Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP2004048037A - Electronic component mounted assembly - Google Patents

Electronic component mounted assembly Download PDF

Info

Publication number
JP2004048037A
JP2004048037A JP2003297773A JP2003297773A JP2004048037A JP 2004048037 A JP2004048037 A JP 2004048037A JP 2003297773 A JP2003297773 A JP 2003297773A JP 2003297773 A JP2003297773 A JP 2003297773A JP 2004048037 A JP2004048037 A JP 2004048037A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
electronic component
electrode layer
electrodes
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003297773A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3793186B2 (en
JP2004048037A5 (en
Inventor
Kazuyoshi Honda
本田 和義
Noriyasu Echigo
越後 紀康
Masaru Odagiri
小田桐 優
Takanori Sugimoto
杉本 高則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2003297773A priority Critical patent/JP3793186B2/en
Publication of JP2004048037A publication Critical patent/JP2004048037A/en
Publication of JP2004048037A5 publication Critical patent/JP2004048037A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3793186B2 publication Critical patent/JP3793186B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic component allowing a capacitor or the like to be arranged in the vicinity of a semiconductor chip while reducing the increase of the mounting area. <P>SOLUTION: Electrode layers 1 and 2 are arranged facing to each other at both sides of a dielectric layer 3 in such a manner as to constitute a capacitor. Lead out electrodes 4 and 5 are formed on the electrode layers 1 and 2. Moreover, through electrodes 6 that are insulated from the electrode layers 1 and 2 are formed and arranged at the lattice points. An electronic component 10 is mounted on a wiring board, and a semiconductor chip is mounted on it. The semiconductor chip is connected with the wiring board through the through electrodes 6, and the semiconductor chip or the wiring board are connected to the lead-out electrodes 4 and 5. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

 本発明は電子部品に関する。 The present invention relates to an electronic component.

 情報処理速度の高速化要求は止まるところを知らず、半導体チップの高周波化が年々進行している。半導体動作の高速化には集積チップの高密度化、高性能化のみならず、周辺回路の特性向上が必要である。中でも伝送路や電源ラインの安定性確保は高速安定動作に必須要件の一つであり、周辺構成デバイスが半導体チップ本体の死活に関わっているといって過言ではない。 要求 The demand for faster information processing speeds never stops, and the frequency of semiconductor chips is increasing year by year. In order to increase the speed of semiconductor operation, it is necessary not only to increase the density and performance of an integrated chip but also to improve the characteristics of peripheral circuits. Above all, ensuring the stability of transmission lines and power supply lines is one of the essential requirements for high-speed stable operation, and it is no exaggeration to say that peripheral components are involved in the life of the semiconductor chip itself.

 伝送路や電源ラインの安定性を確保する重要なデバイスの一つとしてコンデンサがあげられる。高速動作を実現するコンデンサにはコンデンサ自体の高周波性能に加え、コンデンサに至るまでの配線が低インピーダンスであること等が要求される。 コ ン デ ン サ Capacitors are one of the important devices for ensuring the stability of transmission lines and power supply lines. Capacitors that realize high-speed operation are required to have high-frequency performance of the capacitor itself and low impedance wiring up to the capacitor.

 半導体チップを高周波動作させるには、配線損失を小さくするためにコンデンサ等を半導体チップの近傍に配置することが必要である。従来技術では半導体の内部に微小なコンデンサ等を形成するなどの限られた手法しかなく、より一層の高周波動作を安定に行わせるには効果が不十分になりつつある。また、半導体チップの周辺にコンデンサ等を配置した場合には実装板面積が大きくなってしまう問題もある。 さ せ る In order to operate a semiconductor chip at a high frequency, it is necessary to arrange a capacitor or the like near the semiconductor chip to reduce wiring loss. In the prior art, there are only limited techniques such as forming a minute capacitor or the like inside a semiconductor, and the effect is becoming insufficient to stably perform further high-frequency operation. Further, when a capacitor or the like is arranged around the semiconductor chip, there is a problem that the mounting board area becomes large.

 本発明はこれらの課題を解決するためのものであって、実装面積の増加を少なくしながら、半導体チップ近傍にコンデンサ等を配置することができる電子部品を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve these problems, and an object of the present invention is to provide an electronic component in which a capacitor and the like can be arranged near a semiconductor chip while minimizing an increase in a mounting area.

 本発明は、上記の目的を達成するために以下の構成とする。 The present invention has the following configuration to achieve the above object.

 即ち、本発明に係る電子部品は、誘電体を挟んで対向配置された電極層と、前記電極層に接続された取り出し電極又は外部電極とを有する電子部品であって、前記電極層に電気的に接続されずに前記電子部品を貫通する、格子点状に配置された貫通電極を有することを特徴とする。本発明の電子部品は格子点状に配置された貫通電極を有するので、例えば、配線基板上に本発明の電子部品を実装し、この上にさらに他の電子部品(例えば半導体チップ)を設置して、他の電子部品は上記貫通電極を介して配線基板と接続することができる。また、本発明の電子部品は、誘電体とこれを挟む電極層とを有するので、例えば電子部品内にコンデンサを形成することができる。以上の結果、実装面積の増加を少なくしながら、半導体チップ近傍にコンデンサを配置することができ、半導体チップの高周波駆動と実装面積の増加の抑制とを両立させることができる。 That is, an electronic component according to the present invention is an electronic component having an electrode layer opposed to a dielectric material, and an extraction electrode or an external electrode connected to the electrode layer. And penetrating the electronic component without being connected to the electronic component. Since the electronic component of the present invention has through-electrodes arranged in a lattice point, for example, the electronic component of the present invention is mounted on a wiring board, and another electronic component (for example, a semiconductor chip) is further placed thereon. Thus, other electronic components can be connected to the wiring board via the through electrodes. Further, since the electronic component of the present invention includes the dielectric and the electrode layer sandwiching the dielectric, a capacitor can be formed in the electronic component, for example. As a result, the capacitor can be arranged in the vicinity of the semiconductor chip while the increase in the mounting area is reduced, and both the high-frequency driving of the semiconductor chip and the suppression of the increase in the mounting area can be achieved.

 なお、上記貫通電極は、電極層と誘電体との積層方向と略平行方向に貫通しているのが好ましい。このような構成の電子部品は製造するのが容易である。 It is preferable that the through electrode penetrates in a direction substantially parallel to the direction in which the electrode layer and the dielectric are laminated. An electronic component having such a configuration is easy to manufacture.

 上記の本発明の電子部品において、前記電極層は、前記貫通電極の間に配置された第1の電極層及び第2の電極層とからなり、前記第1の電極層と前記第2の電極層は、前記誘電体を挟んで格子状に交差して配置されている構成とすることができる。あるいは、前記電極層は、所定の大きさの対向部分を有するように前記誘電体を挟んで配置された第1の電極層及び第2の電極層とからなる構成とすることもできる。このような構成によれば、電子部品内に所望する容量のコンデンサを容易に形成することができる。 In the electronic component of the present invention, the electrode layer includes a first electrode layer and a second electrode layer disposed between the through electrodes, and the first electrode layer and the second electrode The layers may be arranged so as to intersect in a grid pattern with the dielectric interposed therebetween. Alternatively, the electrode layer may be configured to include a first electrode layer and a second electrode layer disposed so as to have a facing portion of a predetermined size with the dielectric interposed therebetween. According to such a configuration, a capacitor having a desired capacity can be easily formed in the electronic component.

 上記の本発明の電子部品において、前記取り出し電極を、前記貫通電極と同一面上に形成することができる。即ち、取り出し電極と貫通電極とを、電子部品の同一表面上に露出するように形成することができる。このような構成によれば、電子部品内の電極層への電圧供給のための配線基板等との接続を貫通電極と同一面内(例えば、電子部品の下面又は上面)で同様に行なうことができる。この結果、実装面積をさらに小さくすることができる。また、本発明の電子部品の上に設置する他の電子部品を取り出し電極に接続するのも容易に行なうことができる。 In the above electronic component of the present invention, the extraction electrode can be formed on the same plane as the through electrode. That is, the extraction electrode and the through electrode can be formed so as to be exposed on the same surface of the electronic component. According to such a configuration, connection with a wiring board or the like for supplying a voltage to the electrode layer in the electronic component can be similarly performed in the same plane as the through electrode (for example, the lower surface or the upper surface of the electronic component). it can. As a result, the mounting area can be further reduced. Further, it is also possible to easily take out another electronic component installed on the electronic component of the present invention and connect it to the electrode.

 また、上記の本発明の電子部品において、前記外部電極を、前記貫通電極と異なる面上に形成することができる。例えば、貫通電極を電子部品の上下の外表面上に露出するように形成し、外部電極を電子部品の周囲面に形成する。このような構成によれば、本発明の電子部品を配線基板等に実装する場合に、外部電極の配線基板へのはんだ付等を容易に行なうことができる。 In addition, in the electronic component of the present invention, the external electrode may be formed on a different surface from the through electrode. For example, the through electrodes are formed so as to be exposed on the upper and lower outer surfaces of the electronic component, and the external electrodes are formed on the peripheral surface of the electronic component. According to such a configuration, when the electronic component of the present invention is mounted on a wiring board or the like, the external electrodes can be easily soldered to the wiring board or the like.

 また、上記の本発明の電子部品において、前記第1の電極層と前記第2の電極層との間で、複数の静電容量形成領域が形成されていることが好ましい。これにより、電子部品内にコンデンサを形成することができる。 In the electronic component of the present invention, it is preferable that a plurality of capacitance forming regions are formed between the first electrode layer and the second electrode layer. Thereby, a capacitor can be formed in the electronic component.

 このとき、それぞれの静電容量形成領域を形成する第1の電極層と第2の電極層に接続された取り出し電極又は外部電極は、相互に絶縁されていることが好ましい。かかる構成により、電子部品内に複数の独立したコンデンサを形成することができる。 At this time, it is preferable that the extraction electrode or the external electrode connected to the first electrode layer and the second electrode layer forming the respective capacitance forming regions are insulated from each other. With this configuration, a plurality of independent capacitors can be formed in the electronic component.

 さらに、静電容量が異なる静電容量形成領域が形成されていると、電子部品内に容量が異なるコンデンサを複数形成することができる。 Furthermore, when capacitance forming regions having different capacitances are formed, a plurality of capacitors having different capacitances can be formed in the electronic component.

 以上のように本発明の電子部品によれば、半導体チップの近傍に静電容量が形成できるので、半導体チップの高周波駆動を可能にし、同時に実装面積の増加を抑えることができる。 As described above, according to the electronic component of the present invention, since a capacitance can be formed in the vicinity of the semiconductor chip, the semiconductor chip can be driven at a high frequency, and at the same time, an increase in the mounting area can be suppressed.

 以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

 (実施の形態1)
 図1は本発明の実施の形態1に係る電子部品10の一例を示す模式的平面図である。また、図2は図1に示した電子部品の一部分の内部構造を示す斜視図である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic plan view illustrating an example of an electronic component 10 according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 is a perspective view showing an internal structure of a part of the electronic component shown in FIG.

 略同一平面上に複数本のストライプ形状(縞状)に形成された第1の電極層1と、略同一平面上に複数本のストライプ形状(縞状)に形成された第2の電極層2とが、誘電体層3を挟んで積層されている。各電極層1,2のストライプ方向を交差させることにより、各交差部に静電容量形成領域9が形成され、コンデンサとして機能する。 A first electrode layer 1 formed in a plurality of stripes (stripes) on substantially the same plane, and a second electrode layer 2 formed in a plurality of stripes (stripes) on the substantially same plane. Are laminated with the dielectric layer 3 interposed therebetween. By intersecting the stripe directions of the electrode layers 1 and 2, a capacitance forming region 9 is formed at each intersection, and functions as a capacitor.

 第1の電極層1には第1の取り出し電極4が、第2の電極層2には第2の取り出し電極5が接続されている。これらは、前記コンデンサ機能を発揮させるときの接続端子として用いることが出来る。取り出し電極4,5は、図1及び図2の様に電子部品10の積層方向に貫通するように形成しても良く、又は、電子部品の片側の表面にのみ現出するように形成しても良く、あるいはそれらの組合せでも良い。 A first extraction electrode 4 is connected to the first electrode layer 1, and a second extraction electrode 5 is connected to the second electrode layer 2. These can be used as connection terminals when exerting the capacitor function. The extraction electrodes 4 and 5 may be formed so as to penetrate in the stacking direction of the electronic component 10 as shown in FIGS. 1 and 2 or formed so as to appear only on one surface of the electronic component. Or a combination thereof.

 電子部品10には前記取り出し電極4,5の他に、貫通電極6が形成されている。貫通電極6を介することにより、本発明の電子部品10の上下に配置された本発明の電子部品とは別の電子部品間の電気的接続はあたかも本発明の電子部品が存在しないが如くそのまま確保される。 In addition to the extraction electrodes 4 and 5, a through electrode 6 is formed on the electronic component 10. Through the penetrating electrode 6, electrical connection between electronic components different from the electronic component of the present invention disposed above and below the electronic component 10 of the present invention is secured as if the electronic component of the present invention does not exist. Is done.

 電極層1,2を形成する材料としては、アルミ、銅、金などの金属や金属化合物を用いることが出来る。また、誘電体層3を形成する材料としては、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ビニル樹脂をはじめとする樹脂材料や、バリウムチタン酸化物系セラミックやストロンチウムチタン酸化物系セラミックなどのセラミック材料、あるいは酸化チタン、酸化アルミ、酸化ケイ素等の金属酸化物や半金属酸化物を用いることが出来る。また、取り出し電極4,5及び貫通電極6としては、金、銀、アルミ、銅やはんだ材料などの金属の他、導電性ペーストや導電性高分子を用いることが出来る。 金属 As a material for forming the electrode layers 1 and 2, a metal or a metal compound such as aluminum, copper, or gold can be used. Examples of the material for forming the dielectric layer 3 include resin materials such as acrylic resin, epoxy resin, and vinyl resin, ceramic materials such as barium titanium oxide ceramics and strontium titanium oxide ceramics, and titanium oxide. And metal oxides such as aluminum oxide and silicon oxide, and metalloid oxides. Further, as the extraction electrodes 4 and 5 and the penetrating electrode 6, a conductive paste or a conductive polymer can be used in addition to a metal such as gold, silver, aluminum, copper, or a solder material.

 電極層1,2の形成は、真空蒸着法、スパッタ法、メッキ法等によって行うことが出来る。また、電極層1,2をストライプ状に形成する手段としてはパターニング形状の固体マスクを用いる方法やオイル等の蒸発性マスクを用いる方法、レーザーエッチングを行う方法などを適宜用いることが出来る。オイルマスキング材料としては炭化水素系のオイルや鉱物オイル、フッ素系オイルを初めとする各種オイル等を用いることが出来る。 The formation of the electrode layers 1 and 2 can be performed by a vacuum evaporation method, a sputtering method, a plating method, or the like. As a means for forming the electrode layers 1 and 2 in a stripe shape, a method using a patterned solid mask, a method using an evaporable mask such as oil, a method of performing laser etching, and the like can be used as appropriate. As the oil masking material, various oils such as hydrocarbon oils, mineral oils, and fluorine oils can be used.

 誘電体層3の形成は、樹脂系材料であれば、ヒータ加熱により気化して、又は超音波若しくはスプレーにより霧化して堆積する方法、セラミック材料や金属系材料であれば、スパッタ、蒸着等の方法を用いることができる。 The dielectric layer 3 may be formed by vaporizing by heating with a heater, or atomizing by ultrasonic wave or spray, and depositing a resin material if it is a resin material. A method can be used.

 取り出し電極4、5や貫通電極6を形成するために誘電体層3に穴状の開口を形成するには、誘電体層を形成後にレーザーエッチングにより所定箇所の誘電体を除去する方法や、予めオイル等の蒸発性マスクを付与した後誘電体層を形成する方法等を用いることができる。点状の蒸発性マスクを付与するためには、マスキング材料の微小滴を微細孔から飛び出させるインクジェット方式により付与する方法が特に有効である。 In order to form a hole-shaped opening in the dielectric layer 3 for forming the extraction electrodes 4, 5 and the through electrode 6, a method of removing a dielectric at a predetermined location by laser etching after forming the dielectric layer, A method of forming a dielectric layer after providing an evaporative mask of oil or the like can be used. In order to apply a dot-shaped evaporative mask, it is particularly effective to apply an ink-jet method in which fine droplets of a masking material are ejected from fine holes.

 オイルマスクを付与する場合、使用できるオイルとしては、炭化水素系オイル、鉱物オイル、フッ素系オイル等が挙げられる。 付 与 When an oil mask is provided, examples of usable oils include hydrocarbon oils, mineral oils, and fluorine oils.

 尚、蒸発性マスクを用いる場合、各層の成膜後に余剰なマスキング材料が残った場合、必要に応じて遠赤外線ヒーター、電子線、紫外線ランプ照射、プラズマ照射等を用いて除去することが出来る。 When an evaporative mask is used, if an excessive masking material remains after the formation of each layer, it can be removed by using a far-infrared heater, electron beam, ultraviolet lamp irradiation, plasma irradiation, or the like, if necessary.

 図3は、図1及び図2に示した電子部品を製造するための製造工程の一例の一部を説明するための装置の概略斜視図である。 FIG. 3 is a schematic perspective view of an apparatus for explaining a part of an example of a manufacturing process for manufacturing the electronic component shown in FIG. 1 and FIG.

 支持体は、装置の右側に設けられた支持体搬入室11から搬入されて、所定の工程を経て左側に設けられた支持体取り出し口22から取り出される。仕切弁12aと仕切弁12bとの間は工程ごとに区分された複数の部屋から構成され、これらは所定の真空度に維持された真空槽内に形成される。支持体は装置の略中央に設けられた搬送系21により各部屋を順に移動し、所定の処理が施される。支持体としては、例えばシート状又は板状の、樹脂、セラミックス、又は金属等からなる基材を用いることができ、この上に誘電体薄膜及び金属薄膜が積層される。 The support is carried in from the support carrying-in chamber 11 provided on the right side of the apparatus, and is taken out from the support taking-out port 22 provided on the left side through a predetermined process. The space between the gate valve 12a and the gate valve 12b is composed of a plurality of chambers divided for each process, and these are formed in a vacuum chamber maintained at a predetermined degree of vacuum. The support is sequentially moved in each room by a transfer system 21 provided substantially at the center of the apparatus, and is subjected to predetermined processing. As the support, for example, a sheet-shaped or plate-shaped substrate made of resin, ceramics, metal, or the like can be used, on which a dielectric thin film and a metal thin film are laminated.

 支持体搬入室11に搬入された支持体は、仕切弁12aが開かれて、真空槽内に搬入される。最初に、支持体の表面に下部絶縁体成膜源13により下部絶縁体膜の成膜がなされる。このとき、貫通電極及び取り出し電極を形成する位置にパターニングマスクを付与して又はレーザー光照射により開口(穴)を形成しても良い。続いて金属薄膜成膜源14とパターニングマスクの組合せにより、第一のパターニング金属薄膜(第1の電極層)が形成される。次に誘電体薄膜成膜源15により、第一の誘電体薄膜(誘電体層)が形成される。第一の誘電体薄膜の形成後、レーザー加工機16によって、取り出し電極および貫通電極を形成する位置の誘電体薄膜が除去される。続いて金属薄膜成膜源17とパターニングマスクの組合せにより、第二のパターニング金属薄膜(第2の電極層)が形成される。次に誘電体薄膜成膜源18により、第二の誘電体薄膜(誘電体層)が形成される。第二の誘電体薄膜の形成後も、レーザー加工機19によって、取り出し電極および貫通電極を形成する位置の誘電体薄膜が除去される。しかるのちに再び金属薄膜成膜源14、誘電体薄膜成膜源15、レーザー加工機16、金属薄膜成膜源17、誘電体薄膜成膜源18、レーザー加工機19に順次送られ、所定回数だけこれらの作業が繰り返される。所定回数の成膜を行った後、上部絶縁体成膜源20により上部絶縁体膜の成膜がなされる。このとき、貫通電極及び取り出し電極を形成する位置にパターニングマスクを付与して又はレーザー光照射により開口(穴)を形成しても良い。その後、仕切弁12bが開かれ、支持体取り出し口22から取り出される。 支持 The support carried into the support carry-in chamber 11 is carried into the vacuum chamber with the gate valve 12a opened. First, a lower insulator film is formed on the surface of the support by the lower insulator film forming source 13. At this time, an opening (hole) may be formed by applying a patterning mask to a position where the through electrode and the extraction electrode are to be formed, or by irradiating a laser beam. Subsequently, a first patterned metal thin film (first electrode layer) is formed by a combination of the metal thin film deposition source 14 and a patterning mask. Next, a first dielectric thin film (dielectric layer) is formed by the dielectric thin film forming source 15. After the formation of the first dielectric thin film, the laser processing machine 16 removes the dielectric thin film at the position where the extraction electrode and the through electrode are to be formed. Subsequently, a second patterned metal thin film (second electrode layer) is formed by the combination of the metal thin film deposition source 17 and the patterning mask. Next, a second dielectric thin film (dielectric layer) is formed by the dielectric thin film forming source 18. Even after the formation of the second dielectric thin film, the laser processing machine 19 removes the dielectric thin film at the position where the extraction electrode and the through electrode are to be formed. Thereafter, the metal thin film forming source 14, the dielectric thin film forming source 15, the laser processing machine 16, the metal thin film forming source 17, the dielectric thin film forming source 18, and the laser processing machine 19 are sequentially sent again. Only these operations are repeated. After the film is formed a predetermined number of times, an upper insulator film is formed by the upper insulator film forming source 20. At this time, an opening (hole) may be formed by applying a patterning mask to a position where the through electrode and the extraction electrode are to be formed, or by irradiating a laser beam. Thereafter, the gate valve 12b is opened, and is taken out from the support take-out port 22.

 貫通電極は貫通電極の位置に形成された貫通穴に導電性ペーストを塗り込んだ後にペーストを固めることにより形成される。 The through electrode is formed by applying a conductive paste into a through hole formed at the position of the through electrode and then hardening the paste.

 同様に、上部絶縁体膜及び/又は下部絶縁体膜の取り出し電極の位置に形成された開口に露出した金属薄膜と接続するように、開口に導電性ペーストを塗り込んで取り出し電極が積層体表面と同平面若しくは若干の突起となるようにしても良い。 Similarly, a conductive paste is applied to the opening to connect to the metal thin film exposed at the opening formed at the position of the extraction electrode of the upper insulator film and / or the lower insulator film, and the extraction electrode is formed on the surface of the laminate. It may be made to be the same plane as or a slight protrusion.

 その後、積層体を適当な工程段階で必要に応じて所定の大きさに切断加工される。 Thereafter, the laminate is cut into a predetermined size as needed at an appropriate process step.

 形成された本発明の電子部品10は、例えば図4に模式的に示した様に、半導体チップ27を搭載したキャリア28と配線基板30との間に配置されて使用される。キャリア28の下面の信号端子29aは必要に応じて本発明の電子部品10の貫通電極6を介して配線基板30上に形成された配線パターン31と接続される。またキャリア28の下面のある電源端子29bは貫通電極6を介して配線基板30に接続され、さらに第1の取り出し電極4に接続される。また、キャリア28の下面の別の電源端子29bは貫通電極6を介して配線基板30に接続され、さらに第2の取り出し電極5に接続される。貫通電極6と取り出し電極4,5との接続は図4のように配線基板30の表面の配線パターン31による方法であっても良いし、配線基板30内部での接続等、その他の方法であっても良い。 The formed electronic component 10 of the present invention is used, for example, as schematically shown in FIG. 4, disposed between a carrier 28 on which a semiconductor chip 27 is mounted and a wiring board 30. The signal terminals 29a on the lower surface of the carrier 28 are connected to the wiring patterns 31 formed on the wiring board 30 via the through electrodes 6 of the electronic component 10 of the present invention as necessary. The power supply terminal 29 b on the lower surface of the carrier 28 is connected to the wiring board 30 via the through electrode 6, and further connected to the first extraction electrode 4. Further, another power terminal 29 b on the lower surface of the carrier 28 is connected to the wiring board 30 via the through electrode 6, and further connected to the second extraction electrode 5. The connection between the through electrode 6 and the extraction electrodes 4 and 5 may be made by a method using the wiring pattern 31 on the surface of the wiring board 30 as shown in FIG. 4 or by another method such as connection inside the wiring board 30. May be.

 第1の取り出し電極4と接続された第1の電極層1と、第2の取り出し電極5と接続された第2の電極層2とは誘電体層を挟んで絶縁されているので、例えば第1の取り出し電極4と接続された電源端子がVcc端子、第2の取り出し電極5と接続された電源端子がGND端子とすれば、第1の取り出し電極4と第2の取り出し電極5の間に形成されたコンデンサは、実装面積をほとんど増やすことなく、かつ半導体チップに近い位置で電源用のパスコンデンサとして機能するので高周波駆動や実装面積低減の点等で好ましい。 The first electrode layer 1 connected to the first extraction electrode 4 and the second electrode layer 2 connected to the second extraction electrode 5 are insulated with a dielectric layer interposed therebetween. If the power supply terminal connected to the first extraction electrode 4 is a Vcc terminal, and the power supply terminal connected to the second extraction electrode 5 is a GND terminal, between the first extraction electrode 4 and the second extraction electrode 5 Since the formed capacitor functions as a power supply pass capacitor at a position close to the semiconductor chip without increasing the mounting area, it is preferable in terms of high-frequency driving and reduction of the mounting area.

 [実施例1]
 金属薄膜材料としてアルミニウム、誘電体材料として酸化アルミニウム、導電性ペーストとして銀系ペースト、インクジェット方式で付与するオイルマスキング材料としてフッ素系オイルを用い、17mm角の面積内に0.8mmピッチの格子点に直径0.25mmの貫通電極を484個形成し、かつ貫通電極間の0.8mmピッチの格子点に電極層1及び電極層2の取り出し電極4,5を直径0.25mmで各々462個形成した。電極層1と電極層2は共に0.65mm幅の多条ストライプとし、電極層の厚さ30nm、誘電体層の厚さ0.5ミクロン、誘電体層が80層となるような繰り返し積層を行った。積層体の上下には各4ミクロンの絶縁体層を積層体の強度向上の目的で形成した。簡単のため上下の絶縁体層は誘電体層と同じ材料で構成した。下部絶縁体層には貫通電極や取り出し電極を形成するためにマスキングで穴加工を施した。上部絶縁体層にも貫通電極を形成するためにマスキングで穴加工を施した。穴加工を施した貫通電極の位置及び取り出し電極の位置に発生した凹部(開口部)には導電性ペーストを塗り込んで固めた。
[Example 1]
Using aluminum as a metal thin film material, aluminum oxide as a dielectric material, silver paste as a conductive paste, and fluorine oil as an oil masking material applied by an ink jet method, grid points of 0.8 mm pitch in a 17 mm square area 484 through electrodes having a diameter of 0.25 mm were formed, and 462 extraction electrodes 4 and 5 of the electrode layer 1 and the electrode layer 2 were formed at grid points of 0.8 mm pitch between the through electrodes, each having a diameter of 0.25 mm. . Each of the electrode layers 1 and 2 is a multi-stripe having a width of 0.65 mm, and is repeatedly laminated so that the thickness of the electrode layer is 30 nm, the thickness of the dielectric layer is 0.5 μm, and the number of the dielectric layers is 80. went. Insulating layers of 4 μm each were formed above and below the laminate for the purpose of improving the strength of the laminate. For simplicity, the upper and lower insulator layers were made of the same material as the dielectric layer. Holes were formed in the lower insulator layer by masking in order to form through electrodes and extraction electrodes. A hole was formed by masking on the upper insulator layer to form a through electrode. A conductive paste was applied to solidify the recesses (openings) generated at the positions of the penetrating electrodes and the positions of the extraction electrodes where the holes were formed.

 その結果、総容量で1μF、tanδ1.2%のコンデンサが厚さ約50ミクロンの積層体内部に形成できていることがLCRメーターで確認できた。なお、導電性ペーストのかわりにはんだ材料の細線を用いた場合にも同様の結果が得られた。 As a result, it was confirmed by the LCR meter that a capacitor having a total capacitance of 1 μF and tan δ 1.2% was formed inside the laminate having a thickness of about 50 μm. Similar results were obtained when a thin wire of a solder material was used instead of the conductive paste.

 (実施の形態2)
 図5は本発明の実施の形態2に係る電子部品10の別の一例を示す模式的平面図である。また、図6は図5に示した電子部品の一部分の内部構造を示す斜視図である。
(Embodiment 2)
FIG. 5 is a schematic plan view showing another example of the electronic component 10 according to Embodiment 2 of the present invention. FIG. 6 is a perspective view showing the internal structure of a part of the electronic component shown in FIG.

 略同一平面上に複数本のストライプ形状に形成された第1の電極層1と、略同一平面上に複数本のストライプ形状に形成された第2の電極層2とが、誘電体層3を挟んで積層されている。各電極層1,2のストライプ方向を交差させることにより、各交差部に静電容量形成領域9が形成され、コンデンサとして機能する。 A first electrode layer 1 formed in a plurality of stripes on a substantially same plane and a second electrode layer 2 formed in a plurality of stripes on a substantially same plane form a dielectric layer 3. They are sandwiched and stacked. By intersecting the stripe directions of the electrode layers 1 and 2, a capacitance forming region 9 is formed at each intersection, and functions as a capacitor.

 電子部品10の外周面に外部電極7,8が形成されている。第1の外部電極7は第1の電極層1と、また第2の外部電極8は第2の電極層2とそれぞれ電気的に接続されており、これらは前記コンデンサ機能を発揮させるときの接続端子として用いることが出来る。外部電極7,8は、図5の様に電子部品の対向する両側面に形成しても良く、又は、対向する側面の片面側のみに形成しても良く、又はこれらの組み合わせであっても良い。また、外部電極7,8は、図6のように電子部品10の積層方向の両表面(上面及び下面)に達するように形成しても良く、又は、電子部品の片側にのみ現出するように形成しても良く、あるいはそれらの組合せでも良い。また、一つの外部電極7(又は8)に複数の条の電極層1(又は2)が接続されていても良い。これにより、形成されるコンデンサの容量を変化させることができる。 外部 External electrodes 7 and 8 are formed on the outer peripheral surface of the electronic component 10. The first external electrode 7 is electrically connected to the first electrode layer 1, and the second external electrode 8 is electrically connected to the second electrode layer 2. These are connected when the capacitor function is exhibited. It can be used as a terminal. The external electrodes 7 and 8 may be formed on both opposing side surfaces of the electronic component as shown in FIG. 5, may be formed only on one side of the opposing side surfaces, or may be a combination thereof. good. Further, the external electrodes 7 and 8 may be formed so as to reach both surfaces (upper and lower surfaces) of the electronic component 10 in the laminating direction as shown in FIG. 6 or may be formed only on one side of the electronic component. Or a combination thereof. Further, a plurality of electrode layers 1 (or 2) may be connected to one external electrode 7 (or 8). Thereby, the capacity of the formed capacitor can be changed.

 電子部品10には前記外部電極7,8の他に、貫通電極6が形成されている。貫通電極6を介することにより、本発明の電子部品10の上下に配置された本発明の電子部品とは別の電子部品間の電気的接続はあたかも本発明の電子部品が存在しないが如くそのまま確保される。 In addition to the external electrodes 7 and 8, a through electrode 6 is formed on the electronic component 10. Through the penetrating electrode 6, electrical connection between electronic components different from the electronic component of the present invention disposed above and below the electronic component 10 of the present invention is secured as if the electronic component of the present invention does not exist. Is done.

 電極層1,2を形成する材料としては、アルミ、銅、金などの金属や金属化合物を用いることが出来る。また、誘電体層3を形成する材料としては、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ビニル樹脂をはじめとする樹脂材料や、バリウムチタン酸化物系セラミックやストロンチウムチタン酸化物系セラミックなどのセラミック材料、あるいは酸化チタン、酸化アルミ、酸化ケイ素と等の金属酸化物や半金属酸化物を用いることが出来る。また、外部電極7,8及び貫通電極6としては、金、銀、アルミ、銅やはんだ材料などの金属の他、導電性ペーストや導電性高分子を用いることが出来る。 金属 As a material for forming the electrode layers 1 and 2, a metal or a metal compound such as aluminum, copper, or gold can be used. Examples of the material for forming the dielectric layer 3 include resin materials such as acrylic resin, epoxy resin, and vinyl resin, ceramic materials such as barium titanium oxide ceramics and strontium titanium oxide ceramics, and titanium oxide. And metal oxides such as aluminum oxide and silicon oxide, and metalloid oxides. In addition, as the external electrodes 7 and 8 and the through electrode 6, a conductive paste or a conductive polymer can be used in addition to a metal such as gold, silver, aluminum, copper, or a solder material.

 電極層1,2の形成は、真空蒸着法、スパッタ法、メッキ法等によって行うことが出来る。また、電極層1,2をストライプ状に形成する手段としてはパターニング形状の固体マスクを用いる方法やオイル等の蒸発性マスクを用いる方法、レーザーエッチングを行う方法などを適宜用いることが出来る。オイルマスキング材料としては炭化水素系のオイルや鉱物オイル、フッ素系オイルを初めとする各種オイル等を用いることが出来る。 The formation of the electrode layers 1 and 2 can be performed by a vacuum evaporation method, a sputtering method, a plating method, or the like. As a means for forming the electrode layers 1 and 2 in a stripe shape, a method using a patterned solid mask, a method using an evaporable mask such as oil, a method of performing laser etching, and the like can be used as appropriate. As the oil masking material, various oils such as hydrocarbon oils, mineral oils, and fluorine oils can be used.

 誘電体層3の形成は、樹脂系材料であれば、ヒータ加熱により気化して、又は超音波若しくはスプレーにより霧化して堆積する方法、セラミック材料や金属系材料であれば、スパッタ、蒸着等の方法を用いることができる。 The dielectric layer 3 may be formed by vaporizing by heating with a heater, or atomizing by ultrasonic wave or spray, and depositing a resin material if it is a resin material. A method can be used.

 外部電極7,8を形成するためには、溶射、メッキ、導電性ペーストの塗布等の方法を用いることができる。 (4) In order to form the external electrodes 7 and 8, a method such as thermal spraying, plating, or application of a conductive paste can be used.

 貫通電極6を形成するために誘電体層3に穴状の開口を形成するには、誘電体層を形成後にレーザーエッチングにより所定箇所の誘電体を除去する方法や、予めオイル等の蒸発性マスクを付与した後誘電体層を形成する方法等を用いることができる。点状の蒸発性マスクを付与するためには、マスキング材料の微小滴を微細孔から飛び出させるインクジェット方式により付与することが特に有効である。 In order to form a hole-shaped opening in the dielectric layer 3 for forming the through electrode 6, a method of removing the dielectric at a predetermined location by laser etching after the formation of the dielectric layer, or a method of previously using an evaporable mask such as oil , And then a method of forming a dielectric layer can be used. In order to apply a dot-shaped evaporative mask, it is particularly effective to apply a small droplet of a masking material by an ink jet method in which the droplet is ejected from a fine hole.

 オイルマスクを付与する場合、使用できるオイルとしては、炭化水素系オイル、鉱物オイル、フッ素系オイル等が挙げられる。 付 与 When an oil mask is provided, examples of usable oils include hydrocarbon oils, mineral oils, and fluorine oils.

 尚、蒸発性マスクを用いる場合、各層の成膜後に余剰なマスキング材料が残った場合、必要に応じて遠赤外線ヒーター、電子線、紫外線ランプ照射、プラズマ照射等を用いて除去することが出来る。 When an evaporative mask is used, if an excessive masking material remains after the formation of each layer, it can be removed by using a far-infrared heater, electron beam, ultraviolet lamp irradiation, plasma irradiation, or the like, if necessary.

 図7は、図5及び図6に示した電子部品を製造するための製造装置の一例の一部を示した概略断面図である。 FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a part of an example of a manufacturing apparatus for manufacturing the electronic component shown in FIGS.

 真空槽24内は工程ごとに区分された複数の部屋から構成され、金属薄膜成膜源14,17の部屋には真空ポンプ等からなる排気系25が接続されている。真空槽内の各部屋は所定の真空度に維持される。真空槽24の略中央部には搬送系として矢印方向に回転移動する支持体(図7ではキャン23)が配置される。 (4) The inside of the vacuum chamber 24 is composed of a plurality of rooms divided for each process, and an exhaust system 25 such as a vacuum pump is connected to the rooms of the metal thin film deposition sources 14 and 17. Each room in the vacuum chamber is maintained at a predetermined degree of vacuum. A support (a can 23 in FIG. 7) that rotates and moves in the direction of the arrow is disposed as a transport system at a substantially central portion of the vacuum chamber 24.

 まず、キャン23上に絶縁体成膜源(図7では誘電体薄膜成膜源15または18)により下部絶縁体膜の成膜が成される。成膜後、レーザー加工機16又は19によって貫通電極の位置の絶縁体膜を除去して開口(穴)を形成しても良い。また、このとき金属薄膜成膜源14,17のシャッター26は閉じている。続いてシャッター26を開き金属薄膜成膜源14とパターニングマスクの組合せにより第一のパターニング金属薄膜(第1の電極層)が形成される。次に誘電体薄膜成膜源15により、第一の誘電体薄膜(誘電体層)が形成される。第一の誘電体薄膜の形成後、レーザー加工機16によって、貫通電極の位置の誘電体薄膜が除去される。続いて金属薄膜成膜源17とパターニングマスクの組合せにより第二のパターニング金属薄膜(第2の電極層)が形成される。次に誘電体薄膜成膜源18により、第二の誘電体薄膜(誘電体層)が形成される。第二の誘電体薄膜の形成後も、レーザー加工機19によって、貫通電極の位置の誘電体薄膜が除去される。しかるのちに再び金属薄膜成膜源14、誘電体薄膜成膜源15、レーザー加工機16、金属薄膜成膜源17、誘電体薄膜成膜源18、レーザー加工機19に順次送られ、所定回数だけこれらの作業が繰り返される。所定回数の成膜を行った後、シャッター26を閉じ、絶縁体成膜源(図7では誘電体薄膜成膜源15または18)により上部絶縁体膜の成膜が成される。成膜後、レーザー加工機16又は19によって貫通電極の位置の絶縁体膜を除去して開口(穴)を形成しても良い。 First, a lower insulator film is formed on the can 23 by an insulator film forming source (the dielectric thin film forming source 15 or 18 in FIG. 7). After the film formation, the opening (hole) may be formed by removing the insulator film at the position of the through electrode with the laser beam machine 16 or 19. At this time, the shutters 26 of the metal thin film deposition sources 14 and 17 are closed. Subsequently, the shutter 26 is opened and a first patterned metal thin film (first electrode layer) is formed by a combination of the metal thin film deposition source 14 and a patterning mask. Next, a first dielectric thin film (dielectric layer) is formed by the dielectric thin film forming source 15. After the formation of the first dielectric thin film, the laser processing machine 16 removes the dielectric thin film at the position of the through electrode. Subsequently, a second patterned metal thin film (second electrode layer) is formed by a combination of the metal thin film deposition source 17 and a patterning mask. Next, a second dielectric thin film (dielectric layer) is formed by the dielectric thin film forming source 18. Even after the formation of the second dielectric thin film, the laser thinner 19 removes the dielectric thin film at the position of the through electrode. Thereafter, the metal thin film forming source 14, the dielectric thin film forming source 15, the laser processing machine 16, the metal thin film forming source 17, the dielectric thin film forming source 18, and the laser processing machine 19 are sequentially sent again. Only these operations are repeated. After the film formation is performed a predetermined number of times, the shutter 26 is closed, and the upper insulator film is formed by the insulator film forming source (the dielectric thin film forming source 15 or 18 in FIG. 7). After the film formation, the opening (hole) may be formed by removing the insulator film at the position of the through electrode with the laser beam machine 16 or 19.

 貫通電極は貫通電極の位置に形成された貫通穴に導電性ペーストを塗り込んだ後にペーストを固めることにより形成される。 The through electrode is formed by applying a conductive paste into a through hole formed at the position of the through electrode and then hardening the paste.

 その後、積層体を適当な工程段階で必要に応じて所定の大きさに切断加工される。 Thereafter, the laminate is cut into a predetermined size as needed at an appropriate process step.

 所定の大きさに切断された積層体の端面には溶射やペースト塗布等の方法によって外部電極が形成される。 外部 External electrodes are formed on the end faces of the laminate cut into a predetermined size by a method such as thermal spraying or paste application.

 なお、外部電極形成時にはマスク、レジストなどを用いて外部電極に分割接続されるストライプ電極の条数を調整することが出来る。 When forming the external electrodes, the number of stripe electrodes that are divided and connected to the external electrodes can be adjusted using a mask, a resist, or the like.

 形成された本発明の電子部品10は、例えば図8に模式的に示した様に、半導体チップ27を搭載したキャリア28と配線基板30との間に配置されて使用される。キャリア28の下面の信号端子29aは必要に応じて本発明の電子部品10の貫通電極6を介して配線基板30上に形成された配線パターン31と接続される。またキャリア28の下面のある電源端子29bは貫通電極6を介して配線基板30に接続され、さらに第1の外部電極7に接続される。また、キャリア28の下面の別の電源端子29bは貫通電極6を介して配線基板30に接続され、さらに第2の外部電極8に接続される。貫通電極6と外部電極7,8との接続は図8のように配線基板30の表面の配線パターン31による方法であっても良いし、配線基板30内部での接続又は本発明の電子部品の上表面での接続等、その他の方法であっても良い。外部電極7,8と配線基板30との接続ははんだ付け32、又はその他の方法を用いることが出来る。 The formed electronic component 10 of the present invention is used by being arranged between a carrier 28 on which a semiconductor chip 27 is mounted and a wiring board 30, for example, as schematically shown in FIG. The signal terminals 29a on the lower surface of the carrier 28 are connected to the wiring patterns 31 formed on the wiring board 30 via the through electrodes 6 of the electronic component 10 of the present invention as necessary. The power supply terminal 29b on the lower surface of the carrier 28 is connected to the wiring board 30 via the through electrode 6, and further to the first external electrode 7. Further, another power terminal 29 b on the lower surface of the carrier 28 is connected to the wiring board 30 via the through electrode 6, and further connected to the second external electrode 8. The connection between the through electrode 6 and the external electrodes 7 and 8 may be made by a method using the wiring pattern 31 on the surface of the wiring board 30 as shown in FIG. 8, or the connection inside the wiring board 30 or the electronic component of the present invention. Other methods such as connection on the upper surface may be used. The connection between the external electrodes 7 and 8 and the wiring board 30 can be performed by soldering 32 or other methods.

 第1の外部電極7と接続された第1の電極層1と、第2の外部電極8と接続された第2の電極層2とは誘電体層を挟んで絶縁されているので、例えば第1の外部電極7に接続された電源端子がVcc端子、第2の外部電極8に接続された電源端子がGND端子とすれば、第1の外部電極7と第2の外部電極8の間に形成されたコンデンサは、実装面積をほとんど増やすことなくかつ半導体チップに近い位置で電源用のパスコンデンサとして機能するので高周波駆動や実装面積低減の点で好ましい。 The first electrode layer 1 connected to the first external electrode 7 and the second electrode layer 2 connected to the second external electrode 8 are insulated with a dielectric layer interposed therebetween. If the power supply terminal connected to the first external electrode 7 is a Vcc terminal and the power supply terminal connected to the second external electrode 8 is a GND terminal, the power supply terminal is connected between the first external electrode 7 and the second external electrode 8. Since the formed capacitor functions as a power supply pass capacitor at a position close to the semiconductor chip without increasing the mounting area, it is preferable in terms of high-frequency driving and reduction of the mounting area.

 [実施例2]
 金属薄膜材料としてアルミニウム、誘電体材料としてアクリレート、導電性ペーストとして銀系ペースト、レーザーとして出力10Wの炭酸ガスレーザーを用い、17mm角の面積内に0.8mmピッチの格子点に直径0.25mmの貫通電極を484個形成した。電極層1と電極層2は共に0.8mm幅の多条ストライプとし、電極層の厚さ30nm、誘電体層の厚さ0.25ミクロン、誘電体層が140層となるような繰り返し積層を行った。積層体の上下には各5ミクロンの絶縁体層を積層体の強度向上の目的で形成した。簡単のため上下の絶縁体層は誘電体層と同じ材料で構成した。上部絶縁体層及び下部絶縁体層には貫通電極を形成するためのレーザー加工を施した。その後、積層体に切断加工を施し切断面に溶射によりしんちゅう層を20μmの厚さに形成し、続いて半田めっき層を60μm形成して外部電極とした。穴加工を施した貫通電極の位置に発生した凹部(開口部)には導電性ペーストを塗り込んで固めた。
[Example 2]
Aluminum was used as the metal thin film material, acrylate was used as the dielectric material, silver paste was used as the conductive paste, and a carbon dioxide laser with an output of 10 W was used as the laser. 484 through electrodes were formed. Each of the electrode layers 1 and 2 is a multi-stripe having a width of 0.8 mm, and is repeatedly laminated so that the electrode layer has a thickness of 30 nm, the dielectric layer has a thickness of 0.25 μm, and the dielectric layer has 140 layers. went. Insulating layers of 5 μm each were formed above and below the laminate for the purpose of improving the strength of the laminate. For simplicity, the upper and lower insulator layers were made of the same material as the dielectric layer. The upper insulator layer and the lower insulator layer were subjected to laser processing for forming through electrodes. Thereafter, the laminate was subjected to a cutting process, and a brass layer was formed on the cut surface by thermal spraying to a thickness of 20 μm, and then a solder plating layer was formed to a thickness of 60 μm to form external electrodes. A recess (opening) generated at the position of the through electrode where the hole was formed was hardened by applying a conductive paste.

 その結果、総容量で1μF、tanδ0.8%のコンデンサが厚さ約50ミクロンの積層体内部に形成できていることがLCRメーターで確認できた。 As a result, it was confirmed by an LCR meter that a capacitor having a total capacitance of 1 μF and a tan δ of 0.8% was formed inside the laminate having a thickness of about 50 μm.

 (実施の形態3)
 図9は本発明の実施の形態3に係る電子部品10の一例を示す模式的平面図である。また、図10は図9に示した電子部品の一部分の内部構造を示す斜視図である。
(Embodiment 3)
FIG. 9 is a schematic plan view showing an example of the electronic component 10 according to Embodiment 3 of the present invention. FIG. 10 is a perspective view showing the internal structure of a part of the electronic component shown in FIG.

 略同一平面上に所定のパターンで形成された複数の第1の電極層1と、略同一平面上に所定のパターンで形成された複数の第2の電極層2とが、誘電体層3を挟んで積層されている。各第1の電極層1と各第2の電極層2とを少なくとも一部が重なり合うように(対向するように)形成することにより、各重なり部分(対向部分)に静電容量形成領域9が形成され、コンデンサとして機能する。各重なり部分(静電容量形成領域9)の大きさを変更することにより静電容量を変化させることができる。 A plurality of first electrode layers 1 formed in a predetermined pattern on substantially the same plane and a plurality of second electrode layers 2 formed in a predetermined pattern on the substantially same plane form a dielectric layer 3. They are sandwiched and stacked. By forming each of the first electrode layers 1 and each of the second electrode layers 2 so as to at least partially overlap (oppose), the capacitance forming region 9 is formed at each overlapping portion (opposing portion). It is formed and functions as a capacitor. The capacitance can be changed by changing the size of each overlapping portion (capacitance forming region 9).

 第1の電極層1には第1の取り出し電極4が、第2の電極層2には第2の取り出し電極5が接続されている。これらは、前記コンデンサ機能を発揮させるときの接続端子として用いることが出来る。取り出し電極4,5は、図9及び図10の様に電子部品10の積層方向に貫通するように形成しても良く、又は、電子部品の片側の表面にのみ現出するように形成しても良く、あるいはそれらの組合せでも良い。 A first extraction electrode 4 is connected to the first electrode layer 1, and a second extraction electrode 5 is connected to the second electrode layer 2. These can be used as connection terminals when exerting the capacitor function. The extraction electrodes 4 and 5 may be formed so as to penetrate in the stacking direction of the electronic component 10 as shown in FIGS. 9 and 10, or formed so as to appear only on one surface of the electronic component. Or a combination thereof.

 電子部品10には前記取り出し電極4,5の他に、貫通電極6が形成されている。貫通電極6を介することにより、本発明の電子部品10の上下に配置された本発明の電子部品とは別の電子部品間の電気的接続はあたかも本発明の電子部品が存在しないが如くそのまま確保される。 In addition to the extraction electrodes 4 and 5, a through electrode 6 is formed on the electronic component 10. Through the penetrating electrode 6, electrical connection between electronic components different from the electronic component of the present invention disposed above and below the electronic component 10 of the present invention is secured as if the electronic component of the present invention does not exist. Is done.

 電極層1,2を形成する材料としては、アルミ、銅、金などの金属や金属化合物を用いることが出来る。また、誘電体層3を形成する材料としては、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ビニル樹脂をはじめとする樹脂材料や、バリウムチタン酸化物系セラミックやストロンチウムチタン酸化物系セラミックなどのセラミック材料、あるいは酸化チタン、酸化アルミ、酸化ケイ素等の金属酸化物や半金属酸化物を用いることが出来る。また、取り出し電極4,5及び貫通電極6としては、金、銀、アルミ、銅やはんだ材料などの金属の他、導電性ペーストや導電性高分子を用いることが出来る。 金属 As a material for forming the electrode layers 1 and 2, a metal or a metal compound such as aluminum, copper, or gold can be used. Examples of the material for forming the dielectric layer 3 include resin materials such as acrylic resin, epoxy resin, and vinyl resin, ceramic materials such as barium titanium oxide ceramics and strontium titanium oxide ceramics, and titanium oxide. And metal oxides such as aluminum oxide and silicon oxide, and metalloid oxides. Further, as the extraction electrodes 4 and 5 and the penetrating electrode 6, a conductive paste or a conductive polymer can be used in addition to a metal such as gold, silver, aluminum, copper, or a solder material.

 電極層1,2の形成は、真空蒸着法、スパッタ法、メッキ法等によって行うことが出来る。また、電極層1,2を多角形形状等の所定のパターン(形状)に形成する手段としてはパターニング形状の固体マスクを用いる方法やオイル等の蒸発性マスクを用いる方法、レーザーエッチングを行う方法などを適宜用いることが出来る。オイルマスキング材料としては炭化水素系のオイルや鉱物オイル、フッ素系オイルを初めとする各種オイル等を用いることが出来る。 The formation of the electrode layers 1 and 2 can be performed by a vacuum evaporation method, a sputtering method, a plating method, or the like. Means for forming the electrode layers 1 and 2 in a predetermined pattern (shape) such as a polygonal shape include a method using a patterned solid mask, a method using an evaporative mask such as oil, a method using laser etching, and the like. Can be used as appropriate. As the oil masking material, various oils such as hydrocarbon oils, mineral oils, and fluorine oils can be used.

 誘電体層3の形成は、樹脂系材料であれば、ヒータ加熱により気化して、又は超音波若しくはスプレーにより霧化して堆積する方法、セラミック材料や金属系材料であれば、スパッタ、蒸着等の方法を用いることができる。 The dielectric layer 3 may be formed by vaporizing by heating with a heater, or atomizing by ultrasonic wave or spray, and depositing a resin material if it is a resin material. A method can be used.

 取り出し電極4、5や貫通電極6を形成するために誘電体層3に穴状の開口を形成するには、誘電体層を形成後にレーザーエッチングにより所定箇所の誘電体を除去する方法や、予めオイル等の蒸発性マスクを付与した後誘電体層を形成する方法等を用いることができる。点状や線状の蒸発性マスクを付与するためには、マスキング材料の微小滴を微細孔から飛び出させるインクジェット方式により付与する方法も有効である。 In order to form a hole-shaped opening in the dielectric layer 3 for forming the extraction electrodes 4, 5 and the through electrode 6, a method of removing a dielectric at a predetermined location by laser etching after forming the dielectric layer, A method of forming a dielectric layer after providing an evaporative mask of oil or the like can be used. In order to apply a point-like or linear evaporative mask, it is also effective to apply an ink-jet method in which fine droplets of a masking material are ejected from fine holes.

 オイルマスクを付与する場合、使用できるオイルとしては、炭化水素系オイル、鉱物オイル、フッ素系オイル等が挙げられる。 付 与 When an oil mask is provided, examples of usable oils include hydrocarbon oils, mineral oils, and fluorine oils.

 尚、蒸発性マスクを用いる場合、各層の成膜後に余剰なマスキング材料が残った場合、必要に応じて遠赤外線ヒーター、電子線、紫外線ランプ照射、プラズマ照射等を用いて除去することが出来る。 When an evaporative mask is used, if an excessive masking material remains after the formation of each layer, it can be removed by using a far-infrared heater, electron beam, ultraviolet lamp irradiation, plasma irradiation, or the like, if necessary.

 本実施の形態の電子部品の具体的な製造方法は、例えば実施の形態1又は2で示した装置を用いて同様に製造できる。 具体 A specific method of manufacturing an electronic component according to the present embodiment can be similarly manufactured using, for example, the apparatus described in Embodiment 1 or 2.

 形成された本発明の電子部品10は、例えば図11に模式的に示した様に、半導体チップ27を搭載したキャリア28と配線基板30との間に配置されて使用される。キャリア28の下面の信号端子29aは必要に応じて本発明の電子部品10の貫通電極6を介して配線基板30上に形成された配線パターン31と接続される。またキャリア28の下面のある電源端子29bは貫通電極6を介して配線基板30に接続され、さらに第1の取り出し電極4に接続される。また、キャリア28の下面の別の電源端子29bは貫通電極6を介して配線基板30に接続され、さらに第2の取り出し電極5に接続される。貫通電極6と取り出し電極4,5との接続は図11のように配線基板30の表面の配線パターン31による方法であっても良いし、配線基板30内部での接続等、その他の方法であっても良い。あるいはキャリア28の下面の電源端子29bをキャリア下面で取り出し電極4,5に接続しておき、配線基板30の表面で本発明の電子部品10と配線基板30とを接続しても良い。図中9は第1の金属薄膜と第2の金属薄膜との重なり部分で形成される静電容量形成領域である。 The formed electronic component 10 of the present invention is used by being arranged between a carrier 28 on which a semiconductor chip 27 is mounted and a wiring board 30, for example, as schematically shown in FIG. The signal terminals 29a on the lower surface of the carrier 28 are connected to the wiring patterns 31 formed on the wiring board 30 via the through electrodes 6 of the electronic component 10 of the present invention as necessary. The power supply terminal 29 b on the lower surface of the carrier 28 is connected to the wiring board 30 via the through electrode 6, and further connected to the first extraction electrode 4. Further, another power terminal 29 b on the lower surface of the carrier 28 is connected to the wiring board 30 via the through electrode 6, and further connected to the second extraction electrode 5. The connection between the through electrode 6 and the extraction electrodes 4 and 5 may be made by a method using the wiring pattern 31 on the surface of the wiring board 30 as shown in FIG. 11 or by other methods such as connection inside the wiring board 30. May be. Alternatively, the power supply terminal 29b on the lower surface of the carrier 28 may be connected to the extraction electrodes 4 and 5 on the lower surface of the carrier, and the electronic component 10 of the present invention and the wiring substrate 30 may be connected on the surface of the wiring substrate 30. In the figure, reference numeral 9 denotes a capacitance forming region formed at an overlapping portion between the first metal thin film and the second metal thin film.

 第1の取り出し電極4と接続された第1の電極層1と、第2の取り出し電極5と接続された第2の電極層2とは誘電体層を挟んで絶縁されているので、例えば第1の取り出し電極4と接続されたある電源端子がVcc端子、第2の取り出し電極5と接続された別の電源端子がGND端子とすれば、第1の取り出し電極4と第2の取り出し電極5の間に形成されたコンデンサは、実装面積をほとんど増やすことなく、かつ半導体チップに近い位置で電源用のパスコンデンサとして機能するので高周波駆動や実装面積低減の点で好ましい。 The first electrode layer 1 connected to the first extraction electrode 4 and the second electrode layer 2 connected to the second extraction electrode 5 are insulated with a dielectric layer interposed therebetween. If one power supply terminal connected to the first extraction electrode 4 is a Vcc terminal and another power supply terminal connected to the second extraction electrode 5 is a GND terminal, the first extraction electrode 4 and the second extraction electrode 5 The capacitor formed between them functions as a power supply pass capacitor at a position close to the semiconductor chip without increasing the mounting area, and is therefore preferable in terms of high-frequency driving and reduction of the mounting area.

 [実施例3]
 金属薄膜材料としてアルミニウム、誘電体材料として酸化アルミニウム、導電性ペーストとして銀系ペーストを用いた。電極層を形成する際には窓形状の穴の空いた固体マスクを用い、誘電体層を形成する際にはインクジェット方式で付与するオイルマスキング材料としてフッ素系オイルを用い、15mm角の面積内に0.7mmピッチで直径0.3mmの貫通電極を一列20個×10列の総計200個を形成し、かつ貫通電極列の間に1〜2mm幅の矩形の電極層1と電極層2を種々の長さで形成し、両電極層の重なり部分の面積の異なるコンデンサとなるようにした。取り出し電極は0.25mm×1mmの穴形状部に導電性ペーストを充填して各々のコンデンサに2個ずつ形成した。電極層の厚さ30nm、誘電体層の厚さ0.3ミクロン、誘電体層が130層となるような繰り返し積層を行った。積層体の上下には各8ミクロンの絶縁体層を積層体の強度向上の目的で形成した。簡単のため上下の絶縁体層は誘電体層と同じ材料で構成した。下部絶縁体層には貫通電極や取り出し電極を形成するためにマスキングで穴加工を施した。上部絶縁体層にも貫通電極を形成するためにマスキングで穴加工を施した。穴加工を施した貫通電極の位置及び取り出し電極の位置に発生した凹部(開口部)には導電性ペーストを塗り込んで固めた。
[Example 3]
Aluminum was used as the metal thin film material, aluminum oxide was used as the dielectric material, and silver paste was used as the conductive paste. When forming an electrode layer, a solid mask with a window-shaped hole is used.When forming a dielectric layer, a fluorine-based oil is used as an oil masking material to be applied by an inkjet method. A total of 200 through electrodes having a pitch of 0.7 mm and a diameter of 0.3 mm are formed in a row of 20 × 10 rows, and a rectangular electrode layer 1 and an electrode layer 2 each having a width of 1 to 2 mm are formed between the through electrode rows. , So that the capacitors have different areas at the overlapping portions of the two electrode layers. Two extraction electrodes were formed in each capacitor by filling a conductive paste in a hole shape of 0.25 mm × 1 mm. Repeated lamination was performed so that the thickness of the electrode layer was 30 nm, the thickness of the dielectric layer was 0.3 μm, and the number of the dielectric layers was 130. Insulating layers of 8 μm each were formed on the upper and lower sides of the laminate for the purpose of improving the strength of the laminate. For simplicity, the upper and lower insulator layers were made of the same material as the dielectric layer. A hole was formed in the lower insulator layer by masking to form a through electrode and an extraction electrode. A hole was formed by masking on the upper insulator layer to form a through electrode. A conductive paste was applied to solidify the recesses (openings) generated at the positions of the penetrating electrodes and the positions of the extraction electrodes where the holes were formed.

 その結果、容量が0.047μF×4個、0.068μF×2個、0.1μF×2個、0.47μF×1個の計9個コンデンサが、tanδ1.2%で厚さ約60ミクロンの積層体内部に形成できていることがLCRメーターで確認できた。 As a result, a total of 9 capacitors having a capacitance of 0.047 μF × 4, 0.068 μF × 2, 0.1 μF × 2, and 0.47 μF × 1 have a tan δ of 1.2% and a thickness of about 60 μm. It could be confirmed by the LCR meter that it was formed inside the laminate.

 本発明の電極層を形成する材料としては、上記の実施の形態1〜3及び実施例1〜3に限られず、アルミ、銅、金などの金属や金属化合物を用いることが出来る。また、誘電体層を形成する材料としては、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ビニル樹脂をはじめとする樹脂材料や、バリウムチタン酸化物系セラミックやストロンチウムチタン酸化物系セラミックなどのセラミック材料、あるいは酸化チタン、酸化アルミ、酸化ケイ素と等の金属酸化物や半金属酸化物を用いることが出来る。また、貫通電極としては、導電性ペーストの他、金、銀、アルミ、銅やはんだ材料などの金属や導電性高分子を用いることが出来る。また、取り出し電極及び外部電極としては、導電性ペーストの他、真鍮、亜鉛、はんだ材料、金、銀、銅などの金属や導電性高分子などを単独で、あるいは例えば真鍮層を形成後導電性ペースト層を形成するなどして適宜組み合わせて用いることが出来る。 材料 The material for forming the electrode layer of the present invention is not limited to Embodiments 1 to 3 and Examples 1 to 3, but may be a metal such as aluminum, copper, or gold, or a metal compound. In addition, as a material for forming the dielectric layer, a resin material such as an acrylic resin, an epoxy resin, and a vinyl resin, a ceramic material such as a barium titanium oxide ceramic or a strontium titanium oxide ceramic, or titanium oxide, Metal oxides such as aluminum oxide and silicon oxide and metalloid oxides can be used. In addition, as the through electrode, a metal such as gold, silver, aluminum, copper, or a solder material or a conductive polymer can be used in addition to the conductive paste. In addition, as the extraction electrode and the external electrode, in addition to the conductive paste, brass, zinc, a solder material, a metal such as gold, silver, copper, or a conductive polymer alone or, for example, a conductive layer after forming a brass layer. They can be used in appropriate combination by forming a paste layer or the like.

 また、実施の形態1〜3の説明図において、静電容量形成領域を形成するための電極層の配置は、積層方向上方から見たときに電極層が互いに直交する等して矩形の静電容量形成領域が形成されるように構成しているが、静電容量形成領域は必ずしも矩形状である必要はない。例えば、ストライプ状の電極層を斜めに交差させるなどして、交差部分に形成される静電容量形成領域の形状を平行四辺形等の別の形状とすることも可能である。 In the explanatory views of the first to third embodiments, the arrangement of the electrode layers for forming the capacitance forming regions is such that the electrode layers are orthogonal to each other when viewed from above in the stacking direction. Although the capacitance formation region is formed so as to be formed, the capacitance formation region is not necessarily required to be rectangular. For example, the shape of the capacitance forming region formed at the intersection may be changed to another shape such as a parallelogram by crossing the stripe-shaped electrode layers obliquely.

 また、取り出し電極や貫通電極の形状は、図面で模式的に示した形状のみに限定されるものではなく、それ以外の形状に変更することも可能である。 The shapes of the extraction electrode and the through electrode are not limited to the shapes schematically shown in the drawings, but may be changed to other shapes.

 また、同一の電子部品内に、実施の形態1〜3に示した構造が混在していても良い。例えば、実施の形態1,2に示したストライプ状の電極層を形成し、一部の電極層には実施の形態1に示した取り出し電極を接続し、他の電極層には実施の形態2に示した外部電極を接続しても良い。あるいは、実施の形態1,2に示したストライプ状の電極層と実施の形態3に示した所定パターンの電極層とを形成し、一部の電極層には実施の形態1又は3に示した取り出し電極を接続し、他の電極層には実施の形態2に示した外部電極を接続しても良い。 構造 Further, the structures shown in the first to third embodiments may be mixed in the same electronic component. For example, the stripe-shaped electrode layers shown in Embodiments 1 and 2 are formed, the extraction electrodes shown in Embodiment 1 are connected to some of the electrode layers, and Embodiment 2 is used for other electrode layers. May be connected. Alternatively, the stripe-shaped electrode layers described in Embodiments 1 and 2 and the electrode pattern having a predetermined pattern described in Embodiment 3 are formed, and some of the electrode layers are described in Embodiment 1 or 3. The extraction electrode may be connected, and the external electrode described in Embodiment 2 may be connected to another electrode layer.

 また、貫通電極や取り出し電極を形成するための誘電体層の開口(穴)は、誘電体層を積層するたびにレーザエッチングや蒸発性オイルを付与して形成したが、例えば積層途中ではこのような方法を採らず、積層後に所定箇所にレーザー光を照射するなどして開口(穴)を形成しても良い。即ち、いずれの電極層とも接触しないように積層方向に貫通穴を形成し、該貫通穴に導電性材料を充填することにより、貫通電極を形成することができる。また、所望する電極層にのみ接触するように、所定深さの穴(あるいは貫通穴)を形成し、該穴の内周壁(及び穴の底部)に露出した電極層と接触するように導電性材料を充填することにより、所望する電極層が電気的に接続された取り出し電極を形成することができる。 The openings (holes) in the dielectric layer for forming the through electrodes and the extraction electrodes are formed by applying laser etching or evaporative oil every time the dielectric layers are laminated. An opening (hole) may be formed by irradiating a laser beam to a predetermined portion after lamination, without using a proper method. That is, a through-hole can be formed by forming a through-hole in the lamination direction so as not to contact any of the electrode layers, and filling the through-hole with a conductive material. Also, a hole (or through hole) having a predetermined depth is formed so as to contact only a desired electrode layer, and a conductive layer is formed so as to contact the electrode layer exposed on the inner peripheral wall of the hole (and the bottom of the hole). By filling the material, an extraction electrode to which a desired electrode layer is electrically connected can be formed.

 また、本発明の電子部品は、コンデンサ機能を有するものを例に説明したが、コンデンサ機能の他に、またはコンデンサ機能とともに、他の機能(例えば、コイル、ノイズフィルタ、積層回路基板等)を有するものであっても良い。 Also, the electronic component of the present invention has been described as an example having a capacitor function, but has other functions (for example, a coil, a noise filter, a laminated circuit board, etc.) in addition to or in addition to the capacitor function. It may be something.

本発明の実施の形態1に係る電子部品の一例を示す模式的平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view illustrating an example of the electronic component according to Embodiment 1 of the present invention. 図1に示した電子部品の一部分の内部構造を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view illustrating an internal structure of a part of the electronic component illustrated in FIG. 1. 図1に示した電子部品を製造するための製造工程の一部を説明するための装置の概略斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view of an apparatus for describing a part of a manufacturing process for manufacturing the electronic component illustrated in FIG. 1. 図1に示した電子部品の使用例を示した模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a usage example of the electronic component illustrated in FIG. 1. 本発明の実施の形態2に係る電子部品の一例を示す模式的平面図である。FIG. 13 is a schematic plan view illustrating an example of an electronic component according to Embodiment 2 of the present invention. 図5に示した電子部品の一部分の内部構造を示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view illustrating an internal structure of a part of the electronic component illustrated in FIG. 5. 図5に示した電子部品を製造するための製造装置を示した概略断面図である。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a manufacturing apparatus for manufacturing the electronic component shown in FIG. 図5に示した電子部品の使用例を示した模式図である。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a usage example of the electronic component illustrated in FIG. 5. 本発明の実施の形態3に係る電子部品の一例を示す模式的平面図である。FIG. 13 is a schematic plan view illustrating an example of an electronic component according to Embodiment 3 of the present invention. 図9に示した電子部品の一部分の内部構造を示す斜視図である。FIG. 10 is a perspective view illustrating an internal structure of a part of the electronic component illustrated in FIG. 9. 図9に示した電子部品の使用例を示した模式図である。FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a usage example of the electronic component illustrated in FIG. 9.

符号の説明Explanation of reference numerals

 1 第1の電極層
 2 第2の電極層
 3 誘電体層
 4 第1の取り出し電極
 5 第2の取り出し電極
6 貫通電極
7 第1の外部電極
8 第2の外部電極
9 静電容量形成領域
10 電子部品
11 支持体搬入室
 12a,12b 仕切弁
 13 下部絶縁体成膜源
 14 金属薄膜成膜源
 15 誘電体薄膜成膜源
 16 レーザー加工機
 17 金属薄膜成膜源
 18 誘電体薄膜成膜源
 19 レーザー加工機
 20 上部絶縁体成膜源
 21 搬送系
 22 支持体取り出し口
 23 キャン
 24 真空槽
 25 排気系
 26 シャッター
 27 半導体チップ
 28 キャリア
 29a 信号端子
 29b 電源端子
 30 配線基板
 31 配線パターン
 32 はんだ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st electrode layer 2 2nd electrode layer 3 dielectric layer 4 1st extraction electrode 5 2nd extraction electrode 6 penetration electrode 7 1st external electrode 8 2nd external electrode 9 Capacitance formation area 10 Electronic component 11 Support loading chamber 12a, 12b Gate valve 13 Lower insulator film forming source 14 Metal thin film forming source 15 Dielectric thin film forming source 16 Laser processing machine 17 Metal thin film forming source 18 Dielectric thin film forming source 19 Laser processing machine 20 Upper insulator film forming source 21 Transport system 22 Support take-out port 23 Can 24 Vacuum tank 25 Exhaust system 26 Shutter 27 Semiconductor chip 28 Carrier 29a Signal terminal 29b Power supply terminal 30 Wiring board 31 Wiring pattern 32 Solder

Claims (9)

誘電体を挟んで対向配置された電極層と、前記電極層に接続された取り出し電極又は外部電極とを有する電子部品であって、前記電極層に電気的に接続されずに前記電子部品を貫通する、格子点状に配置された貫通電極を有することを特徴とする電子部品。 An electronic component having an electrode layer opposed to the dielectric layer and an extraction electrode or an external electrode connected to the electrode layer, wherein the electronic component penetrates the electronic component without being electrically connected to the electrode layer. An electronic component having through-electrodes arranged in a lattice point pattern. 前記取り出し電極は、前記電子部品の片側の表面にのみ現出している請求項1に記載の電子部品。 The electronic component according to claim 1, wherein the extraction electrode is exposed only on one surface of the electronic component. 前記電極層は、前記貫通電極の間に配置された第1の電極層及び第2の電極層とからなり、 The electrode layer includes a first electrode layer and a second electrode layer disposed between the through electrodes, 前記電極層は、所定の大きさの対向部分を有するように前記誘電体を挟んで配置された第1の電極層及び第2の電極層とからなる請求項1に記載の電子部品。 2. The electronic component according to claim 1, wherein the electrode layer includes a first electrode layer and a second electrode layer disposed so as to have a facing portion of a predetermined size with the dielectric interposed therebetween. 3. 前記取り出し電極は、前記貫通電極の一方の端部と同一面上に形成されている請求項1に記載の電子部品。 The electronic component according to claim 1, wherein the extraction electrode is formed on the same plane as one end of the through electrode. 前記外部電極は、前記貫通電極と異なる面上に形成されている請求項1に記載の電子部品。 The electronic component according to claim 1, wherein the external electrode is formed on a different surface from the through electrode. 前記第1の電極層と前記第2の電極層との間で、複数の静電容量形成領域が形成されている請求項3又は4に記載の電子部品。 The electronic component according to claim 3, wherein a plurality of capacitance forming regions are formed between the first electrode layer and the second electrode layer. それぞれの静電容量形成領域を形成する第1の電極層と第2の電極層に接続された取り出し電極又は外部電極は、相互に絶縁されている請求項7に記載の電子部品。 The electronic component according to claim 7, wherein the extraction electrode or the external electrode connected to the first electrode layer and the second electrode layer forming each capacitance forming region are insulated from each other. 静電容量が異なる静電容量形成領域が形成されている請求項7又は8に記載の電子部品。
The electronic component according to claim 7, wherein capacitance forming regions having different capacitances are formed.
JP2003297773A 2003-08-21 2003-08-21 Electronic component assembly Expired - Fee Related JP3793186B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003297773A JP3793186B2 (en) 2003-08-21 2003-08-21 Electronic component assembly

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003297773A JP3793186B2 (en) 2003-08-21 2003-08-21 Electronic component assembly

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11567399A Division JP3701138B2 (en) 1999-04-23 1999-04-23 Manufacturing method of electronic parts

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2004048037A true JP2004048037A (en) 2004-02-12
JP2004048037A5 JP2004048037A5 (en) 2005-05-26
JP3793186B2 JP3793186B2 (en) 2006-07-05

Family

ID=31712626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003297773A Expired - Fee Related JP3793186B2 (en) 2003-08-21 2003-08-21 Electronic component assembly

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3793186B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JP3793186B2 (en) 2006-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060292813A1 (en) Electronic component and method for manufacturing the same
KR100483944B1 (en) Laminated body, capacitor, electronic part, and method and device for manufacturing the laminated body, capacitor, and electronic part
JP6387278B2 (en) Circuit module and manufacturing method thereof
JP4511561B2 (en) SEMICONDUCTOR ELEMENT HAVING LAMINATED SEMICONDUCTOR CHIP AND MANUFACTURING METHOD
JP3853565B2 (en) Thin film laminate, capacitor and manufacturing method and manufacturing apparatus thereof
US9185809B2 (en) Method for producing an electrical multi-layer component and electrical multi-layer component
WO2011118307A1 (en) Production method for substrate with built-in capacitor and production method for element sheets that can be used in aforementioned production method
JP3793186B2 (en) Electronic component assembly
JP2004140403A (en) Manufacturing method of electronic components
US7180155B2 (en) Method for manufacturing thin-film multilayer electronic component and thin-film multilayer electronic component
JP2018014447A (en) Multilayer ceramic electronic component
JP2004048037A5 (en)
WO2011118308A1 (en) Capacitor element, substrate with built-in capacitor, element sheet, and production methods for same
JP2007522644A (en) Method of forming terminals of passive electronic components using laser
WO2011086796A1 (en) Method of manufacturing substrate with built-in capacitor
WO2015033788A1 (en) Method for manufacturing laminated electronic component
US11923284B2 (en) Wiring substrate and electronic module
JP2011049379A (en) Electronic component and method of manufacturing the same
KR100993257B1 (en) Substrate with condenser embedded therein and fabricating method thereof
KR100714625B1 (en) Method for manufacturing printed circuit board embedded capacitor
CN118235220A (en) Capacitor and method for manufacturing the same
WO2011086795A1 (en) Capacitor element and substrate with built-in capacitor
JP2007123391A (en) Electronic part
JP2017208369A (en) Circuit board, circuit board manufacturing method and electronic apparatus
JPH04259107A (en) Electronic component and its manufacture

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060316

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060330

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20060406

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100414

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110414

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120414

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130414

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees