JP2002151443A - 半導体素子の劈開装置 - Google Patents
半導体素子の劈開装置Info
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- JP2002151443A JP2002151443A JP2000340466A JP2000340466A JP2002151443A JP 2002151443 A JP2002151443 A JP 2002151443A JP 2000340466 A JP2000340466 A JP 2000340466A JP 2000340466 A JP2000340466 A JP 2000340466A JP 2002151443 A JP2002151443 A JP 2002151443A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 安定した劈開力を得ることができ、効率良く
劈開を行なえる生産性の高い半導体素子の劈開装置を提
供する。 【解決手段】 平滑な表面を有し、水平方向に移動する
弾性部材13aと、上下方向に移動するとともに回転可
能なローラ6とを有し、劈開すべき位置に予めキズ5の
形成されたワーク2を前記弾性部材13a上に配置し、
前記ローラ6を前記ワーク2に圧接して前記弾性部材1
3aを移動させることにより、前記ワーク2を劈開して
チップ2Aを得る半導体素子の劈開装置20において、
偏芯カム14が設けられ、前記ローラ6を回転可能に保
持し、前記偏芯カム14の回転により上下方向に移動す
るステージ11と、前記ステージ11に配置された、前
記ローラ6の下端位置を調整可能に規定するストッパ
と、前記ステージ11に配置された前記下端位置を検出
する変位センサ9と、前記弾性部材13aを水平方向に
移動する移動手段8とを有する。
劈開を行なえる生産性の高い半導体素子の劈開装置を提
供する。 【解決手段】 平滑な表面を有し、水平方向に移動する
弾性部材13aと、上下方向に移動するとともに回転可
能なローラ6とを有し、劈開すべき位置に予めキズ5の
形成されたワーク2を前記弾性部材13a上に配置し、
前記ローラ6を前記ワーク2に圧接して前記弾性部材1
3aを移動させることにより、前記ワーク2を劈開して
チップ2Aを得る半導体素子の劈開装置20において、
偏芯カム14が設けられ、前記ローラ6を回転可能に保
持し、前記偏芯カム14の回転により上下方向に移動す
るステージ11と、前記ステージ11に配置された、前
記ローラ6の下端位置を調整可能に規定するストッパ
と、前記ステージ11に配置された前記下端位置を検出
する変位センサ9と、前記弾性部材13aを水平方向に
移動する移動手段8とを有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子の製造
装置に係り、特に、ウエハを劈開により細分化して、半
導体素子チップを得るのに好適な半導体素子の劈開装置
に関するものである。
装置に係り、特に、ウエハを劈開により細分化して、半
導体素子チップを得るのに好適な半導体素子の劈開装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えばGaAs半導体レーザ素子
を形成する場合、その発光面を得るのに劈開加工を用い
ている。これは、結晶の特定の面方位に沿って、割れや
すい(劈開するという)という性質を利用し、平滑な破
断面を得るものである。
を形成する場合、その発光面を得るのに劈開加工を用い
ている。これは、結晶の特定の面方位に沿って、割れや
すい(劈開するという)という性質を利用し、平滑な破
断面を得るものである。
【0003】以下、従来の半導体素子の劈開方法を、図
面を引用し説明する。図1は、従来例の半導体素子の劈
開装置を説明するための要部断面構成配置図である。ウ
エハを分割して得られる所定サイズのワーク111を、
樹脂からなる保護シート106と、同様に樹脂からなる
粘着性のある例えばUVシート107の間に挟みこむ。
ワーク111の劈開すべき劈開部104の位置には、微
小なスクライブキズがいれてある。保護シート106と
UVシート107には、図示しない端部に張力Tが、両
側よりかけられている。
面を引用し説明する。図1は、従来例の半導体素子の劈
開装置を説明するための要部断面構成配置図である。ウ
エハを分割して得られる所定サイズのワーク111を、
樹脂からなる保護シート106と、同様に樹脂からなる
粘着性のある例えばUVシート107の間に挟みこむ。
ワーク111の劈開すべき劈開部104の位置には、微
小なスクライブキズがいれてある。保護シート106と
UVシート107には、図示しない端部に張力Tが、両
側よりかけられている。
【0004】スクライブキズを入れた位置を起点とする
劈開面に沿って、真直ぐなカッター105(以下、単に
カッターともいう)の稜線(図中、紙面に垂直方向に配
置されている)を、矢印fに示すように下方から突き上
げると、ワーク111に対しカッター105の刃を支点
として、張力Tに応じた下方への応力f1及びf2が働
き、スクライブキズの部分が持ち上がり、このスクライ
ブキズの部分をきっかけに、カッター105の稜線方向
の劈開面に沿って劈開する。これにより、半導体素子チ
ップが得られる。ここで、UVシート107は、強い粘
着力を有する粘着層を有しており、UV照射すると、こ
の粘着層が硬化し、粘着力が低下するシートである。
劈開面に沿って、真直ぐなカッター105(以下、単に
カッターともいう)の稜線(図中、紙面に垂直方向に配
置されている)を、矢印fに示すように下方から突き上
げると、ワーク111に対しカッター105の刃を支点
として、張力Tに応じた下方への応力f1及びf2が働
き、スクライブキズの部分が持ち上がり、このスクライ
ブキズの部分をきっかけに、カッター105の稜線方向
の劈開面に沿って劈開する。これにより、半導体素子チ
ップが得られる。ここで、UVシート107は、強い粘
着力を有する粘着層を有しており、UV照射すると、こ
の粘着層が硬化し、粘着力が低下するシートである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の劈開方法を用いる劈開装置においては、(1)劈開
力は樹脂シートに加える張力に依存するので、不安定で
あり十分な大きさを得るのが困難であり、(2)カッタ
ー位置をワークのスクライブキズに合わせるときに、樹
脂シートを介して位置決めを行う必要があるので、位置
決め精度が悪く、劈開不良が出やすく、(3)劈開力は
樹脂シートの粘着力にも頼る方式のため、付着強度の高
い糊を用いた樹脂シートを使用する必要があり、このこ
とが、製品への糊残りの原因となり、不良の発生が引き
起こし、(4)1チップ毎に突き上げ作業が必要で、作
業時間がかかる、(5)スクライブキズとカッターの稜
線を合わせる必要があるので、同時に多数のワークをス
クライブキズに合わせて配置することは困難であり、作
業効率が悪い、という問題があった。
来の劈開方法を用いる劈開装置においては、(1)劈開
力は樹脂シートに加える張力に依存するので、不安定で
あり十分な大きさを得るのが困難であり、(2)カッタ
ー位置をワークのスクライブキズに合わせるときに、樹
脂シートを介して位置決めを行う必要があるので、位置
決め精度が悪く、劈開不良が出やすく、(3)劈開力は
樹脂シートの粘着力にも頼る方式のため、付着強度の高
い糊を用いた樹脂シートを使用する必要があり、このこ
とが、製品への糊残りの原因となり、不良の発生が引き
起こし、(4)1チップ毎に突き上げ作業が必要で、作
業時間がかかる、(5)スクライブキズとカッターの稜
線を合わせる必要があるので、同時に多数のワークをス
クライブキズに合わせて配置することは困難であり、作
業効率が悪い、という問題があった。
【0006】そこで本発明は、上記課題を解決し、半導
体素子の劈開装置において、安定した劈開力を得ること
ができ、同時に複数のバー状ワークの劈開もでき、効率
良く劈開を行なえる生産性の高い半導体素子の劈開装置
を提供することを目的とするものである。
体素子の劈開装置において、安定した劈開力を得ること
ができ、同時に複数のバー状ワークの劈開もでき、効率
良く劈開を行なえる生産性の高い半導体素子の劈開装置
を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の手段として、第1の発明は、平滑な表面を有し、水平
方向に往復移動する弾性部材と、前記弾性部材の上方に
配置され、上下方向に往復移動するとともに回転可能な
ローラとを有し、劈開すべき位置に予めキズの形成され
た半導体ワークを前記弾性部材上に配置し、前記ローラ
を前記半導体ワークに圧接して前記弾性部材を移動させ
ることにより、前記半導体ワークを劈開して半導体チッ
プを得る半導体素子の劈開装置において、偏芯カムが設
けられ、前記ローラを回転可能に保持し、前記偏芯カム
の回転により上下方向に移動するステージと、前記ステ
ージに配置された、前記ローラの下端位置を調整可能に
規定するストッパと、前記ステージに配置された前記下
端位置を検出する変位センサと、前記弾性部材を水平方
向に移動する移動手段とを有することを特徴とする半導
体素子の劈開装置である。
の手段として、第1の発明は、平滑な表面を有し、水平
方向に往復移動する弾性部材と、前記弾性部材の上方に
配置され、上下方向に往復移動するとともに回転可能な
ローラとを有し、劈開すべき位置に予めキズの形成され
た半導体ワークを前記弾性部材上に配置し、前記ローラ
を前記半導体ワークに圧接して前記弾性部材を移動させ
ることにより、前記半導体ワークを劈開して半導体チッ
プを得る半導体素子の劈開装置において、偏芯カムが設
けられ、前記ローラを回転可能に保持し、前記偏芯カム
の回転により上下方向に移動するステージと、前記ステ
ージに配置された、前記ローラの下端位置を調整可能に
規定するストッパと、前記ステージに配置された前記下
端位置を検出する変位センサと、前記弾性部材を水平方
向に移動する移動手段とを有することを特徴とする半導
体素子の劈開装置である。
【0008】また、第2の発明は、第1の発明におい
て、前記ローラの直径を10mm以下とし、前記下端位
置を前記弾性部材表面から、前記ワークの厚さより40
μmから80μm短い距離の位置とし、前記弾性部材を
ショアA硬度で60度以上としたものである。
て、前記ローラの直径を10mm以下とし、前記下端位
置を前記弾性部材表面から、前記ワークの厚さより40
μmから80μm短い距離の位置とし、前記弾性部材を
ショアA硬度で60度以上としたものである。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につ
き、好ましい実施例により、図面を参照して説明する。 <実施例>図2は、本発明に係る半導体素子の劈開装置
の実施例を説明するための要部断面構成配置図である。
図3は、図2に示すローラとワークの配置の斜視図であ
る。図4は、搬送フレームに配置したワークを示す斜視
図であり、(a)は組み立て配置図を、(b)は(a)
においてA部に示されるワークの拡大図である。図5
は、本発明による半導体素子の劈開装置の実施例を示す
概略構成図である。
き、好ましい実施例により、図面を参照して説明する。 <実施例>図2は、本発明に係る半導体素子の劈開装置
の実施例を説明するための要部断面構成配置図である。
図3は、図2に示すローラとワークの配置の斜視図であ
る。図4は、搬送フレームに配置したワークを示す斜視
図であり、(a)は組み立て配置図を、(b)は(a)
においてA部に示されるワークの拡大図である。図5
は、本発明による半導体素子の劈開装置の実施例を示す
概略構成図である。
【0010】図4に示すように、劈開の対象となる例え
ばGaAs結晶からなるレーザー発光素子(個々に分離
されるとチップとなる)の多数形成された図示しない厚
さ80μmから100μmの半導体ウエハを、劈開面に
平行な図示しない切断線に沿って切断し、ワーク2を得
る。ワーク2はピッチ200μmから250μmで配置
された多数のチップ2Aを含むものであり、各チップ2
Aの劈開線に沿って劈開されるべきものであり、この線
に沿って、たとえば端部から、スクライブキズ5を予め
付けてある(図4の(b))。
ばGaAs結晶からなるレーザー発光素子(個々に分離
されるとチップとなる)の多数形成された図示しない厚
さ80μmから100μmの半導体ウエハを、劈開面に
平行な図示しない切断線に沿って切断し、ワーク2を得
る。ワーク2はピッチ200μmから250μmで配置
された多数のチップ2Aを含むものであり、各チップ2
Aの劈開線に沿って劈開されるべきものであり、この線
に沿って、たとえば端部から、スクライブキズ5を予め
付けてある(図4の(b))。
【0011】搬送フレーム4に張られた粘着性樹脂シー
ト3に、バー状のワーク2を複数本、平行に並べて貼り
付ける(図4の(a))。粘着性樹脂シート3として
は、薄く柔軟性の高い樹脂を、例えば、100μmから
150μmの厚みを有する半導体用エキスパンドテープ
を用いる。次に、搬送フレーム4を、図示しないスクラ
イバーにセットし、最終チップサイズに合わせて、ワー
ク2の片面に、劈開のきっかけとなるスクライブキズ5
を入れる。
ト3に、バー状のワーク2を複数本、平行に並べて貼り
付ける(図4の(a))。粘着性樹脂シート3として
は、薄く柔軟性の高い樹脂を、例えば、100μmから
150μmの厚みを有する半導体用エキスパンドテープ
を用いる。次に、搬送フレーム4を、図示しないスクラ
イバーにセットし、最終チップサイズに合わせて、ワー
ク2の片面に、劈開のきっかけとなるスクライブキズ5
を入れる。
【0012】キズ入れが終了したら、搬送フレーム4に
ワーク2を蔽って保護シート1をかぶせる。この保護シ
ート1としては、例えば厚さ50μmのPETフィルム
を用いる。以上のように準備された搬送フレーム4を、
図5に示す劈開装置20にセットする。
ワーク2を蔽って保護シート1をかぶせる。この保護シ
ート1としては、例えば厚さ50μmのPETフィルム
を用いる。以上のように準備された搬送フレーム4を、
図5に示す劈開装置20にセットする。
【0013】次に、本実施例の劈開装置を説明する。図
5に示すように、劈開装置20の基体12には、水平面
を有し、水平方向(紙面上で左右方向)に所定距離往復
移動可能なテーブル8が装着されている。テーブル8の
移動は図示しない例えばステップモータにより行われ
る。テーブル8上には、平坦な面を有する弾性部材13
aを取り付けたホルダー13が固定配置されている。弾
性部材13aは、厚さ5mm以上、ショアA硬度が60
度以上の硬さを有するウレタンゴムより構成されてい
る。弾性部材13aの表面は平滑で、テーブル8の水平
面と平行になっている。
5に示すように、劈開装置20の基体12には、水平面
を有し、水平方向(紙面上で左右方向)に所定距離往復
移動可能なテーブル8が装着されている。テーブル8の
移動は図示しない例えばステップモータにより行われ
る。テーブル8上には、平坦な面を有する弾性部材13
aを取り付けたホルダー13が固定配置されている。弾
性部材13aは、厚さ5mm以上、ショアA硬度が60
度以上の硬さを有するウレタンゴムより構成されてい
る。弾性部材13aの表面は平滑で、テーブル8の水平
面と平行になっている。
【0014】弾性部材13aの左端(図5中では、テー
ブルが最も右に移動した状態を示している)の上部に
は、回転可能なローラ6が配置されている。ローラ6は
その直径が10mm以下であり、例えばSUS304よ
り構成されている。ローラ6はホルダー7に回転可能に
保持されており、その回転軸は、テーブル8(すなわち
弾性部材13aでもある)の水平移動方向に対し直交し
ている(図5において、紙面に対し、垂直方向)。
ブルが最も右に移動した状態を示している)の上部に
は、回転可能なローラ6が配置されている。ローラ6は
その直径が10mm以下であり、例えばSUS304よ
り構成されている。ローラ6はホルダー7に回転可能に
保持されており、その回転軸は、テーブル8(すなわち
弾性部材13aでもある)の水平移動方向に対し直交し
ている(図5において、紙面に対し、垂直方向)。
【0015】ホルダー7は上下に移動可能なステージ1
1の可動部11aに取り付けられており、ステージ11
の固定部11bは、基体12に図示しない部材を介して
固定配置された側体15に、固定・配置されている。ス
テージ11の可動部11aには、図示しない軸にベアリ
ング17が取り付けられており、ベアリング17の下端
には、図示しないモータの回転軸16に取りつけられた
偏芯カム14(以下単にカムともいう)が接している。
モータは側体15に固定配置されている。ここで、カム
14の最大径部がベアリング17と接するときには、ス
テージ11の可動部11aひいてはローラ6が最も弾性
部材から離れた上方にあり、この状態からカム14が1
80度回転して、カム14の最小径部がベアリング17
に接するときには、ローラ6は最も下降する。
1の可動部11aに取り付けられており、ステージ11
の固定部11bは、基体12に図示しない部材を介して
固定配置された側体15に、固定・配置されている。ス
テージ11の可動部11aには、図示しない軸にベアリ
ング17が取り付けられており、ベアリング17の下端
には、図示しないモータの回転軸16に取りつけられた
偏芯カム14(以下単にカムともいう)が接している。
モータは側体15に固定配置されている。ここで、カム
14の最大径部がベアリング17と接するときには、ス
テージ11の可動部11aひいてはローラ6が最も弾性
部材から離れた上方にあり、この状態からカム14が1
80度回転して、カム14の最小径部がベアリング17
に接するときには、ローラ6は最も下降する。
【0016】ステージ11の可動部11aと固定部11
bとの間には、バネ10により、常に可動部11aの下
方向に力がかけられている。ステージ11の可動部11
aには、センサホルダ18を介して変位センサ9が取り
付けられており、変位センサ9は、ステージ11の固定
部11bの上端との距離を検出しており、結局、ローラ
6と弾性部材13との距離を検出するようになってい
る。
bとの間には、バネ10により、常に可動部11aの下
方向に力がかけられている。ステージ11の可動部11
aには、センサホルダ18を介して変位センサ9が取り
付けられており、変位センサ9は、ステージ11の固定
部11bの上端との距離を検出しており、結局、ローラ
6と弾性部材13との距離を検出するようになってい
る。
【0017】一方、ステージ11の可動部11aには、
ヘッドを下側に向けたマイクロメータが取り付けられて
おり、固定部11bには、ヘッドを止めるストッパが取
り付けられており、可動部11aが移動する下方の位置
を設定している。その位置は、マイクロメータを調整す
ることによって変えられる。
ヘッドを下側に向けたマイクロメータが取り付けられて
おり、固定部11bには、ヘッドを止めるストッパが取
り付けられており、可動部11aが移動する下方の位置
を設定している。その位置は、マイクロメータを調整す
ることによって変えられる。
【0018】次に、本実施例の劈開装置による劈開動作
を説明する。まず、初期状態として、カム14の最大径
部がベアリング17に接触した状態で、ローラ6は、弾
性部材13aの上方で、最も高い位置に持ち上げられて
いる。テーブル8は右側に移動してある(図5)。
を説明する。まず、初期状態として、カム14の最大径
部がベアリング17に接触した状態で、ローラ6は、弾
性部材13aの上方で、最も高い位置に持ち上げられて
いる。テーブル8は右側に移動してある(図5)。
【0019】次に、キズ5を付けられた所定のワーク2
が配列され、保護シート1をかぶせられた搬送フレーム
4を、保護シート1が下側になるようにして、弾性部材
13a上に配置する。このとき、ローラ6の回転軸とワ
ーク2のキズ5の方向は、一致している。次に、弾性部
材13aをもつテーブル8と共に、ワーク2がローラー
6付近まで水平に移動する。
が配列され、保護シート1をかぶせられた搬送フレーム
4を、保護シート1が下側になるようにして、弾性部材
13a上に配置する。このとき、ローラ6の回転軸とワ
ーク2のキズ5の方向は、一致している。次に、弾性部
材13aをもつテーブル8と共に、ワーク2がローラー
6付近まで水平に移動する。
【0020】次に、カム14が180度回転して、カム
14の最小径部とベアリング17が接触し、ローラー6
が下降し、ワークを圧接する。このときローラ6の高さ
は、図示しないマイクロメータの設定によって位置決め
される。保護シート1の厚さは50μmであり、ワーク
2の厚さは80μmであり、粘着性樹脂の厚さは120
μmであるので、図2に示すように、tは250μmと
なるが、押付け量Aが40μmから80μmになるよう
に、マイクロメータが調整される。すなわち、押付け量
が40μmの場合には、ローラ6と弾性部材13aの間
隔h1が210μmになるように設定されている。その
位置まで、ローラが下がると、弾性部材13aはへこむ
と同時に、ワーク2に反発力による圧力を加え、キズ5
より劈開が起こり、半導体素子のチップ2Aが分離し、
このチップ2Aは保護シート1と粘着性樹脂シート3の
間に保持される。
14の最小径部とベアリング17が接触し、ローラー6
が下降し、ワークを圧接する。このときローラ6の高さ
は、図示しないマイクロメータの設定によって位置決め
される。保護シート1の厚さは50μmであり、ワーク
2の厚さは80μmであり、粘着性樹脂の厚さは120
μmであるので、図2に示すように、tは250μmと
なるが、押付け量Aが40μmから80μmになるよう
に、マイクロメータが調整される。すなわち、押付け量
が40μmの場合には、ローラ6と弾性部材13aの間
隔h1が210μmになるように設定されている。その
位置まで、ローラが下がると、弾性部材13aはへこむ
と同時に、ワーク2に反発力による圧力を加え、キズ5
より劈開が起こり、半導体素子のチップ2Aが分離し、
このチップ2Aは保護シート1と粘着性樹脂シート3の
間に保持される。
【0021】その後、ローラ6はこの位置に保持されて
いて、テーブル8がさらに所定の速度で矢印a(図3、
図5)の方向に水平移動し、ローラー6がワーク2に圧
接され、次々とキズ5の近辺に達すると劈開を行い、ワ
ーク2からチップ2Aを得る。このときキズ5を開くよ
うに、ローラ6から力が加わるので、良好な劈開が行わ
れる。テーブル8がワーク2の他端まで移動を終える
と、再びカム14が180度回転してローラ6を持ち上
げ、テーブル8は初期位置にもどり、劈開して得られた
チップ2Aを収容した搬送フレーム4ごと交換可能とな
る。
いて、テーブル8がさらに所定の速度で矢印a(図3、
図5)の方向に水平移動し、ローラー6がワーク2に圧
接され、次々とキズ5の近辺に達すると劈開を行い、ワ
ーク2からチップ2Aを得る。このときキズ5を開くよ
うに、ローラ6から力が加わるので、良好な劈開が行わ
れる。テーブル8がワーク2の他端まで移動を終える
と、再びカム14が180度回転してローラ6を持ち上
げ、テーブル8は初期位置にもどり、劈開して得られた
チップ2Aを収容した搬送フレーム4ごと交換可能とな
る。
【0022】搬送フレーム4の保護シート1側を上にし
て、保護シート1をはがせば、容易にチップ2Aを取出
せる。なお、ローラ6の位置決め高さ(すなわちh1)
は、ステージ11に設けた変位センサ9によって監視さ
れ、予め設定した位置から約±5μmずれた場合に警告
を出し、劈開装置の動作を停止するようになっている。
て、保護シート1をはがせば、容易にチップ2Aを取出
せる。なお、ローラ6の位置決め高さ(すなわちh1)
は、ステージ11に設けた変位センサ9によって監視さ
れ、予め設定した位置から約±5μmずれた場合に警告
を出し、劈開装置の動作を停止するようになっている。
【0023】以上説明した本実施例の半導体素子の劈開
装置は、安定した劈開を得るにはローラを弾性部材に押
し込む「押しつけ量Aの微細な設定がポイント」である
ことを見出した結果をもとに、安価・かつ容易な方法で
実現したものであり、また劈開の時に必要な力と角度を
検討し、最適なローラー径と弾性部材の硬度との関係も
見出したものである。
装置は、安定した劈開を得るにはローラを弾性部材に押
し込む「押しつけ量Aの微細な設定がポイント」である
ことを見出した結果をもとに、安価・かつ容易な方法で
実現したものであり、また劈開の時に必要な力と角度を
検討し、最適なローラー径と弾性部材の硬度との関係も
見出したものである。
【0024】ローラの高さ位置決め時のストッパーとし
て、手動ステージのマイクロメータヘッドを用いている
ので、繰り返しの位置決め精度に優れ、かつ安価であ
り、しかも、その動作は上方向に単純に逃がす手段があ
ればよい。さらにこの逃がす手段にカムを用いたことに
よりモータの単純な半回転動作でローラを上昇させるこ
とができ、高価な空圧回路もしくはサーボモータなどの
複雑な制御を用いる必要がない。
て、手動ステージのマイクロメータヘッドを用いている
ので、繰り返しの位置決め精度に優れ、かつ安価であ
り、しかも、その動作は上方向に単純に逃がす手段があ
ればよい。さらにこの逃がす手段にカムを用いたことに
よりモータの単純な半回転動作でローラを上昇させるこ
とができ、高価な空圧回路もしくはサーボモータなどの
複雑な制御を用いる必要がない。
【0025】このときポイントとなるローラの高さ(h
1)を、ステージの可動部に設けた精密な変位センサに
より、常に最適な押しつけ量となっている事を監視で
き、不用意に位置決めが変わってしまったとき等は劈開
装置を自動的に停止し、劈開不良を未然に防止する。
1)を、ステージの可動部に設けた精密な変位センサに
より、常に最適な押しつけ量となっている事を監視で
き、不用意に位置決めが変わってしまったとき等は劈開
装置を自動的に停止し、劈開不良を未然に防止する。
【0026】劈開に必要な押し付け量Aは、検討の結
果、微細な量で十分であり(40μmから80μmの範
囲が好適である)、劈開不良の原因の一つとして、この
押し付け量を大きくとりすぎて、ローラ部以外でキズの
裏側に折れ、正常な劈開が得られないことがあった。そ
こで、本実施例では、弾性部材の硬度を硬いショアA硬
度で60度以上とし、ほんのわずかな押しつけ量で十分
な劈開力を得られる様にした。
果、微細な量で十分であり(40μmから80μmの範
囲が好適である)、劈開不良の原因の一つとして、この
押し付け量を大きくとりすぎて、ローラ部以外でキズの
裏側に折れ、正常な劈開が得られないことがあった。そ
こで、本実施例では、弾性部材の硬度を硬いショアA硬
度で60度以上とし、ほんのわずかな押しつけ量で十分
な劈開力を得られる様にした。
【0027】また、例えば劈開が斜めになってしまう不
良や、劈開位置で割れていない等の不良は、ローラ径が
大きい程、押しつけ時の最大応力位置が不明確になるた
めである。ここでは、ローラ径を10mm以下とすれば
良い。このローラ方式の場合、複数のワークを並べたと
きに、キズが一直線になっていなくても、各ワーク毎の
劈開を正しく行える。さらに、ワークを保護する為の保
護シートとして、シリコーン離型材による剥離処理(粘
着シートの剥離フィルムに対し一般的に行われている剥
離処理)を施したものを使用すると、ワークにキズを入
れた面がこの剥離処理を施した保護シートに接触する事
により、劈開開始部の滑りが良くなり、開口動作を妨げ
ることがなくなるため、より安定した劈開が得られる。
良や、劈開位置で割れていない等の不良は、ローラ径が
大きい程、押しつけ時の最大応力位置が不明確になるた
めである。ここでは、ローラ径を10mm以下とすれば
良い。このローラ方式の場合、複数のワークを並べたと
きに、キズが一直線になっていなくても、各ワーク毎の
劈開を正しく行える。さらに、ワークを保護する為の保
護シートとして、シリコーン離型材による剥離処理(粘
着シートの剥離フィルムに対し一般的に行われている剥
離処理)を施したものを使用すると、ワークにキズを入
れた面がこの剥離処理を施した保護シートに接触する事
により、劈開開始部の滑りが良くなり、開口動作を妨げ
ることがなくなるため、より安定した劈開が得られる。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る半導
体素子の劈開装置は、請求項1及び2記載によれば、偏
芯カムが設けられ、ローラを回転可能に保持し、前記偏
芯カムの回転により上下方向に移動するステージと、前
記ステージに配置された、前記ローラの下端位置を調整
可能に規定するストッパと、前記ステージに配置された
前記下端位置を検出する変位センサと、前記弾性部材を
水平方向に移動する移動手段とを有することにより、安
定した劈開力を得ることができ、同時に複数のバー状ワ
ークの劈開もでき、効率良く劈開を行なえる生産性の高
い半導体素子の劈開装置を提供できるという効果があ
る。
体素子の劈開装置は、請求項1及び2記載によれば、偏
芯カムが設けられ、ローラを回転可能に保持し、前記偏
芯カムの回転により上下方向に移動するステージと、前
記ステージに配置された、前記ローラの下端位置を調整
可能に規定するストッパと、前記ステージに配置された
前記下端位置を検出する変位センサと、前記弾性部材を
水平方向に移動する移動手段とを有することにより、安
定した劈開力を得ることができ、同時に複数のバー状ワ
ークの劈開もでき、効率良く劈開を行なえる生産性の高
い半導体素子の劈開装置を提供できるという効果があ
る。
【図1】従来例の半導体素子の劈開装置を説明するため
の要部断面構成配置図である。
の要部断面構成配置図である。
【図2】本発明に係る半導体素子の劈開装置の実施例を
説明するための要部断面構成配置図である。
説明するための要部断面構成配置図である。
【図3】図2に示すローラとワークの配置の斜視図であ
る。
る。
【図4】搬送フレームに配置したワークを示す斜視図で
あり、(a)は組み立て配置図を、(b)は(a)にお
いてA部に示されるワークの拡大図である。
あり、(a)は組み立て配置図を、(b)は(a)にお
いてA部に示されるワークの拡大図である。
【図5】本発明による半導体素子の劈開装置の実施例を
示す概略構成図である。
示す概略構成図である。
1…保護シート、2…ワーク、2A…チップ、3…粘着
性樹脂シート、4…搬送フレーム、5…スクライブキ
ズ、6…ローラ、7…ホルダー、8…テーブル、9…変
位センサ、10…バネ、11…ステージ、12…基体、
13…ホルダー、13a…弾性部剤、14…カム、15
…側体、16…回転軸、17…ベアリング、18…セン
サホルダー、20…劈開装置、104劈開部、105…
カッター、106…シート、107…シート、111…
ワーク
性樹脂シート、4…搬送フレーム、5…スクライブキ
ズ、6…ローラ、7…ホルダー、8…テーブル、9…変
位センサ、10…バネ、11…ステージ、12…基体、
13…ホルダー、13a…弾性部剤、14…カム、15
…側体、16…回転軸、17…ベアリング、18…セン
サホルダー、20…劈開装置、104劈開部、105…
カッター、106…シート、107…シート、111…
ワーク
Claims (2)
- 【請求項1】平滑な表面を有し、水平方向に往復移動す
る弾性部材と、前記弾性部材の上方に配置され、上下方
向に往復移動するとともに回転可能なローラとを有し、
劈開すべき位置に予めキズの形成された半導体ワークを
前記弾性部材上に配置し、前記ローラを前記半導体ワー
クに圧接して前記弾性部材を移動させることにより、前
記半導体ワークを劈開して半導体チップを得る半導体素
子の劈開装置において、 偏芯カムが設けられ、前記ローラを回転可能に保持し、
前記偏芯カムの回転により上下方向に移動するステージ
と、前記ステージに配置された、前記ローラの下端位置
を調整可能に規定するストッパと、前記ステージに配置
された前記下端位置を検出する変位センサと、前記弾性
部材を水平方向に移動する移動手段とを有することを特
徴とする半導体素子の劈開装置。 - 【請求項2】前記ローラの直径を10mm以下とし、前
記下端位置を前記弾性部材表面から、前記ワークの厚さ
より40μmから80μm短い距離の位置とし、前記弾
性部材をショアA硬度で60度以上としたことを特徴と
する請求項1に記載の半導体素子の劈開装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000340466A JP2002151443A (ja) | 2000-11-08 | 2000-11-08 | 半導体素子の劈開装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000340466A JP2002151443A (ja) | 2000-11-08 | 2000-11-08 | 半導体素子の劈開装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002151443A true JP2002151443A (ja) | 2002-05-24 |
Family
ID=18815375
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000340466A Pending JP2002151443A (ja) | 2000-11-08 | 2000-11-08 | 半導体素子の劈開装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002151443A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008205035A (ja) * | 2007-02-16 | 2008-09-04 | Nec Electronics Corp | ウェーハのへき開方法及びウェーハのへき開に用いられるウェーハの支持シート |
JP2015079825A (ja) * | 2013-10-16 | 2015-04-23 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | エキスパンダ、破断装置及び分断方法 |
JP2015079824A (ja) * | 2013-10-16 | 2015-04-23 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 破断装置及び分断方法 |
JP2015079826A (ja) * | 2013-10-16 | 2015-04-23 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 弾性支持板、破断装置及び分断方法 |
JP2016043688A (ja) * | 2014-08-21 | 2016-04-04 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 複合基板のブレイク方法及びブレイク装置 |
JP2020178058A (ja) * | 2019-04-19 | 2020-10-29 | ハイソル株式会社 | 層状物質劈開方法 |
-
2000
- 2000-11-08 JP JP2000340466A patent/JP2002151443A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008205035A (ja) * | 2007-02-16 | 2008-09-04 | Nec Electronics Corp | ウェーハのへき開方法及びウェーハのへき開に用いられるウェーハの支持シート |
CN104552624A (zh) * | 2013-10-16 | 2015-04-29 | 三星钻石工业股份有限公司 | 弹性支撑板、破断装置以及分断方法 |
JP2015079824A (ja) * | 2013-10-16 | 2015-04-23 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 破断装置及び分断方法 |
JP2015079826A (ja) * | 2013-10-16 | 2015-04-23 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 弾性支持板、破断装置及び分断方法 |
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CN104552629B (zh) * | 2013-10-16 | 2017-11-10 | 三星钻石工业股份有限公司 | 破断装置以及分断方法 |
TWI620635B (zh) * | 2013-10-16 | 2018-04-11 | Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd | Elastic support plate, breaking device and breaking method |
TWI620634B (zh) * | 2013-10-16 | 2018-04-11 | Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd | Expander, breaking device and breaking method |
TWI620636B (zh) * | 2013-10-16 | 2018-04-11 | Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd | Fracture device and breaking method |
JP2016043688A (ja) * | 2014-08-21 | 2016-04-04 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 複合基板のブレイク方法及びブレイク装置 |
JP2020178058A (ja) * | 2019-04-19 | 2020-10-29 | ハイソル株式会社 | 層状物質劈開方法 |
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---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050623 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050628 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20051025 |