JP2004064040A - 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 - Google Patents
被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004064040A JP2004064040A JP2002350247A JP2002350247A JP2004064040A JP 2004064040 A JP2004064040 A JP 2004064040A JP 2002350247 A JP2002350247 A JP 2002350247A JP 2002350247 A JP2002350247 A JP 2002350247A JP 2004064040 A JP2004064040 A JP 2004064040A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- substrate
- conversion layer
- heat conversion
- ground
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 115
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 21
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims abstract description 48
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 28
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims abstract description 26
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 121
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 42
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 42
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 33
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 29
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 20
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 claims description 18
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 18
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical group O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 6
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 3
- 238000005304 joining Methods 0.000 claims description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 claims 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 190
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 90
- 238000000034 method Methods 0.000 description 36
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 16
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 15
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 10
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 10
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 8
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 6
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 5
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 5
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 5
- -1 aliphatic diamine Chemical class 0.000 description 4
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 4
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2-(2-cyanopropan-2-yldiazenyl)-2-methylpropanenitrile Chemical compound N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SMNDYUVBFMFKNZ-UHFFFAOYSA-N 2-furoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CO1 SMNDYUVBFMFKNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATRRKUHOCOJYRX-UHFFFAOYSA-N Ammonium bicarbonate Chemical compound [NH4+].OC([O-])=O ATRRKUHOCOJYRX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004831 Hot glue Substances 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 2
- 239000001099 ammonium carbonate Substances 0.000 description 2
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003431 cross linking reagent Substances 0.000 description 2
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007607 die coating method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004088 foaming agent Substances 0.000 description 2
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000193 polymethacrylate Polymers 0.000 description 2
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 2
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 2
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 2
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 2
- ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M thionine Chemical compound [Cl-].C1=CC(N)=CC2=[S+]C3=CC(N)=CC=C3N=C21 ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DSSYKIVIOFKYAU-XCBNKYQSSA-N (R)-camphor Chemical compound C1C[C@@]2(C)C(=O)C[C@@H]1C2(C)C DSSYKIVIOFKYAU-XCBNKYQSSA-N 0.000 description 1
- RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 2,2,4,4,6,6-hexaphenoxy-1,3,5-triaza-2$l^{5},4$l^{5},6$l^{5}-triphosphacyclohexa-1,3,5-triene Chemical compound N=1P(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP=1(OC=1C=CC=CC=1)OC1=CC=CC=C1 RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 2-(chloromethyl)pyridine-3-carbonitrile Chemical compound ClCC1=NC=CC=C1C#N FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GOXQRTZXKQZDDN-UHFFFAOYSA-N 2-Ethylhexyl acrylate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C=C GOXQRTZXKQZDDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DMOYBIUAWCVPLF-UHFFFAOYSA-N 2-diazonio-5,5-dimethyl-3-oxocyclohexen-1-olate Chemical compound CC1(C)CC([O-])=C([N+]#N)C(=O)C1 DMOYBIUAWCVPLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VMKYTRPNOVFCGZ-UHFFFAOYSA-N 2-sulfanylphenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1S VMKYTRPNOVFCGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ICGLPKIVTVWCFT-UHFFFAOYSA-N 4-methylbenzenesulfonohydrazide Chemical compound CC1=CC=C(S(=O)(=O)NN)C=C1 ICGLPKIVTVWCFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QHPQWRBYOIRBIT-UHFFFAOYSA-N 4-tert-butylphenol Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 QHPQWRBYOIRBIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N Acrylonitrile Chemical compound C=CC#N NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000013 Ammonium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004156 Azodicarbonamide Substances 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000723346 Cinnamomum camphora Species 0.000 description 1
- MWRWFPQBGSZWNV-UHFFFAOYSA-N Dinitrosopentamethylenetetramine Chemical compound C1N2CN(N=O)CN1CN(N=O)C2 MWRWFPQBGSZWNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 108010010803 Gelatin Proteins 0.000 description 1
- 244000043261 Hevea brasiliensis Species 0.000 description 1
- 229930192627 Naphthoquinone Natural products 0.000 description 1
- 239000000020 Nitrocellulose Substances 0.000 description 1
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 1
- 229920001710 Polyorthoester Polymers 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 1
- UIIMBOGNXHQVGW-DEQYMQKBSA-M Sodium bicarbonate-14C Chemical compound [Na+].O[14C]([O-])=O UIIMBOGNXHQVGW-DEQYMQKBSA-M 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FMRLDPWIRHBCCC-UHFFFAOYSA-L Zinc carbonate Chemical compound [Zn+2].[O-]C([O-])=O FMRLDPWIRHBCCC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N acetaldehyde Diethyl Acetal Natural products CCOC(C)OCC DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002777 acetyl group Chemical class [H]C([H])([H])C(*)=O 0.000 description 1
- VLLNJDMHDJRNFK-UHFFFAOYSA-N adamantan-1-ol Chemical compound C1C(C2)CC3CC2CC1(O)C3 VLLNJDMHDJRNFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IYKFYARMMIESOX-UHFFFAOYSA-N adamantanone Chemical compound C1C(C2)CC3CC1C(=O)C2C3 IYKFYARMMIESOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002998 adhesive polymer Substances 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012538 ammonium bicarbonate Nutrition 0.000 description 1
- 235000012501 ammonium carbonate Nutrition 0.000 description 1
- 239000001000 anthraquinone dye Substances 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- XOZUGNYVDXMRKW-AATRIKPKSA-N azodicarbonamide Chemical compound NC(=O)\N=N\C(N)=O XOZUGNYVDXMRKW-AATRIKPKSA-N 0.000 description 1
- 235000019399 azodicarbonamide Nutrition 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- VJRITMATACIYAF-UHFFFAOYSA-N benzenesulfonohydrazide Chemical compound NNS(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 VJRITMATACIYAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001400 block copolymer Polymers 0.000 description 1
- DNSISZSEWVHGLH-UHFFFAOYSA-N butanamide Chemical compound CCCC(N)=O DNSISZSEWVHGLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N butyl acrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C=C CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960000846 camphor Drugs 0.000 description 1
- 229930008380 camphor Natural products 0.000 description 1
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 229950001902 dimevamide Drugs 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 125000002573 ethenylidene group Chemical group [*]=C=C([H])[H] 0.000 description 1
- UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N ethyl carbamate;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.CCOC(N)=O UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 239000003063 flame retardant Substances 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- 229920000159 gelatin Polymers 0.000 description 1
- 239000008273 gelatin Substances 0.000 description 1
- 235000019322 gelatine Nutrition 0.000 description 1
- 235000011852 gelatine desserts Nutrition 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 125000005395 methacrylic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001434 methanylylidene group Chemical group [H]C#[*] 0.000 description 1
- 150000002791 naphthoquinones Chemical class 0.000 description 1
- 229920003052 natural elastomer Polymers 0.000 description 1
- 229920001194 natural rubber Polymers 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001220 nitrocellulos Polymers 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- IPWFJLQDVFKJDU-UHFFFAOYSA-N pentanamide Chemical compound CCCCC(N)=O IPWFJLQDVFKJDU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000001007 phthalocyanine dye Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000002745 poly(ortho ester) Substances 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 150000008442 polyphenolic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 235000013824 polyphenols Nutrition 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 description 1
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 description 1
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N prop-2-enoyloxy prop-2-eneperoxoate Chemical compound C=CC(=O)OOOC(=O)C=C KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003678 scratch resistant effect Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 125000005372 silanol group Chemical group 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 229940014800 succinic anhydride Drugs 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000454 talc Substances 0.000 description 1
- 229910052623 talc Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002562 thickening agent Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011667 zinc carbonate Substances 0.000 description 1
- 235000004416 zinc carbonate Nutrition 0.000 description 1
- 229910000010 zinc carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B43/00—Operations specially adapted for layered products and not otherwise provided for, e.g. repairing; Apparatus therefor
- B32B43/006—Delaminating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B7/00—Layered products characterised by the relation between layers; Layered products characterised by the relative orientation of features between layers, or by the relative values of a measurable parameter between layers, i.e. products comprising layers having different physical, chemical or physicochemical properties; Layered products characterised by the interconnection of layers
- B32B7/04—Interconnection of layers
- B32B7/06—Interconnection of layers permitting easy separation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/20—Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy
- H01L21/2003—Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy characterised by the substrate
- H01L21/2007—Bonding of semiconductor wafers to insulating substrates or to semiconducting substrates using an intermediate insulating layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6835—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6835—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L21/6836—Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B2457/00—Electrical equipment
- B32B2457/14—Semiconductor wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68327—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68381—Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68381—Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
- H01L2221/68386—Separation by peeling
- H01L2221/6839—Separation by peeling using peeling wedge or knife or bar
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10S156/918—Delaminating processes adapted for specified product, e.g. delaminating medical specimen slide
- Y10S156/93—Semiconductive product delaminating, e.g. delaminating emiconductive wafer from underlayer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/11—Methods of delaminating, per se; i.e., separating at bonding face
- Y10T156/1111—Using solvent during delaminating [e.g., water dissolving adhesive at bonding face during delamination, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/11—Methods of delaminating, per se; i.e., separating at bonding face
- Y10T156/1153—Temperature change for delamination [e.g., heating during delaminating, etc.]
- Y10T156/1158—Electromagnetic radiation applied to work for delamination [e.g., microwave, uv, ir, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/19—Delaminating means
- Y10T156/1911—Heating or cooling delaminating means [e.g., melting means, freezing means, etc.]
- Y10T156/1917—Electromagnetic radiation delaminating means [e.g., microwave, uv, ir, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/19—Delaminating means
- Y10T156/1928—Differential fluid pressure delaminating means
- Y10T156/1944—Vacuum delaminating means [e.g., vacuum chamber, etc.]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
Abstract
【解決手段】被研削基材と、前記被研削基材と接している接合層と、光吸収剤及び熱分解性樹脂を含む光熱変換層と、光透過性支持体とを含み、
但し、前記光熱変換層は、前記接合層とは反対側の前記被研削基材の表面を研削した後に、放射エネルギー(radiation energy)が照射されたときに分解して、研削後の基材と前記光透過性支持体とを分離するものである、積層体。
【選択図】 なし
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、支持体上に固定されたシリコンウェハなどの被研削基材を支持体から容易に剥離することを可能にする積層体、このような積層体の製造方法及び製造装置並びに薄肉化された基材の製造方法及び製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から種々の分野で被研削基材の薄肉化が求められている。例えば、水晶デバイスの分野では発振周波数を高めるために水晶ウェハの薄肉化が求められている。特に、半導体産業では、パッケージの薄型化やチップ積層技術による高密度化に対する対応のために、半導体ウェハの薄肉化が進められている。薄肉化はパターン形成されたウェハの面とは反対側の面を研削する、いわゆる、裏面研削により行われる。通常、ウェハをバックグラインド保護テープでのみ保持し、裏面研削・搬送する従来の技術では、研削後の保護テープ付きウェハが反ったり、又は、研削時の厚み均一性が低いことなどの問題により、実用的には150μm程度の肉厚までしか薄肉化されえない。例えば、特許文献1は、粘着テープを介してウェハをリング状のフレームに保持し、このフレームに保持されたウェハを裏面研削し、次工程に搬送する方法を開示しているが、現在のウェハ肉厚レベルを大きく改善するには至っていない。
【0003】
ウェハを接着剤を介して硬い支持体に強固に固定して、裏面研削・搬送することも考案されている。このような支持体によってウェハを支持し、裏面研削・搬送の間にその破損を防止しようとするものである。このような方法によると、上記の方法と比較して低い肉厚レベルまでウェハを加工することは可能であるが、極薄肉化されたウェハを破損させずに支持体から剥離することはできず、ウェハの極薄肉化を行う方法としては実施不可能である。
【0004】
【特許文献1】
特開平6−302569号公報(特許請求の範囲)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明は、被研削基材が支持体上に固定された積層体であって、この被研削基材を支持体から容易に剥離することが可能である積層体及び製造方法並びにこのような積層体を用いた極薄基材の製造方法及び製造装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、1つの態様によると、被研削基材と、前記被研削基材と接している接合層と、光吸収剤及び熱分解性樹脂を含む光熱変換層と、光透過性支持体と、を含み、
但し、前記光熱変換層は、前記接合層とは反対側の前記被研削基材の表面を研削した後に、放射エネルギーが照射されたときに分解して、研削後の基材と前記光透過性支持体とを分離するものである、積層体が提供される。
このような積層体では、非常に低い肉厚まで研削された基材を、破損することなく支持体から剥離することが可能である。
【0007】
本発明は、別の態様によると、光吸収剤及び、熱分解性樹脂の溶液又は熱分解性樹脂の原料となるモノマーもしくはオリゴマーを含む光熱変換層前駆体を光透過性支持体上に塗布すること、前記光熱変換層前駆体を乾燥固化又は硬化させて、前記光透過性支持体上に光熱変換層を形成させること、被研削基材又は光熱変換層上に接着剤を適用して、接合層を形成すること、及び、減圧下において、前記被研削基材と前記光熱変換層とを前記接合層を介して接合して、積層体を形成することの工程を含む、上記の積層体の製造方法が提供される。
減圧下において、接合層を介して被研削基材を光透過性支持体に接合することにより、積層体内に気泡や塵などが混入することを防止し、それにより、均一な被研削面を形成することができる。このため、被研削基材の研削後の厚さ均一性を保つことができる。
【0008】
本発明は、さらに別の態様によると、減圧下において、光透過性支持体上に形成された光熱変換層を、接合層を介して被研削基材に積層する、上記の積層体の製造装置であって、
(1)所定の圧力にまで減じられる真空チャンバー、(2)前記真空チャンバー内にあり、被研削基材又は光熱変換層が形成された光透過性支持体のいずれか一方を配置するための支持部、(3)前記真空チャンバー内にありかつ前記支持部の上方において鉛直方向に移動することが可能であり、被研削基材又は光熱変換層が形成された光透過性支持体の他方をその周縁部で保持するとともに、被研削基材と光熱変換層との近接時に開放することができる保持/開放手段、
を含む、積層体の製造装置が提供される。
上記の装置を用いると、減圧下に積層体を製造することで、積層体内に気泡や塵などの混入を防止することができるとともに、保持/開放手段により、積層されるべき表面に損傷を与えない。
【0009】
本発明は、さらに別の態様によると、上記の積層体を用意すること、前記被研削基材を所望の厚さまで研削すること、前記光透過性支持体を介して前記光熱変換層に放射エネルギーを照射して、前記光熱変換層を分解し、研削後の基材と光透過性支持体とを分離すること、及び、前記研削後の基材から接合層を剥離すること、の工程を含む、薄肉化された基材の製造方法が提供される。
このような方法では、まず、支持体上で被研削基材を所望の厚さ(例えば、150μm以下、好ましくは50μm以下、より好ましくは25μm以下)にまで研削した後に、放射エネルギーにより、研削後の基材から支持体が分離されるので、研削後の基材上に残った接合層は基材からピールにより容易に剥離することが可能になる。
【0010】
【発明の実施の形態】
本発明の積層体の1つの重要な構成上の特徴は、被研削基材と光透過性支持体との間に光熱変換層を設けていることである。この光熱変換層はレーザー光などの放射エネルギーの照射により分解し、基材を破損することなく支持体から分離することが可能になる。このため、従来の方法では達成し得ないほど薄肉化した基材を製造することができる。
【0011】
本発明の積層体の幾つかの態様を図1に示す。図1(a)において、積層体1は被研削基材2、接合層3、光熱変換層4及び支持体5をこの順に積層したものである。また、接合層3は、図1(b)に示すように、フィルム6の両面に粘着剤7を設けた両面接着テープ8であってもよい。さらに、接合層3は、図1(c)及び(d)に示すように、光熱変換層4と一体となった両面接着テープ8であってもよい。さらに、図1(e)に示すように、接合層3は光熱変換層4自体が粘着性を有する粘着性光熱変換層4’を含む両面接着テープ8であってもよい。
【0012】
以下において、本発明の積層体を構成する要素について詳述する。
被研削基材
被研削基材としては薄肉化されることが期待される基材である。例えば、従来の方法では薄肉化が困難される脆性材料は被研削基材として考えられる。例えば、シリコンやガリウムヒ素(GaAs)などの半導体ウェハ、水晶ウェハ、サファイヤ又はガラスなどが挙げられる。
【0013】
光透過性支持体
光透過性支持体は本発明において使用されるレーザー光などの放射エネルギーを透過することができるものであり、被研削体を平坦な状態に維持し、研削作業・搬送時に破損しない材料であることが求められる。支持体の光透過性は、光熱変換層への放射エネルギーの透過を妨げずに、実用的な強度の放射エネルギーで光熱変換層の分解を行うことができるものであればよいが、透過率は、例えば、50%以上であることが望ましい。また、研削時の被研削体の反りを防止するために十分な剛性を有することが望ましく、支持体の曲げ剛性は好ましくは2×10−3(Pam3 )以上であり、より好ましくは3×10−2(Pam3 )以上である。有用な支持体としては、ガラス板、アクリル板などが挙げられる。また、光熱変換層などの隣接層との接着力を高めるために、支持体は必要に応じてシランカップリング剤などで表面処理されてもよい。さらに、UV硬化型の光熱変換層や接合層を用いる場合には、支持体が紫外線透過性であることも望ましい。
【0014】
さらに、支持体は、放射エネルギー照射時に光熱変換層で発生する熱、研削時の摩擦熱などにより高温にさらされることがある。或いは、被研削基材を支持体から剥離させる前に、金属膜を形成する目的で蒸着、メッキ、エッチングなどのプロセスを追加することがある。また、特にシリコンウェハの場合、酸化膜を形成するために高温処理される場合がある。このようなプロセス条件に応じて、支持体が耐熱性、耐薬品性、低膨張率を備えた支持体が選択される。このような特性を備えた支持体としては、例えば、パイレックス、テンパックス、コーニング#1737及び#7059(それぞれ商品名)が挙げられる。
【0015】
被研削基材の研削後の厚さの均一性を得るために、支持体の厚さは均一であることが望ましい。例えば、シリコンウェハを50μm以下に薄肉化し、その均一性を±10%以下にするためには、支持体の厚さのばらつきは±2μm以下に抑えるべきである。また、支持体を繰り返し使用することを望むならば、耐スクラッチ性であることも望ましい。また、繰り返し使用のためには、放射エネルギーによる支持体へのダメージを抑制するように、放射エネルギーの波長と支持体とを選択する必要がある。例えば、支持体としてパイレックスガラスを用い、3倍高調波YAGレーザー(355nm)を照射した場合には、支持体と基材との分離を行うことは可能であるが、このような支持体はこのレーザー波長での透過率が低く、放射エネルギーを吸収することになり、結果として、支持体は熱ダメージを受け、再使用できなくなることがある。
【0016】
光熱変換層
光熱変換層は光吸収剤及び熱分解性樹脂を含む。光熱変換層にレーザー光などの形態で照射された放射エネルギーは、光吸収剤によって吸収され、熱エネルギーに変換される。発生した熱エネルギーは光熱変換層の温度を急激に上昇させ、やがてその温度は光熱変換層中の熱分解性樹脂(有機成分)の熱分解温度に達し、樹脂が熱分解する。熱分解によって発生したガスは光熱変換層内でボイド層(空隙)となり、光熱変換層を2つに分離し、支持体と基材は分離される。
【0017】
光吸収剤は、使用する波長の放射エネルギーを吸収するものである。したがって、放射エネルギーとしては、通常、300〜2000nmの波長のレーザー光が考えられ、具体的には、1064nmの波長の光を発生するYAGレーザー、532nmの波長の2倍高調波YAGレーザー、780〜1300nmの波長の半導体レーザーが挙げられる。レーザー光の波長にもよるが、光吸収剤としては、例えば、カーボンブラック、グラファイト粉、鉄、アルミニウム、銅、ニッケル、コバルト、マンガン、クロム、亜鉛、テルルなどの微粒子金属粉末、黒色酸化チタンなどの金属酸化物粉末、あるいは、芳香族ジアミノ系金属錯体、脂肪族ジアミン系金属錯体、芳香族ジチオール系金属錯体、メルカプトフェノール系金属錯体、スクアリリウム系化合物、シアニン系色素、メチン系色素、ナフトキノン系色素、アントラキノン系色素などの染料又は顔料を用いることができる。あるいは、金属蒸着膜を含む膜状の形態などであってもよい。光吸収剤の中で、カーボンブラックは特に有用である。というのは、カーボンブラックは放射エネルギー照射後の基材と支持体との剥離に要する力、すなわち、剥離力を有意に低下させ、分離性を促進するからである。
【0018】
光熱変換層中の光吸収剤の濃度は、光吸収剤の種類、粒子形態(ストラクチャー)及び分散度などによっても異なるが、粒径5〜500nm程度の一般的なカーボンブラックの場合には、通常、5〜70体積%である。5体積%未満の濃度では光熱変換層の発熱が熱分解性樹脂の分解のためには不十分になるおそれがある。また、70体積%を超えると、光熱変換層の成膜性が悪くなり、他の層との接着不良をなどを生じやすくなる。接合層として用いられる接着剤がUV硬化型接着剤である場合には、カーボンブラックの量が多量でありすぎると、接着剤の硬化のための紫外線の透過率が低くなるので、接合層としてUV硬化型接着剤を用いる場合には、カーボンブラックの量は60体積%以下とすべきである。放射エネルギー照射後に支持体を除去する際の剥離力を小さくし、研削中の光熱変換層の磨耗を防止するために、カーボンブラックは光熱変換層中に20〜60体積%の量で含まれることが好ましく、より好ましくは35〜55体積%の量で含まれる。
【0019】
熱分解性樹脂としては、ゼラチン、セルロース、セルロースエステル(例えば、酢酸セルロース、ニトロセルロース)、ポリフェノール、ポリビニルブチラール、ポリビニルアセタール、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリエステル、ポリオルトエステル、ポリアセタール、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、塩化ビニリデンとアクリロニトリルとの共重合体、ポリ(メタ)アクリレート、ポリ塩化ビニル、シリコーン樹脂及び/又はポリウレタン単位を含むブロックコポリマーなどを単独で又は2種以上混合して使用することができる。また、熱分解性樹脂の熱分解によりボイド層を形成して分離した光熱変換層が再接着しないように、樹脂のガラス転移温度(Tg)は室温(20℃)以上であることが望ましく、再接着を防止するために、さらに好ましくはTgは100℃以上である。また、光透過性支持体がガラスである場合には、ガラスと光熱変換層の接着力を高めるために、ガラス表面のシラノール基と水素結合しうる極性基(例えば、−COOH、−OHなど)を分子内に持つ熱分解性樹脂を用いることができる。さらに、ケミカルエッチングなどの薬液処理を必要とする用途への応用では、光熱変換層に耐薬品性を付与するために、熱処理により自己架橋しうる官能基を分子内に持つ熱分解性樹脂や、紫外線・可視光で架橋可能な熱分解性樹脂或いはその前駆体(モノマー・オリゴマーの混合物など)を用いることもできる。また、光熱変換層を図1(e)に示すような粘着性光熱変換層とするためには、例えば、熱分解性樹脂としてポリ(メタ)アクリレートなどから形成された粘着性ポリマーを用いることにより実現できる。
【0020】
透明フィラー
光熱変換層は、必要に応じて、透明フィラーを含むこともできる。透明フィラーは、熱分解性樹脂の熱分解によりボイド層を形成して分離した光熱変換層が再接着しないように作用する。このため、被研削基材の研削後に放射エネルギーを照射した後に、基材と支持体との分離のための剥離力をさらに低くすることができる。また、再接着を防止することができるので、熱分解性樹脂の選択の幅も広がる。透明フィラーとしては、シリカ、タルク、硫酸バリウムが挙げられる。透明フィラーの使用は、特に、UV硬化型接着剤を接合層として使用した場合に特に有利である。というのは、カーボンブラックなどの粒状の光吸収剤を使用した場合に、剥離力を低下させる作用があるが、紫外線の透過を妨げる作用もある。このため、接合層としてUV硬化型接着剤を用いた場合には、その硬化が十分に行えないか、又は、非常に長時間を要することがある。このような場合には、透明フィラーを添加することにより、UV硬化型接着剤の硬化を妨げることなく、放射エネルギー照射後の基材と支持体との剥離容易性を上げることができる。透明フィラーの量は、カーボンブラックなどの粒状光吸収剤を用いる場合には、それとの合計量で決めることができる。光熱変換層中の粒状光吸収剤(例えば、カーボンブラック)と透明フィラーとの総量は光熱変換層の体積を基準にして、5体積%〜70体積%であることが望ましい。このような場合には、基材と支持体との分離のための剥離力が十分に低くなるからである。しかしながら、このような剥離力は粒状光吸収剤及び透明フィラーの粒子形態によっても影響を受ける。すなわち、粒子形態が球形に近い場合よりも、複雑な粒子形態(ストラクチャーの発達した粒子形態)の場合のほうが、少量でも剥離力が有効に低下されることがある。このため、粒状光吸収剤と透明フィラーとの総量は「臨界フィラー体積濃度」を基準に規定されることもある。用語「臨界フィラー体積濃度」とは、粒状光吸収剤と透明フィラーとの混合物が乾燥状態で静置されたときに、その空隙体積をちょうど満たす量の熱分解性樹脂とフィラーが混合されたときのフィラーの体積濃度(CFVC)を意味する。すなわち、粒状光吸収剤と透明フィラーとの混合物の空隙体積をちょうど満たす量の熱分解性樹脂とフィラーが混合されたときのフィラーの体積濃度(CFVC)は臨界フィラー体積濃度の100%であるという。光熱変換層中の粒状光吸収剤と透明フィラーとの総量は、好ましくは、臨界フィラー体積濃度の80%以上であり、より好ましくは90%以上である。このような場合には、エネルギー照射後に、基材と支持体とは容易に剥離される。
【0021】
光熱変換層は、さらに、必要に応じて、他の添加剤を含むこともできる。例えば、熱分解性樹脂をモノマーもしくはオリゴマーの形態で塗布し、その後、重合や硬化を行うことにより層を形成する場合には、光重合開始剤を含んでよい。また、ガラスと光熱変換層の接着力を高めるためのカップリング剤の添加(インテグラルブレンド法)、耐薬品性向上のための架橋剤の添加はそれぞれの目的において有効である。また、光熱変換層の分解による分離を促進するために、低温ガス発生体を含ませることができる。代表的な低温ガス発生体としては発泡剤や昇華剤が利用できる。発泡剤としては、炭酸水素ナトリウム、炭酸アンモニウム、炭酸水素アンモニウム、炭酸亜鉛、アゾジカーボンアミド、アゾビスイソブチロニトリル、N,N’−ジニトロソペンタメチレンテトラミン、p−トルエンスルホニルヒドラジン、p,p−オキシビス(ベンゼンスルホヒドラジド)などが挙げられる。昇華剤としては、2−ジアゾー5,5−ジメチルシクロヘキサン−1,3−ジオン、樟脳、ナフタレン、ボルネアール(borneal)、ブチラミド、バレラミド、4−tert−ブチルフェノール、フラン−2−カルボン酸、無水コハク酸、1−アダマンタノール、2−アダマンタノンなどが挙げられる。
【0022】
光熱変換層は、カーボンブラックなどの光吸収剤と、上記の熱分解性樹脂と溶剤を混合して、前駆体塗布液を形成し、この塗布液を支持体上に塗布し、乾燥することによって形成できる。或いは、熱分解性樹脂の溶液の代わりに、光吸収剤と、上記の熱分解性樹脂の原料となるモノマーもしくはオリゴマーと、場合により、光重合開始剤などの添加剤、さらには必要ならば溶剤を混合して、前駆体塗布液を形成し、この塗布液を支持体上に塗布し、乾燥し、重合・硬化することによっても形成できる。塗布には、スピンコーティング、ダイコーティング、ロールコーティングなどの硬質支持体上への塗布に好適な一般的な塗布法が使用できる。又は、図1(c)〜(e)などの両面テープ中に光熱変換層を形成する場合には、ダイコーティング、グラビアコーティング、ナイフコーティングなどの塗布法を使用して、光熱変換層をフィルム上に形成することができる。
【0023】
一般に、光熱変換層の厚さは、支持体と基材の分離を可能にするかぎり限定されないが、通常は、0.1μm以上である。0.1μm未満であると、十分な光吸収を行うために要求される光吸収剤の濃度が高くなり、このため、成膜性が悪くなり、結果として、隣接層との接着不良を起こすことがあるからである。一方、光熱変換層の熱分解による分離を可能にするために要求される光吸収剤の濃度を一定に保ちつつ、光熱変換層の厚さを5μm以上にすると、光熱変換層(又はその前駆体)の光透過率が低くなる。このため、紫外線(UV)硬化型などの光硬化性の光熱変換層や接合層を用いる場合、それらの硬化が阻害され、十分に硬化された硬化物を得ることができないことがある。よって、紫外線硬化型などの光熱変換層においては、放射エネルギー照射後に支持体から基材を分離するのに要する剥離力を小さくし、研削中の光熱変換層の磨耗を防止するために、光熱変換層の厚さは好ましくは0.3〜3μmであり、より好ましくは0.5〜2.0μmである。
【0024】
接合層
接合層は被研削基材を光熱変換層を介して支持体に固定するために用いられる。光熱変換層における分解による基材と支持体との分離の後には、接合層が付着した基材が得られる。このため、接合層はピールにより基材から容易に剥離されうるものであることが必要である。したがって、接合層は基材を支持体に固定するためには十分な接着力を有するが、ピールにより剥離されうるために十分に低い接着力を有するものである。本発明において、接合層として使用可能な接着剤としては、ゴム、エラストマーなどを溶剤に溶解したゴム系接着剤、エポキシ、ウレタンなどをベースとする一液熱硬化型接着剤、エポキシ、ウレタン、アクリルなどをベースとする二液混合反応型接着剤、ホットメルト型接着剤、アクリル、エポキシなどをベースとする紫外線(UV)もしくは電子線硬化型接着剤、水分散型接着剤が挙げられる。(1)ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート又はポリエステルアクリレートなどの重合性ビニル基を有するオリゴマー及び/又は(2)アクリルもしくはメタクリルモノマーに光重合開始剤、及び、場合により、添加剤を添加したUV硬化型接着剤は好適に使用される。添加剤としては、増粘剤、可塑剤、分散剤、上記透明フィラー以外のフィラー、難燃剤及び熱老化防止剤などが挙げられる。
【0025】
特に、シリコンウェハなどの被研削基材は、回路パターンなどの凹凸を持つのが一般的であるが、被研削基材の凹凸に接合層を充填させ、接合層を均一な厚さとするためには、接合層のために使用される接着剤は塗布時及び貼り合わせ時に液状であることが望ましく、好ましくは、塗布及び貼り合わせ作業の際の温度(例えば、25℃)で、粘度が10000cps未満であることが望ましい。このような液状接着剤は後述する種々の方法の中で、スピンコーティング法により塗布されることが好ましい。このような接着剤としては、UV硬化型、可視光硬化型接着剤が特に好ましい。というのは、上記の理由から、接合層の厚さを均一にすることができることに加えて、工程スピードが速いからである。
また、溶媒系の接着剤では接着剤の溶媒除去後、硬化型接着剤では硬化後、ホットメルト型接着剤では、常温固化後の使用に供される状況において、25℃での接着剤の弾性率が100MPa以上であり、また、50℃での弾性率が10MPa以上であることが望ましい。被研削基材の研削時にかかる応力によって、歪むことがなく、そのため、極薄基材まで均一に被研削基材を研削することが可能になるからである。
【0026】
また、接合層としては図1(b)〜(e)などのような両面接着テープを用いることもできる。このような両面接着テープは、通常、フィルムの両面に粘着剤層が設けられている。使用可能な粘着剤としては、アクリル、ウレタン、天然ゴムなどを主成分とする粘着剤、あるいは、これらに加えて架橋剤を含む粘着剤が挙げられる。好ましくは2−エチルヘキシルアクリレート又はブチルアクリレートを主成分とする共重合体を含む粘着剤である。また、フィルムとしては紙やプラスティックなどのフィルムが用いられる。ここで、フィルムは基材からのピールによる接合層の剥離を可能とするために十分に可撓性であることが必要である。
【0027】
接合層の厚さは被研削基材の研削に必要とされる厚み均一性と、積層体から支持体を除去した後のウェハからの接合層のピール剥離に必要な引き裂き強度を確保し、基材の表面の凸凹を十分に吸収できるものであれば、特に限定されないが、接合層の厚さは典型的には10〜150μmであり、好ましくは25〜100μmである。
【0028】
添加されうる更なる添加剤
本発明の積層体の被研削基材は、回路形成したウェハであることが想定されるので、光透過性支持体、光熱変換層、接合層を透過してウェハに達するレーザー光などの放射エネルギーにより、ウェハ回路がダメージを受けることが考えられる。このような回路ダメージを回避するために、放射エネルギーの波長の光を吸収する染料や反射する顔料を積層体を形成するいずれかの層に含ませるか、或いは、光熱変換層とウェハとの間に新たに設ける層に含ませることもできる。レーザーを吸収する染料としては、使用するレーザー光の波長付近に吸収ピークを持つ染料(例えば、フタロシアニン系染料、シアニン系染料)が挙げられる。レーザー光を反射する顔料としては、酸化チタンなどの無機白色顔料が挙げられる。
【0029】
積層体の製造方法
積層体の製造にあたって、層間に空気などの異物を混入させないことは肝要である。層間に空気が混入すると、積層体の厚さ均一性が妨げられ、結果として被研削基材を薄肉まで研削することができない。図1(a)に示すような積層体を製造する場合には、例えば以下の方法が考えられる。まず、光熱変換層の前駆体塗布液を上記の塗布方法のいずれかにより支持体上に塗布し、乾燥し、紫外線を照射するなどして硬化させる。次に、硬化した光熱変換層の表面、又は、基材の研削されない側の面のいずれか一方又は両方に接合層を塗布する。これらの光熱変換層と基材とを接合層を介して貼り合わせ、支持体側から紫外線を照射するなどして接合層を硬化させることにより積層体を形成することができる。このような積層体の形成は層間への空気の混入を防止するために真空下で行なわれることが望ましい。これは、例えば、特開平11−283279号公報に記載されている真空接着装置に変更を加えたものを用いて行うことができる。また、図1(b)〜(e)に示すような積層体を製造する場合には、まず、通常の方法により事前に形成された両面テープを用いて被研削基材と支持体とを貼り合わせることにより容易に積層体を形成することができる。これも上記の場合と同様に真空下に行なわれることが望ましい。なお、積層体を形成するために使用できる真空接着装置については後述する。
【0030】
なお、積層体は被研削基材の研削中に使用される水が浸入せず、また、基材の脱落が生じないように各層間の接着力を有するように設計され、また、光熱変換層が研削された基材粉塵を含む水流(スラリー)により磨耗されないような耐磨耗性となるように設計されることが望ましい。
【0031】
薄肉化された基材の製造方法
上記のように形成された積層体を用意すること、
被研削基材を所望の厚さまで研削すること、
光透過性支持体を介して光熱変換層に放射エネルギーを照射して、光熱変換層を分解し、被研削基材と光透過性支持体とを分離すること、及び、
研削後の基材から接合層を剥離すること、
の工程を含む方法により、薄肉化された基材を製造することができる。
【0032】
以下において、図面を参照しながら、本発明の方法を説明する。以下、限定するわけではないが、放射エネルギーとして、レーザー光を用いている。また、被研削基材としてはシリコンウェハを用いている。
【0033】
図2には、本発明の積層体を製造するのに適した真空接着装置の断面図を示されている。真空接着装置20は真空チャンバー21、真空チャンバー21内にあり、被研削基材(シリコンウェハ)2又は支持体5のいずれか一方を配置するための支持部22、真空チャンバー21内にありかつ支持部22の上方において鉛直方向に移動することができる、支持体5又はシリコンウェハ2の他方を保持/開放するための保持/開放手段23を含む。真空チャンバー21は真空ライン24及び真空バルブ25を介して減圧装置(図示していない)に接続されており、真空チャンバー21内を減圧することができるようになっている。また、上記の保持/開放手段23は、鉛直方向に上下に移動することができるシャフト26、シャフト26の先端にある接面部27、接面部27の周辺部にある板ばね28、板ばね28上から延びている保持用ツメ29を具備している。図2(a)に示すように、板バネ28は真空チャンバー21の上面と接しているときには、板バネ28が圧縮されて、保持用ツメ29が鉛直方向に向けられ、支持体5又はウェハ2を周縁部で保持するようになっている。一方、図2(b)に示すように、シャフト26を下方に押し下げ、支持体5又はウェハ2が支持部に配置されているウェハ2又は支持体5と近接したときに、板バネ28とともに保持用ツメ29は開放されて、支持体5とウェハ2が重ね合わされるようになっている。
この真空接着装置20を用いて、具体的には、以下のとおりに積層体が製造できる。まず、上記のとおりに、支持体上に光熱変換層を形成し、光熱変換層が形成された支持体5を用意する。一方、積層しようとするウェハ2を用意する。ここで、支持体5の光熱変換層及びウェハ2のいずれか一方又は両方の上に接合層を形成するための接着剤を適用する。このように、用意された支持体5及びウェハ2を上記のとおりに真空接着装置20の真空チャンバー21内に図2(a)のように配置し、減圧装置で減圧し、その後、シャフト26を押し下げて、図2(b)に示すように積層し、大気開放した後に、さらに、必要に応じて、接着剤を硬化させることにより積層体が得られる。
【0034】
図3には、研削装置の部分断面図が示されている。研削装置30は、台座31と、スピンドル32の下端部に回転可能に取り付けられた研削砥石33を含む。台座31の下方には吸引口24があり、吸引口34は減圧装置(図示しない)に連結されている。これにより、被研削体は吸引され、研削装置30の台座31に固定される。図1に示されるような本発明の積層体1を用意し、これを被研削体とする。積層体1の支持体側を研削装置30の台座31に設置し、減圧装置による吸引で固定する。その後、積層体1に水流を与えながら、回転している研削砥石33を接触させ、研削を行う。研削は150μm以下の極薄肉まで行うことができ、好ましくは50μm以下まで行われ、さらに好ましくは25μm以下まで行われる。
【0035】
所望のレベルまで研削を行った後に、積層体1を取り外し、次の工程に搬送し、レーザー光によるウェハと支持体との分離及びウェハからの接合層の剥離の工程が行われる。図4は、支持体の分離及び接合層の剥離の工程図を示している。まず、最終的なダイシングの工程を考慮して、積層体1のウェハ側に必要な場合にはダイボンディングテープ41を配置し(図4(a))、又は、ダイボンディングテープ41を配置せず(図4(a′))、その後、ダイシングテープ42及びダイシングフレーム43を配置する(図4(b))。次に、積層体1の支持体側からレーザー光44の照射を行う(図4(c))。レーザー光の照射後に、支持体5を引き上げ、ウェハ2から支持体5を分離する(図4(d))。最後に、接合層3をピールにより剥離し、薄肉化されたシリコンウェハ2を得ることができる(図4(e))。
【0036】
図5には、レーザー光照射工程などに使用できる積層体固定装置の断面図が示されている。積層体1は固定装置50に対して支持体が上面となるように固定台51上に設置される。固定台51は焼結金属などの多孔質金属又は表面粗さをもった金属から形成されている。このような固定台51の下方から真空装置(図示していない)により減圧することにより、積層体1を固定台51に吸引により固着させる。この真空吸引力は後の工程の支持体の分離及び接合層のピール剥離の際に脱落しない程度に強固なものであることが望まれる。このように固定した積層体に対してレーザー光を照射する。レーザー光としては、光熱変換層が吸収する光の波長で、この光熱変換層の熱分解性樹脂が分解して分解ガスを発生し、支持体とウェハとを分離するのに十分であるような出力をもったレーザー光源が選択される。具体的には、YAGレーザー(波長1064nm)、2倍高調波YAGレーザー(波長532nm)、半導体レーザー(波長780〜1300nm)を用いることができる。
【0037】
レーザー照射装置としては被照射面に所望のパターンが形成されるようなレーザービームを走査することができかつレーザー出力、ビーム移動速度を設定することができるものを選択する。また、被照射物(積層体)の加工品質を安定化させるために、焦点深度が深いものを選ぶ。装置設計上の寸法精度にも依存するので特に限定されないが、30μm以上の焦点深度が望ましい。図6には本発明で使用可能なレーザー照射装置の斜視図が示されている。図6(a)のレーザー照射装置60はX軸及びY軸からなる二軸構成のガルバノメータを備えているものであり、レーザー発振器61から発振されたレーザー光はY軸ガルバノメータ62で反射し、さらにX軸ガルバノメータ63で反射して固定台上の積層体1に照射されるようになっている。照射位置はガルバノメータ62及び63の向きにより決まる。図6(b)のレーザー照射装置60は、一軸のガルバノメータ又はポリゴンミラー64及びそれらのスキャン方向に直交する向きに可動するステージ66を備えたものである。レーザー発振器61からのレーザー光はガルバノメータ又はポリゴン64で反射し、さらにホールドミラー65で反射して、可動ステージ66上の積層体1に照射される。照射位置はガルバノメータ又はポリゴン64の向き及び可動ステージ66の位置により決まる。図6(c)はレーザー発振器61をXYの2軸方向に移動する可動ステージ66に載せ、積層体1の全面にレーザーを照射するものであり、図6(d)は固定されたレーザー発振器61と、積層体1がXYの2軸方向に移動する可動ステージ66からなるものである。また、図6(e)は1軸方向に移動することができる可動ステージ66’にレーザー発振器61を載せ、それに直交する方向に移動することができる可動ステージ66”に積層体1を載せた構成である。
レーザー照射によって、積層体1のウェハへのダメージが懸念される場合には、隣接領域へのダメージを抑制するために、急峻なエネルギー分布をもち、隣接領域への漏れエネルギーが僅かであるように、トップハット形状(図6(f)参照)にすることが望ましい。そのようにビーム形状を変える方法として、(a)音響・光学素子によりビームを偏向させる方法、屈折・回折を利用してビームを成型する方法、(b)アパチャー、スリットなどを使って、ビームの両端の広がり部分をカットする方法などがある。
【0038】
レーザー照射エネルギーはレーザーパワー、ビームのスキャン速度及びビーム径で決まる。特に限定するわけではないが、使用可能なレーザーパワーは、例えば、0.3〜100ワット(W)であり、スキャン速度は0.1〜40メートル/秒(m/秒)であり、ビーム径は5μm〜300μmあるいはそれ以上である。この工程の速度を高めるためには、レーザーパワーを高くして、それにより、スキャン速度を上げることである。また、ビーム径が大きいほど、スキャン回数を減らすこともできるので、レーザーパワーに余裕がある場合にはビーム径を上げることも考えられる。
【0039】
レーザーの照射によって光熱変換層中の熱分解性樹脂が分解してガスが発生し、層内部に亀裂が生じて光熱変換層自体が分離する。この亀裂部同士の間に空気が入り込むと、亀裂部同士の再接着を防止することができる。そこで、空気の侵入を容易にするように、ビームの走査は積層体の端部から行ない、かつ隙間なく行うことが望ましい。
また、光熱変換層は上記のとおり、ガラス転移温度(Tg)が室温(20℃)以上であることが望ましいことを記述した。これは、分解した樹脂の冷却時に、分離された亀裂部同士が再接着することにより、剥離できなくなることがあるからである。再接着は支持体の自重により、光熱変換層の亀裂部同士が付着することにより生じるものと考えられる。このため、レーザー照射は鉛直方向下方から上方に向けて行うか(すなわち、支持体が下側になるような配置でレーザー照射する)、或いは、ウェハと光熱変換層との間に端部からフックを挿入して上方に引き上げるなどして、支持体の自重がかからないように工夫することにより再接着を防止することができる。
【0040】
レーザー光を積層体の端部から照射するためには、端部からウェハの接線方向に直線状に往復しながら照射していく方法と、レコードのように端部から中央にむかってスパイラル状に照射していく方法が考えられる。
【0041】
レーザー照射後に、ウェハから支持体を分離するが、この作業には、一般的なバキュームによるピックアップが用いられる。ピックアップは真空装置に連結された筒状部材の先端に吸盤が装着されたものである。図7には、ウェハと支持体との分離操作に用いられるピックアップの模式図を示す。図7(a)の場合には、ピックアップ70は支持体5の中央に装着し、垂直方向に引き上げることにより引き剥がす。あるいは、図7(b)に示すように、支持体5の端部にピックアップ70を装着し、ウェハ2と支持体5との間に空気が入り込むように側部から圧縮空気(A)を吹き付けながら剥離することで、より容易に剥離させることも可能である。
【0042】
支持体を除去した後に、ウェハ上の接合層を除去する。図8には、接合層の剥離の様子を示す模式図が示されている。接合層3の除去には、好ましくは、ウェハ2と接合層3との接着力よりも高い接着力を接合層3との間に形成することができる接合層除去用粘着テープ80を用いることができる。このような粘着テープ80を接合層3の上に接着させ、次いで、矢印の方向にピールすることにより、接合層3は除去される。
【0043】
最終的に、ダイシングテープ及びダイフレームに固定された、薄肉化されたウェハ、あるいは、ダイボンディングテープを介してダイシングテープ及びダイフレームに固定化された、薄肉化されたウェハが残る。このようなウェハを通常の要領でダイシングすることにより、チップが完成する。しかしながら、ダイシングはレーザー照射前に行うことも可能である。このような場合には、支持体上に支持された状態でダイシングを行い、その領域のみにレーザー照射を行い、チップ化された箇所のみを剥離させることもできる。また、研削によって薄肉化されたウェハを、ダイシングテープでなく、光熱変換層に設けた光透過性支持体に、接合層を介して、再度転写することにより、本発明をダイシング工程に別途応用することも可能である。
【0044】
本発明の用途
本発明は、例えば、以下の用途に用いる場合に有効である。
1.高密度実装を目指した積層型CSP(Chip Size Package)
これは複数のLSIや受動部品を単一のパッケージに収め、多機能化や高性能化を実現するシステムインパッケージと呼ばれるデバイス形態の1つで、スタックドマルチチップパッケージと呼ばれるものである。本発明によれば、25μm以下のウェハを安定的に歩留まりよく、製造することができるので、この用途に有効である。
2.高機能化・高速化を要求する貫通型CSP
これは貫通電極により、チップ間を接続することで、配線長さを短縮して電気的特性を向上させるものである。貫通電極を形成するための貫通孔の形成、貫通孔への銅(Cu)の埋め込みなどの技術的課題からチップ厚をさらに薄くすることが望まれている。このような構成のチップを本発明の積層体を用いて順次形成していく場合には、ウェハの裏面に絶縁膜及びバンプ(電極)を形成する必要があり、積層体に耐熱性及び耐薬品性が要求される。このような場合にも、上記のような支持体、光熱変換層及び接合層の選択を行えば、本発明を有効に応用することが可能である。
3.放熱効率を改善し、電気特性・安定性を向上させた極薄化合物半導体(GaAsなど)
ガリウムヒ素などの化合物半導体はシリコンよりも優れた電気特性(高い電子移動度、直接遷移型バンド構造)から、高性能ディスクリートチップ、レーザーダイオードなどに用いられている。それらの性能は本発明の積層体を用いることで、チップを薄くし、放熱効率を上げることにより改善される。現状では、グリースやレジスト材で支持体であるガラス基板に半導体ウェハを接合させて、薄研削及び電極形成を行っている。このため、プロセス終了後のガラス基板からのウェハの剥離には溶剤などによる接合材の溶解が必要である。したがって、剥離に要する時間が数日以上といった長時間にわたることに加えて、廃液処理の問題がある。本発明の積層体を用いた場合には、このような問題を解決することができる。
4.生産性改善のための大型ウェハへの応用
大型ウェハ(例えば、12インチ直径のシリコンウェハ)では、ウェハと支持体との剥離の容易性が非常に重要であり、本発明の積層体を用いた場合には、容易に剥離が可能であるため、この分野にも応用ができる。
5.極薄水晶ウェハ
水晶デバイスの分野では、発振周波数を高めるために、ウェハの薄型化が求められている。本発明の積層体を用いた場合には、容易に剥離が可能であるため、この分野にも応用ができる。
【0045】
【実施例】
以下において実施例により、本発明をさらに説明する。
予備試験
まず、種々のレーザー光照射条件を用いて、支持体とウェハとの剥離性を評価した。剥離性は、レーザー光照射による光熱変換層の分解の程度に依存するので、薄肉化されたウェハの代わりにガラス基板を用いた。光透過性支持体として、127mm×94mm×0.7mmのガラス基板を用い、ウェハの代わりとして上記と同一のガラス基板を用いた。先ず、ガラス基板に下記の表1に記載される組成の光熱変換層前駆体の10%溶液(プロピレングリコールメチルエーテルアセテート溶剤中)をスピンコートにより塗布する。
【0046】
【表1】
【0047】
これを加熱により乾燥し、紫外線(UV)照射して硬化させて支持体上に光熱変換層を形成した。一方、もう一枚のガラス基板に下記の表2に記載される組成の接合層前駆体を滴下により塗布し、基板同士を貼り合せて、それにUV照射して接合層前駆体を硬化させて、積層体を得た。
【0048】
【表2】
【0049】
この積層体はガラス基板/光熱変換層/接合層/ガラス基板の構成であり、光熱変換層の厚さは0.9μmであり、接合層の厚さは100μmであった。このような積層体を図4に示すような積層体固定装置の固体台の上に配置し、固定台の下方から真空装置により減圧することにより、積層体を固定台に吸引により固定した。放射エネルギーを構成するレーザー光としてYAGレーザー(波長1064nm)を用い、レーザー出力を0.52〜8.00Wで変化させ、ビーム径及び走査ピッチを同一として90〜200μmで変化させ、レーザースキャン速度を0.2〜5m/秒で変化させて、レーザー光を積層体の端部から直線状に往復しながら照射して、積層体の全面にレーザー光を照射した。
このようにレーザー照射した積層体のガラス基板に粘着テープ(Scotch粘着テープ#3303、3M社製)を付着させ、それを引き上げた。
【0050】
以上の予備試験により、レーザー出力6.0〜8.0W、ビーム径及び走査ピッチ100〜200μm、レーザースキャン速度0.2〜2.0m/秒でガラス基板同士が良好に剥離されることが判った。
【0051】
実施例1
光透過性支持体として、直径220mm×厚さ1.0mmのガラス基板を用い、ウェハとして、直径200mm×厚さ750μmのシリコンウェハを用いた。ガラス基板に上記の表1に記載される組成の光熱変換層前駆体の10%溶液(プロピレングリコールメチルエーテルアセテート溶剤中)をスピンコートにより塗布する。これを加熱により乾燥し、紫外線(UV)照射して硬化させて支持体上に光熱変換層を形成した。一方、ウェハに上記の表2に記載される組成の接合層前駆体を同様にスピンコートにより塗布し、図2に示すような真空接着装置内でガラス基板とウェハとを貼り合せて、それにUV照射して接合層前駆体を硬化させて、積層体を得た。この積層体はガラス基板/光熱変換層/接合層/シリコンウェハの構成であり、光熱変換層の厚さは0.9μmであり、接合層の厚さは100μmであり、接着面積は314cm2であった。
【0052】
得られた積層体を図3に示すような研削装置に設置し、積層体に水流を与えながら、回転している研削砥石を接触させ、研削を行った。研削はウェハの厚さが50μmになるまで行った。研削後のウェハ側にダイシングテープ及びダイシングフレームを配置した後、積層体を図5に示すような積層体固定装置の固定台の上に搬送し、固定台の下方から真空装置により減圧することにより、積層体を固定台に吸引により固定した。
【0053】
上記の予備試験の結果から、レーザー出力6.0W、ビーム径及び走査ピッチ100μm、レーザースキャン速度1.0m/秒としてYAGレーザー(波長1064nm)によるレーザー照射を行うことにした。レーザー光を積層体の端部から接線方向に直線状に往復しながら照射して、積層体の全面にレーザー光を照射した。このようにレーザー照射した積層体のガラス基板に吸盤を付着させ、それを引き上げた。これにより、ウェハからガラス基板を容易に剥離して、接合層を有するウェハを得た。
【0054】
ウェハから接合層を剥離するために、接合層の面に粘着テープ(Scotch粘着テープ#3303、3M社製)を付着させ、180°の方向にピールすることにより、50μmの厚さのシリコンウェハを損傷させることなく得ることができた。
【0055】
実施例2
本例において、実施例1と同様に試験したが、以下の変更を加えた。光熱変換層前駆体として、下記表3に記載される組成の固形分比を有する20%溶液(プロピレングリコールメチルエーテルアセテート中)を用いた。また、レーザー光照射時にガラス基板の自重による再接着を防止するために、ガラス基板の端部にL字型フックを挿入し、ばねで上方に吊り上げるようにして、レーザー光照射時のガラス基板の自重による再接着を防止した。実施例1と同様に、50μmの厚さのシリコンウェハを損傷させることなく得ることができた。
【0056】
【表3】
【0057】
実施例3
本例において、実施例2と同様に試験したが、光熱変換層前駆体として、下記表4に記載される組成の固形分比を有する10%溶液(プロピレングリコールメチルエーテルアセテート中)を用いた。光熱変換層前駆体はカーボンブラックを含むポリマー溶液であり、従って、乾燥のみにより光熱変換層を形成した。
【0058】
【表4】
【0059】
同様の操作により、実施例1と同様に、50μmの厚さのシリコンウェハを損傷させることなく得ることができた。
【0060】
比較例1
光熱変換層を用いず、接合層の代わりに、両面粘着テープ(Scotch両面粘着テープ、3M社製、75μm厚さで、軽剥離粘着層/PET(ポリエチレンテレフタレート)基材/重剥離粘着層)を用いて、シリコンウェハ/粘着テープ/ガラス基板からなる積層体とした以外は実施例1と同様に試験した。シリコンウェハは剥離することができなかった。
【0061】
実施例4〜10
以下において、種々の組成及び厚さの光熱変換層を用い、そして接合層として、上記の実施例1〜3で用いたのと同一の組成の接着剤(高弾性率型接着剤)及び下記の組成の接着剤(低弾性率型接着剤)を用いて、上記実施例1〜3と同様に試験した。なお、接合層の厚さは50μmとした。また、シリコンウェハの研削は25μmまで行った。以下に、各実施例での光熱変換層の組成と厚さ及び接合層の組成を表5及び6に示す。実施例4〜6においては、透明フィラーとしてシリカを含有させた。
【0062】
【表5】
【0063】
【表6】
【0064】
試験において、実施例1に記載される手順でウェハとガラス基板との剥離を行った。試験結果を以下の表7に示す。
【0065】
【表7】
【0066】
上記のとおり、高弾性率型接合層を用いた場合には、実施例4〜10の全ての場合において、ガラス基板と25μmのウェハとを容易に分離することができた。一方、低弾性率型接合層を用いた場合には、FVC/CFVCが80%以下である実施例6、8〜10では、容易にガラス基板とウェハとを分離することができなかった。実施例8は、FVC/CFVCが80%以上であったが、光熱変換層の厚さが0.3μmと小さかったので、分離面に接合層が局所的に露出する現象のために、再接着が起こり、剥離力が大きくなった。これらの実施例6、8〜10については、再度、試験用サンプルを製造し、実施例2及び3に記載されるように、再接着防止機構(L字フックとバネによる吊り下げ機構)を用いて、実施例2及び3と同様に試験した。このような場合には、ガラス基板と25μmのウェハとを容易に分離することができた。また、カーボンブラックだけでなく、シリカを用いた、実施例4及び5では、FVC/CFVCが80%以上であっても、2%程度の紫外線(365nm)透過率が確保でき、短時間でUV硬化型接着剤を用いた接合層を硬化することができた。
【0067】
【発明の効果】
本発明の積層体は、非常に低い肉厚まで研削された基材を、破損することなく支持体から剥離することが可能である。レーザー光などの放射エネルギーにより、支持体と基材とを分離するので、接合層は基材からピールにより容易に剥離することが可能になり、非常に極薄化された基材を破損させることなく製造することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の幾つかの態様を示す断面図である。
【図2】本発明の方法に使用できる真空接着装置の断面図である。
【図3】本発明の方法に使用できる研削装置の部分断面図である。
【図4】支持体の分離及び接合層の剥離の工程図である。
【図5】レーザー光照射工程に使用できる積層体固定装置の断面図である。
【図6】レーザー照射装置の斜視図である。
【図7】ウェハと支持体との分離操作に用いられるピックアップの模式図である。
【図8】ウェハからの接合層の剥離の様子を示す模式図である。
【符号の説明】
1…積層体
2…被研削基材
3…接合層
4…光熱変換層
5…支持体
20…真空接着装置
30…研削装置
50…積層体固定装置
60…レーザー照射装置
70…ピックアップ
80…接合層除去用粘着テープ
Claims (15)
- 被研削基材と、
前記被研削基材と接している接合層と、
光吸収剤及び熱分解性樹脂を含む光熱変換層と、
光透過性支持体と、
を含み、
但し、前記光熱変換層は、前記接合層とは反対側の前記被研削基材の表面を研削した後に、放射エネルギーが照射されたときに分解して、研削後の基材と前記光透過性支持体とを分離するものである、積層体。 - 前記被研削基材は脆性材料である、請求項1記載の積層体。
- 前記被研削基材はシリコンウェハである、請求項1記載の積層体。
- 前記光吸収剤はカーボンブラックを含む、請求項1〜3のいずれか1項記載の積層体。
- 前記光熱変換層は透明フィラーをさらに含む、請求項1〜4のいずれか1項記載の積層体。
- 前記透明フィラーはシリカである、請求項5記載の積層体。
- 前記光吸収剤はカーボンブラックであり、前記光熱変換層中の前記カーボンブラックと前記透明フィラーとの総量は前記光熱変換層の体積を基準にして、5体積%〜70体積%である、請求項5又は6記載の積層体。
- 前記光吸収剤はカーボンブラックであり、前記光熱変換層中の前記カーボンブラックと前記透明フィラーとの総量は臨界フィラー体積濃度の80%以上である、請求項5又は6記載の積層体。
- 前記光熱変換層は前記光熱変換層の体積を基準にして5〜70体積%のカーボンブラックを含む、請求項1記載の積層体。
- 前記支持体はガラスである、請求項1〜9のいずれか1項記載の積層体。
- 前記接合層は光硬化型接着剤である、請求項1〜10のいずれか1項記載の積層体。
- 光吸収剤及び、熱分解性樹脂の溶液又は熱分解性樹脂の原料となるモノマーもしくはオリゴマーを含む光熱変換層前駆体を光透過性支持体上に塗布すること、
前記光熱変換層前駆体を乾燥固化又は硬化させて、前記光透過性支持体上に光熱変換層を形成させること、
被研削基材又は光熱変換層上に接着剤を適用して、接合層を形成すること、及び、
減圧下において、前記被研削基材と前記光熱変換層とを前記接合層を介して接合して、積層体を形成すること、
の工程を含む、請求項1〜11のいずれか1項記載の積層体の製造方法。 - 減圧下において、光透過性支持体上に形成された光熱変換層を、接合層を介して被研削基材に積層する、請求項1〜11のいずれか1項記載の積層体の製造装置であって、
(1)所定の圧力にまで減じられる真空チャンバー、
(2)前記真空チャンバー内にあり、被研削基材又は光熱変換層が形成された光透過性支持体のいずれか一方を配置するための支持部、
(3)前記真空チャンバー内にありかつ前記支持部の上方において鉛直方向に移動することが可能であり、被研削基材又は光熱変換層が形成された光透過性支持体の他方をその周縁部で保持するとともに、被研削基材と光熱変換層との近接時に開放することができる保持/開放手段、
を含む、積層体の製造装置。 - 請求項1〜11のいずれか1項記載の積層体を用意すること、
前記被研削基材を所望の厚さまで研削すること、
前記光透過性支持体を介して前記光熱変換層に放射エネルギーを照射して、前記光熱変換層を分解し、研削後の基材と光透過性支持体とを分離すること、及び、
前記研削後の基材から接合層を剥離すること、
の工程を含む、薄肉化された基材の製造方法。 - 請求項1〜11のいずれか1項記載の積層体の被研削基材を研削するための手段、
前記光透過性支持体を介して前記光熱変換層に放射エネルギーを照射して、前記光熱変換層を分解し、研削後の基材と光透過性支持体とを分離するために十分な放射エネルギーを放射することができる、放射エネルギー照射手段、及び、
前記研削後の基材から接合層を剥離するための手段、
を含む、薄肉化された基材の製造装置。
Priority Applications (15)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002350247A JP4565804B2 (ja) | 2002-06-03 | 2002-12-02 | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 |
CN201110216992.8A CN102420114B (zh) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | 层压体以及用该层压体制造超薄基片的方法和设备 |
PCT/US2003/017236 WO2004006296A2 (en) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | Laminate body and corresponding methods and apparatus |
TW092114913A TWI282753B (en) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
US10/513,953 US7534498B2 (en) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
AU2003278696A AU2003278696A1 (en) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | Laminate body and corresponding methods and apparatus |
MYPI20032038A MY141078A (en) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
KR1020047019583A KR101017474B1 (ko) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | 적층체 및 이 적층체를 사용하여 초박형 기판을 제조하는방법 및 장치 |
CN03812196.4A CN1703773B (zh) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | 层压体以及用该层压体制造超薄基片的方法和设备 |
EP03762984.7A EP1550156B1 (en) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | Laminated body with substrate to be thinned and corresponding method of manufacture |
KR1020107022239A KR101084439B1 (ko) | 2002-06-03 | 2003-06-02 | 적층체 및 이 적층체를 사용하여 초박형 기판을 제조하는 방법 및 장치 |
US12/360,869 US7988807B2 (en) | 2002-06-03 | 2009-01-28 | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
US12/581,274 US8789569B2 (en) | 2002-06-03 | 2009-10-19 | Apparatus for manufacturing ultrathin substrate using a laminate body |
US12/603,775 US8038839B2 (en) | 2002-06-03 | 2009-10-22 | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
US13/213,553 US8800631B2 (en) | 2002-06-03 | 2011-08-19 | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002161846 | 2002-06-03 | ||
JP2002350247A JP4565804B2 (ja) | 2002-06-03 | 2002-12-02 | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009087422A Division JP5048707B2 (ja) | 2002-06-03 | 2009-03-31 | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004064040A true JP2004064040A (ja) | 2004-02-26 |
JP4565804B2 JP4565804B2 (ja) | 2010-10-20 |
Family
ID=30117355
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002350247A Expired - Lifetime JP4565804B2 (ja) | 2002-06-03 | 2002-12-02 | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8789569B2 (ja) |
EP (1) | EP1550156B1 (ja) |
JP (1) | JP4565804B2 (ja) |
KR (2) | KR101017474B1 (ja) |
CN (1) | CN102420114B (ja) |
AU (1) | AU2003278696A1 (ja) |
MY (1) | MY141078A (ja) |
TW (1) | TWI282753B (ja) |
WO (1) | WO2004006296A2 (ja) |
Cited By (119)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008044327A1 (fr) * | 2006-10-12 | 2008-04-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | procédé pour protéger la surface du circuit d'une plaquette et pour réduire l'épaisseur de la plaquette |
CN100405554C (zh) * | 2005-06-24 | 2008-07-23 | 精工爱普生株式会社 | 半导体装置的制造方法 |
JP2008306149A (ja) * | 2007-07-24 | 2008-12-18 | Hoya Candeo Optronics株式会社 | ウエハ支持ガラス |
JP2009155652A (ja) * | 2002-06-03 | 2009-07-16 | Three M Innovative Properties Co | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 |
JP2010098072A (ja) * | 2008-10-15 | 2010-04-30 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 半導体装置の製造方法及びそのための装置 |
JP2010140948A (ja) * | 2008-12-09 | 2010-06-24 | Casio Computer Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2010153812A (ja) * | 2008-12-23 | 2010-07-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 半導体構造を形成する方法およびその半導体構造(半導体基板を薄化する方法) |
JP2011076767A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Dainippon Printing Co Ltd | 積層体、準備用支持体、積層体の製造方法、及びデバイスの製造方法 |
US7947586B2 (en) | 2009-02-04 | 2011-05-24 | Fuji Electric Systems Co., Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor device |
JP2011134772A (ja) * | 2009-12-22 | 2011-07-07 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Soi半導体基板製造方法およびsoi半導体基板製造装置 |
US8021964B2 (en) | 2006-06-27 | 2011-09-20 | 3M Innovative Properties Company | Method of producing segmented chips |
JP2011243905A (ja) * | 2010-05-21 | 2011-12-01 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
KR20110133440A (ko) | 2010-06-04 | 2011-12-12 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 임시 접착재 조성물 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
JP2012079856A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Shibaura Mechatronics Corp | 保護体、基板積層体、貼り合わせ装置、剥離装置、および基板の製造方法 |
JP2012079871A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Shibaura Mechatronics Corp | 支持基板、基板積層体、貼り合わせ装置、剥離装置、および基板の製造方法 |
WO2012056969A1 (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-03 | 東京応化工業株式会社 | 積層体、およびその積層体の分離方法 |
WO2012056867A1 (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-03 | 東京応化工業株式会社 | 積層体、およびその積層体の分離方法 |
KR20120052866A (ko) | 2010-11-15 | 2012-05-24 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 적층체, 및 분리 방법 |
JP4962881B2 (ja) * | 2008-05-22 | 2012-06-27 | 富士電機株式会社 | 半導体装置の製造方法及びそのための装置 |
EP2475002A1 (en) | 2011-01-11 | 2012-07-11 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive composition, and method of producing thin wafer |
EP2518099A1 (en) | 2011-04-26 | 2012-10-31 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Organopolysiloxane, temporary adhesive compositon containing organopolysiloxane, and method of producing thinned wafer using the same |
WO2012172932A1 (ja) * | 2011-06-17 | 2012-12-20 | 日東電工株式会社 | 粘着フィルム |
JP2013001888A (ja) * | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Three M Innovative Properties Co | 部材接合方法及び部材接合装置 |
EP2578656A1 (en) | 2011-10-07 | 2013-04-10 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive composition and method for manufacturing thin wafer using the same |
EP2587530A2 (en) | 2011-10-28 | 2013-05-01 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary bonding arrangement, and thin wafer manufacturing method |
JP2013110352A (ja) * | 2011-11-24 | 2013-06-06 | Jsr Corp | 基材の処理方法、半導体装置および仮固定用組成物 |
JP2013126723A (ja) * | 2011-12-16 | 2013-06-27 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体及び分離方法 |
JP2013149655A (ja) * | 2012-01-17 | 2013-08-01 | Tokyo Electron Ltd | 剥離装置、剥離システム、剥離方法および剥離プログラム |
EP2634794A1 (en) | 2012-02-28 | 2013-09-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer-adhesive-support composite, wafer support with adhesive layer for processing wafer, adhesive layer for use in temporarily supporting wafer during processing, and method of manufacturing a thin wafer |
JP2013534721A (ja) * | 2010-06-16 | 2013-09-05 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ウェーハ支持システム用の変換層を加熱するために光学的調整を施した金属化光 |
EP2657963A2 (en) | 2012-04-24 | 2013-10-30 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer-adhesive-support composite, wafer support with adhesive layer for processing wafer, adhesive layer for use in temporarily supporting wafer during processing, and method of manufacturing a thin wafer |
JP2014013801A (ja) * | 2012-07-03 | 2014-01-23 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体 |
JPWO2012053463A1 (ja) * | 2010-10-21 | 2014-02-24 | 住友ベークライト株式会社 | 電子装置の製造方法およびそれを用いてなる電子装置、電気、電子部品の製造方法およびそれを用いてなる電気、電子部品 |
JP2014049537A (ja) * | 2012-08-30 | 2014-03-17 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウェーハの加工方法 |
KR20140039310A (ko) | 2011-06-24 | 2014-04-01 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 적층체의 제조 방법, 기판의 처리 방법 및 적층체 |
JP2014069494A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体の製造方法および積層体 |
EP2738797A2 (en) | 2012-11-30 | 2014-06-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary adhering material for processing wafer, and manufacturing method of thin wafer |
JP2014176831A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Lintec Corp | 光照射装置および照射方法 |
WO2014157439A1 (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-02 | 富士フイルム株式会社 | 半導体装置製造用仮接合用積層体、および、半導体装置の製造方法 |
WO2014163188A1 (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-09 | 富士電機株式会社 | 半導体デバイスの製造方法 |
JP2015076570A (ja) * | 2013-10-11 | 2015-04-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 剥離装置、剥離システム、剥離方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 |
JP2015513211A (ja) * | 2012-01-30 | 2015-04-30 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 一時的な基板支持のための装置、複合積層体、方法、及び材料 |
US9023172B2 (en) | 2012-02-08 | 2015-05-05 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd | Method of manufacturing laminate |
JP2015098565A (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 東京応化工業株式会社 | 処理方法 |
US9048311B2 (en) | 2010-10-29 | 2015-06-02 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Laminate and method for separating the same |
JP2015518270A (ja) * | 2012-03-20 | 2015-06-25 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 一時的基板支持体及び支持体分離のための積層体、方法、並びに材料 |
WO2015115060A1 (ja) | 2014-01-29 | 2015-08-06 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
KR20150122068A (ko) | 2014-04-22 | 2015-10-30 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 접착제 조성물, 적층체 및 박리 방법 |
JP2015224316A (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-14 | デンカ株式会社 | 仮固定用接着剤組成物、それを用いた部材の仮固定方法 |
EP2955211A1 (en) | 2014-06-10 | 2015-12-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive material for wafer processing, wafer processing laminate, and method for manufacturing thin wafer using same |
EP3000596A1 (en) | 2014-09-26 | 2016-03-30 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
US9334424B2 (en) | 2012-05-08 | 2016-05-10 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive for wafer processing, member for wafer processing using the same, wafer processed body, and method for producing thin wafer |
WO2016071788A1 (en) * | 2014-11-07 | 2016-05-12 | International Business Machines Corporation | Low temperature adhesive resins for wafer bonding |
EP3037495A1 (en) | 2014-12-25 | 2016-06-29 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
EP3038148A1 (en) | 2014-12-24 | 2016-06-29 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer temporary bonding method and thin wafer manufacturing method |
JP2016138182A (ja) * | 2015-01-27 | 2016-08-04 | デンカ株式会社 | 仮固定用接着剤組成物、それを用いた部材の仮固定方法及び硬化体残渣の除去方法 |
JP2016525801A (ja) * | 2013-08-01 | 2016-08-25 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーションInternational Business Machines Corporation | 中波長赤外線アブレーションを用いるウェハ剥離 |
JP2016531445A (ja) * | 2013-08-22 | 2016-10-06 | マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー | キャリア−基材接着システム |
US9472438B2 (en) | 2012-10-11 | 2016-10-18 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary adhering material for processing wafer, and manufacturing method of thin wafer |
KR20160132851A (ko) | 2014-03-18 | 2016-11-21 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 가접착재, 및 박형 웨이퍼의 제조방법 |
KR20160148612A (ko) | 2014-04-24 | 2016-12-26 | 샌트랄 글래스 컴퍼니 리미티드 | 경화성 조성물, 가접착재 및 이들을 이용한 부재와 기재의 가접착 방법 |
EP3112434A1 (en) | 2015-06-30 | 2017-01-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing temporary bonding arrangement, wafer processing laminate, and thin wafer manufacturing method |
US9550931B2 (en) | 2013-05-14 | 2017-01-24 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive material for wafer, film for temporary adhesion using same, wafer processing laminate, and method for producing thin wafer using same |
WO2017026279A1 (ja) * | 2015-08-11 | 2017-02-16 | 東京応化工業株式会社 | 支持体分離装置及び支持体分離方法 |
EP3133641A1 (en) | 2015-08-18 | 2017-02-22 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing bonding arrangement, wafer laminate, and thin wafer manufacturing method |
EP3154080A1 (en) | 2015-10-08 | 2017-04-12 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesion method and method for producing thin wafer |
EP3159924A1 (en) | 2015-10-19 | 2017-04-26 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
KR20170047176A (ko) * | 2015-10-22 | 2017-05-04 | 저지앙 마이크로테크 머테리얼 컴퍼니 리미티드 | 워크피스 처리 방법 및 그러한 방법을 위해 설계된 장치 |
US9653335B2 (en) | 2011-07-27 | 2017-05-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary bonding arrangement, and thin wafer manufacturing method |
EP3174091A1 (en) | 2015-11-27 | 2017-05-31 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate and method for processing wafer |
JP2017144615A (ja) * | 2016-02-16 | 2017-08-24 | 東京応化工業株式会社 | 積層体、積層体の製造方法、及び基板の処理方法 |
JP2017147345A (ja) * | 2016-02-17 | 2017-08-24 | 東京応化工業株式会社 | 支持体分離装置及び支持体分離方法 |
KR20170103686A (ko) | 2016-03-03 | 2017-09-13 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 접착제 조성물, 적층체 및 적층체의 제조 방법 |
JP2017170870A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 東京応化工業株式会社 | 分離層形成用組成物、積層体、及び積層体の製造方法 |
JP2017530206A (ja) * | 2014-07-22 | 2017-10-12 | ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. | 3‐d ic用途用レーザー離型材料としてのポリイミド |
US9812348B2 (en) | 2013-12-20 | 2017-11-07 | 3M Innovative Properties Company | Member peeling method, member processing method, and method for manufacturing semiconductor chip |
JP2017220669A (ja) * | 2016-06-06 | 2017-12-14 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ積層体及びその製造方法 |
KR20170139557A (ko) | 2015-04-22 | 2017-12-19 | 덴카 주식회사 | 조성물 |
US9922858B2 (en) | 2013-03-14 | 2018-03-20 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device manufacturing method |
US10046550B2 (en) | 2013-08-22 | 2018-08-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Carrier-substrate adhesive system |
KR20180133213A (ko) | 2017-06-05 | 2018-12-13 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 기판 가공용 가접착 필름 롤, 박형 기판의 제조 방법 |
KR20190013461A (ko) * | 2017-07-28 | 2019-02-11 | 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 | Info 패키지 형성에서의 차징 배리어로서의 lthc |
KR20190017669A (ko) | 2017-08-10 | 2019-02-20 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 분리층 형성용 조성물, 분리층이 형성된 지지 기체, 적층체 및 그 제조 방법, 그리고 전자 부품의 제조 방법 |
WO2019088103A1 (ja) | 2017-11-01 | 2019-05-09 | 日産化学株式会社 | ノボラック樹脂を剥離層として含む積層体 |
EP3557612A1 (en) | 2018-04-16 | 2019-10-23 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Circuit substrate processing laminate and method for processing circuit substrate |
EP3579267A1 (en) | 2018-06-04 | 2019-12-11 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for manufacturing thin substrate |
EP3648147A1 (en) | 2018-11-01 | 2020-05-06 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for manufacturing laminate and method for manufacturing substrate |
WO2020101000A1 (ja) | 2018-11-14 | 2020-05-22 | デンカ株式会社 | 組成物 |
WO2020105586A1 (ja) | 2018-11-19 | 2020-05-28 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用接着剤組成物及び積層体並びに積層体の製造方法及び剥離方法 |
WO2020138240A1 (ja) | 2018-12-27 | 2020-07-02 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用接着剤組成物及び積層体並びに積層体の製造方法及び剥離方法 |
KR20200081226A (ko) | 2018-12-27 | 2020-07-07 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 전자 부품의 제조 방법, 및 키트 |
WO2021006311A1 (ja) | 2019-07-11 | 2021-01-14 | 信越化学工業株式会社 | 基板加工用仮接着材料及び積層体の製造方法 |
WO2021065547A1 (ja) | 2019-09-30 | 2021-04-08 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
WO2021112070A1 (ja) | 2019-12-02 | 2021-06-10 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用仮接着剤、ウエハ積層体及び薄型ウエハの製造方法 |
WO2021131395A1 (ja) * | 2019-12-27 | 2021-07-01 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、積層体、積層体の製造方法、及び電子部品の製造方法 |
JP2021106251A (ja) * | 2019-12-27 | 2021-07-26 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、積層体、積層体の製造方法、及び電子部品の製造方法 |
WO2021166905A1 (ja) | 2020-02-21 | 2021-08-26 | 日産化学株式会社 | 積層体及び剥離剤組成物 |
JPWO2020111154A1 (ja) * | 2018-11-29 | 2021-10-21 | 昭和電工マテリアルズ株式会社 | 半導体装置の製造方法及び仮固定材用積層フィルム |
WO2021220929A1 (ja) | 2020-04-30 | 2021-11-04 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用仮接着剤、ウエハ積層体及び薄型ウエハの製造方法 |
WO2021235406A1 (ja) | 2020-05-21 | 2021-11-25 | デンカ株式会社 | 組成物 |
WO2021251018A1 (ja) | 2020-06-12 | 2021-12-16 | 信越化学工業株式会社 | 仮接着方法、デバイスウエハ加工方法、仮接着用積層体及びデバイスウエハ加工用積層体 |
WO2021256386A1 (ja) | 2020-06-15 | 2021-12-23 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2022019211A1 (ja) | 2020-07-22 | 2022-01-27 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2022045026A1 (ja) | 2020-08-27 | 2022-03-03 | 日産化学株式会社 | 積層体及び剥離剤組成物 |
JP2022522974A (ja) * | 2019-01-22 | 2022-04-21 | ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. | 3-d ic用途用レーザー離型性接着材料 |
WO2022210262A1 (ja) | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2022210241A1 (ja) | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2022210238A1 (ja) | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2022230874A1 (ja) | 2021-04-26 | 2022-11-03 | デンカ株式会社 | 組成物 |
WO2023032981A1 (ja) * | 2021-09-03 | 2023-03-09 | 株式会社レゾナック | 仮固定用フィルム、仮固定用積層体、及び半導体装置の製造方法 |
JP2023051946A (ja) * | 2017-12-01 | 2023-04-11 | 株式会社レゾナック | 仮固定用積層体及び半導体装置の製造方法 |
WO2023074324A1 (ja) | 2021-10-29 | 2023-05-04 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
KR20230089551A (ko) | 2021-12-13 | 2023-06-20 | 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 | 분리층 형성용 조성물, 분리층 부착 지지 기체, 적층체 및 그의 제조 방법, 및 전자 부품의 제조 방법 |
WO2023234155A1 (ja) | 2022-06-02 | 2023-12-07 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用の接着剤組成物、積層体、及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2023243475A1 (ja) | 2022-06-17 | 2023-12-21 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用の接着剤組成物、積層体、及び加工された半導体基板又は電子デバイス層の製造方法 |
WO2023248872A1 (ja) | 2022-06-20 | 2023-12-28 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用の剥離剤組成物 |
JP7521426B2 (ja) | 2018-11-29 | 2024-07-24 | 株式会社レゾナック | 半導体装置の製造方法及び仮固定材用積層フィルム |
JP7531328B2 (ja) | 2020-06-26 | 2024-08-09 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、積層体、積層体の製造方法、及び電子部品の製造方法 |
KR102766484B1 (ko) | 2019-01-22 | 2025-02-12 | 브레우어 사이언스, 인코포레이션 | 3-d ic 응용을 위한 레이저-이형성 결합 재료 |
Families Citing this family (99)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100383929C (zh) * | 2005-02-01 | 2008-04-23 | 矽品精密工业股份有限公司 | 一种半导体处理制程 |
JP4970863B2 (ja) * | 2006-07-13 | 2012-07-11 | 日東電工株式会社 | 被加工物の加工方法 |
US20080014532A1 (en) | 2006-07-14 | 2008-01-17 | 3M Innovative Properties Company | Laminate body, and method for manufacturing thin substrate using the laminate body |
US20090017248A1 (en) * | 2007-07-13 | 2009-01-15 | 3M Innovative Properties Company | Layered body and method for manufacturing thin substrate using the layered body |
WO2009094558A2 (en) | 2008-01-24 | 2009-07-30 | Brewer Science Inc. | Method for reversibly mounting a device wafer to a carrier substrate |
KR100963675B1 (ko) * | 2008-03-14 | 2010-06-15 | 제일모직주식회사 | 반도체 패키징용 복합기능 테이프 및 이를 이용한 반도체소자의 제조방법 |
KR101500689B1 (ko) * | 2008-05-15 | 2015-03-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 전기영동 입자, 이의 제조방법 및 이를 이용한 전기영동디스플레이 |
US8950459B2 (en) | 2009-04-16 | 2015-02-10 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Debonding temporarily bonded semiconductor wafers |
US8366873B2 (en) * | 2010-04-15 | 2013-02-05 | Suss Microtec Lithography, Gmbh | Debonding equipment and methods for debonding temporary bonded wafers |
WO2010121068A2 (en) * | 2009-04-16 | 2010-10-21 | Suss Microtec, Inc. | Improved apparatus for temporary wafer bonding and debonding |
US9305769B2 (en) | 2009-06-30 | 2016-04-05 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Thin wafer handling method |
US8871609B2 (en) | 2009-06-30 | 2014-10-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Thin wafer handling structure and method |
JP5547954B2 (ja) * | 2009-12-14 | 2014-07-16 | 日東電工株式会社 | 粘着テープ剥離方法およびその装置 |
EP2553719B1 (de) | 2010-03-31 | 2019-12-04 | Ev Group E. Thallner GmbH | Verfahren zur herstellung eines mit chips bestückten wafers mit hilfe von zwei selektiv abtrennbaren trägerwafern mit ringförmigen adhäsionsschichten mit unterschiedlichen ringbreiten |
US9837295B2 (en) | 2010-04-15 | 2017-12-05 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Apparatus and method for semiconductor wafer leveling, force balancing and contact sensing |
US9859141B2 (en) | 2010-04-15 | 2018-01-02 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Apparatus and method for aligning and centering wafers |
US8852391B2 (en) | 2010-06-21 | 2014-10-07 | Brewer Science Inc. | Method and apparatus for removing a reversibly mounted device wafer from a carrier substrate |
JP5902406B2 (ja) * | 2010-06-25 | 2016-04-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 分離方法および半導体装置の作製方法 |
US9263314B2 (en) | 2010-08-06 | 2016-02-16 | Brewer Science Inc. | Multiple bonding layers for thin-wafer handling |
JP5816179B2 (ja) * | 2010-09-01 | 2015-11-18 | デンカ株式会社 | 接合体の解体方法及び接着剤 |
US8963337B2 (en) * | 2010-09-29 | 2015-02-24 | Varian Semiconductor Equipment Associates | Thin wafer support assembly |
JP6121643B2 (ja) | 2010-10-29 | 2017-04-26 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | フィルム成型装置及びフィルム成型方法 |
KR101304282B1 (ko) * | 2011-05-31 | 2013-09-11 | 코스텍시스템(주) | 임시 본딩된 디바이스 웨이퍼의 디본딩 방법 |
FR2980280B1 (fr) * | 2011-09-20 | 2013-10-11 | Soitec Silicon On Insulator | Procede de separation d'une couche dans une structure composite |
JP2013152986A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
US8696864B2 (en) | 2012-01-26 | 2014-04-15 | Promerus, Llc | Room temperature debonding composition, method and stack |
KR101511005B1 (ko) * | 2012-02-07 | 2015-04-10 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 처리 방법 및 처리 장치 |
JP2013208886A (ja) | 2012-02-29 | 2013-10-10 | Canon Inc | インクジェットヘッドの製造方法 |
JP2013211505A (ja) * | 2012-03-02 | 2013-10-10 | Fujifilm Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP5687647B2 (ja) * | 2012-03-14 | 2015-03-18 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造方法、半導体製造装置 |
JP5591859B2 (ja) * | 2012-03-23 | 2014-09-17 | 株式会社東芝 | 基板の分離方法及び分離装置 |
JP2014011242A (ja) * | 2012-06-28 | 2014-01-20 | Nitto Denko Corp | Ledの製造方法 |
KR101382601B1 (ko) * | 2012-07-02 | 2014-04-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치의 제조 장치 및 그 방법 |
US8895865B2 (en) | 2012-09-07 | 2014-11-25 | Conor P. Lenahan | Conductive connections allowing XYZ translation |
JP6088835B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2017-03-01 | 東京応化工業株式会社 | 貼合装置および貼り合わせ方法 |
KR101276487B1 (ko) * | 2012-10-05 | 2013-06-18 | 주식회사 이녹스 | 웨이퍼 적층체 및 디바이스 웨이퍼 및 캐리어 웨이퍼의 본딩 및 디본딩 처리 방법 |
US20140103499A1 (en) * | 2012-10-11 | 2014-04-17 | International Business Machines Corporation | Advanced handler wafer bonding and debonding |
US9269623B2 (en) | 2012-10-25 | 2016-02-23 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Ephemeral bonding |
US20140144593A1 (en) * | 2012-11-28 | 2014-05-29 | International Business Machiness Corporation | Wafer debonding using long-wavelength infrared radiation ablation |
US9586291B2 (en) | 2012-11-28 | 2017-03-07 | Globalfoundries Inc | Adhesives for bonding handler wafers to device wafers and enabling mid-wavelength infrared laser ablation release |
KR102015400B1 (ko) * | 2012-11-29 | 2019-10-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 캐리어 기판의 박리 장치, 캐리어 기판의 박리 방법 및 표시 장치의 제조 방법 |
KR102046534B1 (ko) * | 2013-01-25 | 2019-11-19 | 삼성전자주식회사 | 기판 가공 방법 |
KR102070091B1 (ko) * | 2013-02-20 | 2020-01-29 | 삼성전자주식회사 | 기판 연마 방법 및 이를 이용한 반도체 발광소자 제조방법 |
US9484238B2 (en) * | 2013-03-29 | 2016-11-01 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Attachment method |
US20160141197A1 (en) * | 2013-05-31 | 2016-05-19 | Mitsui Chemicals Tohcello, Inc. | Method of peeling electronic member and laminate |
KR101503326B1 (ko) * | 2013-08-27 | 2015-03-18 | 코스텍시스템(주) | 디바이스 웨이퍼와 캐리어 웨이퍼의 디본딩 방법 및 장치 |
US9184083B2 (en) * | 2013-07-29 | 2015-11-10 | 3M Innovative Properties Company | Apparatus, hybrid laminated body, method and materials for temporary substrate support |
US9315696B2 (en) | 2013-10-31 | 2016-04-19 | Dow Global Technologies Llc | Ephemeral bonding |
CN105849215B (zh) | 2013-12-26 | 2019-09-03 | 日立化成株式会社 | 临时固定用膜、临时固定用膜片材及半导体装置 |
TWI549578B (zh) * | 2013-12-26 | 2016-09-11 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 電子裝置之重工方法 |
US10157766B2 (en) | 2014-03-19 | 2018-12-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of fabricating a semiconductor device |
JP6216727B2 (ja) * | 2014-05-08 | 2017-10-18 | 東京応化工業株式会社 | 支持体分離方法 |
US9475272B2 (en) | 2014-10-09 | 2016-10-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | De-bonding and cleaning process and system |
CN104485294A (zh) | 2014-12-12 | 2015-04-01 | 浙江中纳晶微电子科技有限公司 | 一种晶圆临时键合及分离方法 |
US9991150B2 (en) | 2014-12-12 | 2018-06-05 | Micro Materials Inc. | Procedure of processing a workpiece and an apparatus designed for the procedure |
US9644118B2 (en) | 2015-03-03 | 2017-05-09 | Dow Global Technologies Llc | Method of releasably attaching a semiconductor substrate to a carrier |
JP2016174102A (ja) | 2015-03-17 | 2016-09-29 | 株式会社東芝 | 半導体製造方法および積層体 |
JP6486735B2 (ja) | 2015-03-17 | 2019-03-20 | 東芝メモリ株式会社 | 半導体製造方法および半導体製造装置 |
US10522383B2 (en) | 2015-03-25 | 2019-12-31 | International Business Machines Corporation | Thermoplastic temporary adhesive for silicon handler with infra-red laser wafer de-bonding |
JP6465743B2 (ja) * | 2015-05-14 | 2019-02-06 | 東京応化工業株式会社 | 分離層形成用組成物、分離層、分離層を含む積層体、積層体の製造方法および積層体の処理方法 |
CN104979262B (zh) * | 2015-05-14 | 2020-09-22 | 浙江中纳晶微电子科技有限公司 | 一种晶圆分离的方法 |
TW201641282A (zh) * | 2015-05-25 | 2016-12-01 | 中華映管股份有限公司 | 疊層結構的脫層方法 |
US11830756B2 (en) * | 2020-04-29 | 2023-11-28 | Semiconductor Components Industries, Llc | Temporary die support structures and related methods |
EP3359364A1 (en) * | 2015-10-08 | 2018-08-15 | Massachusetts Institute of Technology | Carrier-substrate adhesive system |
EP3235558A1 (en) * | 2016-04-21 | 2017-10-25 | 3M Innovative Properties Company of 3M Center | Hollow fiber membrane for use in an anesthetic circuit |
TWI720190B (zh) | 2016-05-02 | 2021-03-01 | 日商昭和電工材料股份有限公司 | 電子零件的加工方法 |
KR102652732B1 (ko) * | 2016-12-15 | 2024-03-28 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 | 점착 필름 |
TW201837009A (zh) * | 2017-03-30 | 2018-10-16 | 日商日本碍子股份有限公司 | 暫時固定基板及電子元件的模塑方法 |
KR102426365B1 (ko) | 2017-08-21 | 2022-07-29 | 삼성전자 주식회사 | 안테나를 포함하는 전자 장치 |
CN107946407A (zh) * | 2017-11-29 | 2018-04-20 | 北京创昱科技有限公司 | 一种新型独立驱动的薄膜分离机构 |
KR102185633B1 (ko) * | 2018-01-18 | 2020-12-02 | 포항공과대학교 산학협력단 | 유연 기판, 이의 제조방법, 및 이를 포함하는 유연 전자 장치 |
US11482431B2 (en) * | 2018-01-23 | 2022-10-25 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
TWI823598B (zh) * | 2018-01-23 | 2023-11-21 | 日商東京威力科創股份有限公司 | 接合系統及接合方法 |
KR102602153B1 (ko) * | 2018-11-22 | 2023-11-15 | (주)이녹스첨단소재 | Rdl 형성 공정용 양면 접착 테이프, 이를 포함하는 적층체 및 이를 이용한 팬-아웃 패키지 제작 공정 |
JP7319044B2 (ja) * | 2018-12-14 | 2023-08-01 | Tdk株式会社 | 素子アレイの製造装置と特定素子の除去装置 |
KR102176819B1 (ko) * | 2019-04-08 | 2020-11-10 | 한국화학연구원 | 신축성 기판 및 이를 포함하는 신축성 인쇄 회로기판 |
KR20220037436A (ko) * | 2019-07-25 | 2022-03-24 | 에이지씨 가부시키가이샤 | 적층 부재 |
WO2021015057A1 (ja) * | 2019-07-25 | 2021-01-28 | Agc株式会社 | 積層部材 |
JP7382171B2 (ja) * | 2019-08-09 | 2023-11-16 | 株式会社ディスコ | 樹脂シートの剥離方法 |
JP7345322B2 (ja) * | 2019-09-03 | 2023-09-15 | 株式会社ディスコ | 樹脂の被覆方法及び樹脂被覆装置 |
KR20210046381A (ko) * | 2019-10-18 | 2021-04-28 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 | 접착 필름 |
KR102713057B1 (ko) * | 2019-10-18 | 2024-10-02 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 | 접착 필름 |
KR20220074849A (ko) | 2019-10-31 | 2022-06-03 | 쇼와덴코머티리얼즈가부시끼가이샤 | 가고정용 수지 조성물, 기판 반송용 서포트 테이프 및 전자 기기 장치의 제조 방법 |
JP7521184B2 (ja) | 2019-10-31 | 2024-07-24 | 株式会社レゾナック | 基板搬送用サポートテープ及び電子機器装置の製造方法 |
KR102680045B1 (ko) * | 2019-12-09 | 2024-06-28 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 | 접착 필름 |
US11295973B2 (en) * | 2020-02-11 | 2022-04-05 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Apparatus and method for automated wafer carrier handling |
KR20210135111A (ko) | 2020-05-04 | 2021-11-12 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지의 제조 방법 |
CN111834280A (zh) * | 2020-07-24 | 2020-10-27 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 临时键合方法 |
US11889742B2 (en) * | 2020-11-04 | 2024-01-30 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus of manufacturing display device and method of manufacturing display device |
CN112908922A (zh) * | 2021-01-28 | 2021-06-04 | 蔡德昌 | 一种重复使用的透明硬质载具与待减薄晶圆片之贴合及剥离工艺 |
US11358381B1 (en) * | 2021-03-31 | 2022-06-14 | PulseForge Corp. | Method for attaching and detaching substrates during integrated circuit manufacturing |
JP2023049529A (ja) * | 2021-09-29 | 2023-04-10 | 日東電工株式会社 | 電子部品仮固定用粘着シートおよび電子部品の処理方法 |
JP2023049530A (ja) * | 2021-09-29 | 2023-04-10 | 日東電工株式会社 | 電子部品仮固定用粘着シートおよび電子部品の処理方法 |
EP4502093A1 (en) | 2022-03-24 | 2025-02-05 | Denka Company Limited | Composition for temporary fixation |
WO2023181621A1 (ja) | 2022-03-24 | 2023-09-28 | デンカ株式会社 | 仮固定用組成物 |
WO2023232264A1 (de) * | 2022-06-03 | 2023-12-07 | Ev Group E. Thallner Gmbh | Mehrschichtsystem aus dünnen schichten zum temporärbonden |
WO2023243487A1 (ja) * | 2022-06-13 | 2023-12-21 | 日東電工株式会社 | 電子部品仮固定用粘着シート |
WO2023243488A1 (ja) * | 2022-06-13 | 2023-12-21 | 日東電工株式会社 | 電子部品仮固定用粘接着シート |
CN117810132B (zh) * | 2023-12-29 | 2024-06-18 | 兰陵县乐纯木业有限公司 | 一种适用于面板的uv胶压合固化装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01241493A (ja) * | 1988-03-24 | 1989-09-26 | Tomoegawa Paper Co Ltd | カラー転写記録方法 |
JPH01268031A (ja) * | 1988-04-19 | 1989-10-25 | Hitachi Cable Ltd | 半導体ウエハの保持方法 |
JPH0432229A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハ貼付方法 |
JPH07290828A (ja) * | 1994-04-21 | 1995-11-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | 色材シートの製造方法 |
JPH07290731A (ja) * | 1994-04-22 | 1995-11-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像形成システム |
JPH10172931A (ja) * | 1996-12-05 | 1998-06-26 | Mitsui Chem Inc | 半導体ウエハの裏面研削方法及び該方法に用いる粘着フィルム |
JPH1174230A (ja) * | 1997-08-29 | 1999-03-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 薄膜半導体装置の製造方法 |
JPH11142633A (ja) * | 1997-11-05 | 1999-05-28 | Alps Electric Co Ltd | カラーフィルタの製造方法 |
JPH11343469A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Lintec Corp | 粘着シートおよびその利用方法 |
Family Cites Families (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4189230A (en) * | 1977-10-26 | 1980-02-19 | Fujitsu Limited | Wafer holder with spring-loaded wafer-holding means |
US4316757A (en) * | 1980-03-03 | 1982-02-23 | Monsanto Company | Method and apparatus for wax mounting of thin wafers for polishing |
JPS6258654A (ja) * | 1985-09-09 | 1987-03-14 | Hitachi Ltd | 半導体製造装置 |
JPH0721131B2 (ja) * | 1986-07-25 | 1995-03-08 | 日東電工株式会社 | 接着力消失型感圧性接着剤 |
US4818323A (en) | 1987-06-26 | 1989-04-04 | Motorola Inc. | Method of making a void free wafer via vacuum lamination |
US5414297A (en) | 1989-04-13 | 1995-05-09 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device chip with interlayer insulating film covering the scribe lines |
EP0571649A1 (en) * | 1992-05-26 | 1993-12-01 | Nitto Denko Corporation | Dicing-die bonding film and use thereof in a process for producing chips |
US5256599A (en) * | 1992-06-01 | 1993-10-26 | Motorola, Inc. | Semiconductor wafer wax mounting and thinning process |
JPH05335411A (ja) | 1992-06-02 | 1993-12-17 | Toshiba Corp | ペレットの製造方法 |
US5476566A (en) * | 1992-09-02 | 1995-12-19 | Motorola, Inc. | Method for thinning a semiconductor wafer |
JP2922066B2 (ja) | 1992-10-15 | 1999-07-19 | 松下電子工業株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JPH0737768A (ja) * | 1992-11-26 | 1995-02-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体ウェハの補強方法及び補強された半導体ウェハ |
CA2115947A1 (en) * | 1993-03-03 | 1994-09-04 | Gregory C. Smith | Wafer-like processing after sawing dmds |
JP3325650B2 (ja) | 1993-04-15 | 2002-09-17 | 株式会社ディスコ | ウェーハの研磨方法 |
JPH07145357A (ja) * | 1993-11-24 | 1995-06-06 | Nitto Denko Corp | 加熱剥離シート及び剥離方法 |
US5729038A (en) | 1995-12-15 | 1998-03-17 | Harris Corporation | Silicon-glass bonded wafers |
US5534383A (en) * | 1995-08-09 | 1996-07-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Image transfer sheet, its laminate and image forming method |
US6399143B1 (en) * | 1996-04-09 | 2002-06-04 | Delsys Pharmaceutical Corporation | Method for clamping and electrostatically coating a substrate |
US5872046A (en) | 1996-04-10 | 1999-02-16 | Texas Instruments Incorporated | Method of cleaning wafer after partial saw |
US6235141B1 (en) | 1996-09-27 | 2001-05-22 | Digital Optics Corporation | Method of mass producing and packaging integrated optical subsystems |
JPH1120309A (ja) | 1997-07-03 | 1999-01-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 一体型熱転写シートおよびその製造方法 |
JPH1126404A (ja) | 1997-07-08 | 1999-01-29 | Canon Inc | 研磨装置 |
JP3993918B2 (ja) | 1997-08-25 | 2007-10-17 | 富士通株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
KR100278137B1 (ko) | 1997-09-04 | 2001-01-15 | 가나이 쓰도무 | 반도체소자의 탑재방법 및 그 시스템, 반도체소자 분리장치 및ic카드의 제조방법 |
JPH11156710A (ja) * | 1997-12-02 | 1999-06-15 | Fujikoshi Mach Corp | ウェーハの接着方法及び接着装置 |
JPH11283279A (ja) | 1998-01-30 | 1999-10-15 | Minnesota Mining & Mfg Co <3M> | 貼り合わせ型光ディスク並びにその製造方法及び装置 |
JP2000038556A (ja) | 1998-07-22 | 2000-02-08 | Nitto Denko Corp | 半導体ウエハ保持保護用ホットメルトシート及びその貼り付け方法 |
JP2000040677A (ja) | 1998-07-23 | 2000-02-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体素子の製造方法 |
JP3669196B2 (ja) * | 1998-07-27 | 2005-07-06 | 日東電工株式会社 | 紫外線硬化型粘着シート |
JP3383227B2 (ja) | 1998-11-06 | 2003-03-04 | リンテック株式会社 | 半導体ウエハの裏面研削方法 |
JP2000167681A (ja) | 1998-12-04 | 2000-06-20 | Samsung Electronics Co Ltd | レ―ザ切断用基板,液晶表示装置パネルおよび液晶表示装置パネルの製造方法 |
US6114088A (en) * | 1999-01-15 | 2000-09-05 | 3M Innovative Properties Company | Thermal transfer element for forming multilayer devices |
JP3504543B2 (ja) | 1999-03-03 | 2004-03-08 | 株式会社日立製作所 | 半導体素子の分離方法およびその装置並びに半導体素子の搭載方法 |
JP4275254B2 (ja) * | 1999-06-17 | 2009-06-10 | リンテック株式会社 | 両面粘着シートに固定された物品の剥離方法および剥離装置 |
WO2001035457A1 (en) * | 1999-11-08 | 2001-05-17 | Amerasia International Technology, Inc. | Wafer level application of tack-free die-attach adhesive film |
US6284425B1 (en) | 1999-12-28 | 2001-09-04 | 3M Innovative Properties | Thermal transfer donor element having a heat management underlayer |
JP2000195826A (ja) | 2000-01-01 | 2000-07-14 | Toshiba Corp | ウェ―ハの分割方法及び半導体装置の製造方法 |
JP3526802B2 (ja) * | 2000-01-21 | 2004-05-17 | 旭化成ケミカルズ株式会社 | 半導体ウエハー固定用の粘着剤ならびに加工方法 |
JP4301683B2 (ja) * | 2000-03-06 | 2009-07-22 | 大日本印刷株式会社 | 積層体の製造装置 |
JP4253423B2 (ja) | 2000-06-14 | 2009-04-15 | 富士フイルム株式会社 | ポジ型レジスト積層物 |
EP1167483A1 (en) | 2000-06-20 | 2002-01-02 | Saehan Industries, Inc. | Adhesive tape for electronic parts |
JP3485525B2 (ja) | 2000-07-06 | 2004-01-13 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
US6358664B1 (en) * | 2000-09-15 | 2002-03-19 | 3M Innovative Properties Company | Electronically active primer layers for thermal patterning of materials for electronic devices |
KR20030033084A (ko) * | 2000-09-27 | 2003-04-26 | 스트라스바흐, 인코포레이티드 | 배면연마 테이프를 남겨두고 웨이퍼를 배면연마하는 방법 |
DE10051938A1 (de) * | 2000-10-19 | 2002-02-28 | Infineon Technologies Ag | Anordnung mit einem Substrat und einem Träger |
JP2002231600A (ja) | 2001-01-30 | 2002-08-16 | Nitto Denko Corp | レジスト除去用接着テープとレジスト除去方法 |
JP4757398B2 (ja) | 2001-04-24 | 2011-08-24 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2002353170A (ja) | 2001-05-28 | 2002-12-06 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウェーハの分離システム、分離方法及びダイシング装置 |
JP4869517B2 (ja) | 2001-08-21 | 2012-02-08 | リンテック株式会社 | 粘接着テープ |
KR20040105546A (ko) | 2002-01-15 | 2004-12-16 | 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 | Ic칩의 제조 방법 |
CN100334690C (zh) | 2002-03-27 | 2007-08-29 | 三井化学株式会社 | 半导体晶片表面保护用粘结膜及用该粘结膜的半导体晶片的保护方法 |
US7335578B2 (en) | 2002-04-11 | 2008-02-26 | Sekisui Chemical Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor chip |
CN1703773B (zh) * | 2002-06-03 | 2011-11-16 | 3M创新有限公司 | 层压体以及用该层压体制造超薄基片的方法和设备 |
US6922293B2 (en) * | 2002-07-02 | 2005-07-26 | Nikon Corporation | Kinematic optical mounting assembly with flexures |
-
2002
- 2002-12-02 JP JP2002350247A patent/JP4565804B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-06-02 EP EP03762984.7A patent/EP1550156B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-06-02 CN CN201110216992.8A patent/CN102420114B/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-06-02 KR KR1020047019583A patent/KR101017474B1/ko active IP Right Grant
- 2003-06-02 TW TW092114913A patent/TWI282753B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-06-02 KR KR1020107022239A patent/KR101084439B1/ko active IP Right Grant
- 2003-06-02 AU AU2003278696A patent/AU2003278696A1/en not_active Abandoned
- 2003-06-02 MY MYPI20032038A patent/MY141078A/en unknown
- 2003-06-02 WO PCT/US2003/017236 patent/WO2004006296A2/en active Application Filing
-
2009
- 2009-10-19 US US12/581,274 patent/US8789569B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2009-10-22 US US12/603,775 patent/US8038839B2/en active Active
-
2011
- 2011-08-19 US US13/213,553 patent/US8800631B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01241493A (ja) * | 1988-03-24 | 1989-09-26 | Tomoegawa Paper Co Ltd | カラー転写記録方法 |
JPH01268031A (ja) * | 1988-04-19 | 1989-10-25 | Hitachi Cable Ltd | 半導体ウエハの保持方法 |
JPH0432229A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハ貼付方法 |
JPH07290828A (ja) * | 1994-04-21 | 1995-11-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | 色材シートの製造方法 |
JPH07290731A (ja) * | 1994-04-22 | 1995-11-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像形成システム |
JPH10172931A (ja) * | 1996-12-05 | 1998-06-26 | Mitsui Chem Inc | 半導体ウエハの裏面研削方法及び該方法に用いる粘着フィルム |
JPH1174230A (ja) * | 1997-08-29 | 1999-03-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 薄膜半導体装置の製造方法 |
JPH11142633A (ja) * | 1997-11-05 | 1999-05-28 | Alps Electric Co Ltd | カラーフィルタの製造方法 |
JPH11343469A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Lintec Corp | 粘着シートおよびその利用方法 |
Cited By (234)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009155652A (ja) * | 2002-06-03 | 2009-07-16 | Three M Innovative Properties Co | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 |
CN100405554C (zh) * | 2005-06-24 | 2008-07-23 | 精工爱普生株式会社 | 半导体装置的制造方法 |
US7410908B2 (en) | 2005-06-24 | 2008-08-12 | Seiko Epson Corporation | Manufacturing method for a semiconductor device |
US8021964B2 (en) | 2006-06-27 | 2011-09-20 | 3M Innovative Properties Company | Method of producing segmented chips |
JP2008098435A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-04-24 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | ウエハ回路面の保護方法及びウエハ薄化方法 |
WO2008044327A1 (fr) * | 2006-10-12 | 2008-04-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | procédé pour protéger la surface du circuit d'une plaquette et pour réduire l'épaisseur de la plaquette |
JP2008306149A (ja) * | 2007-07-24 | 2008-12-18 | Hoya Candeo Optronics株式会社 | ウエハ支持ガラス |
US8709912B2 (en) | 2008-05-22 | 2014-04-29 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device manufacturing method and device for same |
JP4962881B2 (ja) * | 2008-05-22 | 2012-06-27 | 富士電機株式会社 | 半導体装置の製造方法及びそのための装置 |
JP2010098072A (ja) * | 2008-10-15 | 2010-04-30 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 半導体装置の製造方法及びそのための装置 |
JP4725638B2 (ja) * | 2008-12-09 | 2011-07-13 | カシオ計算機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2010140948A (ja) * | 2008-12-09 | 2010-06-24 | Casio Computer Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2010153812A (ja) * | 2008-12-23 | 2010-07-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 半導体構造を形成する方法およびその半導体構造(半導体基板を薄化する方法) |
US7947586B2 (en) | 2009-02-04 | 2011-05-24 | Fuji Electric Systems Co., Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor device |
JP2011076767A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Dainippon Printing Co Ltd | 積層体、準備用支持体、積層体の製造方法、及びデバイスの製造方法 |
US8263975B2 (en) | 2009-09-29 | 2012-09-11 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Laminate, preparatory support, method for producing laminate, and method for producing device |
JP2011134772A (ja) * | 2009-12-22 | 2011-07-07 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Soi半導体基板製造方法およびsoi半導体基板製造装置 |
JP2011243905A (ja) * | 2010-05-21 | 2011-12-01 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
KR20110133440A (ko) | 2010-06-04 | 2011-12-12 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 임시 접착재 조성물 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
JP2013534721A (ja) * | 2010-06-16 | 2013-09-05 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ウェーハ支持システム用の変換層を加熱するために光学的調整を施した金属化光 |
JP2012079871A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Shibaura Mechatronics Corp | 支持基板、基板積層体、貼り合わせ装置、剥離装置、および基板の製造方法 |
JP2012079856A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Shibaura Mechatronics Corp | 保護体、基板積層体、貼り合わせ装置、剥離装置、および基板の製造方法 |
JP5942850B2 (ja) * | 2010-10-21 | 2016-06-29 | 住友ベークライト株式会社 | 電子装置の製造方法、電気、電子部品の製造方法 |
JPWO2012053463A1 (ja) * | 2010-10-21 | 2014-02-24 | 住友ベークライト株式会社 | 電子装置の製造方法およびそれを用いてなる電子装置、電気、電子部品の製造方法およびそれを用いてなる電気、電子部品 |
JP2012106486A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-06-07 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体、およびその積層体の分離方法 |
KR101452671B1 (ko) * | 2010-10-29 | 2014-10-22 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 적층체, 및 그 적층체의 분리 방법 |
WO2012056867A1 (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-03 | 東京応化工業株式会社 | 積層体、およびその積層体の分離方法 |
US9048311B2 (en) | 2010-10-29 | 2015-06-02 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Laminate and method for separating the same |
US9682532B2 (en) | 2010-10-29 | 2017-06-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Laminated body and method for separating laminated body |
US9492986B2 (en) | 2010-10-29 | 2016-11-15 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Laminate and method for separating the same |
WO2012056969A1 (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-03 | 東京応化工業株式会社 | 積層体、およびその積層体の分離方法 |
JP2012124467A (ja) * | 2010-11-15 | 2012-06-28 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体、および分離方法 |
KR20120052866A (ko) | 2010-11-15 | 2012-05-24 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 적층체, 및 분리 방법 |
KR101581485B1 (ko) | 2010-11-15 | 2015-12-30 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 적층체, 및 분리 방법 |
US9308715B2 (en) | 2010-11-15 | 2016-04-12 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Laminate and method for separating the same |
EP2475002A1 (en) | 2011-01-11 | 2012-07-11 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive composition, and method of producing thin wafer |
US8785585B2 (en) | 2011-01-11 | 2014-07-22 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive composition, and method of producing thin wafer |
KR20120081562A (ko) | 2011-01-11 | 2012-07-19 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 가접착재 조성물 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
EP2615124A1 (en) | 2011-04-26 | 2013-07-17 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Organopolysiloxane, temporary adhesive composition containing organopolysiloxane, and method of producing thinned wafer using the same |
KR20120121359A (ko) | 2011-04-26 | 2012-11-05 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 오르가노폴리실록산, 오르가노폴리실록산을 포함하는 가접착제 조성물 및 그것을 사용한 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
EP2518099A1 (en) | 2011-04-26 | 2012-10-31 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Organopolysiloxane, temporary adhesive compositon containing organopolysiloxane, and method of producing thinned wafer using the same |
US8748293B2 (en) | 2011-04-26 | 2014-06-10 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Organopolysiloxane, temporary adhesive composition containing organopolysiloxane, and method of producing thinned wafer using the same |
JP2013018963A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-01-31 | Nitto Denko Corp | 粘着フィルム |
WO2012172932A1 (ja) * | 2011-06-17 | 2012-12-20 | 日東電工株式会社 | 粘着フィルム |
CN103608419A (zh) * | 2011-06-17 | 2014-02-26 | 日东电工株式会社 | 粘合薄膜 |
JP2013001888A (ja) * | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Three M Innovative Properties Co | 部材接合方法及び部材接合装置 |
US10094024B2 (en) | 2011-06-24 | 2018-10-09 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Method of manufacturing multilayer body, method of processing substrate, and multilayer body |
KR20140039310A (ko) | 2011-06-24 | 2014-04-01 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 적층체의 제조 방법, 기판의 처리 방법 및 적층체 |
US9653335B2 (en) | 2011-07-27 | 2017-05-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary bonding arrangement, and thin wafer manufacturing method |
US8735264B2 (en) | 2011-10-07 | 2014-05-27 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive composition and method for manufacturing thin wafer using the same |
EP2578656A1 (en) | 2011-10-07 | 2013-04-10 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive composition and method for manufacturing thin wafer using the same |
EP2587530A2 (en) | 2011-10-28 | 2013-05-01 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary bonding arrangement, and thin wafer manufacturing method |
KR20130047629A (ko) | 2011-10-28 | 2013-05-08 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 부재, 웨이퍼 가공용 가접착재, 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
US9365681B2 (en) | 2011-10-28 | 2016-06-14 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary bonding arrangement, and thin wafer manufacturing method |
JP2013110352A (ja) * | 2011-11-24 | 2013-06-06 | Jsr Corp | 基材の処理方法、半導体装置および仮固定用組成物 |
JP2013126723A (ja) * | 2011-12-16 | 2013-06-27 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体及び分離方法 |
JP2013149655A (ja) * | 2012-01-17 | 2013-08-01 | Tokyo Electron Ltd | 剥離装置、剥離システム、剥離方法および剥離プログラム |
JP2015513211A (ja) * | 2012-01-30 | 2015-04-30 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 一時的な基板支持のための装置、複合積層体、方法、及び材料 |
US9023172B2 (en) | 2012-02-08 | 2015-05-05 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd | Method of manufacturing laminate |
US8999817B2 (en) | 2012-02-28 | 2015-04-07 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer process body, wafer processing member, wafer processing temporary adhesive material, and method for manufacturing thin wafer |
EP2634794A1 (en) | 2012-02-28 | 2013-09-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer-adhesive-support composite, wafer support with adhesive layer for processing wafer, adhesive layer for use in temporarily supporting wafer during processing, and method of manufacturing a thin wafer |
KR102063559B1 (ko) * | 2012-03-20 | 2020-01-09 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 | 일시적 기재 지지체 및 지지체 분리를 위한 적층체, 방법, 및 재료 |
JP2015518270A (ja) * | 2012-03-20 | 2015-06-25 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 一時的基板支持体及び支持体分離のための積層体、方法、並びに材料 |
US9096032B2 (en) | 2012-04-24 | 2015-08-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary bonding arrangement, and thin wafer manufacturing method |
EP2657963A2 (en) | 2012-04-24 | 2013-10-30 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer-adhesive-support composite, wafer support with adhesive layer for processing wafer, adhesive layer for use in temporarily supporting wafer during processing, and method of manufacturing a thin wafer |
US9334424B2 (en) | 2012-05-08 | 2016-05-10 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive for wafer processing, member for wafer processing using the same, wafer processed body, and method for producing thin wafer |
JP2014013801A (ja) * | 2012-07-03 | 2014-01-23 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体 |
JP2014049537A (ja) * | 2012-08-30 | 2014-03-17 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウェーハの加工方法 |
JP2014069494A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体の製造方法および積層体 |
US9472438B2 (en) | 2012-10-11 | 2016-10-18 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary adhering material for processing wafer, and manufacturing method of thin wafer |
US9263333B2 (en) | 2012-11-30 | 2016-02-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary adhering material for processing wafer, and manufacturing method of thin wafer |
EP2738797A2 (en) | 2012-11-30 | 2014-06-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, wafer processing member, temporary adhering material for processing wafer, and manufacturing method of thin wafer |
US9922858B2 (en) | 2013-03-14 | 2018-03-20 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device manufacturing method |
JP2014176831A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Lintec Corp | 光照射装置および照射方法 |
JP2014192349A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-06 | Fujifilm Corp | 半導体装置製造用仮接合用積層体、および、半導体装置の製造方法 |
WO2014157439A1 (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-02 | 富士フイルム株式会社 | 半導体装置製造用仮接合用積層体、および、半導体装置の製造方法 |
US9728441B2 (en) | 2013-04-04 | 2017-08-08 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
WO2014163188A1 (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-09 | 富士電機株式会社 | 半導体デバイスの製造方法 |
JP5967211B2 (ja) * | 2013-04-04 | 2016-08-10 | 富士電機株式会社 | 半導体デバイスの製造方法 |
JPWO2014163188A1 (ja) * | 2013-04-04 | 2017-02-16 | 富士電機株式会社 | 半導体デバイスの製造方法 |
US9550931B2 (en) | 2013-05-14 | 2017-01-24 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive material for wafer, film for temporary adhesion using same, wafer processing laminate, and method for producing thin wafer using same |
US10297479B2 (en) | 2013-08-01 | 2019-05-21 | International Business Machines Corporation | Wafer debonding using mid-wavelength infrared radiation ablation |
JP2016525801A (ja) * | 2013-08-01 | 2016-08-25 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーションInternational Business Machines Corporation | 中波長赤外線アブレーションを用いるウェハ剥離 |
US10046550B2 (en) | 2013-08-22 | 2018-08-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Carrier-substrate adhesive system |
JP2016531445A (ja) * | 2013-08-22 | 2016-10-06 | マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー | キャリア−基材接着システム |
JP2015076570A (ja) * | 2013-10-11 | 2015-04-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 剥離装置、剥離システム、剥離方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 |
JP2015098565A (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 東京応化工業株式会社 | 処理方法 |
US9812348B2 (en) | 2013-12-20 | 2017-11-07 | 3M Innovative Properties Company | Member peeling method, member processing method, and method for manufacturing semiconductor chip |
US10106713B2 (en) | 2014-01-29 | 2018-10-23 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
WO2015115060A1 (ja) | 2014-01-29 | 2015-08-06 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
KR20160114078A (ko) | 2014-01-29 | 2016-10-04 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 가접착재, 및 박형 웨이퍼의 제조방법 |
US10242902B2 (en) | 2014-03-18 | 2019-03-26 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
KR20160132851A (ko) | 2014-03-18 | 2016-11-21 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 가접착재, 및 박형 웨이퍼의 제조방법 |
US9881829B2 (en) | 2014-04-22 | 2018-01-30 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Adhesive composition, laminate, and stripping method |
US9607875B2 (en) | 2014-04-22 | 2017-03-28 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Adhesive composition, laminate, and stripping method |
KR20150122068A (ko) | 2014-04-22 | 2015-10-30 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 접착제 조성물, 적층체 및 박리 방법 |
KR20160148612A (ko) | 2014-04-24 | 2016-12-26 | 샌트랄 글래스 컴퍼니 리미티드 | 경화성 조성물, 가접착재 및 이들을 이용한 부재와 기재의 가접착 방법 |
JP2015224316A (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-14 | デンカ株式会社 | 仮固定用接着剤組成物、それを用いた部材の仮固定方法 |
EP2955211A1 (en) | 2014-06-10 | 2015-12-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive material for wafer processing, wafer processing laminate, and method for manufacturing thin wafer using same |
KR20150141883A (ko) | 2014-06-10 | 2015-12-21 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공용 가접착 재료, 웨이퍼 가공체 및 이들을 사용하는 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
US9346990B2 (en) | 2014-06-10 | 2016-05-24 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive material for wafer processing, wafer processing laminate, and method for manufacturing thin wafer using same |
JP2017530206A (ja) * | 2014-07-22 | 2017-10-12 | ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. | 3‐d ic用途用レーザー離型材料としてのポリイミド |
EP3000596A1 (en) | 2014-09-26 | 2016-03-30 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
KR20160037094A (ko) | 2014-09-26 | 2016-04-05 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 가접착재, 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
US9887118B2 (en) | 2014-09-26 | 2018-02-06 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
WO2016071788A1 (en) * | 2014-11-07 | 2016-05-12 | International Business Machines Corporation | Low temperature adhesive resins for wafer bonding |
GB2548726A (en) * | 2014-11-07 | 2017-09-27 | Ibm | Low temperature adhesive resins for wafer bonding |
JP2017539082A (ja) * | 2014-11-07 | 2017-12-28 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーションInternational Business Machines Corporation | ウェハ接合用の低温接着性樹脂 |
US9748131B2 (en) | 2014-11-07 | 2017-08-29 | International Business Machines Corporation | Low temperature adhesive resins for wafer bonding |
US9601364B2 (en) | 2014-11-07 | 2017-03-21 | International Business Machines Corporation | Low temperature adhesive resins for wafer bonding |
US9646868B2 (en) | 2014-12-24 | 2017-05-09 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer temporary bonding method and thin wafer manufacturing method |
EP3038148A1 (en) | 2014-12-24 | 2016-06-29 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer temporary bonding method and thin wafer manufacturing method |
KR20160078291A (ko) | 2014-12-24 | 2016-07-04 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼의 가접착 방법 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
KR20160078894A (ko) | 2014-12-25 | 2016-07-05 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 가접착재 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
EP3037495A1 (en) | 2014-12-25 | 2016-06-29 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
US10128143B2 (en) | 2014-12-25 | 2018-11-13 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
JP2016138182A (ja) * | 2015-01-27 | 2016-08-04 | デンカ株式会社 | 仮固定用接着剤組成物、それを用いた部材の仮固定方法及び硬化体残渣の除去方法 |
KR20170139557A (ko) | 2015-04-22 | 2017-12-19 | 덴카 주식회사 | 조성물 |
KR20170003416A (ko) | 2015-06-30 | 2017-01-09 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공용 가접착재, 웨이퍼 가공체 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
EP3112434A1 (en) | 2015-06-30 | 2017-01-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing temporary bonding arrangement, wafer processing laminate, and thin wafer manufacturing method |
US9941145B2 (en) | 2015-06-30 | 2018-04-10 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing temporary bonding arrangement, wafer processing laminate, and thin wafer manufacturing method |
JPWO2017026279A1 (ja) * | 2015-08-11 | 2018-07-05 | 東京応化工業株式会社 | 支持体分離装置及び支持体分離方法 |
KR20180032648A (ko) * | 2015-08-11 | 2018-03-30 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 지지체 분리 장치 및 지지체 분리 방법 |
WO2017026279A1 (ja) * | 2015-08-11 | 2017-02-16 | 東京応化工業株式会社 | 支持体分離装置及び支持体分離方法 |
TWI673762B (zh) * | 2015-08-11 | 2019-10-01 | 日商東京應化工業股份有限公司 | 支持體分離裝置及支持體分離方法 |
KR101950157B1 (ko) | 2015-08-11 | 2019-02-19 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 지지체 분리 장치 및 지지체 분리 방법 |
US9934996B2 (en) | 2015-08-18 | 2018-04-03 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing bonding arrangement, wafer laminate, and thin wafer manufacturing method |
KR20170021744A (ko) | 2015-08-18 | 2017-02-28 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공용 접착재, 웨이퍼 적층체 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
EP3133641A1 (en) | 2015-08-18 | 2017-02-22 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing bonding arrangement, wafer laminate, and thin wafer manufacturing method |
US9884979B2 (en) | 2015-10-08 | 2018-02-06 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesion method and method for producing thin wafer |
EP3154080A1 (en) | 2015-10-08 | 2017-04-12 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesion method and method for producing thin wafer |
KR20170042237A (ko) | 2015-10-08 | 2017-04-18 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 가접착 방법 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
KR20170045720A (ko) | 2015-10-19 | 2017-04-27 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체, 웨이퍼 가공용 가접착재 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
US10147632B2 (en) | 2015-10-19 | 2018-12-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
EP3159924A1 (en) | 2015-10-19 | 2017-04-26 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate, temporary adhesive material for wafer processing, and method for manufacturing thin wafer |
JP2017094484A (ja) * | 2015-10-22 | 2017-06-01 | 浙江中▲納▼晶微▲電▼子科技有限公司Zhejiang Microtech Material Co., Ltd. | ワークピースの加工手順およびその手順を実施するための剥離装置 |
KR101898121B1 (ko) * | 2015-10-22 | 2018-09-12 | 저지앙 마이크로테크 머테리얼 컴퍼니 리미티드 | 워크피스 처리 방법 및 그러한 방법을 위해 설계된 장치 |
KR20170047176A (ko) * | 2015-10-22 | 2017-05-04 | 저지앙 마이크로테크 머테리얼 컴퍼니 리미티드 | 워크피스 처리 방법 및 그러한 방법을 위해 설계된 장치 |
EP3174091A1 (en) | 2015-11-27 | 2017-05-31 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate and method for processing wafer |
US10115622B2 (en) | 2015-11-27 | 2018-10-30 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate and method for processing wafer |
US10991611B2 (en) | 2015-11-27 | 2021-04-27 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer processing laminate and method for processing wafer |
KR20170062404A (ko) | 2015-11-27 | 2017-06-07 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공체 및 웨이퍼 가공 방법 |
JP2017144615A (ja) * | 2016-02-16 | 2017-08-24 | 東京応化工業株式会社 | 積層体、積層体の製造方法、及び基板の処理方法 |
JP2017147345A (ja) * | 2016-02-17 | 2017-08-24 | 東京応化工業株式会社 | 支持体分離装置及び支持体分離方法 |
KR102643527B1 (ko) * | 2016-02-17 | 2024-03-06 | 아이메카테크 가부시키가이샤 | 지지체 분리 장치 및 지지체 분리 방법 |
KR20170096936A (ko) | 2016-02-17 | 2017-08-25 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 지지체 분리 장치 및 지지체 분리 방법 |
TWI703626B (zh) * | 2016-02-17 | 2020-09-01 | 日商東京應化工業股份有限公司 | 支持體分離裝置及支持體分離方法 |
KR20170103686A (ko) | 2016-03-03 | 2017-09-13 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 접착제 조성물, 적층체 및 적층체의 제조 방법 |
JP2017170870A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 東京応化工業株式会社 | 分離層形成用組成物、積層体、及び積層体の製造方法 |
JP2017220669A (ja) * | 2016-06-06 | 2017-12-14 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ積層体及びその製造方法 |
EP3418340A1 (en) | 2017-06-05 | 2018-12-26 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive film roll for substrate processing, method for manufacturing thin wafer |
KR20180133213A (ko) | 2017-06-05 | 2018-12-13 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 기판 가공용 가접착 필름 롤, 박형 기판의 제조 방법 |
US10796939B2 (en) | 2017-06-05 | 2020-10-06 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive film roll for substrate processing, method for manufacturing thin wafer |
KR102175610B1 (ko) * | 2017-07-28 | 2020-11-09 | 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 | Info 패키지 형성에서의 차징 배리어로서의 lthc |
US11437361B2 (en) | 2017-07-28 | 2022-09-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | LTHC as charging barrier in InFO package formation |
US10522526B2 (en) | 2017-07-28 | 2019-12-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | LTHC as charging barrier in InFO package formation |
KR20190013461A (ko) * | 2017-07-28 | 2019-02-11 | 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 | Info 패키지 형성에서의 차징 배리어로서의 lthc |
US11923353B2 (en) | 2017-07-28 | 2024-03-05 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | LTHC as charging barrier in info package formation |
KR20190017669A (ko) | 2017-08-10 | 2019-02-20 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 분리층 형성용 조성물, 분리층이 형성된 지지 기체, 적층체 및 그 제조 방법, 그리고 전자 부품의 제조 방법 |
US10875275B2 (en) | 2017-08-10 | 2020-12-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Composition for forming separation layer, support base provided with separation layer, laminate and method of producing same, and method of producing electronic component |
KR20240035894A (ko) | 2017-11-01 | 2024-03-18 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 노볼락 수지를 박리층으로서 포함하는 적층체 |
US11472168B2 (en) | 2017-11-01 | 2022-10-18 | Nissan Chemical Corporation | Laminated body including novolac resin as peeling layer |
KR20200079491A (ko) | 2017-11-01 | 2020-07-03 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 노볼락 수지를 박리층으로서 포함하는 적층체 |
WO2019088103A1 (ja) | 2017-11-01 | 2019-05-09 | 日産化学株式会社 | ノボラック樹脂を剥離層として含む積層体 |
JP7582288B2 (ja) | 2017-12-01 | 2024-11-13 | 株式会社レゾナック | 仮固定用積層体及び半導体装置の製造方法 |
JP2023051946A (ja) * | 2017-12-01 | 2023-04-11 | 株式会社レゾナック | 仮固定用積層体及び半導体装置の製造方法 |
US11840648B2 (en) | 2017-12-01 | 2023-12-12 | Resonac Corporation | Semiconductor device manufacturing method, curable resin composition for temporary fixation material, film for temporary fixation material, and laminated film for temporary fixation material |
US12084599B2 (en) | 2017-12-01 | 2024-09-10 | Resonac Corporation | Semiconductor device manufacturing method, curable resin composition for temporary fixation material, film for temporary fixation material, and laminated film for temporary fixation material |
EP3557612A1 (en) | 2018-04-16 | 2019-10-23 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Circuit substrate processing laminate and method for processing circuit substrate |
KR20190120706A (ko) | 2018-04-16 | 2019-10-24 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 회로 구비 기판 가공체 및 회로 구비 기판 가공 방법 |
US10854496B2 (en) | 2018-04-16 | 2020-12-01 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Circuit substrate processing laminate and method for processing circuit substrate |
US10950481B2 (en) | 2018-06-04 | 2021-03-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for manufacturing thin substrate |
EP3579267A1 (en) | 2018-06-04 | 2019-12-11 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for manufacturing thin substrate |
KR20190138278A (ko) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 박형 기판의 제조 방법 |
EP3648147A1 (en) | 2018-11-01 | 2020-05-06 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for manufacturing laminate and method for manufacturing substrate |
KR20200050393A (ko) | 2018-11-01 | 2020-05-11 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 적층체의 제조 방법 및 기판의 제조 방법 |
US11183417B2 (en) | 2018-11-01 | 2021-11-23 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for manufacturing laminate and method for manufacturing substrate |
WO2020101000A1 (ja) | 2018-11-14 | 2020-05-22 | デンカ株式会社 | 組成物 |
KR20210091172A (ko) | 2018-11-14 | 2021-07-21 | 덴카 주식회사 | 조성물 |
US12221534B2 (en) | 2018-11-14 | 2025-02-11 | Denka Company Limited | Composition |
KR20210094581A (ko) | 2018-11-19 | 2021-07-29 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 광조사 박리용 접착제 조성물 및 적층체, 그리고 적층체의 제조 방법 및 박리 방법 |
US11926765B2 (en) | 2018-11-19 | 2024-03-12 | Nissan Chemical Corporation | Adhesive composition for peeling off by irradiation with light, layered product, and production method and peeling method for layered product |
WO2020105586A1 (ja) | 2018-11-19 | 2020-05-28 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用接着剤組成物及び積層体並びに積層体の製造方法及び剥離方法 |
JP7521426B2 (ja) | 2018-11-29 | 2024-07-24 | 株式会社レゾナック | 半導体装置の製造方法及び仮固定材用積層フィルム |
JPWO2020111154A1 (ja) * | 2018-11-29 | 2021-10-21 | 昭和電工マテリアルズ株式会社 | 半導体装置の製造方法及び仮固定材用積層フィルム |
KR20210107788A (ko) | 2018-12-27 | 2021-09-01 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 광조사 박리용 접착제 조성물 및 적층체, 그리고 적층체의 제조 방법 및 박리 방법 |
WO2020138240A1 (ja) | 2018-12-27 | 2020-07-02 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用接着剤組成物及び積層体並びに積層体の製造方法及び剥離方法 |
KR20200081226A (ko) | 2018-12-27 | 2020-07-07 | 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 | 전자 부품의 제조 방법, 및 키트 |
JP7453238B2 (ja) | 2019-01-22 | 2024-03-19 | ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. | 3-d ic用途用レーザー離型性接着材料 |
KR102766484B1 (ko) | 2019-01-22 | 2025-02-12 | 브레우어 사이언스, 인코포레이션 | 3-d ic 응용을 위한 레이저-이형성 결합 재료 |
JP2022522974A (ja) * | 2019-01-22 | 2022-04-21 | ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. | 3-d ic用途用レーザー離型性接着材料 |
KR20220032547A (ko) | 2019-07-11 | 2022-03-15 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 기판가공용 가접착재료 및 적층체의 제조방법 |
WO2021006311A1 (ja) | 2019-07-11 | 2021-01-14 | 信越化学工業株式会社 | 基板加工用仮接着材料及び積層体の製造方法 |
CN114096633A (zh) * | 2019-07-11 | 2022-02-25 | 信越化学工业株式会社 | 基板加工用临时粘合材料及层叠体的制造方法 |
KR20220075215A (ko) | 2019-09-30 | 2022-06-07 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼가공체, 웨이퍼가공용 가접착재, 및 박형 웨이퍼의 제조방법 |
WO2021065547A1 (ja) | 2019-09-30 | 2021-04-08 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
WO2021112070A1 (ja) | 2019-12-02 | 2021-06-10 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用仮接着剤、ウエハ積層体及び薄型ウエハの製造方法 |
KR20220108799A (ko) | 2019-12-02 | 2022-08-03 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공용 가접착제, 웨이퍼 적층체 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
JP2021106251A (ja) * | 2019-12-27 | 2021-07-26 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、積層体、積層体の製造方法、及び電子部品の製造方法 |
WO2021131395A1 (ja) * | 2019-12-27 | 2021-07-01 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、積層体、積層体の製造方法、及び電子部品の製造方法 |
US12215259B2 (en) | 2020-02-21 | 2025-02-04 | Nissan Chemical Corporation | Multilayer object and release agent composition |
KR20220143700A (ko) | 2020-02-21 | 2022-10-25 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체 및 박리제 조성물 |
WO2021166905A1 (ja) | 2020-02-21 | 2021-08-26 | 日産化学株式会社 | 積層体及び剥離剤組成物 |
KR20230005219A (ko) | 2020-04-30 | 2023-01-09 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 웨이퍼 가공용 가접착제, 웨이퍼 적층체 및 박형 웨이퍼의 제조 방법 |
US11970639B2 (en) | 2020-04-30 | 2024-04-30 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Temporary adhesive for wafer processing, wafer laminate and method for producing thin wafer |
WO2021220929A1 (ja) | 2020-04-30 | 2021-11-04 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用仮接着剤、ウエハ積層体及び薄型ウエハの製造方法 |
KR20230014687A (ko) | 2020-05-21 | 2023-01-30 | 덴카 주식회사 | 조성물 |
WO2021235406A1 (ja) | 2020-05-21 | 2021-11-25 | デンカ株式会社 | 組成物 |
KR20230022856A (ko) | 2020-06-12 | 2023-02-16 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 가접착방법, 디바이스 웨이퍼 가공방법, 가접착용 적층체 및 디바이스 웨이퍼 가공용 적층체 |
WO2021251018A1 (ja) | 2020-06-12 | 2021-12-16 | 信越化学工業株式会社 | 仮接着方法、デバイスウエハ加工方法、仮接着用積層体及びデバイスウエハ加工用積層体 |
KR20230024371A (ko) | 2020-06-15 | 2023-02-20 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법 |
WO2021256386A1 (ja) | 2020-06-15 | 2021-12-23 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
JP7531328B2 (ja) | 2020-06-26 | 2024-08-09 | 東京応化工業株式会社 | 接着剤組成物、積層体、積層体の製造方法、及び電子部品の製造方法 |
WO2022019211A1 (ja) | 2020-07-22 | 2022-01-27 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
KR20230042074A (ko) | 2020-07-22 | 2023-03-27 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법 |
KR20230058653A (ko) | 2020-08-27 | 2023-05-03 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체 및 박리제 조성물 |
WO2022045026A1 (ja) | 2020-08-27 | 2022-03-03 | 日産化学株式会社 | 積層体及び剥離剤組成物 |
KR20230165266A (ko) | 2021-03-31 | 2023-12-05 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법 |
WO2022210262A1 (ja) | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2022210241A1 (ja) | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2022210238A1 (ja) | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
KR20230162674A (ko) | 2021-03-31 | 2023-11-28 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법 |
KR20230164088A (ko) | 2021-03-31 | 2023-12-01 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법 |
KR20230156137A (ko) | 2021-04-26 | 2023-11-13 | 덴카 주식회사 | 조성물 |
WO2022230874A1 (ja) | 2021-04-26 | 2022-11-03 | デンカ株式会社 | 組成物 |
JP7434666B2 (ja) | 2021-04-26 | 2024-02-20 | デンカ株式会社 | 組成物 |
WO2023032165A1 (ja) * | 2021-09-03 | 2023-03-09 | 昭和電工マテリアルズ株式会社 | 仮固定用フィルム、仮固定用積層体、及び半導体装置の製造方法 |
WO2023032981A1 (ja) * | 2021-09-03 | 2023-03-09 | 株式会社レゾナック | 仮固定用フィルム、仮固定用積層体、及び半導体装置の製造方法 |
KR20240105389A (ko) | 2021-10-29 | 2024-07-05 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법 |
WO2023074324A1 (ja) | 2021-10-29 | 2023-05-04 | 日産化学株式会社 | 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法 |
KR20230089551A (ko) | 2021-12-13 | 2023-06-20 | 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 | 분리층 형성용 조성물, 분리층 부착 지지 기체, 적층체 및 그의 제조 방법, 및 전자 부품의 제조 방법 |
WO2023234155A1 (ja) | 2022-06-02 | 2023-12-07 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用の接着剤組成物、積層体、及び加工された半導体基板の製造方法 |
WO2023243475A1 (ja) | 2022-06-17 | 2023-12-21 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用の接着剤組成物、積層体、及び加工された半導体基板又は電子デバイス層の製造方法 |
WO2023248872A1 (ja) | 2022-06-20 | 2023-12-28 | 日産化学株式会社 | 光照射剥離用の剥離剤組成物 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100121687A (ko) | 2010-11-18 |
US20100038035A1 (en) | 2010-02-18 |
US8789569B2 (en) | 2014-07-29 |
US20100041211A1 (en) | 2010-02-18 |
JP4565804B2 (ja) | 2010-10-20 |
AU2003278696A8 (en) | 2004-01-23 |
AU2003278696A1 (en) | 2004-01-23 |
EP1550156A2 (en) | 2005-07-06 |
EP1550156B1 (en) | 2018-12-05 |
KR20050004904A (ko) | 2005-01-12 |
CN102420114A (zh) | 2012-04-18 |
TWI282753B (en) | 2007-06-21 |
US8800631B2 (en) | 2014-08-12 |
CN102420114B (zh) | 2015-04-22 |
WO2004006296A2 (en) | 2004-01-15 |
US20110297771A1 (en) | 2011-12-08 |
KR101017474B1 (ko) | 2011-02-25 |
KR101084439B1 (ko) | 2011-11-21 |
MY141078A (en) | 2010-03-15 |
US8038839B2 (en) | 2011-10-18 |
WO2004006296A3 (en) | 2005-04-07 |
TW200402352A (en) | 2004-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4565804B2 (ja) | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 | |
JP5048707B2 (ja) | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 | |
JP4405246B2 (ja) | 半導体チップの製造方法 | |
US7534498B2 (en) | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body | |
JP5275553B2 (ja) | 分割チップの製造方法 | |
US20090017323A1 (en) | Layered body and method for manufacturing thin substrate using the layered body | |
KR20140128355A (ko) | 임시 기판 지지체를 위한 장치, 하이브리드 적층체, 방법 및 재료 | |
WO2010025047A2 (en) | Layered body and method for manufacturing thin substrate using the layered body | |
TW201526093A (zh) | 用於暫時基板支撐之裝置、混合層壓體、方法以及材料 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051025 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080930 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20081216 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20081219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091020 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100120 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100125 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100222 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100225 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100706 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100803 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4565804 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130813 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |