておく。この傾斜面72上の固着面4にレーザチップ2が固着されているため、上記実施の形態2〜5と同様、レーザチップ1は実効的に反時計廻りの方向に傾斜することになる。   Here, the inclination angle β of the inclined surface 72 with respect to the perpendicular to the stem main surface 25 is set to be the same value as the angle θ of inclination of the laser optical axis 21, that is, β = θ. Since the laser chip 2 is fixed to the fixing surface 4 on the inclined surface 72, the laser chip 1 is effectively inclined counterclockwise as in the second to fifth embodiments.

これにより、レーザチップ1の固着面4の延長面23も、θと同角度だけヒートシンク7c側に傾斜し、上記延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7c側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。   Accordingly, the extension surface 23 of the fixing surface 4 of the laser chip 1 is also inclined to the heat sink 7c side by the same angle as θ, and the angle α1 viewed from the heat sink 7c side formed by the extension surface 23 and the stem main surface 25 is 90 °. A smaller angle, that is, α1 = (90−θ) °.

ここで前記のように、レーザ光軸21の傾斜角θは、本実施の形態6に係る高出力レーザの場合は、0.5°〜5°程度であるので、傾斜面72とステム主面25における垂線のなす角度βも0.5°〜5°としている。また、実際の上記α1の値としては、例えばレーザ光軸21の傾斜角をθ=3°とするとα1=(90−θ)°=87°となる。   Here, as described above, the inclination angle θ of the laser optical axis 21 is about 0.5 ° to 5 ° in the case of the high-power laser according to the sixth embodiment. The angle β formed by the perpendicular line at 25 is also set to 0.5 ° to 5 °. Further, as the actual value of α1, for example, if the tilt angle of the laser optical axis 21 is θ = 3 °, α1 = (90−θ) ° = 87 °.

この結果、図6に示すように、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光軸21はステム主面25に対し正確に垂直になる。   As a result, as shown in FIG. 6, the inclination of the laser optical axis 21 at the laser resonator end face 20 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, and the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25.

本実施の形態6では、実施の形態5同様、チップ搭載用構造体を構成するヒートシンクとサブマウントのうち、サブマウントを省略できるので、低コストでステム主面25に対して、レーザ光軸21が正確に垂直になるよう補償された半導体レーザを作製できるというメリットがある。   In the sixth embodiment, as in the fifth embodiment, the submount can be omitted from the heat sink and the submount constituting the chip mounting structure, so that the laser optical axis 21 with respect to the stem main surface 25 can be manufactured at low cost. There is an advantage that a semiconductor laser compensated to be accurately vertical can be manufactured.

また、レーザチップを搭載したチップ搭載用構造体において、上記実施の形態2及び3では、レーザチップ1とサブマウント5の間で固着し、しかもサブマウント5をヒートシンク7bまたは7cに設置するのに両者を固着するため、固着する箇所を2箇所必要としていたが、本実施の形態6では、固着箇所がヒートシンク7cとレーザチップ1の間の1箇所に低減されるので、固着に用いられる半田材の厚さの変動等によるレーザチップ1の傾斜角のばらつきが少なくなり、ステムの主面25に対して、レーザ光軸21がより正確にステム主面25に対して垂直な半導体レーザを作製できるというメリットがある。   Further, in the chip mounting structure in which the laser chip is mounted, in the second and third embodiments, the laser chip 1 is fixed between the submount 5 and the submount 5 is installed on the heat sink 7b or 7c. In order to fix the two, two fixing locations are required, but in the sixth embodiment, the fixing location is reduced to one location between the heat sink 7c and the laser chip 1, so that the solder material used for fixing is used. The variation of the tilt angle of the laser chip 1 due to the variation in the thickness of the laser chip 1 is reduced, and a semiconductor laser in which the laser optical axis 21 is perpendicular to the stem main surface 25 more accurately can be manufactured. There is a merit.

これに加え、既存型式のヒートシンクを、レーザチップのレーザ光軸の傾斜角度θに合わせて、機械的な研磨等の加工法により、種々の角度の傾斜部を持ったヒートシンクを容易に製作できるので、半導体レーザの製造ロット毎のばらつきに対応して、レーザ光軸が正確にステム主面に対して垂直な半導体レーザを低コストで作製できるという、実施の形態3と同様なメリットを合わせ持つ。   In addition to this, heat sinks with various angles of inclination can be easily manufactured by machining methods such as mechanical polishing to match existing model heat sinks with the inclination angle θ of the laser optical axis of the laser chip. The semiconductor laser has a merit similar to that of the third embodiment in that a semiconductor laser whose laser optical axis is accurately perpendicular to the main surface of the stem can be manufactured at low cost in accordance with the variation of each manufacturing lot of semiconductor lasers.

なお、上記実施の形態2〜6において、レーザチップ1の活性層3から出射されるレーザ光軸21は、レーザ共振器端面20における垂直線22から傾斜角θだけ基板2の側に傾斜しており、通常AlGaInP系材料による高出力レーザにおいては、この傾斜角θは0.5°〜5°程度であるので、ヒートシンク7b、7c、及び、くさび型の部材11dにおける傾斜面71、72、73とステム主面25における垂線とがなす角度も、それぞれ0.5°〜5°にすれば良い。   In the second to sixth embodiments, the laser optical axis 21 emitted from the active layer 3 of the laser chip 1 is inclined toward the substrate 2 by the inclination angle θ from the vertical line 22 in the laser resonator end face 20. In a high-power laser made of an AlGaInP-based material, the inclination angle θ is about 0.5 ° to 5 °. Therefore, the inclined surfaces 71, 72, 73 of the heat sinks 7b, 7c and the wedge-shaped member 11d are used. And the angle formed by the perpendicular to the stem main surface 25 may be 0.5 ° to 5 °, respectively.

実施の形態7.
図7は実施の形態7による半導体レーザの構造を示す構成図であり、図の(a)はその断面図、(b)はステム9のみを示す上面図である。
本実施の形態では、図1の(a)、及び(b)の実施の形態1、及び図2〜図6の実施の形態2〜6と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 7 FIG.
7A and 7B are configuration diagrams showing the structure of the semiconductor laser according to the seventh embodiment. FIG. 7A is a cross-sectional view thereof, and FIG. 7B is a top view showing only the stem 9.
In the present embodiment, the same or corresponding parts as those in the first embodiment in FIGS. 1A and 1B and the second to sixth embodiments in FIGS. Thus, the description will be omitted, and only different parts will be described.

上記実施の形態1〜6においては、チップ搭載用構造体を構成するサブマウント又はヒートシンクを改良して、レーザチップを実質的に傾斜させることにより、レーザ光軸をステム主面に対して正確に垂直になるように補償したものであるが、図7に示す本実施の形態7では、従来の直方体の形状のサブマウント5とヒートシンク7aによりチップ搭載用構造体を形成し、これをステム主面25の一部に形成された傾斜面12gを有する凹部13gに設置して、同様な効果を得るようにしたものである。   In the first to sixth embodiments, the laser optical axis is accurately set with respect to the main surface of the stem by improving the submount or the heat sink constituting the chip mounting structure and substantially tilting the laser chip. In the seventh embodiment shown in FIG. 7, the chip mounting structure is formed by the conventional rectangular parallelepiped submount 5 and the heat sink 7a. 25 is installed in a recess 13g having an inclined surface 12g formed in a part of 25 to obtain a similar effect.

本実施の形態7においては、図7に示すように、ステム主面29の一部領域に、ステム主面25上をレーザチップ1から離れる方向に進むにつれて、その位置がステム主面25より低くなるような傾斜面12gを有する凹部13gが形成されている。この傾斜面12gの上に、直方体のヒーシンク7a、及びレーザチップ1がその活性層2側を固着面4において固着された直方体のサブマウント5からなるチップ搭載用構造体が設置されている。   In the seventh embodiment, as shown in FIG. 7, the position of the stem main surface 29 becomes lower than the stem main surface 25 as it proceeds on the stem main surface 25 in a direction away from the laser chip 1. A concave portion 13g having an inclined surface 12g is formed. On this inclined surface 12g, a chip mounting structure including a rectangular parallelepiped heat sink 7a and a rectangular parallelepiped submount 5 in which the active layer 2 side of the laser chip 1 is fixed on the fixing surface 4 is installed.

図7において、凹部13gにおける傾斜面12gのステム主面25に対する傾斜角βは、レーザチップ1におけるレーザ光軸21の傾斜角度θと同じ値(β=θ)に設定されており、またヒートシンク7a及び、サブマウント5は直方体であるので、レーザチップ1のサブマウント5の上の固着面4の延長面23は、ヒートシンク7a側にθと同角度だけ傾斜し、該延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7a側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。すなわち、レーザチップ1は実効的に反時計廻りの方向に角度θだけ、傾斜することになる。   In FIG. 7, the inclination angle β of the inclined surface 12g with respect to the stem main surface 25 in the recess 13g is set to the same value (β = θ) as the inclination angle θ of the laser optical axis 21 in the laser chip 1, and the heat sink 7a. Since the submount 5 is a rectangular parallelepiped, the extension surface 23 of the fixing surface 4 on the submount 5 of the laser chip 1 is inclined to the heat sink 7a side by the same angle as θ, and the extension surface 23 and the stem main surface The angle α1 viewed from the heat sink 7a side formed by 25 is an angle smaller than 90 °, that is, α1 = (90−θ) °. That is, the laser chip 1 is effectively inclined by the angle θ in the counterclockwise direction.

この結果、図7に示すように、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光軸21はステム主面25に対し正確に垂直方向になるように改善される。   As a result, as shown in FIG. 7, the inclination of the laser optical axis 21 at the laser resonator end face 20 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, and the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25. To be improved.

なお、本実施の形態7において、レーザチップ1の活性層3から出射されるレーザ光軸21は、レーザ共振器端面20における垂線22から傾斜角θだけ基板2の側に傾斜おり、通常AlGaInP系材料による高出力レーザにおいては、この傾斜する角度θは、0.5°〜5°であるので、ステム主面25に形成した凹部の傾斜面12gのステム主面25に対する傾斜角度βも0.5°〜5°にすればよい。   In the seventh embodiment, the laser optical axis 21 emitted from the active layer 3 of the laser chip 1 is inclined to the substrate 2 side by the inclination angle θ from the perpendicular 22 in the laser resonator end face 20, and is usually an AlGaInP system. In the high-power laser made of a material, the inclination angle θ is 0.5 ° to 5 °. Therefore, the inclination angle β of the inclined surface 12g of the concave portion formed in the stem main surface 25 with respect to the stem main surface 25 is also 0. What is necessary is just to set it as 5 degrees-5 degrees.

本実施の形態7によれば、傾斜面12gを有する凹部13gは、ステム主面25に特別な加工を施すことなく、ステム9の作製工程において金型による整形法等を用いてステム9の中に作り込むことができるので、低コストでレーザ光軸21がステム主面25に対して正確に垂直となる半導体レーザを作製できるというメリットがある。   According to the seventh embodiment, the recess 13g having the inclined surface 12g is formed in the stem 9 by using a shaping method using a mold or the like in the manufacturing process of the stem 9 without performing special processing on the stem main surface 25. Therefore, there is an advantage that a semiconductor laser in which the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25 can be manufactured at low cost.

なお、本実施の形態7においては、レーザチップ1はサブマウント5を介して、ヒートシンク7aに設置される場合について示したが、実施の形態5及び実施の形態6と同様に、レーザチップ1を直接ヒートシンク7aに設置しても同様な効果が得られる。   In the seventh embodiment, the case where the laser chip 1 is installed on the heat sink 7a via the submount 5 has been described. However, as in the fifth and sixth embodiments, the laser chip 1 is mounted. The same effect can be obtained even if it is installed directly on the heat sink 7a.

また、本実施の形態7においては、サブマウント5及びヒートシンク7aは直方体の場合について説明したが、それぞれ立方体でも良く、またサブマウントとして板状の平行平板を用いても同様な効果が得られる。   In the seventh embodiment, the case where the submount 5 and the heat sink 7a are rectangular parallelepipeds has been described. However, the submount 5 and the heat sink 7a may each be a cube, and the same effect can be obtained by using a plate-like parallel plate as the submount.

実施の形態8
図8は実施の形態8による半導体レーザの構造を示す構成図であり、図の(a)は断面図、(b)はステム9のみを示す上面図である。本実施の形態では、図1の(a)及び(b)の実施の形態1、及び図4及び図7の実施の形態4及び7と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 8
8A and 8B are configuration diagrams showing the structure of the semiconductor laser according to the eighth embodiment. FIG. 8A is a sectional view, and FIG. 8B is a top view showing only the stem 9. In the present embodiment, the same or corresponding parts as those in the first embodiment in FIGS. 1A and 1B and the fourth and seventh embodiments in FIGS. 4 and 7 are denoted by the same reference numerals. Therefore, only the different parts will be described.

上記実施の形態7では、ステム主面25の一部に傾斜面12gを有する凹部を形成し、この傾斜面12g上に従来の直方体の部材からなるサブマウント5、ヒートシンク7aにより形成されたチップ搭載用構造体を設置することにより、レーザ光軸21がステム主面25に対し正確に垂直になるようにしたが、本実施の形態8のように、ステム9の一部に傾斜面12hを有する凸部11hを形成しても、同様な効果が得られる。   In the seventh embodiment, a concave portion having an inclined surface 12g is formed on a part of the stem main surface 25, and the chip mounting formed by the submount 5 and the heat sink 7a made of a conventional rectangular parallelepiped member on the inclined surface 12g. The laser optical axis 21 is made to be accurately perpendicular to the stem main surface 25 by installing the structural body. However, as in the eighth embodiment, the stem 9 has an inclined surface 12h. Even if the convex portion 11h is formed, the same effect can be obtained.

本実施の形態8においては、図8に示すように、ステム主面25の一部領域に、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステム主面25上をレーザチップ1に近い方向に進むにつれてその位置がステム主面25より高くなるような傾斜面12hを有するくさび型の凸部11hが形成されている。   In the eighth embodiment, as shown in FIG. 8, in a cross section that is perpendicular to the active layer 3 of the laser chip 1 and includes the laser optical axis 21 in a partial region of the stem main surface 25, A wedge-shaped convex portion 11 h having an inclined surface 12 h whose position becomes higher than the stem main surface 25 as it goes in the direction closer to the laser chip 1 is formed.

この凸部11hの形成方法として、例えばステム9が金属製の枠に低融点ガラスが融着されたハーメチックシールで構成されている場合には、その作製工程においてステム主面25を形成する金属製の枠の表面を金型による整形法等により隆起させることにより、容易にステム主面25上に凸部11hを一体構造として作り込むことができる。   As a method for forming the convex portion 11h, for example, when the stem 9 is formed of a hermetic seal in which a low melting point glass is fused to a metal frame, a metal main body 25 forming the stem main surface 25 in the manufacturing process is formed. By raising the surface of the frame by a shaping method using a mold or the like, the convex portion 11h can be easily formed on the stem main surface 25 as an integral structure.

傾斜面12hの上に、それぞれ直方体の部材からなるヒーシンク7a及びサブマウント5からなるチップ搭載用構造体、及び上記サブマウント5上の固着面4において活性層2側が接するように固着されたレーザチップ1が設置されている。   On the inclined surface 12h, a chip mounting structure including a heat sink 7a and a submount 5 each formed of a rectangular parallelepiped member, and a laser chip fixed so that the active layer 2 side is in contact with the fixing surface 4 on the submount 5 1 is installed.

図8において、凸部11hのステム主面25に対する傾斜角βは、レーザチップ1におけるレーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値(β=θ)に設定されており、またヒートシンク7a及び、サブマウント5は直方体であるので、レーザチップ1のサブマウント5の上の固着面4の延長面23は、ヒートシンク7a側にθと同角度だけ傾斜する。従って上記延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7a側から見た角度α1は90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。すなわち、レーザチップ1は実効的に反時計廻りの方向に角度θだけ傾斜することになる。   In FIG. 8, the inclination angle β of the convex portion 11h with respect to the stem main surface 25 is set to the same value (β = θ) as the inclination angle θ of the laser optical axis 21 in the laser chip 1, and the heat sink 7a and Since the submount 5 is a rectangular parallelepiped, the extension surface 23 of the fixing surface 4 on the submount 5 of the laser chip 1 is inclined toward the heat sink 7a by the same angle as θ. Therefore, the angle α1 viewed from the heat sink 7a side formed by the extension surface 23 and the stem main surface 25 is smaller than 90 °, that is, α1 = (90−θ) °. That is, the laser chip 1 is effectively inclined by the angle θ in the counterclockwise direction.

この結果、図8に示すようにレーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光軸21はステム主面25に対し正確に垂直方向になるように改善される。   As a result, as shown in FIG. 8, the inclination of the laser optical axis 21 at the laser resonator end face 20 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, so that the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25. To be improved.

なお、本実施の形態8において、レーザチップ1の活性層3から出射されるレーザ光軸21は、レーザ共振器端面20における垂直線22から傾斜角θだけ基板2の側に傾斜おり、通常AlGaInP系材料による高出力レーザにおいては、この傾斜角θは、0.5°〜5°であるので、ステム主面25に形成した凸部の傾斜面のステム主面に対する傾斜角度βは0.5°〜5°にすればよい。   In the eighth embodiment, the laser optical axis 21 emitted from the active layer 3 of the laser chip 1 is inclined toward the substrate 2 by the inclination angle θ from the vertical line 22 in the laser resonator end face 20, and is usually AlGaInP. In a high-power laser made of a system material, the inclination angle θ is 0.5 ° to 5 °. Therefore, the inclination angle β of the inclined surface of the convex portion formed on the stem main surface 25 with respect to the stem main surface is 0.5. What is necessary is just to make it 5 degrees.

また、本実施の形態8によれば、傾斜面12hを有する凸部11hは、ステム主面25に特別な加工を施すことなく、ステム9の作製工程において金型等を用いて主面25の上に、一体構造として作り込むことができるので、低コストでステム主面25に対して正確に垂直に出射する半導体レーザを作製できるというメリットがある。   Further, according to the eighth embodiment, the convex portion 11h having the inclined surface 12h is formed on the main surface 25 using a mold or the like in the manufacturing process of the stem 9 without performing special processing on the stem main surface 25. Moreover, since it can be fabricated as an integral structure, there is a merit that a semiconductor laser that emits light perpendicularly to the stem main surface 25 can be fabricated at low cost.

なお、本実施の形態8においては、傾斜面12hを有する凸部11hは、ステム主面25の上にステム9の一体構造として形成された例を示したが、ステム9とは別に、傾斜面12hを有するくさび型部材を用意してステム主面上に設置し、凸部11hとしても良い。   In the eighth embodiment, an example in which the convex portion 11h having the inclined surface 12h is formed as an integral structure of the stem 9 on the stem main surface 25 is shown. A wedge-shaped member having 12h may be prepared and installed on the stem main surface to form the convex portion 11h.

また、本実施の形態8においては、レーザチップ1はサブマウント5を介して、ヒートシンク7に設置された場合について示したが、サブマウントを用いずにレーザチップ1を直接ヒートシンク7aに設置しても同様な効果が得られる。   In the eighth embodiment, the laser chip 1 is installed on the heat sink 7 via the submount 5. However, the laser chip 1 is installed directly on the heat sink 7a without using the submount. The same effect can be obtained.

また、本実施の形態8においては、サブマウント5及びヒートシンク7aは直方体の場合について説明したが、それぞれ立方体を用いても良く、またサブマウントとして薄い板状の平行平板を用いても同様な効果が得られる。   In the eighth embodiment, the case where the submount 5 and the heat sink 7a are rectangular parallelepipeds has been described. However, a cube may be used, and the same effect may be obtained even if a thin plate-like parallel plate is used as the submount. Is obtained.

実施の形態9
図9は実施の形態9による半導体レーザの構造を示す構成図である。図中、図1、4、7、及び8に示す実施の形態1、4、7、及び8と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 9
FIG. 9 is a block diagram showing the structure of the semiconductor laser according to the ninth embodiment. In the figure, the same or corresponding parts as those of the first, fourth, seventh, and eighth embodiments shown in FIGS. 1, 4, 7, and 8 are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted, and only different parts are described. explain.

上記実施の形態1〜8においては、ステムのレーザチップを搭載する側のステム主面を光学的基準面として、レーザ光軸がこの基準面に正確に垂直になるように補償することを目的にしていたが、半導体レーザ応用機器の光学系の設計によっては、ステムの下面(以下ステム下面)を光ピックアップ等の光応用機器における光学系の基準面として用いることも可能である。本実施の形態9では、ステム主面を光学的基準面としたステム下面26に対して傾斜させ、この傾斜したステム主面25bの上にサブマウント5及びヒートシンク7aからなるチップ搭載用構造体を搭載することにより、レーザ光軸21がこの基準面に正確に垂直になるようにしたものである。   In the first to eighth embodiments, the main stem surface on the side where the laser chip of the stem is mounted is used as an optical reference surface, and the purpose is to compensate so that the laser optical axis is accurately perpendicular to the reference surface. However, depending on the design of the optical system of the semiconductor laser application device, the lower surface of the stem (hereinafter referred to as the stem lower surface) can be used as a reference surface of the optical system in the optical application device such as an optical pickup. In the ninth embodiment, the chip mounting structure including the submount 5 and the heat sink 7a is inclined on the stem lower surface 26 having the stem main surface as an optical reference surface, and the stem main surface 25b is inclined. By mounting, the laser optical axis 21 is made to be exactly perpendicular to the reference plane.

本実施の形態9においては、図9に示すように、ステム主面25bは、光学的基準面であるステム下面26に対し、βの角度で傾斜したものを用いる。その傾斜方向は、ステム主面25b上で、レーザチップ1からヒートシンク7aに向かう方向(図9の左方)に行くほど、ステム主面25bが下面に近づく、すなわち左方ほどステム主面25bが下がる方向である。その傾斜角βはレーザチップ1におけるレーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値(β=θ)に設定する。   In the ninth embodiment, as shown in FIG. 9, the stem main surface 25b is inclined with respect to the stem lower surface 26, which is an optical reference surface, at an angle β. The inclination direction of the stem main surface 25b is closer to the lower surface as it goes in the direction from the laser chip 1 toward the heat sink 7a (left side in FIG. 9) on the stem main surface 25b. It is the direction to go down. The tilt angle β is set to the same value (β = θ) as the tilt angle θ of the laser optical axis 21 in the laser chip 1.

上記傾斜したステム主面25bの上に、それぞれ直方体のヒーシンク7a及びサブマウント5からなるチップ搭載用構造体が設置され、さらにサブマウント5上の固着面4において、レーザチップ1がその活性層3側の表面を接する様に固着して設置されている。上記チップ搭載用構造体は、レーザチップ1のレーザ光軸21が、ステム主面25bの概略垂直方向(上方)になるような形態で、ステム主面25bの上に設置されている。   On the inclined stem main surface 25b, chip mounting structures each comprising a rectangular parallelepiped heat sink 7a and a submount 5 are installed. On the fixing surface 4 on the submount 5, the laser chip 1 is attached to the active layer 3 thereof. It is fixed and installed so that the surface of the side touches. The chip mounting structure is installed on the stem main surface 25b so that the laser optical axis 21 of the laser chip 1 is in a substantially vertical direction (upward) of the stem main surface 25b.

レーザチップ1は直方体のサブマウント5、及びヒートとシンク7aを介して、β(=θ)の角度だけ傾斜したステム主面25b上に設置されているため、レーザチップ1とサブマウント5の固着面4の延長面23と、ステム下面26とがなすヒートシンク7a側から見た角度α1は、90°より小さい角度、すなわちα1=(90−θ)°となる。すなわち、レーザチップ1は実効的に反時計廻りの方向に角度θだけ傾斜することになる。   Since the laser chip 1 is installed on the stem main surface 25b inclined by an angle β (= θ) via the rectangular parallelepiped submount 5 and the heat and the sink 7a, the laser chip 1 and the submount 5 are fixed. An angle α1 viewed from the heat sink 7a side formed by the extended surface 23 of the surface 4 and the stem lower surface 26 is an angle smaller than 90 °, that is, α1 = (90−θ) °. That is, the laser chip 1 is effectively inclined by the angle θ in the counterclockwise direction.

この結果、図9に示すようにレーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光軸21は光学的基準面となるステム下面26に対し正確に垂直方向になるように改善される。   As a result, as shown in FIG. 9, the inclination of the laser resonator end face 20 of the laser optical axis 21 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, and the laser optical axis 21 is accurately with respect to the stem lower surface 26 serving as an optical reference plane. Improved to be vertical.

本実施の形態9によれば、傾斜したステム主面25bを有するステム9bは、特別な加工や部品を追加することなく、その作製工程において金型等を用いて容易に作製できるので、低コストでレーザ光軸が光学的基準面となるステム下面26に対して正確に垂直となる半導体レーザを歩留まり良く作製できるというメリットがある。   According to the ninth embodiment, the stem 9b having the inclined stem main surface 25b can be easily manufactured using a mold or the like in the manufacturing process without adding special processing or parts, so that the cost is low. Thus, there is an advantage that a semiconductor laser in which the laser optical axis is accurately perpendicular to the stem lower surface 26 serving as an optical reference surface can be manufactured with a high yield.

なお、本実施の形態9においては、レーザチップ1はサブマウント5を介してヒートシンク7aに設置された場合について示したが、レーザチップ1を直接ヒートシンク7aに設置しても同様な効果が得られる。   In the ninth embodiment, the case where the laser chip 1 is installed on the heat sink 7a via the submount 5 is shown. However, the same effect can be obtained even if the laser chip 1 is installed directly on the heat sink 7a. .

また、本実施の形態9においては、サブマウント5及びヒートシンク7aは直方体の場合について説明したが、それぞれ立方体を用いても良く、またサブマウント5として板状の平行平板を用いても同様な効果が得られる。   In the ninth embodiment, the submount 5 and the heat sink 7a have been described as rectangular parallelepipeds. However, each of the submounts 5 and the heat sink 7a may be a cube. Is obtained.

実施の形態10
図10は実施の形態10による半導体レーザの構造を示す構成図であり、図の(a)は断面図、(b)はステム9のみを示す上面図である。図中、図7の実施の形態7と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 10
10A and 10B are configuration diagrams showing the structure of the semiconductor laser according to the tenth embodiment. FIG. 10A is a cross-sectional view, and FIG. 10B is a top view showing only the stem 9. In the figure, portions that are the same as or equivalent to those of the seventh embodiment in FIG. 7 are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different portions are described.

上記実施の形態7(図7)においては、レーザ光軸21が基板2の側に傾斜したレーザチップ1が活性層3側の表面をサブマウント5に接する様に固着された所謂ジャンクションダウン方式の形態によりレーザチップ1がチップ搭載用構造体に設置され、このチップ搭載用構造体を、ステム主面25に設けられた傾斜部12gを有する凹部13gに設置した場合について説明したが、本実施の形態10では、図10に示すように、レーザチップ1の基板2側がサブマウント5に固着された、所謂ジャンクションアップ方式の形態で組立てられた半導体レーザに関し、そのレーザ光軸21を正確にステム主面25に垂直方向にする組立構造について説明する。   In the seventh embodiment (FIG. 7), the so-called junction down type in which the laser chip 1 whose laser optical axis 21 is inclined toward the substrate 2 is fixed so that the surface on the active layer 3 side is in contact with the submount 5. The case where the laser chip 1 is installed in the chip mounting structure according to the form, and this chip mounting structure is installed in the concave portion 13g having the inclined portion 12g provided in the stem main surface 25 has been described. In the tenth embodiment, as shown in FIG. 10, the laser optical axis 21 is accurately set to the main stem of a semiconductor laser assembled in a so-called junction-up type in which the substrate 2 side of the laser chip 1 is fixed to the submount 5. An assembly structure that is perpendicular to the surface 25 will be described.

本実施の形態10においては、図10に示すように、ステム9の一部領域に、ステム主面25上をヒートシンク7a側からレーザチップ1に近づく方向に進むにつれて、その位置がステム主面25より低くなるような傾斜面12jを有する凹部13jがステム9に形成されている。この傾斜面12jの上に、それぞれ直方体のヒーシンク7a、およびサブマウント5からなるチップ搭載用構造体が設置され、上記サブマウント5上の固着面4において、レーザチップ1がその基板2の側が接するように固着して設置されている。   In the tenth embodiment, as shown in FIG. 10, in a partial region of the stem 9, as the position of the stem main surface 25 advances from the heat sink 7 a side toward the laser chip 1, the position of the stem 9 increases. A recess 13j having an inclined surface 12j that is lower is formed in the stem 9. On this inclined surface 12j, a chip mounting structure comprising a cuboid heat sink 7a and a submount 5 is installed, and the laser chip 1 is in contact with the substrate 2 side on the fixing surface 4 on the submount 5. It is fixed and installed.

また、上記チップ搭載用構造体の一部であるヒートシンク7aは、レーザ光の出射方向がステム主面25に対し概略垂直方向となるような形態で、すなわちステム9の上方となるように、上記傾斜面12jの上に設置されている。   Further, the heat sink 7a, which is a part of the chip mounting structure, has a configuration in which the emission direction of the laser light is substantially perpendicular to the stem main surface 25, that is, above the stem 9. It is installed on the inclined surface 12j.

図10において、凹部13jの傾斜面12jのステム主面25に対する傾斜角βは、レーザチップ1におけるレーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値(β=θ)に設定されており、またヒートシンク7a、及びサブマウント5は直方体であるので、レーザチップ1のサブマウント5の上の固着面4の延長面23は、ヒートシンク7aの反対側に角度θと同角度だけ傾斜し、この延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7a側から見た角度α2は90°より大さい角度、すなわちα2=(90+θ)°となる。すなわち、レーザチップ1は実効的に時計廻りの方向に角度θだけ、傾斜することになる。   In FIG. 10, the inclination angle β of the inclined surface 12j of the recess 13j with respect to the stem main surface 25 is set to the same value (β = θ) as the inclination angle θ of the laser optical axis 21 in the laser chip 1, and the heat sink 7a and the submount 5 are rectangular parallelepipeds, the extension surface 23 of the fixing surface 4 on the submount 5 of the laser chip 1 is inclined to the opposite side of the heat sink 7a by the same angle θ as the extension surface 23. The angle α2 viewed from the heat sink 7a side formed by the stem main surface 25 is an angle larger than 90 °, that is, α2 = (90 + θ) °. That is, the laser chip 1 is effectively inclined by the angle θ in the clockwise direction.

これにより、図10に示すように、ジャンクションアップ方式でサブマウント5に設置された半導体レーザにおいても、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における垂線に対する基板側への傾斜は、パッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光軸21はステム主面25に対し正確に垂直方向になるように改善される。   As a result, as shown in FIG. 10, even in the semiconductor laser installed on the submount 5 by the junction-up method, the inclination of the laser optical axis 21 toward the substrate with respect to the perpendicular at the laser resonator end face 20 is viewed from the outside of the package. As a result, the laser optical axis 21 is improved so as to be exactly perpendicular to the stem main surface 25.

また、本実施の形態10によれば、傾斜面12jを有する凹部13jは、ステム主面25に特別な加工を施すことなく、ステム9の作製工程において金型等を用いてステム9の中に作り込むことができるので、低コストでレーザ光軸21がステム主面25に対して正確に垂直になるよう補償された半導体レーザを作製できるというメリットがある。   Further, according to the tenth embodiment, the recess 13j having the inclined surface 12j is formed in the stem 9 by using a die or the like in the manufacturing process of the stem 9 without performing special processing on the stem main surface 25. Since it can be fabricated, there is a merit that a semiconductor laser compensated so that the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25 can be fabricated at low cost.

なお、本実施の形態10においては、レーザチップ1はサブマウント5を介して、ヒートシンク7に設置される場合について示したが、サブマウント5を用いずにレーザチップ1を直接ヒートシンク7aに設置しても同様な効果が得られる。   In the tenth embodiment, the laser chip 1 is installed on the heat sink 7 via the submount 5. However, the laser chip 1 is installed directly on the heat sink 7a without using the submount 5. However, the same effect can be obtained.

実施の形態11
図11は実施の形態11による半導体レーザの構造を示す構成図であり、図の(a)は断面図、(b)はステム9のみを示す上面図である。図中、図8の実施の形態8と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 11
11A and 11B are configuration diagrams showing the structure of the semiconductor laser according to the eleventh embodiment. FIG. 11A is a cross-sectional view, and FIG. 11B is a top view showing only the stem 9. In the figure, portions that are the same as or equivalent to those of the eighth embodiment in FIG. 8 are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different portions are described.

上記実施の形態8(図8)においては、レーザ光軸21が基板2側に傾斜したレーザチップ1がその活性層3側をサブマウント5に固着された、すなわちジャンクションダウン方式により組立てられたチップ搭載用構造体を、凸部11hの傾斜面12h上に設置して作製した半導体レーザについて説明したが、本実施の形態11においては、図11に示すように、レーザチップ1の基板2側の面がサブマウント5に固着された、すなわちジャンクションダウンアップ方式で組立てられた半導体レーザに関し、そのレーザ光軸を正確にステム主面25に垂直方向にする構造について説明する。   In the eighth embodiment (FIG. 8), the laser chip 1 whose laser optical axis 21 is inclined toward the substrate 2 is fixed to the submount 5 on the active layer 3 side, that is, the chip is assembled by the junction down method. Although the semiconductor laser manufactured by installing the mounting structure on the inclined surface 12h of the convex portion 11h has been described, in the eleventh embodiment, as shown in FIG. Regarding a semiconductor laser whose surface is fixed to the submount 5, that is, assembled by the junction down-up method, a structure in which the laser optical axis is set to be perpendicular to the stem main surface 25 will be described.

本実施の形態11においては、図11に示すように、ステム9の一部領域に、レーザチップ1の活性層3に垂直でかつレーザ光軸21を含む断面において、ステム主面25上をヒートシンク7aからレーザチップ1に近づく方向に進むにつれて、その位置がステム主面25近づくような、すなわち高さが低くなるような傾斜面12kを有するくさび型の断面形状の凸部11kが形成されている。
このくさび型の断面形状の凸部11kは、図8に示す実施の形態8と同様に、ステム9の作製工程において、金型による整形法等を用いてステム主面25の一部領域を隆起させた一体構造として作り込むことができる。
In the eleventh embodiment, as shown in FIG. 11, a heat sink is formed on the stem main surface 25 in a partial region of the stem 9 in a cross section perpendicular to the active layer 3 of the laser chip 1 and including the laser optical axis 21. As it advances from 7a toward the laser chip 1, a wedge-shaped cross-sectional convex portion 11k having an inclined surface 12k whose position approaches the stem main surface 25, that is, whose height is reduced, is formed. .
This wedge-shaped convex portion 11k having a cross-sectional shape is raised in a region of the stem main surface 25 using a shaping method using a mold or the like in the manufacturing process of the stem 9 as in the eighth embodiment shown in FIG. It can be built as an integrated structure.

上記、傾斜面12kの上に、それぞれ直方体のヒーシンク7a、サブマウント5からなるチップ搭載用構造体が設置され、上記サブマウント5上の固着面4に、レーザチップ1がその基板2の側を接するように、すなわちジャンクションアップ方式で設置されている。   A chip mounting structure comprising a cuboid heat sink 7a and a submount 5 is installed on the inclined surface 12k, and the laser chip 1 is placed on the substrate 2 side on the fixing surface 4 on the submount 5. It is installed so that it touches, that is, a junction-up system.

また、上記チップ搭載用構造体の一部であるヒートシンク7aは、レーザ光の出射方向がステム主面25に対し概略垂直方向となるような形態で、すなわちレーザ光の出射方向がステム9の上方となるように、上記傾斜面12kの上に設置されている。   The heat sink 7a, which is a part of the chip mounting structure, has a configuration in which the laser light emission direction is substantially perpendicular to the stem main surface 25, that is, the laser light emission direction is above the stem 9. It is installed on the inclined surface 12k.

図11において、凸部11kのステム主面25に対する傾斜角βは、レーザチップ1におけるレーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値(β=θ)に設定されており、またヒートシンク7a及び、サブマウント5は直方体(隣り合う面のなす角度が90°)であるので、レーザチップ1のサブマウント5における固着面4の延長面23は、ヒートシンク7a側に角度θと同角度だけ傾斜し、該延長面23とステム主面25のなすヒートシンク7側から見た角度α2は90°より大きい角度、すなわちα2=(90+θ)°となる。すなわち、レーザチップ1は実効的に時計廻りの方向に角度θだけ、傾斜することになる。   In FIG. 11, the inclination angle β of the convex portion 11k with respect to the stem main surface 25 is set to the same value (β = θ) as the inclination angle θ of the laser optical axis 21 in the laser chip 1, and the heat sink 7a and Since the submount 5 is a rectangular parallelepiped (the angle between adjacent surfaces is 90 °), the extension surface 23 of the fixing surface 4 in the submount 5 of the laser chip 1 is inclined to the heat sink 7a side by the same angle as the angle θ. The angle α2 viewed from the heat sink 7 side formed by the extended surface 23 and the stem main surface 25 is an angle larger than 90 °, that is, α2 = (90 + θ) °. That is, the laser chip 1 is effectively inclined by the angle θ in the clockwise direction.

この結果、図11に示すように、ジャンクションアップ方式でサブマウント4に設置されたレーザ光軸21が基板2側に傾斜した半導体レーザにおいても、レーザ光軸21のレーザ共振器端面20における垂線22に対する基板2側への傾斜は、パッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光軸21はステム主面25に対し正確に垂直方向になるように改善される。   As a result, as shown in FIG. 11, even in a semiconductor laser in which the laser optical axis 21 installed on the submount 4 is inclined to the substrate 2 side by the junction-up method, the perpendicular 22 on the laser resonator end face 20 of the laser optical axis 21. The inclination toward the substrate 2 side is apparently compensated when viewed from the outside of the package, and the laser optical axis 21 is improved so as to be accurately perpendicular to the stem main surface 25.

また、本実施の形態11によれば、傾斜面12kを有する凸部11kは、ステム主面25に特別な加工を施すことなく、ステム9の作製工程において金型等を用いて主面25の上に、一体構造として作り込むことができるので、低コストでレーザ光軸21がステム主面25に対して正確に垂直になる半導体レーザを作製できるというメリットがある。   Further, according to the eleventh embodiment, the convex portion 11k having the inclined surface 12k is formed on the main surface 25 using a mold or the like in the manufacturing process of the stem 9 without performing special processing on the stem main surface 25. Moreover, since it can be fabricated as an integral structure, there is an advantage that a semiconductor laser in which the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem main surface 25 can be fabricated at low cost.

なお、本実施の形態11においては、傾斜面を有する凸部11kは、ステム主面25の一部を隆起させた一体構造として説明したが、表面が平坦なステム9の上に、別途作製した断面形状がくさび型をした部材を、ステム主面25上に設置しても同様な効果が得られるのはいうまでもない。   In the eleventh embodiment, the convex portion 11k having the inclined surface has been described as an integral structure in which a part of the stem main surface 25 is raised, but is separately manufactured on the stem 9 having a flat surface. It goes without saying that the same effect can be obtained even if a member having a wedge-shaped cross section is installed on the stem main surface 25.

また、本実施の形態11においては、レーザチップ1はサブマウント5を介して、ヒートシンク7aに設置される場合について示したが、サブマウント5を用いずにレーザチップ1を直接ヒートシンク7aに設置しても同様な効果が得られる。 In the eleventh embodiment, the laser chip 1 is installed on the heat sink 7a via the submount 5. However, the laser chip 1 is installed directly on the heat sink 7a without using the submount 5. However, the same effect can be obtained.

実施の形態12
図12は実施の形態12による半導体レーザの構造を示す断面図である。図中、図9の実施の形態9と同一又は相当する部分については、同一の符号を付して説明を省略し、異なる部分についてのみ説明する。
Embodiment 12
FIG. 12 is a sectional view showing the structure of a semiconductor laser according to the twelfth embodiment. In the figure, portions that are the same as or equivalent to those of the ninth embodiment in FIG. 9 are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different portions are described.

上記実施の形態9(図9)においては、レーザ光軸21が基板2側に傾斜したレーザチップ1がジャンクションダウン方式で搭載されたチップ搭載用構造体を、傾斜したステム主面25b上に設置した場合について説明したが、本実施の形態12においては、図12に示すように、レーザチップ1の基板2の側がサブマウント5に固着された、すなわちジャンクションアップ方式でレーザチップ1が搭載されたチップ搭載用構造体に関し、傾斜したステム主面25cを持つステム9cを用いて、レーザ光軸21を、光学的基準面となるステム下面26に対して正確に垂直にする構成について説明する。   In the ninth embodiment (FIG. 9), the chip mounting structure in which the laser chip 1 with the laser optical axis 21 inclined toward the substrate 2 is mounted by the junction down method is installed on the inclined stem main surface 25b. In the twelfth embodiment, as shown in FIG. 12, the substrate 2 side of the laser chip 1 is fixed to the submount 5, that is, the laser chip 1 is mounted by the junction-up method. Regarding the chip mounting structure, a configuration in which the laser optical axis 21 is accurately perpendicular to the stem lower surface 26 serving as an optical reference surface using the stem 9c having the inclined stem main surface 25c will be described.

本実施の形態12においては、図12に示すように、ステム主面25cは、光学的基準面となるステム下面26に対し、βの角度で傾斜している。
その傾斜方向は、ステム主面25c上を、ヒートシンク6からレーザチップ1に向かう方向(図12の右方)に行くほど、ステム主面25cがステム下面26に近づく、すなわち図の右方ほどステム主面25cの位置が下がる方向である。その傾斜角βはレーザ共振器端面20におけるレーザ光軸21の傾斜する角度θと同じ値(β=θ)に設定する。
In the twelfth embodiment, as shown in FIG. 12, the stem main surface 25c is inclined at an angle β with respect to the stem lower surface 26 serving as an optical reference surface.
The inclination direction of the stem main surface 25c is closer to the stem lower surface 26 as it goes on the stem main surface 25c from the heat sink 6 toward the laser chip 1 (right side in FIG. 12). This is the direction in which the position of the main surface 25c is lowered. The tilt angle β is set to the same value (β = θ) as the tilt angle θ of the laser optical axis 21 on the laser resonator end face 20.

上記傾斜した主面25cの上に、それぞれ直方体のヒーシンク7a及びサブマウント5からなるチップ搭載用構造体が設置され、さらにサブマウント5上の固着面4において、レーザチップ1がその活性層3側を接するようにして設置されている。
また、上記チップ搭載用構造体は、レーザチップ1のレーザ光軸21が、ステム主面25cの概略垂直方向、すなわち上方になるような形態で、ステム主面25bの上に設置されている。
A chip mounting structure composed of a rectangular parallelepiped heat sink 7a and a submount 5 is installed on the inclined main surface 25c. Further, on the fixing surface 4 on the submount 5, the laser chip 1 is on the active layer 3 side. It is installed so that it touches.
The chip mounting structure is installed on the stem main surface 25b in such a manner that the laser optical axis 21 of the laser chip 1 is substantially perpendicular to the stem main surface 25c, that is, above.

上記のように、レーザチップ1は、それぞれ直方体のサブマウント5、ヒートシンク7aを介して、β(=θ)の角度だけ傾斜したステム主面25b上に設置されている。これにより、レーザチップ1とサブマウント5の固着面4の延長面23と、ステム下面26とがなすヒートシンク7aの側から見た角度α2は、90°より大きい角度、すなわちα2=(90+θ)°となる。すなわち、レーザチップ1は実効的に時計廻りの方向に角度θだけ傾斜することになる。   As described above, the laser chip 1 is installed on the stem main surface 25b inclined by an angle β (= θ) through the rectangular parallelepiped submount 5 and the heat sink 7a. Thus, the angle α2 viewed from the heat sink 7a side formed by the extended surface 23 of the fixing surface 4 of the laser chip 1 and the submount 5 and the stem lower surface 26 is an angle larger than 90 °, that is, α2 = (90 + θ) °. It becomes. That is, the laser chip 1 is effectively inclined by the angle θ in the clockwise direction.

この結果、図12に示すようにレーザ光軸21のレーザ共振器端面20における傾斜はパッケージ外部からみると見かけ上補償され、レーザ光軸21は光学的基準面となるステム下面26に対し正確に垂直方向になるように改善される。   As a result, as shown in FIG. 12, the tilt of the laser optical axis 21 at the laser resonator end face 20 is apparently compensated when viewed from the outside of the package, so that the laser optical axis 21 is accurately with respect to the stem lower surface 26 serving as an optical reference plane. Improved to be vertical.

また、本実施の形態12によれば、傾斜したステム主面25を有するステム9cは、特別な加工や部品を追加することなく、その作製工程において金型等を用いて容易に作製できるので、レーザ光軸が光学的基準面となるステム下面26に対して正確に垂直となる半導体レーザを低コストで、かつ歩留まり良く作製できるというメリットがある。   Further, according to the twelfth embodiment, the stem 9c having the inclined stem main surface 25 can be easily manufactured using a mold or the like in its manufacturing process without adding special processing or parts. There is an advantage that a semiconductor laser in which the laser optical axis is accurately perpendicular to the stem lower surface 26 serving as an optical reference surface can be manufactured at low cost and with high yield.

なお、上記実施の形態7〜12においては、レーザチップ1はサブマウント5を介して、ヒートシンク7aに設置される場合について示したが、レーザチップ1を直接ヒートシンク7aに設置しても同様な効果が得られる。   In the seventh to twelfth embodiments described above, the laser chip 1 is installed on the heat sink 7a via the submount 5. However, the same effect can be obtained if the laser chip 1 is installed directly on the heat sink 7a. Is obtained.

なお、上記実施の形態1〜12においては、AlGaInP系材料による光ディスク書込み用高出力レーザのレーザチップを用いた場合について説明したが、AlGaAs系やInGaAsP系、AlGaInN(GaN)系材料等、他の材料で構成されたレーザチップを用いた場合についても適用できるのはいうまでもない。   In the first to twelfth embodiments, the case where the laser chip of the high-power laser for writing on the optical disk using the AlGaInP-based material has been described. However, other AlGaAs-based, InGaAsP-based, AlGaInN (GaN) -based materials, etc. Needless to say, the present invention can also be applied to the case of using a laser chip made of a material.

また、上記実施の形態1〜7においては、ヒートシンク7a、7b、および7cはステムと別の独立した部材として説明したが、最初からヒートシンク7a、7b、および7cがステム9と一体構造として作製されたものであっても、効果は変わらないのはいうまでもない。   In the first to seventh embodiments, the heat sinks 7a, 7b, and 7c have been described as independent members separate from the stem. However, the heat sinks 7a, 7b, and 7c are manufactured as an integral structure with the stem 9 from the beginning. Needless to say, the effect does not change.

また、上記実施の形態1〜12においては、レーザチップ、サブマウント、ヒートシンク、ステムをそれぞれ固着する方法については、例えばAuSi, AuSnなどの適切な組成比、及び融点を有する合金半田を用いることにより、組立ストレスを抑え、かつ実用的な固着強度を得ることができる。   In the first to twelfth embodiments, the laser chip, the submount, the heat sink, and the stem are fixed by using, for example, an alloy solder having an appropriate composition ratio and melting point such as AuSi and AuSn. As a result, assembly stress can be suppressed and practical fixing strength can be obtained.

また、上記実施の形態2〜4、または実施の形態7〜12においては、実施の形態1と同様に、サブマウント5の材料として、熱伝導率が高く、基板と熱膨張係数が近い、シリコン(Si)、窒化アルミニウム(AlN)、炭化珪素(SiC)、ダイヤモンド(C)、銅タングステン(CuW)のうち少なくとも一種類を用いることにより、良好な温度特性及び信頼性を有し、かつレーザ光軸が光学的基準面となるステム主面、またはステム下面に対して正確に垂直となる半導体レーザを実現することができる。   In Embodiments 2 to 4 or Embodiments 7 to 12, as in Embodiment 1, the material of the submount 5 is silicon having a high thermal conductivity and a thermal expansion coefficient close to that of the substrate. By using at least one of (Si), aluminum nitride (AlN), silicon carbide (SiC), diamond (C), and copper tungsten (CuW), the laser beam has good temperature characteristics and reliability. It is possible to realize a semiconductor laser whose axis is exactly perpendicular to the stem main surface or the stem lower surface serving as an optical reference surface.

また、上記実施の形態2〜12においては、実施の形態1と同様に、ヒートシンク7a、7b、および7cの材料として、熱伝導率が高く、加工の容易な銀(Ag)、銅(Cu)、鉄(Fe)、アルミニウム(Al)のうち少なくとも一種類の材料を用いることにより、良好な温度特性、及び低コスト化が実現可能で、かつ、レーザ光軸が光学的基準面となるステム主面、またはステム下面に対して正確に垂直となる半導体レーザを実現することができる。   In the second to twelfth embodiments, as in the first embodiment, the heat sinks 7a, 7b, and 7c are made of silver (Ag) or copper (Cu) that has high thermal conductivity and is easy to process. By using at least one material selected from iron (Fe) and aluminum (Al), good temperature characteristics and low cost can be realized, and the laser main axis is the optical reference plane. A semiconductor laser that is accurately perpendicular to the surface or the bottom surface of the stem can be realized.

本発明の実施の形態1による半導体レーザの構造を示す構成図である。It is a block diagram which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態2による半導体レーザの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態3による半導体レーザの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 3 of this invention. 本発明の実施の形態4による半導体レーザの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 4 of this invention. 本発明の実施の形態5による半導体レーザの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 5 of this invention. 本発明の実施の形態6による半導体レーザの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 6 of this invention. 本発明の実施の形態7による半導体レーザの構造を示す構成図である。It is a block diagram which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 7 of this invention. 本発明の実施の形態8による半導体レーザの構造を示す構成図である。It is a block diagram which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 8 of this invention. 本発明の実施の形態9による半導体レーザの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 9 of this invention. 本発明の実施の形態10による半導体レーザの構造を示す構成図である。It is a block diagram which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 10 of this invention. 本発明の実施の形態11による半導体レーザの構造示す構成図である。It is a block diagram which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 11 of this invention. 本発明の実施の形態12による半導体レーザの構造示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the semiconductor laser by Embodiment 12 of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 レーザチップ
2 基板
3 活性層
4 レーザチップの固着面
5 サブマウント
6 サブマウントの設置面
7a,7b,7c ヒートシンク
8 ヒートシンクの設置面
9 ステム
11d ヒートシンク上の凸部
11h,11k ステム主面上の凸部
12h,12k 凸部に形成された傾斜面
12g,12j 凹部に形成された傾斜面
13g,13j ステム主面上の凹部
20 レーザ共振器端面
21 レーザ光軸
22 レーザ共振器端面における垂線
23 レーザチップの固着面の延長面
25 ステム主面
26 ステム下面
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser chip 2 Substrate 3 Active layer 4 Laser chip fixed surface 5 Submount 6 Submount installation surface 7a, 7b, 7c Heat sink 8 Heat sink installation surface 9 Stem 11d Convex part 11h, 11k on heat sink On stem main surface Convex portions 12h, 12k Inclined surfaces 12g, 12j formed in the convex portions Inclined surfaces 13g, 13j formed in the concave portions Concave portions 20 on the stem main surface 20 Laser resonator end surface 21 Laser optical axis 22 Vertical line 23 on the laser resonator end surface Laser Extension surface 25 of chip fixing surface Stem main surface 26 Stem lower surface

Claims (16)

半導体基板上に形成されたダブルへテロ構造を有し、該ダブルへテロ構造中の活性層から出射されるレーザ光の中心軸がレーザ共振器端面における垂線に対して基板側に傾斜した半導体レーザチップ、該半導体レーザチップの活性層側の表面が固着された半導体レーザチップ搭載用構造体、および該半導体レーザチップ搭載用構造体が設置されたステムとを少なくとも含み、レーザ光の出射方向がステム主面に対して概略垂直方向になるように上記半導体レーザチップ搭載用構造体がステム主面上に設置された半導体レーザ装置であって、上記半導体レーザチップと上記半導体レーザチップ搭載用構造体とが固着された固着面の延長面とステム主面とがなす上記半導体レーザチップ搭載用構造体側から見た角度が90°より小さくなる方向に上記固着面を傾けることにより、レーザ光の中心軸がステム主面に対して垂直になるようにしたことを特徴とする半導体レーザ装置。 A semiconductor laser having a double heterostructure formed on a semiconductor substrate, wherein the central axis of the laser beam emitted from the active layer in the double heterostructure is inclined toward the substrate side with respect to the perpendicular to the end face of the laser resonator A chip, a semiconductor laser chip mounting structure to which the active layer side surface of the semiconductor laser chip is fixed, and a stem on which the semiconductor laser chip mounting structure is installed. A semiconductor laser device in which the semiconductor laser chip mounting structure is installed on the stem main surface so as to be substantially perpendicular to the main surface, the semiconductor laser chip and the semiconductor laser chip mounting structure, The angle seen from the semiconductor laser chip mounting structure side formed by the extension surface of the fixing surface to which the is fixed and the stem main surface is smaller than 90 ° By tilting the serial fixing surface, a semiconductor laser device characterized by the central axis of the laser beam was set to be perpendicular to the stem main surface. 半導体レーザチップ搭載用構造体は、サブマウント、および該サブマウントを搭載したヒートシンクから成り、上記サブマウントは上記半導体レーザチップの活性層に垂直でかつレーザ光の中心軸を含む断面において、ステムから離れるに従ってステム主面に平行方向の幅が減少するような傾斜面を有し、該傾斜面を固着面としたことを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。 The semiconductor laser chip mounting structure includes a submount and a heat sink on which the submount is mounted. The submount is perpendicular to the active layer of the semiconductor laser chip and includes a central axis of the laser beam. 2. A semiconductor laser device according to claim 1, wherein said semiconductor laser device has an inclined surface whose width in the direction parallel to the stem main surface decreases with increasing distance, and the inclined surface is used as a fixed surface. 半導体レーザチップ搭載用構造体は、サブマウント、および該サブマウントを搭載したヒートシンクから成り、該ヒートシンクは上記半導体レーザチップの活性層に垂直でかつレーザ光の中心軸を含む断面において、ステムから離れるに従ってステム主面に平行方向の幅が減少するような傾斜面を有し、該傾斜面上に設置されたサブマウントの表面を固着面としたことを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。 The semiconductor laser chip mounting structure includes a submount and a heat sink on which the submount is mounted. The heat sink is separated from the stem in a cross section perpendicular to the active layer of the semiconductor laser chip and including the central axis of the laser beam. 2. A semiconductor laser device according to claim 1, wherein said semiconductor laser device has an inclined surface whose width in the direction parallel to the stem main surface decreases in accordance with said surface, and the surface of the submount installed on said inclined surface is a fixing surface. . 半導体レーザチップ搭載用構造体は、ヒートシンクのみから成り、該ヒートシンクは、上記半導体レーザチップの活性層に垂直でかつレーザ光の中心軸を含む断面において、ステムから離れるに従ってステム主面に平行方向の幅が減少するような傾斜面を有し、該傾斜面を固着面としたことを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。 The semiconductor laser chip mounting structure comprises only a heat sink, and the heat sink is perpendicular to the active layer of the semiconductor laser chip and includes a central axis of the laser beam. 2. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein the semiconductor laser device has an inclined surface that decreases in width, and the inclined surface is a fixing surface. 傾斜面とステム主面における垂線とのなす角度が0.5〜5°であることを特徴とする上記請求項2〜請求項4のいずれかに記載の半導体レーザ装置。 5. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein an angle formed between the inclined surface and a perpendicular to the stem main surface is 0.5 to 5 °. ステム主面の一部領域に傾斜面を有する凹部を形成し、該傾斜面上に半導体レーザチップ搭載用構造体を設置したことを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。 2. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein a concave portion having an inclined surface is formed in a partial region of the stem main surface, and a semiconductor laser chip mounting structure is provided on the inclined surface. ステム主面の一部領域に傾斜面を有する凸部を形成し、該傾斜面上に半導体レーザチップ搭載用構造体を設置したことを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。 2. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein a convex portion having an inclined surface is formed in a partial region of the stem main surface, and a semiconductor laser chip mounting structure is provided on the inclined surface. 傾斜面とステム主面における垂線とのなす角度が0.5〜5°であることを特徴とする上記請求項6、または請求項7に記載の半導体レーザ装置。 8. The semiconductor laser device according to claim 6, wherein an angle formed between the inclined surface and a perpendicular line on the stem main surface is 0.5 to 5 [deg.]. 半導体基板上に形成されたダブルへテロ構造を有し、該ダブルへテロ構造中の活性層から出射されるレーザ光の中心軸がレーザ共振器端面における垂線に対して基板側に傾斜した半導体レーザチップ、該半導体レーザチップの活性層側の表面が固着された半導体レーザチップ搭載用構造体、および該半導体レーザチップ搭載用構造体が設置されたステムとを少なくとも含み、レーザ光の出射方向がステム主面に対して概略垂直方向になるように上記半導体レーザチップ搭載用構造体がステム主面上に設置された半導体レーザ装置であって、上記ステム主面はステム下面に対し傾斜させ、上記傾斜したステム主面上に半導体レーザチップ搭載用構造体を設置して、上記半導体レーザチップと上記半導体レーザチップ搭載用構造体とが固着された固着面の延長面とステム下面とがなす上記半導体レーザチップ搭載用構造体側から見た角度が90°より小さくなる方向に上記固着面を傾けることにより、レーザ光の中心軸がステム下面に対して垂直になるようにしたことを特徴とする半導体レーザ装置。 A semiconductor laser having a double hetero structure formed on a semiconductor substrate, wherein the central axis of the laser light emitted from the active layer in the double hetero structure is inclined toward the substrate side with respect to the perpendicular to the end face of the laser resonator A chip, a semiconductor laser chip mounting structure to which the active layer side surface of the semiconductor laser chip is fixed, and a stem on which the semiconductor laser chip mounting structure is installed. A semiconductor laser device in which the semiconductor laser chip mounting structure is installed on a stem main surface so as to be substantially perpendicular to the main surface, wherein the stem main surface is inclined with respect to the lower surface of the stem, and the inclined The semiconductor laser chip mounting structure was installed on the stem main surface, and the semiconductor laser chip and the semiconductor laser chip mounting structure were fixed. By tilting the fixing surface in a direction in which the angle seen from the semiconductor laser chip mounting structure side formed by the extension surface of the landing surface and the lower surface of the stem is smaller than 90 °, the central axis of the laser beam is relative to the lower surface of the stem. A semiconductor laser device characterized by being vertical. 半導体基板上に形成されたダブルへテロ構造を有し、上記ダブルへテロ構造中の活性層から出射されるレーザ光の中心軸がレーザ共振器端面における垂直方向に対して基板側に傾斜した半導体レーザチップ、該半導体レーザチップの基板側の表面が固着された半導体レーザチップ搭載用構造体、および上記半導体レーザチップ搭載用構造体が設置されたステムとを少なくとも含み、レーザ光の出射方向がステム主面に対して概略垂直方向になるように半導体レーザチップ搭載用構造体がステム主面上に設置された半導体レーザ装置であって、ステム主面の一部領域に傾斜面を有する凹部を形成し、上記傾斜面上に上記半導体レーザチップ搭載用構造体を設置し、上記半導体レーザチップと上記半導体レーザチップ搭載用構造体との固着面の延長面と上記ステム主面とがなす上記半導体レーザチップ搭載用構造体側から見た角度が90°より大きくなる方向に上記固着面を傾けることにより、レーザ光の中心軸がステム主面に対して垂直になるようにしたことを特徴とする半導体レーザ装置。 A semiconductor having a double heterostructure formed on a semiconductor substrate, wherein the central axis of the laser beam emitted from the active layer in the double heterostructure is inclined toward the substrate side with respect to the direction perpendicular to the laser resonator end face At least a laser chip, a semiconductor laser chip mounting structure to which the surface of the semiconductor laser chip on the substrate side is fixed, and a stem on which the semiconductor laser chip mounting structure is installed. A semiconductor laser device in which a semiconductor laser chip mounting structure is installed on a stem main surface so as to be substantially perpendicular to the main surface, and a recess having an inclined surface is formed in a partial region of the stem main surface Then, the semiconductor laser chip mounting structure is installed on the inclined surface, and the bonding surface between the semiconductor laser chip and the semiconductor laser chip mounting structure is extended. By tilting the fixing surface in a direction in which the angle seen from the semiconductor laser chip mounting structure side formed by the surface and the stem main surface is larger than 90 °, the central axis of the laser beam is perpendicular to the stem main surface A semiconductor laser device characterized by that. 半導体基板上に形成されたダブルへテロ構造を有し、上記ダブルへテロ構造中の活性層から出射されるレーザ光の中心軸がレーザ共振器端面における垂直方向に対して基板側に傾斜した半導体レーザチップ、該半導体レーザチップの基板側の表面が固着された半導体レーザチップ搭載用構造体、および上記半導体レーザチップ搭載用構造体が設置されたステムとを少なくとも含み、レーザ光の出射方向がステム主面に対して概略垂直方向になるように上記半導体レーザチップ搭載用構造体がステム主面上に設置された半導体レーザ装置であって、ステム主面の一部領域に傾斜面を有する凸部を形成し、上記傾斜面上に上記半導体レーザチップ搭載用構造体を設置し、上記半導体レーザチップと上記半導体レーザチップ搭載用構造体との固着面の延長面と上記ステム主面とがなす上記半導体レーザチップ搭載用構造体側から見た角度が90°より大きくなる方向に上記固着面を傾けることにより、レーザ光の中心軸がステム主面に対して垂直になるようにしたことを特徴とする半導体レーザ装置。 A semiconductor having a double heterostructure formed on a semiconductor substrate, wherein the central axis of the laser beam emitted from the active layer in the double heterostructure is inclined toward the substrate side with respect to the direction perpendicular to the laser resonator end face At least a laser chip, a semiconductor laser chip mounting structure to which the surface of the semiconductor laser chip on the substrate side is fixed, and a stem on which the semiconductor laser chip mounting structure is installed. A semiconductor laser device in which the semiconductor laser chip mounting structure is installed on a stem main surface so as to be substantially perpendicular to the main surface, and a convex portion having an inclined surface in a partial region of the stem main surface And mounting the semiconductor laser chip mounting structure on the inclined surface, and a fixing surface between the semiconductor laser chip and the semiconductor laser chip mounting structure By tilting the fixing surface in a direction where the angle seen from the semiconductor laser chip mounting structure side formed by the extension surface and the stem main surface is larger than 90 °, the central axis of the laser beam is relative to the stem main surface. A semiconductor laser device characterized by being vertical. 傾斜面とステム主面のなす角度が0.5〜5°であることを特徴とする上記請求項10、または請求項11に記載の半導体レーザ装置。 12. The semiconductor laser device according to claim 10, wherein an angle formed between the inclined surface and the stem main surface is 0.5 to 5 degrees. 半導体基板上に形成されたダブルへテロ構造を有し、該ダブルへテロ構造中の活性層から出射されるレーザ光の中心軸がレーザ共振器端面における垂線に対して基板側に傾斜した半導体レーザチップ、該半導体レーザチップの基板側の表面が固着された半導体レーザチップ搭載用構造体、および該半導体レーザチップ搭載用構造体が設置されたステムとを少なくとも含み、レーザ光の出射方向がステム主面に対して概略垂直方向になるように上記半導体レーザチップ搭載用構造体がステム主面上に設置された半導体レーザ装置であって、上記ステム主面はステム下面に対し傾斜させ、上記傾斜したステム主面上に半導体レーザチップ搭載用構造体を設置して、上記半導体レーザチップと上記半導体レーザチップ搭載用構造体とが固着された固着面の延長面とステム下面とがなす上記半導体レーザチップ搭載用構造体側から見た角度が90°より大きくなる方向に上記固着面を傾けることにより、レーザ光の中心軸がステム下面に対して垂直になるようにしたことを特徴とする半導体レーザ装置。 A semiconductor laser having a double hetero structure formed on a semiconductor substrate, wherein the central axis of the laser light emitted from the active layer in the double hetero structure is inclined toward the substrate side with respect to the perpendicular to the end face of the laser resonator A semiconductor laser chip mounting structure to which the substrate side surface of the semiconductor laser chip is fixed, and a stem on which the semiconductor laser chip mounting structure is installed. A semiconductor laser device in which the semiconductor laser chip mounting structure is installed on a stem main surface so as to be substantially perpendicular to the surface, wherein the stem main surface is inclined with respect to the lower surface of the stem and is inclined A semiconductor laser chip mounting structure is installed on the stem main surface, and the semiconductor laser chip and the semiconductor laser chip mounting structure are fixed to each other. By tilting the fixing surface in a direction in which the angle seen from the semiconductor laser chip mounting structure side formed by the extended surface of the surface and the lower surface of the stem is larger than 90 °, the central axis of the laser beam is perpendicular to the lower surface of the stem A semiconductor laser device characterized by that. ステム主面とステム下面のなす角度が0.5〜5°であることを特徴とする上記請求項9、または請求項13に記載の半導体レーザ装置。 14. The semiconductor laser device according to claim 9, wherein an angle formed between the stem main surface and the stem lower surface is 0.5 to 5 [deg.]. 半導体レーザチップ搭載用構造体は、サブマウント、および該サブマウントを搭載するヒートシンクのうち少なくとも一つから成ることを特徴とする請求項9〜請求項14のいずれかに記載の半導体レーザ装置。 The semiconductor laser device according to claim 9, wherein the semiconductor laser chip mounting structure includes at least one of a submount and a heat sink on which the submount is mounted. サブマウントの材料としてシリコン(Si)、窒化アルミニウム(AlN)、炭化珪素(SiC)、ダイヤモンド(C)、銅タングステン(CuW)のうち少なくとも一種類、ヒートシンクの材料として銀(Ag)、銅(Cu)、鉄(Fe)、アルミニウム(Al)のうちの少なくとも一種類を用いることを特徴とする請求項1〜請求項15のいずれかに記載の半導体レーザ装置。


The submount material is at least one of silicon (Si), aluminum nitride (AlN), silicon carbide (SiC), diamond (C), and copper tungsten (CuW), and the heat sink material is silver (Ag) and copper (Cu The semiconductor laser device according to claim 1, wherein at least one of iron (Fe) and aluminum (Al) is used.


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