JP2002190108A - 磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体およびその製造方法Info
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- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 165
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 17
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 80
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 32
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000010687 lubricating oil Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 12
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 6
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 5
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000005345 chemically strengthened glass Substances 0.000 claims description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 3
- 238000012856 packing Methods 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 103
- 239000010408 film Substances 0.000 description 43
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 229910001149 41xx steel Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910000684 Cobalt-chrome Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010952 cobalt-chrome Substances 0.000 description 6
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 5
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 4
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 3
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 3
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 description 3
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 3
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018979 CoPt Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000511976 Hoya Species 0.000 description 1
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000005307 ferromagnetism Effects 0.000 description 1
- UCNNJGDEJXIUCC-UHFFFAOYSA-L hydroxy(oxo)iron;iron Chemical compound [Fe].O[Fe]=O.O[Fe]=O UCNNJGDEJXIUCC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010702 perfluoropolyether Substances 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000005341 toughened glass Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/7368—Non-polymeric layer under the lowermost magnetic recording layer
- G11B5/7377—Physical structure of underlayer, e.g. texture
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/7368—Non-polymeric layer under the lowermost magnetic recording layer
- G11B5/7369—Two or more non-magnetic underlayers, e.g. seed layers or barrier layers
- G11B5/737—Physical structure of underlayer, e.g. texture
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/7368—Non-polymeric layer under the lowermost magnetic recording layer
- G11B5/7379—Seed layer, e.g. at least one non-magnetic layer is specifically adapted as a seed or seeding layer
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/739—Magnetic recording media substrates
- G11B5/73911—Inorganic substrates
- G11B5/73921—Glass or ceramic substrates
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/739—Magnetic recording media substrates
- G11B5/73923—Organic polymer substrates
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- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/90—Magnetic feature
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/26—Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
- Y10T428/263—Coating layer not in excess of 5 mils thick or equivalent
- Y10T428/264—Up to 3 mils
- Y10T428/265—1 mil or less
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
層、六方最密充填構造を有する強磁性結晶粒とそれを取
り巻く主に酸化物からなる非磁性粒界とからなるグラニ
ュラー構造を有する磁性層、保護膜、および液体潤滑剤
層が順次積層されてなる磁気記録媒体において、磁性層
の結晶配向性を精密に制御して低ノイズ化を実現する。 【解決手段】 非磁性下地層として、体心立方格子構造
を有するとともに、その膜面に平行な優先結晶配向面が
(200)面である材料を用いる。
Description
部記憶装置を初めとする各種磁気記録装置に搭載される
磁気記録媒体およびその製造方法に関するものである。
気記録媒体に対し、従来からさまざまな磁性層の組成、
構造および非磁性下地層の材料等が提案されている。特
に近年、強磁性結晶粒の周囲を酸化物や窒化物のような
非磁性非金属物質で囲んだ構造を持つ一般にグラニュラ
ー磁性層と呼ばれる磁性層が提案されている。
技術としては、例えば、特開平8−255342号公報
や、米国特許第5,679,473号公報に開示されて
いるものが知られている。
性基板上に非磁性膜と強磁性膜と非磁性膜とも順に積層
した後、加熱処理し、非磁性膜中に強磁性体の結晶粒が
分散した記録層を形成することを特徴とする磁気記録媒
体の製造方法が、開示されている。この公報に開示の技
術では、非磁性基板上に、非磁性膜と強磁性膜と非磁性
膜とを順次積層した後、加熱処理を行なうことにより、
前記非磁性膜中に強磁性の結晶粒が分散したグラニュラ
ー記録層を形成し、これによって、低ノイズ化を図るこ
とが提案されている。この場合、非磁性膜としてはシリ
コン酸化物や窒化物等が用いられている。
報には、SiO2等の酸化物が添加されたCoNiPt
ターゲットを用いて、RFスパッタリングを行なうこと
で、磁性結晶粒が非磁性の酸化物で囲まれて個々に分離
した構造を持つグラニュラー記録膜が形成でき、これに
よって、低ノイズ化が実現されることが記載されてい
る。
子を非磁性非金属の粒界相が物理的に分離するため、磁
性粒子間の磁気的な相互作用が低下し、記録ビットの遷
移領域に生じるジグザグ磁壁の形成を抑制する。その結
果、低ノイズ特性が得られると考えられている。従来用
いられてきたCoCr系金属磁性膜では、高温で成膜し
て、CrをCo系磁性粒から偏析させて粒界に析出さ
せ、それによって、磁性粒子間の磁気的相互作用を低減
させている。これに対して、グラニュラー磁性層の場合
は、この粒界相として用いているのは、非磁性非金属の
物質であり、この物質は、従来のCrに比べて偏析し易
いため、比較的容易に磁性粒の孤立化が促進できるとい
う利点がある。特に、従来のCoCr系金属磁性層の場
合は、成膜時の基板温度を200℃に上昇させることが
Crの十分な偏析に必要不可欠であったのに対し、グラ
ニュラー磁性層の場合は、加熱なしでの成膜において
も、その非磁性非金属の物質は偏析を生じるという利点
もある。
ズ化には、磁性層中の偏析構造の促進に伴う粒子間の磁
気的相互作用を低減させることが必要であるばかりでな
く、CoCr系強磁性結晶粒の結晶配向性の制御、すな
わち六方最密充填型結晶構造を有する強磁性結晶粒のc
軸を膜面内に配向させることも、必要である。そのた
め、従来の金属磁性層を用いた磁気記録媒体では、非磁
性下地層の構造や結晶配向を制御することで、磁性層の
結晶配向制御がなされている。
磁気記録媒体は、非磁性下地層と強磁性結晶粒との間が
粒界偏析物質である酸化物等により分離されるため、非
磁性下地層の効果は小さいと考えられてきた。一方、
『CoPt−SiO2におけるCr−Mo下地層の効
果』 日本応用磁気学会誌、Vol.23,No.4−
2,pp1017〜pp1020(1999)には、下
地層として(110)面が優先配向した特定組成のCr
Mo合金を用いることで、グラニュラー磁性層中の強磁
性結晶粒の(100)面および(101)面が優先配向
し、磁気特性および電磁変換特性が向上することが、示
されている。
結晶粒の(101)面が優先配向した場合、c軸は膜面
に平行ではなく、ある角度を成して膜面から立ちあが
る。そのため、結晶粒の磁気異方性は、膜面に垂直な方
向の成分を有することになり、結果として、磁化の垂直
成分が生じて媒体ノイズを増加させてしまう。このよう
な強磁性結晶粒の(101)面の優先配向は、CrMo
合金下地層の(110)面の優先配向に起因したもので
あり、前記文献に示された磁性層の結晶配向の制御は不
充分なものであると、考えざるを得ない。すなわち、さ
らなる精密な結晶配向性の制御が低ノイズ媒体を実現す
るために必要とされているのが、現状である。
グラニュラー磁性膜の結晶配向性の制御について鋭意検
討した結果、次の知見を得るに至った。すなわち、Co
Pt系合金等の六方最密充填構造を有する強磁性結晶粒
からなるグラニュラー磁性膜を形成するにあたり、その
非磁性下地層として、体心立方格子型結晶構造を有する
とともに、その膜面に平行な優先結晶配向面が(20
0)面であるような材料を用いると、優れた磁気特性と
電磁変換特性を実現できることが、明らかとなった。
で、本発明に係る磁気記録媒体は、非磁性基体上に少な
くとも非磁性下地層、磁性層、保護膜および液体潤滑剤
層が順次積層されてなる磁気記録媒体において、前記磁
性層が、六方最密充填型結晶構造を有する強磁性結晶粒
と、それを取り巻く主に酸化物からなる非磁性粒界とか
らなるグラニュラー構造を有し、前記非磁性下地層が、
体心立方格子構造を有するとともに、該非磁性下地層の
膜面に平行な優先結晶配向面が(200)面であること
を特徴とする。
り、その上に積層されるグラニュラー磁性層の強磁性結
晶粒がそのc軸が膜面に平行に配向し、磁化の垂直成分
が生じない。そのため、本発明の磁気記録媒体は、優れ
た諸特性を実現することができる。
ラー磁性層との間に、結晶構造が磁性層の強磁性結晶粒
のそれと同じ六方最密充填型結晶構造の非磁性中間層、
たとえば、Crを30%から50%程度含むCoCr合
金を用いた場合には、磁性層の強磁性結晶粒のc軸配向
性が向上するため、より高い効果を得ることができる。
に制御するために、単純立方格子型結晶構造を有すると
ともに、その膜面に平行な優先結晶配向面が(100)
面であるような非磁性配向制御層を、非磁性下地層の成
膜に先立って、形成することもできる。この場合、この
非磁性配向制御層は、Mg、Ti、Vのうちの少なくと
も一つの元素の酸化物、あるいは、Ti、Zr、Hf、
Nb、Ta、Mo、Wのうちの少なくとも一つの元素の
炭化物または窒化物から構成することが望ましい。これ
らの材料はいずれも単純立方格子型結晶構造を有してお
り、またスパッタリング法により成膜することで、容易
に(100)面の優先結晶配向が得られる。
および結晶性を効果的に制御するためには、アモルファ
ス構造を有するシード層を、非磁性基体と非磁性配向制
御層の間に形成することも効果的である。この場合、シ
ード層は、全体がアモルファス構造であることが望まし
いが、スパッタリング法により成膜することで、不可避
的に部分的な結晶化が生じても、シード層による目的の
効果に影響はない。シード層として、例えば、10at
%以上40at%以下のPを含むNi層、または25a
t%以上55at%以下の酸素を含むSi層を形成すれ
ば、非常に効果的である。
で、容易に優れた磁気特性や電磁変換特性が得られるこ
とから、本発明の媒体を成膜するにあたって、基板加熱
を行なう必要がなくなり、製造プロセスの簡易化と低コ
スト化が図れるばかりでなく、従来のAlやガラス基板
以外にも、安価なプラスチックを、基板として使用する
ことも、可能となる。
について説明する。図1は、本発明に係る磁気記録媒体
の断面模式図である。この磁気記録媒体は、非磁性基体
1上に下地層2、グラニュラー磁性層3および保護膜4
が順に形成された構造を有しており、さらにその上に液
体潤滑剤層5が形成されている。
体用に用いられるNiPメッキを施したAl合金や強化
ガラス、結晶化ガラス等を用いることができるほか、基
体の加熱を必要としないことから、ポリカーボネート、
ポリオレフィンやその他の合成樹脂を射出成形すること
で作製した基板をも用いることができる。
る薄膜が用いられる。また、液体潤滑剤層5は、例え
ば、パーフルオロポリエーテル系の潤滑剤を用いること
ができる。
を取り巻く非磁性粒界からなり、かつその非磁性粒界
が、金属の酸化物または窒化物からなる、いわゆるグラ
ニュラー磁性層である。このような構造は、例えば、非
磁性粒界を構成する酸化物を含有する強磁性金属をター
ゲットとして、スパッタリングにより成膜することや、
強磁性金属をターゲットとして酸素を含有するArガス
中で反応性スパッタリングにより成膜することで、作製
することができる。
に制限されないが、CoPt系合金が好適に用い得る。
特に、CoPt合金にCr、Ni、Ta等を添加するこ
とが、媒体ノイズの低減のためには、望ましい。
は、Cr、Co、Si、Al、Ti、Ta、Hf、Zr
等の元素の酸化物を用いることが、安定なグラニュラー
構造を形成するためには特に望ましい。磁性層3の膜厚
は、特に制限されるものではなく、記録再生時に十分な
ヘッド再生出力を得るための必要十分な膜厚が要求され
る。
する材料であり、かつその優先結晶配向面が(200)
面であることが必要である。そのような材料としてはC
rまたはCr合金を好適に用いることができる。Cr合
金としては、CrMo、Ti、CrTi、CrV、およ
びCrW合金等が、望ましい。また、その膜厚は、特に
制限されないが、5nm〜100nm程度が好ましい。
(200)面の優先結晶配向を得るには、後述の非磁性
配向制御層21を用いるか、または、基板バイアスやグ
リッドバイアスの印加、さらには、他の成膜条件を制御
することが、望ましい。
中の強磁性結晶粒のc軸配向性をより最適に制御するた
めに、非磁性中間層22を非磁性下地層2とグラニュラ
ー磁性層3の間に設けてもよい。この場合、非磁性中間
層22としては、結晶構造が磁性層の強磁性結晶粒のそ
れと同じ六方最密充填型結晶構造の非磁性中間層、たと
えば、Crを30%から50%程度含むCoCr合金な
どを用いることが、望ましい。この非磁性中間層22の
膜厚は、特に制限されないが、2nmから20nm程度
が好ましい。
的に制御するために、単純立方格子構造を有するととも
に、その膜面に平行な優先結晶配向面が(100)面で
あるような非磁性配向制御層21を非磁性下地層2の成
膜に先立って形成してもよい。この場合、非磁性配向制
御層21は、Mg、Ti、Vのうちの少なくとも一つの
元素の酸化物、あるいは、Ti、Zr、Hf、Nb、T
a、Mo、Wのうちの少なくとも一つの元素の炭化物ま
たは窒化物であることが、望ましい。これらの材料は、
いずれも単純立方格子型結晶構造を有しており、また、
スパッタリング法により成膜することで、容易に(10
0)面の優先結晶配向が得られる。この非磁性配向制御
層21の膜厚も、特に制限されるものではなく、非磁性
下地層2の結晶配向を十分に制御できる膜厚が要求され
る。
結晶配向および結晶性を効果的に制御するためには、ア
モルファス構造を有するシード層11を、非磁性基体1
と非磁性配向制御層21の間に形成することも、効果的
である。この場合、シード層11は、全体がアモルファ
ス構造であることが望ましいが、スパッタリング法によ
り成膜することで、不可避的に部分的な結晶化を生じて
いても、シード層による目的の効果には影響しない。シ
ード層11として、例えば、10at%以上40at%
以下のPを含むNi層、または25at%以上55at
%以下の酸素を含むSi層を形成することで、非磁性配
向制御層21の配向性や結晶性が向上する効果がある。
シード層11の膜厚もまた、特に制限されるものではな
く、非磁性配向制御層21の配向性と結晶性が効果的に
制御できれば、任意でよい。
に示した磁気記録媒体の製造にあたっては、従来の磁気
記録媒体のような基板加熱工程を省略しても、高Hc化
と低媒体ノイズ化を図ることが可能となり、その結果、
製造工程の簡略化に伴う製造コストの低下をも図ること
ができる。
滑な化学強化ガラス基板(例えば、HOYA社製N−1
0ガラス基板)を用いた。この基体を洗浄した後、スパ
ッタ装置内に導入し、Arガス圧5mTorr下で、こ
の基体上にCr−20at%Moからなる下地層30n
mを形成した。その後、さらに引き続いて、SiO2を
10mol%添加したCoCr12Pt12ターゲットを用
いてRFスパッタリング法により、Arガス圧3mTo
rr下で、前記下地層上にグラニュラー磁性層20nm
を形成し、さらに、その上にカーボン保護層10nmを
積層した。その後、この積層体を真空中から取り出し、
前記保護層の上に液体潤滑剤1.5nmを塗布して、図
1に示すような構成の磁気記録媒体を作製した。ここ
で、非磁性下地層を成膜する際に基体にRFバイアスを
0Wから200Wまで変化させて印加した。なお、成膜
に先立って、基体の加熱は行なっていない。
かけ、そのプロファイルから、CrMo(110)面からの
回折ピーク強度I(110)と、CrMo(200)面から
の回折ピーク強度I(200)との強度比、I(200)/I
(110)を、求めた。この強度比(I( 200)/I(110))の
印加したRFバイアスパワーに対する変化を、図2に示
す。X線回折ブロファイルは、Cu−Kα線を用い、ゴ
ニオメータを使用して測定した。図2から分かるよう
に、バイアスパワーの増加に伴い、強度比(I(200)/
I(110))は急激に増加する傾向にあり、100W以上
のバイアス印加により強度比(I(200)/I(110))は
0.2を超える値となる。結晶配向がランダムな場合の
強度比(I(200)/I(110))は0.16であることか
ら、強度比(I(200)/I(110))がそれ以上の値を取っ
たときには、(200)面が優先配向していると、解釈
できる。
料型磁力計VSMにより測定するとともに、GMRヘッ
ドを用いてスピンスタンドテスターで、線記録密度27
0kFClにおける対信号雑音比SNRを測定した。こ
れら保磁力Hcと、線記録密度270kFClにおける
対信号雑音比SNRとの、印加したRFバイアスパワー
に対する変化を、図3に示す。RFバイアスを100W
以上印加した場合に、高い保磁力Hcと高い対信号雑音
比SNRとが同時に得られている。すなわち、(20
0)面が優先配向した下地層を用いることで、優れた磁
気特性と電磁変換特性が実現されることが、分かる。
その上に、非磁性中間層として、Co−35at%Cr
を、Arガス圧5mTorr下で、5nm形成した以外
は実施例1と同様にして、図1に示すような磁気記録媒
体を作製した。非磁性下地層の形成時には、150Wの
RFバイアスを印加した。
Hcを振動試料型磁力計VSMにより測定するととも
に、GMRヘッドを用いてスピンスタンドテスターで、
線記録密度270kFClにおける対信号雑音比SNR
を測定した。その結果を、表1に示す。この表1には、
比較のために、非磁性中間層を形成しなかった媒体(比
較例1:実施例1中のRFバイアス150W印加媒体)
の特性も示した。
たように、保磁力Hcは2620Oe程度であり、この
ときの対信号雑音比SNRは18.3dBであった。こ
れに対し、六方最密充填型結晶構造を有する非磁性のC
o−35at%Crを5nm形成することで、保磁力H
cが向上するとともに対信号雑音比SNR値も19.5
dBと大きく向上することがわかる。
ち、非磁性配向制御層として、各種材料を、Arガス圧
8mTorr下でRFスパッタリング法により、30n
m形成するとともに、非磁性下地層の成膜時にRFバイ
アスを印加しなかった以外は、実施例1と同様にして、
図1に示すような磁気記録媒体を作製した。
体の保磁力Hcを振動試料型磁力計VSMにより測定す
るとともに、GMRヘッドを用いてスピンスタンドテス
ターで、線記録密度270kFClにおける対信号雑音
比SNRを測定した。その結果を、表2に示す。この表
2には、さらに、それぞれの媒体の下地層のX線回折ピ
ーク強度比(I(200)/I(110))も示してあり、また、
比較のために非磁性配向制御層を付与していない媒体
(比較例2:実施例1中のRFバイアス印加なしの媒
体)の特性も示した。
かつその膜面に平行な優先結晶配向面が(100)面で
ある非磁性配向制御層を付与した媒体(i)〜(iii)
は、非磁性下地層の形成時にRFバイアスを印加してい
ないのにもかかわらず、下地層の強度比(I(200)/I
(110))は1.0以上の高い値を示しており、(20
0)面の強い優先配向が実現し、それに伴って優れた磁
気特性と電磁変換特性が得られていることが、分かる。
ち、シード層として、各種材料を、Arガス圧5mTo
rr下でスパッタリング法により30nm形成した後、
連続してMgOからなる非磁性配向制御層をRFスパッ
タリング法により30nm形成するとともに、非磁性下
地層の成膜時にRFバイアスを印加しなかった以外は、
実施例1と同様にして、図1に示すような磁気記録媒体
を作製した。
体の保磁力Hcを振動試料型磁力計VSMにより測定す
るとともに、GMRヘッドを用いてスピンスタンドテス
ターで、線記録密度270kFClにおける対信号雑音
比SNRを測定した。その結果を、表3に示す。この表
3には、さらに、それぞれの媒体の下地層のX線回折ピ
ーク強度比(I(200)/I(110))も示してあり、また、
比較のためにシード層を設けていない媒体(比較例3:
実施例3中の配向制御層がMgO層であるを媒体)の特
性も示した。
ることにより、下地層において、さらに高い強度比(I
(200)/I(110))が得られおり、非磁性配向制御層の結
晶配向および結晶性がより効果的に改善される。この非
磁性配向制御層の改善に伴って、(200)面の優先配
向の度合いが非常に強くなっており、それに伴って、よ
り優れた磁気特性と電磁変換特性が得られていること
が、分かる。
oPt系合金等の六方最密充填構造を有する強磁性結晶
粒からなるグラニュラー磁性膜を形成するにあたり、そ
の非磁性下地層として、体心立方格子構造を有するとと
もに、その膜面に平行な優先結晶配向面が(200)面
であるような材料を用いることで、優れた磁気特性と電
磁変換特性を実現できる。すなわち、本発明の下地層を
用いることにより、その上に積層されるグラニュラー磁
性層の強磁性結晶粒はそのc軸が膜面に平行に配向し、
磁化の垂直成分が生じないために、優れた諸特性を実現
するものである。
ラー磁性層との間に、結晶構造が磁性層の強磁性結晶粒
のそれと同じ六方最蜜充填型結晶構造の非磁性中間層を
形成した場合には、磁性層の強磁性結晶粒のc軸配向性
が向上するため、より高い効果を得ることができる。
るために、単純立方格子型結晶構造を有するとともに、
その膜面に平行な優先結晶配向面が(100)面である
ような非磁性配向制御層を非磁性下地層の成膜に先立っ
て形成することが効果的である。非磁性配向制御層は、
Mg、Ti、Vのうちの少なくとも一つの元素の酸化
物、あるいは、Ti、Zr、Hf、Nb、Ta、Mo、
Wのうちの少なくとも一つの元素の炭化物または窒化物
であることが、望ましい。これらの材料は、いずれも単
純立方格子構造を有しており、また、スパッタリング法
により成膜することで、容易に(100)面の優先結晶
配向が得られ、その上に形成される非磁性下地層は(2
00)面が優先配向しやすくなるため、優れた特性を有
する磁気記録媒体が実現できる。
結晶性を効果的に制御するためには、アモルファス構造
を有するシード層を、非磁性基体と非磁性配向制御層の
間に形成することも、効果的である。この場合、シード
層は、全体がアモルファス構造であることが望ましい
が、スパッタリング法により成膜することで、不可避的
に部分的な結晶化を生じていても、シード層による目的
の効果には影響しない。シード層として、10at%以
上40at%以下のPを含むNi層、または25at%
以上55at%以下の酸素を含むSi層を形成すること
が、特に望ましい。このようなシード層の存在により、
その上に形成される非磁性配向制御層の配向性や結晶性
がさらに好適に制御することができ、非常に優れた特性
を有する磁気記録媒体を得ることができる。
れた特性が得られることから、本発明の媒体を成膜する
にあたっては、基板加熱を行なう必要がなくなり、従来
のAl板やガラス基板以外にも、安価なプラスチック板
を基板として使用することも可能となる。
式図である。
ロファイルより得られた、CrMo(110)面からの
回折ピーク強度I(110)と、CrMo(200)面
からの回折ピーク強度I(200)との強度比(I(200)/I
(110))の、印加したRFバイアスパワーに対する変化
を示す図である。
と、線記録密度270kFClにおける対信号雑音比S
NRとを、印加したRFバイアスパワーに対して示した
図である。
Claims (17)
- 【請求項1】 非磁性基体上に少なくとも非磁性下地
層、磁性層、保護膜および液体潤滑剤層が順次積層され
てなる磁気記録媒体において、 前記磁性層が、六方最密充填型結晶構造を有する強磁性
結晶粒と、それを取り巻く主に酸化物からなる非磁性粒
界とからなるグラニュラー構造を有し、 前記非磁性下地層が、体心立方格子型結晶構造を有する
とともに、該非磁性下地層の膜面に平行な優先結晶配向
面が(200)面であることを特徴とする磁気記録媒
体。 - 【請求項2】 前記非磁性下地層と磁性層の間に、六方
最密充填構造を有する非磁性金属中間層が形成されてい
ることを特徴とする請求項1記載の磁気記録媒体。 - 【請求項3】 前記非磁性下地層の下に、単純立方格子
構造を有する非磁性配向制御層が形成されるとともに、
該非磁性配向制御層の膜面に平行な優先結晶配向面が
(100)面であることを特徴とする請求項1または2
に記載の磁気記録媒体。 - 【請求項4】 前記非磁性配向制御層が、Mg、Ti、
Vのうちの少なくとも一つの元素の酸化物、あるいは、
Ti、Hf、Nb、Ta、Mo、Wのうちの少なくとも
一つの元素の炭化物または窒化物からなることを特徴と
する請求項3に記載の磁気記録媒体。 - 【請求項5】 前記非磁性配向制御層と前記基体との間
に、アモルファス構造を有するシード層が形成されてい
ることを特徴とする請求項3または4に記載の磁気記録
媒体。 - 【請求項6】 前記シード層が、10at%以上40a
t%以下のPを含むNi層であることを特徴とする請求
項5に記載の磁気記録媒体。 - 【請求項7】 前記シード層が、25at%以上55a
t%以下の酸素を含むSi層であることを特徴とする請
求項5に記載の磁気記録媒体。 - 【請求項8】 前記非磁性基体が、結晶化ガラス、化学
強化ガラスまたは合成樹脂からなることを特徴とする請
求項1〜7のいずれかに記載の磁気記録媒体。 - 【請求項9】 非磁性基体上に、少なくとも、非磁性下
地層、六方最密充填構造を有する強磁性結晶粒とそれを
取り巻く主に酸化物からなる非磁性粒界とからなるグラ
ニュラー構造を有する磁性層、保護膜、および液体潤滑
剤層を順次積層して磁気記録媒体を得る磁気記録媒体の
製造方法であって、 前記非磁性下地層として、体心立方格子型結晶構造を有
するとともに、該非磁性下地層の膜面に平行な優先結晶
配向面が(200)面である材料を用いることを特徴と
する磁気記録媒体の製造方法。 - 【請求項10】 前記非磁性下地層と磁性層の間に、さ
らに、六方最密充填型結晶構造を有する非磁性金属中間
層を形成することを特徴とする請求項9記載の磁気記録
媒体の製造方法。 - 【請求項11】 前記非磁性下地層の下に、さらに、単
純立方格子構造を有するとともにその膜面に平行な優先
結晶配向面が(100)面である非磁性配向制御層を形
成することを特徴とする請求項9または10に記載の磁
気記録媒体の製造方法。 - 【請求項12】 前記非磁性配向制御層を、Mg、T
i、Vのうちの少なくとも一つの元素の酸化物、あるい
は、Ti、Hf、Nb、Ta、Mo、Wのうちの少なく
とも一つの元素の炭化物または窒化物から構成すること
を特徴とする請求項11に記載の磁気記録媒体の製造方
法。 - 【請求項13】 前記非磁性配向制御層と前記基体との
間に、アモルファス構造を有するシード層を形成するこ
とを特徴とする請求項11または12に記載の磁気記録
媒体の製造方法。 - 【請求項14】 前記シード層を、10at%以上40
at%以下のPを含むNi層から構成することを特徴と
する請求項13に記載の磁気記録媒体の製造方法。 - 【請求項15】 前記シード層を、25at%以上55
at%以下の酸素を含むSi層から構成することを特徴
とする請求項13に記載の磁気記録媒体の製造方法。 - 【請求項16】 前記非磁性基体を、結晶化ガラス、化
学強化ガラスまたは合成樹脂から構成することを特徴と
する請求項9ないし15のいずれかに記載の磁気記録媒
体の製造方法。 - 【請求項17】 前記非磁性基体を事前に加熱せずに積
層プロセスを行なうことを特徴とする請求項9ないし1
6のいずれかに記載の磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000376597A JP2002190108A (ja) | 2000-10-13 | 2000-12-11 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
SG200106178A SG115415A1 (en) | 2000-10-13 | 2001-10-04 | Magnetic recording medium and manufacturing method therefor |
MYPI20014712A MY124785A (en) | 2000-10-13 | 2001-10-10 | Magnetic recording medium and manufacturing method therefor |
US09/976,248 US6673475B2 (en) | 2000-10-13 | 2001-10-11 | Magnetic recording medium and manufacturing method therefore |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000-314389 | 2000-10-13 | ||
JP2000314389 | 2000-10-13 | ||
JP2000376597A JP2002190108A (ja) | 2000-10-13 | 2000-12-11 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002190108A true JP2002190108A (ja) | 2002-07-05 |
Family
ID=26602102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000376597A Pending JP2002190108A (ja) | 2000-10-13 | 2000-12-11 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6673475B2 (ja) |
JP (1) | JP2002190108A (ja) |
MY (1) | MY124785A (ja) |
SG (1) | SG115415A1 (ja) |
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Publication number | Publication date |
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US6673475B2 (en) | 2004-01-06 |
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