JP2006195310A - 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】一時的に見かけ上の焼き付き現象を見え難くできても劣化量差が拡大するおそれがあった。
【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、（ａ）自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報の画面平均値を算出する平均値算出部と、（ｂ）自発光素子それぞれについて、第１の入力情報と前記画面平均値との差分を算出する差分情報算出部と、（ｃ）差分に基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する補正量算出部と、（ｄ）自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する駆動条件補正部とを有するものを提案する。
【選択図】図１

Description

発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。

ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。

劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
また、発光色を異にする複数種類の自発光素子を搭載する表示デバイスや複数種類の色を発生できる自発光素子を搭載する表示デバイスの場合、劣化特性の進行バラツキを原因とするホワイトバランスのズレが発生することがある。このズレは、着色現象として視認される。本明細書では、これらの現象も“焼き付き”現象として扱う。

この“焼き付き”現象の抑制には従来、自発光素子を構成する材料の発光寿命を改善するのが一番好ましいと考えられてきた。
しかし、発光寿命がどんなに長くなったとしても、いずれ“焼き付き”現象が視認されるのを避けることはできない。また、“焼き付き”現象を発生させ易い絵柄が専ら表示される場合もあり、このような場合には、発光寿命の改善だけでは対処できない。
加えて、“焼き付き”現象に対するこのアプローチは、その改善効果が発光寿命の改善度に依存する問題がある。

現在、材料の発光寿命を改善する以外の方法として、例えば下記文献の技術が提案されている。
特開２０００−３５６９８１号公報 この文献には、表示デバイスにデータが表示された時間を計測して、その計測値に応じて自発光素子の輝度を落とし（すなわち、自発光素子の劣化速度を遅くし）、劣化の進行度合いのバラツキを目立たなくする技術が開示されている。

特開２０００−１３２１３９号公報 この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正量に変換する方法が開示されている。また、求められた補正量により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。

特開２００１−１７５２２１号公報 この文献には、画素の中で輝度劣化が一番進んだ画素に合わせるように、その他の画素の輝度データを下げる補正方法が開示されている。また、得られた補正量で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。

ところが、特許文献１の発明は、表示時間長に応じて画面全体の輝度を単に落とすだけであり（すなわち、長寿命化を図るだけであり）、“焼き付き”現象の発生を本質的に回避することはできない。また、表示時間長の計測も、単に画面全体が発光している時間を計測するだけであり、画素毎の表示時間を計測することはできなかった。このため、画素毎に輝度劣化を補正することなどできなかった。

また、特許文献２及び３の発明は、画素毎に入力データ（階調値）の積算値を全表示期間について保持する必要がある。すなわち、膨大な記憶容量を必要とする。このため、実際には実用化が難しいという問題がある。
さらに、特許文献３の発明は、常に輝度劣化が一番進んだ画素に全体の劣化度合いを合わせるため、寿命が必要以上に短くなる問題がある。

発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報の画面平均値を算出する処理と、
（ｂ）自発光素子それぞれについて、第１の入力情報と前記画面平均値との差分を算出する処理と、
（ｃ）前記差分に基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する処理と、
（ｄ）自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報を、対応する補正量で補正する処理と
を有するものを提案する。

ここでの自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
また、自発光素子の駆動条件に関する入力情報には、例えば輝度を指定する階調値、階調値から導出される劣化率、自発光素子に印加される駆動電流値、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値、駆動電流値や駆動電圧値の実測値、発光輝度の実測値が含まれる。

この補正方法は、個々の自発光素子に対応する入力情報の画面平均値に対する差分に基づいて補正量を決定する。すなわち、画面平均値を基準値として各自発光素子に対応する補正量を算出する。
補正量の算出に必要な情報は差分値だけであるため、全ての自発光素子の情報を扱う場合にも記憶容量は実用的な範囲で済む。また、差分値であるため扱う数値も小さくなり、演算負荷が小さい。
また、画面平均値を基準とするため、劣化の進行を無駄に加速せずに済む。すなわち、自発光装置の寿命を全うできる。

以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。

（Ａ）形態例１
図１に、焼き付き現象補正装置（以下、「補正装置」という。）の形態例を示す。
この形態例は、補正量の算出に使用する入力データと補正対象の入力データとが同一の場合について表している。
補正装置１は、バッファメモリ３、画面平均値算出部５、差分値算出部７、差分値保存メモリ９、補正量算出部１１、劣化補正部１３で構成される。
バッファメモリ３は、画面平均値算出部５における演算処理が終了するまでの間、入力データを保存する記憶デバイスである。例えば、入力画像の入力単位が１フレームの場合、バッファメモリ３は、少なくとも１フレームの間、入力データを保持する。
なお、記録媒体には、半導体記憶装置、ハードディスク装置その他の記憶デバイスを使用する。

ここでの入力データは、自発光素子の駆動条件に関するデータである。例えば各自発光素子（画素）に対応する階調値、階調値の累積値、階調値から導出される劣化率、駆動電流値、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値、駆動電流や駆動電圧の実測値である。
これらのデータは、いずれも自発光素子の発光輝度や劣化量を与えるパラメータとして既存の技術においても利用されている。なお、特定のパラメータについての形態例は後述する。

画面平均値算出部５は、入力データの画面平均値を算出する処理デバイスである。例えば、１フレームを構成する全画素について、入力データの平均値を画面平均値として算出する。いずれにしても１つの画面を単位として算出できる。
この画面平均値は、例えば焼き付き補正前の画像データの平均輝度値又は自発光素子に印加される電流又は電圧の平均値を与える。すなわち、画面平均値は、平均的な劣化量を表す。

差分値算出部７は、入力データと画面平均値との差分を算出する処理デバイスである。この処理では、画面平均値に対する相対的な劣化量が算出される。このため、算出されるデータ量は格段に低減される。また、後段の演算処理においてもその演算量が少なく済む。
なお、この差分値算出部７では、差分値を画素単位で累積加算する処理も必要に応じて実行される。もっとも、差分値の算出だけとするのか、得られた差分値に画素単位でどのような演算を加えるかは補正量の算出に際して劣化量をどのような値として管理するかに応じて定まる。

差分値保存メモリ９は、差分値算出部７で算出された差分値（基準劣化量に対する各画素の相対的な劣化量を与える値）を保存する記憶デバイスである。記憶媒体には、半導体記憶装置、ハードディスク装置その他の記憶デバイスを使用する。
補正量算出部１１は、差分値に基づいて、各画素（自発光素子）それぞれに対応する補正量を算出する処理デバイスである。例えば、ある補正期間内に差分値をゼロにする場合であれば、差分値を補正期間で割った値を補正量に設定する。
もっとも、補正量の演算手法は任意である。これは、各差分値をある期間内を用いてゼロにできれば、ある期間に発生した画素（自発光素子）間の劣化量差をゼロに収束できるためである。

劣化補正部１３は、算出された補正量で対応する入力データを補正する処理デバイスである。例えば、図２に示す回路構成で実現される。図２に示す劣化補正部１３は、補正データメモリ１３Ａ、補正演算部１３Ｂで構成される。
補正データメモリ１３Ａは、補正演算用に補正量を保持する記憶デバイスである。補正演算部１３Ｂは、補正処理を実行する処理デバイスである。具体的な補正処理の内容は、採用する補正原理や補正量の内容に応じて定まる。例えば、元データに対する補正量の加算処理又は減算処理が実行される。

以上のように、この形態例では、自発光型の表示パネルを構成する各画素（自発光素子）の輝度劣化の度合いを、画面全体の平均的な劣化度合いに対する差分値（相対値）の形態で蓄積する。
従って、この差分値がゼロになるように補正するだけで、表示パネルを構成する全画素の輝度劣化量を均一化できる。すなわち、どのような劣化量の算出方法を採用する場合にも、この補正装置を適用できる。

また、差分値を蓄積する方式を採用するため、補正量の算出に長期間に亘るデータを必要とする場合にも、必要とされる記憶領域の容量を劇的に小さくできる。すなわち、システムの規模を増大させずに実現化できる。
以上のように、この形態例を採用すれば、自発光型の表示パネルを構成する全画素（自発光素子）の焼き付き現象を実用的な演算量とシステム規模で実現することができる。

（Ｂ）形態例２
続いて、入力データが各画素の輝度を与える階調値で与えられる場合の形態例を説明する。図３に、補正量の算出に階調値の累積値を使用する補正装置の形態例を示す。
この補正装置２１は、バッファメモリ３Ａ、画面平均値算出部５Ａ、差分値算出部７Ａ、差分値保存メモリ９Ａ、補正量算出部１１Ａ、劣化補正部１３Ａで構成される。
この形態例の場合、画面平均値算出部５Ａは、全画素の１フレーム分の階調値について画面平均値を算出する処理を実行する。
また、差分値算出部７Ａは、各フレームについて算出された階調値の平均値と各画素の階調値との差分を算出し、複数フレームについて各画素の差分値を累積的に蓄積する処理を実行する。すなわち、差分値保存メモリ９Ａは、画素毎に累積的に蓄積された差分値（累積差分値）を保存する。

補正量算出部１１Ａは、各画素に対応する累積差分値に基づいて補正量を算出する処理を実行する。例えば、複数フレームを補正期間とする場合であれば、各画素に対応する累積差分値を補正期間のフレーム数で割り、１フレーム当たりの補正量を算出する。なお、補正期間を１フレームとする場合には、入力された累積差分値をそのまま補正量とする。
劣化補正部１３Ａは、補正期間について、各画素に対応する階調値を補正量で補正する処理を実行する。この形態例の場合、補正処理は、階調値に対する補正量の加算又は減算により実現する。

（Ｃ）形態例３
ここでは、入力データが階調値として与えられる場合に、階調値から導出される劣化率を用いて補正量を算出する形態例を説明する。
ここで、劣化率とは、発光輝度の低下を正確に反映できるパラメータとして、発明者らが推奨するパラメータである。現在、発光特性の劣化と階調値との間には必ずしも比例関係が成立しないことが報告されている。そこで、発明者らは、劣化率を用いて補正量を算出する手法を提案する。以下、この原理を説明する。

（ａ）補正条件の導出
まず、劣化率を用いる場合の補正条件を説明する。図４に、焼き付き現象の発生から解消されるまでを示す。なお、図４では、初期状態において、画面平均値と補正対象画素が同じ初期状態を有するものとする。因みに、画面平均値は、補正対象画素と同色で発光する画素について算出されている。ここでの発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。

図４は、補正対象画素と画面平均値が、それぞれ以下の条件で発光された場合の劣化量の変化を表している。
＜発光期間ｔ１＞
・補正対象画素：固定の階調値ａで発光
・画面平均値 ：固定の階調値ｂ（≠ａ）で発光
＜発光期間ｔ２＞
・補正対象画素：固定の階調値ｃで発光（補正動作）
・画面平均値 ：固定の階調値ｄ（≠ｃ）で発光

図４の場合、発光期間ｔ１が経過した時点で、補正対象画素の劣化量Ｒ（α１）と画面平均値の劣化量Ｒ（α２）との間に劣化量差Ｙが認められる。すなわち、焼き付き現象の発生が認められる。
ここで、発光期間ｔ１に発生する各画素の劣化量は、画素の発光輝度（例えば、有機ＥＬデバイスに流れる電流量）やその時の発熱温度に影響される劣化率（単位時間当たりの劣化比率）に、発光期間ｔ１を乗算した値として表現される。
従って、補正対象画素の劣化量Ｒ（α１）は、α１×ｔ１で表される。ここで、α１は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ａから導出される劣化率である。
同様に、画面平均値の劣化量Ｒ（α２）は、α２×ｔ１で表される。ここで、α２は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ｂから導出される劣化率である。
この結果、発光期間ｔ１に補正対象画素と画面平均値との間に発生する劣化量差Ｙは、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）で表すことができる。すなわち、Ｙ＝Ｒ（α１）−Ｒ（α２）＝（α１−α２）×ｔ１と表すことができる。なお、α１−α２は、焼き付き率に相当する。

次に、発光期間ｔ２について説明する。なお、発光期間ｔ２に発生する補正対象画素の劣化量をＲ（β１）、画面平均値の劣化量をＲ（β２）とする。また、β１は、補正対象画素について発光期間ｔ２の発光輝度を与える階調値ｃから導出される劣化率とする。また、β２は、画面平均値について発光期間ｔ２の発光輝度を与える階調値ｄから導出される劣化率とする。
この場合、発光期間ｔ２に新たに発生する補正対象画素の劣化量Ｒ（β１）は、Ｒ（β１）＝β１×ｔ２で表される。
また、発光期間ｔ２に新たに発生する画面平均値の劣化量Ｒ（β２）は、Ｒ（β２）＝β２×ｔ２で表される。

従って、発光期間ｔ２に補正対象画素と画面平均値との間に発生する劣化量差Ｈは、Ｒ（β２）−Ｒ（β１）で表される。すなわち、Ｈ＝Ｒ（β２）−Ｒ（β１）＝（β２−β１）×ｔ２で表すことができる。なお、β２−β１は、補正率に相当する。
ここで、焼付き量Ｙ＝補正量Ｈを満たすならば、補正対象画素と画面平均値との間の劣化量差は、完全にゼロに戻すことができる。すなわち、発光期間ｔ２の経過後に、補正対象画素は画面平均値と同じ輝度で発光する状態を作り出すことができる。
この形態例の場合、発光期間ｔ２に劣化量差を解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β１は、Ｙ＝Ｈという条件式より、β１＝β２−（α１−α２）×ｔ１／ｔ２という式で算出することができる。
なお、自発光デバイスは階調値に基づいて駆動される。従って、劣化量差を解消する条件を満たす劣化率β１及びβ２を階調値に戻して自発光デバイスに与えれば良い。

（ｂ）階調値−劣化率変換テーブル
前述したように、補正処理では、階調値から劣化率を導出する処理及び劣化率から階調値を導出する処理が必要となる。
ここでは、この変換処理を実現する方法の一例として、変換テーブルを用いる場合を提案する。
図５に、変換テーブルの一例を示す。テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。

発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。
例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値（８ビットの場合は２５５）の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業（すなわち、輝度低下率）を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。

図５は、この階調値と劣化率との対応関係を表している。例えば、階調値“ｎ”に対応する劣化率を“Ｘ_ｎ
”として表している。なお、図５は８ビットの場合であるので、ｎは０〜２５５までの値として与えられる。
なお、この変換テーブルは、階調値から劣化率を読み出すことも、劣化率から階調値を読み出すことも可能である。

（ｃ）補正装置例
図６に、補正量の算出に階調値から導出される劣化率を使用する補正装置の形態例を示す。
この補正装置３１は、階調値・劣化率変換部３３、変換テーブル３５、バッファメモリ３Ｂ、画面平均値算出部５Ｂ、差分値算出部７Ｂ、差分値保存メモリ９Ｂ、補正量算出部３７、劣化率・階調値変換部３９、劣化補正部１３Ｂで構成される。

この形態例の場合も、入力データは階調値が与えられる。階調値・劣化率変換部３３は、変換テーブル３５を用い、入力された階調値を劣化率に変換する処理を実行する。ここでの変換テーブル３５は、図５に示す階調値−劣化率変換テーブルに対応する。
変換後の劣化率は、バッファメモリ３Ｂと画面平均値算出部５Ｂに与えられる。画面平均値算出部５Ｂは、各画素の劣化率α１について画面平均値α２を算出する処理を実行する。

差分値算出部７Ｂは、各フレームについての各画素の劣化量Ｒ（α１）と画面平均値の劣化量Ｒ（α２）との差分値を算出し、複数フレームについて各画素の差分値を累積的に蓄積する。すなわち、発光期間ｔ１に対応する複数フレームの間に発生する劣化量差Ｙを算出する。差分値保存メモリ９Ｂは、各画素に対応する劣化量差Ｙを全画素分蓄積する。
補正量算出部３７は、発光期間ｔ１に発生した劣化量差Ｙと、発光期間ｔ２と、発光期間ｔ２の画面平均値に対応する劣化率β２を用い、各画素の劣化量差をゼロとする条件を満たす劣化率β１を算出する。
すなわち、β１＝β２−Ｙ／ｔ２を満たすβ１を算出する。

劣化率・階調値変換部３９は、劣化量差を解消する劣化率β１を入力し、変換テーブル３５を用いてそれぞれ対応する補正量（階調値）に変換する。
劣化補正部１３Ｂは、各画素に対応して算出された補正量で入力データとして与えられた階調値を補正する処理を実行する。すなわち、入力データとして与えられた階調値に、それぞれ対応する補正量を加算又は減算する処理を実行する。
この補正処理により、発光期間ｔ１に発生した同色画素間の劣化量差は、発光期間ｔ２の間に確実に解消される。

（Ｄ）自発光装置への搭載例
図７に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置４１は、筐体４３に焼き付き現象補正装置４５と表示デバイス４７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置４５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように階調値の補正動作を実行する。例えば、形態例１〜形態例３に示す構成の回路デバイスが用いられる。

また、表示デバイス４７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図７の場合、自発光装置４１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置４５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。

（Ｅ）他の形態例
（ａ）前述の形態例２は、階調値を入力データとする場合について説明した。しかし、駆動電流値や駆動電圧値を入力データとし、それぞれについて算出した補正量により、各自発光素子に印加される駆動電流値や駆動電圧値を補正しても良い。
（ｂ）前述の形態例２は、補正量の導出に使用するデータと、補正対象とするデータとが一致する場合について説明した。しかし、補正量の導出に使用するデータと、補正対象とするデータとは必ずしも一致する必要はない。

例えば、各画素に対応する階調値を用いて補正量を導出し、駆動電流値や駆動電圧値を補正しても良い。
また例えば、階調値の累積値を用いて補正量を導出し、個々の階調値を補正しても良い。
また例えば、実測値を用いて補正量を導出し、自発光素子の駆動条件に関するデータを補正しても良い。

（ｃ）前述の形態例３は、図５に示すように変換テーブル、すなわち階調値と劣化率との対応関係が１つの変換テーブルを用いる場合について説明した。しかし、経年変化を加味する場合には、時間情報を加味して複数の変換テーブルを用意すれば良い。
（ｄ）前述の形態例では、使用状態のまま焼き付き現象を補正する場合について説明した。すなわち、画像を表示デバイス上に表示したまま焼き付き現象を補正する場合について説明した。しかし、焼き付き現象の補正は、非使用状態において実行する場合にも適用できる。
（ｅ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。

焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。 劣化補正部の構成例を示す図である。 焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。 焼き付き現象の補正原理を示す図である。 階調値と劣化率との対応関係を保持するテーブル例を示す図である。 焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。 自発光装置の構成例を示す図である。

符号の説明

１、２１、３１ 焼き付き現象補正装置
３、３Ａ、３Ｂ バッファメモリ
５、５Ａ、５Ｂ 画面平均値算出部
７、７Ａ、７Ｂ 差分値算出部
９、９Ａ、９Ｂ 差分値保存メモリ
１１、１１Ａ、３７ 補正量算出部
１３、１３Ａ、１３Ｂ 劣化補正部
３３ 階調値・劣化率変換部
３５ 変換テーブル
３９ 劣化率・階調値変換部

Claims (10)

1. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
   自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報の画面平均値を算出する処理と、
   自発光素子それぞれについて、前記第１の入力情報と前記画面平均値との差分を算出する処理と、
   前記差分に基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する処理と、
   自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する処理と
   を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
2. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記第１の入力情報は、輝度を指定する階調値である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
3. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記第１の入力情報は、輝度を指定する階調値から導出される劣化率である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
4. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記第１の入力情報は、自発光素子に印加される駆動電流である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
5. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記第１の入力情報は、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
6. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記第１の入力情報は、実測値である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
7. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記第１の入力情報と前記第２の入力情報は同一の情報である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
8. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
   自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報の画面平均値を算出する平均値算出部と、
   自発光素子それぞれについて、前記第１の入力情報と前記画面平均値との差分を算出する差分情報算出部と、
   前記差分に基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する補正量算出部と、
   自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する駆動条件補正部と
   を有することを特徴とする自発光装置。
9. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象補正装置であって、
   自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報の画面平均値を算出する平均値算出部と、
   自発光素子それぞれについて、前記第１の入力情報と前記画面平均値との差分を算出する差分情報算出部と、
   前記差分に基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する補正量算出部と、
   自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する駆動条件補正部と
   を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
10. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
    自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報の画面平均値を算出する処理と、
    自発光素子それぞれについて、前記第１の入力情報と前記画面平均値との差分を算出する処理と、
    前記差分に基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する処理と、
    自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する処理とを実行させる
    ことを特徴とするプログラム。
    

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