JP2002350914A - 光源装置及び光照射装置 - Google Patents
光源装置及び光照射装置Info
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- JP2002350914A JP2002350914A JP2001162004A JP2001162004A JP2002350914A JP 2002350914 A JP2002350914 A JP 2002350914A JP 2001162004 A JP2001162004 A JP 2001162004A JP 2001162004 A JP2001162004 A JP 2001162004A JP 2002350914 A JP2002350914 A JP 2002350914A
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- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 210nm以下の波長を有する光を、簡単な
構成で、効率良く発生する。 【解決手段】 波長1050nm以下の光を基本波とし
て、非線形光学素子181,182,183を順次介さ
せて、第2高調波発生又は和周波発生により段階的に波
長変換し、基本波の5倍波(波長210nm以下)を発
生する。この結果、非線形光学効果による第2高調波発
生や和周波発生を利用して、波長変換の段数を3段と
し、かつ、和周波発生段の数を最小の1段として、波長
が210nm以下の紫外光を発生することができる。
構成で、効率良く発生する。 【解決手段】 波長1050nm以下の光を基本波とし
て、非線形光学素子181,182,183を順次介さ
せて、第2高調波発生又は和周波発生により段階的に波
長変換し、基本波の5倍波(波長210nm以下)を発
生する。この結果、非線形光学効果による第2高調波発
生や和周波発生を利用して、波長変換の段数を3段と
し、かつ、和周波発生段の数を最小の1段として、波長
が210nm以下の紫外光を発生することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源装置及び光照
射装置に係り、より詳しくは、210nm以下の紫外光
を発生する光源装置、及び、該光源装置を備える光照射
装置に関する。
射装置に係り、より詳しくは、210nm以下の紫外光
を発生する光源装置、及び、該光源装置を備える光照射
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、物体の微細構造の検査、物体
の微細加工、また、視力矯正の治療等に光照射装置が使
用されている。例えば、半導体素子等を製造するための
リソグラフィ工程では、マスク又はレチクル(以下、
「レチクル」と総称する)に形成されたパターンを、投
影光学系を介してレジスト等が塗布されたウエハ又はガ
ラスプレート等の基板(以下、適宜「基板」又は「ウエ
ハ」という)上に転写するために、光照射装置の一種で
ある露光装置が用いられている。こうした露光装置とし
ては、ステップ・アンド・リピート方式を採用する静止
露光型の投影露光装置や、ステップ・アンド・スキャン
方式を採用する走査露光型の投影露光装置が主として用
いられている。また、視力矯正のために、角膜表面のア
ブレーション(PRK:Photorefractive Keratectom
y)あるいは角膜内部のアブレーション(LASIK:L
aser Intrastromal Keratomileusis)を行って近視や乱
視等の治療をするために、光照射装置の一種であるレー
ザ治療装置が用いられている。
の微細加工、また、視力矯正の治療等に光照射装置が使
用されている。例えば、半導体素子等を製造するための
リソグラフィ工程では、マスク又はレチクル(以下、
「レチクル」と総称する)に形成されたパターンを、投
影光学系を介してレジスト等が塗布されたウエハ又はガ
ラスプレート等の基板(以下、適宜「基板」又は「ウエ
ハ」という)上に転写するために、光照射装置の一種で
ある露光装置が用いられている。こうした露光装置とし
ては、ステップ・アンド・リピート方式を採用する静止
露光型の投影露光装置や、ステップ・アンド・スキャン
方式を採用する走査露光型の投影露光装置が主として用
いられている。また、視力矯正のために、角膜表面のア
ブレーション(PRK:Photorefractive Keratectom
y)あるいは角膜内部のアブレーション(LASIK:L
aser Intrastromal Keratomileusis)を行って近視や乱
視等の治療をするために、光照射装置の一種であるレー
ザ治療装置が用いられている。
【0003】かかる光照射装置のために、短波長の光を
発生する光源について多くの開発がなされてきた。こう
した、短波長光源の開発の方向は、主に次の2種に大別
される。その一つはレーザの発振波長自身が短波長であ
るエキシマレーザ光源の開発であり、もう一つは赤外又
は可視光レーザの高調波発生を利用した短波長光源の開
発である。
発生する光源について多くの開発がなされてきた。こう
した、短波長光源の開発の方向は、主に次の2種に大別
される。その一つはレーザの発振波長自身が短波長であ
るエキシマレーザ光源の開発であり、もう一つは赤外又
は可視光レーザの高調波発生を利用した短波長光源の開
発である。
【0004】このうち、前者の方向に沿っては、KrF
エキシマレーザ(波長248nm)を使用する光源装置
が開発され、現在ではさらに短波長である210nm以
下の波長を有する紫外光光源としてArFエキシマレー
ザ(波長193nm)等を使用する光源装置の開発が進
められている。しかし、これらのエキシマレーザは大型
であること、有毒なフッ素ガスを使用するためレーザの
メインテナンスが煩雑でかつ費用が高額となるなどの、
光源装置として不利な点が存在する。
エキシマレーザ(波長248nm)を使用する光源装置
が開発され、現在ではさらに短波長である210nm以
下の波長を有する紫外光光源としてArFエキシマレー
ザ(波長193nm)等を使用する光源装置の開発が進
められている。しかし、これらのエキシマレーザは大型
であること、有毒なフッ素ガスを使用するためレーザの
メインテナンスが煩雑でかつ費用が高額となるなどの、
光源装置として不利な点が存在する。
【0005】そこで、後者の方向に沿った短波長化の方
法である、非線形光学結晶等の非線形光学素子による非
線形光学効果を利用し、第2高調波発生や和周波発生に
より長波長の光をより短波長の紫外光に変換する方法が
注目を集めている。かかる方法を使用した光源装置とし
ては、例えば、赤外レーザ光を基本波として、該基本波
を紫外光に変換する方式を採用する国際公開公報WO9
9/46835に開示された装置(以下、単に「従来
例」という)がある。
法である、非線形光学結晶等の非線形光学素子による非
線形光学効果を利用し、第2高調波発生や和周波発生に
より長波長の光をより短波長の紫外光に変換する方法が
注目を集めている。かかる方法を使用した光源装置とし
ては、例えば、赤外レーザ光を基本波として、該基本波
を紫外光に変換する方式を採用する国際公開公報WO9
9/46835に開示された装置(以下、単に「従来
例」という)がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来例の技術
のように、非線形光学素子による非線形光学効果を利用
し、第2高調波発生又は和周波発生によって波長変換を
行う場合、本発明者が研究の結果から得た知見によれ
ば、実用的に許容できる程度の効率で、第2高調波発生
として得られる光の波長の下限は、現在のところ、21
0nm程度である。したがって、210nm以下の波長
の光を第2高調波発生又は和周波発生によって発生しよ
うとすると、第2高調波発生のみを利用する訳にはいか
ず、少なくとも最終段の波長変換は和周波発生によって
行うことが必要である。
のように、非線形光学素子による非線形光学効果を利用
し、第2高調波発生又は和周波発生によって波長変換を
行う場合、本発明者が研究の結果から得た知見によれ
ば、実用的に許容できる程度の効率で、第2高調波発生
として得られる光の波長の下限は、現在のところ、21
0nm程度である。したがって、210nm以下の波長
の光を第2高調波発生又は和周波発生によって発生しよ
うとすると、第2高調波発生のみを利用する訳にはいか
ず、少なくとも最終段の波長変換は和周波発生によって
行うことが必要である。
【0007】このため、例えば、光ファイバ通信で多用
され1.55μm帯の波長の赤外レーザ光を基本波とし
て採用し、ArFエキシマレーザの場合と同一の波長
(193nm)の光を発生しようとすると、基本波の8
倍波を発生させることが必要となるが、こうした8倍波
の発生には、4段階以上にわたって、第2高調波発生又
は和周波発生による波長変換が必要であった。また、4
段階以上の波長変換のうち、2段階以上で和周波発生を
行うことが必要であった。
され1.55μm帯の波長の赤外レーザ光を基本波とし
て採用し、ArFエキシマレーザの場合と同一の波長
(193nm)の光を発生しようとすると、基本波の8
倍波を発生させることが必要となるが、こうした8倍波
の発生には、4段階以上にわたって、第2高調波発生又
は和周波発生による波長変換が必要であった。また、4
段階以上の波長変換のうち、2段階以上で和周波発生を
行うことが必要であった。
【0008】ところで、第2高調波発生や和周波発生
は、現状では、波長変換効率が非常に高いとはいい難
く、また、和周波発生にあたっては、通常、2つの入射
光の光軸合わせが必要となる。この結果、第2高調波発
生及び和周波発生を利用した8倍波の発生により、波長
が210nmの光を得ることにすると、波長変換部ひい
ては光源装置を簡易に構成することができるとはいい難
く、また、効率的に波長が210nmの光を得られると
はいい難かった。
は、現状では、波長変換効率が非常に高いとはいい難
く、また、和周波発生にあたっては、通常、2つの入射
光の光軸合わせが必要となる。この結果、第2高調波発
生及び和周波発生を利用した8倍波の発生により、波長
が210nmの光を得ることにすると、波長変換部ひい
ては光源装置を簡易に構成することができるとはいい難
く、また、効率的に波長が210nmの光を得られると
はいい難かった。
【0009】一方、近年における露光精度及び露光スル
ープットの向上等の要請にともない、高輝度で210n
m以下の波長を有する光を、簡単な構成で、効率的に発
生することができる技術が強く求められている。
ープットの向上等の要請にともない、高輝度で210n
m以下の波長を有する光を、簡単な構成で、効率的に発
生することができる技術が強く求められている。
【0010】本発明は、上記の事情のもとでなされたも
のであり、その第1の目的は、簡単な構成で、210n
m以下の波長を有する波長変換光を効率的に発生するこ
とができる光源装置を提供することにある。
のであり、その第1の目的は、簡単な構成で、210n
m以下の波長を有する波長変換光を効率的に発生するこ
とができる光源装置を提供することにある。
【0011】また、本発明の第2の目的は、効率的に生
成された210nm以下の波長を有する波長変換光を対
象物に照射することができる光照射装置を提供すること
にある。
成された210nm以下の波長を有する波長変換光を対
象物に照射することができる光照射装置を提供すること
にある。
【0012】
【課題を解決するための手段】第2高調波発生又は和周
波発生によって波長変換を行って、実用的なパワーの短
波長光を効率的に発生するには、十分なパワーが得られ
る波長の光を基本波とすること、第2高調波発生又は和
周波発生用の非線形光学素子が存在すること、波長変換
の段数を少なくすることが必要である。
波発生によって波長変換を行って、実用的なパワーの短
波長光を効率的に発生するには、十分なパワーが得られ
る波長の光を基本波とすること、第2高調波発生又は和
周波発生用の非線形光学素子が存在すること、波長変換
の段数を少なくすることが必要である。
【0013】これに対し、本発明者が研究の結果から得
た知見によれば、上述のように基本波の2倍波として波
長が210nm以下の光を実用的な効率で発生させるこ
とができないとともに、現在知られている非線形光学素
子を用いた第2高調波発生や和周波発生によっては、基
本波の3倍波として波長が210nm以下の光を実用的
な効率で発生させることもできない。すなわち、第2高
調波発生や和周波発生を利用した波長変換では、波長変
換の段数を2段以下として、基本波から210nm以下
の光を発生させることはできない。
た知見によれば、上述のように基本波の2倍波として波
長が210nm以下の光を実用的な効率で発生させるこ
とができないとともに、現在知られている非線形光学素
子を用いた第2高調波発生や和周波発生によっては、基
本波の3倍波として波長が210nm以下の光を実用的
な効率で発生させることもできない。すなわち、第2高
調波発生や和周波発生を利用した波長変換では、波長変
換の段数を2段以下として、基本波から210nm以下
の光を発生させることはできない。
【0014】一方、本発明者は、波長変換の段数を3段
とし、現在知られている非線形光学素子を使用しつつ、
基本波の4倍波又は5倍波として、波長が210nm以
下の光を発生させることができる可能性を見出した。こ
こで、4倍波として波長が210nm以下の光を発生さ
せる構成では、3段の内の2段において和周波発生をす
ることが必要であり、5倍波として波長が210nm以
下の光を発生させる構成では、3段の内の1段において
和周波発生をすることが必要であることも同時に見出さ
れた。上述のように、和周波発生においては、通常、光
軸合わせが必要となるので、和周波発生を行う段数が少
ない程、波長変換部の構成を簡易なものとできる可能性
が高い。
とし、現在知られている非線形光学素子を使用しつつ、
基本波の4倍波又は5倍波として、波長が210nm以
下の光を発生させることができる可能性を見出した。こ
こで、4倍波として波長が210nm以下の光を発生さ
せる構成では、3段の内の2段において和周波発生をす
ることが必要であり、5倍波として波長が210nm以
下の光を発生させる構成では、3段の内の1段において
和周波発生をすることが必要であることも同時に見出さ
れた。上述のように、和周波発生においては、通常、光
軸合わせが必要となるので、和周波発生を行う段数が少
ない程、波長変換部の構成を簡易なものとできる可能性
が高い。
【0015】また、4倍波又は5倍波として波長が21
0nm以下の光を発生させるにあたり、基本波となる1
050nm以下の波長の光を十分なパワーで発生するレ
ーザ光源は多数存在する。また、こうした基本波の波長
の光を増幅する光増幅器も存在する。
0nm以下の光を発生させるにあたり、基本波となる1
050nm以下の波長の光を十分なパワーで発生するレ
ーザ光源は多数存在する。また、こうした基本波の波長
の光を増幅する光増幅器も存在する。
【0016】本発明は、かかる知見に基づいてなされた
ものである。
ものである。
【0017】すなわち、本発明は、210nm以下であ
る第1の波長の紫外光を発生する光源装置(16)であ
って、1050nm以下である第2の波長の赤外域又は
可視域の光を発生する基本波発生部(160,161)
と;前記基本波発生部から射出された光を基本波とし
て、前記第1の波長を有する前記基本波の5倍波を発生
する波長変換部(163)と;を備える光源装置であ
る。
る第1の波長の紫外光を発生する光源装置(16)であ
って、1050nm以下である第2の波長の赤外域又は
可視域の光を発生する基本波発生部(160,161)
と;前記基本波発生部から射出された光を基本波とし
て、前記第1の波長を有する前記基本波の5倍波を発生
する波長変換部(163)と;を備える光源装置であ
る。
【0018】これによれば、基本波発生部が発生した、
波長が1050nm以下の波長を有する赤外域又は可視
域の光を基本波として、波長変換部が基本波の5倍波を
発生する。したがって、非線形光学効果による第2高調
波発生や和周波発生を利用して、3段という少ない波長
変換の段数とできるとともに、和周波発生段の数を最小
の1段とすることができるので、簡易な構成で、効率的
に、波長が210nm以下の紫外光を発生することがで
きる。
波長が1050nm以下の波長を有する赤外域又は可視
域の光を基本波として、波長変換部が基本波の5倍波を
発生する。したがって、非線形光学効果による第2高調
波発生や和周波発生を利用して、3段という少ない波長
変換の段数とできるとともに、和周波発生段の数を最小
の1段とすることができるので、簡易な構成で、効率的
に、波長が210nm以下の紫外光を発生することがで
きる。
【0019】本発明の光源装置では、前記基本波発生部
が、前記第1の波長の光を発生するレーザ光源(160
A)と;前記レーザ光源から射出された光を増幅する光
増幅器(167)と;を備える構成とすることができ
る。
が、前記第1の波長の光を発生するレーザ光源(160
A)と;前記レーザ光源から射出された光を増幅する光
増幅器(167)と;を備える構成とすることができ
る。
【0020】ここで、前記レーザ光源が固体レーザを含
む構成とすることができる。
む構成とすることができる。
【0021】また、前記光増幅器が、光ファイバ増幅器
及び半導体光増幅器の少なくとも一方を含む構成とする
ことができる。
及び半導体光増幅器の少なくとも一方を含む構成とする
ことができる。
【0022】本発明の光源装置では、前記波長変換部
が、前記基本波を入射し、第2高調波発生により、前記
基本波の2倍波を発生する第1非線形光学素子(18
1,181’)と;前記2倍波を入射し、第2高調波発
生により、前記基本波の4倍波を発生する第2非線形光
学素子(182,182’)と;前記基本波及び前記4
倍波を入射し、和周波発生により、前記基本波の5倍波
を発生する第3非線形光学素子(183,183’)
と;を含む構成とすることができる。
が、前記基本波を入射し、第2高調波発生により、前記
基本波の2倍波を発生する第1非線形光学素子(18
1,181’)と;前記2倍波を入射し、第2高調波発
生により、前記基本波の4倍波を発生する第2非線形光
学素子(182,182’)と;前記基本波及び前記4
倍波を入射し、和周波発生により、前記基本波の5倍波
を発生する第3非線形光学素子(183,183’)
と;を含む構成とすることができる。
【0023】ここで、前記第1非線形光学素子をGdC
a4O(BO3)3結晶とし、前記基本波が、前記GdC
a4O(BO3)3結晶中を、誘電主軸方向(誘電主軸の
z軸方向)とほぼ平行に進行する構成とすることができ
る。
a4O(BO3)3結晶とし、前記基本波が、前記GdC
a4O(BO3)3結晶中を、誘電主軸方向(誘電主軸の
z軸方向)とほぼ平行に進行する構成とすることができ
る。
【0024】また、前記第1非線形光学素子をGdCa
4O(BO3)3結晶とし、前記基本波が、前記GdCa4
O(BO3)3結晶中を、実効的な非線形光学係数がほぼ
最大となる方向に進行する構成とすることができる。
4O(BO3)3結晶とし、前記基本波が、前記GdCa4
O(BO3)3結晶中を、実効的な非線形光学係数がほぼ
最大となる方向に進行する構成とすることができる。
【0025】また、前記第1非線形光学素子をGdXY
1-XCa4O(BO3)3結晶とし、前記基本波が、前記G
dXY1-XCa4O(BO3)3結晶中を、実効的な非線形
光学係数がほぼ最大となる方向に進行する構成とするこ
とができる。
1-XCa4O(BO3)3結晶とし、前記基本波が、前記G
dXY1-XCa4O(BO3)3結晶中を、実効的な非線形
光学係数がほぼ最大となる方向に進行する構成とするこ
とができる。
【0026】また、前記第2非線形光学素子をK2Al2
B2O7結晶とする構成とできる。
B2O7結晶とする構成とできる。
【0027】また、前記第3非線形光学素子をK2Al2
B2O7結晶とする構成とできる。
B2O7結晶とする構成とできる。
【0028】また、前記波長変換部が、前記第3非線形
光学素子に入射する前記基本波と前記4倍波との同軸性
を補正する分散補償素子(191,192)を更に備え
る構成とすることができる。
光学素子に入射する前記基本波と前記4倍波との同軸性
を補正する分散補償素子(191,192)を更に備え
る構成とすることができる。
【0029】本発明の光照射装置は、対象物に光を照射
する光照射装置であって、本発明の光源装置(16)
と;前記光源装置から射出された光を前記対象物に向け
て射出する照射光学系(12)と;を備える光照射装置
である。これによれば、本発明の光源装置から射出され
た光を、照射光学系を介して対象物に照射するので、効
率的に波長変換された、210nm以下の波長の光を対
象物に照射することができる。
する光照射装置であって、本発明の光源装置(16)
と;前記光源装置から射出された光を前記対象物に向け
て射出する照射光学系(12)と;を備える光照射装置
である。これによれば、本発明の光源装置から射出され
た光を、照射光学系を介して対象物に照射するので、効
率的に波長変換された、210nm以下の波長の光を対
象物に照射することができる。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を、図
1〜図4を参照して説明する。
1〜図4を参照して説明する。
【0031】図1には、本発明に係る光源装置を含んで
構成された一実施形態に係る光照射装置である露光装置
10の概略構成が示されている。この露光装置10は、
ステップ・アンド・スキャン方式の走査型露光装置であ
る。
構成された一実施形態に係る光照射装置である露光装置
10の概略構成が示されている。この露光装置10は、
ステップ・アンド・スキャン方式の走査型露光装置であ
る。
【0032】この露光装置10は、光源装置16及び照
明光学系12から成る照明系、この照明系からの露光用
照明光(以下、「照明光」又は「露光光」という)IL
により照明されるレチクルRを保持するレチクルステー
ジRST、レチクルRを介した露光光ILを基板として
のウエハW上に投射する投影光学系PL、ウエハWを保
持するZチルトステージ58が搭載されたXYステージ
14、及びこれらの制御系等を備えている。
明光学系12から成る照明系、この照明系からの露光用
照明光(以下、「照明光」又は「露光光」という)IL
により照明されるレチクルRを保持するレチクルステー
ジRST、レチクルRを介した露光光ILを基板として
のウエハW上に投射する投影光学系PL、ウエハWを保
持するZチルトステージ58が搭載されたXYステージ
14、及びこれらの制御系等を備えている。
【0033】前記光源装置16は、例えば、波長193
nm(ArFエキシマレーザ光とほぼ同一波長)の紫外
パルス光を出力する高調波発生装置である。この光源装
置16は、前記照明光学系12、レチクルステージRS
T、投影光学系PL、Zチルトステージ58、XYステ
ージ14及びこれら各部が搭載された不図示の本体コラ
ム等から成る露光装置本体とともに、温度、圧力、湿度
等が高精度に調整されたエンバイロンメンタル・チャン
バ(以下、「チャンバ」という)11内に収納されてい
る。なお、本実施形態では、光源装置16を全てチャン
バ11内に配置するものとしたが、光源装置16の一
部、例えば後述する波長変換部163のみをチャンバ1
1内、特に照明光学系12と同一の架台に設け、この波
長変換部163と光源装置16の本体部とを光ファイバ
等で接続してもよい。
nm(ArFエキシマレーザ光とほぼ同一波長)の紫外
パルス光を出力する高調波発生装置である。この光源装
置16は、前記照明光学系12、レチクルステージRS
T、投影光学系PL、Zチルトステージ58、XYステ
ージ14及びこれら各部が搭載された不図示の本体コラ
ム等から成る露光装置本体とともに、温度、圧力、湿度
等が高精度に調整されたエンバイロンメンタル・チャン
バ(以下、「チャンバ」という)11内に収納されてい
る。なお、本実施形態では、光源装置16を全てチャン
バ11内に配置するものとしたが、光源装置16の一
部、例えば後述する波長変換部163のみをチャンバ1
1内、特に照明光学系12と同一の架台に設け、この波
長変換部163と光源装置16の本体部とを光ファイバ
等で接続してもよい。
【0034】図2には、光源装置16の内部構成が装置
全体を統括制御する主制御装置50とともにブロック図
にて示されている。この図2に示されるように、光源装
置16は、光源部16A、レーザ制御装置16B、及び
光量制御装置16C等を含んで構成されている。
全体を統括制御する主制御装置50とともにブロック図
にて示されている。この図2に示されるように、光源装
置16は、光源部16A、レーザ制御装置16B、及び
光量制御装置16C等を含んで構成されている。
【0035】前記光源部16Aは、パルス光発生部16
0、光増幅部161、波長変換器163、及びビームモ
ニタ機構164を含んで構成されている。
0、光増幅部161、波長変換器163、及びビームモ
ニタ機構164を含んで構成されている。
【0036】前記パルス光発生部160は、レーザ光源
160A、光カップラBS、及び光アイソレータ160
B等を有する。
160A、光カップラBS、及び光アイソレータ160
B等を有する。
【0037】前記レーザ光源160Aとしては、ここで
は、例えば、発振波長967nmのチタンサファイアレ
ーザが用いられている。チタンサファイアレーザは、パ
ルス発振及び連続光発振の双方共に可能であるが、本実
施形態のレーザ光源160Aでは、パルス発振を採用し
ている。
は、例えば、発振波長967nmのチタンサファイアレ
ーザが用いられている。チタンサファイアレーザは、パ
ルス発振及び連続光発振の双方共に可能であるが、本実
施形態のレーザ光源160Aでは、パルス発振を採用し
ている。
【0038】前記光カップラBSとしては、透過率が9
7%程度のものが用いられている。このため、レーザ光
源160Aからのレーザ光は、光カップラBSによって
2つに分岐され、その97%程度が次段の光アイソレー
タ160Bに向かって進み、残り3%程度がビームモニ
タ機構164に入射するようになっている。
7%程度のものが用いられている。このため、レーザ光
源160Aからのレーザ光は、光カップラBSによって
2つに分岐され、その97%程度が次段の光アイソレー
タ160Bに向かって進み、残り3%程度がビームモニ
タ機構164に入射するようになっている。
【0039】前記ビームモニタ機構164は、フォトダ
イオード等の光電変換素子から成るエネルギモニタ(図
示省略)を含んでいる。このエネルギモニタの出力は、
レーザ制御装置16Bを介して主制御装置50に供給さ
れており、主制御装置50ではエネルギモニタの出力に
基づいてレーザ光のエネルギパワーを検出し、レーザ制
御装置16Bを介してレーザ光源160Aで発振される
レーザ光の光量を必要に応じて制御する。
イオード等の光電変換素子から成るエネルギモニタ(図
示省略)を含んでいる。このエネルギモニタの出力は、
レーザ制御装置16Bを介して主制御装置50に供給さ
れており、主制御装置50ではエネルギモニタの出力に
基づいてレーザ光のエネルギパワーを検出し、レーザ制
御装置16Bを介してレーザ光源160Aで発振される
レーザ光の光量を必要に応じて制御する。
【0040】前記光アイソレータ160Bは、光カップ
ラBSから光増幅部161に向かう方向の光のみを通過
させ、反対向きの光の通過を阻止する。この光アイソレ
ータ160Bにより、反射光(戻り光)に起因するレー
ザ光源160Aの発振モードの変化や雑音の発生等が防
止される。
ラBSから光増幅部161に向かう方向の光のみを通過
させ、反対向きの光の通過を阻止する。この光アイソレ
ータ160Bにより、反射光(戻り光)に起因するレー
ザ光源160Aの発振モードの変化や雑音の発生等が防
止される。
【0041】前記光増幅部161は、光アイソレータ1
60Bからのパルス光を増幅するもので、図3に示され
るように、光アイソレータ160Bからのパルス光を時
間順に周期的に振り分けて分岐(例えば、128分岐)
する光分岐器166と、複数の光ファイバ増幅器167
とを含んで構成されている。
60Bからのパルス光を増幅するもので、図3に示され
るように、光アイソレータ160Bからのパルス光を時
間順に周期的に振り分けて分岐(例えば、128分岐)
する光分岐器166と、複数の光ファイバ増幅器167
とを含んで構成されている。
【0042】図3に示されるように、光ファイバ増幅器
167は、増幅用媒体としての増幅用光ファイバ17
5、ポンプ光を発生する励起用半導体レーザ1781,
1782、上述の光アイソレータ160Bの出力光とポ
ンプ光とを合成し、こうして得られた合成光を増幅用光
ファイバ175に供給する波長分割多重化装置(Wavele
ngth Division Multiplexer:WDM)1791,1792
を備えている。ここで、励起用半導体レーザ1781及
びWDM1791は前方励起に使用され、一方、励起用
半導体レーザ1782及びWDM1792は後方励起に使
用されている。これにより、入力光強度に対する光増幅
率の線形性の維持と、光増幅率の向上とを図っている。
167は、増幅用媒体としての増幅用光ファイバ17
5、ポンプ光を発生する励起用半導体レーザ1781,
1782、上述の光アイソレータ160Bの出力光とポ
ンプ光とを合成し、こうして得られた合成光を増幅用光
ファイバ175に供給する波長分割多重化装置(Wavele
ngth Division Multiplexer:WDM)1791,1792
を備えている。ここで、励起用半導体レーザ1781及
びWDM1791は前方励起に使用され、一方、励起用
半導体レーザ1782及びWDM1792は後方励起に使
用されている。これにより、入力光強度に対する光増幅
率の線形性の維持と、光増幅率の向上とを図っている。
【0043】前記増幅用光ファイバ175は、シリカガ
ラス又はフォスフェイトガラスを主材とし、コアとクラ
ッドを有し、コアにイッテルビウム(Yb)イオンが高
密度にドープされた光ファイバが用いられる。
ラス又はフォスフェイトガラスを主材とし、コアとクラ
ッドを有し、コアにイッテルビウム(Yb)イオンが高
密度にドープされた光ファイバが用いられる。
【0044】以上のように構成された光ファイバ増幅器
167において、増幅用光ファイバ175に、励起用半
導体レーザ1781,1782が発生したポンプ光がWD
M1791,1792を介して供給された状態で、WDM
1791を介してパルス光が入射し増幅用光ファイバ1
75のコア中を進行すると、誘導放射が発生し、パルス
光が増幅される。かかる光増幅にあたって、増幅用光フ
ァイバ175は高い増幅率を有するので、波長の単一性
が高い高輝度のパルス光が出力される。このため、効率
良く狭帯域の光を得ることができる。
167において、増幅用光ファイバ175に、励起用半
導体レーザ1781,1782が発生したポンプ光がWD
M1791,1792を介して供給された状態で、WDM
1791を介してパルス光が入射し増幅用光ファイバ1
75のコア中を進行すると、誘導放射が発生し、パルス
光が増幅される。かかる光増幅にあたって、増幅用光フ
ァイバ175は高い増幅率を有するので、波長の単一性
が高い高輝度のパルス光が出力される。このため、効率
良く狭帯域の光を得ることができる。
【0045】前記励起用半導体レーザ1781,1782
は、レーザ光源160Aにおける発振波長よりも短い波
長の光をポンプ光として発生する。このポンプ光がWD
M1791,1792を介して増幅用光ファイバ175に
供給され、それによりYbの殻外電子が励起され、いわ
ゆるエネルギ準位の反転分布が発生する。なお、励起用
半導体レーザ1781,1782は、光量制御装置16C
によって制御されるようになっている。
は、レーザ光源160Aにおける発振波長よりも短い波
長の光をポンプ光として発生する。このポンプ光がWD
M1791,1792を介して増幅用光ファイバ175に
供給され、それによりYbの殻外電子が励起され、いわ
ゆるエネルギ準位の反転分布が発生する。なお、励起用
半導体レーザ1781,1782は、光量制御装置16C
によって制御されるようになっている。
【0046】また、本実施形態では、各光ファイバ増幅
器167のゲインの差を抑制するため、光ファイバ増幅
器167で出力の一部が分岐され、それぞれの分岐端に
設けられた光電変換素子171によってそれぞれ光電変
換されるようになっている。これらの光電変換素子17
1の出力信号が光量制御装置16Cに供給されるように
なっている。
器167のゲインの差を抑制するため、光ファイバ増幅
器167で出力の一部が分岐され、それぞれの分岐端に
設けられた光電変換素子171によってそれぞれ光電変
換されるようになっている。これらの光電変換素子17
1の出力信号が光量制御装置16Cに供給されるように
なっている。
【0047】光量制御装置16Cでは、各光ファイバ増
幅器167からの光出力が一定になるように(即ちバラ
ンスするように)、各励起用半導体レーザ1781,1
782のドライブ電流をフィードバック制御するように
なっている。
幅器167からの光出力が一定になるように(即ちバラ
ンスするように)、各励起用半導体レーザ1781,1
782のドライブ電流をフィードバック制御するように
なっている。
【0048】前記波長変換部163は、複数の非線形光
学素子を含み、光増幅部161からのパルス光(波長9
67nmの光)をその5倍波に波長変換して、ArFエ
キシマレーザとほぼ同じ出力波長(193nm)のパル
ス紫外光を発生する。
学素子を含み、光増幅部161からのパルス光(波長9
67nmの光)をその5倍波に波長変換して、ArFエ
キシマレーザとほぼ同じ出力波長(193nm)のパル
ス紫外光を発生する。
【0049】図4には、この波長変換部163の構成例
が示されている。ここで、この図に基づいて波長変換部
163の具体例について説明する。
が示されている。ここで、この図に基づいて波長変換部
163の具体例について説明する。
【0050】図4の波長変換部163では、基本波(波
長967nm)→2倍波(波長484nm)→4倍波
(波長242nm)→5倍波(波長193nm)の順に
波長変換が行われる。
長967nm)→2倍波(波長484nm)→4倍波
(波長242nm)→5倍波(波長193nm)の順に
波長変換が行われる。
【0051】これを更に詳述すると、光増幅部161か
ら射出された波長967nm(周波数ω)の光(基本
波)は、集光レンズ186を介して、1段目の非線形光
学素子181に入射する。基本波がこの非線形光学素子
181を通る際に、第2高調波発生により基本波の周波
数ωの2倍、すなわち周波数2ω(波長484nm)の
2倍波が発生する。
ら射出された波長967nm(周波数ω)の光(基本
波)は、集光レンズ186を介して、1段目の非線形光
学素子181に入射する。基本波がこの非線形光学素子
181を通る際に、第2高調波発生により基本波の周波
数ωの2倍、すなわち周波数2ω(波長484nm)の
2倍波が発生する。
【0052】この1段目の非線形光学素子181として
は、GdCa4O(BO3)3結晶(以下、「GdCOB
結晶」と略記する)が用いられている。このGdCOB
結晶181は、光増幅部161からの光が誘電主軸(誘
電主軸のz軸)にほぼ沿って進行する方位で配置されて
おり、基本波を2倍波に波長変換するための第2高調波
発生の位相整合が、ノンクリティカル位相整合(NCP
M:Non-Critical Phase Matching)によって行われる
ようになっている。NCPMは、非線形光学素子内での
基本波と発生した第2高調波との角度ずれ(Walk-off)が
起こらず、高効率で2倍波への変換を可能にする。ま
た、発生した2倍波はWalk-offによるビームの変形も受
けないため有利である。そして、NCPMによる第2高
調波発生ではWalk-offが発生しないため、非線形光学素
子181からは、基本波及び2倍波がほぼ同軸で射出さ
れる。なお、基本波と2倍波とは、偏光方向が互いに直
交する方向となって、非線形光学素子181から射出さ
れる。
は、GdCa4O(BO3)3結晶(以下、「GdCOB
結晶」と略記する)が用いられている。このGdCOB
結晶181は、光増幅部161からの光が誘電主軸(誘
電主軸のz軸)にほぼ沿って進行する方位で配置されて
おり、基本波を2倍波に波長変換するための第2高調波
発生の位相整合が、ノンクリティカル位相整合(NCP
M:Non-Critical Phase Matching)によって行われる
ようになっている。NCPMは、非線形光学素子内での
基本波と発生した第2高調波との角度ずれ(Walk-off)が
起こらず、高効率で2倍波への変換を可能にする。ま
た、発生した2倍波はWalk-offによるビームの変形も受
けないため有利である。そして、NCPMによる第2高
調波発生ではWalk-offが発生しないため、非線形光学素
子181からは、基本波及び2倍波がほぼ同軸で射出さ
れる。なお、基本波と2倍波とは、偏光方向が互いに直
交する方向となって、非線形光学素子181から射出さ
れる。
【0053】非線形光学素子181から射出された基本
波と2倍波とは、集光レンズ187を介して、2段目の
非線形光学素子182に入射する。2倍波がこの非線形
光学素子182を通る際に、第2高調波発生により周波
数4ω(波長242nm)の4倍波が発生する。
波と2倍波とは、集光レンズ187を介して、2段目の
非線形光学素子182に入射する。2倍波がこの非線形
光学素子182を通る際に、第2高調波発生により周波
数4ω(波長242nm)の4倍波が発生する。
【0054】この2段目の非線形光学素子182として
は、K2Al2B2O7結晶(以下、「KAB結晶」と略記
する)が用いられている。このKAB結晶182は、非
線形光学素子181からの周波数2ωの2倍波を4倍波
に波長変換するための第2高調波発生の位相整合が、ク
リティカル位相整合(CPM:Critical Phase Matchin
g)によって行われる方位で配置されている。CPMに
よる第2高調波発生では、一般に、非線形光学素子内で
の2倍波とその第2高調波である4倍波との角度ずれ(W
alk-off)が起こり、4倍波のビーム形状が楕円状となる
が、KAB結晶の場合には、Walk-offによる角度ずれが
小さい。このため、KAB結晶182からは、基本波、
2倍波、及び4倍波がほぼ同軸で射出される。なお、基
本波と4倍波とは、偏光方向が互いに平行な方向となっ
て、非線形光学素子182から射出されるとともに、基
本波と2倍波とは、偏光方向が互いに直交する方向とな
って、非線形光学素子182から射出される。
は、K2Al2B2O7結晶(以下、「KAB結晶」と略記
する)が用いられている。このKAB結晶182は、非
線形光学素子181からの周波数2ωの2倍波を4倍波
に波長変換するための第2高調波発生の位相整合が、ク
リティカル位相整合(CPM:Critical Phase Matchin
g)によって行われる方位で配置されている。CPMに
よる第2高調波発生では、一般に、非線形光学素子内で
の2倍波とその第2高調波である4倍波との角度ずれ(W
alk-off)が起こり、4倍波のビーム形状が楕円状となる
が、KAB結晶の場合には、Walk-offによる角度ずれが
小さい。このため、KAB結晶182からは、基本波、
2倍波、及び4倍波がほぼ同軸で射出される。なお、基
本波と4倍波とは、偏光方向が互いに平行な方向となっ
て、非線形光学素子182から射出されるとともに、基
本波と2倍波とは、偏光方向が互いに直交する方向とな
って、非線形光学素子182から射出される。
【0055】非線形光学素子182から射出された基本
波、2倍波、及び4倍波とは、集光レンズ188を介し
て、3段目の非線形光学素子183に入射する。入射光
がこの非線形光学素子183を通る際に、基本波と4倍
波との和周波発生により基本波の周波数ωの5倍、すな
わち周波数5ω(波長193nm)の5倍波が発生す
る。
波、2倍波、及び4倍波とは、集光レンズ188を介し
て、3段目の非線形光学素子183に入射する。入射光
がこの非線形光学素子183を通る際に、基本波と4倍
波との和周波発生により基本波の周波数ωの5倍、すな
わち周波数5ω(波長193nm)の5倍波が発生す
る。
【0056】本実施形態では、この3段目の非線形光学
素子183として、KAB結晶が用いられている。この
KAB結晶183は、非線形光学素子182からの基本
波と4倍波から5倍波に波長変換するためのタイプ1に
よる和周波発生の位相整合が行われる方位で配置されて
いる。
素子183として、KAB結晶が用いられている。この
KAB結晶183は、非線形光学素子182からの基本
波と4倍波から5倍波に波長変換するためのタイプ1に
よる和周波発生の位相整合が行われる方位で配置されて
いる。
【0057】以上のように構成された波長変換部163
において、光増幅器161によって増幅された基本波
(波長987nm)を3段階で波長変換することによ
り、目的の波長193nmの光が得られる。
において、光増幅器161によって増幅された基本波
(波長987nm)を3段階で波長変換することによ
り、目的の波長193nmの光が得られる。
【0058】図1に戻り、前記照明光学系12は、オプ
ティカルインテグレータ、可変NDフィルタ、及びレチ
クルブラインド等(いずれも不図示)を含んで構成され
ている。ここで、オプティカルインテグレータとしては
フライアイレンズ、内面反射型インテグレータ(ロッド
インテグレータ等)、あるいは回折光学素子等が用いら
れる。こうした照明光学系の構成は、例えば、特開平1
0−112433号公報に、オプティカルインテグレー
タとしてはフライアイレンズを採用したものが開示され
ている。この照明光学系12から射出された露光光IL
は、ミラーMによって光路が垂直下方に折り曲げられた
後、コンデンサレンズ32を経て、レチクルステージR
ST上に保持されたレチクルR上の矩形の照明領域42
Rを均一な照度分布で照明する。
ティカルインテグレータ、可変NDフィルタ、及びレチ
クルブラインド等(いずれも不図示)を含んで構成され
ている。ここで、オプティカルインテグレータとしては
フライアイレンズ、内面反射型インテグレータ(ロッド
インテグレータ等)、あるいは回折光学素子等が用いら
れる。こうした照明光学系の構成は、例えば、特開平1
0−112433号公報に、オプティカルインテグレー
タとしてはフライアイレンズを採用したものが開示され
ている。この照明光学系12から射出された露光光IL
は、ミラーMによって光路が垂直下方に折り曲げられた
後、コンデンサレンズ32を経て、レチクルステージR
ST上に保持されたレチクルR上の矩形の照明領域42
Rを均一な照度分布で照明する。
【0059】前記レチクルステージRST上にはレチク
ルRが載置され、不図示のバキュームチャック等を介し
て吸着保持されている。レチクルステージRSTは、水
平面(XY平面)内で移動可能であり、レチクルステー
ジ駆動部49によって走査方向(ここでは図1の紙面左
右方向であるY方向とする)に所定ストローク範囲で走
査されるようになっている。この走査中のレチクルステ
ージRSTの位置及び回転量は、レチクルステージRS
T上に固定された移動鏡52Rを介して外部のレーザ干
渉計54Rによって計測され、このレーザ干渉計54R
の計測値が主制御装置50に供給されるようになってい
る。
ルRが載置され、不図示のバキュームチャック等を介し
て吸着保持されている。レチクルステージRSTは、水
平面(XY平面)内で移動可能であり、レチクルステー
ジ駆動部49によって走査方向(ここでは図1の紙面左
右方向であるY方向とする)に所定ストローク範囲で走
査されるようになっている。この走査中のレチクルステ
ージRSTの位置及び回転量は、レチクルステージRS
T上に固定された移動鏡52Rを介して外部のレーザ干
渉計54Rによって計測され、このレーザ干渉計54R
の計測値が主制御装置50に供給されるようになってい
る。
【0060】前記投影光学系PLは、例えば両側テレセ
ントリックな縮小系であり、共通のZ軸方向の光軸AX
を有する複数枚のレンズエレメントから構成されてい
る。また、この投影光学系PLとしては、投影倍率βが
例えば1/4、1/5、1/6等のものが使用されてい
る。このため、上記のようにして、露光光ILによりレ
チクルRにおける照明領域42Rが照明されると、その
レチクルRに形成されたパターンのうち照明領域42R
内の一部を投影光学系PLによって投影倍率βで縮小し
た像が、投影光学系PLの視野内で照明領域42Rと共
役な矩形の投影領域42Wに形成され、ウエハWの表面
に塗布されたレジスト(感光剤)にその縮小像が転写さ
れる。
ントリックな縮小系であり、共通のZ軸方向の光軸AX
を有する複数枚のレンズエレメントから構成されてい
る。また、この投影光学系PLとしては、投影倍率βが
例えば1/4、1/5、1/6等のものが使用されてい
る。このため、上記のようにして、露光光ILによりレ
チクルRにおける照明領域42Rが照明されると、その
レチクルRに形成されたパターンのうち照明領域42R
内の一部を投影光学系PLによって投影倍率βで縮小し
た像が、投影光学系PLの視野内で照明領域42Rと共
役な矩形の投影領域42Wに形成され、ウエハWの表面
に塗布されたレジスト(感光剤)にその縮小像が転写さ
れる。
【0061】前記XYステージ14は、ウエハステージ
駆動部56によって走査方向であるY方向及びこれに直
交するX方向(図1における紙面直交方向)に2次元駆
動されるようになっている。このXYステージ14上に
搭載されたZチルトステージ58上に不図示のウエハホ
ルダを介してウエハWが真空吸着等により保持されてい
る。Zチルトステージ58は、例えば3つのアクチュエ
ータ(ピエゾ素子又はボイスコイルモータなど)によっ
てウエハWのZ方向の位置(フォーカス位置)を調整す
ると共に、XY平面(投影光学系PLの像面)に対する
ウエハWの傾斜角を調整する機能を有する。また、XY
ステージ14の位置は、Zチルトステージ58上に固定
された移動鏡52Wを介して外部のレーザ干渉計54W
により計測され、このレーザ干渉計54Wの計測値が主
制御装置50に供給されるようになっている。
駆動部56によって走査方向であるY方向及びこれに直
交するX方向(図1における紙面直交方向)に2次元駆
動されるようになっている。このXYステージ14上に
搭載されたZチルトステージ58上に不図示のウエハホ
ルダを介してウエハWが真空吸着等により保持されてい
る。Zチルトステージ58は、例えば3つのアクチュエ
ータ(ピエゾ素子又はボイスコイルモータなど)によっ
てウエハWのZ方向の位置(フォーカス位置)を調整す
ると共に、XY平面(投影光学系PLの像面)に対する
ウエハWの傾斜角を調整する機能を有する。また、XY
ステージ14の位置は、Zチルトステージ58上に固定
された移動鏡52Wを介して外部のレーザ干渉計54W
により計測され、このレーザ干渉計54Wの計測値が主
制御装置50に供給されるようになっている。
【0062】ここで、移動鏡は、実際には、X軸に垂直
な反射面を有するX移動鏡とY軸に垂直な反射面を有す
るY移動鏡とが存在し、これに対応してレーザ干渉計も
X軸位置計測用、Y軸位置計測用、及び回転(ヨーイン
グ量、ピッチング量、ローリング量を含む)計測用のも
のがそれぞれ設けられているが、図1では、これらが代
表的に、移動鏡52W、レーザ干渉計54Wとして示さ
れている。
な反射面を有するX移動鏡とY軸に垂直な反射面を有す
るY移動鏡とが存在し、これに対応してレーザ干渉計も
X軸位置計測用、Y軸位置計測用、及び回転(ヨーイン
グ量、ピッチング量、ローリング量を含む)計測用のも
のがそれぞれ設けられているが、図1では、これらが代
表的に、移動鏡52W、レーザ干渉計54Wとして示さ
れている。
【0063】Zチルトステージ58上には、後述するレ
チクルアライメント等を行う際に使用される基準マーク
板FMが設けられている。この基準マーク板FMは、そ
の表面がウエハWの表面とほぼ同一の高さとされてい
る。この基準マーク板FMの表面には、レチクルアライ
メント用基準マーク、ベースライン計測用基準マーク等
の基準マークが形成されている。
チクルアライメント等を行う際に使用される基準マーク
板FMが設けられている。この基準マーク板FMは、そ
の表面がウエハWの表面とほぼ同一の高さとされてい
る。この基準マーク板FMの表面には、レチクルアライ
メント用基準マーク、ベースライン計測用基準マーク等
の基準マークが形成されている。
【0064】更に、本実施形態の露光装置10では、図
1に示されるように、主制御装置50の制御の下で、投
影光学系PLの結像面(XY平面)に設定される多数の
計測点に向けてそれぞれピンホール又はスリットの像を
形成するための結像光束を、光軸AXに対して斜め方向
より照射する照射光学系60aと、それらの結像光束の
ウエハW表面での反射光束を受光する受光光学系60b
とからなる斜入射方式の多点焦点位置検出系(フォーカ
スセンサ)が設けられている。なお、本実施形態と同様
の多点焦点位置検出系(フォーカスセンサ)の詳細な構
成は、例えば特開平6−283403号公報等に開示さ
れている。
1に示されるように、主制御装置50の制御の下で、投
影光学系PLの結像面(XY平面)に設定される多数の
計測点に向けてそれぞれピンホール又はスリットの像を
形成するための結像光束を、光軸AXに対して斜め方向
より照射する照射光学系60aと、それらの結像光束の
ウエハW表面での反射光束を受光する受光光学系60b
とからなる斜入射方式の多点焦点位置検出系(フォーカ
スセンサ)が設けられている。なお、本実施形態と同様
の多点焦点位置検出系(フォーカスセンサ)の詳細な構
成は、例えば特開平6−283403号公報等に開示さ
れている。
【0065】走査露光時等に、主制御装置50は、受光
光学系60bからの各計測点について検出されたZ位置
に基づいて、計測点が存在するショット領域の一部の表
面のZ位置及び傾斜量を逐次算出しつつ、この算出結果
に基づいてZチルトステージ58のZ位置を不図示の駆
動系を介して制御することにより、オートフォーカス
(自動焦点合わせ)及びオートレベリングを実行する。
光学系60bからの各計測点について検出されたZ位置
に基づいて、計測点が存在するショット領域の一部の表
面のZ位置及び傾斜量を逐次算出しつつ、この算出結果
に基づいてZチルトステージ58のZ位置を不図示の駆
動系を介して制御することにより、オートフォーカス
(自動焦点合わせ)及びオートレベリングを実行する。
【0066】前記主制御装置50は、CPU(中央演算
処理装置)、ROM(リード・オンリ・メモリ)、RA
M(ランダム・アクセス・メモリ)等から成るいわゆる
マイクロコンピュータ(又はワークステーション)を含
んで構成され、これまでに説明した各種の制御を行う
他、露光動作が的確に行われるように、例えばレチクル
RとウエハWの同期走査、ウエハWのステッピング、露
光タイミング等を制御する。また、本実施形態では、主
制御装置50は、後述するように走査露光の際の露光量
の制御を行ったりする等の他、装置全体を統括制御す
る。
処理装置)、ROM(リード・オンリ・メモリ)、RA
M(ランダム・アクセス・メモリ)等から成るいわゆる
マイクロコンピュータ(又はワークステーション)を含
んで構成され、これまでに説明した各種の制御を行う
他、露光動作が的確に行われるように、例えばレチクル
RとウエハWの同期走査、ウエハWのステッピング、露
光タイミング等を制御する。また、本実施形態では、主
制御装置50は、後述するように走査露光の際の露光量
の制御を行ったりする等の他、装置全体を統括制御す
る。
【0067】具体的には、主制御装置50は、例えば走
査露光時には、レチクルRが照明領域42Rに対してレ
チクルステージRSTを介して+Y方向(又は−Y方
向)に速度VR=Vで走査されるのに同期して、XYス
テージ14を介してウエハWが投影領域42Wに対して
−Y方向(又は+Y方向)に速度VW=β・V(βはレ
チクルRからウエハWに対する投影倍率)で走査される
ように、レーザ干渉計54R、54Wの計測値に基づい
てレチクルステージ駆動部49、ウエハステージ駆動部
56をそれぞれ介してレチクルステージRST、XYス
テージ14の位置及び速度をそれぞれ制御する。また、
ステッピングの際には、主制御装置50ではレーザ干渉
計54Wの計測値に基づいてウエハステージ駆動部56
を介してXYステージ14の位置を制御する。
査露光時には、レチクルRが照明領域42Rに対してレ
チクルステージRSTを介して+Y方向(又は−Y方
向)に速度VR=Vで走査されるのに同期して、XYス
テージ14を介してウエハWが投影領域42Wに対して
−Y方向(又は+Y方向)に速度VW=β・V(βはレ
チクルRからウエハWに対する投影倍率)で走査される
ように、レーザ干渉計54R、54Wの計測値に基づい
てレチクルステージ駆動部49、ウエハステージ駆動部
56をそれぞれ介してレチクルステージRST、XYス
テージ14の位置及び速度をそれぞれ制御する。また、
ステッピングの際には、主制御装置50ではレーザ干渉
計54Wの計測値に基づいてウエハステージ駆動部56
を介してXYステージ14の位置を制御する。
【0068】次に、本実施形態の露光装置10において
所定枚数(N枚)のウエハW上にレチクルパターンの露
光を行う場合の露光シーケンスについて主制御装置50
の制御動作を中心として説明する。
所定枚数(N枚)のウエハW上にレチクルパターンの露
光を行う場合の露光シーケンスについて主制御装置50
の制御動作を中心として説明する。
【0069】まず、主制御装置50では、不図示のレチ
クルローダを用いて露光対象のレチクルRをレチクルス
テージRST上にロードする。
クルローダを用いて露光対象のレチクルRをレチクルス
テージRST上にロードする。
【0070】次いで、不図示のレチクルアライメント系
を用いてレチクルアライメントを行うとともに、前述し
た基準マークを用いてオフアクシス方式のアライメント
系(不図示)のベースライン計測を行う。
を用いてレチクルアライメントを行うとともに、前述し
た基準マークを用いてオフアクシス方式のアライメント
系(不図示)のベースライン計測を行う。
【0071】次に、主制御装置50では、不図示のウエ
ハ搬送系にウエハWの交換を指示する。これにより、ウ
エハ搬送系及びXYステージ14上の不図示のウエハ受
け渡し機構によってウエハ交換(ステージ上にウエハが
無い場合は、単なるウエハロード)が行われる。次い
で、前述のベースライン計測が行われたアライメント系
を用いて、ファインアライメント(EGA等)等の一連
のアライメント工程の処理が行われる。これらのウエハ
交換、ウエハアライメントは、公知の露光装置と同様に
行われるので、ここではこれ以上の詳細な説明は省略す
る。
ハ搬送系にウエハWの交換を指示する。これにより、ウ
エハ搬送系及びXYステージ14上の不図示のウエハ受
け渡し機構によってウエハ交換(ステージ上にウエハが
無い場合は、単なるウエハロード)が行われる。次い
で、前述のベースライン計測が行われたアライメント系
を用いて、ファインアライメント(EGA等)等の一連
のアライメント工程の処理が行われる。これらのウエハ
交換、ウエハアライメントは、公知の露光装置と同様に
行われるので、ここではこれ以上の詳細な説明は省略す
る。
【0072】次に、上記のアライメント結果及びショッ
トマップデータに基づいて、ウエハW上の各ショット領
域の露光のための走査開始位置にウエハWを移動させる
動作と、前述した走査露光動作とを繰り返し行って、ス
テップ・アンド・スキャン方式でウエハW上の複数のシ
ョット領域にレチクルパターンを転写する。かかる走査
露光中に、主制御装置50は、露光条件及びレジスト感
度に応じて決定された目標積算露光量をウエハWに与え
るため、光量制御装置16Cに指令を与え、露光光量の
制御を行う。
トマップデータに基づいて、ウエハW上の各ショット領
域の露光のための走査開始位置にウエハWを移動させる
動作と、前述した走査露光動作とを繰り返し行って、ス
テップ・アンド・スキャン方式でウエハW上の複数のシ
ョット領域にレチクルパターンを転写する。かかる走査
露光中に、主制御装置50は、露光条件及びレジスト感
度に応じて決定された目標積算露光量をウエハWに与え
るため、光量制御装置16Cに指令を与え、露光光量の
制御を行う。
【0073】1枚目のウエハWに対する露光が終了する
と、主制御装置50では、不図示のウエハ搬送系にウエ
ハWの交換を指示する。これにより、ウエハ搬送系及び
XYステージ14上の不図示のウエハ受け渡し機構によ
ってウエハ交換が行われ、以後上記と同様にしてその交
換後のウエハに対してサーチアライメント、ファインア
ライメントを行う。
と、主制御装置50では、不図示のウエハ搬送系にウエ
ハWの交換を指示する。これにより、ウエハ搬送系及び
XYステージ14上の不図示のウエハ受け渡し機構によ
ってウエハ交換が行われ、以後上記と同様にしてその交
換後のウエハに対してサーチアライメント、ファインア
ライメントを行う。
【0074】そして、上記と同様にして、このウエハW
上の複数のショット領域にステップ・アンド・スキャン
方式でレチクルパターンを転写する。
上の複数のショット領域にステップ・アンド・スキャン
方式でレチクルパターンを転写する。
【0075】なお、露光条件及び/又はレチクルパター
ンの変更によって照度が変化するときは、ウエハ(レジ
スト)に適正な露光量が与えられるように、光源16か
ら射出される光の周波数とピークパワーとの少なくとも
一方を制御することが望ましい。このとき、周波数及び
ピークパワーの少なくとも一方に加えてレチクル及びウ
エハの走査速度を調整するようにしてもよい。
ンの変更によって照度が変化するときは、ウエハ(レジ
スト)に適正な露光量が与えられるように、光源16か
ら射出される光の周波数とピークパワーとの少なくとも
一方を制御することが望ましい。このとき、周波数及び
ピークパワーの少なくとも一方に加えてレチクル及びウ
エハの走査速度を調整するようにしてもよい。
【0076】以上説明したように、本実施形態に係る光
源装置16によれば、パルス光発生部160が発生した
連続的な光パルス列を光増幅部161が増幅した後、波
長変換部163において、非線形光学素子を使用した2
段階の第2高調波発生及び1段階の和周波発生を行って
5倍波を発生させ、波長が210nm以下である波長1
93nmの光を得るので、簡易な構成で、波長が210
nm以下の光を効率的に発生することができる。
源装置16によれば、パルス光発生部160が発生した
連続的な光パルス列を光増幅部161が増幅した後、波
長変換部163において、非線形光学素子を使用した2
段階の第2高調波発生及び1段階の和周波発生を行って
5倍波を発生させ、波長が210nm以下である波長1
93nmの光を得るので、簡易な構成で、波長が210
nm以下の光を効率的に発生することができる。
【0077】また、レーザ光源160Aとしてチタンサ
ファイアレーザという固体レーザを使用したので、光源
装置16を小型化できるとともに、メインテナンス性を
向上することができる。
ファイアレーザという固体レーザを使用したので、光源
装置16を小型化できるとともに、メインテナンス性を
向上することができる。
【0078】パルス光発生部160が発生したパルス光
を光増幅部161が増幅し、基本波として波長変換部1
63に供給するので、高輝度の基本波を波長変換部16
3に入射させることができ、ひいては、十分な輝度の波
長変換光を得ることができる。
を光増幅部161が増幅し、基本波として波長変換部1
63に供給するので、高輝度の基本波を波長変換部16
3に入射させることができ、ひいては、十分な輝度の波
長変換光を得ることができる。
【0079】また、本実施形態の露光装置によれば、走
査露光にあたって高輝度の照明光ILをレチクルRに照
射できるので、レチクルRに形成されたパターンを精度
良く効率的にウエハWに転写することができる。
査露光にあたって高輝度の照明光ILをレチクルRに照
射できるので、レチクルRに形成されたパターンを精度
良く効率的にウエハWに転写することができる。
【0080】なお、基本波のパルス幅が狭い場合には、
光路中の光学部品(非線形光学素子181〜183、集
光レンズ186〜188等)の分散や波長の違いに起因
する光路長の違いによる基本波と4倍波の時間的なずれ
や、光学部品の加工誤差や調整ミスによる基本波と4倍
波の空間的なずれが生じたとき、非線形光学素子183
における波長変換効率が小さく若しくは変換されなくな
る可能性がある。こうした時間的・空間的なずれを補償
するため、図5に示されるように、集光レンズ188と
非線形光学素子183との間に分散補償素子191を配
置する構成とすることができる。この分散補償素子19
1の材料としては、合成石英等など一般的な光学ガラス
はほとんど使用でき、時間的・空間的なずれ量と材料の
もつ分散を考慮して材料を決めればよい。なお、時間的
なずれを修正するには、分散補償素子191の厚さを変
えることで制御でき、精密な制御が必要であれば温度調
節を行えばよい。また、空間的なずれは、分散補償素子
191を傾けたり、ウエッジ加工を施すことにより修正
することができる。
光路中の光学部品(非線形光学素子181〜183、集
光レンズ186〜188等)の分散や波長の違いに起因
する光路長の違いによる基本波と4倍波の時間的なずれ
や、光学部品の加工誤差や調整ミスによる基本波と4倍
波の空間的なずれが生じたとき、非線形光学素子183
における波長変換効率が小さく若しくは変換されなくな
る可能性がある。こうした時間的・空間的なずれを補償
するため、図5に示されるように、集光レンズ188と
非線形光学素子183との間に分散補償素子191を配
置する構成とすることができる。この分散補償素子19
1の材料としては、合成石英等など一般的な光学ガラス
はほとんど使用でき、時間的・空間的なずれ量と材料の
もつ分散を考慮して材料を決めればよい。なお、時間的
なずれを修正するには、分散補償素子191の厚さを変
えることで制御でき、精密な制御が必要であれば温度調
節を行えばよい。また、空間的なずれは、分散補償素子
191を傾けたり、ウエッジ加工を施すことにより修正
することができる。
【0081】また、上記の実施形態では、4倍波を発生
するKAB結晶182における第2高調波発生に伴うWa
lk-offによる角度ずれを無視できるものとして波長変換
部163を構成したが、図6に示される構成を採用する
ことにより、Walk-offによる角度ずれの影響をほぼ完全
に回避することができる。
するKAB結晶182における第2高調波発生に伴うWa
lk-offによる角度ずれを無視できるものとして波長変換
部163を構成したが、図6に示される構成を採用する
ことにより、Walk-offによる角度ずれの影響をほぼ完全
に回避することができる。
【0082】この図6の波長変換部163は、上述の図
4の波長変換部と比べて、集光レンズ188に代えて集
光レンズ188’を用いる点、及び、非線形光学素子1
81と集光レンズ187との間に、基本波を反射すると
ともに2倍波を透過する光分割素子として機能するダイ
クロイックミラー196と、ダイクロイックミラー19
6で反射された基本波について、非線形光学素子182
を迂回する光路を設定するミラー197,198と、非
線形光学素子183の直前に配置され、基本波と4倍波
とを同軸に合成する光合成素子として機能するダイクロ
イックミラー199と、上記の基本波の迂回光路中に配
置された集光レンズ189とを更に備える点が異なる。
なお、図6では集光レンズ188’を1枚のレンズとし
て描いているが、集光レンズ188’は、実際には、複
数枚のシリンドリカルレンズの組合せ、又は、シリンド
リカルレンズと球面レンズとの組合せとして構成されて
おり、Walk-offにより楕円状となった4倍波のビーム形
状を、所望のビーム形状に整形できるようになってい
る。
4の波長変換部と比べて、集光レンズ188に代えて集
光レンズ188’を用いる点、及び、非線形光学素子1
81と集光レンズ187との間に、基本波を反射すると
ともに2倍波を透過する光分割素子として機能するダイ
クロイックミラー196と、ダイクロイックミラー19
6で反射された基本波について、非線形光学素子182
を迂回する光路を設定するミラー197,198と、非
線形光学素子183の直前に配置され、基本波と4倍波
とを同軸に合成する光合成素子として機能するダイクロ
イックミラー199と、上記の基本波の迂回光路中に配
置された集光レンズ189とを更に備える点が異なる。
なお、図6では集光レンズ188’を1枚のレンズとし
て描いているが、集光レンズ188’は、実際には、複
数枚のシリンドリカルレンズの組合せ、又は、シリンド
リカルレンズと球面レンズとの組合せとして構成されて
おり、Walk-offにより楕円状となった4倍波のビーム形
状を、所望のビーム形状に整形できるようになってい
る。
【0083】図6の波長変換部163では、上記の実施
形態における波長変換部の場合と同様に、光増幅部16
1から射出された波長967nmの基本波が、集光レン
ズ186を介して、1段目の非線形光学素子181に入
射すると、非線形光学素子181内におけるNCPMに
よる第2高調波発生により2倍波が発生する。そして、
基本波及び2倍波がほぼ同軸で非線形光学素子181か
ら射出される。
形態における波長変換部の場合と同様に、光増幅部16
1から射出された波長967nmの基本波が、集光レン
ズ186を介して、1段目の非線形光学素子181に入
射すると、非線形光学素子181内におけるNCPMに
よる第2高調波発生により2倍波が発生する。そして、
基本波及び2倍波がほぼ同軸で非線形光学素子181か
ら射出される。
【0084】非線形光学素子181から射出された基本
波と2倍波とは、ダイクロイックミラー196によって
分離され、ダイクロイックミラー196を透過した2倍
波は、集光レンズ187を介して、2段目の非線形光学
素子182に入射する。そして、非線形光学素子182
内におけるCPMによる第2高調波発生により4倍波が
発生し、非線形光学素子182から射出される。こうし
て非線形光学素子182から射出された4倍波には、Wa
lk-offによる角度ずれが発生しているが、4倍波が集光
レンズ188’を介することによりWalk-offによる角度
ずれが修正された後、ダイクロイックミラー199に至
る。
波と2倍波とは、ダイクロイックミラー196によって
分離され、ダイクロイックミラー196を透過した2倍
波は、集光レンズ187を介して、2段目の非線形光学
素子182に入射する。そして、非線形光学素子182
内におけるCPMによる第2高調波発生により4倍波が
発生し、非線形光学素子182から射出される。こうし
て非線形光学素子182から射出された4倍波には、Wa
lk-offによる角度ずれが発生しているが、4倍波が集光
レンズ188’を介することによりWalk-offによる角度
ずれが修正された後、ダイクロイックミラー199に至
る。
【0085】一方、ダイクロイックミラー196で反射
された基本波は、ミラー197、集光レンズ189、及
びミラー198を順次介した後、ダイクロイックミラー
199に至る。
された基本波は、ミラー197、集光レンズ189、及
びミラー198を順次介した後、ダイクロイックミラー
199に至る。
【0086】そして、ダイクロイックミラー199によ
って、基本波と角度ずれが修正された4倍波とが精度良
く同軸に合成された後、3段目の非線形光学素子183
に入射する。この結果、タイプ1の和周波発生について
の位相整合を精度良く図ることができ、効率良く5倍波
が発生する。
って、基本波と角度ずれが修正された4倍波とが精度良
く同軸に合成された後、3段目の非線形光学素子183
に入射する。この結果、タイプ1の和周波発生について
の位相整合を精度良く図ることができ、効率良く5倍波
が発生する。
【0087】この図6の波長変換部163についても、
上記の実施形態に対する短パルス幅の場合における変形
と同様の変形をすることができる。すなわち、非線形光
学素子183に入射する基本波又は4倍波の光路上に、
分散補償素子を配置する構成とすることができる。図7
には、こうした構成の一例であって、集光レンズ189
とミラー198との間に分散補償素子192が配置され
た構成が示されている。この分散補償素子192の材料
としても、上述の分散補償素子191(図5参照)と同
様に、合成石英等など一般的な光学ガラスをほとんど使
用でき、実際に発生する時間的・空間的なずれ量と材料
のもつ分散とを考慮して材料を決めればよい。なお、実
際に発生する時間的・空間的なずれ量と材料のもつ分散
を考慮して、図7における配置位置とは異なる位置に分
散補償素子を配置することもできる。
上記の実施形態に対する短パルス幅の場合における変形
と同様の変形をすることができる。すなわち、非線形光
学素子183に入射する基本波又は4倍波の光路上に、
分散補償素子を配置する構成とすることができる。図7
には、こうした構成の一例であって、集光レンズ189
とミラー198との間に分散補償素子192が配置され
た構成が示されている。この分散補償素子192の材料
としても、上述の分散補償素子191(図5参照)と同
様に、合成石英等など一般的な光学ガラスをほとんど使
用でき、実際に発生する時間的・空間的なずれ量と材料
のもつ分散とを考慮して材料を決めればよい。なお、実
際に発生する時間的・空間的なずれ量と材料のもつ分散
を考慮して、図7における配置位置とは異なる位置に分
散補償素子を配置することもできる。
【0088】また、上記の実施形態では、第1段目の非
線形光学素子181としてGdCOB結晶を使用し、N
CPMにより第2高調波発生を行ったが、これに代え
て、周期的ドメイン反転構造を有する非線形光学素子
(以下、「QPM素子」という)を使用し、擬似位相整
合(QPM:Quasi-Phase Matching)により、第2高調
波発生を行ってもよい。かかる場合にもNCPMの場合
と同様に、Walk-offは発生しない。
線形光学素子181としてGdCOB結晶を使用し、N
CPMにより第2高調波発生を行ったが、これに代え
て、周期的ドメイン反転構造を有する非線形光学素子
(以下、「QPM素子」という)を使用し、擬似位相整
合(QPM:Quasi-Phase Matching)により、第2高調
波発生を行ってもよい。かかる場合にもNCPMの場合
と同様に、Walk-offは発生しない。
【0089】QPM素子181’は、図8に示されるよ
うに、光の進行方向に沿って、図8において紙面上下方
向の矢印で表される分極方向が互いに反対向きの領域1
50A及び領域150Bが交互かつ周期的に形成された
周期的ドメイン反転構造を有している。ここで、領域1
50A及び領域150Bの光の進行方向に沿った幅は、
以下のように定められるΛに設定されている。
うに、光の進行方向に沿って、図8において紙面上下方
向の矢印で表される分極方向が互いに反対向きの領域1
50A及び領域150Bが交互かつ周期的に形成された
周期的ドメイン反転構造を有している。ここで、領域1
50A及び領域150Bの光の進行方向に沿った幅は、
以下のように定められるΛに設定されている。
【0090】第1段目の非線形光学素子として要請され
ている第2高調波発生の場合には、幅Λは、QPM素子
181’内において、入射光の波数ベクトルの絶対値を
k1とし、生成される第2高調波の波数ベクトルの絶対
値をk2として、 Λ=2π/(k2−2k1) …(1) によって定められる。
ている第2高調波発生の場合には、幅Λは、QPM素子
181’内において、入射光の波数ベクトルの絶対値を
k1とし、生成される第2高調波の波数ベクトルの絶対
値をk2として、 Λ=2π/(k2−2k1) …(1) によって定められる。
【0091】なお、和周波発生の場合には、幅Λは、Q
PM素子181’内において、入射光の波数ベクトルの
絶対値をk3,k4とし、生成される和周波の波数ベクト
ルの絶対値をk5として、 Λ=2π/(k5−(k3+k4)) …(2) によって定められる。
PM素子181’内において、入射光の波数ベクトルの
絶対値をk3,k4とし、生成される和周波の波数ベクト
ルの絶対値をk5として、 Λ=2π/(k5−(k3+k4)) …(2) によって定められる。
【0092】こうしたQPM素子181’としては、周
期的ドメイン反転LN(LiNbO 3)結晶(PPLN
結晶)、周期的ドメイン反転LT(LiTaO3)結晶
(PPLT結晶)、周期的ドメイン反転KTP(KTi
OPO4)結晶(PPKTP結晶)、及び応力利用によ
り周期的ドメイン反転構造が形成された水晶(以下、
「水晶QPM素子」という)を採用することができる。
期的ドメイン反転LN(LiNbO 3)結晶(PPLN
結晶)、周期的ドメイン反転LT(LiTaO3)結晶
(PPLT結晶)、周期的ドメイン反転KTP(KTi
OPO4)結晶(PPKTP結晶)、及び応力利用によ
り周期的ドメイン反転構造が形成された水晶(以下、
「水晶QPM素子」という)を採用することができる。
【0093】上記の領域150A及び領域150Bのよ
うなドメイン領域の形成は、PPLN結晶、PPLT結
晶、及びPPKTP結晶の場合には、一方の種類の領域
にのみ、誘電分極方向が通常(電圧印加されないとき)
の誘電分極方向と逆方向となるような高電圧を印加する
ことにより行われる。また、水晶QPM素子の場合に
は、光の進行方向に沿って、周期的な応力分布を水晶に
発生させることにより行われる。なお、水晶QPM素子
を除くQPM素子については、フォトリフラクティブ効
果の悪影響を防止するため、温度調整を行うことが好ま
しい。
うなドメイン領域の形成は、PPLN結晶、PPLT結
晶、及びPPKTP結晶の場合には、一方の種類の領域
にのみ、誘電分極方向が通常(電圧印加されないとき)
の誘電分極方向と逆方向となるような高電圧を印加する
ことにより行われる。また、水晶QPM素子の場合に
は、光の進行方向に沿って、周期的な応力分布を水晶に
発生させることにより行われる。なお、水晶QPM素子
を除くQPM素子については、フォトリフラクティブ効
果の悪影響を防止するため、温度調整を行うことが好ま
しい。
【0094】なお、上記のQPM素子を使用する場合に
は、いずれも非線形光学効果を起こさせるにあたって
は、最も大きな非線形光学係数(PPLN結晶、PPL
T結晶、及びPPKTP結晶の場合にはd33、水晶QP
M素子の場合にはd11)を利用することにより効率的に
第2高調波発生を行うことができるが、こうした場合に
は、非線形光学素子181で発生した2倍波の偏光方向
は基本波と同一方向となる。そこで、例えば、図9に示
されるように、QPM素子181’の直後に、基本波に
対する1/2波長板193を配置して、基本波の偏光方
向を90°回転させる構成とすることが必要となる。
は、いずれも非線形光学効果を起こさせるにあたって
は、最も大きな非線形光学係数(PPLN結晶、PPL
T結晶、及びPPKTP結晶の場合にはd33、水晶QP
M素子の場合にはd11)を利用することにより効率的に
第2高調波発生を行うことができるが、こうした場合に
は、非線形光学素子181で発生した2倍波の偏光方向
は基本波と同一方向となる。そこで、例えば、図9に示
されるように、QPM素子181’の直後に、基本波に
対する1/2波長板193を配置して、基本波の偏光方
向を90°回転させる構成とすることが必要となる。
【0095】なお、1/2波長板193の配置される位
置は、上記の実施形態や図5の変形例において第1段目
の非線形光学素子としてQPM素子181’を使用する
場合には、集光レンズ187と非線形光学素子182と
の間に配置してもよいし、また、図6又は図7の変形例
において第1段目の非線形光学素子としてQPM素子1
81’を使用する場合には、基本波が非線形光学素子1
81から非線形光学素子183に至るまでに辿る光路上
に配置すればよい。また、2倍波の偏光方向のみを90
°回転させる光学素子を使用することも可能である。こ
のときは、非線形光学素子181において発生した2倍
波が非線形光学素子182に至るまでに辿る光路上に配
置すればよい。
置は、上記の実施形態や図5の変形例において第1段目
の非線形光学素子としてQPM素子181’を使用する
場合には、集光レンズ187と非線形光学素子182と
の間に配置してもよいし、また、図6又は図7の変形例
において第1段目の非線形光学素子としてQPM素子1
81’を使用する場合には、基本波が非線形光学素子1
81から非線形光学素子183に至るまでに辿る光路上
に配置すればよい。また、2倍波の偏光方向のみを90
°回転させる光学素子を使用することも可能である。こ
のときは、非線形光学素子181において発生した2倍
波が非線形光学素子182に至るまでに辿る光路上に配
置すればよい。
【0096】一方、1段目の非線形光学素子として、P
PLN結晶、PPLT結晶、又はPPKTP結晶から成
るQPM素子を使用するときには、非線形光学係数d31
を利用することもできる。この場合には、QPM素子に
おいて発生する2倍波の偏光方向は基本波の偏光方向と
直交するので、上記の1/2波長板193等の偏光方向
を制御するための光学素子は不要となる。
PLN結晶、PPLT結晶、又はPPKTP結晶から成
るQPM素子を使用するときには、非線形光学係数d31
を利用することもできる。この場合には、QPM素子に
おいて発生する2倍波の偏光方向は基本波の偏光方向と
直交するので、上記の1/2波長板193等の偏光方向
を制御するための光学素子は不要となる。
【0097】また、非線形光学素子181として、Li
B3O5(LBO)結晶を使用し、NCPMにより第2高
調波発生を行なうこともできる。LBO結晶は耐性が高
いので、基本波のパワーが非常に大きいときに使用する
ことが好ましい。
B3O5(LBO)結晶を使用し、NCPMにより第2高
調波発生を行なうこともできる。LBO結晶は耐性が高
いので、基本波のパワーが非常に大きいときに使用する
ことが好ましい。
【0098】また、非線形光学素子181としてGdC
OB結晶を使用しつつ、上記の実施形態のように誘電主
軸方向(誘電主軸のz軸方向)にほぼ沿って基本波を進
行させることに代えて、実効的な非線形光学係数deff
が最大となる方向にほぼ沿って基本波を進行させること
としてもよい。かかる場合には、第2高調波発生の効率
を向上することができる。なお、非線形光学係数deff
が最大となる方向にほぼ沿った方向おける位相整合波長
が、所望の波長(484nm)から若干ずれた場合に
は、GdCOB結晶181の温度を調整することで位相
整合波長を所望の波長に調整すればよい。
OB結晶を使用しつつ、上記の実施形態のように誘電主
軸方向(誘電主軸のz軸方向)にほぼ沿って基本波を進
行させることに代えて、実効的な非線形光学係数deff
が最大となる方向にほぼ沿って基本波を進行させること
としてもよい。かかる場合には、第2高調波発生の効率
を向上することができる。なお、非線形光学係数deff
が最大となる方向にほぼ沿った方向おける位相整合波長
が、所望の波長(484nm)から若干ずれた場合に
は、GdCOB結晶181の温度を調整することで位相
整合波長を所望の波長に調整すればよい。
【0099】また、非線形光学素子181としてGdX
Y1-XCa4O(BO3)3(GdYCOB)結晶を使用し
つつ、実効的な非線形光学係数deffが最大となる方向
にほぼ沿って基本波を進行させることとしてもよい。な
お、非線形光学係数deffが最大となる方向にほぼ沿っ
た方向における位相整合波長が、所望の波長(484n
m)から若干ずれた場合には、GdYCOB結晶181
の温度や組成パラメータXを調整することで位相整合波
長を所望の波長に調整すればよい。
Y1-XCa4O(BO3)3(GdYCOB)結晶を使用し
つつ、実効的な非線形光学係数deffが最大となる方向
にほぼ沿って基本波を進行させることとしてもよい。な
お、非線形光学係数deffが最大となる方向にほぼ沿っ
た方向における位相整合波長が、所望の波長(484n
m)から若干ずれた場合には、GdYCOB結晶181
の温度や組成パラメータXを調整することで位相整合波
長を所望の波長に調整すればよい。
【0100】また、上記の実施形態では、第2段目の非
線形光学素子182としてKAB結晶を使用したが、C
sLiB6O10(CLBO)結晶又はβ−BaB2O
4(BBO)結晶を使用することも可能である。なお、
CLBO結晶やBBO結晶の潮解性が問題となる場合に
は、周囲雰囲気を窒素や乾燥空気などでパージしたり、
CLBO結晶やBBO結晶を高温に温度調節してやれば
よい。
線形光学素子182としてKAB結晶を使用したが、C
sLiB6O10(CLBO)結晶又はβ−BaB2O
4(BBO)結晶を使用することも可能である。なお、
CLBO結晶やBBO結晶の潮解性が問題となる場合に
は、周囲雰囲気を窒素や乾燥空気などでパージしたり、
CLBO結晶やBBO結晶を高温に温度調節してやれば
よい。
【0101】また、2段目の非線形光学素子として、上
述の水晶QPM素子を使用することもできる。この場
合、水晶QPM素子で発生する4倍波の偏光方向は2倍
波の偏光方向と平行となるので、上述の実施形態におい
て非線形光学素子182に代えて水晶QPM素子を使用
する変形のみを行うときには、例えば、図10に示され
るように、非線形光学素子182に代えた水晶QPM素
子182’の直後に、基本波に対する1/2波長板19
4を配置して、基本波の偏光方向を90°回転させる構
成とすることが必要となる。
述の水晶QPM素子を使用することもできる。この場
合、水晶QPM素子で発生する4倍波の偏光方向は2倍
波の偏光方向と平行となるので、上述の実施形態におい
て非線形光学素子182に代えて水晶QPM素子を使用
する変形のみを行うときには、例えば、図10に示され
るように、非線形光学素子182に代えた水晶QPM素
子182’の直後に、基本波に対する1/2波長板19
4を配置して、基本波の偏光方向を90°回転させる構
成とすることが必要となる。
【0102】なお、1/2波長板194の配置される位
置は、上記の実施形態や図5の変形例において第2段目
の非線形光学素子として水晶QPM素子182’を使用
する場合には、集光レンズ188と非線形光学素子18
3との間でもよいし、また、図6又は図7の変形例にお
いて第2段目の非線形光学素子として水晶QPM素子1
82’を使用する場合には、基本波が非線形光学素子1
81から非線形光学素子183に至るまでに辿る光路上
であればどこであってもよい。また、4倍波の偏光方向
のみを90°回転させる光学素子を使用することも可能
である。このときは、水晶QPM素子182’において
発生した4倍波が非線形光学素子183に至るまでに辿
る光路上に配置すればよい。
置は、上記の実施形態や図5の変形例において第2段目
の非線形光学素子として水晶QPM素子182’を使用
する場合には、集光レンズ188と非線形光学素子18
3との間でもよいし、また、図6又は図7の変形例にお
いて第2段目の非線形光学素子として水晶QPM素子1
82’を使用する場合には、基本波が非線形光学素子1
81から非線形光学素子183に至るまでに辿る光路上
であればどこであってもよい。また、4倍波の偏光方向
のみを90°回転させる光学素子を使用することも可能
である。このときは、水晶QPM素子182’において
発生した4倍波が非線形光学素子183に至るまでに辿
る光路上に配置すればよい。
【0103】なお、1段目の非線形光学素子として、最
も大きな非線形光学係数d33を利用するPPLN結晶、
PPLT結晶、若しくはPPKTP結晶、又は水晶QP
M素子を使用するとともに、2段目の非線形光学素子と
して水晶QPM素子を使用する場合には、上述した1/
2波長板193,194等の偏光方向を制御するため光
学部品は、上記の実施形態と同様に不要となる。
も大きな非線形光学係数d33を利用するPPLN結晶、
PPLT結晶、若しくはPPKTP結晶、又は水晶QP
M素子を使用するとともに、2段目の非線形光学素子と
して水晶QPM素子を使用する場合には、上述した1/
2波長板193,194等の偏光方向を制御するため光
学部品は、上記の実施形態と同様に不要となる。
【0104】また、上記の実施形態では、第3段目の非
線形光学素子183としてKAB結晶を使用したが、C
LBO結晶、BBO結晶、又は水晶QPM素子を使用す
ることができる。なお、CLBO結晶やBBO結晶の潮
解性が問題となる場合には、周囲雰囲気を窒素や乾燥空
気などでパージしたり、CLBO結晶やBBO結晶を高
温に温度調節してやればよい。
線形光学素子183としてKAB結晶を使用したが、C
LBO結晶、BBO結晶、又は水晶QPM素子を使用す
ることができる。なお、CLBO結晶やBBO結晶の潮
解性が問題となる場合には、周囲雰囲気を窒素や乾燥空
気などでパージしたり、CLBO結晶やBBO結晶を高
温に温度調節してやればよい。
【0105】また、上記の実施形態では、レーザ光源1
60Aをパルス光源としたが、連続光光源とすることも
できる。かかる場合には、光アイソレータ160Bと光
増幅部161との間に光パルス変調器を配置することに
より、上記の実施形態に係る光源装置16と同様の出力
光を得ることができる。こうした光パルス変調器として
は電気光学効果を利用した電気光学変調器(EOM)
や、音響光学効果を利用した変調光学変調器(AOM)
を採用することができる。なお、光パルス変調器を配置
せずに、光源装置として連続光を出力することができる
のは、勿論である。
60Aをパルス光源としたが、連続光光源とすることも
できる。かかる場合には、光アイソレータ160Bと光
増幅部161との間に光パルス変調器を配置することに
より、上記の実施形態に係る光源装置16と同様の出力
光を得ることができる。こうした光パルス変調器として
は電気光学効果を利用した電気光学変調器(EOM)
や、音響光学効果を利用した変調光学変調器(AOM)
を採用することができる。なお、光パルス変調器を配置
せずに、光源装置として連続光を出力することができる
のは、勿論である。
【0106】また、上記の実施形態では、レーザ光源1
60Aとしてチタンサファイアレーザを使用したが、半
導体レーザを使用することができる。例えば、外部共振
器構成の半導体レーザを使用することもできるし、ま
た、分布帰還型(DFB)レーザや分布反射型(DB
R)レーザ等の外部共振器構成でない半導体レーザを使
用することができる。さらに、発振波長が990nm付
近のイッテルビウム(Yb)・ドープ・ファイバーレーザ
等のファイバレーザを使用することもできる。
60Aとしてチタンサファイアレーザを使用したが、半
導体レーザを使用することができる。例えば、外部共振
器構成の半導体レーザを使用することもできるし、ま
た、分布帰還型(DFB)レーザや分布反射型(DB
R)レーザ等の外部共振器構成でない半導体レーザを使
用することができる。さらに、発振波長が990nm付
近のイッテルビウム(Yb)・ドープ・ファイバーレーザ
等のファイバレーザを使用することもできる。
【0107】また、上記の実施形態では、光増幅器とし
て光ファイバ増幅器167を使用したが、半導体光増幅
器を使用することもできる。
て光ファイバ増幅器167を使用したが、半導体光増幅
器を使用することもできる。
【0108】また、上記の実施形態では、増幅用媒体と
してYbがコア部に添加された光ファイバを採用した
が、例えば、Ybが添加されたロッド状のガラス体を採
用し、これに励起光を照射するようにしてもよい。
してYbがコア部に添加された光ファイバを採用した
が、例えば、Ybが添加されたロッド状のガラス体を採
用し、これに励起光を照射するようにしてもよい。
【0109】また、光増幅部161において並列に配置
される光ファイバ増幅器167の数は任意でよく、本発
明に係る光源装置が適用される製品において要求される
仕様に応じてその本数を決定すればよい。特に、光源装
置として高出力を要求されない場合には、光ファイバ増
幅器167の数を減らして、構成を簡略化することがで
きる。なお、光ファイバ増幅器167を1つのみ含むよ
うに簡略化するときは、分岐器166も不要となる。
される光ファイバ増幅器167の数は任意でよく、本発
明に係る光源装置が適用される製品において要求される
仕様に応じてその本数を決定すればよい。特に、光源装
置として高出力を要求されない場合には、光ファイバ増
幅器167の数を減らして、構成を簡略化することがで
きる。なお、光ファイバ増幅器167を1つのみ含むよ
うに簡略化するときは、分岐器166も不要となる。
【0110】また、上記の実施形態では、光源装置が射
出する紫外光の波長を、ArFエキシマレーザとほぼ同
一に設定するものとしたが、例えばF2レーザとほぼ同
一波長(波長157nm)とするなど、その設定波長は
任意でよく、この設定すべき波長に応じて、レーザ光源
160Aの発振波長及び波長変換器163の構成などを
決定すればよい。但し、設定波長が210nm程度以下
であるときに、上記の実施形態の構成は特に有効であ
る。なお、設定波長は、一例として、ウエハ上に転写す
べきパターンのデザインルール(線幅、ピッチなど)に
応じて決定するようにしてもよく、さらにはその決定に
際して前述の露光条件やレチクルの種類(位相シフト型
か否か)などを考慮してもよい。
出する紫外光の波長を、ArFエキシマレーザとほぼ同
一に設定するものとしたが、例えばF2レーザとほぼ同
一波長(波長157nm)とするなど、その設定波長は
任意でよく、この設定すべき波長に応じて、レーザ光源
160Aの発振波長及び波長変換器163の構成などを
決定すればよい。但し、設定波長が210nm程度以下
であるときに、上記の実施形態の構成は特に有効であ
る。なお、設定波長は、一例として、ウエハ上に転写す
べきパターンのデザインルール(線幅、ピッチなど)に
応じて決定するようにしてもよく、さらにはその決定に
際して前述の露光条件やレチクルの種類(位相シフト型
か否か)などを考慮してもよい。
【0111】また、上記の実施形態では、本発明に係る
光源装置がステップ・アンド・スキャン方式の走査型露
光装置に適用された場合について説明したが、露光装置
以外でデバイス製造工程などに用いられる装置、例え
ば、ウエハ上に形成された回路パターンの一部(ヒュー
ズなど)を切断するために用いられるレーザリペア装置
などにも本発明に係る光源装置を適用することができ
る。また、本発明は、ステップ・アンド・スキャン方式
の走査型露光装置に限らず、静止露光型、例えばステッ
プ・アンド・リピート方式の露光装置(ステッパなど)
にも好適に適用できるものである。更にはステップ・ア
ンド・スティッチ方式の露光装置、ミラープロジェクシ
ョン・アライナーなどにも適用できる。
光源装置がステップ・アンド・スキャン方式の走査型露
光装置に適用された場合について説明したが、露光装置
以外でデバイス製造工程などに用いられる装置、例え
ば、ウエハ上に形成された回路パターンの一部(ヒュー
ズなど)を切断するために用いられるレーザリペア装置
などにも本発明に係る光源装置を適用することができ
る。また、本発明は、ステップ・アンド・スキャン方式
の走査型露光装置に限らず、静止露光型、例えばステッ
プ・アンド・リピート方式の露光装置(ステッパなど)
にも好適に適用できるものである。更にはステップ・ア
ンド・スティッチ方式の露光装置、ミラープロジェクシ
ョン・アライナーなどにも適用できる。
【0112】また、上記の実施形態では、本発明に係る
光源装置が露光用照明光を発生する光源装置として使用
される例を説明したが、露光用照明光とほぼ同一の波長
の光を必要とする上述のレチクルアライメント用の光源
装置、あるいは投影光学系の物体面又は像面に配置され
るマークの投影像を検出して当該投影光学系の光学特性
を求める空間像検出系の光源装置等として使用すること
も可能である。
光源装置が露光用照明光を発生する光源装置として使用
される例を説明したが、露光用照明光とほぼ同一の波長
の光を必要とする上述のレチクルアライメント用の光源
装置、あるいは投影光学系の物体面又は像面に配置され
るマークの投影像を検出して当該投影光学系の光学特性
を求める空間像検出系の光源装置等として使用すること
も可能である。
【0113】なお、本発明の光源装置は、露光装置以外
にも様々な装置に利用することができる。例えば、レー
ザ光を角膜に照射して表面のアブレーション(あるいは
切開した角膜内部のアブレーション)を行い、角膜の曲
率若しくは凹凸を矯正して近眼、乱視などの治療を行う
レーザ治療装置に使用される光源装置として利用するこ
とができる。また、光学式検査装置等における光源装置
としても、本発明の光源装置は利用可能である。
にも様々な装置に利用することができる。例えば、レー
ザ光を角膜に照射して表面のアブレーション(あるいは
切開した角膜内部のアブレーション)を行い、角膜の曲
率若しくは凹凸を矯正して近眼、乱視などの治療を行う
レーザ治療装置に使用される光源装置として利用するこ
とができる。また、光学式検査装置等における光源装置
としても、本発明の光源装置は利用可能である。
【0114】また、本発明の光源装置は、上記の実施形
態における投影光学系のような光学系の光学調整(光軸
合わせ等)用又は検査用としても利用可能である。さら
には、エキシマレーザを光源として有する各種装置にお
いて、エキシマレーザに置き換えて本発明の光源装置を
適用できる。
態における投影光学系のような光学系の光学調整(光軸
合わせ等)用又は検査用としても利用可能である。さら
には、エキシマレーザを光源として有する各種装置にお
いて、エキシマレーザに置き換えて本発明の光源装置を
適用できる。
【0115】なお、図2に示された光源装置16の構成
は図1の露光装置10における使用を前提としたもので
あって、光源装置16は、図2の構成に限られるもので
はない。露光装置では高精度な波長制御や光量制御等が
必要となるが、例えば、露光装置以外で厳密な光量制御
等が不要であれば、光量モニタや光量制御装置16C等
を設けなくともよい。
は図1の露光装置10における使用を前提としたもので
あって、光源装置16は、図2の構成に限られるもので
はない。露光装置では高精度な波長制御や光量制御等が
必要となるが、例えば、露光装置以外で厳密な光量制御
等が不要であれば、光量モニタや光量制御装置16C等
を設けなくともよい。
【0116】次に、本実施形態の露光装置及び方法を使
用したデバイス(ICやLSI等の半導体チップ、液晶
パネル、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)
の製造について説明する。
用したデバイス(ICやLSI等の半導体チップ、液晶
パネル、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)
の製造について説明する。
【0117】まず、設計ステップにおいて、デバイスの
機能設計(例えば、半導体デバイスの回路設計等)を行
い、その機能を実現するためのパターン設計を行う。引
き続き、マスク製作ステップにおいて、設計した回路パ
ターンを形成したマスクを製作する。一方、ウエハ製造
ステップにおいて、シリコン等の材料を用いてウエハを
製造する。
機能設計(例えば、半導体デバイスの回路設計等)を行
い、その機能を実現するためのパターン設計を行う。引
き続き、マスク製作ステップにおいて、設計した回路パ
ターンを形成したマスクを製作する。一方、ウエハ製造
ステップにおいて、シリコン等の材料を用いてウエハを
製造する。
【0118】次に、ウエハ処理ステップにおいて、上記
のステップで用意されたマスクとウエハを使用して、後
述するように、リソグラフィ技術によってウエハ上に実
際の回路等を形成する。
のステップで用意されたマスクとウエハを使用して、後
述するように、リソグラフィ技術によってウエハ上に実
際の回路等を形成する。
【0119】このウエハ処理ステップは、例えば、半導
体デバイスの製造にあたっては、ウエハの表面を酸化さ
せる酸化ステップ、ウエハ表面に絶縁膜を形成するCV
Dステップ、ウエハ上に電極を蒸着によって形成する電
極形成ステップ、ウエハにイオンを打ち込むイオン打込
みステップといったウエハプロセスの各段階の前処理工
程と、後述する後処理工程を有している。前処理工程
は、ウエハプロセスの各段階において必要な処理に応じ
て選択されて実行される。
体デバイスの製造にあたっては、ウエハの表面を酸化さ
せる酸化ステップ、ウエハ表面に絶縁膜を形成するCV
Dステップ、ウエハ上に電極を蒸着によって形成する電
極形成ステップ、ウエハにイオンを打ち込むイオン打込
みステップといったウエハプロセスの各段階の前処理工
程と、後述する後処理工程を有している。前処理工程
は、ウエハプロセスの各段階において必要な処理に応じ
て選択されて実行される。
【0120】ウエハプロセスの各段階において、前処理
工程が終了すると、レジスト処理ステップにおいてウエ
ハに感光剤が塗布され、引き続き、露光ステップにおい
て上記で説明した露光装置10によってマスクの回路パ
ターンをウエハに焼付露光する。次に、現像ステップに
おいて露光されたウエハが現像され、引き続き、エッチ
ングステップにおいて、レジストが残存している部分以
外の部分の露出部材をエッチングにより取り去る。そし
て、レジスト除去ステップにおいて、エッチングが済ん
で不要となったレジストを取り除く。
工程が終了すると、レジスト処理ステップにおいてウエ
ハに感光剤が塗布され、引き続き、露光ステップにおい
て上記で説明した露光装置10によってマスクの回路パ
ターンをウエハに焼付露光する。次に、現像ステップに
おいて露光されたウエハが現像され、引き続き、エッチ
ングステップにおいて、レジストが残存している部分以
外の部分の露出部材をエッチングにより取り去る。そし
て、レジスト除去ステップにおいて、エッチングが済ん
で不要となったレジストを取り除く。
【0121】以上のようにして、前処理工程と、レジス
ト処理ステップからレジスト除去ステップまでの後処理
工程とを繰り返し行うことによって、ウエハ上に多重に
回路パターンが形成される。
ト処理ステップからレジスト除去ステップまでの後処理
工程とを繰り返し行うことによって、ウエハ上に多重に
回路パターンが形成される。
【0122】こうしてウエハ処理ステップが終了する
と、組立ステップにおいて、ウエハ処理ステップにおい
て処理されたウエハを用いてチップ化する。この組み立
てには、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディン
グ)やパッケージング工程(チップ封入)等の工程が含
まれる。
と、組立ステップにおいて、ウエハ処理ステップにおい
て処理されたウエハを用いてチップ化する。この組み立
てには、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディン
グ)やパッケージング工程(チップ封入)等の工程が含
まれる。
【0123】最後に、検査ステップにおいて、組立ステ
ップで作製されたデバイスの動作確認テスト、耐久性テ
スト等の検査を行う。こうした工程を経た後にデバイス
が完成し、これが出荷される。
ップで作製されたデバイスの動作確認テスト、耐久性テ
スト等の検査を行う。こうした工程を経た後にデバイス
が完成し、これが出荷される。
【0124】以上のようにして、精度良く微細なパター
ンが形成されたデバイスが、高い量産性で製造される。
ンが形成されたデバイスが、高い量産性で製造される。
【0125】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の光
源装置によれば、基本波の5倍波発生により波長が21
0nm以下の紫外光を発生するので、簡単な構成で、波
長が210nm以下の光を効率的に発生することができ
る。
源装置によれば、基本波の5倍波発生により波長が21
0nm以下の紫外光を発生するので、簡単な構成で、波
長が210nm以下の光を効率的に発生することができ
る。
【0126】また、本発明の光照射装置によれば、本発
明の光源装置から射出された光を、照射光学系を介して
対象物に照射するので、効率的に発生した、波長が21
0nm以下の光を対象物に照射することができる。
明の光源装置から射出された光を、照射光学系を介して
対象物に照射するので、効率的に発生した、波長が21
0nm以下の光を対象物に照射することができる。
【図1】本発明の一実施形態に係る露光装置の構成を概
略的に示す図である。
略的に示す図である。
【図2】図1の光源装置の内部構成を主制御装置ととも
に示すブロック図である。
に示すブロック図である。
【図3】図2の光増幅部を構成する光ファイバ増幅器及
びその周辺部を、波長変換器の一部とともに概略的に示
す図である。
びその周辺部を、波長変換器の一部とともに概略的に示
す図である。
【図4】図2の波長変換部の構成を示す図である。
【図5】波長変換部の変形例を説明するための図(その
1)である。
1)である。
【図6】波長変換部の変形例を説明するための図(その
2)である。
2)である。
【図7】波長変換部の変形例を説明するための図(その
3)である。
3)である。
【図8】波長変換部の変形例を説明するための図(その
4)である。
4)である。
【図9】波長変換部の変形例を説明するための図(その
5)である。
5)である。
【図10】波長変換部の変形例を説明するための図(そ
の6)である。
の6)である。
10…露光装置(光照射装置)、12…照明光学系(照
射光学系)、16…光源装置、160…パルス光発生部
(基本波発生部の一部)、160A…レーザ光源、16
1…光増幅部(基本波発生部の一部)、163…波長変
換部、167…光ファイバ増幅器(光増幅器)、181
…非線形光学素子(第1非線形光学素子)、182…非
線形光学素子(第2非線形光学素子)、183…非線形
光学素子(第3非線形光学素子)、191,192…分
散補償素子。
射光学系)、16…光源装置、160…パルス光発生部
(基本波発生部の一部)、160A…レーザ光源、16
1…光増幅部(基本波発生部の一部)、163…波長変
換部、167…光ファイバ増幅器(光増幅器)、181
…非線形光学素子(第1非線形光学素子)、182…非
線形光学素子(第2非線形光学素子)、183…非線形
光学素子(第3非線形光学素子)、191,192…分
散補償素子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01S 3/10 H01L 21/30 515A Fターム(参考) 2H052 BA02 BA06 BA12 2H097 CA17 GB01 LA10 2K002 AA04 AB12 BA03 BA04 CA02 CA03 EA07 FA27 GA04 HA20 5F046 CA03 CB01 CB22 5F072 AB07 AB13 AB20 AK06 FF09 HH06 JJ05 KK12 PP07 YY09
Claims (12)
- 【請求項1】 210nm以下である第1の波長の紫外
光を発生する光源装置であって、 1050nm以下である第2の波長の赤外域又は可視域
の光を発生する基本波発生部と;前記基本波発生部から
射出された光を基本波として、前記第1の波長を有する
前記基本波の5倍波を発生する波長変換部と;を備える
光源装置。 - 【請求項2】 前記基本波発生部は、前記第1の波長の
光を発生するレーザ光源と;前記レーザ光源から射出さ
れた光を増幅する光増幅器と;を備えることを特徴とす
る請求項1に記載の光源装置。 - 【請求項3】 前記レーザ光源は、固体レーザを含むこ
とを特徴とする請求項2に記載の光源装置。 - 【請求項4】 前記光増幅器は、光ファイバ増幅器及び
半導体光増幅器の少なくとも一方を含むことを特徴とす
る請求項2又は3に記載の光源装置。 - 【請求項5】 前記波長変換部は、前記基本波を入射
し、第2高調波発生により、前記基本波の2倍波を発生
する第1非線形光学素子と;前記2倍波を入射し、第2
高調波発生により、前記基本波の4倍波を発生する第2
非線形光学素子と;前記基本波及び前記4倍波を入射
し、和周波発生により、前記基本波の5倍波を発生する
第3非線形光学素子と;を含むことを特徴とする請求項
1〜4のいずれか一項に記載の光源装置。 - 【請求項6】 前記第1非線形光学素子は、GdCa4
O(BO3)3結晶であり、 前記基本波は、前記GdCa4O(BO3)3結晶中を、
誘電主軸方向とほぼ平行に進行することを特徴とする請
求項5に記載の光源装置。 - 【請求項7】 前記第1非線形光学素子は、GdCa4
O(BO3)3結晶であり、 前記基本波は、前記GdCa4O(BO3)3結晶中を、
実効的な非線形光学係数がほぼ最大となる方向に進行す
ることを特徴とする請求項5に記載の光源装置。 - 【請求項8】 前記第1非線形光学素子は、GdXY1-X
Ca4O(BO3)3結晶であり、 前記基本波は、前記GdXY1-XCa4O(BO3)3結晶
中を、実効的な非線形光学係数がほぼ最大となる方向に
進行することを特徴とする請求項5に記載の光源装置。 - 【請求項9】 前記第2非線形光学素子は、K2Al2B
2O7結晶であることを特徴とする請求項5〜8のいずれ
か一項に記載の光源装置。 - 【請求項10】 前記第3非線形光学素子は、K2Al2
B2O7結晶であることを特徴とする請求項5〜9のいず
れか一項に記載の光源装置。 - 【請求項11】 前記波長変換部は、前記第3非線形光
学素子に入射する前記基本波と前記4倍波との同軸性を
補正する分散補償素子を更に備えることを特徴とする請
求項5〜10のいずれか一項に記載の光源装置。 - 【請求項12】 対象物に光を照射する光照射装置であ
って、 請求項1〜11のいずれか一項に記載の光源装置と;前
記光源装置から射出された光を前記対象物に向けて射出
する照射光学系と;を備える光照射装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001162004A JP2002350914A (ja) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | 光源装置及び光照射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2001162004A JP2002350914A (ja) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | 光源装置及び光照射装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002350914A true JP2002350914A (ja) | 2002-12-04 |
Family
ID=19005199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2001162004A Pending JP2002350914A (ja) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | 光源装置及び光照射装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2002350914A (ja) |
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-
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- 2001-05-30 JP JP2001162004A patent/JP2002350914A/ja active Pending
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