JP2004138475A - Exhaust gas sampling device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は排ガスサンプリング装置に関し、特に排ガス中に極微量に含まれる極微量濃度物質を計測対象とする計測装置へサンプリング排ガスを供給する場合に適用して有用なものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、例えば都市ごみ焼却炉、産業廃棄物焼却炉、汚泥焼却炉等の各種焼却炉や、熱分解炉、溶融炉等の排ガスに含まれる有害成分(例えばダイオキシン類やその前駆体等の微量有機塩素化合物)をリアルタイムで計測することが要望され、また、この計測結果に基づいて前記炉の燃焼状態を制御することが提案されている。
【0003】
そして、かかる燃焼制御などを目的として排ガス中の有害成分をリアルタイムで計測するための装置として、例えば図7に示すような構成の排ガスサンプリング装置が提案されていた(例えば、特許文献1参照)。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−131198号公報
【0005】
図7に示す排ガスサンプリング装置20は、排ガスサンプリングライン(配管)1に設けられたサンプリング管2、急冷装置3、フィルタ14を備えた集塵装置4及びファン6や、集塵装置4の下流側に接続された圧縮エア供給装置5などから構成されている。サンプリング管2はごみ焼却炉などの煙道7に挿入されており、ファン6が作動すると、煙道7を矢印Aのように流れる高温高ダストの燃焼排ガスの一部が、このサンプリング管2を介して排ガスサンプリングライン3へ吸引(サンプリング)される。
【0006】
その後、このサンプリング排ガスは急冷装置3により、所定の温度に急冷され、更に集塵装置4のフィルタ14により、排ガス中に高濃度に含まれている煤塵が除去される。そして、フィルタ14を通過したサンプリング排ガスの一部が、キャピラリ15を介して計測装置8に供給される。
【0007】
計測装置8では、供給されたサンプリング排ガスを分析することにより、例えば排ガス中に微量に含まれているダイオキシン類やその前駆体等の有機塩素化合物の濃度を測定する。残りのサンプリング排ガスは、煙道7に設けられた排ガスサンプリングライン下流端のガス戻し口9を介して煙道7へ戻される。排ガスサンプリングライン1を流れるサンプリング排ガスの流量は、流量計測装置10によるサンプリング排ガス流量の計測信号に基づき、流量制御バルブ11によって所定流量に制御される。
【0008】
そして、この排ガスサンプリング装置では通常運転(排ガスサンプリング運転)を一定時間継続するごとに圧縮エアによる逆洗を行って集塵装置4のフィルタ14を再生する。具体的には、計測装置上流側のバルブ12を閉じて計測装置8へのサンプリング排ガスの供給を停止した後(即ち計測を中断した後)、バルブ13の短時間の開閉動作を複数回繰り返すことにより、圧縮エア供給装置5からフィルタ14へ、フィルタ14の下流側からパルス的に圧縮エア(パルシングエア)を供給し、フィルタ14に付着している煤塵を払い落として煙道7へ吹き戻す(以下、これをパルス逆洗ともいう)。その後、バルブ12を開いて計測装置8へのサンプリング排ガスの供給を再び開始し、計測装置8での計測を再開する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記従来の排ガスサンプリング装置20では、計測装置8での計測対象物質がppmオーダ以上の比較的高濃度の物質であるならばでも特に問題はないが、同計測対象物質がpptオーダの極微量濃度の物質(例えばダイオキシン類やその前駆体等の微量有機塩素化合物)である場合には、この極微量濃度物質をリアルタイムで計測している状況においては問題が生じることがある。
【0010】
即ち、図8に示したようにパルス逆洗直後の計測においては、物質濃度の計測値が急上昇してピークが発生するスパイク現象が見られ、且つ、その後は物質濃度が正しく計測されるまで徐々に濃度計測値が減少するテーリング現象が見られることがある。そして、このことは計測対象物質が極微量濃度物質である場合、図8に示す如く特に顕著にあらわれるため、特に問題となる。
【0011】
スパイク現象は、逆洗エア(パルシングエア)の衝撃によりフィルタ14に付着して堆積していた煤塵層の中の計測対象物質が煤塵とともに再飛散し、この再飛散した計測対象物質も計測再開とともに計測装置8に供給(通気)されるために生じると考えられる。また、テーリング現象は、排ガスサンプリングラインの配管や計測装置8までのキャピラリ15などでの吸着に起因するメモリ効果と考えられる。このようなスパイク現象やテーリング現象が起こると、リアルタイム計測によって燃焼制御をするような場合にはその制御に不都合が生じる。極微量濃度物質において、特にこのようなスパイク現象やテーリング現象が顕著に現れることは、本発明者らが実験を重ねるなかで明らかになったものである。
【0012】
従って、本発明は上記の事情に鑑み、排ガス中に含まれる極微量濃度物質を計測する計測装置の計測状態を、フィルタ逆洗後、速やかに正常な状態に回復させることができる排ガスサンプリング装置を提供することを課題とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する第1発明の排ガスサンプリング装置は、煙道からサンプリングしフィルタで除塵したサンプリング排ガスの一部を、排ガス中に含まれる極微量濃度物質を計測する計測手段に供給し、且つ、前記サンプリング排ガスの残りは再び前記煙道へと戻す構成の排ガスサンプリング装置において、前記計測手段への前記サンプリング排ガスの供給を停止して前記フィルタを圧縮ガスにより逆洗した後、パージガスを前記フィルタの上流側から前記フィルタを経て前記煙道へと流すことにより、前記逆洗で前記フィルタから払い落とされて排ガスサンプリングラインに再飛散した煤塵や計測対象物質を前記煙道へとパージし、その後、再び前記計測手段への前記サンプリング排ガスの供給を開始する構成したことを特徴とする。
【0014】
また、第2発明の排ガスサンプリング装置は、第1に記載の排ガスサンプリング装置において、加熱手段によりガスを通常運転時の前記フィルタにおける前記サンプリング排ガスの温度に略等しくなるように加熱してホットガスとし、このホットガスを前記パージガスとして用いる構成としたことを特徴とする。
【0015】
また、第3発明の排ガスサンプリング装置は、第1発明の排ガスサンプリング装置において、前記パージガスとして大気をそまま用いることを特徴とする。
【0016】
また、第4発明の排ガスサンプリング装置は、第1又は第2発明の排ガスサンプリング装置において、前記煤塵や計測対象物質のパージガスとして不活性ガスを用いることを特徴とする。
【0017】
また、第5発明の排ガスサンプリング装置は、第1〜第4発明の何れかの排ガスサンプリング装置において、前記フィルタを逆洗する圧縮ガスとして不活性ガスを用いることを特徴とする。
【0018】
また、第6発明の排ガスサンプリング装置は、第1〜第5発明の何れかの排ガスサンプリング装置において、前記パージガスによるパージを行う前に、フィルタ逆洗後の一定時間、前記圧縮ガスを連続して前記フィルタの下流側から前記フィルタに吹きつけることにより、フィルタ逆洗によって再飛散した煤塵や計測対象物質を前記煙道に吹き戻すことを特徴とする。
【0019】
また、第7発明の排ガスサンプリング装置は、第6発明の排ガスサンプリング装置において、前記フィルタに連続して吹きつける前記圧縮ガスは、加熱手段により通常運転時の前記フィルタにおける前記サンプリング排ガスの温度に略等しくなるように加熱した後に前記フィルタに吹きつける構成としたことを特徴とする。
【0020】
また、第8発明の排ガスサンプリング装置は、煙道からサンプリングしフィルタで除塵したサンプリング排ガスを、排ガス中に含まれる極微量濃度物質を計測する計測手段に供給する構成の排ガスサンプリング装置において、前記フィルタの通気部分の断面形状と、前記フィルタに圧縮ガスを供給する逆洗ライン配管の断面形状とを略等しくしたことを特徴とする。
【0021】
また、第9発明の排ガスサンプリング装置は、第1〜第7発明の何れかの排ガスサンプリング装置において、前記フィルタの通気部分の断面形状と、前記フィルタを圧縮ガスを供給する逆洗ライン配管の断面形状とを略等しくしたことを特徴とする。
【0022】
また、第10発明の排ガスサンプリング装置は、第8又は第9発明の排ガスサンプリング装置において、前記フィルタの周辺部の通気孔を目封じすることにより、前記フィルタの通気部分の断面形状を、前記逆洗ライン配管の断面形状に略等しくしたことを特徴とする。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
【0024】
<実施の形態1>
図1は本発明の実施の形態1に係る排ガスサンプリング装置の構成図、図2は前記排ガスサンプリング装置におけるフィルタ再生時の制御シーケンス図である。
【0025】
図1に示す煙道21は例えば都市ごみ焼却炉、産業廃棄物焼却炉、汚泥焼却炉等の各種焼却炉や、熱分解炉、溶融炉等の何れかの炉に設けられたものである。煙道21には炉から排出された高温(例えば600〜1000℃)で高ダストの燃焼排ガスが、矢印Aのように流れる。そして、この煙道21に本実施の形態1の排ガスサンプリング装置22が設けられている。
【0026】
図1に示すように排ガスサンプリング装置22は、排ガスサンプリングライン(配管)23に設けられたサンプリング管24、冷却水などの冷媒によりサンプリング排ガスを間接的に急冷する急冷装置25、フィルタ27を備えた集塵装置26及びファン28などを備え、また、集塵装置26の下流側に接続された圧縮エア供給装置29や、制御装置30、電気ヒータ31などを備えた構成となっている。
【0027】
サンプリング管24は煙道21に挿入されており、ファン28が作動すると、煙道21を流れる燃焼排ガスの一部が、このサンプリング管24を介して矢印Bのように排ガスサンプリングライン23へ吸引(サンプリング)される。その後、このサンプリング排ガスは急冷装置25により、所定の温度(例えば150〜200℃)に急冷され、更に集塵装置26のフィルタ27により、排ガス中に高濃度に含まれている煤塵が除去される。そして、フィルタ27を通過したサンプリング排ガスの一部が、キャピラリ32を介して計測装置33に供給(通気)される。残りのサンプリング排ガスは、煙道21に設けられた排ガスサンプリングライン下流端のガス戻し口34を介して煙道21へ戻される(矢印B参照)。
【0028】
計測装置33では、供給されたサンプリング排ガスを分析することにより、例えば排ガス中に微量に含まれているダイオキシン類やその前駆体(クロロベンゼン、クロロフェノール等)などの有機塩素化合物の濃度を測定する。計測装置33の具体例としては質量分析装置、ガスクロマトグラフィー、FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度計)、真空紫外光/質量分析装置や吸光光度計等の光学検出器、レーザ測定装置等が挙げられる。
【0029】
排ガスサンプリングライン23を流れるサンプリング排ガスの流量は、流量計測装置35によるサンプリング排ガス流量の計測信号に基づき、流量制御バルブ36によって所定流量に制御される、或いは、前記計測信号に基づき、インバータでファン28の出力制御をすることによって所定流量に制御される。
【0030】
かかる排ガスサンプリング装置22では、通常運転(排ガスサンプリング運転)を一定時間継続するごとに、或いは、図示しない差圧計で計測するフィルタ27の出入口の排ガスの差圧が所定値以上となるごとに圧縮エアによる逆洗を行ってフィルタ27を再生する。具体的には、フィルタ下流側のバルブ43を閉じ、且つ、計測装置33と排ガスサンプリングライン23との間に介設された計測バルブ37を閉じて計測装置33へのサンプリング排ガスの供給を停止した後(即ち計測を中断した後)、逆洗ライン(配管)40のバルブ38の短時間の開閉動作を複数回繰り返すことにより、圧縮エア供給装置29からフィルタ27へ、フィルタ27の下流側からパルス的に圧縮エア(パルシングエア)を供給し、フィルタ27に付着している煤塵を払い落として矢印Cのように煙道21へと吹き戻す。即ち、フィルタ27をパルス逆洗する。
【0031】
そして、このパルス逆洗の終了後に計測バルブ37を開いて計測装置33へのサンプリング排ガスの供給を再開して計測装置33での計測を再開するが、本実施の形態1ではパルス逆洗後直ぐに計測バルブ37を開くのではなく、一旦、ホットエアパージを行って排ガスサンプリングライン23をクリーニングした後に計測バルブ37を開く。
【0032】
詳述すると、バルブ43を開き、且つ、バルブ42を開て、ファン28の吸引により、クリーンな大気を電気ヒータ31で所定の温度に加熱することによって生成されるホットエアを大量にフィルタ27の上流側からフィルタ27を経て煙道21へ流す。その結果、この大量のホットエア(パージエア)により、パルス逆洗時に再飛散した粉塵や計測対象物質、即ち、煙道21まで吹き戻されずに排ガスサンプリングライン23に停滞している粉塵や計測対象物質が、フィルタ27を経て煙道21へとパージされる。なお、このとき同時に煙道21の排ガスが吸引されてもよい。パージエアの通気量は、例えば通常運転時におけるサンプリング排ガス流量の2倍以上とし、流量制御バルブ36による制御、或いは、インバータによるファン28の出力制御によって制御することができる。
【0033】
そして、このパージエア(ホットエア)の大量強制通気による飛散粉塵や計測対象物質のパージ(ホットエアパージ)後、つまり、飛散煤塵や計測対象物質がサンプリング排ガスに混合されて極微量濃度物質の濃度が異常に高くなったガスが計測装置33へ供給(通気)されてしまうおそれがなくなった後、バルブ42を閉じ、計測バルブ37を開いて計測装置33へのサンプリング排ガスの供給を再び開始し、計測装置33での計測を再開する。
【0034】
なお、電気ヒータ31による大気の加熱は制御装置30によって自動制御される。即ち、制御装置30では、TIC(温度の計測・指示・制御を行う装置)39によるフィルタ27の温度計測信号(フィルタ27の入口温度計測信号、出口温度計測信号或いは又は内部温度計測信号を必要に応じて適宜選択する)に基づいて電気ヒータ31の出力をPID制御することにより、大気が通常運転時のフィルタ27におけるサンプリング排ガスの温度(即ち、急冷装置25によって急冷さたサンプリング排ガスの温度)に等しくなるようにする。
【0035】
急冷装置25によるサンプリング排ガスの冷却温度範囲は例えば前述のように150〜200℃であり、詳細な説明は省略するが、排ガスに含まれるSOxの硫酸露点、ダイオキシン類やその前駆体などの測定対象物質の残存量などの観点から設定されている。フィルタ27は、サンプリング排ガスがフィルタ27を通過するときにも前記温度範囲にサンプリング排ガスの温度を維持するため、集塵装置27に備えた図示しないフィルタ加熱用の電気ヒータをTIC39で制御することにより、所定の温度に加熱されている。そして、飛散煤塵や計測対象物質をパージする際にも、このフィルタ27の温度を低下させたり、或いは、高くし過ぎたりしないようにするため、本実施の形態1では上記のように温度調整をしたホットエアをパージエアとして用いている。
【0036】
なお、本実施の形態1ではこのホットエアパージの際の各バルブの操作や、パルス逆洗の際の各バルブの操作なども、全て制御装置30によって自動制御する。
【0037】
ここで、図2に基づき、本実施の形態1の制御シーケンスを従来の制御シーケンスと比較して説明する。なお、図2において下段は本実施の形態1の制御シーケンス、中段は従来の制御シーケンス、上段はこれらの制御シーケンスに対応して示した計測装置33による極微量濃度物質の濃度計測値の経時変化を表している。なお、上段に示した濃度計測値Eは従来の制御シーケンスに対応するものであり、濃度計測値Fは本実施の形態1の制御シーケンスに対応するものである。
【0038】
図2に示すように本実施の形態1の制御シーケンスでは、一定時間が経過するまで(時刻T1まで)は通常運転(排ガスサンプリング運転)を継続し、計測装置33に計測バルブ37を介してサンプリング排ガスを供給(通気)することにより通常計測を行う。その後、一定時間が経過した時刻T1において計測バルブ37を閉じて、圧縮エア供給装置29による通常のフィルタ27のパルス逆洗を開始し、このパルス逆洗を時刻T1から時刻T2までのΔT1時間継続する。このときの逆洗条件としては例えばパルシングエアの圧力を0.5MPa、1回当たりのパルシングエアの噴射時間を200msecとし、このパルシングエアの噴射をΔT1時間(例えば数分間)の間に5回行う。なお、この逆洗条件は排ガスの性状などによって適宜決められる。ここまでは従来の制御シーケンスでも同様である。
【0039】
そして、従来の制御シーケンスでは、パルス逆洗終了直後の時刻T2において計測バルブ37を開き、計測装置33へのサンプリング排ガスの供給(通気)を再び開始して、計測装置33による計測を再開する。その結果、時刻T2以降の濃度計測値Eにはスパイク現象が見られるとともに時刻T2から時刻T4までの長時間ΔT2(例えば15分程度)にわたるテーリング現象が見られる。
【0040】
これに対し、本実施の形態1の制御シーケンスでは、時刻T2から時刻T3までの間(ΔT3時間)計測バルブ37を閉じたままにして、ホットエアの大量強制通気による飛散粉塵や計測対象物質のパージ(ホットエアパージ)を行う。
【0041】
その結果、時刻T2以降の濃度計測値F(時刻T2から時刻T3までの濃度計測値は仮に濃度計測を行ったとした場合の値)ではスパイク現象は見られるものの(但し、このとき実際には計測を再開していないため、スパイク現象はみられないことになる)、ホットエアパージの効果により、時刻T2から時刻T3まで仮に濃度計測を行ったとしても、計測対象物質がほとんど計測ラインに混入しないため、吸着に起因すると考えられるメモリ効果(テーリング現象)が非常に少なくなり、テーリング時間が時刻T2から時刻T3までの短時間ΔT3(例えば3分程度)となる。そして、本実施の形態1の制御シーケンスでは、時刻T3において計測バルブ37を開き、計測装置33へのサンプリング排ガスの供給(通気)を再び開始して、計測装置33による計測を再開する。つまり、計測再開直後から正常な計測が行われる。
【0042】
従来の制御シーケンスでは、時刻T4に正常な計測状態に回復するため、本実施の形態1の制御シーケンスでは、従来の制御シーケンスに比べてΔT4時間(例えば12分程度)も、正常な計測状態に回復する時間が短縮されることになる。
【0043】
なお、更には、ホットエアによるパージを行う前に、フィルタ逆洗後の一定時間、逆洗ライン40のバルブ38を開いたままにして圧縮エア供給装置29から圧縮エアを連続してフィルタ27に吹きつける(即ちエアブローをする)ことにより、フィルタ逆洗によって再飛散した煤塵や計測対象物質を煙道21に吹き戻すようにしてもよい。
【0044】
以上のように本実施の形態1によれば、計測装置33へのサンプリング排ガスの供給を停止してフィルタ27をパルシングエアにより逆洗した後、パージエアをフィルタ27の上流側からフィルタ27を経て煙道21へと流すことにより、前記逆洗でフィルタ27から払い落とされて排ガスサンプリングライン23に再飛散した煤塵や計測対象物質を煙道21へとパージし、その後、再び計測装置33へのサンプリング排ガスの供給を開始するようにしたため、テーリング時間が短くなり、フィルタ逆洗後、速やかに計測装置33による極微量濃度物質(特にダイオキシン類やその前駆体等の微量有機塩素化合物などの)の計測を正常な状態に回復させることができる。
【0045】
しかも、パージエアとして所定の温度に調整したホットエアを用いることにより、フィルタ27の温度を低下させることがなく、また、高くし過ぎるこのもないため、より効率的に速やかに計測装置33の計測状態を正常な状態に回復させることができる。フィルタ27の温度が高くなり過ぎたり、低くなり過ぎたりすると、計測対象物質の付着、脱着、副反応などが生じて正しい濃度計測をするまでにやや時間がかかることになる。
【0046】
但し、必ずしもホットエアパージに限定するものではなく、大気を電気ヒータ31で加熱せずにそのままパージエアとして用いてもよい。この場合にも、ホットエアパージには劣るものの、従来に比べれば速やかに計測装置33による計測を正常な状態に回復させることができる。また、この場合には装置構成が簡素化され、コストダウンを図ることができる。
【0047】
また、飛散煤塵や計測対象物質のパージガスとしては、大気(エア)に限らず、不活性ガス(N2 ,ヘリウム,アルゴン)を用いてもよい。不活性ガスを用いた場合には大気(エア)よりも清浄効果が大きいため、より速やかに計測装置33による計測を正常な状態に回復させることができる。
【0048】
また、フィルタ27を逆洗する圧縮ガスにも、圧縮エア(パルシングエア)に限らず、不活性ガス(N2 ,ヘリウム,アルゴン)を用いてもよい。この場合も、不活性ガスのほうがエアよりも清浄効果が大きいため、より速やかに計測装置33の計測を正常な状態に回復させることができる。
【0049】
また、ホットエアによるパージを行う前にエアブローをする場合、即ち、フィルタ逆洗後の一定時間、逆洗ライン40のバルブ38を開いたままにして圧縮エア供給装置29から圧縮エアを連続してフィルタ27の下流側からフィルタ27に吹きつける場合には、排ガスサンプリングライン23のクリーンアップがより徹底され、計測装置33の正常な計測状態の回復もより速やかに行われることになる。
【0050】
<実施の形態2>
図3は本発明の実施の形態2に係る排ガスサンプリング装置の構成図である。同図に示すように、本実施の形態2では、集塵装置26(フィルタ27)の下流側にバルブ41が設けられ、パルス逆洗後、制御装置30の自動制御によってバルブ41を開状態に維持することにより、圧縮エア供給装置29から供給される圧縮エアが、電気ヒータ31によって所定の温度に加熱された後、連続してフィルタ27の下流側からフィルタ27へ吹きつけられるように構成されている。つまり、フィルタ逆洗後、ホットエアパージを行う前にエアブローを行う場合、上記実施の形態1では単なる圧縮エアによってエアブローを行うのに対し、本実施の形態2ではホットな圧縮エアによってエアブローを行うようにしている。
【0051】
この場合、電気ヒータ31による圧縮エアの加熱も制御装置30によって自動制御される。即ち、制御装置30では、TIC39によるフィルタ27の温度計測信号(フィルタ27の入口温度計測信号、出口温度計測信号又は内部温度計測信号を必要に応じて適宜選択する)に基づいて電気ヒータ31の出力をPID制御することにより、圧縮エアが通常運転時のフィルタ27におけるサンプリング排ガスの温度(即ち、急冷装置25によって急冷さたサンプリング排ガスの温度)に等しくなるようにする。
【0052】
なお、本実施の形態2の排ガスサンプリング装置22の他の構成については、上記実施の形態1と同様であるため、ここでの説明は省略する(図1,図2参照)。
【0053】
以上のように本実施の形態2によれば、ホットエアによるパージを行う前に、フィルタ逆洗後の一定時間、バルブ41を開いたままにして圧縮エア供給装置29から圧縮エアを連続してフィルタ27に吹きつけるため、排ガスサンプリングライン23のクリーンアップがより徹底され、計測装置33の正常な計測状態への回復が速やかに行われる。しかも、本実施の形態2では圧縮エアを電気ヒータ31で所定の温度に加熱した後にフィルタ27に吹きつけることから、フィルタ27の温度を下げ過ぎたり、或いは、上げ過ぎたりすることがないため、より効率的に速やかに計測装置33の計測状態を正常な状態に回復させることができる。
【0054】
<実施の形態3>
図4は本発明の実施3に係る排ガスサンプリング装置の要部構成図、図5及び図6は前記排ガスサンプリング装置に備えたフィルタの構成図である。なお、図5(a)は前記フィルタの一方の端面図、図5(b)は前記フィルタの他方の端面図、図6は前記フィルタの一部を示す拡大断面図である。
【0055】
図4に示すように本実施の形態3の排ガスサンプリング装置22では、集塵装置26に四角柱状のフィルタ27を備えている。即ち、フィルタ27は断面(サンプリング排ガスやパルシングエアの流れと直交する断面)の形状が矩形状のものである。フィルタ27は材質が例えばコージェライトであり、長手方向(サンプリング排ガスやパルシングエアの流れ方向)に沿う通気孔27b,27dが格子状に多数形成されている。
【0056】
詳述すると、図5(a)に示すようにフィルタ27の一方の端面27a側には、多数の通気孔27bが千鳥格子に形成され、且つ、図6に示すように各通気孔27bの底部27b−1(他方の端面27c側の端部)は塞がっている。図5(b)に示すようにフィルタ27の他方の端面27c側には、多数の通気孔27dが千鳥格子に形成され、且つ、図6に示すように各通気孔27bの底部27b−1(一方の端面27a側の端部)も塞がっている。また、通気孔27bと通気孔27dの間は通気性の壁27eで仕切られている。従って、サンプリング排ガスは図6中に矢印で示すように一方の通気孔27bからフィルタ27内に流入し、壁27eを通過して他方の通気孔27dへ移動する。このとき壁27eにおいて排ガス中の煤塵が捕集される。その後、サンプリング排ガスは通気孔27dからフィルタ27外へ排出される。
【0057】
そして、本実施の形態3では、図5(a)及び図5(b)に示すようにフィルタ27の周辺部の通気孔27b,27dを目封じすることにより、フィルタ27の通気部分(通気領域)27fの断面形状を、図4に示す逆洗ライン配管40の断面形状に略等しくしている。つまり、図4に示すように逆洗ライン配管40は円筒状のものであり、断面形状が円形状となっているため、フィルタ27の通気部分27fの断面形状も、この逆洗ライン配管40の円形断面形状に略等しい円形状、即ち、略同じ円形で略同じ大きさとなるように周辺部の通気孔27b,27dを目封じている。
【0058】
なお、図示例の場合には目封じ前の通気部分の断面形状が既に円形に近い形状となっているため、この周辺部の通気孔27b,27dを目封じして目封じ前の断面形状と相似形の小さな断面形状としているが、勿論、目封じ前の通気部分の断面形状が例えば矩形状の場合には、この周辺部の通気孔を適宜目封じして円形状の断面形状とする。
【0059】
目封じの方法について説明すると、まず、目封じすべき通気孔27b,27dに不活性であるシリカ等の物質を主成分としたウールを埋め込む。その後、シリカ、アルミナ、コージェライト,ジルコニアなどを主成分とした加熱硬化型無機接着剤を、通気孔27a,27bに埋め込まれているウールに流し込み、加熱して硬化させる。
【0060】
なお、本実施の形態3の排ガスサンプリング装置22の他の構成については、上記実施の形態1又は2と同様であるため、ここでの説明は省略する(図1〜図3参照)。
【0061】
周辺部の通気孔27b,27dを目封じしない場合、逆洗ライン配管40の断面形状に比べてフィルタ27の通気部分の断面形状の方が大きいため、圧縮エア供給装置29からの圧縮エア(逆洗エア)が逆洗ライン配管40を介してフィルタ27の通気部分にながれたとき、この圧縮エア(逆洗エア)の逆洗力が、フィルタ27の通気部分全体には伝わらない。このため、フィルタ周辺部で捕集した粉塵(飛灰)は逆洗エアに同伴されず、煙道21内に吹き戻されないため、排ガスサンプリングライン100に飛散して停滞してしまう。このため、前述のようにフィルタ逆洗直後の計測で顕著なスパイク現象やテーリング現象が生じてしまうと考えられる。
【0062】
これに対して本実施の形態3によれば、フィルタ27の周辺部の通気孔27b,27dを目封じすることにより、フィルタ27の通気部分27fの断面形状を逆洗ライン配管40の断面形状に略等しく(即ち略同じ形で且つ略同じ大きさに)したため、圧縮エア供給装置29からの圧縮エア(逆洗エア)が逆洗ライン配管40を介してフィルタ27の通気部分27fにながれたとき、この圧縮エア(逆洗エア)の逆洗力が、フィルタ27の通気部分27f全体に効率的よく伝わる。従って、前記圧縮エア(逆洗エア)によってフィルタ27から払い落とされたほとんどの粉塵(飛灰)を、煙道21へと吹き戻すことができるため、フィルタ逆洗直後の計測スパイクが低減し、その後のテーリング時間も短くなるとから、速やかに計測装置よる極微量濃度物質(ダイオキシン類やその前駆体等の微量有機塩素化合物など)の計測を正常な状態に回復させることができる。
【0063】
また、かかる構造のフィルタ27を備え、且つ、上記実施の形態1,2のようなホットエアパージも行う場合には、かかるフィルタ27の構造により、フィルタ逆洗時に排ガスサンプリングライン23に飛散して停滞する粉塵や計測対象物質が低減し、しかも、パージガスによる飛散粉塵や計測対象物質のパージも行うことから、より確実にテーリング時間を低減して計測装置の正常な計測状態への早期回復を図ることができる。
【0064】
なお、上記では周辺部の通気孔27b,27dを目封じすることによって、フィルタ27の通気部分27fの断面形状を、逆洗ライン配管40の断面形状に略等しくしているが、これに限定するものではなく、はじめから通気部分の断面形状が逆洗ライン配管40の断面形状に等しくなるように製造したフィルタを、フィルタ27として用いてもよい。但し、こ場合にはフィルタ27の製造に比較的手間がかかるの対し、目封じをする場合には比較的容易にフィルタ27の通気部分27fの断面形状を、逆洗ライン配管40の断面形状と等しくすることができる。
【0065】
また、フィルタ27の通気部分の断面形状と逆洗ライン配管40の断面形状とを等しくする場合、必ずも両者を円形状とする必要はなく、例えば両者を矩形状としてもよい。
【0066】
【発明の効果】
以上、発明の実施の形態とともに具体的に説明したように、第1発明の排ガスサンプリング装置によれば、煙道からサンプリングしフィルタで除塵したサンプリング排ガスの一部を、排ガス中に含まれる極微量濃度物質を計測する計測手段に供給し、且つ、前記サンプリング排ガスの残りは再び前記煙道へと戻す構成の排ガスサンプリング装置において、前記計測手段への前記サンプリング排ガスの供給を停止して前記フィルタを圧縮ガスにより逆洗した後、パージガスを前記フィルタの上流側から前記フィルタを経て前記煙道へと流すことにより、前記逆洗で前記フィルタから払い落とされて排ガスサンプリングラインに再飛散した煤塵や計測対象物質を前記煙道へとパージし、その後、再び前記計測手段への前記サンプリング排ガスの供給を開始する構成したことを特徴とするため、テーリング時間が短くなり、フィルタ逆洗後、速やかに計測手段による極微量濃度物質(ダイオキシン類やその前駆体等の微量有機塩素化合物などの)の計測を正常な状態に回復させることができる。
【0067】
また、第2発明の排ガスサンプリング装置によれば、第1に記載の排ガスサンプリング装置において、加熱手段によりガスを通常運転時の前記フィルタにおける前記サンプリング排ガスの温度に略等しくなるように加熱してホットガスとし、このホットガスを前記パージガスとして用いる構成としたことを特徴とするため、フィルタの温度を低下させることがなく、また、高くし過ぎるこのもないため、より効率的に速やかに計測手段の計測状態を正常な状態に回復させることができる。
【0068】
また、第3発明の排ガスサンプリング装置によれば、第1発明の排ガスサンプリング装置において、前記パージガスとして大気をそまま用いることを特徴とするため、従来に比べて計測手段による計測を正常な状態に回復させることができ、また、装置構成が簡素化されてコストダウンを図ることができる。
【0069】
また、第4発明の排ガスサンプリング装置によれば、第1又は第2発明の排ガスサンプリング装置において、前記煤塵や計測対象物質のパージガスとして不活性ガスを用いることを特徴とするため、不活性ガスは大気(エア)よりも清浄効果が大きいことから、より速やかに計測手段による計測を正常な状態に回復させることができる。
【0070】
また、第5発明の排ガスサンプリング装置によれば、第1〜第4発明の何れかの排ガスサンプリング装置において、前記フィルタを逆洗する圧縮ガスとして不活性ガスを用いることを特徴とするため、不活性ガスのほうがエアよりも清浄効果が大きいことから、より速やかに計測手段の計測を正常な状態に回復させることができる。
【0071】
また、第6発明の排ガスサンプリング装置によれば、第1〜第5発明の何れかの排ガスサンプリング装置において、前記パージガスによるパージを行う前に、フィルタ逆洗後の一定時間、前記圧縮ガスを連続して前記フィルタの下流側から前記フィルタに吹きつけることにより、フィルタ逆洗によって再飛散した煤塵や計測対象物質を前記煙道に吹き戻すことを特徴とするため、排ガスサンプリングラインのクリーンアップがより徹底され、計測手段の正常な計測状態の回復もより速やかに行われることになる。
【0072】
また、第7発明の排ガスサンプリング装置によれば、第6発明の排ガスサンプリング装置において、前記フィルタに連続して吹きつける前記圧縮ガスは、加熱手段により通常運転時の前記フィルタにおける前記サンプリング排ガスの温度に略等しくなるように加熱した後に前記フィルタに吹きつける構成としたことを特徴とするため、排ガスサンプリングラインのクリーンアップがより徹底され、計測手段の正常な計測状態への回復が速やかに行われる。しかも、圧縮ガスを加熱手段で所定の温度に加熱した後にフィルタに吹きつけることから、フィルタの温度を下げ過ぎたり、或いは、上げ過ぎたりすることがないため、より効率的に速やかに計測手段の計測状態を正常な状態に回復させることができる。
【0073】
また、第8発明の排ガスサンプリング装置によれば、煙道からサンプリングしフィルタで除塵したサンプリング排ガスを、排ガス中に含まれる極微量濃度物質を計測する計測手段に供給する構成の排ガスサンプリング装置において、前記フィルタの通気部分の断面形状と、前記フィルタに圧縮ガスを供給する逆洗ライン配管の断面形状とを略等しくしたことを特徴とするため、圧縮ガス(逆洗ガス)が逆洗ライン配管を介してフィルタの通気部分にながれたとき、この圧縮ガス(逆洗ガス)の逆洗力が、フィルタの通気部分全体に効率的よく伝わる。従って、前記圧縮ガス(逆洗ガス)によってフィルタから払い落とされたほとんどの粉塵(飛灰)を、煙道へと吹き戻すことができるため、フィルタ逆洗直後の計測スパイクが低減し、その後のテーリング時間も短くなるとから、速やかに計測手段よる極微量濃度物質の計測を正常な状態に回復させることができる。
【0074】
また、第9発明の排ガスサンプリング装置によれば、第1〜第7発明の何れかの排ガスサンプリング装置において、前記フィルタの通気部分の断面形状と、前記フィルタを圧縮ガスを供給する逆洗ライン配管の断面形状とを略等しくしたことを特徴とするため、かかるフィルタの構造により、フィルタ逆洗時に排ガスサンプリングラインに飛散して停滞する粉塵が低減し、しかも、パージガスによる飛散粉塵のパージも行うことから、より確実にテーリング時間を低減して計測手段の正常な計測状態への早期回復を図ることができる。
【0075】
また、第10発明の排ガスサンプリング装置によれば、第8又は第9発明の排ガスサンプリング装置において、前記フィルタの周辺部の通気孔を目封じすることにより、前記フィルタの通気部分の断面形状を、前記逆洗ライン配管の断面形状に略等しくしたことを特徴とするため、比較的容易にフィルタの通気部分の断面形状を、逆洗ライン配管の断面形状と等しくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1に係る排ガスサンプリング装置の構成図である。
【図2】前記排ガスサンプリング装置におけるフィルタ再生時の制御シーケンス図である。
【図3】本発明の実施の形態2に係る排ガスサンプリング装置の構成図である。
【図4】本発明の実施3に係る排ガスサンプリング装置の要部構成図である。
【図5】前記排ガスサンプリング装置に備えたフィルタの構成図である。
【図6】前記排ガスサンプリング装置に備えたフィルタの構成図である。
【図7】従来の排ガスサンプリング装置の構成図である。
【図8】パルス逆洗直後の計測において生じるスパイク現象及びテーリング現象の説明図である。
【符号の説明】
21 煙道
22 排ガスサンプリング装置
23 排ガスサンプリングライン(配管)
24 サンプリング管
25 急冷装置
26 集塵装置
27 フィルタ
27a 端面
27b 通気孔
27b−1 底部
27c 端面
27d 通気孔
27d−1 底部
27e 壁
27f 通気部分
28 ファン
29 圧縮エア供給装置
30 制御装置
31 電気ヒータ
32 キャピラリ
33 計測装置
34 ガス戻し口
35 流量計測装置
36 流量制御バルブ
37,38 バルブ
39 TIC
40 逆洗ライン(配管)
41 バルブ
42 バルブ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an exhaust gas sampling device, and is particularly useful when applied to a case where a sampled exhaust gas is supplied to a measuring device that measures a trace concentration substance contained in a trace amount in the exhaust gas.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, harmful components (eg, trace amounts of dioxins and their precursors) contained in exhaust gas from various incinerators such as municipal solid waste incinerators, industrial waste incinerators, and sludge incinerators, and pyrolysis furnaces and melting furnaces. It is desired to measure an organic chlorine compound) in real time, and it has been proposed to control the combustion state of the furnace based on the measurement result.
[0003]
As an apparatus for measuring harmful components in exhaust gas in real time for the purpose of such combustion control, for example, an exhaust gas sampling apparatus having a configuration as shown in FIG. 7 has been proposed (for example, see Patent Document 1).
[0004]
[Patent Document 1]
JP 2002-131198 A
[0005]
An exhaust gas sampling device 20 shown in FIG. 7 includes a sampling pipe 2 provided in an exhaust gas sampling line (pipe) 1, a
[0006]
Thereafter, the sampled exhaust gas is quenched to a predetermined temperature by the
[0007]
The measuring device 8 analyzes the supplied sampling exhaust gas to measure the concentration of organic chlorine compounds such as dioxins and their precursors contained in the exhaust gas in trace amounts. The remaining sampled exhaust gas is returned to the
[0008]
In this exhaust gas sampling apparatus, the backwashing with compressed air is performed every time the normal operation (exhaust gas sampling operation) is continued for a predetermined time to regenerate the filter 14 of the dust collector 4. Specifically, after closing the
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described conventional exhaust gas sampling apparatus 20, there is no particular problem even if the substance to be measured by the measuring device 8 is a substance having a relatively high concentration of the order of ppm or more. In the case of a substance having a trace concentration (for example, a trace organic chlorine compound such as dioxins and their precursors), a problem may occur in a situation where the trace concentration substance is measured in real time.
[0010]
That is, as shown in FIG. 8, in the measurement immediately after the pulse backwashing, a spike phenomenon in which the measured value of the substance concentration sharply rises and a peak occurs is observed, and thereafter, gradually, until the substance concentration is correctly measured. In some cases, a tailing phenomenon in which the measured concentration value decreases may be observed. This is particularly problematic when the substance to be measured is a trace concentration substance, as shown in FIG.
[0011]
The spike phenomenon is caused by the impact of the backwash air (pulsing air), the measurement target substance in the dust layer deposited and deposited on the filter 14 re-scatters together with the dust, and the re-scattered measurement target substance is measured when the measurement is restarted. It is considered that this is caused by being supplied (vented) to the device 8. The tailing phenomenon is considered to be a memory effect caused by adsorption in the exhaust gas sampling line piping or the
[0012]
Therefore, in view of the above circumstances, the present invention provides an exhaust gas sampling device that can quickly restore the measurement state of a measurement device that measures a trace concentration substance contained in exhaust gas to a normal state after backwashing the filter. The task is to provide.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
An exhaust gas sampling apparatus according to a first aspect of the present invention that solves the above-described problem supplies a part of the sampled exhaust gas sampled from a flue and removed with a filter to a measuring unit that measures a trace concentration substance contained in the exhaust gas, and In an exhaust gas sampling device configured to return the rest of the sampled exhaust gas to the flue again, after the supply of the sampled exhaust gas to the measuring means is stopped and the filter is backwashed with a compressed gas, the purge gas is removed from the filter by the filter. By flowing from the upstream side to the flue through the filter, the dust and measurement target substances that have been washed off from the filter in the backwash and re-scattered to the exhaust gas sampling line are purged into the flue, The supply of the sampled exhaust gas to the measuring means is started again.
[0014]
Further, the exhaust gas sampling apparatus of the second invention is the exhaust gas sampling apparatus according to the first aspect, wherein the heating means heats the gas so as to be substantially equal to the temperature of the sampled exhaust gas in the filter during a normal operation to obtain a hot gas. The hot gas is used as the purge gas.
[0015]
Further, an exhaust gas sampling device according to a third aspect of the present invention is the exhaust gas sampling device according to the first aspect of the present invention, wherein the atmosphere is used as the purge gas as it is.
[0016]
An exhaust gas sampling apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the exhaust gas sampling apparatus according to the first or second aspect, wherein an inert gas is used as a purge gas for the dust and the substance to be measured.
[0017]
An exhaust gas sampling apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the exhaust gas sampling apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein an inert gas is used as a compressed gas for backwashing the filter.
[0018]
The exhaust gas sampling device according to a sixth aspect of the present invention is the exhaust gas sampling device according to any one of the first to fifth aspects, wherein the compressed gas is continuously discharged for a certain time after the backwashing of the filter before purging with the purge gas. By spraying the filter from the downstream side of the filter onto the filter, the dust and the measurement target substance re-scattered by the filter backwash are blown back to the flue.
[0019]
In the exhaust gas sampling apparatus according to a seventh aspect of the present invention, in the exhaust gas sampling apparatus according to the sixth aspect of the present invention, the compressed gas continuously blown to the filter is substantially heated to a temperature of the sampled exhaust gas in the filter during normal operation by a heating unit. The filter is characterized in that it is heated so as to be equal and then sprayed on the filter.
[0020]
An exhaust gas sampling device according to an eighth aspect of the present invention is the exhaust gas sampling device, wherein the sampled exhaust gas sampled from the flue and removed by a filter is supplied to measuring means for measuring a trace concentration substance contained in the exhaust gas. Is characterized in that the cross-sectional shape of the ventilation portion is substantially equal to the cross-sectional shape of the backwash line piping for supplying compressed gas to the filter.
[0021]
An exhaust gas sampling device according to a ninth aspect of the present invention is the exhaust gas sampling device according to any one of the first to seventh aspects, wherein a cross-sectional shape of a ventilation portion of the filter and a cross-section of a backwash line pipe for supplying compressed gas to the filter are provided. It is characterized in that the shape is substantially equal.
[0022]
The exhaust gas sampling device according to a tenth aspect of the present invention is the exhaust gas sampling device according to the eighth or ninth aspect, wherein a cross-sectional shape of a ventilation portion of the filter is reduced by plugging a ventilation hole in a peripheral portion of the filter. The cross-sectional shape of the washing line piping is substantially equal.
[0023]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0024]
<
FIG. 1 is a configuration diagram of an exhaust gas sampling device according to
[0025]
The flue 21 shown in FIG. 1 is provided in any of various incinerators such as a municipal waste incinerator, an industrial waste incinerator, a sludge incinerator and the like, or a pyrolysis furnace and a melting furnace. A high temperature (for example, 600 to 1000 ° C.) high-dust combustion exhaust gas discharged from the furnace flows through the flue 21 as shown by an arrow A. The flue 21 is provided with the exhaust gas sampling device 22 of the first embodiment.
[0026]
As shown in FIG. 1, the exhaust gas sampling device 22 includes a sampling pipe 24 provided in an exhaust gas sampling line (pipe) 23, a
[0027]
The sampling pipe 24 is inserted into the flue 21, and when the
[0028]
The measuring
[0029]
The flow rate of the sampled exhaust gas flowing through the exhaust
[0030]
In the exhaust gas sampling device 22, the compressed air is exhausted every time the normal operation (exhaust gas sampling operation) is continued for a certain period of time or whenever the differential pressure of the exhaust gas at the inlet and outlet of the
[0031]
Then, after the end of the pulse backwash, the
[0032]
More specifically, the
[0033]
Then, after purging scattered dust and the substance to be measured by a large amount of forced air of the purge air (hot air) (hot air purge), that is, the scattered dust and the substance to be measured are mixed with the sampling exhaust gas, and the concentration of the trace amount of the substance becomes abnormal. After the possibility that the increased gas is supplied (ventilated) to the measuring
[0034]
The heating of the atmosphere by the
[0035]
The cooling temperature range of the sampled exhaust gas by the quenching
[0036]
In the first embodiment, the operation of each valve at the time of the hot air purge and the operation of each valve at the time of the pulse backwashing are all automatically controlled by the
[0037]
Here, the control sequence of the first embodiment will be described in comparison with a conventional control sequence with reference to FIG. In FIG. 2, the lower part shows the control sequence of the first embodiment, the middle part shows the conventional control sequence, and the upper part shows the temporal change of the concentration measurement value of the trace concentration substance by the measuring
[0038]
As shown in FIG. 2, in the control sequence according to the first embodiment, normal operation (exhaust gas sampling operation) is continued until a certain time elapses (until time T <b> 1), and sampling is performed by the measuring
[0039]
Then, in the conventional control sequence, at time T2 immediately after the end of the pulse backwash, the
[0040]
On the other hand, in the control sequence according to the first embodiment, the
[0041]
As a result, a spike phenomenon is observed in the density measurement value F after the time T2 (the density measurement value from the time T2 to the time T3 is a value when the density measurement is temporarily performed). No spike phenomenon is observed since the measurement is not resumed.) Even if the concentration measurement is performed from time T2 to time T3 due to the effect of the hot air purge, the substance to be measured hardly enters the measurement line. In addition, the memory effect (tailing phenomenon), which is considered to be caused by the adsorption, becomes very small, and the tailing time becomes a short time ΔT3 (for example, about 3 minutes) from time T2 to time T3. In the control sequence according to the first embodiment, the
[0042]
In the conventional control sequence, a normal measurement state is recovered at the time T4. Therefore, in the control sequence of the first embodiment, the normal measurement state is reduced by ΔT4 time (for example, about 12 minutes) compared to the conventional control sequence. The recovery time will be reduced.
[0043]
Furthermore, before purging with hot air, the compressed
[0044]
As described above, according to the first embodiment, after the supply of the sampling exhaust gas to the measuring
[0045]
Moreover, by using hot air adjusted to a predetermined temperature as the purge air, the temperature of the
[0046]
However, the purge air is not necessarily limited to the hot air purge, and the air may be used as the purge air without being heated by the
[0047]
In addition, the purge gas for the scattered dust and the substance to be measured is not limited to the atmosphere (air), but may be an inert gas (N 2 , Helium, argon). When an inert gas is used, the effect of cleaning is greater than that of the atmosphere (air), so that the measurement by the measuring
[0048]
Further, the compressed gas for backwashing the
[0049]
When air is blown before purging with hot air, that is, when the
[0050]
<Embodiment 2>
FIG. 3 is a configuration diagram of an exhaust gas sampling device according to Embodiment 2 of the present invention. As shown in the figure, in the second embodiment, a valve 41 is provided downstream of the dust collector 26 (filter 27), and after the pulse backwash, the valve 41 is opened by the automatic control of the
[0051]
In this case, the heating of the compressed air by the
[0052]
Note that other configurations of the exhaust gas sampling device 22 of the second embodiment are the same as those of the first embodiment, and thus description thereof will be omitted (see FIGS. 1 and 2).
[0053]
As described above, according to the second embodiment, the compressed air is continuously supplied from the compressed
[0054]
<
FIG. 4 is a configuration diagram of a main part of an exhaust gas sampling device according to
[0055]
As shown in FIG. 4, in the exhaust gas sampling device 22 according to the third embodiment, the
[0056]
More specifically, as shown in FIG. 5A, on one end surface 27a side of the
[0057]
In the third embodiment, as shown in FIGS. 5A and 5B, the ventilation holes 27b and 27d in the peripheral portion of the
[0058]
In the case of the illustrated example, since the cross-sectional shape of the ventilation portion before plugging is already close to a circular shape, the ventilation holes 27b and 27d in the peripheral portion are plugged, and the cross-sectional shape before plugging is changed. Although the cross section has a similar small cross-sectional shape, if the cross-sectional shape of the vent portion before plugging is, for example, a rectangular shape, the vent hole in the peripheral portion is appropriately plugged to have a circular cross-sectional shape.
[0059]
Describing the plugging method, first, wool mainly containing an inert substance such as silica is buried in the ventilation holes 27b and 27d to be plugged. Thereafter, a thermosetting inorganic adhesive mainly composed of silica, alumina, cordierite, zirconia, or the like is poured into the wool embedded in the
[0060]
Note that the other configuration of the exhaust gas sampling device 22 of the third embodiment is the same as that of the first or second embodiment, and a description thereof will be omitted (see FIGS. 1 to 3).
[0061]
When the ventilation holes 27b and 27d in the peripheral portion are not plugged, the cross-sectional shape of the ventilation portion of the
[0062]
On the other hand, according to the third embodiment, the cross-sectional shape of the ventilation portion 27f of the
[0063]
When the
[0064]
In the above description, the cross-sectional shape of the ventilation portion 27f of the
[0065]
When the cross-sectional shape of the ventilation portion of the
[0066]
【The invention's effect】
As described above in detail with the embodiments of the present invention, according to the exhaust gas sampling apparatus of the first invention, a part of the sampled exhaust gas sampled from the flue and removed by the filter is reduced to an extremely small amount contained in the exhaust gas. In a flue gas sampling apparatus configured to supply a concentration substance to a measuring means for measuring a concentration substance and returning the rest of the sampled flue gas to the flue again, the supply of the sampled flue gas to the measuring means is stopped to stop the filter. After backwashing with the compressed gas, the purge gas flows from the upstream side of the filter through the filter to the flue, so that the dust removed from the filter in the backwashing and scattered again to the exhaust gas sampling line and the measurement. Purging the target substance into the flue, and then supplying the sampled exhaust gas to the measuring means again The tailing time is shortened, and after the backwashing of the filter, measurement of trace concentration substances (such as trace organic chlorine compounds such as dioxins and their precursors) by the measurement means is quickly performed. Can be restored to a normal state.
[0067]
Further, according to the exhaust gas sampling apparatus of the second invention, in the exhaust gas sampling apparatus according to the first aspect, the heating unit heats the gas so as to be substantially equal to the temperature of the sampled exhaust gas in the filter during the normal operation. Gas, and the configuration is such that this hot gas is used as the purge gas, so that the temperature of the filter does not decrease and there is no excessively high temperature. The measurement state can be restored to a normal state.
[0068]
Further, according to the exhaust gas sampling device of the third invention, in the exhaust gas sampling device of the first invention, since the atmosphere is used as the purge gas as it is, the measurement by the measuring means is brought to a normal state as compared with the conventional case. It can be recovered, and the configuration of the apparatus can be simplified to reduce the cost.
[0069]
According to the exhaust gas sampling apparatus of the fourth invention, in the exhaust gas sampling apparatus of the first or second invention, an inert gas is used as a purge gas for the dust and the substance to be measured. Since the cleaning effect is greater than the atmosphere (air), the measurement by the measuring means can be restored to a normal state more quickly.
[0070]
According to the exhaust gas sampling apparatus of the fifth invention, in the exhaust gas sampling apparatus of any of the first to fourth inventions, an inert gas is used as a compressed gas for backwashing the filter. Since the cleaning effect of the active gas is larger than that of the air, the measurement by the measuring means can be restored to a normal state more quickly.
[0071]
Further, according to the exhaust gas sampling apparatus of the sixth invention, in the exhaust gas sampling apparatus of any of the first to fifth inventions, before performing the purging with the purge gas, the compressed gas is continuously discharged for a certain time after the filter backwash. By spraying the filter and dust from the downstream side of the filter onto the filter, the dust and the substance to be measured re-scattered by the backwashing of the filter are blown back to the flue. Thoroughness is restored, and the normal measurement state of the measuring means is restored more quickly.
[0072]
Further, according to the exhaust gas sampling apparatus of the seventh invention, in the exhaust gas sampling apparatus of the sixth invention, the compressed gas continuously blown to the filter is heated by the heating means at a temperature of the sampled exhaust gas in the filter during normal operation. Since the filter is heated and blown to the filter, the exhaust gas sampling line is more thoroughly cleaned, and the measuring unit is promptly restored to a normal measurement state. . In addition, since the compressed gas is heated to a predetermined temperature by the heating means and then blown to the filter, the temperature of the filter is not excessively lowered or excessively increased, so that the measuring means can be more efficiently and quickly operated. The measurement state can be restored to a normal state.
[0073]
Further, according to the exhaust gas sampling apparatus of the eighth invention, in the exhaust gas sampling apparatus configured to supply the sampling exhaust gas sampled from the flue and dedusted by a filter to the measuring means for measuring the trace concentration substance contained in the exhaust gas, Since the cross-sectional shape of the ventilation part of the filter is substantially equal to the cross-sectional shape of the backwash line pipe for supplying the compressed gas to the filter, the compressed gas (backwash gas) is used for the backwash line pipe. When the compressed gas (backwash gas) is passed through the filter through the ventilation portion, the backwashing power of the compressed gas (backwash gas) is efficiently transmitted to the entire ventilation portion of the filter. Therefore, most of the dust (fly ash) blown off from the filter by the compressed gas (backwash gas) can be blown back to the flue, thereby reducing measurement spikes immediately after the filter backwash, and Since the tailing time is also shortened, the measurement of the trace concentration substance by the measuring means can be promptly restored to the normal state.
[0074]
Further, according to the exhaust gas sampling apparatus of the ninth aspect, in the exhaust gas sampling apparatus of any of the first to seventh aspects, a cross-sectional shape of a ventilation portion of the filter and a backwash line pipe for supplying a compressed gas to the filter. Since the cross-sectional shape of the filter is substantially equal, the structure of the filter reduces dust that scatters and stagnates in the exhaust gas sampling line at the time of backwashing the filter, and also purges the scattered dust with a purge gas. As a result, the tailing time can be more reliably reduced and the measuring means can be quickly recovered to the normal measurement state.
[0075]
Further, according to the exhaust gas sampling device of the tenth aspect, in the exhaust gas sampling device of the eighth or ninth aspect, by sealing the ventilation hole in the peripheral portion of the filter, the cross-sectional shape of the ventilation portion of the filter, Since the cross-sectional shape of the backwash line is substantially equal to that of the backwash line, the cross-sectional shape of the ventilation portion of the filter can be relatively easily made equal to the cross-sectional shape of the backwash line.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of an exhaust gas sampling device according to
FIG. 2 is a control sequence diagram at the time of filter regeneration in the exhaust gas sampling device.
FIG. 3 is a configuration diagram of an exhaust gas sampling device according to Embodiment 2 of the present invention.
FIG. 4 is a main part configuration diagram of an exhaust gas sampling device according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a configuration diagram of a filter provided in the exhaust gas sampling device.
FIG. 6 is a configuration diagram of a filter provided in the exhaust gas sampling device.
FIG. 7 is a configuration diagram of a conventional exhaust gas sampling device.
FIG. 8 is an explanatory diagram of a spike phenomenon and a tailing phenomenon that occur in measurement immediately after pulse backwashing.
[Explanation of symbols]
21 flue
22 Exhaust gas sampling device
23 Exhaust gas sampling line (piping)
24 Sampling tube
25 Quick cooling device
26 Dust collector
27 Filter
27a end face
27b vent
27b-1 bottom
27c end face
27d vent
27d-1 bottom
27e wall
27f ventilation part
28 fans
29 Compressed air supply device
30 Control device
31 Electric heater
32 capillaries
33 Measuring device
34 Gas return port
35 Flow rate measuring device
36 Flow control valve
37, 38 valve
39 TIC
40 Backwash line (piping)
41 valve
42 valve
Claims (10)
前記計測手段への前記サンプリング排ガスの供給を停止して前記フィルタを圧縮ガスにより逆洗した後、パージガスを前記フィルタの上流側から前記フィルタを経て前記煙道へと流すことにより、前記逆洗で前記フィルタから払い落とされて排ガスサンプリングラインに再飛散した煤塵や計測対象物質を前記煙道へとパージし、その後、再び前記計測手段への前記サンプリング排ガスの供給を開始する構成したことを特徴とする排ガスサンプリング装置。A configuration in which a part of the sampled exhaust gas sampled from the flue and dust-removed by a filter is supplied to measuring means for measuring a trace concentration substance contained in the exhaust gas, and the rest of the sampled exhaust gas is returned to the flue again. In the exhaust gas sampling device of
After the supply of the sampled exhaust gas to the measuring means is stopped and the filter is backwashed with a compressed gas, the purge gas is passed from the upstream side of the filter to the flue through the filter, whereby the backwashing is performed. Purging dust and measurement target substances that have been washed off from the filter and re-scattered on the exhaust gas sampling line to the flue, and thereafter, the supply of the sampled exhaust gas to the measuring means is started again, Exhaust gas sampling device.
加熱手段によりガスを通常運転時の前記フィルタにおける前記サンプリング排ガスの温度に略等しくなるように加熱してホットガスとし、このホットガスを前記パージガスとして用いる構成としたことを特徴とする排ガスサンプリング装置。The exhaust gas sampling device according to claim 1,
An exhaust gas sampling apparatus, wherein a gas is heated by a heating means so as to be substantially equal to the temperature of the sampled exhaust gas in the filter during a normal operation to form a hot gas, and the hot gas is used as the purge gas.
前記パージガスとして大気をそまま用いることを特徴とする排ガスサンプリング装置。The exhaust gas sampling device according to claim 1,
An exhaust gas sampling apparatus wherein the atmosphere is used as the purge gas as it is.
前記フィルタを逆洗する圧縮ガスとして不活性ガスを用いることを特徴とする排ガスサンプリング装置。The exhaust gas sampling device according to any one of claims 1 to 4,
An exhaust gas sampling apparatus, wherein an inert gas is used as a compressed gas for backwashing the filter.
前記パージガスによるパージを行う前に、フィルタ逆洗後の一定時間、圧縮ガスを連続して前記フィルタの下流側から前記フィルタに吹きつけることにより、フィルタ逆洗によって再飛散した煤塵や計測対象物質を前記煙道に吹き戻すことを特徴とする排ガスサンプリング装置。The exhaust gas sampling device according to any one of claims 1 to 5,
Before performing the purging with the purge gas, for a certain period of time after the filter backwash, by continuously blowing the compressed gas to the filter from the downstream side of the filter, the dust and the substance to be measured re-scattered by the filter backwash are removed. An exhaust gas sampling device characterized by blowing back to the flue.
前記フィルタに連続して吹きつける前記圧縮ガスは、加熱手段により通常運転時の前記フィルタにおける前記サンプリング排ガスの温度に略等しくなるように加熱した後に前記フィルタに吹きつける構成としたことを特徴とする排ガスサンプリング装置。The exhaust gas sampling device according to claim 6,
The compressed gas blown continuously to the filter is heated by heating means so as to be substantially equal to the temperature of the sampling exhaust gas in the filter during normal operation, and then blown to the filter. Exhaust gas sampling device.
前記フィルタの通気部分の断面形状と、前記フィルタに圧縮ガスを供給する逆洗ライン配管の断面形状とを略等しくしたことを特徴とする排ガスサンプリング装置。In an exhaust gas sampling apparatus configured to supply a sampling exhaust gas sampled from a flue gas and dust removed by a filter to a measuring unit that measures a trace concentration substance contained in the exhaust gas,
An exhaust gas sampling apparatus, wherein a cross-sectional shape of a ventilation portion of the filter is substantially equal to a cross-sectional shape of a backwash line pipe for supplying compressed gas to the filter.
前記フィルタの通気部分の断面形状と、前記フィルタを圧縮ガスを供給する逆洗ライン配管の断面形状とを略等しくしたことを特徴とする排ガスサンプリング装置。The exhaust gas sampling device according to any one of claims 1 to 7,
An exhaust gas sampling apparatus, wherein a cross-sectional shape of a ventilation part of the filter is substantially equal to a cross-sectional shape of a backwash line pipe for supplying compressed gas to the filter.
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006258320A (en) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Takuma Co Ltd | Combustion control device |
US7562556B2 (en) * | 2006-10-02 | 2009-07-21 | General Electric Company | Cleaning system and method for continuous emissions monitoring equipment |
JP2013242273A (en) * | 2012-05-22 | 2013-12-05 | Horiba Ltd | Exhaust gas analyzer |
JP2014199231A (en) * | 2013-03-29 | 2014-10-23 | 新コスモス電機株式会社 | Gas detection device and operation method thereof |
KR101533084B1 (en) * | 2014-03-21 | 2015-07-02 | 광성(주) | Analysis And Monitoring System For Exhaust Gas Treatment Apparatus |
JP2015141045A (en) * | 2014-01-27 | 2015-08-03 | 富士通株式会社 | Airborne particulate matter sensor unit |
CN107051028A (en) * | 2017-04-17 | 2017-08-18 | 济南大学 | A kind of outer flue gas ash collecting device of flue |
CN111380726A (en) * | 2020-05-09 | 2020-07-07 | 洛阳三隆安装检修有限公司 | Boiler flue gas sampling system |
CN113899595A (en) * | 2021-11-11 | 2022-01-07 | 西安热工研究院有限公司 | A purging and flushing switching device and method for flue gas sampling |
RU219120U1 (en) * | 2023-02-28 | 2023-06-29 | Закрытое Акционерное Общество "Ламинарные Системы" | Mobile sampling box |
-
2002
- 2002-10-17 JP JP2002302809A patent/JP2004138475A/en not_active Withdrawn
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006258320A (en) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Takuma Co Ltd | Combustion control device |
US7562556B2 (en) * | 2006-10-02 | 2009-07-21 | General Electric Company | Cleaning system and method for continuous emissions monitoring equipment |
JP2013242273A (en) * | 2012-05-22 | 2013-12-05 | Horiba Ltd | Exhaust gas analyzer |
US9468877B2 (en) | 2012-05-22 | 2016-10-18 | Horiba, Ltd. | Exhaust gas analyzing apparatus |
JP2014199231A (en) * | 2013-03-29 | 2014-10-23 | 新コスモス電機株式会社 | Gas detection device and operation method thereof |
JP2015141045A (en) * | 2014-01-27 | 2015-08-03 | 富士通株式会社 | Airborne particulate matter sensor unit |
KR101533084B1 (en) * | 2014-03-21 | 2015-07-02 | 광성(주) | Analysis And Monitoring System For Exhaust Gas Treatment Apparatus |
CN107051028A (en) * | 2017-04-17 | 2017-08-18 | 济南大学 | A kind of outer flue gas ash collecting device of flue |
CN111380726A (en) * | 2020-05-09 | 2020-07-07 | 洛阳三隆安装检修有限公司 | Boiler flue gas sampling system |
CN113899595A (en) * | 2021-11-11 | 2022-01-07 | 西安热工研究院有限公司 | A purging and flushing switching device and method for flue gas sampling |
RU219120U1 (en) * | 2023-02-28 | 2023-06-29 | Закрытое Акционерное Общество "Ламинарные Системы" | Mobile sampling box |
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