JP2002057092A - Water-cooled noncontact cold plate - Google Patents
Water-cooled noncontact cold plateInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウエハー、液
晶表示装置用基板、プラズマディスプレイパネル用基板
等の各種被熱処理基板に対して冷却処理を行うための水
冷式非接触型コールドプレートに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a water-cooled non-contact cold plate for cooling various substrates to be heat-treated, such as a semiconductor wafer, a substrate for a liquid crystal display, and a substrate for a plasma display panel. .
【0002】[0002]
【従来の技術】上述した各種被熱処理基板のうち例えば
液晶表示装置用基板は、フォトリソグラフィ技術によ
り、基板の表面に種々の薄膜が繰り返しパターン形成さ
れる。フォトリソグラフィ技術では、基板の表面にレジ
スト膜を塗布し、露光機で露光し、レジスト膜を現像す
ることにより所定のレジスト膜を基板上に形成する。か
かるフォトリソグラフィ技術における露光精度を高める
ためには露光処理前の基板温度を厳密に管理し、基板の
熱伸縮による露光位置、露光焦点のズレを最小に管理す
る必要がある。このため、基板を露光機に搬入する際に
は、基板全面をコールドプレートにて所定の温度に均一
に冷却する必要がある。2. Description of the Related Art Among the various substrates to be heat-treated, for example, a substrate for a liquid crystal display device has various thin films repeatedly formed on the surface of the substrate by photolithography. In the photolithography technique, a predetermined resist film is formed on a substrate by applying a resist film on the surface of a substrate, exposing the resist film with an exposure device, and developing the resist film. In order to increase the exposure accuracy in such photolithography technology, it is necessary to strictly control the substrate temperature before the exposure processing, and to minimize the deviation of the exposure position and the exposure focus due to thermal expansion and contraction of the substrate. Therefore, when carrying the substrate into the exposure apparatus, it is necessary to uniformly cool the entire surface of the substrate to a predetermined temperature by using a cold plate.
【0003】一方、半導体装置を製造する際のフォトリ
ソグラフィ技術では、基板上に金属薄膜をスッパタ形成
し、その上にフォトレジストを塗布し、プリベークし、
電子線描画装置でパターンを描画した後、レジスト現像
処理、ポストベーク、金属薄膜の選択エッチング、レジ
スト剥離等の各工程を経て完成される。この半導体装置
を製造する際のフォトリソグラフィ技術では基板のベー
ク後の冷却が半導体の品質に大きく影響を与える。特に
最近では基板が大型化し、基板の中央部に熱が籠もりが
ちになり、基板に反りが生じることがある。On the other hand, in a photolithography technique for manufacturing a semiconductor device, a metal thin film is formed on a substrate by sputtering, and a photoresist is applied thereon and prebaked.
After the pattern is drawn by the electron beam drawing apparatus, it is completed through various steps such as resist development processing, post-baking, selective etching of the metal thin film, and resist peeling. In the photolithography technology for manufacturing the semiconductor device, cooling of the substrate after baking greatly affects the quality of the semiconductor. Particularly in recent years, the size of the substrate has increased, and heat tends to be trapped in the central portion of the substrate, and the substrate may be warped.
【0004】このため、基板を均一に冷却するコールド
プレートが各種提案されている。 その一例として特開
平11−329926公報には、図5に示すようなコー
ルドプレート22が示されている。即ち、このコールド
プレート22は、水平な基板冷却面(受熱面)23を有
し、この基板冷却面23には、球状のプロキシミティボ
ール24(間隙部材)が複数個突設されており、処理室
21に収納されている。コールドプレート22の内部に
は、第1冷却配管32および第2冷却配管33の2系統
の冷却水経路が、基板冷却面23からほぼ等しい深さの
位置に形成されている(図5では便宜上深さを変えて図
示してある)。これらの冷却配管32,33には、温調
水供給装置31からの温度調整された冷却水(冷却用流
体)がそれぞれ供給され、第1および第2冷却配管3
2,33を出た冷却水は、再び温調水供給装置31に帰
還され温度調整されるようになっている。For this reason, various cold plates for uniformly cooling a substrate have been proposed. As one example, JP-A-11-329926 discloses a cold plate 22 as shown in FIG. That is, the cold plate 22 has a horizontal substrate cooling surface (heat receiving surface) 23, and a plurality of spherical proximity balls 24 (gap members) are protrudingly provided on the substrate cooling surface 23. It is stored in the room 21. Inside the cold plate 22, two cooling water paths, a first cooling pipe 32 and a second cooling pipe 33, are formed at substantially the same depth from the substrate cooling surface 23 (in FIG. It is shown differently.) Temperature-controlled cooling water (cooling fluid) from the temperature-regulated water supply device 31 is supplied to the cooling pipes 32 and 33, respectively.
The cooling water that has exited from 2 and 33 is returned to the temperature control water supply device 31 again so that the temperature is adjusted.
【0005】また、コールドプレート22を上下方向に
貫通するように、複数本のリフトピン25が配置されて
おり、このリフトピン25と、このリフトピン25を昇
降するエアシリンダなどを含む昇降駆動機構26とによ
って、基板(被冷却部品)Aをコールドプレートの基板
冷却面(受熱面)23に対して近接/離隔させる近接/
離隔機構が構成されている。リフトピン25は、その上
端に基板Aを支持することができ、昇降駆動機構26に
よる昇降によって、基板Aを、図示しない基板搬送ロボ
ットとの間での基板受け渡しのための基板受け渡し高さ
(二点鎖線の位置)に支持できる他、コールドプレート
22の基板冷却面23よりも下方にその上端を埋没させ
ることにより、基板Aを基板冷却面23のプロキシミテ
ィボール24上に載置することができる(実線の位
置)。[0005] A plurality of lift pins 25 are disposed so as to penetrate the cold plate 22 in the vertical direction. The lift pins 25 and a lifting drive mechanism 26 including an air cylinder for raising and lowering the lift pins 25 are provided. , The proximity of the substrate (component to be cooled) A to / from the substrate cooling surface (heat receiving surface) 23 of the cold plate.
A separation mechanism is configured. The lift pins 25 can support the substrate A at the upper end thereof, and lift the substrate A by a lifting drive mechanism 26 to transfer the substrate A to a substrate transfer robot (not shown). In addition to supporting the substrate A on the proximity ball 24 of the substrate cooling surface 23 by burying the upper end thereof below the substrate cooling surface 23 of the cold plate 22 (in addition to the position of the chain line). Solid line position).
【0006】処理室21の基板搬送ロボットが対向可能
な前面隔壁34には、基板受け渡し高さに対応する位置
に、基板通過口27が形成されており、この基板通過口
27を開閉するためのシャッタ機構28が設けられ、シ
ャッタ板29を、基板通過口27を閉塞した閉成位置
と、基板通過口27を開放した開成位置との間で移動さ
せるように構成されている。シャッタ板29を開成位置
として基板通過口27を開放した状態では、基板搬送ロ
ボットの基板保持ハンドは、処理室21内に入り込ん
で、リフトピン25との間で基板Aの授受を行うことが
できる。[0006] A substrate passage opening 27 is formed at a position corresponding to the substrate transfer height on a front partition wall 34 of the processing chamber 21 to which the substrate transfer robot can face, and for opening and closing the substrate passage opening 27. A shutter mechanism 28 is provided to move the shutter plate 29 between a closed position in which the substrate passage opening 27 is closed and an open position in which the substrate passage opening 27 is opened. In a state where the shutter plate 29 is opened and the substrate passage opening 27 is opened, the substrate holding hand of the substrate transfer robot can enter the processing chamber 21 and exchange the substrate A with the lift pins 25.
【0007】しかしながら、かかる構成のコールドプレ
ート22では、基板冷却面23がほぼ水平となっている
ために、基板Aの熱は外気に晒される周囲ほど早く冷却
され、熱が籠もる中心部ほど冷却速度が遅くなるため基
板Aを所定の温度に均一な速さで冷却することができ
ず、基板Aに反りや歪を発生させる要因となっていた。
また、コールドプレート22への基板Aの着脱は基板A
をロッボトにより移動させる方式をとっているために、
コールドプレートととは別の位置に配置されているベー
キング装置(図示せず)で高温に焼かれた基板Aまたは
基板に搭載の各種素材が高温の状態で外気に触れること
になり、基板や基板に搭載の各種素材(被冷却部品)が
酸化され品質劣化の原因を招く恐れが発生する等の問題
があった。本発明は、上記の問題点を解消し、被冷却部
品の全面を均一に冷却処理することができる水冷式非接
触型のコールドプレートを提供することにある。However, in the cold plate 22 having such a configuration, since the substrate cooling surface 23 is substantially horizontal, the heat of the substrate A is cooled faster as the periphery is exposed to the outside air, and the heat in the central portion where the heat is trapped is reduced. Since the cooling rate is slow, the substrate A cannot be cooled to a predetermined temperature at a uniform speed, which causes the substrate A to be warped or distorted.
Further, the attachment and detachment of the substrate A to and from the cold plate 22
Is moved by robot.
The substrate A baked at a high temperature by a baking device (not shown) arranged at a position different from the cold plate or various materials mounted on the substrate come into contact with the outside air at a high temperature, and the substrate or the substrate There is a problem that various materials (components to be cooled) mounted on the device are oxidized, which may cause deterioration of quality. An object of the present invention is to provide a water-cooled non-contact type cold plate which can solve the above-mentioned problems and can uniformly cool the entire surface of a component to be cooled.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、被
冷却部品を非接触にて冷却する水冷式非接触型コールド
プレートにおいて、被冷却部品と対面するコールドプレ
ートの受熱面を非平面形状とし、非冷却部品を均一に冷
却するように構成したことを特徴とする水冷式非接触型
コールドプレートである。That is, the present invention relates to a water-cooled non-contact cold plate for cooling a component to be cooled in a non-contact manner, wherein a heat receiving surface of the cold plate facing the component to be cooled has a non-planar shape. And a water-cooled non-contact cold plate characterized by uniformly cooling non-cooled parts.
【0009】また、本発明は、被冷却部品を非接触にて
冷却する水冷式非接触型コールドプレートにおいて、被
冷却部品と対面するコールドプレートの受熱面を非平面
形状とし、かつ、前記コールドプレートにガイドピン案
内切欠部を設け、該切欠部近傍のコールドプレート受熱
面に突起部を設けて被冷却部品の放熱面に近接させ、非
冷却部品を均一に冷却するように構成したことを特徴と
する水冷式非接触型コールドプレートである。The present invention also provides a water-cooled non-contact cold plate for cooling a component to be cooled in a non-contact manner, wherein the cold plate facing the component to be cooled has a non-planar heat receiving surface, and the cold plate has a non-planar shape. The notch is provided with a guide pin guide notch, and a projection is provided on the cold plate heat receiving surface near the notch so as to be close to the heat radiation surface of the component to be cooled, so that the non-cooled component is uniformly cooled. This is a water-cooled non-contact cold plate.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明水冷式非接触型コー
ルドプレートを図示した実施形態について説明する。図
は本発明の実施形態を示すもので、図1はコールドプレ
ート1をベーキング装置11に挿入する前の状態を示
し、図2はコールドプレート1をベーキング装置11に
挿入した状態を示し、図3はコールドプレート1をベー
キング装置11から取り出した状態を示し、図4はコー
ルドプレート1を構成する部品を分解して示している。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing a water-cooled non-contact type cold plate according to the present invention. FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a state before the cold plate 1 is inserted into the baking apparatus 11, FIG. 2 shows a state where the cold plate 1 is inserted into the baking apparatus 11, and FIG. Shows a state in which the cold plate 1 is taken out of the baking apparatus 11, and FIG. 4 shows an exploded view of components constituting the cold plate 1.
【0011】コールドプレート1はプレート本体2、該
プレート本体2に組み込まれた冷却配管7とから構成さ
れている。プレート本体2は良熱伝導性のアルミ、また
は銅等からなり、その上面である受熱面3は中心部ほど
高さが高くなる非平面形状になっている(図4(ロ)参
照)。6は被冷却部品(例えば基板)Aを支えるギャッ
プピン(プロキシミティボール、針状突起)で、図示す
る実施形態ではコールドプレート上面に6点設けてあ
り、被冷却部品Aをプレート本体2の受熱面3に直接触
れないよう、即ち非接触状態で支持するように構成され
ている。7はコールドプレート本体2の下面に組み込ま
れた冷却配管で、該冷却配管7は冷却用流体供給装置8
に接続され、冷却水または温度調節された液体(以下冷
却用流体という)が供給される。なお、図示した実施形
態では1系統の冷却配管7を示したが、この冷却配管7
は複数系統に分割してもよいことは勿論である。The cold plate 1 is composed of a plate body 2 and a cooling pipe 7 incorporated in the plate body 2. The plate body 2 is made of aluminum, copper, or the like having good thermal conductivity, and the heat receiving surface 3, which is the upper surface, has a non-planar shape whose height increases toward the center (see FIG. 4B). Reference numeral 6 denotes a gap pin (proximity ball, needle-like projection) for supporting a cooled component (for example, a substrate) A. In the illustrated embodiment, six points are provided on the upper surface of the cold plate, and the cooled component A receives heat from the plate body 2. The surface 3 is configured not to directly touch, that is, to support the surface 3 in a non-contact state. Reference numeral 7 denotes a cooling pipe incorporated in the lower surface of the cold plate body 2, and the cooling pipe 7 is a cooling fluid supply device 8.
To supply cooling water or a liquid whose temperature has been adjusted (hereinafter referred to as a cooling fluid). In the illustrated embodiment, a single cooling pipe 7 is shown.
May be divided into a plurality of systems.
【0012】図において4はコールドプレート本体2に
設けたガイドピン案内切欠部で、該案内切欠部4は後述
するベーキング装置11に設けたリフトピン12を跨ぐ
ように設けられている。5は前記案内切欠部4近傍の受
熱面3が被冷却部品Aの放熱面に近接するように設けた
突出部で、案内切欠部4を設けることによるプレート本
体2の冷却面積の減少を、図4(ロ)並びに図4(ハ)
に拡大して示すように突出部5を被冷却部品Aに近づけ
ることで解消する構造としている。11はベーキング装
置で、該ベーキング装置11には被冷却部品Aを載置す
るリフトピン12が昇降自在に設けら、昇降駆動装置1
3により昇降される。In FIG. 1, reference numeral 4 denotes a guide pin guide notch provided in the cold plate body 2, and the guide notch 4 is provided so as to straddle a lift pin 12 provided in a baking device 11 described later. Numeral 5 denotes a protrusion provided so that the heat receiving surface 3 near the guide notch 4 is close to the heat radiating surface of the component A to be cooled, and a reduction in the cooling area of the plate body 2 due to the provision of the guide notch 4 is illustrated. 4 (b) and FIG. 4 (c)
As shown in the enlarged view of FIG. Reference numeral 11 denotes a baking device, which is provided with a lift pin 12 on which the component to be cooled A is placed so as to be able to move up and down.
3 to move up and down.
【0013】かかる本発明コールドプレート1により、
半導体ウエハー、液晶表示装置用基板、プラズマディス
プレイパネル用基板等、各種熱処理された後冷却される
被冷却部品Aを冷却するには、図1に示すようにベーキ
ング装置11で焼成された被冷却部品Aの下面にコール
ドプレート1を挿入する。コールドプレート1には案内
切欠部4が設けられているため、ベーキング装置11の
リフトピン12が障害となることなくコールドプレート
1を焼成された被冷却部品Aの下側に挿入することがで
きる(図2参照)。According to the cold plate 1 of the present invention,
In order to cool a component A to be cooled after being subjected to various heat treatments, such as a semiconductor wafer, a substrate for a liquid crystal display device, and a substrate for a plasma display panel, the component to be cooled baked by the baking device 11 as shown in FIG. Insert the cold plate 1 into the lower surface of A. Since the cold plate 1 is provided with the guide notch 4, the cold plate 1 can be inserted below the fired component A without the lift pins 12 of the baking device 11 becoming an obstacle (FIG. 2).
【0014】コールドプレート1を被冷却部品Aの下側
に挿入したならばリフトピン昇降駆動装置13を駆動さ
せてリフトピン12を降ろすことにより被冷却部品Aは
図2に示すようにコールドプレート本体2に設けたギャ
ップピン6上に降り、コールドプレート1により冷却が
開始される。なお、冷却用流体の導通についてはコール
ドプレート1をベーキング装置11に挿入する前から通
しておくか、ベーキング装置11から被冷却部品Aを出
した状態で導入するかは被冷却部品Aの冷却条件により
選択する。被冷却部品A等が酸化性の雰囲気を嫌う場合
にはベーキング装置11内で冷却し、被冷却部品Aの温
度が所定の温度まで下がった状態で図3に示すように取
り出すと良い。When the cold plate 1 is inserted below the component A to be cooled, the lift pin 12 is driven to lower the lift pins 12 so that the component A to be cooled is transferred to the cold plate body 2 as shown in FIG. It descends on the provided gap pin 6, and cooling is started by the cold plate 1. Regarding the conduction of the cooling fluid, it is determined whether the cold plate 1 is passed before the cold plate 1 is inserted into the baking device 11 or the cold plate 1 is introduced with the component A to be cooled out of the baking device 11. Select by. When the cooled component A or the like does not like the oxidizing atmosphere, it is preferable to cool the component A in the baking apparatus 11 and take out the cooled component A as shown in FIG.
【0015】次に、被冷却部品Aの温度を所定の温度に
均一に保ちフォトレジスト処理するような場合には、被
冷却部品Aを本発明コールドプレート1のギャップピン
6上にセットし、冷却配管7に所定温度の冷却用流体を
流して所定時間温度調整することにより、被冷却部品全
体を均一な温度に保つことができ、優れたフォトレジス
ト処理を行うことができる。Next, in the case where the temperature of the component A to be cooled is uniformly maintained at a predetermined temperature and the photoresist processing is performed, the component A to be cooled is set on the gap pins 6 of the cold plate 1 of the present invention and cooled. By flowing a cooling fluid at a predetermined temperature through the pipe 7 and adjusting the temperature for a predetermined time, the entire component to be cooled can be maintained at a uniform temperature, and excellent photoresist processing can be performed.
【0016】本発明コールドプレート1の受熱面3を非
平面平常とし、中心ほど被冷却部品Aに近接するように
構成したので、被冷却部品Aが放散する熱を中心部ほど
吸収し易くなり、被冷却部品Aの外周部側は外気との接
触面積が広いため外気による冷却効果が加速される。従
って、熱の集中する被冷却部品Aの中心部はコールドプ
レート本体2の受熱面3との接近による吸熱効果で、外
周部は外気とコールドプレートとの吸熱効果で被冷却部
品Aはそれぞれ冷却されるため全体として均等に冷却さ
れる。更に、本発明ではコールドプレート本体2に案内
切欠部4を設けてコールドプレート1のベーキング装置
11からの出し入れを容易にすると共に、該案内切欠部
4近傍を突出部5として被冷却部品Aに近接させ、案内
切欠部4を設けることによるプレート本体2の冷却面積
の減少をカバーしたので、被冷却部品Aの冷却斑を解消
でき、被冷却部品Aを更に均等に冷却することができ
る。Since the heat receiving surface 3 of the cold plate 1 of the present invention is made non-planar and normal to the part to be cooled A closer to the center, the heat dissipated by the part to be cooled A is more easily absorbed at the center. Since the outer peripheral side of the cooled component A has a large contact area with the outside air, the cooling effect by the outside air is accelerated. Therefore, the cooled part A is cooled by the heat absorbing effect of the central part of the cooled part A where the heat is concentrated due to the approach of the heat receiving surface 3 of the cold plate body 2 and the outer part is cooled by the heat absorbing effect of the outside air and the cold plate. Therefore, it is cooled uniformly as a whole. Further, according to the present invention, a guide notch 4 is provided in the cold plate main body 2 so that the cold plate 1 can be easily taken in and out of the baking device 11, and the vicinity of the guide notch 4 is formed as a protruding portion 5 near the component A to be cooled. Since the reduction in the cooling area of the plate body 2 due to the provision of the guide notch 4 is covered, the unevenness of the cooling of the component A to be cooled can be eliminated, and the component A to be cooled can be more uniformly cooled.
【0017】[0017]
【発明の効果】本発明は上述したように、コールドプレ
ート1のプレート本体2の受熱面3を非平面とし、被冷
却部品Aの熱集中部ほど該被冷却部品Aとプレート受熱
面3との距離を近接させたことにより被冷却部品Aを均
一に冷却することができ、更に、プレート本体2に案内
切欠部4を設けると共に該案内切欠部4近傍に突出部5
を設けて被冷却部品Aとの距離を近接せしめ、被冷却部
品Aの均一冷却効果を高めたものである。従って、被冷
却部品Aを焼成後冷却しても被冷却部品Aに反りが生じ
ないことは勿論、歪みも最小限に抑えるることができ、
半導体ウエハー、液晶表示装置用基板、プラズマディス
プレイパネル用基板等の製造に適したコールドプレート
を提供することができ、その工業的効果は優れたもので
ある。As described above, according to the present invention, the heat receiving surface 3 of the plate main body 2 of the cold plate 1 is made non-planar, and the more the heat concentrated portion of the component A to be cooled, the more the heat receiving portion 3 and the plate heat receiving surface 3 By making the distances closer, the component to be cooled A can be uniformly cooled. Further, the guide notch 4 is provided on the plate body 2 and the protrusion 5 is provided near the guide notch 4.
Is provided to make the distance to the cooled component A closer, thereby enhancing the uniform cooling effect of the cooled component A. Accordingly, even if the cooled part A is cooled after firing, the warped part A is not warped and the distortion can be minimized.
A cold plate suitable for manufacturing a semiconductor wafer, a substrate for a liquid crystal display device, a substrate for a plasma display panel, and the like can be provided, and the industrial effect thereof is excellent.
【図1】本発明の一実施形態を示す説明図で、コールド
プレートをベーキング装置に挿入する前の状況を示す。FIG. 1 is an explanatory view showing one embodiment of the present invention, showing a state before a cold plate is inserted into a baking apparatus.
【図2】本発明の一実施形態を示す説明図で、コールド
プレートをベーキング装置に挿入した状況を示す。FIG. 2 is an explanatory view showing one embodiment of the present invention, and shows a state where a cold plate is inserted into a baking apparatus.
【図3】本発明の一実施形態を示す説明図で、コールド
プレートをベーキング装置から取り出した状況を示すFIG. 3 is an explanatory view showing one embodiment of the present invention, showing a state where a cold plate is taken out of a baking apparatus.
【図4】本発明の一実施形態を示す説明図で、コールド
プレートの部品構成図である。FIG. 4 is an explanatory view showing one embodiment of the present invention, and is a component configuration diagram of a cold plate.
【図5】従来のコールドプレートの一例を示す説明図で
ある。FIG. 5 is an explanatory view showing an example of a conventional cold plate.
1 コールドプレート 2 プレート本体 3 受熱面 4 ガイドピン案内切欠部 5 突出部 6 ガップピン 7 冷却配管 11 ベーキング装置 12 ガイドピン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cold plate 2 Plate main body 3 Heat receiving surface 4 Guide pin guide notch 5 Projection 6 Gap pin 7 Cooling pipe 11 Baking device 12 Guide pin
フロントページの続き Fターム(参考) 3L044 AA04 BA05 CA14 DB01 EA04 KA04 5F031 CA02 CA05 HA06 HA08 HA33 HA38 MA30 PA11 5F046 KA04 KA10 Continued on the front page F term (reference) 3L044 AA04 BA05 CA14 DB01 EA04 KA04 5F031 CA02 CA05 HA06 HA08 HA33 HA38 MA30 PA11 5F046 KA04 KA10
Claims (2)
非接触型コールドプレートにおいて、被冷却部品と対面
するコールドプレートの受熱面を非平面形状とし、非冷
却部品を均一に冷却するように構成したことを特徴とす
る水冷式非接触型コールドプレート。In a water-cooled non-contact cold plate for cooling a component to be cooled in a non-contact manner, a heat receiving surface of the cold plate facing the component to be cooled has a non-planar shape so that the non-cooled component is uniformly cooled. A water-cooled non-contact cold plate, characterized in that:
非接触型コールドプレートにおいて、被冷却部品と対面
するコールドプレートの受熱面を非平面形状とし、か
つ、前記コールドプレートにガイドピン案内切欠部を設
け、該切欠部近傍のコールドプレート受熱面に突出部を
設けて被冷却部品の放熱面に近接させ、非冷却部品を均
一に冷却するように構成したことを特徴とする水冷式非
接触型コールドプレート。2. A water-cooled non-contact cold plate for cooling a component to be cooled in a non-contact manner, wherein a heat receiving surface of the cold plate facing the component to be cooled has a non-planar shape and guides a guide pin to the cold plate. A notch is provided, and a projection is provided on the cold plate heat receiving surface near the notch so as to be close to the heat radiating surface of the component to be cooled, so that the non-cooling component is uniformly cooled. Contact cold plate.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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Family
ID=18735193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000244510A Pending JP2002057092A (en) | 2000-08-11 | 2000-08-11 | Water-cooled noncontact cold plate |
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Cited By (5)
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- 2000-08-11 JP JP2000244510A patent/JP2002057092A/en active Pending
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