JP2001177388A - ドライブ回路 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 出力段の高電位側にPチャネルMOSFET
を使用したドライバ回路において、高速な動作を可能と
し且つ消費電流を削減することにある。 【解決手段】 第1の電源系の高電位側(VDD)にソ
ースが接続されドレインが出力端子に接続されたPチャ
ネルFET(M1)と、上記第1電源系よりも低い第2
の電源系の電源電圧(Va)で動作する出力制御回路
(IN1)とを備え、上記出力制御回路(IN1)の出
力電圧に基づきPチャネルFET(M1)のゲートを制
御するようにしたドライブ回路(1)において、出力制
御回路(IN1)の出力端子とPチャネルFET(M
1)のゲート端子との間にコンデンサ(C1)が接続さ
れ、且つ、コンデンサ(C1)とPチャネルFET(M
1)のゲート端子との接続点と第1電源系の電源電圧端
子とを接続または遮断する初期設定用のスイッチ(S
W)を設けている。
を使用したドライバ回路において、高速な動作を可能と
し且つ消費電流を削減することにある。 【解決手段】 第1の電源系の高電位側(VDD)にソ
ースが接続されドレインが出力端子に接続されたPチャ
ネルFET(M1)と、上記第1電源系よりも低い第2
の電源系の電源電圧(Va)で動作する出力制御回路
(IN1)とを備え、上記出力制御回路(IN1)の出
力電圧に基づきPチャネルFET(M1)のゲートを制
御するようにしたドライブ回路(1)において、出力制
御回路(IN1)の出力端子とPチャネルFET(M
1)のゲート端子との間にコンデンサ(C1)が接続さ
れ、且つ、コンデンサ(C1)とPチャネルFET(M
1)のゲート端子との接続点と第1電源系の電源電圧端
子とを接続または遮断する初期設定用のスイッチ(S
W)を設けている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、MOS集積回路
化されたドライブ回路さらには電源電圧の高電位側に配
設されるプッシュ側トランジスタとしてPチャネルFE
Tを有するドライブ回路に適用して有用な技術に関し、
例えばモータを電流制御する同期整流制御用ICの出力
回路に利用して特に有用な技術である。
化されたドライブ回路さらには電源電圧の高電位側に配
設されるプッシュ側トランジスタとしてPチャネルFE
Tを有するドライブ回路に適用して有用な技術に関し、
例えばモータを電流制御する同期整流制御用ICの出力
回路に利用して特に有用な技術である。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば、同期整流制御用IC等の
ドライブ回路の出力段に用いられるプッシュプル型の出
力回路としてプッシュ側トランジスタにNチャネルMO
SFETを用いたものと、PチャネルMOSFETを用
いたものがある。プッシュ側のトランジスタにNチャネ
ルMOSFETを用いた場合、出力電圧が上昇すると該
トランジスタのゲート・ソース間電圧が低下してトラン
ジスタが十分にオンしなくなるため、電源電圧よりもM
OSのしきい値電圧低い出力電圧しか得られない。そこ
で、トランジスタを十分にオンさせて高電位点までの出
力を得るには、高電位側のNチャネルMOSFETのゲ
ートに電源電圧の高電位点より高い電圧を印加する必要
がある。
ドライブ回路の出力段に用いられるプッシュプル型の出
力回路としてプッシュ側トランジスタにNチャネルMO
SFETを用いたものと、PチャネルMOSFETを用
いたものがある。プッシュ側のトランジスタにNチャネ
ルMOSFETを用いた場合、出力電圧が上昇すると該
トランジスタのゲート・ソース間電圧が低下してトラン
ジスタが十分にオンしなくなるため、電源電圧よりもM
OSのしきい値電圧低い出力電圧しか得られない。そこ
で、トランジスタを十分にオンさせて高電位点までの出
力を得るには、高電位側のNチャネルMOSFETのゲ
ートに電源電圧の高電位点より高い電圧を印加する必要
がある。
【0003】一方、プッシュプル型の出力回路において
高電位側のトランジスタにPチャネルMOSFETを用
いた場合、そのゲートに電源電圧よりもMOSFETの
しきい値電圧分以上低い電圧を印加することでMOSF
ETを容易に且つ十分にオンすることが出来る。
高電位側のトランジスタにPチャネルMOSFETを用
いた場合、そのゲートに電源電圧よりもMOSFETの
しきい値電圧分以上低い電圧を印加することでMOSF
ETを容易に且つ十分にオンすることが出来る。
【0004】図10に、出力段の高電位側にPチャネル
MOSFETを用いたドライバ回路の一例の回路図を示
す。
MOSFETを用いたドライバ回路の一例の回路図を示
す。
【0005】プッシュプル出力段の高電位側にPチャネ
ルMOSFET M1を配設した場合、オフ時にはその
ゲートに電源電位VDDを印加する一方、オン時には電
源電位VDDよりMOSFET M1のしきい値電圧以
上低い電圧をゲートに印加する必要がある。
ルMOSFET M1を配設した場合、オフ時にはその
ゲートに電源電位VDDを印加する一方、オン時には電
源電位VDDよりMOSFET M1のしきい値電圧以
上低い電圧をゲートに印加する必要がある。
【0006】MOSFET M1のゲートを電源電位V
DDより低くするには、MOSFET M1のゲートと
グランドとの間にMOSFET M15を設け、このM
OSFETM15のスイッチ動作によりゲートをグラン
ド側に接続すればよい。しかし、電源電圧VDDがMO
SFET M1の(ゲート)耐圧以上の高電圧系(例え
ば12V)の場合にはPチャネルMOSFETのゲート
・ソース間耐圧を考慮すると、オン時のゲート電圧はグ
ランド電位まで低くすることはできないので、ツェナダ
イオードDZ10を設けるなどしてゲート電圧をクラン
プし、MOSFET M1のゲート電位が過度に低下し
ないようにしなければならない。
DDより低くするには、MOSFET M1のゲートと
グランドとの間にMOSFET M15を設け、このM
OSFETM15のスイッチ動作によりゲートをグラン
ド側に接続すればよい。しかし、電源電圧VDDがMO
SFET M1の(ゲート)耐圧以上の高電圧系(例え
ば12V)の場合にはPチャネルMOSFETのゲート
・ソース間耐圧を考慮すると、オン時のゲート電圧はグ
ランド電位まで低くすることはできないので、ツェナダ
イオードDZ10を設けるなどしてゲート電圧をクラン
プし、MOSFET M1のゲート電位が過度に低下し
ないようにしなければならない。
【0007】更に、上記PチャネルMOSFET M1
を高速にターンオフさせてドライバ回路を高速に動作さ
せるには、MOSFET M1の寄生容量を高速に充電
しなければならない。そこで、電源電位VDDとMOS
FET M1のゲートとの間に抵抗として作用するディ
プリーション形MOSFET M14を設けることが考
えられる。
を高速にターンオフさせてドライバ回路を高速に動作さ
せるには、MOSFET M1の寄生容量を高速に充電
しなければならない。そこで、電源電位VDDとMOS
FET M1のゲートとの間に抵抗として作用するディ
プリーション形MOSFET M14を設けることが考
えられる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような構成を有するドライバ回路では、該MOSFET
M1のオン時に電源電位VDDからグランド側に直流電
流IM15(=IDZ10+IM14)が流れてしま
い、消費電流が過大になるという問題がある。
ような構成を有するドライバ回路では、該MOSFET
M1のオン時に電源電位VDDからグランド側に直流電
流IM15(=IDZ10+IM14)が流れてしま
い、消費電流が過大になるという問題がある。
【0009】この発明の目的は、出力段の高電位側にP
チャネルMOSFETを使用したドライバ回路におい
て、高速な動作を可能にし且つ消費電流を低減すること
にある。
チャネルMOSFETを使用したドライバ回路におい
て、高速な動作を可能にし且つ消費電流を低減すること
にある。
【0010】この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
【0012】すなわち、第1電源系の電源電圧に接続さ
れたプッシュプル回路からなる出力段を備え、該出力段
の高電位側にトランジスタとしてPチャネルFETを用
い、上記第1電源系より小さな第2電源系の電源電圧で
動作され、上記PチャネルFETのゲートを駆動する出
力制御回路とを有するドライブ回路において、上記出力
制御回路の出力端子と上記FETのゲート端子との間に
コンデンサが接続されると共に、該出力制御回路の出力
振幅が上記FETのゲート・ソース間耐圧よりも低く設
定され、且つ、上記コンデンサと上記FETのゲート端
子との接続点と上記第1電源系の電源電圧端子とを接続
または遮断する初期設定用のスイッチ手段が設けられて
いる構成とする。
れたプッシュプル回路からなる出力段を備え、該出力段
の高電位側にトランジスタとしてPチャネルFETを用
い、上記第1電源系より小さな第2電源系の電源電圧で
動作され、上記PチャネルFETのゲートを駆動する出
力制御回路とを有するドライブ回路において、上記出力
制御回路の出力端子と上記FETのゲート端子との間に
コンデンサが接続されると共に、該出力制御回路の出力
振幅が上記FETのゲート・ソース間耐圧よりも低く設
定され、且つ、上記コンデンサと上記FETのゲート端
子との接続点と上記第1電源系の電源電圧端子とを接続
または遮断する初期設定用のスイッチ手段が設けられて
いる構成とする。
【0013】このような手段によれば、低電源系の出力
制御回路の小振幅の出力でもコンデンサを介することで
上記FETのゲート電位を第1電源系の高電位点とそれ
以下の電位点との間で振ることが出来る。また、ゲート
電位を生成する部分に直流パスを含まないので消費電流
も少ない。また、出力制御回路の上記出力振幅の設定に
よりFETのゲート・ソース間電圧を耐圧以下に抑える
ことができる。
制御回路の小振幅の出力でもコンデンサを介することで
上記FETのゲート電位を第1電源系の高電位点とそれ
以下の電位点との間で振ることが出来る。また、ゲート
電位を生成する部分に直流パスを含まないので消費電流
も少ない。また、出力制御回路の上記出力振幅の設定に
よりFETのゲート・ソース間電圧を耐圧以下に抑える
ことができる。
【0014】更に、コンデンサ容量や出力制御回路の出
力振幅を適宜調整して上記FETのゲートに流れ込んだ
り流れ出たりする電流のピーク値が大きくなるように設
定してやれば、容量性負荷の特性を有するFETを高速
に動作させることができる。
力振幅を適宜調整して上記FETのゲートに流れ込んだ
り流れ出たりする電流のピーク値が大きくなるように設
定してやれば、容量性負荷の特性を有するFETを高速
に動作させることができる。
【0015】ここで問題となるのが上記コンデンサの初
期の充電量であり、この充電量がばらつけば正常に動作
しないこともありえる。しかし、上記手段によれば、上
記スイッチ手段によりコンデンサの充電量を初期設定で
きるので、常に正常な状態で動作を開始させることが出
来る。
期の充電量であり、この充電量がばらつけば正常に動作
しないこともありえる。しかし、上記手段によれば、上
記スイッチ手段によりコンデンサの充電量を初期設定で
きるので、常に正常な状態で動作を開始させることが出
来る。
【0016】スイッチ手段は、例えばシステムの電源投
入時に生成されるパワーオンリセットパルスにより開閉
されるMOSFET等のスイッチ素子を用いることがで
きる。また、上記スイッチ手段として、上記第1電源系
の高電位側から上記FETのゲートに逆方向接続された
ツェナダイオードを用い、上記出力制御回路の出力振幅
をVa、上記ツェナダイオードのツェナ電圧をVfとし
たときに、Va>Vfになるように構成しても良い。こ
のような構成の場合、出力制御回路のハイレベルの出力
によりツェナダイオードをツェナ降伏させてコンデンサ
の充電量を初期化することが出来る。
入時に生成されるパワーオンリセットパルスにより開閉
されるMOSFET等のスイッチ素子を用いることがで
きる。また、上記スイッチ手段として、上記第1電源系
の高電位側から上記FETのゲートに逆方向接続された
ツェナダイオードを用い、上記出力制御回路の出力振幅
をVa、上記ツェナダイオードのツェナ電圧をVfとし
たときに、Va>Vfになるように構成しても良い。こ
のような構成の場合、出力制御回路のハイレベルの出力
によりツェナダイオードをツェナ降伏させてコンデンサ
の充電量を初期化することが出来る。
【0017】さらに望ましくは、上記FETのソース電
位を上記第1電源系の高電位側の電位よりも高い電圧に
押し上げる昇圧回路を設け、上記出力制御回路により行
われる上記FETのゲート電圧のハイレベルとローレベ
ルの制御と、上記昇圧回路により行われる上記FETの
ソース電圧の昇圧と降圧の制御とを逆相で同期するよう
に行なう。
位を上記第1電源系の高電位側の電位よりも高い電圧に
押し上げる昇圧回路を設け、上記出力制御回路により行
われる上記FETのゲート電圧のハイレベルとローレベ
ルの制御と、上記昇圧回路により行われる上記FETの
ソース電圧の昇圧と降圧の制御とを逆相で同期するよう
に行なう。
【0018】このような手段によれば、上記FETをタ
ーンオンする際、ゲート電位が下がると同時にソース電
位が上げられるので、より高速なFETのオン動作が得
られる。
ーンオンする際、ゲート電位が下がると同時にソース電
位が上げられるので、より高速なFETのオン動作が得
られる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例を図
1〜図8の図面に基づいて説明する。
1〜図8の図面に基づいて説明する。
【0020】[第1の実施例]図1は、本発明を適用し
たドライバ回路の最も単純な実施例を示す回路図であ
る。
たドライバ回路の最も単純な実施例を示す回路図であ
る。
【0021】この実施例のドライバ回路1は、例えば単
結晶シリコンのような1個の半導体チップ上に形成され
るモータ駆動用の集積回路であり、例えば0V〜6Vの
小振幅のタイミングパルスΦを受けて0V〜VDD(例
えば12V)の大振幅な出力電圧Voutを出力する。
出力電圧Voutは、負荷MOSFET M10のゲー
トに印加され、該負荷MOSFET M10によりモー
タの駆動電流が供給されたりする。
結晶シリコンのような1個の半導体チップ上に形成され
るモータ駆動用の集積回路であり、例えば0V〜6Vの
小振幅のタイミングパルスΦを受けて0V〜VDD(例
えば12V)の大振幅な出力電圧Voutを出力する。
出力電圧Voutは、負荷MOSFET M10のゲー
トに印加され、該負荷MOSFET M10によりモー
タの駆動電流が供給されたりする。
【0022】図1において、M1とM2はプッシュプル
型の出力段を構成する出力MOSFETである。グラン
ド側に配設される出力MOSFET M2はNチャネ
ル、高電位側に配設される出力MOSFET M1はP
チャネルである。この出力段には駆動系の大きな電源電
圧VDD(例えば12V)が供給される。
型の出力段を構成する出力MOSFETである。グラン
ド側に配設される出力MOSFET M2はNチャネ
ル、高電位側に配設される出力MOSFET M1はP
チャネルである。この出力段には駆動系の大きな電源電
圧VDD(例えば12V)が供給される。
【0023】IN1は出力制御を行なうインバータ回路
で、タイミングパルスΦを受けてハイレベル(電源電位
Va)の出力とローレベル(グランド電位)の出力を行
なう。このインバータIN1には、駆動系の電源電圧V
DDよりも低い制御系の電源電圧Va(例えば6V)が
供給される。この電源電圧Vaは高電位側の出力MOS
FET M1のゲート・ソース間耐圧を超えないように
設定される。
で、タイミングパルスΦを受けてハイレベル(電源電位
Va)の出力とローレベル(グランド電位)の出力を行
なう。このインバータIN1には、駆動系の電源電圧V
DDよりも低い制御系の電源電圧Va(例えば6V)が
供給される。この電源電圧Vaは高電位側の出力MOS
FET M1のゲート・ソース間耐圧を超えないように
設定される。
【0024】C1は高電位側の出力MOSFET M1
のゲート電圧を操作するためのコンデンサで、インバー
タ回路IN1の出力端子と出力MOSFET M1のゲ
ート端子との間に介設されている。
のゲート電圧を操作するためのコンデンサで、インバー
タ回路IN1の出力端子と出力MOSFET M1のゲ
ート端子との間に介設されている。
【0025】SWは、コンデンサC1の充電量を初期化
するためのスイッチで、オン時にコンデンサC1の出力
MOSFET M1側の電極と電源電圧VDDとを接続
状態にする。このスイッチSWは、例えば、このドライ
バ回路1が組み込まれるシステムの電源投入時に、電源
投入に基づき生成されるパワーオンリセットパルスRS
によりオンされ、その後、通常動作時においてオフされ
るように構成される。
するためのスイッチで、オン時にコンデンサC1の出力
MOSFET M1側の電極と電源電圧VDDとを接続
状態にする。このスイッチSWは、例えば、このドライ
バ回路1が組み込まれるシステムの電源投入時に、電源
投入に基づき生成されるパワーオンリセットパルスRS
によりオンされ、その後、通常動作時においてオフされ
るように構成される。
【0026】図2には、上記ドライバ回路1の動作を説
明するためのタイミングチャートを示す。
明するためのタイミングチャートを示す。
【0027】このタイミングチャートは、上記ドライバ
回路1が組み込まれるシステムの電源投入時からの状態
を表したものである。同図において、M1,M2,M1
0,SWはそれぞれMOSFET M1,M2,M10
とスイッチSWの状態、VGはコンデンサC1が接続さ
れる出力MOSFET M1のゲート電位、Φと/Φは
インバータIN1に入力される内部信号とインバータI
N1の出力である。
回路1が組み込まれるシステムの電源投入時からの状態
を表したものである。同図において、M1,M2,M1
0,SWはそれぞれMOSFET M1,M2,M10
とスイッチSWの状態、VGはコンデンサC1が接続さ
れる出力MOSFET M1のゲート電位、Φと/Φは
インバータIN1に入力される内部信号とインバータI
N1の出力である。
【0028】図2に示すように、電源投入時(図2に
「初期」と示す)には、ドライバ回路1にハイレベルの
リセットパルスが入力されることによりスイッチSWは
短い時間オン状態とされ、この間にコンデンサC1の充
電が行われて、上記接続ノードn1の電位VGが電源電
圧VDDまで押し上げられる。スイッチSWは、リセッ
トパルスの投入時のみオンとされその後通常動作時にお
いてはオフとされる。
「初期」と示す)には、ドライバ回路1にハイレベルの
リセットパルスが入力されることによりスイッチSWは
短い時間オン状態とされ、この間にコンデンサC1の充
電が行われて、上記接続ノードn1の電位VGが電源電
圧VDDまで押し上げられる。スイッチSWは、リセッ
トパルスの投入時のみオンとされその後通常動作時にお
いてはオフとされる。
【0029】タイミングパルスΦは、電源投入時にロー
レベルの入力で始まる。そして、所定周期で”H”(ハ
イ)と”L”(ロー)の入力を繰り返す。従って、コン
デンサC1の下端の電位ならびにグランド側の出力MO
SFET M2のゲート電位はインバータIN1の出力
電位と同一であるので、電源投入時にハイレベル(制御
系の電源電圧Va)で始まり、その後、所定周期でロー
レベルとハイレベルを繰り返す。
レベルの入力で始まる。そして、所定周期で”H”(ハ
イ)と”L”(ロー)の入力を繰り返す。従って、コン
デンサC1の下端の電位ならびにグランド側の出力MO
SFET M2のゲート電位はインバータIN1の出力
電位と同一であるので、電源投入時にハイレベル(制御
系の電源電圧Va)で始まり、その後、所定周期でロー
レベルとハイレベルを繰り返す。
【0030】高電位側の出力MOSFET M1のゲー
ト電位VGは、該MOSFETのゲート容量がコンデン
サC1の容量に対して十分に小さい場合はインバータI
N1の出力電圧/Φに従って、該出力と同期してハイレ
ベル(VDD)とローレベル(VDD−Va)の電位に
変化する。それにより高電位側の出力MOSFETM1
はタイミングパルスΦと同期してオフとオンを繰り返
す。
ト電位VGは、該MOSFETのゲート容量がコンデン
サC1の容量に対して十分に小さい場合はインバータI
N1の出力電圧/Φに従って、該出力と同期してハイレ
ベル(VDD)とローレベル(VDD−Va)の電位に
変化する。それにより高電位側の出力MOSFETM1
はタイミングパルスΦと同期してオフとオンを繰り返
す。
【0031】コンデンサC1の容量(C1)が出力MO
SFET M1のゲート容量に対して十分に大きくない
場合には、ハイレベルのときのゲート電位VGは電源電
位VDDと上記の場合と変わらないが、ローレベルとな
るときは上記の場合と異なってくる。すなわち、インバ
ータIN1の出力/Φがハイレベルからローレベルとな
ると、出力MOSFET M1のゲートからコンデンサ
C1に電荷が流れ込むため、ゲート電位VGは、電位差
Vaが出力MOSFET M1のゲート容量(Cin)
に分圧される分だけ十分に下がることができず、ローレ
ベルの電位はVDD−{1−Cin/(Cin+C
1)}Vaとなる。なお、このローレベルのゲート電位
におけるゲート容量(Cin)は、出力MOSFET
M1がオンとなることで増加したゲート容量である。
SFET M1のゲート容量に対して十分に大きくない
場合には、ハイレベルのときのゲート電位VGは電源電
位VDDと上記の場合と変わらないが、ローレベルとな
るときは上記の場合と異なってくる。すなわち、インバ
ータIN1の出力/Φがハイレベルからローレベルとな
ると、出力MOSFET M1のゲートからコンデンサ
C1に電荷が流れ込むため、ゲート電位VGは、電位差
Vaが出力MOSFET M1のゲート容量(Cin)
に分圧される分だけ十分に下がることができず、ローレ
ベルの電位はVDD−{1−Cin/(Cin+C
1)}Vaとなる。なお、このローレベルのゲート電位
におけるゲート容量(Cin)は、出力MOSFET
M1がオンとなることで増加したゲート容量である。
【0032】従って、コンデンサC1の容量は、出力M
OSFET M1のゲート容量やインバータ出力/Φの
電位差を考慮して、ゲート電位VGがローレベルのとき
に出力MOSFET M1を十分にオンできるように決
定される。例えばMOSFET M1のゲート容量が
0.06pFであるときには容量1pF程度のコンデン
サC1を使用すれば、出力MOSFET M1を十分に
且つ高速にオンさせることが出来る。
OSFET M1のゲート容量やインバータ出力/Φの
電位差を考慮して、ゲート電位VGがローレベルのとき
に出力MOSFET M1を十分にオンできるように決
定される。例えばMOSFET M1のゲート容量が
0.06pFであるときには容量1pF程度のコンデン
サC1を使用すれば、出力MOSFET M1を十分に
且つ高速にオンさせることが出来る。
【0033】グランド側の出力MOSFET M2はイ
ンバータIN1の出力/Φに同期して、すなわちタイミ
ングパルスΦと逆相で同期してオンとオフを繰り返す。
従って、プッシュプル動作を行なう2つの出力MOSF
ET M1,M2の結節点である出力ノードの電圧Vo
utは、タイミングパルスΦに同期してハイレベル(電
源電位VDD)とローレベル(グランド電位)とを繰り
返し、それにより負荷MOSFET M10がオン・オ
フ駆動される。
ンバータIN1の出力/Φに同期して、すなわちタイミ
ングパルスΦと逆相で同期してオンとオフを繰り返す。
従って、プッシュプル動作を行なう2つの出力MOSF
ET M1,M2の結節点である出力ノードの電圧Vo
utは、タイミングパルスΦに同期してハイレベル(電
源電位VDD)とローレベル(グランド電位)とを繰り
返し、それにより負荷MOSFET M10がオン・オ
フ駆動される。
【0034】以上のように、この実施例のドライバ回路
1によれば、制御系の電源電圧Vaの範囲で振れるイン
バータ出力/Φにより、駆動系の電源電圧VDDが供給
されるプッシュプル出力段の高電位側に配設されたPチ
ャネルMOSFET M1を、電流を消費することなく
駆動することが出来る。すなわち、図10の従来回路で
はMOSFET M14からMOSFET M15へ流
れる貫通電流があったが、図1の回路ではそのような貫
通電流がないため、低消費電流でMOSFETM1を駆
動することが出来る。また、出力MOSFET M1の
ゲート・ソース間にはインバータIN1の出力振幅Va
以上の電圧が印加されないので、出力MOSFET M
1の耐圧以下での動作制御が可能であり、ツェナダイオ
ードが不要となる。
1によれば、制御系の電源電圧Vaの範囲で振れるイン
バータ出力/Φにより、駆動系の電源電圧VDDが供給
されるプッシュプル出力段の高電位側に配設されたPチ
ャネルMOSFET M1を、電流を消費することなく
駆動することが出来る。すなわち、図10の従来回路で
はMOSFET M14からMOSFET M15へ流
れる貫通電流があったが、図1の回路ではそのような貫
通電流がないため、低消費電流でMOSFETM1を駆
動することが出来る。また、出力MOSFET M1の
ゲート・ソース間にはインバータIN1の出力振幅Va
以上の電圧が印加されないので、出力MOSFET M
1の耐圧以下での動作制御が可能であり、ツェナダイオ
ードが不要となる。
【0035】更に、インバータIN1の出力振幅Vaや
コンデンサC1の容量の調整により動作中に出力MOS
FET M1のゲートに印加される電圧の振幅を適宜調
整することが出来るので、出力MOSFET M1のタ
ーンオン時にゲートからコンデンサC1に流れるピーク
電流の値を大きくするように設定して、出力MOSFE
T M1のオン動作を高速に行なわせることが出来る。
コンデンサC1の容量の調整により動作中に出力MOS
FET M1のゲートに印加される電圧の振幅を適宜調
整することが出来るので、出力MOSFET M1のタ
ーンオン時にゲートからコンデンサC1に流れるピーク
電流の値を大きくするように設定して、出力MOSFE
T M1のオン動作を高速に行なわせることが出来る。
【0036】また、スイッチSWによりコンデンサC1
の充電量が動作開始時に正常に初期化されるので、動作
開始時にドライバ回路1に最初に入力されるハイレベル
のタイミングパルスΦのときからドライバ回路1を正常
に動作させることが出来る。
の充電量が動作開始時に正常に初期化されるので、動作
開始時にドライバ回路1に最初に入力されるハイレベル
のタイミングパルスΦのときからドライバ回路1を正常
に動作させることが出来る。
【0037】[第2の実施例]図3には、本発明を適用
して好適なドライバ回路の第2実施例の回路図を示す。
して好適なドライバ回路の第2実施例の回路図を示す。
【0038】この実施例のドライバ回路2は、第1の実
施例のスイッチSWの部分をMOSFET等で構成した
ものである。
施例のスイッチSWの部分をMOSFET等で構成した
ものである。
【0039】すなわち、図3のSW2はスイッチ回路を
示しており、リセットパルスRSをゲートで受けてオン
・オフするNチャネルMOSFET M5と、該MOS
FET M5に連動してオンされ電源電位VDDとコン
デンサC1とを接続するPチャネルMOSFET M6
と、該MOSFET M6のゲート・ソース間に接続さ
れMOSFET M6の耐圧以下に降圧電圧が設定され
たツェナダイオードDZ1と、MOSFET M5のオ
ン時に抵抗として作用してMOSFET M6のゲート
バイアス電圧を発生するディプリーション形MOSFE
T M4等から構成される。
示しており、リセットパルスRSをゲートで受けてオン
・オフするNチャネルMOSFET M5と、該MOS
FET M5に連動してオンされ電源電位VDDとコン
デンサC1とを接続するPチャネルMOSFET M6
と、該MOSFET M6のゲート・ソース間に接続さ
れMOSFET M6の耐圧以下に降圧電圧が設定され
たツェナダイオードDZ1と、MOSFET M5のオ
ン時に抵抗として作用してMOSFET M6のゲート
バイアス電圧を発生するディプリーション形MOSFE
T M4等から構成される。
【0040】このような構成によっても、図2のタイミ
ングチャートと同様の動作でドライバ回路2の動作開始
時にコンデンサC1の充電量を初期化して、ドライバ回
路2を動作開始時の最初のタイミングパルスΦの入力時
から正常に動作させることが出来る。
ングチャートと同様の動作でドライバ回路2の動作開始
時にコンデンサC1の充電量を初期化して、ドライバ回
路2を動作開始時の最初のタイミングパルスΦの入力時
から正常に動作させることが出来る。
【0041】図1の回路では、スイッチSWをMOSF
ETで構成しノードn1をリセット時に電源電圧VDD
にチャージするにはPチャネルMOSを用いる必要があ
り、そのようにすると、そのゲート・ソース間に耐圧以
上の電圧が印加されるおそれがあるが、図3の回路によ
ればMOSFET M6に耐圧以上の電圧が印加される
のを回避することができる。
ETで構成しノードn1をリセット時に電源電圧VDD
にチャージするにはPチャネルMOSを用いる必要があ
り、そのようにすると、そのゲート・ソース間に耐圧以
上の電圧が印加されるおそれがあるが、図3の回路によ
ればMOSFET M6に耐圧以上の電圧が印加される
のを回避することができる。
【0042】[第3の実施例]図4には、本発明を適用
して好適なドライバ回路の第3実施例の回路図を示す。
して好適なドライバ回路の第3実施例の回路図を示す。
【0043】この実施例のドライバ回路3は、コンデン
サC1のMOSFET M1側の電極と電源電位VDD
との間に接続されるスイッチ手段として、ツェナダイオ
ードDZを用いた一例である。
サC1のMOSFET M1側の電極と電源電位VDD
との間に接続されるスイッチ手段として、ツェナダイオ
ードDZを用いた一例である。
【0044】このツェナダイオードDZのツェナ電圧V
DZはインバータIN1の出力振幅Vaよりも小さくな
るように設定する。それにより、ドライバ回路3の動作
開始時にコンデンサC1のMOSFET M1側の電位
が不定な場合でも、インバータIN1の出力がハイレベ
ルとなってコンデンサC1のMOSFET M1側の電
位が押し上げられたときに該電位を電源電圧VDD近傍
に初期設定することが可能となっている。
DZはインバータIN1の出力振幅Vaよりも小さくな
るように設定する。それにより、ドライバ回路3の動作
開始時にコンデンサC1のMOSFET M1側の電位
が不定な場合でも、インバータIN1の出力がハイレベ
ルとなってコンデンサC1のMOSFET M1側の電
位が押し上げられたときに該電位を電源電圧VDD近傍
に初期設定することが可能となっている。
【0045】すなわち、動作開始時に電源端子に電源電
圧VDDが供給されることでツェナダイオードDZがツ
ェナ降伏して逆方向電流が流れて、ノードn1の電位は
電源電位VDDと該電源電位VDDよりツェナ電圧分低
い電位(VDD−VDZ)との間の電圧範囲に収まるこ
とになる。この状態でインバータINの出力/Φがロー
レベルからハイレベルに変化すると、その電位差Vaだ
けノードn1の電位を押し上げるので、ノードn1の電
位は電源電位VDD以上に押し上げられ、その結果、ツ
ェナダイオードDZに順方向電流が流れてノードn1の
電位はほぼ電源電位VDDにされる。
圧VDDが供給されることでツェナダイオードDZがツ
ェナ降伏して逆方向電流が流れて、ノードn1の電位は
電源電位VDDと該電源電位VDDよりツェナ電圧分低
い電位(VDD−VDZ)との間の電圧範囲に収まるこ
とになる。この状態でインバータINの出力/Φがロー
レベルからハイレベルに変化すると、その電位差Vaだ
けノードn1の電位を押し上げるので、ノードn1の電
位は電源電位VDD以上に押し上げられ、その結果、ツ
ェナダイオードDZに順方向電流が流れてノードn1の
電位はほぼ電源電位VDDにされる。
【0046】動作開始時にはインバータINの出力/Φ
はハイレベルであるので、少なくともタイミングパルス
Φが”L”−”H”−”L”と変化した1周期半目のタ
イミングで、コンデンサC1の充電量が初期化され、そ
れ以降の動作を正常に行わせることが出来る。しかも、
この実施例ではツェナダイオードDZがMOSFETM
1の耐圧保護素子としても働く。
はハイレベルであるので、少なくともタイミングパルス
Φが”L”−”H”−”L”と変化した1周期半目のタ
イミングで、コンデンサC1の充電量が初期化され、そ
れ以降の動作を正常に行わせることが出来る。しかも、
この実施例ではツェナダイオードDZがMOSFETM
1の耐圧保護素子としても働く。
【0047】[第4の実施例]図5は、本発明を適用し
て好適なドライバ回路の第4実施例を示す回路図であ
る。
て好適なドライバ回路の第4実施例を示す回路図であ
る。
【0048】この実施例のドライバ回路4は、第2の実
施例のドライバ回路2の構成に加えて、コンデンサC1
と出力MOSFET M1の接続ノードn1と電源電位
VDDとの間に逆方向接続されたツェナダイオードDZ
2を設けたものである。
施例のドライバ回路2の構成に加えて、コンデンサC1
と出力MOSFET M1の接続ノードn1と電源電位
VDDとの間に逆方向接続されたツェナダイオードDZ
2を設けたものである。
【0049】このツェナダイオードDZ2は、そのツェ
ナ電圧VDZ2が出力MOSFETM1のゲート・ソー
ス間耐圧以下になるように設定する。この設定により、
例えばコンデンサC1に充電されていた電荷がリークし
て、接続ノードn1の電位が下がってきた場合でも、ツ
ェナ降伏により出力MOSFET Mのゲート・ソース
間電圧が耐圧より上昇しないようにできる。
ナ電圧VDZ2が出力MOSFETM1のゲート・ソー
ス間耐圧以下になるように設定する。この設定により、
例えばコンデンサC1に充電されていた電荷がリークし
て、接続ノードn1の電位が下がってきた場合でも、ツ
ェナ降伏により出力MOSFET Mのゲート・ソース
間電圧が耐圧より上昇しないようにできる。
【0050】また、ツェナ電圧VDZ2をインバータI
N1の出力振幅Vaよりも小さい値に選択すると、イン
バータIN1でハイレベルとローレベルの出力が行われ
る間に必ず1回のツェナ降伏が生じ、タイミングパルス
Φがローレベルとなるタイミングで出力MOSFET
M1のゲート電位が一定のバイアスにクランプされるよ
うになる。その結果、タイミングパルスΦの周期毎に毎
回同等の状態でドライブ回路1を動作させることが可能
となり、長期に渡って安定した動作を得ることが出来
る。
N1の出力振幅Vaよりも小さい値に選択すると、イン
バータIN1でハイレベルとローレベルの出力が行われ
る間に必ず1回のツェナ降伏が生じ、タイミングパルス
Φがローレベルとなるタイミングで出力MOSFET
M1のゲート電位が一定のバイアスにクランプされるよ
うになる。その結果、タイミングパルスΦの周期毎に毎
回同等の状態でドライブ回路1を動作させることが可能
となり、長期に渡って安定した動作を得ることが出来
る。
【0051】[第5の実施例]図6は、本発明を適用し
て好適なドライバ回路の第5実施例を示す回路図であ
る。
て好適なドライバ回路の第5実施例を示す回路図であ
る。
【0052】この実施例のドライバ回路5は、図1の実
施例の回路の出力段の次段に電源電圧VDDとグランド
との間に2つのNチャネルMOSFETを直列に接続し
てなるプッシュプル出力段を2個カスケード接続したも
のである。更に、その初段のプッシュプル出力段には、
電源電圧VDDとMOSFET M1のゲート端子との
間に、図5で示したゲート耐圧保護用のツェナダイオー
ドDZ2が接続されている。
施例の回路の出力段の次段に電源電圧VDDとグランド
との間に2つのNチャネルMOSFETを直列に接続し
てなるプッシュプル出力段を2個カスケード接続したも
のである。更に、その初段のプッシュプル出力段には、
電源電圧VDDとMOSFET M1のゲート端子との
間に、図5で示したゲート耐圧保護用のツェナダイオー
ドDZ2が接続されている。
【0053】1段目のプッシュプル回路の出力ノードn
2は、2段目のプッシュプル回路(MOSFET M
3,M4)の高電位側のNチャネルMOSFET M3
のゲートに接続されている。
2は、2段目のプッシュプル回路(MOSFET M
3,M4)の高電位側のNチャネルMOSFET M3
のゲートに接続されている。
【0054】2段目のプッシュプル回路には、高電位側
のNチャネルMOSFET M3のゲート・ソース間に
互いに向きが異なる2個のツェナダイオードDZ3,D
Z4が直列に接続されている。これらツェナダイオード
DZ3,DZ4は、MOSFET M3の寄生容量等に
より1段目の回路の出力ノードn2と2段目の回路の出
力ノードn3との間に電位差が発生する場合があるの
で、この電位差によりMOSFET M3がゲート破壊
されるのを防止するためのものである。
のNチャネルMOSFET M3のゲート・ソース間に
互いに向きが異なる2個のツェナダイオードDZ3,D
Z4が直列に接続されている。これらツェナダイオード
DZ3,DZ4は、MOSFET M3の寄生容量等に
より1段目の回路の出力ノードn2と2段目の回路の出
力ノードn3との間に電位差が発生する場合があるの
で、この電位差によりMOSFET M3がゲート破壊
されるのを防止するためのものである。
【0055】2段目の回路の出力ノードn3は3段目の
プッシュプル出力回路(MOSFET M5,M6)の
高電位側のNチャネルMOSFET M5のゲートに接
続されている。3段目の回路にも、高電位側のNチャネ
ルMOSFET M3のゲート・ソース間に互いに向き
が異なる2個の耐圧保護用のツェナダイオードDZ5,
DZ6が配設されている。
プッシュプル出力回路(MOSFET M5,M6)の
高電位側のNチャネルMOSFET M5のゲートに接
続されている。3段目の回路にも、高電位側のNチャネ
ルMOSFET M3のゲート・ソース間に互いに向き
が異なる2個の耐圧保護用のツェナダイオードDZ5,
DZ6が配設されている。
【0056】この実施例のドライブ回路においては、1
段目のプッシュプル回路(MOSFET M1,M2)
は、その負荷が2段目のMOSFET M3のゲート容
量のみであるで小さな駆動で良い。そのため、1段目の
PチャネルMOSFET M1としてサイズの小さなM
OSFETが使用できる。サイズの小さなMOSFET
はゲート容量も小さくなるので、その分、コンデンサC
1の容量を小さくしても高速駆動が可能となる。更にコ
ンデンサC1の容量が小さくてよいことから、コンデン
サC1の面積を削減して回路を構成するのに必要なチッ
プ面積の増加を抑えることができる。
段目のプッシュプル回路(MOSFET M1,M2)
は、その負荷が2段目のMOSFET M3のゲート容
量のみであるで小さな駆動で良い。そのため、1段目の
PチャネルMOSFET M1としてサイズの小さなM
OSFETが使用できる。サイズの小さなMOSFET
はゲート容量も小さくなるので、その分、コンデンサC
1の容量を小さくしても高速駆動が可能となる。更にコ
ンデンサC1の容量が小さくてよいことから、コンデン
サC1の面積を削減して回路を構成するのに必要なチッ
プ面積の増加を抑えることができる。
【0057】また、図6の実施例回路は図1や図3の実
施例回路に比べて出力段の素子数は多いが、2段目と3
段目のプッシュプル出力段はNチャネルMOSで構成さ
れている。NチャネルMOSFETは同一のgm(伝達
コンダクタンス)を有するPチャネルMOSFETに比
べてかなり小さくできるため、ドライブ回路全体として
の占有面積はかえって小さくすることが出来る。
施例回路に比べて出力段の素子数は多いが、2段目と3
段目のプッシュプル出力段はNチャネルMOSで構成さ
れている。NチャネルMOSFETは同一のgm(伝達
コンダクタンス)を有するPチャネルMOSFETに比
べてかなり小さくできるため、ドライブ回路全体として
の占有面積はかえって小さくすることが出来る。
【0058】また、2段目と3段目のプッシュプル出力
回路の高電位側のMOSFET M3,M5はそれぞれ
NチャネルMOSFETであるため、回路的にはMOS
FET M5のゲート電圧は電源電圧VDDよりもMO
SFET M3のしきい値電圧分低い電圧までしか上昇
せず、電源電圧VDDまでの出力を得ることが出来ない
ように見えるが、2段目のプッシュプル回路の高電位側
のMOSFET M3のゲート・ソース間の寄生容量に
より、次段のプッシュプル回路のMOSFETM5のゲ
ート電位が電源電圧VDD以上にブートストラップされ
てMOSFET M5が十分にオンされるようになって
いる。
回路の高電位側のMOSFET M3,M5はそれぞれ
NチャネルMOSFETであるため、回路的にはMOS
FET M5のゲート電圧は電源電圧VDDよりもMO
SFET M3のしきい値電圧分低い電圧までしか上昇
せず、電源電圧VDDまでの出力を得ることが出来ない
ように見えるが、2段目のプッシュプル回路の高電位側
のMOSFET M3のゲート・ソース間の寄生容量に
より、次段のプッシュプル回路のMOSFETM5のゲ
ート電位が電源電圧VDD以上にブートストラップされ
てMOSFET M5が十分にオンされるようになって
いる。
【0059】[第6の実施例]図7は本発明を適用して
好適なドライバ回路の第6実施例を示す回路図である。
好適なドライバ回路の第6実施例を示す回路図である。
【0060】この実施例のドライバ回路6は、第1の実
施例のドライバ回路1と同等の構成に加えて、チャージ
ポンプ回路11(IN2,C2,DB)を付加したもので
ある。すなわち、インバータIN1の前段にインバータ
IN2が接続され、電源電圧VDDとインバータIN2
の出力端子との間にダイオードDBとコンデンサC2が
直列に接続されている。MOSFET M1のソースは
電源電圧VDDではなく、ダイオードDBとコンデンサ
C2との接続ノードn5に接続されている。そして、イ
ンバータIN1によるプッシュプル出力段の制御と、イ
ンバータIN2によるチャージポンプ回路11の動作と
がタイミングパルスΦにより同時に行われ同期するよう
に構成されている。
施例のドライバ回路1と同等の構成に加えて、チャージ
ポンプ回路11(IN2,C2,DB)を付加したもので
ある。すなわち、インバータIN1の前段にインバータ
IN2が接続され、電源電圧VDDとインバータIN2
の出力端子との間にダイオードDBとコンデンサC2が
直列に接続されている。MOSFET M1のソースは
電源電圧VDDではなく、ダイオードDBとコンデンサ
C2との接続ノードn5に接続されている。そして、イ
ンバータIN1によるプッシュプル出力段の制御と、イ
ンバータIN2によるチャージポンプ回路11の動作と
がタイミングパルスΦにより同時に行われ同期するよう
に構成されている。
【0061】チャージポンプ回路11は、インバータI
N2とダイオードDBと、コンデンサC2とから構成さ
れ、インバータIN1,IN2を逆相の信号で動作させ
ることで、MOSFET M1がオフのときに電源電圧
VDDからダイオードDBを通してコンデンサC2へ電
荷をチャージし、MOSFET M1がオンのときにコ
ンデンサC2をたたいてPチャネルMOSFET M1
のソース端子が接続されたノードn5の電位を、電源電
圧VDDよりも押し上げるようになっている。
N2とダイオードDBと、コンデンサC2とから構成さ
れ、インバータIN1,IN2を逆相の信号で動作させ
ることで、MOSFET M1がオフのときに電源電圧
VDDからダイオードDBを通してコンデンサC2へ電
荷をチャージし、MOSFET M1がオンのときにコ
ンデンサC2をたたいてPチャネルMOSFET M1
のソース端子が接続されたノードn5の電位を、電源電
圧VDDよりも押し上げるようになっている。
【0062】ダイオードDBは、MOSFET M1の
ソース・ドレイン間耐圧程度の耐圧(逆方向電圧)を有
するものを選択し、コンデンサC2はドライバ回路6の
出力電圧を受ける負荷MOSFET M10のゲート容
量より充分に大きな容量(例えば20pF)のものを選
択する。それにより、インバータIN2の出力/Φがハ
イレベルのときにノードn5の電位をVDD以上に昇圧
することができる。
ソース・ドレイン間耐圧程度の耐圧(逆方向電圧)を有
するものを選択し、コンデンサC2はドライバ回路6の
出力電圧を受ける負荷MOSFET M10のゲート容
量より充分に大きな容量(例えば20pF)のものを選
択する。それにより、インバータIN2の出力/Φがハ
イレベルのときにノードn5の電位をVDD以上に昇圧
することができる。
【0063】なお、ドライバ回路6の負荷としてNチャ
ネルMOSFET M10を示しているが、ドライバ回
路6からの出力電圧は電源電圧VDDより高くなるの
で、MOSFET M10のゲート・ソース間に、ゲー
ト電圧をクランプしてゲート破壊を防止するツェナダイ
オードDZ7が配設されている。
ネルMOSFET M10を示しているが、ドライバ回
路6からの出力電圧は電源電圧VDDより高くなるの
で、MOSFET M10のゲート・ソース間に、ゲー
ト電圧をクランプしてゲート破壊を防止するツェナダイ
オードDZ7が配設されている。
【0064】図8には、上記ドライバ回路6の動作を説
明するタイミングチャートを示す。
明するタイミングチャートを示す。
【0065】このタイミングチャートは、電源投入時に
スイッチSWがリセットパルスによりオン動作して初期
設定を完了した後通常動作になってからの状態を表した
ものである。同図において、VG3は負荷MOSFET
M10のゲートに印加されるドライバ回路6の出力電
圧、VGSは出力MOSFET M1のゲート・ソース
間電圧、VS,VGはそれぞれ出力MOSFET M1
のソース電位とゲート電位、Φ,/Φはそれぞれインバ
ータIN1,IN2の入出力タイミングパルスである。
スイッチSWがリセットパルスによりオン動作して初期
設定を完了した後通常動作になってからの状態を表した
ものである。同図において、VG3は負荷MOSFET
M10のゲートに印加されるドライバ回路6の出力電
圧、VGSは出力MOSFET M1のゲート・ソース
間電圧、VS,VGはそれぞれ出力MOSFET M1
のソース電位とゲート電位、Φ,/Φはそれぞれインバ
ータIN1,IN2の入出力タイミングパルスである。
【0066】同図に示すように、出力MOSFET M
1のソース電位VSは、チャージポンプ回路11の作用
によりインバータIN2の出力/Φがロウレベルのとき
はダイオードDBが順バイアスされて電源電圧VDDか
らコンデンサC2へ電荷がチャージされて電位(VDD
−VF)とされ、出力/Φがハイレベルに変化するとそ
の振幅Vaだけ高い電位(VDD−VF+Va)に持ち
上げられる。ここでVFはダイオードDBの順方向電圧
である。
1のソース電位VSは、チャージポンプ回路11の作用
によりインバータIN2の出力/Φがロウレベルのとき
はダイオードDBが順バイアスされて電源電圧VDDか
らコンデンサC2へ電荷がチャージされて電位(VDD
−VF)とされ、出力/Φがハイレベルに変化するとそ
の振幅Vaだけ高い電位(VDD−VF+Va)に持ち
上げられる。ここでVFはダイオードDBの順方向電圧
である。
【0067】一方、出力MOSFET M1のゲート電
位VGは、スイッチSWがオンすることで電位(VDD
−VF)に初期化された後、インバータIN1の出力Φ
とツェナダイオードDZ2のツェナ降伏により、インバ
ータIN1の出力Φがローレベルのときはツェナダイオ
ードDZが降伏してゲート電位VGはソース電位VSよ
りもツェナ電圧VDZ2だけ低い電位(VDD−VF+
Va−VDZ2)とされ、出力Φがハイレベルに変化す
るとその振幅Vaだけ持ち上げられるが、このときソー
ス電位VSは(VDD−VF)に下がるためツェナダイ
オードDZ2が順バイアスされ、ゲート電位VGはVG
≒VS(=VDD−VF)とされる。ここでVDZ2は
ツェナダイオードDZ2のツェナ電圧で5V(>|Vth
p1|:MOSFET M1のしきい値電圧)のように設
定される。
位VGは、スイッチSWがオンすることで電位(VDD
−VF)に初期化された後、インバータIN1の出力Φ
とツェナダイオードDZ2のツェナ降伏により、インバ
ータIN1の出力Φがローレベルのときはツェナダイオ
ードDZが降伏してゲート電位VGはソース電位VSよ
りもツェナ電圧VDZ2だけ低い電位(VDD−VF+
Va−VDZ2)とされ、出力Φがハイレベルに変化す
るとその振幅Vaだけ持ち上げられるが、このときソー
ス電位VSは(VDD−VF)に下がるためツェナダイ
オードDZ2が順バイアスされ、ゲート電位VGはVG
≒VS(=VDD−VF)とされる。ここでVDZ2は
ツェナダイオードDZ2のツェナ電圧で5V(>|Vth
p1|:MOSFET M1のしきい値電圧)のように設
定される。
【0068】従って、出力MOSFET M1のゲート
・ソース間電圧VGSは、タイミングパルスΦに同期し
て(0V)と(−VDZ2)の間を往復するように制御
され、確実にオン・オフ動作を行なう。また、出力MO
SFET M1のターンオン・ターンオフ時にはゲート
電位を降圧・昇圧する制御とソース電位を昇圧・降圧す
る制御とが同時に行われるとともに、制御系の電源電圧
VaをVa>VDZ2のように設定しておくことでゲー
ト・ソース間電圧VGSの振幅も押さえられるので、タ
ーンオン・ターンオフ動作の高速化が図れる。
・ソース間電圧VGSは、タイミングパルスΦに同期し
て(0V)と(−VDZ2)の間を往復するように制御
され、確実にオン・オフ動作を行なう。また、出力MO
SFET M1のターンオン・ターンオフ時にはゲート
電位を降圧・昇圧する制御とソース電位を昇圧・降圧す
る制御とが同時に行われるとともに、制御系の電源電圧
VaをVa>VDZ2のように設定しておくことでゲー
ト・ソース間電圧VGSの振幅も押さえられるので、タ
ーンオン・ターンオフ動作の高速化が図れる。
【0069】このドライバ回路6の出力電圧で駆動され
る負荷MOSFET M10は、NチャネルMOSで構
成されそのゲート・ソース間にツェナダイオードDZ7
が接続されているため、そのゲート電圧VG3には、タ
イミングパルス/Φに同期して電圧(VDD+VF+V
a)が印加されてもツェナダイオードDZ7でクランプ
され電源電位VDDよりも高いハイレベルの電位(VD
D+VDZ7)とローレベルの電位(0V)とに交互に
印加され、Nチャネルの負荷MOSFET M10を十
分にオン・オフ動作させるとともに、ターンオフ動作を
高速化させることが可能となる。ここでVDZ7はツェ
ナダイオードDZ7のツェナ電圧である。
る負荷MOSFET M10は、NチャネルMOSで構
成されそのゲート・ソース間にツェナダイオードDZ7
が接続されているため、そのゲート電圧VG3には、タ
イミングパルス/Φに同期して電圧(VDD+VF+V
a)が印加されてもツェナダイオードDZ7でクランプ
され電源電位VDDよりも高いハイレベルの電位(VD
D+VDZ7)とローレベルの電位(0V)とに交互に
印加され、Nチャネルの負荷MOSFET M10を十
分にオン・オフ動作させるとともに、ターンオフ動作を
高速化させることが可能となる。ここでVDZ7はツェ
ナダイオードDZ7のツェナ電圧である。
【0070】図9には、上述の第1〜第6の実施例のド
ライバ回路1〜6が搭載される多相モータの概略構成図
を示す。
ライバ回路1〜6が搭載される多相モータの概略構成図
を示す。
【0071】同図において、101は3相ブラシレスモ
ータ、111はモータ101の回転位置を検出するホー
ルセンサ、112はモータ101の回転速度を周波数で
検出する周波数発生器(タコゼネレータ)、102はモ
ータ101の多相駆動制御および回転速度制御を行なう
回路が集積形成されたモータ制御IC、3はモータ10
1に多相駆動電流を供給する出力回路131が集積形成
されたモータ駆動IC、14位は制御系の電源(例えば
6V)と駆動系の電源(例えば12V)を生成して供給
すると共に電源投入時にリセットパルスRSを出力する
電源回路である。
ータ、111はモータ101の回転位置を検出するホー
ルセンサ、112はモータ101の回転速度を周波数で
検出する周波数発生器(タコゼネレータ)、102はモ
ータ101の多相駆動制御および回転速度制御を行なう
回路が集積形成されたモータ制御IC、3はモータ10
1に多相駆動電流を供給する出力回路131が集積形成
されたモータ駆動IC、14位は制御系の電源(例えば
6V)と駆動系の電源(例えば12V)を生成して供給
すると共に電源投入時にリセットパルスRSを出力する
電源回路である。
【0072】モータ制御IC102には、ホールセンサ
11からの位置検出信号Psを増幅するホールアンプ1
21、相切換回路(コミテーション回路)122、プリ
ドライバ回路123、周波数発生器112からの速度検
出信号Vsを増幅するアンプ124、速度検出信号Vs
を2値パルス信号V1に整形するゼロクロス・コンパレ
ータ125、速度制御に係るロジック演算を行ない速度
制御用のタイミングパルスΦを出力する速度制御ロジッ
ク127、基準クロックf0を生成するクロック回路1
28などが設けられている。
11からの位置検出信号Psを増幅するホールアンプ1
21、相切換回路(コミテーション回路)122、プリ
ドライバ回路123、周波数発生器112からの速度検
出信号Vsを増幅するアンプ124、速度検出信号Vs
を2値パルス信号V1に整形するゼロクロス・コンパレ
ータ125、速度制御に係るロジック演算を行ない速度
制御用のタイミングパルスΦを出力する速度制御ロジッ
ク127、基準クロックf0を生成するクロック回路1
28などが設けられている。
【0073】そして、上記の出力回路131には、前記
実施例のドライバ回路1〜6の何れかと電流出力用トラ
ンジスタ(実施例の負荷MOSFET M10)がそれ
ぞれ6組設けられており、速度制御ロジック127から
のタイミングパルスΦに同期して3相分の駆動電流をモ
ータ101に供給するようになっている。
実施例のドライバ回路1〜6の何れかと電流出力用トラ
ンジスタ(実施例の負荷MOSFET M10)がそれ
ぞれ6組設けられており、速度制御ロジック127から
のタイミングパルスΦに同期して3相分の駆動電流をモ
ータ101に供給するようになっている。
【0074】このように本発明に係るドライバ回路1〜
6を搭載した多相モータは、ドライバ回路の改善により
低消費電流で高速制御可能なモータとされる。
6を搭載した多相モータは、ドライバ回路の改善により
低消費電流で高速制御可能なモータとされる。
【0075】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0076】例えば、オン・オフ動作させるPチャネル
FETはプッシュプル出力段を構成するMOSFETに
限られず、2電源方式のICで高電源系の回路のPチャ
ネルFETを低電源系の回路の出力で動作させる場合に
本発明を適用すれば同様の効果を得ることが出来る。こ
のような回路としては、例えば、ブートストラップ回路
やレベルシフト回路などがある。
FETはプッシュプル出力段を構成するMOSFETに
限られず、2電源方式のICで高電源系の回路のPチャ
ネルFETを低電源系の回路の出力で動作させる場合に
本発明を適用すれば同様の効果を得ることが出来る。こ
のような回路としては、例えば、ブートストラップ回路
やレベルシフト回路などがある。
【0077】また、初期設定用のスイッチは、電源投入
時のリセットパルスによりオンする構成に限られず、コ
ンデンサの充電量またはPチャネルFETのゲート電位
を初期化したい任意のタイミングでオンするように構成
しても良い。
時のリセットパルスによりオンする構成に限られず、コ
ンデンサの充電量またはPチャネルFETのゲート電位
を初期化したい任意のタイミングでオンするように構成
しても良い。
【0078】また、実施例では昇圧した電圧を得る回路
としてダイオードとコンデンサとからなるチャージポン
プを例示したが、その他、公知となっている種々の昇圧
回路を用いても良い。
としてダイオードとコンデンサとからなるチャージポン
プを例示したが、その他、公知となっている種々の昇圧
回路を用いても良い。
【0079】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である3相モ
ータに使用されるような同期整流制御用のドライバ回路
について説明したが、この発明はそれに限定されるもの
でなく、電流出力や電圧出力を行う種々のドライバ回路
に広く利用することができる。
なされた発明をその背景となった利用分野である3相モ
ータに使用されるような同期整流制御用のドライバ回路
について説明したが、この発明はそれに限定されるもの
でなく、電流出力や電圧出力を行う種々のドライバ回路
に広く利用することができる。
【0080】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
【0081】すなわち、本発明に従うと、高速制御が可
能で且つ消費電流の少ないドライバ回路を提供できると
いう効果がある。更に、動作初期時から安定した動作が
得られるという効果がある。
能で且つ消費電流の少ないドライバ回路を提供できると
いう効果がある。更に、動作初期時から安定した動作が
得られるという効果がある。
【図1】本発明を適用したドライバ回路の最も単純な実
施例を示す回路図である。
施例を示す回路図である。
【図2】図1のドライバ回路の動作を説明するタイミン
グチャートである。
グチャートである。
【図3】本発明を適用して好適なドライバ回路の第2実
施例を示す回路図である。
施例を示す回路図である。
【図4】本発明を適用して好適なドライバ回路の第3実
施例を示す回路図である。
施例を示す回路図である。
【図5】本発明を適用して好適なドライバ回路の第4実
施例を示す回路図である。
施例を示す回路図である。
【図6】本発明を適用して好適なドライバ回路の第5実
施例を示す回路図である。
施例を示す回路図である。
【図7】本発明を適用して好適なドライバ回路の第6実
施例を示す回路図である。
施例を示す回路図である。
【図8】図7のドライバ回路の動作を説明するタイミン
グチャートである。
グチャートである。
【図9】実施例のドライバ回路が組み込まれる多相モー
タの一例を示すブロック図である。
タの一例を示すブロック図である。
【図10】高電位側にPチャネルMOSFETを配設し
たドライバ回路の一例を示す回路図である。
たドライバ回路の一例を示す回路図である。
【符号の説明】 1〜6 ドライバ回路 M1 Pチャネル出力MOSFET M10 負荷MOSFET C1 コンデンサ IN1,IN2 インバータ回路(出力制御回路) SW スイッチ SW1 スイッチ DZ ツェナダイオード(スイッチ手段) VDD 駆動系電源電圧(第1系統の電源) Va 制御系電源電圧(第2系統の電源) 11 チャージポンプ回路(昇圧回路)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J055 AX02 AX12 AX27 AX57 BX16 CX10 CX20 DX13 DX14 DX22 DX56 EY10 EY12 EY13 EY21 EY24 EZ07 EZ54 EZ55 EZ61 GX01 GX04 5J056 AA05 BB02 BB17 BB19 CC29 CC30 DD13 DD17 DD28 DD29 DD51 DD55 DD56 EE11 FF07 FF08 GG06 KK01
Claims (1)
- 【請求項1】 第1の電源系の高電位側にソースが接続
されドレインが出力端子に接続されたPチャネルFET
と、上記第1電源系よりも低い第2の電源系の電源電圧
で動作する出力制御回路とを備え、上記出力制御回路の
出力電圧に基づき上記FETのゲートを制御するように
したドライブ回路において、 上記出力制御回路の出力端子と上記FETのゲート端子
との間にコンデンサが接続されると共に、該出力制御回
路の出力振幅が上記FETのゲート・ソース間耐圧より
も低く設定され、且つ、上記コンデンサと上記FETの
ゲート端子との接続点と上記第1電源系の電源電圧端子
とを接続または遮断する初期設定用のスイッチ手段が設
けられていることを特徴とするドライブ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35714799A JP2001177388A (ja) | 1999-12-16 | 1999-12-16 | ドライブ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35714799A JP2001177388A (ja) | 1999-12-16 | 1999-12-16 | ドライブ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001177388A true JP2001177388A (ja) | 2001-06-29 |
Family
ID=18452624
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35714799A Pending JP2001177388A (ja) | 1999-12-16 | 1999-12-16 | ドライブ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001177388A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005057744A (ja) * | 2003-07-23 | 2005-03-03 | Nec Corp | 差動増幅器及びデータドライバと表示装置 |
US7088125B2 (en) | 2003-07-12 | 2006-08-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Reducing coupling noise in an output driver |
CN102208167A (zh) * | 2010-03-30 | 2011-10-05 | 索尼公司 | 倒相电路以及显示器 |
JP2012186826A (ja) * | 2003-02-12 | 2012-09-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
JP2014053895A (ja) * | 2012-09-05 | 2014-03-20 | Lsis Co Ltd | レベルシフトデバイス |
JP2017059979A (ja) * | 2015-09-16 | 2017-03-23 | 富士電機株式会社 | デバイス |
US9991888B2 (en) | 2015-12-24 | 2018-06-05 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Driving circuit |
-
1999
- 1999-12-16 JP JP35714799A patent/JP2001177388A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012186826A (ja) * | 2003-02-12 | 2012-09-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
US8786349B2 (en) | 2003-02-12 | 2014-07-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, electronic device having the same, and driving method of the same |
JP2022037046A (ja) * | 2003-02-12 | 2022-03-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
US7088125B2 (en) | 2003-07-12 | 2006-08-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Reducing coupling noise in an output driver |
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JP4614704B2 (ja) * | 2003-07-23 | 2011-01-19 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 差動増幅器及びデータドライバと表示装置 |
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US9991888B2 (en) | 2015-12-24 | 2018-06-05 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Driving circuit |
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