JP2004050813A - Insulating resin film and micro-pattern forming method on insulating resin film - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、μ単位の微細パターンを有する絶縁樹脂フィルム及びこのような絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体を含む各種電子電気部品の高集積化や小型化が進む中で、このような電子電気部品及び配線基板に対して高密度実装或いは高密度配線を施すために、薄膜絶縁フィルムにμ単位(ファインピッチ)の微細パターンを形成する技術が重要になっている。
【0003】
しかしながら、薄膜の絶縁樹脂フィルムにμ単位の微細パターンを形成する手段としては、フォトリソグラフィ技術を用いる以外に実用的な方法が無いのが現状である。図1によって、従来のフォトリソグラフィ技術を用いた微細パターン形成方法(特開平5−23876号公報参照)を説明する。
【0004】
この従来技術によると、まず、同図(a)に示すように、アルミナセラミック等の基板1上に高絶縁性樹脂からなる絶縁層2aを形成する。次に同図(b)に示すように、基板1上の全面に各種の塗布方法(スピンコート法等)でポリイミド前駆体ワニスを均一に塗布した後、350〜400℃で10〜20分間熱処理して、基板1上に高絶縁性樹脂であるポリイミド樹脂の絶縁層2を形成する。次に同図(c)に示すように、絶縁層2の全面にフォトレジスト液を均一に被着させ、これを70〜100℃で加熱して硬化させ、絶縁層2の表面にフォトレジスト膜3を被着させる。次に同図(d)に示すように、所望のパターンを露光,現像して絶縁層2の不要部分を露出させる。次に同図(e)に示すように、フォトレジスト膜3をエッチングマスクとして、露出した絶縁層2の不要部分をエッチングして除去する。最後に同図(f)に示すように、フォトレジスト膜3を除去して、基板1上に微細パターンの絶縁層2を形成する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
このようなフォトリソグラフィ技術を用いた絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法によると、精密なμ単位のパターンを形成することが可能であるが、製造工程が煩雑であると共に製造コストが高価であり量産性に欠けるという問題がある。また、各種のエッチング処理(湿式エッチング、ドライエッチング等)により加工を施すので、絶縁樹脂フィルムがエッチングによる加工性の良好な材料及び製膜可能な樹脂に限定されてしまい各種の用途に対応できないという問題もある。
【0006】
また、微細な凹凸状パターンを有する成形金型を用いることも考えられるが、上下の成形金型を嵌め合わせて加圧成形する際に、両成形金型の位置決めの精度と上型の凹凸状パターンの形成精度が問題になり、特に、位置決め精度と上型のパターン形成精度が成形物の仕上がり精度に直結するので、精密なμ単位のパターンを上下一対の成形金型で加圧成形することは困難であった。
【0007】
本発明は、このような問題を個々に解決することを課題の一例とするものであり、特に、量産性に優れ、材料の制約が少なく多用途への対応が可能な絶縁樹脂フィルム及び絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法を提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、本発明の特徴は以下のとおりである。
【0009】
請求項1に係る発明は、絶縁樹脂フィルムであって、開放成形型からのパターン転写によって形成された10〜500μピッチの凹凸状パターンを有する。
【0010】
請求項2に係る発明は、絶縁樹脂フィルムであって、開放成形型とパターン追従加圧媒体による加圧成形によって形成された10〜500μピッチの凹凸状パターンを有する。
【0011】
請求項3に係る発明は、絶縁樹脂フィルムであって、10〜500μピッチの凹凸状パターンが真空圧空成形されていることを特徴とする。
【0012】
請求項9に係る発明は、絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法であって、10〜500μピッチの凹凸状の微細パターンを有する開放成形型上に絶縁樹脂フィルムを配備させ、パターン追従加圧媒体による加圧成形によって、前記凹凸状の微細パターンを前記絶縁樹脂フィルムに転写させることを特徴とする。
【0013】
請求項13に係る発明は、絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法であって、10〜500μピッチの凹凸状の微細パターンを有する開放成形型上に絶縁樹脂フィルムを配備させ、真空圧空成形によって、前記凹凸状の微細パターンを前記絶縁樹脂フィルムに転写させることを特徴とする。
【0014】
請求項14に係る発明は、絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法であって、所定ピッチで形成された凹凸状の微細パターンを有する開放成形型上に絶縁樹脂フィルムを配備させる工程と、前記開放成形型の微細パターンに対応する凹凸状の微細パターンを有する予張形成型を前記絶縁樹脂フィルム上に配備して、前記開放成形型の微細パターンに対応する予張部を前記絶縁樹脂フィルムに形成する予張形成工程と、前記予張部のそれぞれを前記開放成形型の微細パターンのそれぞれに圧接して前記絶縁樹脂フィルムに凹凸状の微細パターンを成形する成形工程とを有することを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る実施形態の特徴を各請求項に対応させて説明する。第1の特徴としては、絶縁樹脂フィルムに成形型によって凹凸の微細パターンを形成することを実現するものであって、本発明の実施形態に係る絶縁樹脂フィルムは、開放成形型からの転写パターンによって形成された10〜500μピッチの凹凸状パターンを有することを特徴とする。また、第2の特徴としては、本発明の実施形態に係る絶縁樹脂フィルムは、開放成形型とパターン追従加圧媒体による加圧成形によって形成された10〜500μピッチの凹凸状パターンを有することを特徴とする。
【0016】
これらの特徴によると、従来、フォトリソグラフィ技術でμ単位の微細パターンを形成することが一般的であったのに対して、開放成形型を用いて微細パターンを形成することで、生産性の向上を図ることができる。更に、型成形によると材料の種類に対する制約が少ないので、多用途へ対応可能な絶縁樹脂フィルムを得ることができる。また、開放成形型を用いることで、一対の成形型をマッチングさせる必要がないので、微細なパターンに対しても成形可能である。
【0017】
第3の特徴としては、絶縁樹脂フィルムに開放成形型によって凹凸の微細パターンを形成することを実現するものであって、本発明の実施形態に係る絶縁樹脂フィルムは、開放成形型によって10〜500μピッチの凹凸状パターンが真空圧空成形されていることを特徴としている。
【0018】
この特徴によると、前述の特徴と同様に、生産性の向上を図ることができる。更に、型成形によると材料の種類に対する制約が少ないので、多用途へ対応可能な絶縁樹脂フィルムを得ることができる。また、真空圧空成形によって開放成形型を用いることで、一対の成形型をマッチングさせる必要がないので、微細なパターンに対しても成形可能である。
【0019】
第4の特徴としては、絶縁樹脂フィルムに開放成形型によって凹凸の微細パターンを形成することを実現するものであって、本発明の実施形態に係る絶縁樹脂フィルムは、10〜500μピッチで10〜500μの深さを有する凹凸状パターンが成形されている。この特徴によると、開放成形型を用いて10〜500μピッチで10〜500μの深さを有する凹凸状パターンを形成するので、微細パターンを有する絶縁樹脂フィルムに対して、生産性の向上を図ると共に、選択する材料の種類に対する制約が少なくなり、多用途への対応が可能になる。
【0020】
第5の特徴としては、第1又は第2の特徴を備えた絶縁樹脂フィルムにおいて、前記凹凸状パターンの断面形状は、凹字型、V字型、U字型のいずれか或いはそれらの混在であることを特徴とする。これによると、各種断面の微細パターンを形成するに当たって、生産性の向上を図ると共に、材料の種類に対する制約が少ない絶縁樹脂フィルムを得ることができる。
【0021】
第6の特徴としては、第1〜3の特徴を有する絶縁樹脂フィルムからなる高密度配線電子部品であって、前述した凹凸状パターンの凹部内に導電部材を配備したことを特徴とする。これによると、微細パターンを有する絶縁樹脂フィルムからなる高密度配線電子部品を得るに当たって、生産性の向上を図ると共に、絶縁材料の種類に対する制約が少なくなり材料設計の選択幅を拡大することができる。
【0022】
第7の特徴としては、第4の特徴を有する絶縁樹脂フィルムからなる高密度配線電子部品であって、前記絶縁樹脂フィルムの厚さを5〜500μとしたものである。これによると、μ単位の厚さと微細パターンを有する絶縁樹脂フィルムからなる高密度配線電子部品を得るに当たって、生産性の向上を図ると共に、絶縁材料の種類に対する制約が少なくなり材料設計の選択幅を拡大することができる。
【0023】
第8の特徴としては、第6又は第7の特徴を有する絶縁樹脂フィルムからなる高密度配線電子部品であって、前記絶縁樹脂フィルムは、ポリイミド、ポリアミド、ポリベンゾイミダゾール、ポリエステル、ポリイミダゾール、ポリフェニレンスルフィド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエーテルケトン、ポリスルフォンの何れかであることを特徴とする。これによると、耐熱性且つ絶縁性の高い前述の材料を用いてμ単位の厚さ又は微細パターンを有する絶縁樹脂フィルムからなる高密度配線電子部品を得るに当たって、生産性の向上を図ることができる。
【0024】
このような特徴を有する絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法に係る実施形態を以下に説明する。
【0025】
図2は、一つの実施形態に係る微細パターン形成方法を説明する説明図である。図において、開放成形型10には微細パターンに対応する成形溝10aが例えば凹字状断面でストライプ状のパターンとして形成されている。この成形溝10aのピッチ及び深さはμ単位、例えば10〜500μで形成されている。この実施形態に係る微細パターン形成方法によると、開放成形型10上に絶縁樹脂フィルム20を配備させ、枠材61に取り付けられたパターン追従加圧媒体60を絶縁樹脂フィルム20に向けて押圧させて、パターン追従加圧媒体60による加圧成形によって、凹凸状の微細パターンを絶縁樹脂フィルム20に転写させている。
【0026】
開放成形型10は、必要に応じて例えば300℃程度の成形温度に加熱され、パターン追従加圧媒体60によって開放成形型10のパターン全体に均一な押圧力が作用して、絶縁樹脂フィルム20に凹凸状の微細パターンが転写される。
【0027】
ここでいうパターン追従加圧媒体60とは、開放成形型10のパターン形状に自在に対応してパターンの表面全体に均一な押圧力を作用させるものであり、開放成形型10の成形加熱温度に耐え得る耐熱性弾性体、超塑性合金、加熱によって流動化してパターン追従性を示す低融点合金等を用いることができる。
【0028】
耐熱性弾性体の例としては、フッ素ゴム独立発泡体、シリコンベース熱伝導エラストマ、シリコンゴム、シリコンゲル等を挙げることができる。超塑性合金の例としては、亜鉛系合金(成分;Zn−22Al(0〜4Cu))、チタン系合金(成分;Ti−6Al−4V,Ti−4.5Al−3V−2Fe−2Mn)、ステンレス系合金(成分;Fe−25Cr−6.5Ni−3.2Mo)、アルミ系合金(成分;Al−6Cu−0.4Zr,Al−2.5Cu−2.3Li−0.1Zr,Al−5.7Zn−2.3Mg−1.5Cu−0.2Cr,Al−4.5Mg−0.7Mn−0.1Cr)等を挙げることができる。低融点合金としては、溶融開始温度が120℃から200℃程度のものを用いることができる。
【0029】
図3は、前述した低融点合金をパターン追従加圧媒体として用いる場合の実施形態を示すものである(同図(a)は全体説明図、同図(b)は要部拡大図を示している。)。この実施形態は、開放成形型10のパターン上に絶縁樹脂フィルム20を配備させ、底面に超塑性合金60Bの膜を形成した枠材61内に低融点合金60Aを充填させ、その底面を絶縁樹脂フィルム20に押圧させたものである。枠材61の上部には圧力伝達隔壁61aが形成されており、ここから圧力を低融点合金60Aに伝達させるようにしている。
【0030】
同図(b)は開放成形型10の表面付近を示す拡大図である。この実施形態によると、開放成形型10の加熱によって低融点合金が溶融されてパターン追従性を有するようになり、超塑性合金のパターン追従性と相俟って、絶縁樹脂フィルム20を開放成形型10の微細パターンに沿って押圧できるようになる。これによって、凹凸状の微細パターンを絶縁樹脂フィルム20に転写させることができる。
【0031】
図4〜図7に示す実施形態は、真空圧空成形によって、凹凸状の微細パターンを絶縁樹脂フィルムに転写させる微細パターン形成方法である。図4は、その一つの実施形態に係る微細パターン形成方法を示す説明図である。この実施形態においても開放成形型10には微細パターンに対応する成形溝10aが例えば凹字状断面でストライプ状のパターンとして形成されている。この成形溝10aのピッチp及び深さdはμ単位、例えば10〜500μで形成されている。また開放成形型10には、成形溝10aのそれぞれに臨む通気孔10bが形成されている。
【0032】
この実施形態の微細パターン形成方法に係る各工程を図に従って順に説明すると、まず図4(a)に示すように、開放成形型10上に被成形対象である絶縁樹脂フィルム20を配備させる。次に同図(b)に示すように、絶縁樹脂フィルム20上に開放成形型10の微細パターンに対応する凹凸状の微細パターンを有する予張形成型30を配備させる。この予張形成型30には、成形溝10aと一対一に対応する凹部空間30aが形成されており、この凹部空間30aによって凹凸状の微細パターンが形成されている。そして、この予張形成型30にも、凹部空間30aに臨む通気孔30bが形成されている。
【0033】
同図(b)に示す予張形成工程では、予張形成型30によって絶縁樹脂フィルム20に開放成形型10の微細パターンに対応した予張部20aが形成される。つまり、絶縁樹脂フィルム20に対して、予張形成型30側から通気孔30bを介して行われる吸引と成形型10側から通気孔10bを介して行われる圧空の何れか一方又は両方が作用して、絶縁樹脂フィルム20を凹部空間30a内に引き込み、この凹部空間30aの微細パターンに対応する予張部20aが絶縁樹脂フィルム20に形成される。この際、予張形成型30は必要に応じて加熱される。予張形成型30を加熱することで、予張形成時に成形のための予備加熱を合わせて行うことができ、また、予張形成をより効果的に行うことができる。
【0034】
同図(c)に示す成形工程では、前述の予張部20aのそれぞれを開放成形型10の微細パターンのそれぞれに圧接して絶縁樹脂フィルム20に凹凸状の微細パターンを成形する。つまり、この成形工程では、絶縁樹脂フィルム20に対して、予張形成型30側から通気孔30bを介して行われる圧空と開放成形型10側から通気孔10bを介して行われる吸引の何れか一方又は両方が作用して、絶縁樹脂フィルム20の予張部20aを成形溝10a内に引き込み、この成形溝10aに対応する微細パターンを絶縁樹脂フィルム20に成形する。この際、必要に応じて開放成形型10は加熱される。この加熱によって、微細パターンの成形をより確実に行うことができる。
【0035】
この成形工程が終了すると、同図(d)に示すように、必要に応じて開放成形型10は冷却される。この冷却によって、加熱によって軟化した絶縁樹脂フィルムが硬化して、成形された微細パターンの形状が保持される。その後、同図(e)に示すように離型が行われて、ファインピッチの微細パターン20bが成形された絶縁樹脂フィルム20を得ることができる。
【0036】
図5は、真空圧空成形による他の実施形態を示す説明図である。前述の実施形態と同一の部分には同一の符号を付して重複した説明を一部省略する。この実施形態においては、開放成形型10の微細パターンを形成する成形溝10aに対応して凸部31aを有する予張形成型31を用いる。31bは絶縁樹脂フィルム20を予張形成型31側に吸引するための通気孔である。
【0037】
この実施形態の微細パターン形成方法に係る各工程を図に従って順に説明すると、まず前述の図4(a)に示すように、開放成形型10上に被成形対象である絶縁樹脂フィルム20を配備させ、更に絶縁樹脂フィルム20上に予張形成型31を配備する。そして、図5(a)に示すような予張形成工程が行われる。
【0038】
この予張形成工程では、予張形成型31側から通気孔31bを介して吸引が行われ、これによって予張形成型31に樹脂フィルム20が圧接される。この予張形成型31には前述のように開放成形型10の成形溝10aに一対一に対応する凸部31aが形成されているので、この凸部31aによって開放成形型10の微細パターンに対応する予張部20aが絶縁樹脂フィルム20に形成される。この際、予張形成型31は必要に応じて加熱される。予張形成型31を加熱することで、予張形成時に成形のための予備加熱を合わせて行うことができ、また、予張形成をより効果的に行うことができる。
【0039】
そして、図5(b)に示される成形工程では、絶縁樹脂フィルム20に対して、開放成形型10側から通気孔10bを介して行われる吸引が作用して、絶縁樹脂フィルム20の予張部20aを成形溝10a内に引き込み、この成形溝10aに対応する微細パターンを絶縁樹脂フィルム20に成形する。この際、必要に応じて開放成形型10は加熱される。この加熱によって、微細パターンの成形をより確実に行うことができる。その後は、前述の実施形態と同様に必要に応じて冷却を行い、離型を行うことで、μ単位の微細パターンが形成された絶縁樹脂フィルムを成形することができる。
【0040】
図6は、真空圧空成形による更に他の実施形態を示す説明図である。前述の実施形態と同一の部分には同一の符号を付して重複した説明を一部省略する。この実施形態では、開放成形型10の成形溝10aに一対一に対応する凸部32aを有する予張形成型32を用い、これを開放成形型10上に設置した絶縁樹脂フィルム20に向けて圧接する(同図(a)参照)。これによって、開放成形型10の成形溝10a内で、絶縁樹脂フィルム20に予張部20aが形成される(予張形成工程;同図(b)参照)。そして、予張形成型32を引き離し、絶縁樹脂フィルム20に対して、開放成形型10側から通気孔10bを介して吸引が作用し、成形溝10a内に形成された予張部20aが成形溝10aの内面に圧接され、この成形溝10aに対応する微細パターンを絶縁樹脂フィルム20に成形する。この際、前述の実施形態と同様に必要に応じて開放成形型10は加熱される。その後は、前述の実施形態と同様に必要に応じて冷却を行い、離型を行うことで、μ単位の微細パターンが形成された絶縁樹脂フィルムを成形することができる。
【0041】
図7は、真空圧空成形による更に他の実施形態を示す説明図である。前述の実施形態と同一の部分には同一の符号を付して重複した説明を一部省略する。この実施形態は、前述の各実施形態における予張形成工程と成形工程とを交互に連続して繰り返すものである。
【0042】
図7においては、図5で示した実施形態を例にしている。図7(a)において、予張形成工程で予張形成型31側から通気孔31bを介して吸引を行い絶縁樹脂フィルム20に部分的な予張部を形成する。次に、同図(b)に示すように、成形工程で形成された部分的な予張部を成形溝10a内に引き込み更に予張部を拡大する。更に、同図(c)に示すように予張形成型側から吸引して予張形成型31の凸部31aに応じた予張部を形成する。そして最終的に、同図(d)に示すように、開放成形型10側から吸引して成形溝10a内に予張部を引き込み、成形溝10a内面に予張部を圧接する。この繰り返しは、段階的に更に多数回に亘って繰り返すこともできる。ここで説明した工程の前後の工程は前述の実施形態と同様の工程が施される。
【0043】
このような絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法に係る実施形態の特徴を、前述の特徴に引き続いて各請求項に対応させて説明する。
【0044】
第9の特徴としては、10〜500μピッチの凹凸状の微細パターンを有する開放成形型10上に絶縁樹脂フィルム20を配備させ、パターン追従加圧媒体60による加圧成形によって、凹凸状の微細パターンを絶縁樹脂フィルム20に転写させることを特徴とする。また、第10〜12の特徴としては、パターン追従加圧媒体60を耐熱性弾性体,超塑性合金60B,低融点合金60Aにしたことを特徴とする。
【0045】
これらの特徴によると、開放成形型を用いて絶縁樹脂フィルムに微細パターンを形成することができるので、低コストで量産性に適した形成が可能になり、生産性の向上を図ることができると共に、材料の制限を受けることもないので用途にあった材料からなる絶縁樹脂フィルムに対してμ単位の微細パターンを形成することができる。また、開放成形型を用いることで、一対の成形型、特に上型を用いる必要がないので、一対の型のマッチングを問題にすることが無くなり、微細なパターンを有する成形型によるパターン転写が可能になる。各種のパターン追従加圧媒体による加圧成形によって開放成形型による成形(上型を用いない成形)が可能になった。
【0046】
第13の特徴としては、10〜500μピッチの凹凸状の微細パターンを有する開放成形型上に絶縁樹脂フィルムを配備させ、真空圧空成形によって、前記凹凸状の微細パターンを前記絶縁樹脂フィルムに転写させることを特徴とする。
【0047】
これによると、真空圧空成形によって開放成形型を用いた成形を行うことが可能になるので、前述したように、絶縁樹脂フィルムに微細パターンを形成するにあたって、低コストで量産性に適した形成が可能になり、生産性の向上を図ることができる。また、真空圧空成形による型成形を行うので、材料の制限を受けることもなく、用途にあった材料からなる絶縁樹脂フィルムに対してμ単位の微細パターンを形成することができる。そして、真空圧空成形によって開放成形型を用いることで、一対の成形型、特に上型を用いる必要がないので、一対の型のマッチングを問題にすることが無くなり、微細なパターンを有する成形型によるパターン転写が可能になる。
【0048】
第14の特徴としては、所定ピッチで形成された凹凸状の微細パターン(成形溝10a)を有する開放成形型10上に絶縁樹脂フィルム20を配備させる工程と、開放成形型10の微細パターンに対応する凹凸状の微細パターン(凹部空間30a)を有する予張形成型30を絶縁樹脂フィルム20上に配備して、開放成形型10の微細パターンに対応する予張部20aを絶縁樹脂フィルム20に形成する予張形成工程と、予張部20aのそれぞれを開放成形型10の微細パターンのそれぞれに圧接して絶縁樹脂フィルム20に凹凸状の微細パターンを成形する成形工程とを有することを特徴としている。
【0049】
このような特徴によると、開放成形型を用いて絶縁樹脂フィルムに微細パターンを形成することができるので、低コストで量産性に適した形成が可能になり、生産性の向上を図ることができると共に、材料の制限を受けることもないので用途にあった材料からなる絶縁樹脂フィルムに対してμ単位の微細パターンを形成することができる。
【0050】
更に言及すると、この実施形態において、成形により微細パターンを形成することを可能にした特徴的な工程として、絶縁樹脂フィルムに対して微細パターンに対応した微細な予張部を形成する予張形成工程を挙げることができる。つまり、従来から絶縁樹脂フィルムの成形法として知られる真空成形或いは真空圧空成形においても、プレブロー成形工程或いはプラグアシスト成形工程として予張形成工程を設けることは普通に行われていることであるが、この従来の真空成形或いは真空圧空成形における予張形成工程ではμ単位の微細パターンを絶縁樹脂フィルムに転写性良く形成することはできない。これは、被成形材である絶縁樹脂フィルムの全体をプレブロー或いはプラグアシストする予張工程では予張効果が成形面内で均一に作用せず、微細パターンに対応させると著しく延伸した部分や効果的な延伸が得られていない部分が各微細パターン毎に対応することになり、微細パターンの正確な転写が得られないからである。
【0051】
これに対して実施形態で示した予張形成工程では、開放成形型10の微細パターンに対応する凹凸状の微細パターン(凹部空間30a)を有する予張形成型30を絶縁樹脂フィルム20上に配備して、開放成形型10の微細パターンに対応する予張部20aを絶縁樹脂フィルム20に形成するので、開放成形型10の各微細パターン毎にそれぞれ均一な予張部20aを対応させることが可能になり、この予張部20を開放成形型10の各微細パターン内に圧接することで、成形により絶縁樹脂フィルム20にμ単位の微細パターンを形成することが可能になる。この際、予張部20の形成は、最終的な微細パターンの形成精度に直接関与しないので、予張形成型30の凹部空間30aのパターンは開放成形型10の微細パターンに比べて精度の低いものであってもよい。また、予張形成型30と開放成形型10の位置合わせも上型を押し当てる場合のような高い精度は要求されない。
【0052】
第15の特徴としては、前述の特徴を前提として、前記予張形成工程は、予張形成型30側からの吸引と開放成形型10側からの圧空の何れか一方又は両方によって、予張形成型30の微細パターンにおける凹部空間30aに予張部20aを形成することを特徴とする。この特徴によると、前述の特徴と併せて、予張形成型30の凹部空間30aに真空圧空作用による非接触で予張部20aを形成するので、予張部20に型接触による傷や擦れ等が生じることが無く、精度の高い微細パターンを形成することができる。
【0053】
第16の特徴としては、第14の特徴を前提として、前記予張形成工程は、予張形成型31又は32の微細パターンにおける凸部31a,32aを絶縁樹脂フィルム20に圧接することにより予張部20aを形成することを特徴とする。この特徴によると、第14の特徴と併せて、型の圧接によって確実な予張部を形成することができ、伸縮性の低い絶縁樹脂フィルムに対しても微細パターンに対応した予張部20aを形成することができる。
【0054】
第17の特徴としては、前述の各特徴を前提として、前記成形工程における圧接は、開放成形型10側からの吸引と予張形成型30側からの圧空の何れか一方又は両方によってなされることを特徴とする。これによると、前述の各特徴と併せて、非接触による開放成形型10の微細パターンへの圧接を行うことが可能になり、より精度の高い微細パターンの形成を行うことができる。
【0055】
第18の特徴としては、前述の各特徴を前提として、前記予張形成工程と前記成形工程とを交互に連続して繰り返すことを特徴とする。これによると、前述の各特徴と併せて、繰り返しの過程で段階的に予張部を形成することができるので、予張部の均一成形の精度を更に高めることができると共に、特に難成形性の絶縁樹脂フィルムに対しても確実且つ均一な予張部を形成することができる。
【0056】
第19の特徴としては、前述の各特徴を前提として、前記予張形成工程では、予張形成型30,31,32を加熱して絶縁樹脂フィルム20を予備加熱することを特徴とする。これによると、前述の各特徴と併せて、予張形成工程が成形に対する予備加熱工程も兼ねるので成形を確実に行うことができると共に、予張工程での加熱により予張自体を短時間で確実に行うことができる。
【0057】
第20の特徴としては、前述の各特徴を前提として、前記成形工程後に、開放成形型10を冷却する工程を含むことを特徴とする。これによると、前述の各特徴と併せて、加熱されて軟化した絶縁樹脂フィルムを硬化させて、成形された微細パターンを正確に維持することが可能になる。
【0058】
第21の特徴としては、前述の各特徴と併せて、前記凹凸状の微細パターンは、10〜500μのピッチ及び深さを有することを特徴とする。これによると、前述の各特徴と併せて、10〜500μのピッチ及び深さを有する凹凸状の微細パターンを有する絶縁樹脂フィルムを開放成形型を用いた成形によって形成することができるので、生産性の向上を図ることができる。また、材料の制約が少ない形成ができるので、広い用途の基材に対する形成方法として有用である。
【0059】
【実施例】
以下に、前述した実施形態を更に具体化した実施例を図面を参照しながら説明する。図8は成形された微細パターンを有する絶縁樹脂フィルム20の寸法例を示す説明図である。この例では、フィルム材料として、熱可塑性ポリイミドフィルムを採用し、図11に示した実施例の成形装置を用いて、図12に示す形成方法で成形した例である。フィルム材料としては、前述の熱可塑性ポリイミドフィルムと同様に、ポリアミド、ポリベンゾイミダゾール、ポリエステル、ポリイミダゾール、ポリフェニレンスルフィド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエーテルケトン、ポリスルフォン等の耐熱性樹脂フィルムを採用することができる。この例では、微細パターンは凹字断面のストライプ状に形成されており、そのピッチpは50μ、深さdは25μ、幅w1(=w2)は25μ、厚さtは15μとしている。このように、深さdと幅w1が等しい成形パターンに対しても精度の高い成形が可能となる。なお、ここでは一例として凹字型の断面形状を示しているが、V字型,U字型の断面形状とすることも前述した開放成形型10における成形溝10a(図4〜図7)の形状を適宜変更することで可能となる。また、開放成形型10によってはこれらの断面形状を混在させることも可能である。
【0060】
図9は、図8に示した絶縁樹脂フィルム20の微細パターンに導電材21を配備させた高密度配線電子部品を示している。絶縁樹脂フィルム20に成形されたピッチp,深さd,幅w1のストライプ状微細パターン内に導電材21が配備されている。導電材21は導電性ペーストの埋め込み、或いはメッキ層の形成等によって配備させることができる。このような高密度配線電子部品によると、導電材の幅と高さ,隣接配線との間隔がほぼ等しくなり、低抵抗高密度配線を実現できる。同図(a)では、一面側の凹部パターン内に導電材21を配備した例を示しているが、同図(b)に示すように、絶縁樹脂フィルム20の両面に形成される凹部パターンに導電材21を配備させることも可能であり、これによって、更に高密度の配線が可能である。
【0061】
図10は、実施例の絶縁樹脂フィルム20を用いた高密度配線電子部品の一例として、フレキシブル配線基板を示した説明図である。同図(a)に示されるフレキシブル配線基板40は絶縁樹脂フィルムに配線領域41及びその端部にコネクタ部42を有するものである。42は絶縁樹脂フィルムの基板上に実装されたCRL等の電子部品或いは半導体チップである。44は実装時の位置決め孔を示している。このようなフレキシブル配線基板40の配線領域41におけるA−A断面図を同図(b)に示す。この配線領域41は、図9の構造と同様であって、微細パターンが成形された絶縁樹脂フィルム20のパターン内に導電材21が配備されており、その周辺を絶縁材22で被覆した構造になっている。
【0062】
図11は、このような絶縁樹脂フィルム20を成形するための成形装置の一例を示すものである。図において、50は開放成形型であって、この開放成形型50には凹凸状の微細パターンに対応する成形溝50aが形成されており、この成形溝50aのそれぞれの隅部には通気孔50bが連通している。また、51は予張形成型であって、成形溝50aと一対一に対応する位置に凹部空間51aが形成されており、この凹部空間51aのそれぞれには通気孔51bが連通している。
【0063】
そして、開放成形型50における通気孔50bには加圧・吸引路52Aが連通しており、予張形成型51における通気孔51bには加圧・吸引路52Bが連通している。開放成形型50の下方及び予張形成型51の上方には加熱源となる電磁誘導コイル53A,53Bが配備されており、これによって開放成形型50及び予張形成型51に伝熱材54A,54Bを介して熱を伝えている。55A,55Bはこの開放成形型50或いは予備成形型51に対して接触又は離脱可能に設けられた放熱ブロックであり、各放熱ブロック55A,55Bには冷却水路56A,56Bが配備されている。
【0064】
このような成形装置を用いた微細パターン形成方法の一例を図10によって説明する。
【0065】
フィルムセット工程(同図(a));開放成形型50と予張形成型51とを開放して、その間の開放成形型50上に絶縁樹脂フィルム20(ポリイミドフィルム)を配備する。加熱源である電磁誘導コイル53A,53Bはオフ状態、加圧・吸引路52A,52Bへの圧力供給は停止状態、放熱ブロック55A,55Bは開放成形型50及び予張形成型51に対して離脱状態とする。
【0066】
フィルム加熱工程(同図(b));開放成形型50上に配備された絶縁樹脂フィルム20上に予備成形型51を当接させる。加熱源である電磁誘導コイル53A,53Bをオン状態にし、伝熱材54A,54Bを介して開放成形型50及び予備成形型51を加熱することによって、絶縁樹脂フィルム20を加熱する。加熱温度は、250〜400℃とする。加圧・吸引路52A,52Bへの圧力供給は停止状態、放熱ブロック55A,55Bは開放成形型50及び予張形成型51に対して離脱状態とする。
【0067】
予張形成工程(同図(c));同図(b)のフィルム加熱工程における電磁誘導コイル53A,53Bのオン状態を維持しながら、開放成形型50側の加圧・吸引路52Aに3〜10気圧の空圧Pairを印加すると同時に、予張形成型51側の加圧・吸引路52Bに同圧の吸引圧Pairを印加する。これによって、予張形成型51における凹部空間51a内に加熱された絶縁樹脂フィルム20が局部的に吸い込まれ、開放成形型50の成形溝50aに対応した微細な予張部が絶縁樹脂フィルム20に形成される。放熱ブロック55A,55Bは開放成形型50及び予張形成型51に対して離脱状態とする。
【0068】
成形工程(同図(d));同図(c)における加熱状態を維持しながら、圧力供給状態を反転させる。すなわち、開放成形型50側の加圧・吸引路52Aに3〜10気圧の吸引Pairを印加すると同時に、予張形成型51側の加圧・吸引路52Bに同圧の空圧Pairを印加する。これによって、絶縁樹脂フィルム20に形成された微細な予張部がそれぞれ開放成形型50の成形溝50a内に引き込まれ、成形溝50aの内面に圧接されることになる。この状態を保持することで、絶縁樹脂フィルム20に前述したμ単位の微細パターンを形成することができる。
【0069】
冷却工程(同図(e));加圧・吸引路52A,52Bへの圧力供給を停止し、電磁誘導コイル53A,53Bをオフにすると同時に、冷却水路56A,56Bに冷却水を供給した放熱ブロック55A,55Bを開放成形型50及び予張形成型51に対して接触させる。これによって、成形された絶縁樹脂フィルム20を急速に冷却・固化することができ、成形された微細なパターンの形状を確実に維持することができる。
【0070】
離型工程(同図(f));電磁誘導コイル53A,53Bはオフ状態、加圧・吸引路52A,52Bへの圧力供給は停止状態、放熱ブロック55A,55Bにおける冷却水の駆動も停止状態として、放熱ブロック55A,55Bを離脱状態にする共に開放成形型50,予張形成型51を開放して、成形が完了した絶縁樹脂フィルム20を離型する。
【0071】
このような実施例によると以下の作用効果を奏する。
(1)開放成形型を用いた真空圧空成形加工によってμ単位の微細パターンを有する絶縁樹脂フィルムを形成することができるので、このような絶縁樹脂フィルムの生産性を著しく向上させることができる。
(2)エッチング処理等の材料特性に起因する加工を行わないので、絶縁材料の種類に対する制約を少なくでき、様々な用途に対応できる絶縁樹脂フィルムを形成することができる。
(3)予張形成型を用いて、成形型の微細パターンに対応した微細な予張部を絶縁樹脂フィルムに形成することにより、微細パターンに応じた均一性を有する予張処理が行われることになる。これによって、開放成形型を用いた絶縁樹脂フィルムへの微細パターンの転写を高精度に行うことが可能になる。
(4)また、微細な予張部の形成により、微細3次元形状を有する開放成形型に対する絶縁樹脂フィルムの追従性が向上し、形状精度に優れた成形体が得られる。これによって、各種の成形断面を有する微細パターンの成形が可能になる。
(5)微細な予張部の形成と開放成形型への成形を連続的に繰り返すことで段階的に成形を実現することができるので、従来成形困難とされていたフィルム材質や形状への応用が可能となる。
(6)開放成形型と予張形成型間に絶縁樹脂フィルムをセットしたままの状態で、誘導加熱して微細パターンを成形し、その後直ちに放熱ブロックの接触により冷却することができるので、成形時間の短縮化を図ることができる。
(7)微細パターン成形後の急速冷却が可能であるので、成形された微細なパターンの形状を確実に維持することができる。
(8)転写される凹状断面に対応する成形溝の隅部に通気孔を形成しているので、絶縁樹脂フィルムに形成された微細な予張部が成形溝の内面全体に精度良く密着することができ、転写精度を向上させることができる。
(9)開放成形型を用いることで、一対の成形型を用いる場合のような成形型のマッチングが問題にならないので、微細パターンを型成形によって絶縁樹脂フィルムに転写させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のフォトリソグラフィ技術を用いた微細パターン形成方法を説明する説明図である。
【図2】本発明の実施形態に係る微細パターン形成方法を説明する説明図である。
【図3】本発明の実施形態に係る微細パターン形成方法を説明する説明図である。
【図4】本発明の真空圧空成形による実施形態を示す説明図である。
【図5】真空圧空成形による他の実施形態を示す説明図である。
【図6】真空圧空成形による他の実施形態を示す説明図である。
【図7】真空圧空成形による他の実施形態を示す説明図である。
【図8】成形された微細パターンを有する絶縁樹脂フィルムの寸法例を示す説明図である。
【図9】図6に示した絶縁樹脂フィルムの微細パターンに導電材を配備させた高密度配線電子部品を示す説明図である。
【図10】実施例の絶縁樹脂フィルムを用いた高密度配線電子部品の一例として、フレキシブル配線基板を示した説明図である。
【図11】実施例の絶縁樹脂フィルムを成形するための成形装置の一例を示す説明図である。
【図12】実施例の成形装置を用いた微細パターン形成方法の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
10,50 開放成形型
10a,50a 成形溝
10b,50b 通気孔
20 絶縁樹脂フィルム
20a 予張部
21 導電材
30,31,32,51 予張形成型
30a,51a 凹部空間
30b,31b,51b 通気孔
31a,32a 凸部
40 フレキシブル配線基板
41 配線領域
42 コネクタ部
43 電子部品
44 位置決め孔
52A,52B 加圧・吸引路
53A,53B 電磁誘導コイル
54A,54B 伝熱材
55A,55B 放熱ブロック
56A,56B 冷却水路
60 パターン追従加圧媒体
60A 低融点合金
60B 超塑性合金[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an insulating resin film having a fine pattern in μ units and a method for forming a fine pattern on such an insulating resin film.
[0002]
[Prior art]
As various types of electronic / electric components including semiconductors have been highly integrated and miniaturized, in order to provide high-density mounting or high-density wiring to such electronic / electric components and wiring boards, a unit of μ ( A technique for forming a fine pattern having a fine pitch has become important.
[0003]
However, at present, there is no practical method other than the use of photolithography technology as means for forming a micro-pattern in μ units on a thin insulating resin film. With reference to FIG. 1, a conventional method for forming a fine pattern using a photolithography technique (see JP-A-5-23876) will be described.
[0004]
According to this prior art, first, as shown in FIG. 1A, an
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
According to the method for forming a fine pattern of an insulating resin film using such a photolithography technique, it is possible to form a precise pattern in units of μ, but the manufacturing process is complicated, the manufacturing cost is expensive, and mass production is possible. There is a problem of lack of sex. In addition, since processing is performed by various etching processes (wet etching, dry etching, etc.), the insulating resin film is limited to a material having good workability by etching and a resin capable of forming a film, and cannot be used for various applications. There are also problems.
[0006]
It is also conceivable to use a molding die having a fine uneven pattern.However, when the upper and lower molding dies are fitted to each other and press-molded, the positioning accuracy of both the molding dies and the unevenness of the upper die are reduced. The precision of pattern formation becomes a problem, and in particular, since the positioning precision and the pattern formation precision of the upper mold are directly linked to the finished precision of the molded product, it is necessary to press-mold precise μ-unit patterns with a pair of upper and lower molding dies. Was difficult.
[0007]
An object of the present invention is to solve each of the problems individually as an example. In particular, an insulating resin film and an insulating resin which are excellent in mass productivity, have few material restrictions, and can be used for various purposes. It is an object of the present invention to provide a method for forming a fine pattern on a film.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
To achieve such an object, the features of the present invention are as follows.
[0009]
The invention according to claim 1 is an insulating resin film having an uneven pattern with a pitch of 10 to 500 μ formed by pattern transfer from an open mold.
[0010]
The invention according to
[0011]
According to a third aspect of the present invention, there is provided an insulating resin film, wherein an uneven pattern having a pitch of 10 to 500 μm is formed by vacuum pressure air.
[0012]
The invention according to
[0013]
The invention according to claim 13 is a method for forming a fine pattern on an insulating resin film, wherein the insulating resin film is provided on an open mold having a fine pattern of irregularities with a pitch of 10 to 500 μ, and An uneven fine pattern is transferred to the insulating resin film.
[0014]
The invention according to claim 14 is a method for forming a fine pattern of an insulating resin film, comprising the steps of: disposing an insulating resin film on an open mold having an uneven fine pattern formed at a predetermined pitch; A preforming mold having an irregular fine pattern corresponding to the fine pattern of the mold is provided on the insulating resin film, and a preforming portion corresponding to the fine pattern of the open mold is formed on the insulating resin film. The method includes a pretension forming step, and a forming step of pressing each of the pretensioned parts against each of the fine patterns of the open mold to form an uneven fine pattern on the insulating resin film.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, features of the embodiment according to the present invention will be described with reference to the claims. The first feature is to realize the formation of a fine pattern of concavities and convexities on an insulating resin film by a molding die, and the insulating resin film according to the embodiment of the present invention uses a transfer pattern from an open molding die. It is characterized by having a formed concavo-convex pattern with a pitch of 10 to 500 μ. Further, as a second feature, the insulating resin film according to the embodiment of the present invention has an uneven pattern with a pitch of 10 to 500 μm formed by pressure molding with an open mold and a pattern-following pressure medium. Features.
[0016]
According to these features, conventionally, it was common to form micro-unit fine patterns by photolithography technology, but by using an open mold to form micro-patterns, productivity was improved. Can be achieved. Further, since there is little restriction on the type of material according to the molding, an insulating resin film applicable to various uses can be obtained. Further, by using an open mold, it is not necessary to match a pair of molds, so that it is possible to mold even a fine pattern.
[0017]
The third feature is to realize formation of a fine pattern of concavities and convexities on an insulating resin film by an open mold, and the insulating resin film according to the embodiment of the present invention has a thickness of 10 to 500 μm by the open mold. It is characterized in that the pitch uneven pattern is formed by vacuum pressure forming.
[0018]
According to this feature, the productivity can be improved as in the above-described feature. Further, since there is little restriction on the type of material according to the molding, an insulating resin film applicable to various uses can be obtained. In addition, by using an open mold by vacuum pressure molding, it is not necessary to match a pair of molds, so that it is possible to mold even a fine pattern.
[0019]
A fourth feature is that it realizes forming an uneven fine pattern on an insulating resin film by an open mold, and the insulating resin film according to the embodiment of the present invention has a pitch of 10 to 500 μm. An uneven pattern having a depth of 500 μ is formed. According to this feature, since an uneven pattern having a depth of 10 to 500 μ is formed at a pitch of 10 to 500 μ using an open mold, productivity is improved with respect to an insulating resin film having a fine pattern. In addition, restrictions on the type of material to be selected are reduced, and it is possible to cope with various uses.
[0020]
As a fifth feature, in the insulating resin film having the first or second feature, a cross-sectional shape of the uneven pattern is any of a concave shape, a V shape, a U shape, or a mixture thereof. There is a feature. According to this, when forming fine patterns of various cross sections, it is possible to improve the productivity and obtain an insulating resin film with less restrictions on the types of materials.
[0021]
A sixth feature is a high-density wiring electronic component made of an insulating resin film having the first to third features, wherein a conductive member is provided in the recess of the above-mentioned uneven pattern. According to this, in obtaining a high-density wiring electronic component made of an insulating resin film having a fine pattern, it is possible to improve the productivity and to reduce restrictions on the type of insulating material, thereby expanding the range of choice of material design. .
[0022]
A seventh feature is a high-density wiring electronic component made of an insulating resin film having the fourth feature, wherein the thickness of the insulating resin film is 5 to 500 μm. According to this, in obtaining a high-density wiring electronic component made of an insulating resin film having a thickness of μ units and a fine pattern, the productivity is improved, and the restriction on the type of insulating material is reduced, and the selection range of the material design is reduced. Can be expanded.
[0023]
An eighth feature is a high-density wiring electronic component made of an insulating resin film having the sixth or seventh feature, wherein the insulating resin film is made of polyimide, polyamide, polybenzimidazole, polyester, polyimidazole, polyphenylene It is any one of sulfide, polyamideimide, polyetherimide, polyetherketone, and polysulfone. According to this, it is possible to improve the productivity in obtaining a high-density wiring electronic component made of an insulating resin film having a thickness of μ units or a fine pattern using the above-described material having high heat resistance and high insulating properties. .
[0024]
An embodiment according to a method for forming a fine pattern of an insulating resin film having such characteristics will be described below.
[0025]
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a fine pattern forming method according to one embodiment. In the figure, a
[0026]
The
[0027]
The pattern-following
[0028]
Examples of the heat-resistant elastic body include a fluororubber independent foam, a silicon-based heat conductive elastomer, a silicone rubber, a silicone gel and the like. Examples of the superplastic alloy include a zinc-based alloy (component: Zn-22Al (0 to 4Cu)), a titanium-based alloy (component: Ti-6Al-4V, Ti-4.5Al-3V-2Fe-2Mn), and stainless steel. Alloy (component: Fe-25Cr-6.5Ni-3.2Mo), aluminum alloy (component: Al-6Cu-0.4Zr, Al-2.5Cu-2.3Li-0.1Zr, Al-5. 7Zn-2.3Mg-1.5Cu-0.2Cr, Al-4.5Mg-0.7Mn-0.1Cr) and the like. As the low melting point alloy, one having a melting start temperature of about 120 ° C to 200 ° C can be used.
[0029]
FIG. 3 shows an embodiment in which the above-described low melting point alloy is used as a pattern following pressurizing medium (FIG. 3 (a) is an overall explanatory view, and FIG. 3 (b) is an enlarged view of a main part. There.) In this embodiment, an insulating
[0030]
FIG. 2B is an enlarged view showing the vicinity of the surface of the
[0031]
The embodiment shown in FIGS. 4 to 7 is a method for forming a fine pattern in which an uneven fine pattern is transferred to an insulating resin film by vacuum pressure forming. FIG. 4 is an explanatory diagram showing a fine pattern forming method according to one embodiment. Also in this embodiment, a
[0032]
Each step of the method for forming a fine pattern according to this embodiment will be sequentially described with reference to the drawings. First, as shown in FIG. 4A, an insulating
[0033]
In the pretension forming step shown in FIG. 2B, a
[0034]
In the forming step shown in FIG. 2C, each of the above-described
[0035]
When this molding step is completed, the
[0036]
FIG. 5 is an explanatory view showing another embodiment by vacuum and pressure forming. The same parts as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and a duplicate description will be partially omitted. In this embodiment, a
[0037]
Each step of the method for forming a fine pattern according to this embodiment will be sequentially described with reference to the drawings. First, as shown in FIG. 4A, the insulating
[0038]
In the pretension forming step, suction is performed from the
[0039]
Then, in the forming step shown in FIG. 5B, the suction performed from the side of the
[0040]
FIG. 6 is an explanatory view showing still another embodiment by vacuum pressure forming. The same parts as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and a duplicate description will be partially omitted. In this embodiment, a
[0041]
FIG. 7 is an explanatory view showing still another embodiment by vacuum pressure forming. The same parts as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and a duplicate description will be partially omitted. In this embodiment, the pretension forming step and the forming step in each of the above embodiments are alternately and continuously repeated.
[0042]
FIG. 7 shows the embodiment shown in FIG. 5 as an example. In FIG. 7A, suction is performed from the side of the
[0043]
The features of the embodiment according to the method for forming a fine pattern of an insulating resin film will be described following the above-described features according to the claims.
[0044]
A ninth feature is that an insulating
[0045]
According to these features, since a fine pattern can be formed on an insulating resin film using an open mold, it can be formed at low cost and suitable for mass production, and productivity can be improved. Also, since there is no restriction on the material, it is possible to form a fine pattern in μ units on an insulating resin film made of a material suitable for the application. In addition, by using an open mold, there is no need to use a pair of molds, especially an upper mold, so that matching of the pair of molds does not matter, and pattern transfer using a mold having a fine pattern is possible. become. Press forming with various pattern-following pressurizing media has enabled forming with an open forming die (forming without using an upper die).
[0046]
A thirteenth feature is that an insulating resin film is provided on an open mold having an uneven fine pattern with a pitch of 10 to 500 μ, and the uneven fine pattern is transferred to the insulating resin film by vacuum pressure forming. It is characterized by the following.
[0047]
According to this, since it is possible to perform molding using an open mold by vacuum pressure molding, as described above, when forming a fine pattern on an insulating resin film, it is possible to form a low-cost and suitable for mass production. It becomes possible and productivity can be improved. In addition, since the mold is formed by vacuum and pressure forming, a fine pattern in μ units can be formed on an insulating resin film made of a material suitable for the application without being limited by the material. Then, by using an open mold by vacuum pressure molding, it is not necessary to use a pair of molds, especially an upper mold, so that matching of the pair of molds does not become a problem, and a mold having a fine pattern is used. Pattern transfer becomes possible.
[0048]
The fourteenth feature is that the step of disposing the insulating
[0049]
According to such a feature, since a fine pattern can be formed on the insulating resin film using the open mold, it is possible to form at low cost suitable for mass productivity, and to improve productivity. At the same time, since there is no restriction on the material, it is possible to form a fine pattern in μ units on an insulating resin film made of a material suitable for the application.
[0050]
More specifically, in this embodiment, as a characteristic process that enables a fine pattern to be formed by molding, a pre-stretching forming process of forming a fine pre-stretched portion corresponding to the fine pattern on an insulating resin film. Can be mentioned. In other words, even in vacuum forming or vacuum pressure forming, which is conventionally known as a method of forming an insulating resin film, it is common practice to provide a pretension forming step as a pre-blow forming step or a plug assist forming step. In the pre-stretching forming step in the conventional vacuum forming or vacuum pressure forming, it is not possible to form a fine pattern of μ units on an insulating resin film with good transferability. This is because in the pre-stretching step of pre-blowing or plug-assisting the entire insulating resin film as the material to be molded, the pre-stretching effect does not work uniformly within the molding surface. This is because a portion where no proper stretching is obtained corresponds to each fine pattern, and accurate transfer of the fine pattern cannot be obtained.
[0051]
On the other hand, in the pretensioning forming step described in the embodiment, the pretensioning forming die 30 having the concave and convex fine pattern (
[0052]
As a fifteenth feature, on the premise of the above feature, the pretensioning step is performed by either one or both of suction from the pretensioning die 30 and compressed air from the open molding die 10 side. The
[0053]
According to a sixteenth feature, on the premise of the fourteenth feature, the pretensioning step is performed by pressing the
[0054]
As a seventeenth feature, on the premise of each of the above-mentioned features, the pressure contact in the molding step is performed by one or both of suction from the
[0055]
As an eighteenth feature, the pretension forming step and the forming step are alternately and continuously repeated on the premise of the above-described features. According to this, in addition to the above-mentioned features, the pre-stretched portion can be formed stepwise in the process of repetition, so that the accuracy of uniform molding of the pre-stretched portion can be further improved, and particularly, the difficulty in forming A reliable and uniform pre-stretched portion can be formed on the insulating resin film.
[0056]
As a nineteenth feature, on the premise of each of the above-described features, in the pretensioning step, the pretensioning dies 30, 31, and 32 are heated to preheat the insulating
[0057]
As a twentieth feature, on the premise of each of the above features, a step of cooling the
[0058]
As a twenty-first feature, in addition to the features described above, the uneven fine pattern has a pitch and a depth of 10 to 500 μ. According to this, in addition to the features described above, an insulating resin film having an uneven fine pattern having a pitch and a depth of 10 to 500 μ can be formed by molding using an open molding die, thereby improving productivity. Can be improved. In addition, since formation can be performed with few restrictions on materials, it is useful as a method for forming a substrate for a wide range of uses.
[0059]
【Example】
Hereinafter, an example that further embodies the above-described embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of dimensions of the insulating
[0060]
FIG. 9 shows a high-density wiring electronic component in which a
[0061]
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a flexible wiring board as an example of a high-density wiring electronic component using the insulating
[0062]
FIG. 11 shows an example of a molding apparatus for molding such an insulating
[0063]
The pressurization /
[0064]
An example of a fine pattern forming method using such a molding apparatus will be described with reference to FIG.
[0065]
Film setting step (FIG. 7A): The
[0066]
Film heating step (FIG. 9B): The preforming
[0067]
Pre-stretching step (FIG. 9 (c)); while maintaining the ON state of the
[0068]
Forming step ((d) in the figure); the pressure supply state is reversed while maintaining the heating state in the figure (c). That is, a suction Pair of 3 to 10 atm is applied to the pressurization /
[0069]
Cooling step ((e) in the figure); the supply of pressure to the pressurization /
[0070]
Release process ((f) in the figure); the
[0071]
According to such an embodiment, the following operation and effect can be obtained.
(1) Since an insulating resin film having a micro-pattern fine pattern can be formed by vacuum-pressure forming using an open mold, productivity of such an insulating resin film can be significantly improved.
(2) Since processing due to material properties such as etching is not performed, restrictions on the type of insulating material can be reduced, and an insulating resin film that can be used in various applications can be formed.
(3) A pre-stretching process having uniformity according to the fine pattern is performed by forming a fine pre-stretch portion corresponding to the fine pattern of the forming die on the insulating resin film using the pre-stretch forming die. become. This makes it possible to transfer the fine pattern to the insulating resin film using the open mold with high accuracy.
(4) Further, the formation of the fine pretensioned portion improves the followability of the insulating resin film to the open mold having a fine three-dimensional shape, and a molded body having excellent shape accuracy can be obtained. Thereby, it is possible to form a fine pattern having various molding cross sections.
(5) Forming can be realized in a stepwise manner by continuously forming a fine pre-stretched portion and forming into an open mold, so that it can be applied to film materials and shapes that were conventionally difficult to form. Becomes possible.
(6) In a state where the insulating resin film is set between the open mold and the preforming mold, induction heating is performed to form a fine pattern, and then the pattern can be cooled immediately by contact with the heat radiating block. Can be shortened.
(7) Since rapid cooling after forming the fine pattern is possible, the shape of the formed fine pattern can be reliably maintained.
(8) Since the ventilation holes are formed at the corners of the molding groove corresponding to the concave cross-section to be transferred, the fine pretensioned portion formed on the insulating resin film can be in close contact with the entire inner surface of the molding groove with high accuracy. And transfer accuracy can be improved.
(9) Since the use of the open mold does not cause a problem in matching of the molds as in the case of using a pair of molds, the fine pattern can be transferred to the insulating resin film by molding.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram for explaining a fine pattern forming method using a conventional photolithography technique.
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a fine pattern forming method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating a fine pattern forming method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an explanatory view showing an embodiment of the present invention by vacuum pressure forming.
FIG. 5 is an explanatory view showing another embodiment by vacuum pressure forming.
FIG. 6 is an explanatory view showing another embodiment by vacuum and pressure forming.
FIG. 7 is an explanatory view showing another embodiment by vacuum pressure forming.
FIG. 8 is an explanatory view showing a dimension example of an insulating resin film having a formed fine pattern.
9 is an explanatory view showing a high-density wiring electronic component in which a conductive material is provided in a fine pattern of the insulating resin film shown in FIG. 6;
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a flexible wiring board as an example of a high-density wiring electronic component using the insulating resin film of the example.
FIG. 11 is an explanatory view showing one example of a molding apparatus for molding the insulating resin film of the example.
FIG. 12 is an explanatory view showing an example of a method for forming a fine pattern using the forming apparatus of the example.
[Explanation of symbols]
10,50 open mold
10a, 50a Molded groove
10b, 50b vent
20 Insulating resin film
20a Preloading part
21 Conductive material
30,31,32,51 Pretension forming type
30a, 51a recessed space
30b, 31b, 51b Vent
31a, 32a convex part
40 Flexible wiring board
41 Wiring area
42 Connector
43 Electronic components
44 Positioning hole
52A, 52B Pressure / suction path
53A, 53B Electromagnetic induction coil
54A, 54B Heat transfer material
55A, 55B heat dissipation block
56A, 56B cooling water channel
60 pattern following pressurized medium
60A low melting point alloy
60B superplastic alloy
Claims (21)
前記開放成形型の微細パターンに対応する凹凸状の微細パターンを有する予張形成型を前記絶縁樹脂フィルム上に配備して、前記開放成形型の微細パターンに対応する予張部を前記絶縁樹脂フィルムに形成する予張形成工程と、
前記予張部のそれぞれを前記開放成形型の微細パターンのそれぞれに圧接して前記絶縁樹脂フィルムに凹凸状の微細パターンを成形する成形工程とを有することを特徴とする絶縁樹脂フィルムの微細パターン形成方法。A step of disposing an insulating resin film on an open mold having an uneven fine pattern formed at a predetermined pitch,
A preforming mold having an uneven fine pattern corresponding to the fine pattern of the open mold is provided on the insulating resin film, and a preforming portion corresponding to the fine pattern of the open mold is formed on the insulating resin film. A pretension forming step for forming
Forming a fine pattern of the insulating resin film by pressing each of the pre-stretched portions against each of the fine patterns of the open mold to form an uneven fine pattern on the insulating resin film. Method.
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2003
- 2003-03-19 JP JP2003075837A patent/JP2004050813A/en active Pending
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